JPH08271214A - 光学式ディスクの偏心測定方法 - Google Patents

光学式ディスクの偏心測定方法

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JPH08271214A
JPH08271214A JP7303595A JP7303595A JPH08271214A JP H08271214 A JPH08271214 A JP H08271214A JP 7303595 A JP7303595 A JP 7303595A JP 7303595 A JP7303595 A JP 7303595A JP H08271214 A JPH08271214 A JP H08271214A
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JP
Japan
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eccentricity
pit
disk
reflecting surface
disc
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP7303595A
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English (en)
Inventor
Takeshi Suse
武士 巣瀬
Shingo Yuyama
信吾 湯山
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EMI Music Japan Inc
Original Assignee
Toshiba Emi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ディスク製造の第1工程たるディスク成形工
程で成形された後の未だ金属反射膜を形成されていない
透明ディスクを用いてディスクの偏心量を測定できる偏
心測定方法を提供する。 【構成】 回転テーブル4のテーブル表面に鏡面仕上げ
を施した反射面7を形成し、ディスク成形工程で成形さ
れた後の未だ金属反射膜を形成されていない透明ディス
ク8を前記反射面7の上に載せて前記回転テーブル4を
回転する。そして、該回転する透明ディスク8の上方か
ら顕微鏡5によって所定トラック位置のピット6の半径
方向rの振れ幅を観測することによりその偏心量を測定
する。なお、前記顕微鏡5の焦点は、ピット6部分の反
射面7、またはピット6部分を外れた位置の反射面7の
いずれの位置に合わせてもよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンパクトディスクな
どの光学式ディスクの偏心測定方法に係り、特に、成形
された後の未だ金属反射膜を形成されていない透明ディ
スクを用いてその偏心量を測定できるようにした光学式
ディスクの偏心測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】光学式ディスク、例えばコンパクトディ
スク(以下、CDという)の場合、記録トラックは1.
6μmピッチで正確に刻まれているが、ディスクの中心
穴がずれていたり、ディスクに歪みなどがあると、偏心
を生じてしまう。この偏心量が規格よりも大きい場合、
再生時にトラッキングエラーを起こす恐れがあり、正常
な再生が保証されなくなる。そこで、このような問題を
無くすため、CD製造に際しては、製造開始の立ち上げ
時や所定の製造時間経過毎あるいは所定の製造枚数毎に
ディスクの偏心量を測定し、その偏心量を製造工程へフ
ィードバックすることにより、製造されるディスクの偏
心量が常に規定値内に収まるようにしている。
【0003】図4および図5に従来のCDの偏心測定方
法を示す。図4は偏心測定装置の全体構成図、図5は偏
心測定装置の顕微鏡で覗いたディスク最外周のトラック
のピット部分の拡大像である。図4に示すように、従来
においては、ピット形成面に金属反射膜1を形成した後
のディスク2を用いて偏心測定を行なっており、この金
属反射膜1を形成した後のディスク2を、モータ3によ
って回転される回転テーブル4上に載せて回転させなが
ら、顕微鏡5でディスク1のトラック最外周のピット6
部分を覗き、ディスク2の回転によって生じるトラック
最外周のピット6のディスク半径方向rへの振れ幅を図
5に示す拡大像から読み取り、ディスクの偏心量を測定
していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
においては金属反射膜1を形成した後のディスク2を用
いて偏心測定を行なっていた。このため、ディスクの偏
心量を測定するには、ディスク製造の第2工程たる反射
膜形成工程が終わるまで待たざる得ず、偏心量の測定結
果を製造工程へ早期にフィードバックすることができ
ず、製造装置の調整に時間がかかるという問題があっ
た。また、規格外品を発見した場合に、偏心測定結果を
製造工程へフィードバックしたとしても、再び反射膜形
成工程が終わるまで待たないと、正しく調整されたか否
かが再確認できないという問題があった。
【0005】本発明は、前記課題を解決するためになさ
れたもので、その目的とするところは、ディスク製造の
第1工程たるディスク成形工程で成形された後の未だ金
属反射膜を形成されていない透明ディスクを用いてディ
スクの偏心量を測定することのできる偏心測定方法を提
供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係る偏心測定方
法は、前記目的を達成するために、回転テーブルのテー
ブル表面に鏡面仕上げを施した反射面を形成し、ディス
ク成形工程で成形された後の未だ金属反射膜を形成され
ていない透明ディスクを前記反射面の上に載せて前記回
転テーブルを回転し、該回転する透明ディスクの上方か
ら顕微鏡によって所定トラック位置のピットの半径方向
の振れ幅を観測することによりその偏心量を測定するこ
とを特徴とするものである。なお、前記顕微鏡の焦点
は、ピット位置の反射面部分あるいはピット位置以外の
反射面部分のいずれに合わせてもよいものである。ま
た、金属メッキによって反射面を鏡面仕上げとすること
が好ましい。
【0007】
【作用】前述した従来の偏心測定方法によるときは、未
だ金属反射膜を形成されていない透明なディスクを用い
てその偏心量を測定しようとしても、テーブル表面が荒
いためにディスクとテーブルの表面との間に間隙がで
き、光はディスクのピット形成面を透過して回転テーブ
ルの表面に像を結んでしまい、ディスクのピットを光学
像として視認することができない。
【0008】これに対し、本発明方法の場合、回転テー
ブルのテーブル表面に鏡面仕上げを施した反射面を形成
しているので、ディスクとテーブルの表面とが密着し、
この反射面が従来の測定方法におけるディスクの金属反
射膜と同様の作用をなす。したがって、透明なディスク
のピットを光学像として捉えることができるようにな
り、ディスク成形工程で成形された後の未だ金属反射膜
を形成されていない透明なディスクを用いてディスクの
偏心量を測定することが可能となる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づき説明す
る。図1は本発明方法を適用して構成した偏心量測定装
置の全体構成図である。図中、3はモータ、4は回転テ
ーブル、5は顕微鏡、6はトラック最外周のピット、7
は回転テーブル3の上面のディスク載置面に形成された
反射面、8は射出成形後の未だ金属反射膜1(図4参
照)を形成されていない透明ディスク8である。なお、
図4と同一もしくは同等な部分には同一の符号を付し、
その詳細な説明は省略する。
【0010】前記図1の実施例が図4に示した従来法と
異なる点は、回転テーブル4の上面のディスク載置面
に、CDのピット形成面に形成された金属反射膜1(図
4参照)と同程度の鏡面仕上げを施した反射面7を形成
した点である。この反射面7を形成することにより、以
下に説明するように、ディスク成形後の未だ金属反射膜
を形成されていない透明ディスク8を用いてその偏心量
を測定することができる。なお、前記反射面7として
は、回転テーブル4の表面に例えばアルミニウムを電気
メッキ、真空蒸着、スパッタリングなどによって金属反
射膜として形成したり、あるいは、回転テーブル4自体
が鏡面仕上げ可能な金属材質からなる場合には、回転テ
ーブル4の表面を直接研磨し、CDの金属反射膜程度の
平面度を持った鏡面とすればよい。
【0011】上記のように、その表面に反射面7を形成
した回転テーブル4を用いることにより、従来は測定困
難であった透明ディスク8においても、以下のようにし
てその偏心量を測定することができる。
【0012】すなわち、図2にトラック最外周のピット
6部分の拡大図を示すように、本発明方法の場合、偏心
量を測定するための顕微鏡5は、予めその焦点を透明デ
ィスクのピットを通した反射面7の表面P1 に結ばせて
おく。このようにすると、ピット6の部分では焦点がす
べて反射面7の表面P1 に合うため、ピット6部分の反
射面7は明瞭に視認される。一方、ピット6を外れた部
分では、ディスク8の表面から回転テーブル4の反射面
7に到るすべての部分がポリカーボネート樹脂で充実さ
れており、ピット6部分のような凹部による空気層がほ
とんど存在しない。したがって、屈折率の違いにより、
ピット6の位置を外れた部分では、図2中の左側に示す
ように、顕微鏡5の焦点は反射面7の表面P1 よりも浅
いP2 位置に結ぶようになる。
【0013】このため、ピット6部分の反射面7は焦点
が合ってはっきりと視認されるが、ピット6以外の部分
の反射面7は焦点がぼけて見えるようになり、結果的に
図5と同様なピットの拡大像を得ることができる。した
がって、この顕微鏡像を見ながら、従来と同様に、回転
テーブル4の回転に伴うトラック最外周のピット6のデ
ィスク半径方向の振れ幅を読み取れば、透明ディスク8
の偏心量を測定することができる。
【0014】なお、前記図2の場合、顕微鏡5の焦点を
ピット6位置の反射面7の表面P1に合わせるようにし
たが、これとは逆に、図3に示すように、ピット6を外
れた位置の反射面7の表面P1 に焦点を合わせるように
してもよい。この場合には、ピット6部分ではその空気
層のため、顕微鏡5の焦点は反射面7の表面P1 よりも
遠いP3 位置に結ぶようになる。このため、前記図2の
場合とは逆に、ピット6部分の反射面7の焦点がぼや
け、ピット6以外の部分の反射面7のみがはっきりと見
えるようになり、この場合にも結果的に図5と同様なピ
ットの拡大像を得ることができる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ディスク製造の第1工程たるディスク成形工程で成形さ
れた後の未だ金属反射膜を形成されていない透明ディス
クを用いてディスクの偏心量を測定することができる。
このため、従来のようにディスク製造の第2工程たる反
射膜形成工程が終わるまで待つことなしに、偏心量の測
定結果を早期に製造工程へフィードバックすることがで
き、製造開始の際の立ち上げ時間を早めることができる
とともに、製造途中におけるディスク偏心量修正のため
の作業ロスも大幅に小さくすることができる。
【0016】また、透明ディスクによって偏心量を測定
することができるので、透明ディスクの状態において検
査を行なう複屈折測定などの検査と合前後して偏心量も
測定することが可能となり、ディスク検査の作業効率を
向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の説明図である。
【図2】図1のトラック最外周のピット部分の拡大説明
図である。
【図3】顕微鏡の焦点位置を変えた場合のトラック最外
周のピット部分の拡大説明図である。
【図4】従来方法の説明図である。
【図5】従来方法における顕微鏡によるトラック最外周
のピット部分の拡大像を示す図である。
【符号の説明】
3 モータ 4 回転テーブル 5 顕微鏡 6 ピット 7 反射面 8 透明ディスク

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転テーブルのテーブル表面に鏡面仕上
    げを施した反射面を形成し、 ディスク成形工程で成形された後の未だ金属反射膜を形
    成されていない透明ディスクを前記反射面の上に載せて
    前記回転テーブルを回転し、 該回転する透明ディスクの上方から顕微鏡によって所定
    トラック位置のピットの半径方向の振れ幅を観測するこ
    とによりその偏心量を測定することを特徴とする光学式
    ディスクの偏心測定方法。
  2. 【請求項2】 顕微鏡の焦点をピット位置の反射面部分
    に合わせることを特徴とする請求項1記載の光学式ディ
    スクの偏心測定方法。
  3. 【請求項3】 顕微鏡の焦点をピット位置以外の反射面
    部分に合わせることを特徴とする請求項1記載の光学式
    ディスクの偏心測定方法。
  4. 【請求項4】 反射面の鏡面仕上げを金属メッキによっ
    て行なったことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに
    記載の光学式ディスクの偏心測定方法。
JP7303595A 1995-03-30 1995-03-30 光学式ディスクの偏心測定方法 Withdrawn JPH08271214A (ja)

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JPH08271214A true JPH08271214A (ja) 1996-10-18

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