JPH08293395A - Ｘ線高電圧装置 - Google Patents
Ｘ線高電圧装置Info
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- JPH08293395A JPH08293395A JP9409095A JP9409095A JPH08293395A JP H08293395 A JPH08293395 A JP H08293395A JP 9409095 A JP9409095 A JP 9409095A JP 9409095 A JP9409095 A JP 9409095A JP H08293395 A JPH08293395 A JP H08293395A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はフィラメント断線もしくはフィラメ
ントカップタッチを正確に検出することができるＸ線高
電圧装置を提供することを目的とする。 【構成】 フィラメント電圧を検出するフィラメント電
圧検出部１９と、フィラメント電流を検出するフィラメ
ント電流検出部２１と、前記検出されたフィラメント電
圧とフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演算
する除算器３５と、前記演算されたフィラメントの抵抗
が、予め設定されたフィラメント断線時の基準値より大
きい場合はフィラメント断線検出信号を生成し、前記演
算されたフィラメントの抵抗が予め設定されたフィラメ
ントカップタッチ時の基準値より小さい場合はフィラメ
ントカップタッチ検出信号を生成する電圧比較器４１，
４３とを備えて構成される。
ントカップタッチを正確に検出することができるＸ線高
電圧装置を提供することを目的とする。 【構成】 フィラメント電圧を検出するフィラメント電
圧検出部１９と、フィラメント電流を検出するフィラメ
ント電流検出部２１と、前記検出されたフィラメント電
圧とフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演算
する除算器３５と、前記演算されたフィラメントの抵抗
が、予め設定されたフィラメント断線時の基準値より大
きい場合はフィラメント断線検出信号を生成し、前記演
算されたフィラメントの抵抗が予め設定されたフィラメ
ントカップタッチ時の基準値より小さい場合はフィラメ
ントカップタッチ検出信号を生成する電圧比較器４１，
４３とを備えて構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線を発生するＸ線管
に電子加速用高電圧とフィラメント加熱用電流を供給す
るＸ線高電圧装置に関し、特にＸ線管のフィラメント断
線もしくはＸ線を収束させる収束電極にフィラメントが
接触するいわゆるフィラメントカップタッチを検出でき
るＸ線高電圧装置に関するものである。
に電子加速用高電圧とフィラメント加熱用電流を供給す
るＸ線高電圧装置に関し、特にＸ線管のフィラメント断
線もしくはＸ線を収束させる収束電極にフィラメントが
接触するいわゆるフィラメントカップタッチを検出でき
るＸ線高電圧装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、Ｘ線管から照射されるＸ線を
用いて被検体を撮影、透視するＸ線診断装置が知られて
いる。このＸ線診断装置では、Ｘ線の照射条件によって
使用する前記Ｘ線管の焦点が固定されており、前記Ｘ線
管のフィラメント断線もしくはＸ線を収束させる収束電
極にフィラメントが接触するいわゆるフィラメントカッ
プタッチが生じた場合、診断が突然中断した。
用いて被検体を撮影、透視するＸ線診断装置が知られて
いる。このＸ線診断装置では、Ｘ線の照射条件によって
使用する前記Ｘ線管の焦点が固定されており、前記Ｘ線
管のフィラメント断線もしくはＸ線を収束させる収束電
極にフィラメントが接触するいわゆるフィラメントカッ
プタッチが生じた場合、診断が突然中断した。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
Ｘ線診断では、Ｘ線管のフィラメント断線もしくはＸ線
管のフィラメントカップタッチを検出する手段を備えて
いないので、Ｘ線管のフィラメント断線もしくはＸ線管
のフィラメントカップタッチの発生により診断動作が突
然中断する場合があった。
Ｘ線診断では、Ｘ線管のフィラメント断線もしくはＸ線
管のフィラメントカップタッチを検出する手段を備えて
いないので、Ｘ線管のフィラメント断線もしくはＸ線管
のフィラメントカップタッチの発生により診断動作が突
然中断する場合があった。
【０００４】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
で、Ｘ線管のフィラメント断線もしくはＸ線管のフィラ
メントカップタッチを正確に検出することができるＸ線
高電圧装置を提供することを目的とする。
で、Ｘ線管のフィラメント断線もしくはＸ線管のフィラ
メントカップタッチを正確に検出することができるＸ線
高電圧装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本願第１の発明は、Ｘ線を曝射するＸ線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段と、前記Ｘ線管のフィラメントに供給さ
れるフィラメント電流を検出するフィラメント電流検出
手段と、前記フィラメント電圧検出手段により検出され
たフィラメント電圧と、前記フィラメント電流検出手段
により検出されたフィラメント電流を基にフィラメント
の抵抗を演算する演算手段と、予め設定されたフィラメ
ント断線時の基準値よりこの演算手段により演算された
フィラメントの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断
線の検出信号を生成し、予め設定されたフィラメントカ
ップタッチ時の基準値より前記演算手段により演算され
たフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラメント
カップタッチの検出信号を生成する比較手段とを有する
ことを要旨とする。
本願第１の発明は、Ｘ線を曝射するＸ線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段と、前記Ｘ線管のフィラメントに供給さ
れるフィラメント電流を検出するフィラメント電流検出
手段と、前記フィラメント電圧検出手段により検出され
たフィラメント電圧と、前記フィラメント電流検出手段
により検出されたフィラメント電流を基にフィラメント
の抵抗を演算する演算手段と、予め設定されたフィラメ
ント断線時の基準値よりこの演算手段により演算された
フィラメントの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断
線の検出信号を生成し、予め設定されたフィラメントカ
ップタッチ時の基準値より前記演算手段により演算され
たフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラメント
カップタッチの検出信号を生成する比較手段とを有する
ことを要旨とする。
【０００６】また、本願第２の発明は、電子を放出する
フィラメントを少なくとも二つ備えたＸ線管に電子加熱
用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給するＸ線高
電圧装置において、前記Ｘ線管のフィラメントに印加さ
れるフィラメント電圧を検出するフィラメント電圧検出
手段と、前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラ
メント電流を検出するフィラメント電流検出手段と、前
記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラメ
ント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検出
されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演
算する演算手段と、予め設定されたフィラメント断線時
の基準値よりこの演算手段により演算されたフィラメン
トの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検出信
号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタッチ
時の基準値より前記演算手段により演算されたフィラメ
ントの抵抗の方が小さい場合はフィラメントカップタッ
チの検出信号を生成する比較手段とを有することを要旨
とする。
フィラメントを少なくとも二つ備えたＸ線管に電子加熱
用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給するＸ線高
電圧装置において、前記Ｘ線管のフィラメントに印加さ
れるフィラメント電圧を検出するフィラメント電圧検出
手段と、前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラ
メント電流を検出するフィラメント電流検出手段と、前
記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラメ
ント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検出
されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演
算する演算手段と、予め設定されたフィラメント断線時
の基準値よりこの演算手段により演算されたフィラメン
トの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検出信
号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタッチ
時の基準値より前記演算手段により演算されたフィラメ
ントの抵抗の方が小さい場合はフィラメントカップタッ
チの検出信号を生成する比較手段とを有することを要旨
とする。
【０００７】また、本願第３の発明は、電子を放出する
フィラメントを少なくとも二つ備えたＸ線管に電子加熱
用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給するＸ線高
電圧装置において、前記Ｘ線管のフィラメントに印加さ
れるフィラメント電圧を検出するフィラメント電圧検出
手段と、前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラ
メント電流を検出するフィラメント電流検出手段と、前
記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラメ
ント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検出
されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演
算する演算手段と、予め設定されたフィラメント断線時
の基準値よりこの演算手段により演算されたフィラメン
トの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検出信
号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタッチ
時の基準値より前記演算手段により演算されたフィラメ
ントの抵抗の方が小さい場合はフィラメントカップタッ
チの検出信号を生成する比較手段と、この比較手段によ
り検出信号が生成されたとき、使用するフィラメントを
正常なフィラメントに切り換える切り換え手段とを有す
ることを要旨とする。
フィラメントを少なくとも二つ備えたＸ線管に電子加熱
用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給するＸ線高
電圧装置において、前記Ｘ線管のフィラメントに印加さ
れるフィラメント電圧を検出するフィラメント電圧検出
手段と、前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラ
メント電流を検出するフィラメント電流検出手段と、前
記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラメ
ント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検出
されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演
算する演算手段と、予め設定されたフィラメント断線時
の基準値よりこの演算手段により演算されたフィラメン
トの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検出信
号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタッチ
時の基準値より前記演算手段により演算されたフィラメ
ントの抵抗の方が小さい場合はフィラメントカップタッ
チの検出信号を生成する比較手段と、この比較手段によ
り検出信号が生成されたとき、使用するフィラメントを
正常なフィラメントに切り換える切り換え手段とを有す
ることを要旨とする。
【０００８】
【作用】本願第１の発明のＸ線高電圧装置は、Ｘ線を曝
射するＸ線管のフィラメントに印加されるフィラメント
電圧を検出するフィラメント電圧検出手段により検出さ
れたフィラメント電圧と、前記Ｘ線管のフィラメントに
供給されるフィラメント電流を検出するフィラメント電
流検出手段により検出されたフィラメント電流を基にフ
ィラメントの抵抗を演算する。そして、予め設定された
フィラメント断線時の基準値より前記演算されたフィラ
メントの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検
出信号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタ
ッチ時の基準値より前記演算されたフィラメントの抵抗
の方が小さい場合はフィラメントカップタッチの検出信
号を生成する。
射するＸ線管のフィラメントに印加されるフィラメント
電圧を検出するフィラメント電圧検出手段により検出さ
れたフィラメント電圧と、前記Ｘ線管のフィラメントに
供給されるフィラメント電流を検出するフィラメント電
流検出手段により検出されたフィラメント電流を基にフ
ィラメントの抵抗を演算する。そして、予め設定された
フィラメント断線時の基準値より前記演算されたフィラ
メントの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検
出信号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタ
ッチ時の基準値より前記演算されたフィラメントの抵抗
の方が小さい場合はフィラメントカップタッチの検出信
号を生成する。
【０００９】本願第２の発明のＸ線高電圧装置は、電子
を放出するフィラメントを少なくとも二つ備えたＸ線管
に電子加熱用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給
するＸ線高電圧装置において、前記Ｘ線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段により検出されたフィラメント電圧と、
前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段により検出され
たフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演算す
る。そして、予め設定されたフィラメント断線時の基準
値より前記演算されたフィラメントの抵抗の方が大きい
場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設定
されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記演
算されたフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラ
メントカップタッチの検出信号を生成する。
を放出するフィラメントを少なくとも二つ備えたＸ線管
に電子加熱用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給
するＸ線高電圧装置において、前記Ｘ線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段により検出されたフィラメント電圧と、
前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段により検出され
たフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演算す
る。そして、予め設定されたフィラメント断線時の基準
値より前記演算されたフィラメントの抵抗の方が大きい
場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設定
されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記演
算されたフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラ
メントカップタッチの検出信号を生成する。
【００１０】本願第３の発明のＸ線高電圧装置は、電子
を放出するフィラメントを少なくとも二つ備えたＸ線管
に電子加熱用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給
するＸ線高電圧装置において、前記Ｘ線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段により検出されたフィラメント電圧と、
前記Ｘ線管のフィラメントに印加されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段により検出され
たフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演算す
る。そして、予め設定されたフィラメント断線時の基準
値より前記演算されたフィラメントの抵抗の方が大きい
場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設定
されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記演
算されたフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラ
メントカップタッチの検出信号を生成し、この検出信号
が生成されたとき、使用するフィラメントを正常なフィ
ラメントに切り換える。
を放出するフィラメントを少なくとも二つ備えたＸ線管
に電子加熱用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給
するＸ線高電圧装置において、前記Ｘ線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段により検出されたフィラメント電圧と、
前記Ｘ線管のフィラメントに印加されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段により検出され
たフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演算す
る。そして、予め設定されたフィラメント断線時の基準
値より前記演算されたフィラメントの抵抗の方が大きい
場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設定
されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記演
算されたフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラ
メントカップタッチの検出信号を生成し、この検出信号
が生成されたとき、使用するフィラメントを正常なフィ
ラメントに切り換える。
【００１１】
【実施例】以下、本発明に係る一実施例を図面を参照し
て説明する。図１は本発明に係るＸ線高電圧装置の構成
を示したブロック図である。尚、本実施例ではＸ線焦点
の小さい小焦点用フィラメントと、Ｘ線焦点の大きい大
焦点用フィラメントとを備えるＸ線管を用いた場合を例
にして説明する。
て説明する。図１は本発明に係るＸ線高電圧装置の構成
を示したブロック図である。尚、本実施例ではＸ線焦点
の小さい小焦点用フィラメントと、Ｘ線焦点の大きい大
焦点用フィラメントとを備えるＸ線管を用いた場合を例
にして説明する。
【００１２】図１に示すように本実施例のＸ線高電圧装
置１は、交流電源３と、交流電源３から供給される交流
電圧を直流に変換する整流平滑回路５と、整流平滑回路
５から出力される直流電圧を異なった電圧に変換するＤ
Ｃ／ＤＣコンバータ７と、ＤＣ／ＤＣコンバータ７によ
り変換された直流電圧を交流電圧に変換するインバータ
回路９と、インバータ回路９により変換された交流電圧
をＸ線管１１の二つのフィラメントに分配する焦点切り
換え部１３と、焦点切り換え部１３の出力電圧を変圧す
る小焦点用フィラメントトランス１５および大焦点用フ
ィラメントトランス１７と、ＤＣ／ＤＣコンバータ７の
出力電圧を検出するフィラメント電圧検出部１９と、小
焦点用フィラメントトランス１５もしくは大焦点用フィ
ラメントトランス１７の一次電流を検出するフィラメン
ト電流検出部２１と、Ｘ線管１１のフィラメント断線お
よびフィラメントカップタッチを検出するフィラメント
加熱制御部２３とを有する。
置１は、交流電源３と、交流電源３から供給される交流
電圧を直流に変換する整流平滑回路５と、整流平滑回路
５から出力される直流電圧を異なった電圧に変換するＤ
Ｃ／ＤＣコンバータ７と、ＤＣ／ＤＣコンバータ７によ
り変換された直流電圧を交流電圧に変換するインバータ
回路９と、インバータ回路９により変換された交流電圧
をＸ線管１１の二つのフィラメントに分配する焦点切り
換え部１３と、焦点切り換え部１３の出力電圧を変圧す
る小焦点用フィラメントトランス１５および大焦点用フ
ィラメントトランス１７と、ＤＣ／ＤＣコンバータ７の
出力電圧を検出するフィラメント電圧検出部１９と、小
焦点用フィラメントトランス１５もしくは大焦点用フィ
ラメントトランス１７の一次電流を検出するフィラメン
ト電流検出部２１と、Ｘ線管１１のフィラメント断線お
よびフィラメントカップタッチを検出するフィラメント
加熱制御部２３とを有する。
【００１３】フィラメント電圧検出部１９は、例えば図
２に示すような二つの抵抗２５から成る分圧器で構成さ
れる。また、フィラメント電流検出部２１は、例えば図
３に示すようなカレントトランス２７と、四つのダイオ
ード２９と一つのコンデンサ３１から成る整流回路で構
成される。フィラメント電圧検出部１９およびフィラメ
ント電流検出部２１は、いずれもフィラメント電圧、フ
ィラメント電流を直接検出するものではないが、小焦点
用フィラメントトランス１５および大焦点用フィラメン
トトランス１７の巻数比と前記分圧器の分圧比からフィ
ラメント電圧を、また小焦点用フィラメントトランス１
５および大焦点用フィラメントトランス１７の巻数比と
カレントトランス２７の変換比からフィラメント電流を
求めることができる。
２に示すような二つの抵抗２５から成る分圧器で構成さ
れる。また、フィラメント電流検出部２１は、例えば図
３に示すようなカレントトランス２７と、四つのダイオ
ード２９と一つのコンデンサ３１から成る整流回路で構
成される。フィラメント電圧検出部１９およびフィラメ
ント電流検出部２１は、いずれもフィラメント電圧、フ
ィラメント電流を直接検出するものではないが、小焦点
用フィラメントトランス１５および大焦点用フィラメン
トトランス１７の巻数比と前記分圧器の分圧比からフィ
ラメント電圧を、また小焦点用フィラメントトランス１
５および大焦点用フィラメントトランス１７の巻数比と
カレントトランス２７の変換比からフィラメント電流を
求めることができる。
【００１４】次に、フィラメント加熱制御部２３に備え
られ、Ｘ線管１１のフィラメント断線およびフィラメン
トカップタッチを検出するフィラメント断線検出部３３
の構成例を図４を用いて説明する。図４に示すようにフ
ィラメント断線検出部３３は、除算器３５と、二つの基
準電圧設定器３７，３９と、二つの電圧比較器４１，４
３とを有する。
られ、Ｘ線管１１のフィラメント断線およびフィラメン
トカップタッチを検出するフィラメント断線検出部３３
の構成例を図４を用いて説明する。図４に示すようにフ
ィラメント断線検出部３３は、除算器３５と、二つの基
準電圧設定器３７，３９と、二つの電圧比較器４１，４
３とを有する。
【００１５】除算器３５は、フィラメント電圧検出部１
９の出力電圧ＥＦとフィラメント電流検出部２１の出力
電圧ＩＦを入力し、フィラメント電圧検出部１９の出力
電圧ＥＦ／フィラメント電流検出部２１の出力電圧ＩＦ
（ＥＦ／ＩＦ）を出力する。従って除算器３５の出力は
フィラメントの抵抗の大きさを表す。
９の出力電圧ＥＦとフィラメント電流検出部２１の出力
電圧ＩＦを入力し、フィラメント電圧検出部１９の出力
電圧ＥＦ／フィラメント電流検出部２１の出力電圧ＩＦ
（ＥＦ／ＩＦ）を出力する。従って除算器３５の出力は
フィラメントの抵抗の大きさを表す。
【００１６】基準電圧設定器３７には、正常時における
除算器３５の出力電圧よりも高い電圧、例えば正常時の
２倍の電圧を設定する。電圧比較器４１は、除算器３５
の出力電圧と基準電圧設定器３７の出力電圧を比較し、
除算器３５の出力電圧が基準電圧設定器３７の出力電圧
よりも高いとき、フィラメント断線検出信号Ｆ１を出力
する。
除算器３５の出力電圧よりも高い電圧、例えば正常時の
２倍の電圧を設定する。電圧比較器４１は、除算器３５
の出力電圧と基準電圧設定器３７の出力電圧を比較し、
除算器３５の出力電圧が基準電圧設定器３７の出力電圧
よりも高いとき、フィラメント断線検出信号Ｆ１を出力
する。
【００１７】Ｘ線管１１のフィラメントが正常なとき、
除算器３５の出力電圧は基準電圧設定器３７の出力電圧
よりも低いので電圧比較器４１は、フィラメント断線検
出信号Ｆ１を出力しない。しかし、Ｘ線管１１のフィラ
メントが断線するとフィラメントの抵抗は極めて大きく
なる。このため、電圧比較器４１はフィラメント断線検
出信号Ｆ１を出力する。基準電圧設定器３９には、正常
時における除算器３５の出力電圧よりも低い電圧、例え
ば正常時の０．７倍の電圧を設定する。電圧比較器４３
は、除算器３５の出力電圧と基準電圧設定器３９の出力
電圧を比較し、除算器３５の出力電圧が基準電圧設定器
３９の出力電圧よりも低いとき、フィラメントカップタ
ッチ検出信号Ｆ２を出力する。
除算器３５の出力電圧は基準電圧設定器３７の出力電圧
よりも低いので電圧比較器４１は、フィラメント断線検
出信号Ｆ１を出力しない。しかし、Ｘ線管１１のフィラ
メントが断線するとフィラメントの抵抗は極めて大きく
なる。このため、電圧比較器４１はフィラメント断線検
出信号Ｆ１を出力する。基準電圧設定器３９には、正常
時における除算器３５の出力電圧よりも低い電圧、例え
ば正常時の０．７倍の電圧を設定する。電圧比較器４３
は、除算器３５の出力電圧と基準電圧設定器３９の出力
電圧を比較し、除算器３５の出力電圧が基準電圧設定器
３９の出力電圧よりも低いとき、フィラメントカップタ
ッチ検出信号Ｆ２を出力する。
【００１８】次に焦点切り換え部１３の構成例を図５を
用いて説明する。図５に示すように焦点切り換え部１３
は、ＯＲゲート５１，５３と、二つのＤフリップフロッ
プ５５，５７と、ＮＯＲゲート５９と、ＡＮＤゲート６
１と、インバータ６３，６５と、パワーオンリセット回
路６７とから成る回路で構成される。
用いて説明する。図５に示すように焦点切り換え部１３
は、ＯＲゲート５１，５３と、二つのＤフリップフロッ
プ５５，５７と、ＮＯＲゲート５９と、ＡＮＤゲート６
１と、インバータ６３，６５と、パワーオンリセット回
路６７とから成る回路で構成される。
【００１９】Ｄフリップフロップ５５，５７は、電源Ｏ
Ｎ時にパワーオンリセット回路６７によってリセットさ
れる。このためそれぞれの出力端ＱはＬＯＷレベル（以
下「Ｌ」と記す）になる。Ｘ線管１１のフィラメントが
正常な状態のとき、フィラメント断線検出信号Ｆ１およ
びフィラメントカップタッチ信号Ｆ２はともに「Ｌ」で
あるのでＤフリップフロップ５５，５７の出力端Ｑは共
に「Ｌ」である。
Ｎ時にパワーオンリセット回路６７によってリセットさ
れる。このためそれぞれの出力端ＱはＬＯＷレベル（以
下「Ｌ」と記す）になる。Ｘ線管１１のフィラメントが
正常な状態のとき、フィラメント断線検出信号Ｆ１およ
びフィラメントカップタッチ信号Ｆ２はともに「Ｌ」で
あるのでＤフリップフロップ５５，５７の出力端Ｑは共
に「Ｌ」である。
【００２０】従って管電圧、管電流、曝射時間等の設定
が行われる図示しない制御手段から出力される焦点切り
換え信号ＦＣはＡＮＤゲート６１とＯＲゲート５３を通
り抜け、焦点を切り換えるリレーコイル１３ａ，１３ｂ
を作動させる。焦点切り換え信号ＦＣが「Ｌ」のときリ
レーコイル１３ａ，１３ｂはインバータ回路９と大焦点
用フィラメントトランス１７を導通させる。また、焦点
切り換え信号ＦＣがＨＩＧＨレベル（以下「Ｈ」と記
す）のときリレーコイル１３ａ，１３ｂはインバータ回
路９と小焦点用フィラメントトランス１５側を導通させ
る。
が行われる図示しない制御手段から出力される焦点切り
換え信号ＦＣはＡＮＤゲート６１とＯＲゲート５３を通
り抜け、焦点を切り換えるリレーコイル１３ａ，１３ｂ
を作動させる。焦点切り換え信号ＦＣが「Ｌ」のときリ
レーコイル１３ａ，１３ｂはインバータ回路９と大焦点
用フィラメントトランス１７を導通させる。また、焦点
切り換え信号ＦＣがＨＩＧＨレベル（以下「Ｈ」と記
す）のときリレーコイル１３ａ，１３ｂはインバータ回
路９と小焦点用フィラメントトランス１５側を導通させ
る。
【００２１】ここで、小焦点のフィラメントを選択して
いるとき（焦点切り換え信号ＦＣが「Ｈ」のとき）、フ
ィラメント断線もしくはフィラメントカップタッチが検
出されると、ＯＲゲート５１の出力は「Ｈ」となる。こ
のため、Ｄフリップフロップ５５，５７の出力端Ｑはそ
れぞれその時の入力端Ｄを保持するように働く。従っ
て、Ｄフリップフロップ５５の出力端Ｑは「Ｈ」、Ｄフ
リップフロップ５７の出力端Ｑはインバータ６３で反転
されて「Ｌ」になる。
いるとき（焦点切り換え信号ＦＣが「Ｈ」のとき）、フ
ィラメント断線もしくはフィラメントカップタッチが検
出されると、ＯＲゲート５１の出力は「Ｈ」となる。こ
のため、Ｄフリップフロップ５５，５７の出力端Ｑはそ
れぞれその時の入力端Ｄを保持するように働く。従っ
て、Ｄフリップフロップ５５の出力端Ｑは「Ｈ」、Ｄフ
リップフロップ５７の出力端Ｑはインバータ６３で反転
されて「Ｌ」になる。
【００２２】Ｄフリップフロップ５５の出力端Ｑが
「Ｈ」になることで、ＮＯＲゲート５９の出力は「Ｌ」
になり焦点切り換え信号ＦＣはＡＮＤゲート６１で阻止
される。一方、Ｄフリップフロップ５７の出力端Ｑは
「Ｌ」であるから、ＯＲゲート５３の出力は「Ｌ」であ
り、リレーコイル１３ａ，１３ｂは焦点切り換え信号Ｆ
Ｃによらずインバータ回路９と大焦点用フィラメントト
ランス１７を導通させる。尚、インバータ６５は、ＯＲ
ゲート５３の出力を反転させるとともに、リレーコイル
１３ａ，１３ｂを動作させるためにＯＲゲート５３の出
力を増幅させる。
「Ｈ」になることで、ＮＯＲゲート５９の出力は「Ｌ」
になり焦点切り換え信号ＦＣはＡＮＤゲート６１で阻止
される。一方、Ｄフリップフロップ５７の出力端Ｑは
「Ｌ」であるから、ＯＲゲート５３の出力は「Ｌ」であ
り、リレーコイル１３ａ，１３ｂは焦点切り換え信号Ｆ
Ｃによらずインバータ回路９と大焦点用フィラメントト
ランス１７を導通させる。尚、インバータ６５は、ＯＲ
ゲート５３の出力を反転させるとともに、リレーコイル
１３ａ，１３ｂを動作させるためにＯＲゲート５３の出
力を増幅させる。
【００２３】また、大焦点のフィラメントを選択してい
るとき（焦点切り換え信号ＦＣが「Ｌ」のとき）、フィ
ラメント断線もしくはフィラメントカップタッチが検出
されると、Ｄフリップフロップ５５の出力端Ｑは
「Ｌ」、Ｄフリップフロップ５７の出力端Ｑは「Ｈ」に
なる。この場合もＮＯＲゲート５９の出力は「Ｌ」にな
り焦点切り換え信号ＦＣはＡＮＤゲート６１で阻止され
る。一方、ＯＲゲート５３の出力は「Ｈ」になるため、
リレーコイル１３ａ，１３ｂは焦点切り換え信号ＦＣに
よらずインバータ回路９と小焦点用フィラメントトラン
ス１５を導通させる。
るとき（焦点切り換え信号ＦＣが「Ｌ」のとき）、フィ
ラメント断線もしくはフィラメントカップタッチが検出
されると、Ｄフリップフロップ５５の出力端Ｑは
「Ｌ」、Ｄフリップフロップ５７の出力端Ｑは「Ｈ」に
なる。この場合もＮＯＲゲート５９の出力は「Ｌ」にな
り焦点切り換え信号ＦＣはＡＮＤゲート６１で阻止され
る。一方、ＯＲゲート５３の出力は「Ｈ」になるため、
リレーコイル１３ａ，１３ｂは焦点切り換え信号ＦＣに
よらずインバータ回路９と小焦点用フィラメントトラン
ス１５を導通させる。
【００２４】尚、小焦点を使用している時にフィラメン
ト断線もしくはフィラメントカップタッチが生じて、大
焦点に切り換えた場合、焦点サイズが大きい分、得られ
る画像の解像度は下がるが、診断は継続することができ
る。また、大焦点を使用している時にフィラメント断線
もしくはフィラメントカップタッチが生じて、小焦点に
切り換えた場合、管電流は焦点サイズが小さいために大
焦点と同様の大電流を供給することはできないが、曝射
時間を長くすることで大焦点と同様な画像を得ることが
できる。
ト断線もしくはフィラメントカップタッチが生じて、大
焦点に切り換えた場合、焦点サイズが大きい分、得られ
る画像の解像度は下がるが、診断は継続することができ
る。また、大焦点を使用している時にフィラメント断線
もしくはフィラメントカップタッチが生じて、小焦点に
切り換えた場合、管電流は焦点サイズが小さいために大
焦点と同様の大電流を供給することはできないが、曝射
時間を長くすることで大焦点と同様な画像を得ることが
できる。
【００２５】尚、フィラメント加熱制御部２３からフィ
ラメント断線検出信号Ｆ１、フィラメントカップタッチ
検出信号Ｆ２が出力された場合、図示しない制御手段は
それを受けて、音、光、文字、図記号等を用いてＸ線管
１１の異常を操作者に知らせる。
ラメント断線検出信号Ｆ１、フィラメントカップタッチ
検出信号Ｆ２が出力された場合、図示しない制御手段は
それを受けて、音、光、文字、図記号等を用いてＸ線管
１１の異常を操作者に知らせる。
【００２６】このように本実施例のＸ線高電圧装置１で
は、フィラメント電圧検出部１９の出力電圧ＥＦとフィ
ラメント電流検出部２１の出力電圧ＩＦとからフィラメ
ントの抵抗を求め、これを基にＸ線管１１のフィラメン
ト断線もしくはフィラメントカップタッチを検出し、Ｘ
線管１１のフィラメントが正常の場合は焦点切り換え信
号ＦＣにより焦点を切り換え、フィラメント断線もしく
はフィラメントカップタッチが検出された場合は焦点切
り換え信号ＦＣによらず、正常なフィラメント側の焦点
に切り換えるようにしているので、Ｘ線管１１のフィラ
メント断線もしくはフィラメントカップタッチを正確に
検出でき、さらに、フィラメント断線もしくはフィラメ
ントカップタッチが生じても診断を継続することができ
る。
は、フィラメント電圧検出部１９の出力電圧ＥＦとフィ
ラメント電流検出部２１の出力電圧ＩＦとからフィラメ
ントの抵抗を求め、これを基にＸ線管１１のフィラメン
ト断線もしくはフィラメントカップタッチを検出し、Ｘ
線管１１のフィラメントが正常の場合は焦点切り換え信
号ＦＣにより焦点を切り換え、フィラメント断線もしく
はフィラメントカップタッチが検出された場合は焦点切
り換え信号ＦＣによらず、正常なフィラメント側の焦点
に切り換えるようにしているので、Ｘ線管１１のフィラ
メント断線もしくはフィラメントカップタッチを正確に
検出でき、さらに、フィラメント断線もしくはフィラメ
ントカップタッチが生じても診断を継続することができ
る。
【００２７】尚、本実施例のＸ線高電圧装置１では、Ｄ
Ｃ／ＤＣコンバータ７とインバータ回路９をそれぞれ一
つ備えているが、これに限らず、図６に示すように、小
焦点用と大焦点用に分けて独立にＤＣ／ＤＣコンバータ
７とインバータ回路９を備えるようにしても良い。この
場合、焦点切り換え部１３は不要となり、焦点の切り換
えは、フィラメント加熱制御部２３もしくは管電圧、管
電流、曝射時間等の設定が行われる図示しない制御手段
により、ＤＣ／ＤＣコンバータ７の出力値を制御するこ
とにより行われる。
Ｃ／ＤＣコンバータ７とインバータ回路９をそれぞれ一
つ備えているが、これに限らず、図６に示すように、小
焦点用と大焦点用に分けて独立にＤＣ／ＤＣコンバータ
７とインバータ回路９を備えるようにしても良い。この
場合、焦点切り換え部１３は不要となり、焦点の切り換
えは、フィラメント加熱制御部２３もしくは管電圧、管
電流、曝射時間等の設定が行われる図示しない制御手段
により、ＤＣ／ＤＣコンバータ７の出力値を制御するこ
とにより行われる。
【００２８】また、本実施例のＸ線高電圧装置１の焦点
切り換え部１３は、ディジタル回路により構成している
が、これに限らず、ＣＰＵ等の演算手段を用い、Ｘ線管
１１のフィラメントが正常な場合は焦点切り換え信号Ｆ
Ｃにより焦点を切り換え、フィラメント断線もしくはフ
ィラメントカップタッチが検出された場合は焦点切り換
え信号ＦＣによらず、正常なフィラメント側の焦点に切
り換えるように制御しても良い。この場合、フィラメン
ト電圧検出部１９の出力電圧ＥＦとフィラメント電流の
出力電圧ＩＦをＡＤコンバータでディジタル信号に変換
した後、前記演算手段に読み込ませるようにする。
切り換え部１３は、ディジタル回路により構成している
が、これに限らず、ＣＰＵ等の演算手段を用い、Ｘ線管
１１のフィラメントが正常な場合は焦点切り換え信号Ｆ
Ｃにより焦点を切り換え、フィラメント断線もしくはフ
ィラメントカップタッチが検出された場合は焦点切り換
え信号ＦＣによらず、正常なフィラメント側の焦点に切
り換えるように制御しても良い。この場合、フィラメン
ト電圧検出部１９の出力電圧ＥＦとフィラメント電流の
出力電圧ＩＦをＡＤコンバータでディジタル信号に変換
した後、前記演算手段に読み込ませるようにする。
【００２９】さらに、本実施例のＸ線高電圧装置１で
は、フィラメント断線もしくはフィラメントカップタッ
チが検出された場合は焦点切り換え信号ＦＣによらず、
正常なフィラメント側の焦点に切り換えるようにしてい
るが、これに限らず、Ｘ線管１１の焦点の切り換えは図
示しないコンソールを用いて操作者が行うようにしても
良い。
は、フィラメント断線もしくはフィラメントカップタッ
チが検出された場合は焦点切り換え信号ＦＣによらず、
正常なフィラメント側の焦点に切り換えるようにしてい
るが、これに限らず、Ｘ線管１１の焦点の切り換えは図
示しないコンソールを用いて操作者が行うようにしても
良い。
【００３０】さらに、本実施例のＸ線高電圧装置１で
は、フィラメントを二つ備えたＸ線管１１に適用した場
合を例にして説明したが、これに限らず、フィラメント
を三つ以上備えたＸ線管にも適用することができる。さ
らに、フィラメントが一つのみのＸ線管にも適用するこ
とができる。この場合、フィラメントが一つのみである
のでフィラメント断線もしくはフィラメントカップタッ
チが検出された場合は音、光、文字、図記号等を用いて
Ｘ線管１１のフィラメントの異常を操作者に知らせる動
作のみとなるが、前記フィラメントの以上を発生直後に
知ることができるので、バックアップ作業に移ることが
迅速にできる。
は、フィラメントを二つ備えたＸ線管１１に適用した場
合を例にして説明したが、これに限らず、フィラメント
を三つ以上備えたＸ線管にも適用することができる。さ
らに、フィラメントが一つのみのＸ線管にも適用するこ
とができる。この場合、フィラメントが一つのみである
のでフィラメント断線もしくはフィラメントカップタッ
チが検出された場合は音、光、文字、図記号等を用いて
Ｘ線管１１のフィラメントの異常を操作者に知らせる動
作のみとなるが、前記フィラメントの以上を発生直後に
知ることができるので、バックアップ作業に移ることが
迅速にできる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、Ｘ線管の
フィラメントに供給されるフィラメント電流と、Ｘ線管
のフィラメントに印加されるフィラメント電圧とからフ
ィラメントの抵抗を求めているので、このフィラメント
の抵抗を基にＸ線管のフィラメント断線もしくはフィラ
メントカップタッチを正確に検出することができる。
フィラメントに供給されるフィラメント電流と、Ｘ線管
のフィラメントに印加されるフィラメント電圧とからフ
ィラメントの抵抗を求めているので、このフィラメント
の抵抗を基にＸ線管のフィラメント断線もしくはフィラ
メントカップタッチを正確に検出することができる。
【００３２】また、フィラメントを少なくとも二つ備え
たＸ線管に本発明を適用した場合は、Ｘ線管のフィラメ
ント断線もしくはフィラメントカップタッチを正確に検
出できるので、診断中にＸ線管のフィラメント断線もし
くはフィラメントカップタッチが検出された場合は、使
用するフィラメントを正常なフィラメントに切り換える
ことも可能となる。
たＸ線管に本発明を適用した場合は、Ｘ線管のフィラメ
ント断線もしくはフィラメントカップタッチを正確に検
出できるので、診断中にＸ線管のフィラメント断線もし
くはフィラメントカップタッチが検出された場合は、使
用するフィラメントを正常なフィラメントに切り換える
ことも可能となる。
【図１】本発明に係るＸ線高電圧装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】フィラメント電圧検出部の構成例を示した回路
図である。
図である。
【図３】フィラメント電流検出部の構成例を示した回路
図である。
図である。
【図４】フィラメント断線検出部の構成例を示した回路
図である。
図である。
【図５】焦点切り換え部の構成例を示した回路図であ
る。
る。
【図６】小焦点用と大焦点用に分けて独立にＤＣ／ＤＣ
コンバータとインバータ回路を備えたＸ線高電圧装置を
示すブロック図である。
コンバータとインバータ回路を備えたＸ線高電圧装置を
示すブロック図である。
１ Ｘ線高電圧装置 ３ 交流電源 ５ 整流平滑回路 ７ ＤＣ／ＤＣコンバータ ９ インバータ回路 １１ Ｘ線管 １３ 焦点切り換え部 １３ａ，１３ｂ リレーコイル １５ 小焦点用フィラメントトランス １７ 大焦点用フィラメントトランス １９ フィラメント電圧検出部 ２１ フィラメント電流検出部 ２３ フィラメント加熱制御部 ２５ 抵抗 ２７ カレントトランス ２９ ダイオード ３１ コンデンサ ３３ フィラメント断線検出部 ３５ 除算器 ３７，３９ 基準電圧設定器 ４１，４３ 電圧比較器 ５１，５３ ＯＲゲート ５５，５７ Ｄフリップフロップ ５９ ＮＯＲゲート ６１ ＡＮＤゲート ６３，６５ インバータ ６７ パワーオンリセット回路
Claims (3)
- 【請求項１】 Ｘ線を曝射するＸ線管のフィラメントに
印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメント電
圧検出手段と、 前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段と、 前記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラ
メント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検
出されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を
演算する演算手段と、 予め設定されたフィラメント断線時の基準値よりこの演
算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が大き
い場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設
定されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記
演算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が小
さい場合はフィラメントカップタッチの検出信号を生成
する比較手段とを有することを特徴とするＸ線高電圧装
置。 - 【請求項２】 電子を放出するフィラメントを少なくと
も二つ備えたＸ線管に電子加熱用の高電圧とフィラメン
ト加熱用電流を供給するＸ線高電圧装置において、 前記Ｘ線管のフィラメントに印加されるフィラメント電
圧を検出するフィラメント電圧検出手段と、 前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段と、 前記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラ
メント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検
出されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を
演算する演算手段と、 予め設定されたフィラメント断線時の基準値よりこの演
算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が大き
い場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設
定されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記
演算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が小
さい場合はフィラメントカップタッチの検出信号を生成
する比較手段と有することを特徴とするＸ線高電圧装
置。 - 【請求項３】 電子を放出するフィラメントを少なくと
も二つ備えたＸ線管に電子加熱用の高電圧とフィラメン
ト加熱用電流を供給するＸ線高電圧装置において、 前記Ｘ線管のフィラメントに印加されるフィラメント電
圧を検出するフィラメント電圧検出手段と、 前記Ｘ線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段と、 前記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラ
メント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検
出されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を
演算する演算手段と、 予め設定されたフィラメント断線時の基準値よりこの演
算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が大き
い場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設
定されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記
演算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が小
さい場合はフィラメントカップタッチの検出信号を生成
する比較手段と、 この比較手段により検出信号が生成されたとき、使用す
るフィラメントを正常なフィラメントに切り換える切り
換え手段とを有することを特徴とするＸ線高電圧装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9409095A JP3599292B2 (ja) | 1995-04-20 | 1995-04-20 | Ｘ線高電圧装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9409095A JP3599292B2 (ja) | 1995-04-20 | 1995-04-20 | Ｘ線高電圧装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08293395A true JPH08293395A (ja) | 1996-11-05 |
| JP3599292B2 JP3599292B2 (ja) | 2004-12-08 |
Family
ID=14100766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9409095A Expired - Fee Related JP3599292B2 (ja) | 1995-04-20 | 1995-04-20 | Ｘ線高電圧装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3599292B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10038946C2 (de) * | 2000-08-09 | 2002-03-14 | Siemens Ag | Heizstromkreis für eine Kathode einer Röntgenröhre und Verfahren zur Ermittlung einer Führungsgröße einer Stromregeleinrichtung eines Heizstromkreises |
| KR100967346B1 (ko) * | 2008-07-11 | 2010-07-05 | (주) 브이에스아이 | 전계 방출 엑스선관의 관전류제어 회로 |
| JP2015115139A (ja) * | 2013-12-10 | 2015-06-22 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線管装置 |
| EP3229562A2 (en) * | 2016-04-05 | 2017-10-11 | General Electric Company | X-ray systems having individually measurable emitters |
-
1995
- 1995-04-20 JP JP9409095A patent/JP3599292B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10038946C2 (de) * | 2000-08-09 | 2002-03-14 | Siemens Ag | Heizstromkreis für eine Kathode einer Röntgenröhre und Verfahren zur Ermittlung einer Führungsgröße einer Stromregeleinrichtung eines Heizstromkreises |
| KR100967346B1 (ko) * | 2008-07-11 | 2010-07-05 | (주) 브이에스아이 | 전계 방출 엑스선관의 관전류제어 회로 |
| JP2015115139A (ja) * | 2013-12-10 | 2015-06-22 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線管装置 |
| EP3229562A2 (en) * | 2016-04-05 | 2017-10-11 | General Electric Company | X-ray systems having individually measurable emitters |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3599292B2 (ja) | 2004-12-08 |
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