JPH08220163A - ジッタ伝達特性測定装置 - Google Patents
ジッタ伝達特性測定装置Info
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- JPH08220163A JPH08220163A JP7029607A JP2960795A JPH08220163A JP H08220163 A JPH08220163 A JP H08220163A JP 7029607 A JP7029607 A JP 7029607A JP 2960795 A JP2960795 A JP 2960795A JP H08220163 A JPH08220163 A JP H08220163A
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- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 位相ゆらぎ等に起因する高周波雑音をＢＰＦ
で簡単に除去でき、高いダイナミックレンジを有するジ
ッタ伝達特性を測定する。 【構成】 第１の信号発生器２２から出力される変調周
波数ｆm を有する変調信号ｅをジッタ発生器２へ印加し
て得られるジッタ試験信号ａを被試験装置３へ印加し、
被試験装置３を経由したジッタ試験信号ｂのジッタ量を
ジッタ検出器４で検出する。ジッタ検出器４のジッタ検
出信号ｇと、第２の信号発生器２３から出力された変調
周波数ｆm と中間周波数αとを加算した周波数（ｆm ＋
α）を有するローカル信号ｉとを信号合成して、変調周
波数成分を除去する。そして、この合成信号ｊを通過中
心周波数ＦC が前記中間周波数αに設定されたＢＰＦ２
６を通過させて位相ゆらぎ等の起因する高周波雑音を除
去した後、ジッタ伝達特性ＴＧを算出する。
で簡単に除去でき、高いダイナミックレンジを有するジ
ッタ伝達特性を測定する。 【構成】 第１の信号発生器２２から出力される変調周
波数ｆm を有する変調信号ｅをジッタ発生器２へ印加し
て得られるジッタ試験信号ａを被試験装置３へ印加し、
被試験装置３を経由したジッタ試験信号ｂのジッタ量を
ジッタ検出器４で検出する。ジッタ検出器４のジッタ検
出信号ｇと、第２の信号発生器２３から出力された変調
周波数ｆm と中間周波数αとを加算した周波数（ｆm ＋
α）を有するローカル信号ｉとを信号合成して、変調周
波数成分を除去する。そして、この合成信号ｊを通過中
心周波数ＦC が前記中間周波数αに設定されたＢＰＦ２
６を通過させて位相ゆらぎ等の起因する高周波雑音を除
去した後、ジッタ伝達特性ＴＧを算出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は被測定装置が入力された
信号に含まれるジッタをどの程度吸収できるかを評価す
るジッタ伝達特性測定装置に関する。
信号に含まれるジッタをどの程度吸収できるかを評価す
るジッタ伝達特性測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ディジタル通信ネットワークに組込まれ
ている各種のディジタル信号処理装置が正常に動作する
か否かを評価し、又はディジタル信号処理装置の性能を
評価する一つの評価基準として、被測定装置が入力され
た信号に含まれるジッタをどの程度吸収できるかを評価
するジッタ伝達特性がある。
ている各種のディジタル信号処理装置が正常に動作する
か否かを評価し、又はディジタル信号処理装置の性能を
評価する一つの評価基準として、被測定装置が入力され
た信号に含まれるジッタをどの程度吸収できるかを評価
するジッタ伝達特性がある。
【０００３】このジッタ伝達特性を測定するジッタ伝達
特性測定装置は例えば図７に示すように構成されてい
る。図示するように、このジッタ伝達特性測定装置１
は、大きく分けて、ジッタ試験信号ａを発生して被測定
装置３へ印加するジッタ発生器２と、ジッタ量を検出す
るジッタ検出器４と、被測定装置３を通過しないでジッ
タ検出器４で検出されるジッタ量ＪT と、被測定装置３
を通過してジッタ検出器４で検出される出力ジッタ量Ｊ
R とからジッタ伝達特性ＴＧを算出する演算部５とで構
成されている。
特性測定装置は例えば図７に示すように構成されてい
る。図示するように、このジッタ伝達特性測定装置１
は、大きく分けて、ジッタ試験信号ａを発生して被測定
装置３へ印加するジッタ発生器２と、ジッタ量を検出す
るジッタ検出器４と、被測定装置３を通過しないでジッ
タ検出器４で検出されるジッタ量ＪT と、被測定装置３
を通過してジッタ検出器４で検出される出力ジッタ量Ｊ
R とからジッタ伝達特性ＴＧを算出する演算部５とで構
成されている。
【０００４】ジッタ発生器２は、図７に示すように、位
相検出回路６とＬＰＦ（ローパスフィルタ）７と信号合
成手段８と電圧制御発振器（ＶＣＯ）９とからなる一種
のＰＬＬ回路で構成されている。外部の発振器１０から
出力される搬送周波数ｆC を有する入力信号ｄが位相検
出回路６の一方に入力されている。この位相検出回路６
の他方には電圧制御発振器（ＶＣＯ）９の出力が入力さ
れている。また、変調信号発生器１１から変調周波数ｆ
m を有する変調信号ｅが信号合成手段８へ入力されてい
る。
相検出回路６とＬＰＦ（ローパスフィルタ）７と信号合
成手段８と電圧制御発振器（ＶＣＯ）９とからなる一種
のＰＬＬ回路で構成されている。外部の発振器１０から
出力される搬送周波数ｆC を有する入力信号ｄが位相検
出回路６の一方に入力されている。この位相検出回路６
の他方には電圧制御発振器（ＶＣＯ）９の出力が入力さ
れている。また、変調信号発生器１１から変調周波数ｆ
m を有する変調信号ｅが信号合成手段８へ入力されてい
る。
【０００５】前記入力信号ｄの搬送周波数ｆC は通常の
稼働状態に被測定装置３に入力されるディジタルデータ
信号の搬送周波数である。このようなジッタ発生器２に
おいて、搬送周波数ｆC を有する入力信号ｄがＰＬＬ回
路へ入力されると、この入力信号ｄの位相は変調信号発
生器１１から出力される変調信号ｅの値に応じて変化を
受け、最終的に電圧制御発振器９の出力の位相変化とし
て現れる。この変化量がジッタ量に対応する。電圧制御
発振器９の出力がジッタ試験信号ａとしてジッタ発生器
２から出力される。
稼働状態に被測定装置３に入力されるディジタルデータ
信号の搬送周波数である。このようなジッタ発生器２に
おいて、搬送周波数ｆC を有する入力信号ｄがＰＬＬ回
路へ入力されると、この入力信号ｄの位相は変調信号発
生器１１から出力される変調信号ｅの値に応じて変化を
受け、最終的に電圧制御発振器９の出力の位相変化とし
て現れる。この変化量がジッタ量に対応する。電圧制御
発振器９の出力がジッタ試験信号ａとしてジッタ発生器
２から出力される。
【０００６】図８は入力信号ｄとジッタ試験信号ａとの
関係を示す波形図である。入力信号ｄに対してジッタ試
験信号ａが１周期（２π）分位相θが変化した場合を１
ＵＩ（Unit Interval ）のジッタ量とする。
関係を示す波形図である。入力信号ｄに対してジッタ試
験信号ａが１周期（２π）分位相θが変化した場合を１
ＵＩ（Unit Interval ）のジッタ量とする。
【０００７】一方、ジッタ検出器４は位相検出器１３と
ＬＰＦ（ローパスフィルタ）１４とで構成されている。
被測定装置３を経由したジッタ試験信号ｂは位相検出器
１３において、発振器１０から入力された入力信号ｄと
位相比較される。位相検出器１３から出力された位相差
信号は、例えば図９に示す周波数特性を有したＬＰＦ１
４で高周波成分が除去されてジッタ検出信号ｇとしてｐ
−ｐ検出器１５へ送出される。ｐ−ｐ検出器１５はジッ
タ検出信号ｇのｐ−ｐ値を測定し、被測定装置３を通過
しない時のジッタ量をＪT 、通過した時のジッタ量をＪ
R として検出して演算部５へ送出する。
ＬＰＦ（ローパスフィルタ）１４とで構成されている。
被測定装置３を経由したジッタ試験信号ｂは位相検出器
１３において、発振器１０から入力された入力信号ｄと
位相比較される。位相検出器１３から出力された位相差
信号は、例えば図９に示す周波数特性を有したＬＰＦ１
４で高周波成分が除去されてジッタ検出信号ｇとしてｐ
−ｐ検出器１５へ送出される。ｐ−ｐ検出器１５はジッ
タ検出信号ｇのｐ−ｐ値を測定し、被測定装置３を通過
しない時のジッタ量をＪT 、通過した時のジッタ量をＪ
R として検出して演算部５へ送出する。
【０００８】演算部５は、ｐ−ｐ検出器１５から入力さ
れた入力ジッタ量ＪT と出力ジッタ量ＪR とから下式で
ジッタ伝達特性ＴＧを算出する。 ＴＧ＝２０ log［ＪR ／ＪT ］ そして、変調信号発生器１１から出力される変調信号ｅ
の変調周波数ｆm を所定の測定周波数範囲内で走査させ
た場合における各変調周波数におけるジッタ伝達特性Ｔ
Ｇを測定して、例えば図１０に示す点線で示す実測値を
得る。そして、この測定されたジッタ伝達特性ＴＧが実
線で示す規格値以下であることを確認する。
れた入力ジッタ量ＪT と出力ジッタ量ＪR とから下式で
ジッタ伝達特性ＴＧを算出する。 ＴＧ＝２０ log［ＪR ／ＪT ］ そして、変調信号発生器１１から出力される変調信号ｅ
の変調周波数ｆm を所定の測定周波数範囲内で走査させ
た場合における各変調周波数におけるジッタ伝達特性Ｔ
Ｇを測定して、例えば図１０に示す点線で示す実測値を
得る。そして、この測定されたジッタ伝達特性ＴＧが実
線で示す規格値以下であることを確認する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図７に
示すジッタ伝達特性測定装置においてもまだ解消すべき
次の課題があった。すなわち、ジッタ検出器４に組込ま
れたＬＰＦ１４は図９に示す周波数特性を有している。
この周波数特性における遮断周波数ｆCTは、変調信号ｅ
の変調周波数ｆm が広い範囲で変化するために予め高い
値に設定されている。
示すジッタ伝達特性測定装置においてもまだ解消すべき
次の課題があった。すなわち、ジッタ検出器４に組込ま
れたＬＰＦ１４は図９に示す周波数特性を有している。
この周波数特性における遮断周波数ｆCTは、変調信号ｅ
の変調周波数ｆm が広い範囲で変化するために予め高い
値に設定されている。
【００１０】その結果、変調信号ｅにおける変調周波数
ｆm 以外の、例えば位相ゆらぎに起因する位相雑音成分
までこのＬＰＦ１４を通過してしまう。その結果、前記
遮断周波数ｆCT以下の高周波の位相雑音成分がジッタ伝
達特性ＴＧに含まれてしまい、図１０における点線で示
すように、高周波領域で破線で示す正しい値と離れてし
まう。
ｆm 以外の、例えば位相ゆらぎに起因する位相雑音成分
までこのＬＰＦ１４を通過してしまう。その結果、前記
遮断周波数ｆCT以下の高周波の位相雑音成分がジッタ伝
達特性ＴＧに含まれてしまい、図１０における点線で示
すように、高周波領域で破線で示す正しい値と離れてし
まう。
【００１１】そして、本来は被測定装置３のジッタ伝達
特性ＴＧは実線で示す規格以下であるのにもかかわら
ず、規格を満たさないと判断される虞れがある。このよ
うな不都合を解消するためには、図７に示すｐ−ｐ検出
器１５の代りに、図１１に示す選択レベルメータ１６を
用いて、変調信号ｅの変調周波数ｆm の周波数成分のみ
の信号レベルを検出することが考えられる。
特性ＴＧは実線で示す規格以下であるのにもかかわら
ず、規格を満たさないと判断される虞れがある。このよ
うな不都合を解消するためには、図７に示すｐ−ｐ検出
器１５の代りに、図１１に示す選択レベルメータ１６を
用いて、変調信号ｅの変調周波数ｆm の周波数成分のみ
の信号レベルを検出することが考えられる。
【００１２】しかし、この場合、選択レベルメータ１６
で選択する周波数を変調信号発生器１１から出力される
変調信号ｅの変調周波数ｆm に一致させる必要があり、
同期回路等の回路構成が複雑化する問題が生じる。
で選択する周波数を変調信号発生器１１から出力される
変調信号ｅの変調周波数ｆm に一致させる必要があり、
同期回路等の回路構成が複雑化する問題が生じる。
【００１３】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、ジッタ検出器で得られるジッタ検出信号を
中間周波数信号に変換してジッタ評価することによっ
て、測定されたシッタ伝達特性から位相ゆらぎ等に起因
する高周波雑音を除去でき、測定値のダイナミックレン
ジを拡大でき、高い測定測定精度でジッタ伝達特性を測
定できるジッタ伝達特性測定装置を提供することを目的
とする。
ものであり、ジッタ検出器で得られるジッタ検出信号を
中間周波数信号に変換してジッタ評価することによっ
て、測定されたシッタ伝達特性から位相ゆらぎ等に起因
する高周波雑音を除去でき、測定値のダイナミックレン
ジを拡大でき、高い測定測定精度でジッタ伝達特性を測
定できるジッタ伝達特性測定装置を提供することを目的
とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に、本発明のジッタ伝達特性測定装置においては、変調
周波数を有する変調信号を発生する第１の信号発生器
と、第１の信号発生器から出力される変調信号の変調周
波数に中間周波数を加算した周波数を有するローカル信
号を発生する第２の信号発器と、外部から入力した入力
信号を変調信号でジッタ変調して変調したジッタ試験信
号を被測定装置へ印加するジッタ発生器と、被測定装置
を経由したジッタ試験信号のジッタ量を検出してジッタ
検出信号を出力するジッタ検出器と、ジッタ検出器から
出力されたジッタ検出信号と第２の信号発生器から出力
されたローカル信号とを信号合成して合成信号を出力す
る信号合成器と、通過中心周波数が中間周波数に設定さ
れ、信号合成器の合成信号から中間周波数の信号成分を
抽出するバンドパスフィルタと、バンドパスフィルタの
出力信号から得られる出力ジッタ量とジッタ発生器から
得られる入力ジッタ量とから被測定装置のジッタ伝達特
性を評価する演算部とを備えている。
に、本発明のジッタ伝達特性測定装置においては、変調
周波数を有する変調信号を発生する第１の信号発生器
と、第１の信号発生器から出力される変調信号の変調周
波数に中間周波数を加算した周波数を有するローカル信
号を発生する第２の信号発器と、外部から入力した入力
信号を変調信号でジッタ変調して変調したジッタ試験信
号を被測定装置へ印加するジッタ発生器と、被測定装置
を経由したジッタ試験信号のジッタ量を検出してジッタ
検出信号を出力するジッタ検出器と、ジッタ検出器から
出力されたジッタ検出信号と第２の信号発生器から出力
されたローカル信号とを信号合成して合成信号を出力す
る信号合成器と、通過中心周波数が中間周波数に設定さ
れ、信号合成器の合成信号から中間周波数の信号成分を
抽出するバンドパスフィルタと、バンドパスフィルタの
出力信号から得られる出力ジッタ量とジッタ発生器から
得られる入力ジッタ量とから被測定装置のジッタ伝達特
性を評価する演算部とを備えている。
【００１５】また、別の発明においては、上記発明にお
けるジッタ伝達特性測定装置の各手段に加えて、バンド
パスフィルタの温度を検出する温度検出手段と、バンド
パスフィルタの通過中心周波数と温度との関係をデータ
として記憶する温度特性テーブルと、温度特性テーブル
を用いて第２の信号発生器が出力する中間周波数を温度
検出手段にて検出された温度に対応する通過中心周波数
に修正する中間周波数修正手段とを備えている。
けるジッタ伝達特性測定装置の各手段に加えて、バンド
パスフィルタの温度を検出する温度検出手段と、バンド
パスフィルタの通過中心周波数と温度との関係をデータ
として記憶する温度特性テーブルと、温度特性テーブル
を用いて第２の信号発生器が出力する中間周波数を温度
検出手段にて検出された温度に対応する通過中心周波数
に修正する中間周波数修正手段とを備えている。
【００１６】
【作用】このように構成されたジッタ伝達特性測定装置
においては、ジッタ発生器は入力信号を第１の信号発生
器から送出された変調信号の変調周波数でジッタ変調を
行ってジッタ試験信号として被測定装置へ印加する。ジ
ッタ検出器は被測定装置を経由したジッタ試験信号から
ジッタ量を検出してジッタ検出信号を出力する。
においては、ジッタ発生器は入力信号を第１の信号発生
器から送出された変調信号の変調周波数でジッタ変調を
行ってジッタ試験信号として被測定装置へ印加する。ジ
ッタ検出器は被測定装置を経由したジッタ試験信号から
ジッタ量を検出してジッタ検出信号を出力する。
【００１７】このジッタ検出信号は信号合成器で第２の
信号発生器から出力された変調周波数に中間周波数を加
算した周波数を有するローカル信号と信号合成される。
この信号合成器にて変調周波数成分が相殺されて、信号
合成器から出力される合成信号はジッタ量に対応した中
間周波数の信号成分のみが含まれる。変調周波数は変化
するが中間周波数はほぼ固定である。したがって、この
合成信号を通過中心周波数が中間周波数に設定されたバ
ンドパスフィルタ（ＢＰＦ）にて変調周波数成分以外の
位相ゆらぎ等に起因する高周波成分を除去でき、測定さ
れたジッタ伝達特性のダイナミックレンジを広くでき、
測定精度が向上する。
信号発生器から出力された変調周波数に中間周波数を加
算した周波数を有するローカル信号と信号合成される。
この信号合成器にて変調周波数成分が相殺されて、信号
合成器から出力される合成信号はジッタ量に対応した中
間周波数の信号成分のみが含まれる。変調周波数は変化
するが中間周波数はほぼ固定である。したがって、この
合成信号を通過中心周波数が中間周波数に設定されたバ
ンドパスフィルタ（ＢＰＦ）にて変調周波数成分以外の
位相ゆらぎ等に起因する高周波成分を除去でき、測定さ
れたジッタ伝達特性のダイナミックレンジを広くでき、
測定精度が向上する。
【００１８】また、別の発明においては、前記中間周波
数成分を抽出するバンドパスフィルタの通過中心周波数
の温度特性を温度特性テーブルに記憶保持している。そ
して、温度が変化した場合は、第２の信号発生器のロー
カル信号における中間周波数を変化後の温度に対応する
通過中心周波数に一致させている。よって、たとえ周囲
温度変化に起因してバンドパスフィルタの通過中心周波
数が変化したとしても、このバンドパスフィルタから常
に正しい中間周波数成分を含んだ出力信号が得られるの
で、最終的に得られるジッタ伝達特性の測定精度をさら
に向上できる。
数成分を抽出するバンドパスフィルタの通過中心周波数
の温度特性を温度特性テーブルに記憶保持している。そ
して、温度が変化した場合は、第２の信号発生器のロー
カル信号における中間周波数を変化後の温度に対応する
通過中心周波数に一致させている。よって、たとえ周囲
温度変化に起因してバンドパスフィルタの通過中心周波
数が変化したとしても、このバンドパスフィルタから常
に正しい中間周波数成分を含んだ出力信号が得られるの
で、最終的に得られるジッタ伝達特性の測定精度をさら
に向上できる。
【００１９】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。図１は実施例のジッタ伝達特性測定装置の概略構成
を示すブロック図である。図７に示すジッタ伝達特性測
定装置と同一部分には同一符号が付してある。したがっ
て、重複する部分の詳細説明は省略されている。
る。図１は実施例のジッタ伝達特性測定装置の概略構成
を示すブロック図である。図７に示すジッタ伝達特性測
定装置と同一部分には同一符号が付してある。したがっ
て、重複する部分の詳細説明は省略されている。
【００２０】例えば水晶発振器等の基準発振器２１から
出力された基準周波数ｆR を有する基準信号ｈは第１の
信号発生器２２及び第２の信号発生器２３へ入力され
る。第１の信号発生器２２は、例えば図２に示すよう
に、位相アキュムレータ２２ａ、加算器２２ｂ、波形メ
モリ２２ｃ、Ｄ／Ａ変換器２２ｄ、位相制御部２２ｅ及
び制御端子２２ｆからなる一種の周波数合成器（シンセ
サイザ）で構成されている。なお、この第１の信号発生
器２２として、ＤＤＳ（ダイレクト・ディジタル・シン
セサイザ）を使用することも可能である。
出力された基準周波数ｆR を有する基準信号ｈは第１の
信号発生器２２及び第２の信号発生器２３へ入力され
る。第１の信号発生器２２は、例えば図２に示すよう
に、位相アキュムレータ２２ａ、加算器２２ｂ、波形メ
モリ２２ｃ、Ｄ／Ａ変換器２２ｄ、位相制御部２２ｅ及
び制御端子２２ｆからなる一種の周波数合成器（シンセ
サイザ）で構成されている。なお、この第１の信号発生
器２２として、ＤＤＳ（ダイレクト・ディジタル・シン
セサイザ）を使用することも可能である。
【００２１】この場合、入力された基準周波数ｆR に対
して制御端子２２ｆに入力された制御信号ｎ1 が指定す
る３２ビットの指定周波数値に基づいて、乗算加減演算
を行って、波形メモリ２２ｃから順番に波形値を読出し
てＤ／Ａ変換器で指定周波数を有するアナログの信号を
出力する。この時の設定データと出力周波数の関係はｆ
m ＝（ｆR ／２32）ｎ1 の関係を有する。
して制御端子２２ｆに入力された制御信号ｎ1 が指定す
る３２ビットの指定周波数値に基づいて、乗算加減演算
を行って、波形メモリ２２ｃから順番に波形値を読出し
てＤ／Ａ変換器で指定周波数を有するアナログの信号を
出力する。この時の設定データと出力周波数の関係はｆ
m ＝（ｆR ／２32）ｎ1 の関係を有する。
【００２２】このように、第１の信号発生器２２は制御
端子２２ｆに測定制御部２８から印加された制御信号ｎ
1 が指定する周波数を有した信号を出力する。第２の信
号発生器２３も第１の信号発生器２２と同一構成を有し
ており、測定制御部２８から印加された制御信号ｎ2 が
指定する周波数を有した信号を出力する。
端子２２ｆに測定制御部２８から印加された制御信号ｎ
1 が指定する周波数を有した信号を出力する。第２の信
号発生器２３も第１の信号発生器２２と同一構成を有し
ており、測定制御部２８から印加された制御信号ｎ2 が
指定する周波数を有した信号を出力する。
【００２３】そして、第１の信号発生器２２は変調周波
数ｆm を有する変調信号ｅをシッタ発生器２へ印加す
る。また、第２の信号発生器２３は前記変調周波数ｆm
に対して予め定められた固定の中間周波数αを加算した
周波数（ｆm ＋α）を有するローカル信号ｉを信号合成
器２４へ印加する。第１，第２の変調周波数ｆm は測定
制御部２８からの制御信号ｎ1 ，ｎ2 によって連動して
変化する。
数ｆm を有する変調信号ｅをシッタ発生器２へ印加す
る。また、第２の信号発生器２３は前記変調周波数ｆm
に対して予め定められた固定の中間周波数αを加算した
周波数（ｆm ＋α）を有するローカル信号ｉを信号合成
器２４へ印加する。第１，第２の変調周波数ｆm は測定
制御部２８からの制御信号ｎ1 ，ｎ2 によって連動して
変化する。
【００２４】また、外部の発振器１０から出力される搬
送周波数ｆC を有する入力信号ｄがジッタ発生器２へ入
力される。ジッタ発生器２は、入力信号ｄを変調信号ｅ
でジッタ変調して、ジッタ試験信号ａとして被測定装置
３へ印加する。また、被測定装置３に印加されるジッタ
試験信号ａを被測定装置３を通さずにジッタ検出器４で
検出し、入力ジッタ量ＪT として演算部５へ送出する。
送周波数ｆC を有する入力信号ｄがジッタ発生器２へ入
力される。ジッタ発生器２は、入力信号ｄを変調信号ｅ
でジッタ変調して、ジッタ試験信号ａとして被測定装置
３へ印加する。また、被測定装置３に印加されるジッタ
試験信号ａを被測定装置３を通さずにジッタ検出器４で
検出し、入力ジッタ量ＪT として演算部５へ送出する。
【００２５】ジッタ検出器４は被測定装置３を経由した
ジッタ試験信号ｂのジッタ量を検出してジッタ検出信号
ｇを次の信号合成器２４へ送出する。なお、被測定装置
３の入出力端子間にはジッタ量を校正するときに用いる
短絡スイッチ２５が接続されている。
ジッタ試験信号ｂのジッタ量を検出してジッタ検出信号
ｇを次の信号合成器２４へ送出する。なお、被測定装置
３の入出力端子間にはジッタ量を校正するときに用いる
短絡スイッチ２５が接続されている。
【００２６】信号合成器２４はジッタ検出器４から出力
されたジッタ検出信号ｇと第２の信号発生器２３から出
力されたローカル信号ｉとを信号合成して、合成信号ｊ
を出力する。ジッタ検出器４から出力されるジッタ検出
信号ｇにはジッタ量に対応する変調周波数ｆm 成分が含
まれ、第２の信号発生器２３から出力されるローカル信
号ｉには変調周波数ｆm と中間周波数αとを加算した周
波数（ｆm ＋α）成分が含まれるので、信号合成するこ
とによって、変調周波数ｆm 成分が相殺され、合成信号
ｊにはジッタ量に対応する中間周波数αの成分のみが残
る。
されたジッタ検出信号ｇと第２の信号発生器２３から出
力されたローカル信号ｉとを信号合成して、合成信号ｊ
を出力する。ジッタ検出器４から出力されるジッタ検出
信号ｇにはジッタ量に対応する変調周波数ｆm 成分が含
まれ、第２の信号発生器２３から出力されるローカル信
号ｉには変調周波数ｆm と中間周波数αとを加算した周
波数（ｆm ＋α）成分が含まれるので、信号合成するこ
とによって、変調周波数ｆm 成分が相殺され、合成信号
ｊにはジッタ量に対応する中間周波数αの成分のみが残
る。
【００２７】この合成信号ｊは次のＢＰＦ（バンドパス
フィルタ）２６へ入力される。このＢＰＦ２６の通過中
心周波数ＦC は第２の信号発生器２３で設定される中間
周波数αに設定されている。したがって、このＢＰＦ２
６は信号合成器２４から出力された合成信号ｊに含まれ
る中間周波数α以外の位相ゆらぎ等に起因する高周波雑
音やレベル変動等に起因する低周波雑音が除去される。
フィルタ）２６へ入力される。このＢＰＦ２６の通過中
心周波数ＦC は第２の信号発生器２３で設定される中間
周波数αに設定されている。したがって、このＢＰＦ２
６は信号合成器２４から出力された合成信号ｊに含まれ
る中間周波数α以外の位相ゆらぎ等に起因する高周波雑
音やレベル変動等に起因する低周波雑音が除去される。
【００２８】ＢＰＦ２６の出力信号ｋはｐ−ｐ検出器２
７へ入力される。ｐ−ｐ検出器２７は出力信号ｋのｐ−
ｐ値を検出して演算部５へ送出する。演算部５は、一種
のマイクロコンピュータで構成されており、入力ジッタ
量ＪT と出力ジッタ量ＪR とから下式で示すジッタ伝達
特性ＴＧを算出する。
７へ入力される。ｐ−ｐ検出器２７は出力信号ｋのｐ−
ｐ値を検出して演算部５へ送出する。演算部５は、一種
のマイクロコンピュータで構成されており、入力ジッタ
量ＪT と出力ジッタ量ＪR とから下式で示すジッタ伝達
特性ＴＧを算出する。
【００２９】ＴＧ＝２０ log［ＪR ／ＪT ］ そして、測定制御部２８からの制御信号ｎ1 ，ｎ2 にて
第１信号発生器２２から出力される変調信号ｅの変調周
波数ｆm 及び第２の信号発生器２３から出力されるロー
カル信号ｉの周波数（ｆm ＋α）のうちの変調周波数ｆ
m を同期させて測定周波数範囲に亘って走査させる。そ
して、この走査過程における各変調周波数ｆm における
ジッタ伝達特性ＴＧを測定して、この測定されたジッタ
伝達特性ＴＧが規格値以下であることを確認する。
第１信号発生器２２から出力される変調信号ｅの変調周
波数ｆm 及び第２の信号発生器２３から出力されるロー
カル信号ｉの周波数（ｆm ＋α）のうちの変調周波数ｆ
m を同期させて測定周波数範囲に亘って走査させる。そ
して、この走査過程における各変調周波数ｆm における
ジッタ伝達特性ＴＧを測定して、この測定されたジッタ
伝達特性ＴＧが規格値以下であることを確認する。
【００３０】このように構成されたジッタ伝達特性測定
装置においては、ジッタ発生器２は入力信号ｄを第１の
信号発生器２２から送出された変調信号ｃの変調周波数
ｆmでジッタ変調を行ってジッタ試験信号ａとして被測
定装置３へ印加する。ジッタ検出器４は被測定装置３を
経由したジッタ試験信号ｂからジッタ量を検出してジッ
タ検出信号ｇを出力する。ジッタ検出信号ｇは信号合成
器２４で第２の信号発生器２３から出力された変調周波
数ｆm に中間周波数αを加算した周波数（ｆm＋α）を
有するローカル信号ｉと信号合成される。その結果、信
号合成器２４にて変調周波数成分が相殺されて、信号合
成器２４から出力される合成信号ｊはジッタ量に対応し
た中間周波数αの信号成分のみが含まれる。
装置においては、ジッタ発生器２は入力信号ｄを第１の
信号発生器２２から送出された変調信号ｃの変調周波数
ｆmでジッタ変調を行ってジッタ試験信号ａとして被測
定装置３へ印加する。ジッタ検出器４は被測定装置３を
経由したジッタ試験信号ｂからジッタ量を検出してジッ
タ検出信号ｇを出力する。ジッタ検出信号ｇは信号合成
器２４で第２の信号発生器２３から出力された変調周波
数ｆm に中間周波数αを加算した周波数（ｆm＋α）を
有するローカル信号ｉと信号合成される。その結果、信
号合成器２４にて変調周波数成分が相殺されて、信号合
成器２４から出力される合成信号ｊはジッタ量に対応し
た中間周波数αの信号成分のみが含まれる。
【００３１】この場合、変調周波数ｆm は測定制御部２
８からの制御信号ｎ1 ，ｎ2 にて測定周波数全域に亘っ
て順次変化していくが、中間周波数αは固定値である。
したがって、信号合成器２４の合成信号ｊを、通過中心
周波数ＦC が中間周波数αに設定されたＢＰＦ２６を通
過させることによって、ジッタ量に対応する合成信号ｊ
に含まれる中間周波数α以外の位相ゆらぎ等に起因する
高周波雑音やレベル変動等に起因する低周波雑音が除去
される。
８からの制御信号ｎ1 ，ｎ2 にて測定周波数全域に亘っ
て順次変化していくが、中間周波数αは固定値である。
したがって、信号合成器２４の合成信号ｊを、通過中心
周波数ＦC が中間周波数αに設定されたＢＰＦ２６を通
過させることによって、ジッタ量に対応する合成信号ｊ
に含まれる中間周波数α以外の位相ゆらぎ等に起因する
高周波雑音やレベル変動等に起因する低周波雑音が除去
される。
【００３２】このように、ジッタ検出器４で検出された
ジッタ検出信号ｇを中間周波数αのみを含む中間周波数
信号（合成信号ｊ）に変換することによって、ＢＰＦ２
６の通過中心周波数ＦC を変調周波数ｆm の変化に対応
して変化させる必要がなく、簡単な構成で、測定された
ジッタ伝達特性ＴＧのダイナミックレンジを広くでき、
測定精度を向上させることができる。
ジッタ検出信号ｇを中間周波数αのみを含む中間周波数
信号（合成信号ｊ）に変換することによって、ＢＰＦ２
６の通過中心周波数ＦC を変調周波数ｆm の変化に対応
して変化させる必要がなく、簡単な構成で、測定された
ジッタ伝達特性ＴＧのダイナミックレンジを広くでき、
測定精度を向上させることができる。
【００３３】図３は本発明の他の実施例に係わるジッタ
伝達特性測定装置の概略構成を示すブロック図である。
図１に示す実施例装置と同一部分には同一符号が付して
ある。したがって、重複する部分の詳細説明を省略す
る。
伝達特性測定装置の概略構成を示すブロック図である。
図１に示す実施例装置と同一部分には同一符号が付して
ある。したがって、重複する部分の詳細説明を省略す
る。
【００３４】この実施例装置における信号合成器２４の
合成信号ｊが入力されるＢＰＦ（バンドパスフィルタ）
は、例えば図４に示すように、３つの抵抗３０ａ，３０
ｂ，３０ｃと２つのコンデンサ３０ｄ，３０ｅと一つの
ＯＰアンプ３０ｆから構成された最も簡単でかつ安価な
ＢＰＦである。このような、Ｒ，Ｃ，ＯＰアンブ等で構
成されたＢＰＦ３０において、図５に示すように、通過
周波数帯域幅ＷB を例えば４０Hz以下の非常に狭い幅に
設定すると、抵抗，コンデンサの温度特性によって、通
過中心周波数ＦC が周囲の温度Ｔの変化に応じて簡単に
変化する。
合成信号ｊが入力されるＢＰＦ（バンドパスフィルタ）
は、例えば図４に示すように、３つの抵抗３０ａ，３０
ｂ，３０ｃと２つのコンデンサ３０ｄ，３０ｅと一つの
ＯＰアンプ３０ｆから構成された最も簡単でかつ安価な
ＢＰＦである。このような、Ｒ，Ｃ，ＯＰアンブ等で構
成されたＢＰＦ３０において、図５に示すように、通過
周波数帯域幅ＷB を例えば４０Hz以下の非常に狭い幅に
設定すると、抵抗，コンデンサの温度特性によって、通
過中心周波数ＦC が周囲の温度Ｔの変化に応じて簡単に
変化する。
【００３５】ＢＰＦ３０の通過中心周波数ＦC は温度Ｔ
が例えば室温（Ｔ＝２５°Ｃ）に制御された状態におい
て、予め設定された中間周波数α25に設定されている。
そして、温度Ｔが変化すると、例えば図６に示すよう
に、通過中心周波数ＦC が変化する。
が例えば室温（Ｔ＝２５°Ｃ）に制御された状態におい
て、予め設定された中間周波数α25に設定されている。
そして、温度Ｔが変化すると、例えば図６に示すよう
に、通過中心周波数ＦC が変化する。
【００３６】このＢＰＦ３０内には図示しない温度セン
サが組込まれており、この温度センサの検出信号は図３
における温度検出器３１で温度Ｔに変換されて中間周波
数制御部３２へ入力される。この中間周波数制御部３２
内には、温度特性テーブル３３が記憶されている。
サが組込まれており、この温度センサの検出信号は図３
における温度検出器３１で温度Ｔに変換されて中間周波
数制御部３２へ入力される。この中間周波数制御部３２
内には、温度特性テーブル３３が記憶されている。
【００３７】この温度特性テーブル３３内には、図６に
示すＢＰＦ３０の通過中心周波数ＦC と温度Ｔとの関係
を示す温度特性がテーブルの形式で記憶されている。中
間周波数制御部３２は温度検出器３１から温度Ｔが入力
されると、温度特性テーブル３３から該当温度Ｔに対応
する通過中心周波数ＦC を検索して、この通過中心周波
数ＦC を中間周波数設定信号ｍとして測定制御部２８ａ
へ送出する。
示すＢＰＦ３０の通過中心周波数ＦC と温度Ｔとの関係
を示す温度特性がテーブルの形式で記憶されている。中
間周波数制御部３２は温度検出器３１から温度Ｔが入力
されると、温度特性テーブル３３から該当温度Ｔに対応
する通過中心周波数ＦC を検索して、この通過中心周波
数ＦC を中間周波数設定信号ｍとして測定制御部２８ａ
へ送出する。
【００３８】測定制御部２８ａは第１の信号発生器２２
に対して変調周波数ｆm を指定する制御信号ｎ1 を送出
する。また測定制御部２８ａは、第２の信号発生器２３
に対して、第１の信号発生器２２に対する変調周波数ｆ
m と同一の変調周波数ｆm に中間周波数制御部３２から
出力された中間周波数設定信号ｍの通過中心周波数ＦC
に等しい中間周波数αを加算した周波数（ｆm ＋α）を
指定する制御信号ｎ2を送出する。
に対して変調周波数ｆm を指定する制御信号ｎ1 を送出
する。また測定制御部２８ａは、第２の信号発生器２３
に対して、第１の信号発生器２２に対する変調周波数ｆ
m と同一の変調周波数ｆm に中間周波数制御部３２から
出力された中間周波数設定信号ｍの通過中心周波数ＦC
に等しい中間周波数αを加算した周波数（ｆm ＋α）を
指定する制御信号ｎ2を送出する。
【００３９】その結果、第２の信号発生器２３からＢＰ
Ｆ３０の温度Ｔに対応して変化する中間周波数αを含む
周波数（ｆm ＋α）を有するローカル信号ｉが信号合成
器２４へ送出される。
Ｆ３０の温度Ｔに対応して変化する中間周波数αを含む
周波数（ｆm ＋α）を有するローカル信号ｉが信号合成
器２４へ送出される。
【００４０】このように構成されたジッタ伝達特性測定
装置においては、たとえＢＰＦ３０の周囲の温度Ｔが大
きく変化して通過中心周波数ＦC が変化したとしても、
第２の信号発生器２３から出力されるローカル信号ｉの
中間周波数αは常にＢＰＦ３０の通過中心周波数ＦC に
一致している。
装置においては、たとえＢＰＦ３０の周囲の温度Ｔが大
きく変化して通過中心周波数ＦC が変化したとしても、
第２の信号発生器２３から出力されるローカル信号ｉの
中間周波数αは常にＢＰＦ３０の通過中心周波数ＦC に
一致している。
【００４１】なお、第１，第２の信号発生器２２，２３
は図２に示したようにディジタル回路のシンセサイザで
構成されているので、たとえ周囲温度が変化したとして
も、出力周波数ｆm ，（ｆm ＋α）はほとんど変化しな
い。
は図２に示したようにディジタル回路のシンセサイザで
構成されているので、たとえ周囲温度が変化したとして
も、出力周波数ｆm ，（ｆm ＋α）はほとんど変化しな
い。
【００４２】したがって、たとえ図４に示すような簡単
でかつ安価な構成のＢＰＦ３０を用いたとしても、ジッ
タ量に対応する合成信号ｉに含まれる中間周波数α以外
の位相ゆらぎ等に起因する高周波雑音やレベル変動等に
起因する低周波雑音をより確実に除去でき、より安価な
回路部品を用いた簡単な構成で、測定されたジッタ伝達
特性ＴＧのダイナミックレンジを広くでき、測定精度を
より一層向上させることができる。
でかつ安価な構成のＢＰＦ３０を用いたとしても、ジッ
タ量に対応する合成信号ｉに含まれる中間周波数α以外
の位相ゆらぎ等に起因する高周波雑音やレベル変動等に
起因する低周波雑音をより確実に除去でき、より安価な
回路部品を用いた簡単な構成で、測定されたジッタ伝達
特性ＴＧのダイナミックレンジを広くでき、測定精度を
より一層向上させることができる。
【００４３】
【発明の効果】以上説明したように本発明ジッタ伝達特
性測定装置においては、ジッタ検出器から出力されるジ
ッタ検出信号を変調周波数と中間周波数とを加算した周
波数を有するローカル信号と信号合成することによっ
て、このジッタ検出信号を中間周波数のみを有するジッ
タ量に対応する合成信号に変換している。
性測定装置においては、ジッタ検出器から出力されるジ
ッタ検出信号を変調周波数と中間周波数とを加算した周
波数を有するローカル信号と信号合成することによっ
て、このジッタ検出信号を中間周波数のみを有するジッ
タ量に対応する合成信号に変換している。
【００４４】したがって、この合成信号に含まれる位相
ゆらぎ等に起因する高周波雑音を通過中心周波数が中間
周波数に設定されたバンドパスフィルタで簡単に除去で
き、測定されたシッタ伝達特性のダイナミックレンジを
拡大でき、かつ高い測定精度を得ることができる。
ゆらぎ等に起因する高周波雑音を通過中心周波数が中間
周波数に設定されたバンドパスフィルタで簡単に除去で
き、測定されたシッタ伝達特性のダイナミックレンジを
拡大でき、かつ高い測定精度を得ることができる。
【００４５】また、上記バンドパスフィルタの通過中心
周波数の温度変化に連動してローカル信号に含まれる中
間周波数を変化させている。したがって、たとえバンド
パスフィルタの温度が大きく変化して通過中心周波数が
変化したとしても、第２の信号発生器から出力されるロ
ーカル信号の中間周波数は常にバンドパスフィルタの通
過中心周波数に一致している。その結果、シッタ伝達特
性の測定精度をより一層向上できる。
周波数の温度変化に連動してローカル信号に含まれる中
間周波数を変化させている。したがって、たとえバンド
パスフィルタの温度が大きく変化して通過中心周波数が
変化したとしても、第２の信号発生器から出力されるロ
ーカル信号の中間周波数は常にバンドパスフィルタの通
過中心周波数に一致している。その結果、シッタ伝達特
性の測定精度をより一層向上できる。
【図１】 本発明の一実施例に係わるジッタ伝達特性測
定装置の概略構成を示すブロック図
定装置の概略構成を示すブロック図
【図２】 同実施例装置における第１の信号発生器の概
略構成を示すブロック図
略構成を示すブロック図
【図３】 本発明の他の実施例に係わるジッタ伝達特性
測定装置の概略構成を示すブロック図
測定装置の概略構成を示すブロック図
【図４】 同実施例装置におけるバンドパスフィルタの
概略構成図
概略構成図
【図５】 同バンドパスフィルタの周波数特性図
【図６】 同バンドパスフィルタの通過中心周波数の温
度特性図
度特性図
【図７】 従来のジッタ伝達特性測定装置の概略構成を
示すブロック図
示すブロック図
【図８】 ジッタ量を説明するための波形図
【図９】 従来装置におけるジッタ検出器に組込まれた
バンドパスフィルタの周波数特性図
バンドパスフィルタの周波数特性図
【図１０】 従来装置で測定されたジッタ伝達特性図
【図１１】 別の従来のジッタ伝達特性測定装置の要部
を取出して示す部分ブロック図
を取出して示す部分ブロック図
２…ジッタ発生器、３…被測定装置、４…ジッタ検出
器、５…演算部、１０…発振器、２１…基準発振器、２
２…第１の信号発生器、２３…第２の信号発生器、２４
…信号合成器、２５…短絡スイッチ、２６，３０…ＢＰ
Ｆ（バンドパスフィルタ）、２７…ｐ−ｐ検出器、２
８，２８ａ…測定制御部、３１…温度検出器、３２…中
間周波数制御部、３３…温度特性テーブル
器、５…演算部、１０…発振器、２１…基準発振器、２
２…第１の信号発生器、２３…第２の信号発生器、２４
…信号合成器、２５…短絡スイッチ、２６，３０…ＢＰ
Ｆ（バンドパスフィルタ）、２７…ｐ−ｐ検出器、２
８，２８ａ…測定制御部、３１…温度検出器、３２…中
間周波数制御部、３３…温度特性テーブル
Claims (2)
- 【請求項１】 変調周波数を有する変調信号を発生する
第１の信号発生器(22)と、 この第１の信号発生器から出力される変調信号の変調周
波数に中間周波数を加算した周波数を有するローカル信
号を発生する第２の信号発器(23)と、 外部から入力した入力信号を前記変調信号でジッタ変調
して変調したジッタ試験信号を被測定装置(3) へ印加す
るジッタ発生器(2) と、 前記被測定装置を経由したジッタ試験信号のジッタ量を
検出してジッタ検出信号を出力するジッタ検出器(4)
と、 このジッタ検出器から出力されたジッタ検出信号と前記
第２の信号発生器から出力されたローカル信号とを信号
合成して合成信号を出力する信号合成器(24)と、 通過中心周波数が前記中間周波数に設定され、前記信号
合成器の合成信号から前記中間周波数の信号成分を抽出
するバンドパスフィルタ(26)と、 このバンドパスフィルタの出力信号から得られる出力ジ
ッタ量と前記ジッタ発生器から得られる入力ジッタ量と
から前記被測定装置のジッタ伝達特性を評価する演算部
(5) とを備えたジッタ伝達特性測定装置。 - 【請求項２】 前記バンドパスフィルタの温度を検出す
る温度検出手段(31)と、 前記バンドパスフィルタの通過中心周波数と温度との関
係をデータとして記憶する温度特性テーブル(33)と、 この温度特性テーブルを用いて前記第２の信号発生器が
出力する中間周波数を前記温度検出手段にて検出された
温度に対応する通過中心周波数に修正する中間周波数修
正手段(32,28a)とを備えた請求項１記載のジッタ伝達特
性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7029607A JP3051039B2 (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | ジッタ伝達特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7029607A JP3051039B2 (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | ジッタ伝達特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08220163A true JPH08220163A (ja) | 1996-08-30 |
| JP3051039B2 JP3051039B2 (ja) | 2000-06-12 |
Family
ID=12280760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7029607A Expired - Lifetime JP3051039B2 (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | ジッタ伝達特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3051039B2 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001048923A1 (fr) * | 1999-12-24 | 2001-07-05 | Anritsu Corporation | Generateur de merveille, testeur de ligne numerique comprenant ce generateur et analyseur de caracteristique de transfert de bruit de phase |
| JP2003512609A (ja) * | 1999-10-22 | 2003-04-02 | ベントリー・ネバダ・コーポレーション | ディジタル渦電流近接システム、装置および方法 |
| WO2003093846A1 (fr) * | 2002-04-29 | 2003-11-13 | Advantest Corporation | Dispositif et procede de mesure |
| JP2005070041A (ja) * | 2003-08-20 | 2005-03-17 | Agilent Technol Inc | ジッタ変調波形分析が可能なジッタのスペクトル分析 |
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| JP2009103717A (ja) * | 2002-02-26 | 2009-05-14 | Advantest Corp | 測定装置、及び測定方法 |
| DE102010000133A1 (de) | 2009-01-22 | 2010-09-02 | Anritsu Corp., Atsugi-shi | Vorrichtung zum Messen der Jittertransferkennlinie |
| CN105044460A (zh) * | 2015-09-18 | 2015-11-11 | 广东电网有限责任公司电力科学研究院 | 对电力信号序列进行零初相位余弦函数调制方法和系统 |
-
1995
- 1995-02-17 JP JP7029607A patent/JP3051039B2/ja not_active Expired - Lifetime
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|---|---|---|---|---|
| JP2003512609A (ja) * | 1999-10-22 | 2003-04-02 | ベントリー・ネバダ・コーポレーション | ディジタル渦電流近接システム、装置および方法 |
| US7206339B2 (en) | 1999-12-24 | 2007-04-17 | Anritsu Corporation | Wonder generator, digital line tester comprising the same, and phase noise transfer characteristic analyzer |
| WO2001048923A1 (fr) * | 1999-12-24 | 2001-07-05 | Anritsu Corporation | Generateur de merveille, testeur de ligne numerique comprenant ce generateur et analyseur de caracteristique de transfert de bruit de phase |
| US7450633B2 (en) | 1999-12-24 | 2008-11-11 | Anritsu Corporation | Wander generator, and digital line tester and phase noise transfer characteristic analyzer using the same |
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| US7054358B2 (en) | 2002-04-29 | 2006-05-30 | Advantest Corporation | Measuring apparatus and measuring method |
| WO2003093846A1 (fr) * | 2002-04-29 | 2003-11-13 | Advantest Corporation | Dispositif et procede de mesure |
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| JP2008514961A (ja) * | 2004-09-29 | 2008-05-08 | テラダイン・インコーポレーテッド | ジッタを測定する方法及び装置 |
| DE102010000133A1 (de) | 2009-01-22 | 2010-09-02 | Anritsu Corp., Atsugi-shi | Vorrichtung zum Messen der Jittertransferkennlinie |
| US8432958B2 (en) | 2009-01-22 | 2013-04-30 | Anritsu Corporation | Apparatus for measuring jitter transfer characteristic |
| DE102010000133B4 (de) | 2009-01-22 | 2019-07-04 | Anritsu Corp. | Vorrichtung zum Messen der Jittertransferkennlinie |
| CN105044460A (zh) * | 2015-09-18 | 2015-11-11 | 广东电网有限责任公司电力科学研究院 | 对电力信号序列进行零初相位余弦函数调制方法和系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3051039B2 (ja) | 2000-06-12 |
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