JPH08247742A - 帯状物の２次元形状測定装置 - Google Patents
帯状物の２次元形状測定装置Info
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- JPH08247742A JPH08247742A JP5530995A JP5530995A JPH08247742A JP H08247742 A JPH08247742 A JP H08247742A JP 5530995 A JP5530995 A JP 5530995A JP 5530995 A JP5530995 A JP 5530995A JP H08247742 A JPH08247742 A JP H08247742A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 基準線からの相対的な位置座標を求めること
により、うねり及び幅の変動を有する帯状物の２次元形
状を測定する。 【構成】 テーブル３の上面に、リニアガイド４と同方
向に延びる２本の互いに平行な基準線14、15が距離Ｌを
隔てて形成されており、被測定物である帯状物16を、こ
の２本の基準線の間に、これとほぼ平行に載置する。セ
ンサ６は、リニアガイド４に沿って移動し、その走査線
17によって基準線14上の点Ｍi 、基準線15上の点Ｎi 及
び帯状物16の縁部の点Ｐi 、Ｑi の座標を読む。その座
標を一方の基準線14に対する相対的な位置座標に変換
し、帯状物16全体の２次元的形状を測定する。また、走
査線17が基準線14、15と直交しない場合には、測定した
座標に誤差を生じるので、基準線14、15に直交する直線
と走査線17とがなす角度及び２本の基準線間の距離Ｌを
基に、測定した座標を補正する。
により、うねり及び幅の変動を有する帯状物の２次元形
状を測定する。 【構成】 テーブル３の上面に、リニアガイド４と同方
向に延びる２本の互いに平行な基準線14、15が距離Ｌを
隔てて形成されており、被測定物である帯状物16を、こ
の２本の基準線の間に、これとほぼ平行に載置する。セ
ンサ６は、リニアガイド４に沿って移動し、その走査線
17によって基準線14上の点Ｍi 、基準線15上の点Ｎi 及
び帯状物16の縁部の点Ｐi 、Ｑi の座標を読む。その座
標を一方の基準線14に対する相対的な位置座標に変換
し、帯状物16全体の２次元的形状を測定する。また、走
査線17が基準線14、15と直交しない場合には、測定した
座標に誤差を生じるので、基準線14、15に直交する直線
と走査線17とがなす角度及び２本の基準線間の距離Ｌを
基に、測定した座標を補正する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、帯状物の２次元形状を
測定する測定装置に関する。
測定する測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、磁気テープ、インクリボン等
の帯状物の生産には、幅広の原反から所定幅の帯状の製
品を複数得るために、原反の幅方向に所定の間隔で有し
た切刃により、原反を所定の幅に切断するスリッター装
置が用いられている。通常、原反には塗工や蒸着等の前
工程の影響による巻き乱れが存在する。このため、前記
スリッター装置を用いて切断した帯状物は、原反の巻き
乱れ等の影響で切断面が蛇行し、帯状物の長さ方向にう
ねりと幅の変動が生じている。
の帯状物の生産には、幅広の原反から所定幅の帯状の製
品を複数得るために、原反の幅方向に所定の間隔で有し
た切刃により、原反を所定の幅に切断するスリッター装
置が用いられている。通常、原反には塗工や蒸着等の前
工程の影響による巻き乱れが存在する。このため、前記
スリッター装置を用いて切断した帯状物は、原反の巻き
乱れ等の影響で切断面が蛇行し、帯状物の長さ方向にう
ねりと幅の変動が生じている。
【０００３】近年、特に磁気テープの記録密度が高度化
し、磁気テープのμｍオーダーのうねりや幅の変動がト
ラッキング・エラーの原因となるため、生産時に製品の
うねり及び幅の変動を管理することが重要になってお
り、その正確な測定が必要となっている。このような測
定のために、帯状物を載置するテーブルと、該テーブル
上をリニアガイドに沿って一方向に移動するセンサを備
えて、帯状物の２次元形状を測定する測定装置が考えら
れている。
し、磁気テープのμｍオーダーのうねりや幅の変動がト
ラッキング・エラーの原因となるため、生産時に製品の
うねり及び幅の変動を管理することが重要になってお
り、その正確な測定が必要となっている。このような測
定のために、帯状物を載置するテーブルと、該テーブル
上をリニアガイドに沿って一方向に移動するセンサを備
えて、帯状物の２次元形状を測定する測定装置が考えら
れている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
測定装置では、帯状物の局所的な幅は測定できるもの
の、センサの移動位置のズレなどにより、数百ｍｍの長
さに渡って存在するμｍオーダーの幅の変動と微小なう
ねりとを含む帯状物全体の２次元形状を正確に測定する
ことができないという問題点があった。
測定装置では、帯状物の局所的な幅は測定できるもの
の、センサの移動位置のズレなどにより、数百ｍｍの長
さに渡って存在するμｍオーダーの幅の変動と微小なう
ねりとを含む帯状物全体の２次元形状を正確に測定する
ことができないという問題点があった。
【０００５】本発明はこのような従来の問題点を解決す
る帯状物の２次元形状測定装置を提供することを目的と
する。
る帯状物の２次元形状測定装置を提供することを目的と
する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このため、請求項１に係
る発明では、帯状の被測定物を載置するテーブルと、該
テーブル上を一方向に移動しつつ被測定物の縁部の２次
元座標を出力するセンサとを備える帯状物の２次元形状
測定装置において、前記テーブル上に前記センサの移動
方向に延びる基準線を形成する一方、前記センサ出力に
基づいて被測定物の縁部の２次元座標を読み取る被測定
物縁部測定手段と、前記センサ出力に基づいて基準線の
２次元座標を読み取る基準線測定手段と、前記被測定物
の縁部の２次元座標から前記基準線の２次元座標を減算
して、前記被測定物の縁部の２次元座標を前記基準線に
対する相対的な位置座標に修正する相対座標変換手段と
を設けたことを特徴とする。
る発明では、帯状の被測定物を載置するテーブルと、該
テーブル上を一方向に移動しつつ被測定物の縁部の２次
元座標を出力するセンサとを備える帯状物の２次元形状
測定装置において、前記テーブル上に前記センサの移動
方向に延びる基準線を形成する一方、前記センサ出力に
基づいて被測定物の縁部の２次元座標を読み取る被測定
物縁部測定手段と、前記センサ出力に基づいて基準線の
２次元座標を読み取る基準線測定手段と、前記被測定物
の縁部の２次元座標から前記基準線の２次元座標を減算
して、前記被測定物の縁部の２次元座標を前記基準線に
対する相対的な位置座標に修正する相対座標変換手段と
を設けたことを特徴とする。
【０００７】また、請求項２に係る発明では、帯状の被
測定物を載置するテーブルと、該テーブル上を一方向に
移動しつつ被測定物の縁部の２次元座標を出力するセン
サとを備える帯状物の２次元形状測定装置において、前
記テーブル上に前記センサの移動方向に延びる互いに平
行な２本の基準線を形成する一方、前記センサ出力に基
づいて被測定物の縁部の２次元座標を読み取る被測定物
縁部測定手段と、前記センサ出力に基づいて各基準線の
２次元座標を読み取る基準線測定手段と、前記被測定物
の縁部の２次元座標から一方の基準線の２次元座標を減
算して、前記被測定物の縁部の２次元座標を前記一方の
基準線に対する相対的な位置座標に修正する相対座標変
換手段と、前記測定による２本の基準線の２次元座標よ
り求められる基準線間の距離の計測値からセンサの傾き
を検出する傾き検出手段と、前記被測定物の基準線に対
する相対的な位置座標を前記センサの傾きにより補正す
る誤差補正手段とを設けたことを特徴とする。
測定物を載置するテーブルと、該テーブル上を一方向に
移動しつつ被測定物の縁部の２次元座標を出力するセン
サとを備える帯状物の２次元形状測定装置において、前
記テーブル上に前記センサの移動方向に延びる互いに平
行な２本の基準線を形成する一方、前記センサ出力に基
づいて被測定物の縁部の２次元座標を読み取る被測定物
縁部測定手段と、前記センサ出力に基づいて各基準線の
２次元座標を読み取る基準線測定手段と、前記被測定物
の縁部の２次元座標から一方の基準線の２次元座標を減
算して、前記被測定物の縁部の２次元座標を前記一方の
基準線に対する相対的な位置座標に修正する相対座標変
換手段と、前記測定による２本の基準線の２次元座標よ
り求められる基準線間の距離の計測値からセンサの傾き
を検出する傾き検出手段と、前記被測定物の基準線に対
する相対的な位置座標を前記センサの傾きにより補正す
る誤差補正手段とを設けたことを特徴とする。
【０００８】
【作用】請求項１に係る発明によれば、被測定物である
帯状物の縁部の２次元座標を、基準線に対する相対的な
位置座標として得ることにより、センサの移動位置のズ
レの影響を受けることなく、被測定物全体の２次元形状
を測定することができる。
帯状物の縁部の２次元座標を、基準線に対する相対的な
位置座標として得ることにより、センサの移動位置のズ
レの影響を受けることなく、被測定物全体の２次元形状
を測定することができる。
【０００９】また、請求項２に係る発明によれば、２本
の基準線の２次元座標より求められる基準線間の距離の
計測値からセンサの傾きを検出し、被測定物の基準線に
対する相対的な位置座標を前記センサの傾きにより補正
することにより、被測定物の正確な２次元形状を測定す
ることができる。
の基準線の２次元座標より求められる基準線間の距離の
計測値からセンサの傾きを検出し、被測定物の基準線に
対する相対的な位置座標を前記センサの傾きにより補正
することにより、被測定物の正確な２次元形状を測定す
ることができる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
しく説明する。図１は本実施例の測定装置の概略図であ
る。支持体１、２により水平に支持されて透明板からな
るテーブル３が設けられている。
しく説明する。図１は本実施例の測定装置の概略図であ
る。支持体１、２により水平に支持されて透明板からな
るテーブル３が設けられている。
【００１１】また、テーブル３に沿って２本のリニアガ
イド４とボールスクリュー５とが設けられており、これ
らのリニアガイド４によりセンサ６の支持体７が水平方
向に移動可能に支持されている。また、センサ６の支持
体７はボールスクリュー５と螺合していて、モータ８に
よりボールスクリュー５を回転することにより、センサ
６を移動可能である。
イド４とボールスクリュー５とが設けられており、これ
らのリニアガイド４によりセンサ６の支持体７が水平方
向に移動可能に支持されている。また、センサ６の支持
体７はボールスクリュー５と螺合していて、モータ８に
よりボールスクリュー５を回転することにより、センサ
６を移動可能である。
【００１２】センサ６はその支持体７の上部に投光器９
を備え、下部には受光器10を備えている。これらの投光
器９と受光器10とはテーブル３を挟んで上下に対向して
いる。これらの投光器９と受光器10により、センサ６の
移動方向と直交する方向を走査線としてテーブル３上の
物体の有無を測定可能である。データ処理装置11は、セ
ンサ６の読み取ったデータを数値処理し、処理結果はデ
ィスプレイ装置12に表示される。
を備え、下部には受光器10を備えている。これらの投光
器９と受光器10とはテーブル３を挟んで上下に対向して
いる。これらの投光器９と受光器10により、センサ６の
移動方向と直交する方向を走査線としてテーブル３上の
物体の有無を測定可能である。データ処理装置11は、セ
ンサ６の読み取ったデータを数値処理し、処理結果はデ
ィスプレイ装置12に表示される。
【００１３】また、データ処理装置11は駆動回路13によ
ってモータ８を駆動する。図２に示すように、テーブル
３の上面には、リニアガイド４と同方向に延びる２本の
互いに平行な基準線14と基準線15とが距離Ｌを隔てて形
成されており、被測定物である帯状物16は、この基準線
14と基準線15との中間に、両方の基準線とほぼ平行にな
るよう載置される。
ってモータ８を駆動する。図２に示すように、テーブル
３の上面には、リニアガイド４と同方向に延びる２本の
互いに平行な基準線14と基準線15とが距離Ｌを隔てて形
成されており、被測定物である帯状物16は、この基準線
14と基準線15との中間に、両方の基準線とほぼ平行にな
るよう載置される。
【００１４】ここで、テーブル３上の基準線14及び基準
線15の延びる方向にＸ軸を、それに直交する方向にＹ軸
をとる。以下、このＸＹ平面を用い、図３のフローチャ
ートに沿って被測定物の２次元形状の測定過程を説明す
る。 （１）測定開始位置へのセンサ６の移動（ステップ１：
図にはＳ１と記す。以下同様） リニアガイド４に沿ってセンサ６をＸ軸方向の初期位置
に移動し、初期設定（ｉ＝０）を行なう。 （２）基準線及び被測定物の２次元座標の読み取り（ス
テップ２〜ステップ５） センサ６でＹ軸方向に走査し、センサ６の走査線17上に
位置する基準線14上の点Ｍi （ｘi ，ｍi ）、帯状物16
の縁部の点Ｐi （ｘi ，ｐi ）、反対側の縁部の点Ｑi
（ｘi ，ｑi ）及び基準線15上の点Ｎi （ｘi ，ｎi ）
の２次元座標を読み取る。
線15の延びる方向にＸ軸を、それに直交する方向にＹ軸
をとる。以下、このＸＹ平面を用い、図３のフローチャ
ートに沿って被測定物の２次元形状の測定過程を説明す
る。 （１）測定開始位置へのセンサ６の移動（ステップ１：
図にはＳ１と記す。以下同様） リニアガイド４に沿ってセンサ６をＸ軸方向の初期位置
に移動し、初期設定（ｉ＝０）を行なう。 （２）基準線及び被測定物の２次元座標の読み取り（ス
テップ２〜ステップ５） センサ６でＹ軸方向に走査し、センサ６の走査線17上に
位置する基準線14上の点Ｍi （ｘi ，ｍi ）、帯状物16
の縁部の点Ｐi （ｘi ，ｐi ）、反対側の縁部の点Ｑi
（ｘi ，ｑi ）及び基準線15上の点Ｎi （ｘi ，ｎi ）
の２次元座標を読み取る。
【００１５】ステップ３、４の部分が被測定物縁部測定
手段に相当し、ステップ２、５の部分が基準線測定手段
に相当する。 （３）センサ６の傾きの検出（ステップ６） 図４に示すように、センサ６の走査線17の方向が基準線
14及び基準線15と直交する直線に対してθの角度を持つ
場合には、センサ６によって読み取られた被測定物16の
２次元座標データに誤差を生じる。即ち、センサ６は点
Ｐi にある被測定物16の縁部を読み取りながら、データ
上では被測定物16の縁部が点Ｒi に存在したことにな
る。
手段に相当し、ステップ２、５の部分が基準線測定手段
に相当する。 （３）センサ６の傾きの検出（ステップ６） 図４に示すように、センサ６の走査線17の方向が基準線
14及び基準線15と直交する直線に対してθの角度を持つ
場合には、センサ６によって読み取られた被測定物16の
２次元座標データに誤差を生じる。即ち、センサ６は点
Ｐi にある被測定物16の縁部を読み取りながら、データ
上では被測定物16の縁部が点Ｒi に存在したことにな
る。
【００１６】このような場合、上記誤差を訂正する必要
が生じるので、先ずセンサ６の傾きの有無を検出する。
すなわち、２本の基準線間の距離Ｌと、走査線17と基準
線14との交点Ｍi のセンサ読み値及び走査線17と基準線
15との交点Ｎi のセンサ読み値より得られた実測値Ｌ’
＝ｎi −ｍi とを比較し、等しければセンサは傾いてお
らず、異なっていれば傾きが存在する。
が生じるので、先ずセンサ６の傾きの有無を検出する。
すなわち、２本の基準線間の距離Ｌと、走査線17と基準
線14との交点Ｍi のセンサ読み値及び走査線17と基準線
15との交点Ｎi のセンサ読み値より得られた実測値Ｌ’
＝ｎi −ｍi とを比較し、等しければセンサは傾いてお
らず、異なっていれば傾きが存在する。
【００１７】傾きがなかった場合（Ｌ＝ｎi −ｍi の場
合）はステップ７へ、傾きがあった場合（Ｌ≠ｎi −ｍ
i の場合）はステップ10へそれぞれ移行する。この部分
が傾き検出手段に相当する。 （４）センサ６に傾きがない場合：基準線からの相対的
位置座標への変換（ステップ７〜ステップ９） ステップ６においてセンサ６の傾きが検出されなかった
場合、データ処理装置11において、前記帯状物16の縁部
の点Ｐi のＹ座標ｐi から基準線14上の点ＭiのＹ座標
ｍi を減算し、前記センサ６で読み取った点Ｐi の２次
元座標を基準線14からの相対的な位置座標Ｐi ’
（ｘi ，ｐi −ｍi ）に変換する。
合）はステップ７へ、傾きがあった場合（Ｌ≠ｎi −ｍ
i の場合）はステップ10へそれぞれ移行する。この部分
が傾き検出手段に相当する。 （４）センサ６に傾きがない場合：基準線からの相対的
位置座標への変換（ステップ７〜ステップ９） ステップ６においてセンサ６の傾きが検出されなかった
場合、データ処理装置11において、前記帯状物16の縁部
の点Ｐi のＹ座標ｐi から基準線14上の点ＭiのＹ座標
ｍi を減算し、前記センサ６で読み取った点Ｐi の２次
元座標を基準線14からの相対的な位置座標Ｐi ’
（ｘi ，ｐi −ｍi ）に変換する。
【００１８】同様の処理を行い、センサ６で読み取った
点Ｑ0 及び点Ｎ0 の２次元座標を基準線14からの相対的
な位置座標Ｑi ’（ｘi ，ｑi −ｍi ）及びＮi ’（ｘ
i ，ｎi −ｍi ）に変換する。この部分が相対座標変換
手段に相当する。 （５）センサ６に傾きがある場合：誤差の補正及び基準
線からの相対的位置座標への変換（ステップ10〜ステッ
プ13） 図４に示すように、ステップ６においてセンサ６の傾き
が検出された場合、データ処理装置11において、２本の
基準線間の距離Ｌと、走査線17と基準線14との交点Ｍi
のセンサ読み値及び走査線17と基準線15との交点Ｎi の
センサ読み値より得られた実測値Ｌ’＝ｎi −ｍi との
比（cos θ）から、基準線14及び基準線15と走査線17と
がなす角度θを算出することができる。これを基に、点
Ｐi の基準線13に対する相対的な位置座標Ｐi ’を求め
ると、Ｐi ’（ｘi ＋（ｐi −ｍ i ）sin θ，（ｐi −
ｍi ）cos θ）が得られる。
点Ｑ0 及び点Ｎ0 の２次元座標を基準線14からの相対的
な位置座標Ｑi ’（ｘi ，ｑi −ｍi ）及びＮi ’（ｘ
i ，ｎi −ｍi ）に変換する。この部分が相対座標変換
手段に相当する。 （５）センサ６に傾きがある場合：誤差の補正及び基準
線からの相対的位置座標への変換（ステップ10〜ステッ
プ13） 図４に示すように、ステップ６においてセンサ６の傾き
が検出された場合、データ処理装置11において、２本の
基準線間の距離Ｌと、走査線17と基準線14との交点Ｍi
のセンサ読み値及び走査線17と基準線15との交点Ｎi の
センサ読み値より得られた実測値Ｌ’＝ｎi −ｍi との
比（cos θ）から、基準線14及び基準線15と走査線17と
がなす角度θを算出することができる。これを基に、点
Ｐi の基準線13に対する相対的な位置座標Ｐi ’を求め
ると、Ｐi ’（ｘi ＋（ｐi −ｍ i ）sin θ，（ｐi −
ｍi ）cos θ）が得られる。
【００１９】同様に各測定座標を修正し、Ｑi ’（ｘi
＋（ｑi −ｍi ）sin θ，（ｑi −ｍi ）cos θ）及び
Ｎi ’（ｘi ＋（ｎi −ｍi ）sin θ，（ｎi −ｍi ）
cosθ）を得て、上記誤差を容易に補正することができ
る。この部分が誤差補正手段に相当する。 （６）次の測定位置へのセンサ６の移動（ステップ14〜
ステップ16） ｉ＝ｋ（Ｘ座標の最大値）か否かを判定し（ステップ1
4）、ＹＥＳの場合は処理を終了するが、ＮＯの場合は
ｉをインクリメント（ステップ15）した後、リニアガイ
ド４に沿ってセンサ６をＸ軸方向に所定の距離Δｄ移動
する（ステップ16）。
＋（ｑi −ｍi ）sin θ，（ｑi −ｍi ）cos θ）及び
Ｎi ’（ｘi ＋（ｎi −ｍi ）sin θ，（ｎi −ｍi ）
cosθ）を得て、上記誤差を容易に補正することができ
る。この部分が誤差補正手段に相当する。 （６）次の測定位置へのセンサ６の移動（ステップ14〜
ステップ16） ｉ＝ｋ（Ｘ座標の最大値）か否かを判定し（ステップ1
4）、ＹＥＳの場合は処理を終了するが、ＮＯの場合は
ｉをインクリメント（ステップ15）した後、リニアガイ
ド４に沿ってセンサ６をＸ軸方向に所定の距離Δｄ移動
する（ステップ16）。
【００２０】以下、（２）〜（６）の操作を既定回数繰
り返し行うことで、被測定物である帯状物16全体の２次
元形状を測定し、そのデータをストアすると共に、得ら
れた相対的位置座標をディスプレイ装置12にグラフィッ
ク表示する。帯状物16の幅は、測定によって得られた２
次元形状から容易に知ることができる。
り返し行うことで、被測定物である帯状物16全体の２次
元形状を測定し、そのデータをストアすると共に、得ら
れた相対的位置座標をディスプレイ装置12にグラフィッ
ク表示する。帯状物16の幅は、測定によって得られた２
次元形状から容易に知ることができる。
【００２１】また、図５に示すように、帯状物16の２次
元形状の測定データに基づいて、帯状物16の縁部におけ
る最初の測定点Ｐ0 （またはＱ0 ）と最後の測定点Ｐk
（またはＱk ）との間に直線を引き、該直線からの点Ｐ
1 〜点Ｐk-1 （または点Ｑ1〜点Ｑk-1 ）各座標のズレ
ｄ1 〜ｄk-1 を算出する。そして、そのピーク値ｄA、
ｄB 、ｄC 、ｄD 、・・・を求めることによって、帯状
物16のうねりのデータを得ることができる。
元形状の測定データに基づいて、帯状物16の縁部におけ
る最初の測定点Ｐ0 （またはＱ0 ）と最後の測定点Ｐk
（またはＱk ）との間に直線を引き、該直線からの点Ｐ
1 〜点Ｐk-1 （または点Ｑ1〜点Ｑk-1 ）各座標のズレ
ｄ1 〜ｄk-1 を算出する。そして、そのピーク値ｄA、
ｄB 、ｄC 、ｄD 、・・・を求めることによって、帯状
物16のうねりのデータを得ることができる。
【００２２】このようにして得られた上記帯状物16の幅
及びうねりの平均値と、最大値及び最小値と、極大値及
び極小値とをデータ処理装置11にストアし、前記２次元
形状のグラフィック表示と共にディスプレイ装置12に表
示することにより、帯状物16全体の２次元形状の把握が
さらに容易になる。
及びうねりの平均値と、最大値及び最小値と、極大値及
び極小値とをデータ処理装置11にストアし、前記２次元
形状のグラフィック表示と共にディスプレイ装置12に表
示することにより、帯状物16全体の２次元形状の把握が
さらに容易になる。
【００２３】
【発明の効果】以上述べたように、請求項１に係る発明
によれば、帯状物の縁部の２次元座標をテーブルに設け
られた基準線に対する相対的な位置座標として得ること
により、従来困難であった帯状物全体の２次元形状を測
定する測定装置を提供し、初期の目的を達成することが
できる。また、本発明の測定装置を用いることにより、
高度化する磁気テープの記録密度に対応し、μｍオーダ
ーのうねり及び幅の変動に関するきめ細かい品質管理が
可能となる。
によれば、帯状物の縁部の２次元座標をテーブルに設け
られた基準線に対する相対的な位置座標として得ること
により、従来困難であった帯状物全体の２次元形状を測
定する測定装置を提供し、初期の目的を達成することが
できる。また、本発明の測定装置を用いることにより、
高度化する磁気テープの記録密度に対応し、μｍオーダ
ーのうねり及び幅の変動に関するきめ細かい品質管理が
可能となる。
【００２４】また、請求項２に係る発明によれば、セン
サの走査方向がテーブル表面に設けられた基準線に直角
でない場合でも、計算で測定値を補正することにより、
被測定物の正確な２次元形状を測定することができ、測
定装置の製作や測定において実用価値が大となる効果を
有する。
サの走査方向がテーブル表面に設けられた基準線に直角
でない場合でも、計算で測定値を補正することにより、
被測定物の正確な２次元形状を測定することができ、測
定装置の製作や測定において実用価値が大となる効果を
有する。
【図１】 本発明の一実施例を示す２次元形状測定装置
の斜視図
の斜視図
【図２】 同上装置の平面図
【図３】 測定手順を示すフローチャート
【図４】 ２本の基準線とセンサの走査線とが角度を持
つ場合の測定座標の補正方法を説明する図
つ場合の測定座標の補正方法を説明する図
【図５】 帯状物のうねり測定法の説明図
３ テーブル ６ センサ ９ 投光器 10 受光器 14 基準線 15 基準線 16 帯状物 17 走査線
Claims (2)
- 【請求項１】帯状の被測定物を載置するテーブルと、 該テーブル上を一方向に移動しつつ被測定物の縁部の２
次元座標を出力するセンサと、 を備える帯状物の２次元形状測定装置において、 前記テーブル上に前記センサの移動方向に延びる基準線
を形成する一方、 前記センサ出力に基づいて被測定物の縁部の２次元座標
を読み取る被測定物縁部測定手段と、 前記センサ出力に基づいて基準線の２次元座標を読み取
る基準線測定手段と、 前記被測定物の縁部の２次元座標から前記基準線の２次
元座標を減算して、前記被測定物の縁部の２次元座標を
前記基準線に対する相対的な位置座標に修正する相対座
標変換手段と、 を設けたことを特徴とする帯状物の２次元形状測定装
置。 - 【請求項２】帯状の被測定物を載置するテーブルと、 該テーブル上を一方向に移動しつつ被測定物の縁部の２
次元座標を出力するセンサと、 を備える帯状物の２次元形状測定装置において、 前記テーブル上に前記センサの移動方向に延びる互いに
平行な２本の基準線を形成する一方、 前記センサ出力に基づいて被測定物の縁部の２次元座標
を読み取る被測定物縁部測定手段と、 前記センサ出力に基づいて各基準線の２次元座標を読み
取る基準線測定手段と、 前記被測定物の縁部の２次元座標から一方の基準線の２
次元座標を減算して、前記被測定物の縁部の２次元座標
を前記一方の基準線に対する相対的な位置座標に修正す
る相対座標変換手段と、 前記測定による２本の基準線の２次元座標より求められ
る基準線間の距離の測定値からセンサの傾きを検出する
傾き検出手段と、 前記被測定物の基準線に対する相対的な位置座標を前記
センサの傾きにより補正する誤差補正手段と、を設けた
ことを特徴とする帯状物の２次元形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05530995A JP3363281B2 (ja) | 1995-03-15 | 1995-03-15 | 帯状物の２次元形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05530995A JP3363281B2 (ja) | 1995-03-15 | 1995-03-15 | 帯状物の２次元形状測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08247742A true JPH08247742A (ja) | 1996-09-27 |
| JP3363281B2 JP3363281B2 (ja) | 2003-01-08 |
Family
ID=12994975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05530995A Expired - Fee Related JP3363281B2 (ja) | 1995-03-15 | 1995-03-15 | 帯状物の２次元形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3363281B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20190013642A (ko) * | 2017-07-28 | 2019-02-11 | 하태호 | 스마트 거리 센서 바 |
| JP2020025971A (ja) * | 2018-08-10 | 2020-02-20 | 日清紡メカトロニクス株式会社 | 長尺物の加工方法及び加工装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108747892B (zh) * | 2018-06-11 | 2021-01-05 | 北京工业大学 | 针对微细柔性导线的夹持方法 |
-
1995
- 1995-03-15 JP JP05530995A patent/JP3363281B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3363281B2 (ja) | 2003-01-08 |
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