JPH0829495A - 電源の給電回路 - Google Patents
電源の給電回路Info
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- JPH0829495A JPH0829495A JP6181881A JP18188194A JPH0829495A JP H0829495 A JPH0829495 A JP H0829495A JP 6181881 A JP6181881 A JP 6181881A JP 18188194 A JP18188194 A JP 18188194A JP H0829495 A JPH0829495 A JP H0829495A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、電力消費を低減し、配線ケーブル
の本数を削減し、回路を単純化して、必要な容積を小さ
くした電源の給電回路を実現することを目的としてい
る。 【構成】 接地レベルに対して正電圧と負電圧を出力す
る複数台のユニット電源を電源架内に設ける。ユニット
電源の正のＤＣ電源出力においては、電源出力にダイオ
ードを順方向に接続し、陰極側で相互に接続する。ユニ
ット電源の負のＤＣ電源出力においては、電源出力にダ
イオードを逆方向に接続し、陽極側で相互に接続する。
電源架の、正電圧の集束されたＤＣ電源端子と、負電圧
の集束されたＤＣ電源端子及び接地端子は、給電ケーブ
ルによって、ＤＣパラメトリック試験ユニット内の複数
個のデバイス電源へ接続する。ユニット電源のＯＮ／Ｏ
ＦＦは、ＤＣパラメトリック試験ユニット内にあるイン
ターフェイスボード上の回路から、ＯＮ／ＯＦＦ制御信
号を電源架に送り制御する。
の本数を削減し、回路を単純化して、必要な容積を小さ
くした電源の給電回路を実現することを目的としてい
る。 【構成】 接地レベルに対して正電圧と負電圧を出力す
る複数台のユニット電源を電源架内に設ける。ユニット
電源の正のＤＣ電源出力においては、電源出力にダイオ
ードを順方向に接続し、陰極側で相互に接続する。ユニ
ット電源の負のＤＣ電源出力においては、電源出力にダ
イオードを逆方向に接続し、陽極側で相互に接続する。
電源架の、正電圧の集束されたＤＣ電源端子と、負電圧
の集束されたＤＣ電源端子及び接地端子は、給電ケーブ
ルによって、ＤＣパラメトリック試験ユニット内の複数
個のデバイス電源へ接続する。ユニット電源のＯＮ／Ｏ
ＦＦは、ＤＣパラメトリック試験ユニット内にあるイン
ターフェイスボード上の回路から、ＯＮ／ＯＦＦ制御信
号を電源架に送り制御する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣ試験装置における
電源架よりＤＣパラメトリック試験ユニットへの電源の
給電回路に関するものである。
電源架よりＤＣパラメトリック試験ユニットへの電源の
給電回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３に従来のＩＣ試験装置の電源の給電
回路を示す。この場合、電源架１０内には、１台または
複数台ｎ台のユニット電源１１を内蔵しており、ＩＣ試
験装置の主電源スイッチ１３をＯＮすると、電源シーケ
ンサ１２によって各ユニット電源１１の投入タイミング
が制御されＤＣ電源を供給する。それ以後、上記主電源
スイッチ１３をＯＦＦするまで、全ユニット電源はＯＮ
の状態を維持する。
回路を示す。この場合、電源架１０内には、１台または
複数台ｎ台のユニット電源１１を内蔵しており、ＩＣ試
験装置の主電源スイッチ１３をＯＮすると、電源シーケ
ンサ１２によって各ユニット電源１１の投入タイミング
が制御されＤＣ電源を供給する。それ以後、上記主電源
スイッチ１３をＯＦＦするまで、全ユニット電源はＯＮ
の状態を維持する。
【０００３】電源架１０内の各ユニット電源１１は、そ
れぞれ正のＤＣ電源出力と負のＤＣ電源出力を供給する
ようになっており、接地線を含み３本の給電ケーブル１
５で、ＤＣパラメトリック試験ユニット２０に供給され
る。このため複数のユニット電源１１を電源架１０内に
内蔵すると、ユニット電源１１の数の３倍の給電ケーブ
ル１５が電源架１０とＤＣパラメトリック試験ユニット
２０間に配線されることになる。なお、図３のユニット
電源１１の出力電圧は、０Ｖ＜＋Ｖ１＜・・・＜＋Ｖｎ
及び０Ｖ＞−Ｖ１＞・・・＞−Ｖｎの関係になってい
る。
れぞれ正のＤＣ電源出力と負のＤＣ電源出力を供給する
ようになっており、接地線を含み３本の給電ケーブル１
５で、ＤＣパラメトリック試験ユニット２０に供給され
る。このため複数のユニット電源１１を電源架１０内に
内蔵すると、ユニット電源１１の数の３倍の給電ケーブ
ル１５が電源架１０とＤＣパラメトリック試験ユニット
２０間に配線されることになる。なお、図３のユニット
電源１１の出力電圧は、０Ｖ＜＋Ｖ１＜・・・＜＋Ｖｎ
及び０Ｖ＞−Ｖ１＞・・・＞−Ｖｎの関係になってい
る。
【０００４】ＤＣパラメトリック試験ユニット２０内に
は、プログラマブル電源であるデバイス電源２１を１個
または複数個ｍ個内蔵している。各デバイス電源２１に
は、デバイス電源２１のＤＣ出力電圧に応じて消費電力
を小さく押さえる適当な入力電圧が、給電ケーブル１５
を通して供給されるユニット電源１１から選択され給電
される。入力電圧の選択は、正のＤＣ電源の場合、消費
電力を小さく押さえるのに適当な入力電圧を選び、その
電圧値より高い電圧値を供給する給電ケーブル１５に対
して設けられた、デバイス電源２１内の給電スイッチ２
３をＯＦＦすることで行われる。同じように、負のＤＣ
電源の場合、入力電圧の選択は、必要とする消費電力を
小さく押さえるのに適当な入力電圧を選び、その電圧値
より低い電圧値を供給する給電ケーブル１５に対して設
けられた、デバイス電源２１内の給電スイッチ２３をＯ
ＦＦすることで行われる。上記給電スイッチ２３は、リ
レー、又はＦＥＴスイッチ及び光ＭＯＳリレーのような
半導体スイッチであり、上記ＤＣパラメトリック試験ユ
ニット２０内にある、インターフェイスボード２２上の
回路によってＯＮ／ＯＦＦ制御される。なお、正のＤＣ
電源の場合、全てのユニット電源１１のうち最も電圧の
低い出力＋Ｖ１には、ダイオードがスイッチ機能を果た
しているため、給電スイッチ２３の必要がない。同じよ
うに、負のＤＣ電源の場合、全てのユニット電源１１の
うち最も電圧の高い出力−Ｖ１には、ダイオードがスイ
ッチ機能を果たしているため、給電スイッチ２３の必要
がない。
は、プログラマブル電源であるデバイス電源２１を１個
または複数個ｍ個内蔵している。各デバイス電源２１に
は、デバイス電源２１のＤＣ出力電圧に応じて消費電力
を小さく押さえる適当な入力電圧が、給電ケーブル１５
を通して供給されるユニット電源１１から選択され給電
される。入力電圧の選択は、正のＤＣ電源の場合、消費
電力を小さく押さえるのに適当な入力電圧を選び、その
電圧値より高い電圧値を供給する給電ケーブル１５に対
して設けられた、デバイス電源２１内の給電スイッチ２
３をＯＦＦすることで行われる。同じように、負のＤＣ
電源の場合、入力電圧の選択は、必要とする消費電力を
小さく押さえるのに適当な入力電圧を選び、その電圧値
より低い電圧値を供給する給電ケーブル１５に対して設
けられた、デバイス電源２１内の給電スイッチ２３をＯ
ＦＦすることで行われる。上記給電スイッチ２３は、リ
レー、又はＦＥＴスイッチ及び光ＭＯＳリレーのような
半導体スイッチであり、上記ＤＣパラメトリック試験ユ
ニット２０内にある、インターフェイスボード２２上の
回路によってＯＮ／ＯＦＦ制御される。なお、正のＤＣ
電源の場合、全てのユニット電源１１のうち最も電圧の
低い出力＋Ｖ１には、ダイオードがスイッチ機能を果た
しているため、給電スイッチ２３の必要がない。同じよ
うに、負のＤＣ電源の場合、全てのユニット電源１１の
うち最も電圧の高い出力−Ｖ１には、ダイオードがスイ
ッチ機能を果たしているため、給電スイッチ２３の必要
がない。
【０００５】また、各デバイス電源２１の入力側には、
上記給電スイッチ２３の他にダイオードが組み込まれ、
正のＤＣ電源の場合、電圧の高いユニット電源１１か
ら、電圧の低いユニット電源１１へ電流が流入すること
を防止している。同じように、負のＤＣ電源の場合、電
圧の高いユニット電源１１から、電圧の低いユニット電
源１１へ電流が流出することを防止するためダイオード
が組み込まれ、ユニット電源１１の出力回路を保護して
いる。なお、正のＤＣ電源の場合、全てのユニット電源
１１のうち最も電圧の高い出力＋Ｖｎには、電流が流入
する可能性がないためダイオードの必要がない。同じよ
うに、負のＤＣ電源の場合、全てのユニット電源１１の
うち最も電圧の低い出力−Ｖｎには電流が流出する可能
性がないためダイオードの必要がない。
上記給電スイッチ２３の他にダイオードが組み込まれ、
正のＤＣ電源の場合、電圧の高いユニット電源１１か
ら、電圧の低いユニット電源１１へ電流が流入すること
を防止している。同じように、負のＤＣ電源の場合、電
圧の高いユニット電源１１から、電圧の低いユニット電
源１１へ電流が流出することを防止するためダイオード
が組み込まれ、ユニット電源１１の出力回路を保護して
いる。なお、正のＤＣ電源の場合、全てのユニット電源
１１のうち最も電圧の高い出力＋Ｖｎには、電流が流入
する可能性がないためダイオードの必要がない。同じよ
うに、負のＤＣ電源の場合、全てのユニット電源１１の
うち最も電圧の低い出力−Ｖｎには電流が流出する可能
性がないためダイオードの必要がない。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の電源の給電回路
には、次に示す問題があった。 主電源スイッチをＯＮすると、ユニット電源が全て
ＯＮ状態になり、デバイス電源によって使用されていな
いユニット電源の自己電力消費が無駄になっている。 ユニット電源の個数が多くなると、それに比例して
給電ケーブルの本数が増加し、ケーブルの配線処理が煩
雑になる。 デバイス電源毎に給電スイッチとダイオードで構成
する入力電源切り換え回路が必要でありデバイス電源が
大きくなる。 からの問題点を解消するためユニット電源を一
台にすると、そのユニット電源が、正のＤＣ電源の場
合、全てのデバイス電源のうち最も高い出力電圧におい
て、消費電力を小さく押さえるのに適当な電圧で、全て
のデバイス電源に電流を供給する。同じように、負のＤ
Ｃ電源の場合、全てのデバイス電源のうち最も低い出力
電圧において、消費電力を小さく押さえるのに適当な電
圧で、全てのデバイス電源より流入する電流を駆動する
ため、大電力のユニット電源になり、形状が大きくな
る。又、デバイス電源が実際に出力する電圧とユニット
電源の出力電圧との差が大きくなり、デバイス電源内の
電力損失が大きくなる。このため、熱設計上、放熱を考
慮してデバイス電源の形状が大きくなってしまう。本発
明は、電力消費を低減し、配線ケーブルの本数を削減
し、回路を単純化して、必要な容積を小さくした電源の
給電回路を実現することを目的としている。
には、次に示す問題があった。 主電源スイッチをＯＮすると、ユニット電源が全て
ＯＮ状態になり、デバイス電源によって使用されていな
いユニット電源の自己電力消費が無駄になっている。 ユニット電源の個数が多くなると、それに比例して
給電ケーブルの本数が増加し、ケーブルの配線処理が煩
雑になる。 デバイス電源毎に給電スイッチとダイオードで構成
する入力電源切り換え回路が必要でありデバイス電源が
大きくなる。 からの問題点を解消するためユニット電源を一
台にすると、そのユニット電源が、正のＤＣ電源の場
合、全てのデバイス電源のうち最も高い出力電圧におい
て、消費電力を小さく押さえるのに適当な電圧で、全て
のデバイス電源に電流を供給する。同じように、負のＤ
Ｃ電源の場合、全てのデバイス電源のうち最も低い出力
電圧において、消費電力を小さく押さえるのに適当な電
圧で、全てのデバイス電源より流入する電流を駆動する
ため、大電力のユニット電源になり、形状が大きくな
る。又、デバイス電源が実際に出力する電圧とユニット
電源の出力電圧との差が大きくなり、デバイス電源内の
電力損失が大きくなる。このため、熱設計上、放熱を考
慮してデバイス電源の形状が大きくなってしまう。本発
明は、電力消費を低減し、配線ケーブルの本数を削減
し、回路を単純化して、必要な容積を小さくした電源の
給電回路を実現することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明においては、接地レベルに対して正電圧と負
電圧を出力する１台または複数台のユニット電源を電源
架内に設ける。ユニット電源の正のＤＣ電源出力におい
ては、電源出力にダイオードを順方向に接続し、陰極側
で相互に接続する。ただし、最も高い電圧を出力するユ
ニット電源については上記ダイオードを通さず電源出力
を直接、他のユニット電源のダイオードを通した後の出
力に接続してもよい。ユニット電源の負のＤＣ電源出力
においては、電源出力にダイオードを逆方向に接続し、
陽極側で相互に接続する。ただし、最も低い電圧を出力
するユニット電源については上記ダイオードを通さず電
源出力を直接、他のユニット電源のダイオードを通した
後の出力に接続してもよい。以上、電源架の、正電圧の
集束されたＤＣ電源端子と、負電圧の集束されたＤＣ電
源端子及び接地端子は、給電ケーブルによって、ＤＣパ
ラメトリック試験ユニット内の１個または複数個のデバ
イス電源へ接続する。上記ユニット電源のＯＮ／ＯＦＦ
は、ＤＣパラメトリック試験ユニット内にあるインター
フェイスボード上の回路から、ｎ本のＯＮ／ＯＦＦ制御
信号を電源架に送り制御する。
に、本発明においては、接地レベルに対して正電圧と負
電圧を出力する１台または複数台のユニット電源を電源
架内に設ける。ユニット電源の正のＤＣ電源出力におい
ては、電源出力にダイオードを順方向に接続し、陰極側
で相互に接続する。ただし、最も高い電圧を出力するユ
ニット電源については上記ダイオードを通さず電源出力
を直接、他のユニット電源のダイオードを通した後の出
力に接続してもよい。ユニット電源の負のＤＣ電源出力
においては、電源出力にダイオードを逆方向に接続し、
陽極側で相互に接続する。ただし、最も低い電圧を出力
するユニット電源については上記ダイオードを通さず電
源出力を直接、他のユニット電源のダイオードを通した
後の出力に接続してもよい。以上、電源架の、正電圧の
集束されたＤＣ電源端子と、負電圧の集束されたＤＣ電
源端子及び接地端子は、給電ケーブルによって、ＤＣパ
ラメトリック試験ユニット内の１個または複数個のデバ
イス電源へ接続する。上記ユニット電源のＯＮ／ＯＦＦ
は、ＤＣパラメトリック試験ユニット内にあるインター
フェイスボード上の回路から、ｎ本のＯＮ／ＯＦＦ制御
信号を電源架に送り制御する。
【０００８】又、別の手段として、接地レベルに対して
正電圧と負電圧を出力し、その出力電圧を可変できる１
台のユニット電源を電源架内に設ける。電源架の正電圧
のＤＣ電源端子と、負電圧のＤＣ電源端子及び接地端子
は、給電ケーブルによって、ＤＣパラメトリック試験ユ
ニット内の１個または複数個のデバイス電源へ接続す
る。上記１台のユニット電源は、同じ電源架内の電圧可
変制御回路によって、その出力電圧を可変できる。電圧
可変制御回路には、電圧値を指定する電圧値指定制御信
号が、ＤＣパラメトリック試験ユニット内のインターフ
ェイスボードより送られ、ユニット電源の電圧が可変制
御される。
正電圧と負電圧を出力し、その出力電圧を可変できる１
台のユニット電源を電源架内に設ける。電源架の正電圧
のＤＣ電源端子と、負電圧のＤＣ電源端子及び接地端子
は、給電ケーブルによって、ＤＣパラメトリック試験ユ
ニット内の１個または複数個のデバイス電源へ接続す
る。上記１台のユニット電源は、同じ電源架内の電圧可
変制御回路によって、その出力電圧を可変できる。電圧
可変制御回路には、電圧値を指定する電圧値指定制御信
号が、ＤＣパラメトリック試験ユニット内のインターフ
ェイスボードより送られ、ユニット電源の電圧が可変制
御される。
【０００９】
【作用】以上のように構成された電源の給電回路におい
ては、必要とするユニット電源のみ電源がＯＮし、使用
していないユニット電源による自己電力消費がない。ま
た、給電ケーブルは、正電圧のＤＣ電源、負電圧のＤＣ
電源及び接地の３本と、インターフェイスより電源架に
転送する電圧指定の制御信号のみであり、ケーブルの配
線処理が容易である。そして、デバイス毎にあった給電
スイッチとダイオードで構成する入力電源切り換え回路
が必要でない。デバイス電源で必要とする最適の入力電
圧をユニット電源で設定できるため、ユニット電源にお
いても、デバイス電源においても、必要最小限の電力損
失となり、電源の給電回路全体として小型化が可能にな
る。
ては、必要とするユニット電源のみ電源がＯＮし、使用
していないユニット電源による自己電力消費がない。ま
た、給電ケーブルは、正電圧のＤＣ電源、負電圧のＤＣ
電源及び接地の３本と、インターフェイスより電源架に
転送する電圧指定の制御信号のみであり、ケーブルの配
線処理が容易である。そして、デバイス毎にあった給電
スイッチとダイオードで構成する入力電源切り換え回路
が必要でない。デバイス電源で必要とする最適の入力電
圧をユニット電源で設定できるため、ユニット電源にお
いても、デバイス電源においても、必要最小限の電力損
失となり、電源の給電回路全体として小型化が可能にな
る。
【００１０】
（実施例１）図１に本発明の一実施例を示す。この場
合、電源架１０内には、ｎ台のユニット電源１１を格納
する。各ユニット電源１１は、接地レベルに対して正電
圧の１出力と負電圧の１出力で構成され、２出力ＤＣ電
源を構成する。なお、図１のユニット電源１１の出力電
圧は、０Ｖ＜＋Ｖ１＜・・・＜＋Ｖｎ及び０Ｖ＞−Ｖ１
＞−Ｖｎの関係になっている。ｎ個のユニット電源の正
のＤＣ電源出力は、その中で最も高い電圧＋Ｖｎを出力
するユニット電源１１を除き、ダイオードＤ１１からＤ
１（ｎ−１）を通して出力を相互に接続する。上記＋Ｖ
ｎを出力するユニット電源１１は、その出力＋Ｖｎをダ
イオードを通さず直接、他のユニット電源１１のダイオ
ードを通した後の出力に接続する。同じように、ｎ個の
ユニット電源の負のＤＣ電源出力は、その中で最も低い
電圧−Ｖｎを出力するユニット電源１１を除き、ダイオ
ードＤ２１からＤ２（ｎ−１）を通して出力を相互に接
続する。上記−Ｖｎを出力するユニット電源１１は、そ
の出力−Ｖｎをダイオードを通さず直接、他のユニット
電源１１のダイオードを通した後の出力に接続する。
合、電源架１０内には、ｎ台のユニット電源１１を格納
する。各ユニット電源１１は、接地レベルに対して正電
圧の１出力と負電圧の１出力で構成され、２出力ＤＣ電
源を構成する。なお、図１のユニット電源１１の出力電
圧は、０Ｖ＜＋Ｖ１＜・・・＜＋Ｖｎ及び０Ｖ＞−Ｖ１
＞−Ｖｎの関係になっている。ｎ個のユニット電源の正
のＤＣ電源出力は、その中で最も高い電圧＋Ｖｎを出力
するユニット電源１１を除き、ダイオードＤ１１からＤ
１（ｎ−１）を通して出力を相互に接続する。上記＋Ｖ
ｎを出力するユニット電源１１は、その出力＋Ｖｎをダ
イオードを通さず直接、他のユニット電源１１のダイオ
ードを通した後の出力に接続する。同じように、ｎ個の
ユニット電源の負のＤＣ電源出力は、その中で最も低い
電圧−Ｖｎを出力するユニット電源１１を除き、ダイオ
ードＤ２１からＤ２（ｎ−１）を通して出力を相互に接
続する。上記−Ｖｎを出力するユニット電源１１は、そ
の出力−Ｖｎをダイオードを通さず直接、他のユニット
電源１１のダイオードを通した後の出力に接続する。
【００１１】以上、正電圧の集束されたＤＣ電源端子
と、負電圧の集束されたＤＣ電源端子と、接地端子は、
給電ケーブル１５によって、ＤＣパラメトリック試験ユ
ニット２０内の複数個ｍ個のデバイス電源３１へ接続す
る。複数のデバイス電源３１は、それぞれ独立したプロ
グラマブル電源であるが、通常、全て同一範囲内の電圧
がプログラム設定される。
と、負電圧の集束されたＤＣ電源端子と、接地端子は、
給電ケーブル１５によって、ＤＣパラメトリック試験ユ
ニット２０内の複数個ｍ個のデバイス電源３１へ接続す
る。複数のデバイス電源３１は、それぞれ独立したプロ
グラマブル電源であるが、通常、全て同一範囲内の電圧
がプログラム設定される。
【００１２】ユニット電源１１のＯＮ／ＯＦＦは、ＤＣ
パラメトリック試験ユニット２０内にあるインターフェ
イスボード３２上の回路から、ｎ本のＯＮ／ＯＦＦ制御
信号１６を電源架１０に送り制御する。ＩＣ試験時のＤ
Ｃ電源電圧設定時に、必要なユニット電源１１のみをＯ
Ｎ状態にし、それ以外のユニット電源１１をＯＦＦ状態
にすることで、ユニット電源１１の自己電力消費を削減
している。
パラメトリック試験ユニット２０内にあるインターフェ
イスボード３２上の回路から、ｎ本のＯＮ／ＯＦＦ制御
信号１６を電源架１０に送り制御する。ＩＣ試験時のＤ
Ｃ電源電圧設定時に、必要なユニット電源１１のみをＯ
Ｎ状態にし、それ以外のユニット電源１１をＯＦＦ状態
にすることで、ユニット電源１１の自己電力消費を削減
している。
【００１３】（実施例２）図２に本発明の別の実施例を
示す。この場合、電源架１０内には、１台のユニット電
源１１と、上記ユニット電源の電圧を変化させる電圧可
変制御回路１４を格納する。電圧可変制御回路１４は、
ＤＣパラメトリック試験ユニット２０内にあるインター
フェイスボード４２上の回路から、ａ本の電圧値指定制
御信号１７を受取、制御する。ＩＣ試験時のＤＣ電源電
圧設定時には、必要な電圧値を電圧可変制御回路１４に
指定する。その結果設定された、ユニット電源１１の正
電圧のＤＣ電源端子と負電圧のＤＣ電源端子と接地端子
は、３本の給電ケーブル１５によって、ＤＣパラメトリ
ック試験ユニット２０内の複数個ｍ個のデバイス電源３
１へ接続する。複数のデバイス電源３１は、それぞれ独
立したプログラマブル電源であるが、通常、全て同一範
囲内の電圧がプログラム設定される。
示す。この場合、電源架１０内には、１台のユニット電
源１１と、上記ユニット電源の電圧を変化させる電圧可
変制御回路１４を格納する。電圧可変制御回路１４は、
ＤＣパラメトリック試験ユニット２０内にあるインター
フェイスボード４２上の回路から、ａ本の電圧値指定制
御信号１７を受取、制御する。ＩＣ試験時のＤＣ電源電
圧設定時には、必要な電圧値を電圧可変制御回路１４に
指定する。その結果設定された、ユニット電源１１の正
電圧のＤＣ電源端子と負電圧のＤＣ電源端子と接地端子
は、３本の給電ケーブル１５によって、ＤＣパラメトリ
ック試験ユニット２０内の複数個ｍ個のデバイス電源３
１へ接続する。複数のデバイス電源３１は、それぞれ独
立したプログラマブル電源であるが、通常、全て同一範
囲内の電圧がプログラム設定される。
【００１４】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。 必要とするユニット電源のみがＯＮしているため、
使用されていないユニット電源による自己電力消費がな
く、消費電力を低減できる。 給電ケーブルは、正のＤＣ電源、負のＤＣ電源及び
接地の３本と、ユニット電源を制御する数本の制御ケー
ブルのみであり、ケーブルの配線処理が容易になる。 デバイス電源内に給電スイッチとダイオードで構成
する入力電源切り換え回路がなく、デバイス電源を小型
化できる。 デバイス電源の消費電力を小さく押さえるために必
要とする電圧に、ユニット電源を制御するため、デバイ
ス電源及びユニット電源ともに消費電力を低減でき、結
果として、電源の給電回路を小型化できる。
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。 必要とするユニット電源のみがＯＮしているため、
使用されていないユニット電源による自己電力消費がな
く、消費電力を低減できる。 給電ケーブルは、正のＤＣ電源、負のＤＣ電源及び
接地の３本と、ユニット電源を制御する数本の制御ケー
ブルのみであり、ケーブルの配線処理が容易になる。 デバイス電源内に給電スイッチとダイオードで構成
する入力電源切り換え回路がなく、デバイス電源を小型
化できる。 デバイス電源の消費電力を小さく押さえるために必
要とする電圧に、ユニット電源を制御するため、デバイ
ス電源及びユニット電源ともに消費電力を低減でき、結
果として、電源の給電回路を小型化できる。
【図１】本発明の電源の給電回路のブロック図である。
【図２】本発明の別の実施例を示すブロック図である。
【図３】従来の電源の給電回路のブロック図である。
１０ 電源架 １１ ユニット電源 １２ 電源シーケンサ １３ 主電源スイッチ １４ 電圧可変制御回路 １５ 給電ケーブル １６ ＯＮ／ＯＦＦ制御信号 １７ 電圧値指定制御信号 ２０ ＤＣパラメトリック試験ユニット ２１、３１ デバイス電源 ２２、３２、４２ インターフェイスボード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０５Ｆ 1/00 Ｆ
Claims (2)
- 【請求項１】 接地レベルに対して正電圧と負電圧を出
力する少なくとも１台のユニット電源（１１）を電源架
（１０）内に設け、 上記ユニット電源（１１）の正のＤＣ電源出力において
は、電源出力に順方向に接続し、陰極側で相互に接続し
たダイオードを設け、 上記ユニット電源（１１）の負のＤＣ電源出力において
は、電源出力に逆方向に接続し、陽極側で相互に接続し
たダイオードを設け、 上記電源架（１０）から給電ケーブル（１５）を通して
供給した電源から、被試験デバイスに供給するＤＣ電源
を発生する少なくとも１個のデバイス電源（３１）をＤ
Ｃパラメトリック試験ユニット（２０）内に設け、 上記ユニット電源（１１）のＯＮ／ＯＦＦを制御するＯ
Ｎ／ＯＦＦ制御信号（１６）を発生するインターフェイ
スボード（３２）をＤＣパラメトリック試験ユニット
（２０）内に設け、 以上を具備することを特徴とする電源の給電回路。 - 【請求項２】 接地レベルに対して正電圧と負電圧を出
力する１台のユニット電源（１１）を電源架（１０）内
に設け、 上記電源架（１０）から給電ケーブル（１５）を通して
供給した電源から、被試験デバイスに供給するＤＣ電源
を発生する少なくとも１個のデバイス電源（３１）をＤ
Ｃパラメトリック試験ユニット（２０）内に設け、 上記ユニット電源（１１）の出力電圧を制御する電圧可
変制御回路（１４）に電圧値を指定する電圧値指定制御
信号（１７）を発生するインターフェイスボード（４
２）をＤＣパラメトリック試験ユニット（２０）内に設
け、 以上を具備することを特徴とする電源の給電回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6181881A JPH0829495A (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 電源の給電回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6181881A JPH0829495A (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 電源の給電回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829495A true JPH0829495A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=16108508
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6181881A Pending JPH0829495A (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 電源の給電回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0829495A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002354664A (ja) * | 2001-05-23 | 2002-12-06 | Advantest Corp | 電力容量設定方法、電源装置、半導体デバイス試験装置用電源装置 |
-
1994
- 1994-07-11 JP JP6181881A patent/JPH0829495A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002354664A (ja) * | 2001-05-23 | 2002-12-06 | Advantest Corp | 電力容量設定方法、電源装置、半導体デバイス試験装置用電源装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040106 |