JPH08221794A

JPH08221794A - 光ピックアップ装置

Info

Publication number: JPH08221794A
Application number: JP7053267A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Akiyama; 洋秋山
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1995-02-17
Filing date: 1995-02-17
Publication date: 1996-08-30
Anticipated expiration: 2016-10-22
Also published as: JP3220347B2

Abstract

(57)【要約】【目的】部品点数を削減し、小型かつ簡単な光学系の
ものにすることができ、かつ、従来のホログラムピック
アップよりも光利用効率の高い光ピックアップ装置を提
供する。【構成】光束分離素子２は、光源１からの光(光源光)
と記録媒体６からの反射光(検出光)とを分離する機能を
有し、光源１からの光(光源光)をカップリングレンズ
３，偏向プリズム４，対物レンズ５を介して記録媒体６
に入射(集光)させる一方、記録媒体６からの反射光が対
物レンズ５，偏向プリズム４，カップリングレンズ３を
介して入射すると、この反射光を光源光と分離して、収
束光の状態で回折手段７を介し受光素子８に入射させ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクなどの光学
的な記録媒体に記録された情報をその反射光を利用して
再生したり、あるいは該記録媒体に情報を記録したり消
去したりする光ピックアップ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスクなどの光学的な記録媒
体に記録された情報をその反射光を利用して再生した
り、あるいは該記録媒体に情報を記録したり消去したり
する光ピックアップ装置が知られている。

【０００３】この種の光ピックアップ装置には、記録面
に光源光を最適に集光させるフォーカスサーボ機能があ
り、フォーカスサーボ方式としては、非点収差法，臨界
角法，ナイフエッジ法などがある。中でも非点収差法
(尾上守夫監修光ディスク技術ラジオ技術社ｐ９
９)は光磁気ディスク用光学ヘッドのほか、コンパクト
ディスク，レーザーディスクを含めて光ディスク全般に
も良く用いられている。

【０００４】その原理は、受光手段(受光素子；検出素
子)が４分割受光面(各出力をＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄとする)と
なっているとすると、入射光の焦点がディスクに合って
いるとき、その反射光の像は光検出器の４分割受光面で
円形となり、このとき、フォーカス誤差出力である対角
の受光面間の差動出力(Ａ＋Ｃ)−(Ｂ＋Ｄ)は零となる。
一方、ディスクが対物レンズから遠くなったり近くなっ
たりすると、光検出器の４分割受光面の像が円形から長
円形状になる。そのため、フォーカス誤差出力は正(遠
い)あるいは負(近い)になるので、この出力が零になる
ように対物レンズの位置を調整して焦点を合わせるとい
うものである。

【０００５】ところで、一般に、この種の装置におい
て、アクセスタイムを速めるためには、光ピックアップ
の小型軽量化が重要である。しかしながら、従来の非点
収差法のようなフォーカス検出法ではビームの形状の変
化を検出するため受光手段(受光素子)までの距離(検出
長)をある程度大きく（数ｃｍ）し検出しなければ十分
な感度を得ることができず、従って、小型化には限界が
ある。また、ナイフエッジ法のような検出方式では、受
光素子上のスポットは数ミクロンから数十ミクロンとか
なり小さく、調整が難しく、環境によってオフセットが
生じるので不安定である。

【０００６】この上記のような問題を回避するため、近
年、例えば文献「レーザディスク用ホログラムピックア
ップＳＨＡＲＰ技報第４８号，１９９１年３月第２
１〜２６頁」に示されているようなホログラムピックア
ップが提案されている。図３１は上述の文献などに示さ
れているホログラムピックアップの概要を示す図であ
る。

【０００７】図３１を参照すると、このホログラムピッ
クアップは、光源３０１と、カップリングレンズ３０３
と、対物レンズ３０５と、受光素子(検出素子)３０８
と、ホログラム素子３０７とを有しており、光源(ＬＤ)
３０１と受光素子(検出素子)３０８とが共通のステム上
に配置されてマウントパッケージ３０４に収められ(す
なわち、光源３０１の極く近くに受光素子３０８を配置
して光源３０１と受光素子３０８とがユニット化されて
おり)、また、このマウントパッケージ３０４の上面に
ホログラム素子３０７が接着固定されている。すなわ
ち、ホログラム素子３０７が光源３０１，受光素子３０
８と一体化されて設けられている。

【０００８】ここで、ホログラム素子３０７は、１枚の
ガラス基板からできており、その上面に、光源光と検出
光(反射光)とを分離する機能などを有するホログラムが
形成され、また、その下面にトラッキングビーム生成用
回折格子が形成されたものとなっている。

【０００９】このような構成のホログラムピックアップ
では、光源３０１からの光(光源光)をホログラム素子３
０７，カップリングレンズ３０３，対物レンズ３０５を
介して記録媒体(ディスク)３０６に入射(集光)させる一
方、記録媒体３０６からの反射光が対物レンズ３０５，
カップリングレンズ１０３を介してホログラム素子３０
７に入射すると、ホログラム素子３０７では、反射光
(検出光)を光源光と分離して受光素子３０８に入射させ
る。この際、このホログラムピックアップでは、光源光
の光路と検出光の光路とがほぼ同一光路となるので、在
来の光ピックアップ装置に比べて、部品点数を削減し、
小型かつ簡単な光学系で光ピックアップ装置を構成する
ことができる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようなホログラムピックアップでは、ディスク３０６
への入射光，すなわち光源光もホログラムにより回折さ
れてしまうので、光利用効率が低くなってしまうという
問題があった。

【００１１】本発明は、部品点数を削減し、小型かつ簡
単な光学系のものにすることができ、かつ、従来のホロ
グラムピックアップよりも光利用効率の高い光ピックア
ップ装置を提供することを目的としている。

【００１２】

【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために、請求項１，請求項２記載の発明では、該
光ピックアップ装置には、光源光学系からの光源光と記
録媒体からの反射光とを分離する光束分離手段が設けら
れ、また、検出光学系には反射光を回折し、回折光間で
干渉縞を生じさせる回折手段と、該干渉縞が投影される
受光手段とが設けられており、光束分離手段は、記録媒
体からの反射光を光源光と分離し、収束光の状態で検出
光学系に導くようになっている。これにより、収束光路
の一部を光源光路，検出光路で共用し、光束分離手段と
受光手段との間に回折手段が設けられる場合にも、光束
分離手段から受光手段までの距離を小さくすることがで
きて、光源光学系と検出光学系とのユニット化を図れ、
光ピックアップ装置の小型化を図ることができるととも
に、記録媒体からの反射光のみを回折手段によって回折
し、光源光はこの回折手段によって回折されないので、
従来のホログラムピックアップに比べて、光利用効率を
著しく高めることができる。

【００１３】また、請求項３，請求項４記載の発明で
は、二重回折格子は、反射光の焦点面近傍の位置に設置
されるか、または、二重回折格子自体が収束光の波面を
略フラットな波面に変換する波面変換機能を有している
ので、収束光路中に回折手段が配置されるときにも、フ
ォーカス信号のオフセットを低減できる。

【００１４】また、請求項５記載の発明では、少なくと
も光源光学系と検出光学系とが、単一のユニットとして
同一のハウジング内に収容されている。これにより、光
ピックアップ装置の小型化を図ることができる。

【００１５】また、請求項６記載の発明では、回折手段
は、受光手段の基板またはそのホルダー上に設置されて
いる。これにより、受光手段と回折手段との間の位置関
係を一定に保つことができる。

【００１６】また、請求項７記載の発明では、光束分離
手段は、光源光と反射光とを偏光分離する偏光分離素子
であって、該偏光分離素子から記録媒体までの光路中に
は、λ／４板が設置されている。これにより、光源光と
反射光との分離を確実に行うことができ、光利用効率が
高く、かつ、雑音成分の少ない光ピックアップを実現で
きる。

【００１７】また、請求項８記載の発明では、偏光分離
素子に、偏光分離膜を有するプリズムを用いている。こ
れにより、偏光分離素子にガラス等の汎用部品が使用で
き、部品コストを下げることができる。

【００１８】また、請求項９記載の発明では、プリズム
は、２枚の平行平板で構成されているか、または、三角
プリズムと平行平板により構成されているか、または、
三角プリズムとくさび型プリズムにより構成されてい
る。これにより、検出光を光源光とほぼ平行な方向(同
一方向)に分離し、光源と受光手段とを同一基板に設置
することができる。特に、平行平板を用いることにより
プリズムコストを低くでき、また、同一形状の平行平板
を２枚用いる場合には、さらに低コスト化が図れる。ま
た、三角プリズムを用いる場合には例えば後述のような
λ／４板との一体化が容易となる。また、くさび型のプ
リズムを用いる場合には、平行平板を用いる場合に比べ
て、光源光と検出光との分離距離を大きくとることがで
きる。

【００１９】また、請求項１０記載の発明では、偏光分
離素子に複屈折プリズムを用いることにより、単一プリ
ズムで偏光分離(すなわち光源光と検出光との光束分離)
が可能となる。さらに、複屈折材料によりなる単板に垂
直入射させるだけで偏光分離ができる。従って、光束分
離手段を単純な構成で実現でき、光ピックアップをより
コンパクト，小型のものにすることができる。

【００２０】また、請求項１１記載の発明では、複屈折
プリズムとして、互いに光学軸の異なる２個以上の一軸
性結晶よりなるプリズムを用いる。これにより、同等の
大きさでも単一の複屈折プリズムにより、光源光と検出
光との分離距離を大きくとれる。

【００２１】また、請求項１２記載の発明では、偏光分
離素子にはλ／４板が接着されて、一体プリズムとして
構成されている。これにより、部品の一体化が図れ、光
ピックアップをより小型化，薄型化できる。

【００２２】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は本発明に係る光ピックアップ装置の一実施
例の構成図である。図１を参照すると、この光ピックア
ップ装置は、光源(例えば半導体レーザ(ＬＤ))１と、光
束分離手段(例えばマイクロプリズムあるいはハーフミ
ラーなどの光束分離素子)２と、カップリングレンズ３
と、偏向プリズム４と、対物レンズ５と、受光手段(例
えばフォトダイオードなどの受光素子；検出素子)８と
を有している。

【００２３】さらに、光束分離素子２と受光素子８との
間には、すなわち、光束分離素子２によって光源光と分
離された反射光の光路中には、回折手段７が設けられて
いる。この回折手段７には、例えば１つの回折格子を用
いることもできるし、あるいは図２に示すように、ピッ
チΛ₁の第１の回折格子７ａとピッチΛ₂の第２の回折格
子７ｂとからなる二重回折格子などを用いることもでき
る。

【００２４】ここで、光束分離素子２は、光源１からの
光(光源光)と記録媒体６からの反射光(検出光)とを分離
する機能を有し、光源１からの光(光源光)をカップリン
グレンズ３，偏向プリズム４，対物レンズ５を介して記
録媒体(ディスク)６に入射(集光)させる一方、記録媒体
６からの反射光が対物レンズ５，偏向プリズム４，カッ
プリングレンズ３を介して入射すると、この反射光を光
源光と分離して、収束光の状態で回折手段７，受光素子
８に入射させるようになっている。

【００２５】次にこのような構成の光ピックアップ装置
の動作について説明する。この光ピックアップ装置で
は、光源１からの光(光源光)を、光束分離素子２を介し
てカップリングレンズ３に入射させ、カップリングレン
ズ３により略平行光に変換し、偏向プリズム４，対物レ
ンズ５を介しディスク６の記録面に集光照射する。

【００２６】そして、ディスク６の記録面からの反射光
を、対物レンズ５，偏向プリズム４，カップリングレン
ズ３を介し、光束分離素子２に入射させ、光束分離素子
２，回折手段７を介し受光素子８に入射させる。

【００２７】ここで、反射光が回折手段７に入射する
と、回折光が発生し、回折光間で干渉が生じ、従って、
受光素子８には回折光間の干渉により生じる干渉縞が投
影され、このときの受光素子８からの出力により、入射
光の焦点がディスク６に合っているか否かを示すフォー
カスエラー信号および／または入射光がディスク６の正
しいトラック位置を照射しているか否かを示すトラック
エラー信号を検出することができ、フォーカスエラー信
号および／またはトラックエラー信号が零となるよう、
サーボ制御することができる。例えば対物レンズ５の位
置を調整することができる。

【００２８】以下に、回折手段７に図２に示すような二
重回折格子が用いられるとした場合の干渉縞発生原理に
ついて説明する。いま仮りに、図３(ａ)に示すように、
第１の回折格子７ａに波長λの光が平行光として垂直に
入射するとすると、二重回折格子７においては、第１の
回折格子７ａで±ｎ次光(ｎは正とする)が発生し、第２
の回折格子７ｂではその＋ｎ次光の−ｍ次光(ｍは正と
する)とその−ｎ次光の＋ｍ次光(ｍは正とする)が発生
して、第２の回折格子７ｂにより発生した±ｍ次光同士
が干渉し合って干渉縞を発生する。なお、＋は入射光に
対し進行方向左に回折する場合、−はその反対の場合を
表わす。

【００２９】この際、＋ｎ次光の第１の回折格子７ａで
の回折条件は次式で表わされる。なお、−ｎ次の場合は
ｎを−ｎに替えれば良いので以下省略する。

【００３０】

【数１】ｓｉｎθ₁＝ｎλ／Λ₁

【００３１】また、第２の回折格子７ｂでの回折条件は
次式で表わされる。

【００３２】

【数２】−ｓｉｎθ₂＋ｓｉｎθ₁＝ｍλ／Λ₂

【００３３】数１と数２よりθ₂について次式が導かれ
る。

【００３４】

【数３】ｓｉｎθ₂＝λ(ｎ／Λ₁−ｍ／Λ₂)

【００３５】ここで、図４(ａ)に示すように、入射角θ
₂の２つの光(平面波)ＢＭ₁，ＢＭ₂が干渉し合う場合を
考えると、このときの干渉縞のピッチΛ₀は数４で表わ
され、相対的な位相による干渉縞の位相は数５で表わさ
れる。

【００３６】

【数４】Λ₀＝λ／(２ｓｉｎθ₂)

【００３７】

【数５】β₀＝β₁

【００３８】なお、数５において、β₀は干渉縞の位
相、β₁は平面波ＢＭ₁，ＢＭ₂間の位相である。従っ
て、干渉縞のピッチと二重回折格子のピッチとの関係は
数３，数４を用いて数６で表わされる。

【００３９】

【数６】１／(２Λ₀)＝ｎ／Λ₁−ｍ／Λ₂

【００４０】また、二重回折格子７の場合（図４(ｂ)参
照）の位相関係については、正負の次数の回折光の干渉
についてのみ問題とすると、回折格子直後での位相関係
が逆になることから干渉縞の位相は数７で表わされる。

【００４１】

【数７】β₀＝２β₂

【００４２】これより、干渉縞のピッチは二重回折格子
７のピッチ(すなわち、第１の回折格子７ａのピッチΛ₁
と第２の回折格子７ｂのピッチΛ₂)のみに依存し、入射
光の波長λに全く無関係となることがわかる。光の径を
Ｗ₀とし、式６の右辺と左辺に掛けると数８が得られ
る。

【００４３】

【数８】(Ｗ₀／Λ₀)／２＝ｎＷ₀／Λ₁−ｍＷ₀／Λ₂

【００４４】ここで、Ｗ₀／Λ₀は光径内に生じる干渉縞
の本数であり、ｎＷ₀／Λ₁とｍＷ₀／Λ₂は第１の回折格
子７ａと第２の回折格子７ｂにおける光径内の回折格子
本数にそれぞれの次数を掛けたものである。すなわち、
次式となる。

【００４５】

【数９】《干渉縞の本数》／２＝次数×《第１の回折格
子の本数》−次数×《第２の回折格子の本数》

【００４６】このように干渉縞の本数と第１及び第２の
回折格子７ａ，７ｂの本数、さらにはそれぞれの次数の
関係が明らかになった。どの次数を用いても干渉縞は発
生するが、±１次光は回折効率が高いので、高次回折光
よりも優れている。すなわち、第１の回折格子７ａで発
生する＋１次光であって第２の回折格子７ｂの−１次光
(図３(ｂ)中Ｅ)及び、第１の回折格子７ａで発生する−
１次光であって第２の回折格子７ｂの＋１次光(図３
(ｂ)中Ｆ)を用いる場合が最も効率が良い。

【００４７】干渉縞本数の例としては±１次光のみ用い
た場合、高分解能化を目指し、Λ₁＝０．９４８μｍと
非常に高密度な回折格子を用いるとき、Λ₀＝１ｍｍと
大きくとるためには、Λ₂＝０．９４７６８μｍとな
る。

【００４８】Λ₁とΛ₂の違いは約０．０３％と非常に小
さいものとなるが作成は可能である。コリメート光の光
径を２ｍｍ程度とすると干渉縞が１，２本観測されるこ
ととなる。

【００４９】このようにして、二重回折格子７を用いて
所定の干渉縞を発生させることができる。

【００５０】この二重回折格子７を用いてディスク６の
ディフォーカス量を測定する仕方を図５に従って以下に
述べる。

【００５１】図５の例では、ディスク６の面上に略焦点
を結ぶようにしたレンズ１０１を設定し、また、このレ
ンズ１０１の光軸上に二重回折格子７を設定する。

【００５２】なお、図５において、レンズ１０１の焦点
距離をｆ、レンズ１０１とディスク６の面までの距離を
ｂ₁、二重回折格子側の集光位置をｂ₂、レンズ開口をＡ
としている。また、レンズ焦点位置と被測定物の面との
間の距離(デフォーカス量)をｄとし、二重回折格子７
(７ａ，７ｂ)へ入射する角をθ(光軸の上の角をθ₁、下
の角をθ₂)としている。この場合、二重回折格子７の第
１，第２の回折格子７ａ，７ｂ間の間隔をＴとし、ｄ＜
＜ｆとすると、次式が成立する。

【００５３】

【数１０】１／ｆ＝１／ｂ₁＋１／ｂ₂ θ＝Ａ／ｂ₂ ｂ₁＝ｆ＋ｄ

【００５４】数１０よりｂ₂は次式で表わされる。

【００５５】

【数１１】ｂ₂＝ｆｂ₁／(ｂ₁−ｆ)

【００５６】数１０，数１１からθは次式で表わされ
る。

【００５７】

【数１２】θ＝Ａ(ｂ₁−ｆ)／ｆｂ₁＝Ａｄ／ｆ(ｆ＋ｄ)
≒Ａｄ／ｆ²

【００５８】ここで、デフォーカス量ｄが微小すなわ
ち、ｄ＜＜ｆであるとした。この場合には、レンズ１０
１からの出射光はコリメート状態に近く、レンズ１０１
と二重回折格子７とが接近しているとすると、図６のよ
うに第１の回折格子７ａに沿ってｘ軸(光軸上でｘ＝０)
をとり、また、第２の回折格子７ｂに沿って、Ｘ軸(光
軸上でＸ＝０)をとるとき、Ａ＝ｘとできるから数１２
は次式となる。

【００５９】

【数１３】θ＝ｘｄ／ｆ²

【００６０】このように、位置(x)によって光線の入射
角が異なる。光軸に対して両側から二重回折格子７に入
射してきた光であって、二重回折格子７を２回とも回折
した光は図５に示すように出射面(干渉縞発生面)で交わ
る。この２つの光ＢＭ₃，ＢＭ₄は出射角が異なるので、
これらの間で干渉が生じ干渉縞が発生する。

【００６１】次に各位置での干渉縞のピッチを求める。
ｙ＝０でｘの所に光軸より上の光が入射してきた光が出
射面で出射する角θ₃は次式で表わされる(図７参照)。

【００６２】

【数１４】ｓｉｎθ₁−ｓｉｎθ₃＝λ(１／Λ₂−１／Λ
₁)

【００６３】θ₁〜０、θ₃〜０なのでθ₃は次式とな
る。

【００６４】

【数１５】θ₃＝θ₁＋λ(１／Λ₁−１／Λ₂)

【００６５】数１３を数１５に代入すると次式を得る。

【００６６】

【数１６】θ₃＝ｘｄ／ｆ²＋λ(１／Λ₁−１／Λ₂)

【００６７】二重回折格子７の第２の回折格子７ｂの出
射面(ｙ＝Ｔ)での光の位置Ｘを規定したいが、簡単のた
め、第１回折光の回折角を４５°とすると、次式が得ら
れる。

【００６８】

【数１７】Ｘ＝ｘ−Ｔ

【００６９】数１７を数１６に代入すると次式を得る。

【００７０】

【数１８】θ₃＝ｄ(Ｘ＋Ｔ)／ｆ²＋λ(１／Λ₁−１／Λ
₂)

【００７１】同様に、ｙ＝０でｘの所に光軸より下の光
が入射してきた光が出射面で出射する角θ₄は次式で表
わされる。

【００７２】

【数１９】 θ₄＝ｄ(Ｘ−Ｔ)／ｆ²＋λ(１／Λ₁−１／Λ₂)

【００７３】二光束の入射角がそれぞれθ₃とθ₄であっ
て、θ₃〜０、θ₄〜０のときの干渉縞のピッチΛ₀は次
式で表わされる。

【００７４】

【数２０】Λ₀＝λ／(｜ｓｉｎθ₃+ｓｉｎθ₄｜)＝λ／
(｜θ₃＋θ₄｜)

【００７５】数２０に数１８，数１９を代入すると、次
式が得られる。

【００７６】

【数２１】Λ₀(ｄ)＝λ／〔｜２ｄＴ／ｆ²＋２λ(１／
Λ₁−１／Λ₂)｜〕

【００７７】ここで、前述のように、λは波長、Ｔは２
つの回折格子７ａ，７ｂ間の距離、ｆは対物レンズ５の
焦点距離、Λ₁は第１の回折格子７ａのピッチ、Λ₂は第
２の回折格子７ｂのピッチである。この式から、二重回
折格子７によって発生する干渉縞は、位置Ｘに関わら
ず、デフォーカス量ｄに依存する等ピッチΛ₀(ｄ)の干
渉縞であることがわかる。なお、回折格子７ａと回折格
子７ｂのピッチが同じ場合(Λ₁＝Λ₂)には、干渉縞のピ
ッチΛ₀(ｄ)は次式で表される。

【００７８】

【数２２】Λ₀(ｄ)＝ｆ²／〔｜(ｄ／λ)｜２Ｔ〕

【００７９】デフォーカスのないとき(ｄ＝０のとき)
は、数２２よりΛ₀→∞となるが、デフォーカスの生じ
たときに干渉縞が発生する。従って、干渉縞のピッチや
位相のデフォーカスによる変化を読み取って、ディスク
６の変位(より正確には、微小変位)ｄを得たり、フォー
カスエラー信号Ｆｏを得ることができる。

【００８０】例えば、ピッチの同じ２つの回折格子７
ａ，７ｂからなる二重回折格子７に平行光を入射させ
て、第１の回折格子７ａでの＋１次光であって第２の回
折格子７ｂでの−１次光(Ｅ光とよぶ)と、第１の回折格
子７ａでの−１次光であって第２の回折格子７ｂでの＋
１次光(Ｆ光とよぶ)とを干渉させて、数２２のピッチΛ
₀(ｄ)の干渉縞を発生させることができる。

【００８１】ここで、２つの回折格子７ａ，７ｂの位相
(回折格子の山と山の間隔)を故意にずらす。図８乃至図
１０には、２つの回折格子７ａ，７ｂの位相をずらした
状態が示されている。すなわち、図８乃至図１０には、
第１の回折格子７ａと第２の回折格子７ｂのピッチをΛ
(＝Λ₁＝Λ₂)としたときに、第１の回折格子７ａの山と
第２の回折格子７ｂの谷との位相差がΛ／８となるよう
にし、回折光として±１次光(前述のＥ光とＦ光)を用い
るとした場合が示されており、この場合、第２の回折格
子７ｂからの２つの回折光(Ｅ光，Ｆ光)の位相は９０°
(１／４ピッチ＝λ／４)ずれる。より詳しくは、デフォ
ーカスしていないとき、Ｅ光とＦ光は波面が互いに平行
であり、その等位相面は互いに櫛のように入り込む状態
になる。なお、このときには、Ｅ光とＦ光の等位相面が
交わらないので、干渉縞は発生しない。

【００８２】このように、図８は、上述のようにデフォ
ーカスのない場合を示しているが、デフォーカスｄが発
生すると、Ｅ光，Ｆ光の波面は、ミクロ的には図９，図
１０に示すように各々湾曲する。この湾曲によって等位
相面が交わり、数２２で表されるピッチΛ₀(ｄ)の干渉
縞が発生する。干渉縞はＥ光，Ｆ光の波面が交わってで
きるが、その交点は図中ＣＬＳで示すようにデフォーカ
スの正負によって移動する。これは左右の位相が反転す
ることを表す。干渉縞の光量分布は定性的には図１１に
示すようにデフォーカスによって変化し、干渉面内の左
側ＬＴ，右側ＲＴがｄ＝０を境にして反転することとな
る。従って、これを受光手段８で読み取ることで、デフ
ォーカスｄを知ることができる。

【００８３】具体的には、受光手段８として、その受光
面が２つに分割されたものを用い、受光手段８の２分割
された受光面の各々が干渉面内の左側ＬＴと右側ＲＴの
ところに位置するよう、受光素子８を設置して、左側の
受光面の検知光量(出力)Ａ’と右側の受光面の検知光量
(出力)Ｂ’との差ＤＩＦ(＝Ａ’−Ｂ’)を検出すると図
１２に示すようないわゆるＳ字カーブが得られる。

【００８４】このように、二重回折格子７において、こ
れに入射した反射光により上述の原理で干渉縞を発生さ
せ、発生した干渉縞を受光手段(例えば図１３(ａ)に示
すような受光面が２分割された受光素子)８で受光する
ことにより、２分割受光面の出力差ＤＩＦ（＝Ａ’−
Ｂ’）に基づきディスク６のデフォーカス量ｄを検出す
ることができ、検出されたデフォーカス量ｄに基づいて
フォーカスエラー信号Ｆｏを得て、フォーカスサーボを
施すことができる。

【００８５】フォーカスエラー信号Ｆｏのみならず、ト
ラックエラー信号Ｔｒをも検知するには、フォーカス検
出法を用いつつ、受光手段８として図１３(ｂ)のように
受光面が４分割された受光素子(各受光面からの出力が
各々Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ)を用いればよい。こうすると、フ
ォーカスエラー信号Ｆｏは数２３で求められ、またプッ
シュプル法を用いてトラックエラー信号Ｔｒは数２４で
求められる。

【００８６】

【数２３】Ｆｏ＝(Ａ＋Ｂ)−(Ｃ＋Ｄ)

【００８７】

【数２４】Ｔｒ＝(Ａ＋Ｄ)−(Ｂ＋Ｃ)

【００８８】なお、トラックを検出する必要のないとき
は４分割の受光素子でなく、図１３(ａ)に示したような
２分割の受光素子(出力が各々Ａ’，Ｂ’)で十分であ
り、このときは２つの受光素子の出力差Ａ'−Ｂ’によ
りフォーカスエラーを検出できる。また、トラックをウ
ォブリング法で検出するときは同様に２つの受光素子の
出力差Ａ'−Ｂ’でフォーカスエラーを検出し、２つの
受光素子の出力の総和Ａ'＋Ｂ’でトラックエラーを検
出することができる。

【００８９】なお、上述の原理では、平行光路中に二重
回折格子７が挿入されており、従って、基本的には、反
射光の波面のフラット度を検出する構成のものとして説
明したが、この場合には、光ピックアップ装置を図１４
に示すような構成のものにする必要がある。すなわち、
図１４の構成では、光源２０１からの光をコリメートレ
ンズ２０２でコリメートしてビームスプリッタ２０３を
介して対物レンズ２０４に入射させ、対物レンズ２０４
で集光させてディスク２０６に照射し、ディスク２０６
からの反射光を対物レンズ２０４，ビームスプリッタ２
０３を介して、平行光にして二重回折格子２０７に入射
させ二重回折格子２０７からの回折光間の干渉縞を受光
素子２０８に投影させており、従って、光源２０１〜コ
リメートレンズ２０２〜ビームスプリッタ２０３までの
光源光路と、ビームスプリッタ２０３〜二重回折格子２
０７〜受光素子２０８までの検出光路とを、完全に別光
路に分類しなければならず、光ピックアップ装置を小型
化する上で、妨げとなる。

【００９０】また、平行光路中に二重回折格子を挿入し
て、波面のフラット度を検出する構成の場合には、有限
系への適用はできない(考えていない)。

【００９１】これに対し、本実施例では、図１に示すよ
うに、光束分離素子２〜カップリングレンズ３までの収
束光路(有限系では光束分離素子２〜対物レンズ５まで
の収束光路)の一部を光源光路，検出光路で共用し、さ
らには、この収束光路中に二重回折格子７を設置するこ
とによって光束分離手段２と受光素子８との間に二重回
折格子７が設けられている場合にも光束分離手段２から
受光手段８までの距離を小さくすることができるので
(光束分離手段２と受光素子８との間の間隔を小さくで
きるので)、光源光学系(光源１)と，検出光学系(回折手
段７，受光手段８)を光束分離手段２をも含めて、単一
のユニット(ＬＤ−ＰＤユニット)として、１つのハウジ
ング１０内にコンパクトに収容することができる。例え
ば、これらを１つのハウジング１０内に封入(ハーメチ
ックシール)することができて、光ピックアップ装置の
小型化を図ることができる。

【００９２】また、本実施例の光ピックアップ装置で
は、ディスク６からの反射光のみを二重回折格子７によ
って回折し、ディスク６への入射光，すなわち光源光
は、二重回折格子７によって回折されないので、図３１
に示したホログラムピックアップに比べて、光利用効率
を著しく高めることができる。

【００９３】ところで、本実施例では、収束光路中に回
折手段７を挿入しているので、フォーカスエラー信号Ｆ
ｏにはオフセットが生ずる。すなわち、収束光路中で
は、収束光の波面はフラットではなくある曲率を持って
いるので、このようなフラットでないある曲率をもつ収
束光が回折手段７に入射すると、得られるフォーカスエ
ラー信号Ｆｏは次式のような電気的オフセットαを持っ
てしまう。

【００９４】

【数２】Ｆｏ＝(Ａ＋Ｂ)−(Ｃ＋Ｄ)＋α

【００９５】このような電気的オフセットαをキャンセ
ルするには、回折手段７を、光束分離素子２によって分
離された反射光の焦点面近傍に設置すれば良い。すなわ
ち、光束分離素子２によって分離された反射光の焦点面
近傍では、波面がフラットに近づくので、そこに回折手
段７を設置することにより、回折手段７にほぼ平行光が
入射する場合と同等の条件となり、オフセットを低減す
ることが可能となって、図１４の光ピックアップ装置と
同様の原理で数２３，数２４に従い、フォーカスエラー
信号Ｆｏ，トラックエラー信号Ｔｒを検出することがで
きる。

【００９６】また、二重回折格子７として、その第１の
回折格子７ａまたは第２の回折格子７ｂ、またはその両
者７ａ，７ｂが、収束光の波面を略フラットに変換する
波面変換機能を有するものを用いることによっても、フ
ォーカスエラー信号Ｆｏのオフセットαを低減すること
が可能となる。すなわち、図１５に示すように、所定の
曲率をもつ収束光の波面を二重回折格子７により略フラ
ットなものに変換することにより、回折手段７にほぼ平
行光が入射する場合と同等の条件となり、オフセットα
を低減することが可能となる。

【００９７】また、図１６は本発明に係る光ピックアッ
プ装置の他の構成例を示す図である。図１６の構成例で
は、Ｓｉ基板２０上に光源１が設置され(例えば形成さ
れ)、また、同じＳｉ基板２０上に受光手段(受光素子)
８および回折手段７(二重回折格子７ａ，７ｂ)が形成さ
れている。ここで、受光素子８は、その受光面が基板２
０の上面２１よりも低い位置となるように、基板２０の
所定の深さの凹部２２に配置(形成)されており、受光素
子８の受光面と回折手段７の回折格子面(回折格子７ｂ
の面)とが接触しないように構成されている。なお、図
１６の構成例では、光源光学系(光源１)と検出光学系
(受光手段８および回折手段７)とが、単一のユニット
(ＬＤ−ＰＤユニット)として同一ハウジング１６内に収
容されており、光源１からの光源光の出射方向と検出光
学系への反射光の入射方向とがほぼ平行なものとなって
いる。

【００９８】図１６の構成例においても、記録媒体から
の反射光を光源光と分離し、収束光の状態で検出光学系
(回折手段７，受光手段８)に導くようになっているの
で、図１の構成例と同様に、光ピックアップ装置の小型
化を図ることができるとともに、図３１に示したホログ
ラムピックアップに比べて光利用効率を著しく高めるこ
とができる。さらに、図１６の構成例では、光源１と受
光手段８とを同一基板２０上に容易に形成することがで
き、また、受光手段８と回折手段７とを同じ基板２０上
に設置することができるので、これら相互の位置関係を
一定に保つことができるとともに、回折格子(ホログラ
ム)を取り付ける部分を別途作らなくても良いので、ユ
ニットすなわちハウジングをよりコンパクトなものに小
型化，薄膜化することができる。

【００９９】なお、図１あるいは図１６の構成例におい
て、光束分離手段(マイクロプリズムやハーフミラーな
どの光束分離素子)２に無偏光の光束分離素子(マイクロ
プリズムやハーフミラーなど)を用いる場合には、光量
ロスが大きくなる。光量ロスを低減するためには、図１
７あるいは図１８に示すように、λ／４板２５を設置す
るとともに、図１９に示すように、光束分離手段(光束
分離素子)２に偏光ビームスプリッタ(ＰＢＳ)などの偏
光分離素子を用いるのが良い。

【０１００】なお、図１８のように対物レンズ５の直下
にλ／４板２５が配置されるとピックアップを薄型化す
る上で支障となるが、図１７のように偏向プリズム４よ
りも光源側にλ／４板２５を設置することによってピッ
クアップの薄型化が可能となるので、薄膜化の点におい
ては、図１８に比べて、図１７の構成が好ましい。ま
た、図１９に示す偏光ビームスプリッタでは、偏光ビー
ムスプリッタを構成する２つのプリズムＰ１，Ｐ２の境
界面に偏光分離膜２６が形成されており、この偏光分離
膜２６には、例えば、Ｓ偏光を１００％反射し、Ｐ偏光
を１００％透過する特性を有するものが用いられてい
る。

【０１０１】このような構成(例えば図１７と図１９と
を組み合わせた構成)では、光源１から出射された光束
を光束分離素子としての偏光分離素子２に対しＳ偏光入
射すると、偏光分離素子２上に形成された偏光分離膜２
６によって上記光束は反射されカップリングレンズ２に
より略平行光とされる。その後、λ／４板２５を通過し
円偏光となり、偏向プリズム４により偏向され、対物レ
ンズ５によりディスク６の記録面に集光される。

【０１０２】そして、ディスク６の記録面から反射され
た反射光は、対物レンズ５，偏向プリズム４を介しλ／
４板２５に入射し、λ／４板２５において、入射光とは
偏光方向が９０°異なる直線偏光(Ｐ偏光)に変換され、
ユニット内の偏光分離素子２に入射する。この際、反射
光はＰ偏光となっているので、偏光分離膜２６を透過
し、回折手段７に入射する。その回折光を受光素子８で
検出し、フォーカスエラー信号やトラックエラー信号な
どのサーボ信号を得たり、情報信号を得ることができ
る。

【０１０３】このように、図１７(あるいは図１８)，図
１９の構成とすることで、光源光と反射光(検出光)とを
９０°偏光させ、偏光分離素子２により光源光路と検出
光路とを分離することができるので、より完全な分離を
行なうことができて、光利用率をより一層向上させるこ
とができる。

【０１０４】なお、上述の例では、偏光分離膜２６とし
て、Ｓ偏光を１００％反射し、Ｐ偏光を１００％透過す
る特性のものを用いたが、偏光分離膜２６の特性を変
え、光源１から出射する光源光を多少透過する特性のも
のを用いることもできる。この場合には、例えば図１に
示すように、モニタ用受光素子９をさらに設け、モニタ
用受光素子９により光源１から出射される光の強度をモ
ニタすることができる。

【０１０５】また、上述の例では、偏光分離素子２とし
て、光源光を反射し、検出光を透過するものを用いた
が、これと反対に、光源光を透過し、検出光を反射する
ものを用いることもできる。但し、この場合には、光源
光学系(光源１)と検出光学系(回折手段７および受光手
段８)の位置関係を逆にする必要がある。

【０１０６】また、図１９の例では、偏光分離素子(偏
光ビームスプリッタ)２はキューブ状のものであるが、
これを図２０に示すように、２枚の平行平板３０，３１
と、２枚の平行平板の境界面に形成された偏光分離膜３
２とで構成することも可能である。偏光分離素子２を図
２０に示すような２枚の平行平板３０，３１で構成する
場合には、コストをより低減することができる。

【０１０７】また、偏光分離素子２が方形状のものであ
る場合には、光源光の光路と検出光の光路とは略９０°
の角度で分かれていまい、光源１と受光素子８とを同一
基板上に設置することが難かしい。そこで、図２１に示
すように、偏光分離素子２として、平行平板３３と三角
プリズム３４とこれらの境界面に形成された偏光分離膜
３５とで構成されたものを用いることもできる。この場
合には、検出光(記録(媒体６からの反射光)を光源光と
ほぼ平行な方向(同一方向)に分離し、光源１と受光素子
８とを同一基板上に、すなわち図１６に示すように、容
易に設置することができる。

【０１０８】また、図２２に示すように、偏光分離素子
２として、くさび型プリズム３６と三角プリズム３７と
これらの境界面に形成された偏光分離膜３８とで構成さ
れたものを用いることもできる。この場合には、さら
に、光源光と検出光の分離距離を大きくし、光源１と受
光素子８とを同一基板上に配置する場合に光源１と受光
素子８との間の間隔を大きくとることが可能となる。

【０１０９】また、偏光分離素子２として、図２３に示
すように、複屈折プリズムである１軸性結晶の単板３９
を用いることもできる。この場合には、単一のプリズム
で光源光と検出光との偏光分離を行なうことにより、偏
光分離素子(偏光分離プリズム)２をも含めて、ユニット
(ＬＤ−ＰＤユニット)全体をさらに小型化することが可
能となる。なお、複屈折プリズムとして、１軸性結晶の
かわりに、図２４に示すような１軸性結晶の三角プリズ
ム４０を用いても良い。この場合の光束分離の原理は、
図２５に示すセナルモンプリズム(市販されている一般
のプリズム)４１を対角線４２で折り曲げた構成を考え
れば良い。

【０１１０】なお、ガラスプリズムを用いた偏光ビーム
スプリッタ(ＰＢＳ)では偏光分離膜と入射光線の間に特
定の角度条件が満たさなければならず、現状では、４５
°入射の単板ＰＢＳを作るのは困難である。このような
問題を回避するため、図２６に示すように、図２３の１
軸性結晶の単板３９のかわりに、ウォーラストンプリズ
ム５０を複屈折プリズムとして用いることができる。こ
の場合には、単一プリズムで偏光分離ができるととも
に、光源光と検出光の分離距離を大きくすることも可能
となる。

【０１１１】また、図２７，図２８，図２９に示すよう
に、図１９，図２２，図２６の偏光分離素子２の対物レ
ンズ側出射面にλ／４板２５を接着して、一体プリズム
として構成しても良い。この場合には、部品が一体化さ
れるので、組付け工数を低減し、組付けの簡素化が可能
となる。

【０１１２】また、図３０(ａ),(ｂ)に示すように、光
束分離素子(偏光分離プリズム)２自体を例えばハウジン
グ１６(光源光学系と検出光学系のＬＤ−ＰＤユニット)
の窓部材(またはシールド部材)として用いることもでき
る。なお、図３０(ａ),(ｂ)は、それぞれ平面図(上面
図)，側面図であり、図３０(ａ),(ｂ)の例では、ＬＤ−
ＰＤユニットの構成は図１６と同様のものとなってい
る。

【０１１３】光束分離素子２をも含めてＬＤ−ＰＤユニ
ットを密閉する場合、一般のレーザダイオード(ＬＤ)ユ
ニットと同様の蓋で覆う構造を用いることもできるが、
この場合には、光源光(ＬＤ光)の出射窓５２が必要とな
る。これに対し、図３０(ａ),(ｂ)の例では、窓５２を
密閉するガラス平板のかわりに、プリズム自体を窓部材
(密閉部材)として用いており、これにより、蓋を別途に
設けずとも良く、部品を共通化して部品点数を削減する
ことが可能となる。

【０１１４】なお、本発明は、上述した実施例，構成例
に限定されず、各種の変形が可能である。例えば、光ピ
ックアップ装置をビーム整形プリズムを挿入した構成の
ものにしたり有限系などの構成にする場合にも、同様に
適用できる。

【０１１５】

【発明の効果】以上に説明したように、請求項１，請求
項２記載の発明によれば、該光ピックアップ装置には、
光源光学系からの光源光と記録媒体からの反射光とを分
離する光束分離手段が設けられ、また、検出光学系には
反射光を回折し、回折光間で干渉縞を生じさせる回折手
段と、該干渉縞が投影される受光手段とが設けられてお
り、光束分離手段は、記録媒体からの反射光を光源光と
分離し、収束光の状態で検出光学系に導くようになって
いるので、収束光路の一部を光源光路，検出光路で共用
し、光束分離手段と受光手段との間に回折手段が設けら
れる場合にも、光束分離手段から受光手段までの距離を
小さくすることができて、光源光学系と検出光学系との
ユニット化を図れ、光ピックアップ装置の小型化を図る
ことができるとともに、記録媒体からの反射光のみを回
折手段によって回折し、光源光はこの回折手段によって
回折されないので、従来のホログラムピックアップに比
べて、光利用効率を著しく高めることができる。

【０１１６】また、請求項３，請求項４記載の発明によ
れば、二重回折格子は、反射光の焦点面近傍の位置に設
置されるか、または、二重回折格子自体が収束光の波面
を略フラットな波面に変換する波面変換機能を有してい
るので、収束光路中に回折手段が配置されるときにも、
フォーカス信号のオフセットを低減できる。

【０１１７】また、請求項５記載の発明によれば、少な
くとも光源光学系と検出光学系とが、単一のユニットと
して同一のハウジング内に収容されているので、光ピッ
クアップ装置の小型化を図ることができる。

【０１１８】また、請求項６記載の発明によれば、回折
手段は、受光手段の基板またはそのホルダー上に設置さ
れているので、受光手段と回折手段との間の位置関係を
一定に保つことができる。

【０１１９】また、請求項７記載の発明によれば、光束
分離手段は、光源光と反射光とを偏光分離する偏光分離
素子であって、該偏光分離素子から記録媒体までの光路
中には、λ／４板が設置されているので、光源光と反射
光との分離を確実に行うことができ、光利用効率が高
く、かつ、雑音成分の少ない光ピックアップを実現でき
る。

【０１２０】また、請求項８記載の発明によれば、偏光
分離素子は、偏光分離膜を有するプリズムであるので、
偏光分離素子にガラス等の汎用部品が使用でき、部品コ
ストを下げることができる。

【０１２１】また、請求項９記載の発明によれば、プリ
ズムは、２枚の平行平板で構成されているか、または、
三角プリズムと平行平板により構成されているか、また
は、三角プリズムとくさび型プリズムにより構成されて
いるので、検出光を光源光とほぼ平行な方向(同一方向)
に分離し、光源と受光手段とを同一基板に設置すること
ができる。特に、平行平板を用いることによりプリズム
コストを低くでき、また、同一形状の平行平板を２枚用
いる場合には、さらに低コスト化が図れる。また、三角
プリズムを用いる場合には例えば後述のようなλ／４板
との一体化が容易となる。また、くさび型のプリズムを
用いる場合には、平行平板を用いる場合に比べて、光源
光と検出光との分離距離を大きくとることができる。

【０１２２】また、請求項１０記載の発明によれば、偏
光分離素子に複屈折プリズムを用いることにより、単一
プリズムで偏光分離(すなわち光源光と検出光との光束
分離)が可能となる。さらに、複屈折材料によりなる単
板に垂直入射させるだけで偏光分離ができる。従って、
光束分離手段を単純な構成で実現でき、光ピックアップ
をよりコンパクト，小型のものにすることができる。

【０１２３】また、請求項１１記載の発明によれば、複
屈折プリズムとして、互いに光学軸の異なる２個以上の
一軸性結晶よりなるプリズムを用いるので、同等の大き
さでも単一の複屈折プリズムにより、光源光と検出光と
の分離距離を大きくとれる。

【０１２４】また、請求項１２記載の発明によれば、偏
光分離素子にはλ／４板が接着されて、一体プリズムと
して構成されているので、部品の一体化が図れ、光ピッ
クアップをより小型化，薄型化できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ピックアップ装置の一実施例の
構成図である。

【図２】二重回折格子を示す図である。

【図３】干渉縞の発生を説明するための図である。

【図４】干渉縞の発生を説明するための図である。

【図５】微小変位の測定方法を説明するための図であ
る。

【図６】微小変位の測定方法を説明するための図であ
る。

【図７】微小変位の測定方法を説明するための図であ
る。

【図８】被測定物のデフォーカス量の検出を説明するた
めの図である。

【図９】被測定物のデフォーカス量の検出を説明するた
めの図である。

【図１０】被測定物のデフォーカス量の検出を説明する
ための図である。

【図１１】デフォーカス量による干渉光の光量分布を示
す図である。

【図１２】デフォーカス量の変化に応じた２つの受光素
子の出力差の変化を示す図である。

【図１３】受光手段の構成例を示す図である。

【図１４】光ピックアップ装置の構成例を示す図であ
る。

【図１５】二重回折格子の波面変換機能を説明するため
の図である。

【図１６】本発明に係る光ピックアップ装置の他の構成
例を示す図である。

【図１７】本発明に係る光ピックアップ装置の構成例を
示す図である。

【図１８】本発明に係る光ピックアップ装置の構成例を
示す図である。

【図１９】本発明に係る光ピックアップ装置の構成例を
示す図である。

【図２０】偏光分離素子の構成例を示す図である。

【図２１】偏光分離素子の構成例を示す図である。

【図２２】偏光分離素子の構成例を示す図である。

【図２３】偏光分離素子の構成例を示す図である。

【図２４】偏光分離素子の構成例を示す図である。

【図２５】図２４の偏光分離素子の光束分離の原理を説
明するための図である。

【図２６】偏光分離素子の構成例を示す図である。

【図２７】図１９の偏光分離素子にλ／４板を接着し一
体プリズムとして構成した状態を示す図である。

【図２８】図１９の偏光分離素子にλ／４板を接着し一
体プリズムとして構成した状態を示す図である。

【図２９】図１９の偏光分離素子にλ／４板を接着し一
体プリズムとして構成した状態を示す図である。

【図３０】光束分離素子自体をＬＤ−ＰＤユニットの窓
部材として用いた状態を示す図である。

【図３１】従来のホログラムピックアップを示す図であ
る。

【符号の説明】

１光源２光束分離素
子３カップリン
グレンズ４偏向プリズ
ム５対物レンズ６記録媒体７回折手段７ａ，７ｂ回折格子８受光手段１０，１６ハウジング２０Ｓｉ基板２５ λ／４板２６，３２，３５，３８偏光分離膜３０，３１，３３平行平板３４，３７，４０三角プリズ
ム３６くさび型プ
リズム３９一軸性結晶
の単板５０ウォーラス
トンプリズム

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源光学系と検出光学系とを備え、光源
光学系からの光源光を記録媒体に照射し、記録媒体から
の反射光を検出光学系で検出する光ピックアップ装置に
おいて、該光ピックアップ装置には、前記光源光学系か
らの光源光と前記記録媒体からの反射光とを分離する光
束分離手段が設けられ、また、前記検出光学系には前記
反射光を回折し、回折光間で干渉縞を生じさせる回折手
段と、該干渉縞が投影される受光手段とが設けられてお
り、前記光束分離手段は、前記記録媒体からの反射光を
前記光源光と分離し、収束光の状態で前記検出光学系に
導くようになっていることを特徴とする光ピックアップ
装置。
【請求項２】請求項１記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記回折手段は、二重回折格子であって、前記反
射光が光源光から分離された後の収束光路中の所定の位
置に設置され、また、前記受光手段は、前記二重回折格
子により生じた干渉縞に基づき前記記録媒体に関する所
定の信号を検出するために、複数分割された受光面を有
していることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項３】請求項２記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記二重回折格子は、前記反射光の焦点面近傍の
位置に設置されることを特徴とする光ピックアップ装
置。
【請求項４】請求項２記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記二重回折格子は、収束光の波面を略フラット
な波面に変換する波面変換機能を有していることを特徴
とする光ピックアップ装置。
【請求項５】請求項１記載の光ピックアップ装置にお
いて、少なくとも前記光源光学系と前記検出光学系と
が、単一のユニットとして同一のハウジング内に収容さ
れていることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項６】請求項１記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記回折手段は、前記受光手段の基板またはその
ホルダー上に設置されていることを特徴とする光ピック
アップ装置。
【請求項７】請求項１記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記光束分離手段は、光源光と反射光とを偏光分
離する偏光分離素子であって、該偏光分離素子から記録
媒体までの光路中には、λ／４板が設置されていること
を特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項８】請求項７記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記偏光分離素子は、偏光分離膜を有するプリズ
ムであることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項９】請求項８記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記プリズムは、２枚の平行平板で構成されてい
るか、または、三角プリズムと平行平板により構成され
ているか、または、三角プリズムとくさび型プリズムに
より構成されていることを特徴とする光ピックアップ装
置。
【請求項１０】請求項７記載の光ピックアップ装置に
おいて、前記偏光分離素子には、複屈折プリズムを用い
ることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項１１】請求項１０記載の光ピックアップ装置
において、前記複屈折プリズムとして、互いに光学軸の
異なる２個以上の一軸性結晶よりなるプリズムを用いる
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項１２】請求項７記載の光ピックアップ装置に
おいて、前記偏光分離素子にはλ／４板が接着されて、
一体プリズムとして構成されていることを特徴とする光
ピックアップ装置。