JPH08226862A - センサおよび該センサにおける測定範囲変動を温度補償する方法 - Google Patents
センサおよび該センサにおける測定範囲変動を温度補償する方法Info
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- JPH08226862A JPH08226862A JP29383095A JP29383095A JPH08226862A JP H08226862 A JPH08226862 A JP H08226862A JP 29383095 A JP29383095 A JP 29383095A JP 29383095 A JP29383095 A JP 29383095A JP H08226862 A JPH08226862 A JP H08226862A
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- G—PHYSICS
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- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
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- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/2268—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects
- G01L1/2281—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects for temperature variations
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 補償抵抗を用いずに温度による測定範囲変動
を補償するセンサ回路（１０）、およびセンサ回路（１
０）における測定範囲変動を温度補償する方法を提供す
る。 【解決手段】 センサ回路（１０）は、変換器（１２）
と、オフセット補償ネットワーク（３２）と、温度検出
ネットワーク（３８）とを含み、これらは単一の半導体
基板に一体的に集積されている。変換器（１２）は、印
加圧力のような物理的状態に応答して、差動信号を発生
する。この差動信号は、オフセット補償ネットワーク
（３２）によってオフセットに対して補償される。温度
検出回路（３８）は温度検出信号を発生し、マイクロプ
ロセッサ（３４）がこれを用いて、オフセット補償信号
の動作範囲の変動を補償する。このように、物理的状態
に応答にして、オフセットおよび動作範囲が温度補償さ
れた信号が発生される。
を補償するセンサ回路（１０）、およびセンサ回路（１
０）における測定範囲変動を温度補償する方法を提供す
る。 【解決手段】 センサ回路（１０）は、変換器（１２）
と、オフセット補償ネットワーク（３２）と、温度検出
ネットワーク（３８）とを含み、これらは単一の半導体
基板に一体的に集積されている。変換器（１２）は、印
加圧力のような物理的状態に応答して、差動信号を発生
する。この差動信号は、オフセット補償ネットワーク
（３２）によってオフセットに対して補償される。温度
検出回路（３８）は温度検出信号を発生し、マイクロプ
ロセッサ（３４）がこれを用いて、オフセット補償信号
の動作範囲の変動を補償する。このように、物理的状態
に応答にして、オフセットおよび動作範囲が温度補償さ
れた信号が発生される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的にセンサに関
し、更に特定すれば圧力センサに関するものである。
し、更に特定すれば圧力センサに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】センサは、自動車、家庭製品、ビルディ
ングの空調、および一般的な工業的用途のような用途に
おいて、圧力、温度、加速度のような物理的状態を検出
し、その物理的状態を表わす電気信号を供給するために
広く用いられている。従来のセンサは、抵抗ブリッジ構
造に組み込んだ抵抗ネットワークとして構成され、抵抗
ブリッジは電源電位に結合する２本の端子と、差動出力
信号を供給する２本の端子とを有する。典型的に、ブリ
ッジ抵抗は半導体基板に不純物を注入または拡散するこ
とによって形成される。センサが物理的状態に露出され
ると、１つ以上のブリッジ抵抗がその抵抗値を変化させ
ることによって、抵抗ブリッジの平衡が崩れる。物理的
状態を表わす電気信号は、この抵抗ネットワークの不平
衡に比例する。
ングの空調、および一般的な工業的用途のような用途に
おいて、圧力、温度、加速度のような物理的状態を検出
し、その物理的状態を表わす電気信号を供給するために
広く用いられている。従来のセンサは、抵抗ブリッジ構
造に組み込んだ抵抗ネットワークとして構成され、抵抗
ブリッジは電源電位に結合する２本の端子と、差動出力
信号を供給する２本の端子とを有する。典型的に、ブリ
ッジ抵抗は半導体基板に不純物を注入または拡散するこ
とによって形成される。センサが物理的状態に露出され
ると、１つ以上のブリッジ抵抗がその抵抗値を変化させ
ることによって、抵抗ブリッジの平衡が崩れる。物理的
状態を表わす電気信号は、この抵抗ネットワークの不平
衡に比例する。
【０００３】抵抗ブリッジ型センサの欠点は、印加され
る入力がゼロでも、それらの出力端子に出力オフセット
電気信号を発生することである。物理的状態のゼロ入力
が印加された場合、センサはゼロ状態(null state)であ
ることに注意されたい。加えて、かかるタイプのセンサ
では、オフセットおよび測定範囲(span)のパラメータは
温度に感応する。当業者は分かっているように、センサ
の最大測定範囲(full-scale span)は、物理的状態の最
大測定入力を与えた時の出力読み取り値から、物理的状
態のゼロ入力時におけるオフセットを減じた値として定
義される。
る入力がゼロでも、それらの出力端子に出力オフセット
電気信号を発生することである。物理的状態のゼロ入力
が印加された場合、センサはゼロ状態(null state)であ
ることに注意されたい。加えて、かかるタイプのセンサ
では、オフセットおよび測定範囲(span)のパラメータは
温度に感応する。当業者は分かっているように、センサ
の最大測定範囲(full-scale span)は、物理的状態の最
大測定入力を与えた時の出力読み取り値から、物理的状
態のゼロ入力時におけるオフセットを減じた値として定
義される。
【０００４】一例として、抵抗ブリッジは、ピエゾ抵抗
素子を用いて形成することができる。センサの最大測定
範囲の温度変動を補償するために一般的に用いられる技
法は、補償抵抗を有する抵抗ブリッジに各電源端子を結
合するというものである。補償を最適化するために、補
償抵抗のサイズは、電源電圧の約１／３がブリッジ・ネ
ットワークに到達し、電源電圧の約２／３は補償抵抗間
で電圧降下されるように決められる。
素子を用いて形成することができる。センサの最大測定
範囲の温度変動を補償するために一般的に用いられる技
法は、補償抵抗を有する抵抗ブリッジに各電源端子を結
合するというものである。補償を最適化するために、補
償抵抗のサイズは、電源電圧の約１／３がブリッジ・ネ
ットワークに到達し、電源電圧の約２／３は補償抵抗間
で電圧降下されるように決められる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ブリッジ・ネットワー
クの圧力変化に対する感度は、ブリッジ・ネットワーク
に現れる電源からの電圧レベルに比例するので、補償抵
抗を用いることによって、センサ感度が約２／３低下す
る。更に、感度の低下によって、センサの信号対ノイズ
比も低下することになる。
クの圧力変化に対する感度は、ブリッジ・ネットワーク
に現れる電源からの電圧レベルに比例するので、補償抵
抗を用いることによって、センサ感度が約２／３低下す
る。更に、感度の低下によって、センサの信号対ノイズ
比も低下することになる。
【０００６】したがって、ブリッジ・ネットワークの感
度を低下させずに、抵抗ブリッジの最大測定範囲の負温
度係数(negative temperature coefficient)を補償する
方法および手段を有することができれば有利であろう。
度を低下させずに、抵抗ブリッジの最大測定範囲の負温
度係数(negative temperature coefficient)を補償する
方法および手段を有することができれば有利であろう。
【０００７】
【課題を解決するための手段】概して言えば、本発明
は、圧力センサと、当該圧力センサの温度変動を補償す
る方法とを提供する。より具体的には、本発明の圧力セ
ンサは、変換器と、オフセット補償ネットワークと、温
度センサ回路とを含み、これらは単一半導体基板に一体
的に集積されている。一実施例では、変換器からの差動
出力信号を増幅し、シングル・エンド出力信号に変換す
る。温度検出回路からのシングル・エンド出力信号と出
力信号は、マイクロプロセッサに結合され、単一の補償
出力信号に変換される。本発明の補償技法の利点は、補
償抵抗の必要性を無くしたことであり、かかる抵抗を用
いることによって生じる感度の低下も回避することがで
きる。更に、温度検出回路と変換器は一体的に集積され
ているので、これらの間で熱結合が改善される。
は、圧力センサと、当該圧力センサの温度変動を補償す
る方法とを提供する。より具体的には、本発明の圧力セ
ンサは、変換器と、オフセット補償ネットワークと、温
度センサ回路とを含み、これらは単一半導体基板に一体
的に集積されている。一実施例では、変換器からの差動
出力信号を増幅し、シングル・エンド出力信号に変換す
る。温度検出回路からのシングル・エンド出力信号と出
力信号は、マイクロプロセッサに結合され、単一の補償
出力信号に変換される。本発明の補償技法の利点は、補
償抵抗の必要性を無くしたことであり、かかる抵抗を用
いることによって生じる感度の低下も回避することがで
きる。更に、温度検出回路と変換器は一体的に集積され
ているので、これらの間で熱結合が改善される。
【０００８】
【実施例】図１は、従来の集積回路処理技法を用いて集
積回路として製造するのに適した、センサ回路１０の概
略ブロック図を示す。センサ回路１０は、電源導体１４
と電源導体１６との間に結合された変換器１２を含む。
一例として、変換器１２は、ピエゾ抵抗素子１８，２
２，２６，２８から成る、ピエゾ抵抗ブリッジ・ネット
ワークである。また、一例として、ピエゾ抵抗素子１
８，２２，２６，２８はシリコン抵抗である。ピエゾ抵
抗素子１８は、電源導体１４とノード２０との間に結合
されている。ピエゾ抵抗素子２２は、電源導体１４とノ
ード２４との間に結合されている。ピエゾ抵抗素子２６
は、ノード２０と電源導体１６との間に結合され、ピエ
ゾ抵抗素子２８はノード２４と電源導体１６との間に結
合されている。ピエゾ抵抗素子は、ピエゾ抵抗とも呼ば
れ、ノード２０，２４は変換器出力ノードとして機能す
ることを指摘しておく。電源導体１４に適切な動作範囲
は、約５ボルトから約２４ボルトであり、電源導体１６
に最適な動作電位は接地電位である。電源導体１４はＶ
CCとも呼ぶことにする。
積回路として製造するのに適した、センサ回路１０の概
略ブロック図を示す。センサ回路１０は、電源導体１４
と電源導体１６との間に結合された変換器１２を含む。
一例として、変換器１２は、ピエゾ抵抗素子１８，２
２，２６，２８から成る、ピエゾ抵抗ブリッジ・ネット
ワークである。また、一例として、ピエゾ抵抗素子１
８，２２，２６，２８はシリコン抵抗である。ピエゾ抵
抗素子１８は、電源導体１４とノード２０との間に結合
されている。ピエゾ抵抗素子２２は、電源導体１４とノ
ード２４との間に結合されている。ピエゾ抵抗素子２６
は、ノード２０と電源導体１６との間に結合され、ピエ
ゾ抵抗素子２８はノード２４と電源導体１６との間に結
合されている。ピエゾ抵抗素子は、ピエゾ抵抗とも呼ば
れ、ノード２０，２４は変換器出力ノードとして機能す
ることを指摘しておく。電源導体１４に適切な動作範囲
は、約５ボルトから約２４ボルトであり、電源導体１６
に最適な動作電位は接地電位である。電源導体１４はＶ
CCとも呼ぶことにする。
【０００９】当業者は分かっているように、ピエゾ抵抗
素子１８，２２，２６，２８は、例えば、印加される圧
力、温度、加速度などのような外部物理的状態に応答し
て平衡が崩れる。言い換えれば、物理的状態がピエゾ抵
抗ブリッジ１２を形成する半導体物質を歪ませることに
よって、１組の対向するブリッジ抵抗、例えば、抵抗１
８，２８の抵抗値を増加させ、別の組の対向するブリッ
ジ抵抗、例えば、抵抗２２，２６の抵抗値を減少させ
る。ブリッジ抵抗１８，２８の抵抗値は、ブリッジ抵抗
２２，２６の抵抗値が減少するのと同じ量だけ増加す
る。したがって、ブリッジ抵抗１８，２８間の電圧信号
は、ブリッジ抵抗２２，２６間の電圧信号が減少するの
と同じ量だけ増加する。即ち、差動出力信号が発生され
る訳である。一例として、ブリッジ抵抗１８，２２，２
６，２８は、物理的状態がない場合には１，０００オー
ムの抵抗値を有するように作成される。物理的状態が存
在すると、ブリッジ抵抗１８，２８は約１，００２オー
ムに増加し、一方ブリッジ抵抗２２，２６は約９９８オ
ームに減少する。即ち、抵抗ブリッジ１２の平衡が崩れ
る。この不平衡によって、出力端子Ｓ+とＳ-との間に差
動信号が形成され、これが差動増幅器３０の非反転入力
および反転入力にそれぞれ印加される。
素子１８，２２，２６，２８は、例えば、印加される圧
力、温度、加速度などのような外部物理的状態に応答し
て平衡が崩れる。言い換えれば、物理的状態がピエゾ抵
抗ブリッジ１２を形成する半導体物質を歪ませることに
よって、１組の対向するブリッジ抵抗、例えば、抵抗１
８，２８の抵抗値を増加させ、別の組の対向するブリッ
ジ抵抗、例えば、抵抗２２，２６の抵抗値を減少させ
る。ブリッジ抵抗１８，２８の抵抗値は、ブリッジ抵抗
２２，２６の抵抗値が減少するのと同じ量だけ増加す
る。したがって、ブリッジ抵抗１８，２８間の電圧信号
は、ブリッジ抵抗２２，２６間の電圧信号が減少するの
と同じ量だけ増加する。即ち、差動出力信号が発生され
る訳である。一例として、ブリッジ抵抗１８，２２，２
６，２８は、物理的状態がない場合には１，０００オー
ムの抵抗値を有するように作成される。物理的状態が存
在すると、ブリッジ抵抗１８，２８は約１，００２オー
ムに増加し、一方ブリッジ抵抗２２，２６は約９９８オ
ームに減少する。即ち、抵抗ブリッジ１２の平衡が崩れ
る。この不平衡によって、出力端子Ｓ+とＳ-との間に差
動信号が形成され、これが差動増幅器３０の非反転入力
および反転入力にそれぞれ印加される。
【００１０】注意すべきは、Ｓ+は補償ネットワーク３
２の出力端子３３に現れ、一方信号Ｓ-はノード２０に
現れることである。また、更に注意すべきは、ノード２
４はオフセット補償ネットワーク３２を介して差動増幅
器３０の非反転入力端子に結合され、一方ノード２０は
直接演算増幅器３０の反転入力端子に結合されているこ
とである。オフセット補償ネットワーク３２は、オフセ
ットの温度係数を補償するため、およびセンサの公称オ
フセットをゼロにするために用いられる。オフセット補
償ネットワーク３２は、当技術では公知のように、抵抗
とサーミスタとのネットワークとして実施することがで
きる。
２の出力端子３３に現れ、一方信号Ｓ-はノード２０に
現れることである。また、更に注意すべきは、ノード２
４はオフセット補償ネットワーク３２を介して差動増幅
器３０の非反転入力端子に結合され、一方ノード２０は
直接演算増幅器３０の反転入力端子に結合されているこ
とである。オフセット補償ネットワーク３２は、オフセ
ットの温度係数を補償するため、およびセンサの公称オ
フセットをゼロにするために用いられる。オフセット補
償ネットワーク３２は、当技術では公知のように、抵抗
とサーミスタとのネットワークとして実施することがで
きる。
【００１１】図２は、センサ１０に用いて好適な、オフ
セット補償ネットワーク３２の一例を示す。図面では同
一素子を示すためには同一参照番号が用いられているこ
とは理解されよう。一例として、オフセット補償ネット
ワーク３２は、トリミング可能(trimmable)金属膜抵抗
４２，４４，４６，４８およびサーミスタ５０を含む。
また、一例として、金属膜抵抗４２，４４，４６，４８
はクローム・シリコン抵抗であり、サーミスタ５０はポ
リシリコン抵抗である。抵抗４２の第１端子はオフセッ
ト補償ネットワーク３２の入力端子として機能し、第２
端子はオフセット補償ネットワーク３２の出力端子とし
て機能する。抵抗４４は、図１の電源導体１６のよう
な、電源導体と結合するための第１端子と、出力端子３
３と結合するための第２端子とを有する。したがって、
電源導体１６は、抵抗４４を介して、オフセット補償ネ
ットワーク３２の出力端子３３に結合される。抵抗４６
はサーミスタ５０と並列に結合され、この並列結合は、
抵抗４２の第２端子に接続された第１端子を有する。並
列結合の第２端子は、抵抗４８を介して電源導体１４に
結合するためのものである。言い換えれば、抵抗４８
は、図１の電源導体１４のような電源導体と結合するた
めの第１端子と、抵抗４６とサーミスタ５０との並列結
合の第２端子に結合するための第２端子とを有する。好
ましくは、サーミスタ５０は、ブリッジ・ネットワーク
１２と同一の熱抵抗係数を有するｐ−シリコン抵抗であ
る。トリミング可能な金属膜抵抗およびサーミスタの形
成方法は、当業者にはよく知られているものである。
セット補償ネットワーク３２の一例を示す。図面では同
一素子を示すためには同一参照番号が用いられているこ
とは理解されよう。一例として、オフセット補償ネット
ワーク３２は、トリミング可能(trimmable)金属膜抵抗
４２，４４，４６，４８およびサーミスタ５０を含む。
また、一例として、金属膜抵抗４２，４４，４６，４８
はクローム・シリコン抵抗であり、サーミスタ５０はポ
リシリコン抵抗である。抵抗４２の第１端子はオフセッ
ト補償ネットワーク３２の入力端子として機能し、第２
端子はオフセット補償ネットワーク３２の出力端子とし
て機能する。抵抗４４は、図１の電源導体１６のよう
な、電源導体と結合するための第１端子と、出力端子３
３と結合するための第２端子とを有する。したがって、
電源導体１６は、抵抗４４を介して、オフセット補償ネ
ットワーク３２の出力端子３３に結合される。抵抗４６
はサーミスタ５０と並列に結合され、この並列結合は、
抵抗４２の第２端子に接続された第１端子を有する。並
列結合の第２端子は、抵抗４８を介して電源導体１４に
結合するためのものである。言い換えれば、抵抗４８
は、図１の電源導体１４のような電源導体と結合するた
めの第１端子と、抵抗４６とサーミスタ５０との並列結
合の第２端子に結合するための第２端子とを有する。好
ましくは、サーミスタ５０は、ブリッジ・ネットワーク
１２と同一の熱抵抗係数を有するｐ−シリコン抵抗であ
る。トリミング可能な金属膜抵抗およびサーミスタの形
成方法は、当業者にはよく知られているものである。
【００１２】再び図１を参照して、差動増幅器３０の出
力信号は、センサ信号をマイクロプロセッサ３４に供給
する。センサ信号は、最大測定範囲の負温度係数による
変動に対して、補償がなされていないことは理解されよ
う。
力信号は、センサ信号をマイクロプロセッサ３４に供給
する。センサ信号は、最大測定範囲の負温度係数による
変動に対して、補償がなされていないことは理解されよ
う。
【００１３】加えて、本発明のセンサ１０は、温度検出
回路３８に直列結合された抵抗３６を含み、抵抗３６の
一方の端子は電源導体１４に結合され、温度検出回路３
８の一方の端子は電源導体１６に結合されている。更に
特定すると、抵抗３６の第１端子は電源導体１４に接続
され、抵抗３６の第２端子は温度検出回路３８の第１端
子に接続され、温度検出回路３８の第２端子は電源導体
１６に接続されている。加えて、温度検出回路３８の第
１端子はマイクロプロセッサ３４に結合され、温度検出
電圧信号ＶTEMPをマイクロプロセッサ３４に供給する。
回路３８に直列結合された抵抗３６を含み、抵抗３６の
一方の端子は電源導体１４に結合され、温度検出回路３
８の一方の端子は電源導体１６に結合されている。更に
特定すると、抵抗３６の第１端子は電源導体１４に接続
され、抵抗３６の第２端子は温度検出回路３８の第１端
子に接続され、温度検出回路３８の第２端子は電源導体
１６に接続されている。加えて、温度検出回路３８の第
１端子はマイクロプロセッサ３４に結合され、温度検出
電圧信号ＶTEMPをマイクロプロセッサ３４に供給する。
【００１４】温度検出回路３８は、例えばダイオード、
直列接続されたダイオード列、サーミスタ、バンドギャ
ップ基準回路等とすることができる。一実施例では、温
度検出回路３８は４つのダイオードの直列接続列で構成
される。順方向バイアス・ダイオードの温度係数は、約
−２．２６ミリボルト（ｍＶ）／℃であり、４つのダイ
オードの直列接続列は、約−９ｍＶ／℃の温度係数を有
する。言い換えれば、ダイオード列３８の温度が１℃上
がる毎に、電圧信号ＶTEMPは約９ミリボルト低下する。
したがって、電圧信号ＶTEMPは温度検出信号として機能
し、マイクロプロセッサ３４に入力される。本発明の重
要な特徴は、温度検出回路３８がブリッジ・ネットワー
ク１２と一体的に集積されているので、周囲の温度変動
に応答して、シリコン・ダイ温度の正確な測定値が得ら
れることである。
直列接続されたダイオード列、サーミスタ、バンドギャ
ップ基準回路等とすることができる。一実施例では、温
度検出回路３８は４つのダイオードの直列接続列で構成
される。順方向バイアス・ダイオードの温度係数は、約
−２．２６ミリボルト（ｍＶ）／℃であり、４つのダイ
オードの直列接続列は、約−９ｍＶ／℃の温度係数を有
する。言い換えれば、ダイオード列３８の温度が１℃上
がる毎に、電圧信号ＶTEMPは約９ミリボルト低下する。
したがって、電圧信号ＶTEMPは温度検出信号として機能
し、マイクロプロセッサ３４に入力される。本発明の重
要な特徴は、温度検出回路３８がブリッジ・ネットワー
ク１２と一体的に集積されているので、周囲の温度変動
に応答して、シリコン・ダイ温度の正確な測定値が得ら
れることである。
【００１５】図３は、本発明の一実施例による、温度変
動を補償するプロセスを示すフロー・チャートである。
第１ステップ５２において、物理的状態、例えば、圧力
がセンサ１０に印加され、これによって第１および第２
変換器出力に差動電圧信号を発生する。この差動電圧信
号は、ステップ５４においてオフセットを補償され、物
理的状態の最少状態と物理的状態の最大状態との間の動
作範囲を有する、オフセット補償差動センサ信号が発生
される。例えば、最少圧力と最大圧力との間の動作範囲
を有する、オフセット補償差動センサ信号が発生され
る。オフセット補償差動電圧信号は、シングル・エンド
・オフセット補償電圧信号に変換される。物理的状態を
表わすオフセット補償電圧信号は、図３のステップ５２
〜５６で発生されるが、温度検出信号も、図１の温度検
出回路３８によって図３のステップ５８で発生される。
温度検出信号は、温度変化によるオフセット補償センサ
信号の動作範囲の変動を補償するために用いられる。特
に、温度検出信号とシングル・エンド・オフセット補償
信号とに応じて、図３のステップ６０で温度補償圧力信
号Ｓcが発生される。
動を補償するプロセスを示すフロー・チャートである。
第１ステップ５２において、物理的状態、例えば、圧力
がセンサ１０に印加され、これによって第１および第２
変換器出力に差動電圧信号を発生する。この差動電圧信
号は、ステップ５４においてオフセットを補償され、物
理的状態の最少状態と物理的状態の最大状態との間の動
作範囲を有する、オフセット補償差動センサ信号が発生
される。例えば、最少圧力と最大圧力との間の動作範囲
を有する、オフセット補償差動センサ信号が発生され
る。オフセット補償差動電圧信号は、シングル・エンド
・オフセット補償電圧信号に変換される。物理的状態を
表わすオフセット補償電圧信号は、図３のステップ５２
〜５６で発生されるが、温度検出信号も、図１の温度検
出回路３８によって図３のステップ５８で発生される。
温度検出信号は、温度変化によるオフセット補償センサ
信号の動作範囲の変動を補償するために用いられる。特
に、温度検出信号とシングル・エンド・オフセット補償
信号とに応じて、図３のステップ６０で温度補償圧力信
号Ｓcが発生される。
【００１６】温度補償圧力信号を発生する１つの技法
は、ゼロ圧力差および室温において圧力センサ１０を較
正し、次に最大測定圧力および室温で圧力センサ１０を
較正することである。更に、ゼロ圧力差および室温とは
異なる温度で圧力センサ１０を較正し、最大測定圧力お
よび前述の室温とは異なる温度で較正する。一例とし
て、室温とは異なる温度は、室温より２０℃高い温度で
ある。言い換えれば、圧力センサ１０を、２５℃即ち室
温、および４５℃即ち室温より２０℃高い温度で較正す
る。当業者に知られている技法を用いて、２０℃の温度
範囲における、オフセット補償シングル・エンド出力信
号のパーセント変化を計算する。上述の技法にしたがっ
て、センサ１０の温度補償係数を約−１，９００ｐｐｍ
／℃に決定する。言い換えれば、センサ１０の温度が上
昇するにつれて、センサ１０の範囲は約１，９００ｐｐ
ｍ／℃の割合で減少する。したがって、温度検出回路３
８からの温度検出信号に応じて、＋１，９００ｐｐｍ／
℃だけシフトすることによって、オフセット補償シング
ル・エンド出力信号を温度変化に対して補償する。シン
グル・エンド出力信号をシフトするために都合のよい方
法は、マイクロプロセッサ３４（図１に示す）にセンサ
１０の範囲を記憶し、温度検出回路３８からの温度検出
信号およびオフセット補償シングル・エンド出力信号を
マイクロプロセッサ３４に入力することである。次に、
マイクロプロセッサ３４がセンサ１０の範囲を用いて、
オフセットおよび温度補償出力信号ＳCを発生する。し
たがって、増幅器３０およびマイクロプロセッサ３４
は、オフセット補償センサ信号の動作範囲の温度変化に
よる変動を補償する手段として機能する。一例として、
マイクロプロセッサ３４は、部品番号MC68HC705P9を有
するMotorola社製マイクロプロセッサである。
は、ゼロ圧力差および室温において圧力センサ１０を較
正し、次に最大測定圧力および室温で圧力センサ１０を
較正することである。更に、ゼロ圧力差および室温とは
異なる温度で圧力センサ１０を較正し、最大測定圧力お
よび前述の室温とは異なる温度で較正する。一例とし
て、室温とは異なる温度は、室温より２０℃高い温度で
ある。言い換えれば、圧力センサ１０を、２５℃即ち室
温、および４５℃即ち室温より２０℃高い温度で較正す
る。当業者に知られている技法を用いて、２０℃の温度
範囲における、オフセット補償シングル・エンド出力信
号のパーセント変化を計算する。上述の技法にしたがっ
て、センサ１０の温度補償係数を約−１，９００ｐｐｍ
／℃に決定する。言い換えれば、センサ１０の温度が上
昇するにつれて、センサ１０の範囲は約１，９００ｐｐ
ｍ／℃の割合で減少する。したがって、温度検出回路３
８からの温度検出信号に応じて、＋１，９００ｐｐｍ／
℃だけシフトすることによって、オフセット補償シング
ル・エンド出力信号を温度変化に対して補償する。シン
グル・エンド出力信号をシフトするために都合のよい方
法は、マイクロプロセッサ３４（図１に示す）にセンサ
１０の範囲を記憶し、温度検出回路３８からの温度検出
信号およびオフセット補償シングル・エンド出力信号を
マイクロプロセッサ３４に入力することである。次に、
マイクロプロセッサ３４がセンサ１０の範囲を用いて、
オフセットおよび温度補償出力信号ＳCを発生する。し
たがって、増幅器３０およびマイクロプロセッサ３４
は、オフセット補償センサ信号の動作範囲の温度変化に
よる変動を補償する手段として機能する。一例として、
マイクロプロセッサ３４は、部品番号MC68HC705P9を有
するMotorola社製マイクロプロセッサである。
【００１７】以上の説明から、ブリッジ・ネットワーク
の最大測定範囲の負温度係数を補償する回路および方法
が提供されたことが認められよう。本発明の鍵となる特
徴は、温度検出回路がブリッジ・ネットワーク即ち変換
器と、一体的に集積されていることである。したがっ
て、シリコン・ダイの動作温度を正確に判定し、温度補
償係数と共に用いて、センサ出力信号の温度変化を補償
することができる。更に、本発明は、最大測定範囲を温
度補償するために抵抗を用いる必要がないので、ブリッ
ジ・ネットワーク間のバイアス電圧を増加し、ブリッジ
・ネットワークの感度を高めることができる。更に特定
すれば、供給電圧は補償抵抗間ではなく、全てブリッジ
・ネットワーク間に現れるので、電源端子とブリッジ・
ネットワークとの間に補償抵抗が結合されたセンサと比
較すると、ブリッジ・ネットワーク即ちセンサの感度が
改善されることになる。
の最大測定範囲の負温度係数を補償する回路および方法
が提供されたことが認められよう。本発明の鍵となる特
徴は、温度検出回路がブリッジ・ネットワーク即ち変換
器と、一体的に集積されていることである。したがっ
て、シリコン・ダイの動作温度を正確に判定し、温度補
償係数と共に用いて、センサ出力信号の温度変化を補償
することができる。更に、本発明は、最大測定範囲を温
度補償するために抵抗を用いる必要がないので、ブリッ
ジ・ネットワーク間のバイアス電圧を増加し、ブリッジ
・ネットワークの感度を高めることができる。更に特定
すれば、供給電圧は補償抵抗間ではなく、全てブリッジ
・ネットワーク間に現れるので、電源端子とブリッジ・
ネットワークとの間に補償抵抗が結合されたセンサと比
較すると、ブリッジ・ネットワーク即ちセンサの感度が
改善されることになる。
【図１】本発明の一実施例による、オフセットおよび温
度補償を有する圧力センサを示す概略ブロック図。
度補償を有する圧力センサを示す概略ブロック図。
【図２】図１のオフセット補償ネットワークの一実施例
を示す図。
を示す図。
【図３】本発明の一実施例による温度変動を補償するプ
ロセスを示すフロー・チャート。
ロセスを示すフロー・チャート。
１０ センサ回路 １２ 変換器 １４，１６ 電源導体 １８，２２，２６，２８ ピエゾ抵抗素子 ２０，２４ ノード ３０ 差動増幅器 ３２ 補償ネットワーク ３４ マイクロプロセッサ ３６ 抵抗 ３８ 温度検出回路 ４２，４４，４６，４８ 微調整可能金属膜抵抗 ５０ サーミスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジェフェリー・アイ・ボーム アメリカ合衆国アリゾナ州スコッツデー ル、アパートメント240、ノース・シビッ ク・センター・ブルバード4215 (72)発明者 ウィリアム・エル・ルーカス アメリカ合衆国バージニア州リッチモン ド、ルシュール・ロード1916
Claims (3)
- 【請求項１】センサ回路（１０）であって：物理的状態
に応答して動作し、第１（２４）および第２（２０）変
換器出力に差動センサ信号を発生する変換器（１２）；
入力と出力（３３）とを有するオフセット補償回路（３
２）であって、前記オフセット補償回路（３２）の入力
は前記第１変換器出力（２４）に結合され、前記オフセ
ット補償回路（３３）の出力はオフセット補償センサ信
号を発生し、前記オフセット補償センサ信号は、前記物
理的状態のゼロ状態と前記物理的状態の最大測定状態と
の間の動作範囲を有する、前記オフセット補償回路（３
２）；および温度変化によるオフセット補償センサ信号
の動作範囲の変動を補償するために用いられる温度検出
信号を発生する温度検出回路（３８）；から成ることを
特徴とするセンサ回路（１０）。 - 【請求項２】圧力検出回路（１０）であって：第１（２
４）および第２（２０）出力ノードならびに第１および
第２バイアス・ノードを有するピエゾ抵抗ブリッジ・ネ
ットワーク（１２）であって、印加される圧力に応答し
て、前記第１（２４）および第２（２０）出力ノードに
出力信号を発生する、前記ピエゾ抵抗ブリッジ・ネット
ワーク（１２）；入力端子と出力端子（３３）とを有す
るオフセット補償ネットワーク（３２）であって、前記
入力端子は前記ピエゾ抵抗ブリッジ・ネットワーク（３
２）の第１出力ノード（２４）に結合され、前記出力端
子はオフセット補償センサ信号を発生する、前記オフセ
ット補償ネットワーク（３２）；および前記第１および
第２バイアス・ノード間に結合された温度検出回路（３
８）であって、前記オフセット補償センサ信号の動作範
囲における変動を補償するために用いられる温度検出信
号を発生する前記温度検出回路（３８）；から成ること
を特徴とする圧力検出回路（１０）。 - 【請求項３】変換器（１２）の測定範囲変動を温度補償
する方法であって：前記変換器（１２）を用いて物理的
状態を検出する段階（５２）；前記検出された物理的状
態に応答して変換器出力信号を発生する段階（５４）；
前記変換器の温度を検出する段階（５８）；および前記
変換器の検出温度に応じて温度検出信号を発生し、前記
変換器出力信号の動作範囲の変動を補償する段階（６
０）；から成ることを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US33220394A | 1994-10-31 | 1994-10-31 | |
| US332203 | 1994-10-31 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08226862A true JPH08226862A (ja) | 1996-09-03 |
Family
ID=23297173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29383095A Pending JPH08226862A (ja) | 1994-10-31 | 1995-10-18 | センサおよび該センサにおける測定範囲変動を温度補償する方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0709660A1 (ja) |
| JP (1) | JPH08226862A (ja) |
| NO (1) | NO953285L (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11211586A (ja) * | 1998-01-27 | 1999-08-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体装置 |
| JP2007263667A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 応力測定装置 |
| WO2013065152A1 (ja) * | 2011-11-02 | 2013-05-10 | パイオニア株式会社 | 検出装置、検出装置が取り付けられたクランク、検出装置が取り付けられた自転車、電圧値の補正方法、電圧値補正プログラム及び電圧値補正プログラムを記録した媒体 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6489081B2 (ja) | 2016-08-05 | 2019-03-27 | 株式会社デンソー | センサ装置 |
| US11422044B2 (en) * | 2020-05-19 | 2022-08-23 | Stmicroelectronics S.R.L. | Resistive bridge sensor with temperature compensation |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4468968A (en) * | 1983-04-21 | 1984-09-04 | The Singer Company | Method and arrangement for providing information to define the values of a set of parameters which characterize an element |
| DE3427743A1 (de) * | 1984-07-27 | 1986-02-06 | Keller AG für Druckmeßtechnik, Winterthur | Verfahren zur temperaturkompensation und messschaltung hierfuer |
| GB8705192D0 (en) * | 1987-03-05 | 1987-04-08 | Secr Defence | Transducer signal conditioner |
| JPH0777266B2 (ja) * | 1988-12-28 | 1995-08-16 | 株式会社豊田中央研究所 | 半導体歪み検出装置 |
-
1995
- 1995-08-22 NO NO953285A patent/NO953285L/no not_active Application Discontinuation
- 1995-10-18 JP JP29383095A patent/JPH08226862A/ja active Pending
- 1995-10-23 EP EP95116692A patent/EP0709660A1/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11211586A (ja) * | 1998-01-27 | 1999-08-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体装置 |
| JP2007263667A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 応力測定装置 |
| WO2013065152A1 (ja) * | 2011-11-02 | 2013-05-10 | パイオニア株式会社 | 検出装置、検出装置が取り付けられたクランク、検出装置が取り付けられた自転車、電圧値の補正方法、電圧値補正プログラム及び電圧値補正プログラムを記録した媒体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NO953285L (no) | 1996-05-02 |
| NO953285D0 (no) | 1995-08-22 |
| EP0709660A1 (en) | 1996-05-01 |
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