JPH08292225A - プローブピン・コネクタの構造 - Google Patents
プローブピン・コネクタの構造Info
- Publication number
- JPH08292225A JPH08292225A JP7101144A JP10114495A JPH08292225A JP H08292225 A JPH08292225 A JP H08292225A JP 7101144 A JP7101144 A JP 7101144A JP 10114495 A JP10114495 A JP 10114495A JP H08292225 A JPH08292225 A JP H08292225A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base
- probe pin
- terminal
- pin
- connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 プリント配線基板の端子に傷を付けることな
く、プリント配線基板の端子とプローブピンとの間の電
気的接触を容易かつ確実に実現するようにしたプローブ
ピン・コネクタの構造を提供することにある。 【構成】 プローブピン３を上面より突出せしめて設け
られた第１ベース１と、検査対象の基板１１の端子１１
Ａを挿入せしめる端子挿入部１３、前記基板１１の端子
１１Ａを前記プローブピン３に位置決めする外形位置決
めピン１５を有する第２ベース９と、この第２ベース９
を前記第１ベース１にロック，アンロックせしめるロッ
ククランプ１７と、を備えてなることを特徴とする。
く、プリント配線基板の端子とプローブピンとの間の電
気的接触を容易かつ確実に実現するようにしたプローブ
ピン・コネクタの構造を提供することにある。 【構成】 プローブピン３を上面より突出せしめて設け
られた第１ベース１と、検査対象の基板１１の端子１１
Ａを挿入せしめる端子挿入部１３、前記基板１１の端子
１１Ａを前記プローブピン３に位置決めする外形位置決
めピン１５を有する第２ベース９と、この第２ベース９
を前記第１ベース１にロック，アンロックせしめるロッ
ククランプ１７と、を備えてなることを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、プリント配線基板検
査装置などにおいて、検査装置と、プリント配線板特に
ＦＰＣ（フレキシブルプリント配線板）のエッジコネク
タである検査対象物間の電気的接触を容易かつ確実に実
現するようにプローブピン・コネクタの構造に関する。
査装置などにおいて、検査装置と、プリント配線板特に
ＦＰＣ（フレキシブルプリント配線板）のエッジコネク
タである検査対象物間の電気的接触を容易かつ確実に実
現するようにプローブピン・コネクタの構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、コネクタ使用の接触構造は、図３
に示されているように、検査機の基板１０１に固定され
たコネクタ１０３に、検査対象のプリント配線基板１０
５の端子１０５Ａを挿入して電気的接触を確認するよう
になっている。
に示されているように、検査機の基板１０１に固定され
たコネクタ１０３に、検査対象のプリント配線基板１０
５の端子１０５Ａを挿入して電気的接触を確認するよう
になっている。
【０００３】また、プローブピン使用の接触構造は、図
４に示されているように、プローブピン１０７をベース
板（基板）１０９に配置し、検査対象のプリント配線基
板１０５の端子１０５Ａが前記プローブピン１０７に位
置合せされる。前記ベース板１０９上に設けられた固定
ブロック１１１にはピン１１３を支点として回動可能な
クランプ１１５が設けられている。
４に示されているように、プローブピン１０７をベース
板（基板）１０９に配置し、検査対象のプリント配線基
板１０５の端子１０５Ａが前記プローブピン１０７に位
置合せされる。前記ベース板１０９上に設けられた固定
ブロック１１１にはピン１１３を支点として回動可能な
クランプ１１５が設けられている。
【０００４】したがって、このクランプ１１５がピン１
１３を支点として上から下へ回動されることにより、こ
のクランプ１１５でプリント配線基板１０５の端子１０
５Ａを押さえ、電気的接触を行うようになっている。
１３を支点として上から下へ回動されることにより、こ
のクランプ１１５でプリント配線基板１０５の端子１０
５Ａを押さえ、電気的接触を行うようになっている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の図３に示したコネクタ使用の接触構造では、プリン
ト配線基板１０５の端子１０５Ａに傷がついてしまうと
いう欠点がある。このことはプリント配線基板１０５を
製品として出荷する前に行う検査においては大きな痛手
である。
来の図３に示したコネクタ使用の接触構造では、プリン
ト配線基板１０５の端子１０５Ａに傷がついてしまうと
いう欠点がある。このことはプリント配線基板１０５を
製品として出荷する前に行う検査においては大きな痛手
である。
【０００６】また、従来の図４に示したプローブピン使
用の接触構造では、プリント配線基板１０５の端子１０
５Ａとプローブピン１０７との位置関係をベース板など
による別構造で定める構造となるので、正確な位置合せ
が困難であるという欠点がある。このことは特にフレキ
シブル・プリント配線基板（ＦＭＣ）において顕著であ
る。さらに、押さえに使用するクランプ１１５のばね定
数、プローブピン１０７に使用されているスプリングの
定数およびプリント配線基板１０５の端子１０５Ａの構
成によりその押える力が左右されてしまうという問題が
あった。
用の接触構造では、プリント配線基板１０５の端子１０
５Ａとプローブピン１０７との位置関係をベース板など
による別構造で定める構造となるので、正確な位置合せ
が困難であるという欠点がある。このことは特にフレキ
シブル・プリント配線基板（ＦＭＣ）において顕著であ
る。さらに、押さえに使用するクランプ１１５のばね定
数、プローブピン１０７に使用されているスプリングの
定数およびプリント配線基板１０５の端子１０５Ａの構
成によりその押える力が左右されてしまうという問題が
あった。
【０００７】この発明の目的は、プリント配線基板の端
子に傷を付けることなく、プリント配線基板の端子とプ
ローブピンとの間の電気的接触を容易かつ確実に実現す
るようにしたプローブピン・コネクタ構造を提供するこ
とにある。
子に傷を付けることなく、プリント配線基板の端子とプ
ローブピンとの間の電気的接触を容易かつ確実に実現す
るようにしたプローブピン・コネクタ構造を提供するこ
とにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項１による発明のプローブピン・コネクタの構造
は、プローブピンを上面より突出せしめて設けられた第
１ベースと、検査対象の基板の端子を挿入せしめる端子
挿入部、前記基板の端子を前記プローブピンに位置決め
する外形位置決めピンを有する第２ベースと、この第２
ベースを前記第１ベースにロック，アンロックせしめる
ロッククランプと、を備えてなることを特徴とするもの
である。
に請求項１による発明のプローブピン・コネクタの構造
は、プローブピンを上面より突出せしめて設けられた第
１ベースと、検査対象の基板の端子を挿入せしめる端子
挿入部、前記基板の端子を前記プローブピンに位置決め
する外形位置決めピンを有する第２ベースと、この第２
ベースを前記第１ベースにロック，アンロックせしめる
ロッククランプと、を備えてなることを特徴とするもの
である。
【０００９】請求項２による発明のプローブピン・コネ
クタの構造は、前記第１ベース，第２ベースにそれぞれ
コネクタ位置決め用穴，ロック用穴を形成せしめてなる
ことを特徴とするものである。
クタの構造は、前記第１ベース，第２ベースにそれぞれ
コネクタ位置決め用穴，ロック用穴を形成せしめてなる
ことを特徴とするものである。
【００１０】
【作用】以上のような請求項１による発明のプローブピ
ン・コネクタの構造とすることにより、ロッククランプ
をアンロックせしめ、第２ベースを第１ベースに対して
上昇した状態でプリント配線基板の端子を端子挿入部に
挿入する。挿入された端子とプローブピンとは外形位置
決めピンにより容易かつ正確に位置決めされる。この状
態で第２ベースを下降せしめロッククランプでクランプ
することにより、プリント配線基板の端子とプローブピ
ンとの電気的接触が容易かつ確実に実現される。したが
って、プリント配線基板の端子に傷をつけることなくプ
ローブピンに接触抵抗を低くして接触される。
ン・コネクタの構造とすることにより、ロッククランプ
をアンロックせしめ、第２ベースを第１ベースに対して
上昇した状態でプリント配線基板の端子を端子挿入部に
挿入する。挿入された端子とプローブピンとは外形位置
決めピンにより容易かつ正確に位置決めされる。この状
態で第２ベースを下降せしめロッククランプでクランプ
することにより、プリント配線基板の端子とプローブピ
ンとの電気的接触が容易かつ確実に実現される。したが
って、プリント配線基板の端子に傷をつけることなくプ
ローブピンに接触抵抗を低くして接触される。
【００１１】請求項２による発明のプローブピン・コネ
クタの構造では、第１ベース，第２ベースにそれぞれれ
コネクタ位置決め用穴，ロック用穴が形成されているか
ら、必要な検査機などのベースに位置決め固定されて使
用される。
クタの構造では、第１ベース，第２ベースにそれぞれれ
コネクタ位置決め用穴，ロック用穴が形成されているか
ら、必要な検査機などのベースに位置決め固定されて使
用される。
【００１２】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基いて詳細
に説明する。
に説明する。
【００１３】図１および図２を参照するに、検査機の基
板となる矩形状の第１ベース１を備えており、この第１
ベース１の図１において右側には複数の上下方向へ延伸
したプローブピン３が装着され、このプローブピン３の
先端が第１ベース１の上面よりわずか突出されている。
板となる矩形状の第１ベース１を備えており、この第１
ベース１の図１において右側には複数の上下方向へ延伸
したプローブピン３が装着され、このプローブピン３の
先端が第１ベース１の上面よりわずか突出されている。
【００１４】前記第１ベース１の中央部分にはセンタボ
ルト５の下端が取付けられている。このセンタボルト５
にはスプリング７が介装され第２ベース９が設けられて
いる。したがって第２ベース９はスプリング７の付勢力
により常時上方へ付勢されている。
ルト５の下端が取付けられている。このセンタボルト５
にはスプリング７が介装され第２ベース９が設けられて
いる。したがって第２ベース９はスプリング７の付勢力
により常時上方へ付勢されている。
【００１５】前記第２ベース９の図１において右側には
検査対象の複数のプリント配線基板１１の端子１１Ａを
挿入せしめる端子挿入部１３が設けられている。この端
子挿入部１３の前後（図２において上下）には外形位置
決めピン１５が設けられている。
検査対象の複数のプリント配線基板１１の端子１１Ａを
挿入せしめる端子挿入部１３が設けられている。この端
子挿入部１３の前後（図２において上下）には外形位置
決めピン１５が設けられている。
【００１６】前記第１ベース１にはロッククランプ１７
の下部がピン１９で回動可能に設けられている。また、
第１ベース１の図２において左側上下部にはコネクタ位
置決め用穴２１が形成されていると共に第１ベース１の
中央部分における前後（図２において上下）に張出され
た部分１Ｔには長孔からなるロック用穴２３が形成され
ている。
の下部がピン１９で回動可能に設けられている。また、
第１ベース１の図２において左側上下部にはコネクタ位
置決め用穴２１が形成されていると共に第１ベース１の
中央部分における前後（図２において上下）に張出され
た部分１Ｔには長孔からなるロック用穴２３が形成され
ている。
【００１７】上記構成により、検査機などに使用する場
合には、検査機等のベースに設けられた図示省略の位置
決めピンに位置決め用穴２１が挿入された後、ロック用
穴２３にボルト２５を通して第１ベース１が検査機など
のベースに固定されて使用されることになる。
合には、検査機等のベースに設けられた図示省略の位置
決めピンに位置決め用穴２１が挿入された後、ロック用
穴２３にボルト２５を通して第１ベース１が検査機など
のベースに固定されて使用されることになる。
【００１８】ロッククランプ１７を第２ベース９の上端
から外してアンクランプせしめると、第２ベース９がス
プリング７の付勢力で上昇される。この状態において、
検査対象のプリント配線基板１１の端子１１Ａを端子挿
入部１３に挿入せしめる。挿入された端子１１Ａは必要
な端子数、ピッチを満足するように配置されたプローブ
ピン３と外形位置決めピン１５により、端子１１Ａとプ
ローブピン３の位置が容易かつ正確に定められる。
から外してアンクランプせしめると、第２ベース９がス
プリング７の付勢力で上昇される。この状態において、
検査対象のプリント配線基板１１の端子１１Ａを端子挿
入部１３に挿入せしめる。挿入された端子１１Ａは必要
な端子数、ピッチを満足するように配置されたプローブ
ピン３と外形位置決めピン１５により、端子１１Ａとプ
ローブピン３の位置が容易かつ正確に定められる。
【００１９】この状態で第２ベース９を下降せしめロッ
ククランプ１７でロックすると、プローブピン３と端子
１１Ａとが良好に接触するから、電気的接触が容易かつ
確実に実現されることになる。
ククランプ１７でロックすると、プローブピン３と端子
１１Ａとが良好に接触するから、電気的接触が容易かつ
確実に実現されることになる。
【００２０】したがって、端子１１Ａの接触にプローブ
ピン３を使用しているので、接触抵抗の低い良好な接触
が得られるから、端子１１Ａに傷がつくのを少なくする
ことができる。本実施例の構造では、ピンソケットは埋
め込みであるので、使用したソケットに形状が合う範囲
でプローブピン３の選択ができ、容易に交換可能であ
る。しかもプローブピン３を選択することにより、接触
力，端子数，ピッチを自由に選ぶことが可能である。前
記プローブピン３とロッククランプ１７とが第１ベース
１に設けられているから、プローブピン３とロッククラ
ンプ１７が一体化され、検査時などの振動に強い。
ピン３を使用しているので、接触抵抗の低い良好な接触
が得られるから、端子１１Ａに傷がつくのを少なくする
ことができる。本実施例の構造では、ピンソケットは埋
め込みであるので、使用したソケットに形状が合う範囲
でプローブピン３の選択ができ、容易に交換可能であ
る。しかもプローブピン３を選択することにより、接触
力，端子数，ピッチを自由に選ぶことが可能である。前
記プローブピン３とロッククランプ１７とが第１ベース
１に設けられているから、プローブピン３とロッククラ
ンプ１７が一体化され、検査時などの振動に強い。
【００２１】さらに、第１ベース１にはコネクタ位置決
め用穴２１，ロック用穴２３がそれぞれ形成されている
から、検査機などの必要なベースに取付け、取外しを容
易に行うことができ持ち運べるから、どこの場所でも使
用することができる。
め用穴２１，ロック用穴２３がそれぞれ形成されている
から、検査機などの必要なベースに取付け、取外しを容
易に行うことができ持ち運べるから、どこの場所でも使
用することができる。
【００２２】なお、この発明は、前述した実施例に限定
されることなく、適宜な変更を行うことにより、その他
の態様で実施し得るものである。
されることなく、適宜な変更を行うことにより、その他
の態様で実施し得るものである。
【００２３】
【発明の効果】以上のごとき実施例の説明より理解され
るように、請求項１による発明によれば、プリント配線
基板の端子の接触にプローブピンを使用しているので、
接触抵抗の低い良好な接触が得られ、端子に傷が付くの
が少なくなると共に電気的接触を容易かつ確実に実現す
ることがきでる。第１ベースにプローブピンとロックク
ランプが設けられて一体化されて検査時などの振動に強
くなる。
るように、請求項１による発明によれば、プリント配線
基板の端子の接触にプローブピンを使用しているので、
接触抵抗の低い良好な接触が得られ、端子に傷が付くの
が少なくなると共に電気的接触を容易かつ確実に実現す
ることがきでる。第１ベースにプローブピンとロックク
ランプが設けられて一体化されて検査時などの振動に強
くなる。
【００２４】請求項２による発明によれば、ベースにコ
ネクタ位置決め用穴、ロック用穴がそれぞれ形成されて
いるから、必要なとき必要な検査機などのベースに位置
決め固定して使用することができる。
ネクタ位置決め用穴、ロック用穴がそれぞれ形成されて
いるから、必要なとき必要な検査機などのベースに位置
決め固定して使用することができる。
【図１】この発明を実施する一実施例のプローブピン・
コネクタの構造を示す正面図である。
コネクタの構造を示す正面図である。
【図２】図１における平面図である。
【図３】従来のコネクタ使用の接触構造を示す正面図で
ある。
ある。
【図４】従来のプローブピン使用の接触構造を示す正面
図である。
図である。
１ 第１ベース ３ プローブピン ９ 第２ベース １１ プリント配線基板 １１Ａ 端子 １３ 端子挿入部 １５ 外形位置決めピン １７ ロッククランプ
Claims (2)
- 【請求項１】 プローブピンを上面より突出せしめて設
けられた第１ベースと、検査対象の基板の端子を挿入せ
しめる端子挿入部、前記基板の端子を前記プローブピン
に位置決めする外形位置決めピンを有する第２ベース
と、この第２ベースを前記第１ベースにロック、アンロ
ックせしめるロッククランプと、を備えてなることを特
徴とするプローブピン・コネクタの構造。 - 【請求項２】 前記第１ベース、第２ベースにそれぞれ
コネクタ位置決め用穴、ロック用穴を形成せしめてなる
ことを特徴とする請求項１記載のプローブピン・コネク
タの構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7101144A JPH08292225A (ja) | 1995-04-25 | 1995-04-25 | プローブピン・コネクタの構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7101144A JPH08292225A (ja) | 1995-04-25 | 1995-04-25 | プローブピン・コネクタの構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08292225A true JPH08292225A (ja) | 1996-11-05 |
Family
ID=14292891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7101144A Pending JPH08292225A (ja) | 1995-04-25 | 1995-04-25 | プローブピン・コネクタの構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08292225A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010031221A1 (zh) * | 2008-09-18 | 2010-03-25 | 上海电缆研究所 | 电缆测试装置 |
| CN109727883A (zh) * | 2017-10-30 | 2019-05-07 | 细美事有限公司 | 用于检查显示单元的装置 |
-
1995
- 1995-04-25 JP JP7101144A patent/JPH08292225A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010031221A1 (zh) * | 2008-09-18 | 2010-03-25 | 上海电缆研究所 | 电缆测试装置 |
| CN109727883A (zh) * | 2017-10-30 | 2019-05-07 | 细美事有限公司 | 用于检查显示单元的装置 |
| KR20190048127A (ko) * | 2017-10-30 | 2019-05-09 | 세메스 주식회사 | 디스플레이 셀들을 검사하기 위한 장치 |
| TWI694260B (zh) * | 2017-10-30 | 2020-05-21 | 南韓商細美事有限公司 | 用於檢查顯示單元的裝置 |
| CN109727883B (zh) * | 2017-10-30 | 2023-07-11 | 细美事有限公司 | 用于检查显示单元的装置 |
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