JPH08201249A - ニオイ測定装置 - Google Patents
ニオイ測定装置Info
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- JPH08201249A JPH08201249A JP1299295A JP1299295A JPH08201249A JP H08201249 A JPH08201249 A JP H08201249A JP 1299295 A JP1299295 A JP 1299295A JP 1299295 A JP1299295 A JP 1299295A JP H08201249 A JPH08201249 A JP H08201249A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 容器内に発生させたニオイを質量分析計等に
よって有効に分析するためのニオイ測定装置を得る。 【構成】 容器２０と、その容器２０内に設けられる試
料１１を載せる試料台７と、その試料台に接続されて加
熱制御することにより載置試料からニオイを発生させる
セラミックヒータ１０を有する温度制御手段と、容器２
０からニオイをサンプリングするためのヒータ３２付サ
ンプリング管３１と、そのサンプリング管３１から導入
されるニオイを分析するための分析装置３０と、を有す
るので、容器２０内のニオイをサンプリング管３１に吸
着させることなく分析装置３０に導くことができ、発生
しているニオイを外部の装置で分析することができる。
よって有効に分析するためのニオイ測定装置を得る。 【構成】 容器２０と、その容器２０内に設けられる試
料１１を載せる試料台７と、その試料台に接続されて加
熱制御することにより載置試料からニオイを発生させる
セラミックヒータ１０を有する温度制御手段と、容器２
０からニオイをサンプリングするためのヒータ３２付サ
ンプリング管３１と、そのサンプリング管３１から導入
されるニオイを分析するための分析装置３０と、を有す
るので、容器２０内のニオイをサンプリング管３１に吸
着させることなく分析装置３０に導くことができ、発生
しているニオイを外部の装置で分析することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、種々の物質（以下、試
料という）を加熱するときに発生するニオイを測定する
装置に関するものである。
料という）を加熱するときに発生するニオイを測定する
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、特開平３−２３５０４７号公報
に開示されているようなニオイの測定装置がある。その
公報に開示されている装置の動作を以下に簡単に説明す
ると、容器内のヒータに試料を載せ、制御装置の起動ボ
タンを押すと、制御装置が吸気ファンを起動して換気を
開始し、温度コントローラやニオイセンサ等のデータが
制御装置に読み込まれ、試験可能になると、ヒータの加
熱がスタートされる。その結果、所定時間毎のニオイセ
ンサの出力等を測定することが可能である。
に開示されているようなニオイの測定装置がある。その
公報に開示されている装置の動作を以下に簡単に説明す
ると、容器内のヒータに試料を載せ、制御装置の起動ボ
タンを押すと、制御装置が吸気ファンを起動して換気を
開始し、温度コントローラやニオイセンサ等のデータが
制御装置に読み込まれ、試験可能になると、ヒータの加
熱がスタートされる。その結果、所定時間毎のニオイセ
ンサの出力等を測定することが可能である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような、ニオイ測
定装置の容器内に発生させたニオイは、ニオイセンサ等
の検出部が容器内に設置できれば、簡単に出力をとるこ
とができるが、質量分析計等の分析装置を利用するに
は、容器内のニオイを分析装置へ導く必要がある。そし
て、サンプリング管を用いて分析装置へ導くと、分子量
の大きいニオイ物質が分析装置へ到達するまでサンプリ
ング管において吸着されることがある。
定装置の容器内に発生させたニオイは、ニオイセンサ等
の検出部が容器内に設置できれば、簡単に出力をとるこ
とができるが、質量分析計等の分析装置を利用するに
は、容器内のニオイを分析装置へ導く必要がある。そし
て、サンプリング管を用いて分析装置へ導くと、分子量
の大きいニオイ物質が分析装置へ到達するまでサンプリ
ング管において吸着されることがある。
【０００４】本発明は、容器内に発生させたニオイを質
量分析計等によって有効に分析するためのニオイ測定装
置を得ることを目的とする。
量分析計等によって有効に分析するためのニオイ測定装
置を得ることを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、容器と、その
容器内に設けられる試料を載せる試料台と、その試料台
に接続されて加熱制御することにより載置試料からニオ
イを発生させる温度制御手段と、容器からニオイをサン
プリングするためのヒータ付サンプリング管と、そのサ
ンプリング管から導入されるニオイを分析するための分
析装置と、を有することを特徴とするものである。 ま
た、容器は、外部からの特定のガスを導入することが可
能な供給手段が設けられるとともに、密閉することが可
能なものであり、温度制御手段は、試料を加熱するヒー
タによりその試料の温度を一定に上昇させる直線上昇加
熱、または、試料を加熱するヒータによりその試料を一
定の温度に保つ定温加熱を行うものであり、ヒータ付サ
ンプリング管のヒータは、オンオフが可能であり、さら
に、分析装置は、質量分析装置、ガスクロマトグラフ装
置、赤外分光光度装置、紫外分光光度装置、Ｘ線分析装
置および電子線分析装置のうちの一つまたはそれらの組
み合わせたものである。
容器内に設けられる試料を載せる試料台と、その試料台
に接続されて加熱制御することにより載置試料からニオ
イを発生させる温度制御手段と、容器からニオイをサン
プリングするためのヒータ付サンプリング管と、そのサ
ンプリング管から導入されるニオイを分析するための分
析装置と、を有することを特徴とするものである。 ま
た、容器は、外部からの特定のガスを導入することが可
能な供給手段が設けられるとともに、密閉することが可
能なものであり、温度制御手段は、試料を加熱するヒー
タによりその試料の温度を一定に上昇させる直線上昇加
熱、または、試料を加熱するヒータによりその試料を一
定の温度に保つ定温加熱を行うものであり、ヒータ付サ
ンプリング管のヒータは、オンオフが可能であり、さら
に、分析装置は、質量分析装置、ガスクロマトグラフ装
置、赤外分光光度装置、紫外分光光度装置、Ｘ線分析装
置および電子線分析装置のうちの一つまたはそれらの組
み合わせたものである。
【０００６】
【作用】試料台に載置した試料を加熱して、容器内に発
生させたニオイをヒータ付サンプリング管で外部の分析
装置に導くことにより、容器内のニオイをサンプリング
管に吸着させることなく分析装置に導くことができ、発
生しているニオイを外部の装置で分析することができ
る。
生させたニオイをヒータ付サンプリング管で外部の分析
装置に導くことにより、容器内のニオイをサンプリング
管に吸着させることなく分析装置に導くことができ、発
生しているニオイを外部の装置で分析することができ
る。
【０００７】また、容器は、外部からの特定のガスを導
入することが可能な供給手段が設けられるとともに、密
閉することが可能なものであり、試料を加熱するときに
雰囲気を調整することが可能である。温度制御手段は、
試料を加熱するヒータにより直線上昇加熱、または、定
温加熱を行うものであり、試料の加熱方式を制御でき
る。ヒータ付サンプリング管のヒータは、オンオフが可
能であり、ニオイの吸着の恐れがないときには無駄な加
熱は行わない。さらに、分析装置は、質量分析装置、ガ
スクロマトグラフ装置、赤外分光光度装置、紫外分光光
度装置、Ｘ線分析装置および電子線分析装置のうちの一
つまたはそれらの組み合わせたものであり、これらの装
置を使用することでニオイの定性、定量、および同定が
可能である。
入することが可能な供給手段が設けられるとともに、密
閉することが可能なものであり、試料を加熱するときに
雰囲気を調整することが可能である。温度制御手段は、
試料を加熱するヒータにより直線上昇加熱、または、定
温加熱を行うものであり、試料の加熱方式を制御でき
る。ヒータ付サンプリング管のヒータは、オンオフが可
能であり、ニオイの吸着の恐れがないときには無駄な加
熱は行わない。さらに、分析装置は、質量分析装置、ガ
スクロマトグラフ装置、赤外分光光度装置、紫外分光光
度装置、Ｘ線分析装置および電子線分析装置のうちの一
つまたはそれらの組み合わせたものであり、これらの装
置を使用することでニオイの定性、定量、および同定が
可能である。
【０００８】
【実施例】本発明の一実施例の構成について、以下に説
明する。
明する。
【０００９】図１は、本発明のニオイ測定装置を示す概
略構成図であり、図において、２０は密封可能な容器で
あって、容器本体２１、およびその蓋２２で構成されて
いる。容器本体２１の側面には、内部に乾燥空気等の特
定の気体を導入する導入管２３が設けられている。容器
本体２１の内壁には、試料台７が設けられ、この試料台
７上にはセラミックヒータ１０が置かれ、このセラミッ
クヒータ１０上に試料１１例えばセルロース粉末、コッ
トンまたはろ紙が載置され、これらに隣接して熱電対１
２が置かれている。なお、セラミックヒータ１０および
熱電対１２は、温度コントローラ１３に接続されてい
る。
略構成図であり、図において、２０は密封可能な容器で
あって、容器本体２１、およびその蓋２２で構成されて
いる。容器本体２１の側面には、内部に乾燥空気等の特
定の気体を導入する導入管２３が設けられている。容器
本体２１の内壁には、試料台７が設けられ、この試料台
７上にはセラミックヒータ１０が置かれ、このセラミッ
クヒータ１０上に試料１１例えばセルロース粉末、コッ
トンまたはろ紙が載置され、これらに隣接して熱電対１
２が置かれている。なお、セラミックヒータ１０および
熱電対１２は、温度コントローラ１３に接続されてい
る。
【００１０】そして、３０は容器２０内のニオイがサン
プリング管３１を介して導入される分析装置であり、ニ
オイ物質の同定や定量を行えるようになっている。この
分析装置３０には、質量分析装置、ガスクロマトグラフ
装置、赤外分光光度装置、紫外分光光度装置、Ｘ線分析
装置および電子線分析装置などを用いることができる。
質量分析装置では、ニオイ物質を分子量毎に分離するこ
とが可能であり、ニオイ物質の分子量やその定量を行う
ことができる。ガスクロマトグラフ装置では、ニオイ物
質をその移動度に基づき分離することが可能であり、ニ
オイ物質毎の定量を行うことができる。その他分光光度
装置等は、ニオイ物質の分子形状に基づく赤外波長の吸
収等を検出し、ニオイ物質の同定や定量ができる。
プリング管３１を介して導入される分析装置であり、ニ
オイ物質の同定や定量を行えるようになっている。この
分析装置３０には、質量分析装置、ガスクロマトグラフ
装置、赤外分光光度装置、紫外分光光度装置、Ｘ線分析
装置および電子線分析装置などを用いることができる。
質量分析装置では、ニオイ物質を分子量毎に分離するこ
とが可能であり、ニオイ物質の分子量やその定量を行う
ことができる。ガスクロマトグラフ装置では、ニオイ物
質をその移動度に基づき分離することが可能であり、ニ
オイ物質毎の定量を行うことができる。その他分光光度
装置等は、ニオイ物質の分子形状に基づく赤外波長の吸
収等を検出し、ニオイ物質の同定や定量ができる。
【００１１】この分析装置３０へのサンプリング管３１
には、その内壁を全面的に加熱するためのコイル状ヒー
タ３２が設けられている。そして、ニオイ物質が比較的
高分子量であっても、サンプリング管３１内壁への吸着
を防止し、分析装置３０へ容器２０内のニオイを確実に
導入することができる。同様に、詳細には示さないが、
容器２０の内壁も加熱可能とすることが好ましく、サン
プリング管３１と同じくヒータの形状は、各部が均一に
加熱できれば構わない。そして、加熱温度については、
ニオイ物質によって異なるが、６０〜１５０℃程度が好
ましく、加熱しすぎると、ニオイ物質が熱分解すること
がある。
には、その内壁を全面的に加熱するためのコイル状ヒー
タ３２が設けられている。そして、ニオイ物質が比較的
高分子量であっても、サンプリング管３１内壁への吸着
を防止し、分析装置３０へ容器２０内のニオイを確実に
導入することができる。同様に、詳細には示さないが、
容器２０の内壁も加熱可能とすることが好ましく、サン
プリング管３１と同じくヒータの形状は、各部が均一に
加熱できれば構わない。そして、加熱温度については、
ニオイ物質によって異なるが、６０〜１５０℃程度が好
ましく、加熱しすぎると、ニオイ物質が熱分解すること
がある。
【００１２】また、容器本体２１の試料台７と対向する
内壁には攪拌手段としてのオンオフ可能なファン２４が
設けられている。さらに、容器本体２１内には、検知手
段としてのニオイセンサ１４が配置されている。このニ
オイセンサ１４は、例えば酸化第二スズを主材とするニ
オイ感応体によりニオイの存在を検知するものであり、
詳細なニオイ物質を判別することはできないが、ニオイ
の有無や強さを検出することができる。そして、このニ
オイセンサ１４の出力と分析装置３０の分析結果からニ
オイ物質の量や性質とニオイ強度との関係を相対的に調
べることが可能である。
内壁には攪拌手段としてのオンオフ可能なファン２４が
設けられている。さらに、容器本体２１内には、検知手
段としてのニオイセンサ１４が配置されている。このニ
オイセンサ１４は、例えば酸化第二スズを主材とするニ
オイ感応体によりニオイの存在を検知するものであり、
詳細なニオイ物質を判別することはできないが、ニオイ
の有無や強さを検出することができる。そして、このニ
オイセンサ１４の出力と分析装置３０の分析結果からニ
オイ物質の量や性質とニオイ強度との関係を相対的に調
べることが可能である。
【００１３】上記のセラミックヒータ１０および熱電対
１２が接続される温度コントローラ１３は、熱電対１２
の出力からヒータ１０の加熱制御を行い、ニオイセンサ
１４とともに図示しない制御装置に接続されている。
１２が接続される温度コントローラ１３は、熱電対１２
の出力からヒータ１０の加熱制御を行い、ニオイセンサ
１４とともに図示しない制御装置に接続されている。
【００１４】次に、このニオイ測定装置の動作を簡単に
説明すると、まず蓋２２を開け、試料１１を試料台７の
セラミックヒータ１０上に載せ、蓋２２を閉めて容器２
０内を所定の雰囲気にした後、制御装置から温度コント
ローラにスタートが出力され、セラミックヒータ１０に
よって試料１１が加熱され、その試料１１特有のニオイ
が発生する。この加熱開始にともなってファン２４を回
すことにより、発生したニオイを容器２０内に均一化さ
せることができる。
説明すると、まず蓋２２を開け、試料１１を試料台７の
セラミックヒータ１０上に載せ、蓋２２を閉めて容器２
０内を所定の雰囲気にした後、制御装置から温度コント
ローラにスタートが出力され、セラミックヒータ１０に
よって試料１１が加熱され、その試料１１特有のニオイ
が発生する。この加熱開始にともなってファン２４を回
すことにより、発生したニオイを容器２０内に均一化さ
せることができる。
【００１５】この容器２０内の雰囲気は、導入管２３を
通して例えばボンベ（図示しない）から供給される乾燥
空気や窒素ガスを導入して調整することができ、湿度等
の環境状態を調整するためにも使用できる。そして、導
入管２３から順次雰囲気を供給することも可能である。
通して例えばボンベ（図示しない）から供給される乾燥
空気や窒素ガスを導入して調整することができ、湿度等
の環境状態を調整するためにも使用できる。そして、導
入管２３から順次雰囲気を供給することも可能である。
【００１６】また、試料１１の加熱方式は、制御装置へ
の設定に基づき温度コントローラ１３により制御され、
熱電対１２により試料１１の温度を検出し、ヒータによ
る加熱具合を調整する。この加熱方式は、例えば１分間
に５℃のように、一定の割合で温度を上昇させる直線上
昇加熱や、例えば２００℃一定のように、所定の温度に
維持する低温加熱などが行え、その他細かな時間経過に
対する加熱方式を設定することができる。これらの加熱
方式や雰囲気は、試料１１からのニオイの発生過程を調
査する上で、種々設定できるように、構成されている。
の設定に基づき温度コントローラ１３により制御され、
熱電対１２により試料１１の温度を検出し、ヒータによ
る加熱具合を調整する。この加熱方式は、例えば１分間
に５℃のように、一定の割合で温度を上昇させる直線上
昇加熱や、例えば２００℃一定のように、所定の温度に
維持する低温加熱などが行え、その他細かな時間経過に
対する加熱方式を設定することができる。これらの加熱
方式や雰囲気は、試料１１からのニオイの発生過程を調
査する上で、種々設定できるように、構成されている。
【００１７】さらに、分析装置３０の測定開始は、手動
操作で逐次行ってもよいが、制御装置による自動測定で
あってよい。
操作で逐次行ってもよいが、制御装置による自動測定で
あってよい。
【００１８】次に、分析装置としての質量分析装置につ
いて、図２に簡単な構成を示すが、基本的にはイオン化
部１４、質量分離部１５、イオン検出部１６から構成さ
れる。
いて、図２に簡単な構成を示すが、基本的にはイオン化
部１４、質量分離部１５、イオン検出部１６から構成さ
れる。
【００１９】２ステージ油回転ポンプ４８に引かれてサ
ンプリング管３１から引き込まれたニオイは、キャピラ
リ４２からフィルタ４３を介して約１０-6トールの装置
内に導入され、まずＥＩイオン源によるイオン化部４４
により、高電圧による電界によりイオン化される。イオ
ン化されたニオイは、四重極による質量分離部の４５の
磁界によりニオイ気流中の成分の分子量毎に分離され、
分離された成分が電子倍増管によるイオン検出部４６に
到達し、燃焼生成によるニオイが分子量毎に分離されて
検出される。そして、例えばベンゼンが生成している場
合には、イオン強度が７８の位置（ｍ／ｅ＝７８）にピ
ークが表れ、ブタジエンでは５０（ｍ／ｅ＝５０）の位
置、トルエンでは９２（ｍ／ｅ＝９２）の位置にピーク
が表れる。
ンプリング管３１から引き込まれたニオイは、キャピラ
リ４２からフィルタ４３を介して約１０-6トールの装置
内に導入され、まずＥＩイオン源によるイオン化部４４
により、高電圧による電界によりイオン化される。イオ
ン化されたニオイは、四重極による質量分離部の４５の
磁界によりニオイ気流中の成分の分子量毎に分離され、
分離された成分が電子倍増管によるイオン検出部４６に
到達し、燃焼生成によるニオイが分子量毎に分離されて
検出される。そして、例えばベンゼンが生成している場
合には、イオン強度が７８の位置（ｍ／ｅ＝７８）にピ
ークが表れ、ブタジエンでは５０（ｍ／ｅ＝５０）の位
置、トルエンでは９２（ｍ／ｅ＝９２）の位置にピーク
が表れる。
【００２０】このキャピラリ４２からのフィルタ４３
は、装置内を大気圧からターボポンプ４７による減圧状
態へ落とすために設けられているが、成分中の大きな分
子がフィルタ４３に吸着される影響がある。煤煙の形成
過程を考慮すると、キシレンやナフタレン、アントラセ
ン等、高分子量のニオイが発生すると考えられる。従っ
て、大きな分子まで測定する場合には、このフィルタ４
３を用いずに、ホール（例えば約１μ）を有するプレー
トやスキマー（円錐形の頂部に通孔を設けたもので、複
数重ねることにより窒素や酸素等の軽い分子をはじいて
濃縮する効果がある）等を利用してもよい。さらに、イ
オン化部４４は、ＥＩイオン源以外の放射性元素等を用
いることによるイオン源であってよく、質量分離部４５
は、四重極以外の磁力源でよく、ＴＯＦ方式を用いても
よい。
は、装置内を大気圧からターボポンプ４７による減圧状
態へ落とすために設けられているが、成分中の大きな分
子がフィルタ４３に吸着される影響がある。煤煙の形成
過程を考慮すると、キシレンやナフタレン、アントラセ
ン等、高分子量のニオイが発生すると考えられる。従っ
て、大きな分子まで測定する場合には、このフィルタ４
３を用いずに、ホール（例えば約１μ）を有するプレー
トやスキマー（円錐形の頂部に通孔を設けたもので、複
数重ねることにより窒素や酸素等の軽い分子をはじいて
濃縮する効果がある）等を利用してもよい。さらに、イ
オン化部４４は、ＥＩイオン源以外の放射性元素等を用
いることによるイオン源であってよく、質量分離部４５
は、四重極以外の磁力源でよく、ＴＯＦ方式を用いても
よい。
【００２１】また、質量分析装置以外の分析装置とし
て、赤外分光光度装置について図３に簡単な構成を示す
が、基本的には赤外光源５６、測定セル５５、分光器６
０、赤外検出部５２から構成される。
て、赤外分光光度装置について図３に簡単な構成を示す
が、基本的には赤外光源５６、測定セル５５、分光器６
０、赤外検出部５２から構成される。
【００２２】サンプリング管３１から続く導入口５３を
介して測定セル５５に送られてきた気流は、排気口５４
から排気され、常に新しい気流が取り込まれている。そ
れに対して補償セル５７は、測定セル５５に通じている
が、遮蔽板６１、６２を設けてあるので、補償セル５７
内の雰囲気は、容器２０内の初期状態そのままとするこ
とができる。この遮蔽板６１、６２は、測定準備中に外
しておき、容器２０内の雰囲気が測定開始の状態におい
て装着することが好ましい。そして、これらの遮蔽板６
１、６２には、小さな通孔を設けて、多少の雰囲気の変
化に追随するようにしてもよく、設けられなくてもよ
い。
介して測定セル５５に送られてきた気流は、排気口５４
から排気され、常に新しい気流が取り込まれている。そ
れに対して補償セル５７は、測定セル５５に通じている
が、遮蔽板６１、６２を設けてあるので、補償セル５７
内の雰囲気は、容器２０内の初期状態そのままとするこ
とができる。この遮蔽板６１、６２は、測定準備中に外
しておき、容器２０内の雰囲気が測定開始の状態におい
て装着することが好ましい。そして、これらの遮蔽板６
１、６２には、小さな通孔を設けて、多少の雰囲気の変
化に追随するようにしてもよく、設けられなくてもよ
い。
【００２３】この測定セル５５および補償セル５７に
は、赤外線波長帯域の発光が行える赤外光源５６からの
光がセパレータ５１によりそれぞれ照射される。測定セ
ル５５および補償セル５７を通過した２つの光は、セク
タ部５８において交互に遮蔽され、分光器６０により各
波長に分光され、赤外検出部５２に集光される。分光器
６０では、詳細に示さないが、導入用のスリットを介し
たセクタ部５８からの光をプリズムで分光し、各波長毎
に放出用のスリットを介して赤外検出部５２に向けて放
出される。そして、光源５６には、炭化ケイ素棒やネル
ンスト灯等が用いられ、赤外検出部５２には、熱電対や
ボロメータ等が用いられる。
は、赤外線波長帯域の発光が行える赤外光源５６からの
光がセパレータ５１によりそれぞれ照射される。測定セ
ル５５および補償セル５７を通過した２つの光は、セク
タ部５８において交互に遮蔽され、分光器６０により各
波長に分光され、赤外検出部５２に集光される。分光器
６０では、詳細に示さないが、導入用のスリットを介し
たセクタ部５８からの光をプリズムで分光し、各波長毎
に放出用のスリットを介して赤外検出部５２に向けて放
出される。そして、光源５６には、炭化ケイ素棒やネル
ンスト灯等が用いられ、赤外検出部５２には、熱電対や
ボロメータ等が用いられる。
【００２４】そして、測定セル５５および補償セル５７
の通過光の強度差から各波長のニオイによる吸収を測定
する。ここで、測定セル５５には、容器２０内のニオイ
が導入されるが、補償セル５７内は、容器２０の初期状
態の雰囲気のままであり、通過光の各波長毎の強度差
は、ニオイ物質の分子構造の特徴を表している。例えば
ベンゼンが生成している場合には、芳香環の＝Ｃ−Ｈ伸
縮振動に基づく吸収が３０００cm-1付近に、芳香環の＝
Ｃ−Ｈ面外変角振動に基づく特有の小波状吸収が２００
０〜１６６０cm-1に、芳香環のＣ＝Ｃ伸縮振動を含む環
振動に基づく強い吸収が１６００〜１４５０cm-1に、芳
香環の＝Ｃ−Ｈ面内変角振動に基づくやや強い吸収が１
２５０〜１０００cm-1に、芳香環の＝Ｃ−Ｈ面外変角振
動に基づく強い吸収が１０００〜６５０cm-1に、特有の
多数の吸収帯を有する赤外線吸収スペクトルが得られ
る。
の通過光の強度差から各波長のニオイによる吸収を測定
する。ここで、測定セル５５には、容器２０内のニオイ
が導入されるが、補償セル５７内は、容器２０の初期状
態の雰囲気のままであり、通過光の各波長毎の強度差
は、ニオイ物質の分子構造の特徴を表している。例えば
ベンゼンが生成している場合には、芳香環の＝Ｃ−Ｈ伸
縮振動に基づく吸収が３０００cm-1付近に、芳香環の＝
Ｃ−Ｈ面外変角振動に基づく特有の小波状吸収が２００
０〜１６６０cm-1に、芳香環のＣ＝Ｃ伸縮振動を含む環
振動に基づく強い吸収が１６００〜１４５０cm-1に、芳
香環の＝Ｃ−Ｈ面内変角振動に基づくやや強い吸収が１
２５０〜１０００cm-1に、芳香環の＝Ｃ−Ｈ面外変角振
動に基づく強い吸収が１０００〜６５０cm-1に、特有の
多数の吸収帯を有する赤外線吸収スペクトルが得られ
る。
【００２５】上記のような、質量分析装置、赤外分光光
度装置以外に、ガスクロマトグラフ装置、紫外分光光度
装置、Ｘ線分析装置または電子線分析装置等が分析装置
として使用することができ、また、それらの組み合わせ
たもの、たとえばガスクロマトグラフ装置により分離し
て質量分析装置に導入するＧＣ−ＭＳ、ガスクロマトグ
ラフ装置により分離して赤外分光光度装置に導入するＧ
Ｃ−ＩＲ、赤外分光光度装置と紫外分光光度装置を同時
に行うＵＶ−ＩＲ等であってもよく、これらの装置を使
用することで、多面的にニオイの定性、定量、および同
定が可能である。
度装置以外に、ガスクロマトグラフ装置、紫外分光光度
装置、Ｘ線分析装置または電子線分析装置等が分析装置
として使用することができ、また、それらの組み合わせ
たもの、たとえばガスクロマトグラフ装置により分離し
て質量分析装置に導入するＧＣ−ＭＳ、ガスクロマトグ
ラフ装置により分離して赤外分光光度装置に導入するＧ
Ｃ−ＩＲ、赤外分光光度装置と紫外分光光度装置を同時
に行うＵＶ−ＩＲ等であってもよく、これらの装置を使
用することで、多面的にニオイの定性、定量、および同
定が可能である。
【００２６】
【発明の効果】以上のように、本発明は、容器と、その
容器内に設けられる試料を載せる試料台と、その試料台
に接続されて加熱制御することにより載置試料からニオ
イを発生させる温度制御手段と、容器からニオイをサン
プリングするためのヒータ付サンプリング管と、そのサ
ンプリング管から導入されるニオイを分析するための分
析装置と、を有するので、容器内のニオイをサンプリン
グ管に吸着させることなく分析装置に導くことができ、
発生しているニオイを外部の装置で分析することができ
る。
容器内に設けられる試料を載せる試料台と、その試料台
に接続されて加熱制御することにより載置試料からニオ
イを発生させる温度制御手段と、容器からニオイをサン
プリングするためのヒータ付サンプリング管と、そのサ
ンプリング管から導入されるニオイを分析するための分
析装置と、を有するので、容器内のニオイをサンプリン
グ管に吸着させることなく分析装置に導くことができ、
発生しているニオイを外部の装置で分析することができ
る。
【００２７】また、容器は、外部からの特定のガスを導
入することが可能な供給手段が設けられるとともに、密
閉することが可能なものであり、試料を加熱するときに
雰囲気を調整することが可能である。温度制御手段は、
試料を加熱するヒータによりその試料の温度を一定に上
昇させる直線上昇加熱、または、試料を加熱するヒータ
によりその試料を一定の温度に保つ定温加熱を行うもの
であり、試料の加熱方式を制御できる。ヒータ付サンプ
リング管のヒータは、オンオフが可能であり、ニオイの
吸着の恐れがないときには無駄な加熱は行わない。さら
に、分析装置は、質量分析装置、ガスクロマトグラフ装
置、赤外分光光度装置、紫外分光光度装置、Ｘ線分析装
置および電子線分析装置のうちの一つまたはそれらの組
み合わせたものであり、これらの装置を使用することで
多面的にニオイの定性、定量、および同定が可能であ
る。
入することが可能な供給手段が設けられるとともに、密
閉することが可能なものであり、試料を加熱するときに
雰囲気を調整することが可能である。温度制御手段は、
試料を加熱するヒータによりその試料の温度を一定に上
昇させる直線上昇加熱、または、試料を加熱するヒータ
によりその試料を一定の温度に保つ定温加熱を行うもの
であり、試料の加熱方式を制御できる。ヒータ付サンプ
リング管のヒータは、オンオフが可能であり、ニオイの
吸着の恐れがないときには無駄な加熱は行わない。さら
に、分析装置は、質量分析装置、ガスクロマトグラフ装
置、赤外分光光度装置、紫外分光光度装置、Ｘ線分析装
置および電子線分析装置のうちの一つまたはそれらの組
み合わせたものであり、これらの装置を使用することで
多面的にニオイの定性、定量、および同定が可能であ
る。
【図１】本発明の一実施例を示す概略構成図。
【図２】図１に使用される質量分析装置の構成図。
【図３】図１に使用される赤外分光光度装置の構成図。
７ 試料台 １０ セラミックヒータ １１ 試料 ２０ 容器 ３０ 分析装置 ３１ サンプリング管 ３２ ヒータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｎ 27/62 Ｖ 30/88 Ｚ
Claims (7)
- 【請求項１】 容器と、 該容器内に設けられる試料を載せる試料台と、 前記試料台に接続されて加熱制御することにより載置試
料からニオイを発生させる温度制御手段と、 前記容器からニオイをサンプリングするためのヒータ付
サンプリング管と、 該サンプリング管から導入されるニオイを分析するため
の分析装置と、 を有することを特徴とするニオイ測定装置。 - 【請求項２】 容器は、外部からの特定のガスを導入す
ることが可能な供給手段が設けられている請求項１のニ
オイ測定装置。 - 【請求項３】 容器は、密閉することが可能である請求
項１のニオイ測定装置。 - 【請求項４】 温度制御手段は、試料を加熱するヒータ
により該試料を一定に上昇させる直線上昇加熱を行う請
求項１のニオイ測定装置。 - 【請求項５】 温度制御手段は、試料を加熱するヒータ
により該試料を一定の温度に保つ定温加熱を行う請求項
１のニオイ測定装置。 - 【請求項６】 ヒータ付サンプリング管のヒータは、オ
ンオフが可能である請求項１のニオイ測定装置。 - 【請求項７】 分析装置は、質量分析装置、ガスクロマ
トグラフ装置、赤外分光光度装置、紫外分光光度装置、
Ｘ線分析装置および電子線分析装置のうちの一つまたは
それらの組み合わせである請求項１のニオイ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1299295A JPH08201249A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | ニオイ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1299295A JPH08201249A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | ニオイ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08201249A true JPH08201249A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=11820711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1299295A Pending JPH08201249A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | ニオイ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08201249A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999039175A1 (fr) * | 1998-01-29 | 1999-08-05 | Thierry Zesiger | Dispositif pour la qualification de produits contenant des substances volatiles |
| WO2001002829A3 (en) * | 1999-07-01 | 2001-12-06 | Peter J Rohleder | Methods and apparatus for sampling product aromas |
| JP2005291715A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Shimadzu Corp | におい測定装置 |
| JP2009053036A (ja) * | 2007-08-27 | 2009-03-12 | Rigaku Industrial Co | 試料乾燥装置 |
| CN114324191A (zh) * | 2022-01-07 | 2022-04-12 | 柳州职业技术学院 | 一种基于智能控制的气味测定系统 |
-
1995
- 1995-01-30 JP JP1299295A patent/JPH08201249A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999039175A1 (fr) * | 1998-01-29 | 1999-08-05 | Thierry Zesiger | Dispositif pour la qualification de produits contenant des substances volatiles |
| US6743397B1 (en) | 1998-01-29 | 2004-06-01 | Thierry Zesiger | Device for qualifying products containing volatile substances |
| WO2001002829A3 (en) * | 1999-07-01 | 2001-12-06 | Peter J Rohleder | Methods and apparatus for sampling product aromas |
| JP2005291715A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Shimadzu Corp | におい測定装置 |
| JP2009053036A (ja) * | 2007-08-27 | 2009-03-12 | Rigaku Industrial Co | 試料乾燥装置 |
| CN114324191A (zh) * | 2022-01-07 | 2022-04-12 | 柳州职业技术学院 | 一种基于智能控制的气味测定系统 |
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