JPH0824219A - 内視鏡装置 - Google Patents

内視鏡装置

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JPH0824219A
JPH0824219A JP6160335A JP16033594A JPH0824219A JP H0824219 A JPH0824219 A JP H0824219A JP 6160335 A JP6160335 A JP 6160335A JP 16033594 A JP16033594 A JP 16033594A JP H0824219 A JPH0824219 A JP H0824219A
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JP
Japan
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light
lamp
light source
endoscope
light amount
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Application number
JP6160335A
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English (en)
Inventor
Sohei Fukunishi
荘平 福西
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Toshiba Corp
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Medical Systems Engineering Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ランプ個々の性能に関係なく、ランプ光からの
熱に起因する内視鏡スコープの熱的損傷を未然に回避で
きる内視鏡装置を提供する。 【構成】内視鏡装置は内視鏡スコープ1及び装置本体2
を備える。装置本体2は画像処理部11及び画像表示部
12と、スコープ1内のライトガイド6に照明用の光を
供給する光源部13とを備える。光源部13はランプ電
源14及びランプ15を備え、ランプ15とライトガイ
ド6の入射口6aとの間に、赤外線カットフィルタ1
6、絞り17及び集光レンズ18を配置する。また光源
部13はランプ光量の制御系に、フィルタ16で除去さ
れた反射光bを検出するセンサ19と、センサ19から
の反射光bと予め設定されたランプ情報(光量上限値及
び光量下限値)とを比較する光量管理プロセッサ20
と、プロセッサ20からの電流調整指令S1、S2に基
づいてランプ電流Iを調整する制御装置21とを備え
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、内視鏡装置に係り、特
にライトガイドの耐熱能力を考慮に入れた照明用光源の
光量制御に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、内視鏡装置の照明用の光源として
は、高輝度特性を有するキセノンランプやハロゲンラン
プ等のランプが使用されることが多い。このランプで生
成された光は、内視鏡スコープ内のライトガイドを介し
て被写体に向けて照明されるようになっている。
【0003】ここで、上記ランプからの光に起因する熱
対策としては、光源とライトガイドとの間に赤外線カッ
トフィルタを配置し、この赤外線カットフィルタによ
り、ランプ光の内の主要な発熱源としての赤外線を除去
する技術が既に知られている(例えば、実開昭63−7
8912公報)。
【0004】一方、上記ランプの交換時期を知る方法と
しては、ランプ光量の内の一部を取り出し、その一部の
ランプ光量に基づいてランプ寿命を知らせる方法(例え
ば、特開平1−223411公報)や、上記と同等の赤
外線カットフィルタからの反射光(赤外線)を検出し、
その検出値に基づいてランプ寿命を知らせる方法(例え
ば、特開平6−109981公報)等が提案されてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、赤外線
カットフィルタを用いた熱対策は既に知られているが、
この熱対策を用いた内視鏡装置であっても、ライトガイ
ドの耐熱能力等の熱的特性を特に意識した構成ではなか
ったため、以下の如く、不都合があった。。
【0006】例えば、臨床の場では被写体の体腔内の明
るさを確保するため、絞りを開放にし、ランプの最大光
量をライトガイドに投入することがあった。しかも、こ
のランプの最大光量は一般にランプ個々で異なっている
ので、ランプによってはライトガイドの耐熱能力をはる
かに越えた過剰な光が投入されることもあった。この結
果、例えば内視鏡スコープの先端部に配置されるCCD
等の精密電子部品がライトガイドの発熱に起因して故障
したり、ライトガイドそのものに熱的損傷が生じたりす
ることがあった。
【0007】ところで一方、上記のように、ランプ交換
時期を知る方法は知られているが、この方法を用いた内
視鏡装置であっても、ランプ交換時期の告知時から実際
のランプ交換時までの間は、内視鏡スコープを光量不足
状態のままで使用しなければならなかった。
【0008】さらに、上記問題とは別に、従来の内視鏡
装置はランプ光量の経時変化情報を管理する構成ではな
かったので、ランプの急激な変化や明るさのふらつき等
の異常事態やその原因を正確に知ることができなかっ
た。
【0009】本発明は、上述の従来技術の問題を考慮し
てなされたものであり、ランプ個々の性能に関係なく、
ランプ光からの熱に起因する内視鏡スコープの熱的損傷
を未然に回避できる内視鏡装置を提供することを第1の
目的とする。
【0010】また、ランプ光量の経時変化情報を管理
し、かつ、ランプの異常事態を正確に把握できる内視鏡
装置を提供することを第2の目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記第1の目的を達成す
るために、請求項1記載の発明に係る内視鏡装置は、内
視鏡スコープと、その内視鏡スコープの先端にライトガ
イドを介して指令電流に応じた光を供給する光源とを備
えた構成とし、上記光源の光量を検出する検出手段と、
この検出手段により検出された上記光量と上記ライトガ
イドの耐熱能力に基づいて予め設定された光量上限値と
を比較する比較手段と、この比較手段により上記光量が
上記光量上限値よりも大きいと判断される間、上記光源
の光量状態を制御する光量制御手段とを備えている。
【0012】また請求項2記載の発明では、前記光量制
御手段は、前記指令電流の大小を制御する手段である。
【0013】また請求項3記載の発明では、前記光量制
御手段は、前記光源と前記ライトガイドとの間に配置さ
れた絞りと、その絞りの開閉を制御する手段とを有して
いる。
【0014】また請求項4記載の発明では、前記比較手
段は、前記検出手段により検出された前記光量と前記光
源の交換時期に相当する光量下限値とを比較する第2の
比較手段を含み、前記光量制御手段は、上記第2の比較
手段により上記光量が上記光量下限値よりも小さいと判
断される間、上記光源の光量状態を制御する手段を含ん
でいる。
【0015】さらに請求項5記載の発明では、前記検出
手段は、前記光源と前記ライトガイドとの間に配置され
た赤外線カットフィルタと、前記光量を上記赤外線カッ
トフィルタを介して検出する手段とを有している。
【0016】一方、上記第2の目的を達成するために、
請求項6記載の発明に係る内視鏡装置は、内視鏡スコー
プと、その内視鏡スコープの先端にライトガイドを介し
て指令電流に応じた光を供給する光源とを備えた構成と
し、上記光源の光量を検出する検出手段と、この検出手
段により検出された上記光量の経時変化情報を記憶する
記憶手段と、この記憶手段により記憶された上記経時変
化情報をアクセス可能に管理する情報管理手段とを備え
ている。
【0017】また請求項7記載の発明では、前記記憶手
段により記憶された上記光量の経時変化情報に基づい
て、前記光源の光学的性能が正常であるか否かを判断す
る判断手段と、この判断手段により上記光源の光学的性
能が正常でないと判断されるとき、少なくとも正常でな
い旨を含むランプ異常情報を出力可能な手段とを有して
いる。
【0018】
【作用】請求項1〜5記載の発明に係る内視鏡装置は、
検出手段により光源の光量が検出され、その光量と予め
ライトガイドの耐熱能力に基づいて設定された光量上限
値とが比較手段により比較され、その比較の結果、光量
が光量上限値よりも大きいと判断される間、制御手段に
より光源の光量状態が制御される。
【0019】また、請求項6及び7記載の発明に係る内
視鏡装置は、検出手段により光源の光量が検出され、そ
の光量の経時変化情報が記憶手段により記憶されると共
に、情報管理手段によりアクセス可能に管理される。
【0020】
【実施例】以下、本発明の第1実施例を図1〜図4に基
づき説明する。
【0021】図1に示す内視鏡装置は、内視鏡スコープ
1と、この内視鏡スコープ1が接続される装置本体2と
を備えている。
【0022】内視鏡スコープ1は、体腔内に挿入可能な
細径筒状の挿入部3と、この挿入部3が接続される操作
部4とを備えている。操作部4はユニバーサルコード5
を介して装置本体2に接続されている。
【0023】内視鏡スコープ1の内部には、光伝送を担
うライトガイド6が挿通されている。このライトガイド
6は、口径が例えば2(mm)に設定されており、装置本
体2側に設けた入射口6aからの光を、挿入部3の先端
側に設けた照射口(照明レンズ等から成る)6bに供給
できるようになっている。ここで、照射口6bから放射
された光は、被写体Pの体腔内壁の表面等を照明すると
共に、その表面等から反射される光が挿入部3の先端側
に設けた撮像光学系(対物レンズ等から成る)6cを介
してCCD(固体撮像素子)6dの撮像面に入射され、
映像信号に変換されるようになっている。
【0024】また、内視鏡スコープ1の内部には、信号
線(同軸ケーブル)7が挿通されている。この信号線7
は、その一端(挿入部3先端側)がCCD6dに接続さ
れると共に、その他端が装置本体2に接続され、CCD
6dからの映像信号を装置本体2に供給するようになっ
ている。
【0025】装置本体2は、CCD6dからの映像信号
に基づいて画像処理を行う画像処理部11と、この画像
処理部11により処理された画像をモニタ等に表示する
画像表示部12と、ライトガイド6に光を供給する光源
部13とを備えている。
【0026】この内、光源部13は、ランプ電源14
と、このランプ電源14からのランプ電流Iに応じて光
を生成するランプ(キセノンランプ、ハロゲンランプ等
の高輝度特性を有するランプ光源)15とを有し、この
ランプ15とライトガイド6の入射口6aとの間に、赤
外線カットフィルタ16、絞り17及び集光レンズ18
が配置されている。
【0027】この内、赤外線カットフィルタ16は、ラ
ンプ15からの入射光aの内の所定波長の赤外線を光路
外側、例えば光軸の略垂直方向の外側に向けて反射させ
る(以下、「反射光」bと呼ぶ)と共に、上記赤外線を
除く光をそのまま透過させる(以下、「透過光」cと呼
ぶ)ようになっている(図1中の矢印参照)。透過光c
は、絞り17の開口部分を通過し、集光レンズ18を介
してライトガイド6の入射口6aに集束する一方、反射
光bは、センサ(後述)に入射するようになっている。
【0028】ここで、反射光bと透過光cとの光量値の
比率は、入射光aの光量値の大小に関係なく、常に一定
となっている。従って、反射光bの光量により、入射光
a、即ちランプ15の光量が一義的に求められるため、
本第1実施例では、ランプ光量を反射光bの光量に基づ
いて決定し、そのランプ光量の大小に応じてランプ電流
を制御する制御系を採用する。
【0029】この制御系として、光源部13は、反射光
bの光量を検出するセンサ19と、ランプ光量を管理す
る光量管理プロセッサ20と、ランプ電流Iを制御する
制御装置21とを備えている。
【0030】センサ19は、光電変換素子等から成り、
赤外線カットフィルタ16からの反射光bの強さを常時
検出し、この検出値に対応した電気信号(以下、検出信
号Si)を光量管理プロセッサ20に出力する。
【0031】光量管理プロセッサ20は、例えばマイク
ロコンピュータを搭載して構成され、そのマイクロコン
ピュータが、センサ19からの検出信号Siと予めメモ
リ等に記憶されたランプ情報M1とに基づいて、図2に
示す処理を行うようになっている。上記ランプ情報M1
には、ライトガイド6の耐熱能力等の熱的特性に応じて
設定された光量上限値Laに相当するセンサ上限値Sa
と、使用限界光量に応じて設定された光量下限値Lbに
相当するセンサ下限値Sbとが含まれている。
【0032】ここで、上記光量管理プロセッサ20の処
理を図2に基づき説明する。
【0033】まず、ステップ1にてセンサ19からの検
出信号Siが入力されると、ステップ2にて、その検出
信号Siがセンサ上限値Saよりも大きいか否か(Si
>Sa)が判断される。このステップ2でYES(Si
>Sa)と判断されると、ステップ3の処理に移行し、
そのステップ3にて電流調整指令S1が制御装置21に
出力される。
【0034】上記ステップ2でNOと判断されると、ス
テップ4の処理に移行し、そのステップ4にて、検出信
号Siがセンサ下限値Sbよりも小さいか否か(Si<
Sb)が判断される。このステップ4でYES(Si<
Sb)と判断されると、ステップ5の処理に移行し、そ
のステップ5にて電流調整指令S2が制御装置21に出
力されると共に、ランプ交換指令S3が画像処理部11
に出力されるようになっている。このランプ交換指令S
3により、画像処理部11では、オペレータが容易に認
知可能な「ランプ交換」等に相当する画像付帯情報とし
てのテキストデータを例えば画像メモリ内の所定アドレ
スに書込み、そのテキストデータを画像データと共に画
像表示部12に出力するようになっている。
【0035】制御装置21は、通常使用時には基準電流
値Inに設定されているランプ電流Iを、光量管理プロ
セッサ20からの電流調整指令S1及びS2に応じて、
電流上限値Iaと電流下限値Ibとの間で適宜に調整す
るようになっている。電流上限値Ia及び電流下限値I
bは、予めランプ15の性能等に基づいて設定されてい
る(図4参照)。
【0036】ここで、制御装置21は、電流調整指令S
1時(通常、ランプ使用の初期状態)には、光量上限値
Laを超えたランプ光量Lを光量上限値La近傍に維持
するようにランプ電流Iを所定範囲内(Ib≦I<I
n)で調整すると共に、電流調整指令S2時(通常、ラ
ンプ使用の末期状態、即ちランプ交換時期)には、光量
下限値Laよりも低下したランプ光量Lを光量下限値L
a近傍に維持するようにランプ電流Iを所定範囲内(I
n<I≦Ia)で調整するようになっている。この制御
装置21により調整されたランプ電流Iがランプ15に
出力される。
【0037】次に、本第1実施例の動作を図3及び図4
に基づき説明する。
【0038】いま、図3に示すランプ性能を有するラン
プを用いて、図4に示す積算使用時間(以下、単に「時
間」と呼ぶ)T1にて、内視鏡装置が起動したとする。
この起動に際して、ランプ光量Lが光量上限値Laを超
えている。このランプ光量Lに相当する赤外線カットフ
ィルタ16からの反射光bが、センサ19でリアルタイ
ムに検出される。この検出された検出信号Siは光量管
理プロセッサ20でセンサ上限値Saよりも大きいと判
断され、電流調整指令S1が制御装置21に出力され
る。これにより、ランプ電流Iが制御装置21で調整さ
れ、ランプ光量Lが光量上限値La近傍に維持される。
【0039】上記光量上限値Laの維持状態は、内視鏡
装置が動作している間、時間T2に至るまで連続的に保
たれる。つまり、ランプ電流Iを基準電流値Inとした
際にランプ光量Lが光量上限値Laを超えると判断され
る間、そのランプ光量Lを光量上限値La近傍に維持す
るように、ランプ電流Iが下限電流値Iaと基準電流値
Inとの間で適宜に調整される(図4では、ランプ電流
Iを下限電流値Ia近傍から一定の割合で増加させてい
る)。従って、ライトガイド6の耐熱能力を超えるラン
プ光量Lが、入射口6aに入射されない。
【0040】次いで、上記光量上限値Laの維持状態を
経て、時間T2に示すように、ランプ電流Iが通常使用
時の基準電流値Inに達したとする。この場合、センサ
19で検出された検出信号Siが光量管理プロセッサ2
0でセンサ上限値Saよりも小さいと判断される。これ
により、ランプ電流Iが基準電流値Inに維持され、ラ
ンプ光量Lが光量上限値Laから低下状態となる。
【0041】上記ランプ光量Lの低下状態は、内視鏡装
置が動作している間、時間T3に至るまで進行する。つ
まり、基準電流値Inが維持される間、ランプ光量Lが
劣化等に拠り徐々に低下していく。
【0042】次いで、上記ランプ光量Lの低下状態を経
て、時刻T3に示すように、ランプ光量Lが光量下限値
Lbよりも低下したとする。この場合、検出信号Siが
センサ下限値Sbよりも小さいと判断され、電流調整指
令S2が制御装置21に出力されると共に、ランプ交換
指令S3が画像処理部11に出力される。これにより、
ランプ電流Iが制御装置21で調整され、ランプ光量L
が光量下限値La近傍に維持される。
【0043】上記光量下限値Laの維持状態は、内視鏡
装置が動作している間、時間T4に至るまで連続的に保
たれる。つまり、ランプ電流Iが基準電流値Inと上限
電流値Iaとの間で適宜に調整される(図4では、ラン
プ電流Iを一定の割合で増加させている)。
【0044】上記光量下限値Laの維持状態時に、オペ
レータはランプを新たに交換すればよい。つまり、従来
ではランプ交換時期の告知時から実際の交換時までの
間、照明光の光量不足状態でも使用しなければならなか
ったのに比べ、本実施例では告知時から一定期間、少な
くとも光量下限値Laが維持されるので、ランプ交換ま
での間、検査に必要な照明光の光量を確保できる。
【0045】その後、ランプ交換が間に合わず、時間T
4に示すように、ランプ電流Iが上限電流値Iaに達し
たとする。この場合、ランプ電流Iが上限電流値Iaに
維持されて、ランプ光量Lが光量下限値Laよりも低下
する。しかしながら、このような事態になる前に、殆ど
の場合、上述の如く、予めランプ交換が終了しているた
め、内視鏡検査に支障をきたす事態にはならない。
【0046】上記のように、本実施例では、ライトガイ
ドの耐熱能力等の熱的特性を考慮に入れてランプ光量を
制御する構成としたため、ライトガイドの耐熱能力を越
えるランプ光の投入が未然に回避されて、ライトガイド
の熱的損傷等を防止でき、装置の信頼性が大幅に向上す
るようになる。
【0047】なお、上記第1実施例では、ランプ光量を
赤外線カットフィルタを介して検出する構成としたが、
本発明は必ずしもこの構成に限定されるものではなく、
例えば絞りとライトガイドとの間にハーフミラーを配置
し、そのハーフミラーからの反射光をセンサで検出する
としてもよい。
【0048】続いて、本発明の第2実施例を図5に基づ
き説明する。
【0049】本実施例は、上記第1実施例の光源部の制
御系の一部を変更して適用したものである。ここで、上
記実施例と同一又は同等の構成要素については、同一又
は同等の符号を付して、その説明を簡略又は省略する。
【0050】図5に示す内視鏡装置は、光源部13aの
制御系に、上記実施例と同等のセンサ19及び光量管理
プロセッサ20aを有し、その光量管理プロセッサ20
aの出力側にオート・ライト・コントロール装置(以
下、「ALC装置」と呼ぶ)20を備えている。
【0051】この内、光量管理プロセッサ20aは、セ
ンサ19からの検出信号Siと、予めメモリ等に記憶さ
れたランプ情報M2の内の上記と同じ光量上限値Laに
相当するセンサ検出値Saとを比較し、その比較結果に
応じて、絞り調整指令S4をALC装置20に出力する
ようになっている。
【0052】ALC装置20は、内視鏡スコープ1から
の映像信号を電気的コネクタ20aを介して受け取るよ
うになっており、その映像信号の内の被写体Pの明るさ
等に関する情報に基づいて、観察に最も適した光量に相
当する絞り開度H1を決定し、その決定した絞り開度H
1を絞り17に出力するようになっている。
【0053】また、ALC装置20は、光量管理プロセ
ッサ20aからの絞り調整指令S4に応じて、上記絞り
開度H1よりも優先度の高い絞り開度H2を決定し、そ
の決定された絞り開度H2を絞り17に出力するように
なっている。その絞り開度H2は、光量上限値Laを超
えてライトガイド6の入射口6aに入射されるランプ光
量を光量上限値La近傍に維持するように調整されてい
る。その他の構成は、上記第1実施例と同等である。
【0054】上記構成により、上記実施例と同等の効果
を得ることができる。
【0055】なお、上記実施例の絞りは、被写体Pの明
るさが暗くても絞りを所定開度以上開かない電子シャッ
タ等を併用する構成であってもよい。
【0056】続いて、本発明の変形例を図6に基づき説
明する。
【0057】本変形例は、上記第1又は第2実施例の光
源部の制御系に、ランプ光量の経時変化状態を管理する
機構を加えて適用したものである。ここで、上記実施例
と同一又は同等の構成要素については、同一又は同等の
符号を付して、その説明を簡略又は省略する。
【0058】図6に示す内視鏡装置は、上記実施例の光
量管理プロセッサ20b内に、機能上、センサ19から
の検出信号Siに相当するランプ光量の経時変化情報を
記憶する記憶部(メモリ等)25と、その記憶部25に
より記憶された経時変化情報をアクセス可能に管理する
情報管理部26と、記憶部25により記憶されたランプ
光量の経時変化情報に基づいて、ランプ15の光学的性
能が異常であるか否かを判断する判断部27と、この判
断部27によりランプ15が異常であると判断されたと
き、その異常である旨やその異常内容等のランプ異常情
報を画像処理部11に出力可能な出力部28とを備えて
いる。
【0059】この内、判断部27は、予めメモリ等に設
定された演算アルゴリズム(又はこの演算アルゴリズム
と同等の演算機能を有する演算回路等)に従って処理を
行う演算器(図示しない)を内蔵している。演算アルゴ
リズムは、記憶部25からのランプ光量の経時変化情報
に基づき、ランプ15の異常事態、例えばランプ光量の
急激な上昇、低下等の変化状態や、ランプ光量の継続的
な不安定状態等を演算可能に設定されている。この演算
器の処理により、判断部27はランプ異常情報を出力部
28を介して画像処理部11に出力するようになってい
る。その他の構成は、上記第1又は第2実施例と同等で
ある。
【0060】上記構成により、本変形例では、上記第1
又は第2実施例と同等の効果に加え、ランプ光量の経時
変化情報を管理できると共に、ランプの異常事態に対す
る処置を適切に行うことができる。
【0061】なお、上記変形例に予備用の非常光源を別
途に加える構成でもよい。この非常光源は、ランプの異
常事態時に例えば体腔内に挿入された内視鏡スコープを
取出可能な光量を有していればよい。
【0062】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1〜5記載
の発明に係る内視鏡装置は、ライトガイドの耐熱能力を
考慮に入れて光源の光量状態を制御する構成としたた
め、ライトガイドの発熱に起因する内視鏡スコープの熱
的損傷に至る事態を未然に回避でき、装置の信頼性が大
幅に向上するようになる。
【0063】また、請求項6及び7記載の発明に係る内
視鏡装置は、光源の光量の経時変化情報を管理する構成
としたので、光源の性能を容易に管理でき、光源に異常
があたときでも、その異常内容に応じた適切な処置を実
施できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例に係る内視鏡装置の全体構成を示す
概略ブロック図。
【図2】光量管理プロセッサの処理を示す概略フローチ
ャート。
【図3】第1実施例のランプ性能の経時変化を説明する
図。
【図4】第1実施例の動作説明図。
【図5】第2実施例に係る内視鏡装置の全体構成を示す
概略ブロック図。
【図6】変形例に係る内視鏡装置の要部構成を示す概略
ブロック図。
【符号の説明】
1 内視鏡スコープ 2 装置本体 3 挿入部 4 操作部 5 ユニバーサルコード 6 ライトガイド 6a 入射口 6b 照射口(照明レンズ等) 6c 撮像光学系 6d CCD 7 信号線 13 光源部 15 ランプ 16 赤外線カットフィルタ 17 絞り 18 集光レンズ 19 センサ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内視鏡スコープと、その内視鏡スコープ
    の先端にライトガイドを介して指令電流に応じた光を供
    給する光源とを備えた内視鏡装置において、上記光源の
    光量を検出する検出手段と、この検出手段により検出さ
    れた上記光量と少なくとも上記ライトガイドの耐熱能力
    を含む熱的特性に基づいて予め設定された光量上限値と
    を比較する比較手段と、この比較手段により上記光量が
    上記光量上限値よりも大きいと判断される間、上記光源
    の光量状態を制御する光量制御手段とを備えたことを特
    徴とする内視鏡装置。
  2. 【請求項2】 前記光量制御手段は、前記指令電流の大
    小を制御する手段である請求項1記載の内視鏡装置。
  3. 【請求項3】 前記光量制御手段は、前記光源と前記ラ
    イトガイドとの間に配置された絞りと、その絞りの開閉
    状態を制御する手段とを有する請求項1記載の内視鏡装
    置。
  4. 【請求項4】 前記比較手段は、前記検出手段により検
    出された前記光量と前記光源の交換時期に相当する光量
    下限値とを比較する第2の比較手段を含み、前記光量制
    御手段は、上記第2の比較手段により上記光量が上記光
    量下限値よりも小さいと判断される間、上記光源の光量
    状態を制御する手段を含む請求項1又は2記載の内視鏡
    装置。
  5. 【請求項5】 前記検出手段は、前記光源と前記ライト
    ガイドとの間に配置された赤外線カットフィルタと、前
    記光量を上記赤外線カットフィルタを介して検出する手
    段とを有する請求項1記載の内視鏡装置。
  6. 【請求項6】 内視鏡スコープと、その内視鏡スコープ
    の先端にライトガイドを介して指令電流に応じた光を供
    給する光源とを備えた内視鏡装置において、上記光源の
    光量を検出する検出手段と、この検出手段により検出さ
    れた上記光量の経時変化情報を記憶する記憶手段と、こ
    の記憶手段により記憶された上記経時変化情報をアクセ
    ス可能に管理する情報管理手段とを備えたことを特徴と
    する内視鏡装置。
  7. 【請求項7】 前記記憶手段により記憶された前記経時
    変化情報に基づいて、前記光源の光学的性能が正常であ
    るか否かを判断する判断手段と、この判断手段により上
    記光源の光学的性能が正常でないと判断されるとき、少
    なくとも正常でない旨を含むランプ異常情報を出力可能
    な手段とを有する請求項6記載の内視鏡装置。
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