JPH08250292A - 高周波放電プラズマ源装置 - Google Patents
高周波放電プラズマ源装置Info
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- JPH08250292A JPH08250292A JP7052375A JP5237595A JPH08250292A JP H08250292 A JPH08250292 A JP H08250292A JP 7052375 A JP7052375 A JP 7052375A JP 5237595 A JP5237595 A JP 5237595A JP H08250292 A JPH08250292 A JP H08250292A
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- plasma
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 47
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- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 7
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
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- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 プラズマと外周電極の電位差によりプラズマ
から引出されたイオンが外周電極表面をスパッタリング
し、これにより飛散した粒子による放電容器内の汚染を
抑制する。 【構成】 高周波電源4の接地側と外周電極2の間に設
けられたコンデンサ10と、同コンデンサ10と外周電
極2の間にチョークコイル11を介してそのプラス側が
接続されマイナス側が接地された直流電源12を備えた
ことによって、直流電源12より外周電極2に正電圧を
印加することにより、高周波放電電極3と外周電極2の
間に発生したプラズマ6の電位を増加させ、プラズマ6
と外周電極2間の電位差を低下させることができるた
め、外周電極2のスパッタリング量の低減が可能とな
り、スパッタリングによる放電容器1内の汚染を抑制す
ることが可能となる。
から引出されたイオンが外周電極表面をスパッタリング
し、これにより飛散した粒子による放電容器内の汚染を
抑制する。 【構成】 高周波電源4の接地側と外周電極2の間に設
けられたコンデンサ10と、同コンデンサ10と外周電
極2の間にチョークコイル11を介してそのプラス側が
接続されマイナス側が接地された直流電源12を備えた
ことによって、直流電源12より外周電極2に正電圧を
印加することにより、高周波放電電極3と外周電極2の
間に発生したプラズマ6の電位を増加させ、プラズマ6
と外周電極2間の電位差を低下させることができるた
め、外周電極2のスパッタリング量の低減が可能とな
り、スパッタリングによる放電容器1内の汚染を抑制す
ることが可能となる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、低スパッタリング型の
高周波放電プラズマ源装置に関する。
高周波放電プラズマ源装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の高周波放電プラズマ源装置は、図
5に示すように真空ポンプ8とガスボンベ9が接続され
外周電極と1体に形成された放電容器01と、同放電容
器01内に挿入された高周波放電電極3と、同高周波放
電電極3に非アース側が整合器5を介して接続されアー
ス側が上記放電容器01に接続された高周波電源4を備
えていた。
5に示すように真空ポンプ8とガスボンベ9が接続され
外周電極と1体に形成された放電容器01と、同放電容
器01内に挿入された高周波放電電極3と、同高周波放
電電極3に非アース側が整合器5を介して接続されアー
ス側が上記放電容器01に接続された高周波電源4を備
えていた。
【0003】上記において、放電容器01内に媒質ガス
7を流入し、高周波電源4から整合器5を介して高周波
電力を伝送すると、高周波放電電極3と放電容器01と
の間にプラズマ6を生成する。
7を流入し、高周波電源4から整合器5を介して高周波
電力を伝送すると、高周波放電電極3と放電容器01と
の間にプラズマ6を生成する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の高周波放電プラ
ズマ源装置においては、プラズマから高周波放電電極及
び外周電極に流れる荷電粒子(電子及びイオン)フラッ
クスが保存されるように、プラズマ電位が自発的に決定
されていた。
ズマ源装置においては、プラズマから高周波放電電極及
び外周電極に流れる荷電粒子(電子及びイオン)フラッ
クスが保存されるように、プラズマ電位が自発的に決定
されていた。
【0005】そのため、プラズマ電位はアース電位に対
して〜3Te(こゝで、、Te;電子温度(eV))の
正電位を有しており、この電位差によってプラズマから
引き出されたイオンが外周電極表面をスパッタリング
し、飛散した粒子が放電室内を汚染するという課題があ
った。本発明は上記の課題を解決しようとするものであ
る。
して〜3Te(こゝで、、Te;電子温度(eV))の
正電位を有しており、この電位差によってプラズマから
引き出されたイオンが外周電極表面をスパッタリング
し、飛散した粒子が放電室内を汚染するという課題があ
った。本発明は上記の課題を解決しようとするものであ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の高周波放電プラ
ズマ源装置は、中央部に配設された高周波放電電極と、
これを取囲むように配設された外周電極との間にプラズ
マを生成する高周波放電プラズマ源装置において、高周
波電源の接地側と上記外周電極の間に接続されたコンデ
ンサ、および同コンデンサにチョークコイルを介してそ
のプラス側が接続されマイナス側が接地された直流電源
を備えたことを特徴としている。
ズマ源装置は、中央部に配設された高周波放電電極と、
これを取囲むように配設された外周電極との間にプラズ
マを生成する高周波放電プラズマ源装置において、高周
波電源の接地側と上記外周電極の間に接続されたコンデ
ンサ、および同コンデンサにチョークコイルを介してそ
のプラス側が接続されマイナス側が接地された直流電源
を備えたことを特徴としている。
【0007】
【作用】上記において、高周波放電電極と外周電極の間
に高周波電源より高周波電力を供給すると、両電極間に
プラズマを発生する。
に高周波電源より高周波電力を供給すると、両電極間に
プラズマを発生する。
【0008】上記外周電極はコンデンサが設けられてい
るために電気的にフローティングの状態であり、この状
態で直流電源より外周電極に数10Vの正電圧を印加す
ると、プラズマから高周波電極及び外周電極に流れる荷
電粒子(電子及びイオン)フラックスが保存されるよう
にプラズマ電位が自発的に外周電極電位よりも高くなる
ため、プラズマ電位を増加させることができる。
るために電気的にフローティングの状態であり、この状
態で直流電源より外周電極に数10Vの正電圧を印加す
ると、プラズマから高周波電極及び外周電極に流れる荷
電粒子(電子及びイオン)フラックスが保存されるよう
にプラズマ電位が自発的に外周電極電位よりも高くなる
ため、プラズマ電位を増加させることができる。
【0009】プラズマ電位が増加すると、高周波放電電
極とプラズマ間の電位差が増加するため、プラズマから
高周波電極への電子フラックスが増加する。また、プラ
ズマからのイオンフラックスはプラズマ電位に依らずほ
ぼ一定であるため、プラズマから外周電極への電子フラ
ックスが減少する。
極とプラズマ間の電位差が増加するため、プラズマから
高周波電極への電子フラックスが増加する。また、プラ
ズマからのイオンフラックスはプラズマ電位に依らずほ
ぼ一定であるため、プラズマから外周電極への電子フラ
ックスが減少する。
【0010】その結果、外周電極に正電圧を印加する前
と比較して、プラズマと外周電極間の電位差を低下させ
ることができる。ここで、外周電極表面をスパッタする
入射イオンのエネルギーは、プラズマと外周電極間の電
位差によって定義され、かつ、そのスパッタレート(=
スパッタされ飛散する粒子数/外周電極に入射するイオ
ン数)は入射イオンのエネルギーにほぼ比例するもので
ある。
と比較して、プラズマと外周電極間の電位差を低下させ
ることができる。ここで、外周電極表面をスパッタする
入射イオンのエネルギーは、プラズマと外周電極間の電
位差によって定義され、かつ、そのスパッタレート(=
スパッタされ飛散する粒子数/外周電極に入射するイオ
ン数)は入射イオンのエネルギーにほぼ比例するもので
ある。
【0011】従って、外周電極に数10Vの正電圧を印
加することにより、外周電極のスパッタリング量を低減
させることができ、放電容器内の汚染を抑制することが
可能となる。
加することにより、外周電極のスパッタリング量を低減
させることができ、放電容器内の汚染を抑制することが
可能となる。
【0012】
【実施例】本発明の第1実施例に係る高周波放電プラズ
マ源装置を図1に示す。
マ源装置を図1に示す。
【0013】図1に示す本実施例は、真空ポンプ8とガ
スボンベ9が接続された放電容器1、同放電容器1内に
挿入された高周波放電電極3、および同電極3に非接地
側が整合器5を介して接続された高周波電源4を備えた
高周波放電プラズマ源装置において、上記放電容器1の
内側に設けられた外周電極2、同外周電極2に一端側が
接続され他端側が上記高周波電源4の接地側に整合器5
を介して接続されたコンデンサ10、および同コンデン
サ10の一端側にその+側がチョークコイル11を介し
て接続され−側が接地された直流電源12を備えてい
る。
スボンベ9が接続された放電容器1、同放電容器1内に
挿入された高周波放電電極3、および同電極3に非接地
側が整合器5を介して接続された高周波電源4を備えた
高周波放電プラズマ源装置において、上記放電容器1の
内側に設けられた外周電極2、同外周電極2に一端側が
接続され他端側が上記高周波電源4の接地側に整合器5
を介して接続されたコンデンサ10、および同コンデン
サ10の一端側にその+側がチョークコイル11を介し
て接続され−側が接地された直流電源12を備えてい
る。
【0014】上記において、放電容器1内にプラズマ6
を発生させる場合、予め真空ポンプ8により排気して放
電容器1内を真空とした後、その内部にガスボンベ9よ
り媒質ガス7を供給して充填しておく。
を発生させる場合、予め真空ポンプ8により排気して放
電容器1内を真空とした後、その内部にガスボンベ9よ
り媒質ガス7を供給して充填しておく。
【0015】上記放電容器1内に所定量のガス7が充填
された後、外周電極2と高周波放電電極3間に整合器5
を介して高周波電源4より高周波電力を供給し、両電極
2,3間に放電を起こし、プラズマ6を発生させる。
された後、外周電極2と高周波放電電極3間に整合器5
を介して高周波電源4より高周波電力を供給し、両電極
2,3間に放電を起こし、プラズマ6を発生させる。
【0016】上記整合器5に接続された高周波電源4の
接地側はコンデンサ10を介して外周電極2に接続され
ているため、この外周電極2は電気的にフローティング
の状態であり、コンデンサ10と外周電極2の間にチョ
ークコイル11を介して接続された直流電源12によ
り、外周電極2に正電圧を印加することができる。な
お、上記チョークコイル11は高周波電流による干渉を
排除するために設けられている。
接地側はコンデンサ10を介して外周電極2に接続され
ているため、この外周電極2は電気的にフローティング
の状態であり、コンデンサ10と外周電極2の間にチョ
ークコイル11を介して接続された直流電源12によ
り、外周電極2に正電圧を印加することができる。な
お、上記チョークコイル11は高周波電流による干渉を
排除するために設けられている。
【0017】上記直流電源12を調整し、外周電極2に
数10Vの正電圧を印加すると、図2に示すようにプラ
ズマ電位を増加させることができる。これは、プラズマ
6から高周波放電電極3及び外周電極2に流れる荷電粒
子(電子及びイオン)フラックスが保存されるように、
プラズマ電位が自発的に外周電極2の電位よりも高くな
るためである。
数10Vの正電圧を印加すると、図2に示すようにプラ
ズマ電位を増加させることができる。これは、プラズマ
6から高周波放電電極3及び外周電極2に流れる荷電粒
子(電子及びイオン)フラックスが保存されるように、
プラズマ電位が自発的に外周電極2の電位よりも高くな
るためである。
【0018】プラズマ電位が高くなると、高周波放電電
極3とプラズマ6間の電位差も増加するため、プラズマ
6から高周波放電電極3への電子フラックスが増加す
る。また、プラズマ6からのイオンフラックスはプラズ
マ電位に依らずほぼ一定であるため、プラズマから外周
電極2への電子フラックスが減少する。
極3とプラズマ6間の電位差も増加するため、プラズマ
6から高周波放電電極3への電子フラックスが増加す
る。また、プラズマ6からのイオンフラックスはプラズ
マ電位に依らずほぼ一定であるため、プラズマから外周
電極2への電子フラックスが減少する。
【0019】その結果、外周電極2に正電圧を印加する
前と比較して、プラズマ6と外周電極2間の電位差を低
下させることができる。ここで、外周電極2の表面をス
パッタする入射イオンのエネルギーは、プラズマ6と外
周電極2間の電位差によって定義され、かつ、そのスパ
ッタレート(=スパッタされ飛散する粒子数/外周電極
2に入射するイオン数)は入射イオンのエネルギーにほ
ぼ比例するものである。
前と比較して、プラズマ6と外周電極2間の電位差を低
下させることができる。ここで、外周電極2の表面をス
パッタする入射イオンのエネルギーは、プラズマ6と外
周電極2間の電位差によって定義され、かつ、そのスパ
ッタレート(=スパッタされ飛散する粒子数/外周電極
2に入射するイオン数)は入射イオンのエネルギーにほ
ぼ比例するものである。
【0020】従って、外周電極2に数10Vの正電圧を
印加することにより、外周電極2のスパッタリング量を
低減させることができ、放電容器1内の汚染を少なくす
ることができる。
印加することにより、外周電極2のスパッタリング量を
低減させることができ、放電容器1内の汚染を少なくす
ることができる。
【0021】本実施例の効果を確認するため、縦42mm
×横103mm×高24mmの直方体外周電極内に直径6mm
×長さ100mmの棒状グラファイト電極を配置した場合
を仮定し、放電を生じさせてプラズマを生成する際に外
周電極に印加される電位Vbaを変えた場合のプラズマ電
位Vs の変化を計算した。図3は、この計算結果を示し
たグラフである。ここで、プラズマ密度ne =1017m
-3、電子温度Te =5 e V(実測値)とした。
×横103mm×高24mmの直方体外周電極内に直径6mm
×長さ100mmの棒状グラファイト電極を配置した場合
を仮定し、放電を生じさせてプラズマを生成する際に外
周電極に印加される電位Vbaを変えた場合のプラズマ電
位Vs の変化を計算した。図3は、この計算結果を示し
たグラフである。ここで、プラズマ密度ne =1017m
-3、電子温度Te =5 e V(実測値)とした。
【0022】この図3より、外周電極電位Vbaを0Vか
ら20Vに増加させると、プラズマ電位Vs は4Vから
25Vに変化することが判る。このとき、外周電極電位
Vbaとプラズマ電位Vs との差は、14Vから5Vへ変
化して約1/3に低下するため、スパッタリング量の低
減が期待できる。
ら20Vに増加させると、プラズマ電位Vs は4Vから
25Vに変化することが判る。このとき、外周電極電位
Vbaとプラズマ電位Vs との差は、14Vから5Vへ変
化して約1/3に低下するため、スパッタリング量の低
減が期待できる。
【0023】本発明の第2実施例を図4に示す。図4に
示す本実施例は第1実施例の放電容器1の上部にイオン
引出電極13を設け、この電極13と放電容器1の間に
イオン引出電源14を接続することにより、イオンビー
ム15の引出しを可能としたものである。このような装
置を形成することにより、第1実施例の放電容器1内で
発生させたプラズマをイオン源プラズマとして有効に利
用することが可能となる。
示す本実施例は第1実施例の放電容器1の上部にイオン
引出電極13を設け、この電極13と放電容器1の間に
イオン引出電源14を接続することにより、イオンビー
ム15の引出しを可能としたものである。このような装
置を形成することにより、第1実施例の放電容器1内で
発生させたプラズマをイオン源プラズマとして有効に利
用することが可能となる。
【0024】
【発明の効果】本発明の高周波放電プラズマ源装置は、
高周波電源の接地側と外周電極の間に設けられたコンデ
ンサと、同コンデンサと外周電極の間にチョークコイル
を介してそのプラス側が接続されマイナス側が接地され
た直流電源を備えたことによって、直流電源より外周電
極に正電圧を印加することにより、高周波放電電極と外
周電極の間に発生したプラズマの電位を増加させ、プラ
ズマと外周電極間の電位差を低下させることができるた
め、外周電極のスパッタリング量の低減が可能となり、
スパッタリングによる放電容器内の汚染を抑制すること
が可能となる。
高周波電源の接地側と外周電極の間に設けられたコンデ
ンサと、同コンデンサと外周電極の間にチョークコイル
を介してそのプラス側が接続されマイナス側が接地され
た直流電源を備えたことによって、直流電源より外周電
極に正電圧を印加することにより、高周波放電電極と外
周電極の間に発生したプラズマの電位を増加させ、プラ
ズマと外周電極間の電位差を低下させることができるた
め、外周電極のスパッタリング量の低減が可能となり、
スパッタリングによる放電容器内の汚染を抑制すること
が可能となる。
【図1】本発明の第1実施例に係る高周波放電プラズマ
源装置の説明図である。
源装置の説明図である。
【図2】上記第1実施例に係る電位分布の説明図であ
る。
る。
【図3】上記第1実施例に係る外周電極電位に対するプ
ラズマ電位の説明図である。
ラズマ電位の説明図である。
【図4】本発明の第2実施例の説明図である。
【図5】従来の装置の説明図である。
1 放電容器 2 外周電極 3 高周波放電電極 4 高周波電源 5 整合器 6 プラズマ 7 媒質ガス 8 真空ポンプ 9 ガスボンベ 10 コンデンサ 11 チョークコイル 12 直流電源 13 イオン引出電極 14 イオン引出電源 15 イオンビーム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田口 俊夫 広島市西区観音新町四丁目6番22号 三菱 重工業株式会社広島研究所内 (72)発明者 梶西 邦幸 広島市西区観音新町四丁目6番22号 三菱 重工業株式会社広島研究所内
Claims (1)
- 【請求項1】 中央部に配設された高周波放電電極と、
これを取囲むように配設された外周電極との間にプラズ
マを生成する高周波放電プラズマ源装置において、高周
波電源の接地側と上記外周電極の間に接続されたコンデ
ンサ、および同コンデンサにチョークコイルを介してそ
のプラス側が接続されマイナス側が接地された直流電源
を備えたことを特徴とする高周波放電プラズマ源装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7052375A JPH08250292A (ja) | 1995-03-13 | 1995-03-13 | 高周波放電プラズマ源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7052375A JPH08250292A (ja) | 1995-03-13 | 1995-03-13 | 高周波放電プラズマ源装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08250292A true JPH08250292A (ja) | 1996-09-27 |
Family
ID=12913067
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7052375A Withdrawn JPH08250292A (ja) | 1995-03-13 | 1995-03-13 | 高周波放電プラズマ源装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08250292A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100539622B1 (ko) * | 1996-11-27 | 2006-03-22 | 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 | 플라즈마처리장치 |
-
1995
- 1995-03-13 JP JP7052375A patent/JPH08250292A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100539622B1 (ko) * | 1996-11-27 | 2006-03-22 | 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 | 플라즈마처리장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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