JPH08201309A - 磁気テープ検査方法及び磁気テープ検査装置 - Google Patents
磁気テープ検査方法及び磁気テープ検査装置Info
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- JPH08201309A JPH08201309A JP1463595A JP1463595A JPH08201309A JP H08201309 A JPH08201309 A JP H08201309A JP 1463595 A JP1463595 A JP 1463595A JP 1463595 A JP1463595 A JP 1463595A JP H08201309 A JPH08201309 A JP H08201309A
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気テープ表面の傷、汚れ、形状不良、異物
等による不良を高ＳＮ比で確実に検出することが可能な
磁気テープ検査方法並びに磁気テープ検査装置を提供す
る。 【構成】 センサーヘッドを走行する磁気テープと対向
配置し、その表面を光学的に検査するに際し、上記セン
サーヘッドの光軸方向を磁気テープの主面の法線方向に
対して５゜〜９．５゜傾ける。このようにセンサーヘッ
ドの光軸を垂直方向から５゜〜９．５゜傾けると、不良
部に由来する信号出力がノイズ成分に対して相対的に大
きくなり、高ＳＮ比で検出される。センサーヘッドは、
投光部と受光部を有し、前記投光部から光を照射し、磁
気テープからの反射光を前記受光部で検出する。投光部
及び受光部は、例えば光ファイバによって構成される。
等による不良を高ＳＮ比で確実に検出することが可能な
磁気テープ検査方法並びに磁気テープ検査装置を提供す
る。 【構成】 センサーヘッドを走行する磁気テープと対向
配置し、その表面を光学的に検査するに際し、上記セン
サーヘッドの光軸方向を磁気テープの主面の法線方向に
対して５゜〜９．５゜傾ける。このようにセンサーヘッ
ドの光軸を垂直方向から５゜〜９．５゜傾けると、不良
部に由来する信号出力がノイズ成分に対して相対的に大
きくなり、高ＳＮ比で検出される。センサーヘッドは、
投光部と受光部を有し、前記投光部から光を照射し、磁
気テープからの反射光を前記受光部で検出する。投光部
及び受光部は、例えば光ファイバによって構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気テープ表面の傷、
形状不良、汚れ、異物等を検出するための磁気テープ検
査方法に関するものであり、さらには磁気テープ検査装
置に関するものである。
形状不良、汚れ、異物等を検出するための磁気テープ検
査方法に関するものであり、さらには磁気テープ検査装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】磁気テープの製造工程においては、種々
の要因から磁気テープ表面に傷が付いたり、形状不良や
汚れ、異物の混入が発生することがある。
の要因から磁気テープ表面に傷が付いたり、形状不良や
汚れ、異物の混入が発生することがある。
【０００３】このため、これらの要因となる発生源に対
して、様々な対策が講じられているが、全てを解消し不
良を零とすることは難しい。
して、様々な対策が講じられているが、全てを解消し不
良を零とすることは難しい。
【０００４】そこで、磁気テープの出荷に際しては、こ
れら傷、形状不良、汚れ、異物の混入を検査する必要が
ある。
れら傷、形状不良、汚れ、異物の混入を検査する必要が
ある。
【０００５】磁気テープの検査方法としては、最も単純
には、目視検査が挙げられる。しかしながら、目視検査
には限界があり、また見落としが起こり易い。
には、目視検査が挙げられる。しかしながら、目視検査
には限界があり、また見落としが起こり易い。
【０００６】近年、光学的なセンサーヘッドを用い、例
えば赤色ＬＥＤ光源からの光を光ファイバーを通して磁
気テープ表面に照射し、磁気テープ表面の傷、汚れ、形
状不良、異物等で反射光が強くなったり弱くなったり微
妙に変化する量を受光用の光ファイバーで読みとる方法
が広く行われている。
えば赤色ＬＥＤ光源からの光を光ファイバーを通して磁
気テープ表面に照射し、磁気テープ表面の傷、汚れ、形
状不良、異物等で反射光が強くなったり弱くなったり微
妙に変化する量を受光用の光ファイバーで読みとる方法
が広く行われている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
センサーヘッドを用いた場合、通常の投光角度（磁気テ
ープ表面に対してほぼ垂直）では、異物等が集中して発
生している箇所や、磁気テープの歪部等の検出が困難で
あるとの問題がある。
センサーヘッドを用いた場合、通常の投光角度（磁気テ
ープ表面に対してほぼ垂直）では、異物等が集中して発
生している箇所や、磁気テープの歪部等の検出が困難で
あるとの問題がある。
【０００８】実際、本発明者等が検討したところ、特に
問題のない部分での信号（Ｎ）と不良部での信号（Ｓ）
の比（いわゆるＳＮ比）が小さく、不良部を的確に検出
することができなかった。
問題のない部分での信号（Ｎ）と不良部での信号（Ｓ）
の比（いわゆるＳＮ比）が小さく、不良部を的確に検出
することができなかった。
【０００９】そこで本発明は、上述の従来の実情に鑑み
て提案されたものであって、磁気テープ表面の傷、汚
れ、形状不良、異物等による不良を高ＳＮ比で確実に検
出することが可能な磁気テープ検査方法並びに磁気テー
プ検査装置を提供することを目的とする。
て提案されたものであって、磁気テープ表面の傷、汚
れ、形状不良、異物等による不良を高ＳＮ比で確実に検
出することが可能な磁気テープ検査方法並びに磁気テー
プ検査装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上述の目
的を達成すべく、種々の検討を重ねてきた。その結果、
磁気テープ表面に対して垂直方向とするのが常識とされ
ているセンサーヘッドの光軸を若干傾けることで、これ
まで検出困難であった異物の集中部分や磁気テープの形
状不良が高感度で検出されるという、全く予想しなかっ
た知見を得るに至った。
的を達成すべく、種々の検討を重ねてきた。その結果、
磁気テープ表面に対して垂直方向とするのが常識とされ
ているセンサーヘッドの光軸を若干傾けることで、これ
まで検出困難であった異物の集中部分や磁気テープの形
状不良が高感度で検出されるという、全く予想しなかっ
た知見を得るに至った。
【００１１】本発明は、前記知見に基づいて完成された
ものである。すなわち、本発明の磁気テープ検査方法
は、センサーヘッドを走行する磁気テープと対向配置
し、その表面を光学的に検査する磁気テープ検査方法に
おいて、上記センサーヘッドの光軸方向を磁気テープの
主面の法線方向に対して５゜〜９．５゜傾けることを特
徴とするものであり、また、本発明の磁気テープ検査装
置は、走行する磁気テープと対向配置されるセンサーヘ
ッドを備え、磁気テープ表面を光学的に検査する磁気テ
ープ検査装置において、センサーヘッドの光軸方向が磁
気テープの主面の法線方向に対して５゜〜９．５゜傾け
て配置されていることを特徴とするものである。
ものである。すなわち、本発明の磁気テープ検査方法
は、センサーヘッドを走行する磁気テープと対向配置
し、その表面を光学的に検査する磁気テープ検査方法に
おいて、上記センサーヘッドの光軸方向を磁気テープの
主面の法線方向に対して５゜〜９．５゜傾けることを特
徴とするものであり、また、本発明の磁気テープ検査装
置は、走行する磁気テープと対向配置されるセンサーヘ
ッドを備え、磁気テープ表面を光学的に検査する磁気テ
ープ検査装置において、センサーヘッドの光軸方向が磁
気テープの主面の法線方向に対して５゜〜９．５゜傾け
て配置されていることを特徴とするものである。
【００１２】本発明において用いられるセンサーヘッド
は、投光部と受光部を有し、前記投光部から光を照射
し、磁気テープからの反射光を前記受光部で検出する。
は、投光部と受光部を有し、前記投光部から光を照射
し、磁気テープからの反射光を前記受光部で検出する。
【００１３】前記投光部及び受光部は、例えば光ファイ
バによって構成され、これら光ファイバからなる投光部
及び受光部が、磁気テープの幅方向に配列される。
バによって構成され、これら光ファイバからなる投光部
及び受光部が、磁気テープの幅方向に配列される。
【００１４】センサーヘッドの形状は、任意であるが、
例えば磁気テープの幅と略等しい幅を有する矩形、ある
いは円形等が挙げられる。センサーヘッドは、磁気テー
プの幅方向、あるいは長手方向に複数配置することも可
能である。
例えば磁気テープの幅と略等しい幅を有する矩形、ある
いは円形等が挙げられる。センサーヘッドは、磁気テー
プの幅方向、あるいは長手方向に複数配置することも可
能である。
【００１５】いずれの場合においても、本発明では、セ
ンサーヘッドの光軸（光ファイバによって投光部及び受
光部が構成される場合、光ファイバの光軸）を磁気テー
プの主面の法線方向に対して５゜〜９．５゜傾ける。
ンサーヘッドの光軸（光ファイバによって投光部及び受
光部が構成される場合、光ファイバの光軸）を磁気テー
プの主面の法線方向に対して５゜〜９．５゜傾ける。
【００１６】ここで、前記傾斜角度が５゜未満である
と、検出信号のＳＮ比が低下し、磁気テープ表面の不良
を的確に把握することができない。逆に、傾斜角度が
９．５゜を越えると、反射光の強度が低下し、十分な信
号出力を得ることができない。最も好ましくは、６゜〜
８゜である。
と、検出信号のＳＮ比が低下し、磁気テープ表面の不良
を的確に把握することができない。逆に、傾斜角度が
９．５゜を越えると、反射光の強度が低下し、十分な信
号出力を得ることができない。最も好ましくは、６゜〜
８゜である。
【００１７】
【作用】磁気テープ表面を光学的に検査するに際し、セ
ンサーヘッドを通常の投光角度（磁気テープ表面に対し
てほぼ垂直）とすると、磁気テープ表面の傷、汚れ、形
状不良、異物等の不良部に由来する信号出力が不足し、
十分なＳＮ比を確保することができない。
ンサーヘッドを通常の投光角度（磁気テープ表面に対し
てほぼ垂直）とすると、磁気テープ表面の傷、汚れ、形
状不良、異物等の不良部に由来する信号出力が不足し、
十分なＳＮ比を確保することができない。
【００１８】これに対して、センサーヘッドの光軸を垂
直方向から５゜〜９．５゜傾けると、不良部に由来する
信号出力がノイズ成分に対して相対的に大きくなり、高
ＳＮ比で検出される。
直方向から５゜〜９．５゜傾けると、不良部に由来する
信号出力がノイズ成分に対して相対的に大きくなり、高
ＳＮ比で検出される。
【００１９】
【実施例】以下、本発明を適用した実施例について、具
体的な実験結果を基に詳細に説明する。
体的な実験結果を基に詳細に説明する。
【００２０】実施例１ 本実施例において用いたセンサーヘッド１は、図１に示
すように、１８チャンネルの光ファイバ２をホルダー３
によってほぼ円形に束ねてなるものである。
すように、１８チャンネルの光ファイバ２をホルダー３
によってほぼ円形に束ねてなるものである。
【００２１】各チャンネルの光ファイバ２は、投光部兼
受光部として機能するもので、光源からの光が各光ファ
イバ２から磁気テープ表面に照射され、反射光はやはり
これら光ファイバ２を通してフォトディテクタ等の検出
手段へと導かれる。
受光部として機能するもので、光源からの光が各光ファ
イバ２から磁気テープ表面に照射され、反射光はやはり
これら光ファイバ２を通してフォトディテクタ等の検出
手段へと導かれる。
【００２２】上記のセンサーヘッド１を、図２に示すよ
うに、磁気テープ４の幅方向に２つ配置し、磁気テープ
４の幅方向の不良を検出するようにした。
うに、磁気テープ４の幅方向に２つ配置し、磁気テープ
４の幅方向の不良を検出するようにした。
【００２３】なお、このとき、センサーヘッド１の投光
角度（各光ファイバ２の光軸の角度）は、磁気テープ４
表面に対して垂直方向から７．５゜磁気テープ進行方向
に傾けた。また、センサーヘッド１と磁気テープ４の距
離であるが、センサーヘッド１の磁気テープ４と最も近
い部分での距離を１．１ｍｍとした。
角度（各光ファイバ２の光軸の角度）は、磁気テープ４
表面に対して垂直方向から７．５゜磁気テープ進行方向
に傾けた。また、センサーヘッド１と磁気テープ４の距
離であるが、センサーヘッド１の磁気テープ４と最も近
い部分での距離を１．１ｍｍとした。
【００２４】そして、磁気テープ４を約３００ｍ／分の
速度で裁断しながら前記センサーヘッド１による検査を
行った。
速度で裁断しながら前記センサーヘッド１による検査を
行った。
【００２５】検査結果は、図３Ａ，Ｂ，Ｃに示す３つの
パターン（図中○印が不良信号が検出された位置であ
る。）に大別された。すなわち、図３Ａに示すように幅
方向で同時に２つ以上のチャンネルで不良信号が検出さ
れるパターン、図３Ｂに示すように長手方向で２ポイン
ト以上連続して不良信号が検出されるパターン、図３Ｃ
に示すように幅方向で同時に２チャンネル以上で不良信
号が検出され、且つ長手方向で２ポイント以上連続して
不良信号が検出されるパターンである。
パターン（図中○印が不良信号が検出された位置であ
る。）に大別された。すなわち、図３Ａに示すように幅
方向で同時に２つ以上のチャンネルで不良信号が検出さ
れるパターン、図３Ｂに示すように長手方向で２ポイン
ト以上連続して不良信号が検出されるパターン、図３Ｃ
に示すように幅方向で同時に２チャンネル以上で不良信
号が検出され、且つ長手方向で２ポイント以上連続して
不良信号が検出されるパターンである。
【００２６】これらいずれかのパターンが出現したとき
に、形状不良や傷等の不良が発生しているものと推測さ
れるが、これと目視による形状不良チェックの結果と比
較したところ、目的とする不良（出荷の際に問題となる
レベルの不良）の確認には、図３Ｃに示すパターンが最
適であった。
に、形状不良や傷等の不良が発生しているものと推測さ
れるが、これと目視による形状不良チェックの結果と比
較したところ、目的とする不良（出荷の際に問題となる
レベルの不良）の確認には、図３Ｃに示すパターンが最
適であった。
【００２７】次に、センサーヘッド１の傾斜角度を変え
ながら、不良部信号、ノイズ信号、ＳＮ比の測定を行っ
た。結果を図４に示す。
ながら、不良部信号、ノイズ信号、ＳＮ比の測定を行っ
た。結果を図４に示す。
【００２８】この図４からも明らかなように、不良部信
号レベル、ＳＮ比は、共にセンサーヘッド１の傾斜角度
に依存しており、磁気テープ４の表面に対して垂直方向
とすると、ほとんどＳ／Ｎ＝０ｄＢで、検出不可能であ
ることがわかる。
号レベル、ＳＮ比は、共にセンサーヘッド１の傾斜角度
に依存しており、磁気テープ４の表面に対して垂直方向
とすると、ほとんどＳ／Ｎ＝０ｄＢで、検出不可能であ
ることがわかる。
【００２９】これに対して、センサーヘッド１を傾けた
ときには、傾斜角度に応じて不良信号レベル、ＳＮ比が
向上し、特に傾斜角度６．５゜近傍で極大値を示してい
る。
ときには、傾斜角度に応じて不良信号レベル、ＳＮ比が
向上し、特に傾斜角度６．５゜近傍で極大値を示してい
る。
【００３０】実施例２ 本実施例で用いたセンサーヘッド１０は、図５に示すよ
うに、３５チャンネルの受光ファイバ１１を磁気テープ
の幅方向に交互に２列に並べ、その周囲に投光ファイバ
１２を配してなるものであり、センサーヘッド１０全体
の形状は、ほぼ矩形状とされている。
うに、３５チャンネルの受光ファイバ１１を磁気テープ
の幅方向に交互に２列に並べ、その周囲に投光ファイバ
１２を配してなるものであり、センサーヘッド１０全体
の形状は、ほぼ矩形状とされている。
【００３１】このセンサーヘッド１０を、図６に示すよ
うに、８ｍｍ幅の磁気テープ１３の放線方向Ｈに対して
傾斜角度θ＝６．５゜傾けて対向させた。センサーヘッ
ド１０と磁気テープ１３の距離は、先の実施例１と同
様、最も近い部分で１．１ｍｍである。
うに、８ｍｍ幅の磁気テープ１３の放線方向Ｈに対して
傾斜角度θ＝６．５゜傾けて対向させた。センサーヘッ
ド１０と磁気テープ１３の距離は、先の実施例１と同
様、最も近い部分で１．１ｍｍである。
【００３２】磁気テープ１３は、図７に示すように、再
生ヘッド１４、消去ヘッド１５と接するように固定ガイ
ド１６により背面側を支持しながら走行させたが、この
とき前記センサーヘッド１０の設置位置は、再生ヘッド
１４と固定ガイド１６の間とした。
生ヘッド１４、消去ヘッド１５と接するように固定ガイ
ド１６により背面側を支持しながら走行させたが、この
とき前記センサーヘッド１０の設置位置は、再生ヘッド
１４と固定ガイド１６の間とした。
【００３３】また、測定範囲は、図８に示す斜線領域Ｓ
であり、先の３５チャンネルの受光ファイバ１１のう
ち、１１チャンネル〜２５チャンネルを検査対象とし
た。これ以外のチャンネル（１チャンネル〜１０チャン
ネル、２６チャンネル〜３５チャンネル）は磁気テープ
１３から外れており、検査対象とする意味がない。
であり、先の３５チャンネルの受光ファイバ１１のう
ち、１１チャンネル〜２５チャンネルを検査対象とし
た。これ以外のチャンネル（１チャンネル〜１０チャン
ネル、２６チャンネル〜３５チャンネル）は磁気テープ
１３から外れており、検査対象とする意味がない。
【００３４】このようにセンサーヘッド１０を設置した
場合、２列に配列した受光ファイバ１１のうち、磁気テ
ープ１３に近いチャンネルと遠いチャンネルとで距離の
差が約０．０５ｍｍあり、この設定距離の差が信号に影
響を与えることが懸念されたが、下記の表１に示す通
り、ほとんど問題ないレベルであった。
場合、２列に配列した受光ファイバ１１のうち、磁気テ
ープ１３に近いチャンネルと遠いチャンネルとで距離の
差が約０．０５ｍｍあり、この設定距離の差が信号に影
響を与えることが懸念されたが、下記の表１に示す通
り、ほとんど問題ないレベルであった。
【００３５】
【表１】
【００３６】次に、このセンサーヘッド１０による最適
測定条件、特にコンパレートレベルについて検討した。
測定条件、特にコンパレートレベルについて検討した。
【００３７】設定したコンパレートレベルは、レベル１
（＋３００ｍＶ、−６０ｍＶ）、レベル２（＋３５０ｍ
Ｖ、−１１０ｍＶ）、レベル３（＋４００ｍＶ、−１６
０ｍＶ）、レベル４（＋４５０ｍＶ、−２１０ｍＶ）で
ある。
（＋３００ｍＶ、−６０ｍＶ）、レベル２（＋３５０ｍ
Ｖ、−１１０ｍＶ）、レベル３（＋４００ｍＶ、−１６
０ｍＶ）、レベル４（＋４５０ｍＶ、−２１０ｍＶ）で
ある。
【００３８】これら各レベルでの測定結果と、実際にカ
セットテープに組み込んだときのドロップアウトを比較
した。結果は次の通りである。
セットテープに組み込んだときのドロップアウトを比較
した。結果は次の通りである。
【００３９】先ず、レベル１では、磁気テープの全長に
わたってピークが出現してしまい、不良によるピークが
不明瞭であった。これに対して、レベル２では、測定さ
れたピークがドロップアウトと良く対応していた。ま
た、レベル３では、ピークは認められたが、レベル２に
比べて感度が低かった。レベル４では、レベル３よりも
さらに感度が低かった。したがって、本例ではレベル２
の設定が最も好ましいことになる。
わたってピークが出現してしまい、不良によるピークが
不明瞭であった。これに対して、レベル２では、測定さ
れたピークがドロップアウトと良く対応していた。ま
た、レベル３では、ピークは認められたが、レベル２に
比べて感度が低かった。レベル４では、レベル３よりも
さらに感度が低かった。したがって、本例ではレベル２
の設定が最も好ましいことになる。
【００４０】図９は、レベル２での測定結果であり、図
１０は、図９においてピークが観察された区間Ｔでのド
ロップアウトのピークを示すものである。なお、図１０
Ａは、−１６ｄＢ、５０μ秒のドロップアウト、図１０
Ｂは、−１６ｄＢ、１０μ秒のドロップアウト、図１０
Ｃは、−１６ｄＢ、３μ秒のドロップアウト、図１０Ｄ
は、−１０ｄＢ、１０μ秒のドロップアウトを示す。
１０は、図９においてピークが観察された区間Ｔでのド
ロップアウトのピークを示すものである。なお、図１０
Ａは、−１６ｄＢ、５０μ秒のドロップアウト、図１０
Ｂは、−１６ｄＢ、１０μ秒のドロップアウト、図１０
Ｃは、−１６ｄＢ、３μ秒のドロップアウト、図１０Ｄ
は、−１０ｄＢ、１０μ秒のドロップアウトを示す。
【００４１】図１０ａではドロップアウトのピークがあ
まり認められないが、図１０Ｂ〜図１０Ｄでは、ドロッ
プアウトの大きなピークが認められ、図９での測定結果
を裏付けている。
まり認められないが、図１０Ｂ〜図１０Ｄでは、ドロッ
プアウトの大きなピークが認められ、図９での測定結果
を裏付けている。
【００４２】さらに、上記センサーヘッド１０の垂直方
向からの傾きを変更し、出力される信号について調べ
た。
向からの傾きを変更し、出力される信号について調べ
た。
【００４３】図１１は、垂直方向から６．５゜傾けたと
きの出力信号である。磁気テープの傷によるピークＣＫ
が明瞭に観察される。
きの出力信号である。磁気テープの傷によるピークＣＫ
が明瞭に観察される。
【００４４】図１２は、センサーヘッド１０を垂直方向
（０゜）としたときの出力信号であるが、磁気テープの
傷によるピークＣＫは、他のピーク（ノイズ）の中に埋
もれてしまい、検出不可能であった。４．８゜傾けた場
合にも同様であり、不良によるピークを検出するには、
センサーヘッド１０をある程度以上傾ける必要があるこ
とがわかった。
（０゜）としたときの出力信号であるが、磁気テープの
傷によるピークＣＫは、他のピーク（ノイズ）の中に埋
もれてしまい、検出不可能であった。４．８゜傾けた場
合にも同様であり、不良によるピークを検出するには、
センサーヘッド１０をある程度以上傾ける必要があるこ
とがわかった。
【００４５】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の磁気テープ検査方法、磁気テープ検査装置によれ
ば、磁気テープ表面の傷、汚れ、形状不良、異物等によ
る不良を高ＳＮ比で確実に検出することが可能である。
明の磁気テープ検査方法、磁気テープ検査装置によれ
ば、磁気テープ表面の傷、汚れ、形状不良、異物等によ
る不良を高ＳＮ比で確実に検出することが可能である。
【図１】センサーヘッドの一例を示す概略側面図であ
る。
る。
【図２】センサーヘッドの配置例を模式的に示す概略平
面図である。
面図である。
【図３】検出パターン例を示す模式図である。
【図４】傾斜角度によるノイズ信号、不良部信号、ＳＮ
比の変化を示す特性図である。
比の変化を示す特性図である。
【図５】センサーヘッドの他の例を示す概略平面図であ
る。
る。
【図６】図５に示すセンサーヘッドの磁気テープに対す
る対向状態を示す概略斜視図である。
る対向状態を示す概略斜視図である。
【図７】センサーヘッドの配置位置を示す模式図であ
る。
る。
【図８】センサーヘッドによる測定領域を示す模式図で
ある。
ある。
【図９】コンパレートレベルをレベル２に設定したとき
の測定結果を示す特性図である。
の測定結果を示す特性図である。
【図１０】図９においてピークが検出された区間でのド
ロップアウトを示す特性図である。
ロップアウトを示す特性図である。
【図１１】センサーヘッドを６．５゜傾けたときの検出
信号を示す特性図である。
信号を示す特性図である。
【図１２】センサーヘッドを垂直方向としたときの検出
信号を示す特性図である。
信号を示す特性図である。
１、１０ センサーヘッド ２ 光ファイバ ４、１３ 磁気テープ １１ 受光ファイバ １２ 投光ファイバ
Claims (7)
- 【請求項１】 センサーヘッドを走行する磁気テープと
対向配置し、その表面を光学的に検査する磁気テープ検
査方法において、 上記センサーヘッドの光軸方向を磁気テープの主面の法
線方向に対して５゜〜９．５゜傾けることを特徴とする
磁気テープ検査方法。 - 【請求項２】 センサーヘッドが投光部と受光部を有
し、前記投光部から光を照射し、磁気テープからの反射
光を前記受光部で検出することを特徴とする請求項１記
載の磁気テープ検査方法。 - 【請求項３】 裁断された複数の磁気テープに対してそ
れぞれセンサーヘッドを対向配置することを特徴とする
請求項１記載の磁気テープ検査方法。 - 【請求項４】 走行する磁気テープと対向配置されるセ
ンサーヘッドを備え、磁気テープ表面を光学的に検査す
る磁気テープ検査装置において、 センサーヘッドの光軸方向が磁気テープの主面の法線方
向に対して５゜〜９．５゜傾けて配置されていることを
特徴とする磁気テープ検査装置。 - 【請求項５】 センサーヘッドが投光部と受光部を有
し、前記投光部から光を照射し、磁気テープからの反射
光を前記受光部で検出することを特徴とする請求項４記
載の磁気テープ検査装置。 - 【請求項６】 センサーヘッドの投光部及び受光部が光
ファイバよりなることを特徴とする請求項５記載の磁気
テープ検査装置。 - 【請求項７】 裁断された複数の磁気テープとそれぞれ
対向配置される複数のセンサーヘッドを有することを特
徴とする請求項４記載の磁気テープ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1463595A JPH08201309A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 磁気テープ検査方法及び磁気テープ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1463595A JPH08201309A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 磁気テープ検査方法及び磁気テープ検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08201309A true JPH08201309A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=11866664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1463595A Withdrawn JPH08201309A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 磁気テープ検査方法及び磁気テープ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08201309A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004191370A (ja) * | 2002-11-27 | 2004-07-08 | Tdk Corp | 表面欠陥の検出方法及び装置 |
-
1995
- 1995-01-31 JP JP1463595A patent/JPH08201309A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004191370A (ja) * | 2002-11-27 | 2004-07-08 | Tdk Corp | 表面欠陥の検出方法及び装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020402 |