JPH08204399A - Mounted board production system - Google Patents
Mounted board production systemInfo
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- JPH08204399A JPH08204399A JP7009366A JP936695A JPH08204399A JP H08204399 A JPH08204399 A JP H08204399A JP 7009366 A JP7009366 A JP 7009366A JP 936695 A JP936695 A JP 936695A JP H08204399 A JPH08204399 A JP H08204399A
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- component
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 実装基板生産システムにおいて、不良品を次
工程・次手段へ流れることを食い止めて良品が無駄なく
生産させ、かつ製品品質の堅固な信頼性を得る。
【構成】 クリーム半田印刷機21と、部品装着機23
と、リフロー炉25と、リフローされた基板に対し、基
板の所定位置に正しく部品が半田接合されているか検査
する半田検査機26とを有する実装基板生産システムに
おいて、半田接合された基板の状態データを検出する半
田接合状態検出手段30,31,32と、これらの基板
の状態データのうち少なくともいずれかの情報をもと
に、検査プログラム、検査アルゴリズムの情報を動的に
変えて良品生産させるように制御する制御手段とを備え
て、不良品が次工程・次手段へ流れることを食い止め
る。
(57) [Abstract] [Purpose] In a mounting board production system, it is possible to prevent defective products from flowing to the next process and means, to produce good products without waste, and to obtain solid reliability of product quality. [Structure] Cream solder printing machine 21 and component mounting machine 23
In a mounting board production system having a reflow oven 25 and a solder inspector 26 for inspecting whether or not a component is correctly solder-bonded to a predetermined position on the reflowed board, status data of the solder-bonded board In order to produce a non-defective product by dynamically changing the information of the inspection program and the inspection algorithm based on at least one of the status data of the solder joint state detecting means 30, 31, 32 for detecting And a control means for controlling to prevent the defective product from flowing to the next process / means.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、基板に対して部品を実
装する実装基板生産システムに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounting board production system for mounting components on a board.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、回路基板に部品を実装する実装基
板生産システムにおいては、品質の管理を各工程毎に行
って不良発生を未然にくい止め、良品を無駄なく生産す
る取り組みが行われてきている。この種の実装基板生産
システムに関する従来の技術としては、例えば特願平4
−260449号にて出願が行われている。以下、図面
を参照しながら、特願平4−260449号における実
装基板生産システムの例を説明する。2. Description of the Related Art In recent years, in a mounting board production system for mounting parts on a circuit board, quality control is performed for each process to prevent defects from occurring and produce good products without waste. There is. As a conventional technique relating to this type of mounting board production system, for example, Japanese Patent Application No.
The application is filed under No. -260449. Hereinafter, an example of a mounting board production system in Japanese Patent Application No. 4-260449 will be described with reference to the drawings.
【0003】図23は、従来の実装基板生産システムの
構成を示すブロック図である。図23において、回路基
板の移送ラインに沿ってその上手側から半田印刷部1、
部品装着部2さらに半田付け部3が順次配設されてい
る。FIG. 23 is a block diagram showing the structure of a conventional mounting board production system. In FIG. 23, along the transfer line of the circuit board, from the upper side thereof, the solder printing unit 1,
The component mounting portion 2 and the soldering portion 3 are sequentially arranged.
【0004】半田印刷部1において、クリーム半田印刷
機4は回路基板などの被印刷物のランド上にクリーム半
田を印刷する。クリーム半田印刷検査機5は、基板およ
び印刷設備の状態を検査するとともに、クリーム半田印
刷機4で印刷したクリーム半田の印刷状態を検査する。
図23において、クリーム半田印刷検査機5が接続され
る印刷データ保持部6は、ランド上に印刷したクリーム
半田の印刷状態の監視項目、例えば、印刷カスレ、印刷
ズレおよび印刷半田の有無などのデータを収集して保持
し、また、基板および印刷設備に対する監視項目、例え
ば、基板マークズレ量やスクリーンマークズレ量などの
データを収集して保持する。この印刷データ保持部6が
接続される印刷データ分析部7は、印刷データ保持部6
で収集された各監視項目のデータを、監視項目別、回路
番号別、設備別などに集計分析および時系列分析などの
分析をし、この分析結果における、予め設定された監視
項目に対する、不良判定基準に達しない警告基準との比
較結果に基づいて印刷設備としてのクリーム半田印刷機
4の状態、およびクリーム半田印刷機4を通過した回路
基板の品質状態を把握する。この印刷データ分析部7
は、クリーム半田印刷機4に接続され、クリーム半田印
刷機4の状態、およびクリーム半田印刷機4を通過した
回路基板の品質状態に応じて、クリーム半田印刷機4に
対して動作制御指示を出力して動作状態を動的変えて良
品生産させるように制御する。In the solder printing section 1, a cream solder printing machine 4 prints cream solder on a land of an object to be printed such as a circuit board. The cream solder printing inspection machine 5 inspects the state of the board and the printing equipment, and also inspects the printing state of the cream solder printed by the cream solder printing machine 4.
In FIG. 23, the print data holding unit 6 to which the cream solder printing inspection machine 5 is connected monitors the printing state of the cream solder printed on the land, for example, data such as print blur, print misalignment, and presence / absence of print solder. And collects and holds the monitoring items for the board and the printing equipment, for example, data such as the board mark deviation amount and the screen mark deviation amount. The print data analysis unit 7 to which the print data holding unit 6 is connected includes a print data holding unit 6
The data of each monitoring item collected in step 2 is analyzed by aggregating analysis and time series analysis by monitoring item, circuit number, equipment, etc. The state of the cream solder printing machine 4 as the printing equipment and the quality state of the circuit board that has passed through the cream solder printing machine 4 are grasped based on the result of comparison with the warning standard which does not reach the standard. This print data analysis unit 7
Is connected to the cream solder printer 4 and outputs an operation control instruction to the cream solder printer 4 according to the state of the cream solder printer 4 and the quality state of the circuit board that has passed through the cream solder printer 4. Then, the operation state is dynamically changed to control so as to produce a good product.
【0005】また、部品装着部2において、装着機8
は、X−Y駆動装置により、電子部品などが供給される
部品供給部に吸着ノズルヘッドを移送し、吸着ノズルヘ
ッドで部品を吸着して回路基板の装着位置まで移送し
て、ランド上に印刷されたクリーム半田上にリードや電
極が位置するように部品を装着する。このとき、部品の
回路基板への装着は、部品認識カメラにより部品の吸着
状況を撮影して吸着ミスを管理しながら行う。部品装着
後検査機9は、装着機8により回路基板上の所定位置に
装着された部品や設備の状態を検査する。この部品装着
後検査機9に接続される装着データ保持部10は、装着
機8により装着された部品装着状況の監視項目、例え
ば、部品欠品、部品立ち、部品装着ズレおよび部品装着
極性ミスなどのデータを収集して保持し、また、装着設
備に対する監視項目、例えば、吸着ノズルの吸着エラー
および認識エラーなどのデータを収集して保持する。こ
の装着データ保持部10が接続される装着データ分析部
11は、装着データ保持部10で収集された各監視項目
のデータを、監視項目別、回路番号別、設備別などに集
計分析および時系列分析などの分析をし、この分析結果
における、予め設定された監視項目に対する警告基準と
の比較結果に応じて装着機8の状態、および装着機8を
通過した回路基板の品質状態を把握する。この装着デー
タ分析部11は、装着機8に対して、動作制御指示を出
力して動作状態を動的に変えて良品生産させるように制
御する。Further, in the component mounting section 2, the mounting machine 8
Uses an XY driving device to transfer the suction nozzle head to a component supply unit to which electronic components and the like are supplied. The suction nozzle head sucks the component and transfers it to the mounting position of the circuit board for printing on the land. The parts are mounted so that the leads and electrodes are located on the solder paste. At this time, the component is mounted on the circuit board while the component recognition camera photographs the component suction state to manage the suction error. The after-component mounting inspection machine 9 inspects the state of the components and equipment mounted by the mounting machine 8 at a predetermined position on the circuit board. The mounting data holding unit 10 connected to the post-component mounting inspection machine 9 monitors the mounting state of the components mounted by the mounting machine 8, for example, component missing, component standing, component mounting deviation, and component mounting polarity error. Data is collected and held, and monitoring items for the mounting equipment, for example, data such as a suction error and a recognition error of the suction nozzle are collected and held. The mounting data analysis unit 11 to which the mounting data holding unit 10 is connected collects and analyzes the data of each monitoring item collected by the mounting data holding unit 10 by monitoring item, circuit number, equipment, and the like. Analysis such as analysis is performed, and the state of the mounting machine 8 and the quality state of the circuit board that has passed through the mounting machine 8 are grasped in accordance with the result of comparison with a warning standard for a preset monitoring item in the analysis result. The mounting data analysis unit 11 outputs an operation control instruction to the mounting machine 8 to dynamically change the operating state so that the non-defective product is produced.
【0006】さらに、半田付け部3において、リフロー
炉12は、炉体内に被加熱物である回路基板を搬送する
コンベアを配設し、このコンベアの上下位置にヒータを
それぞれ配設し、さらにその上下位置にファンを配設し
てヒータを通して加熱された熱風ガスを回路基板に吹き
付ける構成である。また、リフロー炉12の内部は、予
熱室、リフロー加熱室さらに徐冷室に区画され、各室に
それぞれ上記ヒータおよびファンが配設されており、リ
フロー加熱室においては、回路基板を均一に加熱してク
リーム半田をリフローすることで部品を半田付けする構
成である。Further, in the soldering section 3, the reflow furnace 12 is provided with a conveyer for conveying a circuit board, which is an object to be heated, in the furnace body, and heaters are arranged above and below the conveyer, respectively. The fan is arranged at the upper and lower positions and the hot air gas heated through the heater is blown onto the circuit board. Further, the inside of the reflow furnace 12 is divided into a preheating chamber, a reflow heating chamber, and a slow cooling chamber, and the above heater and fan are provided in each chamber. In the reflow heating chamber, the circuit board is uniformly heated. Then, the components are soldered by reflowing the cream solder.
【0007】半田付け検査機13は、回路基板上の部品
の半田付け状態および設備の状態を検査する。この半田
付け検査機13が接続される半田付けデータ保持部14
は、回路基板上の部品の半田付け状態の監視項目、例え
ば、部品欠品、部品立ち、部品装着位置ズレおよび部品
装着極性ミスなどのデータを収集して保持し、また、リ
フロー設備に対する監視項目、例えば、ヒータ温度、コ
ンベア速度および酸素濃度などのデータを収集して保持
する。この半田付けデータ保持部14が接続される半田
付けデータ分析部15で収集された各監視項目のデータ
を、監視項目別、回路番号別、設備別などに集計分析お
よび時系列分析などの分析をし、この分析結果におけ
る、予め設定された監視項目に対する警告基準との比較
結果に応じてリフロー炉12の状態、およびリフロー炉
12を通過した回路基板の品質状態を把握する。この半
田付けデータ分析部15は、リフロー炉12に接続さ
れ、リフロー炉12の状態、およびリフロー炉12を通
過した回路基板の品質状態に応じて、リフロー炉12に
対して動作制御指示を出力して動作状態を動的に変えて
良品生産させるように制御する。The soldering inspection machine 13 inspects the soldering state of components on the circuit board and the state of equipment. Soldering data holding unit 14 to which the soldering inspection machine 13 is connected
Is a monitoring item for the soldering status of components on the circuit board, for example, collecting and retaining data such as component missing, component standing, component mounting position deviation and component mounting polarity error, and also monitoring items for reflow equipment. , Collect and hold data such as heater temperature, conveyor speed and oxygen concentration. Data of each monitoring item collected by the soldering data analyzing unit 15 to which the soldering data holding unit 14 is connected is analyzed by monitoring item, circuit number, equipment, etc. such as total analysis and time series analysis. Then, the state of the reflow furnace 12 and the quality state of the circuit board that has passed through the reflow furnace 12 are grasped according to the result of comparison with the warning standard for the preset monitoring item in the analysis result. The soldering data analysis unit 15 is connected to the reflow furnace 12 and outputs an operation control instruction to the reflow furnace 12 according to the state of the reflow furnace 12 and the quality state of the circuit board that has passed through the reflow furnace 12. Control to dynamically change the operating state to produce a good product.
【0008】さらに、これら印刷データ分析部7、装着
データ分析部11および半田付けデータ分析部15が接
続される相関分析部16はクリーム半田印刷機4、装着
機8およびリフロー炉12の各設備機器に接続され、印
刷データ分析部7、装着データ分析部11および半田付
けデータ分析部15からの各種分析データおよび分析結
果により、監視項目の不良要因に関連する各工程相互の
相関を分析して、クリーム半田印刷機4、装着機8およ
びリフロー炉12のうち少なくとも何れかに動作制御指
示を出力して動作状態を動的に変えて良品生産させるよ
うに制御する。Further, the correlation analysis unit 16 to which the print data analysis unit 7, mounting data analysis unit 11 and soldering data analysis unit 15 are connected is a cream solder printing machine 4, a mounting machine 8 and a reflow oven 12. Connected to the print data analysis unit 7, the mounting data analysis unit 11 and the soldering data analysis unit 15 and various analysis data and analysis results, and analyze the mutual correlation of each process related to the failure factor of the monitoring item, An operation control instruction is output to at least one of the cream solder printing machine 4, the mounting machine 8 and the reflow oven 12 to control the operation state dynamically so that a non-defective product is produced.
【0009】以上の印刷データ分析部7、装着データ分
析部11および半田付けデータ分析部15と、相関分析
部16とにより制御手段17をコンピュータ構成し、監
視項目に対する警告基準との比較結果、または複数監視
項目の組み合わせに対する警告基準との比較結果により
警告を要する工程の設備に対してメンテナンスの必要性
を警告ブザーや表示モニタなどで知らせるようにも制御
する。また、制御手段において、監視項目別、回路番号
別、設備別などに集計分析および時系列分析などの各種
分析データおよび分析結果、各工程相互の相関分析デー
タは順次データベース化され、必要なときに必要なデー
タを検索してモニタ表示やコピーなどで見ることができ
る。The print data analysis unit 7, the mounting data analysis unit 11, the soldering data analysis unit 15, and the correlation analysis unit 16 constitute a control means 17 as a computer, and a comparison result with a warning standard for a monitoring item, or Based on the result of comparison with the warning standard for a combination of multiple monitoring items, the system is also controlled to notify the facility of the process requiring a warning by a warning buzzer or a display monitor. Further, in the control means, various analysis data and analysis results such as aggregate analysis and time series analysis for each monitoring item, circuit number, equipment, etc., and correlation analysis data for each process are sequentially made into a database, and when necessary. You can search for the necessary data and view it on the monitor display or copy.
【0010】上記構成の実装基板生産システムの動作を
以下に説明する。まず、クリーム半田印刷機4で基板の
ランド上にクリーム半田を印刷し、次に、クリーム半田
が印刷されたランド上に装着機8でリードや電極が位置
するように部品を装着し、最後に、リフロー炉12でク
リーム半田をリフローしてリードや電極と基板のランド
を半田接合する。このようにして、部品実装された回路
基板が完成されるが、クリーム半田印刷検査機5は、ラ
ンド上に印刷したクリーム半田の印刷状態の監視項目、
例えば、印刷カスレ、印刷ズレおよび印刷半田の有無な
どを検査し、また、基板および印刷設備に対する監視項
目、例えば、基板マークズレ量やスクリーンマークズレ
量などを検査する。また、部品装着後検査機9は、装着
機8により装着された部品装着状況の監視項目、例え
ば、部品欠品、部品立ち、部品装着位置ズレおよび部品
装着極性ミスなどを検査し、また、部品装着設備に対す
る監視項目、例えば、吸着ノズルの吸着エラーおよび認
識エラーなどを検査する。さらに、半田付け検査機13
は、回路基板上の部品の半田付け状態の監視項目、例え
ば、部品欠品、部品立ち、部品装着位置ズレおよび部品
極性ミスなどを検査し、また、リフロー設備に対する監
視項目、例えば、ヒータ温度、コンベア速度および酸素
濃度などを検査する。The operation of the mounting board production system having the above structure will be described below. First, the cream solder printing machine 4 prints the cream solder on the lands of the substrate, and then the mounting machine 8 mounts the components so that the leads and electrodes are located on the lands on which the cream solder is printed. The cream solder is reflowed in the reflow oven 12 to solder the leads or electrodes to the land of the substrate. In this way, the circuit board on which the components are mounted is completed, but the cream solder printing inspecting machine 5 monitors the printing state of the cream solder printed on the land,
For example, the presence or absence of print blur, print shift, and print solder is inspected, and monitoring items for the board and printing equipment, for example, board mark misalignment amount and screen mark misalignment amount are inspected. In addition, the post-component mounting inspection machine 9 inspects the monitoring items of the component mounting state mounted by the mounting machine 8, for example, component missing parts, component standing, component mounting position deviation, component mounting polarity error, and the like. Inspection items for the installation equipment, such as suction error and recognition error of the suction nozzle, are inspected. Furthermore, the soldering inspection machine 13
Is a monitoring item of the soldering state of the component on the circuit board, for example, inspecting the component missing, component standing, component mounting position deviation and component polarity error, and monitoring items for the reflow equipment, for example, heater temperature, Inspect conveyor speed and oxygen concentration.
【0011】さらに、クリーム半田印刷検査機5からの
検査データを印刷データ保持部6で収集して保持し、ま
た、部品装着後検査機9からの検査データを装着データ
保持部10で収集して保持し、さらに、半田付け検査機
13からの検査データを半田付けデータ保持部14で収
集して保持する。そして、印刷データ保持部6で収集さ
れた各監視項目のデータを印刷データ分析部7で、ま
た、装着データ保持部10で収集された各監視項目のデ
ータを装着分析部11で、さらに、半田付けデータ保持
部14で収集された各監視項目のデータを半田付けデー
タ分析部15で、監視項目別、回路別、設備別などに集
計分析および時系列分析などの分析をそれぞれすること
により、予め設定された監視項目に対する警告基準との
比較結果に応じて各設備の状態、および各設備を通過し
た回路基板の品質状態を把握する。Further, the inspection data from the cream solder printing inspection machine 5 is collected and held by the print data holding section 6, and the inspection data from the after-component inspection machine 9 is collected by the mounting data holding section 10. The soldering data holding unit 14 collects and holds the inspection data from the soldering inspection machine 13. Then, the data of each monitoring item collected by the print data holding unit 6 is printed by the print data analysis unit 7, the data of each monitoring item collected by the mounting data holding unit 10 is printed by the mounting analysis unit 11, and the solder data is further analyzed. The data of each monitoring item collected by the attachment data holding unit 14 is analyzed by the soldering data analyzing unit 15 such as a totaling analysis and a time series analysis for each monitoring item, each circuit, and each equipment. The state of each equipment and the quality state of the circuit board passing through each equipment are grasped according to the result of comparison with the warning standard for the set monitoring item.
【0012】ここで、印刷データ分析部7、装着データ
分析部11および半田付けデータ分析部15でそれぞれ
集計分析および時系列分析されるデータにおいては、図
24に示すように、不良品として判定する判定基準には
至っていないが注意を要する警告を出すための警告基準
を設け、監視項目の検査結果が警告基準を越えて警告領
域に入ったかどうかを検出して、その監視項目が不良判
定基準を越えず警告領域を脱して正常領域に収まるよう
に動作状態を動的に事前に変えて良品生産させる。印刷
工程において、例えば、図25に回路番号別の複数監視
項目の半田欠けおよび半田ニジミにおける印刷検査エラ
ー集計分析を示しており、これら半田欠けおよび半田ニ
ジミがそれぞれ警告領域に至ったエラー件数に応じて、
印刷検査エラー集計分析における警告基準および判断基
準を設定している。Here, as shown in FIG. 24, the data analyzed and aggregated by the print data analysis unit 7, the mounting data analysis unit 11 and the soldering data analysis unit 15 are determined to be defective. Although the criteria have not been reached, warning criteria are set up to issue warnings, and it is detected whether the inspection result of the monitoring item exceeds the warning standard and enters the warning area. The good condition is produced by dynamically changing the operating state in advance so as not to exceed the warning area and stay within the normal area. In the printing process, for example, FIG. 25 shows a print inspection error tabulation analysis for solder deficiency and solder blemishes of a plurality of monitoring items for each circuit number. hand,
The warning criteria and judgment criteria in the print inspection error tabulation analysis are set.
【0013】図25の場合は、最も多い回路番号N41
3についても警告基準のエラー件数には至っておらず、
警告基準を越えた段階で各設備や基板に対するメンテナ
ンス指示として、スキージ圧力や傾きなどのスキージチ
ェック、ランド位置精度や平面度などの基板(PCB)
チェックおよび、位置精度や押し込み量チェックなどの
スクリーンチェックなどを知らせる。また、図26に印
刷半田位置ズレ(X方向)の検査計測値時系列分析を示
しており、警告基準を±0.1mm、判断基準を±0.2
mmとし、検査計測値は正常領域に収まっているが、警告
基準の±0.1mmを越えた段階で各設備や基板に対する
メンテナンス指示としてスキージチェック、基板チェッ
クおよび温度チェックなどを知らせるとともに、印刷オ
フセット変更、スキージ圧力などの印圧調整、スクリー
ンの目詰まりなどに対するクリーニング動作実行などの
印刷条件の修正をクリーム半田印刷機4に対して行い、
検査計測値が正常領域に収まるように動作状態を動的に
事前に変えて良品生産させる。In the case of FIG. 25, the most frequent circuit number N41
Regarding 3 as well, the number of errors in the warning standard has not been reached,
Squeegee check such as squeegee pressure and inclination, and board (PCB) such as land position accuracy and flatness as maintenance instructions for each equipment and board when the warning standard is exceeded.
Informs check and screen check such as position accuracy and push amount check. Further, FIG. 26 shows a time series analysis of inspection measurement values of print solder position deviation (X direction). The warning standard is ± 0.1 mm and the judgment standard is ± 0.2.
mm, the inspection measurement value is within the normal range, but when the warning standard exceeds ± 0.1 mm, squeegee check, board check, temperature check, etc. are notified as a maintenance instruction for each equipment and board, and the print offset Change the printing conditions such as changing, printing pressure adjustment such as squeegee pressure, cleaning operation for screen clogging, etc., to the cream solder printing machine 4,
The operating state is dynamically changed in advance so that the inspection measurement value falls within the normal range to produce a good product.
【0014】また、装着工程において、例えば、図27
にノズル別の複数監視項目の未吸着、立ち吸着、回転吸
着、認識エラーおよび認識異常がそれぞれ警告基準に至
ったエラー件数に応じて、エラー集計分析における警告
基準および判断基準を設定している。図27の場合、ノ
ズルNo.4、5、8が警告基準のエラー件数を越えて
おり、各設備に対するメンテナンス指示としてノズル清
浄チェックおよびカセットチェックなどを知らせるとと
もに、ノズルへの半田吸引などによるフィルタ目詰まり
に対するフィルタ交換、およびノズルクリーニングなど
を装着機8に対して行う。また、図28に部品装着位置
ズレ(X方向)の検査計測値時系列分析を示しており、
警告基準の±0.2mm、判断基準を±0.38mmとし、
検査計測値は正常領域に収まっているが、警告基準の±
0.2mmを越えた段階で各設備に対するメンテナンス指
示として、基板穴により位置決めする基準ピンのチェッ
クおよびノズル清浄チェックなどを知らせるとともに、
装着位置NCデータにおけるデータオフセット修正など
のズレ量の補正を装着機8に対して行い、検査計測値が
正常領域に収まるように動作状態を動的に事前に変えて
良品生産させる。In the mounting process, for example, FIG.
In addition, the warning standard and the judgment standard in the error aggregation analysis are set according to the number of errors in which the non-adsorption, the standing adsorption, the rotation adsorption, the recognition error, and the recognition abnormality of the plurality of monitoring items for each nozzle reach the warning standards. In the case of FIG. Numbers 4, 5 and 8 exceeded the number of warning standard errors. Notify nozzle cleaning check and cassette check as maintenance instruction to each equipment, replace filter for nozzle clogging due to suction of solder to nozzle, and nozzle cleaning. Etc. to the mounting machine 8. Further, FIG. 28 shows a time series analysis of inspection measurement values of component mounting position deviation (X direction).
Warning standard ± 0.2mm, judgment standard ± 0.38mm,
The inspection measurement values are within the normal range, but the warning standard ±
At the stage of exceeding 0.2 mm, as a maintenance instruction for each equipment, we will inform the check of the reference pin positioned by the board hole and the nozzle cleaning check, etc.
A displacement amount correction such as a data offset correction in the mounting position NC data is performed on the mounting machine 8, and the operation state is dynamically changed in advance so that the inspection measurement value falls within the normal range, and a good product is produced.
【0015】さらに、半田付け工程であるリフロー工程
において、例えば、図29に回路番号別の複数監視項目
における部品高さ低、右回転ズレ、左回転ズレ、ブリッ
ジ不良およびエッジ検出不良の半田付け検査エラー集計
分析を示しており、これら部品高さ低、右回転ズレ、左
回転ズレ、ブリッジ不良およびエッジ検出不良がそれぞ
れ警告基準に至ったエラー件数に応じて、半田付き検査
エラー集計分析における警告基準および判断基準を設け
ている。図29の場合、最も多い回路番号N413は警
告基準のエラー件数を越えており、各設備に対するメン
テナンス指示として半田チェック、基板チェックおよ
び、炉の温度分布のプロファイルチェックなどを知らせ
るとともに、ヒータ温度変更、コンベア速度および半田
付き性などの影響するN2 量(O2 濃度)増減などのリ
フロー条件の修正をリフロー炉12に対して行う。ま
た、図30に半田付け後検査の部品位置ズレ(X方向)
の検査計測値時系列分析を示しており、警告基準の±
0.1mm、判断基準を±0.2mmとし、検査計測値は警
告基準を+0.1mm越えており、メンテナンス指示とし
てプロファイルチェック、基板チェックおよび半田チェ
ックなどを知らせるとともに、ヒータ温度変更などのリ
フロー条件の修正をリフロー炉12に対して行い、検査
計測値が正常領域に収まるように動作状態を動的に事前
に変えて良品生産させる。Further, in a reflow process which is a soldering process, for example, a soldering inspection for low component height, right rotation deviation, left rotation deviation, bridge failure and edge detection failure in a plurality of monitoring items for each circuit number is shown in FIG. The error aggregation analysis is shown, and the warning standard in the soldering inspection error aggregation analysis is determined according to the number of errors such as low component height, right rotation misalignment, left rotation misalignment, bridge defect and edge detection defect. And the judgment standard is established. In the case of FIG. 29, the most frequent circuit number N413 exceeds the number of errors of the warning standard. As a maintenance instruction for each equipment, solder check, board check, furnace temperature distribution profile check, etc. are notified, and the heater temperature is changed. Correction of reflow conditions such as increase and decrease of N 2 amount (O 2 concentration) that influences conveyor speed and solderability is performed on the reflow furnace 12. In addition, in Fig. 30, the component position deviation of the inspection after soldering (X direction)
Shows the time series analysis of the inspection measurement values of the
0.1mm, judgment standard is ± 0.2mm, inspection measurement value exceeds warning standard + 0.1mm, profile check, board check, solder check, etc. are notified as maintenance instruction, and reflow condition such as heater temperature change Is performed on the reflow furnace 12, and the operating state is dynamically changed in advance so that the inspection measurement value falls within the normal range to produce a good product.
【0016】さらに、相関分析部16は印刷データ分析
部7、装着データ分析部11および半田付けデータ分析
部15からの分析データに基づいて各監視項目の不良要
因に関連する各工程相互の相関を相関分析して、クリー
ム半田印刷機4、装着機8およびリフロー炉12のうち
少なくとも何れかに動作制御指示を出力して動作状態を
動的に変えて良品生産させるように制御する。Further, the correlation analysis unit 16 correlates the respective processes related to the failure factor of each monitoring item based on the analysis data from the print data analysis unit 7, the mounting data analysis unit 11 and the soldering data analysis unit 15. Correlation analysis is performed, and an operation control instruction is output to at least one of the cream solder printing machine 4, the mounting machine 8 and the reflow furnace 12, and the operation state is dynamically changed to control to produce a good product.
【0017】すなわち、監視項目として、例えば、チッ
プ立ち不良について各工程間の相関を説明すると、リフ
ロー工程において、加熱速度を上げると急激に半田温度
が上昇する。このとき、半田印刷ズレや部品装着ズレが
あると、図31に示すようにチップ部品18の端子19
は半田20の印刷位置に対して、ずれた状態で置かれて
おり、急激な半田温度の変化で容積の小さい側が先に溶
けるので、端子19が表面張力で引っ張られてチップ立
ちの状態となる。このように、チップ立ち不良の要因
は、図32の不良要因を記載した図に概略を示すよう
に、半田印刷工程、部品装着工程、さらにリフロー工程
のすべてに不良要因がある。しかし、チップ立ち不良が
検査工程で検出されるのは、部品が装着される必要があ
るため、装着工程およびリフロー工程においてである。
したがって、監視項目としてのチップ立ち不良は装着工
程およびリフロー工程の検査において行われ、チップ立
ちに対する印刷工程、装着工程の検査において行われ、
チップ立ちに対する印刷工程、装着工程さらにリフロー
工程の各設備へのアクションは、印刷工程では印刷ズレ
や印刷厚さなどの改善、装着工程では装着ズレや押し込
み量などの改善、さらにリフロー工程では加熱速度や風
速などを弱めるなど、相関分析部16で不良要因に関連
する各工程相互の相関を分析して印刷工程、装着工程さ
らにリフロー工程の各設備に対して動作制御指示を出力
して動作状態を動的に事前に変えて良品生産するように
制御する。In other words, as a monitoring item, for example, the correlation between the respective steps regarding chip rising defects will be described. In the reflow step, when the heating rate is increased, the solder temperature rapidly rises. At this time, if there is a solder printing deviation or a component mounting deviation, as shown in FIG.
Is placed in a state of being displaced from the printing position of the solder 20, and the side having a small volume melts first due to a rapid change in the solder temperature, so that the terminal 19 is pulled by surface tension to be in a chip standing state. . As described above, as a factor of the chip standing defect, the solder printing process, the component mounting process, and the reflow process all have a defect factor, as shown in the outline of the diagram in FIG. However, the chip standing defect is detected in the inspection process in the mounting process and the reflow process because it is necessary to mount the component.
Therefore, the chip standing defect as the monitoring item is performed in the inspection of the mounting process and the reflow process, and is performed in the inspection of the printing process and the mounting process for the chip standing.
The action for each equipment in the printing process, mounting process and reflow process for chip standing is to improve printing misalignment and printing thickness in the printing process, improve mounting misalignment and pushing amount in the mounting process, and heating speed in the reflow process. The correlation analysis unit 16 analyzes the correlation between each process related to the cause of failure such as weakening the wind speed and the wind speed, and outputs an operation control instruction to each equipment of the printing process, the mounting process, and the reflow process to determine the operation state. Dynamically change in advance and control to produce a good product.
【0018】また逆に、印刷工程で検出結果が警告領域
にある場合、例えば、印刷ズレの警告基準を越えていれ
ば、この検出工程よりも下流工程の装着工程さらにリフ
ロー工程において基板が下流工程の設備に到達するまで
にチップ立ちの危険がないように印刷ズレの方向や量に
応じて、チップ立ちの要因分析図で示した要因とは逆の
改善処置を実行し、印刷工程で印刷ズレの警告基準を越
えた基板をチップ立ち不良から守り、かつ、印刷工程に
おいても次の基板のために印刷ズレの方向や量に応じて
改善処置を実行する。On the contrary, when the detection result is in the warning area in the printing process, for example, if the warning standard of the print misregistration is exceeded, the mounting process in the downstream process from the detection process and the substrate in the reflow process are performed in the downstream process. Depending on the direction and amount of print misalignment, there is no risk of chipping until the equipment reaches the equipment, and improvement measures opposite to the factors shown in the factor analysis chart of chip embossing are executed, and printing misalignment occurs in the printing process. The board exceeding the warning standard of (1) is protected from chip failure, and the improvement process is executed for the next board in the printing process depending on the direction and amount of the print misalignment.
【0019】さらに、印刷データ分析部7、装着データ
分析部11および半田付けデータ分析部15において、
監視項目別、回路別、設備別など各別に各監視項目のデ
ータ集計分析、時系列分析、さらに図33に示す検査計
測値分布分析(この場合、部品装着位置ズレ分析)など
分析した分析結果と、この分析結果に基づいて、相関分
析部16において、監視項目の不良要因に関連する各工
程間の相関を分析する相関分析結果とは、生産と同時に
データベース化されて何時でもモニタ表示したり表示箇
所をコピーしたりすることができ、任意の期間指定して
品質動向の分析や品質履歴の分析、さらに品質の源流分
析など多様な角度からの各種分析で真の不良原因の把握
が即座に可能となる。Further, in the print data analysis unit 7, the mounting data analysis unit 11 and the soldering data analysis unit 15,
Data analysis and time-series analysis of each monitoring item, such as each monitoring item, each circuit, and each equipment, and analysis results such as analysis of inspection measurement value distribution (in this case, component mounting position deviation analysis) shown in FIG. 33. On the basis of this analysis result, the correlation analysis unit 16 analyzes the correlation between each process related to the failure factor of the monitoring item, and the correlation analysis result is made into a database at the same time as the production and is displayed or displayed on the monitor at any time. It is possible to copy the part and specify the arbitrary period and analyze the trend of quality, the analysis of quality history, and the analysis of various sources from various angles such as the source analysis of quality. Becomes
【0020】したがって、経験的にこういう風になって
くると、次には不良になるといったことを、警告基準を
設けて数値により明確にする品質の警告領域の管理によ
り、各監視項目の検査値が不良判定基準に達するまでに
各工程に対する注意事項を工程のささいな変化も見逃さ
ず事前に発見することができるため、不良にならないう
ちに各工程に対して事前に対策を指示することができて
良品を無駄なく生産することができる。Therefore, by empirically observing such a situation, it will become defective next time by clarifying numerically by setting a warning standard. Since it is possible to detect precautions for each process in advance before reaching the defect judgment standard without overlooking even minor changes in the process, it is possible to instruct measures in advance for each process before it becomes defective. Good products can be produced without waste.
【0021】なお、この例においては、マンハッタンと
呼ばれるチップ立ち不良について説明したが、図34に
示すように半田ブリッジや部品位置ズレなどいくつもの
不良監視項目があり、要は、不良要因分析で各工程にア
クション可能な不良監視項目であれば、相関分析の対象
となる。図34の(第一)は不良判定基準、(第二)は
警告基準による判定を示しており、(第二)に示す警告
基準による判定で改善指示を行っていれば、半田付け検
査において(第一)に示すブリッジ、ズレ、マンハッタ
ンなどの不良を食い止めることができる。また、上記説
明では、半田印刷工程、部品装着工程さらにリフロー工
程の3工程それぞれに対する設備および基板の所定監視
項目を検出し、この検出結果により各設備の条件および
基板の品質を分析するとともに、この分岐結果に基づい
て印刷手段、部品装着手段およびリフロー手段の3工程
それぞれに対して動作制御指示を出力するようにした
が、半田印刷工程、部品装着工程さらにリフロー工程の
3工程のうち任意の2工程に対して所定監視項目を検出
してもよく、また、不良要因分析上必要な何れかの工程
に対して動作制御指示を出力すればよい。In this example, the chip standing defect called Manhattan has been described. However, as shown in FIG. 34, there are a number of defect monitoring items such as solder bridges and component position shifts. Any defect monitoring item that can be acted on in a process is subject to correlation analysis. In FIG. 34, (first) shows a defect judgment standard and (second) shows a warning standard. If the improvement instruction is given by the warning standard shown in (2), in the soldering inspection ( It is possible to prevent defects such as bridges, gaps, and Manhattan shown in (1). Further, in the above description, the predetermined monitoring items of the equipment and the board for each of the three steps of the solder printing step, the component mounting step and the reflow step are detected, and the condition of each equipment and the quality of the board are analyzed based on the detection result. Although the operation control instruction is output to each of the three processes of the printing unit, the component mounting unit, and the reflow unit based on the branching result, any two of the three processes of the solder printing process, the component mounting process, and the reflow process are performed. A predetermined monitoring item may be detected for a process, and an operation control instruction may be output for any process required for defect factor analysis.
【0022】[0022]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな従来システムの構成では、1つのラインの実装基板
生産システムにおける印刷手段、部品装着手段およびリ
フロー手段のうち少なくとも何れかに対する設備および
基板の所定監視項目により得た情報を分析し、その情報
をもとにそのライン内の設備に対して、フィードバック
制御する構成であり、1枚の基板が、1つのラインの実
装基板生産システムにおける特定の1つ以上の設備群を
複数回経由して生産する生産形態、設備運用には対応で
きない。However, in the configuration of the conventional system as described above, the equipment and the board are predeterminedly monitored for at least one of the printing means, the component mounting means and the reflow means in the mounting board production system of one line. The configuration is such that the information obtained from the items is analyzed, and the feedback control is performed for the equipment in the line based on that information. It is not possible to cope with the production form and equipment operation in which the above equipment group is produced multiple times.
【0023】例えば、ある実装基板生産システムが、回
路基板の移送ラインに沿ってその上手側からクリーム半
田印刷機4、クリーム半田印刷検査機5、部品装着機
8、部品装着後検査機9、リフロー炉12さらに半田検
査機13が順次配設されている構成であったとする。そ
のような構成で、1枚の基板を生産した場合を考える
と、クリーム半田印刷機4、クリーム半田印刷検査機
5、部品装着機8、部品装着後検査機9、リフロー炉1
2と基板に部品を実装する工程を進んで生産されてきた
基板が半田検査機13によって不良判定された場合、ラ
インから抜き取られて不良個所の修理を実施した後、不
良個所が適切に修理されたか否かを検査するために、も
う一度半田検査機13によって検査が行われる場合が存
在する。このような、基板生産における運用に対して
は、従来のシステムでは対応できない。For example, a certain mounting board production system uses a cream solder printing machine 4, a cream solder printing inspection machine 5, a component mounting machine 8, a component mounting post-inspection machine 9, a reflow process from the upper side along a circuit board transfer line. It is assumed that the furnace 12 and the solder inspection machine 13 are sequentially arranged. Considering the case where one board is produced with such a configuration, the cream solder printing machine 4, the cream solder printing inspection machine 5, the component mounting machine 8, the post-component mounting inspection machine 9, the reflow furnace 1
2. If the solder inspection machine 13 determines that the board that has been produced by going through the process of mounting components on the board 2 and the board is defective, the defective part is removed from the line and the defective part is repaired appropriately. There is a case where the solder inspecting machine 13 performs the inspection once again in order to inspect whether or not it is. The conventional system cannot cope with such an operation in board production.
【0024】例えば、クリーム半田印刷機4、クリーム
半田印刷検査機5、部品装着機8、部品装着後検査機
9、リフロー炉12と基板に部品を実装する工程を進ん
で生産されてきた基板が半田検査機13によって不良判
定された場合、ラインから抜き取られて不良個所の補修
を実施した後、不良個所が適切に修理されたか否かを検
査するために、もう一度半田検査機13によって再検査
が行われる場合、二回目の半田検査機13における検査
プログラムが一回目に半田検査機13で使用していた検
査プログラムでは適切でない場合が多く発生する。例え
ば、1回目は、機械による半田付けであるが、補修によ
って人による半田付け修正が行われて半田形状の変化が
生じてしまい、検査プログラムの変更を行わなければな
らない、また、補修によって、NG箇所の補修途中に部
品を破壊してしまったなどの理由から、元々実装されて
いた部品と同等の他部品(OR部品)を装着したため、
部品形状、反射特性が異なるため、検査プログラムの変
更を行わなければならない。さらには部品が変わると、
半田付けの推奨ランド・マスクが異なるため、検査プロ
グラムの変更を行わなければならない。また、クリーム
半田印刷機4で使用している半田と補修で使用する半田
とが異なるため、半田特性別に半田面積や形状を変更し
なければならない場合が発生し、検査プログラムを動的
に変更しなければならない。このような、一回目の検査
プログラムに対し、各工程で実施された半田接合された
各基板、各基板上の部品、各部品のランド・マスクの状
態のデータのうち少なくともいずれかのデータを検出
し、その情報のうち少なくともいずれかの情報をもとに
検査プログラムを動的に変更することは従来の実装基板
生産システムにおいては存在せず、数々の問題点を生じ
させていた。For example, a cream solder printing machine 4, a cream solder printing inspection machine 5, a component mounting machine 8, a post-component mounting inspection machine 9, a reflow oven 12 and a substrate that has been produced by advancing the process of mounting components on the substrate When the solder inspecting machine 13 determines that the defect is detected, the solder inspecting device 13 removes the defect from the line and repairs the defective part. When it is performed, the inspection program in the second solder inspection machine 13 is often not appropriate with the inspection program used in the first solder inspection machine 13. For example, the first time is the soldering by the machine, but the soldering correction is performed by the person by the repair and the change of the solder shape occurs, and the inspection program must be changed. Because other parts (OR parts) that are the same as the originally mounted parts were mounted because the parts were destroyed during the repair of the location,
The inspection program must be changed because the shape and reflection characteristics of the parts are different. Furthermore, if the parts change,
The recommended land mask for soldering is different, so the inspection program must be changed. Further, since the solder used in the cream solder printing machine 4 and the solder used for repair are different, there are cases where the solder area and shape must be changed according to the solder characteristics, and the inspection program is dynamically changed. There must be. For such a first inspection program, at least one of the solder-bonded boards, the parts on each board, and the land / mask state data of each part, which was carried out in each process, is detected. However, dynamically changing the inspection program based on at least one of the information does not exist in the conventional mounting board production system, and causes various problems.
【0025】また、リフロー後の検査手段に対し、従来
のシステムのように機械による機械判定手段のみの構成
では、誤判定、過判定、未判定など、機械判定手段が誤
った判定結果を生じる場合が存在してしまうという問題
点などがあった。Further, in the case where the inspection means after the reflow is constituted only by the machine judging means by the machine like the conventional system, when the machine judging means gives an erroneous judgment result such as erroneous judgment, overjudgment or unjudgment. There was a problem that there existed.
【0026】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、1枚の基板を生産するについても、実装基板生産シ
ステムにおける特定の1つ以上の設備群を複数回経由し
て生産する生産形態、設備運用に対応できるものであ
り、特に、リフロー後の検査手段に対し、機械による機
械判定手段と人による検査判定手段との2つに分け、機
械による機械判定手段に対し、人による検査判定手段で
得たいくつかの情報のうち少なくともいずれかの情報を
フィードバックし、機械判定手段における検査プログラ
ム、検査アルゴリズムを動的に制御し、良品生産させる
ように制御することを特徴とし、人による経験的に得た
さまざまな情報を、機械判定手段における検査プログラ
ム、検査アルゴリズムに動的にフィードバックすること
によって、根本的な良品判定における誤判定を未然に防
ぐことができる実装基板生産システムを提供すること目
的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems. Even when a single board is produced, a production mode in which a specific one or more equipment groups in a mounting board production system are produced multiple times It is possible to cope with equipment operation, and in particular, the inspection means after reflow is divided into two parts, a machine determination means by a machine and an inspection determination means by a person. At least one of several pieces of information obtained by the means is fed back, the inspection program and the inspection algorithm in the machine determination means are dynamically controlled, and control is performed so as to produce a good product. By dynamically feeding back various kinds of information obtained dynamically to the inspection program and inspection algorithm in the machine judgment means, An object to provide a mounting board production system can be prevented an erroneous judgment in the goods determination.
【0027】また、実装基板生産システムが、回路基板
の移送ラインに沿ってその上手側からクリーム半田印刷
機4、クリーム半田印刷検査機5、部品装着機8、部品
装着後検査機9、リフロー炉12さらに半田検査機13
が順次配設されている構成で生産された機械半田付けの
半田付け状態と、不良判定された基板に対して不良個所
の修理を人などの手により実施した後の半田付け状態で
は、1つの同一箇所の同一部品に対しても、その半田付
け形状などの状態が変わり、それらの履歴に対して適切
に機械判定手段における検査プログラム、検査アルゴリ
ズムを動的に制御し、根本的な良品判定における誤判定
を未然に防ぐことができる実装基板生産システムを提供
することを目的とする。In addition, the mounting board production system includes a cream solder printing machine 4, a cream solder printing inspection machine 5, a component mounting machine 8, a post-component mounting inspection machine 9 and a reflow furnace along the transfer line of the circuit board from the upper side. 12 Further solder inspection machine 13
In the soldering state of mechanical soldering produced by the configuration in which the are sequentially arranged, and in the soldering state after the defective portion is repaired manually by a person or the like, there is one Even for the same part at the same location, the soldering shape and other states change, and the inspection program and inspection algorithm in the machine determination means are dynamically controlled appropriately for those histories to make a fundamental good product determination. It is an object of the present invention to provide a mounting board production system capable of preventing erroneous determinations.
【0028】また、部品と基板の間の半田付け状況を検
査判定するような場合、外観検査機や人による目視検査
では状態を認識することができないため判定することが
できず、X線検査機などのように、部品を透視して見る
ことができるような検査機が必要となる。そのような場
合、人による外観検査を基板の良品判定の最終手段とす
ることはできない場合が存在し、機械による機械判定手
段に対し、人による検査判定手段で得たいくつかの情報
のうち少なくともいずれかの情報をフィードバックし、
機械判定手段における検査プログラム、検査アルゴリズ
ムを動的に制御し、良品生産させるように制御しなけれ
ば、高密度実装におけるさまざまな不良判定を適切に実
施することはできず、上記目的の実装基板生産システム
は、特に有効である。Further, in the case of inspecting and judging the soldering condition between the component and the board, the state cannot be recognized by a visual inspection machine or a visual inspection by a person, and therefore the judgment cannot be made. For example, an inspection machine that allows parts to be seen through is required. In such a case, there is a case in which the visual inspection by a person cannot be the final means for determining the non-defectiveness of the board. Feedback any information,
Unless the inspection program and inspection algorithm in the machine determination means are dynamically controlled to produce non-defective products, various defect determinations in high-density mounting cannot be appropriately performed, and the above-mentioned mounting board production The system is particularly effective.
【0029】また、前述の半田検査機13によって不良
判定された基板に対し、不良個所の修理を実施するにあ
たり、不良個所の品質をリアルタイムに目で見てわかる
ように色表示することにより、適切な修理指示を実施し
て根本的な良品判定における誤判定を未然に防ぐことが
できる実装基板生産システムを提供することを目的とす
る。Further, when the defective portion is repaired for the board judged defective by the solder inspecting machine 13 described above, the quality of the defective portion is color-displayed in real time so that it can be visually recognized. It is an object of the present invention to provide a mounting board production system that can prevent erroneous determinations in basic non-defective product determination by executing various repair instructions.
【0030】[0030]
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに本発明の第1の手段は、基板のランド上に半田を印
刷する印刷手段と、前記印刷された半田の所定位置に部
品を装着する部品装着手段と、前記部品が装着された基
板のランドと前記部品の端子を半田接合するリフロー手
段と、前記リフローされた基板に対し、基板の所定位置
に正しく部品が半田接合されているか検査する検査手段
とを有する実装基板生産システムであって、半田接合さ
れた基板の状態データのうち少なくともいずれかのデー
タを検出する半田接合状態検出手段と、前記半田接合状
態検出手段により得た基板の状態データのうち少なくと
もいずれかの情報をもとに、前記検査手段における検査
プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれ
かの情報を動的に変えて良品生産させるように制御する
制御手段とを備えたものである。In order to solve the above problems, the first means of the present invention is a printing means for printing solder on a land of a substrate, and a component at a predetermined position of the printed solder. Component mounting means to be mounted, reflow means for solder-bonding the land of the substrate on which the component is mounted and the terminal of the component, and whether the component is properly solder-bonded to the reflowed substrate at a predetermined position on the substrate A mounting board production system having an inspecting means for inspecting, comprising: a solder joint state detecting means for detecting at least one of the state data of the solder jointed boards; and a board obtained by the solder joint state detecting means. Of at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means based on the information of at least one of the state data of Ete in which and a control means for controlling so as to good production.
【0031】また、本発明の第2の手段は、基板のラン
ド上に半田を印刷する印刷手段と、前記印刷された半田
の所定位置に部品を装着する部品装着手段と、前記部品
が装着された基板のランドと前記部品の端子を半田接合
するリフロー手段と、前記リフローされた基板に対し、
基板の所定位置に正しく部品が半田接合されているか検
査する検査手段とを有する実装基板生産システムであっ
て、半田接合された各基板、各基板上の部品、各部品の
ランド・マスクの状態データのうち少なくともいずれか
のデータを検出する半田接合状態検出手段と、前記半田
接合状態検出手段により得た基板の状態データのうち少
なくともいずれかの情報をもとに、前記検査手段におけ
る検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくとも
いずれかの情報を動的に変えて良品生産させるように制
御する制御手段とを備えたものである。A second means of the present invention is a printing means for printing solder on a land of a substrate, a component mounting means for mounting a component at a predetermined position of the printed solder, and the component for mounting. Reflow means for soldering the land of the board and the terminal of the component, and with respect to the reflowed board,
A mounting board production system having an inspection means for inspecting whether or not a component is correctly solder-bonded to a predetermined position on the board, wherein each solder-bonded substrate, each component on each substrate, and land / mask state data of each component A solder joint state detecting means for detecting at least one of the data, and an inspection program and an inspection in the inspecting means based on at least one of the information on the board state data obtained by the solder joint state detecting means. And a control means for dynamically changing at least one piece of information of the algorithm so as to produce a good product.
【0032】また、本発明の第3の手段は、基板のラン
ド上に半田を印刷する印刷手段と、前記印刷された半田
の所定位置に部品を装着する部品装着手段と、前記部品
が装着された基板のランドと前記部品の端子を半田接合
するリフロー手段と、前記リフローされた基板に対し、
基板の所定位置に正しく部品が半田接合されているか検
査する検査手段と、前記検査手段においてNGと判定さ
れた部品、リードに対して補修する基板補修手段とを有
する実装基板生産システムであって、前記基板補修手段
で基板にほどこした際の補修データのうち少なくともい
ずれかのデータを検出する補修データ検出手段と、前記
補修データ検出手段により得た基板の補修データのうち
少なくともいずれかの情報をもとに、前記検査手段にお
ける検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくと
もいずれかの情報を動的に変えて良品生産させるように
制御する制御手段とを備えたものである。A third means of the present invention is a printing means for printing solder on a land of a board, a component mounting means for mounting a component on a predetermined position of the printed solder, and the component for mounting. Reflow means for soldering the land of the board and the terminal of the component, and with respect to the reflowed board,
A mounting board production system having an inspection means for inspecting whether a component is correctly solder-bonded to a predetermined position on a board, and a board repair means for repairing a component and lead judged as NG by the inspection means, Repair data detecting means for detecting at least one of the repair data when the board is repaired by the board repairing means, and at least one of the repair data of the board obtained by the repair data detecting means. In addition, the control means for dynamically changing at least one of the information of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means so as to produce a good product.
【0033】また、本発明の第4の手段は、基板のラン
ド上に半田を印刷する印刷手段と、前記印刷された半田
の所定位置に部品を装着する部品装着手段と、前記部品
が装着された基板のランドと前記部品の端子を半田接合
するリフロー手段と、前記リフローされた基板に対し、
基板の所定位置に正しく部品が半田接合されているか検
査する検査手段と、前記検査手段においてNGと判定さ
れた部品、リードに対して補修する基板補修手段とを有
する実装基板生産システムであって、前記基板補修手段
で基板にほどこした際の補修データのうち少なくともい
ずれかのデータを検出する補修データ検出手段と、前記
補修データ検出手段により得た基板の補修データのうち
少なくともいずれかの情報をもとに、前記検査手段にお
ける検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくと
もいずれかの情報を動的に変えて、再度前記検査手段に
投入し良品生産させるように制御する制御手段とを備え
たものである。A fourth means of the present invention is a printing means for printing solder on a land of a board, a component mounting means for mounting a component on a predetermined position of the printed solder, and the component for mounting. Reflow means for soldering the land of the board and the terminal of the component, and with respect to the reflowed board,
A mounting board production system having an inspection means for inspecting whether a component is correctly solder-bonded to a predetermined position on a board, and a board repair means for repairing a component and lead judged to be NG by the inspection means, Repair data detecting means for detecting at least one of the repair data when the board is repaired by the board repair means, and at least one of the repair data of the board obtained by the repair data detecting means. In addition, the control means for dynamically changing at least one of the information of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means and re-inputting the information into the inspection means to produce a non-defective product.
【0034】また、本発明の第5の手段は、基板のラン
ド上に半田を印刷する印刷手段と、前記印刷された半田
の所定位置に部品を装着する部品装着手段と、前記部品
が装着された基板のランドと前記部品の端子を半田接合
するリフロー手段と、前記リフローされた基板に対し、
基板の所定位置に正しく部品が半田接合されているか検
査する機械検査手段と、前記機械検査手段においてNG
と判定された部品、リードに対して機械判定による誤判
定、未検出を補う検査判定手段とを有する実装基板生産
システムであって、前記検査判定手段により得た基板の
検査判定データのうち少なくともいずれかの情報をもと
に、前記機械検査手段における検査プログラム、検査ア
ルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報を動的に変
えて良品生産させるように制御する制御手段とを備えた
ものである。Further, a fifth means of the present invention is a printing means for printing solder on the land of the substrate, a component mounting means for mounting a component at a predetermined position of the printed solder, and the component for mounting. Reflow means for soldering the land of the board and the terminal of the component, and with respect to the reflowed board,
A mechanical inspection means for inspecting whether or not a component is correctly solder-bonded to a predetermined position on a board, and the mechanical inspection means is NG.
A mounting board production system having a component determined to be erroneous, an erroneous determination by a mechanical determination for a lead, and an inspection determining unit that compensates for undetected, at least one of the inspection determination data of the substrate obtained by the inspection determining unit. Based on this information, control means is provided for dynamically changing at least one of the information of the inspection program and inspection algorithm in the machine inspection means so as to produce a good product.
【0035】また、本発明の第6の手段は、基板のラン
ド上に半田を印刷する印刷手段と、前記印刷された半田
の所定位置に部品を装着する部品装着手段と、前記部品
が装着された基板のランドと前記部品の端子を半田接合
するリフロー手段と、前記リフローされた基板に対し、
基板の所定位置に正しく部品が半田接合されているか検
査する機械検査手段と、前記機械検査手段においてNG
と判定された部品、リードに対して機械判定による誤判
定、未検出を補う検査判定手段と、前記検査判定手段に
おいてNGと判定された部品、リードに対して補修する
基板補修手段とを有する実装基板生産システムであっ
て、前記機械検査手段で得た検査結果情報および前記検
査判定手段で得た検査判定情報をもとに、基板補修手段
に対しリアルタイムに修理指示を行うことが可能なもの
である。A sixth means of the present invention is a printing means for printing solder on a land of a substrate, a component mounting means for mounting a component at a predetermined position of the printed solder, and the component mounting. Reflow means for soldering the land of the board and the terminal of the component, and with respect to the reflowed board,
A mechanical inspection means for inspecting whether or not a component is correctly solder-bonded to a predetermined position on a board, and the mechanical inspection means is NG.
Mounting having an inspection determination unit that compensates for an erroneous determination and a non-detection by a mechanical determination with respect to the component and the lead determined to be defective, and a board repair unit that repairs the component and the lead determined to be NG by the inspection determination unit A board production system capable of issuing a repair instruction to the board repair means in real time based on the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means. is there.
【0036】さらに、本発明の第7の手段は、基板のラ
ンド上に半田を印刷する印刷手段と、前記印刷された半
田の所定位置に部品を装着する部品装着手段と、前記部
品が装着された基板のランドと前記部品の端子を半田接
合するリフロー手段と、前記リフローされた基板に対
し、基板の所定位置に正しく部品が半田接合されている
か検査する機械検査手段と、前記機械検査手段において
NGと判定された部品、リードに対して機械判定による
誤判定、未検出を補う検査判定手段とを有する実装基板
生産システムであって、前記機械検査手段および前記検
査判定手段により得た基板の検査判定データのうち少な
くともいずれかの情報をもとに、前記機械検査手段にお
ける検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくと
もいずれかの情報を動的に変えて良品生産させるように
制御する制御手段とを備えたものである。Further, a seventh means of the present invention is a printing means for printing solder on a land of a substrate, a component mounting means for mounting a component at a predetermined position of the printed solder, and the component for mounting. A reflow means for solder-bonding a land of the board to a terminal of the component; a mechanical inspection means for inspecting whether the component is correctly solder-bonded to a predetermined position of the board with respect to the reflowed board; and the mechanical inspection means. A mounting board production system having a component judged as NG, an erroneous judgment due to a mechanical judgment for a lead, and an inspection judgment means for compensating for undetected parts, wherein the board is inspected by the machine inspection means and the inspection judgment means. Based on at least one of the determination data, at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the machine inspection means is used. It is obtained by a control means for controlling so as to good production varied in manner.
【0037】また、本発明の第8の手段は、基板のラン
ド上に半田を印刷する印刷手段と、前記印刷された半田
の所定位置に部品を装着する部品装着手段と、前記部品
が装着された基板のランドと前記部品の端子を半田接合
するリフロー手段と、前記リフローされた基板に対し、
基板の所定位置に正しく部品が半田接合されているか検
査する機械検査手段と、前記機械検査手段においてNG
と判定された部品、リードに対して機械判定による誤判
定、未検出を補う検査判定手段と、前記検査判定手段に
おいてNGと判定された部品、リードに対して補修する
基板補修手段とを有する実装基板生産システムであっ
て、前記検査判定手段においてNGと判定された部品、
リードが存在する場合、前記機械検査手段で得た検査結
果情報および前記検査判定手段で得た検査判定情報をも
とに、基板補修手段にて補修した基板に対し、再度、前
記機械検査手段および前記検査判定手段を通し、前記機
械検査手段で得た検査結果情報および前記検査判定手段
で得た検査判定情報に対し、基板補修手段にて基板を補
修する前に得た前回の前記機械検査手段で得た検査結果
情報および前記検査判定手段で得た検査判定情報と、基
板補修手段にて基板を補修した後で得た今回の前記機械
検査手段で得た検査結果情報および前記検査判定手段で
得た検査判定情報とをもとに、前記機械検査手段におけ
る検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくとも
いずれかの情報を動的に変えて良品生産させるように制
御する制御手段とを備えたものである。The eighth means of the present invention is a printing means for printing solder on a land of a board, a component mounting means for mounting a component at a predetermined position of the printed solder, and the component mounting. Reflow means for soldering the land of the board and the terminal of the component, and with respect to the reflowed board,
A mechanical inspection means for inspecting whether or not a component is correctly solder-bonded to a predetermined position on a board, and the mechanical inspection means is NG.
Mounting including a component determined to be erroneous, an inspection determination unit that compensates for an erroneous determination and a non-detection by a mechanical determination, and a component repaired to the component and lead determined to be NG by the inspection determination unit A board production system, wherein a part determined to be NG by the inspection determination means,
When there is a lead, based on the inspection result information obtained by the mechanical inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means, for the substrate repaired by the substrate repair means, the mechanical inspection means and Through the inspection determination means, the previous machine inspection means obtained before the board is repaired by the board repair means with respect to the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection judgment information obtained by the inspection judgment means. In the inspection result information and the inspection determination information obtained by the inspection determination means, the inspection result information obtained by the machine inspection means of this time obtained after the board is repaired by the board repairing means and the inspection determination means. Control means for dynamically changing at least one of an inspection program and an inspection algorithm in the machine inspection means based on the obtained inspection determination information so as to produce a good product; It includes those were.
【0038】さらに、本発明の第9の手段は、基板補修
手段に対しリアルタイムに行う修理指示は、部品、リー
ドの品質状態を目で見て一目でわかるような色表示を行
うことが可能なものである。さらに、本発明の第10の
手段は、良品生産させるように制御する制御手段は、機
械検査手段における検査精度、正誤判定率、次工程・次
手段への直交率を向上させるように制御することが可能
なものである。Further, according to the ninth means of the present invention, the repair instruction to be given to the board repairing means in real time can be color-displayed so that the quality condition of the component and the lead can be seen at a glance. It is a thing. Further, a tenth means of the present invention is that the control means for controlling so as to produce a non-defective product controls the machine inspection means so as to improve the inspection accuracy, the accuracy determination rate, and the orthogonal rate to the next process / the next means. Is possible.
【0039】さらに、本発明の第11の手段は、良品生
産させるように制御する制御手段は、基板あるいは検査
手段における設備の状態、その他の状態から自動的に検
査プログラム、検査アルゴリズムを決定することが可能
なものである。Further, the eleventh means of the present invention is that the control means for controlling to produce a non-defective product automatically determines the inspection program and the inspection algorithm from the state of the equipment in the board or the inspection means and other states. Is possible.
【0040】[0040]
【作用】上記第1の手段により、印刷手段と、部品装着
手段と、リフロー手段と、検査手段とを有する実装基板
生産システムにおいて、半田接合された基板の状態デー
タのうち少なくともいずれかのデータが半田接合状態検
出手段により検出できるようになり、前記半田接合状態
検出手段により得た基板の状態データのうち少なくとも
いずれかの情報をもとに、前記検査手段における検査プ
ログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれか
の情報を動的に変えることにより良品生産させる、すな
わち、検査手段における検査精度、正誤判定率、次工程
・次手段への直交率を向上させるように制御することが
可能となり、これにより不良発生が次工程・次手段へ流
れることを食い止められて良品が無駄なく生産されると
ともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。According to the first means, in the mounting board production system having the printing means, the component mounting means, the reflow means, and the inspection means, at least one of the status data of the solder-bonded boards is stored. At least one of an inspection program and an inspection algorithm in the inspection means can be detected by the solder joint state detection means, and based on at least one of the board state data obtained by the solder joint state detection means. It is possible to control the quality of the product by dynamically changing that information, that is, to improve the inspection accuracy in the inspection device, the accuracy rate, and the orthogonality ratio to the next process / the next device. The generation of non-defective products is prevented and the quality of products is reduced. Solid Do reliability can be realized.
【0041】また、上記第2の手段により、印刷手段
と、部品装着手段と、リフロー手段と、検査する検査手
段とを有する実装基板生産システムにおいて、半田接合
された各基板、各基板上の部品、各部品のランド・マス
クの状態データのうち少なくともいずれかのデータが半
田接合状態検出手段により検出できるようになり、前記
半田接合状態検出手段により得た基板の状態データのう
ち少なくともいずれかの情報をもとに、前記検査手段に
おける検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なく
ともいずれかの情報を動的に変えて良品生産させる、す
なわち、検査手段における検査精度、正誤判定率、次工
程・次手段への直交率を向上させるように制御すること
が可能となり、これにより不良発生が次工程・次手段へ
流れることを食い止められて良品が無駄なく生産される
とともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。In the mounting board production system having the printing means, the component mounting means, the reflow means, and the inspection means for inspecting by the second means, each board soldered and the parts on each board , At least one of the land / mask state data of each component can be detected by the solder joint state detecting means, and at least one of the board state data obtained by the solder joint state detecting means. Based on the above, the inspection program and inspection algorithm in the inspection means are dynamically changed to produce a good product, that is, the inspection accuracy in the inspection means, the correctness determination rate, It is possible to control so as to improve the orthogonality ratio, which prevents the occurrence of defects from flowing to the next process / means. Rigidly reliability of the product quality is achieved with non-defective product is produced without waste.
【0042】また、上記第3の手段により、印刷手段
と、部品装着手段と、リフロー手段と、検査手段と、基
板補修手段とを有する実装基板生産システムにおいて、
前記基板補修手段で基板に施した際の補修データのうち
少なくともいずれかのデータを補修データ検出手段によ
り検出できるようになり、前記補修データ検出手段によ
り得た基板の補修データのうち少なくともいずれかの情
報をもとに、前記検査手段における検査プログラム、検
査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報を動的
に変えて良品生産させる、すなわち、検査手段における
検査精度、正誤判定率、次工程・次手段への直交率を向
上させるように制御することが可能となり、これにより
不良発生が次工程・次手段へ流れることを食い止められ
良品が無駄なく生産されるとともに製品品質の堅固な信
頼性が実現する。In the mounting board production system having the printing means, the component mounting means, the reflow means, the inspection means, and the board repairing means by the third means,
It becomes possible to detect at least one of the repair data when applied to the board by the board repair means by the repair data detection means, and at least one of the repair data of the board obtained by the repair data detection means. Based on the information, at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means is dynamically changed to produce a non-defective product, that is, the inspection accuracy in the inspection means, the correctness determination rate, the next process / the next means It is possible to control so as to improve the orthogonality ratio of, so that the occurrence of defects can be prevented from flowing to the next process and the next means, good products can be produced without waste, and solid reliability of product quality can be realized.
【0043】また、上記第4の手段により、印刷手段
と、部品装着手段と、リフロー手段と、検査手段と、基
板補修手段とを有する実装基板生産システムにおいて、
前記基板補修手段で基板に施した際の補修データのうち
少なくともいずれかのデータを補修データ検出手段によ
り検出できるようになり、前記補修データ検出手段によ
り得た基板の補修データのうち少なくともいずれかの情
報をもとに、前記検査手段における検査プログラム、検
査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報を動的
に変えて、再度前記検査手段に投入し良品生産させる、
すなわち、検査手段における検査精度、正誤判定率、次
工程・次手段への直交率を向上させるように制御するこ
とが可能となり、これにより不良発生が次工程・次手段
へ流れることを食い止められて良品が無駄なく生産され
るとともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, in the mounting board production system having the printing means, the component mounting means, the reflow means, the inspection means, and the board repairing means by the fourth means,
It becomes possible to detect at least one of the repair data when applied to the board by the board repair means by the repair data detection means, and at least one of the repair data of the board obtained by the repair data detection means. On the basis of the information, at least one of the information of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means is dynamically changed, and the inspection means is supplied again to produce a good product.
That is, it becomes possible to control so as to improve the inspection accuracy in the inspection means, the correctness determination rate, and the orthogonality ratio to the next process / next device, and this prevents the occurrence of defects from flowing to the next process / next device. Good products are produced without waste, and solid reliability of product quality is realized.
【0044】また、上記第5の手段により、印刷手段
と、部品装着手段と、リフロー手段と、機械検査手段
と、検査判定手段とを有する実装基板生産システムにお
いて、前記検査判定手段により得た基板の検査判定デー
タのうち少なくともいずれかの情報をもとに、前記機械
検査手段における検査プログラム、検査アルゴリズムの
うち少なくともいずれかの情報を動的に変えて良品生産
させる、すなわち、検査手段における検査精度、正誤判
定率、次工程・次手段への直交率を向上させるように制
御することが可能となり、これにより不良発生が次工程
・次手段へ流れることを食い止められて良品が無駄なく
生産されるとともに製品品質の堅固な信頼性が実現す
る。In the mounted board production system having the printing means, the component mounting means, the reflow means, the machine inspection means, and the inspection determination means by the fifth means, the board obtained by the inspection determination means. Based on at least one of the inspection determination data, the information on at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the machine inspection means is dynamically changed to produce a good product, that is, the inspection accuracy in the inspection means. It is possible to control so as to improve the correctness / incorrectness determination rate and the orthogonality rate to the next process / the next means, which prevents the occurrence of defects from flowing to the next process / the next means and produces good products without waste. At the same time, solid reliability of product quality is realized.
【0045】また、上記第6の手段により、印刷手段
と、部品装着手段と、リフロー手段と、機械検査手段
と、検査判定手段と、前記検査判定手段においてNGと
判定された部品、リードに対して補修する基板補修手段
とを有する実装基板生産システムにおいて、前記機械検
査手段で得た検査結果情報および前記検査判定手段で得
た検査判定情報をもとに、基板補修手段に対しリアルタ
イムに修理指示を行うことが可能となり部品、リードの
品質状態を色で表示・表現することによって、リアルタ
イムな修理指示・リアルタイムな基板上の部品、リード
の品質状態が目で見て一目でわかるようになる。これに
より不良部分の修正忘れの防止、基板のどの部分が不良
部分なのかの探索時間の短縮が図られ、良品が無駄なく
生産されるとともに製品品質の堅固な信頼性が実現す
る。The printing means, the component mounting means, the reflow means, the machine inspection means, the inspection determination means, and the component and the lead determined to be NG by the inspection determination means by the sixth means. In a mounted board production system having a board repairing means for repairing by means of a repair, a real-time repair instruction is given to the board repairing means based on the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means. By displaying and expressing the quality status of parts and leads in color, real-time repair instructions and real-time quality status of parts and leads on the board can be seen at a glance. As a result, it is possible to prevent forgetting to correct a defective portion, shorten the search time for which portion of the substrate is a defective portion, produce a good product without waste, and realize solid reliability of product quality.
【0046】さらに、上記第7の手段により、印刷手段
と、部品装着手段と、リフロー手段と、機械検査手段
と、検査判定手段とを有する実装基板生産システムにお
いて、前記機械検査手段および前記検査判定手段により
得た基板の検査判定データのうち少なくともいずれかの
情報をもとに、前記機械検査手段における検査プログラ
ム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報
を動的に変えて良品生産させるように制御することが可
能となり、これにより不良発生が次工程・次手段へ流れ
ることを食い止められて良品が無駄なく生産されるとと
もに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Furthermore, in the mounting board production system having the printing means, the component mounting means, the reflow means, the machine inspection means, and the inspection determination means by the seventh means, the mechanical inspection means and the inspection determination are performed. Based on at least one piece of information of the board inspection judgment data obtained by the means, control is performed so as to dynamically change at least one piece of information of the inspection program and the inspection algorithm in the machine inspection means to produce a good product This makes it possible to prevent the occurrence of defects from flowing to the next process / next means, produce good products without waste, and realize solid reliability of product quality.
【0047】また、上記第8の手段により、印刷手段
と、部品装着手段と、リフロー手段と、機械検査手段
と、検査判定手段と、前記検査判定手段においてNGと
判定された部品、リードに対して補修する基板補修手段
とを有する実装基板生産システムにおいて、前記検査判
定手段においてNGと判定された部品、リードが存在す
る場合、前記機械検査手段で得た検査結果情報および前
記検査判定手段で得た検査判定情報をもとに、基板補修
手段にて補修した基板に対し、再度、前記機械検査手段
および前記検査判定手段を通し、前記機械検査手段で得
た検査結果情報および前記検査判定手段で得た検査判定
情報に対し、基板補修手段にて基板を補修する前に得た
前回の前記機械検査手段で得た検査結果情報および前記
検査判定手段で得た検査判定情報と、基板補修手段にて
基板を補修した後で得た今回の前記機械検査手段で得た
検査結果情報および前記検査判定手段で得た検査判定情
報とをもとに、前記機械検査手段における検査プログラ
ム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報
を動的に変えて良品生産させるように制御することが可
能となり、これにより不良発生が次工程・次手段へ流れ
ることを食い止められて良品が無駄なく生産されるとと
もに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, with respect to the printing means, the component mounting means, the reflow means, the machine inspection means, the inspection determination means, and the component and the lead determined to be NG by the inspection determination means by the eighth means. In a mounted board production system having a board repairing means for repairing by means of the above, if there is a component or lead judged to be NG by the inspection judging means, the inspection result information obtained by the machine checking means and the inspection judging means are obtained. Based on the inspection judgment information, the board repaired by the board repair means is passed through the machine inspection means and the inspection judgment means again, and the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection judgment means are used. Based on the obtained inspection determination information, the inspection result information obtained by the previous machine inspection means obtained before the substrate is repaired by the substrate repair means and the inspection result obtained by the inspection determination means. The machine inspection means is based on the judgment information, the inspection result information obtained by the machine inspection means this time obtained after the board is repaired by the board repair means, and the inspection judgment information obtained by the inspection judgment means. It is possible to control at least one of the inspection program and inspection algorithm in the above to dynamically change so that a good product can be produced. It is produced without waste and solid reliability of product quality is realized.
【0048】また、上記第9の手段により、品質状態を
直感的に視認できるため、適切な修理指示を実施して根
本的な良品判定における誤判定を未然に防ぐことができ
る。また、上記第10の手段により、機械検査手段にお
ける検査精度、正誤判定率、次工程・次手段への直交率
が向上する。In addition, since the quality condition can be intuitively visually recognized by the ninth means, it is possible to prevent the erroneous judgment in the fundamental non-defective product judgment by giving an appropriate repair instruction. Further, the tenth means improves the inspection accuracy, the accuracy determination rate, and the orthogonal rate to the next process / next means in the machine inspection means.
【0049】また、上記第11の手段により、自動的に
検査プログラム、検査アルゴリズムを決定することが可
能となり、不良発生が次工程・次手段へ流れることを食
い止めることができて、良品が無駄なく、かつ能率的に
生産されるとともに製品品質の堅固な信頼性が実現す
る。Further, the eleventh means makes it possible to automatically determine the inspection program and the inspection algorithm, and it is possible to prevent the occurrence of defects from flowing to the next process / the next means, thereby ensuring good products without waste. In addition, it is produced efficiently, and solid reliability of product quality is realized.
【0050】[0050]
【実施例】以下、本発明の実施例の実装基板生産システ
ムについて図面を参照しながら説明する。 (実施例1)図1は、本発明の一実施例における実装基
板生産システムの構成を示すブロック図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A mounting board production system according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. (Embodiment 1) FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a mounting board production system in an embodiment of the present invention.
【0051】図1に示すように、この実装基板生産シス
テムにおいては、回路基板の移送ラインに沿って、その
上手側からクリーム半田印刷機21、クリーム半田印刷
検査機22、部品装着機23、部品装着後検査機24、
リフロー炉25さらに半田検査機26が順次配設されて
いる。また、半田検査機26は、機械による機械検査2
7と人による検査判定28により構成され、半田検査機
26がNG(不良)判定した基板に対しては、補修29
へと流される構成である。また、機械検査27、検査判
定28、補修29には、それぞれ基板のさまざまな状態
を検出するための状態検出部30、31、32が取り付
けられている。また、これらの各装置は図示しない制御
手段により制御されるようになっている。As shown in FIG. 1, in this mounting board production system, the cream solder printing machine 21, the cream solder printing inspection machine 22, the component mounting machine 23, the components are arranged along the transfer line of the circuit board from the upper side. Post-installation inspection machine 24,
A reflow furnace 25 and a solder inspection machine 26 are sequentially arranged. In addition, the solder inspection machine 26 is a mechanical inspection 2
7 and the inspection judgment 28 by the person, the solder inspection machine 26 repairs 29 the board judged as NG (defective).
It is a structure that is washed away. Further, the mechanical inspection 27, the inspection determination 28, and the repair 29 are provided with state detection units 30, 31, and 32 for detecting various states of the board, respectively. Further, each of these devices is controlled by a control means (not shown).
【0052】クリーム半田印刷機21は回路基板などの
被印刷物のランド上にクリーム半田を印刷する。クリー
ム半田印刷検査機22は、基板および印刷設備の状態を
検査するとともに、クリーム半田印刷機21で印刷した
クリーム半田の印刷状態を検査する。The cream solder printing machine 21 prints cream solder on the land of an object to be printed such as a circuit board. The cream solder printing inspection machine 22 inspects the state of the board and the printing equipment, and also inspects the printing state of the cream solder printed by the cream solder printing machine 21.
【0053】また、部品装着機23は、X−Y駆動装置
により、電子部品などが供給される部品供給部に吸着ノ
ズルヘッドを移送し、吸着ノズルヘッドで部品を吸着し
て回路基板の装着位置まで移送して、ランド上に印刷さ
れたクリーム半田上にリードや電極が位置するように部
品を装着する。このとき、部品の回路基板への装着は、
部品認識カメラにより部品の吸着状況を撮影して吸着ミ
スを管理しながら行う。部品装着後検査機24は、部品
装着機23により回路基板上の所定位置に装着された部
品や設備の状態を検査する。Further, the component mounting machine 23 transfers the suction nozzle head to the component supply portion to which electronic components are supplied by the XY drive device, sucks the component by the suction nozzle head, and mounts the circuit board on the mounting position. Then, the parts are mounted so that the leads and electrodes are located on the cream solder printed on the land. At this time, mounting the components on the circuit board
The component recognition camera takes a picture of the component pick-up status and manages pick-up errors. The after-component mounting inspection machine 24 inspects the state of components and equipment mounted at predetermined positions on the circuit board by the component mounting machine 23.
【0054】さらに、リフロー炉25は、炉体内に被加
熱物である回路基板を搬送するコンベアを配設し、この
コンベアの上下位置にヒータをそれぞれ配設し、さらに
その上下位置にファンを配設してヒータを通して加熱さ
れた熱風ガスを回路基板に吹き付ける構成である。ま
た、リフロー炉25の内部は、予熱室、リフロー加熱
室、さらに徐冷室に区画され、各室にそれぞれ上記ヒー
タおよびファンが配設されており、リフロー加熱室にお
いては、回路基板を均一に加熱することによってクリー
ム半田をリフローすることで部品を半田付けする構成で
ある。Further, in the reflow furnace 25, conveyors for carrying a circuit board, which is an object to be heated, are arranged in the furnace body, heaters are arranged at the upper and lower positions of the conveyor, and fans are arranged at the upper and lower positions thereof. A hot air gas heated through a heater is blown onto the circuit board. Further, the inside of the reflow furnace 25 is divided into a preheating chamber, a reflow heating chamber, and a slow cooling chamber, and the heater and the fan are provided in each chamber. In the reflow heating chamber, the circuit board is evenly arranged. The components are soldered by reflowing the cream solder by heating.
【0055】半田検査機26は、回路基板上の部品の半
田付け状態および設備の状態を検査する。この半田検査
機は、機械による機械検査27と人による検査判定28
により構成され、まず機械による検査結果に対して、誤
判定(過検出、未検出、誤エラー番号・コード判定)を
確認するために人により検査判定28を行い、各部品、
各部品の各リードなどに検査結果を確定し、NG(不
良)判定した基板に対しては、補修29へと流し、補修
を行う構成である。The solder inspecting machine 26 inspects the soldering state of parts on the circuit board and the state of equipment. This solder inspection machine has a machine inspection 27 by a machine and an inspection judgment 28 by a person.
First, an inspection judgment 28 is performed by a person in order to confirm an erroneous judgment (over-detection, non-detection, erroneous error number / code judgment) with respect to the inspection result by the machine.
The inspection result is confirmed for each lead of each component, and the board judged to be NG (defective) is sent to the repair 29 for repair.
【0056】図2は、本発明の一実施例の実装基板生産
システムの制御手段により検査プログラムを動的に変更
する手順を示すフローチャートである。図1のラインの
上手側からクリーム半田印刷機21、クリーム半田印刷
検査機22、部品装着機23、部品装着後検査機24、
リフロー炉25と生産されてきた基板に対し、機械検査
27において、まず、半田接合された各基板、各基板上
の部品、各部品のランド・マスクの状態などを状態検出
部30において検出する(ステップ#1)。次に、ステ
ップ#1の状態検出部30において検出された情報のう
ち少なくともいずれかの情報をもとに、機械検査27に
おける検査プログラムを決定する(ステップ#2)。次
に、その情報をもとに、機械検査を開始する(判定を開
始する;ステップ#3)とともに、ステップ#3と並行
的にあるいは、逐次的に半田接合された各基板、各基板
上の部品、各部品のランド・マスクの状態などを状態検
出部30において検出し(ステップ#4)、ステップ#
4の状態検出部30において検出された情報のうち少な
くともいずれかの情報をもとに、機械検査27における
検査プログラムを動的に変更する(ステップ#5)。し
たがって、ステップ#4にて得た半田接合された各基
板、各基板上の部品、各部品のランド・マスクの状態等
の情報をもとにリアルタイムに検査プログラムを変更
し、常に最適な検査プログラムで検査判定27(ステッ
プ#3)が実施されることとなる。FIG. 2 is a flow chart showing a procedure for dynamically changing the inspection program by the control means of the mounting board production system according to the embodiment of the present invention. From the upper side of the line of FIG. 1, a cream solder printing machine 21, a cream solder printing inspection machine 22, a component mounting machine 23, a component mounting inspection machine 24,
In the mechanical inspection 27 of the reflow furnace 25 and the board that has been produced, first, the status detection unit 30 detects the solder-bonded boards, the parts on each board, and the land / mask status of each part ( Step # 1). Next, the inspection program in the mechanical inspection 27 is determined based on at least one of the information detected by the state detection unit 30 in step # 1 (step # 2). Next, based on the information, a mechanical inspection is started (judgment is started; step # 3), and at the same time as step # 3, each substrate soldered in parallel or sequentially, on each substrate The state and the state of the land mask of each component are detected by the state detection unit 30 (step # 4), and step # 4
The inspection program in the mechanical inspection 27 is dynamically changed based on at least one of the information detected by the state detecting unit 30 of No. 4 (step # 5). Therefore, the inspection program is changed in real time based on the information such as the solder-bonded boards obtained in step # 4, the parts on each board, and the state of the land / mask of each part. Then, the inspection determination 27 (step # 3) is performed.
【0057】機械検査27の終了後、その基板に対し、
NG(不良個所)があるかどうか判定を行い(ステップ
#6)、NG(不良個所)がなければ、良品基板完成
(ステップ#10)へ、NG(不良個所)があれば、検
査判定28へと進む。After completion of the mechanical inspection 27,
It is determined whether or not there is an NG (defective part) (step # 6). If there is no NG (defective part), then a non-defective substrate is completed (step # 10). If there is an NG (defective part), then the inspection determination 28. And proceed.
【0058】検査判定28では、機械による検査結果に
対して、誤判定(過検出、未検出、誤エラー番号・コー
ド判定)を確認するとともに、各部品、各部品の各リー
ドなどに検査結果を確定する。また、状態検出部31に
より、検査判定28で実施した判定確認・判定修正・判
定追加した情報を状態検出部31において検出し、半田
接合された各基板、各基板上の部品、各部品のランド・
マスクの状態を登録把握しておく(ステップ#7)。In the inspection judgment 28, erroneous judgments (overdetection, non-detection, erroneous error number / code judgment) are confirmed with respect to the inspection result by the machine, and the inspection result is given to each component, each lead of each component, and the like. Determine. In addition, the state detection unit 31 detects the information of the determination confirmation / determination correction / determination addition performed in the inspection determination 28 in the state detection unit 31, and each solder-bonded board, the component on each substrate, and the land of each component.・
The state of the mask is registered and grasped (step # 7).
【0059】検査判定28の終了後、その基板に対し、
NG(不良個所)があるかどうか判定を行い(ステップ
#8)、NG(不良個所)がなければ、良品基板完成
(ステップ#10)へ、NG(不良個所)があれば、補
修29へと流して、補修を行う。After completion of the inspection judgment 28,
It is determined whether or not there is an NG (defective part) (step # 8). If there is no NG (defective part), then a non-defective substrate is completed (step # 10). If there is an NG (defective part), then a repair 29 is performed. Run and repair.
【0060】補修29では、NG(不良個所)の補修を
行うとともに、状態検出部32により、補修29で実施
した情報を状態検出部31において検出し、半田接合さ
れた各基板、各基板上の部品、各部品のランド・マスク
の状態を登録把握しておく(ステップ#9)。In the repair 29, the NG (defective portion) is repaired, and the status detecting section 32 detects the information carried out in the repair 29 by the status detecting section 31. The components and the state of the land mask of each component are registered and known (step # 9).
【0061】また、ステップ#7、ステップ#9で得た
情報を機械検査27のステップ#1にフィードバックす
る。図3、図4、図6、図8、図10、図12、図14
で使用する検査プログラムや検査モジュールの定義法に
ついて、そのリストのフォーマット(書式)、セマンテ
ィックス(意味付け)について、図3を用いて説明す
る。このリストは、コメント、セパレータで区切られた
4つのフィールドで構成され、それぞれのフィールド
は、No、(X,Y,θ)、検査モジュール名、制御コ
ードであり、各フィールド内では、,(OR)や&(A
ND)による論理記述が行われる。また、制御コードに
ついては、4つのコードがあり、 nx=XXX :その行が実行後 XXXの行へジャンプし、 XXX
の行の実行に移る。 ht :その行が実行後、終了する。 sp :その行は実行せず、次の行の実行に移る。 nl :その行は実行後、次の行の実行に移る。 の意味を表す。このような記述に基づき、検査プログラ
ムや検査モジュールは定義される。The information obtained in steps # 7 and # 9 is fed back to step # 1 of the machine inspection 27. 3, FIG. 4, FIG. 6, FIG. 8, FIG. 10, FIG.
The format of the list and the semantics (meaning) of the definition method of the inspection program and the inspection module used in the above will be described with reference to FIG. This list is composed of four fields separated by comments and separators. Each field is No, (X, Y, θ), inspection module name, control code, and in each field, (OR ) And & (A
ND) logical description is performed. There are four control codes, nx = XXX: The line jumps to the XXX line after execution, and XXX
Move on to the execution of the line. ht: Exit after executing that line. sp: Do not execute the line, move on to the next line. nl: After executing that line, move on to the next line. Represents the meaning of. Based on such description, the inspection program and inspection module are defined.
【0062】図3を具体的に説明すると、No=1は、
座標(X,Y,θ)=(10.000,20.000,120) の検査プロ
グラム名は、P=部品形状別検査モジュールを使用しか
つ、D=半田形状別検査モジュールまたはX=ランド・
マスク別検査モジュールを使用することを表し、この行
実行後は、nlにて、次の行No=2を実行することを
表している。また、No=2は、座標(X,Y,θ)=
(15.000,45.000,180)の検査プログラム名は、P=部品
形状別検査モジュールを使用しかつ、D=半田形状別検
査モジュールを使用しかつ、C=反射特性別検査モジュ
ールを使用することを表し、この行実行後は、nlに
て、次の行No=3を実行することを表している。ま
た、No=3は、座標(X,Y,θ)=(0.000,0.000,
0) の検査プログラム名は、P=部品形状別検査モジュ
ールを使用することを表し、この行の実行後は、nlに
て、次の行を実行することを表している。Explaining FIG. 3 concretely, No = 1
The inspection program name with coordinates (X, Y, θ) = (10.000,20.000,120) is that P = use component shape inspection module and D = solder shape inspection module or X = land.
This means that the inspection module for each mask is used, and after execution of this line, the next line No = 2 is executed at nl. Further, No = 2 means that the coordinates (X, Y, θ) =
The inspection program name of (15.000,45.000,180) indicates that P = use the component shape inspection module, D = use the solder shape inspection module, and C = use the reflection characteristic inspection module. After executing this line, nl indicates that the next line No = 3 is executed. In addition, No = 3 means that the coordinates (X, Y, θ) = (0.000, 0.000,
The inspection program name of (0) indicates that P = inspection module for each component shape is used, and after execution of this line, nl indicates that the next line is executed.
【0063】そして、この図3で指定された各種検査モ
ジュールに対し、具体的にどのような検査モジュールを
使用するかについては、それぞれ図4、図6、図8、図
10、図12、図14に記述されており、リストのフォ
ーマット(書式)、セマンティックス(意味付け)につ
いては、図2と同様である。As to what kind of inspection module is specifically used for the various inspection modules designated in FIG. 3, FIG. 4, FIG. 6, FIG. 8, FIG. 10, FIG. 14, the list format and the semantics are the same as in FIG.
【0064】図4の部品形状別検査モジュールリストを
説明すると、No=1は、部品形状コード=parts
−Aの検査モジュール名は、P001であることを表し
ており、その次に定義されているのは、制御コードがn
lであることから、No=2となり、No=2は、部品
形状コード=parts−A′の検査モジュール名はP
002であることを表しており、その次に定義されてい
るのは、制御コードnx=parts−Bであることか
ら、No=6となり、No=6は、部品形状コード=p
arts−Bの検査モジュール名は、P005であるこ
とを表しており、その次に定義されているのは、制御コ
ードnx=parts−Cであることから、No=3と
なり、No=3は、制御コードがspであるため、その
行は無視され(定義されず)、その次に定義されている
のはNo=4となり、No=4は、部品形状コード=p
arts−Dの検査モジュール名は、P003であるこ
とを表しており、その次に定義されているのは、制御コ
ードがhtであることから、部品形状別検査モジュール
リストは以上で定義が終了することを表している。Explaining the inspection module list by component shape in FIG. 4, No = 1 indicates the component shape code = parts.
The inspection module name of -A indicates that it is P001, and the control code defined next is n.
Since it is l, No = 2. In No = 2, the inspection module name of the part shape code = parts-A ′ is P.
No. 6 is defined as the control code nx = parts-B, and No = 6 is the part shape code = p.
The inspection module name of arts-B indicates that it is P005, and since the control code nx = parts-C is defined next, No = 3, and No = 3 is Since the control code is sp, the line is ignored (not defined), and the next definition is No = 4, where No = 4 is the part shape code = p.
The inspection module name of arts-D indicates that it is P003, and what is defined next is the control code ht. Therefore, the definition of the inspection module list for each component shape is completed. It means that.
【0065】図5は、図4における部品形状コードを登
録するための部品形状ライブラリである。図6の半田形
状別検査モジュールリストを説明すると、No=1は、
半田形状コード=tezuke1の検査モジュール名
は、D001であることを表しており、その次に定義さ
れているのは、制御コードがnlであることから、No
=2となり、No=2は、半田形状コード=tezuk
e2の検査モジュール名は、D002であることを表し
ており、その次に定義されているのは、制御コードnx
=kikai1であることから、No=4となり、No
=4は、半田形状コード=kikai1の検査モジュー
ル名は、D004であることを表しており、その次に定
義されているのは、制御コードnlであることから、N
o=5となり、No=5は、半田形状コード=kika
i2の検査モジュール名は、D005であることを表し
ている。FIG. 5 shows a component shape library for registering the component shape code in FIG. Explaining the solder shape inspection module list of FIG. 6, No = 1
The inspection module name of the solder shape code = tezuke1 indicates that it is D001, and what is defined next is No because the control code is nl.
= 2, and No = 2, solder shape code = tezuk
The inspection module name of e2 indicates that it is D002, and the next defined is the control code nx.
= Kikai1, so No = 4, and No
= 4 indicates that the inspection module name of the solder shape code = kikai1 is D004, and the next defined is the control code nl.
o = 5, and No = 5, solder shape code = kika
The inspection module name of i2 represents D005.
【0066】図7は、図6における半田形状コードを登
録するための半田形状ライブラリである。図8の部品コ
ード別検査モジュールリストを説明すると、No=1
は、部品コード=pcode1の検査モジュール名は、
A001であることを表しており、その次に定義されて
いるのは、制御コードがnlであることから、No=2
となり、No=2は、部品コード=pcode2の検査
モジュール名は、A002であることを表しており、そ
の次に定義されているのは、制御コードnlであること
から、No=3となり、No=3の制御コードがspで
あるため、その行は無視され(定義されず)、その次に
定義されているのはNo=4となり、No=4は、部品
コード=pcode3の検査モジュール名は、A003
であることを表している。FIG. 7 is a solder shape library for registering the solder shape code in FIG. Explaining the inspection module list by component code in FIG. 8, No = 1
Is the inspection module name of the part code = pcode1,
It is A001, and the next defined is No = 2 because the control code is nl.
No = 2 indicates that the inspection module name of the part code = pcode2 is A002, and the next defined is the control code nl, so No = 3, and No. = 3 control code is sp, so that line is ignored (not defined), the next defined is No = 4, and No = 4 is the inspection module name of component code = pcode3 , A003
It means that.
【0067】図9は、図8における部品コードを登録す
るための部品コードライブラリである。図10の半田特
性別検査モジュールリストを説明すると、No=1は、
半田特性コード=tension1の検査モジュール名
は、W001であることを表しており、その次に定義さ
れているのは、制御コードがnlであることから、No
=2となり、No=2の制御コードがspであるため、
その行は無視され(定義されず)、その次に定義されて
いるのはNo=3となり、No=3は、半田特性コード
=tension3またはnendo3の検査モジュー
ル名は、W003であることを表しており、その次に定
義されているのは、制御コードnlであることから、N
o=4となり、No=4は、半田特性コード=tens
ion3でかつtaisan2の検査モジュール名は、
W004であることを表している。FIG. 9 shows a component code library for registering the component codes in FIG. Explaining the solder characteristic inspection module list of FIG. 10, No = 1
The inspection module name of the solder characteristic code = tension1 indicates that it is W001, and what is defined next is No because the control code is nl.
= 2 and the control code for No = 2 is sp,
The line is ignored (not defined), and the next one defined is No = 3, which means that the inspection module name of the solder characteristic code = tension3 or nendo3 is W003. Since the control code nl is defined after that, N
o = 4, No = 4, solder characteristic code = tens
The inspection module name of ion3 and Taisan2 is
It is W004.
【0068】図11は、図10における半田特性コード
を登録するための半田特性ライブラリである。図12の
反射特性別検査モジュールリストを説明すると、No=
1は、反射特性コード=ref1の検査モジュール名
は、C001であることを表しており、その次に定義さ
れているのは、制御コードがnlであることから、No
=2となり、No=2は、反射特性コード=ref1′
の検査モジュール名は、C002であることを表してお
り、その次に定義されているのは、制御コードnlであ
ることから、No=3となり、No=3は、反射特性コ
ード=ref2の検査モジュール名は、C004である
ことを表しており、その次に定義されているのは、制御
コードがnlであることから、No=4となり、No=
4は、反射特性コード=ref5の検査モジュール名
は、C002であることを表している。FIG. 11 is a solder characteristic library for registering the solder characteristic code in FIG. To describe the inspection module list for each reflection characteristic in FIG. 12, No =
1 indicates that the inspection module name of the reflection characteristic code = ref1 is C001, and what is defined next is No because the control code is nl.
= 2, and No = 2, reflection characteristic code = ref1 '
Indicates that the inspection module name of C002 is C002, and the next defined is the control code nl, so No = 3, and No = 3 is the inspection of the reflection characteristic code = ref2. The module name represents C004, and the second definition is No = 4 because the control code is nl, and No =
4 indicates that the inspection module name of the reflection characteristic code = ref5 is C002.
【0069】図13は、図12における反射特性コード
を登録するための反射特性ライブラリである。図14の
ランド・マスク別検査モジュールリストを説明すると、
No=1は、ランド・マスクコード=land1の検査
モジュール名は、X001であることを表しており、そ
の次に定義されているのは、制御コードがnlであるこ
とから、No=2となり、No=2は、ランド・マスク
コード=mask2の検査モジュール名は、X002で
あることを表しており、その次に定義されているのは、
制御コードnlであることから、No=3となり、No
=3の制御コードがspであるため、その行は無視され
(定義されず)、その次に定義されているのはNo=5
となり、No=5は、ランド・マスクコード=land
4の検査モジュール名は、X006であることを表して
いる。FIG. 13 is a reflection characteristic library for registering the reflection characteristic code in FIG. Explaining the land / mask-specific inspection module list of FIG. 14,
No = 1 indicates that the inspection module name of the land mask code = land1 is X001, and what is defined next is No = 2 because the control code is nl. No = 2 means that the inspection module name of the land mask code = mask2 is X002, and the next defined is
Since the control code is nl, No = 3, and No
= 3 control code is sp, so the line is ignored (not defined) and the next defined is No = 5
And No = 5, Land mask code = land
The inspection module name of 4 indicates that it is X006.
【0070】図15は、図14におけるランド・マスク
コードを登録するためのランド・マスクライブラリであ
る。では、具体的に1枚の基板の生産を通じて、上記検
査プログラムがどのように決定されるかを説明する。図
1に示す生産ラインにおいて、クリーム半田印刷機2
1、クリーム半田印刷検査機22、部品装着機23、部
品装着後検査機24、リフロー炉25と基板に部品を実
装する工程を進んで生産されてきた基板が機械検査27
に投入される場合、図2のフローチャートに従い、まず
流れてきた基板に対し、半田接合された基板、基板上の
各部品、半田などの状態データのうち少なくともいずれ
かのデータを検出する(図2のステップ#1)。ここで
は、基板上の座標(X,Y,θ)=(10.000,20.000,12
0) ,(15.000,45.000,180) ,(0.000,0.000,0) に、そ
れぞれ異なる部品が実装されていたことを考える。ここ
で、図3から座標(X,Y,θ)=(10.000,20.000,12
0) の部品に対しては、前述の説明から検査プログラム
名は、P=部品形状別検査モジュールを使用しかつ、D
=半田形状別検査モジュールまたはX=ランド・マスク
別検査モジュールを使用することが記述されていること
がわかる。FIG. 15 shows a land mask library for registering the land mask code in FIG. Now, how the above inspection program is determined through the production of one board will be specifically described. In the production line shown in FIG. 1, the cream solder printing machine 2
1, a cream solder printing inspection machine 22, a component mounting machine 23, a component mounting inspection machine 24, a reflow oven 25, and a mechanical inspection 27 for a substrate produced through the process of mounting components on the substrate.
2 is detected according to the flow chart of FIG. 2, first, at least one of the solder-bonded substrate, each component on the substrate, and status data of solder, etc. is detected with respect to the flowing substrate (FIG. 2). Step # 1). Here, the coordinates on the substrate (X, Y, θ) = (10.000,20.000,12)
Consider that different components were mounted on (0), (15.000,45.000,180), and (0.000,0.000,0). Here, from FIG. 3, coordinates (X, Y, θ) = (10.000,20.000,12)
For the part 0), the inspection program name from the above description is that P = inspection module for each shape and D
It can be seen that it is described that == solder shape inspection module or X = land / mask inspection module is used.
【0071】ここで、座標(X,Y,θ)=(10.000,2
0.000,120) の部品に対して、状態検出部30では、図
5の部品形状ライブラリ、図7の半田形状ライブラリ、
図9の部品コードライブラリ、図11の半田特性ライブ
ラリ、図13の反射特性ライブラリ、図15のランド・
マスクライブラリの中からその部品、半田、その他に対
して一致しているものを検出する。例えば、図5の部品
形状ライブラリから座標(X,Y,θ)=(10.000,20.0
00,120) の部品形状は、parts−Aであることがわ
かり、また、図7の半田形状ライブラリから座標(X,
Y,θ)=(10.000,20.000,120) の半田形状は、kik
ai1であることがわかり、図15のランド・マスクラ
イブラリから座標(X,Y,θ)=(10.000,20.000,12
0) のランド・マスク形状は、land4であることが
検出できたとすると、その情報をもとに、その部品の検
査プログラムは、P001&(D004,X006);
部品形状別検査モジュールとしてP001を使用しか
つ、半田形状別検査モジュールとしてD004を使用す
るまたはランド・マスク別検査モジュールとしてX00
6を使用すると決定される(図2のステップ#2)。こ
こでは、説明の簡素化のために以下では、座標(X,
Y,θ)=(10.000,20.000,120) の検査プログラムはP
001&D004(部品形状別検査モジュールとしてP
001を使用しかつ、半田形状別検査モジュールとして
D004を使用する)にて説明する。Here, the coordinates (X, Y, θ) = (10.000,2)
(0.000,120) components, the state detection unit 30 uses the component shape library of FIG. 5, the solder shape library of FIG.
The component code library of FIG. 9, the solder characteristic library of FIG. 11, the reflection characteristic library of FIG. 13, the land of FIG.
Detects matching parts, solders, etc. from the mask library. For example, from the part shape library of FIG. 5, coordinates (X, Y, θ) = (10.000,20.0)
The part shape of (00,120) is found to be parts-A, and the coordinates (X,
Y, θ) = (10.000,20.000,120) solder shape is kik
It was found that ai1 was found, and the coordinates (X, Y, θ) = (10.000,20.000,12) from the land mask library of FIG.
If the land mask shape of (0) can be detected to be land4, the inspection program for the part is P001 & (D004, X006);
P001 is used as a component shape inspection module and D004 is used as a solder shape inspection module or X00 is used as a land / mask inspection module.
6 is used (step # 2 in FIG. 2). Here, in order to simplify the description, in the following, the coordinates (X,
Y, θ) = (10.000,20.000,120) inspection program is P
001 & D004 (P as a component shape inspection module
001 is used and D004 is used as the solder shape inspection module).
【0072】以下、検査プログラムが決定されていない
全部品に対してこのような方法で検査プログラムを決定
する。座標(X,Y,θ)=(15.000,45.000,180) ,
(0.000,0.000,0) の部品については、説明を省略する。
全部品の検査プログラムが決定完了後、検査がスタート
されるとともに、検査中も状態検出部30では、図5の
部品形状ライブラリ、図7の半田形状ライブラリ、図9
の部品コードライブラリ、図11の半田特性ライブラ
リ、図13の反射特性ライブラリ、図15のランド・マ
スクライブラリと照合を行い、リアルタイムに検査プロ
グラムを変更してもよい(図2のステップ#4)。ま
た、すべての部品に対して、検査プログラムが決定され
るまで検査開始を待たなくても1つでも検査プログラム
が決定されていれば、状態検出をしながら検査プログラ
ムを決定していくこともできる(図2のステップ#
5)。Hereinafter, the inspection program is determined by such a method for all parts for which the inspection program has not been determined. Coordinates (X, Y, θ) = (15.000,45.000,180),
Description of parts (0.000,0.000,0) is omitted.
The inspection is started after the determination of the inspection program for all the components is completed, and the state detection unit 30 is in the process of inspecting the component shape library of FIG. 5, the solder shape library of FIG.
The inspection program may be changed in real time by collating with the component code library of FIG. 11, the solder characteristic library of FIG. 11, the reflection characteristic library of FIG. 13, and the land mask library of FIG. 15 (step # 4 of FIG. 2). Further, even if one inspection program is determined for all the parts without waiting for the inspection start until the inspection program is determined, the inspection program can be determined while detecting the state. (Step # in Figure 2
5).
【0073】機械検査27の検査結果が基板上に3つの
実装部品があるのに対し、座標(15.000,45.000,180) の
部品のみにNGがあると判断されたとする(図2のステ
ップ#6)。また、検査判定28においても、機械検査
27の検査結果に誤判定等の状況がないと判断された場
合を考える(図2のステップ#7、8)。そこで、補修
29において、その部品に対して半田ごて等を用いて補
修を行ったとする。その状態は、状態検出部32にて状
態登録される(図2のステップ#9)。補修を行った基
板は、再度機械検査27に送られ、状態検出を行う(図
2のステップ#1)。ここでは、一回目に機械検査27
にて使用された検査プログラムP001&D004(部
品形状はparts−A、半田形状はkikai1;機
械付け半田形状)であったが、補修29において、部品
はそのままで、半田ショートなどの不具合を半田ごてな
どで修正し、半田形状がkikai1からtezuke
1に変化したことを状態検出部30が確認すると、検査
プログラムは、P001&D001に動的に変更され
る。また、補修29において、部品を同等部品に変更し
た場合では、部品形状がparts−Aからparts
−A′に、半田形状がkikai1からtezuke1
に変化したことを状態検出部30が確認すると、検査プ
ログラムは、P002&D001に動的に変更される。
すなわち、現状の基板の状態、部品の状態、半田の状態
などを検知し、現状の基板の状態、部品の状態、半田の
状態などに最も適した検査プログラムに動的に変更する
ように制御する。It is assumed that the inspection result of the mechanical inspection 27 shows that there are three mounted parts on the board, but only the part having the coordinate (15.000,45.000,180) has NG (step # 6 in FIG. 2). ). Consider also the case where it is determined in the inspection determination 28 that the inspection result of the mechanical inspection 27 does not include a situation such as an erroneous determination (steps # 7 and 8 in FIG. 2). Therefore, in repair 29, it is assumed that the part is repaired using a soldering iron or the like. The state is registered by the state detection unit 32 (step # 9 in FIG. 2). The repaired board is sent again to the mechanical inspection 27 to detect the state (step # 1 in FIG. 2). Here, the first machine inspection 27
The inspection program P001 & D004 (parts shape is parts-A, solder shape is kikai1; mechanical soldering shape) used in the above, but in repair 29, the part remains as it is and the soldering iron etc. The solder shape is changed from kikai1 to tezuke.
When the state detection unit 30 confirms that the inspection program has changed to 1, the inspection program is dynamically changed to P001 & D001. Further, in the case where the component is changed to the equivalent component in the repair 29, the component shape changes from parts-A to parts.
-A ', solder shapes from kikai1 to tezuke1
When the state detection unit 30 confirms that the inspection program has changed to, the inspection program is dynamically changed to P002 & D001.
That is, the current board state, component state, solder state, etc. are detected, and control is performed to dynamically change the inspection program that is most suitable for the current board state, component state, solder state, etc. .
【0074】このような、検査プログラム決定手順によ
り、1枚の基板が、1つのラインの実装基板生産システ
ムにおける特定の1つ以上の設備群を複数回経由して生
産する生産形態、設備運用に対応できるようになる。例
えば、クリーム半田印刷機21、クリーム半田印刷検査
機22、部品装着機23、部品装着後検査機24、リフ
ロー炉25と基板に部品を実装する工程を進んで生産さ
れてきた基板が機械検査27によって不良判定され、検
査判定28においても不良判定された場合、ラインから
抜き取られて不良個所の補修を実施した後、不良個所が
適切に修理されたかを検査するために、もう一度機械検
査27によって再検査が行われる場合、二回目の機械検
査27における検査プログラムが一回目に機械検査27
で使用していた検査プログラムでは適切でない場合が多
く発生するが、そのような場合についても柔軟に対応で
きる。例えば、1回目は、機械による半田付けである
が、補修29によって人による半田付けが行われて半田
形状の変化が生じてしまい検査プログラムの変更を行わ
なければならない、また、補修29によって、NG箇所
の補修途中に部品を破壊してしまったなどの理由から、
元々実装されていた部品と同等の他部品(OR部品)を
装着したため、部品形状、反射特性が異なるため、検査
プログラムの変更を行わなければならない。さらには部
品が変わると、半田付けの推奨ランド・マスクが異なる
ため検査プログラムの変更を行わなければならない。ま
た、クリーム半田印刷機21で使用している半田と補修
29で使用する半田が異なるため、半田特性別に半田面
積や形状を変更しなければならない場合が発生し、検査
プログラムを動的に変更しなければならない。以上のよ
うなさまざまな課題についても柔軟に対応できるように
なる。 (実施例2)以下、本発明の他の実施例の実装基板生産
システムについて図面を参照しながら説明する。According to the inspection program determining procedure as described above, a production form and equipment operation in which one board is produced through a plurality of specific one or more equipment groups in the mounting board production system of one line multiple times You will be able to respond. For example, the cream solder printing machine 21, the cream solder printing inspection machine 22, the component mounting machine 23, the component mounting inspection machine 24, the reflow oven 25, and the mechanical inspection 27 of the substrate that has been produced by the process of mounting the component on the substrate are performed. If the defectiveness is determined by the inspection and the inspection determination 28 is also determined as defective, the mechanical inspection 27 is performed again to check whether or not the defective portion is properly repaired after being removed from the line and repairing the defective portion. When the inspection is performed, the inspection program in the second machine inspection 27 is the first machine inspection 27.
There are many cases where the inspection program used in is not appropriate, but we can flexibly deal with such cases. For example, the first time is the soldering by the machine, but the repair 29 causes the soldering by the person to change the solder shape, and the inspection program must be changed. For reasons such as the destruction of parts during repair of the part,
Since another component (OR component) equivalent to the component originally mounted is mounted, the component shape and reflection characteristics are different, so the inspection program must be changed. Furthermore, if the parts change, the recommended land mask for soldering also changes, so the inspection program must be changed. Further, since the solder used in the cream solder printing machine 21 and the solder used in the repair 29 are different, it may be necessary to change the solder area or shape depending on the solder characteristics, and the inspection program is dynamically changed. There must be. It will be possible to flexibly deal with various problems as described above. (Embodiment 2) Hereinafter, a mounting board production system according to another embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0075】図1は、本発明の実施例における実装基板
生産システムの構成を示すブロック図である。図1にお
いて、この実装基板生産システムにおいては、回路基板
の移送ラインに沿って、その上手側からクリーム半田印
刷機21、クリーム半田印刷検査機22、部品装着機2
3、部品装着後検査機24、リフロー炉25さらに半田
検査機26が順次配設されている。また、半田検査機2
6は、機械による機械検査27と人による検査判定28
により構成され、半田検査機26がNG(不良)判定し
た基板に対しては、補修29へと流される構成である。
また、これらの各装置は図示しない制御手段により制御
されるようになっている。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a mounting board production system in an embodiment of the present invention. 1, in this mounting board production system, a cream solder printing machine 21, a cream solder printing inspection machine 22, and a component mounting machine 2 are arranged along the transfer line of the circuit board from the upper side.
3, a component mounting inspection machine 24, a reflow oven 25, and a solder inspection machine 26 are sequentially arranged. Also, the solder inspection machine 2
6 is a machine inspection 27 by a machine and an inspection judgment 28 by a person.
The solder inspecting device 26 determines that the board is NG (defective) and is sent to the repair 29.
Further, each of these devices is controlled by a control means (not shown).
【0076】図16は、本発明の実施例にかかる検査工
程における品質状態をリアルタイムに認識するための手
順を示すフローチャートである。図1の生産ラインにお
いて、リフロー炉25を通ってきた基板に対し、機械検
査27を実施した(ステップ#11)後、NG(不良部
品)があるかどうか判定し(ステップ#12)、NGが
なければ、良品基板完成へ進み(ステップ#21)、N
Gがあれば、品質ログ(位置ズレ、品質ステータスな
ど)情報を登録する(ステップ#13)。その後、NG
部品、NGリード等のステータスに対して品質状態を目
で見える形に色表示する(ステップ#14)。その後、
検査判定28において、機械検査27の検査結果に対し
て確認・修正・追加と確定処理を実施した(ステップ#
15)後、NG(不良部品)があるかどうか判定し(ス
テップ#16)、NGがなければ、良品基板完成へ進み
(ステップ#21)、NGがあれば、品質ログ(位置ズ
レ、品質ステータスなど)情報を登録する(ステップ#
17)。その後、NG部品、NGリード等のステータス
に対して品質状態を目で見える形に色表示する(ステッ
プ#18)。FIG. 16 is a flow chart showing the procedure for recognizing the quality condition in real time in the inspection process according to the embodiment of the present invention. In the production line of FIG. 1, the board that has passed through the reflow furnace 25 is subjected to a mechanical inspection 27 (step # 11), and then it is determined whether or not there is an NG (defective part) (step # 12). If not, proceed to completion of non-defective substrate (step # 21), N
If G is present, quality log (positional deviation, quality status, etc.) information is registered (step # 13). Then NG
The quality status is color-displayed in a visible form with respect to the status of parts, NG leads, etc. (step # 14). afterwards,
In the inspection determination 28, confirmation / correction / addition and confirmation processing are performed on the inspection result of the machine inspection 27 (step #
15) After that, it is judged whether or not there is an NG (defective part) (step # 16), and if there is no NG, proceed to completion of a good product board (step # 21). If there is an NG, quality log (position shift, quality status). Etc.) register information (step #
17). After that, the quality status is color-displayed in a visible form with respect to the status of NG parts, NG leads, etc. (step # 18).
【0077】そして、NG(不良部品)があるかどうか
を判定し(ステップ#19)、NGがなければ、良品基
板完成へ進み(ステップ#21)、NGがあれば、NG
部分に対し1つの部品あるいは1つのリードに対し補修
を行う(ステップ#20)。1つの部品、リードの補修
後、ステップ#11、ステップ#15、あるいはステッ
プ#17に戻って繰り返す。Then, it is determined whether or not there is an NG (defective part) (step # 19).
One part or one lead for the part is repaired (step # 20). After repairing one component or lead, the process returns to step # 11, step # 15, or step # 17 and is repeated.
【0078】図17は、ある基板に対して、品質状態を
目で見える形に色表示した例である。例えば、黄色は、
機械検査27にてNGと判断された部品あるいはリー
ド、赤色は、検査判定28にてNGと判断された部品あ
るいはリード、緑色は、補修29により補修後、機械検
査27および検査判定28にて良品基板完成と判定され
たところを示すとすると、各工程にてリアルタイムに基
板の品質状態を目で見ることができるようになる。FIG. 17 shows an example in which the quality of a certain substrate is color-displayed in a visible form. For example, yellow is
Parts or leads judged to be NG by the mechanical inspection 27, red parts or leads judged to be NG in the inspection judgment 28, and green parts are non-defective products by the mechanical inspection 27 and the inspection judgment 28 after being repaired by the repair 29. Supposing that the board is judged to be completed, the quality of the board can be visually observed in real time in each step.
【0079】図18、図19、図20を用いて、リアル
タイムに基板の品質状態を目で見える形で表示する方法
について説明する。まず、図18に示すように機械検査
27でNGと判定された部品33は、まず黄色で表示さ
れる。次に、図19に示すように検査判定28でNGと
判定され確定されると部品33は、赤色で表示される。
ここで、機械検査27の結果が誤判定の場合は、図20
に示すように緑色で部品33は表示される。そして、補
修29した後、機械検査27および検査判定28で良品
と判断された場合、部品33は緑色で表示される(図2
0参照)。A method of displaying the quality state of the substrate in a visible form in real time will be described with reference to FIGS. 18, 19 and 20. First, as shown in FIG. 18, the component 33 determined to be NG in the mechanical inspection 27 is first displayed in yellow. Next, as shown in FIG. 19, when the inspection determination 28 is determined to be NG and confirmed, the component 33 is displayed in red.
Here, if the result of the mechanical inspection 27 is an erroneous determination, FIG.
The part 33 is displayed in green as shown in FIG. After the repair 29, if the mechanical inspection 27 and the inspection determination 28 determine that the product is non-defective, the component 33 is displayed in green (FIG. 2).
0).
【0080】図21は、検査判定28にて品質状況を登
録する修理登録パネルの図の一例である。特に、機械検
査27が過検出(正常な部分をNGと誤判定する)が多
発する場合においては、NG個所の確認・修正・追加処
理の後、一括して過検出入力することもできる。FIG. 21 is an example of a repair registration panel for registering the quality status in the inspection judgment 28. In particular, when the mechanical inspection 27 frequently causes over-detection (erroneously determines a normal portion to be NG), it is possible to collectively input the over-detection after confirmation / correction / addition processing of the NG portion.
【0081】このことにより、機械検査手段で得た検査
結果情報および前記検査判定手段で得た検査判定情報を
もとに、基板補修手段に対しリアルタイムに修理指示を
行うことが可能となり、部品、リードの品質状態を色で
表示・表現することによって、リアルタイムな修理指示
・リアルタイムな基板上の部品、リードの品質状態が目
で見て一目でわかるようになる。これにより不良部分の
修正忘れの防止、基板のどの部分が不良部分なのかの探
索時間の短縮が図られ、良品が無駄なく生産されるとと
もに製品品質の堅固な信頼性が実現する。As a result, based on the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means, it becomes possible to give a real-time repair instruction to the board repair means, By displaying and expressing the quality status of the leads in color, real-time repair instructions, real-time parts on the board, and the quality status of the leads can be seen at a glance. As a result, it is possible to prevent forgetting to correct a defective portion, shorten the search time for which portion of the substrate is a defective portion, produce a good product without waste, and realize solid reliability of product quality.
【0082】図22は、品質情報分析を示す基板の図で
ある。予め設定された不良率をもとに、それぞれの不良
率の色で目に見える形で、指定期間中に生産された基板
の品質状態を部品単位、リード単位、リードの郡単位
(リードの上辺、下辺、左辺、右辺)に表示するもので
ある。FIG. 22 is a diagram of a substrate showing quality information analysis. Based on the preset failure rate, the quality status of the boards produced during the specified period is visibly displayed in the color of each failure rate. , Lower side, left side, right side).
【0083】このことにより、指定期間中に生産された
基板の品質状態を部品単位、リード単位、リードの郡単
位に品質状態を色で直感的に把握することができるよう
になり、不良原因の撲滅に対して最善方策が短時間に打
てるようになる。これにより、良品が無駄なく生産され
るとともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。As a result, it becomes possible to intuitively grasp the quality condition of the board produced during the specified period by color for each component, each lead, and each group of leads. The best strategy for eradication can be set in a short time. As a result, non-defective products are produced without waste and solid reliability of product quality is realized.
【0084】なお、図3で示す検査プログラムで記述さ
れた内容すべてが決定されなくとも、機械検査手段は、
決定されていない項目、または検出されていない項目、
または登録されていない項目を推測あるいは削除するな
どの方法により動作(検査実行)可能なものである。ま
た、図4〜図15に示す各種モジュールリストやライブ
ラリについても同様である。Even if not all the contents described in the inspection program shown in FIG. 3 are determined, the machine inspection means
Items that have not been determined or have not been detected,
Alternatively, the operation (inspection) can be performed by a method such as guessing or deleting an unregistered item. The same applies to the various module lists and libraries shown in FIGS. 4 to 15.
【0085】また、いうまでもないが、これまで検査プ
ログラムにて説明してきたが、検査アルゴリズムについ
ても同様である。Needless to say, although the inspection program has been described so far, the same applies to the inspection algorithm.
【0086】[0086]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、半田接合
された基板の状態データのうち少なくともいずれかのデ
ータを検出する半田接合状態検出手段と、前記半田接合
状態検出手段により得た基板の状態データのうち少なく
ともいずれかの情報をもとに、前記検査手段における検
査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいず
れかの情報を動的に変えて良品生産させるように制御す
る制御手段とを備えることにより、半田接合された基板
の状態データのうち少なくともいずれかのデータが半田
接合状態検出手段により検出できるようになり、前記半
田接合状態検出手段により得た基板の状態データのうち
少なくともいずれかの情報をもとに、前記検査手段にお
ける検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくと
もいずれかの情報を動的に変えることにより良品生産さ
せる、すなわち、検査手段における検査精度、正誤判定
率、次工程・次手段への直交率を向上させるように制御
することが可能となり、これにより不良発生が次工程・
次手段へ流れることを食い止められて良品が無駄なく生
産されるとともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。As described above, according to the present invention, the solder joint state detecting means for detecting at least one of the state data of the solder jointed boards and the board obtained by the solder joint state detecting means. Control means for dynamically changing at least any one of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means based on the information of at least one of the state data of 1. This makes it possible for at least one of the status data of the solder-bonded boards to be detected by the solder-bond status detecting means, and at least one of the status data of the boards obtained by the solder-bond status detecting means. Based on the information of at least one of the inspection program and inspection algorithm in the inspection means By dynamically changing, it is possible to control production so that good products can be produced, that is, the inspection accuracy in the inspection means, the correctness determination rate, and the orthogonal rate to the next process / next process can be improved.・
The flow to the next means is stopped, good products are produced without waste, and solid reliability of product quality is realized.
【0087】また、半田接合された各基板、各基板上の
部品、各部品のランド・マスクの状態データのうち少な
くともいずれかのデータを検出する半田接合状態検出手
段と、前記半田接合状態検出手段により得た基板の状態
データのうち少なくともいずれかの情報をもとに、前記
検査手段における検査プログラム、検査アルゴリズムの
うち少なくともいずれかの情報を動的に変えて良品生産
させるように制御する制御手段とを備えることにより、
半田接合された各基板、各基板上の部品、各部品のラン
ド・マスクの状態データのうち少なくともいずれかのデ
ータが半田接合状態検出手段により検出できるようにな
り、前記半田接合状態検出手段により得た基板の状態デ
ータのうち少なくともいずれかの情報をもとに、前記検
査手段における検査プログラム、検査アルゴリズムのう
ち少なくともいずれかの情報を動的に変えて良品生産さ
せる、すなわち、検査手段における検査精度、正誤判定
率、次工程・次手段への直交率を向上させるように制御
することが可能となり、これにより不良発生が次工程・
次手段へ流れることを食い止められて良品が無駄なく生
産されるとともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, a solder joint state detecting means for detecting at least one of the solder-bonded substrates, the components on each substrate, and the land / mask state data of each component, and the solder joint state detecting means. Control means for dynamically changing at least one of an inspection program and an inspection algorithm in the inspection means so as to produce a good product, based on at least one of the information of the substrate status data obtained by By providing and
At least one of the solder-bonded boards, the parts on each board, and the land / mask status data of each part can be detected by the solder-bonding status detecting means, and can be obtained by the solder-bonding status detecting means. Based on at least one of the information on the state of the printed circuit board, the information on at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means is dynamically changed to produce a good product, that is, the inspection accuracy in the inspection means. It is possible to control so that the correctness determination rate and the orthogonal rate to the next process / next means can be improved.
The flow to the next means is stopped, good products are produced without waste, and solid reliability of product quality is realized.
【0088】また、検査手段においてNGと判定された
部品、リードに対して補修する基板補修手段を有する実
装基板生産システムにおいて、前記基板補修手段で基板
にほどこした際の補修データのうち少なくともいずれか
のデータを検出する補修データ検出手段と、前記補修デ
ータ検出手段により得た基板の補修データのうち少なく
ともいずれかの情報をもとに、前記検査手段における検
査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいず
れかの情報を動的に変えて良品生産させるように制御す
る制御手段とを備えることにより、前記基板補修手段で
基板に施した際の補修データのうち少なくともいずれか
のデータを補修データ検出手段により検出できるように
なり、前記補修データ検出手段により得た基板の補修デ
ータのうち少なくともいずれかの情報をもとに、前記検
査手段における検査プログラム、検査アルゴリズムのう
ち少なくともいずれかの情報を動的に変えて良品生産さ
せる、すなわち、検査手段における検査精度、正誤判定
率、次工程・次手段への直交率を向上させるように制御
することが可能となり、これにより不良発生が次工程・
次手段へ流れることを食い止められて良品が無駄なく生
産されるとともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, in a mounting board production system having a board repair means for repairing a component or lead judged to be NG by the inspection means, at least one of repair data when the board is repaired by the board repair means. Repair data detecting means for detecting the data of, and at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means based on the information of at least one of the repair data of the board obtained by the repair data detecting means. By including the control means for dynamically changing the information and controlling so as to produce a good product, at least one of the repair data when the board is repaired by the board repair means can be detected by the repair data detection means. The repair data of the board obtained by the repair data detection means is less Also, based on any one of the information, at least one of the information of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means is dynamically changed to produce a good product, that is, the inspection accuracy in the inspection means, the accuracy determination rate,・ It is possible to control so that the orthogonality ratio to the next means can be improved, so that defects will occur in the next process.
The flow to the next means is stopped, good products are produced without waste, and solid reliability of product quality is realized.
【0089】また、検査手段においてNGと判定された
部品、リードに対して補修する基板補修手段を有する実
装基板生産システムであって、前記基板補修手段で基板
にほどこした際の補修データのうち少なくともいずれか
のデータを検出する補修データ検出手段と、前記補修デ
ータ検出手段により得た基板の補修データのうち少なく
ともいずれかの情報をもとに、前記検査手段における検
査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいず
れかの情報を動的に変えて、再度前記検査手段に投入し
良品生産させるように制御する制御手段とを備えること
により、前記基板補修手段で基板に施した際の補修デー
タのうち少なくともいずれかのデータを補修データ検出
手段により検出できるようになり、前記補修データ検出
手段により得た基板の補修データのうち少なくともいず
れかの情報をもとに、前記検査手段における検査プログ
ラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情
報を動的に変えて、再度前記検査手段に投入し良品生産
させる、すなわち、検査手段における検査精度、正誤判
定率、次工程・次手段への直交率を向上させるように制
御することが可能となり、これにより不良発生が次工程
・次手段へ流れることを食い止められて良品が無駄なく
生産されるとともに製品品質の堅固な信頼性が実現す
る。また、検査手段として機械検査手段が設けられ、前
記機械検査手段においてNGと判定された部品、リード
に対して機械判定による誤判定、未検出を補う検査判定
手段とを有する実装基板生産システムであって、前記検
査判定手段により得た基板の検査判定データのうち少な
くともいずれかの情報をもとに、前記機械検査手段にお
ける検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくと
もいずれかの情報を動的に変えて良品生産させるように
制御する制御手段を備えることにより、前記検査判定手
段により得た基板の検査判定データのうち少なくともい
ずれかの情報をもとに、前記機械検査手段における検査
プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれ
かの情報を動的に変えて良品生産させる、すなわち、検
査手段における検査精度、正誤判定率、次工程・次手段
への直交率を向上させるように制御することが可能とな
り、これにより不良発生が次工程・次手段へ流れること
を食い止められて良品が無駄なく生産されるとともに製
品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, the mounting board production system has a board repairing means for repairing the components and leads judged to be NG by the inspecting means, and at least the repair data when the board is repaired by the board repairing means. At least one of an inspection program and an inspection algorithm in the inspection means, based on at least one of repair data detection means for detecting any data and repair data of the board obtained by the repair data detection means. At least any one of repair data when the board is repaired by the board repairing means by dynamically changing the information and controlling it so as to re-input to the inspecting means and produce a good product. Data can be detected by the repair data detecting means, and the data obtained by the repair data detecting means can be detected. Based on the information of at least one of the repair data, at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the inspection means is dynamically changed, and the inspection means is input again to produce a good product, that is, It is possible to control so as to improve the inspection accuracy in the inspection means, the correctness determination rate, and the orthogonality ratio to the next process / next means, which prevents the occurrence of defects from flowing to the next process / next means. Is produced without waste and solid reliability of product quality is realized. In addition, the mounting board production system is provided with a machine inspection means as an inspection means, and an inspection determination means for compensating for an erroneous determination and a non-detection due to a mechanical determination with respect to a component determined to be NG by the mechanical inspection means. Then, based on the information of at least one of the inspection determination data of the board obtained by the inspection determination means, the information of at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the mechanical inspection means is dynamically changed to be a non-defective product. At least one of the inspection program and the inspection algorithm in the machine inspection means is provided based on the information of at least one of the inspection determination data of the board obtained by the inspection determination means by including the control means for controlling the production. Dynamically changing any information to produce a good product, that is, the inspection precision in the inspection means. It is possible to control so as to improve the correctness / incorrectness determination rate and the orthogonality rate to the next process / the next means, which prevents the occurrence of defects from flowing to the next process / the next means and produces good products without waste. At the same time, solid reliability of product quality is realized.
【0090】また、検査手段として機械検査手段が設け
られ、前記機械検査手段においてNGと判定された部
品、リードに対して機械判定による誤判定、未検出を補
う検査判定手段と、前記検査判定手段においてNGと判
定された部品、リードに対して補修する基板補修手段と
を有する実装基板生産システムにおいて、前記機械検査
手段で得た検査結果情報および前記検査判定手段で得た
検査判定情報をもとに、基板補修手段に対しリアルタイ
ムに修理指示を行うことにより、前記機械検査手段で得
た検査結果情報および前記検査判定手段で得た検査判定
情報をもとに、基板補修手段に対しリアルタイムに修理
指示を行うことが可能となり部品、リードの品質状態を
色で表示・表現することによって、リアルタイムな修理
指示・リアルタイムな基板上の部品、リードの品質状態
が目で見て一目でわかるようになる。これにより不良部
分の修正忘れの防止、基板のどの部分が不良部分なのか
の探索時間の短縮が図られ、良品が無駄なく生産される
とともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, a machine inspection means is provided as an inspection means, and an inspection determination means for compensating an erroneous determination and a non-detection by a mechanical determination for a component and a lead determined to be NG by the mechanical inspection means, and the inspection determination means. In a mounting board production system having a component judged to be NG in the above and a board repairing means for repairing the lead, based on the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means. In addition, by instructing the board repair means in real time, the board repair means is repaired in real time based on the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means. It is possible to give instructions, and by displaying and expressing the quality status of parts and leads in color, real-time repair instructions and real-time Parts on the board, lead of quality state it is, as can be seen at a glance look at the eyes. As a result, it is possible to prevent forgetting to correct a defective portion, shorten the search time for which portion of the substrate is a defective portion, produce a good product without waste, and realize solid reliability of product quality.
【0091】また、検査手段として機械検査手段が設け
られ、前記機械検査手段においてNGと判定された部
品、リードに対して機械判定による誤判定、未検出を補
う検査判定手段とを有する実装基板生産システムにおい
て、前記機械検査手段および前記検査判定手段により得
た基板の検査判定データのうち少なくともいずれかの情
報をもとに、前記機械検査手段における検査プログラ
ム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報
を動的に変えて良品生産させるように制御する制御手段
を備えることにより、機械検査手段および前記検査判定
手段により得た基板の検査判定データのうち少なくとも
いずれかの情報をもとに、前記機械検査手段における検
査プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいず
れかの情報を動的に変えて良品生産させるように制御す
ることが可能となり、これにより不良発生が次工程・次
手段へ流れることを食い止められて良品が無駄なく生産
されるとともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, the mounting board production is provided with the machine inspection means as the inspection means, and the inspection determination means for compensating the erroneous determination by the mechanical determination and the non-detection for the parts determined to be NG by the mechanical inspection means and the leads. In the system, based on at least one piece of information of the board inspection determination data obtained by the machine inspection means and the inspection determination means, at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the machine inspection means is used. The machine inspection is provided based on at least one of the machine inspection means and the board inspection determination data obtained by the inspection determination means by providing a control means for dynamically changing and controlling to produce a good product. The information of at least one of the inspection program and inspection algorithm in the method is dynamically changed. Te becomes possible to control so as to good production, thereby failure is robust reliability of the product quality is achieved with non-defective are stemmed to flow to the next step, the following means is produced without waste.
【0092】また、検査手段として機械検査手段が設け
られ、前記機械検査手段においてNGと判定された部
品、リードに対して機械判定による誤判定、未検出を補
う検査判定手段と、前記検査判定手段においてNG判定
された部品、リードに対して補修する基板補修手段とを
有する実装基板生産システムにおいて、前記検査判定手
段においてNGと判定された部品、リードが存在する場
合、前記機械検査手段で検査結果情報および前記検査判
定手段で得た検査判定情報をもとに、基板補修手段にて
補修した基板に対し、再度、前記機械検査手段および前
記検査判定手段を通し、前記機械検査手段で得た検査結
果情報および前記検査判定手段で得た検査判定情報に対
し、基板補修手段にて基板を補修する前に得た前回の前
記機械検査手段で得た検査結果情報および前記検査判定
手段で得た検査判定情報と、基板補修手段にて基板を補
修した後で得た今回の前記機械検査手段で得た検査結果
情報および前記検査判定手段で得た検査判定情報とをも
とに、前記機械検査手段における検査プログラム、検査
アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報を動的に
変えて良品生産させるように制御する制御手段を備える
ことにより、機械検査手段および前記検査判定手段によ
り得た基板の検査判定データのうち少なくともいずれか
の情報をもとに、前記機械検査手段における検査プログ
ラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情
報を動的に変えて良品生産させるように制御することが
可能となり、これにより不良発生が次工程・次手段へ流
れることを食い止められて良品が無駄なく生産されると
ともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, a machine inspection means is provided as an inspection means, and an inspection determination means for compensating an erroneous determination and a non-detection by a mechanical determination for a component and a lead determined to be NG by the mechanical inspection means, and the inspection determination means In a mounting board production system having a component judged to be NG in the above and a board repairing means for repairing the lead, when there is a component and a lead judged to be NG in the inspection judging means, an inspection result by the machine inspection means Based on the information and the inspection determination information obtained by the inspection determination means, the board repaired by the board repair means is passed through the mechanical inspection means and the inspection determination means again, and the inspection obtained by the mechanical inspection means. The result information and the inspection judgment information obtained by the inspection judgment means are obtained by the previous machine inspection means obtained before the board is repaired by the board repair means. Inspection result information and inspection determination information obtained by the inspection determining means, inspection result information obtained by the machine inspection means of this time obtained after the board is repaired by the board repairing means, and inspection obtained by the inspection determining means By providing control means for dynamically changing at least one of information of an inspection program and an inspection algorithm in the machine inspection means based on the judgment information so as to produce a good product, the machine inspection means and the Based on information of at least one of the inspection determination data of the board obtained by the inspection determination means, dynamically change at least any one of the inspection program and the inspection algorithm in the machine inspection means to produce a good product. Can be controlled to prevent the occurrence of defects from flowing to the next process / next means and waste good products. Robust reliability of the product quality with the Ku production is realized.
【0093】また、基板補修手段に対しリアルタイムに
行う修理指示として、部品、リードの品質状態を目で見
て一目でわかるような色表示を行うことにより、品質状
態を直感的に視認できるため、適切な修理指示を実施し
て根本的な良品判定における誤判定を未然に防ぐことが
できる。As a real-time repair instruction to the board repairing means, the quality status can be intuitively visually confirmed by displaying the quality status of the parts and leads visually. It is possible to prevent the erroneous determination in the basic non-defective product determination by giving an appropriate repair instruction.
【0094】また、機械検査手段における検査精度、正
誤判定率、次工程・次手段への直交率を向上させるよう
に制御することにより、不良発生が次工程・次手段へ流
れることを食い止められて良品が無駄なく生産されると
ともに製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, by controlling so as to improve the inspection accuracy in the machine inspection means, the accuracy rate, and the orthogonality rate to the next process / next means, the occurrence of defects is prevented from flowing to the next process / next means. Good products are produced without waste, and solid reliability of product quality is realized.
【0095】また、制御手段により、基板あるいは検査
手段における設備の状態、その他の状態から自動的に検
査プログラム、検査アルゴリズムを決定することによ
り、不良発生が次工程・次手段へ流れることを食い止め
られて良品が無駄なくかつ能率的に生産されるとともに
製品品質の堅固な信頼性が実現する。Further, the control means automatically determines the inspection program and the inspection algorithm from the state of the equipment in the board or the inspection means and other states, so that the occurrence of defects can be prevented from flowing to the next process / the next means. Good products can be efficiently produced without waste and solid reliability of product quality can be realized.
【図1】本発明の一実施例にかかる実装基板生産システ
ムの構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a mounting board production system according to an embodiment of the present invention.
【図2】同実装基板生産システムにおける検査プログラ
ムを動的に変更する手順を示すフローチャートFIG. 2 is a flowchart showing a procedure for dynamically changing an inspection program in the same mounting board production system.
【図3】同検査プログラムの構成を示すリストFIG. 3 is a list showing the structure of the inspection program
【図4】同検査プログラムの部品形状別検査モジュール
リスト[Fig. 4] Inspection module list for each shape of the inspection program
【図5】同検査プログラムの部品形状ライブラリFIG. 5: Part shape library of the inspection program
【図6】同検査プログラムの半田形状別検査モジュール
リストFIG. 6 is a solder shape inspection module list of the inspection program.
【図7】同検査プログラムの半田形状ライブラリFIG. 7: Solder shape library of the inspection program
【図8】同検査プログラムの部品コード別検査モジュー
ルリストFIG. 8: Inspection module list for each part code of the inspection program
【図9】同検査プログラムの部品コードライブラリFIG. 9: Part code library of the inspection program
【図10】同検査プログラムの半田特性別検査モジュー
ルリストFIG. 10: Inspection module list for each solder characteristic of the inspection program
【図11】同検査プログラムの半田特性ライブラリFIG. 11: Solder characteristic library of the inspection program
【図12】同検査プログラムの反射特性別検査モジュー
ルリストFIG. 12: Inspection module list for each reflection characteristic of the inspection program
【図13】同検査プログラムの反射特性ライブラリFIG. 13: Reflection characteristic library of the inspection program
【図14】同検査プログラムのランド・マスク別検査モ
ジュールリスト[Fig. 14] Land / mask-based inspection module list of the inspection program
【図15】同検査プログラムのランド・マスクライブラ
リFIG. 15: Land mask library of the inspection program
【図16】本発明の他の実施例にかかる実装基板生産シ
ステムの検査工程における品質状態をリアルタイムに認
識するための手順を示すフローチャートFIG. 16 is a flowchart showing a procedure for recognizing a quality state in real time in an inspection process of a mounting board production system according to another embodiment of the present invention.
【図17】同実装基板生産システムの品質状況表示状態
を示す基板の概略的な平面図FIG. 17 is a schematic plan view of a board showing a quality status display state of the mounting board production system.
【図18】同実装基板生産システムの機械検査後の品質
状況を示す基板の概略的な平面図FIG. 18 is a schematic plan view of the board showing the quality status after mechanical inspection of the mounting board production system.
【図19】同実装基板生産システムの検査判定後の品質
状況を示す基板の概略的な平面図FIG. 19 is a schematic plan view of the board showing the quality status after the inspection determination of the mounting board production system.
【図20】同実装基板生産システムの部品A補修後の品
質状況を示す基板の概略的な平面図FIG. 20 is a schematic plan view of a board showing a quality situation after repairing a part A in the same board manufacturing system.
【図21】同実装基板生産システムの品質状況を登録す
る修理登録パネルの図FIG. 21 is a diagram of a repair registration panel for registering the quality status of the same mounting board production system.
【図22】同実装基板生産システムの品質情報分析を示
す基板の図FIG. 22 is a board diagram showing the quality information analysis of the mounting board production system.
【図23】従来の実装基板生産システムの構成を示すブ
ロック図FIG. 23 is a block diagram showing a configuration of a conventional mounting board production system.
【図24】検査計測値のズレ量に対する警告領域を含む
各領域を示す分布図FIG. 24 is a distribution chart showing each area including a warning area for the deviation amount of the inspection measurement value.
【図25】従来の実装基板生産システムの印刷データ分
析部における分析例の回路番号別印刷エラー検査集計図
とその分析例に対する動作制御指示のメンテナンス指示
内容を示す表示モニタ図FIG. 25 is a print error inspection tabulation diagram by circuit number of an analysis example in a print data analysis unit of a conventional mounting board production system, and a display monitor diagram showing maintenance instruction contents of operation control instructions for the analysis example.
【図26】従来の実装基板生産システムの印刷データ分
析部における分析例の半田印刷位置ズレ時系列計測図と
その分析例に対する動作制御指示のメンテナンス指示内
容およびフィードバック指示内容を示す表示モニタ図FIG. 26 is a time-series measurement diagram of a solder printing position deviation of an analysis example in a print data analysis unit of a conventional mounting board production system, and a display monitor diagram showing maintenance instruction content and feedback instruction content of operation control instructions for the analysis example.
【図27】従来の実装基板生産システムの部品装着デー
タ分析部における分析例のノズル番号別エラー集計図と
その分析例に対する動作制御指示のメンテナンス指示内
容を示す表示モニタ図FIG. 27 is an error aggregation diagram for each nozzle number of an analysis example in a component mounting data analysis unit of a conventional mounting board production system, and a display monitor diagram showing maintenance instruction contents of operation control instructions for the analysis example.
【図28】従来の実装基板生産システムの部品装着デー
タ分析部における分析例の部品装着位置ズレ時系列計測
図とその分析例に対する動作制御指示のメンテナンス指
示内容を示す表示モニタ図FIG. 28 is a time-series measurement diagram of component mounting position deviation of an analysis example in a component mounting data analysis unit of a conventional mounting board production system and a display monitor diagram showing maintenance instruction contents of operation control instructions for the analysis example.
【図29】従来の実装基板生産システムの半田付けデー
タ分析部における分析例の回路番号別半田付けエラー検
査集計図とその分析例に対する動作制御指示のメンテナ
ンス指示内容を示す表示モニタ図FIG. 29 is a diagram of a soldering error inspection tabulation by circuit number of an analysis example in a soldering data analysis unit of a conventional mounting board production system, and a display monitor diagram showing maintenance instruction contents of operation control instructions for the analysis example.
【図30】従来の実装基板生産システムの半田付けデー
タ分析部における分析例の半田付け後部品位置ズレ時系
列計測図とその分析例に対する動作制御指示のメンテナ
ンス指示内容を示す表示モニタ図FIG. 30 is a time-series measurement diagram of component position deviation after soldering of an analysis example in a soldering data analysis unit of a conventional mounting board production system, and a display monitor diagram showing maintenance instruction contents of operation control instructions for the analysis example.
【図31】チップ立ち不良の状態を示す正面図FIG. 31 is a front view showing a state of chip standing failure.
【図32】チップ立ち不良の概略要因分析するための図FIG. 32 is a diagram for analyzing a general cause of chip standing failure.
【図33】警告領域およびNG領域における部品装着位
置ズレの検査計測値分布分析をした図FIG. 33 is a diagram of inspection measurement value distribution analysis of component mounting position deviation in the warning area and the NG area.
【図34】各工程間の相関分析を示す図FIG. 34 is a diagram showing a correlation analysis between processes.
21 クリーム半田印刷機 22 クリーム半田印刷検査機 23 装着機 24 部品装着後検査機 25 リフロー炉 26 半田検査機 27 機械検査 28 検査判定 29 補修 30、31、32 状態検出部 21 cream solder printing machine 22 cream solder printing inspection machine 23 mounting machine 24 post-component mounting inspection machine 25 reflow oven 26 solder inspection machine 27 machine inspection 28 inspection judgment 29 repair 30, 31, 32 state detection unit
Claims (11)
段と、前記印刷された半田の所定装置に部品を装着する
部品装着手段と、前記部品が装着された基板のランドと
前記部品の端子を半田接合するリフロー手段と、前記リ
フローされた基板に対し、基板の所定位置に正しく部品
が半田接合されているか検査する検査手段とを有する実
装基板生産システムであって、半田接合された基板の状
態データのうち少なくともいずれかのデータを検出する
半田接合状態検出手段と、前記半田接合状態検出手段に
より得た基板の状態データのうち少なくともいずれかの
情報をもとに、前記検査手段における検査プログラム、
検査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報を動
的に変えて良品生産させるように制御する制御手段とを
備えた実装基板生産システム。1. A printing means for printing solder on a land of a substrate, a component mounting means for mounting a component on a predetermined device of the printed solder, a land of the substrate on which the component is mounted, and a terminal of the component. A mounting board production system having a reflow means for solder-joining, and an inspection means for inspecting whether or not components are correctly solder-joined at a predetermined position of the board with respect to the reflowed board. Solder joint state detecting means for detecting at least one of the state data, and an inspection program for the inspecting means based on at least one of the state data of the board obtained by the solder joint state detecting means. ,
A mounting board production system, comprising: a control unit that dynamically changes at least one of the inspection algorithm information so as to produce a good product.
品、各部品のランド・マスクの状態データのうち少なく
ともいずれかのデータを検出する半田接合状態検出手段
と、前記半田接合状態検出手段により得た基板の状態デ
ータのうち少なくともいずれかの情報をもとに、前記検
査手段における検査プログラム、検査アルゴリズムのう
ち少なくともいずれかの情報を動的に変えて良品生産さ
せるように制御する制御手段とを備えた請求項1記載の
実装基板生産システム。2. Solder joint state detecting means for detecting at least one of solder-bonded substrates, components on each substrate, and land / mask state data of each component, and the solder joint state detecting means. Control means for dynamically changing at least one of an inspection program and an inspection algorithm in the inspection means so as to produce a good product, based on at least one of the information of the substrate status data obtained by The mounting board production system according to claim 1, further comprising:
品、リードに対して補修する基板補修手段を有する実装
基板生産システムであって、前記基板補修手段で基板に
ほどこした際の補修データのうち少なくともいずれかの
データを検出する補修データ検出手段と、前記補修デー
タ検出手段により得た基板の補修データのうち少なくと
もいずれかの情報をもとに、前記検査手段における検査
プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれ
かの情報を動的に変えて良品生産させるように制御する
制御手段とを備えた請求項1記載の実装基板生産システ
ム。3. A mounting board production system having a board repair means for repairing a component or lead judged to be NG by the inspection means, wherein at least repair data when the board is repaired by the board repair means. At least one of an inspection program and an inspection algorithm in the inspection means based on at least one of repair data detection means for detecting any data and repair data of the board obtained by the repair data detection means. The mounting board production system according to claim 1, further comprising a control unit that dynamically changes the information to control the production of non-defective products.
品、リードに対して補修する基板補修手段を有する実装
基板生産システムであって、前記基板補修手段で基板に
ほどこした際の補修データのうち少なくともいずれかの
データを検出する補修データ検出手段と、前記補修デー
タ検出手段により得た基板の補修データのうち少なくと
もいずれかの情報をもとに、前記検査手段における検査
プログラム、検査アルゴリズムのうち少なくともいずれ
かの情報を動的に変えて、再度前記検査手段に投入し良
品生産させるように制御する制御手段とを備えた請求項
1記載の実装基板生産システム。4. A mounting board production system having a board repairing means for repairing a component and a lead judged to be NG by the inspecting means, wherein at least repair data when the board is repaired by the board repairing means. At least one of an inspection program and an inspection algorithm in the inspection means based on at least one of repair data detection means for detecting any data and repair data of the board obtained by the repair data detection means. 2. The mounting board production system according to claim 1, further comprising: a control unit that dynamically changes the information and inputs the information to the inspection unit again so as to produce a good product.
れ、前記機械検査手段においてNGと判定された部品、
リードに対して機械判定による誤判定、未検出を補う検
査判定手段とを有する実装基板生産システムであって、
前記検査判定手段により得た基板の検査判定データのう
ち少なくともいずれかの情報をもとに、前記機械検査手
段における検査プログラム、検査アルゴリズムのうち少
なくともいずれかの情報を動的に変えて良品生産させる
ように制御する制御手段を備えた請求項1記載の実装基
板生産システム。5. A machine inspection means is provided as the inspection means, and a component judged to be NG by the machine inspection means,
A mounting board production system having inspection judgment means for compensating for erroneous judgment due to mechanical judgment, undetected lead,
Based on the information of at least one of the inspection determination data of the board obtained by the inspection determination unit, at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the mechanical inspection unit is dynamically changed to produce a good product. The mounting board production system according to claim 1, further comprising control means for controlling as described above.
れ、前記機械検査手段においてNGと判定された部品、
リードに対して機械判定による誤判定、未検出を補う検
査判定手段と、前記検査判定手段においてNGと判定さ
れた部品、リードに対して補修する基板補修手段とを有
する実装基板生産システムであって、前記機械検査手段
で得た検査結果情報および前記検査判定手段で得た検査
判定情報をもとに、基板補修手段に対しリアルタイムに
修理指示を行う請求項1記載の実装基板生産システム。6. A machine inspection means is provided as the inspection means, and a component judged as NG by the machine inspection means,
A mounting board production system comprising: an inspection judgment means for compensating for erroneous judgment and non-detection due to mechanical judgment for a lead; a component judged to be NG by the inspection judgment means, and a board repairing means for repairing the lead. The mounting board production system according to claim 1, wherein a repair instruction is issued to the board repair means in real time based on the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means.
れ、前記機械検査手段においてNGと判定された部品、
リードに対して機械判定による誤判定、未検出を補う検
査判定手段とを有する実装基板生産システムであって、
前記機械検査手段および前記検査判定手段により得た基
板の検査判定データのうち少なくともいずれかの情報を
もとに、前記機械検査手段における検査プログラム、検
査アルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報を動的
に変えて良品生産させるように制御する制御手段を備え
た請求項1記載の実装基板生産システム。7. A machine inspection means is provided as the inspection means, and a component judged as NG by the machine inspection means,
A mounting board production system having inspection judgment means for compensating for erroneous judgment due to mechanical judgment, undetected lead,
Based on at least one information of the inspection determination data of the board obtained by the mechanical inspection means and the inspection determination means, the information of at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the mechanical inspection means is dynamically set. The mounting board production system according to claim 1, further comprising control means for controlling so as to produce a non-defective product by changing it.
れ、前記機械検査手段においてNGと判定された部品、
リードに対して機械判定による誤判定、未検出を補う検
査判定手段と、前記検査判定手段においてNG判定され
た部品、リードに対して補修する基板補修手段とを有す
る実装基板生産システムであって、前記検査判定手段に
おいてNGと判定された部品、リードが存在する場合、
前記機械検査手段で検査結果情報および前記検査判定手
段で得た検査判定情報をもとに、基板補修手段にて補修
した基板に対し、再度、前記機械検査手段および前記検
査判定手段を通し、前記機械検査手段で得た検査結果情
報および前記検査判定手段で得た検査判定情報に対し、
基板補修手段にて基板を補修する前に得た前回の前記機
械検査手段で得た検査結果情報および前記検査判定手段
で得た検査判定情報と、基板補修手段にて基板を補修し
た後で得た今回の前記機械検査手段で得た検査結果情報
および前記検査判定手段で得た検査判定情報とをもと
に、前記機械検査手段における検査プログラム、検査ア
ルゴリズムのうち少なくともいずれかの情報を動的に変
えて良品生産させるように制御する制御手段を備えた請
求項1記載の実装基板生産システム。8. A machine inspection means is provided as an inspection means, and a component judged as NG by the machine inspection means,
A mounting board production system comprising: an inspection / judgment means for compensating for erroneous judgments and non-detection due to mechanical judgments on leads; When there is a component or lead that has been determined to be NG by the inspection determination means,
Based on the inspection result information obtained by the mechanical inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means, for the substrate repaired by the substrate repair means, again through the mechanical inspection means and the inspection determination means, For the inspection result information obtained by the mechanical inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means,
Before the board is repaired by the board repairing means, the inspection result information obtained by the previous machine inspection means and the inspection judgment information obtained by the inspection judging means, and after the board is repaired by the board repairing means Based on the inspection result information obtained by the machine inspection means and the inspection determination information obtained by the inspection determination means at this time, at least one of the inspection program and the inspection algorithm in the machine inspection means is dynamically changed. The mounting board production system according to claim 1, further comprising control means for controlling to produce a non-defective product in place of the above.
う修理指示は、部品、リードの品質状態を目で見てわか
るような色表示を行う請求項3,4,6または8のいず
れかに記載の実装基板生産システム。9. The repair instruction issued to the board repairing means in real time is displayed in a color so that the quality of the parts and leads can be visually recognized. Mounted board production system.
段は、機械検査手段における検査精度、正誤判定率、次
工程・次手段への直交率を向上させるように制御する請
求項1〜9のいずれかに記載の実装基板生産システム。10. The control means for controlling to produce a non-defective product controls the machine inspection means so as to improve the inspection accuracy, the accuracy determination rate, and the orthogonal rate to the next process / next means. A mounting board production system according to claim 1.
段は、基板あるいは検査手段における設備の状態、その
他の状態から自動的に検査プログラム、検査アルゴリズ
ムを決定する請求項1〜9のいずれかに記載の実装基板
生産システム。11. The control means for controlling to produce a non-defective product automatically determines the inspection program and the inspection algorithm from the state of the equipment in the board or the inspection means and other states. Mounted board production system.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7009366A JPH08204399A (en) | 1995-01-25 | 1995-01-25 | Mounted board production system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7009366A JPH08204399A (en) | 1995-01-25 | 1995-01-25 | Mounted board production system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08204399A true JPH08204399A (en) | 1996-08-09 |
Family
ID=11718485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7009366A Pending JPH08204399A (en) | 1995-01-25 | 1995-01-25 | Mounted board production system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08204399A (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004226175A (en) * | 2003-01-21 | 2004-08-12 | Omron Corp | Driving support equipment for board mounting line |
| JP2011018696A (en) * | 2009-07-07 | 2011-01-27 | Hitachi Ltd | Electronic component assembly and production system |
| WO2014049766A1 (en) * | 2012-09-27 | 2014-04-03 | 富士機械製造株式会社 | Recognition device for substrate processing machine |
| JP2015133406A (en) * | 2014-01-14 | 2015-07-23 | オムロン株式会社 | Quality management device, quality management method, and program |
| JP2018077147A (en) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | オムロン株式会社 | Inspection system, inspection apparatus control method and program |
| WO2018138921A1 (en) * | 2017-01-30 | 2018-08-02 | 株式会社Fuji | Component mounting machine |
| WO2024181238A1 (en) * | 2023-02-27 | 2024-09-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Display system, display device, display method, and program |
-
1995
- 1995-01-25 JP JP7009366A patent/JPH08204399A/en active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004226175A (en) * | 2003-01-21 | 2004-08-12 | Omron Corp | Driving support equipment for board mounting line |
| JP2011018696A (en) * | 2009-07-07 | 2011-01-27 | Hitachi Ltd | Electronic component assembly and production system |
| WO2014049766A1 (en) * | 2012-09-27 | 2014-04-03 | 富士機械製造株式会社 | Recognition device for substrate processing machine |
| JP2015133406A (en) * | 2014-01-14 | 2015-07-23 | オムロン株式会社 | Quality management device, quality management method, and program |
| JP2018077147A (en) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | オムロン株式会社 | Inspection system, inspection apparatus control method and program |
| WO2018138921A1 (en) * | 2017-01-30 | 2018-08-02 | 株式会社Fuji | Component mounting machine |
| WO2024181238A1 (en) * | 2023-02-27 | 2024-09-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Display system, display device, display method, and program |
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