JPH08226884A - 材料試験装置 - Google Patents
材料試験装置Info
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- JPH08226884A JPH08226884A JP3348795A JP3348795A JPH08226884A JP H08226884 A JPH08226884 A JP H08226884A JP 3348795 A JP3348795 A JP 3348795A JP 3348795 A JP3348795 A JP 3348795A JP H08226884 A JPH08226884 A JP H08226884A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 74
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 55
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 8
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】光学式伸び計で試験片の標線間の伸びを計測す
る材料試験装置において、試験片の変形による測定誤差
を無くして高精度で伸び計測を行うことができる。 【構成】光学式伸び計２を、チャックに取り付けられた
試験片１に対して試験片１に変形がない場合に合焦点と
なるとともに試験片１の上下の標線が視野に入るように
設定する。変位計３を、試験片１に対して光学式伸び計
２と同じ側で上標線の高さに設置する。変位計３で試験
片１の表面１ａと垂直な方向の試験片１の変位を検出す
る。システム制御装置４で光学式伸び計２が出力する位
置情報と変位計３が出力する変位量を取り込む。システ
ム制御装置４で、光学式伸び計２による位置情報を変位
計３による変位量に基づいて試験片の位置における位置
情報に補正して標線間の伸びを計測する。
る材料試験装置において、試験片の変形による測定誤差
を無くして高精度で伸び計測を行うことができる。 【構成】光学式伸び計２を、チャックに取り付けられた
試験片１に対して試験片１に変形がない場合に合焦点と
なるとともに試験片１の上下の標線が視野に入るように
設定する。変位計３を、試験片１に対して光学式伸び計
２と同じ側で上標線の高さに設置する。変位計３で試験
片１の表面１ａと垂直な方向の試験片１の変位を検出す
る。システム制御装置４で光学式伸び計２が出力する位
置情報と変位計３が出力する変位量を取り込む。システ
ム制御装置４で、光学式伸び計２による位置情報を変位
計３による変位量に基づいて試験片の位置における位置
情報に補正して標線間の伸びを計測する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、金属材料等の試験片の
引張試験等を行う材料試験装置に関し、試験片に印され
た標線の位置を光学式伸び計で計測して標線間の伸びを
計測するようにした材料試験装置に関する。
引張試験等を行う材料試験装置に関し、試験片に印され
た標線の位置を光学式伸び計で計測して標線間の伸びを
計測するようにした材料試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、材料試験装置に用いられる伸び計
として、例えば特開昭６３−６１１０６号公報に開示さ
れた光学式変位計がある。この特開昭６３−６１１０６
号公報の光学式変位計は、試験片の基準マークすなわち
標線を光学レンズ系でＣＣＤ等のラインセンサ上に結像
し、このラインセンサにおける標線の結像位置の差から
変位すなわち伸びを計測するものである。
として、例えば特開昭６３−６１１０６号公報に開示さ
れた光学式変位計がある。この特開昭６３−６１１０６
号公報の光学式変位計は、試験片の基準マークすなわち
標線を光学レンズ系でＣＣＤ等のラインセンサ上に結像
し、このラインセンサにおける標線の結像位置の差から
変位すなわち伸びを計測するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように、カメラの
原理を用いた光学式伸び計においては、標線を結像する
光軸がレンズ中央から外れている場合、試験片の変形に
よる測定距離の変動により、結像される像の位置が変わ
ってしまう。このため、伸び計測値に誤差が生じるとい
う問題がある。
原理を用いた光学式伸び計においては、標線を結像する
光軸がレンズ中央から外れている場合、試験片の変形に
よる測定距離の変動により、結像される像の位置が変わ
ってしまう。このため、伸び計測値に誤差が生じるとい
う問題がある。
【０００４】本発明は、光学式伸び計を用いた材料試験
装置において、試験片の変形による測定誤差を無くして
高精度で伸び計測を行うことを課題とする。
装置において、試験片の変形による測定誤差を無くして
高精度で伸び計測を行うことを課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになした本発明の材料試験装置は、試験片に負荷を加
えるとともに、光学式伸び計で計測した標線の位置情報
から標線間の伸びを計測するようにした材料試験装置に
おいて、前記光学式伸び計の合焦点位置からの前記試験
片の負荷軸方向と垂直な方向におけるの変位量を検出す
る変位計測手段を備え、前記光学式伸び計による位置情
報を、前記変位計測手段で検出した変位量に基づいて前
記試験片の位置における位置情報に補正して前記標線間
の伸びを計測するようにしたことを特徴とする。
めになした本発明の材料試験装置は、試験片に負荷を加
えるとともに、光学式伸び計で計測した標線の位置情報
から標線間の伸びを計測するようにした材料試験装置に
おいて、前記光学式伸び計の合焦点位置からの前記試験
片の負荷軸方向と垂直な方向におけるの変位量を検出す
る変位計測手段を備え、前記光学式伸び計による位置情
報を、前記変位計測手段で検出した変位量に基づいて前
記試験片の位置における位置情報に補正して前記標線間
の伸びを計測するようにしたことを特徴とする。
【０００６】
【作用】本発明の材料試験装置において、変位計測手段
は光学式伸び計の合焦点位置からの試験片の負荷軸方向
と垂直な方向におけるの変位量を検出する。光学式伸び
計は合焦点位置の標線に対しては正しい位置情報が得ら
れるように調整されており、試験片が負荷軸方向と垂直
な方向に変位すると標線も変位して正しい位置情報が得
られないが、上記変位計測手段で検出した変位量に基づ
いてこの光学式変位計の位置情報を試験片の位置におけ
る位置情報に補正すると標線の正しい位置情報が得られ
る。
は光学式伸び計の合焦点位置からの試験片の負荷軸方向
と垂直な方向におけるの変位量を検出する。光学式伸び
計は合焦点位置の標線に対しては正しい位置情報が得ら
れるように調整されており、試験片が負荷軸方向と垂直
な方向に変位すると標線も変位して正しい位置情報が得
られないが、上記変位計測手段で検出した変位量に基づ
いてこの光学式変位計の位置情報を試験片の位置におけ
る位置情報に補正すると標線の正しい位置情報が得られ
る。
【０００７】なお、試験片の負荷軸方向と垂直な方向に
おける変位量として標線についての変位量を検出し、こ
の標線についての変位量に基づいて光学式伸び計による
位置情報を補正すると、補正時の演算等が容易になる。
おける変位量として標線についての変位量を検出し、こ
の標線についての変位量に基づいて光学式伸び計による
位置情報を補正すると、補正時の演算等が容易になる。
【０００８】さらに、試験片の負荷軸方向と垂直な方向
における変位量として２つの標線についての変位量をそ
れぞれ検出し、この２つの標線についての各変位量に基
づいて、２つの標線についての前記光学式伸び計による
位置情報をそれぞれ補正すると、試験片の変形状態に係
わらずより正確に補正することができる。
における変位量として２つの標線についての変位量をそ
れぞれ検出し、この２つの標線についての各変位量に基
づいて、２つの標線についての前記光学式伸び計による
位置情報をそれぞれ補正すると、試験片の変形状態に係
わらずより正確に補正することができる。
【０００９】
【実施例】図１は本発明実施例の材料試験装置の要部の
構成を示す図である。図において、１は試験片であり、
この試験片１は、図４に示したように、中央の細い平行
部１ａの両端に把持用の拡大部１ｂを有する板状をして
いる。また、この試験片１には、標点を示すために負荷
軸方向と直交する２本の平行な上標線と下標線が描かれ
ている。
構成を示す図である。図において、１は試験片であり、
この試験片１は、図４に示したように、中央の細い平行
部１ａの両端に把持用の拡大部１ｂを有する板状をして
いる。また、この試験片１には、標点を示すために負荷
軸方向と直交する２本の平行な上標線と下標線が描かれ
ている。
【００１０】図１において、２はレンズ２ａとＣＣＤ２
ｂを備えた光学式伸び計、３は変位計測手段としての変
位計、４はシステム制御装置であり、光学式伸び計２
は、図示しないチャックに取り付けられた試験片１に対
して、この試験片１に変形がない場合に合焦点となると
ともに上下の標線が視野に入るように設定されている。
また、変位計３は、試験片１に対して光学式伸び計２と
同じ側で上標線の高さに設置されており、この変位計３
は、試験片１の表面１ａと垂直な方向すなわち試験片１
に加わる負荷軸方向と垂直な方向（以後、「光軸方向」
という。）の試験片１の変位を検出する。
ｂを備えた光学式伸び計、３は変位計測手段としての変
位計、４はシステム制御装置であり、光学式伸び計２
は、図示しないチャックに取り付けられた試験片１に対
して、この試験片１に変形がない場合に合焦点となると
ともに上下の標線が視野に入るように設定されている。
また、変位計３は、試験片１に対して光学式伸び計２と
同じ側で上標線の高さに設置されており、この変位計３
は、試験片１の表面１ａと垂直な方向すなわち試験片１
に加わる負荷軸方向と垂直な方向（以後、「光軸方向」
という。）の試験片１の変位を検出する。
【００１１】また、変位計３は、図示しないチャックの
中央までの変位を計測したときの出力が０であり、試験
片１が光学式伸び計２から遠ざかる向きに変位したとき
プラスの値を出力するように予めセットされている。
中央までの変位を計測したときの出力が０であり、試験
片１が光学式伸び計２から遠ざかる向きに変位したとき
プラスの値を出力するように予めセットされている。
【００１２】試験片１はチャックの中央に取り付けられ
るので、試験片１の厚みをｔとすると、変位計３の出力
が（−ｔ／２）のとき光学式伸び計２の合焦点位置に試
験片１があることになる。したがって、試験片１の厚み
が予め分かっていれば、変位計３の出力から試験片上の
標線位置の合焦点位置からのずれを求めることができ
る。
るので、試験片１の厚みをｔとすると、変位計３の出力
が（−ｔ／２）のとき光学式伸び計２の合焦点位置に試
験片１があることになる。したがって、試験片１の厚み
が予め分かっていれば、変位計３の出力から試験片上の
標線位置の合焦点位置からのずれを求めることができ
る。
【００１３】システム制御装置４はマイクロコンピュー
タ等によって構成されており、このシステム制御装置４
は、図示しない試験機本体における負荷検出や駆動制
御、光学式伸び計２の出力、変位計３の出力を取り込ん
で、後述説明する演算を行って試験片１の伸びを計測す
る。
タ等によって構成されており、このシステム制御装置４
は、図示しない試験機本体における負荷検出や駆動制
御、光学式伸び計２の出力、変位計３の出力を取り込ん
で、後述説明する演算を行って試験片１の伸びを計測す
る。
【００１４】図２は実施例における誤差補正の原理を説
明する図であり、図示の試験片１は負荷を加える前の状
態、試験片１′は負荷（張力）を加えたときの状態を示
している。なお、同図では試験片１，１′について光軸
方向の距離を誇張して示してある。また、図示の各点に
印した記号のうち“Ｕ”，“ｕ”は上標線に対応する
点、“Ｌ”，“ｌ”は下標線に対応する点を示し、
“Ｏ”，“ｏ”は光軸上の点を示し、“ｆ”は合焦点位
置の点を示している。
明する図であり、図示の試験片１は負荷を加える前の状
態、試験片１′は負荷（張力）を加えたときの状態を示
している。なお、同図では試験片１，１′について光軸
方向の距離を誇張して示してある。また、図示の各点に
印した記号のうち“Ｕ”，“ｕ”は上標線に対応する
点、“Ｌ”，“ｌ”は下標線に対応する点を示し、
“Ｏ”，“ｏ”は光軸上の点を示し、“ｆ”は合焦点位
置の点を示している。
【００１５】試験片１，１′は通常、弧を描いて変形し
ているので、試験片の変形した状態は、図示のように合
焦点位置から光軸方向への平行移動で表現することがで
きる。なお、試験片１の変形によって負荷軸方向の位置
も変位するが、試験片１の変形量が小さい場合、この負
荷軸方向の変位量は光軸方向の変位量に比べてオーダー
的に小さいので無視することができる。
ているので、試験片の変形した状態は、図示のように合
焦点位置から光軸方向への平行移動で表現することがで
きる。なお、試験片１の変形によって負荷軸方向の位置
も変位するが、試験片１の変形量が小さい場合、この負
荷軸方向の変位量は光軸方向の変位量に比べてオーダー
的に小さいので無視することができる。
【００１６】なお、図２において、レンズ位置から合焦
点位置までの距離ｆ、レンズ位置からＣＣＤまでの距離
Ｆは正の値、合焦点位置から試験片１，１′の標線まで
の変位量はレンズ位置から遠ざかる方向が正の値、レン
ズ位置よりも試験片１，１′側におけるＹ座標は光軸上
が０で上方向が正の値、レンズ位置よりもＣＣＤ側にお
けるＹ座標は光軸上が０で下側が正の値とする。
点位置までの距離ｆ、レンズ位置からＣＣＤまでの距離
Ｆは正の値、合焦点位置から試験片１，１′の標線まで
の変位量はレンズ位置から遠ざかる方向が正の値、レン
ズ位置よりも試験片１，１′側におけるＹ座標は光軸上
が０で上方向が正の値、レンズ位置よりもＣＣＤ側にお
けるＹ座標は光軸上が０で下側が正の値とする。
【００１７】試験片１の変形によって合焦点位置から＋
ｄ0 離れた位置に上標線ｕ0 、下標線ｌ0 があり、引張
試験の過程においては、試験片１′のように、試験片
１′が伸びるのと同時に変形が徐々に修正され、＋ｄ離
れた位置に上標線ｕ，下標線ｌが移動したとする（原点
はそれぞれ光軸上の点ｏ0 ，ｏ）。このとき、光学式伸
び計２のＣＣＤに結像される像は、それぞれＵ0 ，
Ｌ0 ，Ｕ，Ｌである（原点は光軸上の点Ｏ）。
ｄ0 離れた位置に上標線ｕ0 、下標線ｌ0 があり、引張
試験の過程においては、試験片１′のように、試験片
１′が伸びるのと同時に変形が徐々に修正され、＋ｄ離
れた位置に上標線ｕ，下標線ｌが移動したとする（原点
はそれぞれ光軸上の点ｏ0 ，ｏ）。このとき、光学式伸
び計２のＣＣＤに結像される像は、それぞれＵ0 ，
Ｌ0 ，Ｕ，Ｌである（原点は光軸上の点Ｏ）。
【００１８】ここで、従来方式によれば、ＣＣＤの結像
位置から算出する標線のそれぞれの位置は試験片が合焦
点位置にあることを前提とし、光学系の倍率（Ｆ／ｆ）
をＭとして次式（１）で算出する。なお、以下の説明に
おいては、各点の負荷軸方向（図２のＹ軸方向）の位置
座標を各点のラベルで表す。
位置から算出する標線のそれぞれの位置は試験片が合焦
点位置にあることを前提とし、光学系の倍率（Ｆ／ｆ）
をＭとして次式（１）で算出する。なお、以下の説明に
おいては、各点の負荷軸方向（図２のＹ軸方向）の位置
座標を各点のラベルで表す。
【００１９】
【数１】
【００２０】したがって、負荷軸上の標線間隔の差であ
る伸びは、
る伸びは、
【数２】 となり、
【００２１】
【数３】 の伸び計測誤差を生じる。
【００２２】ところで、ｕ0 ，ｌ0 とｕ0f，ｌ0fおよび
ｕ，ｌとｕf ，ｌf との間には、次の式（２）の関係が
ある。
ｕ，ｌとｕf ，ｌf との間には、次の式（２）の関係が
ある。
【００２３】
【数４】
【００２４】したがって、実際の標線の位置である
ｕ0 ，ｌ0 ，ｕ，ｌを結像位置の位置情報であるＵ0 ，
Ｌ0 ，Ｕ ，Ｌ と、合焦点位置からの変位量ｄ0 ，ｄ
で表現することができる。
ｕ0 ，ｌ0 ，ｕ，ｌを結像位置の位置情報であるＵ0 ，
Ｌ0 ，Ｕ ，Ｌ と、合焦点位置からの変位量ｄ0 ，ｄ
で表現することができる。
【００２５】すなわち、システム制御装置４は、試験片
に変形があった場合でも光学式伸び計２からの結像位置
の位置情報Ｕ0 ，Ｌ0 ，Ｕ ，Ｌ と変位計３からの変
位量ｄ0 ，ｄを取り込み、上式（２）に基づいて実際の
標線の位置であるｕ0 ，ｌ0，ｕ，ｌを演算するととも
に、さらに、次式（３）の演算を行って、正確な伸びを
計測する。
に変形があった場合でも光学式伸び計２からの結像位置
の位置情報Ｕ0 ，Ｌ0 ，Ｕ ，Ｌ と変位計３からの変
位量ｄ0 ，ｄを取り込み、上式（２）に基づいて実際の
標線の位置であるｕ0 ，ｌ0，ｕ，ｌを演算するととも
に、さらに、次式（３）の演算を行って、正確な伸びを
計測する。
【数５】
【００２６】なお、上記の実施例では試験片の形状が弧
であると仮定して、上標線と下標線の合焦点位置からの
変位量を同じとして説明しているが、この仮定は本発明
の本質には関わりなく、上標線と下標線の合焦点位置か
らの変位量が異なる場合にも本発明は適用できる。その
場合は変位計を上下標線にそれぞれ対応させて設置し、
上式（３）のＵ，Ｕ0 に掛かる式の合焦点位置からのず
れを上標線専用に設置した変位計の出力から、また、
Ｌ，Ｌ0 に掛かる式の合焦点位置からのずれを下標線専
用に設置した変位計の出力から算出するようにすればよ
い。
であると仮定して、上標線と下標線の合焦点位置からの
変位量を同じとして説明しているが、この仮定は本発明
の本質には関わりなく、上標線と下標線の合焦点位置か
らの変位量が異なる場合にも本発明は適用できる。その
場合は変位計を上下標線にそれぞれ対応させて設置し、
上式（３）のＵ，Ｕ0 に掛かる式の合焦点位置からのず
れを上標線専用に設置した変位計の出力から、また、
Ｌ，Ｌ0 に掛かる式の合焦点位置からのずれを下標線専
用に設置した変位計の出力から算出するようにすればよ
い。
【００２７】図３は上標線と下標線の合焦点位置からの
変位量が異なる場合の誤差補正の原理を説明する図であ
り、同図は図２と同様に、試験片１，１′について光軸
方向の距離を誇張して示してある。なお、図示の各点に
印した記号は図２の場合と同様な点を示しており、前記
同様に各点の負荷軸方向（図２のＹ軸方向）の位置座標
を各点のラベルで表すまた、距離および座標値の正負は
図２の場合と同様である。
変位量が異なる場合の誤差補正の原理を説明する図であ
り、同図は図２と同様に、試験片１，１′について光軸
方向の距離を誇張して示してある。なお、図示の各点に
印した記号は図２の場合と同様な点を示しており、前記
同様に各点の負荷軸方向（図２のＹ軸方向）の位置座標
を各点のラベルで表すまた、距離および座標値の正負は
図２の場合と同様である。
【００２８】試験片１の変形によって、合焦点位置から
＋ｄu0離れた位置に上標線ｕ0 が、＋ｄl0離れた位置に
下標線ｌ0 がぞれぞれあり、引張試験の過程において試
験片１′が伸びるのと同時に変形が徐々に修正され、＋
ｄu 離れた位置に上標線ｕが、＋ｄl 離れた位置に下標
線ｌがそれぞれ移動したとする。このとき、光学式伸び
計２のＣＣＤに結像される像は、それぞれＵ0 ，Ｌ0 ，
Ｕ，Ｌである。
＋ｄu0離れた位置に上標線ｕ0 が、＋ｄl0離れた位置に
下標線ｌ0 がぞれぞれあり、引張試験の過程において試
験片１′が伸びるのと同時に変形が徐々に修正され、＋
ｄu 離れた位置に上標線ｕが、＋ｄl 離れた位置に下標
線ｌがそれぞれ移動したとする。このとき、光学式伸び
計２のＣＣＤに結像される像は、それぞれＵ0 ，Ｌ0 ，
Ｕ，Ｌである。
【００２９】前掲の（２）式と同様に、試験片１′の上
標線と下標線の座標ｕ，ｌ、試験片１の上標線と下標線
の座標ｕ0 ，ｌ0 はＦ，ｆ，ｄu ，ｄl ，ｄu0，ｄl0，
Ｕ，Ｌ，Ｕ0 ，Ｌ0 によりそれぞれ次式（４）で示され
る。
標線と下標線の座標ｕ，ｌ、試験片１の上標線と下標線
の座標ｕ0 ，ｌ0 はＦ，ｆ，ｄu ，ｄl ，ｄu0，ｄl0，
Ｕ，Ｌ，Ｕ0 ，Ｌ0 によりそれぞれ次式（４）で示され
る。
【００３０】
【数６】
【００３１】ここで、この実施例の場合には上標線と下
標線の光軸方向の位置が僅かにずれているので、実際の
標線間隔（試験片１，１′に沿った方向の間隔）は厳密
には光軸方向の座標にも関係するが、実際の標線間隔の
光軸方向成分は負荷軸方向成分より遙に小さいので、こ
の負荷軸方向成分を実質的な標線間隔することができ
る。したがって、標線間隔を負荷軸方向成分とすると、
試験片１の標線間隔ｇｌおよび試験片１′の標線間隔ｇ
ｌ0 は次式（５）で示される。
標線の光軸方向の位置が僅かにずれているので、実際の
標線間隔（試験片１，１′に沿った方向の間隔）は厳密
には光軸方向の座標にも関係するが、実際の標線間隔の
光軸方向成分は負荷軸方向成分より遙に小さいので、こ
の負荷軸方向成分を実質的な標線間隔することができ
る。したがって、標線間隔を負荷軸方向成分とすると、
試験片１の標線間隔ｇｌおよび試験片１′の標線間隔ｇ
ｌ0 は次式（５）で示される。
【数７】
【００３２】したがって、負荷軸上の標線間隔の差であ
る伸びｓは次式（６）で示される。
る伸びｓは次式（６）で示される。
【数８】
【００３３】上式（６）において、第１項は映像による
伸び、第２項は初期の標線位置からの相対変位による補
正量、第３項は初期の標線位置からの絶対位置による補
正量を示している。
伸び、第２項は初期の標線位置からの相対変位による補
正量、第３項は初期の標線位置からの絶対位置による補
正量を示している。
【００３４】なお、上式（６）を展開して整理すると、
次式（７）に示したように、前掲の式（３）のＵ，Ｕ0
に掛かる式の合焦点位置からのずれを上標線位置の座標
に、また、Ｌ，Ｌ0 に掛かる式の合焦点位置からのずれ
を下標線位置の座標にそれぞれ置き換えた式になる。
次式（７）に示したように、前掲の式（３）のＵ，Ｕ0
に掛かる式の合焦点位置からのずれを上標線位置の座標
に、また、Ｌ，Ｌ0 に掛かる式の合焦点位置からのずれ
を下標線位置の座標にそれぞれ置き換えた式になる。
【数９】
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように本発明の材料試験装
置によれば、光学式伸び計を用いた材料試験装置におい
て、光学式伸び計の合焦点位置からの試験片の負荷軸方
向と垂直な方向におけるの変位量を検出し、光学式伸び
計による位置情報をこの検出した変位量に基づいて試験
片の位置における位置情報に補正して標線間の伸びを計
測するようにしたので、試験片の変形による測定誤差を
無くして高精度で伸び計測を行うことができる。
置によれば、光学式伸び計を用いた材料試験装置におい
て、光学式伸び計の合焦点位置からの試験片の負荷軸方
向と垂直な方向におけるの変位量を検出し、光学式伸び
計による位置情報をこの検出した変位量に基づいて試験
片の位置における位置情報に補正して標線間の伸びを計
測するようにしたので、試験片の変形による測定誤差を
無くして高精度で伸び計測を行うことができる。
【００３６】なお、試験片の負荷軸方向と垂直な方向に
おける変位量として標線についての変位量を検出し、こ
の標線についての変位量に基づいて光学式伸び計による
位置情報を補正すると、補正時の演算等が容易になる。
おける変位量として標線についての変位量を検出し、こ
の標線についての変位量に基づいて光学式伸び計による
位置情報を補正すると、補正時の演算等が容易になる。
【００３７】さらに、試験片の負荷軸方向と垂直な方向
における変位量として２つの標線についての変位量をそ
れぞれ検出し、この２つの標線についての各変位量に基
づいて、２つの標線についての前記光学式伸び計による
位置情報をそれぞれ補正すると、試験片の変形状態に係
わらずより正確に補正することができる。
における変位量として２つの標線についての変位量をそ
れぞれ検出し、この２つの標線についての各変位量に基
づいて、２つの標線についての前記光学式伸び計による
位置情報をそれぞれ補正すると、試験片の変形状態に係
わらずより正確に補正することができる。
【図１】本発明実施例の材料試験装置の要部の構成を示
す図である。
す図である。
【図２】本発明実施例における誤差補正の原理を説明す
る図である。
る図である。
【図３】本発明他の実施例における誤差補正の原理を説
明する図である。
明する図である。
【図４】本発明実施例における試験片を示す図である。
１ 試験片 ２ 光学式伸び計 ３ 変位計 ４ システム制御装置
Claims (3)
- 【請求項１】 試験片に負荷を加えるとともに、光学式
伸び計で計測した標線の位置情報から標線間の伸びを計
測するようにした材料試験装置において、前記光学式伸
び計の合焦点位置からの前記試験片の負荷軸方向と垂直
な方向における変位量を検出する変位計測手段を備え、
前記光学式伸び計による位置情報を、前記変位計測手段
で検出した変位量に基づいて前記試験片の位置における
位置情報に補正して前記標線間の伸びを計測するように
したことを特徴とする材料試験装置。 - 【請求項２】 前記変位計測手段は、前記光学式伸び計
の合焦点位置からの前記試験片の負荷軸方向と垂直な方
向における変位量として前記標線についての変位量を検
出し、該標線の変位量に基づいて該標線についての前記
光学式伸び計による前記位置情報を補正するようにした
ことを特徴とする請求項１記載の材料試験装置。 - 【請求項３】 前記変位計測手段は、前記光学式伸び計
の合焦点位置からの前記試験片の負荷軸方向と垂直な方
向における変位量として前記２つの標線についての変位
量をそれぞれ検出し、該２つの標線についての各変位量
に基づいて該２つの標線についての前記光学式伸び計に
よる前記位置情報をそれぞれ補正するようにしたことを
特徴とする請求項２記載の材料試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03348795A JP3350272B2 (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 材料試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03348795A JP3350272B2 (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 材料試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08226884A true JPH08226884A (ja) | 1996-09-03 |
| JP3350272B2 JP3350272B2 (ja) | 2002-11-25 |
Family
ID=12387921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03348795A Expired - Fee Related JP3350272B2 (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 材料試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3350272B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010271271A (ja) * | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| CN106781894A (zh) * | 2015-03-13 | 2017-05-31 | 郭淑华 | 一种教学拉伸试验装置 |
| JP2023532921A (ja) * | 2020-06-29 | 2023-08-01 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | ビデオ伸び計システム及び方法のための厚さ補正 |
-
1995
- 1995-02-22 JP JP03348795A patent/JP3350272B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010271271A (ja) * | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| CN106781894A (zh) * | 2015-03-13 | 2017-05-31 | 郭淑华 | 一种教学拉伸试验装置 |
| JP2023532921A (ja) * | 2020-06-29 | 2023-08-01 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | ビデオ伸び計システム及び方法のための厚さ補正 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3350272B2 (ja) | 2002-11-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020813 |
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