JPH08247845A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH08247845A JPH08247845A JP8186495A JP8186495A JPH08247845A JP H08247845 A JPH08247845 A JP H08247845A JP 8186495 A JP8186495 A JP 8186495A JP 8186495 A JP8186495 A JP 8186495A JP H08247845 A JPH08247845 A JP H08247845A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- incident
- receiving element
- display
- spectrophotometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定光源との光軸合わせを簡単に行なえる
ようにする。 【構成】 集光レンズおよびスリット板を含む入射光学
系と、同入射光学系により光束幅が制限された入射光を
スペクトル光に分散する分散プリズムと、同スペクトル
光を受光してその受光量に比例した検出信号を出力する
受光素子としてのＣＣＤリニアイメージセンサと、同受
光素子からの検出信号に基づいてディスプレイ２５に上
記入射光の光スペクトルを表示する制御部とを有する分
光光度計において、ディスプレイ２５に光スペクトルを
表示するにあたって、上記受光素子に入射される光量レ
ベルを演算し、その光量レベルを上記ディスプレイの所
定領域２６に表示する。
ようにする。 【構成】 集光レンズおよびスリット板を含む入射光学
系と、同入射光学系により光束幅が制限された入射光を
スペクトル光に分散する分散プリズムと、同スペクトル
光を受光してその受光量に比例した検出信号を出力する
受光素子としてのＣＣＤリニアイメージセンサと、同受
光素子からの検出信号に基づいてディスプレイ２５に上
記入射光の光スペクトルを表示する制御部とを有する分
光光度計において、ディスプレイ２５に光スペクトルを
表示するにあたって、上記受光素子に入射される光量レ
ベルを演算し、その光量レベルを上記ディスプレイの所
定領域２６に表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光の強さを波長別に測定
する分光光度計に関し、さらに詳しく言えば、光源に対
する光軸合わせを容易に行なえるようにした分光光度計
に関するものである。
する分光光度計に関し、さらに詳しく言えば、光源に対
する光軸合わせを容易に行なえるようにした分光光度計
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】分光光度計は各種化合物の比色定量分
析、染料や塗料の色の測定もしくは色合わせ、炎光分析
などに多用されているが、その従来例を図３の模式図を
参照しながら説明する。
析、染料や塗料の色の測定もしくは色合わせ、炎光分析
などに多用されているが、その従来例を図３の模式図を
参照しながら説明する。
【０００３】これによると、被測定光（入射光）は図示
しない入射光学系によりその光束幅が制限された平行光
に変換された後、分散プリズム１に入射され、同分散プ
リズム１により色固有のスペクトルに分散される。この
分散スペクトル光は、分散プリズム１の後方において所
定の角度をもって配置された受光素子２にて受光され
る。
しない入射光学系によりその光束幅が制限された平行光
に変換された後、分散プリズム１に入射され、同分散プ
リズム１により色固有のスペクトルに分散される。この
分散スペクトル光は、分散プリズム１の後方において所
定の角度をもって配置された受光素子２にて受光され
る。
【０００４】受光素子２にはフォトダイオードアレイも
しくはＣＣＤリニアイメージセンサが用いられており、
その各受光セルから受光量に応じた検出信号が出力され
る。同検出信号は例えば積分器からなる信号読出し回路
３を介して出力され、この出力信号に基づいて被測定光
のスペクトルが測定される。
しくはＣＣＤリニアイメージセンサが用いられており、
その各受光セルから受光量に応じた検出信号が出力され
る。同検出信号は例えば積分器からなる信号読出し回路
３を介して出力され、この出力信号に基づいて被測定光
のスペクトルが測定される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、入射光学系
は集光レンズとスリット板により構成されており、この
入射光学系にて入射光は光束幅が制限された平行光とさ
れる。したがって、測定に際して入射光学系の光軸を被
測定光源に正確に向けたときに最大の受光量が得られる
ことになる。
は集光レンズとスリット板により構成されており、この
入射光学系にて入射光は光束幅が制限された平行光とさ
れる。したがって、測定に際して入射光学系の光軸を被
測定光源に正確に向けたときに最大の受光量が得られる
ことになる。
【０００６】しかしながら、実験室のように固定治具な
どの環境の整備された場所での光軸合わせは別として、
例えば携帯型の分光光度計においては、その入射光学系
の光軸を被測定光源に合わせるにしても、従来では目視
に頼らざるを得ず、光軸合わせにきわめて困難な作業を
強いられることになる。ちなみに、光軸のずれが生ずる
と、入射光の分光エネルギーが変化し、正確な光スペク
トルが得られないことになる。
どの環境の整備された場所での光軸合わせは別として、
例えば携帯型の分光光度計においては、その入射光学系
の光軸を被測定光源に合わせるにしても、従来では目視
に頼らざるを得ず、光軸合わせにきわめて困難な作業を
強いられることになる。ちなみに、光軸のずれが生ずる
と、入射光の分光エネルギーが変化し、正確な光スペク
トルが得られないことになる。
【０００７】本発明は、このような従来の問題を解決す
るためになされたもので、その目的は、光軸合わせの目
安としての光量レベルメータを備えた分光光度計を提供
することにある。
るためになされたもので、その目的は、光軸合わせの目
安としての光量レベルメータを備えた分光光度計を提供
することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、集光レンズおよびスリット板を含む入射
光学系と、同入射光学系により光束幅が制限された入射
光をスペクトル光に分散する分散プリズムと、同スペク
トル光を受光してその受光量に比例した検出信号を出力
する受光素子としてのＣＣＤリニアイメージセンサと、
同受光素子からの検出信号に基づいてディスプレイに上
記入射光の光スペクトルを表示する制御部とを有する分
光光度計において、上記制御部は上記ディスプレイに光
スペクトルを表示するにあたって、上記受光素子に入射
される光量レベルを演算し、その光量レベルを上記ディ
スプレイの所定領域に表示することを特徴としている。
め、本発明は、集光レンズおよびスリット板を含む入射
光学系と、同入射光学系により光束幅が制限された入射
光をスペクトル光に分散する分散プリズムと、同スペク
トル光を受光してその受光量に比例した検出信号を出力
する受光素子としてのＣＣＤリニアイメージセンサと、
同受光素子からの検出信号に基づいてディスプレイに上
記入射光の光スペクトルを表示する制御部とを有する分
光光度計において、上記制御部は上記ディスプレイに光
スペクトルを表示するにあたって、上記受光素子に入射
される光量レベルを演算し、その光量レベルを上記ディ
スプレイの所定領域に表示することを特徴としている。
【０００９】この場合、光量レベルは受光素子の光蓄積
時間と、同受光素子の最大検出レベルとにより求めるよ
うにしており、また、その光量レベルを表示するにして
も、一端を「暗」とし、他端を「明」とするバーグラフ
にてディスプレイに表示することが好ましい。
時間と、同受光素子の最大検出レベルとにより求めるよ
うにしており、また、その光量レベルを表示するにして
も、一端を「暗」とし、他端を「明」とするバーグラフ
にてディスプレイに表示することが好ましい。
【００１０】
【作用】光源に対する向きによって受光量が変化する
が、上記の構成によると、そのときの受光素子の最大検
出レベルと光蓄積時間とから光量レベルが求められ、デ
ィスプレイにその光量レベルが表示されるため、それが
最大光量レベルとなるように分光光度計の向きを調整す
ることにより、より正確に光軸合わせを行なうことがで
きる。
が、上記の構成によると、そのときの受光素子の最大検
出レベルと光蓄積時間とから光量レベルが求められ、デ
ィスプレイにその光量レベルが表示されるため、それが
最大光量レベルとなるように分光光度計の向きを調整す
ることにより、より正確に光軸合わせを行なうことがで
きる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の実施例を図１および図２を参
照しながら説明する。この分光光度計においても、被測
定光は光束幅が制限された平行光として分散プリズム１
に入射されるが、図１に示されているように、この実施
例においてはその入射光学系として一対のシリンドリカ
ルレンズ１０ａ，１０ｂを用いている。
照しながら説明する。この分光光度計においても、被測
定光は光束幅が制限された平行光として分散プリズム１
に入射されるが、図１に示されているように、この実施
例においてはその入射光学系として一対のシリンドリカ
ルレンズ１０ａ，１０ｂを用いている。
【００１２】すなわち、２枚のシリンドリカルレンズ１
０ａ，１０ｂをその凸面が反対側に向くようにして対向
配置し、その２枚のレンズの焦点位置に第１のスリット
板１１ａを、また出射光側にも第２のスリット板１１ｂ
を配置することにより、被測定光を平行光として分散プ
リズム１に入射するようにしている。
０ａ，１０ｂをその凸面が反対側に向くようにして対向
配置し、その２枚のレンズの焦点位置に第１のスリット
板１１ａを、また出射光側にも第２のスリット板１１ｂ
を配置することにより、被測定光を平行光として分散プ
リズム１に入射するようにしている。
【００１３】分散プリズム１の後方（図１において右
側）には、受光素子としてのＣＣＤ（電荷結合素子）リ
ニアイメージセンサ１２が所定の角度をもって配置され
ている。
側）には、受光素子としてのＣＣＤ（電荷結合素子）リ
ニアイメージセンサ１２が所定の角度をもって配置され
ている。
【００１４】この実施例においては、素子ピッチ１４μ
ｍで、素子数を１０２４とするＣＣＤリニアイメージセ
ンサが用いられており、これによれば、分散プリズム１
からの光の広がりが小さいところでも、十分な分解能が
得られるため、同イメージセンサ１２を分散プリズム１
のより近傍に配置することができる。
ｍで、素子数を１０２４とするＣＣＤリニアイメージセ
ンサが用いられており、これによれば、分散プリズム１
からの光の広がりが小さいところでも、十分な分解能が
得られるため、同イメージセンサ１２を分散プリズム１
のより近傍に配置することができる。
【００１５】このＣＣＤリニアイメージセンサ１２に
は、その周辺回路として同イメージセンサ１２に対して
その光蓄積時間を制御するシフトパルスおよびその素子
から受光データを読み出させる転送パルスを供給するＣ
ＣＤ駆動回路２１と、同イメージセンサ１２から出力さ
れる受光データをＤＭＡ（ダイレクトメモリアクセス）
方式にてＡ／Ｄ変換するＣＣＤ信号処理回路２２とが設
けられている。
は、その周辺回路として同イメージセンサ１２に対して
その光蓄積時間を制御するシフトパルスおよびその素子
から受光データを読み出させる転送パルスを供給するＣ
ＣＤ駆動回路２１と、同イメージセンサ１２から出力さ
れる受光データをＤＭＡ（ダイレクトメモリアクセス）
方式にてＡ／Ｄ変換するＣＣＤ信号処理回路２２とが設
けられている。
【００１６】すなわち、分散プリズム１にて分散された
スペクトル光は、その波長に対応する位置（アドレス）
の素子にて受光され、その受光データが転送パルスにし
たがって順次ＣＣＤ信号処理回路２２に読み出されてＡ
／Ｄ変換される。
スペクトル光は、その波長に対応する位置（アドレス）
の素子にて受光され、その受光データが転送パルスにし
たがって順次ＣＣＤ信号処理回路２２に読み出されてＡ
／Ｄ変換される。
【００１７】ＣＰＵ（中央演算処理ユニット）２４は、
同信号処理回路２２の出力を受けて被測定光のスペクト
ル強度などをディスプレイ２５に表示するとともに、Ｃ
ＣＤ駆動回路２１のシフトパルス周期など制御する。こ
のシフトパルス周期を変えることにより、各素子の光蓄
積時間を任意に設定することができ、したがって入射光
量の増減に応じて広いダイナミックレンジを得ることが
できる。
同信号処理回路２２の出力を受けて被測定光のスペクト
ル強度などをディスプレイ２５に表示するとともに、Ｃ
ＣＤ駆動回路２１のシフトパルス周期など制御する。こ
のシフトパルス周期を変えることにより、各素子の光蓄
積時間を任意に設定することができ、したがって入射光
量の増減に応じて広いダイナミックレンジを得ることが
できる。
【００１８】このようにして、ディスプレイ２５には図
２に示されているように、例えば５ｎｍ単位で可視光域
の光スペクトルが表示されるが、本発明によると、同デ
ィスプレイ２５の所定領域に入射光の光量レベルを表示
するレベル表示部２６が設けられる。
２に示されているように、例えば５ｎｍ単位で可視光域
の光スペクトルが表示されるが、本発明によると、同デ
ィスプレイ２５の所定領域に入射光の光量レベルを表示
するレベル表示部２６が設けられる。
【００１９】この実施例において、同レベル表示部２６
は一端を「暗（ＤＡＲＫ）」、他端を「明（ＢＲＩＧＨ
Ｔ）」とするバーグラフからなり、その黒い部分がＢＲ
ＩＧＨＴ側に寄れば光量の増大を示すようになってい
る。
は一端を「暗（ＤＡＲＫ）」、他端を「明（ＢＲＩＧＨ
Ｔ）」とするバーグラフからなり、その黒い部分がＢＲ
ＩＧＨＴ側に寄れば光量の増大を示すようになってい
る。
【００２０】ＣＰＵ２４は、このバーグラフ２６に光量
レベルを表示するにあたって、ＣＣＤリニアイメージセ
ンサ１２の光蓄積時間と、同ＣＣＤリニアイメージセン
サ１２からの受光検出データとにより、光量レベルを求
めるようにしている。
レベルを表示するにあたって、ＣＣＤリニアイメージセ
ンサ１２の光蓄積時間と、同ＣＣＤリニアイメージセン
サ１２からの受光検出データとにより、光量レベルを求
めるようにしている。
【００２１】すなわち、ＣＣＤリニアイメージセンサ１
２の光蓄積時間をＴ、ＣＣＤリニアイメージセンサ１２
からの受光検出データの内の最大値をＤｍａｘとする
と、 光量レベル＝Ｄｍａｘ／Ｔ なる式により、光量レベルを算出する。もっとも、Ｄｍ
ａｘはＡ／Ｄ変換後のデジタルデータであり、８ビット
であるとすると０〜２５５の値をとり得ることになる。
２の光蓄積時間をＴ、ＣＣＤリニアイメージセンサ１２
からの受光検出データの内の最大値をＤｍａｘとする
と、 光量レベル＝Ｄｍａｘ／Ｔ なる式により、光量レベルを算出する。もっとも、Ｄｍ
ａｘはＡ／Ｄ変換後のデジタルデータであり、８ビット
であるとすると０〜２５５の値をとり得ることになる。
【００２２】したがって、この光量レベルを確認しなが
ら、入射光量がピークになる位置にこの分光光度計を配
置することにより光軸合わせが行なわれ、正確な光スペ
クトルの測定が可能となる。なお、この例ではバーグラ
フ２６により、光量レベルを表示するようにしている
が、例えばその光量レベルの値を数値（好ましくは％表
示）によって直接的にディスプレイ２５に表示するよう
にしてもよい。また、ディスプレイのみでなく、プリン
タにより光スペクトルを記録する場合には、その記録紙
に光量レベルを表示するようにしてもよい。
ら、入射光量がピークになる位置にこの分光光度計を配
置することにより光軸合わせが行なわれ、正確な光スペ
クトルの測定が可能となる。なお、この例ではバーグラ
フ２６により、光量レベルを表示するようにしている
が、例えばその光量レベルの値を数値（好ましくは％表
示）によって直接的にディスプレイ２５に表示するよう
にしてもよい。また、ディスプレイのみでなく、プリン
タにより光スペクトルを記録する場合には、その記録紙
に光量レベルを表示するようにしてもよい。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ディスプレイに光スペクトルとともに、その入射光の光
量レベルを併せて表示するようにしたことにより、その
光量レベルが最大となるように分光光度計もしくは光源
のいずれかの位置を調整することにより、簡単に光軸合
わせを行なうことができる。
ディスプレイに光スペクトルとともに、その入射光の光
量レベルを併せて表示するようにしたことにより、その
光量レベルが最大となるように分光光度計もしくは光源
のいずれかの位置を調整することにより、簡単に光軸合
わせを行なうことができる。
【図１】本発明による分光光度計の一実施例を示した模
式図。
式図。
【図２】同実施例でディスプレイに表示される光量レベ
ルの一例を示した画面図。
ルの一例を示した画面図。
【図３】従来例に係る模式図。
１ 分散プリズム １０ シリンドリカルレンズ １２ ＣＣＤリニアイメージセンサ ２１ ＣＣＤ駆動回路 ２２ ＣＣＤ信号処理回路 ２４ ＣＰＵ ２５ ディスプレイ ２６ レベル表示部（バーグラフ）
Claims (3)
- 【請求項１】 集光レンズおよびスリット板を含む入射
光学系と、同入射光学系により光束幅が制限された入射
光をスペクトル光に分散する分散プリズムと、同スペク
トル光を受光してその受光量に比例した検出信号を出力
する受光素子としてのＣＣＤリニアイメージセンサと、
同受光素子からの検出信号に基づいてディスプレイに上
記入射光の光スペクトルを表示する制御部とを有する分
光光度計において、上記制御部は上記ディスプレイに光
スペクトルを表示するにあたって、上記受光素子に入射
される光量レベルを演算し、その光量レベルを上記ディ
スプレイの所定領域に表示することを特徴とする分光光
度計。 - 【請求項２】 上記制御部は上記受光素子の光蓄積時間
と、同受光素子の最大検出レベルとから上記光量レベル
を演算することを特徴とする請求項１に記載の分光光度
計。 - 【請求項３】 光量レベルは一端を「暗」とし、他端を
「明」とするバーグラフにて上記ディスプレイに表示さ
れることを特徴とする請求項１に記載の分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8186495A JPH08247845A (ja) | 1995-03-14 | 1995-03-14 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8186495A JPH08247845A (ja) | 1995-03-14 | 1995-03-14 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08247845A true JPH08247845A (ja) | 1996-09-27 |
Family
ID=13758350
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8186495A Pending JPH08247845A (ja) | 1995-03-14 | 1995-03-14 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08247845A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101400757B1 (ko) * | 2012-07-19 | 2014-05-27 | (주) 인텍플러스 | 디스플레이 패널 검사장치 |
-
1995
- 1995-03-14 JP JP8186495A patent/JPH08247845A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101400757B1 (ko) * | 2012-07-19 | 2014-05-27 | (주) 인텍플러스 | 디스플레이 패널 검사장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20040119 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040310 |