JPH08288371A - 被処理材の固定装置 - Google Patents
被処理材の固定装置Info
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- JPH08288371A JPH08288371A JP9078195A JP9078195A JPH08288371A JP H08288371 A JPH08288371 A JP H08288371A JP 9078195 A JP9078195 A JP 9078195A JP 9078195 A JP9078195 A JP 9078195A JP H08288371 A JPH08288371 A JP H08288371A
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- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
えるホルダ基板を用いることなく被処理材を移動ステー
ジに固定でき、安価で、しかも、被処理材に対する処理
精度の向上を可能とした被処理材の固定装置を提供す
る。 【構成】移動ステージとしてのXYステージ5上に搬入
されたホルダ9を、ガイド機構38A,38Bにより支
承し、ついで、このガイド機構38A,38Bをガイド
移動機構42により下降することにより、ホルダ9をX
Yステージ5上に下降させる。これにより、ホルダ9に
保持されているマスクガラス8が、XYステージ5の上
部を構成する台座5A上に配設された複数の位置決め部
材としてのZ基準ピン44…に直接載置され、位置決め
される。
Description
マスク検査装置等の半導体製造関連装置の被処理材の固
定装置に係り、詳しくは、マスクガラス等の薄板平面形
状物の被処理材を移動ステージ上に固定する被処理材の
固定装置に関する。
検査装置等において、大型のマスクガラスを処理する場
合の固定装置として、例えば特開昭63−140532
号公報に示されるものが知られている。
示すような構成となっている。因みに、図10は平面
図、図11は右側面図である。すなわち、被処理材であ
るマスクガラスaをマスクホルダbの平面度の良いホル
ダ基板c上に載置した後、このマスクガラスaを、複数
の押付子d…を配設した一対のクランプバーe,eを有
するクランプ機構f,fで基板c側に押付けることによ
り固定する。
スクホルダbを、移動ステージg上に搬送して位置決め
固定するようになっている。このホルダ基板cにマスク
ガラスaを固定する固定方式は、マスクガラスaのサイ
ズが大小さまざまなことに対応することが可能である
が、ホルダ基板cを使用し固定するため下記のような問
題点があった。
また製作費用が高価。(その理由は、ホルダ基板cを軽
くした導電性材質で作る必要があることから加工精度を
高めることが難しくなる。) (2) 一定レベルの平面度で加工できても複数のホルダ
基板cを使用する場合、マスクホルダb毎の差ができて
描画後の精度にバラつきが出る。 (3) マスクガラスaとホルダ基板cは全面接触するた
め、ホルダ基板c上に載ったゴミにより平面度を悪くす
る。 等の問題があった。
被処理材の固定装置にあっては、ホルダ基板の平面の加
工精度が十分に確保できないことや、連続的な処理を行
うために複数のホルダ基板を使用するが、ホルダ基板毎
に平面度が異なり、マスクガラスの載置後の平面度に数
10μm程度のバラつきが出ること、また、ゴミの影響
により描画精度を劣化させるといった問題があった。
で、製作費用が高価で、しかも処理精度に影響を与える
ホルダ基板を用いることなく被処理材を移動ステージに
固定でき、安価で、しかも、被処理材に対する処理精度
の向上を可能とした被処理材の固定装置を提供しようと
するものである。
決するための第1の手段として、薄板平面形状物の被処
理材を移動ステージ上に固定する被処理材の固定装置で
あって、前記被処理材の下面を支承する複数の受け部材
を有し、前記被処理材を水平状態かつ下面が部分的に露
出する状態に保持する被処理材ホルダと、前記移動ステ
ージ上に設けられ前記被処理材ホルダを水平状態に支持
すると共に上下動可能なホルダガイド手段と、このホル
ダガイド手段を下降させることにより前記被処理材を保
持した被処理材ホルダを下降させるガイド移動手段と、
前記移動ステージ上に設けられ、前記ガイド移動手段に
よるホルダガイド手段の下降動作に伴って下降する被処
理材ホルダに保持された前記被処理材の下面を複数の位
置決め部材で受け、前記被処理材を水平に支持する被処
理材支持手段とを具備してなる構成としたものである。
いて、さらに、被処理材ホルダが、被処理材押え部材を
備え、被処理材ホルダが下降したとき被処理材支持手段
により支持された被処理材の上面を押さえクランプする
構成としたものである。
いて、さらに、被処理材ホルダの複数の受け部材が、被
処理材の大きさに応じて配設位置が変更可能な回転体か
らなる構成としたものである。
の被処理材をXY方向に移動可能な移動ステージ上に固
定する被処理材の固定装置であって、前記被処理材の下
面を支承する複数の受け部材、及び、該受け部材上に載
置された前記被処理材の一端面部の位置を規制するため
の位置決め部材、及び、該位置決め部材に前記一端面が
当接するように前記被処理材の他端面側を押圧する被処
理材押圧機構を有し、前記被処理材を水平状態かつ下面
が部分的に露出する状態に保持する被処理材ホルダと、
前記移動ステージ上に設けられ前記被処理材ホルダを水
平状態に支持すると共に上下動可能なホルダガイド機構
と、このホルダガイド機構を下降させることにより前記
被処理材を保持した被処理材ホルダを下降させるガイド
移動機構と、前記移動ステージ上に設けられ前記ガイド
移動機構によるホルダガイド機構の下降動作に伴って下
降する被処理材ホルダに保持された前記被処理材の下面
を複数の位置決め部材で受け、前記被処理材を水平に支
持する被処理材支持機構と、前記移動ステージ上に設け
られ、前記被処理材支持機構により支持されて前記被処
理材押圧機構により他端面側が押圧された前記被処理材
の一端面部の位置を規制する位置決め部材とを具備して
なる構成としたものである。
によれば、被処理材ホルダが、移動ステージ上で下降す
ることで、この被処理材ホルダに保持されている被処理
材が、移動ステージ上に配設された複数の位置決め部材
に直接載置され、位置決めされる。このように、移動ス
テージ上に被処理材を載置するための位置決め部材を設
けることにより、基準面の製作精度は向上するし、従来
のホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くなる。また、
移動ステージ上の基準面は全面でなく接触面1カ所毎は
小さく、全体でも非常に小さくするためゴミの載る確率
はほとんど無視できる。これにより、移動ステージ上で
の被処理材の平面度は、移動ステージ上に配設された複
数の位置決め部材により常に一定となり、また、平面度
自体も数μmのオーダまで可能となり、描画等の処理精
度が向上し、被処理材間でのバラつきも非常に小さくな
る。
よれば、第1の手段の作用に加えて、被処理材ホルダ
が、被処理材押え部材を備え、被処理材ホルダが下降し
たとき被処理材支持手段により支持された被処理材の上
面を押さえクランプする構成としたから、被処理材の反
りや捩じれを矯正でき、被処理材に対する処理精度のよ
り向上が可能となる。
よれば、第1の手段の作用に加えて、被処理材ホルダの
複数の受け部材が、被処理材の大きさに応じて配設位置
が変更可能な回転体からなる構成としたから、種々の大
きさの被処理材に対応できるとともに被処理材の搬入及
び搬出及び位置決め等の移動動作が容易となる。
よれば、被処理材ホルダが、移動ステージ上で下降する
ことで、この被処理材ホルダに保持されている被処理材
が、移動ステージ上に配設された複数の位置決め部材に
直接載置され、位置決めされる。このように、移動ステ
ージ上に被処理材を載置するための位置決め部材を設け
ることにより、基準面の製作精度は向上するし、従来の
ホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くなる。また、移
動ステージ上の基準面は全面でなく接触面1カ所毎は小
さく、全体でも非常に小さくするためゴミの載る確率は
ほとんど無視できる。これにより、移動ステージ上での
被処理材の平面度は、移動ステージ上に配設された複数
の位置決め部材により常に一定となり、 また、平面度
自体も数μmのオーダまで可能となり、描画等の処理精
度が向上し、被処理材間でのバラつきも非常に小さくな
る。
載置された被処理材の一端面部の位置を規制するための
位置決め部材、及び、該位置決め部材に前記一端面が当
接するように前記被処理材の他端面側を押圧する被処理
材押圧機構を有し、被処理材ホルダが、移動ステージ上
で下降することで、この被処理材ホルダに保持されてい
る被処理材が位置決め部材から外れて被処理材押圧機構
の押圧力により移動ステージ上に設けられた位置決め部
材で被処理材の一端面部の位置が規制される。このよう
に、被処理材は、移動ステージ上の基準面に載置される
と同時に移動ステージ上に設けられた位置決め部材でホ
ルダガイド機構に沿う方向(Y方向)の位置決めがなさ
れ、ホルダ毎のバラつきは考慮しなくてすみ、少なくと
もY方向の位置決めが安定して行える。
参照して説明する。図1は、本発明を適用した電子ビー
ム描画装置の全体図を示すもので、図中1はベースプレ
ートで有り、このベースプレート1は、床面上に防振装
置2を介して設置されている。ベースプレート1上には
定盤3が載置され、さらに、この定盤3上には描画室4
が形成されている。
Yステージ5が設置され、その上方には電子ビーム光学
鏡筒6が設けられている。さらに、前記ベースプレート
1上には、フレーム7が載設された状態となっていると
共に、このフレーム7上には被処理材であるマスクガラ
ス8を保持する被処理材ホルダとしてのマスクガラスホ
ルダ(以後、単にホルダという)9を搬送する第1の搬
送装置10と第2の搬送装置11とが載設されている。
成されたロードロックチャンバ12内に収納された状態
となっている。また、ロードロックチャンバ12には、
第1の搬送装置10と対向する位置に第1のゲ−トバル
ブ13が設けられ、また、描画室4とロードロックチャ
ンバ12との間に第2のゲ−トバルブ14が設けられて
いる。
ット部としてのマスクガラスセット部15を兼用してい
る。しかして、マスクガラス8は、大気中でホルダ9に
セットされる。第1の搬送装置10からホルダ9にセッ
トされたマスクガラス8は、第1のゲートバルブ13を
経てロードロックチャンバ12内の第2の搬送装置11
に移載され、さらに、第2のゲートバルブ14を経て描
画室4のXYステージ5上に載置される。
ガラス8をXY方向に移動させながら、電子ビーム光学
鏡筒6からマスクガラス8に電子ビームを照射して描画
することになる。
ス8は、後述する被処理材の固定装置としてのマスクガ
ラス固定装置18によりXYステージ5上に固定される
ようになっている。
図6に示すように、被処理材ホルダとしての前記ホルダ
9側に配設された機構と、前記移動ステージとしてのX
Yステージ5の上面部を構成する台座5A側に配設され
た機構とで構成される。
うに、四角い枠構造のホルダ本体20を有し、このホル
ダ本体20には、支持用プレート22A,22B,22
C,22D,22Eが架設されている。
Cには、T溝24がそれぞれ形成されており、ベアリン
グブロック26…がスライド移動可能に取り付けられて
いる。これらベアリングブロック26…には、受け部材
である回転体としてのベアリング28がそれぞれ取付け
られており、これら複数のベアリング28…により、薄
板平面形状物の被処理材である前記マスクガラス8A、
8B(これらを総称する場合は8とする)を水平状態か
つ下面が部分的に露出する状態に保持するようになって
いる。
マスクガラス8のXY方向の位置を規制するための位置
決め部材としての基準ピン30A,30B,30C,3
0Dが配設されている。前記基準ピン30A,30B
は、マスクガラス8のX方向の位置決めを、また、基準
ピン30C,30Dは、マスクガラス8のY方向の位置
決めを行うものである。以下、マスクガラス8の搬入方
向に沿う方向をY方向、それと直交する方向をX方向と
する。
スクガラス8のサイズにより位置を変え、いずれか一方
のみとする。また、ベアリング28…の位置もマスクガ
ラス8のサイズに応じてX方向に移動して固定する。ま
た、支持用プレート22B,22C,22Dは、ホルダ
本体20に対してねじ止めされており、マスクガラス8
のサイズに応じてY方向の適当なピッチ位置に移動し固
定できる。
ラス8のY方向一端面8aをY方向の位置決め基準ピン
30C,30Dに当接するようにマスクガラス8の他端
面側8bを押圧する被処理材押圧機構としての押付け機
構32,32が配設されている。
クガラス8は、そのY方向に沿う両端縁部下面をベアリ
ング28…で支えられると共に、X方向を基準ピン30
A又は30Bに、また、搬入方向であるY方向を2本の
基準ピン30C、30に突当した状態で位置決めされ
る。
2,32により位置決め基準ピン30C,30D側に押
圧されることでY方向の移動が規制され、また、ホルダ
9の少なくとも4隅のベアリングブロック26…に取付
けられた後述する被処理材押え部材としてのZクランパ
34…(図6参照)によりクランプされ、マスクガラス
8の反りや捩れが矯正されるようになっている。
台座5Aは、図3に示すように、矩形板状を呈し、その
上面のY方向の一側縁、及び、X方向の一側縁に沿う状
態に位置測定用のレーザミラー36が搭載されている。
台座5Aには、Y方向に沿う両側縁部に沿って、ホルダ
9を水平状態に支持するホルダガイド機構38A,38
Bが配設されている。これらホルダガイド機構38A,
38Bには、複数のガイドローラ40…が配置されてお
り、ホルダ9がY方向に移動し易くなっている。
8Bは、後述するガイド移動機構42(図8及び図9参
照)により上下動可能となっており、これらホルダガイ
ド機構38A,38Bを下降させることによりマスクガ
ラス8を保持したホルダ9を下降させるようになってい
る。
材としてのZ基準ピン44…がXY両方向に一定ピッチ
で固定されており、被処理材支持機構である被処理材支
持機構としてのマスクガラス支持機構46を構成してい
る。前記Z基準ピン44…の上端面により形成されるZ
基準面の平面度は、高さを揃えたZ基準ピン44…を平
面度良く加工された台座5A上に固定しているので比較
的単純に平面度の良いZ基準面を作ることができる。微
調整等行なえば数μmの平面度も可能である。
ガイド機構38A,38Bの下降動作に伴って下降する
ホルダ9に保持されたマスクガラス8の下面をZ基準ピ
ン44…で受け、マスクガラス8を水平に支持するよう
になっている。
も一対のベアリング48,48を備えた位置決めストッ
パ50,50が設けられ、ホルダ9の反搬入方向(図2
及び図8中右方向)下面に突設された突部9A(図8、
図9参照)を嵌入することによりホルダ9の位置決めが
なされるようになっている。
(図3中左方向)、すなわち、レーザミラー36のX方
向に沿う部分の内側近傍には、前記Z基準ピン44…に
より支持されて前記押付け機構32,32により他端面
部8b側が押圧されたマスクガラス8の一端面部8aの
位置を規制する位置決め部材としての2本の基準体52
A、52Bが設けられていると共に、マスクガラス8の
サイズに対応するため搬入方向に若干の位置をずらし
て、さらに、2本の基準体52C、52Dが設けられて
いる。
5A上に後述するようにセットされた時、マスクガラス
8の一端面部8aが、ホルダ9の基準ピン30C、30
Dから外れて、台座5A上の最端位置の基準体52Aと
残りの3本中の1本52B(52C又は52D)の2本
に接触した状態となってマスクガラス8のY方向の位置
決め基準がなされるようになっている。
設された押付機構32,32で他端面部8bが押圧され
た状態となっている。押付機構32は、図4に拡大して
示すような構成となっている。
ト22D上に固定された押圧部材であり、この押圧部材
54は自由端部に前記マスクガラス8の他端面部8bに
当接する回転自在なボール56を備えたバネ要素を有す
るアーム部54Aを有する。
とし円弧状長孔60の範囲で回動可能となっており、固
定ねじ62を締めることで所定の位置に固定できるよう
になっている。
を保持するボール保持部54Bの裏面側に先端部が対向
するように押付ピン64と、ねじからなる固定ストッパ
66が並び設けられている。押付ピン64は、盲蓋68
により一端面が支持された圧縮コイルばね70により、
先端がボール保持部54Bの裏面を押圧するように常時
突出した状態となっている。また、固定ストッパ66
は、押圧部材54に形成されたねじ孔72に螺合されて
おり、その先端突出量が自由に調整できるようになって
いる。
わち、ホルダ9にセットする時には押圧部材54を回転
ピン58を回転中心としてY方向(矢印A方向)に逃が
し、ロード後、マスクガラス8の他端面部8bにボール
56を押し当ててこの状態で固定ねじ62により押圧部
材54を固定する。ボール56を他端面部8bに押し当
てる際には予め固定ストッパ66を突出した形とし、固
定ねじ62で固定した後、固定ストッパ66を引込め
る。これにより、マスクガラス8の他端面部8に圧縮コ
イルばね70で付勢されたボール56のみを当接させる
ことにより常に一定の押付力を確保している。
座5A上の基準体52A〜52Dは、図5に示すよう
に、その上方にそれぞれベアリング74が回転自在に取
り付けられており、このベアリング74の周面位置は、
基準体52A〜52Dのマスク接触面から10μm程度
引っ込んだ状態、すなわち、寸法Gが10μm程度とな
る殆ど同一面となる状態となっている。
い場合には、Z方向に矯正する必要が生じるため、ホル
ダ9の少なくとも4隅のベアリングブロック26…にZ
クランパ34…を設けるが、そのZクランパ34は図6
に示すような構成となっている。
した板バネ部材76からなるもので、U字状一端部をベ
アリングブロック26に固定して直線状の他端側にバネ
要素を持たせたもので、ホルダ9上にマスクガラス8が
セットされた状態では、マスクガラス8とZクランパ3
4との間に隙間G1 を保っている。この隙間G1 は、X
Yステージ5の台座5A上に搬入されてマスクガラス8
のY基準への位置決めがされる時に移動動作に支障がな
いようにする役目を持たせている。
38A,38Bの下降に伴ってホルダ9が下降すること
により、マスクガラス8がXYステージ5の台座5A上
に配設されたZ基準ピン44…に載置され、高さ位置が
規制されるようになっている。さらに、ホルダ9が下降
することで、このホルダ9と一体的なベアリングブロッ
ク26…に取付けられたZクランパ34…がマスクガラ
ス8の上面に接触しクランプするようになっている。
ージ5の台座5A上へのマスクガラス8の固定動作につ
いて説明する。大気中においてマスクガラス8がセット
されたホルダ9が、図1に示すロードロックチャンバ1
2を経て描画室4に搬入され、XYステージ5の台座5
A上にセットされる。
座5A上にホルダ9が位置決めされた状態を示す。マス
クガラス8は、ホルダ9の基準ピン30C、30Dに押
付機構32,32で押付け位置決めされた状態で台座5
A上に搬入され、ガイド機構38A、38Bにより支承
された状態となる。
ド移動機構42により、上下移動可能であり、図8、図
9に示す上昇位置がロードロックチャンバ12から搬入
されたホルダ9をガイドする位置となっている。
可能に貫通し、その上端部がガイド機構38A、38B
に連結された支持脚80,80と、これら支持脚80,
80を連結する連結アーム82と、この連結アーム82
が貫通する長孔84を中途部に有し、一端を支軸86を
介して回動可能に支持されたレバー88を有する。
等の図示しない作動機構を介して下方(矢印C方向)に
押下げることにより、ガイド機構38A、38Bを下方
に移動させるようになっている。
定位置まで搬送されると、ガイド機構38A、38Bが
下降し始める。これにより、ホルダ9に保持されたマス
クガラス8の一端面部8aが台座5A上に配設された基
準体52Aと52B、52C又は52Dの上端部のベア
リング74,74の周面に接触し、マスクガラス8は、
ホルダ9の押付機構32,32の押付け力に抗してホル
ダ9の基準ピン30C、30Dから離れるように移動す
る。
A上に配設された基準体52Aと52B、52C又は5
2Dとに接触した状態となる。この時点では、マスクガ
ラス8はホルダ9のベアリング28…上に載っている状
態でありY方向には移動し易い状況となっている。さら
に、ホルダガイド機構38A,38Bが下がるとマスク
ガラス8は台座5A上のZ基準ピン44…の上端面で支
承されベアリング28…から離れた状態となる。
方向についても、ストッパ50,50を構成するそれぞ
れ2つのベアリング48,48の間にホルダ9の突部9
Aが嵌入することで位置決めされる。
移動ステージとしてのXYステージ5上で下降すること
で、この被処理材ホルダとしてのホルダ9に保持されて
いるマスクガラス8が、XYステージ5の上部を構成す
る台座5A上に配設された複数の位置決め部材としての
Z基準ピン44…に直接載置され、位置決めされる。
であるマスクガラス8を載置するためのZ基準ピン44
…を設けることにより、基準面の製作精度は向上する
し、従来のホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くな
る。また、移動ステージ上の基準面は全面でなく接触面
1カ所毎は小さく、全体でも非常に小さくするためゴミ
の載る確率はほとんど無視できる。これにより、XYス
テージ5上でのマスクガラス8の平面度は、XYステー
ジ5上に配設された複数のZ基準ピン44…により常に
一定となり、また、平面度自体も数μmのオーダまで可
能となり、描画等の処理精度が向上し、マスクガラス8
間でのバラつきも非常に小さくなる。
てのZクランパ34…を備え、ホルダ9が下降したとき
被処理材支持手段としてのマスクガラス支持機構46に
より支持されたマスクガラス8の上面を押さえクランプ
する構成としたから、マスクガラス8の反りや捩じれを
矯正でき、マスクガラス8に対する処理精度のより向上
が可能となる。
マスクガラス8の大きさに応じて配設位置が変更可能な
回転体(ベアリング)28からなる構成としたから、種
々の大きさのマスクガラス8に対応できるとともにマス
クガラス8の搬入及び搬出及び位置決め等のXY方向の
移動動作が容易となる。
リング28上に載置されたマスクガラス8の一端面部の
位置を規制するための位置決め部材としての基準ピン3
0C,30D、及び、該基準ピン30C,30Dに前記
一端面が当接するように前記マスクガラス8の他端面側
を押圧する被処理材押圧機構としての押付け機構32,
32を有し、ホルダ9が、XYステージ5上で下降する
ことで、このホルダ9に保持されているマスクガラス8
が基準ピン30C,30Dから外れて押付け機構32,
32の押圧力によりXYステージ5の上部を構成する台
座5A上に設けられた位置決め部材としての2本の基準
体52A、52Bでマスクガラス8の一端面部8aの位
置が規制される。このように、マスクガラス8は、XY
ステージ5上の基準面、すなわち、Z基準ピン44…の
上端面に載置されると同時にXYステージ5上に設けら
れた基準体52A、52BでY方向の位置決めがなさ
れ、ホルダ9…毎のバラつきは考慮しなくてすみ、少な
くともY方向の位置決めが安定して行えるものである。
画装置のXYステージにマスクガラスを固定する場合に
ついて説明したが、これに限るものでなく、例えばマス
ク検査装置等の半導体製造関連装置に適用しても良く、
要は、薄板平面形状物の被処理材を移動ステージ上に固
定するものであればどの様なものに適用してもよいこと
は勿論である。その他、本発明は上記一実施例に限ら
ず、本発明の要旨を変えない範囲で種々変形実施可能な
ことは勿論である。
つぎのような効果を奏する。請求項1記載の被処理材の
固定装置によれば、被処理材ホルダが、移動ステージ上
で下降することで、この被処理材ホルダに保持されてい
る被処理材が、移動ステージ上に配設された複数の位置
決め部材に直接載置され、位置決めされる。このよう
に、移動ステージ上に被処理材を載置するための位置決
め部材を設けることにより、基準面の製作精度は向上す
るし、従来のホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くな
る。また、移動ステージ上の基準面は全面でなく接触面
1カ所毎は小さく、全体でも非常に小さくするためゴミ
の載る確率はほとんど無視できる。これにより、移動ス
テージ上での被処理材の平面度は、移動ステージ上に配
設された複数の位置決め部材により常に一定となり、ま
た、平面度自体も数μmのオーダまで可能となり、描画
等の処理精度が向上し、被処理材間でのバラつきも非常
に小さくなる。
によれば、請求項1記載の効果に加えて、被処理材ホル
ダが、被処理材押え部材を備え、被処理材ホルダが下降
したとき被処理材支持手段により支持された被処理材の
上面を押さえクランプする構成としたから、被処理材の
反りや捩じれを矯正でき、被処理材に対する処理精度の
より向上が可能となる。
によれば、請求項1記載の効果に加えて、被処理材ホル
ダの複数の受け部材が、被処理材の大きさに応じて配設
位置が変更可能な回転体からなる構成としたから、種々
の大きさの被処理材に対応できるとともに被処理材の搬
入及び搬出及び位置決め等のXY方向の移動動作が容易
となる。
によれば、被処理材ホルダが、移動ステージ上で下降す
ることで、この被処理材ホルダに保持されている被処理
材が、移動ステージ上に配設された複数の位置決め部材
に直接載置され、位置決めされる。このように、移動ス
テージ上に被処理材を載置するための位置決め部材を設
けることにより、基準面の製作精度は向上するし、従来
のホルダ毎のバラつきは考慮しなくて良くなる。また、
移動ステージ上の基準面は全面でなく接触面1カ所毎は
小さく、全体でも非常に小さくするためゴミの載る確率
はほとんど無視できる。これにより、移動ステージ上で
の被処理材の平面度は、移動ステージ上に配設された複
数の位置決め部材により常に一定となり、 また、平面
度自体も数μmのオーダまで可能となり、描画等の処理
精度が向上し、被処理材間でのバラつきも非常に小さく
なる。
載置された被処理材の一端面部の位置を規制するための
位置決め部材、及び、該位置決め部材に前記一端面が当
接するように前記被処理材の他端面側を押圧する被処理
材押圧機構を有し、被処理材ホルダが、移動ステージ上
で下降することで、この被処理材ホルダに保持されてい
る被処理材が位置決め部材から外れて被処理材押圧機構
の押圧力により移動ステージ上に設けられた位置決め部
材で被処理材の一端面部の位置が規制される。このよう
に、被処理材は、移動ステージ上の基準面に載置される
と同時に移動ステージ上に設けられた位置決め部材でY
方向の位置決めがなされ、ホルダ毎のバラつきは考慮し
なくてすみ、少なくともY方向の位置決めが安定して行
えるといった効果を奏する。
示す概略図。
図。
上の台座の平面図。
大図。
面図。
面図。
(8A,8B)…マスクガラス(被処理材)、9…ホル
ダ(被処理材ホルダ)、18…マスクガラス固定装置
(被処理材固定装置)、20…ホルダ本体、22A,2
2B,22C,22D,22E…支持用プレート、26
…ベアリングブロック、28…ベアリング(受け部
材)、30A,30B,30C,30D…基準ピン(位
置決め部材)、32…押付け機構(被処理材押圧機
構)、34…Zクランパ(被処理材押え部材)、38
A,38B…ホルダガイド機構、40…ガイドローラ、
42…ガイド移動機構、44…Z基準ピン(位置決め部
材)、46…マスクガラス支持機構(マスクガラス支持
手段)、48…ベアリング、50…位置決めストッパ、
52A,52B,52C,52D…基準体(位置決め部
材)。
Claims (4)
- 【請求項1】薄板平面形状物の被処理材を移動ステージ
上に固定する被処理材の固定装置であって、 前記被処理材の下面を支承する複数の受け部材を有し、
前記被処理材を水平状態かつ下面が部分的に露出する状
態に保持する被処理材ホルダと、 前記移動ステージ上に設けられ前記被処理材ホルダを水
平状態に支持すると共に上下動可能なホルダガイド手段
と、 このホルダガイド手段を下降させることにより前記被処
理材を保持した被処理材ホルダを下降させるガイド移動
手段と、 前記移動ステージ上に設けられ、前記ガイド移動手段に
よるホルダガイド手段の下降動作に伴って下降する被処
理材ホルダに保持された前記被処理材の下面を複数の位
置決め部材で受け、前記被処理材を水平に支持する被処
理材支持手段と、を具備してなることを特徴とする被処
理材の固定装置。 - 【請求項2】被処理材ホルダが、被処理材押え部材を備
え、被処理材ホルダが下降したとき被処理材支持手段に
より支持された被処理材の上面を押さえクランプする構
成としたことを特徴とする請求項1記載の被処理材の固
定装置。 - 【請求項3】被処理材ホルダの複数の受け部材が、被処
理材の大きさに応じて配設位置が変更可能な回転体から
なることを特徴とする請求項1記載の被処理材の固定装
置。 - 【請求項4】薄板平面形状物の被処理材をXY方向に移
動可能な移動ステージ上に固定する被処理材の固定装置
であって、 前記被処理材の下面を支承する複数の受け部材、及び、
該受け部材上に載置された前記被処理材の一端面部の位
置を規制するための位置決め部材、及び、該位置決め部
材に前記一端面が当接するように前記被処理材の他端面
側を押圧する被処理材押圧機構を有し、前記被処理材を
水平状態かつ下面が部分的に露出する状態に保持する被
処理材ホルダと、 前記移動ステージ上に設けられ前記被処理材ホルダを水
平状態に支持すると共に上下動可能なホルダガイド機構
と、 このホルダガイド機構を下降させることにより前記被処
理材を保持した被処理材ホルダを下降させるガイド移動
機構と、 前記移動ステージ上に設けられ前記ガイド移動機構によ
るホルダガイド機構の下降動作に伴って下降する被処理
材ホルダに保持された前記被処理材の下面を複数の位置
決め部材で受け、前記被処理材を水平に支持する被処理
材支持機構と、 前記移動ステージ上に設けられ、前記被処理材支持機構
により支持されて前記被処理材押圧機構により他端面側
が押圧された前記被処理材の一端面部の位置を規制する
位置決め部材と、を具備してなることを特徴とする被処
理材の固定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9078195A JP3708984B2 (ja) | 1995-04-17 | 1995-04-17 | 被処理材の固定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9078195A JP3708984B2 (ja) | 1995-04-17 | 1995-04-17 | 被処理材の固定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08288371A true JPH08288371A (ja) | 1996-11-01 |
| JP3708984B2 JP3708984B2 (ja) | 2005-10-19 |
Family
ID=14008151
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9078195A Expired - Fee Related JP3708984B2 (ja) | 1995-04-17 | 1995-04-17 | 被処理材の固定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3708984B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007184607A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-19 | Au Optronics Corp | 低圧処理装置及び低圧処理装置を分解する方法、基板処理設備 |
| US7307698B2 (en) | 2004-02-18 | 2007-12-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus and device manufacturing method |
| JP2015216162A (ja) * | 2014-05-08 | 2015-12-03 | トヨタ自動車株式会社 | ウエハキャリア |
| CN114420603A (zh) * | 2022-01-14 | 2022-04-29 | 苏州肯美特设备集成有限公司 | 一种用于半导体元件加工成型设备 |
-
1995
- 1995-04-17 JP JP9078195A patent/JP3708984B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7307698B2 (en) | 2004-02-18 | 2007-12-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus and device manufacturing method |
| JP2007184607A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-19 | Au Optronics Corp | 低圧処理装置及び低圧処理装置を分解する方法、基板処理設備 |
| US7958612B2 (en) | 2005-12-28 | 2011-06-14 | Au Optronics Corp. | Low-pressure process apparatus |
| US8458872B2 (en) | 2005-12-28 | 2013-06-11 | Au Optronics Corp. | Low-pressure process apparatus |
| US8950046B2 (en) | 2005-12-28 | 2015-02-10 | Au Optronics Corp. | Low-pressure process apparatus |
| JP2015216162A (ja) * | 2014-05-08 | 2015-12-03 | トヨタ自動車株式会社 | ウエハキャリア |
| US9761470B2 (en) | 2014-05-08 | 2017-09-12 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Wafer carrier |
| CN114420603A (zh) * | 2022-01-14 | 2022-04-29 | 苏州肯美特设备集成有限公司 | 一种用于半导体元件加工成型设备 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3708984B2 (ja) | 2005-10-19 |
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