JPH08248338A - ビーム分割結像装置 - Google Patents
ビーム分割結像装置Info
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- JPH08248338A JPH08248338A JP4579595A JP4579595A JPH08248338A JP H08248338 A JPH08248338 A JP H08248338A JP 4579595 A JP4579595 A JP 4579595A JP 4579595 A JP4579595 A JP 4579595A JP H08248338 A JPH08248338 A JP H08248338A
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- beams
- beam splitting
- light
- substrate
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ビームセパレータの製造誤差による画質の劣
化を低減することができ、経済的にも有利なビーム分割
結像装置を提供すること。 【構成】 1ビームを、ビームセパレータ21、22を
介して、列状に並ぶ複数のビームL5a〜L5h、L6
a〜L6hに分割し、この分割ビームを結像光学系Iを
介して結像面(ST)に結像させるレーザ描画装置11
において、ビームセパレータ21、22と結像光学系I
の結像面(ST)とを互いにほぼ共役な位置に配置し
た。
化を低減することができ、経済的にも有利なビーム分割
結像装置を提供すること。 【構成】 1ビームを、ビームセパレータ21、22を
介して、列状に並ぶ複数のビームL5a〜L5h、L6
a〜L6hに分割し、この分割ビームを結像光学系Iを
介して結像面(ST)に結像させるレーザ描画装置11
において、ビームセパレータ21、22と結像光学系I
の結像面(ST)とを互いにほぼ共役な位置に配置し
た。
Description
【0001】
【技術分野】本発明は、1ビームを、光束分割素子を介
して、列状に並ぶ複数のビームに分割し、この分割ビー
ムを結像光学系を介して結像面に結像させるビーム分割
結像装置に関する。
して、列状に並ぶ複数のビームに分割し、この分割ビー
ムを結像光学系を介して結像面に結像させるビーム分割
結像装置に関する。
【0002】
【従来技術及びその問題点】レーザ光源からのレーザ光
を、ビームセパレータによって複数のビームに分割し、
この複数のビームを一列状をなす状態で基板に対して走
査するレーザ描画装置が、本出願人により提案されてい
る(特願平5-181610号参照)。このレーザ描画装置は、
一列状のビームを、設定データに基づき個々にオンオフ
し、回転するポリゴンミラーによって主走査方向に対し
てやや傾いた状態で走査することにより、所要の回路パ
ターンを基板上に迅速に描画することができる。
を、ビームセパレータによって複数のビームに分割し、
この複数のビームを一列状をなす状態で基板に対して走
査するレーザ描画装置が、本出願人により提案されてい
る(特願平5-181610号参照)。このレーザ描画装置は、
一列状のビームを、設定データに基づき個々にオンオフ
し、回転するポリゴンミラーによって主走査方向に対し
てやや傾いた状態で走査することにより、所要の回路パ
ターンを基板上に迅速に描画することができる。
【0003】このレーザ描画装置によって分割ビームを
走査する場合に、ポリゴンミラーの回転軸と直交する主
走査方向での各分割ビームのスポット位置は、オンオフ
を時間的にずらすことによって容易に調整できるが、副
走査方向でのスポット位置は、ビームセパレータの光の
分割性能に大きく依存する。このため、ビームセパレー
タの製造に非常に高い加工精度が要求され、コストアッ
プの要因となってしまう。
走査する場合に、ポリゴンミラーの回転軸と直交する主
走査方向での各分割ビームのスポット位置は、オンオフ
を時間的にずらすことによって容易に調整できるが、副
走査方向でのスポット位置は、ビームセパレータの光の
分割性能に大きく依存する。このため、ビームセパレー
タの製造に非常に高い加工精度が要求され、コストアッ
プの要因となってしまう。
【0004】
【発明の目的】本発明は、上記問題意識に基づきなされ
たものであり、ビームセパレータの製造誤差による画質
の劣化を低減することができ、経済的にも有利なビーム
分割結像装置を提供することを目的とする。
たものであり、ビームセパレータの製造誤差による画質
の劣化を低減することができ、経済的にも有利なビーム
分割結像装置を提供することを目的とする。
【0005】
【発明の概要】上記目的を達成するための本発明は、1
ビームを、光束分割素子を介して、列状に並ぶ複数のビ
ームに分割し、この分割ビームを結像光学系を介して結
像面に結像させるビーム分割結像装置において、上記光
束分割素子と結像光学系の結像面とを互いにほぼ共役な
位置に配置したことを特徴としている。
ビームを、光束分割素子を介して、列状に並ぶ複数のビ
ームに分割し、この分割ビームを結像光学系を介して結
像面に結像させるビーム分割結像装置において、上記光
束分割素子と結像光学系の結像面とを互いにほぼ共役な
位置に配置したことを特徴としている。
【0006】
【発明の実施例】以下図示実施例に基づいて本発明を説
明する。図3は、本発明に係るレーザ描画装置(ビーム
分割走査装置)11の全体を示す外観斜視図であり、図
4は、レーザ描画装置11の全体を示す概略平面図であ
る。
明する。図3は、本発明に係るレーザ描画装置(ビーム
分割走査装置)11の全体を示す外観斜視図であり、図
4は、レーザ描画装置11の全体を示す概略平面図であ
る。
【0007】レーザ描画装置11は、テーブル10上
に、アルゴンレーザ装置12を有し、ビームベンダ1
3、23〜25、28〜30、35、38、41、4
4、45、54、ハーフプリズム16、ハーフミラー1
4、及びレンズ52、53、65〜71を有している。
レーザ描画装置11はさらに、音響光学変調器19、2
0、及び、1ビームを同一平面内に並ぶ複数のビーム列
(描画用光束列)に分割するビームセパレータ(光束分
割素子)21、22を有している。
に、アルゴンレーザ装置12を有し、ビームベンダ1
3、23〜25、28〜30、35、38、41、4
4、45、54、ハーフプリズム16、ハーフミラー1
4、及びレンズ52、53、65〜71を有している。
レーザ描画装置11はさらに、音響光学変調器19、2
0、及び、1ビームを同一平面内に並ぶ複数のビーム列
(描画用光束列)に分割するビームセパレータ(光束分
割素子)21、22を有している。
【0008】レーザ描画装置11はまた、ピッチ変換用
集光光学系26、31、27、32、マルチチャンネル
(8チャンネル)の音響光学変調器36、37、集光光
学系34、偏光ビームスプリッタ60、λ/2板39、
偏光ビームスプリッタ40、イメージローテータ43、
ポリゴンミラー46、fθレンズ47、Xスケール用集
光レンズ48、コンデンサレンズ49、Xスケール5
0、モニター光用ミラー51a、51b、Xスケール用
フォトディテクタ62、及び長尺ミラー63、64を有
している。
集光光学系26、31、27、32、マルチチャンネル
(8チャンネル)の音響光学変調器36、37、集光光
学系34、偏光ビームスプリッタ60、λ/2板39、
偏光ビームスプリッタ40、イメージローテータ43、
ポリゴンミラー46、fθレンズ47、Xスケール用集
光レンズ48、コンデンサレンズ49、Xスケール5
0、モニター光用ミラー51a、51b、Xスケール用
フォトディテクタ62、及び長尺ミラー63、64を有
している。
【0009】音響光学変調器36、37はそれぞれ、二
酸化テルル等の結晶内で超音波が発生したとき該結晶の
屈折率に、超音波による弾性歪によって周期的変化が生
じ光が回折するという音響光学効果を基に構成されてお
り、結晶の端面に設けたトランスデューサーに高周波を
印加したときに、結晶内部に超音波進行波を発生させて
レーザ光を回折させ、高周波を印加しないときには、結
晶に入射するレーザ光を透過することができる。従っ
て、音響光学変調器36(37)に対する高周波の印加
を切り換えれば、入射光つまりビーム列L5とL6のオ
ンオフを自在に切換えることができる。
酸化テルル等の結晶内で超音波が発生したとき該結晶の
屈折率に、超音波による弾性歪によって周期的変化が生
じ光が回折するという音響光学効果を基に構成されてお
り、結晶の端面に設けたトランスデューサーに高周波を
印加したときに、結晶内部に超音波進行波を発生させて
レーザ光を回折させ、高周波を印加しないときには、結
晶に入射するレーザ光を透過することができる。従っ
て、音響光学変調器36(37)に対する高周波の印加
を切り換えれば、入射光つまりビーム列L5とL6のオ
ンオフを自在に切換えることができる。
【0010】他方、レーザ描画装置11は、像面である
描画テーブル面(面の位置のみ二点鎖線Tで示す)に位
置するように基板STをセットする基板セット装置(図
示せず)を有している。この基板セット装置は、Y方向
(ポリゴンミラー46の副走査方向であり図1の左右方
向)に移動自在なYテーブル(図示せず)と、図示しな
い回動軸を中心として図1の上下方向に揺動するスイン
グ機構(図示せず)を有している。
描画テーブル面(面の位置のみ二点鎖線Tで示す)に位
置するように基板STをセットする基板セット装置(図
示せず)を有している。この基板セット装置は、Y方向
(ポリゴンミラー46の副走査方向であり図1の左右方
向)に移動自在なYテーブル(図示せず)と、図示しな
い回動軸を中心として図1の上下方向に揺動するスイン
グ機構(図示せず)を有している。
【0011】ところで、上記ビームセパレータ21、2
2は次のような工程で製造される。先ず、図7に示され
るように、平行平面板からなる光束分割用光学部品74
の一面に所要の光束分割膜75を付し、この光学部品7
4を、隣り合う光学部品74の間に必ず光束分割膜75
が介在するようにして積層し、エポキシ樹脂接着剤や紫
外線硬化型接着剤等によって接合する。そして、多数の
光学部品74が接合された光束分割素子ブロック55
を、所要の角度で切断し、複数の切断ブロック61を切
り出す。この切断時の角度は、同図に示す例では、光束
分割膜75に対して45゜をなす方向であり、この切断
面76が光の入射面及び射出面となる。この切断ブロッ
ク61の切断面76を、必要に応じて研磨して平滑面と
する。
2は次のような工程で製造される。先ず、図7に示され
るように、平行平面板からなる光束分割用光学部品74
の一面に所要の光束分割膜75を付し、この光学部品7
4を、隣り合う光学部品74の間に必ず光束分割膜75
が介在するようにして積層し、エポキシ樹脂接着剤や紫
外線硬化型接着剤等によって接合する。そして、多数の
光学部品74が接合された光束分割素子ブロック55
を、所要の角度で切断し、複数の切断ブロック61を切
り出す。この切断時の角度は、同図に示す例では、光束
分割膜75に対して45゜をなす方向であり、この切断
面76が光の入射面及び射出面となる。この切断ブロッ
ク61の切断面76を、必要に応じて研磨して平滑面と
する。
【0012】また以上の工程とは別に、透光性の平行平
面板77(図6参照)を用意し、この平行平面板77の
一面に、例えば蒸着やスパッタリング等によって反射防
止膜78を形成する。この反射防止膜78を付着形成し
た平行平面板77を、切断ブロック61の両面に接合す
る。つまり、切断ブロック61の両側の切断面76に対
しそれぞれ、反射防止膜78が外側に位置するようにし
て平行平面板77を例えばエポキシ樹脂接着剤、紫外線
硬化型接着剤等によって接合する。この接合ブロックが
即ち上記ビームセパレータ21、22である。なお、図
6、図7では、便宜上、光束分割膜75、反射防止膜7
8及び平行平面板77の厚みを誇張して描いたが、実際
には、これら光束分割膜75と反射防止膜78は100 ナ
ノメートル(nm)〜1000ナノメートル程度の厚さであり、
平行平面板77は数ミリメートル程度の厚さである。
面板77(図6参照)を用意し、この平行平面板77の
一面に、例えば蒸着やスパッタリング等によって反射防
止膜78を形成する。この反射防止膜78を付着形成し
た平行平面板77を、切断ブロック61の両面に接合す
る。つまり、切断ブロック61の両側の切断面76に対
しそれぞれ、反射防止膜78が外側に位置するようにし
て平行平面板77を例えばエポキシ樹脂接着剤、紫外線
硬化型接着剤等によって接合する。この接合ブロックが
即ち上記ビームセパレータ21、22である。なお、図
6、図7では、便宜上、光束分割膜75、反射防止膜7
8及び平行平面板77の厚みを誇張して描いたが、実際
には、これら光束分割膜75と反射防止膜78は100 ナ
ノメートル(nm)〜1000ナノメートル程度の厚さであり、
平行平面板77は数ミリメートル程度の厚さである。
【0013】図6に示す完成状態のビームセパレータ2
1、22に照射されたビームL2、L3は、それぞれに
分割されてビーム列L5、L6となる。すなわち、ビー
ムL2、L3は、光成分の一部が最上部の光束分割膜7
5をそのまま透過してビームL5a、L6aとなり、残
りの光成分が該光束分割膜75で反射して90゜偏向さ
れてビームL5a′、L6a′となる。さらに、このビ
ームL5a′、L6a′の光成分の一部は、次の光束分
割膜75で反射して90゜偏向されてビームL5b、L
6bとなり、残りの光成分は該光束分割膜75をそのま
ま透過してビームL5b′、L6b′となる。そして、
このビームL5b′、L6b′の光成分の一部は、次の
光束分割膜75で反射して90゜偏向されてビームL5
c、L6cとなり、残りの光成分は該光束分割膜75を
そのまま透過してビームL5c′、L6c′となる。以
下、同様の光分割を繰り返すことにより、それぞれ8本
ずつのビームL5a〜L5h及びL6a〜L6hとして
射出される。
1、22に照射されたビームL2、L3は、それぞれに
分割されてビーム列L5、L6となる。すなわち、ビー
ムL2、L3は、光成分の一部が最上部の光束分割膜7
5をそのまま透過してビームL5a、L6aとなり、残
りの光成分が該光束分割膜75で反射して90゜偏向さ
れてビームL5a′、L6a′となる。さらに、このビ
ームL5a′、L6a′の光成分の一部は、次の光束分
割膜75で反射して90゜偏向されてビームL5b、L
6bとなり、残りの光成分は該光束分割膜75をそのま
ま透過してビームL5b′、L6b′となる。そして、
このビームL5b′、L6b′の光成分の一部は、次の
光束分割膜75で反射して90゜偏向されてビームL5
c、L6cとなり、残りの光成分は該光束分割膜75を
そのまま透過してビームL5c′、L6c′となる。以
下、同様の光分割を繰り返すことにより、それぞれ8本
ずつのビームL5a〜L5h及びL6a〜L6hとして
射出される。
【0014】光束分割素子であるビームセパレータ2
1、22は、上記構造からなるため、各光学部品74と
光束分割膜75とでなす反射面に倒れ等がある場合に
は、分割ビームの列と略直交する方向(副走査方向)で
のピッチb(図5参照)が不均一になり画質を劣化させ
る。主走査方向でのスポットの位置ズレは、オンオフを
時間的にずらすことによって調整できるが、副走査方向
でのスポットの位置ズレは、ビームセパレータ21、2
2の分割性能に大きく依存している。従って、該ビーム
セパレータ21、22には非常に高い加工精度が要求さ
れることとなり、経済的でない。
1、22は、上記構造からなるため、各光学部品74と
光束分割膜75とでなす反射面に倒れ等がある場合に
は、分割ビームの列と略直交する方向(副走査方向)で
のピッチb(図5参照)が不均一になり画質を劣化させ
る。主走査方向でのスポットの位置ズレは、オンオフを
時間的にずらすことによって調整できるが、副走査方向
でのスポットの位置ズレは、ビームセパレータ21、2
2の分割性能に大きく依存している。従って、該ビーム
セパレータ21、22には非常に高い加工精度が要求さ
れることとなり、経済的でない。
【0015】本発明は、このような分割ビームL5a〜
L5h、L6a〜L6hのスポットの位置ずれ特に副走
査方向でのピッチずれを、ビームセパレータ21、22
の光の分割性能を特別に向上させることなく解消しよう
とするものである。以下に、レーザ描画装置11におけ
る本発明の特徴部分を説明する。
L5h、L6a〜L6hのスポットの位置ずれ特に副走
査方向でのピッチずれを、ビームセパレータ21、22
の光の分割性能を特別に向上させることなく解消しよう
とするものである。以下に、レーザ描画装置11におけ
る本発明の特徴部分を説明する。
【0016】すなわち、図2に概略的に示されるよう
に、本レーザ描画装置11では、ビームセパレータ2
1、22と、結像光学系Iの結像面である基板STとを
互いに共役な位置に配置している。この結像光学系I
は、上記レンズ65〜70、26、27、31、32、
40、52、53、ポリゴンミラー46、fθレンズ4
7等からなる。ビームセパレータ21、22はつまり、
ビームL2、L3の集光点に位置し、かつ該ビームL
2、L3を分割したビームL5a〜L5h、L6a〜L
6hそれぞれの結像面とほぼ共役な位置にあるため、光
学部品74と光束分割膜75とでなす反射面に倒れがあ
ったとしても、ビームL5a〜L5h、L6a〜L6h
を全て、ビームL2、L3が本来到達すべき位置に投射
し、結像面(ST)上において一列状に整列させること
ができる。
に、本レーザ描画装置11では、ビームセパレータ2
1、22と、結像光学系Iの結像面である基板STとを
互いに共役な位置に配置している。この結像光学系I
は、上記レンズ65〜70、26、27、31、32、
40、52、53、ポリゴンミラー46、fθレンズ4
7等からなる。ビームセパレータ21、22はつまり、
ビームL2、L3の集光点に位置し、かつ該ビームL
2、L3を分割したビームL5a〜L5h、L6a〜L
6hそれぞれの結像面とほぼ共役な位置にあるため、光
学部品74と光束分割膜75とでなす反射面に倒れがあ
ったとしても、ビームL5a〜L5h、L6a〜L6h
を全て、ビームL2、L3が本来到達すべき位置に投射
し、結像面(ST)上において一列状に整列させること
ができる。
【0017】これを図1により説明すると、アルゴンレ
ーザ装置12から射出されたレーザ光束L1は、ハーフ
ミラー16、14を介して分割されてビームL2、L3
となった後、レンズ65、67、69、またはレンズ6
6、68、70を介してそれぞれに収束される。そして
ビームL2、L3は、この収束位置にあるビームセパレ
ータ21、22でそれぞれ8本のビームL5a〜L5
h、L6a〜L6hに分割された後、レンズ26、3
1、52、53等を介して、またはレンズ27、32、
52、53等を介してfθレンズ47に導かれ、さらに
このfθレンズ47及びコンデンサレンズ49を介して
基板ST上に結像される。このように、ビームセパレー
タ21、22と結像面である基板STとの間に結像光学
系Iを構成する多くのレンズ等が存在し、またビームセ
パレータ21、22の反射面に倒れがあったとしても、
ビームL5a〜L5h、L6a〜L6hは全て、基板S
T上に一列に整列した状態で結像することとなる。
ーザ装置12から射出されたレーザ光束L1は、ハーフ
ミラー16、14を介して分割されてビームL2、L3
となった後、レンズ65、67、69、またはレンズ6
6、68、70を介してそれぞれに収束される。そして
ビームL2、L3は、この収束位置にあるビームセパレ
ータ21、22でそれぞれ8本のビームL5a〜L5
h、L6a〜L6hに分割された後、レンズ26、3
1、52、53等を介して、またはレンズ27、32、
52、53等を介してfθレンズ47に導かれ、さらに
このfθレンズ47及びコンデンサレンズ49を介して
基板ST上に結像される。このように、ビームセパレー
タ21、22と結像面である基板STとの間に結像光学
系Iを構成する多くのレンズ等が存在し、またビームセ
パレータ21、22の反射面に倒れがあったとしても、
ビームL5a〜L5h、L6a〜L6hは全て、基板S
T上に一列に整列した状態で結像することとなる。
【0018】ところで、ビームセパレータ21(22)
と基板ST(結像面)とが共役な位置関係となりかつ該
結像面に焦点が一致されるためには、ビームL2(L
3)の焦点を、ビームセパレータ21(22)の図6最
上部の光束分割膜75上に一致させなければならない。
この場合、ビームL2(L3)の焦点を最上部の光束分
割膜75上に一致させたとしても、厳密に言うと、下方
に位置する他の光束分割膜75においては該最上部の光
束分割膜75からの距離に起因して、L5a′〜L5
d′(L6a′〜L6d′)それぞれが到達するとき焦
点がややずれることとなる。しかしながら、ビームセパ
レータ21(22)と基板STの間に介在された結像光
学系Iは、ビームセパレータ21(22)で分割された
ビームL5a〜L5h(L6a〜L6h)それぞれを絞
って基板ST(結像面)に照射する縮小光学系であるた
め、言い換えるとビームセパレータ21(22)と基板
STとが縮小関係にあるため、ビームセパレータ21
(22)における上記焦点ズレは、縦倍率で縮小され、
基板ST上では極めて小さくなる。結果として、このよ
うな焦点ズレは焦点深度内に納まれば何等問題ないか
ら、ビームセパレータ21(22)と基板ST(結像
面)との関係は、ほぼ共役となっていれば良い。
と基板ST(結像面)とが共役な位置関係となりかつ該
結像面に焦点が一致されるためには、ビームL2(L
3)の焦点を、ビームセパレータ21(22)の図6最
上部の光束分割膜75上に一致させなければならない。
この場合、ビームL2(L3)の焦点を最上部の光束分
割膜75上に一致させたとしても、厳密に言うと、下方
に位置する他の光束分割膜75においては該最上部の光
束分割膜75からの距離に起因して、L5a′〜L5
d′(L6a′〜L6d′)それぞれが到達するとき焦
点がややずれることとなる。しかしながら、ビームセパ
レータ21(22)と基板STの間に介在された結像光
学系Iは、ビームセパレータ21(22)で分割された
ビームL5a〜L5h(L6a〜L6h)それぞれを絞
って基板ST(結像面)に照射する縮小光学系であるた
め、言い換えるとビームセパレータ21(22)と基板
STとが縮小関係にあるため、ビームセパレータ21
(22)における上記焦点ズレは、縦倍率で縮小され、
基板ST上では極めて小さくなる。結果として、このよ
うな焦点ズレは焦点深度内に納まれば何等問題ないか
ら、ビームセパレータ21(22)と基板ST(結像
面)との関係は、ほぼ共役となっていれば良い。
【0019】上記構成を有するレーザ描画装置11は、
次のように作動する。先ず、回路パターンを形成すべき
基板STの位置決め孔(図示せず)を、基板セット装置
の対応する部位に合わせ、この基板STを該装置に対し
て適正にセットする。これにより基板STは、この基板
セット装置のYテーブル及びスイング機構(図示せず)
により、図1のY方向にスライド自在、かつその位置に
おいて回動軸(図示せず)を軸として揺動自在にセット
される。この状態において、アルゴンレーザ装置12を
発振させてレーザ光L1の照射を開始させると、このレ
ーザ光L1は、先ず、ビームベンダ13で偏向されてハ
ーフプリズム16に入射し、このハーフプリズム16に
よって、そのまま直進するビームL2と、90゜偏向さ
れてハーフミラー14に向かうビームとに分割される。
このビームは、ハーフミラー14を介して、90゜偏向
されてビームL2と並んで進むビームL3、及びミラー
54に向かい該ミラー54で90゜偏向されるモニター
光Lmとに分割される。
次のように作動する。先ず、回路パターンを形成すべき
基板STの位置決め孔(図示せず)を、基板セット装置
の対応する部位に合わせ、この基板STを該装置に対し
て適正にセットする。これにより基板STは、この基板
セット装置のYテーブル及びスイング機構(図示せず)
により、図1のY方向にスライド自在、かつその位置に
おいて回動軸(図示せず)を軸として揺動自在にセット
される。この状態において、アルゴンレーザ装置12を
発振させてレーザ光L1の照射を開始させると、このレ
ーザ光L1は、先ず、ビームベンダ13で偏向されてハ
ーフプリズム16に入射し、このハーフプリズム16に
よって、そのまま直進するビームL2と、90゜偏向さ
れてハーフミラー14に向かうビームとに分割される。
このビームは、ハーフミラー14を介して、90゜偏向
されてビームL2と並んで進むビームL3、及びミラー
54に向かい該ミラー54で90゜偏向されるモニター
光Lmとに分割される。
【0020】ビームL2は、レンズ65、67を介して
音響光学変調器19に入射され、ビームL3は、レンズ
66、68を介して音響光学変調器20に入射される。
そして該ビームL2、L3両者間の光量差は、音響光学
変調器19と20によって除去される。該ビームL2、
L3はさらに、ビームセパレータ21と22により、X
方向(同一平面方向)に互いに並列する8本のビームに
それぞれ分割される。該8本のビームにそれぞれ分割さ
れたビーム列L5、L6はさらに、ピッチ変換用集光光
学系26、27をそれぞれに透過し、ビームベンダ2
8、29でそれぞれ90゜偏向された後、ピッチ変換用
集光光学系31、32を介して音響光学変調器36、3
7にそれぞれ入射される。
音響光学変調器19に入射され、ビームL3は、レンズ
66、68を介して音響光学変調器20に入射される。
そして該ビームL2、L3両者間の光量差は、音響光学
変調器19と20によって除去される。該ビームL2、
L3はさらに、ビームセパレータ21と22により、X
方向(同一平面方向)に互いに並列する8本のビームに
それぞれ分割される。該8本のビームにそれぞれ分割さ
れたビーム列L5、L6はさらに、ピッチ変換用集光光
学系26、27をそれぞれに透過し、ビームベンダ2
8、29でそれぞれ90゜偏向された後、ピッチ変換用
集光光学系31、32を介して音響光学変調器36、3
7にそれぞれ入射される。
【0021】ビーム列L5、L6は、8本ずつのビーム
L5a〜L5h及びL6a〜L6hそれぞれの光量のバ
ラツキを、8チャンネルの音響光学変調器36と37の
音響光学効果によって個々に除去され、また音響光学変
調器36、37の制御部(図示せず)に基づく高周波の
印加の切換えによって適時オンオフされる。
L5a〜L5h及びL6a〜L6hそれぞれの光量のバ
ラツキを、8チャンネルの音響光学変調器36と37の
音響光学効果によって個々に除去され、また音響光学変
調器36、37の制御部(図示せず)に基づく高周波の
印加の切換えによって適時オンオフされる。
【0022】音響光学変調器36から射出されるビーム
列L5は、ビームベンダ38で90゜偏向された後偏光
ビームスプリッタ40に入射される。また音響光学変調
器37から射出されるビーム列L6は、λ/2板39を
透過して偏光方向を変えられた後偏光ビームスプリッタ
40に入射される。これらのビーム列L5とL6は、そ
れぞれ8本ずつのビームL5a〜L5h及びL6a〜L
6hを、偏光ビームスプリッタ40により交互に組合わ
されて、X方向に一列に並ぶように合成される。さらに
制御部(図示せず)が、ポリゴンミラー46からのビー
ム列L5、L6の走査に同期させて基板セット装置を作
動させ、基板STを、描画テーブル面(T)上でY方向
にスライドさせる。よって、X方向に対しやや斜めに1
6本並列して適時オンオフされるビーム列L5、L6の
各ビームにより、基板ST上に、回路パターンが二次元
的に描画(露光)される。
列L5は、ビームベンダ38で90゜偏向された後偏光
ビームスプリッタ40に入射される。また音響光学変調
器37から射出されるビーム列L6は、λ/2板39を
透過して偏光方向を変えられた後偏光ビームスプリッタ
40に入射される。これらのビーム列L5とL6は、そ
れぞれ8本ずつのビームL5a〜L5h及びL6a〜L
6hを、偏光ビームスプリッタ40により交互に組合わ
されて、X方向に一列に並ぶように合成される。さらに
制御部(図示せず)が、ポリゴンミラー46からのビー
ム列L5、L6の走査に同期させて基板セット装置を作
動させ、基板STを、描画テーブル面(T)上でY方向
にスライドさせる。よって、X方向に対しやや斜めに1
6本並列して適時オンオフされるビーム列L5、L6の
各ビームにより、基板ST上に、回路パターンが二次元
的に描画(露光)される。
【0023】上記描画時、ビームセパレータ21、22
と結像光学系Iの結像面(基板ST)とは互いにほぼ共
役な位置に配置されているため、該ビームセパレータ2
1、22の各反射面に倒れがあったとしても、ビームL
5a〜L5h、L6a〜L6hを全てビームL2、L3
が本来到達すべき位置に投射して、基板ST上において
一列状に整列させることができる。従って、本レーザ描
画装置11によれば、図5に示すようにピッチbが略一
定な描画ラインEを描画することができるから、基板S
T上に、ムラのない精密な回路パターンを形成すること
が可能となる。
と結像光学系Iの結像面(基板ST)とは互いにほぼ共
役な位置に配置されているため、該ビームセパレータ2
1、22の各反射面に倒れがあったとしても、ビームL
5a〜L5h、L6a〜L6hを全てビームL2、L3
が本来到達すべき位置に投射して、基板ST上において
一列状に整列させることができる。従って、本レーザ描
画装置11によれば、図5に示すようにピッチbが略一
定な描画ラインEを描画することができるから、基板S
T上に、ムラのない精密な回路パターンを形成すること
が可能となる。
【0024】なお、ピッチbが略一定であっても、露光
時の描画ラインが図5の符号E′のように一直線状にな
らないときは、音響光学変調器36、37のオンオフの
タイミングを適宜ずらして主走査方向での照射位置を調
整すれば、同図の符号Eで示すように一直線状の描画ラ
インを描画することができる。
時の描画ラインが図5の符号E′のように一直線状にな
らないときは、音響光学変調器36、37のオンオフの
タイミングを適宜ずらして主走査方向での照射位置を調
整すれば、同図の符号Eで示すように一直線状の描画ラ
インを描画することができる。
【0025】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、ビームセ
パレータの製造誤差による画質の劣化を低減することが
でき、経済的にも有利なビーム分割結像装置を提供する
ことができる。
パレータの製造誤差による画質の劣化を低減することが
でき、経済的にも有利なビーム分割結像装置を提供する
ことができる。
【図1】本発明によるレーザ描画装置を説明するための
概略平面図である。
概略平面図である。
【図2】同レーザ描画装置の共役な関係を説明する概略
側面図である。
側面図である。
【図3】同レーザ描画装置の実施例を示す斜視図であ
る。
る。
【図4】同レーザ描画装置の全体を示す概略平面図であ
る。
る。
【図5】ポリゴンミラーによって基板上に走査される複
数のビームスポットの状態を説明するための図である。
数のビームスポットの状態を説明するための図である。
【図6】ビームセパレータを詳示する側面図である。
【図7】ビームセパレータの製造工程を説明するための
図である。
図である。
11 レーザ描画装置(ビーム分割結像装置) 21 22 ビームセパレータ(光束分割素子) I 結像光学系 ST 基板(結像面)
Claims (3)
- 【請求項1】 1ビームを、光束分割素子を介して、列
状に並ぶ複数のビームに分割し、この分割ビームを結像
光学系を介して結像面に結像させるビーム分割結像装置
において、 上記光束分割素子と結像光学系の結像面とを互いにほぼ
共役な位置に配置したことを特徴とするビーム分割結像
装置。 - 【請求項2】 請求項1において、上記結像面となる基
板をセットするための基板セット装置がさらに備えられ
ているビーム分割結像装置。 - 【請求項3】 請求項2において、上記結像光学系は、
光束分割素子と基板との間に配置された複数のレンズ
系、ビームベンダ及びポリゴンミラーを備えているビー
ム分割結像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4579595A JPH08248338A (ja) | 1995-03-06 | 1995-03-06 | ビーム分割結像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4579595A JPH08248338A (ja) | 1995-03-06 | 1995-03-06 | ビーム分割結像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08248338A true JPH08248338A (ja) | 1996-09-27 |
Family
ID=12729222
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4579595A Pending JPH08248338A (ja) | 1995-03-06 | 1995-03-06 | ビーム分割結像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08248338A (ja) |
-
1995
- 1995-03-06 JP JP4579595A patent/JPH08248338A/ja active Pending
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