JPH08212558A - 光ディスク・プレーヤ - Google Patents
光ディスク・プレーヤInfo
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- JPH08212558A JPH08212558A JP7268694A JP26869495A JPH08212558A JP H08212558 A JPH08212558 A JP H08212558A JP 7268694 A JP7268694 A JP 7268694A JP 26869495 A JP26869495 A JP 26869495A JP H08212558 A JPH08212558 A JP H08212558A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
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- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
- G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 全く金属化されていない光ディスク、又は光
ディスクの一部が金属化されておらず、一部が金属化さ
れているディスクを再生できるプレーヤを提供するこ
と。 【解決手段】 情報を表すピットとランドを有する光デ
ィスクを用いる。このディスクは、少なくとも一部が金
属化されていないものとする。プレーヤは可変パワーレ
ーザビームを発生する半導体レーザを備え、レーザビー
ムをディスクのピット面に合焦させるフォーカスサーボ
を備え、ディスクから反射してきた反射光は、ディスク
の金属化されていない部分からは金属化された部分から
よりも反射光が弱くなり、ビームの反射された部分の実
質的に一定の平均パワーレベルを維持するために、ビー
ムの反射部分の平均パワーレベルを基準レベルと比較し
て、それに応じて制御信号を発生する自動パワー制御手
段を備える。
ディスクの一部が金属化されておらず、一部が金属化さ
れているディスクを再生できるプレーヤを提供するこ
と。 【解決手段】 情報を表すピットとランドを有する光デ
ィスクを用いる。このディスクは、少なくとも一部が金
属化されていないものとする。プレーヤは可変パワーレ
ーザビームを発生する半導体レーザを備え、レーザビー
ムをディスクのピット面に合焦させるフォーカスサーボ
を備え、ディスクから反射してきた反射光は、ディスク
の金属化されていない部分からは金属化された部分から
よりも反射光が弱くなり、ビームの反射された部分の実
質的に一定の平均パワーレベルを維持するために、ビー
ムの反射部分の平均パワーレベルを基準レベルと比較し
て、それに応じて制御信号を発生する自動パワー制御手
段を備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク・プレ
ーヤに関し、特に、少なくとも部分的に金属化されてい
ない部分がある光ディスクを読み取るために設計された
光ディスク・プレーヤに関する。
ーヤに関し、特に、少なくとも部分的に金属化されてい
ない部分がある光ディスクを読み取るために設計された
光ディスク・プレーヤに関する。
【０００２】
【従来の技術】図１は、典型的な光ディスク１０、この
場合、コンパクトディスクを示している。このディスク
を読み取るために、光２０がディスクに偏向され、底部
から投射し、透明プラスチック層を通過する。
場合、コンパクトディスクを示している。このディスク
を読み取るために、光２０がディスクに偏向され、底部
から投射し、透明プラスチック層を通過する。
【０００３】この光は、半導体レーザ、例えば７８０ナ
ノメータのアルミニウム、ガリウム・ヒ素半導体レーザ
によって発生される。典型的には、この透明なプラスチ
ック層は、光学的特性、熱抵抗、湿度抵抗、形成能力
（formability)等の結合を使って特徴付けられるポリカ
ーボネートである。
ノメータのアルミニウム、ガリウム・ヒ素半導体レーザ
によって発生される。典型的には、この透明なプラスチ
ック層は、光学的特性、熱抵抗、湿度抵抗、形成能力
（formability)等の結合を使って特徴付けられるポリカ
ーボネートである。
【０００４】ピット４０は信号に対応し、透明プラスチ
ック層３０の窪み又は突出として示されている。非常に
薄い金属層５０は、金属化した部分で、ピット４０の外
形輪郭に従う。この金属層５０は、典型的には０．１ミ
クロンの厚さでスパッタリング技術を使って形成され
る。
ック層３０の窪み又は突出として示されている。非常に
薄い金属層５０は、金属化した部分で、ピット４０の外
形輪郭に従う。この金属層５０は、典型的には０．１ミ
クロンの厚さでスパッタリング技術を使って形成され
る。
【０００５】金属層５０の目的は、ディスクの反射率を
増すことにのみある。従って、反射率の高いアルミニウ
ムがその金属層５０として使われる。典型的な、金属化
されたコンパクト・ディスクに対しては、即ち金属化層
５０を含むコンパクト・ディスクに対しては、光２０に
対する反射率の値は、金属化されたアルミニウム・ピッ
ト表面の所で８０％の近傍にある。
増すことにのみある。従って、反射率の高いアルミニウ
ムがその金属層５０として使われる。典型的な、金属化
されたコンパクト・ディスクに対しては、即ち金属化層
５０を含むコンパクト・ディスクに対しては、光２０に
対する反射率の値は、金属化されたアルミニウム・ピッ
ト表面の所で８０％の近傍にある。
【０００６】これに比べて、金属化されていない、即ち
メタル無し層５０を使った場合は、ディスク反射率、即
ちピット面から反射して戻ってくる光は、２−４％の近
傍にあることが示されている。
メタル無し層５０を使った場合は、ディスク反射率、即
ちピット面から反射して戻ってくる光は、２−４％の近
傍にあることが示されている。
【０００７】この金属層５０の上方には硬質樹脂層６０
が設けられていて、ディスクの信号層を保護している。
この層６０の上にラベルまたは他のデザインがシルクス
クリーン印刷される。従来のコンパクトディスク・プレ
ーヤの半導体レーザは光学的ピックアップに含まれてい
る。
が設けられていて、ディスクの信号層を保護している。
この層６０の上にラベルまたは他のデザインがシルクス
クリーン印刷される。従来のコンパクトディスク・プレ
ーヤの半導体レーザは光学的ピックアップに含まれてい
る。
【０００８】この光学的ピックアップは、光信号を検出
（読み取り）して、コンパクトディスクシステムの心臓
部と考えることができる。この半導体レーザに加えて、
光ピックアップは一般に、他のものの中で、光検出器及
び一連のレンズを含む。
（読み取り）して、コンパクトディスクシステムの心臓
部と考えることができる。この半導体レーザに加えて、
光ピックアップは一般に、他のものの中で、光検出器及
び一連のレンズを含む。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】この光検出器は光感知
素子及び前置増幅器セクションを含む。金属化されたデ
ィスクを採用した典型的なコンパクトディスク・プレー
ヤにおいては、光学的ピックアップを励起するビームの
パワー、又はもっと特定して言えば、ディスクを読み取
るため半導体レーザを励起するパワーは０．３から０．
５ミリワットのオーダの入射パワーである。
素子及び前置増幅器セクションを含む。金属化されたデ
ィスクを採用した典型的なコンパクトディスク・プレー
ヤにおいては、光学的ピックアップを励起するビームの
パワー、又はもっと特定して言えば、ディスクを読み取
るため半導体レーザを励起するパワーは０．３から０．
５ミリワットのオーダの入射パワーである。
【００１０】反射光の平均パワーはこの０．３から０．
５ミリワットの入射パワーの８０％である。この光学的
ピックアップを制御するには、例えばフォーカス（焦
点）サーボ、トラッキングサーボ等の種々のサーボが存
在するが、現在のところ、反射されたビームの平均パワ
ーレベルを制御するコンパクトディスク・プレーヤ等の
光学的ディスク・リーダに採用された制御システムは無
い。
５ミリワットの入射パワーの８０％である。この光学的
ピックアップを制御するには、例えばフォーカス（焦
点）サーボ、トラッキングサーボ等の種々のサーボが存
在するが、現在のところ、反射されたビームの平均パワ
ーレベルを制御するコンパクトディスク・プレーヤ等の
光学的ディスク・リーダに採用された制御システムは無
い。
【００１１】しかしながら、金属化されたアルミニウム
・ピット表面で８０％の反射率があることから、光学的
ピックアップのフォトディテクタ（光検出器）によって
見分けるのに充分な反射光のパワーレベルがあるので、
良く手入れされて一様に金属化されたディスクと、フォ
ーカスサーボされた実質的に一定出力の半導体レーザを
使った現在のシステムでは、そのようなサーボは特に必
要としない。
・ピット表面で８０％の反射率があることから、光学的
ピックアップのフォトディテクタ（光検出器）によって
見分けるのに充分な反射光のパワーレベルがあるので、
良く手入れされて一様に金属化されたディスクと、フォ
ーカスサーボされた実質的に一定出力の半導体レーザを
使った現在のシステムでは、そのようなサーボは特に必
要としない。
【００１２】ある応用においては、金属化された層５０
を持たないコンパクトディスクを読むことが好ましい。
例えば、公知のとおり、コンパクトディスクの生産が多
相処理であって、各相が適正な品質管理を要求する色々
な問題をはらんでいる。
を持たないコンパクトディスクを読むことが好ましい。
例えば、公知のとおり、コンパクトディスクの生産が多
相処理であって、各相が適正な品質管理を要求する色々
な問題をはらんでいる。
【００１３】この品質管理には、ガラス・マスター試
験、スタンパー試験、金属化されたディスクの試験、及
び完成品の試験を含む。金属化処理に先立って、コンパ
クトディスクを解析する方法は、製造プロセスのトラブ
ルシューティングにおいて有用な助けとなる。
験、スタンパー試験、金属化されたディスクの試験、及
び完成品の試験を含む。金属化処理に先立って、コンパ
クトディスクを解析する方法は、製造プロセスのトラブ
ルシューティングにおいて有用な助けとなる。
【００１４】例えば、金属が適用される前と後で特有の
パラメータを決めることによって、金属化の効果に関す
る決定ができる。処理時間を短くし、製造コストを下
げ、過剰な廃棄製品を少なくするために、製造プロセス
においてできるだけ早く問題点を見つけだすことが有利
であるが、従来のコンパクトディスク製造プロセスにお
いて、情報が適正に記録されたか否かを決定できるのは
金属化されたディスクのテストの段階まではだめであ
る。
パラメータを決めることによって、金属化の効果に関す
る決定ができる。処理時間を短くし、製造コストを下
げ、過剰な廃棄製品を少なくするために、製造プロセス
においてできるだけ早く問題点を見つけだすことが有利
であるが、従来のコンパクトディスク製造プロセスにお
いて、情報が適正に記録されたか否かを決定できるのは
金属化されたディスクのテストの段階まではだめであ
る。
【００１５】この理由は、０．３〜０．５ミリワットの
オーダの半導体レーザを有する従来のコンパクトディス
ク・プレーヤが、プラスチック（プラスチック層３０）
／空気（硬質樹脂層６０がまだ形成されていない）イン
ターフェース（約４％）の貧弱な反射率のために、典型
的な光学的ピックアップによって読まれるには充分な強
さとはいえない反射光信号を作る不充分なパワーを与え
るからである。
オーダの半導体レーザを有する従来のコンパクトディス
ク・プレーヤが、プラスチック（プラスチック層３０）
／空気（硬質樹脂層６０がまだ形成されていない）イン
ターフェース（約４％）の貧弱な反射率のために、典型
的な光学的ピックアップによって読まれるには充分な強
さとはいえない反射光信号を作る不充分なパワーを与え
るからである。
【００１６】それゆえ、モールディングを行った後直ち
に品質についてフィードバックを提供するために、未記
録のコンパクトディスクを充分に再生し、解析する能力
が必要になる。
に品質についてフィードバックを提供するために、未記
録のコンパクトディスクを充分に再生し、解析する能力
が必要になる。
【００１７】金属化されていないディスクのもう一つの
応用は、ＣＤ−ＲＯＭ等のフォーマットで長期に文書デ
ータを蓄積すること、又は、他のオーディオまたはビデ
オフォーマット化されたＣＤ情報の長期蓄積にある。
応用は、ＣＤ−ＲＯＭ等のフォーマットで長期に文書デ
ータを蓄積すること、又は、他のオーディオまたはビデ
オフォーマット化されたＣＤ情報の長期蓄積にある。
【００１８】金属化されていないディスクが金属化され
ているディスクよりも好ましい理由は、金属化は経年変
化（エイジング）及び環境条件の非常に長期の効果に従
わされる可能性のあるコンパクトディスクのほとんど一
部であるからである。
ているディスクよりも好ましい理由は、金属化は経年変
化（エイジング）及び環境条件の非常に長期の効果に従
わされる可能性のあるコンパクトディスクのほとんど一
部であるからである。
【００１９】空のディスクに情報を蓄積することによ
り、記録の永久性が確保される。したがって、金属化さ
れていないコンパクトディスクを読むプレーヤが望まし
い。
り、記録の永久性が確保される。したがって、金属化さ
れていないコンパクトディスクを読むプレーヤが望まし
い。
【００２０】最後に、或る場合には、部分的に金属化さ
れており、部分的に金属化されていないコンパクトディ
スクをプレーすることが望ましい。そのような応用の例
として破損されているコンパクトディスクがあげられ
る。即ち、金属の一部が図らずも除去若しくは破損され
ている場合があげられる。
れており、部分的に金属化されていないコンパクトディ
スクをプレーすることが望ましい。そのような応用の例
として破損されているコンパクトディスクがあげられ
る。即ち、金属の一部が図らずも除去若しくは破損され
ている場合があげられる。
【００２１】更に、機械化された探索及び救助車又は極
限環境条件又は単に長い期間に見いだされる厳しい条件
によって、金属化層の一部又は全部が予定よりも早く劣
化して、ディスクを従来のコンパクトディスク・プレー
ヤまたはＣＤ−ＲＯＭプレーヤで読むことができなくな
る。
限環境条件又は単に長い期間に見いだされる厳しい条件
によって、金属化層の一部又は全部が予定よりも早く劣
化して、ディスクを従来のコンパクトディスク・プレー
ヤまたはＣＤ−ＲＯＭプレーヤで読むことができなくな
る。
【００２２】この場合、従来のプレーヤによって与えら
れる問題は２倍になる。第１に現在のコンパクトディス
ク・プレーヤはディスクの金属化されていない部分を読
むのに充分なパワーを提供しないのみならず、ディスク
の金属化された部分から金属化されていない部分へ動い
た結果（又はその逆の結果）、反射ビームの平均パワー
に起こる変化に応答してレーザパワーを調整する手段が
設けられていないので、そのような変化が補償されな
い。
れる問題は２倍になる。第１に現在のコンパクトディス
ク・プレーヤはディスクの金属化されていない部分を読
むのに充分なパワーを提供しないのみならず、ディスク
の金属化された部分から金属化されていない部分へ動い
た結果（又はその逆の結果）、反射ビームの平均パワー
に起こる変化に応答してレーザパワーを調整する手段が
設けられていないので、そのような変化が補償されな
い。
【００２３】特に、瞬間的に変化するディスクの状態に
対して調整を行うために、現在採用されているパワー制
御サーボを持つ、典型的なＣＤプレーヤのクロスインタ
リーブ・リードソロモン符号（ＣＩＲＣ）誤り訂正シス
テムによって訂正できる速い、即ち、１．９ミリ秒より
短い失われたシンボルが存在しない。従って、少なくと
も一部が金属化されていないコンパクトディスクを読む
ことができることが有利であろう。
対して調整を行うために、現在採用されているパワー制
御サーボを持つ、典型的なＣＤプレーヤのクロスインタ
リーブ・リードソロモン符号（ＣＩＲＣ）誤り訂正シス
テムによって訂正できる速い、即ち、１．９ミリ秒より
短い失われたシンボルが存在しない。従って、少なくと
も一部が金属化されていないコンパクトディスクを読む
ことができることが有利であろう。
【００２４】
【課題を解決するための手段】本発明の技術は、反射性
ディスクコーティングの品質にかかわらず、光ディスク
を充分に読めるようにする、動作が速く、ダイナミック
レンジが広い自動パワー制御装置を備えたレーザ読み取
り装置を使っている。
ディスクコーティングの品質にかかわらず、光ディスク
を充分に読めるようにする、動作が速く、ダイナミック
レンジが広い自動パワー制御装置を備えたレーザ読み取
り装置を使っている。
【００２５】この技術は、品質の劣る、腐食した、また
は金属反射コーティングがないディスクを含めた全ての
フォーマットの光ディスクをデコードするのに適用す
る。
は金属反射コーティングがないディスクを含めた全ての
フォーマットの光ディスクをデコードするのに適用す
る。
【００２６】第１の実施形態においては、ディスク上に
蓄積された情報を表す複数のピットとランドを有する光
ディスクを読むのに光ディスク・プレーヤが使われ、こ
の光ディスクは少なくとも一部が金属化されていない。
蓄積された情報を表す複数のピットとランドを有する光
ディスクを読むのに光ディスク・プレーヤが使われ、こ
の光ディスクは少なくとも一部が金属化されていない。
【００２７】このプレーヤは、可変パワー・レーザビー
ムを発生する半導体レーザ手段を含み、このビームのパ
ワーが半導体レーザ手段の制御端子に印加される制御信
号によって制御される。
ムを発生する半導体レーザ手段を含み、このビームのパ
ワーが半導体レーザ手段の制御端子に印加される制御信
号によって制御される。
【００２８】上記ビームを上記光ディスク上に合焦さ
せ、該ビームの一部がピットとランドを表す上記光ディ
スクから反射して戻ってくるようになすためにフォーカ
シングサーボが設けられている。このフォーカシングサ
ーボは、光ディスクのピット面にロックされ、即ち（硬
質樹脂層６０が存在しないとして）ポリカーボネート／
空気インターフェースにロックされ、空気／ポリカーボ
ネートにはロックされない焦点を持つことが望ましい。
せ、該ビームの一部がピットとランドを表す上記光ディ
スクから反射して戻ってくるようになすためにフォーカ
シングサーボが設けられている。このフォーカシングサ
ーボは、光ディスクのピット面にロックされ、即ち（硬
質樹脂層６０が存在しないとして）ポリカーボネート／
空気インターフェースにロックされ、空気／ポリカーボ
ネートにはロックされない焦点を持つことが望ましい。
【００２９】この光ディスクから反射して戻ってくるビ
ームの部分が、反射率の相違によって、前記光ディスク
の金属化部分からよりも、該光ディスクの非金属化部分
からのほうが実質的に少ない。
ームの部分が、反射率の相違によって、前記光ディスク
の金属化部分からよりも、該光ディスクの非金属化部分
からのほうが実質的に少ない。
【００３０】上記ビームの反射された部分の実質的に一
定な平均パワーレベルを維持するように、上記ビームの
反射された部分の平均パワーレベルに応答する制御信号
を発生するために、負帰還自動パワー制御サーボが設け
られている。
定な平均パワーレベルを維持するように、上記ビームの
反射された部分の平均パワーレベルに応答する制御信号
を発生するために、負帰還自動パワー制御サーボが設け
られている。
【００３１】かくして、このプレーヤは、全く金属化さ
れていない光ディスク又は一部が金属化されており、一
部が金属化されていない光ディスクを再生することがで
きる。
れていない光ディスク又は一部が金属化されており、一
部が金属化されていない光ディスクを再生することがで
きる。
【００３２】この制御信号は、連続波レーザの出力パワ
ーを調整するのに使うことかできるが、それに代えて、
この制御信号はデューティサイクルを制御することにも
使え、従って、パルス幅変調器によって、パルス化され
たレーザの平均出力パワーを制御することができる。
ーを調整するのに使うことかできるが、それに代えて、
この制御信号はデューティサイクルを制御することにも
使え、従って、パルス幅変調器によって、パルス化され
たレーザの平均出力パワーを制御することができる。
【００３３】更に他の実施形態においては、検出された
信号は、その制御信号によって、光検出器の増幅器利得
を制御することによって維持できる。この後者の方法
は、上記の複数の方法の１つと結びつけて使うことがで
きる。
信号は、その制御信号によって、光検出器の増幅器利得
を制御することによって維持できる。この後者の方法
は、上記の複数の方法の１つと結びつけて使うことがで
きる。
【００３４】好ましくは、この半導体レーザ手段は、７
８０ナノメータ・レーザと、制御信号を受信し、それに
応答して、最大２０ミリワットまでそのレーザを駆動す
るレーザパワー・ドライバを含む。
８０ナノメータ・レーザと、制御信号を受信し、それに
応答して、最大２０ミリワットまでそのレーザを駆動す
るレーザパワー・ドライバを含む。
【００３５】自動パワー制御サーボの応答時間がＣＩＲ
Ｃデコーダのバースト誤り訂正能力よりも少ない、バー
スト誤り訂正も備えられている。
Ｃデコーダのバースト誤り訂正能力よりも少ない、バー
スト誤り訂正も備えられている。
【００３６】他の実施例においては、ディスク上に蓄積
される情報を表す複数のピットとランドを有する光ディ
スクを読む方法を開示し、光ディスクは、少なくとも一
部が金属化されていない。
される情報を表す複数のピットとランドを有する光ディ
スクを読む方法を開示し、光ディスクは、少なくとも一
部が金属化されていない。
【００３７】この方法は、制御信号に応答して可変パワ
ー・レーザビームを発生するステップと、上記ビームを
上記光ディスク上に合焦させ、該ビームの一部がピット
とランドを表す上記光ディスクから反射して戻ってくる
ようになし、該光ディスクから反射して戻ってくる上記
ビームの部分が、前記光ディスクの金属化部分からより
も、該光ディスクの非金属化部分からのほうが実質的に
少ないようになした合焦させるステップと、前記光ディ
スクから反射して戻ってくる前記ビームの前記部分を検
出するステップと、前記ビームの反射された部分の実質
的に一定な平均パワーレベルを維持するように、反射さ
れた部分の平均パワーレベルに応答して制御信号を発生
するステップとを含む。
ー・レーザビームを発生するステップと、上記ビームを
上記光ディスク上に合焦させ、該ビームの一部がピット
とランドを表す上記光ディスクから反射して戻ってくる
ようになし、該光ディスクから反射して戻ってくる上記
ビームの部分が、前記光ディスクの金属化部分からより
も、該光ディスクの非金属化部分からのほうが実質的に
少ないようになした合焦させるステップと、前記光ディ
スクから反射して戻ってくる前記ビームの前記部分を検
出するステップと、前記ビームの反射された部分の実質
的に一定な平均パワーレベルを維持するように、反射さ
れた部分の平均パワーレベルに応答して制御信号を発生
するステップとを含む。
【００３８】
【発明の実施の形態】図２は、本発明の好ましい実施形
態に従う処理ステップを示す。ステップ１０において、
種々のパワーレーザビームが発生される。このビーム
は、レーザによって発生され、そのビームのパワーはそ
のレーザに結合または統合されたレーザパワー・ドライ
バの制御端子に印加された制御信号によって制御され
る。
態に従う処理ステップを示す。ステップ１０において、
種々のパワーレーザビームが発生される。このビーム
は、レーザによって発生され、そのビームのパワーはそ
のレーザに結合または統合されたレーザパワー・ドライ
バの制御端子に印加された制御信号によって制御され
る。
【００３９】好ましくは、このレーザは、７８０ナノメ
ータ連続波、半導体レーザであって、そのレーザパワー
・ドライバは、少なくとも約１５〜２０ミリワットの光
パワーの最大パワーを達成するのに使われる。このレー
ザのこのパワーは、約０．３〜２０ミリワットで変化す
る。
ータ連続波、半導体レーザであって、そのレーザパワー
・ドライバは、少なくとも約１５〜２０ミリワットの光
パワーの最大パワーを達成するのに使われる。このレー
ザのこのパワーは、約０．３〜２０ミリワットで変化す
る。
【００４０】このタイプの個々のレーザ及びレーザパワ
ー・ドライバは、当業者には良く知られているが、ここ
で説明したような応用に用いられるような組み合わせに
はなっていない。
ー・ドライバは、当業者には良く知られているが、ここ
で説明したような応用に用いられるような組み合わせに
はなっていない。
【００４１】ステップ２０において、ビームは光ディス
ク上に合焦され、その結果反射ビームを生じる。ステッ
プ３０において、その反射されたレーザビームは光感知
素子に加えた前置増幅セクションを含む光検出器手段に
よって検出される。この光検出器手段は、入力光を表す
瞬時出力を生じる。
ク上に合焦され、その結果反射ビームを生じる。ステッ
プ３０において、その反射されたレーザビームは光感知
素子に加えた前置増幅セクションを含む光検出器手段に
よって検出される。この光検出器手段は、入力光を表す
瞬時出力を生じる。
【００４２】上記のとおり、金属化、例えばアルミニウ
ムコートされた光ディスクの反射率は約８０％である。
これと比べて、ディスクの金属化されていない部分の反
射率は、約２〜４％である。好都合なことには、本発明
の光ディスク・プレーヤは、少なくとも部分的に金属化
されていないディスクを読むのに使われる。
ムコートされた光ディスクの反射率は約８０％である。
これと比べて、ディスクの金属化されていない部分の反
射率は、約２〜４％である。好都合なことには、本発明
の光ディスク・プレーヤは、少なくとも部分的に金属化
されていないディスクを読むのに使われる。
【００４３】ステップ４０で、反射ビームの平均パワー
が決定される。光検出器の瞬時出力を低域濾波するかピ
ーク検出するかによって、従来の方法で達成できる。光
ディスクの金属化された部分が読まれた時に比べて、光
ディスクの金属化されていない部分が読まれた時の反射
率の相違があるため、反射ビームの強度または平均パワ
ーは２０〜４０倍のオーダーで、金属化された部分から
の方が、その光ディスクの金属化されていない部分から
の反射ビームの強度または平均パワーよりも大きい。
が決定される。光検出器の瞬時出力を低域濾波するかピ
ーク検出するかによって、従来の方法で達成できる。光
ディスクの金属化された部分が読まれた時に比べて、光
ディスクの金属化されていない部分が読まれた時の反射
率の相違があるため、反射ビームの強度または平均パワ
ーは２０〜４０倍のオーダーで、金属化された部分から
の方が、その光ディスクの金属化されていない部分から
の反射ビームの強度または平均パワーよりも大きい。
【００４４】反射ビームの平均パワーにおけるこの変化
に応答するために、ステップ５０で、例えば、差動増幅
器によって、反射ビームの平均パワーを参照レベルと比
較する自動パワー制御サーボによって、サーボ信号が発
生される。
に応答するために、ステップ５０で、例えば、差動増幅
器によって、反射ビームの平均パワーを参照レベルと比
較する自動パワー制御サーボによって、サーボ信号が発
生される。
【００４５】この自動パワー制御サーボの出力は、制御
信号である。この制御信号は、レーザまたはレーザパワ
ー・ドライバに対して、反射ビームの平均パワーが比較
的低い所ではパワーを増加するように告げ、ディスクの
金属化されていない部分が読まれていることを指示し、
反射ビームの平均パワーが比較的高い所ではパワーを減
少するように告げ、ディスクの金属化されている部分が
読まれていることを指示する。
信号である。この制御信号は、レーザまたはレーザパワ
ー・ドライバに対して、反射ビームの平均パワーが比較
的低い所ではパワーを増加するように告げ、ディスクの
金属化されていない部分が読まれていることを指示し、
反射ビームの平均パワーが比較的高い所ではパワーを減
少するように告げ、ディスクの金属化されている部分が
読まれていることを指示する。
【００４６】このやり方で、反射ビームの平均パワーが
実質的に一定に維持される。更に、この配列によって、
このシステムは、完全に金属化された部分と完全に金属
化されていない部分の間のどんな状態に対しても補償す
ることができる。
実質的に一定に維持される。更に、この配列によって、
このシステムは、完全に金属化された部分と完全に金属
化されていない部分の間のどんな状態に対しても補償す
ることができる。
【００４７】これに代えて、本発明のレーザは、パルス
化でき、即ち固定パワー・プロファイルを持つパルスを
発生し、ビームの平均パワーレベルはそのパルスの可変
デューティサイクルによって決められている。
化でき、即ち固定パワー・プロファイルを持つパルスを
発生し、ビームの平均パワーレベルはそのパルスの可変
デューティサイクルによって決められている。
【００４８】この実施形態においては、この制御信号は
パルス幅変調器に供給でき、そこでレーザのデューティ
サイクルを決める出力が作られる。例えば、１０ミリワ
ットの平均パワーが要求されるディスクの非金属化部分
の間、パルスのパワーレベルが２０ミリワットに設定さ
れていれば、レーザは５０％デューティサイクルで動作
することが要求される。
パルス幅変調器に供給でき、そこでレーザのデューティ
サイクルを決める出力が作られる。例えば、１０ミリワ
ットの平均パワーが要求されるディスクの非金属化部分
の間、パルスのパワーレベルが２０ミリワットに設定さ
れていれば、レーザは５０％デューティサイクルで動作
することが要求される。
【００４９】ディスクの金属化された部分が来ると、こ
のデューティサイクルは１／３０のパワーで足りるので
（約１０ミリワット〜０．３ミリワット）、非金属化部
分に対するデューティサイクルの約１．６７％または１
／３０に減らされる。
のデューティサイクルは１／３０のパワーで足りるので
（約１０ミリワット〜０．３ミリワット）、非金属化部
分に対するデューティサイクルの約１．６７％または１
／３０に減らされる。
【００５０】更にもう一つの代替手段として、光検出器
の前置増幅セクションのゲイン（利得）は反射ビーム定
数の検出レベルを維持するように制御されるようにする
ことができる。この方法は、上記他の２つのパワー制御
モード、即ち、パルス又は連続波、の１つと結びつける
のが最も適切である。
の前置増幅セクションのゲイン（利得）は反射ビーム定
数の検出レベルを維持するように制御されるようにする
ことができる。この方法は、上記他の２つのパワー制御
モード、即ち、パルス又は連続波、の１つと結びつける
のが最も適切である。
【００５１】下記にもっと詳細に記載されているよう
に、制御信号のディスク状態変更（金属化から非金属
化）に対する応答時間は、ＣＩＲＣデコーダのバースト
エラー訂正能力、即ち、４５０シンボル又は１．９ミリ
秒、よりも少なくしなければならない。このように、レ
ーザパワーのディスク状態変更に対する調節は全実用目
的のためである。
に、制御信号のディスク状態変更（金属化から非金属
化）に対する応答時間は、ＣＩＲＣデコーダのバースト
エラー訂正能力、即ち、４５０シンボル又は１．９ミリ
秒、よりも少なくしなければならない。このように、レ
ーザパワーのディスク状態変更に対する調節は全実用目
的のためである。
【００５２】図３は、本発明に従って、少なくとも一部
が金属化されていない光ディスクを読み取るコンパクト
ディスク・プレーヤを示す。図１と同じ部分には同様の
番号が付けられている。
が金属化されていない光ディスクを読み取るコンパクト
ディスク・プレーヤを示す。図１と同じ部分には同様の
番号が付けられている。
【００５３】図３において、他のサーボ及び制御システ
ムと同様、光ピックアップの多くの部品は説明を明瞭に
するため記載を省略してある。しかし、これらは当業者
には解っている範囲内である。更に、保護層６０は本発
明を実施するために必要でないので、これもディスクか
ら省いてある。
ムと同様、光ピックアップの多くの部品は説明を明瞭に
するため記載を省略してある。しかし、これらは当業者
には解っている範囲内である。更に、保護層６０は本発
明を実施するために必要でないので、これもディスクか
ら省いてある。
【００５４】図３は光ディスク１１を示している。この
ディスクは、領域Ａにおいて金属化５０の部分の一部が
除去されているか、損傷を受けているか、すり減ってい
る点を除いて図１の光ディスク１０と同じである。
ディスクは、領域Ａにおいて金属化５０の部分の一部が
除去されているか、損傷を受けているか、すり減ってい
る点を除いて図１の光ディスク１０と同じである。
【００５５】そんなことで、典型的なコンパクトディス
ク・プレーヤ及びＣＤ−ＲＯＭドライブは、反射ビーム
のパワーレベルが適正な検出には単に不充分で、金属化
された領域Ｂから非金属化領域Ａへの変化に対する補償
の手段が備えられていないので、この非金属化領域Ａに
おいてディスク１１を読むことができない。
ク・プレーヤ及びＣＤ−ＲＯＭドライブは、反射ビーム
のパワーレベルが適正な検出には単に不充分で、金属化
された領域Ｂから非金属化領域Ａへの変化に対する補償
の手段が備えられていないので、この非金属化領域Ａに
おいてディスク１１を読むことができない。
【００５６】好都合なことには、図３の領域Ａに示され
たようなディスクの非金属化部分を読むのに本発明が採
用されるのみならず、本発明は、領域Ａ等のディスクの
非金属化部分を読むことから、領域Ｂ等のディスクの金
属化された部分を読むことに、殆ど瞬時的に切り換える
のにも用いられる。
たようなディスクの非金属化部分を読むのに本発明が採
用されるのみならず、本発明は、領域Ａ等のディスクの
非金属化部分を読むことから、領域Ｂ等のディスクの金
属化された部分を読むことに、殆ど瞬時的に切り換える
のにも用いられる。
【００５７】本発明の構成部品は可変パワー半導体レー
ザ１００を含む。この半導体レーザ１００は可変出力１
２０を発生するために採用された典型的には７８０ナノ
メータの連続波レーザである。出力は、約０．３〜２０
ミリワットのレンジにわたって可能である。
ザ１００を含む。この半導体レーザ１００は可変出力１
２０を発生するために採用された典型的には７８０ナノ
メータの連続波レーザである。出力は、約０．３〜２０
ミリワットのレンジにわたって可能である。
【００５８】パワーレベルを２０ミリワットに届かせる
ことは、レーザパワー・ドライバ１１５によって、可能
にされている。半導体レーザ１００のパワーは、その半
導体レーザ１００をドライブするレーザパワー・ドライ
バ１１５の制御端子１１０に印加される制御信号１３０
に基いて変わる。
ことは、レーザパワー・ドライバ１１５によって、可能
にされている。半導体レーザ１００のパワーは、その半
導体レーザ１００をドライブするレーザパワー・ドライ
バ１１５の制御端子１１０に印加される制御信号１３０
に基いて変わる。
【００５９】このレーザパワー・ドライバ１１５は、レ
ーザ１００から分けられた構成部品、例えばチップ、と
することができ、レーザ１００と統合しても良い。制御
信号１３０の発生は下記にもっと詳しく記載されてい
る。
ーザ１００から分けられた構成部品、例えばチップ、と
することができ、レーザ１００と統合しても良い。制御
信号１３０の発生は下記にもっと詳しく記載されてい
る。
【００６０】発生されたレーザビーム１２０は、影響を
受けないプリズム又はビームスプリッタ１４０を最初に
通過する（プリズム１４０は反射波に対してのみ作用す
るように配列されている）。
受けないプリズム又はビームスプリッタ１４０を最初に
通過する（プリズム１４０は反射波に対してのみ作用す
るように配列されている）。
【００６１】このビームは、次にコリメータレンズ１５
０を通過し、それによって、平行光線に変換される。こ
の平行光線は対物レンズ１６０に入射し、凹面１７０上
にその光の焦点を結ぶ。
０を通過し、それによって、平行光線に変換される。こ
の平行光線は対物レンズ１６０に入射し、凹面１７０上
にその光の焦点を結ぶ。
【００６２】従来のコンパクトディスクにおいて、光デ
ィスク３０におけるピット４０がある場所で、それらの
ピットによって光が回折され対物レンズ６０の視野外に
出る。他方、ピットがない所では、ほとんど全部の光
（８０％）が戻される（金属化されたディスクの場
合）。
ィスク３０におけるピット４０がある場所で、それらの
ピットによって光が回折され対物レンズ６０の視野外に
出る。他方、ピットがない所では、ほとんど全部の光
（８０％）が戻される（金属化されたディスクの場
合）。
【００６３】付言すると、コンパクトディスク・プレー
ヤによって使われる符号化技術のために、ディスク上に
は実質的に同等の数のピットとランドがある。従って、
従来のコンパクトディスクの平均反射パワーは時間的に
相対的に一定に留まる。
ヤによって使われる符号化技術のために、ディスク上に
は実質的に同等の数のピットとランドがある。従って、
従来のコンパクトディスクの平均反射パワーは時間的に
相対的に一定に留まる。
【００６４】ディスク１１等のディスクを考えると、反
射ビームの平均パワーはその金属によって与えられる反
射率の損失のために非金属化領域Ａにおいて実質的に低
下する。特に、ディスクの金属化されていない部分の場
合においては、平均してビームのたった２〜４％が反射
して戻される。
射ビームの平均パワーはその金属によって与えられる反
射率の損失のために非金属化領域Ａにおいて実質的に低
下する。特に、ディスクの金属化されていない部分の場
合においては、平均してビームのたった２〜４％が反射
して戻される。
【００６５】本発明によれば、この戻りビームはプリズ
ム１４０によって、光検出器１８０上に反射されて、そ
こで、その光エネルギーを表す電気的出力を作る。光感
知素子を含むことに加えて、光検出器１８０はそのゲイ
ンを制御する前置増幅セクションをも含むこともでき
る。
ム１４０によって、光検出器１８０上に反射されて、そ
こで、その光エネルギーを表す電気的出力を作る。光感
知素子を含むことに加えて、光検出器１８０はそのゲイ
ンを制御する前置増幅セクションをも含むこともでき
る。
【００６６】光検出器１８０の出力は、検出器１８５に
よって、従来の方法、例えば、低域通過濾波またはピー
ク検出によって検出される。検出器１８５の出力は、差
動増幅器２１０、補償回路網２２０、及びパワーレファ
レンス（電力基準）２３０を含む負帰還自動パワー制御
サーボ２００に与えられる。
よって、従来の方法、例えば、低域通過濾波またはピー
ク検出によって検出される。検出器１８５の出力は、差
動増幅器２１０、補償回路網２２０、及びパワーレファ
レンス（電力基準）２３０を含む負帰還自動パワー制御
サーボ２００に与えられる。
【００６７】補償回路網２２０は、サーボ安定化のため
に備えられていて、位相リード（進み）／遅延型回路網
とすることができる。勿論、当業者には良く知られた他
の多くの同等な装置が採用できるであろう。
に備えられていて、位相リード（進み）／遅延型回路網
とすることができる。勿論、当業者には良く知られた他
の多くの同等な装置が採用できるであろう。
【００６８】このサーボ２００は、増幅器２１０の入力
端子（パワーレファレンス２３０及び検出器１８５の出
力）を見ることにより、従来の方法で機能し、出力端子
を振らせ、負帰還によって入力の差をゼロにもってい
く。
端子（パワーレファレンス２３０及び検出器１８５の出
力）を見ることにより、従来の方法で機能し、出力端子
を振らせ、負帰還によって入力の差をゼロにもってい
く。
【００６９】増幅器２１０の出力は、ライン１３０を介
して、制御信号として、当業者に良く知られたタイプの
レーザパワー・ドライバ１１５の制御端子１１０に印加
される。このレーザパワー・ドライバ１１５はレーザ１
００を駆動する。この半導体レーザ１００は単独または
レーザパワー・ドライバ１１５と組み合わせて、単に半
導体レーザ手段と呼ぶことができる。
して、制御信号として、当業者に良く知られたタイプの
レーザパワー・ドライバ１１５の制御端子１１０に印加
される。このレーザパワー・ドライバ１１５はレーザ１
００を駆動する。この半導体レーザ１００は単独または
レーザパワー・ドライバ１１５と組み合わせて、単に半
導体レーザ手段と呼ぶことができる。
【００７０】本発明のパワーサーボは、反射ビームの平
均出力パワーを一定レベルに維持するようになっている
ので、制御信号は、ディスクの金属化されていない部分
に出会うと、レーザ１００の出力パワーの増加を２０〜
４０倍にする。
均出力パワーを一定レベルに維持するようになっている
ので、制御信号は、ディスクの金属化されていない部分
に出会うと、レーザ１００の出力パワーの増加を２０〜
４０倍にする。
【００７１】上記に指摘したように、本発明に示された
タイプのレーザパワー・ドライバが知られているが、そ
のような強力な装置は従来のコンパクトディスク・プレ
ーヤには見あたらず、本発明のパワー要求を達成する必
要がある。
タイプのレーザパワー・ドライバが知られているが、そ
のような強力な装置は従来のコンパクトディスク・プレ
ーヤには見あたらず、本発明のパワー要求を達成する必
要がある。
【００７２】本発明のもう一つの実施形態においては、
半導体レーザ１００は、（上記連続波レーザに比べて）
パルス出力レーザであり、システムの光伝達関数を考慮
した、予め定められたパワーレベルであるが可変デュー
ティサイクルを有する、ナイキスト基準を満たす速度で
パルスを発生する。
半導体レーザ１００は、（上記連続波レーザに比べて）
パルス出力レーザであり、システムの光伝達関数を考慮
した、予め定められたパワーレベルであるが可変デュー
ティサイクルを有する、ナイキスト基準を満たす速度で
パルスを発生する。
【００７３】従って、例えば、非金属化領域Ａを読むた
めに必要な最大平均レーザ出力パワーが１０ミリワット
ならば、パルスのピークパワーレベルは（矩形波パルス
として）、もし非金属化領域に対する５０％デューティ
サイクルが望まれるならば、少なくとも２０ミリワット
でなければならない。なぜならば、そのようなデューテ
ィサイクルでは２０ミリワットのパルスが１０ミリワッ
トの平均パワーを作るからである。
めに必要な最大平均レーザ出力パワーが１０ミリワット
ならば、パルスのピークパワーレベルは（矩形波パルス
として）、もし非金属化領域に対する５０％デューティ
サイクルが望まれるならば、少なくとも２０ミリワット
でなければならない。なぜならば、そのようなデューテ
ィサイクルでは２０ミリワットのパルスが１０ミリワッ
トの平均パワーを作るからである。
【００７４】そのディスクの金属化された部分に出会う
と、これらの２０ミリワットのデューティサイクルは約
１．６７％に減らされ、そのような金属化部分を読むの
に要求される０．３ミリワット平均出力パワーを与え
る。
と、これらの２０ミリワットのデューティサイクルは約
１．６７％に減らされ、そのような金属化部分を読むの
に要求される０．３ミリワット平均出力パワーを与え
る。
【００７５】そのような実施形態を実施するには、（図
示されていない）パルス幅変調器が用いられ、ライン１
３０を介して、増幅器２１０の出力、即ち制御信号を受
信し、レーザパワー・ドライバに適正なデューティサイ
クルでオン・オフする信号を供給する。このパルス幅変
調器は、これも半導体レーザ手段の一部と考えることが
できる。
示されていない）パルス幅変調器が用いられ、ライン１
３０を介して、増幅器２１０の出力、即ち制御信号を受
信し、レーザパワー・ドライバに適正なデューティサイ
クルでオン・オフする信号を供給する。このパルス幅変
調器は、これも半導体レーザ手段の一部と考えることが
できる。
【００７６】最後に、この制御信号は、オプションとし
て、点線１３５で示されたように光検出器１８０にも供
給できる。この場合、制御信号は光検出器１８０の前置
増幅セクションを制御するのに使われ、非金属化部分の
間利得（ゲイン）を増加し、金属化部分の間利得を減少
させる。
て、点線１３５で示されたように光検出器１８０にも供
給できる。この場合、制御信号は光検出器１８０の前置
増幅セクションを制御するのに使われ、非金属化部分の
間利得（ゲイン）を増加し、金属化部分の間利得を減少
させる。
【００７７】典型的には、光検出器１８０の前置増幅器
セクションの制御は、上記２つの方法の内の１つと組み
合わせて使われる。
セクションの制御は、上記２つの方法の内の１つと組み
合わせて使われる。
【００７８】この自動パワー制御回路は、レーザレベル
を、ディスクからの反射エネルギーが一定に留まるよう
に調整する働きをし、ＣＩＲＣデコーダのバーストエラ
ー訂正能力よりも少ない応答時間を持たなければならな
い。４５０シンボル又は１．２５メータ／秒の走査速度
で、１．９ミリ秒に対しては、２．３８ミリメータ長の
欠陥と同等である。
を、ディスクからの反射エネルギーが一定に留まるよう
に調整する働きをし、ＣＩＲＣデコーダのバーストエラ
ー訂正能力よりも少ない応答時間を持たなければならな
い。４５０シンボル又は１．２５メータ／秒の走査速度
で、１．９ミリ秒に対しては、２．３８ミリメータ長の
欠陥と同等である。
【００７９】自動パワー制御回路には即応答時間のフィ
ードバック・ループが設けられているので、完全に金属
化されたところと全く金属化されていない所の間の任意
のレベルの反射率が本発明によって容易に実現できるよ
うになる。
ードバック・ループが設けられているので、完全に金属
化されたところと全く金属化されていない所の間の任意
のレベルの反射率が本発明によって容易に実現できるよ
うになる。
【００８０】要求されるパワーで必要な回折が制限され
た０．９ミクロンの走査レーザスポットを作るために
は、本発明に依る改変されたレーザ集合体の機械的及び
光学的配列は非常に臨界的である。
た０．９ミクロンの走査レーザスポットを作るために
は、本発明に依る改変されたレーザ集合体の機械的及び
光学的配列は非常に臨界的である。
【００８１】重要なこととして、部分的に金属化されて
いないディスクを再生する際に考えるべきもう一つのフ
ァクタは、（図３には示されていない）フォーカスサー
ボを行うことである。このサーボは、ディスクのピット
面１７０にロックし、ミラー表面（３０の下側の光が入
る所）にはロックしないようにさせることである。従っ
て、対物レンズをピット面に強制的に合焦させるように
するたは、フォーカスサーボ・オフセットが適正に調整
されることを保障することが必要である。
いないディスクを再生する際に考えるべきもう一つのフ
ァクタは、（図３には示されていない）フォーカスサー
ボを行うことである。このサーボは、ディスクのピット
面１７０にロックし、ミラー表面（３０の下側の光が入
る所）にはロックしないようにさせることである。従っ
て、対物レンズをピット面に強制的に合焦させるように
するたは、フォーカスサーボ・オフセットが適正に調整
されることを保障することが必要である。
【００８２】有利なことには、本発明は、要求される付
加的反射層を持たないプラスチックモールド光ディスク
を充分に再生するのに使える。これは、コンパクトディ
スク製造プロセスにおける品質管理のために使うことが
でき、金属化が与えられた問題の原因であるか否かを決
める特に有用な方法を提供する。
加的反射層を持たないプラスチックモールド光ディスク
を充分に再生するのに使える。これは、コンパクトディ
スク製造プロセスにおける品質管理のために使うことが
でき、金属化が与えられた問題の原因であるか否かを決
める特に有用な方法を提供する。
【００８３】この特別な品質管理テストは、ブロック誤
り率、バーストエラー、インターポーション（内挿）、
輻射ノイズ、及び製造問題等を診断するための高周波パ
ラメータに対して、金属化されていないコンパクトディ
スクをテストすることを含む。
り率、バーストエラー、インターポーション（内挿）、
輻射ノイズ、及び製造問題等を診断するための高周波パ
ラメータに対して、金属化されていないコンパクトディ
スクをテストすることを含む。
【００８４】事実、充分なパワーを使えば、金属化され
ていないディスクから検索された高周波信号は金属化さ
れたディスク上で通常遂行される全てのテストを遂行す
るのに有用である。
ていないディスクから検索された高周波信号は金属化さ
れたディスク上で通常遂行される全てのテストを遂行す
るのに有用である。
【００８５】同様にして、ＣＤ−ＲＯＭ記録ディスクの
場合には、，完全に金属化されていないディスクを用い
ることができる。これによって、金属化層に原因のある
ディスクに対するいかなる悪い影響も避けることができ
る。最後に、損傷を受け金属化の一部が除去された標準
の金属化されたディスクは、本発明のコンパクトディス
クプレーヤで容易に再生できる。
場合には、，完全に金属化されていないディスクを用い
ることができる。これによって、金属化層に原因のある
ディスクに対するいかなる悪い影響も避けることができ
る。最後に、損傷を受け金属化の一部が除去された標準
の金属化されたディスクは、本発明のコンパクトディス
クプレーヤで容易に再生できる。
【００８６】かくして、本発明によれば、目的及び効果
を充分に満足する装置が上記に説明されていることは明
らかである。本発明は特定の実施形態と結びつけて説明
してきたが、前述の記載に照らし合わせて、当業者なら
ば多くの改変が可能であることは明白であろう。
を充分に満足する装置が上記に説明されていることは明
らかである。本発明は特定の実施形態と結びつけて説明
してきたが、前述の記載に照らし合わせて、当業者なら
ば多くの改変が可能であることは明白であろう。
【００８７】それゆえ、本発明は、特許請求の範囲にあ
てはまる、それらの代替、改変、変更の全てを包含する
ものである。
てはまる、それらの代替、改変、変更の全てを包含する
ものである。
【図１】従来のコンパクトディスクの断面図である。
【図２】少なくとも一部が金属化されていないコンパク
トディスクを読み取るステップを示すブロック図であ
る。
トディスクを読み取るステップを示すブロック図であ
る。
【図３】本発明による、少なくとも一部が金属化されて
いないコンパクトディスクを読むのに使われる装置の模
式図である。
いないコンパクトディスクを読むのに使われる装置の模
式図である。
３０ 光ディスク ４０ ピット ５０ 金属化部分 １００ 半導体レーザ １１５ レーザパワー・ドライバ １４０ ビームスプリッタ １５０ コリメータレンズ １６０ 対物レンズ １８０ 光検出器 ２１０ 差動増幅器
Claims (29)
- 【請求項１】 少なくとも一部が金属化されておらず、
ディスク上に蓄積された情報を表す複数のピットとラン
ドを有する光ディスクを読むのに使われる光ディスク・
プレーヤであって、 制御端子に印加される制御信号によってビームのパワー
が制御される可変パワー・レーザビームを発生する半導
体レーザ手段と、 上記ビームを上記光ディスク上に合焦させ、該ビームの
一部がピットとランドを表す上記光ディスクから反射し
て戻ってくるようになし、該光ディスクから反射して戻
ってくる上記ビームの部分が、前記光ディスクの金属化
部分からよりも、該光ディスクの非金属化部分からのほ
うが実質的に少ないようになした合焦手段と、 上記ビームの反射された部分の実質的に一定な平均パワ
ーレベルを維持するように、上記ビームの反射された部
分の平均パワーレベルに応答する制御信号を発生する制
御手段と、を備えた光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項２】 請求項１に記載の光ディスク・プレーヤ
において、前記光ディスクが全く金属化されていない光
ディスク・プレーヤ。 - 【請求項３】 請求項１に記載の光ディスク・プレーヤ
において、前記光ディスクの一部が金属化されており、
該光ディスクの一部が金属化されていない光ディスク・
プレーヤ。 - 【請求項４】 請求項１に記載の光ディスク・プレーヤ
において、前記半導体レーザ手段のパワーレベルが少な
くとも２０ワットまで可変である光ディスク・プレー
ヤ。 - 【請求項５】 請求項１に記載の光ディスク・プレーヤ
において、前記半導体レーザ手段が７８０ナノメータの
レーザダイオードを含む光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項６】 請求項１に記載の光ディスク・プレーヤ
であって、前記ビームの反射された部分を受信し、それ
を表す瞬時出力信号をつくるための光検出手段を備えた
光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項７】 請求項６に記載の光ディスク・プレーヤ
であって、前記瞬時出力信号から平均パワーレベルを表
す信号を発生する手段を備えた光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項８】 請求項７に記載の光ディスク・プレーヤ
において、前記制御手段が前記平均パワーレベルを表す
前記信号と基準信号の間の比較の結果前記制御信号をつ
くるための自動パワー制御手段を含む光ディスク・プレ
ーヤ。 - 【請求項９】 請求項８に記載の光ディスク・プレーヤ
において、自動パワー制御手段は負帰還増幅器を採用
し、前記平均パワーレベルを表す前記信号は前記増幅器
の負端子に印加され、前記基準信号は前記増幅器の正端
子に印加されている光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項１０】 請求項８に記載の光ディスク・プレー
ヤにおいて、前記半導体レーザ手段が、連続波半導体レ
ーザと、前記制御信号に応答して前記半導体レーザを駆
動するための前記制御端子を有するレーザパワー・ドラ
イバを含む光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項１１】 請求項１０に記載の光ディスク・プレ
ーヤにおいて、前記光検出器手段が、前記制御信号に応
答する前記瞬時出力信号を制御するための可変利得前置
増幅手段を含む光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項１２】 請求項８に記載の光ディスク・プレー
ヤにおいて、前記半導体レーザ手段が、実質的に一定の
パワーレベルの個別パルスを作るためのパルス出力半導
体レーザを含み、前記パルスのデューティサイクルは前
記ビームのパワーを変えるために可変であり、前記半導
体レーザ手段は前記制御信号を受信し、前記デューティ
サイクルを変えるために、それに応じた出力を発生する
パルス幅変調手段を含む光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項１３】 請求項１２に記載の光ディスク・プレ
ーヤにおいて、前記光検出器手段が、前記制御信号に応
答して、前記瞬時出力を制御する可変利得前置増幅器手
段を含む光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項１４】 請求項８に記載の光ディスク・プレー
ヤであって、バースト誤り訂正を採用したＣＩＲＣデコ
ーダを備え、自動パワー制御手段の応答時間がＣＩＲＣ
デコーダのバースト誤り訂正能力よりも少ない光ディス
ク・プレーヤ。 - 【請求項１５】 請求項１４に記載の光ディスク・プレ
ーヤにおいて、ＣＩＲＣデコーダのバースト誤り訂正能
力が約２．３８ミリメータである光ディスク・プレー
ヤ。 - 【請求項１６】 請求項１に記載の光ディスク・プレー
ヤにおいて、前記光ディスクがＣＤ ＲＯＭフォーマッ
ト化された光ディスクである光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項１７】 請求項１に記載の光ディスク・プレー
ヤにおいて、前記フォーカシング手段が前記光ディスク
のピット面にロックされる焦点を有するフォーカシング
サーボを含む光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項１８】 請求項５に記載の光ディスク・プレー
ヤにおいて、前記半導体レーザ手段が、前記制御信号に
応答して前記半導体レーザを駆動するレーザパワー・ド
ライバを含む光ディスク・プレーヤ。 - 【請求項１９】 ディスク上に蓄積される情報を表す複
数のピットとランドを有する光ディスクであって、一部
が金属化されておらず、一部が金属化されている光ディ
スクと、 制御端子に印加される制御信号によってビームのパワー
が制御される可変パワー・レーザビームを発生する半導
体レーザ手段と、 上記ビームを上記光ディスク上に合焦させ、該ビームの
一部がピットとランドを表す上記光ディスクから反射し
て戻ってくるようになし、該光ディスクから反射して戻
ってくる上記ビームの部分が、上記光ディスクの金属化
部分からよりも、該光ディスクの非金属化部分からのほ
うが実質的に少ないようになした合焦手段と、 上記ビームの反射された部分の実質的に一定な平均パワ
ーレベルを維持するように、上記ビームの反射された部
分の平均パワーレベルに応答する制御信号を発生する制
御手段と、を備えた光ディスクシステム。 - 【請求項２０】 請求項１９に記載の光ディスクシステ
ムにおいて、前記半導体レーザ手段が、実質的に一定の
パワーレベルの個別パルスを作るためのパルス出力半導
体レーザを含み、前記パルスのデューティサイクルは前
記ビームのパワーを変えるために可変であり、前記半導
体レーザ手段は前記制御信号を受信し、前記デューティ
サイクルを変えるために、それに応じた出力を発生する
パルス幅変調手段を含む光ディスクシステム。 - 【請求項２１】 少なくとも一部が金属化されておら
ず、蓄積される情報を表す複数のピットとランドを有す
る光ディスクを読むのに使うコンパクトディスク・プレ
ーヤであって、 制御端子に印加される制御信号によってパワーが制御さ
れる可変パワー・レーザビームを発生するレーザパワー
・ドライバによって駆動される半導体レーザと、 ピット又はランドを表す前記光ディスクから前記ビーム
の一部が反射して戻ってくるように前記光ディスク上に
前記ビームを合焦するためのフォーカシング・サーボで
あって、前記光ディスクから反射して戻ってくるビーム
の部分が前記光ディスクの非金属化部分からは、前記光
ディスクの金属化部分からよりも実質的に少なくなした
フォーカシング・サーボと、 前記光ディスクから反射して戻ってくる前記ビームの一
部を検出し、それを表す瞬時出力信号を作る光検出器手
段と、 前記光ディスクから反射して戻って来る前記ビームの平
均パワーレベルを表す信号を前記瞬時出力信号から発生
する手段と、 前記ビームの反射された部分の実質的に一定のパワーレ
ベルを維持するように、前記平均パワーレベル信号を基
準レベルと比較することによって、前記制御信号を発生
するための自動パワー制御手段を含む制御手段と、 自動パワー制御手段の応答時間がＣＩＲＣデコーダのバ
ースト誤り訂正能力よりも少ない、バースト誤り訂正を
採用したＣＩＲＣデコーダと、を備えたコンパクトディ
スク・プレーヤ。 - 【請求項２２】 請求項２１に記載のコンパクトディス
ク・プレーヤにおいて、前記光ディスクが全く金属化さ
れていないコンパクトディスク・プレーヤ。 - 【請求項２３】 請求項２１に記載のコンパクトディス
ク・プレーヤにおいて、前記光ディスクが一部金属化さ
れており、一部金属化されていないコンパクトディスク
・プレーヤ。 - 【請求項２４】 請求項２１に記載のコンパクトディス
ク・プレーヤにおいて、前記半導体レーザが、実質的に
一定のパワーレベルの個別パルスを作るためのパルス出
力半導体レーザであって、前記パルスのデューティサイ
クルは前記ビームの平均出力パワーを変えるために可変
であり、前記コンパクトディスク・プレーヤは前記制御
信号を受信し、前記デューティサイクルを変えるため
に、それに応じた出力を発生するパルス幅変調手段を含
むコンパクトディスク・プレーヤ。 - 【請求項２５】 少なくとも一部が金属化されておら
ず、ディスク上に蓄積される情報を表す複数のピットと
ランドを有する光ディスクを読む方法であって、 制御信号に応答して可変パワー・レーザビームを発生す
るステップと、 上記ビームを上記光ディスク上に合焦させ、該ビームの
一部がピットとランドを表す上記光ディスクから反射し
て戻ってくるようになし、該光ディスクから反射して戻
ってくる上記ビームの部分が、前記光ディスクの金属化
部分からよりも、該光ディスクの非金属化部分からのほ
うが実質的に少ないようになした合焦させるステップ
と、 前記光ディスクから反射して戻ってくる前記ビームの前
記部分を検出するステップと、 前記ビームの検出された部分から反射してくるビームの
平均パワーレベルを決定するステップと、 前記ビームの反射された部分の実質的に一定な平均パワ
ーレベルを維持するように、前記平均パワーレベルに応
答して制御信号を発生するステップと、を含む光ディス
ク読み取り方法。 - 【請求項２６】 請求項２５に記載の方法において、前
記光ディスクが全く金属化されていない、光ディスクの
読み取り方法。 - 【請求項２７】 請求項２５に記載の方法において、前
記光ディスクが一部金属化されており、一部金属化され
ていない、光ディスクの読み取り方法。 - 【請求項２８】 請求項２５に記載の方法において、 前記可変パワー・レーザビームを発生するパルス出力半
導体レーザと、 実質的に一定のパワーレベルの個別パルスを有する前記
ビームを含み、 前記パルスのデューティサイクルは前記ビームのパワー
を変えるために可変であり、前記制御信号を受信し、前
記デューティサイクルを変えるために、それに応じた出
力を発生するパルス幅変調手段を含む光ディスクの読み
取り方法。 - 【請求項２９】 請求項２５に記載の方法において、前
記光ディスクから反射して戻ってくる前記ビームの前記
部分を検出するための可変利得前置増幅器手段を含む光
検出器手段を含み、前記可変利得前置増幅器手段が前記
制御信号を受信し、それに応答して利得を調整するよう
になされた光ディスクの読み取り方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US325725 | 1989-03-20 | ||
| US08/325,725 US5528577A (en) | 1994-10-19 | 1994-10-19 | Apparatus and method for reading at least partially unmetallized optical discs |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08212558A true JPH08212558A (ja) | 1996-08-20 |
Family
ID=23269162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7268694A Abandoned JPH08212558A (ja) | 1994-10-19 | 1995-10-17 | 光ディスク・プレーヤ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5528577A (ja) |
| JP (1) | JPH08212558A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100346701B1 (ko) * | 1999-05-25 | 2002-08-01 | 삼성전자 주식회사 | 레이저 다이오드의 출력 제어 방법 및 이에 적합한 장치 |
| US7095691B2 (en) * | 2001-08-30 | 2006-08-22 | Teac Corporation | Optical disk device |
| DE10153280B9 (de) * | 2001-10-29 | 2007-09-06 | Fendt, Günter | Prüfvorrichtung und dazugehörendes Verfahren zur berührungslosen optischen Prüfung von optischen Datenträgern und/oder optischen Speichermedien |
| US6977052B1 (en) * | 2002-01-18 | 2005-12-20 | Imation Corp | Check disk for optical data storage disk manufacturing |
| EP1695344A1 (en) * | 2003-12-08 | 2006-08-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Holographic reading device |
| US7637713B1 (en) * | 2007-02-13 | 2009-12-29 | Cinram International Inc. | Apparatus and method for separating topmost disc-like object from a stack |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4648085A (en) * | 1983-05-12 | 1987-03-03 | Nec Corporation | Optical information recording and reading apparatus with error correction |
| JPS61126637A (ja) * | 1984-11-21 | 1986-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
| DE3824039A1 (de) * | 1988-07-15 | 1990-01-18 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren und schaltungsanordnung zur kompensation von offset-spannungen in einem fokus- und/oder spurregelkreis |
| JP2734054B2 (ja) * | 1989-02-03 | 1998-03-30 | ソニー株式会社 | 光ディスク装置のトラッキングエラー検出装置及びトラッキングエラー検出方法 |
| JP2600402B2 (ja) * | 1989-11-20 | 1997-04-16 | 松下電器産業株式会社 | 光ディスク信号再生装置 |
| JP3039056B2 (ja) * | 1991-11-25 | 2000-05-08 | ソニー株式会社 | 追記型光ディスク記録装置 |
| JP2846175B2 (ja) * | 1992-03-17 | 1999-01-13 | 三菱電機株式会社 | 情報記憶装置 |
-
1994
- 1994-10-19 US US08/325,725 patent/US5528577A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-10-17 JP JP7268694A patent/JPH08212558A/ja not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5528577A (en) | 1996-06-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051025 |
|
| A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20060123 |