JPH08288371A - 被処理材の固定装置 - Google Patents

被処理材の固定装置

Info

Publication number
JPH08288371A
JPH08288371A JP9078195A JP9078195A JPH08288371A JP H08288371 A JPH08288371 A JP H08288371A JP 9078195 A JP9078195 A JP 9078195A JP 9078195 A JP9078195 A JP 9078195A JP H08288371 A JPH08288371 A JP H08288371A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holder
processed
guide
moving stage
processing target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9078195A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3708984B2 (ja
Inventor
Takuoki Numaga
拓興 沼賀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
Priority to JP9078195A priority Critical patent/JP3708984B2/ja
Publication of JPH08288371A publication Critical patent/JPH08288371A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3708984B2 publication Critical patent/JP3708984B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691—Handling of masks or workpieces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】製作費用が高価で、しかも処理精度に影響を与
えるホルダ基板を用いることなく被処理材を移動ステー
ジに固定でき、安価で、しかも、被処理材に対する処理
精度の向上を可能とした被処理材の固定装置を提供す
る。 【構成】移動ステージとしてのXYステージ5上に搬入
されたホルダ9を、ガイド機構38A,38Bにより支
承し、ついで、このガイド機構38A,38Bをガイド
移動機構42により下降することにより、ホルダ9をX
Yステージ5上に下降させる。これにより、ホルダ9に
保持されているマスクガラス8が、XYステージ5の上
部を構成する台座5A上に配設された複数の位置決め部
材としてのZ基準ピン44…に直接載置され、位置決め
される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子ビーム描画装置、
マスク検査装置等の半導体製造関連装置の被処理材の固
定装置に係り、詳しくは、マスクガラス等の薄板平面形
状物の被処理材を移動ステージ上に固定する被処理材の
固定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子ビーム描画装置、又はマスク
検査装置等において、大型のマスクガラスを処理する場
合の固定装置として、例えば特開昭63−140532
号公報に示されるものが知られている。
【0003】この従来の固定装置は、図10、図11に
示すような構成となっている。因みに、図10は平面
図、図11は右側面図である。すなわち、被処理材であ
るマスクガラスaをマスクホルダbの平面度の良いホル
ダ基板c上に載置した後、このマスクガラスaを、複数
の押付子d…を配設した一対のクランプバーe,eを有
するクランプ機構f,fで基板c側に押付けることによ
り固定する。
【0004】そして、このマスクガラスaを保持したマ
スクホルダbを、移動ステージg上に搬送して位置決め
固定するようになっている。このホルダ基板cにマスク
ガラスaを固定する固定方式は、マスクガラスaのサイ
ズが大小さまざまなことに対応することが可能である
が、ホルダ基板cを使用し固定するため下記のような問
題点があった。
【0005】すなわち、 (1) ホルダ基板cの平面度加工精度が良く出来ない。
また製作費用が高価。(その理由は、ホルダ基板cを軽
くした導電性材質で作る必要があることから加工精度を
高めることが難しくなる。) (2) 一定レベルの平面度で加工できても複数のホルダ
基板cを使用する場合、マスクホルダb毎の差ができて
描画後の精度にバラつきが出る。 (3) マスクガラスaとホルダ基板cは全面接触するた
め、ホルダ基板c上に載ったゴミにより平面度を悪くす
る。 等の問題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
被処理材の固定装置にあっては、ホルダ基板の平面の加
工精度が十分に確保できないことや、連続的な処理を行
うために複数のホルダ基板を使用するが、ホルダ基板毎
に平面度が異なり、マスクガラスの載置後の平面度に数
10μm程度のバラつきが出ること、また、ゴミの影響
により描画精度を劣化させるといった問題があった。
【0007】本発明は、上記事情に基づきなされたもの
で、製作費用が高価で、しかも処理精度に影響を与える
ホルダ基板を用いることなく被処理材を移動ステージに
固定でき、安価で、しかも、被処理材に対する処理精度
の向上を可能とした被処理材の固定装置を提供しようと
するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するための第1の手段として、薄板平面形状物の被処
理材を移動ステージ上に固定する被処理材の固定装置で
あって、前記被処理材の下面を支承する複数の受け部材
を有し、前記被処理材を水平状態かつ下面が部分的に露
出する状態に保持する被処理材ホルダと、前記移動ステ
ージ上に設けられ前記被処理材ホルダを水平状態に支持
すると共に上下動可能なホルダガイド手段と、このホル
ダガイド手段を下降させることにより前記被処理材を保
持した被処理材ホルダを下降させるガイド移動手段と、
前記移動ステージ上に設けられ、前記ガイド移動手段に
よるホルダガイド手段の下降動作に伴って下降する被処
理材ホルダに保持された前記被処理材の下面を複数の位
置決め部材で受け、前記被処理材を水平に支持する被処
理材支持手段とを具備してなる構成としたものである。
【0009】また、第2の手段として、第1の手段にお
いて、さらに、被処理材ホルダが、被処理材押え部材を
備え、被処理材ホルダが下降したとき被処理材支持手段
により支持された被処理材の上面を押さえクランプする
構成としたものである。
【0010】また、第3の手段として、第1の手段にお
いて、さらに、被処理材ホルダの複数の受け部材が、被
処理材の大きさに応じて配設位置が変更可能な回転体か
らなる構成としたものである。
【0011】また、第4の手段として、薄板平面形状物
の被処理材をXY方向に移動可能な移動ステージ上に固
定する被処理材の固定装置であって、前記被処理材の下
面を支承する複数の受け部材、及び、該受け部材上に載
置された前記被処理材の一端面部の位置を規制するため
の位置決め部材、及び、該位置決め部材に前記一端面が
当接するように前記被処理材の他端面側を押圧する被処
理材押圧機構を有し、前記被処理材を水平状態かつ下面
が部分的に露出する状態に保持する被処理材ホルダと、
前記移動ステージ上に設けられ前記被処理材ホルダを水
平状態に支持すると共に上下動可能なホルダガイド機構
と、このホルダガイド機構を下降させることにより前記
被処理材を保持した被処理材ホルダを下降させるガイド
移動機構と、前記移動ステージ上に設けられ前記ガイド
移動機構によるホルダガイド機構の下降動作に伴って下
降する被処理材ホルダに保持された前記被処理材の下面
を複数の位置決め部材で受け、前記被処理材を水平に支
持する被処理材支持機構と、前記移動ステージ上に設け
られ、前記被処理材支持機構により支持されて前記被処
理材押圧機構により他端面側が押圧された前記被処理材
の一端面部の位置を規制する位置決め部材とを具備して
なる構成としたものである。
【0012】
【作用】本発明の上記第1の手段の被処理材の固定装置
によれば、被処理材ホルダが、移動ステージ上で下降す
ることで、この被処理材ホルダに保持されている被処理
材が、移動ステージ上に配設された複数の位置決め部材
に直接載置され、位置決めされる。このように、移動ス
テージ上に被処理材を載置するための位置決め部材を設
けることにより、基準面の製作精度は向上するし、従来
のホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くなる。また、
移動ステージ上の基準面は全面でなく接触面1カ所毎は
小さく、全体でも非常に小さくするためゴミの載る確率
はほとんど無視できる。これにより、移動ステージ上で
の被処理材の平面度は、移動ステージ上に配設された複
数の位置決め部材により常に一定となり、また、平面度
自体も数μmのオーダまで可能となり、描画等の処理精
度が向上し、被処理材間でのバラつきも非常に小さくな
る。
【0013】また、第2の手段の被処理材の固定装置に
よれば、第1の手段の作用に加えて、被処理材ホルダ
が、被処理材押え部材を備え、被処理材ホルダが下降し
たとき被処理材支持手段により支持された被処理材の上
面を押さえクランプする構成としたから、被処理材の反
りや捩じれを矯正でき、被処理材に対する処理精度のよ
り向上が可能となる。
【0014】また、第3の手段の被処理材の固定装置に
よれば、第1の手段の作用に加えて、被処理材ホルダの
複数の受け部材が、被処理材の大きさに応じて配設位置
が変更可能な回転体からなる構成としたから、種々の大
きさの被処理材に対応できるとともに被処理材の搬入及
び搬出及び位置決め等の移動動作が容易となる。
【0015】また、第4の手段の被処理材の固定装置に
よれば、被処理材ホルダが、移動ステージ上で下降する
ことで、この被処理材ホルダに保持されている被処理材
が、移動ステージ上に配設された複数の位置決め部材に
直接載置され、位置決めされる。このように、移動ステ
ージ上に被処理材を載置するための位置決め部材を設け
ることにより、基準面の製作精度は向上するし、従来の
ホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くなる。また、移
動ステージ上の基準面は全面でなく接触面1カ所毎は小
さく、全体でも非常に小さくするためゴミの載る確率は
ほとんど無視できる。これにより、移動ステージ上での
被処理材の平面度は、移動ステージ上に配設された複数
の位置決め部材により常に一定となり、 また、平面度
自体も数μmのオーダまで可能となり、描画等の処理精
度が向上し、被処理材間でのバラつきも非常に小さくな
る。
【0016】さらに、被処理材ホルダが、受け部材上に
載置された被処理材の一端面部の位置を規制するための
位置決め部材、及び、該位置決め部材に前記一端面が当
接するように前記被処理材の他端面側を押圧する被処理
材押圧機構を有し、被処理材ホルダが、移動ステージ上
で下降することで、この被処理材ホルダに保持されてい
る被処理材が位置決め部材から外れて被処理材押圧機構
の押圧力により移動ステージ上に設けられた位置決め部
材で被処理材の一端面部の位置が規制される。このよう
に、被処理材は、移動ステージ上の基準面に載置される
と同時に移動ステージ上に設けられた位置決め部材でホ
ルダガイド機構に沿う方向(Y方向)の位置決めがなさ
れ、ホルダ毎のバラつきは考慮しなくてすみ、少なくと
もY方向の位置決めが安定して行える。
【0017】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1ないし図9を
参照して説明する。図1は、本発明を適用した電子ビー
ム描画装置の全体図を示すもので、図中1はベースプレ
ートで有り、このベースプレート1は、床面上に防振装
置2を介して設置されている。ベースプレート1上には
定盤3が載置され、さらに、この定盤3上には描画室4
が形成されている。
【0018】描画室4内には、移動ステージとしてのX
Yステージ5が設置され、その上方には電子ビーム光学
鏡筒6が設けられている。さらに、前記ベースプレート
1上には、フレーム7が載設された状態となっていると
共に、このフレーム7上には被処理材であるマスクガラ
ス8を保持する被処理材ホルダとしてのマスクガラスホ
ルダ(以後、単にホルダという)9を搬送する第1の搬
送装置10と第2の搬送装置11とが載設されている。
【0019】第2の搬送装置11は、フレーム7上に形
成されたロードロックチャンバ12内に収納された状態
となっている。また、ロードロックチャンバ12には、
第1の搬送装置10と対向する位置に第1のゲ−トバル
ブ13が設けられ、また、描画室4とロードロックチャ
ンバ12との間に第2のゲ−トバルブ14が設けられて
いる。
【0020】また、第1の搬送装置10は、被処理材セ
ット部としてのマスクガラスセット部15を兼用してい
る。しかして、マスクガラス8は、大気中でホルダ9に
セットされる。第1の搬送装置10からホルダ9にセッ
トされたマスクガラス8は、第1のゲートバルブ13を
経てロードロックチャンバ12内の第2の搬送装置11
に移載され、さらに、第2のゲートバルブ14を経て描
画室4のXYステージ5上に載置される。
【0021】そして、このXYステージ5によりマスク
ガラス8をXY方向に移動させながら、電子ビーム光学
鏡筒6からマスクガラス8に電子ビームを照射して描画
することになる。
【0022】また、ホルダ9にセットされたマスクガラ
ス8は、後述する被処理材の固定装置としてのマスクガ
ラス固定装置18によりXYステージ5上に固定される
ようになっている。
【0023】マスクガラス固定装置18は、図2ないし
図6に示すように、被処理材ホルダとしての前記ホルダ
9側に配設された機構と、前記移動ステージとしてのX
Yステージ5の上面部を構成する台座5A側に配設され
た機構とで構成される。
【0024】すなわち、前記ホルダ9は、図2に示すよ
うに、四角い枠構造のホルダ本体20を有し、このホル
ダ本体20には、支持用プレート22A,22B,22
C,22D,22Eが架設されている。
【0025】前記支持用プレート22A,22B,22
Cには、T溝24がそれぞれ形成されており、ベアリン
グブロック26…がスライド移動可能に取り付けられて
いる。これらベアリングブロック26…には、受け部材
である回転体としてのベアリング28がそれぞれ取付け
られており、これら複数のベアリング28…により、薄
板平面形状物の被処理材である前記マスクガラス8A、
8B(これらを総称する場合は8とする)を水平状態か
つ下面が部分的に露出する状態に保持するようになって
いる。
【0026】また、前記支持用プレート22A上には、
マスクガラス8のXY方向の位置を規制するための位置
決め部材としての基準ピン30A,30B,30C,3
0Dが配設されている。前記基準ピン30A,30B
は、マスクガラス8のX方向の位置決めを、また、基準
ピン30C,30Dは、マスクガラス8のY方向の位置
決めを行うものである。以下、マスクガラス8の搬入方
向に沿う方向をY方向、それと直交する方向をX方向と
する。
【0027】ホルダ9の基準ピン30A、30Bは、マ
スクガラス8のサイズにより位置を変え、いずれか一方
のみとする。また、ベアリング28…の位置もマスクガ
ラス8のサイズに応じてX方向に移動して固定する。ま
た、支持用プレート22B,22C,22Dは、ホルダ
本体20に対してねじ止めされており、マスクガラス8
のサイズに応じてY方向の適当なピッチ位置に移動し固
定できる。
【0028】支持用プレート22Dには、前記マスクガ
ラス8のY方向一端面8aをY方向の位置決め基準ピン
30C,30Dに当接するようにマスクガラス8の他端
面側8bを押圧する被処理材押圧機構としての押付け機
構32,32が配設されている。
【0029】しかして、ホルダ9により搬送されるマス
クガラス8は、そのY方向に沿う両端縁部下面をベアリ
ング28…で支えられると共に、X方向を基準ピン30
A又は30Bに、また、搬入方向であるY方向を2本の
基準ピン30C、30に突当した状態で位置決めされ
る。
【0030】また、マスクガラス8は、押付け機構3
2,32により位置決め基準ピン30C,30D側に押
圧されることでY方向の移動が規制され、また、ホルダ
9の少なくとも4隅のベアリングブロック26…に取付
けられた後述する被処理材押え部材としてのZクランパ
34…(図6参照)によりクランプされ、マスクガラス
8の反りや捩れが矯正されるようになっている。
【0031】一方、XYステージ5の上面部を構成する
台座5Aは、図3に示すように、矩形板状を呈し、その
上面のY方向の一側縁、及び、X方向の一側縁に沿う状
態に位置測定用のレーザミラー36が搭載されている。
【0032】また、XYステージ5の上面部を構成する
台座5Aには、Y方向に沿う両側縁部に沿って、ホルダ
9を水平状態に支持するホルダガイド機構38A,38
Bが配設されている。これらホルダガイド機構38A,
38Bには、複数のガイドローラ40…が配置されてお
り、ホルダ9がY方向に移動し易くなっている。
【0033】また、これらホルダガイド機構38A,3
8Bは、後述するガイド移動機構42(図8及び図9参
照)により上下動可能となっており、これらホルダガイ
ド機構38A,38Bを下降させることによりマスクガ
ラス8を保持したホルダ9を下降させるようになってい
る。
【0034】また、台座5A上には、複数の位置決め部
材としてのZ基準ピン44…がXY両方向に一定ピッチ
で固定されており、被処理材支持機構である被処理材支
持機構としてのマスクガラス支持機構46を構成してい
る。前記Z基準ピン44…の上端面により形成されるZ
基準面の平面度は、高さを揃えたZ基準ピン44…を平
面度良く加工された台座5A上に固定しているので比較
的単純に平面度の良いZ基準面を作ることができる。微
調整等行なえば数μmの平面度も可能である。
【0035】そして、ガイド移動機構42によるホルダ
ガイド機構38A,38Bの下降動作に伴って下降する
ホルダ9に保持されたマスクガラス8の下面をZ基準ピ
ン44…で受け、マスクガラス8を水平に支持するよう
になっている。
【0036】さらに、台座5A上には、Y方向について
も一対のベアリング48,48を備えた位置決めストッ
パ50,50が設けられ、ホルダ9の反搬入方向(図2
及び図8中右方向)下面に突設された突部9A(図8、
図9参照)を嵌入することによりホルダ9の位置決めが
なされるようになっている。
【0037】一方、台座5A上のホルダ9の搬入方向
(図3中左方向)、すなわち、レーザミラー36のX方
向に沿う部分の内側近傍には、前記Z基準ピン44…に
より支持されて前記押付け機構32,32により他端面
部8b側が押圧されたマスクガラス8の一端面部8aの
位置を規制する位置決め部材としての2本の基準体52
A、52Bが設けられていると共に、マスクガラス8の
サイズに対応するため搬入方向に若干の位置をずらし
て、さらに、2本の基準体52C、52Dが設けられて
いる。
【0038】そして、ホルダ9がXYステージ5の台座
5A上に後述するようにセットされた時、マスクガラス
8の一端面部8aが、ホルダ9の基準ピン30C、30
Dから外れて、台座5A上の最端位置の基準体52Aと
残りの3本中の1本52B(52C又は52D)の2本
に接触した状態となってマスクガラス8のY方向の位置
決め基準がなされるようになっている。
【0039】この時、マスクガラス8は、ホルダ9に配
設された押付機構32,32で他端面部8bが押圧され
た状態となっている。押付機構32は、図4に拡大して
示すような構成となっている。
【0040】すなわち、54はホルダ9の支持用プレー
ト22D上に固定された押圧部材であり、この押圧部材
54は自由端部に前記マスクガラス8の他端面部8bに
当接する回転自在なボール56を備えたバネ要素を有す
るアーム部54Aを有する。
【0041】押圧部材54は、回転ピン58を回転中心
とし円弧状長孔60の範囲で回動可能となっており、固
定ねじ62を締めることで所定の位置に固定できるよう
になっている。
【0042】また、押圧部材54には、前記ボール56
を保持するボール保持部54Bの裏面側に先端部が対向
するように押付ピン64と、ねじからなる固定ストッパ
66が並び設けられている。押付ピン64は、盲蓋68
により一端面が支持された圧縮コイルばね70により、
先端がボール保持部54Bの裏面を押圧するように常時
突出した状態となっている。また、固定ストッパ66
は、押圧部材54に形成されたねじ孔72に螺合されて
おり、その先端突出量が自由に調整できるようになって
いる。
【0043】しかして、マスクガラス8をロード、すな
わち、ホルダ9にセットする時には押圧部材54を回転
ピン58を回転中心としてY方向(矢印A方向)に逃が
し、ロード後、マスクガラス8の他端面部8bにボール
56を押し当ててこの状態で固定ねじ62により押圧部
材54を固定する。ボール56を他端面部8bに押し当
てる際には予め固定ストッパ66を突出した形とし、固
定ねじ62で固定した後、固定ストッパ66を引込め
る。これにより、マスクガラス8の他端面部8に圧縮コ
イルばね70で付勢されたボール56のみを当接させる
ことにより常に一定の押付力を確保している。
【0044】また、XYステージ5の上部を構成する台
座5A上の基準体52A〜52Dは、図5に示すよう
に、その上方にそれぞれベアリング74が回転自在に取
り付けられており、このベアリング74の周面位置は、
基準体52A〜52Dのマスク接触面から10μm程度
引っ込んだ状態、すなわち、寸法Gが10μm程度とな
る殆ど同一面となる状態となっている。
【0045】また、マスクガラス8の反りや捩れが大き
い場合には、Z方向に矯正する必要が生じるため、ホル
ダ9の少なくとも4隅のベアリングブロック26…にZ
クランパ34…を設けるが、そのZクランパ34は図6
に示すような構成となっている。
【0046】Zクランパ34は、一端部をU字状に曲成
した板バネ部材76からなるもので、U字状一端部をベ
アリングブロック26に固定して直線状の他端側にバネ
要素を持たせたもので、ホルダ9上にマスクガラス8が
セットされた状態では、マスクガラス8とZクランパ3
4との間に隙間G1 を保っている。この隙間G1 は、X
Yステージ5の台座5A上に搬入されてマスクガラス8
のY基準への位置決めがされる時に移動動作に支障がな
いようにする役目を持たせている。
【0047】そして、後述するようにホルダガイド機構
38A,38Bの下降に伴ってホルダ9が下降すること
により、マスクガラス8がXYステージ5の台座5A上
に配設されたZ基準ピン44…に載置され、高さ位置が
規制されるようになっている。さらに、ホルダ9が下降
することで、このホルダ9と一体的なベアリングブロッ
ク26…に取付けられたZクランパ34…がマスクガラ
ス8の上面に接触しクランプするようになっている。
【0048】つぎに、図7ないし図9を加えてXYステ
ージ5の台座5A上へのマスクガラス8の固定動作につ
いて説明する。大気中においてマスクガラス8がセット
されたホルダ9が、図1に示すロードロックチャンバ1
2を経て描画室4に搬入され、XYステージ5の台座5
A上にセットされる。
【0049】図7、図8、図9は、XYステージ5の台
座5A上にホルダ9が位置決めされた状態を示す。マス
クガラス8は、ホルダ9の基準ピン30C、30Dに押
付機構32,32で押付け位置決めされた状態で台座5
A上に搬入され、ガイド機構38A、38Bにより支承
された状態となる。
【0050】これらガイド機構38A、38Bは、ガイ
ド移動機構42により、上下移動可能であり、図8、図
9に示す上昇位置がロードロックチャンバ12から搬入
されたホルダ9をガイドする位置となっている。
【0051】ガイド移動機構42は、台座5Aを上下動
可能に貫通し、その上端部がガイド機構38A、38B
に連結された支持脚80,80と、これら支持脚80,
80を連結する連結アーム82と、この連結アーム82
が貫通する長孔84を中途部に有し、一端を支軸86を
介して回動可能に支持されたレバー88を有する。
【0052】そして、レバー88の他端部をソレノイド
等の図示しない作動機構を介して下方(矢印C方向)に
押下げることにより、ガイド機構38A、38Bを下方
に移動させるようになっている。
【0053】ホルダ9がXYステージ5の台座5A上の
定位置まで搬送されると、ガイド機構38A、38Bが
下降し始める。これにより、ホルダ9に保持されたマス
クガラス8の一端面部8aが台座5A上に配設された基
準体52Aと52B、52C又は52Dの上端部のベア
リング74,74の周面に接触し、マスクガラス8は、
ホルダ9の押付機構32,32の押付け力に抗してホル
ダ9の基準ピン30C、30Dから離れるように移動す
る。
【0054】さらに、下がり切る少し前の状態で台座5
A上に配設された基準体52Aと52B、52C又は5
2Dとに接触した状態となる。この時点では、マスクガ
ラス8はホルダ9のベアリング28…上に載っている状
態でありY方向には移動し易い状況となっている。さら
に、ホルダガイド機構38A,38Bが下がるとマスク
ガラス8は台座5A上のZ基準ピン44…の上端面で支
承されベアリング28…から離れた状態となる。
【0055】また、ホルダ9は、台座5上に載置されY
方向についても、ストッパ50,50を構成するそれぞ
れ2つのベアリング48,48の間にホルダ9の突部9
Aが嵌入することで位置決めされる。
【0056】本発明は、上記したように、ホルダ9が、
移動ステージとしてのXYステージ5上で下降すること
で、この被処理材ホルダとしてのホルダ9に保持されて
いるマスクガラス8が、XYステージ5の上部を構成す
る台座5A上に配設された複数の位置決め部材としての
Z基準ピン44…に直接載置され、位置決めされる。
【0057】このように、XYステージ5上に被処理材
であるマスクガラス8を載置するためのZ基準ピン44
…を設けることにより、基準面の製作精度は向上する
し、従来のホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くな
る。また、移動ステージ上の基準面は全面でなく接触面
1カ所毎は小さく、全体でも非常に小さくするためゴミ
の載る確率はほとんど無視できる。これにより、XYス
テージ5上でのマスクガラス8の平面度は、XYステー
ジ5上に配設された複数のZ基準ピン44…により常に
一定となり、また、平面度自体も数μmのオーダまで可
能となり、描画等の処理精度が向上し、マスクガラス8
間でのバラつきも非常に小さくなる。
【0058】また、ホルダ9が、被処理材押え部材とし
てのZクランパ34…を備え、ホルダ9が下降したとき
被処理材支持手段としてのマスクガラス支持機構46に
より支持されたマスクガラス8の上面を押さえクランプ
する構成としたから、マスクガラス8の反りや捩じれを
矯正でき、マスクガラス8に対する処理精度のより向上
が可能となる。
【0059】また、ホルダ9の複数の受け部材として、
マスクガラス8の大きさに応じて配設位置が変更可能な
回転体(ベアリング)28からなる構成としたから、種
々の大きさのマスクガラス8に対応できるとともにマス
クガラス8の搬入及び搬出及び位置決め等のXY方向の
移動動作が容易となる。
【0060】さらに、ホルダ9が、受け部材であるベア
リング28上に載置されたマスクガラス8の一端面部の
位置を規制するための位置決め部材としての基準ピン3
0C,30D、及び、該基準ピン30C,30Dに前記
一端面が当接するように前記マスクガラス8の他端面側
を押圧する被処理材押圧機構としての押付け機構32,
32を有し、ホルダ9が、XYステージ5上で下降する
ことで、このホルダ9に保持されているマスクガラス8
が基準ピン30C,30Dから外れて押付け機構32,
32の押圧力によりXYステージ5の上部を構成する台
座5A上に設けられた位置決め部材としての2本の基準
体52A、52Bでマスクガラス8の一端面部8aの位
置が規制される。このように、マスクガラス8は、XY
ステージ5上の基準面、すなわち、Z基準ピン44…の
上端面に載置されると同時にXYステージ5上に設けら
れた基準体52A、52BでY方向の位置決めがなさ
れ、ホルダ9…毎のバラつきは考慮しなくてすみ、少な
くともY方向の位置決めが安定して行えるものである。
【0061】なお、上記一実施例において電子ビーム描
画装置のXYステージにマスクガラスを固定する場合に
ついて説明したが、これに限るものでなく、例えばマス
ク検査装置等の半導体製造関連装置に適用しても良く、
要は、薄板平面形状物の被処理材を移動ステージ上に固
定するものであればどの様なものに適用してもよいこと
は勿論である。その他、本発明は上記一実施例に限ら
ず、本発明の要旨を変えない範囲で種々変形実施可能な
ことは勿論である。
【0062】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれば
つぎのような効果を奏する。請求項1記載の被処理材の
固定装置によれば、被処理材ホルダが、移動ステージ上
で下降することで、この被処理材ホルダに保持されてい
る被処理材が、移動ステージ上に配設された複数の位置
決め部材に直接載置され、位置決めされる。このよう
に、移動ステージ上に被処理材を載置するための位置決
め部材を設けることにより、基準面の製作精度は向上す
るし、従来のホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くな
る。また、移動ステージ上の基準面は全面でなく接触面
1カ所毎は小さく、全体でも非常に小さくするためゴミ
の載る確率はほとんど無視できる。これにより、移動ス
テージ上での被処理材の平面度は、移動ステージ上に配
設された複数の位置決め部材により常に一定となり、ま
た、平面度自体も数μmのオーダまで可能となり、描画
等の処理精度が向上し、被処理材間でのバラつきも非常
に小さくなる。
【0063】また、請求項2記載の被処理材の固定装置
によれば、請求項1記載の効果に加えて、被処理材ホル
ダが、被処理材押え部材を備え、被処理材ホルダが下降
したとき被処理材支持手段により支持された被処理材の
上面を押さえクランプする構成としたから、被処理材の
反りや捩じれを矯正でき、被処理材に対する処理精度の
より向上が可能となる。
【0064】また、請求項3記載の被処理材の固定装置
によれば、請求項1記載の効果に加えて、被処理材ホル
ダの複数の受け部材が、被処理材の大きさに応じて配設
位置が変更可能な回転体からなる構成としたから、種々
の大きさの被処理材に対応できるとともに被処理材の搬
入及び搬出及び位置決め等のXY方向の移動動作が容易
となる。
【0065】また、請求項4記載の被処理材の固定装置
によれば、被処理材ホルダが、移動ステージ上で下降す
ることで、この被処理材ホルダに保持されている被処理
材が、移動ステージ上に配設された複数の位置決め部材
に直接載置され、位置決めされる。このように、移動ス
テージ上に被処理材を載置するための位置決め部材を設
けることにより、基準面の製作精度は向上するし、従来
のホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くなる。また、
移動ステージ上の基準面は全面でなく接触面1カ所毎は
小さく、全体でも非常に小さくするためゴミの載る確率
はほとんど無視できる。これにより、移動ステージ上で
の被処理材の平面度は、移動ステージ上に配設された複
数の位置決め部材により常に一定となり、 また、平面
度自体も数μmのオーダまで可能となり、描画等の処理
精度が向上し、被処理材間でのバラつきも非常に小さく
なる。
【0066】さらに、被処理材ホルダが、受け部材上に
載置された被処理材の一端面部の位置を規制するための
位置決め部材、及び、該位置決め部材に前記一端面が当
接するように前記被処理材の他端面側を押圧する被処理
材押圧機構を有し、被処理材ホルダが、移動ステージ上
で下降することで、この被処理材ホルダに保持されてい
る被処理材が位置決め部材から外れて被処理材押圧機構
の押圧力により移動ステージ上に設けられた位置決め部
材で被処理材の一端面部の位置が規制される。このよう
に、被処理材は、移動ステージ上の基準面に載置される
と同時に移動ステージ上に設けられた位置決め部材でY
方向の位置決めがなされ、ホルダ毎のバラつきは考慮し
なくてすみ、少なくともY方向の位置決めが安定して行
えるといった効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した電子ビーム描画装置の全体を
示す概略図。
【図2】本発明の一実施例に使用されるホルダの平面
図。
【図3】図2に示すホルダがセットされる移動ステージ
上の台座の平面図。
【図4】同実施例に付設される押付機構の拡大詳細図。
【図5】図2に示す台座上に設けられた基準体の部分拡
大図。
【図6】同実施例に付設されるZクランプの部分拡大断
面図。
【図7】台座上にホルダが位置決めされた状態を示す平
面図。
【図8】図7のB−B線に沿う断面図。
【図9】図7の右側面図。
【図10】従来装置の平面図。
【図11】従来装置の側面図。
【符号の説明】
5…XYステージ(移動ステージ)、5A…台座、8
(8A,8B)…マスクガラス(被処理材)、9…ホル
ダ(被処理材ホルダ)、18…マスクガラス固定装置
(被処理材固定装置)、20…ホルダ本体、22A,2
2B,22C,22D,22E…支持用プレート、26
…ベアリングブロック、28…ベアリング(受け部
材)、30A,30B,30C,30D…基準ピン(位
置決め部材)、32…押付け機構(被処理材押圧機
構)、34…Zクランパ(被処理材押え部材)、38
A,38B…ホルダガイド機構、40…ガイドローラ、
42…ガイド移動機構、44…Z基準ピン(位置決め部
材)、46…マスクガラス支持機構(マスクガラス支持
手段)、48…ベアリング、50…位置決めストッパ、
52A,52B,52C,52D…基準体(位置決め部
材)。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】薄板平面形状物の被処理材を移動ステージ
    上に固定する被処理材の固定装置であって、 前記被処理材の下面を支承する複数の受け部材を有し、
    前記被処理材を水平状態かつ下面が部分的に露出する状
    態に保持する被処理材ホルダと、 前記移動ステージ上に設けられ前記被処理材ホルダを水
    平状態に支持すると共に上下動可能なホルダガイド手段
    と、 このホルダガイド手段を下降させることにより前記被処
    理材を保持した被処理材ホルダを下降させるガイド移動
    手段と、 前記移動ステージ上に設けられ、前記ガイド移動手段に
    よるホルダガイド手段の下降動作に伴って下降する被処
    理材ホルダに保持された前記被処理材の下面を複数の位
    置決め部材で受け、前記被処理材を水平に支持する被処
    理材支持手段と、を具備してなることを特徴とする被処
    理材の固定装置。
  2. 【請求項2】被処理材ホルダが、被処理材押え部材を備
    え、被処理材ホルダが下降したとき被処理材支持手段に
    より支持された被処理材の上面を押さえクランプする構
    成としたことを特徴とする請求項1記載の被処理材の固
    定装置。
  3. 【請求項3】被処理材ホルダの複数の受け部材が、被処
    理材の大きさに応じて配設位置が変更可能な回転体から
    なることを特徴とする請求項1記載の被処理材の固定装
    置。
  4. 【請求項4】薄板平面形状物の被処理材をXY方向に移
    動可能な移動ステージ上に固定する被処理材の固定装置
    であって、 前記被処理材の下面を支承する複数の受け部材、及び、
    該受け部材上に載置された前記被処理材の一端面部の位
    置を規制するための位置決め部材、及び、該位置決め部
    材に前記一端面が当接するように前記被処理材の他端面
    側を押圧する被処理材押圧機構を有し、前記被処理材を
    水平状態かつ下面が部分的に露出する状態に保持する被
    処理材ホルダと、 前記移動ステージ上に設けられ前記被処理材ホルダを水
    平状態に支持すると共に上下動可能なホルダガイド機構
    と、 このホルダガイド機構を下降させることにより前記被処
    理材を保持した被処理材ホルダを下降させるガイド移動
    機構と、 前記移動ステージ上に設けられ前記ガイド移動機構によ
    るホルダガイド機構の下降動作に伴って下降する被処理
    材ホルダに保持された前記被処理材の下面を複数の位置
    決め部材で受け、前記被処理材を水平に支持する被処理
    材支持機構と、 前記移動ステージ上に設けられ、前記被処理材支持機構
    により支持されて前記被処理材押圧機構により他端面側
    が押圧された前記被処理材の一端面部の位置を規制する
    位置決め部材と、を具備してなることを特徴とする被処
    理材の固定装置。
JP9078195A 1995-04-17 1995-04-17 被処理材の固定装置 Expired - Fee Related JP3708984B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9078195A JP3708984B2 (ja) 1995-04-17 1995-04-17 被処理材の固定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9078195A JP3708984B2 (ja) 1995-04-17 1995-04-17 被処理材の固定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08288371A true JPH08288371A (ja) 1996-11-01
JP3708984B2 JP3708984B2 (ja) 2005-10-19

Family

ID=14008151

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9078195A Expired - Fee Related JP3708984B2 (ja) 1995-04-17 1995-04-17 被処理材の固定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3708984B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007184607A (ja) * 2005-12-28 2007-07-19 Au Optronics Corp 低圧処理装置及び低圧処理装置を分解する方法、基板処理設備
US7307698B2 (en) 2004-02-18 2007-12-11 Canon Kabushiki Kaisha Exposure apparatus and device manufacturing method
JP2015216162A (ja) * 2014-05-08 2015-12-03 トヨタ自動車株式会社 ウエハキャリア
CN114420603A (zh) * 2022-01-14 2022-04-29 苏州肯美特设备集成有限公司 一种用于半导体元件加工成型设备

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7307698B2 (en) 2004-02-18 2007-12-11 Canon Kabushiki Kaisha Exposure apparatus and device manufacturing method
JP2007184607A (ja) * 2005-12-28 2007-07-19 Au Optronics Corp 低圧処理装置及び低圧処理装置を分解する方法、基板処理設備
US7958612B2 (en) 2005-12-28 2011-06-14 Au Optronics Corp. Low-pressure process apparatus
US8458872B2 (en) 2005-12-28 2013-06-11 Au Optronics Corp. Low-pressure process apparatus
US8950046B2 (en) 2005-12-28 2015-02-10 Au Optronics Corp. Low-pressure process apparatus
JP2015216162A (ja) * 2014-05-08 2015-12-03 トヨタ自動車株式会社 ウエハキャリア
US9761470B2 (en) 2014-05-08 2017-09-12 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Wafer carrier
CN114420603A (zh) * 2022-01-14 2022-04-29 苏州肯美特设备集成有限公司 一种用于半导体元件加工成型设备

Also Published As

Publication number Publication date
JP3708984B2 (ja) 2005-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10571807B2 (en) Method and apparatus for aligning substrates on a substrate support unit
JP3828808B2 (ja) 部品実装装置および部品実装方法
JP3409222B2 (ja) 試料保持装置
US5249343A (en) Apparatus for alignment of workpieces
TWI242634B (en) Substrate holder, substrate processing apparatus, substrate inspection device and method of using the same
EP0881538B1 (en) Means for supporting a mask
JPH05182891A (ja) 基板の位置決め装置
JP3708984B2 (ja) 被処理材の固定装置
JPH07192984A (ja) 薄板固定装置
JP5140010B2 (ja) 基板ホルダー
JP4617385B2 (ja) 基板保持機構およびそれを用いた露光装置並びにデバイス製造方法
JP4248341B2 (ja) 被照射物保持機構
JP4084393B2 (ja) 部品実装装置および部品実装方法
JP3368139B2 (ja) 電子ビーム描画装置用試料ステージ
JP2901469B2 (ja) 基板搬送装置
JPH0322047B2 (ja)
JP2000149845A (ja) 試料の保持方法,試料の保持装置、および荷電粒子線装置
JPH05114644A (ja) 基板の位置決め装置
JP2008251944A (ja) 露光装置
EP1319974A2 (en) Aligner
JP2006066747A (ja) 基板の位置決め装置及び位置決め方法
JP2007157464A (ja) 基板ホルダー
JP4366115B2 (ja) ウエハホルダおよび電子顕微鏡
JPH0648853Y2 (ja) 半導体製造装置用ステージへの被処理材固定装置
JPH07147227A (ja) 基板固定方法及び基板固定構造

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050421

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050719

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050805

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090812

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees