JPH0827947B2 - 光学式トラッキングエラー検出方法及び検出機構 - Google Patents
光学式トラッキングエラー検出方法及び検出機構Info
- Publication number
- JPH0827947B2 JPH0827947B2 JP5311493A JP31149393A JPH0827947B2 JP H0827947 B2 JPH0827947 B2 JP H0827947B2 JP 5311493 A JP5311493 A JP 5311493A JP 31149393 A JP31149393 A JP 31149393A JP H0827947 B2 JPH0827947 B2 JP H0827947B2
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- JP
- Japan
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- lens
- optical
- light
- astigmatism
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、凹レンズを用い反射光
の光路を短縮したマルチビーム式の光学式フォーカスエ
ラー及びトラッキングエラー検出方法並びに検出機構に
関する。 【０００２】 【従来の技術】図１は、従来における光学式読取装置の
光検出装置である。レーザダイオード１にて発振したレ
ーザ光は、コリメートレンズ２にて平行光束となり、回
折格子３に入射する。回折格子は、入射した光束をその
格子定数によって決まる角度間隔θに回折させる。この
うち本光学系は、ディスク情報面へのオートフォーカス
信号と読取った情報信号を担う０次回折光（透過光）及
びディスク情報トラックへのトラッキング信号を担う±
１次回折光のみを使用する。次に、この回折光は、偏光
プリズム４と水晶波長板５を経由し対物レンズ６にてデ
ィスク情報面７上に焦光され、情報の読出しを行い反射
される。この反射光は、再び同じ経路を戻り偏光プリズ
ムによって光検出系のレンズ群の方に反射され、検出レ
ンズ８とシリンドリカルレンズ９を経て光電変換器１０
に入射し、光学情報を電気信号に変換する。本例の光検
出系は、オートフォーカス信号検出用には非点収差方式
を、またトラッキング信号検出用には３スポット方式を
利用した光学系である。現在、トラッキング信号検出方
式としては、回折光方式（２Ｄ方式）とサブスポット方
式（３スポット方式）の２つの方式がある。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】かかる従来の３スポッ
ト方式は、サブスポットの光の明暗を利用する方式であ
るため、ディスク情報面上の記録されたピット形状の良
否に左右されない安定なトラッキング信号が得られるの
で、非常に有効な方式である。しかし、従来の構成では
この方式は、以下に示すような必要条件から、光検出光
学系の小型化には向かないという欠点を有していた。必
要条件の第１は、光電変換素子上での光スポット径はあ
る有限の大きさＰであることかつ３スポットの各スポッ
トが互いに完全に分離されるだけの間隔ｄ（ｄ＞２・
Ｐ）で配されていること、である。ただし、上記スポッ
ト径Ｐに関しては、光電変換素子上のスポット位置調整
精度の点から、できるだけ大きい方が有利である。必要
条件の第２は、ディスク情報トラックの曲率半径の最大
位置にて良好なトラッキング信号を得るためには、ディ
スク上での３スポット間隔をできる限り短かくするこ
と、従って、回折格子による回折角度θをできる限り小
さく設定することである。ここで、光検出系の実効長ｌ
は次式で示される。 【０００４】 【数１】ｌ＝ｄ／tanθ 従って、上述の２つの必要条件は、この実効長ｌを長く
設定しなくてはならないことを示し、光検出系の小型化
を妨げていた。ここで、小型化を目ざした光検出系の定
数の設定の一例として、ｄ＝６００（μｍ），θ＝０．
２８°とした時、実効長は、ｌ≒１２０（mm)となる
が、現在、ディジタルオーディオディスクにおいては、
この光検出系の実効長を、少なくともその半分以下にす
ることが好ましい。以上のように、光検出系の実効長の
短縮化において、本従来例の３スポット方式は大きな欠
点を有しており、ひいては光学式読取装置の小型化を妨
げていた。 【０００５】本発明の目的は、ディスクに対するヘッド
のエラー検出精度を確保しながら反射光の光路長の大幅
な短縮化が可能な光学式のエラー検出技術を提供するこ
とにある。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第１の発明は、記録体のトラックに対する
ヘッドの位置ずれに対応する反射光に、非点収差を生じ
させた後、凹レンズを透過させ、受光面上に上記位置ず
れに対応した互いに分離した複数のスポットを形成させ
ることを特徴とするものである。 【０００７】また、第２の発明は、記録体のトラックに
対するヘッドの位置ずれに対応する反射光に非点収差を
生じさせる非点収差手段と、該非点収差手段の後段に配
され上記非点収差光を透過する凹レンズと、該凹レンズ
からの複数のビーム状収束光を受け上記位置ずれに対応
した互いに分離した複数のスポットを形成する受光手段
とを設けたことを特徴とするものである。 【０００８】 【作用】上記凹レンズは、短光路の条件下においても光
学系の所定の合成焦点距離を確保するようにし、トラッ
ク部からの反射光の非点収差光が透過され、ヘッドのト
ラックずれに対応したスポットを光電変換素子等の受光
部の面上に互いに重ならない状態で形成するので、良好
なトラッキングエラー信号を得ることができる。 【０００９】また、上記非点収差手段と凹レンズと受光
手段とを、反射光のビーム進行方向に対してこの順序で
配列してあるため、非点収差手段は、受光手段に対し離
れた位置に配置されることになる。このため、受光手段
の前後に形成される焦線の位置が該受光手段の位置に対
し略対称になり、ディスク変位に対するフォーカスエラ
ー信号の特性形状の対称性を高くでき、フォーカス引込
み時の引込みミスを防止できるようになる。 【００１０】 【実施例】以下、本発明の実施例を、図２〜図８を用い
て説明する。 【００１１】図２は、本発明の一実施例としての３スポ
ット光検出方式の場合の光学系の構成例である。本実施
例は、検出レンズ８と光電変換素子１０との間に凹レン
ズ１１を設けた構成であって、該凹レンズ１１によって
光検出系の実効長の大幅な短縮化を図っている。 【００１２】以下、図３及び図４により、この光路の短
縮化の原理を説明する。 【００１３】図３に示す光学系は、従来の光学系の原理
的構成を示したもので、焦点距離ｆの凸レンズ８から焦
点位置Ｘ1（１２）までの実効長はＬ1となっている。た
だしＬ1＝ｆとしている。また、図４の光学系は、本発
明の検出光学系の原理的構成を示したもので、焦点距離
ｆ1の凸レンズ８と焦点距離ｆ2の凹レンズ１１とを有す
る構成である。該構成において、凸レンズ８と凹レンズ
１１との間隔をｍとすれば、合成焦点距離ｆ′、及び凸
レンズ８から焦点位置Ｘ1（１２）までの実効長Ｌ2は、
それぞれ次式で表される。 【００１４】 【数２】ｆ′＝ｆ1・ｆ2／（ｆ1＋ｆ2−ｍ） Ｌ2＝ｍ＋（ｆ1・ｆ2−ｍｆ2）／（ｆ1＋ｆ2−ｍ） 今、図４において、ｆ1をｆ1＜＜ｆと設定し、さらに、
その時のｆ′が、ｆ′＝ｆ＝Ｌ1となるようにｆ2，ｍを
設定すれば、入射平行光束は、実線のような経路を取り
位置Ｘ1で焦点を結ぶ。このとき、図４のレンズ群は、
ｆ′＝ｆの設定により、その光学的性能は図３のレンズ
と等価となる。すなわち、図４のレンズ群の主平面はＸ
0の位置（１３）となり、該Ｘ0の位置に焦点距離ｆの凸
レンズがあるのと等しく、横倍率及び縦倍率も各々同じ
になる。この状態を一点鎖線で示す。従って、レンズの
光軸に対してαの傾きで入る入射光束に対し、図３，図
４とも、焦点位置の横方向移動量δ1，δ2は等しくな
る。このδ1＝δ2の状態を点線で示す。従って、ｆ′＝
ｆ＝Ｌ1の条件のもとで、ｆ1及びｍを小さく設定するこ
とにより、図４における実効長Ｌ2は、実際上のレンズ
の球面収差を無視できる範囲内においては、いくらでも
短縮化が可能となる。 【００１５】以上のように、この原理を光検出系に適用
することによって、光検出系の実効長を大幅に短縮する
ことが容易に可能となる。 【００１６】本実施例においては、例えば、光検出系の
実効長がｆ＝Ｌ1＝１２０（mm）の従来構造に対して、
光学系の定数を、ｆ1＝３６（mm），ｆ2＝−１４（m
m），ｍ＝２６．２（mm）と設定することによって、こ
の時の光検出系の実効長ｌ′を約５２（mm）と、半分以
下の短縮光学系にでき装置の大幅な小型化を容易に図る
ことができる。 【００１７】次に、図５の実施例は、該光検出系の光学
素子を支持体１４に固定し一体した構成であって、本構
成においては、光学部品の光軸合わせを精度よく容易に
行なえる効果がある。 【００１８】図６の実施例は、該光検出系の光学素子の
うち、凸レンズと凹レンズを合成し一体化したメニスカ
スレンズ１４を用いた構成例である。 【００１９】図７の実施例は、凸レンズとシリンドリカ
ルレンズを合成し一体化し、片面を凸面に、もう一方の
面を円柱面を整形した光学レンズ１５を用いた構成であ
る。 【００２０】図８の実施例は、円柱レンズと凹レンズを
合成し一体化し、片面が円柱面、もう一方の片面が凹面
に整形した光学レンズ１６を用いている。 【００２１】以上、図６，図７，図８に示す実施例の光
検出光学系においては、いずれも、光学部品点数を減ら
せるし、また、光軸合わせの精度が上がるなど性能及び
作業性も向上させ得る効果がある。 【００２２】 【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、光
電変換素子等の受光面上でのスポット間隔を所定量確保
した状態、即ちスポット同士が互いに重なり合わない状
態で光検出系の実効長を大幅に短縮できるので、トラッ
キングエラーの検出精度を高く確保して小型の検出装置
を簡易な構成下で実現できる。 【００２３】また、光電変換素子の前後に形成される焦
線の位置が光電変換素子の位置に対し略対称にすること
ができるので、ディスク変位に対するフォーカスエラー
信号の特性形状の対称性を高くでき、フォーカス引込み
時の引込みミスを防止できるようになる。
の光路を短縮したマルチビーム式の光学式フォーカスエ
ラー及びトラッキングエラー検出方法並びに検出機構に
関する。 【０００２】 【従来の技術】図１は、従来における光学式読取装置の
光検出装置である。レーザダイオード１にて発振したレ
ーザ光は、コリメートレンズ２にて平行光束となり、回
折格子３に入射する。回折格子は、入射した光束をその
格子定数によって決まる角度間隔θに回折させる。この
うち本光学系は、ディスク情報面へのオートフォーカス
信号と読取った情報信号を担う０次回折光（透過光）及
びディスク情報トラックへのトラッキング信号を担う±
１次回折光のみを使用する。次に、この回折光は、偏光
プリズム４と水晶波長板５を経由し対物レンズ６にてデ
ィスク情報面７上に焦光され、情報の読出しを行い反射
される。この反射光は、再び同じ経路を戻り偏光プリズ
ムによって光検出系のレンズ群の方に反射され、検出レ
ンズ８とシリンドリカルレンズ９を経て光電変換器１０
に入射し、光学情報を電気信号に変換する。本例の光検
出系は、オートフォーカス信号検出用には非点収差方式
を、またトラッキング信号検出用には３スポット方式を
利用した光学系である。現在、トラッキング信号検出方
式としては、回折光方式（２Ｄ方式）とサブスポット方
式（３スポット方式）の２つの方式がある。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】かかる従来の３スポッ
ト方式は、サブスポットの光の明暗を利用する方式であ
るため、ディスク情報面上の記録されたピット形状の良
否に左右されない安定なトラッキング信号が得られるの
で、非常に有効な方式である。しかし、従来の構成では
この方式は、以下に示すような必要条件から、光検出光
学系の小型化には向かないという欠点を有していた。必
要条件の第１は、光電変換素子上での光スポット径はあ
る有限の大きさＰであることかつ３スポットの各スポッ
トが互いに完全に分離されるだけの間隔ｄ（ｄ＞２・
Ｐ）で配されていること、である。ただし、上記スポッ
ト径Ｐに関しては、光電変換素子上のスポット位置調整
精度の点から、できるだけ大きい方が有利である。必要
条件の第２は、ディスク情報トラックの曲率半径の最大
位置にて良好なトラッキング信号を得るためには、ディ
スク上での３スポット間隔をできる限り短かくするこ
と、従って、回折格子による回折角度θをできる限り小
さく設定することである。ここで、光検出系の実効長ｌ
は次式で示される。 【０００４】 【数１】ｌ＝ｄ／tanθ 従って、上述の２つの必要条件は、この実効長ｌを長く
設定しなくてはならないことを示し、光検出系の小型化
を妨げていた。ここで、小型化を目ざした光検出系の定
数の設定の一例として、ｄ＝６００（μｍ），θ＝０．
２８°とした時、実効長は、ｌ≒１２０（mm)となる
が、現在、ディジタルオーディオディスクにおいては、
この光検出系の実効長を、少なくともその半分以下にす
ることが好ましい。以上のように、光検出系の実効長の
短縮化において、本従来例の３スポット方式は大きな欠
点を有しており、ひいては光学式読取装置の小型化を妨
げていた。 【０００５】本発明の目的は、ディスクに対するヘッド
のエラー検出精度を確保しながら反射光の光路長の大幅
な短縮化が可能な光学式のエラー検出技術を提供するこ
とにある。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第１の発明は、記録体のトラックに対する
ヘッドの位置ずれに対応する反射光に、非点収差を生じ
させた後、凹レンズを透過させ、受光面上に上記位置ず
れに対応した互いに分離した複数のスポットを形成させ
ることを特徴とするものである。 【０００７】また、第２の発明は、記録体のトラックに
対するヘッドの位置ずれに対応する反射光に非点収差を
生じさせる非点収差手段と、該非点収差手段の後段に配
され上記非点収差光を透過する凹レンズと、該凹レンズ
からの複数のビーム状収束光を受け上記位置ずれに対応
した互いに分離した複数のスポットを形成する受光手段
とを設けたことを特徴とするものである。 【０００８】 【作用】上記凹レンズは、短光路の条件下においても光
学系の所定の合成焦点距離を確保するようにし、トラッ
ク部からの反射光の非点収差光が透過され、ヘッドのト
ラックずれに対応したスポットを光電変換素子等の受光
部の面上に互いに重ならない状態で形成するので、良好
なトラッキングエラー信号を得ることができる。 【０００９】また、上記非点収差手段と凹レンズと受光
手段とを、反射光のビーム進行方向に対してこの順序で
配列してあるため、非点収差手段は、受光手段に対し離
れた位置に配置されることになる。このため、受光手段
の前後に形成される焦線の位置が該受光手段の位置に対
し略対称になり、ディスク変位に対するフォーカスエラ
ー信号の特性形状の対称性を高くでき、フォーカス引込
み時の引込みミスを防止できるようになる。 【００１０】 【実施例】以下、本発明の実施例を、図２〜図８を用い
て説明する。 【００１１】図２は、本発明の一実施例としての３スポ
ット光検出方式の場合の光学系の構成例である。本実施
例は、検出レンズ８と光電変換素子１０との間に凹レン
ズ１１を設けた構成であって、該凹レンズ１１によって
光検出系の実効長の大幅な短縮化を図っている。 【００１２】以下、図３及び図４により、この光路の短
縮化の原理を説明する。 【００１３】図３に示す光学系は、従来の光学系の原理
的構成を示したもので、焦点距離ｆの凸レンズ８から焦
点位置Ｘ1（１２）までの実効長はＬ1となっている。た
だしＬ1＝ｆとしている。また、図４の光学系は、本発
明の検出光学系の原理的構成を示したもので、焦点距離
ｆ1の凸レンズ８と焦点距離ｆ2の凹レンズ１１とを有す
る構成である。該構成において、凸レンズ８と凹レンズ
１１との間隔をｍとすれば、合成焦点距離ｆ′、及び凸
レンズ８から焦点位置Ｘ1（１２）までの実効長Ｌ2は、
それぞれ次式で表される。 【００１４】 【数２】ｆ′＝ｆ1・ｆ2／（ｆ1＋ｆ2−ｍ） Ｌ2＝ｍ＋（ｆ1・ｆ2−ｍｆ2）／（ｆ1＋ｆ2−ｍ） 今、図４において、ｆ1をｆ1＜＜ｆと設定し、さらに、
その時のｆ′が、ｆ′＝ｆ＝Ｌ1となるようにｆ2，ｍを
設定すれば、入射平行光束は、実線のような経路を取り
位置Ｘ1で焦点を結ぶ。このとき、図４のレンズ群は、
ｆ′＝ｆの設定により、その光学的性能は図３のレンズ
と等価となる。すなわち、図４のレンズ群の主平面はＸ
0の位置（１３）となり、該Ｘ0の位置に焦点距離ｆの凸
レンズがあるのと等しく、横倍率及び縦倍率も各々同じ
になる。この状態を一点鎖線で示す。従って、レンズの
光軸に対してαの傾きで入る入射光束に対し、図３，図
４とも、焦点位置の横方向移動量δ1，δ2は等しくな
る。このδ1＝δ2の状態を点線で示す。従って、ｆ′＝
ｆ＝Ｌ1の条件のもとで、ｆ1及びｍを小さく設定するこ
とにより、図４における実効長Ｌ2は、実際上のレンズ
の球面収差を無視できる範囲内においては、いくらでも
短縮化が可能となる。 【００１５】以上のように、この原理を光検出系に適用
することによって、光検出系の実効長を大幅に短縮する
ことが容易に可能となる。 【００１６】本実施例においては、例えば、光検出系の
実効長がｆ＝Ｌ1＝１２０（mm）の従来構造に対して、
光学系の定数を、ｆ1＝３６（mm），ｆ2＝−１４（m
m），ｍ＝２６．２（mm）と設定することによって、こ
の時の光検出系の実効長ｌ′を約５２（mm）と、半分以
下の短縮光学系にでき装置の大幅な小型化を容易に図る
ことができる。 【００１７】次に、図５の実施例は、該光検出系の光学
素子を支持体１４に固定し一体した構成であって、本構
成においては、光学部品の光軸合わせを精度よく容易に
行なえる効果がある。 【００１８】図６の実施例は、該光検出系の光学素子の
うち、凸レンズと凹レンズを合成し一体化したメニスカ
スレンズ１４を用いた構成例である。 【００１９】図７の実施例は、凸レンズとシリンドリカ
ルレンズを合成し一体化し、片面を凸面に、もう一方の
面を円柱面を整形した光学レンズ１５を用いた構成であ
る。 【００２０】図８の実施例は、円柱レンズと凹レンズを
合成し一体化し、片面が円柱面、もう一方の片面が凹面
に整形した光学レンズ１６を用いている。 【００２１】以上、図６，図７，図８に示す実施例の光
検出光学系においては、いずれも、光学部品点数を減ら
せるし、また、光軸合わせの精度が上がるなど性能及び
作業性も向上させ得る効果がある。 【００２２】 【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、光
電変換素子等の受光面上でのスポット間隔を所定量確保
した状態、即ちスポット同士が互いに重なり合わない状
態で光検出系の実効長を大幅に短縮できるので、トラッ
キングエラーの検出精度を高く確保して小型の検出装置
を簡易な構成下で実現できる。 【００２３】また、光電変換素子の前後に形成される焦
線の位置が光電変換素子の位置に対し略対称にすること
ができるので、ディスク変位に対するフォーカスエラー
信号の特性形状の対称性を高くでき、フォーカス引込み
時の引込みミスを防止できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の概略構成図である。
【図２】本発明の一実施例である３スポット光検出系の
概略構成図である。 【図３】本発明の動作説明図である。 【図４】本発明の動作説明図である。 【図５】本発明の他の実施例の概略構成図である。 【図６】本発明の他の実施例の概略構成図である。 【図７】本発明の他の実施例の概略構成図である。 【図８】本発明の他の実施例の概略構成図である。 【符号の説明】 １…レーザダイオード光源、 ２…コリメートレンズ、 ３…回折格子、 ４…偏光プリズム、 ５…水晶波長板、 ６…対物レンズ、 ７…ディスク情報面、 ８…検出レンズ、 ９…シリンドリカルレンズ、 １０…光電変換素子、 １１…凹レンズ、 １２…焦点位置、 １３…レンズ系の主平面、 １４…支持体、 １５…メニスカスレンズ、 １６…片面凸片面シリンドリカルレンズ、 １７…片面凹片面シリンドリカルレンズ。
概略構成図である。 【図３】本発明の動作説明図である。 【図４】本発明の動作説明図である。 【図５】本発明の他の実施例の概略構成図である。 【図６】本発明の他の実施例の概略構成図である。 【図７】本発明の他の実施例の概略構成図である。 【図８】本発明の他の実施例の概略構成図である。 【符号の説明】 １…レーザダイオード光源、 ２…コリメートレンズ、 ３…回折格子、 ４…偏光プリズム、 ５…水晶波長板、 ６…対物レンズ、 ７…ディスク情報面、 ８…検出レンズ、 ９…シリンドリカルレンズ、 １０…光電変換素子、 １１…凹レンズ、 １２…焦点位置、 １３…レンズ系の主平面、 １４…支持体、 １５…メニスカスレンズ、 １６…片面凸片面シリンドリカルレンズ、 １７…片面凹片面シリンドリカルレンズ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １．記録体のトラックに対するヘッドの位置ずれを反射
光のビームによる複数のスポットで検出してフォーカス
エラー及びトラッキングエラーを検出する方法におい
て、 上記位置ずれに対応する反射光に、非点収差を生じさせ
た後、凹レンズを透過させ、受光面上に上記位置ずれに
対応した互いに分離した複数のスポットを形成させるよ
うにしたことを特徴とする光学式フォーカスエラー及び
トラッキングエラー検出方法。 ２．記録体のトラックに対するヘッドの位置ずれを反射
光のビームによる複数のスポットで検出してフォーカス
エラー及び光学式トラッキングエラーを検出する機構に
おいて、 上記位置ずれに対応する反射光に非点収差を生じさせる
非点収差手段と、該非点収差手段の後段に配され上記非
点収差光を透過する凹レンズと、該凹レンズからの複数
のビーム状収束光を受け上記位置ずれに対応した互いに
分離した複数のスポットを形成する受光手段と、を備え
たことを特徴とする光学式フォーカスエラー及びトラッ
キングエラー検出機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5311493A JPH0827947B2 (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 光学式トラッキングエラー検出方法及び検出機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5311493A JPH0827947B2 (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 光学式トラッキングエラー検出方法及び検出機構 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57079911A Division JPS58199447A (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | 光学式読取装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06203400A JPH06203400A (ja) | 1994-07-22 |
| JPH0827947B2 true JPH0827947B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=18017899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5311493A Expired - Lifetime JPH0827947B2 (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 光学式トラッキングエラー検出方法及び検出機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0827947B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020076484A (ko) * | 2001-03-28 | 2002-10-11 | 삼성전기주식회사 | 틸트 검출장치 |
| CN119847463B (zh) * | 2024-11-27 | 2025-11-28 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 基于相对偏移的动态指向性符号的位置限制算法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53158209U (ja) * | 1977-05-18 | 1978-12-12 |
-
1993
- 1993-12-13 JP JP5311493A patent/JPH0827947B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06203400A (ja) | 1994-07-22 |
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