JPH0829146A - 物品側面撮像装置 - Google Patents
物品側面撮像装置Info
- Publication number
- JPH0829146A JPH0829146A JP16539594A JP16539594A JPH0829146A JP H0829146 A JPH0829146 A JP H0829146A JP 16539594 A JP16539594 A JP 16539594A JP 16539594 A JP16539594 A JP 16539594A JP H0829146 A JPH0829146 A JP H0829146A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target article
- reflecting means
- article
- reflecting
- image pickup
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title abstract description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Input (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、1つの撮像手段によって対象物
品の側面を撮像でき、光学系を固定しておいても、対象
部品の搬送に支障をきたすことがない物品側面撮像装置
を提供することを目的とする。 【構成】 物品側面撮像装置において、対象物品1の側
面から出た光を対象物品1の正面の前方の所定位置に向
かって反射させる第1反射手段11、第1反射手段11
によって反射された光を対象物品1の正面の前方方向に
反射させる第2反射手段21、および第2反射手段21
によって反射された光を受光することによって対象物品
1の側面像を撮像する撮像手段50を備えている。
品の側面を撮像でき、光学系を固定しておいても、対象
部品の搬送に支障をきたすことがない物品側面撮像装置
を提供することを目的とする。 【構成】 物品側面撮像装置において、対象物品1の側
面から出た光を対象物品1の正面の前方の所定位置に向
かって反射させる第1反射手段11、第1反射手段11
によって反射された光を対象物品1の正面の前方方向に
反射させる第2反射手段21、および第2反射手段21
によって反射された光を受光することによって対象物品
1の側面像を撮像する撮像手段50を備えている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、物品側面撮像装置に
関し、たとえば、電子部品の表面検査を行うために電子
部品の側面を撮像する物品側面撮像装置に関する。
関し、たとえば、電子部品の表面検査を行うために電子
部品の側面を撮像する物品側面撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】電子部品の搬送ラインによって撮像位置
まで搬送されてきた矩形電子部品の側面を1台の撮像手
段によって撮像する装置が既に開発されている。この種
の装置として、特開平5−87744号公報に記載され
ているものがある。
まで搬送されてきた矩形電子部品の側面を1台の撮像手
段によって撮像する装置が既に開発されている。この種
の装置として、特開平5−87744号公報に記載され
ているものがある。
【0003】すなわち、搬送ライン上の撮像位置に、横
断面が直角二等辺三角形の無端状プリズムが昇降自在に
配置されている。そして、矩形電子部品が撮像位置で停
止すると、無端状プリズムが下降して電子物品の周囲で
あって電子部品の真横位置に位置させられる。この状態
においては、無端状プリズムにおける横断面形状の斜辺
に相当する面によって、電子物品の側面から出た光が電
子物品の正面側に反射される。無端状プリズムによって
電子物品の正面側に反射された光が撮像手段に受光され
る。これにより、電子物品の側面像が撮像手段によって
撮像される。
断面が直角二等辺三角形の無端状プリズムが昇降自在に
配置されている。そして、矩形電子部品が撮像位置で停
止すると、無端状プリズムが下降して電子物品の周囲で
あって電子部品の真横位置に位置させられる。この状態
においては、無端状プリズムにおける横断面形状の斜辺
に相当する面によって、電子物品の側面から出た光が電
子物品の正面側に反射される。無端状プリズムによって
電子物品の正面側に反射された光が撮像手段に受光され
る。これにより、電子物品の側面像が撮像手段によって
撮像される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来装置では、
電子部品の側面を撮像するためには、無端状プリズムを
対象物品の周囲であって対象部品の真横位置に配置する
必要がある。しかしながら、無端状プリズムを対象物品
の周囲であって対象部品の真横位置に固定しておくと、
電子部品の搬送に支障をきたすので、常時は、無端状プ
リズムを搬送ラインの上方位置に待機させておき、撮像
位置に電子部品が停止さしたときに無端状プリズムを下
降させなければならない。
電子部品の側面を撮像するためには、無端状プリズムを
対象物品の周囲であって対象部品の真横位置に配置する
必要がある。しかしながら、無端状プリズムを対象物品
の周囲であって対象部品の真横位置に固定しておくと、
電子部品の搬送に支障をきたすので、常時は、無端状プ
リズムを搬送ラインの上方位置に待機させておき、撮像
位置に電子部品が停止さしたときに無端状プリズムを下
降させなければならない。
【0005】この発明は、1つの撮像手段によって対象
物品の側面を撮像でき、光学系を固定しておいても、対
象部品の搬送に支障をきたすことがない物品側面撮像装
置を提供することを目的とする。
物品の側面を撮像でき、光学系を固定しておいても、対
象部品の搬送に支障をきたすことがない物品側面撮像装
置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明による第1の物
品側面撮像装置は、対象物品の側面から出た光を対象物
品の正面の前方の所定位置に向かって反射させる第1反
射手段、第1反射手段によって反射された光を対象物品
の正面の前方方向に反射させる第2反射手段、および第
2反射手段によって反射された光を受光することによっ
て対象物品の側面像を撮像する撮像手段を備えているこ
とを特徴とする。
品側面撮像装置は、対象物品の側面から出た光を対象物
品の正面の前方の所定位置に向かって反射させる第1反
射手段、第1反射手段によって反射された光を対象物品
の正面の前方方向に反射させる第2反射手段、および第
2反射手段によって反射された光を受光することによっ
て対象物品の側面像を撮像する撮像手段を備えているこ
とを特徴とする。
【0007】第1反射手段は、対象物品の周囲であって
対象物品の真横位置より前方に配置される。また、第2
反射手段は対象物品の正面の前方位置に配置される。対
象物品が正面から見て矩形でありる場合には、たとえ
ば、第1反射手段としては矩形枠の内向面に相当する反
射面を有するものが用いられ、第2反射手段としては四
角錐の4側面の外表面に相当する反射面を有するものが
用いられる。
対象物品の真横位置より前方に配置される。また、第2
反射手段は対象物品の正面の前方位置に配置される。対
象物品が正面から見て矩形でありる場合には、たとえ
ば、第1反射手段としては矩形枠の内向面に相当する反
射面を有するものが用いられ、第2反射手段としては四
角錐の4側面の外表面に相当する反射面を有するものが
用いられる。
【0008】この発明による第2の物品側面撮像装置
は、対象物品の側面から出た光を対象物品の正面の前方
の所定位置に向かって反射させる第1反射手段、第1反
射手段によって反射された光を対象物品の正面の前方方
向に反射させる第2反射手段、第2反射手段によって反
射された光および対象物品の正面から出た光を受光する
ことによって、対象物品の側面像および正面像を同時に
撮像する単一の撮像手段、ならびに対象物品の正面から
出た光が撮像手段に入射するまでの光路上に配されかつ
対象物品の正面像に対するピントを対象物品の側面像に
対するピントに合致させるための光学系レンズを備えて
いることを特徴とする。
は、対象物品の側面から出た光を対象物品の正面の前方
の所定位置に向かって反射させる第1反射手段、第1反
射手段によって反射された光を対象物品の正面の前方方
向に反射させる第2反射手段、第2反射手段によって反
射された光および対象物品の正面から出た光を受光する
ことによって、対象物品の側面像および正面像を同時に
撮像する単一の撮像手段、ならびに対象物品の正面から
出た光が撮像手段に入射するまでの光路上に配されかつ
対象物品の正面像に対するピントを対象物品の側面像に
対するピントに合致させるための光学系レンズを備えて
いることを特徴とする。
【0009】第1反射手段は、対象物品の周囲であって
対象物品の真横位置より前方に配置される。また、第2
反射手段は対象物品の正面の前方位置に配置される。光
学系レンズは第2反射手段の前方に配置される。光学系
レンズとしては、対象物品の正面に対して後方位置に対
象物品の正面の虚像を生成するものが用いられる。対象
物品が正面から見て矩形である場合には、第1反射手段
としては矩形枠の内向面に相当する反射面を有するもの
が用いられ、第2反射手段としては四角錐台の4側面の
外表面に相当する反射面を有するものが用いられる。
対象物品の真横位置より前方に配置される。また、第2
反射手段は対象物品の正面の前方位置に配置される。光
学系レンズは第2反射手段の前方に配置される。光学系
レンズとしては、対象物品の正面に対して後方位置に対
象物品の正面の虚像を生成するものが用いられる。対象
物品が正面から見て矩形である場合には、第1反射手段
としては矩形枠の内向面に相当する反射面を有するもの
が用いられ、第2反射手段としては四角錐台の4側面の
外表面に相当する反射面を有するものが用いられる。
【0010】
【作用】この発明による第1の物品側面撮像装置では、
対象物品の側面から出た光は、第1反射手段によって対
象物品の正面の前方の所定位置に向かって反射される。
第1反射手段によって反射された光は、第2反射手段よ
って対象物品の正面の前方方向に反射される。第2反射
手段によって反射された光は、撮像手段に受光される。
これにより、対象物品の側面像が撮像手段によって撮像
される。
対象物品の側面から出た光は、第1反射手段によって対
象物品の正面の前方の所定位置に向かって反射される。
第1反射手段によって反射された光は、第2反射手段よ
って対象物品の正面の前方方向に反射される。第2反射
手段によって反射された光は、撮像手段に受光される。
これにより、対象物品の側面像が撮像手段によって撮像
される。
【0011】この発明による第2の物品側面撮像装置で
は、対象物品の側面から出た光は、第1反射手段によっ
て対象物品の正面の前方の所定位置に向かって反射され
る。第1反射手段によって反射された光は、第2反射手
段よって対象物品の正面の前方方向に反射される。第2
反射手段によって反射された光は、撮像手段によって受
光される。また、対象物品の正面から出た光は、光学系
レンズを介して撮像手段に受光される。したがって、対
象物品の側面像および正面像が撮像手段によって同時に
撮像される。上記光学系レンズは、対象物品の正面像に
対するピントを対象物品の側面像に対するピントに合致
させるために設けられている。
は、対象物品の側面から出た光は、第1反射手段によっ
て対象物品の正面の前方の所定位置に向かって反射され
る。第1反射手段によって反射された光は、第2反射手
段よって対象物品の正面の前方方向に反射される。第2
反射手段によって反射された光は、撮像手段によって受
光される。また、対象物品の正面から出た光は、光学系
レンズを介して撮像手段に受光される。したがって、対
象物品の側面像および正面像が撮像手段によって同時に
撮像される。上記光学系レンズは、対象物品の正面像に
対するピントを対象物品の側面像に対するピントに合致
させるために設けられている。
【0012】
【実施例】図1および図2は、この発明の第1実施例を
示している。
示している。
【0013】図1は物品側面撮像装置の垂直断面図であ
り、図2は物品側面撮像装置の主要部の平面図である。
り、図2は物品側面撮像装置の主要部の平面図である。
【0014】対象物品1はコンベア等の搬送ライン2上
に配置されている。対象物品1は、この例ではトランジ
スタであり、平面から見て正方形である。対象物品1は
上面(正面)と下面(背面)と4つの側面とを有してい
る。
に配置されている。対象物品1は、この例ではトランジ
スタであり、平面から見て正方形である。対象物品1は
上面(正面)と下面(背面)と4つの側面とを有してい
る。
【0015】搬送ライン2の対象物品撮像位置の上方位
置であって対象物品1の上面より高い位置に、平面から
みて正方形の枠体10が配置されている。枠体10は、
その中心が撮像位置にある対象物品1の中心の真上に位
置するように、かつ枠体10の4つの内向面が対象物品
1の4つの側面とそれぞれ平行となるように配置されて
いる。
置であって対象物品1の上面より高い位置に、平面から
みて正方形の枠体10が配置されている。枠体10は、
その中心が撮像位置にある対象物品1の中心の真上に位
置するように、かつ枠体10の4つの内向面が対象物品
1の4つの側面とそれぞれ平行となるように配置されて
いる。
【0016】また、撮像位置にある対象物品1の真上位
置には、四角錐体20が配置されている。四角錐体20
は、その底面の4辺が枠体10の4つの内向面とそれぞ
れ平行となるように配置されている。四角錐体20は、
下方が閉鎖された円筒状の保持体30内に固定されてい
る。保持体30は光を透過する透明体でつくられてい
る。
置には、四角錐体20が配置されている。四角錐体20
は、その底面の4辺が枠体10の4つの内向面とそれぞ
れ平行となるように配置されている。四角錐体20は、
下方が閉鎖された円筒状の保持体30内に固定されてい
る。保持体30は光を透過する透明体でつくられてい
る。
【0017】保持体30は、搬送ライン2に対して保持
体30の高さ位置が調整できるように、搬送ライン2上
に配置された円筒状の支持体40に昇降自在に支持され
ている。また、支持体40の真上位置には、四角錐体2
0を撮像しうる姿勢でビデオカメラ等の撮像手段50が
配置されている。
体30の高さ位置が調整できるように、搬送ライン2上
に配置された円筒状の支持体40に昇降自在に支持され
ている。また、支持体40の真上位置には、四角錐体2
0を撮像しうる姿勢でビデオカメラ等の撮像手段50が
配置されている。
【0018】枠体10の内向面には、対象物品1の4側
面から出た光を四角錐体20の対向する4側面に向かっ
て反射させる第1反射手段11が設けられている。第1
反射手段11としては、たとえば、平面鏡が用いられ
る。
面から出た光を四角錐体20の対向する4側面に向かっ
て反射させる第1反射手段11が設けられている。第1
反射手段11としては、たとえば、平面鏡が用いられ
る。
【0019】四角錐体20の各側面の外表面には、第1
反射手段11によって反射された光を上方に反射させて
撮像手段50に入射させる第2反射手段21が設けられ
ている。第2反射手段21は、たとえば、四角錐体20
の4側面にアルミニウム等の金属を蒸着することによっ
て形成される。このような場合、四角錐体20として
は、たとえばプリズムが用いられる。四角錐体20とし
て、中空でかつ底面のない四角錐体を用いてもよい。
反射手段11によって反射された光を上方に反射させて
撮像手段50に入射させる第2反射手段21が設けられ
ている。第2反射手段21は、たとえば、四角錐体20
の4側面にアルミニウム等の金属を蒸着することによっ
て形成される。このような場合、四角錐体20として
は、たとえばプリズムが用いられる。四角錐体20とし
て、中空でかつ底面のない四角錐体を用いてもよい。
【0020】以上のような構成において、搬送ライン2
上の撮像位置に対象物品1がくると、対象物品1の側面
から出た光は、第1反射手段11によって反射されて四
角錐体20の4側面に形成された第2反射手段21に入
射される。第2反射手段21に入射した光は、第2反射
手段21によって上方に反射されて撮像手段50に受光
される。
上の撮像位置に対象物品1がくると、対象物品1の側面
から出た光は、第1反射手段11によって反射されて四
角錐体20の4側面に形成された第2反射手段21に入
射される。第2反射手段21に入射した光は、第2反射
手段21によって上方に反射されて撮像手段50に受光
される。
【0021】したがって、図2に示すように、四角錐体
20の4側面上の第2反射手段21にそれぞれ写しださ
れた対象物品1の側面像Qが、撮像手段50によって撮
像される。図2の鎖線60は、撮像手段50の撮像領域
を示している。
20の4側面上の第2反射手段21にそれぞれ写しださ
れた対象物品1の側面像Qが、撮像手段50によって撮
像される。図2の鎖線60は、撮像手段50の撮像領域
を示している。
【0022】搬送ライン2に送られる対象物品の大きさ
が変化したときには、第2反射手段21上に写しだされ
る対象物品の側面像の位置およびピントを次のようにし
て調整すればよい。
が変化したときには、第2反射手段21上に写しだされ
る対象物品の側面像の位置およびピントを次のようにし
て調整すればよい。
【0023】保持体30を支持体40に対して昇降させ
ると、図3に矢印で示すように、第2反射手段21に写
だされる対象物品の側面像(撮影画像)Qは四角錐体2
0の側面の頂点に向かう方向またはその反対方向に移動
する。したがって、対象物品の各側面像Qの全体が、四
角錐体20の対応する側面上の第2反射手段21に写だ
される範囲で、側面像Qが四角錐体20の頂点にできる
だけ近くなるように、保持体30の高さ位置を調整す
る。側面像Qが四角錐体20の頂点にできるだけ近くな
るようにするのは、側面像Qが四角錐体20の頂点に近
くなるほど、側面像Qが大きくなるからである。また、
撮像領域が全側面像Qを含む最少の範囲となるように、
撮像手段50のレンズを交換して、ピントを調節する。
ると、図3に矢印で示すように、第2反射手段21に写
だされる対象物品の側面像(撮影画像)Qは四角錐体2
0の側面の頂点に向かう方向またはその反対方向に移動
する。したがって、対象物品の各側面像Qの全体が、四
角錐体20の対応する側面上の第2反射手段21に写だ
される範囲で、側面像Qが四角錐体20の頂点にできる
だけ近くなるように、保持体30の高さ位置を調整す
る。側面像Qが四角錐体20の頂点にできるだけ近くな
るようにするのは、側面像Qが四角錐体20の頂点に近
くなるほど、側面像Qが大きくなるからである。また、
撮像領域が全側面像Qを含む最少の範囲となるように、
撮像手段50のレンズを交換して、ピントを調節する。
【0024】図4を参照して、対象部品1の1側面の幅
Aを1mmとし、対象物品の側面から出た光を第2反射
手段21に導くための第1反射手段11への光の入射角
αを10°とする。この場合の第1反射手段11の対向
する面の間隔B、四角錐体20の高さCおよび四角錐体
20の側面の頂角βの1例を以下に示す。
Aを1mmとし、対象物品の側面から出た光を第2反射
手段21に導くための第1反射手段11への光の入射角
αを10°とする。この場合の第1反射手段11の対向
する面の間隔B、四角錐体20の高さCおよび四角錐体
20の側面の頂角βの1例を以下に示す。
【0025】 第1反射手段11の対向する面の間隔B:100mm 四角錐体20の高さC:10mm 四角錐体20の側面の頂角α:80°
【0026】上記のようにして、撮像手段50によって
撮像された画像は、たとえば、対象部品1の側面の表面
検査に用いられる。図5は、対象部品1の側面の表面検
査方法の一例を示している。
撮像された画像は、たとえば、対象部品1の側面の表面
検査に用いられる。図5は、対象部品1の側面の表面検
査方法の一例を示している。
【0027】図5の(a)は、撮像手段によって撮像さ
れた画像を示している。対象部品1の4つの側面画像の
領域を抽出するために、撮像手段によって得られた画像
データに対して、テンプレートマッチング法等によっ
て、対象部品1の4つの側面画像のコーナーを検出する
(図5(b))。次に、対象部品1の4つの側面画像の
領域をそれぞれ抽出して、各領域ごとに2値化処理を施
す(図5(c))。次に、ノイズを除去した後(図5
(d))、各領域に対する2値化データに基づいて、傷
の有無を判定する。
れた画像を示している。対象部品1の4つの側面画像の
領域を抽出するために、撮像手段によって得られた画像
データに対して、テンプレートマッチング法等によっ
て、対象部品1の4つの側面画像のコーナーを検出する
(図5(b))。次に、対象部品1の4つの側面画像の
領域をそれぞれ抽出して、各領域ごとに2値化処理を施
す(図5(c))。次に、ノイズを除去した後(図5
(d))、各領域に対する2値化データに基づいて、傷
の有無を判定する。
【0028】図6および図7は、この発明の第2実施例
を示している。図6において、図1と同じものには同じ
符号を付してその説明を省略する。
を示している。図6において、図1と同じものには同じ
符号を付してその説明を省略する。
【0029】第2実施例は、1台の撮像手段50によっ
て、対象物品1の側面および上面(正面)を同時に撮像
するものである。第2実施例では、第1実施例の四角錐
体20の代わりに、四角錐台体200が用いられてい
る。この四角錐台体200の4側面の外表面に第2反射
手段201が形成されている。第2反射手段201は、
たとえば、四角錐台体200の4側面にアルミニウム等
の金属を蒸着することによって形成される。このような
場合、四角錐体200としては、たとえばプリズムが用
いられる。四角錐台体200として、中空でかつ上面お
よび底面のない四角錐台体200を用いてもよい。
て、対象物品1の側面および上面(正面)を同時に撮像
するものである。第2実施例では、第1実施例の四角錐
体20の代わりに、四角錐台体200が用いられてい
る。この四角錐台体200の4側面の外表面に第2反射
手段201が形成されている。第2反射手段201は、
たとえば、四角錐台体200の4側面にアルミニウム等
の金属を蒸着することによって形成される。このような
場合、四角錐体200としては、たとえばプリズムが用
いられる。四角錐台体200として、中空でかつ上面お
よび底面のない四角錐台体200を用いてもよい。
【0030】また、この第2実施例では、保持体30内
において、四角錐台体200の真上位置に、対象物品1
の上面像に対するピントを対象物品1の側面像に対する
ピントに合致させるための凸レンズ70が配置されてい
る。この凸レンズ70は、図示しない昇降機構によっ
て、保持体30に昇降自在に支持されている。
において、四角錐台体200の真上位置に、対象物品1
の上面像に対するピントを対象物品1の側面像に対する
ピントに合致させるための凸レンズ70が配置されてい
る。この凸レンズ70は、図示しない昇降機構によっ
て、保持体30に昇降自在に支持されている。
【0031】図8は、対象物体1の上面から出た光およ
び対象物体1の側面から出た光が撮像手段50に受光さ
れるまでの光路を示している。図8において、51は撮
像手段50の集光レンズであり、52は撮像手段50の
受光面を示している。
び対象物体1の側面から出た光が撮像手段50に受光さ
れるまでの光路を示している。図8において、51は撮
像手段50の集光レンズであり、52は撮像手段50の
受光面を示している。
【0032】第2実施例では、対象物品1の側面から出
た光は、第1反射手段11によって反射されて四角錐台
体200の4側面に形成された第2反射手段201に入
射する。第2反射手段201に入射した光は、第2反射
手段201によって上方に反射されて撮像手段50に受
光される。したがって、図7に示すように、四角錐体2
01の4側面上の第2反射手段201に写しだされた対
象物品1の側面像Qが撮像手段50によって撮像され
る。
た光は、第1反射手段11によって反射されて四角錐台
体200の4側面に形成された第2反射手段201に入
射する。第2反射手段201に入射した光は、第2反射
手段201によって上方に反射されて撮像手段50に受
光される。したがって、図7に示すように、四角錐体2
01の4側面上の第2反射手段201に写しだされた対
象物品1の側面像Qが撮像手段50によって撮像され
る。
【0033】対象物体1の上面から出た光は、凸レンズ
70を介して撮像手段50に受光される。したがって、
対象物体1の上面像も撮像手段50によって撮像され
る。
70を介して撮像手段50に受光される。したがって、
対象物体1の上面像も撮像手段50によって撮像され
る。
【0034】凸レンズ70は、対象物品1の上面像に対
するピントを対象物品1の側面像に対するピントに合致
させるために設けられている。つまり、凸レンズ70を
設けない場合には、対象物品1の側面から出た光が撮像
手段50に受光されるまでの光路長に対して、対象物品
1の上面から出た光が撮像手段50に受光されるまで光
路長が短くなり、側面像と上面像とのピントが合致しな
くなる。そこで、凸レンズ70によって対象物品1の上
面より下方の位置に対象物品1の上面の虚像を結像させ
ることによって、対象物品1の上面の虚像位置からの撮
像手段50までの光路長を、対象物品1の側面位置から
撮像手段50までの光路長に等しくしている。
するピントを対象物品1の側面像に対するピントに合致
させるために設けられている。つまり、凸レンズ70を
設けない場合には、対象物品1の側面から出た光が撮像
手段50に受光されるまでの光路長に対して、対象物品
1の上面から出た光が撮像手段50に受光されるまで光
路長が短くなり、側面像と上面像とのピントが合致しな
くなる。そこで、凸レンズ70によって対象物品1の上
面より下方の位置に対象物品1の上面の虚像を結像させ
ることによって、対象物品1の上面の虚像位置からの撮
像手段50までの光路長を、対象物品1の側面位置から
撮像手段50までの光路長に等しくしている。
【0035】図9(a)は対象物品1の側面から出た光
が撮像手段50に受光されるまでの光路を示し、図9
(b)は対象物品1の上面の虚像位置から出た光が撮像
手段50に受光されるまで光路を示している。図9にお
いて、51は撮像手段50の集光レンズを示している。
図9(b)において、点Fは凸レンズの焦点を示し、点
P1は対象物品1の実際の上面位置を示し、点P2は対
象物品1の上面の虚像位置を示している。
が撮像手段50に受光されるまでの光路を示し、図9
(b)は対象物品1の上面の虚像位置から出た光が撮像
手段50に受光されるまで光路を示している。図9にお
いて、51は撮像手段50の集光レンズを示している。
図9(b)において、点Fは凸レンズの焦点を示し、点
P1は対象物品1の実際の上面位置を示し、点P2は対
象物品1の上面の虚像位置を示している。
【0036】搬送ライン2に送られる対象物品の大きさ
が変化したときには、第2反射手段201上に写だされ
る対象物品の側面像の位置およびピントを、第1実施例
と同様に調整する。また、凸レンズ70の保持体30に
対する高さ位置を調整することによって、対象物品1の
上面像に対するピントを、対象物品1の側面像に対する
ピントに合わせればよい。
が変化したときには、第2反射手段201上に写だされ
る対象物品の側面像の位置およびピントを、第1実施例
と同様に調整する。また、凸レンズ70の保持体30に
対する高さ位置を調整することによって、対象物品1の
上面像に対するピントを、対象物品1の側面像に対する
ピントに合わせればよい。
【0037】上記第1実施例または第2実施例によれ
ば、対象物品の側面を1台の撮像手段によって撮像でき
る。また、撮像時においても、搬送ラインによる対象物
品の搬送に支障をきたすことのない位置に、第1および
第2反射手段を配置させることができるので、従来例の
ように対象物体が撮像位置にくる度に、反射手段を昇降
させる必要がない。上記第2実施例によれば、さらに、
1台の撮像手段によって対象物品の上面と側面とを同時
に撮像できるという利点がある。
ば、対象物品の側面を1台の撮像手段によって撮像でき
る。また、撮像時においても、搬送ラインによる対象物
品の搬送に支障をきたすことのない位置に、第1および
第2反射手段を配置させることができるので、従来例の
ように対象物体が撮像位置にくる度に、反射手段を昇降
させる必要がない。上記第2実施例によれば、さらに、
1台の撮像手段によって対象物品の上面と側面とを同時
に撮像できるという利点がある。
【0038】上記実施例では、対象部品として平面から
みて正方形のものが用いられているが、平面からみて正
方形以外の対象部品に対してもこの発明を適用すること
ができる。対象物品の形状が、たとえば、平面(正面)
からみて円形である場合には、第1反射手段としては円
形枠の内向面に相当する反射面を有するものが用いら
れ、第2反射手段としては円錐の側面の外表面に相当す
る反射面を有するものが用いられる。また、対象物品の
形状が、たとえば、平面からみて三角形である場合に
は、第1反射手段としては平面から見て3角形の枠の内
向面に相当する反射面を有するものが用いられ、第2反
射手段として三角錐の側面の外表面に相当する反射面を
有するものが用いられる。
みて正方形のものが用いられているが、平面からみて正
方形以外の対象部品に対してもこの発明を適用すること
ができる。対象物品の形状が、たとえば、平面(正面)
からみて円形である場合には、第1反射手段としては円
形枠の内向面に相当する反射面を有するものが用いら
れ、第2反射手段としては円錐の側面の外表面に相当す
る反射面を有するものが用いられる。また、対象物品の
形状が、たとえば、平面からみて三角形である場合に
は、第1反射手段としては平面から見て3角形の枠の内
向面に相当する反射面を有するものが用いられ、第2反
射手段として三角錐の側面の外表面に相当する反射面を
有するものが用いられる。
【0039】
【発明の効果】この発明によれば、1つの撮像手段によ
って対象物品の側面を撮像でき、光学系を固定しておい
ても、対象部品の搬送に支障をきたすことがない物品側
面撮像装置が得られる。
って対象物品の側面を撮像でき、光学系を固定しておい
ても、対象部品の搬送に支障をきたすことがない物品側
面撮像装置が得られる。
【図1】この発明の第1実施例である物品側面撮像装置
の構成を示す垂直断面図である。
の構成を示す垂直断面図である。
【図2】図1の物品側面撮像装置の主要部を示す平面図
である。
である。
【図3】四角錐体の高さ位置を変化させることにより、
第2反射手段に写しだされる対象物品の側面像の位置が
変化することを示す図である。
第2反射手段に写しだされる対象物品の側面像の位置が
変化することを示す図である。
【図4】第1反射体および四角錐体のサイズ等の具体例
を説明するための構成図である。
を説明するための構成図である。
【図5】撮影された対象物品の側面画像に基づいて、対
象物品の側面の表面検査を行う方法を説明するための説
明図である。
象物品の側面の表面検査を行う方法を説明するための説
明図である。
【図6】この発明の第2実施例である物品側面撮像装置
の構成を示す垂直断面図である。
の構成を示す垂直断面図である。
【図7】図6の物品側面撮像装置の主要部を示す平面図
である。
である。
【図8】対象物品の側面および上面から出た光が撮像手
段に受光されるまでの光路を示す模式図である。
段に受光されるまでの光路を示す模式図である。
【図9】対象物品の側面から出た光が撮像手段に受光さ
れるまでの光路と、対象物品の上面の虚像位置から出た
光が撮像手段に受光されるまでの光路とを示す模式図で
ある。
れるまでの光路と、対象物品の上面の虚像位置から出た
光が撮像手段に受光されるまでの光路とを示す模式図で
ある。
1 対象物品 2 搬送ライン 10 枠体 11 第1反射手段 20 四角錐体 21 第2反射手段 30 保持体 40 支持体 50 撮像手段 70 凸レンズ 200 四角錐台体 201 第2反射手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 7/18 B (72)発明者 奥田 泰生 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 安富 文夫 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内
Claims (7)
- 【請求項1】 対象物品の側面から出た光を対象物品の
正面の前方の所定位置に向かって反射させる第1反射手
段、 第1反射手段によって反射された光を対象物品の正面の
前方方向に反射させる第2反射手段、および第2反射手
段によって反射された光を受光することによって対象物
品の側面像を撮像する撮像手段、 を備えている物品側面撮像装置。 - 【請求項2】 第1反射手段が対象物品の周囲であって
対象物品の真横位置より前方に配置されており、第2反
射手段が対象物品の正面の前方位置に配置されている請
求項1に記載の物品側面撮像装置。 - 【請求項3】 対象物品が正面から見て矩形であり、第
1反射手段が矩形枠の内向面に相当する反射面を有する
ものであり、第2反射手段が四角錐の4側面の外表面に
相当する反射面を有するものである請求項2に記載の物
品側面撮像装置。 - 【請求項4】 対象物品の側面から出た光を対象物品の
正面の前方の所定位置に向かって反射させる第1反射手
段、 第1反射手段によって反射された光を対象物品の正面の
前方方向に反射させる第2反射手段、 第2反射手段によって反射された光および対象物品の正
面から出た光を受光することによって、対象物品の側面
像および正面像を同時に撮像する単一の撮像手段、なら
びに対象物品の正面から出た光が撮像手段に入射するま
での光路上に配されかつ対象物品の正面像に対するピン
トを、対象物品の側面像に対するピントに合致させるた
めの光学系レンズを備えている物品側面撮像装置。 - 【請求項5】 第1反射手段が対象物品の周囲であって
対象物品の真横位置より前方に配置されており、第2反
射手段が対象物品の正面の前方位置に配置されており、
光学系レンズが第2反射手段の前方に配置されている請
求項4に記載の物品側面撮像装置。 - 【請求項6】 対象物品が正面から見て矩形であり、第
1反射手段が矩形枠の内向面に相当する反射面を有する
ものであり、第2反射手段が四角錐台の4側面の外表面
に相当する反射面を有するものである請求項5に記載の
物品側面撮像装置。 - 【請求項7】 光学系レンズは、対象物品の正面に対し
て後方位置に対象物品の正面の虚像を生成するものであ
る請求項4、5および6のうちのいずれかに記載の物品
側面撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16539594A JP2999925B2 (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 物品側面撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16539594A JP2999925B2 (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 物品側面撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829146A true JPH0829146A (ja) | 1996-02-02 |
| JP2999925B2 JP2999925B2 (ja) | 2000-01-17 |
Family
ID=15811593
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16539594A Expired - Fee Related JP2999925B2 (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 物品側面撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2999925B2 (ja) |
Cited By (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998012502A1 (fr) * | 1996-09-17 | 1998-03-26 | Komatsu Ltd. | Dispositif imageur d'objet a controler et dispositif de controle de boitiers de semi-conducteurs |
| US5905595A (en) * | 1996-01-23 | 1999-05-18 | Tsubakimoto Chain Co. | Surface inspection method, surface inspection apparatus, and prism |
| JP2002310629A (ja) * | 2001-04-13 | 2002-10-23 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 周面撮像装置及び周面検査装置 |
| WO2004046643A1 (ja) * | 2002-11-21 | 2004-06-03 | Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. | 電子回路部品像取得装置および方法 |
| JP2005241488A (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-08 | Sankyo:Kk | 直視面と非直視面とを同時に撮影する撮像装置並びにこれを適用した錠剤検査用撮像システム |
| JP2006064975A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Olympus Corp | 顕微鏡および薄板エッジ検査装置 |
| JP2006071453A (ja) * | 2004-09-02 | 2006-03-16 | Mega Trade:Kk | 表面検査装置 |
| JP2006133078A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Olympus Corp | 多方向観察装置 |
| WO2006059647A1 (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-08 | Shibaura Mechatronics Corporation | 表面検査装置及び表面検査方法 |
| JP2007147433A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Nano Scope Ltd | セラミック板の欠陥検出方法と装置 |
| EP1790975A3 (en) * | 2005-11-25 | 2007-07-11 | Viewtech S.R.L. | A device for welding check of welded trays and relative procedure |
| JP2008107420A (ja) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Sumita Optical Glass Inc | プリズムおよび形態異常検出装置 |
| JP2009180505A (ja) * | 2008-01-29 | 2009-08-13 | Yutaka:Kk | ワークの外周検査装置 |
| JPWO2008059572A1 (ja) | 2006-11-16 | 2010-02-25 | 株式会社島津製作所 | 生体画像取得装置 |
| JP2010122167A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Daiichi Jyushi Industrial Co Ltd | 表面検査方法とこれを利用した表面欠陥探知装置 |
| WO2012039298A1 (ja) * | 2010-09-21 | 2012-03-29 | 東レ株式会社 | 糸状製品の検査装置および検査方法 |
| CN107065426A (zh) * | 2017-03-09 | 2017-08-18 | 龙岩学院 | 立体图形采集装置及方法 |
| CN107300737A (zh) * | 2017-08-24 | 2017-10-27 | 信利光电股份有限公司 | 一种多方位导光元件 |
| CN107483784A (zh) * | 2017-08-24 | 2017-12-15 | 信利光电股份有限公司 | 一种摄像头装置及电子设备 |
| CN111965192A (zh) * | 2020-09-18 | 2020-11-20 | 桂林电子科技大学 | 一种多面成像的视觉检测系统及检测方法 |
| KR20220135354A (ko) * | 2021-03-30 | 2022-10-07 | 주식회사 뷰온 | 표면 광학 검사 장치 |
| CN118732219A (zh) * | 2024-09-04 | 2024-10-01 | 甄觉科技(上海)有限公司 | 一种可调节反射式全景成像装置及其调节方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102296317B1 (ko) * | 2015-03-19 | 2021-09-02 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널 검사 장치 및 표시 패널 검사 방법 |
-
1994
- 1994-07-18 JP JP16539594A patent/JP2999925B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5905595A (en) * | 1996-01-23 | 1999-05-18 | Tsubakimoto Chain Co. | Surface inspection method, surface inspection apparatus, and prism |
| WO1998012502A1 (fr) * | 1996-09-17 | 1998-03-26 | Komatsu Ltd. | Dispositif imageur d'objet a controler et dispositif de controle de boitiers de semi-conducteurs |
| US6307210B1 (en) | 1996-09-17 | 2001-10-23 | Cognex Technology And Investment Corporation | Device for imaging object to be inspected and device for inspecting semiconductor package |
| JP2002310629A (ja) * | 2001-04-13 | 2002-10-23 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 周面撮像装置及び周面検査装置 |
| WO2004046643A1 (ja) * | 2002-11-21 | 2004-06-03 | Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. | 電子回路部品像取得装置および方法 |
| JP2005241488A (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-08 | Sankyo:Kk | 直視面と非直視面とを同時に撮影する撮像装置並びにこれを適用した錠剤検査用撮像システム |
| JP2006064975A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Olympus Corp | 顕微鏡および薄板エッジ検査装置 |
| JP2006071453A (ja) * | 2004-09-02 | 2006-03-16 | Mega Trade:Kk | 表面検査装置 |
| JP2006133078A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Olympus Corp | 多方向観察装置 |
| WO2006059647A1 (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-08 | Shibaura Mechatronics Corporation | 表面検査装置及び表面検査方法 |
| JP4990630B2 (ja) * | 2004-11-30 | 2012-08-01 | コバレントマテリアル株式会社 | 表面検査装置及び表面検査方法 |
| JPWO2006059647A1 (ja) * | 2004-11-30 | 2008-06-05 | コバレントマテリアル株式会社 | 表面検査装置及び表面検査方法 |
| US7403278B2 (en) | 2004-11-30 | 2008-07-22 | Shibaura Mechatronics Corporation | Surface inspection apparatus and surface inspection method |
| EP1790975A3 (en) * | 2005-11-25 | 2007-07-11 | Viewtech S.R.L. | A device for welding check of welded trays and relative procedure |
| JP2007147433A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Nano Scope Ltd | セラミック板の欠陥検出方法と装置 |
| JP2008107420A (ja) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Sumita Optical Glass Inc | プリズムおよび形態異常検出装置 |
| JPWO2008059572A1 (ja) | 2006-11-16 | 2010-02-25 | 株式会社島津製作所 | 生体画像取得装置 |
| JP2009180505A (ja) * | 2008-01-29 | 2009-08-13 | Yutaka:Kk | ワークの外周検査装置 |
| JP2010122167A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Daiichi Jyushi Industrial Co Ltd | 表面検査方法とこれを利用した表面欠陥探知装置 |
| WO2012039298A1 (ja) * | 2010-09-21 | 2012-03-29 | 東レ株式会社 | 糸状製品の検査装置および検査方法 |
| CN107065426A (zh) * | 2017-03-09 | 2017-08-18 | 龙岩学院 | 立体图形采集装置及方法 |
| CN107300737A (zh) * | 2017-08-24 | 2017-10-27 | 信利光电股份有限公司 | 一种多方位导光元件 |
| CN107483784A (zh) * | 2017-08-24 | 2017-12-15 | 信利光电股份有限公司 | 一种摄像头装置及电子设备 |
| CN111965192A (zh) * | 2020-09-18 | 2020-11-20 | 桂林电子科技大学 | 一种多面成像的视觉检测系统及检测方法 |
| KR20220135354A (ko) * | 2021-03-30 | 2022-10-07 | 주식회사 뷰온 | 표면 광학 검사 장치 |
| CN118732219A (zh) * | 2024-09-04 | 2024-10-01 | 甄觉科技(上海)有限公司 | 一种可调节反射式全景成像装置及其调节方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2999925B2 (ja) | 2000-01-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2999925B2 (ja) | 物品側面撮像装置 | |
| JP3245155B2 (ja) | 半導体ウエハ上の識別マークを読み取るための装置および方法 | |
| JP2011523032A (ja) | コンポーネントの表面を検出する光検出装置と方法 | |
| EP0604171B1 (en) | Machine for video inspection of glass containers with intersecting light beams | |
| TW472132B (en) | Focal point position control mechanism and method and apparatus and method for inspecting semiconductor wafer | |
| JPH03203399A (ja) | 部品装着装置 | |
| US7369644B2 (en) | Printed circuit board inspection system combining X-ray inspection and visual inspection | |
| JP3316676B2 (ja) | ワークとマスクの整合機構および整合方法 | |
| JPH1068614A (ja) | 撮像装置 | |
| JPS62153737A (ja) | 物品表面検査装置 | |
| KR102008224B1 (ko) | 곡면 검사가 가능한 검사시스템 | |
| KR20130035827A (ko) | 자동 외관 검사 장치 | |
| KR20150134267A (ko) | 전자 부품 패키지 측면 촬영 장치 | |
| JP4309181B2 (ja) | パネルの外観検査装置 | |
| JPH09293999A (ja) | 部品実装機用画像撮像装置 | |
| JP2002181734A (ja) | 透明積層体の検査装置 | |
| JP2000346813A (ja) | 物品の表面検査装置 | |
| JP2000333047A (ja) | 光学的撮像装置および光学的撮像方法 | |
| JP2005504454A (ja) | 改良された照明器を有するカメラ | |
| CN105493653B (zh) | 电子部件安装装置以及电子部件安装方法 | |
| WO1995014211A1 (en) | Method and apparatus for optical shape measurement of oblong objects | |
| JPH0548414B2 (ja) | ||
| JP3055281B2 (ja) | 振動フィ−ダ用視覚装置 | |
| JPH11304714A (ja) | 透明板の表裏両面を検査する方法 | |
| JP2003023296A (ja) | 電子部品実装装置および電子部品実装方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |