JPH08220180A - Ａｃコンセント配線試験装置 - Google Patents
Ａｃコンセント配線試験装置Info
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- JPH08220180A JPH08220180A JP7027852A JP2785295A JPH08220180A JP H08220180 A JPH08220180 A JP H08220180A JP 7027852 A JP7027852 A JP 7027852A JP 2785295 A JP2785295 A JP 2785295A JP H08220180 A JPH08220180 A JP H08220180A
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- wiring
- side wiring
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- circuit
- ground
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】接地Ｅされたアース側配線Ｎ、ホット側配線Ｈ
及び保護アース側配線Ｇが接続されているＡＣコンセン
ト１を介してホット側配線とアース側配線間及びホット
側配線と保護アース側配線間の電圧をそれぞれ検出する
第１、第２の電圧検出回路ＮＥ1、ＮＥ2と、第２の電圧
検出回路に接続されていたホット側配線をアース側配線
に切替える配線切替スイッチＳＷ1とを備えている。 【効果】アース側配線、ホット側配線及び保護アース側
配線の誤接続、誤切断が試験できる。
及び保護アース側配線Ｇが接続されているＡＣコンセン
ト１を介してホット側配線とアース側配線間及びホット
側配線と保護アース側配線間の電圧をそれぞれ検出する
第１、第２の電圧検出回路ＮＥ1、ＮＥ2と、第２の電圧
検出回路に接続されていたホット側配線をアース側配線
に切替える配線切替スイッチＳＷ1とを備えている。 【効果】アース側配線、ホット側配線及び保護アース側
配線の誤接続、誤切断が試験できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＡＣコンセント配線試
験装置に関し、特にアース側配線、ホット側配線及び保
護アース側配線の誤接続、誤切断等の総ての組合せを試
験できるＡＣコンセント配線試験装置に係わる。
験装置に関し、特にアース側配線、ホット側配線及び保
護アース側配線の誤接続、誤切断等の総ての組合せを試
験できるＡＣコンセント配線試験装置に係わる。
【０００２】
【従来技術】従来の、ＡＣコンセント配線試験装置は図
５に示すように電源トランス５０の接地Ｅが接続された
アース側配線Ｎ、ホット側配線Ｈ及び保護アース側配線
Ｇが接続されているＡＣコンセント５１、５５を有し、
このＡＣコンセント５１、５５に差込むプラグ６０を設
けたＡＣコンセント配線試験装置６１で構成されてい
る。
５に示すように電源トランス５０の接地Ｅが接続された
アース側配線Ｎ、ホット側配線Ｈ及び保護アース側配線
Ｇが接続されているＡＣコンセント５１、５５を有し、
このＡＣコンセント５１、５５に差込むプラグ６０を設
けたＡＣコンセント配線試験装置６１で構成されてい
る。
【０００３】例えば、ＡＣコンセント５１ではアース側
配線Ｎが接続されたＮ側刃受け５２、ホット側配線Ｈが
接続されたＨ側刃受け５３と保護アース側配線Ｇが接続
されたＧ側刃受け５４がそれぞれ正常に接続されてい
る。この正常に接続されている配線がＡＣコンセント５
５に示すように、Ｇ側刃受け５８がのようにアース側
配線Ｎに、Ｎ側刃受け５６がに示すように、保護アー
ス側配線Ｇにそれぞれ誤配線されると、接地Ｅと保護ア
ース線Ｇにおけ抵抗の電位差を利用し、これらの誤配線
を検出できるようになっている。
配線Ｎが接続されたＮ側刃受け５２、ホット側配線Ｈが
接続されたＨ側刃受け５３と保護アース側配線Ｇが接続
されたＧ側刃受け５４がそれぞれ正常に接続されてい
る。この正常に接続されている配線がＡＣコンセント５
５に示すように、Ｇ側刃受け５８がのようにアース側
配線Ｎに、Ｎ側刃受け５６がに示すように、保護アー
ス側配線Ｇにそれぞれ誤配線されると、接地Ｅと保護ア
ース線Ｇにおけ抵抗の電位差を利用し、これらの誤配線
を検出できるようになっている。
【０００４】なお、ホット側配線Ｈが接続されたＨ側刃
受け５３、５７は検電機能付きドライバ等で、誤配線さ
れているか否かを確認できる。
受け５３、５７は検電機能付きドライバ等で、誤配線さ
れているか否かを確認できる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のＡＣコンセント
配線試験装置ではＡＣコンセントのＧ側刃受けがアース
側配線Ｎと、Ｎ側刃受けが保護アース側配線Ｇにそれぞ
れ誤配線されているか否かを検出できるが、アース側配
線Ｎのアースと保護アース側配線Ｇのアースが建物等の
鉄骨に接続されている場合、アース側配線、ホット側配
線及び保護アース側配線の誤接続、誤切断等の総ての場
合を試験できないという難点がある。
配線試験装置ではＡＣコンセントのＧ側刃受けがアース
側配線Ｎと、Ｎ側刃受けが保護アース側配線Ｇにそれぞ
れ誤配線されているか否かを検出できるが、アース側配
線Ｎのアースと保護アース側配線Ｇのアースが建物等の
鉄骨に接続されている場合、アース側配線、ホット側配
線及び保護アース側配線の誤接続、誤切断等の総ての場
合を試験できないという難点がある。
【０００６】
【発明の目的】本発明は、上述した難点を解消するため
になされたもので、アース側配線のアースと保護アース
側配線のアースが建物等の鉄骨に接続されている場合を
含み、アース側配線、ホット側配線及び保護アース側配
線の誤接続、誤切断等の総ての場合を試験できるＡＣコ
ンセント配線試験装置を提供することを目的とする。
になされたもので、アース側配線のアースと保護アース
側配線のアースが建物等の鉄骨に接続されている場合を
含み、アース側配線、ホット側配線及び保護アース側配
線の誤接続、誤切断等の総ての場合を試験できるＡＣコ
ンセント配線試験装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明によるＡＣコンセント配線試験装置は、接地
されたアース側配線、ホット側配線及び保護アース側配
線が接続されているＡＣコンセントを介してホット側配
線とアース側配線間及びホット側配線と保護アース側配
線間の電圧をそれぞれ検出する第１、第２の電圧検出回
路と、第２の電圧検出回路に接続されていたホット側配
線をアース側配線に切替える配線切替スイッチとを備え
ている。
め、本発明によるＡＣコンセント配線試験装置は、接地
されたアース側配線、ホット側配線及び保護アース側配
線が接続されているＡＣコンセントを介してホット側配
線とアース側配線間及びホット側配線と保護アース側配
線間の電圧をそれぞれ検出する第１、第２の電圧検出回
路と、第２の電圧検出回路に接続されていたホット側配
線をアース側配線に切替える配線切替スイッチとを備え
ている。
【０００８】また、本発明によるＡＣコンセント配線試
験装置は、接地されたアース側配線、ホット側配線及び
保護アース側配線が接続されているＡＣコンセントへ送
出される周波数の異なる第１、第２の試験信号をそれぞ
れ発振し、第１の試験信号をアース側配線とホット側配
線間に、第２の試験信号をホット側配線と保護アース線
側配線間に送出する試験信号送信回路と、アース側配線
とホット側配線をクランプするＣＴトランス、ＣＴトラ
ンスに誘起された第１の試験信号又は第２の試験信号を
選択的に検出する検出回路及び検出回路で検出された第
１の試験信号又は第２の試験信号により試験信号受信表
示を行なう表示回路を有する試験信号受信回路とを備え
ている。
験装置は、接地されたアース側配線、ホット側配線及び
保護アース側配線が接続されているＡＣコンセントへ送
出される周波数の異なる第１、第２の試験信号をそれぞ
れ発振し、第１の試験信号をアース側配線とホット側配
線間に、第２の試験信号をホット側配線と保護アース線
側配線間に送出する試験信号送信回路と、アース側配線
とホット側配線をクランプするＣＴトランス、ＣＴトラ
ンスに誘起された第１の試験信号又は第２の試験信号を
選択的に検出する検出回路及び検出回路で検出された第
１の試験信号又は第２の試験信号により試験信号受信表
示を行なう表示回路を有する試験信号受信回路とを備え
ている。
【０００９】
【作用】接地されたアース側配線、ホット側配線及び保
護アース側配線が接続されているＡＣコンセントを介し
てホット側配線とアース側配線間及びホット側配線と保
護アース側配線間の電圧を第１、第２の電圧検出回路で
それぞれ検出する。第２の電圧検出回路に接続されてい
たホット側配線をアース側配線に配線切替スイッチで切
替える。
護アース側配線が接続されているＡＣコンセントを介し
てホット側配線とアース側配線間及びホット側配線と保
護アース側配線間の電圧を第１、第２の電圧検出回路で
それぞれ検出する。第２の電圧検出回路に接続されてい
たホット側配線をアース側配線に配線切替スイッチで切
替える。
【００１０】また、接地されたアース側配線、ホット側
配線及び保護アース側配線が接続されているＡＣコンセ
ントへ送出される周波数の異なる第１、第２の試験信号
をそれぞれ発振し、第１の試験信号をアース側配線とホ
ット側配線間に、第２の試験信号をホット側配線と保護
アース線側配線間に試験信号送信回路から送出する。ア
ース側配線とホット側配線をＣＴトランスでクランプす
る。
配線及び保護アース側配線が接続されているＡＣコンセ
ントへ送出される周波数の異なる第１、第２の試験信号
をそれぞれ発振し、第１の試験信号をアース側配線とホ
ット側配線間に、第２の試験信号をホット側配線と保護
アース線側配線間に試験信号送信回路から送出する。ア
ース側配線とホット側配線をＣＴトランスでクランプす
る。
【００１１】このＣＴトランスに誘起された第１の試験
信号又は第２の試験信号を試験信号受信回路に設けられ
た検出回路で選択的に検出する。検出回路で検出された
第１の試験信号又は第２の試験信号により試験信号受信
表示を行なう表示回路で表示する。このようにしてアー
ス側配線、ホット側配線及び保護アース側配線の誤接
続、誤切断等の総ての場合において試験できる。
信号又は第２の試験信号を試験信号受信回路に設けられ
た検出回路で選択的に検出する。検出回路で検出された
第１の試験信号又は第２の試験信号により試験信号受信
表示を行なう表示回路で表示する。このようにしてアー
ス側配線、ホット側配線及び保護アース側配線の誤接
続、誤切断等の総ての場合において試験できる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明によるＡＣコンセント配線試験
装置の一実施例を図面にしたがって詳述する。図１に示
すように、本発明によるＡＣコンセント配線試験装置
は、接地Ｅされたアース側配線Ｎ、ホット側配線Ｈ及び
保護アース側配線Ｇが接続されているＡＣコンセント１
を介してホット側配線とアース側配線間及びホット側配
線と保護アース側配線間の電圧をそれぞれ検出する第
１、第２の電圧検出回路ＮＥ1、ＮＥ2と、第２の電圧検
出回路に接続されていたホット側配線をアース側配線に
切替える配線切替スイッチＳＷ1とを備えている。
装置の一実施例を図面にしたがって詳述する。図１に示
すように、本発明によるＡＣコンセント配線試験装置
は、接地Ｅされたアース側配線Ｎ、ホット側配線Ｈ及び
保護アース側配線Ｇが接続されているＡＣコンセント１
を介してホット側配線とアース側配線間及びホット側配
線と保護アース側配線間の電圧をそれぞれ検出する第
１、第２の電圧検出回路ＮＥ1、ＮＥ2と、第２の電圧検
出回路に接続されていたホット側配線をアース側配線に
切替える配線切替スイッチＳＷ1とを備えている。
【００１３】また、接地Ｅされたアース側配線Ｎ、ホッ
ト側配線Ｈ及び保護アース側配線Ｇが接続されているＡ
Ｃコンセント１へ送出される周波数の異なる第１、第２
の試験信号ｆ1、ｆ2をそれぞれ発振し、第１の試験信号
をアース側配線とホット側配線間に、第２の試験信号を
ホット側配線と保護アース線側配線間に送出する試験信
号送信回路４と、アース側配線とホット側配線をクラン
プするＣＴトランス２０、ＣＴトランスに誘起された第
１の試験信号又は第２の試験信号を選択的に検出する検
出回路２１及び検出回路で検出された第１の試験信号又
は第２の試験信号により試験信号受信表示を行なう表示
回路２４、２７を有する試験信号受信回路３０とを備え
ている。
ト側配線Ｈ及び保護アース側配線Ｇが接続されているＡ
Ｃコンセント１へ送出される周波数の異なる第１、第２
の試験信号ｆ1、ｆ2をそれぞれ発振し、第１の試験信号
をアース側配線とホット側配線間に、第２の試験信号を
ホット側配線と保護アース線側配線間に送出する試験信
号送信回路４と、アース側配線とホット側配線をクラン
プするＣＴトランス２０、ＣＴトランスに誘起された第
１の試験信号又は第２の試験信号を選択的に検出する検
出回路２１及び検出回路で検出された第１の試験信号又
は第２の試験信号により試験信号受信表示を行なう表示
回路２４、２７を有する試験信号受信回路３０とを備え
ている。
【００１４】図１に示すように主装置ＥＱ1は電源１
５、第１試験信号ｆ1を発振する７５Ｈｚ発振器２、第
２試験信号ｆ2を発振する６２.５Ｈｚ発振器３を設けた
試験信号送信回路４、配線切替スイッチ監視回路５、配
線切替スイッチＳＷ1、Ｎ.Ｈ側ネオンランプＮＥ1、Ｇ.
Ｈ側ネオンランプＮＥ2、Ｎ.Ｈ側整流回路６、Ｎ.Ｈ側
Ａ／Ｄ変換回路７、Ｇ.Ｈ側整流回路８、Ｇ.Ｈ側Ａ／Ｄ
変換回路９、データ切替回路１０、メモリエリヤＭ1、
Ｍ2、Ｍ3、Ｍ4を有するデータメモリ１１、ＬＣＤイン
ターフェース１２及びＬＣＤ表示回路１３を備えてい
る。
５、第１試験信号ｆ1を発振する７５Ｈｚ発振器２、第
２試験信号ｆ2を発振する６２.５Ｈｚ発振器３を設けた
試験信号送信回路４、配線切替スイッチ監視回路５、配
線切替スイッチＳＷ1、Ｎ.Ｈ側ネオンランプＮＥ1、Ｇ.
Ｈ側ネオンランプＮＥ2、Ｎ.Ｈ側整流回路６、Ｎ.Ｈ側
Ａ／Ｄ変換回路７、Ｇ.Ｈ側整流回路８、Ｇ.Ｈ側Ａ／Ｄ
変換回路９、データ切替回路１０、メモリエリヤＭ1、
Ｍ2、Ｍ3、Ｍ4を有するデータメモリ１１、ＬＣＤイン
ターフェース１２及びＬＣＤ表示回路１３を備えてい
る。
【００１５】電源１５の（−）側は基準電位点に接続さ
れ、（＋）側は電源スイッチ１５ａを介して各回路に電
源＋Ｂを供給する。ＡＣコンセント１のＮ側刃受け１
ａ、Ｈ側刃受け１ｂ及びアース側刃受け１ｃには、それ
ぞれアース側配線Ｎ、ホット側配線Ｈ及び保護アース側
配線Ｇが接続されている。
れ、（＋）側は電源スイッチ１５ａを介して各回路に電
源＋Ｂを供給する。ＡＣコンセント１のＮ側刃受け１
ａ、Ｈ側刃受け１ｂ及びアース側刃受け１ｃには、それ
ぞれアース側配線Ｎ、ホット側配線Ｈ及び保護アース側
配線Ｇが接続されている。
【００１６】配線切替スイッチＳＷ1の一方の常閉接点
と他方の常開接点は相互に接続され、ヒユーズ１４ａを
介してＡＣコンセント１のＮ側刃受け１ａと接続されて
いる。配線切替スイッチＳＷ1の一方の常開接点と他方
の常閉接点は相互に接続され、ヒユーズ１４ｂを介して
ＡＣコンセント１のＨ側刃受け１ｂと接続されている。
ヒユーズ１４ａとヒユーズ１４ｂ及びアース側刃受け
１ｃのそれぞれの一端は試験信号送信回路４に設けられ
たコンデンサＣ1、Ｃ2、Ｃ3、Ｃ4を介して第１、第２の
発振器２、３の出力側と接続されている。
と他方の常開接点は相互に接続され、ヒユーズ１４ａを
介してＡＣコンセント１のＮ側刃受け１ａと接続されて
いる。配線切替スイッチＳＷ1の一方の常開接点と他方
の常閉接点は相互に接続され、ヒユーズ１４ｂを介して
ＡＣコンセント１のＨ側刃受け１ｂと接続されている。
ヒユーズ１４ａとヒユーズ１４ｂ及びアース側刃受け
１ｃのそれぞれの一端は試験信号送信回路４に設けられ
たコンデンサＣ1、Ｃ2、Ｃ3、Ｃ4を介して第１、第２の
発振器２、３の出力側と接続されている。
【００１７】配線切替スイッチＳＷ1の一方の切替接点
及び他方の切替接点は配線切替スイッチ監視回路５を介
してデータ切替回路１０の制御側と接続されている。配
線切替スイッチＳＷ1の一方の切替接点はネオンランプ
ＮＥ1の一端と接続され、他端は抵抗Ｒ3を介して抵抗Ｒ
2、Ｒ1を介して配線切替スイッチＳＷ1の他方の切替接
点と接続されている。
及び他方の切替接点は配線切替スイッチ監視回路５を介
してデータ切替回路１０の制御側と接続されている。配
線切替スイッチＳＷ1の一方の切替接点はネオンランプ
ＮＥ1の一端と接続され、他端は抵抗Ｒ3を介して抵抗Ｒ
2、Ｒ1を介して配線切替スイッチＳＷ1の他方の切替接
点と接続されている。
【００１８】ＡＣコンセント１のアース側刃受け１ｃは
ネオンランプＮＥ2の一端と接続され、他端は抵抗Ｒ2と
Ｒ1の接続点と接続されている。ネオンランプＮＥ1の他
端はＮ.Ｈ側整流回路６及びＮ.Ｈ側Ａ／Ｄ変換回路７を
介してデータ切替回路１０の一方のデータ切替側と接続
され、データ切替回路１０の一方の常閉側と常開側はデ
ータメモリ１１に設けられたメモリエリヤＭ1とＭ3に接
続されている。
ネオンランプＮＥ2の一端と接続され、他端は抵抗Ｒ2と
Ｒ1の接続点と接続されている。ネオンランプＮＥ1の他
端はＮ.Ｈ側整流回路６及びＮ.Ｈ側Ａ／Ｄ変換回路７を
介してデータ切替回路１０の一方のデータ切替側と接続
され、データ切替回路１０の一方の常閉側と常開側はデ
ータメモリ１１に設けられたメモリエリヤＭ1とＭ3に接
続されている。
【００１９】ネオンランプＮＥ2の他端はＧ.Ｈ側整流回
路８及びＧ.Ｈ側Ａ／Ｄ変換回路９を介してデータ切替
回路１０の他方のデータ切替側と接続され、データ切替
回路１０の他方の常閉側と常開側はデータメモリ１１に
設けられたメモリエリヤＭ2とＭ4に接続されている。デ
ータメモリ１１に設けられたメモリエリヤＭ1〜Ｍ4の出
力側はＬＣＤインターフェース１２を介してＬＣＤ表示
回路１３と接続されている。
路８及びＧ.Ｈ側Ａ／Ｄ変換回路９を介してデータ切替
回路１０の他方のデータ切替側と接続され、データ切替
回路１０の他方の常閉側と常開側はデータメモリ１１に
設けられたメモリエリヤＭ2とＭ4に接続されている。デ
ータメモリ１１に設けられたメモリエリヤＭ1〜Ｍ4の出
力側はＬＣＤインターフェース１２を介してＬＣＤ表示
回路１３と接続されている。
【００２０】試験信号受信回路３０はＣＴトランス２
０、アクティブフィルターで構成される検出回路２１、
第１試験信号増幅器２２、発光ダイオード駆動回路２
３、赤発光ダイオード２４、第２試験信号増幅器２５、
発光ダイオード駆動回路２６、緑発光ダイオード２７及
び電源２９を有し、電源２９の出力側は電源スイッチ２
９ａを介して電源＋Ｂを各回路へ供給する。
０、アクティブフィルターで構成される検出回路２１、
第１試験信号増幅器２２、発光ダイオード駆動回路２
３、赤発光ダイオード２４、第２試験信号増幅器２５、
発光ダイオード駆動回路２６、緑発光ダイオード２７及
び電源２９を有し、電源２９の出力側は電源スイッチ２
９ａを介して電源＋Ｂを各回路へ供給する。
【００２１】アース側配線Ｎとホット側配線Ｈをクラン
プするＣＴトランス２０の出力側は試験信号受信回路３
０に設けられた検出回路２１の入力側と接続されてい
る。検出回路２１の一方の出力側は第１試験信号増幅器
２２及び発光ダイオード駆動回路２３を介して赤発光ダ
イオード２４のアノードと接続され、赤発光ダイオード
２４のカソードは基準電位点と接続されている。
プするＣＴトランス２０の出力側は試験信号受信回路３
０に設けられた検出回路２１の入力側と接続されてい
る。検出回路２１の一方の出力側は第１試験信号増幅器
２２及び発光ダイオード駆動回路２３を介して赤発光ダ
イオード２４のアノードと接続され、赤発光ダイオード
２４のカソードは基準電位点と接続されている。
【００２２】検出回路２１の他方の出力側は第２試験信
号増幅器２５及び発光ダイオード駆動回路２６を介して
緑発光ダイオード２７のアノードと接続され、緑発光ダ
イオード２７のカソードは基準電位点と接続されてい
る。このようなＡＣコンセント配線試験装置において、
図１に示す主装置ＥＱ1の電源１５の電源スイッチ１５
ａと試験信号受信回路３０に設けられた電源２９の電源
スイッチ２９ａを閉成し試験を開始する。
号増幅器２５及び発光ダイオード駆動回路２６を介して
緑発光ダイオード２７のアノードと接続され、緑発光ダ
イオード２７のカソードは基準電位点と接続されてい
る。このようなＡＣコンセント配線試験装置において、
図１に示す主装置ＥＱ1の電源１５の電源スイッチ１５
ａと試験信号受信回路３０に設けられた電源２９の電源
スイッチ２９ａを閉成し試験を開始する。
【００２３】図１に示す主装置ＥＱ1の電源１５の電源
スイッチ１５ａを閉成すると、主装置ＥＱ1の各回路に
電源＋Ｂを供給する。配線切替スイッチＳＷ1がスイッ
チングされてない場合でネオンランプＮＥ1が点灯する
と、Ｎ.Ｈ側整流回路６及びＮ.Ｈ側Ａ／Ｄ変換回路７を
介してデータ切替回路１０の一方の切替側へデータが送
出され、データ切替回路１０の一方の常閉側からデータ
メモリ１１に設けられたメモリエリヤＭ1へデータが記
憶される。
スイッチ１５ａを閉成すると、主装置ＥＱ1の各回路に
電源＋Ｂを供給する。配線切替スイッチＳＷ1がスイッ
チングされてない場合でネオンランプＮＥ1が点灯する
と、Ｎ.Ｈ側整流回路６及びＮ.Ｈ側Ａ／Ｄ変換回路７を
介してデータ切替回路１０の一方の切替側へデータが送
出され、データ切替回路１０の一方の常閉側からデータ
メモリ１１に設けられたメモリエリヤＭ1へデータが記
憶される。
【００２４】同時にネオンランプＮＥ2が点灯している
と、Ｇ.Ｈ側整流回路８及びＧ.Ｈ側Ａ／Ｄ変換回路９を
介してデータ切替回路１０の他方の切替側へデータが送
出され、データ切替回路１０の他方の常閉側からデータ
メモリ１１に設けられたメモリエリヤＭ2へデータが記
憶される。この場合はメモリエリヤＭ3とＭ4へはデータ
が記憶されていない。
と、Ｇ.Ｈ側整流回路８及びＧ.Ｈ側Ａ／Ｄ変換回路９を
介してデータ切替回路１０の他方の切替側へデータが送
出され、データ切替回路１０の他方の常閉側からデータ
メモリ１１に設けられたメモリエリヤＭ2へデータが記
憶される。この場合はメモリエリヤＭ3とＭ4へはデータ
が記憶されていない。
【００２５】尚、メモリエリヤＭ3とＭ4は配線切替スイ
ッチＳＷ1がスイッチングされた場合に使用される。図
２に示すようにネオンランプＮＥ1、ＮＥ2が配線切替ス
イッチＳＷ1がスイッチングされてない場合（ＯＰ1）の
試験で点灯した試験ＴＭAは「１、１」となりＬＣＤ表
示回路１３に例えば「試験は正常」と表示される。「試
験は正常」には「Ｅ断でない」及び「保護アース側配線
Ｇ断線でない」の情報が含まれているので、配線切替ス
イッチＳＷ1がスイッチングされた場合のＯＰ2を実行す
る必要がないが、ＯＰ2を実行すれば「１、０」にな
る。
ッチＳＷ1がスイッチングされた場合に使用される。図
２に示すようにネオンランプＮＥ1、ＮＥ2が配線切替ス
イッチＳＷ1がスイッチングされてない場合（ＯＰ1）の
試験で点灯した試験ＴＭAは「１、１」となりＬＣＤ表
示回路１３に例えば「試験は正常」と表示される。「試
験は正常」には「Ｅ断でない」及び「保護アース側配線
Ｇ断線でない」の情報が含まれているので、配線切替ス
イッチＳＷ1がスイッチングされた場合のＯＰ2を実行す
る必要がないが、ＯＰ2を実行すれば「１、０」にな
る。
【００２６】なお、この「試験は正常」にはアース側配
線Ｎとホット側配線Ｇがリバースされている誤配線は含
まれていない。とに示すようにホット側配線Ｈとア
ース側配線Ｎがリバースされた誤配線では試験ＴＭBが
実行され、配線切替スイッチＳＷ1がスイッチングされ
てない状態（ＯＰ1）ではネオンランプＮＥ2が点灯せ
ず、ネオンランプＮＥ1が点灯する。
線Ｎとホット側配線Ｇがリバースされている誤配線は含
まれていない。とに示すようにホット側配線Ｈとア
ース側配線Ｎがリバースされた誤配線では試験ＴＭBが
実行され、配線切替スイッチＳＷ1がスイッチングされ
てない状態（ＯＰ1）ではネオンランプＮＥ2が点灯せ
ず、ネオンランプＮＥ1が点灯する。
【００２７】また、配線切替スイッチＳＷ1がスイッチ
ングされた状態（ＯＰ2）ではネオンランプＮＥ1とＮＥ
2が点灯し、試験ＴＭBは「１、０、１、１」となる。こ
れによりＬＣＤ表示回路１３には「ホット側配線Ｈとア
ース側配線Ｎがリバース」と表示される。試験ＴＭAと
同様「Ｅ断でない」及び「保護アース側配線Ｇ断線でな
い」の情報が含まれている。
ングされた状態（ＯＰ2）ではネオンランプＮＥ1とＮＥ
2が点灯し、試験ＴＭBは「１、０、１、１」となる。こ
れによりＬＣＤ表示回路１３には「ホット側配線Ｈとア
ース側配線Ｎがリバース」と表示される。試験ＴＭAと
同様「Ｅ断でない」及び「保護アース側配線Ｇ断線でな
い」の情報が含まれている。
【００２８】に示す保護アース側配線Ｇが断線の場合
は試験ＴＭCが実行され、ＯＰ1ではネオンランプＮＥ1
が点灯し、ネオンランプＮＥ2が点灯しないのでＯＰ1が
「１、０」となる。またＯＰ2でもネオンランプＮＥ1が
点灯し、ネオンランプＮＥ2が点灯しないのでＯＰ2も
「１、０」となり、ＬＣＤ表示回路１３には「保護アー
ス側配線Ｇ断線」と表示される。ＯＰ2が「０、１」の
場合は「Ｅ断」であるから、その旨、ＬＣＤ表示回路１
３に表示される。
は試験ＴＭCが実行され、ＯＰ1ではネオンランプＮＥ1
が点灯し、ネオンランプＮＥ2が点灯しないのでＯＰ1が
「１、０」となる。またＯＰ2でもネオンランプＮＥ1が
点灯し、ネオンランプＮＥ2が点灯しないのでＯＰ2も
「１、０」となり、ＬＣＤ表示回路１３には「保護アー
ス側配線Ｇ断線」と表示される。ＯＰ2が「０、１」の
場合は「Ｅ断」であるから、その旨、ＬＣＤ表示回路１
３に表示される。
【００２９】とに示すようホット側配線Ｈと保護ア
ース側配線Ｇがリバースになっている場合は、試験ＴＭ
Dとなり配線切替スイッチＳＷ1がスイッチングされてな
いＯＰ1ではネオンランプＮＥ1が点灯せず、ネオンラン
プＮＥ2が点灯するのでＯＰ1が「０、１」となる。ま
た、ＯＰ2でもネオンランプＮＥ1が点灯せず、ネオンラ
ンプＮＥ2だけが点灯するので、ＯＰ2も「０、１」とな
り、「ホット側配線Ｈと保護アース側配線Ｇがリバー
ス」とＬＣＤ表示回路１３で表示される。ＯＰ2が
「０、０」の場合は「Ｅ断」であるから、その旨、ＬＣ
Ｄ表示回路１３に表示される。
ース側配線Ｇがリバースになっている場合は、試験ＴＭ
Dとなり配線切替スイッチＳＷ1がスイッチングされてな
いＯＰ1ではネオンランプＮＥ1が点灯せず、ネオンラン
プＮＥ2が点灯するのでＯＰ1が「０、１」となる。ま
た、ＯＰ2でもネオンランプＮＥ1が点灯せず、ネオンラ
ンプＮＥ2だけが点灯するので、ＯＰ2も「０、１」とな
り、「ホット側配線Ｈと保護アース側配線Ｇがリバー
ス」とＬＣＤ表示回路１３で表示される。ＯＰ2が
「０、０」の場合は「Ｅ断」であるから、その旨、ＬＣ
Ｄ表示回路１３に表示される。
【００３０】つまり、ＯＰ1とＯＰ2による試験ＴＭAは
「１、１、１、０」、試験ＴＭBは「１、０、１、
１」、試験ＴＭCは「１、０、１、０」、試験ＴＭDは
「０、１、０、１」となり１回のＯＰ1、ＯＰ2で「Ｅ
断」を含めて試験結果が判明する。このため別に起動釦
を設け、ＯＰ1、ＯＰ2を予め定められた時間間隔で起動
すれば、配線切替スイッチＳＷ1のスイッチングを自動
化できる。
「１、１、１、０」、試験ＴＭBは「１、０、１、
１」、試験ＴＭCは「１、０、１、０」、試験ＴＭDは
「０、１、０、１」となり１回のＯＰ1、ＯＰ2で「Ｅ
断」を含めて試験結果が判明する。このため別に起動釦
を設け、ＯＰ1、ＯＰ2を予め定められた時間間隔で起動
すれば、配線切替スイッチＳＷ1のスイッチングを自動
化できる。
【００３１】図１に示す主装置ＥＱ1の電源１５の電源
スイッチ１５ａが閉成され、主装置ＥＱ1の各回路に電
源＋Ｂが供給されると、試験信号送信回路４に設けられ
た７５Ｈｚ発振器２と６２.５Ｈｚ発振器３が発振を開
始し、第１試験信号ｆ1をアース側配線Ｎとホット側配
線Ｈに、第２の試験信号ｆ2をホット側配線Ｈと保護ア
ース線側配線Ｇへコンデンサ−Ｃ1、Ｃ2、Ｃ3、Ｃ4を介
して送出する。
スイッチ１５ａが閉成され、主装置ＥＱ1の各回路に電
源＋Ｂが供給されると、試験信号送信回路４に設けられ
た７５Ｈｚ発振器２と６２.５Ｈｚ発振器３が発振を開
始し、第１試験信号ｆ1をアース側配線Ｎとホット側配
線Ｈに、第２の試験信号ｆ2をホット側配線Ｈと保護ア
ース線側配線Ｇへコンデンサ−Ｃ1、Ｃ2、Ｃ3、Ｃ4を介
して送出する。
【００３２】図３に示すように第１、第２試験信号
ｆ1、ｆ2をそれぞれアース側配線Ｎとホット側配線Ｈの
間とホット側配線Ｈと保護アース側配線Ｇにそれぞれ印
加すると第１試験信号ｆ1はアース側配線Ｎとホット側
配線ＨをクランプしているＣＴトランス２０では相互に
逆相となって打消され第２試験信号ｆ2が試験信号受信
回路３０に送出される。
ｆ1、ｆ2をそれぞれアース側配線Ｎとホット側配線Ｈの
間とホット側配線Ｈと保護アース側配線Ｇにそれぞれ印
加すると第１試験信号ｆ1はアース側配線Ｎとホット側
配線ＨをクランプしているＣＴトランス２０では相互に
逆相となって打消され第２試験信号ｆ2が試験信号受信
回路３０に送出される。
【００３３】試験信号受信回路３０の検出回路２１は、
入力された第２試験信号ｆ2を選択的に検出し、第２試
験信号増幅器２５及び発光ダイオード駆動回路２６を経
由して緑発光ダイオード２７へ送出するので緑発光ダイ
オード２７が発光し配線が正常であることを表示する。
図４のとに示すようにアース側配線Ｎと保護アース
側配線Ｇがリバースされている誤配線では第２試験信号
ｆ2がＣＴトランス２０では相互に逆相となって打消さ
れ第１試験信号ｆ1が試験信号受信回路３０に送出され
る。
入力された第２試験信号ｆ2を選択的に検出し、第２試
験信号増幅器２５及び発光ダイオード駆動回路２６を経
由して緑発光ダイオード２７へ送出するので緑発光ダイ
オード２７が発光し配線が正常であることを表示する。
図４のとに示すようにアース側配線Ｎと保護アース
側配線Ｇがリバースされている誤配線では第２試験信号
ｆ2がＣＴトランス２０では相互に逆相となって打消さ
れ第１試験信号ｆ1が試験信号受信回路３０に送出され
る。
【００３４】試験信号受信回路３０の検出回路２１は、
入力された第１試験信号ｆ1を選択的に検出し、第１試
験信号増幅器２２及び発光ダイオード駆動回路２３を経
由して赤発光ダイオード２４へ送出するので赤発光ダイ
オード２４が発光し配線が異常であることを表示する。
叙上の第１試験信号ｆ1と第２試験信号ｆ2の周波数は上
記実施例に限定されない。
入力された第１試験信号ｆ1を選択的に検出し、第１試
験信号増幅器２２及び発光ダイオード駆動回路２３を経
由して赤発光ダイオード２４へ送出するので赤発光ダイ
オード２４が発光し配線が異常であることを表示する。
叙上の第１試験信号ｆ1と第２試験信号ｆ2の周波数は上
記実施例に限定されない。
【００３５】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のＡＣコンセント配線試験装置によれば、接地されたア
ース側配線、ホット側配線及び保護アース側配線が接続
されているＡＣコンセントを介してホット側配線とアー
ス側配線間及びホット側配線と保護アース側配線間の電
圧をそれぞれ検出する第１、第２の電圧検出回路と、第
２の電圧検出回路に接続されていたホット側配線をアー
ス側配線に切替える配線切替スイッチとを備えているの
で、アース側配線、ホット側配線及び保護アース側配線
の誤接続、誤切断が試験できる。
のＡＣコンセント配線試験装置によれば、接地されたア
ース側配線、ホット側配線及び保護アース側配線が接続
されているＡＣコンセントを介してホット側配線とアー
ス側配線間及びホット側配線と保護アース側配線間の電
圧をそれぞれ検出する第１、第２の電圧検出回路と、第
２の電圧検出回路に接続されていたホット側配線をアー
ス側配線に切替える配線切替スイッチとを備えているの
で、アース側配線、ホット側配線及び保護アース側配線
の誤接続、誤切断が試験できる。
【００３６】また、接地されたアース側配線、ホット側
配線及び保護アース側配線が接続されているＡＣコンセ
ントへ送出される周波数の異なる第１、第２の試験信号
をそれぞれ発振し、第１の試験信号をアース側配線とホ
ット側配線間に、第２の試験信号をホット側配線と保護
アース線側配線間に送出する試験信号送信回路と、アー
ス側配線とホット側配線をクランプするＣＴトランス、
ＣＴトランスに誘起された第１の試験信号又は第２の試
験信号を選択的に検出する検出回路及び検出回路で検出
された第１の試験信号又は第２の試験信号により試験信
号受信表示を行なう表示回路を有する試験信号受信回路
とを備えているので、従来の試験では検出されなかった
アース側配線と保護アース側配線のリバースを検出でき
る。
配線及び保護アース側配線が接続されているＡＣコンセ
ントへ送出される周波数の異なる第１、第２の試験信号
をそれぞれ発振し、第１の試験信号をアース側配線とホ
ット側配線間に、第２の試験信号をホット側配線と保護
アース線側配線間に送出する試験信号送信回路と、アー
ス側配線とホット側配線をクランプするＣＴトランス、
ＣＴトランスに誘起された第１の試験信号又は第２の試
験信号を選択的に検出する検出回路及び検出回路で検出
された第１の試験信号又は第２の試験信号により試験信
号受信表示を行なう表示回路を有する試験信号受信回路
とを備えているので、従来の試験では検出されなかった
アース側配線と保護アース側配線のリバースを検出でき
る。
【図１】本発明におけるＡＣコンセント配線試験装置の
一実施例を示すブロック図。
一実施例を示すブロック図。
【図２】本発明におけるＡＣコンセント配線試験装置の
動作原理を示すブロック図。
動作原理を示すブロック図。
【図３】本発明におけるＡＣコンセント配線試験装置の
動作原理を示すブロック図。
動作原理を示すブロック図。
【図４】本発明におけるＡＣコンセント配線試験装置の
動作原理を示すブロック図。
動作原理を示すブロック図。
【図５】従来のＡＣコンセント配線試験装置を示すブロ
ック図。
ック図。
１・・・・・・ＡＣコンセント ４・・・・・・試験信号送信回路 ＮＥ1・・・・・・ネオンランプ（第１の電圧検出回路） ＮＥ2・・・・・・ネオンランプ（第２の電圧検出回路） ＳＷ1・・・・・・配線切替スイッチ ２０・・・・・・ＣＴトランス ２１・・・・・・検出回路 ２４・・・・・・赤発光ダイオード（表示回路） ２７・・・・・・緑発光ダイオード（表示回路） ３０・・・・・・試験信号受信回路 ｆ1・・・・・・第１試験信号 ｆ2・・・・・・第２試験信号 Ｎ・・・・・・アース側配線 Ｈ・・・・・・ホット側配線 Ｇ・・・・・・保護アース側配線
Claims (2)
- 【請求項１】接地（Ｅ）されたアース側配線（Ｎ）、ホ
ット側配線（Ｈ）及び保護アース側配線（Ｇ）が接続さ
れているＡＣコンセント（１）を介して前記ホット側配
線と前記アース側配線間及び前記ホット側配線と前記保
護アース側配線間の電圧をそれぞれ検出する第１、第２
の電圧検出回路（ＮＥ1、ＮＥ2）と、前記第２の電圧検
出回路に接続されていた前記ホット側配線を前記アース
側配線に切替える配線切替スイッチ（ＳＷ1）とを備え
たことを特徴とするＡＣコンセント配線試験装置。 - 【請求項２】接地（Ｅ）されたアース側配線（Ｎ）、ホ
ット側配線（Ｈ）及び保護アース側配線（Ｇ）が接続さ
れているＡＣコンセント（１）へ送出される周波数の異
なる第１、第２の試験信号（ｆ1、ｆ2）をそれぞれ発振
し、前記第１の試験信号を前記アース側配線と前記ホッ
ト側配線間に、前記第２の試験信号を前記ホット側配線
と前記保護アース線側配線間に送出する試験信号送信回
路（４）と、前記アース側配線と前記ホット側配線をク
ランプするＣＴトランス（２０）、前記ＣＴトランスに
誘起された前記第１の試験信号又は前記第２の試験信号
を選択的に検出する検出回路（２１）及び前記検出回路
で検出された前記第１の試験信号又は前記第２の試験信
号により試験信号受信表示を行なう表示回路（２４、２
７）を有する試験信号受信回路（３０）とを備えたこと
を特徴とするＡＣコンセント配線試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7027852A JPH08220180A (ja) | 1995-02-16 | 1995-02-16 | Ａｃコンセント配線試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7027852A JPH08220180A (ja) | 1995-02-16 | 1995-02-16 | Ａｃコンセント配線試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08220180A true JPH08220180A (ja) | 1996-08-30 |
Family
ID=12232457
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7027852A Withdrawn JPH08220180A (ja) | 1995-02-16 | 1995-02-16 | Ａｃコンセント配線試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08220180A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006038707A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Tempearl Ind Co Ltd | 接地極付きコンセントの極性チェック装置 |
| JP2007278751A (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-25 | Kandenko Co Ltd | 接地極付きコンセントの誤接続判別方法および接地極付きコンセントの誤接続判別試験器 |
| US20120170342A1 (en) * | 2010-02-18 | 2012-07-05 | Patrick Manning | U-socket, an ac socket with port powering device, switch and fault detect lamp |
| JP5315474B1 (ja) * | 2013-04-16 | 2013-10-16 | アメリカン電機株式会社 | 直流パルスを利用した敷設検査器 |
| CN111722150A (zh) * | 2020-06-24 | 2020-09-29 | 优利德科技(中国)股份有限公司 | 一种支持地线零线异常检测的插座检测装置及方法 |
-
1995
- 1995-02-16 JP JP7027852A patent/JPH08220180A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006038707A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Tempearl Ind Co Ltd | 接地極付きコンセントの極性チェック装置 |
| JP2007278751A (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-25 | Kandenko Co Ltd | 接地極付きコンセントの誤接続判別方法および接地極付きコンセントの誤接続判別試験器 |
| US20120170342A1 (en) * | 2010-02-18 | 2012-07-05 | Patrick Manning | U-socket, an ac socket with port powering device, switch and fault detect lamp |
| JP5315474B1 (ja) * | 2013-04-16 | 2013-10-16 | アメリカン電機株式会社 | 直流パルスを利用した敷設検査器 |
| CN111722150A (zh) * | 2020-06-24 | 2020-09-29 | 优利德科技(中国)股份有限公司 | 一种支持地线零线异常检测的插座检测装置及方法 |
| CN111722150B (zh) * | 2020-06-24 | 2021-03-26 | 优利德科技(中国)股份有限公司 | 一种支持地线零线异常检测的插座检测装置及方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020507 |