JPH08247149A - 静圧軸受及びその製造方法 - Google Patents

静圧軸受及びその製造方法

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JPH08247149A
JPH08247149A JP7081856A JP8185695A JPH08247149A JP H08247149 A JPH08247149 A JP H08247149A JP 7081856 A JP7081856 A JP 7081856A JP 8185695 A JP8185695 A JP 8185695A JP H08247149 A JPH08247149 A JP H08247149A
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JP
Japan
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silicon substrate
groove
air supply
etching
bearing
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JP7081856A
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Yoshihiko Suzuki
美彦 鈴木
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高い剛性及び減衰性能を得ることができ、低
コストで製造が容易な静圧軸受及びその製造方法を提供
する。 【構成】 シリコン基板1の両面に窒化珪素膜2を成膜
する工程と、シリコン基板の反軸受面側の面1bにある
窒化珪素膜2をフォトリソグラフィ法及びドライエッチ
ング法により部分的に除去する工程と、シリコン基板の
露出した箇所をエッチングして四角錘状の溝3を形成す
る工程と、保持部材4を、その給気溝4bが四角錘状の
溝3と合致するようにシリコン基板1に接合する工程
と、シリコン基板の軸受面1aにある窒化珪素膜2を除
去した後、溝3の底部3aが所定の寸法で開口するまで
シリコン基板をエッチングする工程とを有している。シ
リコン基板に、給気孔となる四角錘状の溝3と、軸受面
1aに開口した溝3の底部3aとをエッチングにより非
常に小さく形成することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、移動台、回転台、位
置決め装置等に用いられる静圧軸受及びその製造方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来の代表的な静圧軸受を図7(a)〜
(f)に示す。これらの静圧軸受は、給気の形式によっ
てそれぞれ次のように呼ばれている。図7(a)の静圧
軸受70は自成絞り、図7(b)の静圧軸受71はオリ
フィス絞り、図7(c)の静圧軸受72はスロット絞
り、図7(d)の静圧軸受73は毛細管絞り、図7
(e)の静圧軸受74は表面絞り、図7(f)の静圧軸
受75は多孔質絞りとそれぞれ呼ばれている。
【0003】静圧軸受70〜74は、軸受面に開口した
1つないし数個の給気孔70a〜74aを有している。
静圧軸受71及び74は、給気孔とそれぞれ連通する深
さが数ミクロン〜数十ミクロンの浅いくぼみ(浅い凹
部)を軸受面に有している。
【0004】静圧軸受70〜74については、各給気孔
70a〜74aを小さくするほど剛性を高めることがで
きること、及び所定の軸受性能を得るためには前記浅い
くぼみの深さを数ミクロン以下に高精度に加工する必要
があることが理論的にも実験的にも知られている。
【0005】図7(f)の静圧軸受75は、多孔質体7
5aの粒子間の隙間を給気孔として利用したものであ
る。この静圧軸受75の場合、多孔質体75aの表面を
メッキや接着剤によって目づまりさせる必要がある。こ
の目づまりをさせない場合、剛性が低くなったり、静圧
軸受け特有のニューマティックハンマーという発振現象
が生じたりすることが実験的に知られている。また、こ
の静圧軸受け75の場合には、できるだけ多孔質体75
aの表面で目づまりさせて流体を絞ることにより、高い
剛性と高い減衰性能が得られることが知られている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の静圧軸受70〜74では、給気孔70a〜74aを
ドリル等で機械加工しているので、その孔径を0. 3mm
程度にするのが限界であり、剛性をあまり高くするこ
とができないという問題がある。
【0007】また、上記従来の静圧軸受71〜74で
は、浅いくぼみを機械加工で形成しており、浅いくぼみ
の深さを数ミクロン以下に高精度に加工する必要がある
ために製造コストが増加してしまうという問題がある。
【0008】また、上記従来の静圧軸受75では、多孔
質体75aの表面を目づまりさせる必要があり、その目
づまりの度合を管理するのが難しく、一定の性能を有す
る静圧軸受を安定して製造するのが難しいと共に、でき
るだけ多孔質体75aの表面で目づまりさせことが難し
く、高い剛性と高い減衰性能を得るのが難しいという問
題がある。
【0009】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、その課題は高い剛性及び減衰性能を得ること
ができ、低コストで製造が容易な静圧軸受及びその製造
方法を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め請求項1記載の発明に係る静圧軸受の製造方法は、シ
リコン基板の両面に保護膜を成膜する工程と、前記シリ
コン基板の一方の面にある前記保護膜の1箇所以上をフ
ォトリソグラフィ法及びドライエッチング法により除去
して前記シリコン基板の一方の面を1箇所以上で露出さ
せる工程と、前記シリコン基板の露出した箇所をエッチ
ングして凹溝を1つ以上形成する工程と、空気流入口及
びこの流入口にそれぞれ連通する1つ以上の給気溝を有
する保持部材を、前記給気溝が前記凹溝と合致するよう
に前記シリコン基板に接合する工程と、前記シリコン基
板の他方の面にある前記保護膜を除去した後、前記各凹
溝の底部が所定の寸法で開口するまで前記シリコン基板
をエッチングする工程とを有している。
【0011】請求項2記載の発明に係る静圧軸受の製造
方法は、前記シリコン基板として100面方位のものを
用い、かつ前記凹溝を1つ以上形成する工程において、
前記シリコン基板の露出した箇所をエッチングして四角
錘状の溝を1つ以上形成する。 請求項3記載の発明に
係る静圧軸受の製造方法は、シリコン基板の両面に保護
膜を成膜する工程と、前記シリコン基板の一方の面にあ
る前記保護膜の1箇所以上をフォトリソグラフィ法及び
ドライエッチング法により除去して前記シリコン基板の
一方の面を1箇所以上で露出させる工程と、前記シリコ
ン基板の露出した箇所をエッチングして凹溝を1つ以上
形成する工程と、空気流入口及びこの流入口にそれぞれ
連通する1つ以上の給気溝を有する保持部材を、前記給
気溝が前記凹溝と合致するように前記シリコン基板に接
合する工程と、前記シリコン基板の他方の面のうち、前
記各凹溝付近が露出するように前記他方の面に第2の保
護膜を形成する工程と、前記シリコン基板の他方の面の
露出した部分を、前記各凹溝の底部が所定の寸法で開口
するまでエッチングする工程と、前記第2の保護膜を除
去する工程とを有している。
【0012】前述の課題を解決するため請求項4記載の
発明に係る静圧軸受は、四角錘状の溝を1つ以上有し、
前記溝の底部が軸受面側で開口したシリコン基板と、空
気流入口及びこの流入口にそれぞれ連通する1つ以上の
給気溝を有し、前記給気溝が前記四角錘状の溝と合致す
るように前記シリコン基板の反軸受面側に接合された保
持部材とを備えている。
【0013】
【作用】請求項1記載の静圧軸受の製造方法では、シリ
コン基板に、給気孔となる1つ以上の凹溝と、軸受面と
なるシリコン基板の他方の面に開口した各凹溝の底部と
をエッチングにより非常に小さく形成することができ
る。
【0014】請求項2記載の静圧軸受の製造方法では、
100面方位のシリコン基板を用い、この基板に給気孔
となる1つ以上の四角錘状の溝をエッチングにより形成
するので、軸受面となるシリコン基板の他方の面に開口
した各四角錘状の溝の底部により前記軸受面に近い箇所
で流体を絞ることができる。
【0015】請求項3記載の静圧軸受の製造方法では、
シリコン基板に、給気孔となる1つ以上の凹溝と、軸受
面となるシリコン基板の他方の面に開口した各凹溝の底
部とをエッチングにより非常に小さく形成することがで
きると共に、軸受面となるシリコン基板の他方の面に、
各凹溝の底部に連通する非常に浅井にくぼみを第2の保
護膜をマスクとして形成することができる。
【0016】請求項4記載の静圧軸受では、シリコン基
板に、給気孔となる1つ以上の四角錘状の溝と、シリコ
ン基板の軸受面に開口した各四角錘状の溝の底部とをエ
ッチングにより非常に小さく形成することができる。
【0017】
【実施例】以下この発明の各実施例を図面に基づいて説
明する。
【0018】図1はこの発明の第1実施例に係る静圧軸
受の製造方法を示している。この第1実施例は、多数の
給気孔(例えば、約3万個の給気孔)を有する静圧軸受
の製造方法に関するものである。
【0019】第1実施例に係る静圧軸受の製造方法は、
下記の工程(1)〜(6)を有している。
【0020】(1)自然酸化膜で覆われ、直径が3イン
チ程度、かつ厚さが250μm程度である100面方位
のn型シリコン基板1の両面に、低圧気相成長法により
ジクロルシランとアンモニアガスを原料として窒化珪素
膜(保護膜)2を700nm程度の膜厚で成膜する(図
1(a)参照)。
【0021】(2)シリコン基板1の、軸受面1aとは
反対側にある反軸受面1bにある窒化珪素膜2を、部分
的にフォトリソグラフィ法及びドライエッチング法によ
り除去する(図1(a)参照)。その除去部2aの形状
は、一辺が5μm〜30μm程度の四角形状である。ま
た、その除去部2aの数、その形状及び大きさは、任意
に設定することができる。
【0022】(3)次に、シリコン基板1を、水酸化カ
リウム(KOH)水溶液またはテトラメチルアンモニウ
ムハイドロオキサイド(TMAH)水溶液等のシリコン
のエッチング液に浸漬し、シリコン基板1の露出した箇
所をエッチングして四角錘状の溝(凹溝)3を形成する
(図1(a)参照)。このエッチングでは、シリコン基
板1の111面で自動的にエッチングが停止する。ま
た、四角錘状の溝3の形状は、シリコンの結晶方位によ
り決定され、四角錘状の溝3の底部の角度は70. 6度
になる。
【0023】(4)次に、空気流入口4a及びこの流入
口4aにそれぞれ連通する多数の給気溝4bを有するガ
ラスでできた保持部材4を、各給気溝4bがシリコン基
板1の各四角錘状の溝3と合致するようにシリコン基板
1の反軸受面側に陽極接合により接合する(図1(b)
参照)。各給気溝4bは、図4及び図5に示すように、
ガラス4の一方の面い縦横に形成されている。また、保
持部材4には、1つのシリコン基板1を用いて多数の静
圧軸受を一度に作った後に、静圧軸受を1つずつに分離
するための深さ50μm程度の溝が、ダイシングソーや
湿式エッチングまたは超音波加工等により形成されてい
る。
【0024】(5)シリコン基板1の軸受面1aにある
窒化珪素膜2を、ドライエッチングにより除去した後、
シリコン基板1の軸受面1a側全体をKOH等のシリコ
ンの異方性エッチング液に浸漬し、前記各四角錘状の溝
3の底部3aが所定の寸法(一辺が1〜5μm程度の寸
法)で開口するまで、シリコン基板1をエッチングする
(図1(c)、図2及び図3参照)。
【0025】(6)最後に、保持部材4に、空気配管固
定用のねじ孔5aを有する窒化珪素、鉄系合金等の補強
部材5を接着する。
【0026】以上の工程(1)〜(6)により、一辺が
1〜5μm程度の矩形の開口で、約3万個の開口3a
(四角錘状の溝3の底部)を、軸受面1a内に10〜3
0μm程度のピッチで有し、全体の大きさが約50mm
角の静圧軸受を製作することができた。
【0027】上記第1実施例に係る静圧軸受の製造方法
によれば、シリコン基板1に、給気孔となる多数の四角
錘状の溝(凹溝)3と、軸受面1aに開口した各四角錘
状の溝3の底部3a(矩形の開口)とをエッチングによ
り非常に小さく形成することができる。したがって、高
い剛性及び減衰性能を有する静圧軸受を、低コストでか
つ容易に製造することができる。
【0028】また、上記第1実施例によれば、100面
方位のシリコン基板1を用い、この基板1に、給気孔と
なる1つ以上の四角錘状の溝3をエッチングにより形成
するので、軸受面1aに開口した各四角錘状の溝3の底
部3aにより軸受面1aに近い箇所で流体を絞ることが
できる。
【0029】なお、上記第1実施例では、給気孔となる
前記四角錘状の溝3を多数設けることにより、図7
(f)に示す多孔質絞りの静圧軸受に近い構造の静圧軸
受の製造方法について説明したが、前記四角錘状の溝3
の数を4個程度に減らすと共にその溝3の大きさを10
0〜400μmにすれば、図7(a)で示す自成絞りに
近い静圧軸受を作ることができる。例えば、静圧軸受の
外径が40mm角程度で、給気孔となる四角錘状の溝3
の数を4つとし、かつその4つの溝3を90度の等角度
で配置したものを作ることができる。
【0030】次に、図6に基づいてこの発明の第2実施
例に係る静圧軸受の製造方法を説明する。
【0031】この第2実施例は、給気孔となる四角錘状
の溝3と、この溝3に連通する浅いくぼみ21とを有す
る複合絞りの静圧軸受を製造する方法に関する。なお、
この実施例では、四角錘状の溝3の数は上記第1実施例
よりもはるかに少ない。
【0032】第2実施例に係る静圧軸受の製造方法は、
下記の工程(1)〜(8)を有している。
【0033】(1)自然酸化膜で覆われ、直径が3イン
チ程度、かつ厚さが400μm程度である100面方位
のn型シリコン基板1の両面に、低圧気相成長法により
ジクロルシランとアンモニアガスを原料として窒化珪素
膜(保護膜)2を700nm程度の膜厚で成膜する(図
6(a)参照)。
【0034】(2)シリコン基板1の、軸受面1aとは
反対側にある反軸受面1bにある窒化珪素膜2を、部分
的にフォトリソグラフィ法及びドライエッチング法によ
り除去して500μm角程度の開口2aを形成する(図
6(a)参照)。
【0035】(3)次に、シリコン基板1を、水酸化カ
リウム(KOH)水溶液またはテトラメチルアンモニウ
ムハイドロオキサイド(TMAH)水溶液等のシリコン
のエッチング液に浸漬し、シリコン基板1の露出した箇
所をエッチングして四角錘状の溝(凹溝)3を形成する
(図6(a)参照)。
【0036】(4)次に、空気流入口4a及びこの流入
口4aに連通する給気溝4bを有するガラスでできた保
持部材4を、各給気溝4bがシリコン基板1の各四角錘
状の溝3と合致するようにシリコン基板1の反軸受面側
に陽極接合により接合する(図6(b)参照)。
【0037】(5)シリコン基板1の軸受面1aにある
全ての窒化珪素膜2を、ドライエッチングにより除去し
た後、シリコン基板1の軸受面1a側全体をKOH等の
シリコンの異方性エッチング液に浸漬してシリコン基板
1全体を27μm程度エッチングする(図6(c)参
照)。
【0038】(6)次に、シリコン基板1の軸受面1a
のうち、各四角錘状の溝3付近が露出するように、軸受
面1aにレジスト、酸化膜、窒化膜などの保護膜(第2
の保護膜)20を形成する(図6(c)参照)。
【0039】(7)シリコン基板1の軸受面1aの露出
した部分のみを、前記各四角錘状の溝3の底部3aが所
定の寸法(例えば、一辺が100μm程度の寸法)で開
口するまで、80μm程度エッチングする(KOH等の
シリコンの異方性エッチング液を用いた湿式のエッチン
グまたはドライエッチング)(図6(d)参照)。これ
によって、シリコン基板1の軸受面1aに深さが80μ
m程度の浅いくぼみ21が形成される。
【0040】(8)最後に、前記第2の保護膜20をド
ライエッチングにより除去する(図6(e)参照)。
【0041】以上の工程(1)〜(8)により、一辺が
100μm程度の矩形の開口で、深さ80μmの浅いく
ぼみを有し、全体の大きさが約50mm角の静圧軸受を
製作することができた。
【0042】なお、上記第2実施例では、シリコン基板
1の軸受面1aにある全ての窒化珪素膜2を除去した
後、軸受面1aのうち、各四角錘状の溝3付近が露出す
るように、軸受面1aに第2の保護膜20を形成してい
るが、軸受面1aにある窒化珪素膜2の一部をパターニ
ングにより残して前記第2の保護膜20を形成してもよ
い。この場合には、工程数を減らすことができる。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明に係る静圧軸受の製造方法によれば、シリコン基板
に、給気孔となる1つ以上の凹溝と、軸受面となるシリ
コン基板の他方の面に開口した各凹溝の底部とをエッチ
ングにより非常に小さく形成することができる。したが
って、静圧軸受の剛性及び減衰性能を高めることができ
ると共に、静圧軸受を低コストでかつ容易に製造するこ
とができる。
【0044】請求項2記載の発明に係る静圧軸受の製造
方法によれば、100面方位のシリコン基板を用い、こ
の基板に給気孔となる1つ以上の四角錘状の溝をエッチ
ングにより形成するので、軸受面となるシリコン基板の
他方の面に開口した各四角錘状の溝の底部により前記軸
受面に近い箇所で流体を絞ることができる。
【0045】請求項3記載の発明に係る静圧軸受の製造
方法によれば、シリコン基板に、給気孔となる1つ以上
の凹溝と、軸受面となるシリコン基板の他方の面に開口
した各凹溝の底部とをエッチングにより非常に小さく形
成することができると共に、軸受面となるシリコン基板
の他方の面に、各凹溝の底部に連通する非常に浅井にく
ぼみを第2の保護膜をマスクとして形成することができ
る。したがって、静圧軸受の剛性及び減衰性能を高める
ことができると共に、静圧軸受を低コストでかつ容易に
製造することができる。
【0046】請求項4記載の発明に係る静圧軸受によれ
ば、シリコン基板に、給気孔となる1つ以上の四角錘状
の溝と、シリコン基板の軸受面に開口した各四角錘状の
溝の底部とをエッチングにより非常に小さく形成するこ
とができる。また、軸受面に近い箇所で流体を絞ること
ができる。したがって、静圧軸受の剛性及び減衰性能を
高めることができると共に、静圧軸受を低コストでかつ
容易に製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の第1実施例に係る静圧軸受の
製造方法を示す説明図である。
【図2】図2はシリコン基板の平面図である。
【図3】図3は図2のAーA線に沿った断面図である。
【図4】図4は保持部材を示す平面図である。
【図5】図5は図4のBーB線に沿った断面図である。
【図6】図6はこの発明の第2実施例に係る静圧軸受の
製造方法を示す説明図である。
【図7】図7は従来の静圧軸受を示す断面図である。
【符号の説明】
1 シリコン基板 2 窒化珪素膜(保護膜) 3 四角錘状の溝(凹溝) 4 保持部材 4a 空気流入口 4b 給気溝 20 第2の保護膜

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シリコン基板の両面に保護膜を成膜する
    工程と、 前記シリコン基板の一方の面にある前記保護膜の1箇所
    以上をフォトリソグラフィ法及びドライエッチング法に
    より除去して前記シリコン基板の一方の面を1箇所以上
    で露出させる工程と、 前記シリコン基板の露出した箇所をエッチングして凹溝
    を1つ以上形成する工程と、 空気流入口及びこの流入口にそれぞれ連通する1つ以上
    の給気溝を有する保持部材を、前記給気溝が前記凹溝と
    合致するように前記シリコン基板に接合する工程と、 前記シリコン基板の他方の面にある前記保護膜を除去し
    た後、前記各凹溝の底部が所定の寸法で開口するまで前
    記シリコン基板をエッチングする工程とを有しているこ
    とを特徴とする静圧軸受の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記シリコン基板として100面方位の
    ものを用い、かつ前記凹溝を1つ以上形成する工程にお
    いて、前記シリコン基板の露出した箇所をエッチングし
    て四角錘状の溝を1つ以上形成することを特徴とする請
    求項1記載の静圧軸受の製造方法。
  3. 【請求項3】 シリコン基板の両面に保護膜を成膜する
    工程と、 前記シリコン基板の一方の面にある前記保護膜の1箇所
    以上をフォトリソグラフィ法及びドライエッチング法に
    より除去して前記シリコン基板の一方の面を1箇所以上
    で露出させる工程と、 前記シリコン基板の露出した箇所をエッチングして凹溝
    を1つ以上形成する工程と、 空気流入口及びこの流入口にそれぞれ連通する1つ以上
    の給気溝を有する保持部材を、前記給気溝が前記凹溝と
    合致するように前記シリコン基板に接合する工程と、 前記シリコン基板の他方の面のうち、前記各凹溝付近が
    露出するように前記他方の面に第2の保護膜を形成する
    工程と、 前記シリコン基板の他方の面の露出した部分を、前記各
    凹溝の底部が所定の寸法で開口するまでエッチングする
    工程と、 前記第2の保護膜を除去する工程とを有していることを
    特徴とする静圧軸受の製造方法。
  4. 【請求項4】 四角錘状の溝を1つ以上有し、前記溝の
    底部が軸受面側で開口したシリコン基板と、 空気流入口及びこの流入口にそれぞれ連通する1つ以上
    の給気溝を有し、前記給気溝が前記四角錘状の溝と合致
    するように前記シリコン基板の反軸受面側に接合された
    保持部材とを備えていることを特徴とする静圧軸受。
JP7081856A 1995-03-14 1995-03-14 静圧軸受及びその製造方法 Withdrawn JPH08247149A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11303871A (ja) * 1998-04-21 1999-11-02 Mitsutoyo Corp 流体軸受及びその製造方法
CN105928960A (zh) * 2016-07-13 2016-09-07 重庆大学 一种精密气浮转台

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11303871A (ja) * 1998-04-21 1999-11-02 Mitsutoyo Corp 流体軸受及びその製造方法
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