JPH08250331A - 磁性体の磁化方向制御方法およびそれを利用した磁気デバイス - Google Patents

磁性体の磁化方向制御方法およびそれを利用した磁気デバイス

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JPH08250331A
JPH08250331A JP4838395A JP4838395A JPH08250331A JP H08250331 A JPH08250331 A JP H08250331A JP 4838395 A JP4838395 A JP 4838395A JP 4838395 A JP4838395 A JP 4838395A JP H08250331 A JPH08250331 A JP H08250331A
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JP
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magnetic
polarized light
semiconductor
circularly polarized
thin film
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JP4838395A
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Shiho Okuno
志保 奥野
Koichiro Inomata
浩一郎 猪俣
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】外部から発生させた磁場を用いずに磁性体の磁
化制御を行うことができる磁性体の磁化制御方法および
そのような磁化制御方法を利用した磁気デバイスを提供
する。 【構成】磁性薄膜1と、この磁性薄膜1に直接または中
間層4を介して接した直接遷移型半導体2と、この直接
遷移型半導体2に円偏光を照射する円偏光発生源3とに
より磁気デバイスを構成する。そして、円偏光発生源3
から直接遷移型半導体2に円偏光を照射することで、直
接遷移型半導体2中に円偏光の偏光方向に基づく極性を
持つスピン偏極電子を励起せしめ、このスピン偏極電子
の極性により磁性薄膜1の磁化の向きを制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁性体の新しい磁化方
向制御方法およびそれを利用した磁気デバイスに関し、
より詳しくは磁性薄膜が利用される、例えば磁気メモ
リ、磁場発生装置、アクチュエーター、磁気半導体デバ
イス等におけるの磁性薄膜に対する磁化方向制御方法
と、その磁気デバイスへの応用に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の磁性薄膜の磁化方向制御は、外部
から磁性薄膜へ磁場を作用させることによって行われて
きた。そのため、外部の磁場発生源として、コイルから
なる電磁石あるいは永久磁石が必須である。
【0003】しかしながら、コイルが存在すると基本的
に装置が大きくならざるを得ず、またこれら電磁石や永
久磁石を使用する場合、磁場が印加される空間領域が絞
りにくいという欠点があり、装置の軽薄短小化の要求を
満たすことが困難である。また、漏洩磁界の問題がさけ
られない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる事情に
鑑みてなされたものであり、外部から発生させた磁場を
用いずに磁性体の磁化制御を行うことができる磁性体の
磁化制御方法およびそのような磁化制御方法を利用した
磁気デバイスを提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、第1に、磁性体に直接または中間層を介
して接した直接遷移型半導体に円偏光を照射すること
で、直接遷移型半導体中に円偏光の偏光方向に基づく極
性を持つスピン偏極電子を励起せしめ、このスピン偏極
電子の極性により前記磁性薄膜の磁化の向きを制御する
ことを特徴とする磁性薄膜の磁化方向制御方法を提供す
る。
【0006】第2に、磁性体と、この磁性体に直接また
は中間層を介して接した直接遷移型半導体と、この直接
遷移型半導体に円偏光を照射する円偏光発生源とを有す
ることを特徴とする磁気デバイスを提供する。
【0007】第3に、上記磁気デバイスにおいて、前記
磁性体と前記直接遷移型半導体との間にバイアス電圧を
印加するバイアス電圧印加手段をさらに有することを特
徴とする磁気デバイスを提供する。
【0008】本発明の基本原理は、円偏光の照射により
半導体中の価電子帯から伝導帯にスピン偏極電子を励起
させ、このスピン偏極電子を、半導体に直接あるいは中
間層を介して接触した磁性薄膜や磁性粒子などの磁性体
に作用させて、磁性体のスピンの向き、すなわち磁化の
向きを制御することにある。
【0009】この磁化方向制御方法を実施するための基
本となる磁気デバイスは、図1に示すように、磁性薄膜
1と、磁性薄膜1に接した直接遷移型半導体2と、この
直接遷移型半導体2に円偏光を照射する円偏光発生源3
を有している。また、磁性薄膜1と直接遷移型半導体2
とは、図2に示すように、中間層4を介して接していて
もよい。
【0010】磁性薄膜は、強磁性を示すものであればよ
く、Fe,Co,Niなど3d遷移金属、Gdなどの希
土類、あるいはこれらを含む合金または化合物が挙げら
れる。また、この磁性薄膜は、強磁性を示す限り、単結
晶、多結晶、および非晶質のいずれであってもよい。ま
た、ここでいう磁性薄膜は図3の(a)で示すような文
字通りの薄膜のみならず、(b)で示す線状、(c)で
示すドット状のものでもよい。
【0011】また、磁性体として磁性粒子を用いる場合
には、図4に示すように、直接遷移型半導体マトリック
ス12中に磁性粒子11が分散したグラニュラー膜を用
い、このグラニュラー膜に円偏光を照射するようにすれ
ばよい。
【0012】以下、本発明の基本原理をさらに詳細に説
明する。一般に、半導体では、光の照射によって半導体
の価電子帯から伝導帯に電子が励起される。この時、半
導体として直接遷移型半導体を用い、また光として右向
きあるいは左向きに円偏向した光を使うと、半導体中の
上向スピンを持つ電子の励起確率と下向きスピンを持つ
電子の励起確率とを同じでなくすることができ、結果と
して上向スピンの数と下向きスピンの数が異なったスピ
ン偏極電子が得られることが知られている(T.Nakanish
i ら、Japan Jounal of Applied Physicsvol.25,p.766,
(1986))。ここで、電子のスピン偏極度は、上向きスピ
ンの強度をI↑、下向きスピンの強度をI↓とすると、
(I↑−I↓)/(I↑+I↓)で表すことができる。
【0013】このスピン偏極度は、用いる半導体の種類
および状態と励起源である円偏光のエネルギーとによっ
て異なるが、代表的な直接遷移半導体であるGaAsの
場合、理論的には50%のスピン偏極度を持つ伝導電子
を発生させることができる。このスピン偏極度はGaA
sに歪をかけたり、人工格子膜とすることによりさらに
向上する。磁性体の磁化方向制御のためにはスピン偏極
度は高ければ高いほど好ましい。
【0014】このような直接遷移型半導体の代表例とし
ては、上記GaAsや、GaAlAs、CdSe、Cd
Teなどの化合物半導体、CdSiAs2 などのカルコ
パライト型半導体などが挙げられる。また、スピン偏極
度の極性は円偏光の向きによって決まり、右向き偏光か
ら左向き偏光に向きを変えることで極性が変化する。
【0015】円偏光は直線偏光の電界ベクトルの右回り
成分と左回り成分とを4分の1波長ずらすことによって
得られる。例えば、図5の(a)に示したように、レー
ザー光源5からの直線偏光させたレーザー光を1/4波
長板6に通すか、または(b)に示すように、ポッケル
スセルなどの電場を加えた光学結晶7に通すなど、従来
技術によって簡単に得ることができる。円偏光度はなる
べく高いことが望ましいが、多少楕円偏光になっていて
もよい。また、使用される円偏光のエネルギーは照射さ
れる半導体の電子構造によって決まる。
【0016】磁性体と半導体とは、半導体中で励起され
たスピン偏極電子が磁性体に作用することができるよう
に、直接に、または中間層を介して接している必要があ
る。ここで用いられる中間層は導電性を有するものであ
っても絶縁性を有するものであってもよい。中間層が導
電性を有する場合には、電子の移動を妨げない材質であ
ることが好ましく、Au、Ag、Cuなどの貴金属が理
想的である。中間層が絶縁性を有するものである場合に
は、半導体と磁性体との間を電子がトンネリングできる
ことが必要である。実際にはこのような中間層は、磁性
体と半導体との界面に形成される合金層であってもよ
い。いずれの場合にも中間層の厚さは、上記電子の移動
およびトンネリングを妨げないように、100nm以下
であることが好ましく、10nm以下がさらに好まし
い。
【0017】磁性体と半導体との接合界面、あるいは中
間層の状態によってはそのままでは半導体中のスピン偏
極電子が磁性体に作用せず、磁性体の磁化を制御するこ
とができない場合がある。この場合には、図6に示すよ
うに、磁性体としての磁性薄膜1と半導体2とに電極
8,9を設け、電位差発生源10によりその間に電場を
与えて半導体2の電位を上げ、半導体2で生じたスピン
偏極電子を磁性体1に作用させることが必要となる。
【0018】磁性体の磁化の方向は、半導体中で励起さ
れた電子スピンの向きにより決まり、またこの量子化軸
は円偏光を入射する向きによって決まる。すなわち本発
明においては、磁性体に対する円偏光の入射方向に基づ
く量子化軸の向きによって垂直磁化になるか面内磁化と
なるかなどが決定され、量子化軸を軸としてスピンがど
ちらを向くかは、円偏光が右向きであるか左向きである
かによって決まる。その例を図7の(a)〜(d)に示
す。
【0019】なお、円偏光は、磁性体側からだけでな
く、半導体が1μm以下の厚さならば、図8に示すよう
に半導体側から照射してもよい。本発明で磁性体と半導
体とが直接、または中間層を介して接するようにするた
めには、磁性体が磁性薄膜の場合、半導体を基板として
この上に磁性薄膜を形成するか、あるいはその逆に磁性
薄膜の上に半導体を形成すればよい。また、他の基板上
に、半導体膜と磁性薄膜とを形成することも可能であ
る。またさらに、表面が清浄かつ平坦な半導体を、同じ
く表面が清浄な磁性体と超高真空中で接着してもよく、
従来から用いられている薄膜形成方法によってこれらを
容易に形成することができる。
【0020】半導体と磁性体とは様々な組み合わせが可
能であるが、一例を挙げると、GaAsとFeとの組み
合わせがある。GaAs結晶とFe結晶とは結晶格子定
数が1:2の関係にあり、良好にエピタキシャル成長す
ることが知られている(G.A.Prinz ら、Applied Physic
s Letters,vol.39,p.397(1981))。従って、GaAs
(001)面を基板として使用し、その上にFeを蒸着
すると、Feの(001)面の単結晶が得られる。この
場合の界面構造は、Fe膜成長時の基板温度によって制
御される。
【0021】
【実施例】
(実施例1)分子線エピタキシー(MBE)装置を用い
て、GaAs半導体基板上に磁性薄膜としてFe膜を成
長させた。まず、GaAsを600℃まで加熱して清浄
表面を得た後、室温まで降温して、Feを電子ビーム蒸
着により3nmの厚さ蒸着した。さらに、その表面には
透光性の保護膜を形成した。
【0022】以上のようにして形成されたサンプルに対
し、円偏光を図7の(a),(b)に示されているよう
な入射方向でFe膜全体に照射し、その際の円偏光度に
対するFe膜の面内方向の磁化を求めた。その結果、図
9に示すように、円偏光度とFe膜の磁化との間に強い
相関があることが確認された。
【0023】(実施例2)円偏光によるスピン偏極電子
の発生を確認するために、次のような実験を行った。
【0024】図10に示すように、GaAs半導体基板
22上に磁性薄膜としてFe膜21を実施例1と同じ方
法で形成し、Fe膜21の表面とGaAs半導体基板2
2の裏面側とに、それぞれ電極23および24を形成
し、バイアス電圧印加手段としての電源25によってF
e膜21とGaAs半導体基板22との間に電圧を印加
した。また、この間の電流をモニターできるように電流
計26を接続した。一方、GaAs半導体基板22を、
のFe膜21が形成されている面の反対側の面からその
厚さが約600nmになるようにエッチングした。次い
で、Fe膜21とGaAs半導体基板22とからなるサ
ンプルの両側にマグネット27を配置し、このマグネッ
ト27によりFe膜21の磁化を強制的に揃えた状態
で、円偏光発生源28からの円偏光により励起されたG
aAs半導体基板12中で励起された電子がFe膜11
へ流れるときの電流を調べた。
【0025】ここで、図11の(a)のように円偏光の
円偏光度を時間とともにsinカーブを描くように変化
させたときに流れる電流は、図11の(b)に示すよう
に、円偏光度を反映したものとなった。
【0026】これは、円偏光の円偏光度に応じて、Fe
膜11のスピンと同じ向きのスピンがGaAs半導体基
板中で多く励起された場合と、逆向きのスピンが多く励
起された場合とで、系のコンダクタンスが異なった結果
起っていると推測され、励起電子のスピンの極性が円偏
光の偏向方向によって制御されていることを示すもので
ある。
【0027】(実施例3)実施例1と同様の方法で、図
12に示すように、GaAs半導体基板32上に中間層
として2nmの厚さでPtバッファ層23を形成した
後、磁性薄膜として1nmの厚さでCo膜31を蒸着
し、さらにその上にPtのキャップ層34を形成した。
一方、光源として波長830nmの半導体レーザー35
を用い、発振されたレーザー光をコリメーターレンズ3
6で収束した後、ポッケルスセル37に通し、直線偏
光、右円偏光、左円偏光の切り替えを行った。この結
果、円偏光の偏向方向により磁性薄膜の磁化の向きを図
12に示すように制御しながら、10mWのパワーで書
き込みを行うことができた。また、書き込んだ情報は、
3mWのパワーの直線偏光を用い、極カー効果によって
読み出しが可能であった。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、コイルなどの外部磁場
発生装置による外部磁場を用いることなく、光のみで磁
性体の磁化方向を制御することができるので、装置の大
型化が避けられ、また、従来コイルに供給されていた大
電流が不要となる。また、磁場の漏洩の問題が解決さ
れ、さらに局所的な磁化方向制御および遠隔操作が可能
となる。従って、本発明は磁性体が用いられる広い範囲
において大きな効果をもたらすものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の磁化方向制御方法を実施するための磁
気デバイスの一態様を示す模式図。
【図2】本発明の磁化方向制御方法を実施するための磁
気デバイスの他の態様を示す模式図。
【図3】本発明における磁性薄膜の状態を説明するため
の図。
【図4】本発明の磁化方向制御方法が適用可能なグラニ
ュラー膜を示す模式図。
【図5】円偏光発生源の構成を示す図。
【図6】本発明の磁化制御方法を実施するための磁気デ
バイスのさらに他の態様を示す模式図。
【図7】円偏光発生源からの円偏光の照射方法と磁性薄
膜の磁化の向きとの関係を説明するための模式図。
【図8】円偏光を半導体側から照射した状態を示す図。
【図9】実施例1における円偏光度とFe膜の磁化との
関係を示す図。
【図10】実施例2において用いられたデバイスの構成
を示す図。
【図11】実施例2における円偏光度の変化とそれに対
応する電流変化を示す図。
【図12】実施例3において用いられたデバイスの構成
を示す図。
【符号の説明】
1……磁性薄膜 2……直接遷移型半導体 3……円偏光発生源 4……中間層 8,9……電極 10……電位差発生源
【手続補正書】
【提出日】平成8年5月27日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項1
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0001
【補正方法】変更
【補正内容】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁性体の新しい磁化方
向制御方法およびそれを利用した磁気デバイスに関し、
より詳しくは磁性薄膜が利用される、例えば磁気メモ
リ、磁場発生装置、アクチュエーター、磁気半導体デバ
イス等における磁性薄膜に対する磁化方向制御方法と、
その磁気デバイスへの応用に関する。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0005
【補正方法】変更
【補正内容】
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、第1に、磁性体に直接または中間層を介
して接した直接遷移型半導体に円偏光を照射すること
で、直接遷移型半導体中に円偏光の偏光方向に基づく極
性を持つスピン偏極電子を励起せしめ、このスピン偏極
電子の極性により前記磁性体の磁化の向きを制御するこ
とを特徴とする磁性体の磁化方向制御方法を提供する。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁性体に直接または中間層を介して接し
    た直接遷移型半導体に円偏光を照射することで、直接遷
    移型半導体中に円偏光の偏光方向に基づく極性を持つス
    ピン偏極電子を励起せしめ、このスピン偏極電子の極性
    により前記磁性薄膜の磁化の向きを制御することを特徴
    とする磁性薄膜の磁化方向制御方法。
  2. 【請求項2】 磁性体と、この磁性体に直接または中間
    層を介して接した直接遷移型半導体と、この直接遷移型
    半導体に円偏光を照射する円偏光発生源とを有すること
    を特徴とする磁気デバイス。
  3. 【請求項3】 前記磁性体と前記直接遷移型半導体との
    間にバイアス電圧を印加するバイアス電圧印加手段を有
    することを特徴とする請求項2に記載の磁気デバイス。
JP4838395A 1995-03-08 1995-03-08 磁性体の磁化方向制御方法およびそれを利用した磁気デバイス Pending JPH08250331A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009538490A (ja) * 2006-05-24 2009-11-05 スティッチング カソリーケ ウニベルシテイト, モア パティキュラリ ザ ラドボウド ユニヴァシティー ナイメーヘン メディカル センタ 磁化可能な媒体を切り替える光磁気スイッチング素子および方法
US8526288B2 (en) 2011-04-07 2013-09-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Optical elements including light sources and waveguides and information storage devices including the same
CN104603951A (zh) * 2012-08-14 2015-05-06 独立行政法人科学技术振兴机构 自旋极化晶体管元件

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