JPH08233997A - 放射x線用モノクロメータ - Google Patents

放射x線用モノクロメータ

Info

Publication number
JPH08233997A
JPH08233997A JP7038553A JP3855395A JPH08233997A JP H08233997 A JPH08233997 A JP H08233997A JP 7038553 A JP7038553 A JP 7038553A JP 3855395 A JP3855395 A JP 3855395A JP H08233997 A JPH08233997 A JP H08233997A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crystal
ray
monochromator
shaped groove
incident
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7038553A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinya Hashimoto
真也 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Atomic Energy Agency
Original Assignee
Japan Atomic Energy Research Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Atomic Energy Research Institute filed Critical Japan Atomic Energy Research Institute
Priority to JP7038553A priority Critical patent/JPH08233997A/ja
Priority to US08/607,333 priority patent/US5615245A/en
Publication of JPH08233997A publication Critical patent/JPH08233997A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KHANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高い冷却効率を有し、調整が容易で、出射X
線束を高精度で且つ安定して得ることができ、使用が容
易で、経済的であり、メンテナンスが容易な放射X線用
モノクロメータを提供することを目的とする。 【構成】 放射X線用モノクロメータは、凹V字型溝1
1を有する第1入射面12と、該V字型溝11に沿って
該第1入射面12の裏側に冷却材を流通させる冷却手段
30と、を備える第1結晶10、及びV字型凸部21を
有する第2入射面22を備える第2結晶20からなる。
第1入射面12に入射した平行X線束は、第1入射面1
2上で半楕円形状にのびて、第2入射面22に平行に反
射し、再度初期の平行X線束と同じ大きさの出射X線束
として出射し、利用光となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】高輝度シンクロトロン放射光施設
において、アンジュレータを光源としたX線ビームライ
ンに据え付ける分光器に関する。特に、X線構造解析、
材料評価用の装置の一部として使用される放射X線用モ
ノクロメータに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のモノクロメータは、図1に示すよ
うに、平板結晶の片面を反射面として、他方の片面を冷
却面とする。該反射面は加熱され、該冷却面は水あるい
は液体金属などの冷却材で冷却されている。該冷却面に
フィン等の加工を施して、冷却効率を上げているタイプ
のモノクロメータもある。しかしながら、これらの平板
型モノクロメータでは、反射面に与えられる熱による応
力変形が生じ、結晶面が熱変形を引き起こし、出射X線
が散乱してしまうという問題がある。
【0003】図2には、一般的なモノクロメータ結晶の
熱変形を示す。図2(a)に示すように、平板結晶の片
面全体に入射X線が照射されて一様に加熱され、他方の
片面が冷却されると、原子面が傾斜せずに、格子定数の
みが一様に膨張し、下方に向かうに従って膨張が小さく
なる均一膨張が引き起こされる。この場合には、加熱さ
れた片面を凸面とする弓なり変形(図2(c))が生じ
る。また、照射領域が局部的な場合には、照射された部
分のみがコブ状に盛り上がる(図2(b))。これらの
平板結晶の熱変形によって、平行入射X線束を照射した
場合に、出射X線束はE’及びE''まで広がって、つま
り非平行に反射されることになり、X線の分光性能(エ
ネルギー分解能及び強度)を著しく劣化させる。
【0004】特に、挿入光源主体の高輝度放射光施設の
ビームライン設計に際して、上記結晶の熱変形が最も深
刻な問題となっている。従来から、さまざまな工夫が施
されてはいるが、ほとんどが冷却能力の物理的向上を目
的としており、実用的な仕様のモノクロメータは得られ
ていない。むしろ、冷却能力の向上に主眼を置き過ぎて
いるため、精度が低く不安定であり、使用に際して困難
を伴い、コストが高くなり、メンテナンスが複雑となる
等の問題がある。
【0005】図3には、米国APS(Advanced Photon S
ource, U.S.A、エネルギー7.0GeV、特性光子エネル
ギー19.0KeV、ビームライン34本+α、周長11
04m)用に開発された傾斜型モノクロメータ(Inclined
Crystal Monochoromator)を示す。入射X線と格子面と
のなす角度は、結晶モノクロメータの性質上絶対変える
ことはできないが、結晶表面は任意の角度を有すること
ができる。図3に示すように、シリコン単結晶 の(1
11)格子面(分光に関する結晶面)を水平に置き、結
晶面から90度近くまで傾けて表面を切り出し、該傾斜
面にX線を入射すると、その影は長くのびて、単位面積
当たりの熱流束が小さくなるので発生熱を小さくするこ
とができる。これは、発生熱を小さくするためには、影
を長くのばさなければならず、大きな結晶が必要となる
ということを意味する。結晶の入射X線に対する傾斜角
度を変えて、ビームの垂直断面積に対する結晶表面上で
の照射面積の割合を測定した結果を図4に示すが、この
結果から傾斜角度が大きくなるにつれて、該割合が大き
くなることがわかる。つまり、結晶の入射X線束に対す
る傾斜角度を大きくするほど、入射X線の結晶表面上で
の影の面積が拡張し、単位面積当たりの熱流速が減少す
ることがわかる。一方、この幾何学では、熱変形の方向
は、ほとんど結晶格子面内にあって、回折に関する格子
面に大きな歪みを引き起こさないなどの利点がある。し
かしながら、これらの利点にもかかわらず、該傾斜型モ
ノクロメータでは、発生熱を小さくするためには、大
きな結晶を用いなければならない、調整が難しい(調
整誤差が大きく増幅される)、入射ビームの位置揺ら
ぎが出射ビームの位置を不安定にする、等の欠点が指摘
されており、実用上の困難性が課題として残されてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明
は、結晶の熱変形を最小とし、且つ従来の装置における
上記困難性を克服して、実用上の問題点を解決すること
ができる放射X線用モノクロメータを提供することを目
的とする。
【0007】具体的には、小さい結晶を用いて、冷却能
力を高めて結晶の熱変形を最小に抑えると共に、調整が
容易で、入射X線束の位置揺らぎを抑え、高い精度で安
定した出射X線束すなわち利用光を得ることができ、使
用が容易で、経済的であり、且つメンテナンスが容易な
放射X線用モノクロメータを提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】以下、本発明を説明する
にあたり、X線源から第1結晶に入射するX線を入射X
線(又は入射ビーム)と、該第1結晶により反射されて
第2結晶に入射するX線をあはんしゃX線(又は反射ビ
ーム)と、該第2結晶から出射するX線(単色X線)を
出射X線(又は出射ビーム)と、それぞれ称することに
する。
【0009】本発明の放射X線用モノクロメータは、凹
V字型溝の形状を有する入射面と、該V字型溝に沿って
該入射面の裏側に冷却材を流通させる冷却手段と、を備
える第1結晶、及び該凹V字型溝に符合する凸V字型の
形状のV字型凸部を有する第2結晶からなることを特徴
とする。
【0010】入射X線束は、前記第1結晶の凹V字型溝
の底部、つまり最も鋭角になっている部分に最も多く入
射し、該部分に発熱中心(最も強く加熱される部分、強
加熱領域ともいう)が形成される。第1結晶において
は、該V字型溝の傾斜面は、該発熱中心の周囲を取り囲
むので、この周囲の結晶の体積によって熱変形による格
子歪みを抑制することができる。
【0011】前記第2結晶のV字型凸部には、第1結晶
の凹V字溝に入射した放射X線束が反射した反射X線が
入射する。該反射X線は、第2結晶上で再び入射X線束
と同サイズにまとめられて、該第2結晶から出射X線束
として出射する。該出射X線束は、利用光として、X線
構造解析、材料評価等に用いられる単色X線束となる。
したがって、精度よく出射X線束を得るためには、前記
第1結晶と第2結晶とをわずかな誤差範囲内でセッティ
ングすることが好ましい。具体的には、第1結晶の凹V
字型溝の底部と第2結晶のV字型凸部との中心線が一致
することが最も好ましいが、両者のずれは0.01mm以
下の誤差範囲であってもよい。
【0012】前記冷却手段は、該V字型溝に沿って入射
面の裏側に設けられ、第1結晶内部の熱拡散を助長す
る。好ましくは、該冷却手段は、前記発熱中心の真下を
起点として、該V字型溝に沿って入射面の裏側に設けら
れることが好ましい。さらに、前記第1結晶底部から該
強加熱領域に向けて方向づけられ、該領域(発熱中心)
の真下を起点として対向する両方向に分離し、前記V字
型溝に沿って入射面の裏側に、冷却材を流通させる輸送
管の形状であることがより好ましい。
【0013】前記輸送管の材質としては、耐熱性及び耐
圧性等を考慮し、さらに冷却材として冷却効率の高い水
及び/又は液体ガリウム等の液体金属を用いることがで
きるように、ステンレスあるいはテフロン(デュポン社
登録商標)等を好ましく用いることができる。
【0014】
【作用】上述の構成による作用は以下のとおりである。
【0015】V字型溝の傾斜面にX線が入射すること
により、入射表面上でのX線の影をのばすことができる
ので、熱流束を小さくすることができる。
【0016】一枚の傾斜面を有する従来の傾斜型モノ
クロメータとは異なり、V字を形成する2枚の傾斜面を
有するので、長手方向の大きさを小さくすることができ
る(従来の傾斜型モノクロメータと比較すれば、半分の
大きさでよい)。
【0017】V字型溝の底部での熱流束が最も大き
く、発熱中心を形成するが、該発熱中心で発生した熱
は、V字型溝の周囲の傾斜面及び溝下方の結晶内部に向
かって放射状に拡散するので、結晶内部での熱拡散を助
長することができる。
【0018】該発熱中心を結晶が取り囲む構造であ
り、発生した熱応力を互いに打ち消し合うので、熱によ
る結晶の歪み(熱変形)を抑制することができる。
【0019】冷却手段をV字型溝に沿って入射面の裏
側に設けることにより、入射X線に起因して発生する熱
を効率良く冷却することができる。
【0020】冷却手段をステンレスあるいはテフロン
からなる輸送管形状とする場合には、冷却材として水及
び/又は液体ガリウム等の液体金属をそのままの構造で
用いることができる。
【0021】与えられた応力を打ち消し合うV字型溝
の形状とすることで、局部的な結晶変形を引き起こしや
すいジェット水流を冷却手段として用いることができ
る。
【0022】
【実施例】以下、添付図面に基づいて本発明を詳細に説
明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
【0023】本発明による放射X線モノクロメータの一
実施例を図5に示す。該モノクロメータは、凹V字型溝
11を有する第1入射面12を備える第1結晶10と、
V字型凸部21を有する第2入射面22を備える第2結
晶20とからなる。該第1結晶10は、図6に示すよう
に、該凹V字型溝11に沿って第1入射面12の裏側に
冷却材31を流通させるための輸送管30(冷却手段)
を内部に含む。該輸送管30は、第1結晶10の底部か
ら凹V字型溝11の底部(強加熱領域)13に向かって
延び、該強加熱領域13の真下でV字型溝の第1入射面
である傾斜面12にほぼ沿うように両方向に別れて延
び、第1結晶10の側壁に至り、冷却材31を外部に排
出する。前記輸送管30には、耐熱性及び耐圧性のある
ステンレスあるいはテフロンを用い、冷却材31として
水あるいは冷却効率の良い液体ガリウムを用い、ジェッ
ト水流の形態で冷却材31を強加熱領域13に与える。
【0024】図7には、本発明の放射X線用モノクロメ
ータに、放射X線束が入射した場合の第1結晶10の熱
による格子歪みの概要を示す。ここで、水平線40は格
子面を示し、X線束が入射する前の初期格子面は点線で
表され、熱変形を受けた後の格子面は実線で表されてい
る。図7から明らかなように、強加熱領域13に近い部
分の傾斜面12は、凹V字型溝11の内方に向かって膨
張している(42で示す部分)が、格子面自体の変形は
わずかである。すなわち、格子面は、凹V字型溝11の
底部13からの仮想延長線を中心として両側がわずかに
盛り上がるように変形しているが、初期格子面から大き
くずれてはいない。また強加熱領域13では、凹V字型
溝11の傾斜面12が収束しているので、熱による応力
は互いに打ち消し合って減衰し、熱歪みが抑制されてい
る。該強加熱領域13下方の結晶内部に向かう変形を受
ける領域44は、第1結晶11の底部及び側面まで到達
せず、結晶内部で終端している。したがって、熱変形の
影響は、強加熱領域13の周辺に集中し、結晶全体への
影響を最小とすることができる。このように、本発明の
放射X線用モノクロメータにおいてみられる格子面への
熱変形の影響は非常に小さいので、従来の平板型モノク
ロメータでみられるような大きな格子面の弓なり変形を
引き起こすことがない。
【0025】さて、第1結晶10に入射して第2結晶か
ら出射する平行X線束の進行経路を図8に示す。ここ
で、放射された平行X線束は、第1結晶10の凹V字型
溝11(V字傾斜面間の角度2α)を有する第1入射面
12に入射する。該第1入射面12は、入射X線束A0
00(短径2Sv、長径2Sh)に対して角度θで傾斜
しているので、入射表面上のX線の影A111は半円
楕円形(短径2Sv/sinθ、長径Sh/{tanα
sinθ})にのびる。次いで、該第1入射面12上に
て広がったX線は反射されて、第2結晶20のV字型凸
部21(V字傾斜面間の角度2α)を有する第2入射面
22に入射する。該凹V字型溝11と該V字型凸部21
とは、互いに符合する形状を有し、符合する一に配され
ているので、第1入射面12及び第2入射面22は間隔
Dで平行に配置されることになる。よって、第1入射面
12からの反射X線束は、第2入射面22に平行に入射
され、同じサイズのX線の半円楕円形の影A222
第2入射面22上に与える。また、第1入射面12と第
2入射面22の平行配置により、該第2入射面22に入
射したX線束は、第1入射面12へのブラッグ角θと同
じ大きさの角度θで出射される。こうして、最初の平行
X線束と同じサイズ及び平行性を有する出射X線束A3
33(短径2Sv、長径2Sh)が得られる。この場合
の入射X線束の断面は図9より、また出射X線束の断面
は図10より読み取れる。ここで図9は、アンジュレー
タからの第1ビームのパワー分布を示した分布図であ
り、第1結晶に入射する入射X線束を表す。図10は、
モノクロメータからの出射ビームのパワー分布を示す分
布図であり、第2結晶からの出射X線束を表す。これら
の図面から、両者の断面は非常によく一致していること
がわかり、出射X線束は入射X線束を精度よく再現して
いることがわかる。該出射X線束が、X線構造解析、材
料評価用等として利用される利用光となるので、高精度
のX線の分光性能が得られることがわかる。
【0026】ここで、放射X線束と精度良く全く同じサ
イズ及び平行性を有する利用光を得るためには、前記第
1結晶10の凹V字型溝11の底部13の中心線と、第
2結晶20のV字型凸部21の先端部分23の中心線
と、が一致するように配置することが好ましい。仮に、
第1結晶10及び第2結晶20を間隔bだけずらして配
置した場合には、図11に示すように、第1結晶10か
らの反射X線は、第2結晶20の第2入射面22に平行
には入射しないので、得られる出射X線は、最初の平行
X線束とは異なる非平行X線束となり、出射X線束の断
面の形状は、図12に示すように2bcosθ/tan
αのずれを有する段違いの断面となる。一例として、入
射X線束と入射面との間の角度θ(ブラッグ角)を15
度、V溝の角度2αを60度、第1結晶と第2結晶との
ずれbを0.1mmとした場合の出射X線束の強度分布つ
まり単色光の強度分布を調べると、図13に示すように
段違いの断面となることがわかる。第1結晶と第2化粧
とのずれbを0.1mmとして、ブラッグ角θ及びV字型
溝の角度2αを変えて、出射ビームの断面に生じるずれ
をプロットしたグラフを図14に示す。この図より、θ
及び2αが90度に近づくほど、出射ビームの断面に生
じるずれは小さくなることがわかる。つまり、良好な精
度で入射X線束にほぼ等しい出射X線束を得るために、
V字型溝の角度を90度に近づけることによっても、第
1結晶と第2結晶とのずれを補償することができること
がわかる。
【0027】
【発明の効果】本発明の放射X線用モノクロメータによ
れば、入射X線の結晶表面における単位面積当たりの熱
流束を小さくすることができ、慣用の水冷却あるいは液
体ガリウム冷却型モノクロメータと同程度の冷却特性を
得ることができる。また、入射X線により与えられる熱
応力を互いに打ち消し合う構造としているので、熱変形
を抑制することができる。さらに、凹凸に組合わされた
V字型形状の2つの結晶入射面を備えているので、長手
方向の大きさを従来の傾斜型モノクロメータと比較した
場合に半分にすることができ、小型化が可能である。ま
たこの構造により、機械的変形が生じにくくなり、たと
え変形が生じても、光学的性能に影響のない方向に逃が
すことができる。また冷却手段を結晶底部から延ばし入
射面の裏側に沿って設けているので、冷却効率を上げる
ことができる。
【0028】したがって、本発明の放射X線用モノクロ
メータは、小型で、入射X線束の位置揺らぎを抑え、調
整が容易で、出射X線束を高精度に且つ安定に得ること
ができ、使用が簡単で、経済的であり、メンテナンスが
容易である、という効果を奏する。
【0029】以上のように、良好な冷却特性、優れた歪
み特性を有し、且つ小型で使いやすく、高精度で安定し
た出射X線束を得ることができ、さらに装置の設置、調
整、メンテナンスが容易な本発明の放射X線用モノクロ
メータは、第3世代放射光施設において用いることによ
って、その能力を十分に引き出すことができるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、従来の平板型モノクロメータの冷却法
を示す原理図である。
【図2】図2は、従来の平板型モノクロメータにおいて
みられる熱変形を説明する原理図である。
【図3】図3は、米国APS用に開発された傾斜型モノ
クロメータの原理図である。
【図4】図4は、種々の回折角度における結晶面と入射
X線束との入射角度及び結晶表面上の照射面積/X線束
の垂直断面積の関係を示したグラフである。
【図5】図5は、本発明の放射X線用モノクロメータの
一実施例を示す斜視図である。
【図6】図6は、本発明の放射X線用モノクロメータの
冷却手段の一実施例を示す断面図である。
【図7】図7は、本発明の放射X線用モノクロメータに
おける格子歪みを示す断面図である。
【図8】図8は、第1結晶及び第2結晶が正確な位置に
配置されている場合の入射X線束の進路を示す原理図で
ある。
【図9】図9は、アンジュレータの第1ビームのパワー
分布を示す分布図である。
【図10】図10は、第1結晶及び第2結晶が正確な位
置に配置されている場合、図9に示す第1ビームがモノ
クロメータを通過した出射ビームのパワー分布を示す分
布図である。
【図11】図11は、第1結晶及び第2結晶がミスセッ
ティングされた場合の出射X線形状を計算するための原
理図である。
【図12】図12は、第1結晶及び第2結晶がずれbを
有してミスセッティングされた場合、楕円状の入射X線
束から得られる出射X線束の断面の強度分布を示す分布
図である。
【図13】図13は、第1結晶及び第2結晶がずれbを
有してミスセッティングされた場合、楕円状の第1ビー
ムがモノクロメータを通過した出射ビームのパワー分布
を示す分布図である。
【図14】図14は、第1結晶及び第2結晶がずれbを
有してミスセッティングされた場合、出射ビームの断面
におけるずれの大きさを示すグラフである。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 凹V字型溝の形状を有する入射面と、該
    V字型溝に沿って該入射面の裏側に冷却材を流通させる
    冷却手段と、を備える第1結晶、及び該凹V字型溝に符
    合する凸V字型の形状のV字型凸部を有する第2結晶か
    らなることを特徴とする放射X線用モノクロメータ。
  2. 【請求項2】 前記第1結晶と前記第2結晶とは、前記
    凹V字型溝の底部と前記V字型凸部の先端部とが、ほぼ
    同じ線上に位置するように配置されていることを特徴と
    する請求項1の放射X線用モノクロメータ。
  3. 【請求項3】 前記V字型溝及び前記V字型凸部のV字
    の角度は、ほぼ90度であることを特徴とする請求項1
    の放射X線用モノクロメータ。
  4. 【請求項4】 前記冷却手段は、第1結晶底部から前記
    凹V字型溝の底部の真下まで延び、該底部の真下から対
    向する両方向に分離し、凹V字型溝に沿って入射面の裏
    側に延びていることを特徴とする請求項1〜3のいずれ
    かに記載の放射X線用モノクロメータ。
  5. 【請求項5】 前記冷却手段は、耐圧性及び耐熱性を備
    える材料からなる管状部材を含むことを特徴とする請求
    項1〜4のいずれかに記載の放射X線用モノクロメー
    タ。
  6. 【請求項6】 前記冷却手段は、冷却材として水及び/
    又は液体金属を用いることを特徴とする請求項1〜5の
    いずれかに記載の放射X線用モノクロメータ。
  7. 【請求項7】 前記液体金属として、液体ガリウムを用
    いることを特徴とする請求項6の放射X線用モノクロメ
    ータ。
  8. 【請求項8】 前記冷却手段は、ジェット水流を与える
    ことを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の放射
    X線用モノクロメータ。
JP7038553A 1995-02-27 1995-02-27 放射x線用モノクロメータ Pending JPH08233997A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7038553A JPH08233997A (ja) 1995-02-27 1995-02-27 放射x線用モノクロメータ
US08/607,333 US5615245A (en) 1995-02-27 1996-02-26 Monochromator for radiant X-rays

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7038553A JPH08233997A (ja) 1995-02-27 1995-02-27 放射x線用モノクロメータ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08233997A true JPH08233997A (ja) 1996-09-13

Family

ID=12528490

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7038553A Pending JPH08233997A (ja) 1995-02-27 1995-02-27 放射x線用モノクロメータ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5615245A (ja)
JP (1) JPH08233997A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6282259B1 (en) * 1999-09-10 2001-08-28 Rigaku/Msc, Inc. X-ray mirror system providing enhanced signal concentration
DE10021075A1 (de) * 2000-04-28 2001-10-31 Max Planck Gesellschaft Verwendung von isotopenangereicherten Halbleiter-Einkristallen als röntgenoptische Komponenten
DE10160472B4 (de) 2001-12-08 2004-06-03 Bruker Axs Gmbh Röntgen-optisches System und Verfahren zur Abbildung einer Strahlungsquelle

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5004319A (en) * 1988-12-29 1991-04-02 The United States Of America As Represented By The Department Of Energy Crystal diffraction lens with variable focal length
US5485497A (en) * 1991-11-12 1996-01-16 Hitachi, Ltd. Optical element and projection exposure apparatus employing the same
US5287395A (en) * 1992-07-06 1994-02-15 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Inclined monochromator for high heat-load synchrotron x-ray radiation

Also Published As

Publication number Publication date
US5615245A (en) 1997-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4275729B2 (ja) 急速熱処理装置及び方法
Chen et al. Guiding and focusing neutron beams using capillary optics
JP2011516892A (ja) ポリキャピラリ光学系を有するx線発生装置
JP2005530168A (ja) X線用光学装置
US5077774A (en) X-ray lithography source
US6898270B2 (en) X-ray optical system with collimator in the focus of an X-ray mirror
US20180239252A1 (en) Reflector
JP2006032322A (ja) レーザにより誘発されるプラズマを用いたeuv放射線の時間的に安定な生成のための装置
Kumakhov X-ray capillary optics: history of development and present status
JPH08233997A (ja) 放射x線用モノクロメータ
Grabovski et al. Investigation of Al plasmas from thin foils irradiated by high-intensity extreme ultraviolet
US6289077B1 (en) Transmission system for synchrotron radiation light
EP2304739B9 (en) High intensity x-ray beam system
JPH04335514A (ja) X線露光装置
JP4080665B2 (ja) 赤外線加熱炉
Salmaso et al. BEaTriX (Beam Expander Testing X-ray facility) for testing ATHENA’s SPO modules: advancement status
Jaski et al. Design and Application of CVD Diamond Windows for X‐Rays at the Advanced Photon Source
Mail et al. Molybdenum microfocus source coupling to polycapillary optics for powder diffraction
JP2011522256A5 (ja)
JP3063532B2 (ja) X線光学素子の冷却装置
JP2011164043A (ja) X線装置
JP3145809B2 (ja) X線露光装置
JPH0443998A (ja) X線分析装置,微小部x線回折装置,蛍光x線分析装置及び,x線光電子分析装置
Menthel et al. Conservation of brightness in undulator beamlines: Tangent errors and their reduction
JP3065982B2 (ja) シンクロトロン放射光の伝搬装置