JPH08285690A - 偏光解消装置及びこれを用いた光パワー測定装置 - Google Patents
偏光解消装置及びこれを用いた光パワー測定装置Info
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- JPH08285690A JPH08285690A JP11780895A JP11780895A JPH08285690A JP H08285690 A JPH08285690 A JP H08285690A JP 11780895 A JP11780895 A JP 11780895A JP 11780895 A JP11780895 A JP 11780895A JP H08285690 A JPH08285690 A JP H08285690A
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、入射光線の未知の偏光状態に影響
されることの無い光電変換装置を実現する。 【構成】 被測定光８１を受けて、並行光線にした後、
直交する直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に分離出射する手
段を設け、前記２つの直交する直線偏光光線を受けて、
両光線を円偏光に変換する手段を設け、前記２つの円偏
光ビームを受けて、光電変換する受光素子５０を設け
る。
されることの無い光電変換装置を実現する。 【構成】 被測定光８１を受けて、並行光線にした後、
直交する直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に分離出射する手
段を設け、前記２つの直交する直線偏光光線を受けて、
両光線を円偏光に変換する手段を設け、前記２つの円偏
光ビームを受けて、光電変換する受光素子５０を設け
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、未知の入射光線の偏
光状態に影響されること無く絶対光パワーを光電変換す
る装置に関する。
光状態に影響されること無く絶対光パワーを光電変換す
る装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は、従来の光パワー測定装置の一構
成例である。被測定光源１００は、未知の偏光状態の光
源である。構成は、光コネクタ８０と、光ファイバ３５
と、受光素子５０と、増幅表示部７０で成る。増幅表示
部７０は、ＩＶ変換器７１と、アンプ７２と、ＡＤ変換
器７４と、光パワー演算部７６と表示部７８で成る。
成例である。被測定光源１００は、未知の偏光状態の光
源である。構成は、光コネクタ８０と、光ファイバ３５
と、受光素子５０と、増幅表示部７０で成る。増幅表示
部７０は、ＩＶ変換器７１と、アンプ７２と、ＡＤ変換
器７４と、光パワー演算部７６と表示部７８で成る。
【０００３】被測定光源１００は、光コネクタ８０に接
続され、光ファイバ３５の開放端面から空間光として出
射し、受光素子（ホトダイオード）５０へある入射角度
θを持たせた入射光線３０を与えて、入射パワーに比例
した電流信号に変換されて出力する。
続され、光ファイバ３５の開放端面から空間光として出
射し、受光素子（ホトダイオード）５０へある入射角度
θを持たせた入射光線３０を与えて、入射パワーに比例
した電流信号に変換されて出力する。
【０００４】受光素子５０は、一般に結晶面の方向によ
り入射光線の偏光状態（無偏光、ランダム偏光、直線偏
光、円偏光）により光電変換効率に差を生じる。この偏
差は、使用する素子にもよるが数％程度の偏差をもたら
す場合がある。この為、被測定光源１００の絶対光パワ
ーを正確に測定することができない場合がある。
り入射光線の偏光状態（無偏光、ランダム偏光、直線偏
光、円偏光）により光電変換効率に差を生じる。この偏
差は、使用する素子にもよるが数％程度の偏差をもたら
す場合がある。この為、被測定光源１００の絶対光パワ
ーを正確に測定することができない場合がある。
【０００５】前記受光素子５０からの微弱な電流信号を
受けて、増幅表示部７０のＩＶ変換器７１で電流入力を
電圧信号に変換し、アンプ７２で増幅し、ＡＤ変換器７
４でデジタル信号に量子化した後、光パワー演算部７６
で光パワーに換算した後表示部７８で光パワーのレベル
をデジタル表示している。
受けて、増幅表示部７０のＩＶ変換器７１で電流入力を
電圧信号に変換し、アンプ７２で増幅し、ＡＤ変換器７
４でデジタル信号に量子化した後、光パワー演算部７６
で光パワーに換算した後表示部７８で光パワーのレベル
をデジタル表示している。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、受
光素子５０に入射する光線の偏光状態によっては光電変
換効率に差を生じる。このことは、被測定光源１００の
絶対光パワーを正確に測定すべき測定器においては好ま
しくなく測定上の難点となっていた。そこで、本発明が
解決しようとする課題は、入射光線の未知の偏光状態に
影響されることの無い光電変換装置を実現することを目
的とする。
光素子５０に入射する光線の偏光状態によっては光電変
換効率に差を生じる。このことは、被測定光源１００の
絶対光パワーを正確に測定すべき測定器においては好ま
しくなく測定上の難点となっていた。そこで、本発明が
解決しようとする課題は、入射光線の未知の偏光状態に
影響されることの無い光電変換装置を実現することを目
的とする。
【０００７】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、被測定光８１を受けて、並行光
線にした後、直交する直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に分
離出射する手段を設け、前記２つの直交する直線偏光光
線を受けて、両光線を円偏光に変換する手段を設け、前
記２つの円偏光ビームを受けて、光電変換する受光素子
５０を設ける構成手段にする。これにより、未知の偏光
状態の光パワーの電気信号への変換時に、入射光線の未
知の偏光状態に影響されることの無い光電変換装置を実
現できる。
に、本発明の構成では、被測定光８１を受けて、並行光
線にした後、直交する直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に分
離出射する手段を設け、前記２つの直交する直線偏光光
線を受けて、両光線を円偏光に変換する手段を設け、前
記２つの円偏光ビームを受けて、光電変換する受光素子
５０を設ける構成手段にする。これにより、未知の偏光
状態の光パワーの電気信号への変換時に、入射光線の未
知の偏光状態に影響されることの無い光電変換装置を実
現できる。
【０００８】第１図は、本発明による第１の解決手段の
構成を示している。本発明では、被測定光８１を並行光
線にするコリメート手段１４を設け、前記並行光線を受
けて、直交する直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に分離出射
する偏光ビームスプリッタ１６を設け、前記の直交する
直線偏光光線を受けて、結晶の光軸方向（基準軸）に対
して両光線とも４５度となる光学配置にして、両光線を
円偏光に変換する１／４波長板２０を設け、前記２つの
円偏光ビームを受けて、受光素子５０の受光面へ集光す
る集光手段（集光レンズ２２）を設ける構成手段にす
る。
構成を示している。本発明では、被測定光８１を並行光
線にするコリメート手段１４を設け、前記並行光線を受
けて、直交する直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に分離出射
する偏光ビームスプリッタ１６を設け、前記の直交する
直線偏光光線を受けて、結晶の光軸方向（基準軸）に対
して両光線とも４５度となる光学配置にして、両光線を
円偏光に変換する１／４波長板２０を設け、前記２つの
円偏光ビームを受けて、受光素子５０の受光面へ集光す
る集光手段（集光レンズ２２）を設ける構成手段にす
る。
【０００９】第２図は、本発明による第２の解決手段の
構成を示している。本発明では、被測定光８１を並行光
線にするコリメート手段１４を設け、前記並行光線を受
けて、入射光軸をそのまま直進する常光線と、入射光軸
と並行した異常光線に分岐し、かつ互いに直交する直線
偏光成分２５p、２５sの並行光線として出射するビーム
・ディスプレーシングプリズム２４を設け、前記の直交
する直線偏光光線を受けて、結晶の光軸方向（基準軸）
に対して両光線とも４５度となる光学配置にして、両光
線を円偏光に変換する１／４波長板２０を設ける構成手
段にする。
構成を示している。本発明では、被測定光８１を並行光
線にするコリメート手段１４を設け、前記並行光線を受
けて、入射光軸をそのまま直進する常光線と、入射光軸
と並行した異常光線に分岐し、かつ互いに直交する直線
偏光成分２５p、２５sの並行光線として出射するビーム
・ディスプレーシングプリズム２４を設け、前記の直交
する直線偏光光線を受けて、結晶の光軸方向（基準軸）
に対して両光線とも４５度となる光学配置にして、両光
線を円偏光に変換する１／４波長板２０を設ける構成手
段にする。
【００１０】上記構成に加えて、受光素子５０からの電
流信号を受けて、増幅して光パワーレベルに換算して表
示する増幅表示部７０を設けて光パワー測定装置にした
構成がある。また、この増幅表示部７０の構成として
は、受光素子５０からの電流信号を受けて、ＩＶ変換器
７１で電流入力を電圧信号に変換し、アンプ７２で増幅
し、ＡＤ変換器７４でデジタル信号に量子化した後、光
パワー演算部７６で光パワーに換算した後表示部７８で
光パワーのレベルをデジタル表示する実現手段がある。
流信号を受けて、増幅して光パワーレベルに換算して表
示する増幅表示部７０を設けて光パワー測定装置にした
構成がある。また、この増幅表示部７０の構成として
は、受光素子５０からの電流信号を受けて、ＩＶ変換器
７１で電流入力を電圧信号に変換し、アンプ７２で増幅
し、ＡＤ変換器７４でデジタル信号に量子化した後、光
パワー演算部７６で光パワーに換算した後表示部７８で
光パワーのレベルをデジタル表示する実現手段がある。
【００１１】
【作用】コリメートレンズ１４は、被測定光８１を並行
光線にし、これにより偏光ビームスプリッタ１６による
直交偏光成分への分離が可能する作用がある。実施例１
の偏光ビームスプリッタ１６は、未知の偏光状態の並行
光線を受けて、直交する直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に
分離出力する作用がある。実施例２のビーム・ディスプ
レーシングプリズム２４は、入射光軸をそのまま直進す
る常光線と、入射光軸と並行した異常光線の、両者が直
交した直線偏光成分２５p、２５sの並行光線として分岐
出射する作用がある。
光線にし、これにより偏光ビームスプリッタ１６による
直交偏光成分への分離が可能する作用がある。実施例１
の偏光ビームスプリッタ１６は、未知の偏光状態の並行
光線を受けて、直交する直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に
分離出力する作用がある。実施例２のビーム・ディスプ
レーシングプリズム２４は、入射光軸をそのまま直進す
る常光線と、入射光軸と並行した異常光線の、両者が直
交した直線偏光成分２５p、２５sの並行光線として分岐
出射する作用がある。
【００１２】１／４波長板２０は、２つの直交する直線
偏光光線を受けて、結晶の光軸方向（基準軸）を両光線
とも４５度となる光学配置を与えることで、両光線を円
偏光に変換して出力する作用がある。集光レンズ２２
は、２つの円偏光ビームを集光することで、１つの受光
素子５０で受光させる役割がある。
偏光光線を受けて、結晶の光軸方向（基準軸）を両光線
とも４５度となる光学配置を与えることで、両光線を円
偏光に変換して出力する作用がある。集光レンズ２２
は、２つの円偏光ビームを集光することで、１つの受光
素子５０で受光させる役割がある。
【００１３】
（実施例１）本発明の第１の実施例では、偏光ビームス
プリッタを使用して未知の偏光状態の光線を直交する偏
光成分（Ｐ波、Ｓ波）に分離し、各々円偏光に変換した
後で集光した光線を光電変換することで偏光依存性を解
消する構成手段としている。
プリッタを使用して未知の偏光状態の光線を直交する偏
光成分（Ｐ波、Ｓ波）に分離し、各々円偏光に変換した
後で集光した光線を光電変換することで偏光依存性を解
消する構成手段としている。
【００１４】光パワー測定装置の一構成例は、図１に示
すように、光コネクタ８０と、コリメートレンズ１４
と、偏光ビームスプリッタ１６と、プリズム１８と、１
／４波長板２０と、集光レンズ２２と、受光素子５０
と、増幅表示部７０で成る。光コネクタ８０と受光素子
５０と増幅表示部７０は、従来と同様である。
すように、光コネクタ８０と、コリメートレンズ１４
と、偏光ビームスプリッタ１６と、プリズム１８と、１
／４波長板２０と、集光レンズ２２と、受光素子５０
と、増幅表示部７０で成る。光コネクタ８０と受光素子
５０と増幅表示部７０は、従来と同様である。
【００１５】コリメートレンズ１４は、光コネクタ８０
から出射した被測定光８１を受けて、並行光線にした
後、偏光ビームスプリッタ１６に入射させる。
から出射した被測定光８１を受けて、並行光線にした
後、偏光ビームスプリッタ１６に入射させる。
【００１６】偏光ビームスプリッタ（polarizing berms
plitters）１６は、一対の直角プリズムを張り合わせて
あり、このプリズムの斜面で偏光面が互いに９０度の２
つの直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に分岐するようにした
光学素子である。このプリズムの斜面には数波長分の厚
みの誘電体多層膜コーティング層が形成されていて偏光
作用を持たせてある。この為に、測定波長λ範囲は有限
の狭い波長領域でのみ適用可能である。これを透過直進
したＰ波成分１７pの光線は１／４波長板２０の一面に
入射する。他方９０度に反射したＳ波成分１７sの光線
はプリズム１８で直角に反射させて同じく１／４波長板
２０の一面に入射する。
plitters）１６は、一対の直角プリズムを張り合わせて
あり、このプリズムの斜面で偏光面が互いに９０度の２
つの直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に分岐するようにした
光学素子である。このプリズムの斜面には数波長分の厚
みの誘電体多層膜コーティング層が形成されていて偏光
作用を持たせてある。この為に、測定波長λ範囲は有限
の狭い波長領域でのみ適用可能である。これを透過直進
したＰ波成分１７pの光線は１／４波長板２０の一面に
入射する。他方９０度に反射したＳ波成分１７sの光線
はプリズム１８で直角に反射させて同じく１／４波長板
２０の一面に入射する。
【００１７】１／４波長板２０は、直線偏光を円偏光に
変換するものであって、直交する２つのＰ波成分１７p
あるいはＳ波成分１７sに対して、結晶の光軸方向（基
準軸）を両光線とも４５度となる光学配置に設置する。
これによりＰ波成分１７p及びＳ波成分１７sの両直線偏
光は、共に円偏光に変換されて各々出射する。
変換するものであって、直交する２つのＰ波成分１７p
あるいはＳ波成分１７sに対して、結晶の光軸方向（基
準軸）を両光線とも４５度となる光学配置に設置する。
これによりＰ波成分１７p及びＳ波成分１７sの両直線偏
光は、共に円偏光に変換されて各々出射する。
【００１８】集光レンズ２２は、前記１／４波長板２０
からの両円偏光ビームを受光素子５０の受光面上に集光
する。ここで、両光線は、同じ円偏光であるから受光素
子５０での光電変換効率は常に一定であり、偏光状態の
影響を受けない光パワーの検出が可能となる。
からの両円偏光ビームを受光素子５０の受光面上に集光
する。ここで、両光線は、同じ円偏光であるから受光素
子５０での光電変換効率は常に一定であり、偏光状態の
影響を受けない光パワーの検出が可能となる。
【００１９】以後は、従来と同様にして、受光素子５０
で光電変換した微弱な電流信号を受けて、ＩＶ変換器７
１で電流入力を電圧信号に変換し、アンプ７２で増幅
し、ＡＤ変換器７４でデジタル信号に量子化した後、光
パワー演算部７６で光パワーに換算した後表示部７８で
光パワーのレベルをデジタル表示している。
で光電変換した微弱な電流信号を受けて、ＩＶ変換器７
１で電流入力を電圧信号に変換し、アンプ７２で増幅
し、ＡＤ変換器７４でデジタル信号に量子化した後、光
パワー演算部７６で光パワーに換算した後表示部７８で
光パワーのレベルをデジタル表示している。
【００２０】（実施例２）本発明の第２の実施例では、
ビーム・ディスプレーシングプリズムを使用して未知の
偏光状態の光線を直交する常光線と異常光線の２成分に
分離し、各々円偏光に変換した後で光電変換する。この
ことで偏光依存性を解消する構成手段としている。
ビーム・ディスプレーシングプリズムを使用して未知の
偏光状態の光線を直交する常光線と異常光線の２成分に
分離し、各々円偏光に変換した後で光電変換する。この
ことで偏光依存性を解消する構成手段としている。
【００２１】光パワー測定装置の一構成例は、図２に示
すように、光コネクタ８０と、コリメートレンズ１４
と、ビーム・ディスプレーシングプリズム２４と、１／
４波長板２０と、受光素子５０と、増幅表示部７０で成
る。光コネクタ８０とコリメートレンズ１４と１／４波
長板２０と受光素子５０と増幅表示部７０は、実施例１
の場合と同様である。
すように、光コネクタ８０と、コリメートレンズ１４
と、ビーム・ディスプレーシングプリズム２４と、１／
４波長板２０と、受光素子５０と、増幅表示部７０で成
る。光コネクタ８０とコリメートレンズ１４と１／４波
長板２０と受光素子５０と増幅表示部７０は、実施例１
の場合と同様である。
【００２２】ビーム・ディスプレーシングプリズム（be
am displacing prism）２４は、入射光を偏光面が互い
に直交する２つの並行な直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に
分岐出射するカルサイトの複屈折特性を利用した偏光子
であって、入射光軸をそのまま直進する常光線と、入射
光軸と並行した異常光線の直交した直線偏光成分として
分岐出射する。両ビームの分離距離は例えば２．７mmの
ものがる。複屈折素子である為、広い波長範囲迄利用可
能である。これが、コリメートレンズ１４からの並行光
線を受けて、互いに直交する２つの並行な直線偏光成分
２５p、２５sに分岐出射する。
am displacing prism）２４は、入射光を偏光面が互い
に直交する２つの並行な直線偏光（Ｐ波、Ｓ波）成分に
分岐出射するカルサイトの複屈折特性を利用した偏光子
であって、入射光軸をそのまま直進する常光線と、入射
光軸と並行した異常光線の直交した直線偏光成分として
分岐出射する。両ビームの分離距離は例えば２．７mmの
ものがる。複屈折素子である為、広い波長範囲迄利用可
能である。これが、コリメートレンズ１４からの並行光
線を受けて、互いに直交する２つの並行な直線偏光成分
２５p、２５sに分岐出射する。
【００２３】１／４波長板２０では、この両並行光線を
受けて、実施例１同様にして直線偏光を円偏光に変換し
て出射する。
受けて、実施例１同様にして直線偏光を円偏光に変換し
て出射する。
【００２４】受光素子５０は、前記１／４波長板２０か
らの両並行光線を受光面で受けられる受光面（例えば３
mm以上の受光面）を有する受光素子を使用して１つの受
光素子５０で光電変換する。これにより集光手段を不要
にする。無論、実施例１のように集光レンズを挿入する
構成としても良い。この受光素子５０で光電変換する両
光線は、同じ円偏光であるから受光素子の光電変換効率
は常に一定であり、偏光状態の影響を受けないこととな
る。
らの両並行光線を受光面で受けられる受光面（例えば３
mm以上の受光面）を有する受光素子を使用して１つの受
光素子５０で光電変換する。これにより集光手段を不要
にする。無論、実施例１のように集光レンズを挿入する
構成としても良い。この受光素子５０で光電変換する両
光線は、同じ円偏光であるから受光素子の光電変換効率
は常に一定であり、偏光状態の影響を受けないこととな
る。
【００２５】以後は、従来と同様にして、受光素子５０
で光電変換した微弱な電流信号を受けて、ＩＶ変換器７
１で電流入力を電圧信号に変換し、アンプ７２で増幅
し、ＡＤ変換器７４でデジタル信号に量子化した後、光
パワー演算部７６で光パワーに換算した後表示部７８で
光パワーのレベルをデジタル表示している。
で光電変換した微弱な電流信号を受けて、ＩＶ変換器７
１で電流入力を電圧信号に変換し、アンプ７２で増幅
し、ＡＤ変換器７４でデジタル信号に量子化した後、光
パワー演算部７６で光パワーに換算した後表示部７８で
光パワーのレベルをデジタル表示している。
【００２６】上記実施例１の説明では、プリズム１８を
使用して９０度反射させる場合で説明していたが、他に
ミラー等の反射板を用いても良く、同様にして実施でき
る。
使用して９０度反射させる場合で説明していたが、他に
ミラー等の反射板を用いても良く、同様にして実施でき
る。
【００２７】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。コ
リメートレンズ１４は、被測定光８１を並行光線にして
偏光ビームスプリッタ１６により偏光分離が可能する効
果がある。実施例１の偏光ビームスプリッタ１６は、未
知の偏光状態の並行光線を受けて、直交する直線偏光
（Ｐ波、Ｓ波）成分に分離出力する効果がある。実施例
２のビーム・ディスプレーシングプリズム２４は、入射
光軸をそのまま直進する常光線と、入射光軸と並行した
異常光線の、両者が直交した直線偏光成分２５p、２５s
の並行光線として分岐出射する効果が得られる。
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。コ
リメートレンズ１４は、被測定光８１を並行光線にして
偏光ビームスプリッタ１６により偏光分離が可能する効
果がある。実施例１の偏光ビームスプリッタ１６は、未
知の偏光状態の並行光線を受けて、直交する直線偏光
（Ｐ波、Ｓ波）成分に分離出力する効果がある。実施例
２のビーム・ディスプレーシングプリズム２４は、入射
光軸をそのまま直進する常光線と、入射光軸と並行した
異常光線の、両者が直交した直線偏光成分２５p、２５s
の並行光線として分岐出射する効果が得られる。
【００２８】１／４波長板２０は、２つの直交する直線
偏光光線を受けて、結晶の光軸方向（基準軸）を両光線
とも４５度となる光学配置とすることで、両光線を円偏
光に変換して出力する効果がある。集光レンズ２２は、
２つの円偏光ビームを集光することで、１つの受光素子
５０で受光可能になる。
偏光光線を受けて、結晶の光軸方向（基準軸）を両光線
とも４５度となる光学配置とすることで、両光線を円偏
光に変換して出力する効果がある。集光レンズ２２は、
２つの円偏光ビームを集光することで、１つの受光素子
５０で受光可能になる。
【図１】本発明の実施例１の、光パワー測定装置の一構
成例である。
成例である。
【図２】本発明の実施例２の、光パワー測定装置の一構
成例である。
成例である。
【図３】従来の、光パワー測定装置の一構成例である。
Claims (5)
- 【請求項１】 未知の偏光状態の光パワーを電気信号に
変換する受光装置において、 被測定光を受けて、並行光線にした後、直交する直線偏
光成分に分離出射する手段を設け、 前記２つの直交する直線偏光光線を受けて、両光線を円
偏光に変換する手段を設け、 前記２つの円偏光ビームを受けて、光電変換する受光素
子を設け、 以上を具備していることを特徴とした偏光解消装置。 - 【請求項２】 未知の偏光状態の光パワーを電気信号に
変換する受光装置において、 被測定光を並行光線にするコリメート手段を設け、 前記並行光線を受けて、直交する直線偏光成分に分離出
射する偏光ビームスプリッタを設け、 前記の直交する直線偏光光線を受けて、結晶の光軸方向
に対して両光線とも４５度となる光学配置にして、両光
線を円偏光に変換する１／４波長板を設け、 前記２つの円偏光ビームを受けて、受光素子の受光面へ
集光する集光手段を設け、 以上を具備していることを特徴とした偏光解消装置。 - 【請求項３】 未知の偏光状態の光パワーを電気信号に
変換する受光装置において、 被測定光を並行光線にするコリメート手段を設け、 前記並行光線を受けて、入射光軸をそのまま直進する常
光線と、入射光軸と並行した異常光線に分岐し、かつ互
いに直交する直線偏光成分の並行光線として出射するビ
ーム・ディスプレーシングプリズムを設け、 前記の直交する直線偏光光線を受けて、結晶の光軸方向
に対して両光線とも４５度となる光学配置にして、両光
線を円偏光に変換する１／４波長板を設け、 以上を具備していることを特徴とした偏光解消装置。 - 【請求項４】 請求項１、２、３記載の構成に加えて、
受光素子からの電流信号を受けて、増幅して光パワーレ
ベルに換算して表示する増幅表示部（７０）を設けた光
パワー測定装置。 - 【請求項５】 増幅表示部（７０）は、受光素子からの
電流信号を受けて、ＩＶ変換器で電流入力を電圧信号に
変換し、アンプで増幅し、ＡＤ変換器でデジタル信号に
量子化した後、光パワー演算部で光パワーに換算した後
表示部で光パワーのレベルをデジタル表示する手段とし
た請求項４記載の光パワー測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11780895A JPH08285690A (ja) | 1995-04-19 | 1995-04-19 | 偏光解消装置及びこれを用いた光パワー測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11780895A JPH08285690A (ja) | 1995-04-19 | 1995-04-19 | 偏光解消装置及びこれを用いた光パワー測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08285690A true JPH08285690A (ja) | 1996-11-01 |
Family
ID=14720787
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11780895A Withdrawn JPH08285690A (ja) | 1995-04-19 | 1995-04-19 | 偏光解消装置及びこれを用いた光パワー測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08285690A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102928076A (zh) * | 2012-11-26 | 2013-02-13 | 核工业理化工程研究院 | 不受偏振度影响的激光实时功率监测装置及监测方法 |
| CN103018007A (zh) * | 2011-09-22 | 2013-04-03 | 致茂电子股份有限公司 | 一种光学感测系统及装置 |
| JP2015516092A (ja) * | 2012-05-10 | 2015-06-04 | 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 | Ｏｌｅｄ表示構造及びｏｌｅｄ表示装置 |
-
1995
- 1995-04-19 JP JP11780895A patent/JPH08285690A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103018007A (zh) * | 2011-09-22 | 2013-04-03 | 致茂电子股份有限公司 | 一种光学感测系统及装置 |
| JP2015516092A (ja) * | 2012-05-10 | 2015-06-04 | 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 | Ｏｌｅｄ表示構造及びｏｌｅｄ表示装置 |
| CN102928076A (zh) * | 2012-11-26 | 2013-02-13 | 核工业理化工程研究院 | 不受偏振度影响的激光实时功率监测装置及监测方法 |
| CN102928076B (zh) * | 2012-11-26 | 2014-08-20 | 核工业理化工程研究院 | 不受偏振度影响的激光实时功率监测装置及监测方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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