JPH08250367A - 金属化フィルムコンデンサ - Google Patents
金属化フィルムコンデンサInfo
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Abstract
特性を高めると共に、ヒューズ動作等による容量減少を
最小にしつつ、短絡モードの故障を確実に回避し、絶縁
破壊に対する信頼性を向上させる。 【構成】 金属蒸着面を、格子状の第1スリット2bに
よりセグメント部3aに細分化し、第1ヒューズ部3b
によりこれらを接続する。各セグメント部3aの面積を
10〜1000mm2、第1ヒューズ部3bの寸法を最
狭部で0.05mm以上で1.5mm以下とする。コン
デンサとしての機能部分の蒸着金属と、電極引き出し部
分の蒸着金属とを、第2スリット2cにより分離すると
共に、両者を第2ヒューズ部3cにより接続する。第1
ヒューズ部3bと第2ヒューズ部3cの最狭部の寸法比
率を、1:2〜20の範囲内とする。
Description
属蒸着化プラスチックフィルム(以下、金属化フィルム
と称する)を使用したコンデンサに関するものである。
紙又はプラスチックフィルムあるいはこれらを併用した
ものを使用し、前記誘電体とアルミ箔電極を交互に重ね
合わせ巻回してコンデンサ素子としたものが採用されて
いた。また一部の分野では、金属化紙又は金属化フィル
ムを用いたものも採用されている。
厚さ数μm〜数十μmと薄く、また面積も大きい。その
ため誘電体に耐電圧上の欠陥が入り易く、コンデンサの
設計においては、この欠陥部分を考慮した設計が必要で
あった。
ることにより、1枚の誘電体の欠陥部分を他の誘電体が
カバーする方法が採用されてきた。この方法は、誘電体
の重ね合わせ枚数を増すほど効果があったが、誘電体の
厚みを増すと電極間の厚みが厚くなり、電極の端面より
部分放電が発生してコンデンサの寿命を短くするという
弊害が生じたり、誘電体の厚みの増加に伴うコンデンサ
構成素子体積の増加により、近年のコンデンサに対する
小型・軽量化の要望に対応するのが困難であるという問
題があった。
採用により、誘電体の欠陥部周辺の電極金属を絶縁破壊
時の放電電流により蒸発飛散させ、絶縁を回復させる方
法(絶縁欠陥部周辺の蒸着電極金属が瞬時短絡によるエ
ネルギーで蒸発・飛散し、コンデンサの機能部分から切
り離され、コンデンサの機能が回復する、自己回復現象
を利用した方法)もあるが、高圧コンデンサでは絶縁破
壊時の電流遮断が困難なために実用化には至っていな
い。
解決するためになされたものであって、その目的は、保
安機構付きコンデンサの金属蒸着電極に改良を加え、ヒ
ューズ効果により絶縁破壊時の電流を遮断して蒸着フィ
ルムの絶縁回復特性を高め、通常の使用状態においての
ヒューズ動作等による容量減少を最小にしつつ、万一の
異常時においても短絡モードの故障を確実に回避し、絶
縁破壊に対する信頼性を格段に向上させた、金属化フィ
ルムを使用したコンデンサ(以下、金属化フィルムコン
デンサと称する)を提供することにある。
フィルムコンデンサは、片面に金属蒸着を施したプラス
チックフィルムを2枚一対とするか、両面に金属蒸着を
施したプラスチックフィルムと金属蒸着を施さないプラ
スチックフィルムとを2枚一対として巻回し、上記一対
2面の蒸着面の少なくとも1面は、蒸着金属のない格子
状の第1スリットにより単位金属蒸着電極に細分化さ
れ、第1スリット間に形成された第1ヒューズ部により
単位金属蒸着電極が接続され、細分化された各単位金属
蒸着電極の蒸着面積が10〜1000mm2、各単位金
属蒸着電極を接続する第1ヒューズ部の寸法を最狭部で
0.05mm以上で1.5mm以下とし、かつ第1ヒュ
ーズ部により各単位金属蒸着電極が互いに接続されたコ
ンデンサとしての機能部分の蒸着金属と、金属の溶射等
により導通を得るための電極引き出し部分の蒸着金属と
を、フィルムの長手方向に延びる蒸着金属のない第2ス
リットにより分離し、その第2スリットにより分離され
たコンデンサの機能部分の蒸着金属と電極引き出し部分
の蒸着金属とが、第2スリット間に形成された第2ヒュ
ーズ部により接続されており、第1ヒューズ部と第2ヒ
ューズ部の最狭部の寸法比率が、第1ヒューズ部を1と
した時に第2ヒューズ部が2〜20の範囲内であること
を特徴としている。
は、第2スリットにより分離された電極引き出し部分の
蒸着金属は、その被膜抵抗値が、コンデンサの機能部分
の蒸着金属の被膜抵抗値よりも低く、かつ第2ヒューズ
部は、コンデンサの機能部分よりも低い被膜抵抗値の蒸
着金属の領域内にあることを特徴としている。
サは、定格電圧充電時における各単位金属蒸着電極で形
成される各単位コンデンサの充電エネルギーが0.05
J以下であることを特徴としている。
直流用途におけるプラスチックフィルムの電位傾度を1
30V/μm以上で350V/μm以下に設定すること
を特徴としている。
交流用途におけるプラスチックフィルムの電位傾度を実
効値で60V/μm以上で120V/μm以下に設定す
ることを特徴としている。
は、金属蒸着電極を未蒸着の格子状の第1スリットによ
って複数個の単位金属蒸着電極(以下セグメントと称す
る)に細分化し、各セグメントを第1スリット間に形成
された第1ヒューズ部を介して接続し、フィルムの欠陥
部における放電に対し、その放電エネルギーを小さくし
て放電時の衝撃力による破壊部を小さくすると共に、絶
縁破壊時の短絡電流をヒューズ機能によって遮断し、絶
縁破壊部分のセグメントを切り離すことによってコンデ
ンサとしての機能を喪失することを免れるものであり、
また万一、絶縁破壊時の短絡電流を第1ヒューズ部のヒ
ューズ機能により遮断することができないような異常の
場合でも、コンデンサの機能部分の蒸着金属と電極引き
出し部分の蒸着金属とを接続する第2ヒューズ部のヒュ
ーズ機能によって異常が発生したコンデンサの機能部分
を切り離して開放することにより、絶縁破壊による短絡
故障を確実に回避するものである。
6号に開示されたもののように、セグメントを形成する
スリットがフィルム幅1方向にのみ設けられているもの
が多かった。このようなスリットでは、本発明のコンデ
ンサの性能上必要とされるセグメントの細分化(10〜
1000mm2)は、特に50mm以上のフィルム幅で
は以下の理由で実用上問題が多い。それは第1には、ス
リット間の幅が極端に狭くなり、加工技術上制約が多く
なるということであり、また第2には、スリットの増加
による容量減少が大きくなるということである。これに
対して本願のものにおける格子状のスリットは、これら
の制約がより少なく、任意に細分化されたセグメントを
形成することができる。
の寸法は、最狭部で0.05〜1.5mmが適正であ
る。0.05mm未満では通常電流による誤動作が多
く、静電容量の安定性を欠き、また1.5mmを超過す
ればヒューズ部の感度が悪く、誘電体の損傷が生じて絶
縁破壊に対する信頼性を欠くためである。
極引き出し部分の蒸着金属とを接続する第2ヒューズ部
の寸法は、第1ヒューズ部の最狭部との寸法比率で、第
1ヒューズ部が1に対して第2ヒューズ部が2〜20の
範囲内が適正である。第1ヒューズ部の最狭部との寸法
比率が2未満では電極引き出し部分からの電流集中によ
る誤動作が多く、静電容量の安定性を欠き、また20を
超過すればヒューズ部の感度が悪く、第1ヒューズ部の
ヒューズ機能により絶縁破壊時の短絡電流を遮断できな
いような異常の場合に、第2ヒューズ部によりコンデン
サの機能部分を切り離して開放することができず、絶縁
破壊による短絡故障を確実に回避できないためである。
00mm2が適当である。10mm2未満では、スリッ
トの静電容量損失分が大きいのと、ヒューズ部を含む加
工技術上、及び経済性に難点があり得策でないし、また
1000mm2を超過すれば、1回のヒューズ動作時に
減少する静電容量が大きくなり、コンデンサの静電容量
寿命で電位傾度が制約され得策でないためである。
は、第2スリットにより分離された電極引き出し部分の
蒸着金属の被膜抵抗値が、コンデンサの機能部分の蒸着
金属の被膜抵抗値よりも低い構成、つまりヘビーエッジ
構造とし、第2ヒューズ部を、第2スリットにより分離
されたコンデンサの機能部分よりも被膜抵抗値の低いヘ
ビーエッジ部分の範囲内としている。それはヘビーエッ
ジ構造の金属蒸着構成において、第2ヒューズ部をヘビ
ーエッジ部分の範囲外とすれば、特に第1ヒューズ部と
第2ヒューズ部の寸法比率が小さい場合において、電極
引き出し部分からの電流集中による誤動作が多く、静電
容量の安定性を欠くために得策でないことによる。
うに、定格電圧充電時における各単位金属蒸着電極で形
成される各単位コンデンサの充電エネルギーが0.05
J以下であることが適当である。単位コンデンサの充電
エネルギーが0.05Jを超過すると、適正なヒューズ
部設定が困難となり、誘電体の損傷が生じ絶縁破壊に対
する信頼性が低下して、静電容量減少率も大きくなる。
うに、直流用途においてはプラスチックフィルムの電位
傾度を130〜350V/μmに設定するのが適当であ
る。130V/μm未満では、電位傾度において従来の
コンデンサに対する優位性が少なくなる。350V/μ
mを超過すれば、フィルム本来の耐電圧領域になり、ヒ
ューズ動作頻度が急増し、コンデンサの静電容量減少で
機能を喪失して実用に耐えなくなる。
うに、交流用途においてはプラスチックフィルムの電位
傾度を実効値で60〜120V/μmに設定するのが適
当である。60V/μm未満では、電位傾度において従
来のコンデンサに対する優位性が少なくなる。120V
/μmを超過すれば、コンデンサ自体の損失により発生
する熱によって熱破壊する領域となり、コンデンサとし
ての機能を維持できなくなる。
具体的な実施例について、図面を参照しつつ詳細に説明
する。図はこの発明の一実施例による金属化フィルムコ
ンデンサ素子を示すもので、図1はその展開斜視図、図
2は一対の金属化フィルムの断面図である。図におい
て、1は第1の金属化フィルムで、ポリプロピレンフィ
ルム等の第1の誘電体フィルム2の表面に金属蒸着によ
り電極被膜3が形成されている。2aはマージン部で、
この部分には電極被膜3は形成されていない。2bは格
子状になった第1スリットで、この部分にも電極被膜3
は形成されていない。3bはそれぞれ第1ヒューズ部で
あり、機能部分の細分化された単位コンデンサであるセ
グメント3aを接続している。3cは第2ヒューズ部で
あり、フィルムの長手方向に延びる電極被膜の形成され
ていない第2スリット2cにより分離された機能部分の
蒸着金属と電極引き出し部分の蒸着金属とを接続してい
る。4は第2の金属化フィルムで、以下第1の金属化フ
ィルムの各部の名称に同じく、5は第2の誘電体フィル
ム、5aはマージン部、5bは格子状の第1スリット、
5cは第2スリット、6は電極被膜、6aはセグメント
部、6bは第1ヒューズ部、6cは第2ヒューズ部であ
る。7、8はリード引き出し用の金属吹き付け部であ
る。そして上記第1の金属化フィルム1を例にすると、
セグメント部3aを形成するパターンとしては、図3〜
図6に示すものがあるが、これ以外のパターンを採用す
ることも可能である。なお図3〜図8において、w1は
第1ヒューズ部最狭部寸法、w2は第2ヒューズ部最狭
部寸法、そしてw3、w4はセグメント部寸法をそれぞ
れ示している。
(図3)の供試コンデンサの仕様を以下に示す。 ・金属化フィルム 亜鉛蒸着ポリプロピレンフィルム ・被膜抵抗値 5Ω/□ ・寸法 幅100mm マージン3.0mm 厚さ12μm セグメント面積400mm2 第1ヒューズ部最狭部0.6mm 第2ヒューズ部最狭部3.0mm スリット幅は全て一定 ・容量 30μF ・含浸剤 植物油(菜種油)含浸 ・外装 角形ブリキケース収納 ・試料数 10個 (比較用としてスリットを設けない従来品も10個) このコンデンサと比較用のコンデンサ(スリットを設け
ない従来品)各10個を使用して試験を行った。試験結
果を表1に示す。
われるもので、80℃に設定した熱風循環式恒温槽中に
コンデンサを入れて、180V/μm(2160V)に
相当する直流電圧を105秒(27.8Hrs)印加す
る。印加後、常温にしてコンデンサの容量等の諸特性を
測定する。次に200V/μmに相当する電圧を同様に
して印加し、印加・測定を順次繰り返し、コンデンサが
絶縁破壊するか容量が殆ど無くなるまで印加電圧を上昇
させ継続する。
た。即ち従来のコンデンサが220V/μm(2640
V)前後で全数絶縁破壊したのに対して、本実施例のコ
ンデンサはフィルム本来の耐電圧領域まで絶縁破壊する
ことなく、また大きな容量減少もなく耐用し、しかも容
量がほぼ無くなった時点でも絶縁破壊を生じない。この
ように高い容量安定性と絶縁破壊に対する信頼性が確認
された。
示す構成で、第2ヒューズ部w2寸法(図3(c)〜図
6(c))を変えて第1ヒューズ部と第2ヒューズ部の
寸法比率が1:1から1:30となる亜鉛蒸着ポリプロ
ピレンフィルムを6種製作し、以下の仕様の供試コンデ
ンサを製作した。 ・金属化フィルム 亜鉛蒸着ポリプロピレンフィルム ・被膜抵抗値 5Ω/□ ・寸法 幅100mm マージン3.0mm 厚さ12μm セグメント面積400mm2 第1ヒューズ部最狭部0.6mm 第2ヒューズ部最狭部0.6、1.2、3.0、6.0、 12.0、18.0mm スリント幅は全て一定 ・容量 25μF ・含浸剤 植物油(菜種油)含浸 ・外装 角形ブリキケース収納 ・試料数 各10個 (比較用としてスリットを設けない従来品を10個、及び 図7、図8に示すように第2スリット及び第2ヒューズ 部を設けないものを10個) 試験結果を表2に示す。
といわれるもので、80℃に設定した熱風循環式恒温槽
中に供試コンデンサを入れて温度飽和させた後、直流試
験の場合は約400VDC/sec、交流試験の場合は
約150VAc/secの速度で電圧を連続的に上昇さ
せ、コンデンサが絶縁破壊して電圧の上昇が不可能とな
るか、直流試験の場合は印加電圧が10kVDCとなる
まで、交流試験の場合は試料と電源側の容量ミスマッチ
ングにより動作電流30Aの電源保護装置が動作するま
で継続する。
直流試験、交流試験共に絶縁破壊により全数短絡故障と
なりケース変形が認められたのに対して、スリット有り
のコンデンサでは直流試験での絶縁破壊による短絡故
障、及びケース変形は1台も発生せず、また良好なヒュ
ーズ動作により試験による劣化部分が切り離されたこと
から、全数フィルム本来の耐電圧領域以上の電圧である
10kVDCまで耐用している。また交流試験では、機
能部分のスリット有りで第2スリット・第2ヒューズ部
を設けない比較品(図7、図8)で5/10台、第1ヒ
ューズ部1に対して比率30の第2ヒューズ部・第2ス
リットを設けた比較品で2/10台の絶縁破壊による短
絡故障及びケース変形が確認されているが、本実施例の
コンデンサでは、絶縁破壊による短絡故障及びケース変
形は1台も発生せず、良好なヒューズ動作性と共に、短
絡故障に対する極めて高い信頼性も確認された。
様の構成で、第2ヒューズ部w2寸法(図3(c)〜図
6(c))を変えて第1ヒューズ部と第2ヒューズ部の
寸法比率が1:1から1:20となる亜鉛蒸着ポリプロ
ピレンフィルムを4種製作し、以下の仕様の供試コンデ
ンサを製作した。 ・金属化フィルム 亜鉛蒸着ポリプロピレンフィルム ・被膜抵抗値 5Ω/□ ・寸法 幅100mm マージン3.0mm 厚さ12μm セグメント面積400mm2 第1ヒューズ部最狭部0.6mm 第2ヒューズ部最狭部0.6、1.2、3.0、 12.0mm スリット幅は全て一定 ・容量 25μF ・含浸剤 植物油(菜種油)含浸 ・外装 角形ブリキケース収納 ・試料数 各10個 (比較用としてスリットを設けない従来品を10個) このコンデンサと比較用のスリットを設けない従来のコ
ンデンサ各10台を使用して、80℃に設定した熱風循
環式恒温槽中にコンデンサを入れ、フィルムの電位傾度
が電圧の実効値で83V/μmとなる電圧を1000H
rs印加した。この結果を表3に示す。
数絶縁破壊し、またスリットを設けて第1ヒューズ部と
第2ヒューズ部の寸法比率を1:1としたコンデンサは
全数絶縁破壊しなかったが、容量減少が大きく実用に供
するものではなかった。これに対して本実施例のコンデ
ンサでは、全数絶縁破壊せず、また容量減少も殆ど見ら
れずに耐用した。尚フィルムの種類、厚さ、蒸着金属と
被膜抵抗値、含浸有無等を変えても、第1ヒューズ部と
第2ヒューズ部の寸法比率がこの範囲であれば、同様の
性能が得られることも確認した。
はフィルム面上の異なる2方向に不連続に形成されてお
り、隣接する各セグメントはこの第1スリット間に形成
された第1ヒューズ部で互いに接続されている。これに
より第1ヒューズ部の動作時、各セグメントで形成され
る各単位コンデンサを個々に切離すことができ容量損失
を最小限におさえることができる。なお、格子状の第1
スリットは2方向でなく3以上の異なる方向に形成され
ていてもよい。
の関係は、1セグメントにより形成される単位コンデン
サの充電エネルギーが0.05J以下が適当である。単
位コンデンサの蓄電エネルギーWは、次式により求める
ものとする。 W=CE2/2(J) C=Sεs/(1.13×1011×d)(F) W:蓄電エネルギー(J) C:単位コンデンサの静電容量(F) d:誘電体厚さ(m) S:1セグメントの面積(m2) εs:比誘電率 E:充電電圧(V) 単位コンデンサの蓄電エネルギーWが0.05Jを超過
すると、適正なヒューズ部設定が困難となり、誘電体の
損傷が生じ絶縁破壊に対する信頼性が低下して、静電容
量減少率も大きくなる。
(定格電圧)をフィルム厚さで除した値は、直流用途に
おいては130〜350V/μmに設定するのが適当で
ある。130V/μm未満では、電位傾度において従来
のコンデンサに対する優位性が少なくなる。350V/
μmを超過すれば、フィルム本来の耐電圧領域になり、
ヒューズ動作頻度が急増し、コンデンサの静電容量減少
で機能を喪失して実用に耐えなくなる。また交流用途に
おいては、定格電圧(実効値)をフィルム厚さで除した
値を60〜120V/μmに設定するのが適当である。
60V/μm未満では、電位傾度において従来のコンデ
ンサに対する優位性が少なくなる。120V/μmを超
過すれば、コンデンサ自体の損失により発生する熱によ
って熱破壊する領域となり、コンデンサとしての機能を
維持できなくなる。
面全体が一様な金属蒸着被膜抵抗値を有する標準的な蒸
着金属か、あるいは第2スリットにより分離された電極
引き出し部分の金属蒸着被膜抵抗値が、コンデンサの機
能部分の金属蒸着被膜抵抗値よりも低いヘビーエッジ構
造の金属蒸着構造でも良い。ヘビーエッジ構造の金属蒸
着の場合には、第2ヒューズ部を、第2スリットにより
分離されたコンデンサの機能部分の金属蒸着被膜抵抗値
よりも低いヘビーエッジ部分の範囲内とするのがよい。
ヘビーエッジ構造の金属蒸着で、第2ヒューズ部をヘビ
ーエッジ部分の範囲外とすれば、特に第1ヒューズ部と
第2ヒューズ部の寸法比率が小さい場合において、電極
引き出し部分からの電流集中による誤動作が多く、静電
容量の安定性を欠くために得策でない。
フィルター用、充放電用等の高圧コンデンサの他、一般
機器用等の中圧、低圧のコンデンサにも適用できる。
プロピレンフィルムを使用したが、ポリエチレンテレフ
タレートフィルム等他の種類のフィルムであっても良
い。また上記実施例では蒸着金属として亜鉛を使用した
が、亜鉛に特定されるものでなく、アルミニウムや亜鉛
/アルミニウム混合物等他の金属でも良い。今回は植物
油油浸コンデンサで実施したが、含浸剤・充填剤はこれ
に限定されるものではない。また油浸・乾式を問わず適
用することができる。本例では、一対2面両方の蒸着面
が格子状スリットにより細分化された電極であるが、片
方を細分化されない通常の蒸着フィルムとしても何等差
し支えない。
サでは、1素子のコンデンサを多数の単位コンデンサの
集合体にし、それぞれの単位コンデンサ相互間、及びコ
ンデンサの機能部分と電極引き出し部分間にヒューズ部
を設け、異常時にヒューズ部を切り離すことによって絶
縁破壊することなく容量減少を最小限にとどめてコンデ
ンサの機能を確保すると共に、第1ヒューズ部により絶
縁破壊時の短絡電流を遮断できないような異常時におい
ても第2ヒューズ部によりコンデンサの機能部分と電極
引き出し部分とを切り離すことによって短絡モードの故
障を確実に回避し、絶縁破壊に対する信頼性を格段に向
上させるものである。本発明の採用により、従来のコン
デンサに比較して絶縁性能に対する信頼性が飛躍的に向
上し、小型・軽量のコンデンサを提供することが可能と
なり、工業的及び実用的価値が大である。
においては、第2ヒューズ部を、コンデンサの機能部分
の蒸着金属の被膜抵抗値よりも低いヘビーエッジ部分の
範囲内としてあるが、これは、ヘビーエッジ構造の金属
蒸着で、第2ヒューズ部をヘビーエッジ部分の範囲外と
すれば、特に第1ヒューズ部と第2ヒューズ部の寸法比
率が小さい場合において、電極引き出し部分からの電流
集中による誤動作が多く、静電容量の安定性を欠くため
である。したがって請求項2の金属化フィルムコンデン
サによれば、誤動作防止及び静電容量の安定化を図るこ
とが可能となる。
サによれば、適正なヒューズ部の設定が容易となり、絶
縁破壊に対する信頼性が向上して、静電容量の安定化が
図れる。
れば、ヒューズ動作頻度の急増による静電容量減少を確
実に防止できる。
れば、熱破壊を確実に防止でき、コンデンサとしての寿
命を向上し得る。
展開斜視図である。
である。 (b) 上記(a)の要部拡大図である。 (c) 上記(a)のヒューズ部の拡大図である。
である。 (b) 上記(a)の要部拡大図である。 (c) 上記(a)のヒューズ部の拡大図である。
である。 (b) 上記(a)の要部拡大図である。 (c) 上記(a)のヒューズ部の拡大図である。
である。 (b) 上記(a)の要部拡大図である。 (c) 上記(a)のヒューズ部の拡大図である。
のコンデンサ素子の蒸着金属面の一例を示す平面図であ
る。 (b) 上記(a)の要部拡大図である。 (c) 上記(a)のヒューズ部の拡大図である。
のコンデンサ素子の蒸着金属面の一例を示す平面図であ
る。 (b) 上記(a)の要部拡大図である。 (c) 上記(a)のヒューズ部の拡大図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 片面に金属蒸着を施したプラスチックフ
ィルムを2枚一対とするか、両面に金属蒸着を施したプ
ラスチックフィルムと金属蒸着を施さないプラスチック
フィルムとを2枚一対として巻回し、上記一対2面の蒸
着面の少なくとも1面は、蒸着金属のない格子状の第1
スリットにより単位金属蒸着電極に細分化され、第1ス
リット間に形成された第1ヒューズ部により単位金属蒸
着電極が接続され、細分化された各単位金属蒸着電極の
蒸着面積が10〜1000mm2、各単位金属蒸着電極
を接続する第1ヒューズ部の寸法を最狭部で0.05m
m以上で1.5mm以下とし、かつ第1ヒューズ部によ
り各単位金属蒸着電極が互いに接続されたコンデンサと
しての機能部分の蒸着金属と、金属の溶射等により導通
を得るための電極引き出し部分の蒸着金属とを、フィル
ムの長手方向に延びる蒸着金属のない第2スリットによ
り分離し、その第2スリットにより分離されたコンデン
サの機能部分の蒸着金属と電極引き出し部分の蒸着金属
とが、第2スリット間に形成された第2ヒューズ部によ
り接続されており、第1ヒューズ部と第2ヒューズ部の
最狭部の寸法比率が、第1ヒューズ部を1とした時に第
2ヒューズ部が2〜20の範囲内であることを特徴とす
る金属化フィルムコンデンサ。 - 【請求項2】 第2スリットにより分離された電極引き
出し部分の蒸着金属は、その被膜抵抗値が、コンデンサ
の機能部分の蒸着金属の被膜抵抗値よりも低く、かつ第
2ヒューズ部は、コンデンサの機能部分よりも低い被膜
抵抗値の蒸着金属の領域内にあることを特徴とする請求
項1の金属化フィルムコンデンサ。 - 【請求項3】 定格電圧充電時における各単位金属蒸着
電極で形成される各単位コンデンサの充電エネルギーが
0.05J以下であることを特徴とする請求項1又は請
求項2の金属化フィルムコンデンサ。 - 【請求項4】 直流用途におけるプラスチックフィルム
の電位傾度を130V/μm以上で350V/μm以下
に設定することを特徴とする請求項1〜請求項3のいず
れかの金属化フィルムコンデンサ。 - 【請求項5】 交流用途におけるプラスチックフィルム
の電位傾度を実効値で60V/μm以上で120V/μ
m以下に設定することを特徴とする請求項1〜請求項3
のいずれかの金属化フィルムコンデンサ。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP7088568A JP2939494B2 (ja) | 1995-03-08 | 1995-03-08 | 金属化フィルムコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08250367A true JPH08250367A (ja) | 1996-09-27 |
| JP2939494B2 JP2939494B2 (ja) | 1999-08-25 |
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ID=13946474
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP7088568A Expired - Lifetime JP2939494B2 (ja) | 1995-03-08 | 1995-03-08 | 金属化フィルムコンデンサ |
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- 1995-03-08 JP JP7088568A patent/JP2939494B2/ja not_active Expired - Lifetime
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