JPH08203881A - 表面処理装置 - Google Patents
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- JPH08203881A JPH08203881A JP7033050A JP3305095A JPH08203881A JP H08203881 A JPH08203881 A JP H08203881A JP 7033050 A JP7033050 A JP 7033050A JP 3305095 A JP3305095 A JP 3305095A JP H08203881 A JPH08203881 A JP H08203881A
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- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 title claims description 34
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 4
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 16
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000009471 action Effects 0.000 description 5
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 5
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- KZBUYRJDOAKODT-UHFFFAOYSA-N Chlorine Chemical compound ClCl KZBUYRJDOAKODT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] Chemical compound N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- -1 fluorocarbon compound Chemical class 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000000265 homogenisation Methods 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000005389 semiconductor device fabrication Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001502 supplementing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 表面処理装置において、高密度プラズマ発生
時の信頼性を高め、低圧力で高密度のプラズマを大面積
にわたって均一に発生させることができるプラズマ生成
用平面状電極を提案する。 【構成】 真空容器11と、この真空容器内を減圧状態に
する排気機構15と、真空容器内に放電用ガスを導入する
ガス導入機構と、ガスを放電させプラズマを発生させる
ためマイクロ波による電力を供給する電力供給機構20,4
7 と、真空容器内に設置される基板保持機構を備える表
面処理装置であり、上記の電力供給機構は、誘電体44が
充填された孔(スロット部43)を有する導電性板で形成
されかつ真空容器内を真空封止するように真空容器に固
定される平面状電極42を備え、導電性の板のスロット部
を通して、電力供給機構の同軸管47で供給されるマイク
ロ波が真空容器内に放射されるように構成される。
時の信頼性を高め、低圧力で高密度のプラズマを大面積
にわたって均一に発生させることができるプラズマ生成
用平面状電極を提案する。 【構成】 真空容器11と、この真空容器内を減圧状態に
する排気機構15と、真空容器内に放電用ガスを導入する
ガス導入機構と、ガスを放電させプラズマを発生させる
ためマイクロ波による電力を供給する電力供給機構20,4
7 と、真空容器内に設置される基板保持機構を備える表
面処理装置であり、上記の電力供給機構は、誘電体44が
充填された孔(スロット部43)を有する導電性板で形成
されかつ真空容器内を真空封止するように真空容器に固
定される平面状電極42を備え、導電性の板のスロット部
を通して、電力供給機構の同軸管47で供給されるマイク
ロ波が真空容器内に放射されるように構成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は表面処理装置に関し、特
に、高周波放電で生成されるプラズマを利用して被処理
基板の表面処理を行うもので、半導体デバイス製造工程
においてドライエッチングまたはプラズマCVDに利用
される表面処理装置に関する。
に、高周波放電で生成されるプラズマを利用して被処理
基板の表面処理を行うもので、半導体デバイス製造工程
においてドライエッチングまたはプラズマCVDに利用
される表面処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイス作製の1つの工程である
ドライエッチングに利用される表面処理装置の例を説明
する。半導体デバイス作製に不可欠の配線パターン形成
工程で、実際にパターン形成を行うには、放電によって
ハロゲンを含むガスを主成分とした混合ガスのプラズマ
を発生させ、プラズマ中の各種活性種(例えば原子状塩
素、原子状フッ素、フッ素炭素化合物など)を表面の薄
膜と反応させ、薄膜を除去するドライエッチング技術が
一般的に用いられる。ガスをプラズマ化させる手段とし
て、供給されたマイクロ波による電場と磁場の相互作用
(電子サイクロトロン共鳴)を利用してプラズマを発生
させる方法が知られている。この方法を利用した装置は
一般にECR表面処理装置と呼ばれ、磁場を発生させる
ための機構として空芯コイルを利用した装置が、ドライ
エッチング、プラズマCVD等に広く応用されている。
また最近では、ECRプラズマ利用表面反応装置の改良
型である平面型ECR表面処理装置も知られている(例
えば特開平5-182785号公報)。
ドライエッチングに利用される表面処理装置の例を説明
する。半導体デバイス作製に不可欠の配線パターン形成
工程で、実際にパターン形成を行うには、放電によって
ハロゲンを含むガスを主成分とした混合ガスのプラズマ
を発生させ、プラズマ中の各種活性種(例えば原子状塩
素、原子状フッ素、フッ素炭素化合物など)を表面の薄
膜と反応させ、薄膜を除去するドライエッチング技術が
一般的に用いられる。ガスをプラズマ化させる手段とし
て、供給されたマイクロ波による電場と磁場の相互作用
(電子サイクロトロン共鳴)を利用してプラズマを発生
させる方法が知られている。この方法を利用した装置は
一般にECR表面処理装置と呼ばれ、磁場を発生させる
ための機構として空芯コイルを利用した装置が、ドライ
エッチング、プラズマCVD等に広く応用されている。
また最近では、ECRプラズマ利用表面反応装置の改良
型である平面型ECR表面処理装置も知られている(例
えば特開平5-182785号公報)。
【0003】図5に従来の平面型ECR表面処理装置の
一例を示し、図6に平面型ECR表面処理装置における
磁場と電場の関係を示す。
一例を示し、図6に平面型ECR表面処理装置における
磁場と電場の関係を示す。
【0004】真空容器11は、上側の部分をフランジ1
2で真空封止され、基板保持機構を含む電極13を内部
空間に備える。電極13の上には被処理基板14が配置
される。真空容器11の内部は排気機構15によって所
要レベルまで減圧される。電極13には電源16によっ
てバイアス用の電力が供給される。真空容器11内の上
側にはその内部空間にマイクロ波による電力を放射する
ための平面状電極17が設けられ、平面状電極17には
マイクロ波放射用のアンテナとして動作するスロット
(貫通孔)18が加工されている。スロット18の形成
位置および形状はマイクロ波放射に適するように任意に
選択される。平面状電極17の近傍にはその周囲に磁場
を発生させるための複数のリング状永久磁石19が配置
される。この例では、永久磁石19はフランジ12に形
成された磁石固定用のリング状溝の中に固定されてい
る。また平面状電極17に対しマイクロ波を供給する機
構として、マイクロ波電源20、外部導体21および内
部導体22からなる同軸管23、同軸型マイクロ波導入
用真空窓24が設けられる。また説明の簡単化のため図
示を省略したが、マイクロ波電源20と平面状電極17
の間のマイクロ波回路を構成する素子として、導波管、
整合器、単行管、方向性結合器、同軸導波管変換器等が
必要に応じて設けられる。
2で真空封止され、基板保持機構を含む電極13を内部
空間に備える。電極13の上には被処理基板14が配置
される。真空容器11の内部は排気機構15によって所
要レベルまで減圧される。電極13には電源16によっ
てバイアス用の電力が供給される。真空容器11内の上
側にはその内部空間にマイクロ波による電力を放射する
ための平面状電極17が設けられ、平面状電極17には
マイクロ波放射用のアンテナとして動作するスロット
(貫通孔)18が加工されている。スロット18の形成
位置および形状はマイクロ波放射に適するように任意に
選択される。平面状電極17の近傍にはその周囲に磁場
を発生させるための複数のリング状永久磁石19が配置
される。この例では、永久磁石19はフランジ12に形
成された磁石固定用のリング状溝の中に固定されてい
る。また平面状電極17に対しマイクロ波を供給する機
構として、マイクロ波電源20、外部導体21および内
部導体22からなる同軸管23、同軸型マイクロ波導入
用真空窓24が設けられる。また説明の簡単化のため図
示を省略したが、マイクロ波電源20と平面状電極17
の間のマイクロ波回路を構成する素子として、導波管、
整合器、単行管、方向性結合器、同軸導波管変換器等が
必要に応じて設けられる。
【0005】上記の平面型ECR表面処理装置では、図
示しないガス導入系を用いて真空容器11内に所定ガス
を所定圧力まで導入した後に、マイクロ波による電力を
真空容器11内に導入し、電場と磁場との相互作用を利
用してガスをプラズマ化しプラズマ25を生成する。こ
のプラズマ25内の化学的活性の高い各種粒子は被処理
基板14の表面に導かれ、基板表面における化学反応を
利用して表面をエッチングする。通常、活性の高い粒子
の一つである正イオンにエネルギを与えて被処理基板1
4の表面に導くため、電源16を用いて電極13に例え
ば高周波のバイアス電力が供給される。
示しないガス導入系を用いて真空容器11内に所定ガス
を所定圧力まで導入した後に、マイクロ波による電力を
真空容器11内に導入し、電場と磁場との相互作用を利
用してガスをプラズマ化しプラズマ25を生成する。こ
のプラズマ25内の化学的活性の高い各種粒子は被処理
基板14の表面に導かれ、基板表面における化学反応を
利用して表面をエッチングする。通常、活性の高い粒子
の一つである正イオンにエネルギを与えて被処理基板1
4の表面に導くため、電源16を用いて電極13に例え
ば高周波のバイアス電力が供給される。
【0006】次に図6を参照して磁場とマイクロ波によ
る電場の作用関係を説明する。図6にはリング状永久磁
石19により発生する磁力線31と、平面状電極17に
形成されたスロット18から生成されるマイクロ波の電
場32を示す。この例では、真空容器11内の磁場強度
はスロット18の近傍でもっとも強く、真空容器11の
内部に向うほど徐々に減少する。プラズマ生成に利用さ
れるマイクロ波の周波数は一般的には2.45GHzが
利用され、このときのECR条件を満足する磁束密度は
875ガウスである。従ってリング状永久磁石19によ
り発生する磁束密度がスロット18からやや離れた位置
(具体的には数mmから数cmの位置)にECR条件を
満足する875ガウスの等磁束密度面を生成するよう
に、リング状永久磁石19の残留磁束密度を決定する。
図6の例では、スロット18からECR面に至るプラズ
マ25中のマイクロ波の伝搬経路で、磁場強度が、EC
R面に向かって次第に減少する構造を有する。また真空
容器11内のスロット18の近傍におけるマイクロ波の
電場32は磁場31とほぼ直交する。以上の2つの条件
は、マイクロ波をECR面まで伝搬させて高密度のプラ
ズマ25を発生させるために必要不可欠な条件である。
る電場の作用関係を説明する。図6にはリング状永久磁
石19により発生する磁力線31と、平面状電極17に
形成されたスロット18から生成されるマイクロ波の電
場32を示す。この例では、真空容器11内の磁場強度
はスロット18の近傍でもっとも強く、真空容器11の
内部に向うほど徐々に減少する。プラズマ生成に利用さ
れるマイクロ波の周波数は一般的には2.45GHzが
利用され、このときのECR条件を満足する磁束密度は
875ガウスである。従ってリング状永久磁石19によ
り発生する磁束密度がスロット18からやや離れた位置
(具体的には数mmから数cmの位置)にECR条件を
満足する875ガウスの等磁束密度面を生成するよう
に、リング状永久磁石19の残留磁束密度を決定する。
図6の例では、スロット18からECR面に至るプラズ
マ25中のマイクロ波の伝搬経路で、磁場強度が、EC
R面に向かって次第に減少する構造を有する。また真空
容器11内のスロット18の近傍におけるマイクロ波の
電場32は磁場31とほぼ直交する。以上の2つの条件
は、マイクロ波をECR面まで伝搬させて高密度のプラ
ズマ25を発生させるために必要不可欠な条件である。
【0007】上記の従来の平面型ECR表面処理装置
は、現在ではすでにプラズマ源としての評価が広く行わ
れており、表面処理装置としての評価も広まりつつあ
る。
は、現在ではすでにプラズマ源としての評価が広く行わ
れており、表面処理装置としての評価も広まりつつあ
る。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ECR表面処理装置の
最大の特徴は、磁場とマイクロ波の共鳴現象を利用する
ことによって、低いガス圧力で高い密度のプラズマを発
生できる点にある。しかし、通常利用されるマイクロ波
の周波数である2.45GHzに対して共鳴条件を満足
させるための磁場強度としては875ガウスが要求され
る。一方、半導体製造に利用されるシリコンウェハーは
直径250mm程度のものが利用され、これを処理する
ためのプラズマもウェハー面積にわたって均一であるこ
とが要求される。
最大の特徴は、磁場とマイクロ波の共鳴現象を利用する
ことによって、低いガス圧力で高い密度のプラズマを発
生できる点にある。しかし、通常利用されるマイクロ波
の周波数である2.45GHzに対して共鳴条件を満足
させるための磁場強度としては875ガウスが要求され
る。一方、半導体製造に利用されるシリコンウェハーは
直径250mm程度のものが利用され、これを処理する
ためのプラズマもウェハー面積にわたって均一であるこ
とが要求される。
【0009】図5に示した平面型ECR表面処理装置で
は、複数のリング状永久磁石を使用することにより、一
般的な空芯コイルにより磁場を発生させる形式の従来装
置に伴う欠点を克服することができ、スロットの利用に
よる大面積均一プラズマの発生、永久磁石の採用による
磁場発生機構の簡便化、磁場がウェハー表面を横切らな
いことによる高周波電力バイアスの均一化等の効果が達
成される。
は、複数のリング状永久磁石を使用することにより、一
般的な空芯コイルにより磁場を発生させる形式の従来装
置に伴う欠点を克服することができ、スロットの利用に
よる大面積均一プラズマの発生、永久磁石の採用による
磁場発生機構の簡便化、磁場がウェハー表面を横切らな
いことによる高周波電力バイアスの均一化等の効果が達
成される。
【0010】しかしながら、上記平面型ECR表面処理
装置は、マイクロ波の導入のための機構が複雑であり、
特に同軸型真空窓24の信頼性が不十分であるために、
供給できるマイクロ波電力が制限され、高密度プラズマ
の発生が困難であるという問題を有している。また、マ
イクロ波電力を大きくした際にはスロット18の周辺で
異常な放電が発生するおそれもあり、装置としての信頼
性の欠如から、現在のところ半導体製造ラインに導入さ
れるには至っていない。
装置は、マイクロ波の導入のための機構が複雑であり、
特に同軸型真空窓24の信頼性が不十分であるために、
供給できるマイクロ波電力が制限され、高密度プラズマ
の発生が困難であるという問題を有している。また、マ
イクロ波電力を大きくした際にはスロット18の周辺で
異常な放電が発生するおそれもあり、装置としての信頼
性の欠如から、現在のところ半導体製造ラインに導入さ
れるには至っていない。
【0011】本発明の目的は、上記の問題を解決するこ
とにあり、新規な構造を有するプラズマ生成用平面状電
極を提案し、高密度プラズマ発生時の信頼性を高め、低
圧力で高密度のプラズマを大面積にわたって均一に発生
させることができる表面処理装置を提供することにあ
る。
とにあり、新規な構造を有するプラズマ生成用平面状電
極を提案し、高密度プラズマ発生時の信頼性を高め、低
圧力で高密度のプラズマを大面積にわたって均一に発生
させることができる表面処理装置を提供することにあ
る。
【0012】
【課題を解決するための手段および作用】第1の本発明
に係る表面処理装置は、真空容器と、この真空容器内を
減圧状態にする排気機構と、真空容器内に放電用ガスを
導入するガス導入機構と、ガスを放電させプラズマを発
生させるためマイクロ波による電力を供給する電力供給
機構と、真空容器内に設置される基板保持機構を備える
表面処理装置であり、上記の電力供給機構は、誘電体が
充填された孔を有する導電性板で形成されかつ真空容器
内を真空封止するように真空容器に固定される平面状電
極を備え、導電性板の孔を通して、電力供給機構の同軸
管で供給されるマイクロ波が真空容器内に放射されるよ
うに構成される。
に係る表面処理装置は、真空容器と、この真空容器内を
減圧状態にする排気機構と、真空容器内に放電用ガスを
導入するガス導入機構と、ガスを放電させプラズマを発
生させるためマイクロ波による電力を供給する電力供給
機構と、真空容器内に設置される基板保持機構を備える
表面処理装置であり、上記の電力供給機構は、誘電体が
充填された孔を有する導電性板で形成されかつ真空容器
内を真空封止するように真空容器に固定される平面状電
極を備え、導電性板の孔を通して、電力供給機構の同軸
管で供給されるマイクロ波が真空容器内に放射されるよ
うに構成される。
【0013】第1の本発明では、マイクロ波導入に使用
される従来の同軸管と真空窓を用いず、誘電体が充填さ
れた孔(スロット部)を平面状電極に形成し、同軸管を
用いてこの平面状電極にマイクロ波を直接に供給し、当
該孔からのマイクロ波の放射によって、均一性の良好な
高密度プラズマを容易に発生する。平面状電極における
マイクロ波の放射を行うスロット部としては誘電体が充
填された孔がもっとも実用的である。またマイクロ波の
電力を真空容器内に供給するための平面状電極の孔に誘
電体を充填することによって、スロット部そのものを真
空封止に耐える構造とし、従来、マイクロ波電力を供給
するために必要であったが、信頼性に乏しかった同軸型
真空窓を排除することが可能なった。
される従来の同軸管と真空窓を用いず、誘電体が充填さ
れた孔(スロット部)を平面状電極に形成し、同軸管を
用いてこの平面状電極にマイクロ波を直接に供給し、当
該孔からのマイクロ波の放射によって、均一性の良好な
高密度プラズマを容易に発生する。平面状電極における
マイクロ波の放射を行うスロット部としては誘電体が充
填された孔がもっとも実用的である。またマイクロ波の
電力を真空容器内に供給するための平面状電極の孔に誘
電体を充填することによって、スロット部そのものを真
空封止に耐える構造とし、従来、マイクロ波電力を供給
するために必要であったが、信頼性に乏しかった同軸型
真空窓を排除することが可能なった。
【0014】第2の本発明は、第1の発明において、平
面状電極に形成された孔は導電性板上の一点を中心とす
る放射状位置に複数個配置され、かつ放射状位置の中心
近傍にマイクロ波が供給されることを特徴とする。
面状電極に形成された孔は導電性板上の一点を中心とす
る放射状位置に複数個配置され、かつ放射状位置の中心
近傍にマイクロ波が供給されることを特徴とする。
【0015】第3の本発明は、第1の発明において、平
面状電極の孔は1つの円上または複数の同心円上の弧と
して形成され、かつ円または複数の同心円の中心近傍に
マイクロ波が供給されることを特徴とする。
面状電極の孔は1つの円上または複数の同心円上の弧と
して形成され、かつ円または複数の同心円の中心近傍に
マイクロ波が供給されることを特徴とする。
【0016】第2および第3の本発明では、スロット部
を形成する孔は、好ましくはリング状の放射状位置に配
置されており、マイクロ波による電力が有効に真空容器
内に放射され、プラズマを放電空間内に生成せしめ、こ
れを利用することを可能とした。
を形成する孔は、好ましくはリング状の放射状位置に配
置されており、マイクロ波による電力が有効に真空容器
内に放射され、プラズマを放電空間内に生成せしめ、こ
れを利用することを可能とした。
【0017】第4の本発明は、第1から第3の発明にお
いて、平面状電極を形成する導電性板で孔と干渉しない
位置に複数個のリング状永久磁石を設置し、孔の近傍に
磁場を発生したことを特徴とする。
いて、平面状電極を形成する導電性板で孔と干渉しない
位置に複数個のリング状永久磁石を設置し、孔の近傍に
磁場を発生したことを特徴とする。
【0018】第5の本発明は、第4の発明において、複
数のリング状永久磁石の着磁方向はリング状永久磁石の
半径方向であり、かつ隣り合うリング状永久磁石の着磁
方向が互いに逆方向であることを特徴とする。
数のリング状永久磁石の着磁方向はリング状永久磁石の
半径方向であり、かつ隣り合うリング状永久磁石の着磁
方向が互いに逆方向であることを特徴とする。
【0019】第4および第5の本発明では、平面状電極
に直接に磁場生成用リング状永久磁石を設け、またこの
リング状永久磁石の着磁方向を半径方向とすることでマ
イクロ波による電場に永久磁石による磁場を直交させ、
当該磁場とマイクロ波による電場との相互作用を有効を
生じさせるようにしている。
に直接に磁場生成用リング状永久磁石を設け、またこの
リング状永久磁石の着磁方向を半径方向とすることでマ
イクロ波による電場に永久磁石による磁場を直交させ、
当該磁場とマイクロ波による電場との相互作用を有効を
生じさせるようにしている。
【0020】
【実施例】以下に、本発明の好適実施例を添付図面に基
づいて説明する。
づいて説明する。
【0021】図1において、図5で説明した要素と実質
的に同一の要素には同一の符号を付している。真空容器
11の内部は放電空間として利用され、この内部に被処
理基板14が配置された電極13が配置される。電極1
3は絶縁物41を用いて浮遊電位状態で真空容器11の
下壁に取り付けられている。電極13は基板保持機構給
される。真空容器11の上壁部分には平面状電極42が
設けられる。本実施例による平面状電極42は、真空容
器11の内部空間を真空に保つための機能も兼ねる。従
って、本実施例による装置では従来装置のフランジ12
に相当する部材は使用されず、平面状電極42そのもの
がフランジ12を兼ねている。電極13上に設置された
被処理基板14は、真空容器11の平面状電極42に対
向するように配置される。本実施例による装置を放電反
応装置として動作させるには、排を含むと共に、電源1
6に接続され、バイアス用の電力が供気機構15を用い
て真空容器11を所定圧力まで排気し、その後、図示し
ないガス導入機構を用いて放電反応に用いるガスを所定
圧力まで導入する。
的に同一の要素には同一の符号を付している。真空容器
11の内部は放電空間として利用され、この内部に被処
理基板14が配置された電極13が配置される。電極1
3は絶縁物41を用いて浮遊電位状態で真空容器11の
下壁に取り付けられている。電極13は基板保持機構給
される。真空容器11の上壁部分には平面状電極42が
設けられる。本実施例による平面状電極42は、真空容
器11の内部空間を真空に保つための機能も兼ねる。従
って、本実施例による装置では従来装置のフランジ12
に相当する部材は使用されず、平面状電極42そのもの
がフランジ12を兼ねている。電極13上に設置された
被処理基板14は、真空容器11の平面状電極42に対
向するように配置される。本実施例による装置を放電反
応装置として動作させるには、排を含むと共に、電源1
6に接続され、バイアス用の電力が供気機構15を用い
て真空容器11を所定圧力まで排気し、その後、図示し
ないガス導入機構を用いて放電反応に用いるガスを所定
圧力まで導入する。
【0022】図1および図2を参照して平面状電極42
の構造と作用について説明する。平面状電極42にはマ
イクロ波放射用アンテナとして動作するスロット部43
が形成される。平面状電極42は金属板等の板状導電性
部材を用いて形成され、スロット部43は、平面状電極
42に貫通して形成された孔とこの孔に密に充填された
誘電体44とから形成される。スロット部43は実際に
は孔そのものではないが、従来装置のスロット18と実
質的に同じ作用、すなわちマイクロ波を通過させ真空容
器内へ放射作用を有するので「スロット部」と呼ぶこと
とする。平面状電極42は真空容器11の上壁として内
部空間が気密になるように真空容器11の上部に取り付
けられ、かつスロット部43には誘電体44が充填され
ているので、平面状電極42そのものによって真空容器
11の内部空間の真空封止を可能としている。
の構造と作用について説明する。平面状電極42にはマ
イクロ波放射用アンテナとして動作するスロット部43
が形成される。平面状電極42は金属板等の板状導電性
部材を用いて形成され、スロット部43は、平面状電極
42に貫通して形成された孔とこの孔に密に充填された
誘電体44とから形成される。スロット部43は実際に
は孔そのものではないが、従来装置のスロット18と実
質的に同じ作用、すなわちマイクロ波を通過させ真空容
器内へ放射作用を有するので「スロット部」と呼ぶこと
とする。平面状電極42は真空容器11の上壁として内
部空間が気密になるように真空容器11の上部に取り付
けられ、かつスロット部43には誘電体44が充填され
ているので、平面状電極42そのものによって真空容器
11の内部空間の真空封止を可能としている。
【0023】スロット部43内に充填される誘電体44
に要求される条件として、誘電損失が小さいこと、気密
性が良好であること、或る程度の耐熱性を有することが
挙げられる。気密性に関しては、平面状電極42を形成
する導電性板と真空容器11の壁部の密着性が良好であ
ることが必要がある。このような条件を満足する材料と
して、ガラス、石英、アルミナセラミックス等の無機材
料、テフロン、ポリイミド、シリコン樹脂等の有機材料
があり、表面処理のプロセスに使用するガス種、使用す
るマイクロ波電力等の条件に合わせて適宜に選択され
る。
に要求される条件として、誘電損失が小さいこと、気密
性が良好であること、或る程度の耐熱性を有することが
挙げられる。気密性に関しては、平面状電極42を形成
する導電性板と真空容器11の壁部の密着性が良好であ
ることが必要がある。このような条件を満足する材料と
して、ガラス、石英、アルミナセラミックス等の無機材
料、テフロン、ポリイミド、シリコン樹脂等の有機材料
があり、表面処理のプロセスに使用するガス種、使用す
るマイクロ波電力等の条件に合わせて適宜に選択され
る。
【0024】また図1と図2に示されるように、平面状
電極42の外面には、磁場を発生させるための複数個の
リング状永久磁石45が配置される。本実施例では互い
に径が異なる4個のリング状永久磁石45を同心円的に
配置することにより磁気回路を構成している。リング状
永久磁石45は、平面状電極42の外面に形成されたリ
ング状の溝に埋め込まれている。リング状永久磁石45
は、すべて半径方向に着磁され、かつ隣り合う永久磁石
が互いに逆方向になるように着磁される。
電極42の外面には、磁場を発生させるための複数個の
リング状永久磁石45が配置される。本実施例では互い
に径が異なる4個のリング状永久磁石45を同心円的に
配置することにより磁気回路を構成している。リング状
永久磁石45は、平面状電極42の外面に形成されたリ
ング状の溝に埋め込まれている。リング状永久磁石45
は、すべて半径方向に着磁され、かつ隣り合う永久磁石
が互いに逆方向になるように着磁される。
【0025】図2に示すように平面状電極42は円形の
形状を有する。上記スロット部43は、複数形成され、
平面状電極42の例えば中心などの一点から放射状の位
置に形成されることが望ましい。本実施例の場合、例え
ば4本のスロット部43が、例えば内側から2番目の永
久磁石45と3番目の永久磁石45との間のスペースに
て中心点から見て放射状の位置に形成される。4本のス
ロット部43は、リング形状の上に配置されるので、そ
れぞれは弧形状を有している。またスロット部43は、
他のリング状永久磁石の間に形成することもでき、スロ
ット部を同心円な位置に配置させることも可能である。
さらに本実施例では、リング状永久磁石45を4個使用
した例を示したが、応用の目的によっては、異なる数の
方が優れた性能を有する場合もある。また着磁方向は、
各永久磁石45について逆方向としても、動作は全く同
じである。
形状を有する。上記スロット部43は、複数形成され、
平面状電極42の例えば中心などの一点から放射状の位
置に形成されることが望ましい。本実施例の場合、例え
ば4本のスロット部43が、例えば内側から2番目の永
久磁石45と3番目の永久磁石45との間のスペースに
て中心点から見て放射状の位置に形成される。4本のス
ロット部43は、リング形状の上に配置されるので、そ
れぞれは弧形状を有している。またスロット部43は、
他のリング状永久磁石の間に形成することもでき、スロ
ット部を同心円な位置に配置させることも可能である。
さらに本実施例では、リング状永久磁石45を4個使用
した例を示したが、応用の目的によっては、異なる数の
方が優れた性能を有する場合もある。また着磁方向は、
各永久磁石45について逆方向としても、動作は全く同
じである。
【0026】平面状電極42は、その構造、形態および
材質上、大気圧と真空との圧力差に対して実用上変形し
ない強度を有するものとする。一方、スロット部43の
内部の誘電体44を通してマイクロ波を伝搬させる必要
上から、平面状電極42の厚みはできる限り薄い方が望
ましい。これらの2つの条件の兼ね合いによって、平面
状電極42の厚みが決定される。本実施例に示すよう
に、スロット部43はリング状のものを複数部分(本実
施例では4本)に分割して橋渡し部分46を設けること
により、スロット部43の機械的強度を補って平面状電
極42を薄くすることが実用上有効である。橋渡し部分
46の幅が、放電に用いるマイクロ波の波長と比較して
十分に短かく、かつ分割されたスロット部43の長さが
マイクロ波の波長の4分の1と同程度以上であるなら
ば、橋渡し部分46の長さおよび分割の個数に関して特
に制約は存在しない。
材質上、大気圧と真空との圧力差に対して実用上変形し
ない強度を有するものとする。一方、スロット部43の
内部の誘電体44を通してマイクロ波を伝搬させる必要
上から、平面状電極42の厚みはできる限り薄い方が望
ましい。これらの2つの条件の兼ね合いによって、平面
状電極42の厚みが決定される。本実施例に示すよう
に、スロット部43はリング状のものを複数部分(本実
施例では4本)に分割して橋渡し部分46を設けること
により、スロット部43の機械的強度を補って平面状電
極42を薄くすることが実用上有効である。橋渡し部分
46の幅が、放電に用いるマイクロ波の波長と比較して
十分に短かく、かつ分割されたスロット部43の長さが
マイクロ波の波長の4分の1と同程度以上であるなら
ば、橋渡し部分46の長さおよび分割の個数に関して特
に制約は存在しない。
【0027】次に、本実施例によるマイクロ波の電力の
供給の構造、およびプラズマの発生方法について説明す
る。マイクロ波電源20から、外部導体21と内部導体
22からなる同軸管23を通じて、平面状電極42に対
してマイクロ波電力が供給されると、平面状電極42に
設置されたスロット部43の誘電体44を通して、真空
容器11の内部にマイクロ波による電力が放射される。
このマイクロ波電力は、真空容器11内に導入されてい
るガスに吸収され、真空容器11内にプラズマ25が発
生する。このプラズマ25の持つ作用を利用して、被処
理基板14の表面に所定の表面処理を施す。このとき、
複数のリング状永久磁石45から発生する磁場の強度
を、供給されるマイクロ波の周波数に対する電子サイク
ロトロン共鳴の条件が真空容器11内におけるスロット
部43の近傍空間で満たすように設定すれば、プラズマ
25の発生効率を非常に高いものとすることができる。
供給の構造、およびプラズマの発生方法について説明す
る。マイクロ波電源20から、外部導体21と内部導体
22からなる同軸管23を通じて、平面状電極42に対
してマイクロ波電力が供給されると、平面状電極42に
設置されたスロット部43の誘電体44を通して、真空
容器11の内部にマイクロ波による電力が放射される。
このマイクロ波電力は、真空容器11内に導入されてい
るガスに吸収され、真空容器11内にプラズマ25が発
生する。このプラズマ25の持つ作用を利用して、被処
理基板14の表面に所定の表面処理を施す。このとき、
複数のリング状永久磁石45から発生する磁場の強度
を、供給されるマイクロ波の周波数に対する電子サイク
ロトロン共鳴の条件が真空容器11内におけるスロット
部43の近傍空間で満たすように設定すれば、プラズマ
25の発生効率を非常に高いものとすることができる。
【0028】マイクロ波導入部の構造に関して説明す
る。表面処理装置において利用するマイクロ波の電力
は、通常10Wから数kWの範囲にある。このような電
力を伝搬させるための同軸管47としては、外部導体4
8の内径が20mmまたは39mmに規格化されたもの
を利用するのが一般的である。一方、スロット部43の
直径に関しては、目的とするプロセスに応じて異なる
が、通常は被処理基板14の直径と同程度もしくは若干
小さい程度の直径が必要とされる。被処理基板14の直
径は150mmから300mmの範囲に大部分のものが
含まれるため、スロット部43と同軸管47とは直接的
に接続することはできない。従って、本実施例では、外
部導体48および内部導体49の放電用平面状電極42
と接続する部分47aをテーパ状とした同軸管47によ
り構成している。これによって、インピーダンス不整合
による電力利用効率の悪化を防止している。
る。表面処理装置において利用するマイクロ波の電力
は、通常10Wから数kWの範囲にある。このような電
力を伝搬させるための同軸管47としては、外部導体4
8の内径が20mmまたは39mmに規格化されたもの
を利用するのが一般的である。一方、スロット部43の
直径に関しては、目的とするプロセスに応じて異なる
が、通常は被処理基板14の直径と同程度もしくは若干
小さい程度の直径が必要とされる。被処理基板14の直
径は150mmから300mmの範囲に大部分のものが
含まれるため、スロット部43と同軸管47とは直接的
に接続することはできない。従って、本実施例では、外
部導体48および内部導体49の放電用平面状電極42
と接続する部分47aをテーパ状とした同軸管47によ
り構成している。これによって、インピーダンス不整合
による電力利用効率の悪化を防止している。
【0029】図3を用いて磁場とマイクロ波による電場
との作用を説明する。図3では、リング状永久磁石45
により発生する磁力線(磁場)50、平面状電極42に
設けられたスロット部43により発生するマイクロ波の
電場51が示される。スロット部43からECR面に至
るプラズマ52中のマイクロ波の伝搬経路で、磁場強度
がECR面に向かって次第に減少する構造を有する。ま
たマイクロ波による電場51は、ほぼ全体にわたって磁
力線50と直交する。以上の2つの条件は、従来の技術
の項ですでに述べた通り、マイクロ波をECR面まで伝
搬させて高密度のプラズマを発生させるためには必要不
可欠なものである。本実施例においても、複数のリング
状永久磁石45の着磁方向を半径方向とし、かつ隣り合
うリング状永久磁石45の着磁方向を互いに逆方向とす
ることにより、図3と図6の比較から明らかなように、
従来の平面型ECR表面処理装置と同様の磁場と電場の
相互作用が可能となり、ECRの利点を生かしたプラズ
マの生成が可能である。
との作用を説明する。図3では、リング状永久磁石45
により発生する磁力線(磁場)50、平面状電極42に
設けられたスロット部43により発生するマイクロ波の
電場51が示される。スロット部43からECR面に至
るプラズマ52中のマイクロ波の伝搬経路で、磁場強度
がECR面に向かって次第に減少する構造を有する。ま
たマイクロ波による電場51は、ほぼ全体にわたって磁
力線50と直交する。以上の2つの条件は、従来の技術
の項ですでに述べた通り、マイクロ波をECR面まで伝
搬させて高密度のプラズマを発生させるためには必要不
可欠なものである。本実施例においても、複数のリング
状永久磁石45の着磁方向を半径方向とし、かつ隣り合
うリング状永久磁石45の着磁方向を互いに逆方向とす
ることにより、図3と図6の比較から明らかなように、
従来の平面型ECR表面処理装置と同様の磁場と電場の
相互作用が可能となり、ECRの利点を生かしたプラズ
マの生成が可能である。
【0030】図4は本発明に係る表面処理装置の第2の
実施例を示す。この実施例では、スロット部43は平面
状電極42の内部にて半径方向にクランク状に形成され
ており、第1の実施例と同様に誘電体44が充填されて
いる。スロット部43の位置は、大気側の電極面におい
ては内側から2番面と3番目の2つのリング状永久磁石
53の間とし、真空側の電極面においては2番面のリン
グ状永久磁石53の磁石幅の中心位置と合わせることが
望ましい。このスロット部43内に充填する誘電体44
の材質は、第1の実施例と同様に選択される。また本実
施例では、複数のリング状永久磁石53の着磁方向は、
従来装置の場合と同様にリング形状の軸方向とする。こ
れは、本実施例においては磁場とマイクロ波電場との配
置関係が、図6に示した従来装置の場合と同様になるか
らである。
実施例を示す。この実施例では、スロット部43は平面
状電極42の内部にて半径方向にクランク状に形成され
ており、第1の実施例と同様に誘電体44が充填されて
いる。スロット部43の位置は、大気側の電極面におい
ては内側から2番面と3番目の2つのリング状永久磁石
53の間とし、真空側の電極面においては2番面のリン
グ状永久磁石53の磁石幅の中心位置と合わせることが
望ましい。このスロット部43内に充填する誘電体44
の材質は、第1の実施例と同様に選択される。また本実
施例では、複数のリング状永久磁石53の着磁方向は、
従来装置の場合と同様にリング形状の軸方向とする。こ
れは、本実施例においては磁場とマイクロ波電場との配
置関係が、図6に示した従来装置の場合と同様になるか
らである。
【0031】上記の各実施例では、リング状永久磁石4
5,53を平面状電極42に組み込むようにしたが、平
面上電極42の外側に配置することもできる。
5,53を平面状電極42に組み込むようにしたが、平
面上電極42の外側に配置することもできる。
【0032】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように本発明によ
れば、平面型ECR表面処理装置において、平面状電極
の構造およびリング状永久磁石の着磁方向に工夫するこ
とによって、信頼性低い従来のマイクロ波導入用真空窓
を排除し、スロット内部での不要放電の発生をなくした
ため、平面型ECR表面処理装置において安定して効率
よく高密度プラズマを発生させ、かつ被処理基板に表面
処理の均一性を良好に保つことができ、実用性を高め
た。特に、本発明によれば、プラズマプロセス装置であ
るドライエッチング装置、CVD装置等の表面処理装置
において、各種の高速かつ均一な大面積処理が可能とな
る。
れば、平面型ECR表面処理装置において、平面状電極
の構造およびリング状永久磁石の着磁方向に工夫するこ
とによって、信頼性低い従来のマイクロ波導入用真空窓
を排除し、スロット内部での不要放電の発生をなくした
ため、平面型ECR表面処理装置において安定して効率
よく高密度プラズマを発生させ、かつ被処理基板に表面
処理の均一性を良好に保つことができ、実用性を高め
た。特に、本発明によれば、プラズマプロセス装置であ
るドライエッチング装置、CVD装置等の表面処理装置
において、各種の高速かつ均一な大面積処理が可能とな
る。
【図1】本発明に係る表面処理装置の第1実施例を示す
断面図である。
断面図である。
【図2】平面状電極の構造を説明するための平面図であ
る。
る。
【図3】第1実施例における磁場とマイクロ波による電
場との作用関係を説明するための断面図である。
場との作用関係を説明するための断面図である。
【図4】本発明に係る表面処理装置の第2実施例を示す
断面図である。
断面図である。
【図5】従来の平面型ECR表面処理装置を示す断面図
である。
である。
【図6】従来の平面型ECR表面処理装置における磁場
とマイクロ波による電場との作用関係を説明するための
断面図である。
とマイクロ波による電場との作用関係を説明するための
断面図である。
11 真空容器 13 電極 14 被処理基板 15 排気機構 42 平面状電極 43 スロット部 44 誘電体 45,53 リング状永久磁石 47 同軸管 48 外部導体 49 内部導体 50 磁力線(磁場) 51 電場 52 プラズマ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C30B 33/12 7202−4G H01L 21/205 H05H 1/46 C 9216−2G
Claims (5)
- 【請求項1】 真空容器と、この真空容器内を減圧状態
にする排気機構と、前記真空容器内に放電用ガスを導入
するガス導入機構と、前記ガスを放電させプラズマを発
生させるためマイクロ波による電力を供給する電力供給
機構と、前記真空容器内に設置される基板保持機構を備
える表面処理装置において、 前記電力供給機構は、誘電体が充填された孔を有する導
電性板で形成されかつ前記真空容器内を真空封止するよ
うに前記真空容器に固定される平面状電極を備え、前記
孔を通して、前記電力供給機構の同軸管で供給される前
記マイクロ波が前記真空容器内に放射されること特徴と
する表面処理装置。 - 【請求項2】 前記平面状電極に形成された前記孔は前
記導電性板上の一点を中心とする放射状位置に複数個配
置され、かつ前記放射状位置の中心近傍に前記マイクロ
波が供給されることを特徴とする請求項1記載の表面処
理装置。 - 【請求項3】 前記平面状電極の前記孔は1つの円上ま
たは複数の同心円上の弧として形成され、かつ前記円ま
たは前記複数の同心円の中心近傍にマイクロ波が供給さ
れることを特徴とする請求項1記載の表面処理装置。 - 【請求項4】 前記平面状電極を形成する前記導電性板
で前記孔と干渉しない位置に複数個のリング状永久磁石
を設置し、前記孔の近傍に磁場を発生したことを特徴と
する請求項1〜3のいずれか1項に記載の表面処理装
置。 - 【請求項5】 前記複数のリング状永久磁石の着磁方向
はリング状永久磁石の半径方向であり、かつ隣り合うリ
ング状永久磁石の着磁方向が互いに逆方向であることを
特徴とする請求項4記載の表面処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7033050A JPH08203881A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | 表面処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7033050A JPH08203881A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | 表面処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08203881A true JPH08203881A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=12375951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7033050A Pending JPH08203881A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | 表面処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08203881A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000265278A (ja) * | 1999-03-15 | 2000-09-26 | Canon Inc | プラズマ処理装置 |
| US6325018B1 (en) * | 1999-03-12 | 2001-12-04 | Tokyo Electron Limited | Flat antenna having openings provided with conductive materials accommodated therein and plasma processing apparatus using the flat antenna |
| JP2006508799A (ja) * | 2002-12-06 | 2006-03-16 | エムケーエス インストルメンツ, インコーポレイテッド | フッ素発生およびフッ素再循環のための方法および装置 |
| JPWO2005087973A1 (ja) * | 2004-03-15 | 2008-01-31 | 株式会社アルバック | 成膜装置及びその成膜方法 |
| WO2022102405A1 (ja) * | 2020-11-10 | 2022-05-19 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置及び制御方法 |
-
1995
- 1995-01-30 JP JP7033050A patent/JPH08203881A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6325018B1 (en) * | 1999-03-12 | 2001-12-04 | Tokyo Electron Limited | Flat antenna having openings provided with conductive materials accommodated therein and plasma processing apparatus using the flat antenna |
| JP2000265278A (ja) * | 1999-03-15 | 2000-09-26 | Canon Inc | プラズマ処理装置 |
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