JPH08204273A - 画像形成装置の画像形成部材上に制御された大きさのスポットを作る方法 - Google Patents

画像形成装置の画像形成部材上に制御された大きさのスポットを作る方法

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JPH08204273A
JPH08204273A JP7261320A JP26132095A JPH08204273A JP H08204273 A JPH08204273 A JP H08204273A JP 7261320 A JP7261320 A JP 7261320A JP 26132095 A JP26132095 A JP 26132095A JP H08204273 A JPH08204273 A JP H08204273A
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lasers
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ケント・ヴィンセント
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Abstract

(57)【要約】 【課題】レーザによって作られる画像のスポットの大き
さを精密に制御することにより、良好な画像を形成しう
るようにする。 【解決手段】画像を表す画像情報にしたがって、アレー
状に配列されたレーザを駆動する。個々のレーザの強度
出力を監視して、各レーザに対する強度出力フィードバ
ック情報を得る。このフィードバック情報を使って、個
々のレーザを駆動するエネルギーの値を調節する。これ
により、画像を形成するスポットの大きさが精密に制御
される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像形成装置、具
体的には、複数のレーザを持つ、レーザに基づく画像走
査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図1に、レーザ光走査装置の概略図を示
す。レーザ光走査装置2は、複数の発光レーザ6が二次
元に配置されている面発光半導体レーザ・アレー4を含
む。レーザ6によって作られるレーザ光の強度は、制御
装置8によって個々に制御される。レーザ6によって発
せられたレーザ光は、予定のビーム径のレーザ光をつく
るために、コリメート・レンズ10によってコリメート
される。次に、レーザ光は回転する多面体鏡12の小面
(facet)にあたり、対物レンズ14を通して画像形成
部材16に導かれる。画像形成部材16にあたるレーザ
光は、多面体鏡12を回転させることによって作られる
走査線20に沿って、画像を形成する点であるスポット
18を形成する。図1に示したレーザ光走査装置の詳細
は、欧州特許第0544002A1号に記載されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】通常、アレー状に並べ
られたレーザ即ちレーザ・アレー(単にアレーと略すこ
とあり)の中のレーザはすべて、所与の駆動電圧に対し
て同じ強度出力を持つように設計される。しかし、実際
に半導体レーザを製造するときに、アレー内のレーザに
強度性能の差ができる。その結果、1つのアレー内のレ
ーザは、所与の駆動電圧に対して、それぞれ異なる強度
応答を持つ。異なる強度応答は、結果として、アレー内
のレーザの均一性を欠くことになる。その結果として、
印加された所与の駆動電圧に対して、アレー内の多様な
レーザによって作られたスポットが異なる大きさ(サイ
ズ)を持つ。このため、レーザ間でスポットの大きさを
精密に制御できず、走査または印刷された画像に縞模様
やその他の欠陥ができやすくなり、画像品質が落ちる。
したがって、レーザ・アレーによって作られたスポット
の大きさを精密に制御することが必要である。
【0004】本発明は、レーザ・アレー内のそれぞれの
レーザによって作られたドットすなわちスポットの大き
さを正確に制御する新しい手法を提供することを目的と
する。そのような制御の利点は、物理上の、環境上の、
または動作上の均一性が欠けるところがあっても、アレ
ー内のレーザが、均一かつ一貫した仕方で動作するよう
にできることである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の方法は、画像形
成部材上に作られたスポットが精密に制御された大きさ
になるように、複数のレーザを持つ画像走査装置を制御
する。この方法は、画像形成部材上に走査される画像を
表す画像情報を受け取り、この画像情報にしたがってレ
ーザを駆動する。各々のレーザからの強度出力フィード
バック情報が、各レーザからの強度出力を監視すること
によって得られる。望ましくない非均一性をなくすため
に、このフィードバック情報を使って、レーザを駆動す
るエネルギー値が調節される。
【0006】本発明のもう1つの方法の形態は、アレー
内の個々のレーザを、画像形成装置のレーザ・アレーで
較正する(calibrate)ことに主に関する。この方法
は、ある予定のレベルでレーザを駆動し、光検出器を使
ってレーザを監視することによって複数のレーザからの
強度出力データを受け取る。次に、比較情報を作るため
に、複数のレーザの各々の強度出力データを、残りの複
数のレーザと比較する。次に、この比較情報に基づい
て、複数のレーザが相互に較正される。
【0007】本発明は、また、装置として具体化するこ
とができる。本発明の装置の具体化は、アレー状の面発
光レーザ、および、これらの面発光レーザを結合して画
像形成部材の表面にレーザ走査線を作る走査装置を含
む。また、この装置は、監視手段およびドット・サイズ
制御装置を含む。監視手段は、レーザ・アレーによって
作られるレーザ光のそれぞれの強度を監視し、各レーザ
光に対してフィードバック強度値を作るために動作す
る。ドット・サイズ制御装置は、それぞれのレーザに関
連するフィードバック強度値にしたがってレーザを駆動
することにより、各レーザによって作られるスポットの
大きさを制御する。
【0008】本発明がどのように具体化されるかにかか
わらず、本発明を使用する画像走査/形成装置はレーザ
・アレーを用いて、すべてのレーザが均一かつ一貫した
仕方で機能しないときに画像の印刷または走査中に起こ
り得る縞模様やその他の欠陥を蒙ることなく、走査また
は印刷を行うことができる。
【0009】
【発明の実施の形態】図1ないし図6を参照して、本発
明の実施の形態について以下に説明する。当業者には明
らかなように、以下の記述は実施の形態の例を説明する
ためのものであり、本発明は、これらの限られた実施形
態の例を超えて広げることが可能である。
【0010】面発光レーザの開発によって、図1に示し
たようなレーザ・アレーを持つレーザ光走査装置の実用
性が促進されてきた。しかし、レーザ・アレーで印刷す
ることの難しさは、そのような印刷装置は、全てのレー
ザが均一かつ一貫した仕方で機能しないかぎり、画像の
印刷または走査中に起こり得る縞模様またはその他の欠
陥を蒙りやすいということである。レーザが1つの基板
上に形成されている場合でさえも、所与の印加電圧で発
光した光の強度が50%も差が出ることが観察されてい
る。レーザ間の均一性がこのように欠けることによっ
て、印刷された画像の品質が落ちることは驚くにあたら
ない。本発明は、各レーザからの強度出力を監視し、こ
の情報を使って個々のレーザに印加される駆動電圧を調
節することによって、従来技術に関連するこの問題を克
服する。
【0011】図2に、本発明によるレーザ光走査装置3
0のブロック図を示す。レーザ光走査装置30は、アレ
ー状の面発光レーザ32を含む。アレー内の各レーザ3
2は、個々に制御され、レーザ光を作ることができる。
また、各レーザ32は、それぞれのレーザに接続された
光検出器33を持つ。光検出器33の各々は、対応する
レーザ32によって作られるレーザ光の強度に関する強
度フィードバック情報を提供する。個々のレーザ32に
対する光検出器33の構成については、図6を参照して
以下に詳しく述べる。
【0012】また、レーザ光走査装置30は、アレー内
のレーザ32を個々に制御するように動作する面発光レ
ーザ制御装置34を含む。面発光レーザ制御装置34
は、線36を通して、レーザ32のそれぞれに関連して
いる光検出器33から強度フィードバック情報を実時間
で受け取る。また、面発光レーザ制御装置34は、印刷
すべき特定の画像に関して面発光レーザ制御装置34に
指示を与える画像情報38を受け取る。また、較正表4
0も、面発光レーザ制御装置34に接続されている。較
正表40は、物理的な差にかかわらずアレー内のレーザ
32を均一な仕方で動作させるために面発光レーザ制御
装置34によって使用される較正情報を記憶する。アレ
ー内のレーザの物理的な差には、たとえば、レーザの電
気抵抗の変動、レーザの開口の差、活性領域の応答性、
およびブラッグ反射体(Bragg reflector)の性能等が
ある。面発光レーザ制御装置34は、画像情報38、強
度フィードバック情報、またおそらく較正表40からの
情報にしたがって、アレーのレーザ32に対する面発光
レーザ制御信号42を作る。
【0013】図2に示したレーザ光走査装置の動作につ
いて、図3、図4(A)、図4(B)、および図5を参
照して、以下に詳しく述べる。
【0014】図3に、本発明による、面発光レーザの制
御方法の第1の形態50の流れ図を示す。面発光レーザ
制御方法50は、画像情報38を受け取ることによって
始まる(ブロック52)。画像情報38は、走査または
印刷される画像を詳しく表す。この後、画像情報38に
したがって、レーザ32のうちのある一定のレーザが駆
動される(ブロック54)。レーザ32が駆動される
(ブロック54)ときに、レーザ32の各々からの強度
出力データが監視される(ブロック56)。図2に示し
た光検出器33は、この監視機能を実行する装置の例で
ある。
【0015】レーザ光走査装置30の画像形成部材の周
知の光応答特性を使って、面発光レーザ制御装置34
は、画像形成部材上に所望の画像を作るために、前記の
一定のレーザ32を駆動する(ブロック54)駆動電圧
の量を決める。監視された強度出力データの値が意図ま
たは期待した値と異なる場合、一定のレーザ32を駆動
するのに使われた駆動電圧量は、監視された強度出力デ
ータにしたがって調節される(ブロック58)。一定の
レーザ32に対する強度出力の監視された値は、レーザ
開口の差、レーザの電気抵抗の変動、レーザ温度の変
動、または、その他の物理上または環境上の変動を含む
数多くの理由により、期待された強度からはずれること
があり得る。たとえば、第1および第2のレーザが同じ
スポットを作るとし、これらのレーザの電気抵抗に差が
ある場合、これらのレーザを同じ電圧で駆動すると同一
でないスポットが作られる。したがって、本発明によ
り、第1および第2のレーザに供給される駆動電圧は、
より効率の悪いすなわち応答性の低いレーザを、効率の
良いレーザよりも高い電圧で駆動できるようにする。し
たがって、この実施の形態により、レーザ間に物理上ま
たは環境上の差があっても、駆動された各レーザによっ
て作られたスポットの大きさが、画像情報によって要求
されているスポットの大きさと同じものになることが保
証される。
【0016】図4(A)、および図4(B)に示したレ
ーザ光のグラフ(プロファイル:profile)-対-レーザ
光の半径の図は、異なるドット・サイズがどのようにし
て作られるかを説明している。一般的に、レーザ光走査
装置の画像形成部材に衝突(impinge)する光の強度
は、本質的に対称形なガウス的形状(Gaussian profil
e)のものである。したがって、所与のレーザ光に対し
て、光の中心周辺に半径があり、その半径内部では画像
形成部材に関連している光導電体を放電させるのに十分
な強度があり、その半径の外では強度が低すぎて、光導
電体は、印刷するための放電が十分できなくなる。光導
電体を放電させるのに十分な光強度をしきい強度
(ITH)と呼ぶ。図4(A)で、強度曲線60のしきい
強度を超える部分が直径D1のスポットに対応し、直径
1のスポットが作られる。同様に、図4(B)で、強
度曲線62のしきい強度を超える部分が直径D2のスポ
ットに対応し、直径D2のスポットが作られる。したが
って、レーザ光の強度が増すにしたがい、作られるスポ
ットの半径が大きくなり、レーザ光の強度が減るにした
がい、スポットの大きさの半径が小さくなる。
【0017】光検出器33により各レーザ32の光強度
を精密に制御することができるので、光導電体の放電特
性がわかれば、光導電体上に作られるスポットの大きさ
を精密に制御することができる。実際問題としては、走
査されるスポットの大きさ(または印刷されるドットの
大きさ)とレーザ強度との間の関係は既知であり、印刷
装置またはその他のレーザ光走査装置のメモリにディジ
タル値で記憶させることができる。画像情報(例えばグ
レースケールのデータ)が走査装置(または印刷装置)
に供給されるときに、テーブルを使って、各ピクセルの
値をレーザ強度に変換できる。次に、走査(または印
刷)中に、レーザの強度が所望の大きさのスポットを作
るのに必要な強度に一致するように、レーザの駆動電圧
を調節することができる。この手法は、たとえばエラー
拡散法(error diffusion)、ディザ法(dither)、ス
ーパーピクセル法(super pixeling)等の従来の二値の
グレースケール画像手法より利点が多い。というのは、
グレースケール値が隣接するピクセルに広がらず、各ピ
クセルが正確に制御され、画像の鋭さが維持できるから
である。
【0018】図5に、本発明による、レーザ制御方法の
第2の形態の流れ図を示す。この形態では、調節は2段
階で行われる。第一の段階で、レーザ間の物理的な差に
かかわらず均一な動作を行うことができるように、レー
ザがたがいに較正される。典型的には、この第1の段階
は工場で行われる。次に、第2の段階で、レーザが監視
され、その他の非均一性を補償するために実時間で調節
される。
【0019】レーザ制御方法64は、画像情報38を受
け取ることから始まる(ブロック66)。工場での較正
は既に行われているものとする。したがって、走査また
は印刷を行う前に、レーザ制御方法64は、レーザ32
の各々に対する較正情報を受け取っている(ブロック6
8)。較正情報は、レーザの各々に対する駆動電圧と、
その結果生ずる強度との間の関係を数量化する。したが
って、較正情報は、各々のレーザの、駆動電圧-対-強度
プロファイルにかかわるものである。例として、較正情
報は、レーザ32の全てを予め定められた固定電圧で駆
動し、その結果生じた強度値を光検出器33を使って記
録することによって得られる。レーザ32の動作強度範
囲に関する較正に必要な比較の点の数は、強度出力と印
加電圧との間の関係がどれだけ線形であるかに依存す
る。いずれにせよ、較正情報は、図2に示したような較
正表40に記憶させることができる。
【0020】次に、面発光レーザ制御装置34は、各レ
ーザが所望の情報を作るのに必要な駆動エネルギー値を
決める(ブロック70)。これらの駆動エネルギー値
は、画像情報38、較正情報、および画像形成部材の周
知の光応答特性に基づいて決められる(ブロック7
0)。画像情報38、および画像形成部材の光応答特性
は、あるレーザによってある所与の時点に作られるスポ
ットの強度を決めるために使われる。次に、較正情報
が、必要な強度を得るのにかかる駆動電圧を決めるため
に使われる。したがって、較正情報を使うことによっ
て、面発光レーザ制御装置34は、レーザ32の出力効
率の物理的な差を補償するために、レーザ間の強度すな
わちその結果生じるスポットの大きさを調節することが
できるように、各レーザを、異なるけれども一貫性のあ
る仕方で駆動することができる。
【0021】さらに、レーザ32が決められた駆動エネ
ルギー値で駆動されると、面発光レーザ制御装置34
は、レーザ32の各々からの強度出力データを実時間で
監視する(ブロック72)。この実時間の強度出力デー
タを使って、面発光レーザ制御装置34は、環境上の、
動作上の、または物理上の非均一性を補償することが必
要な程度に、レーザ32の各々に供給されている駆動エ
ネルギー値を調節する(ブロック74)。環境上の非均
一性の例は、所与の駆動電圧で作られるレーザ光の強度
に影響を及ぼす周囲温度である。動作上の非均一性の例
は、レーザ間の相対的な温度差であり、連続的に印刷し
ていたレーザは、間欠的に印刷していたレーザよりも熱
い。他の全ての変数を等しいとすると、熱いレーザは、
冷えたレーザとは異なる強度出力を作る。この異なる強
度出力が起こるのは、温度の変動が活性およびブラッグ
層の分光上の配列に影響を及ぼし、活性層が温度に対し
て周知の感度を持つ半導体層であるからである。より本
質的な物理上の相違は較正段階で補償されるが、動作上
の変動または非均一性も補償されなければならない。動
作上の非均一性の例には、たとえば、印刷の衝撃係数
(デューティサイクル:duty cycle)、レーザの温度、
周囲温度等がある。絶対必要要件ではないが、これらの
動作上の変動は、各レーザ毎に補償されることが望まし
い。というのは、印刷の衝撃係数およびレーザ温度は、
レーザごとに異なることが多いからである。印刷の衝撃
係数は、現在行われている印刷の直前にレーザによって
行われた印刷の量に関連する。個々のレーザが印刷する
ためにオンになっていることが多いほど、レーザは熱く
なり、一般的には、そのパワー出力は低くなる。
【0022】図6に、薄膜で作成した面発光レーザ32
の断面を示す。面発光レーザ32は、モードmを整数と
して、λ/mの波長で光を発するように設計される。面
発光レーザ32は、両側をブラッグ反射体84および8
6で被覆された活性(光量子発生)領域80を含む。ブ
ラッグ反射体84および86は、それぞれ、p-ドープ
された物質の層85、およびn-ドープされた物質の層
87からなり、活性領域80全体にわたってP−N接合
を形成する。ブラッグ反射体84および86は、交替す
る屈折率を持つ薄い半導体または誘電体膜の周期構造で
ある。層85および87のそれぞれは、λ/4の光学的
厚さを持つ。活性領域80が、光学的厚さλを持つ光学
的空洞共振器(optical cavity)82の中央に付着され
ている。空洞共振器82は、隣接するブラッグ反射体8
4および86の層の物質にくらべて相対的に高いか低い
屈折率を持つ物質で作られる。
【0023】活性領域80によって発生された光は、ブ
ラッグ反射体84および86の様々な層85および87
によって反射され、ほとんどの光が空洞共振器82の中
に反射して戻される。層内の波干渉によって、光が、波
長λ/mの定在波に引き下げられる。ブラッグ反射体8
4および86を、全反射的(totally reflective)より
もいくぶん少なく指定することにより、波長λ/mのコ
ヒーレント光Cが光学層の平面に対して垂直に発せられ
る。層物質および厚さを適切に選択することにより、レ
ーザの発光を、1つの縦モードに限定することができ
る。
【0024】レーザ32の全構造は、基板88の上に付
着される。また、金属電極90、92、および96が、
基板88およびブラッグ反射体84の上に付着される。
電極90および92は、レーザを電気的に励起するため
に使われる。電極90および96は、レーザによって作
られた光、すなわち、レーザの開口を通して発せられた
光の強度を測定するのに使われる。
【0025】図6に示したレーザ32は、電極92を電
極90に対して順バイアスすることによって活動化され
る。この順バイアスは、図6に示した順バイアス装置9
4によって行われる。典型的には、順バイアス装置94
はDC電圧源で、正の電位が電極92に接続され、負の
電位が電極90に接続されたものである。
【0026】フィードバック強度情報を得るために、電
極96は電極90に対して逆バイアスされる。この逆バ
イアスは、図6に示す逆バイアス装置100によって提
供される。逆バイアス装置100は、正の電位が電極9
0に接続され、負の電位が電極96に接続されたDC電
圧源でよい。このように、レーザ32を逆バイアスする
ことにより、電極96と電極90との間に小さな光電流
が作られる。小さい光電流は、活性領域80によって作
られる光(実質的に全ての光がするように垂直方向では
なく、反射によって、空洞共振器82の中で横方向に反
射する)の小さな部分によって作られる。電極96と9
0との間に接続されている光電流検出器98が、作られ
つつある光電流のレベルを検出する。たとえば、光電流
検出器98は、検出された電流を電圧に変換する抵抗器
でもよい。実験によれば、逆バイアス回路の中で電流を
作っている光量子の僅かな量が、基本的にまた概略的
に、開口95を通して発せられる光Cの強度に線形に関
連することを示している。
【0027】したがって、光検出器33(図2)は、実
際上、レーザ32そのものの一部(強度に関係する光電
流を作る電流発生部分)、および、電極96に接続され
ている回路(電流検出部分)、すなわち、光電流検出器
98および逆バイアス装置100を含む。光検出器33
の全ての部分がレーザに密接に接続されているが、レー
ザと一体である必要があるのは光検出器33の電流発生
部分だけである。
【0028】典型的な面発光レーザの構造は、内側のブ
ラッグ反射体86を形成するために、N-型GaAsウ
ェーハの上に分子線エピタキシによってエピタキシャル
成長された、30.5対のAlGaAsおよびAlAs
の交替層からなる。次に、活性層80が付着され、活性
層80はAlGaAsまたはGaAsの3ないし5の量
子井戸を有する。次に、20対のAlGaAsおよびA
lAs層が外側のブラッグ反射体84を形成する。周知
の技術を用いて、層界面全体にわたって電気抵抗および
バンドオフセット(band offset)を減らすために、A
lGaAsおよびAlAsの交替層が、徐々に変化する
(graded)短周期超格子の中で作られる。電極92の金
属で被われた部分の直ぐ下のブラッグ反射体84の領域
93は、電流および同様に光量子発生をレーザ32の開
口領域に限定するために、陽子による衝撃を与えられ
る。電極92は、外側のブラッグ反射体84の上に付着
されたリングp-型接点の金属で被われた電極であり、電
極90は、n-型GaAs基板88の背面上に置かれたn-
型接点の金属で被われた電極である。
【0029】図6に示した設計以外に、面発光レーザを
作りレーザ光の強度を検出する方法は数多くある。本発
明は、図6に示した特定の構造を使用することに限定さ
れるものではない。いくつかの付加的手法が、本発明と
同時出願の米国特許出願「光ダイオードと面発光レーザ
の統合」("INTEGRATION OF PHOTODIODE WITH SURFACE
EMITNNG LASER,")に記載されている。
【0030】本発明には、例として次のような実施態様
が含まれる。 (1)アレー状のレーザを備えたレーザに基づく画像形
成装置の画像形成部材上に制御された大きさのスポット
を作る方法であって、(a)前記画像形成部材上に走査
される画像を表す画像情報を受け取るステップと、
(b)前記画像情報にしたがって複数のレーザを駆動す
るステップと、(c)前記複数のレーザの各々の強度出
力を監視することによって、強度出力フィードバック情
報を得るステップと、(d)前記強度出力フィードバッ
ク情報にしたがって、前記複数のレーザの駆動エネルギ
ー値を調節するステップと、(e)較正された前記アレ
ー状のレーザで前記画像形成部材上を走査して、制御さ
れた大きさのスポットを作るステップと、を有する、画
像形成装置の画像形成部材上に制御された大きさのスポ
ットを作る方法。
【0031】(2)前記の調節するステップ(d)が、
(d1)前記画像情報および前記画像形成部材の光応答
特性に基づいて、前記複数のレーザの少なくとも1つに
対して所望の強度出力値を決めるステップと、(d2)
前記複数のレーザの少なくとも1つに対する前記所望の
強度出力値と、その特定のレーザに対する監視された強
度出力とを比較するステップと、(d3)前記比較(d
2)に基づいて、前記複数のレーザの少なくとも1つに
対する駆動エネルギー値を調節するステップと、を有す
る、上記(1)に記載の方法。 (3)前記調節するステップ(d3)が、前記監視され
た強度出力が実質的に前記所望の強度出力以下である場
合、前記複数のレーザの少なくとも1つに対する前記駆
動エネルギー値を増やすステップと、前記監視された強
度出力が実質的に前記所望の強度出力を超える場合、前
記複数のレーザの少なくとも1つに対する前記駆動エネ
ルギー値を減らすステップと、を有する、上記(2)に
記載の方法。
【0032】(4)(a)強度出力データを作るため
に、光検出器を使って複数のレーザを監視するステップ
と、(b)前記複数のレーザの各々の強度出力データ
を、前記複数のレーザの残りと比較し、前記比較の結
果、比較情報を作るステップと、(c)前記比較情報に
したがって、前記複数のレーザを互いに較正するステッ
プと、を有する、画像形成装置のアレー状のレーザを較
正する方法。 (5)前記方法が、さらに、前記画像形成装置の画像形
成部材の上に、制御された大きさのスポットを作り、前
記較正するステップ(c)が較正情報を作り、前記方法
がさらに、(d)前記画像形成部材上に走査される画像
を表す画像情報を受け取るステップと、(e)前記画像
情報および前記較正情報にしたがって前記複数のレーザ
を駆動するステップと、を有する、上記(4)に記載の
方法。 (6)前記方法がさらに、(f)前記複数のレーザの各
々の強度出力を監視することによって、強度出力フィー
ドバック情報を得るステップと、(g)前記強度出力フ
ィードバック情報にしたがって、前記複数のレーザの駆
動エネルギー値を調節するステップと、(h)較正され
た前記アレー状のレーザで前記画像形成部材上を走査し
て制御された大きさのスポットを作るステップと、を有
する、上記(5)に記載の方法。 (7)前記調節するステップ(g)が、前記監視された
強度出力が実質的に前記所望の強度出力以下である場
合、前記複数のレーザの少なくとも1つに対する前記駆
動エネルギー値を増やすステップと、前記監視された強
度出力が実質的に前記所望の強度出力を超える場合、前
記複数のレーザの少なくとも1つに対する前記駆動エネ
ルギー値を減らすステップと、を有する、上記(6)に
記載の方法。
【0033】(8)光応答特性を持ち、画像が形成され
る画像形成部材と、各々のレーザがレーザ光を作る、ア
レー状の面発光レーザと、前記レーザ光の各々に対して
フィードバック強度値を作るために、前記アレー状のレ
ーザによって作られる前記レーザ光の各々の強度を監視
する監視手段と、関連する前記フィードバック強度値に
したがって前記レーザを駆動することにより、前記レー
ザの各々によって作られるドットの大きさを制御するド
ット・サイズ制御装置と、前記画像形成部材の表面上に
複数の走査線を作るために、前記レーザ光を利用するよ
うに配置された走査装置と、を備える画像形成装置。 (9)前記ドット・サイズ制御装置が、走査される画像
を表す画像情報を受け取る手段と、前記レーザを駆動す
ることによって作られる前記レーザ光に対するフィード
バック強度値を受け取る手段と、前記画像情報および関
連する前記フィードバック強度値にしたがって、前記レ
ーザの駆動エネルギー値を調節する手段と、を備える、
上記(8)に記載の装置。 (10)前記ドット・サイズ制御装置が、前記フィード
バック強度値に基づいて、前記レーザの各々によって作
られるドットの大きさを較正する較正手段を備える、上
記(8)に記載の装置。
【0034】(11)それぞれが面発光レーザの各々に
接続され、光電流値を監視するように動作する複数の光
電流検出器と、前記光電流値に基づいて前記レーザを互
いに較正するために使われる較正情報を作るために、前
記光電流検出器を動作させるように接続された較正装置
と、前記較正情報、および画像形成部材の上に画像を作
るための画像情報にしたがって前記レーザを個々に制御
するために、前記較正装置および前記レーザを動作させ
るように接続された制御装置と、を備える、アレー状の
面発光レーザを互いに較正する装置。 (12)前記光電流検出器が前記アレー状の面発光レー
ザと一体になっている、上記(11)に記載の装置。
【0035】
【発明の効果】本発明により、アレー状に配列された個
々に調節されていないレーザに物理上、環境上または動
作上に均一性が欠けるところがあっても、個々に調節さ
れたレーザが均一かつ一貫性のある仕方で動作でき、画
像を形成するスポットの大きさを精密に制御することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のレーザ光走査装置を示す概略図。
【図2】本発明のレーザ光走査装置を示すブロック図。
【図3】本発明のレーザ制御方法の第1の形態を示す流
れ図。
【図4】異なるドット・サイズを説明するため、レーザ
光の強度-対-レーザ光の半径を示す図で、図4(A)は
直径D1のドットを示し、図4(B)はより大きい直径
2のドットを示す。
【図5】本発明のレーザ制御方法の第2の形態を示す流
れ図。
【図6】薄膜で作成した面発光レーザを示す図。
【符号の説明】
2 レーザ光走査装置 4 面発光半導体レーザ・アレー 6 発光レーザ 8 制御装置 10 コリメート・レンズ 12 多面体鏡 14 対物レンズ 16 画像形成部材 18 スポット 20 走査線 30 レーザ光走査装置 32 面発光レーザ 33 光検出器 34 面発光レーザ制御装置 36 線 38 画像情報 40 較正表 42 面発光レーザ制御信号 60、62 強度曲線 80 活性領域 82 光学的空洞共振器 84、86 ブラッグ反射体 85 p-ドープされた物質の層 87 n-ドープされた物質の層 88 基板 90、92、96 金属電極 93 ブラッグ反射体84の領域 94 順バイアス装置 95 レーザの開口 98 光電流検出器 100 逆バイアス装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 1/405

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アレー状のレーザを備えたレーザに基づ
    く画像形成装置の画像形成部材上に制御された大きさの
    スポットを作る方法であって、 (a)前記画像形成部材上に走査される画像を表す画像
    情報を受け取るステップと、 (b)前記画像情報にしたがって複数のレーザを駆動す
    るステップと、 (c)前記複数のレーザの各々の強度出力を監視するこ
    とによって、強度出力フィードバック情報を得るステッ
    プと、 (d)前記強度出力フィードバック情報にしたがって、
    前記複数のレーザの駆動エネルギー値を調節するステッ
    プと、 (e)較正された前記アレー状のレーザで前記画像形成
    部材上を走査して、制御された大きさのスポットを作る
    ステップと、 を有する、画像形成装置の画像形成部材上に制御された
    大きさのスポットを作る方法。
JP7261320A 1994-10-31 1995-10-09 画像形成装置の画像形成部材上に制御された大きさのスポットを作る方法 Pending JPH08204273A (ja)

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