JPH0829507A - 磁束測定装置 - Google Patents
磁束測定装置Info
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- JPH0829507A JPH0829507A JP6165166A JP16516694A JPH0829507A JP H0829507 A JPH0829507 A JP H0829507A JP 6165166 A JP6165166 A JP 6165166A JP 16516694 A JP16516694 A JP 16516694A JP H0829507 A JPH0829507 A JP H0829507A
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- magnetic
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/028—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
- G01D3/032—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure affecting incoming signal, e.g. by averaging; gating undesired signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/035—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using superconductive devices
- G01R33/0354—SQUIDS
- G01R33/0358—SQUIDS coupling the flux to the SQUID
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S505/00—Superconductor technology: apparatus, material, process
- Y10S505/825—Apparatus per se, device per se, or process of making or operating same
- Y10S505/842—Measuring and testing
- Y10S505/843—Electrical
- Y10S505/845—Magnetometer
- Y10S505/846—Magnetometer using superconductive quantum interference device, i.e. squid
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】複数のピックアップコイルを有するものにおい
て、磁束測定及び磁場測定の精度が低下ぜずにクロスト
ークの影響を削減する。 【構成】各ピックアップコイル１１ａ〜１１Ｎ、各ＳＱ
ＵＩＤチップ１２ａ〜１２Ｎ及び各ＦＬＬ回路１３ａ〜
１３Ｎから構成される各チャンネルから信号が入力され
る信号収集部１４に、その各信号から得られるデジタル
データのクロストークの影響を排除する補正を行うクロ
ストーク補正部１７を設けたもの。
て、磁束測定及び磁場測定の精度が低下ぜずにクロスト
ークの影響を削減する。 【構成】各ピックアップコイル１１ａ〜１１Ｎ、各ＳＱ
ＵＩＤチップ１２ａ〜１２Ｎ及び各ＦＬＬ回路１３ａ〜
１３Ｎから構成される各チャンネルから信号が入力され
る信号収集部１４に、その各信号から得られるデジタル
データのクロストークの影響を排除する補正を行うクロ
ストーク補正部１７を設けたもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、複数個のＳＱＵＩＤ
( 超伝導量子干渉素子 )を使用して、例えば脳や心臓等
の磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束測定
対象の磁場を検出するマルチチャンネルＳＱＵＩＤ磁束
計等の磁束測定装置に関する。
( 超伝導量子干渉素子 )を使用して、例えば脳や心臓等
の磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束測定
対象の磁場を検出するマルチチャンネルＳＱＵＩＤ磁束
計等の磁束測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図８は、従来のマルチチャンネルＳＱＵ
ＩＤ磁束計の要部構成を示すブロック図である。磁束を
検出するための第１のピックアップコイル１ａ、第２の
ピックアップコイル１ｂ、第３のピックアップコイル１
ｃ、…、第Ｎのピックアップコイル１Ｎには、それぞれ
第１のＳＱＵＩＤチップ２ａ、第２のＳＱＵＩＤチップ
２ｂ、第３のＳＱＵＩＤチップ２ｃ、…、第ＮのＳＱＵ
ＩＤチップ２Ｎが接続され、この第１のＳＱＵＩＤチッ
プ２ａ、第２のＳＱＵＩＤチップ２ｂ、第３のＳＱＵＩ
Ｄチップ２ｃ、…、第ＮのＳＱＵＩＤチップ２Ｎには、
それぞれ第１のＦＬＬ( フラックス・ロックド・ループ
)回路３ａ、第２のＦＬＬ回路３ｂ、第３のＦＬＬ回路
３ｃ、…第ＮのＦＬＬ回路３Ｎが接続されている。
ＩＤ磁束計の要部構成を示すブロック図である。磁束を
検出するための第１のピックアップコイル１ａ、第２の
ピックアップコイル１ｂ、第３のピックアップコイル１
ｃ、…、第Ｎのピックアップコイル１Ｎには、それぞれ
第１のＳＱＵＩＤチップ２ａ、第２のＳＱＵＩＤチップ
２ｂ、第３のＳＱＵＩＤチップ２ｃ、…、第ＮのＳＱＵ
ＩＤチップ２Ｎが接続され、この第１のＳＱＵＩＤチッ
プ２ａ、第２のＳＱＵＩＤチップ２ｂ、第３のＳＱＵＩ
Ｄチップ２ｃ、…、第ＮのＳＱＵＩＤチップ２Ｎには、
それぞれ第１のＦＬＬ( フラックス・ロックド・ループ
)回路３ａ、第２のＦＬＬ回路３ｂ、第３のＦＬＬ回路
３ｃ、…第ＮのＦＬＬ回路３Ｎが接続されている。
【０００３】前記各ピックアップコイル１ａ〜１Ｎは、
例えば図９に示すように、磁束測定対象( 人体頭部 )Ｐ
の表面を覆うように所定間隔で設置される。なお図９は
側面図であるため、ピックアップコイル１ａ〜１Ｎが１
列に配置されているように図示されているが、実際には
磁束測定対象Ｐの表面を覆うように曲面状( 平面状 )に
２次元的に配置されている。
例えば図９に示すように、磁束測定対象( 人体頭部 )Ｐ
の表面を覆うように所定間隔で設置される。なお図９は
側面図であるため、ピックアップコイル１ａ〜１Ｎが１
列に配置されているように図示されているが、実際には
磁束測定対象Ｐの表面を覆うように曲面状( 平面状 )に
２次元的に配置されている。
【０００４】前記各ＳＱＵＩＤチップ２ａ〜２Ｎには、
図示しないがインプットコイル及びモジュレーションコ
イル等が設けられており、前記各ＦＬＬ回路３ａ〜３Ｎ
は、それらのコイルを通電制御して前記各ＳＱＵＩＤチ
ップ２ａ〜２Ｎを駆動させる。すなわち、ピックアップ
コイル、ＳＱＵＩＤチップ及びＦＬＬ回路により単位チ
ャンネルが構成され、この従来のマルチチャンネルＳＱ
ＵＩＤ磁束計はＮチャンネルのＳＱＵＩＤ磁束計であ
る。
図示しないがインプットコイル及びモジュレーションコ
イル等が設けられており、前記各ＦＬＬ回路３ａ〜３Ｎ
は、それらのコイルを通電制御して前記各ＳＱＵＩＤチ
ップ２ａ〜２Ｎを駆動させる。すなわち、ピックアップ
コイル、ＳＱＵＩＤチップ及びＦＬＬ回路により単位チ
ャンネルが構成され、この従来のマルチチャンネルＳＱ
ＵＩＤ磁束計はＮチャンネルのＳＱＵＩＤ磁束計であ
る。
【０００５】磁束測定対象Ｐから発生され前記各ピック
アップコイル１ａ〜１Ｎ内をそれぞれ鎖交した磁束の量
は、前記各ＦＬＬ回路３ａ〜３Ｎにより駆動された前記
各ＳＱＵＩＤチップ２ａ〜２Ｎを介してそれぞれ対応し
た電気信号に変換され、前記各ＦＬＬ回路３ａ〜３Ｎか
ら出力される。
アップコイル１ａ〜１Ｎ内をそれぞれ鎖交した磁束の量
は、前記各ＦＬＬ回路３ａ〜３Ｎにより駆動された前記
各ＳＱＵＩＤチップ２ａ〜２Ｎを介してそれぞれ対応し
た電気信号に変換され、前記各ＦＬＬ回路３ａ〜３Ｎか
ら出力される。
【０００６】前記各ＦＬＬ回路３ａ〜３Ｎから出力され
た電気信号は、信号収集部４で取込められる。この信号
収集部４は、Ａ／Ｄ(analogue/digital)変換部５及びデ
ータ記録部６等から構成され、取込んだ電気信号( アナ
ログ信号 )を前記Ａ／Ｄ変換器５によりデジタルデータ
に変換する。
た電気信号は、信号収集部４で取込められる。この信号
収集部４は、Ａ／Ｄ(analogue/digital)変換部５及びデ
ータ記録部６等から構成され、取込んだ電気信号( アナ
ログ信号 )を前記Ａ／Ｄ変換器５によりデジタルデータ
に変換する。
【０００７】この変換されたデジタルデータは、ハード
ディスク装置( 図示せず )等を備えた前記データ記録部
６に入力され、このデータ記録部６で、ハードディスク
装置に記憶される。
ディスク装置( 図示せず )等を備えた前記データ記録部
６に入力され、このデータ記録部６で、ハードディスク
装置に記憶される。
【０００８】ハードディスク装置に記憶されたデジタル
データは、そのまま磁場分布や時間波形として解析結果
表示部８に備えられた表示器( 図示せず )で表示される
か、又はデータ解析部７に一旦転送され、このデータ解
析部７において解析されて、生体内電流源分布が求めら
れて解析結果表示部８で表示される。
データは、そのまま磁場分布や時間波形として解析結果
表示部８に備えられた表示器( 図示せず )で表示される
か、又はデータ解析部７に一旦転送され、このデータ解
析部７において解析されて、生体内電流源分布が求めら
れて解析結果表示部８で表示される。
【０００９】このマルチチャンネルＳＱＵＩＤ磁束計
は、ピックアップコイル、ＳＱＵＩＤチップ及びＦＬＬ
回路等を各１個ずつから構成される単位チャンネルのＳ
ＱＵＩＤ磁束計を多数設けて構成されたもので、生体磁
場( 例えば脳や心臓 )の測定に使用され、磁場を測定す
るピックアップコイルを多数設けることにより、多点の
磁場を同時に測定できるようになっている。
は、ピックアップコイル、ＳＱＵＩＤチップ及びＦＬＬ
回路等を各１個ずつから構成される単位チャンネルのＳ
ＱＵＩＤ磁束計を多数設けて構成されたもので、生体磁
場( 例えば脳や心臓 )の測定に使用され、磁場を測定す
るピックアップコイルを多数設けることにより、多点の
磁場を同時に測定できるようになっている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかし、マルチチャン
ネルＳＱＵＩＤ磁束計では、ピックアップコイル及びＳ
ＱＵＩＤチップが複数設けられているので、ピックアッ
プコイル、ピックアップコイルとＳＱＵＩＤチップとの
間を接続する配線、ＳＱＵＩＤチップにおいて、各チャ
ンネルの間で電磁気的相互作用が生じる。
ネルＳＱＵＩＤ磁束計では、ピックアップコイル及びＳ
ＱＵＩＤチップが複数設けられているので、ピックアッ
プコイル、ピックアップコイルとＳＱＵＩＤチップとの
間を接続する配線、ＳＱＵＩＤチップにおいて、各チャ
ンネルの間で電磁気的相互作用が生じる。
【００１１】すなわち、あるチャンネルの信号が他のチ
ャンネルの信号に影響を与えると共に、他のチャンネル
の信号があるチャンネルの信号に影響を与えるというク
ロストークが、チャンネル間に存在するということが知
られている。
ャンネルの信号に影響を与えると共に、他のチャンネル
の信号があるチャンネルの信号に影響を与えるというク
ロストークが、チャンネル間に存在するということが知
られている。
【００１２】このクロストークの影響を小さくするた
め、従来のマルチチャンネルＳＱＵＩＤ磁束計では、特
にそのクロストークの原因としてピックアップコイル間
の磁気的相互作用が最も大きいので、各チャンネルのピ
ックアップコイル間の距離を大きくして、その磁気的相
互作用を小さくしていた。しかし、測定領域( 測定範
囲)を一定とした場合、ピックアップコイル間の距離を
大きくするには、ピックアップコイルの個数( チャンネ
ル数 )を減少させるか、又はピックアップコイルのコイ
ル径を小さくするしかない。ピックアップコイルの個数
を減少させると測定点が減少して磁場測定の精度が低下
するという問題があり、また、ピックアップコイルのコ
イル径を小さくすると、磁束が鎖交するピックアップコ
イルのコイル面積が小さくなり、個々のコイルの磁束測
定の精度が低下する( 信号対ノイズ比又はＳ／Ｎが悪化
する )という問題があった。
め、従来のマルチチャンネルＳＱＵＩＤ磁束計では、特
にそのクロストークの原因としてピックアップコイル間
の磁気的相互作用が最も大きいので、各チャンネルのピ
ックアップコイル間の距離を大きくして、その磁気的相
互作用を小さくしていた。しかし、測定領域( 測定範
囲)を一定とした場合、ピックアップコイル間の距離を
大きくするには、ピックアップコイルの個数( チャンネ
ル数 )を減少させるか、又はピックアップコイルのコイ
ル径を小さくするしかない。ピックアップコイルの個数
を減少させると測定点が減少して磁場測定の精度が低下
するという問題があり、また、ピックアップコイルのコ
イル径を小さくすると、磁束が鎖交するピックアップコ
イルのコイル面積が小さくなり、個々のコイルの磁束測
定の精度が低下する( 信号対ノイズ比又はＳ／Ｎが悪化
する )という問題があった。
【００１３】そこでこの発明は、複数のピックアップコ
イルを有するものにおいて、磁束測定及び磁場測定の精
度が低下せずに、クロストークの影響を削減することが
できる磁束測定装置を提供することを目的とする。
イルを有するものにおいて、磁束測定及び磁場測定の精
度が低下せずに、クロストークの影響を削減することが
できる磁束測定装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】請求項１対応の発明は、
磁束検出コイルと超伝導量子干渉素子とからなる磁束検
出器を複数個使用して、磁束測定対象から放射される磁
束を測定し、磁束測定対象の磁場を検出する磁束測定装
置において、各磁束検出器から得られるデータに、他の
磁束検出器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補
正を施す補正手段を設けたものである。
磁束検出コイルと超伝導量子干渉素子とからなる磁束検
出器を複数個使用して、磁束測定対象から放射される磁
束を測定し、磁束測定対象の磁場を検出する磁束測定装
置において、各磁束検出器から得られるデータに、他の
磁束検出器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補
正を施す補正手段を設けたものである。
【００１５】請求項２対応の発明は、磁束検出コイルと
超伝導量子干渉素子とからなる磁束検出器を複数個使用
して、磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束
測定対象の磁場を検出する磁束測定装置において、各磁
束検出コイルの自己インダクタンス及び他の磁束検出コ
イルに対する相互インダクタンスに基づいて、各磁束検
出器から得られるデータに、他の磁束検出器との電磁気
的な相互作用の影響を排除する補正を施す補正手段を設
けたものである。
超伝導量子干渉素子とからなる磁束検出器を複数個使用
して、磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束
測定対象の磁場を検出する磁束測定装置において、各磁
束検出コイルの自己インダクタンス及び他の磁束検出コ
イルに対する相互インダクタンスに基づいて、各磁束検
出器から得られるデータに、他の磁束検出器との電磁気
的な相互作用の影響を排除する補正を施す補正手段を設
けたものである。
【００１６】請求項３対応の発明は、磁束検出コイルと
超伝導量子干渉素子とからなる磁束検出器を複数個使用
して、磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束
測定対象の磁場を検出する磁束測定装置において、概知
の磁場発生源を磁束測定対象として測定した結果に基づ
いて、各磁束検出器から得られるデータに、他の磁束検
出器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補正を施
す補正手段を設けたものである。
超伝導量子干渉素子とからなる磁束検出器を複数個使用
して、磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束
測定対象の磁場を検出する磁束測定装置において、概知
の磁場発生源を磁束測定対象として測定した結果に基づ
いて、各磁束検出器から得られるデータに、他の磁束検
出器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補正を施
す補正手段を設けたものである。
【００１７】請求項４対応の発明は、磁束検出コイルと
超伝導量子干渉素子とからなる磁束検出器を複数個使用
して、磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束
測定対象の磁場を検出する磁束測定装置において、各磁
束検出器から得られるデータに、他の磁束検出器との電
磁気的な相互作用の影響を排除する補正を施す補正手段
と、この補正手段により補正されたデータを記憶する補
正データ記憶手段とを設けたものである。
超伝導量子干渉素子とからなる磁束検出器を複数個使用
して、磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束
測定対象の磁場を検出する磁束測定装置において、各磁
束検出器から得られるデータに、他の磁束検出器との電
磁気的な相互作用の影響を排除する補正を施す補正手段
と、この補正手段により補正されたデータを記憶する補
正データ記憶手段とを設けたものである。
【００１８】請求項５対応の発明は、磁束検出コイルと
超伝導量子干渉素子とからなる磁束検出器を複数個使用
して、磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束
測定対象の磁場を検出する磁束測定装置において、各磁
束検出器から得られるデータを記憶する測定データ記憶
手段と、この測定データ記憶手段から読取られた各磁束
検出器からのデータに、磁束測定対象の磁場解析前に、
他の磁束検出器との電磁気的な相互作用の影響を排除す
る補正を施す補正手段とを設けたものである。
超伝導量子干渉素子とからなる磁束検出器を複数個使用
して、磁束測定対象から放射される磁束を測定し、磁束
測定対象の磁場を検出する磁束測定装置において、各磁
束検出器から得られるデータを記憶する測定データ記憶
手段と、この測定データ記憶手段から読取られた各磁束
検出器からのデータに、磁束測定対象の磁場解析前に、
他の磁束検出器との電磁気的な相互作用の影響を排除す
る補正を施す補正手段とを設けたものである。
【００１９】
【作用】請求項１対応の発明においては、各磁束検出器
から得られるデータに、補正手段により、他の磁束検出
器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補正が施さ
れる。
から得られるデータに、補正手段により、他の磁束検出
器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補正が施さ
れる。
【００２０】請求項２対応の発明においては、理論的に
算出された各磁束検出コイルの自己インダクタンス及び
他の磁束検出コイルに対する相互インダクタンスに基づ
いて、補正手段により、各磁束検出器から得られるデー
タに、他の磁束検出器との電磁気的な相互作用の影響を
排除する補正が施される。
算出された各磁束検出コイルの自己インダクタンス及び
他の磁束検出コイルに対する相互インダクタンスに基づ
いて、補正手段により、各磁束検出器から得られるデー
タに、他の磁束検出器との電磁気的な相互作用の影響を
排除する補正が施される。
【００２１】請求項３対応の発明においては、概知の磁
場発生源を測定した結果に基づいて、補正手段により、
各磁束検出器から得られるデータに他の磁束検出器との
電磁気的な相互作用の影響を排除する補正が施される。
場発生源を測定した結果に基づいて、補正手段により、
各磁束検出器から得られるデータに他の磁束検出器との
電磁気的な相互作用の影響を排除する補正が施される。
【００２２】請求項４対応の発明においては、各磁束検
出器から得られるデータに、補正手段により、他の磁束
検出器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補正が
施され、この補正されたデータは補正データ記憶手段に
記憶される。
出器から得られるデータに、補正手段により、他の磁束
検出器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補正が
施され、この補正されたデータは補正データ記憶手段に
記憶される。
【００２３】請求項５対応の発明においては、各磁束検
出器から得られるデータは測定データ記憶手段に記憶さ
れる。この測定データ記憶手段から読取られた各磁束検
出器からのデータに、磁束測定対象の磁場解析前に、補
正手段により、他の磁束検出器との電磁気的な相互作用
の影響を排除する補正が施される。
出器から得られるデータは測定データ記憶手段に記憶さ
れる。この測定データ記憶手段から読取られた各磁束検
出器からのデータに、磁束測定対象の磁場解析前に、補
正手段により、他の磁束検出器との電磁気的な相互作用
の影響を排除する補正が施される。
【００２４】
【実施例】以下、この発明の第１実施例を図１乃至図６
を参照して説明する。図１は、この発明を適用したマル
チチャンネル磁束計の要部構成を示すブロック図であ
る。
を参照して説明する。図１は、この発明を適用したマル
チチャンネル磁束計の要部構成を示すブロック図であ
る。
【００２５】磁束を検出するための磁束検出コイルとし
ての第１のピックアップコイル１１ａ、第２のピックア
ップコイル１１ｂ、第３のピックアップコイル１１ｃ、
…、第Ｎのピックアップコイル１１Ｎには、それぞれ超
伝導量子干渉素子からなる第１のＳＱＵＩＤチップ１２
ａ、第２のＳＱＵＩＤチップ１２ｂ、第３のＳＱＵＩＤ
チップ１２ｃ、…、第ＮのＳＱＵＩＤチップ１２Ｎが接
続され、この第１のＳＱＵＩＤチップ１２ａ、第２のＳ
ＱＵＩＤチップ１２ｂ、第３のＳＱＵＩＤチップ１２
ｃ、…、第ＮのＳＱＵＩＤチップ１２Ｎには、それぞれ
第１のＦＬＬ( フラックス・ロックド・ループ )回路１
３ａ、第２のＦＬＬ回路１３ｂ、第３のＦＬＬ回路１３
ｃ、…第ＮのＦＬＬ回路１３Ｎが接続されている。
ての第１のピックアップコイル１１ａ、第２のピックア
ップコイル１１ｂ、第３のピックアップコイル１１ｃ、
…、第Ｎのピックアップコイル１１Ｎには、それぞれ超
伝導量子干渉素子からなる第１のＳＱＵＩＤチップ１２
ａ、第２のＳＱＵＩＤチップ１２ｂ、第３のＳＱＵＩＤ
チップ１２ｃ、…、第ＮのＳＱＵＩＤチップ１２Ｎが接
続され、この第１のＳＱＵＩＤチップ１２ａ、第２のＳ
ＱＵＩＤチップ１２ｂ、第３のＳＱＵＩＤチップ１２
ｃ、…、第ＮのＳＱＵＩＤチップ１２Ｎには、それぞれ
第１のＦＬＬ( フラックス・ロックド・ループ )回路１
３ａ、第２のＦＬＬ回路１３ｂ、第３のＦＬＬ回路１３
ｃ、…第ＮのＦＬＬ回路１３Ｎが接続されている。
【００２６】前記各ピックアップコイル１１ａ〜１１Ｎ
は、図９に示した従来のピックアップコイル１ａ，１
ｂ，…，１Ｎと同様に、磁束測定対象の表面を覆うよう
に２次元的に所定間隔で設置される。前記各ＳＱＵＩＤ
チップ１２ａ〜１２Ｎには、図示しないがインプットコ
イル及びモジュレーションコイル等が設けられており、
前記各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎは、それらのコイルを
通電制御して前記各ＳＱＵＩＤチップ１２ａ〜１２Ｎを
駆動させる。すなわち、ピックアップコイル、ＳＱＵＩ
Ｄチップ及びＦＬＬ回路により単位チャンネルが構成さ
れ、この第１実施例のマルチチャンネルＳＱＵＩＤ磁束
計はＮチャンネル( マルチチャンネル )のＳＱＵＩＤ磁
束計である。
は、図９に示した従来のピックアップコイル１ａ，１
ｂ，…，１Ｎと同様に、磁束測定対象の表面を覆うよう
に２次元的に所定間隔で設置される。前記各ＳＱＵＩＤ
チップ１２ａ〜１２Ｎには、図示しないがインプットコ
イル及びモジュレーションコイル等が設けられており、
前記各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎは、それらのコイルを
通電制御して前記各ＳＱＵＩＤチップ１２ａ〜１２Ｎを
駆動させる。すなわち、ピックアップコイル、ＳＱＵＩ
Ｄチップ及びＦＬＬ回路により単位チャンネルが構成さ
れ、この第１実施例のマルチチャンネルＳＱＵＩＤ磁束
計はＮチャンネル( マルチチャンネル )のＳＱＵＩＤ磁
束計である。
【００２７】前記ピックアップコイル１１ａ〜１１Ｎ及
び前記ＳＱＵＩＤチップ１２ａ〜１２Ｎにより磁束検出
器が構成されている。磁束測定対象Ｐから発生された磁
束は、各ピックアップコイル１１ａ〜１１Ｎ内をそれぞ
れ鎖交することにより、前記各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３
Ｎにより駆動された前記各ＳＱＵＩＤチップ１２ａ〜１
２Ｎを介して電気信号に変換され、前記各ＦＬＬ回路１
３ａ〜１３Ｎから出力される。
び前記ＳＱＵＩＤチップ１２ａ〜１２Ｎにより磁束検出
器が構成されている。磁束測定対象Ｐから発生された磁
束は、各ピックアップコイル１１ａ〜１１Ｎ内をそれぞ
れ鎖交することにより、前記各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３
Ｎにより駆動された前記各ＳＱＵＩＤチップ１２ａ〜１
２Ｎを介して電気信号に変換され、前記各ＦＬＬ回路１
３ａ〜１３Ｎから出力される。
【００２８】前記各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから出力
された電気信号は、信号収集部１４で取込まれる。この
信号収集部１４は、Ａ／Ｄ(analogue/digital)変換部１
５、データ記録部１６及び補正手段としてのクロストー
ク補正部１７等から構成され、取込んだ電気信号( アナ
ログ信号 )を前記Ａ／Ｄ変換器１５によりデジタルデー
タに変換する。
された電気信号は、信号収集部１４で取込まれる。この
信号収集部１４は、Ａ／Ｄ(analogue/digital)変換部１
５、データ記録部１６及び補正手段としてのクロストー
ク補正部１７等から構成され、取込んだ電気信号( アナ
ログ信号 )を前記Ａ／Ｄ変換器１５によりデジタルデー
タに変換する。
【００２９】この変換されたデジタルデータは、ハード
ディスク装置や光磁気ディスク等(図示せず )のデータ
記録媒体を備えた前記データ記録部１６に入力され、こ
のデータ記録部１６で、データ記録媒体に記憶される。
ディスク装置や光磁気ディスク等(図示せず )のデータ
記録媒体を備えた前記データ記録部１６に入力され、こ
のデータ記録部１６で、データ記録媒体に記憶される。
【００３０】データ記録媒体に記憶されたデジタルデー
タは、前記クロストーク補正部１７で後述するように各
チャンネル毎にクロストークの影響を排除する補正を行
い、この補正したデータが、そのまま磁場分布や時間波
形として、解析結果表示部１９に備えられた表示器( 図
示せず )、例えばＣＲＴ( cathode ray tube )等に表示
( カラー表示 )されるか、データ解析部１８に転送さ
れ、このデータ解析部１８で解析されて、生体内電流源
分布が求められて解析結果表示部１９で表示される。
タは、前記クロストーク補正部１７で後述するように各
チャンネル毎にクロストークの影響を排除する補正を行
い、この補正したデータが、そのまま磁場分布や時間波
形として、解析結果表示部１９に備えられた表示器( 図
示せず )、例えばＣＲＴ( cathode ray tube )等に表示
( カラー表示 )されるか、データ解析部１８に転送さ
れ、このデータ解析部１８で解析されて、生体内電流源
分布が求められて解析結果表示部１９で表示される。
【００３１】前記クロストーク補正部１７におけるクロ
ストークの影響を排除する補正の方法について以下説明
する。例えば、図２( ａ )に示す単線円形コイルの自己
インダクタンスは( １ )式で算出され、図２( ｂ )に示
す単線方形コイルの自己インダクタンスは( ２ )式及び
( ３ )式で算出されることが知られている。
ストークの影響を排除する補正の方法について以下説明
する。例えば、図２( ａ )に示す単線円形コイルの自己
インダクタンスは( １ )式で算出され、図２( ｂ )に示
す単線方形コイルの自己インダクタンスは( ２ )式及び
( ３ )式で算出されることが知られている。
【００３２】
【数１】
【００３３】なお、( １ )式及び( ２ )式でδは( 電磁
波の )周波数補正係数である。従って、図３に示すピッ
クアップコイル１１ａ〜１１Ｎの自己インダクタンス
も、( １ )式又は( ２ )式に基づいてあるいは組合わせ
た式により算出することができる。また、細い電線から
なる閉回路ｓ１とｓ２との間の相互インダクタンスは、
ノイマンの式と呼ばれる( ４ )式で算出される。
波の )周波数補正係数である。従って、図３に示すピッ
クアップコイル１１ａ〜１１Ｎの自己インダクタンス
も、( １ )式又は( ２ )式に基づいてあるいは組合わせ
た式により算出することができる。また、細い電線から
なる閉回路ｓ１とｓ２との間の相互インダクタンスは、
ノイマンの式と呼ばれる( ４ )式で算出される。
【００３４】
【数２】
【００３５】ここで、チャンネル間の相互インダクタン
スを無視した( クロストークを考慮しない )場合、図４
に示すように、それぞれピックアップコイル、配線、イ
ンプットコイルにより構成される各超伝導磁束トランス
を鎖交する全磁束は０である、すなわち外部( 磁束測定
対象 )からピックアップコイルを鎖交する磁束とそれを
打消そうとする遮蔽電流により発生する磁束との和は０
であると考えられるので、( ５ )式が得られる。
スを無視した( クロストークを考慮しない )場合、図４
に示すように、それぞれピックアップコイル、配線、イ
ンプットコイルにより構成される各超伝導磁束トランス
を鎖交する全磁束は０である、すなわち外部( 磁束測定
対象 )からピックアップコイルを鎖交する磁束とそれを
打消そうとする遮蔽電流により発生する磁束との和は０
であると考えられるので、( ５ )式が得られる。
【００３６】
【数３】
【００３７】ここでφｉ′( 「′」を添えたのは、この
磁束には実際にはクロストークの影響により鎖交した磁
束を含んでいるからである。 )は、外部から第ｉのピッ
クアップコイル１１ｉ内に侵入する磁束であり、Ｌpiは
第ｉのピックアップコイルの自己インダクタンス、Ｌsi
は第ｉのＳＱＵＩＤチップ１２ｉのインプットコイルの
自己インダクタンス、Ｉｉは第ｉの磁束トランスに流れ
る電流、すなわち、第１のピックアップコイルと第ｉの
インプットコイルに共通に流れる電流である。なお、ピ
ックアップコイルとインプットコイルとを接続する配線
のインダクタンスは非常に小さいので、式( ５ )におい
てはこれを無視したがこれを考慮しても良い。従って、
第ｉのＳＱＵＩＤチップ１２ｉに流れる電流Ｉｉは、(
６ )式により得られる。
磁束には実際にはクロストークの影響により鎖交した磁
束を含んでいるからである。 )は、外部から第ｉのピッ
クアップコイル１１ｉ内に侵入する磁束であり、Ｌpiは
第ｉのピックアップコイルの自己インダクタンス、Ｌsi
は第ｉのＳＱＵＩＤチップ１２ｉのインプットコイルの
自己インダクタンス、Ｉｉは第ｉの磁束トランスに流れ
る電流、すなわち、第１のピックアップコイルと第ｉの
インプットコイルに共通に流れる電流である。なお、ピ
ックアップコイルとインプットコイルとを接続する配線
のインダクタンスは非常に小さいので、式( ５ )におい
てはこれを無視したがこれを考慮しても良い。従って、
第ｉのＳＱＵＩＤチップ１２ｉに流れる電流Ｉｉは、(
６ )式により得られる。
【００３８】
【数４】 チャンネル間の相互インダクタンスを考慮する場合、(
５ )式は、相互作用項を追加して( ７ )式となる。
５ )式は、相互作用項を追加して( ７ )式となる。
【００３９】
【数５】
【００４０】ここで、φｉは測定対象からのみの磁束で
あり、クロストークの影響により鎖交した磁束は含んで
いない。Ｍijは第ｉのピックアップコイル( ＳＱＵＩＤ
チップ )と第ｊのピックアップコイル( ＳＱＵＩＤチッ
プ )との間の相互インダクタンスである。( ７ )式に(
６ )式を代入すると、( ８ )式となり、ベクトル式で表
現すれば( ９ )式となる。
あり、クロストークの影響により鎖交した磁束は含んで
いない。Ｍijは第ｉのピックアップコイル( ＳＱＵＩＤ
チップ )と第ｊのピックアップコイル( ＳＱＵＩＤチッ
プ )との間の相互インダクタンスである。( ７ )式に(
６ )式を代入すると、( ８ )式となり、ベクトル式で表
現すれば( ９ )式となる。
【００４１】
【数６】
【００４２】ここで、クロストークの影響を排除した実
際の測定対象からのみの磁束ベクトルΦ及びクロストー
クの影響を含めた全磁束ベクトルΦ′は、( １０ )式に
より与えられ、Ｎ×Ｎ行列Ａの各要素Ａijは、( １１ )
式により与えられる。
際の測定対象からのみの磁束ベクトルΦ及びクロストー
クの影響を含めた全磁束ベクトルΦ′は、( １０ )式に
より与えられ、Ｎ×Ｎ行列Ａの各要素Ａijは、( １１ )
式により与えられる。
【００４３】すなわち、この補正行列Ａを用いて( ９ )
式の演算を行うことにより、クロストークの影響を排除
することができる。上述した方法は、ピックアップコイ
ル１１ａ〜１１Ｎの自己インダクタンス及び相互インダ
クタンスを理論的に算出してクロストーク補正行列を求
めるものであるが、以下に概知の磁場発生源を測定し、
その測定結果から補正行列Ａを算出する方法の１つの例
を説明する。
式の演算を行うことにより、クロストークの影響を排除
することができる。上述した方法は、ピックアップコイ
ル１１ａ〜１１Ｎの自己インダクタンス及び相互インダ
クタンスを理論的に算出してクロストーク補正行列を求
めるものであるが、以下に概知の磁場発生源を測定し、
その測定結果から補正行列Ａを算出する方法の１つの例
を説明する。
【００４４】磁場発生源を所定の位置におき、このとき
実際に各チャンネルで測定された磁束をベクトルΦ１′
とする。またその時の理論的に求めた各チャンネルで測
定される磁束をΦ１とする。
実際に各チャンネルで測定された磁束をベクトルΦ１′
とする。またその時の理論的に求めた各チャンネルで測
定される磁束をΦ１とする。
【００４５】次に、磁場発生源の位置を移動させ、この
とき実際に各チャンネルで測定された磁束をベクトルΦ
２′とし、またその時の理論的に求めた各チャンネルで
測定される磁束Φ２とする。
とき実際に各チャンネルで測定された磁束をベクトルΦ
２′とし、またその時の理論的に求めた各チャンネルで
測定される磁束Φ２とする。
【００４６】同様にして、磁場発生源の位置を移動さ
せ、最終的に合計Ｎ回測定して、実際に各チャンネルで
測定された磁束をベクトルΦ３′、Φ４′、…、ΦＮ′
とし、また理論的に求めた磁束Φ３、Φ４、…、ΦＮと
する。この時、補正行列Ａは、Φ１、Φ２、…、ΦＮに
より構成されるＮ×Ｎ行列とΦ１′、Φ２′、…、Φ
Ｎ′により構成されるＮ×Ｎ行列の逆行列との積、すな
わち( １２ )式により与えられる。
せ、最終的に合計Ｎ回測定して、実際に各チャンネルで
測定された磁束をベクトルΦ３′、Φ４′、…、ΦＮ′
とし、また理論的に求めた磁束Φ３、Φ４、…、ΦＮと
する。この時、補正行列Ａは、Φ１、Φ２、…、ΦＮに
より構成されるＮ×Ｎ行列とΦ１′、Φ２′、…、Φ
Ｎ′により構成されるＮ×Ｎ行列の逆行列との積、すな
わち( １２ )式により与えられる。
【００４７】
【数７】
【００４８】すなわち、概知の磁場発生源を使用したＮ
回の測定を行い、( １２ )式で与えられる補正行列Ａを
使用してクロストークの影響を排除することができる。
測定はＮ回以上( Ｎ回以下でも望ましくないが可能 )行
うことも可能である。例えば、Ｍ( ＝Ｎ＋ｍ，ｍ＞０ )
回とすると、実際に各チャンネルで測定された磁束をベ
クトルΦ１′、Φ２′、…、ΦＭ′とし、また理論的に
求めた磁束とする。この時、補正行列Ａは、Φ１、Φ
２、…、ΦＭにより構成されるＮ×Ｍ行列とΦ１′、Φ
２′、…、ΦＭ′により構成されるＮ×Ｍ行列の逆行列
との積、すなわち( １３ )式により与えられる。
回の測定を行い、( １２ )式で与えられる補正行列Ａを
使用してクロストークの影響を排除することができる。
測定はＮ回以上( Ｎ回以下でも望ましくないが可能 )行
うことも可能である。例えば、Ｍ( ＝Ｎ＋ｍ，ｍ＞０ )
回とすると、実際に各チャンネルで測定された磁束をベ
クトルΦ１′、Φ２′、…、ΦＭ′とし、また理論的に
求めた磁束とする。この時、補正行列Ａは、Φ１、Φ
２、…、ΦＭにより構成されるＮ×Ｍ行列とΦ１′、Φ
２′、…、ΦＭ′により構成されるＮ×Ｍ行列の逆行列
との積、すなわち( １３ )式により与えられる。
【００４９】
【数８】
【００５０】なお、Φ１′、Φ２′、…、ΦＭ′により
構成されるＮ×Ｍ行列の逆行列は、一般逆行列( Ｍ×Ｎ
行列 )で、この一般逆行列としては、ムーア・ペンロー
ズ型一般逆行列が良い。測定回数Ｎ回以上の場合、測定
ノイズが低減され、補正行列をより精度良く求めること
ができるという効果が得られる。
構成されるＮ×Ｍ行列の逆行列は、一般逆行列( Ｍ×Ｎ
行列 )で、この一般逆行列としては、ムーア・ペンロー
ズ型一般逆行列が良い。測定回数Ｎ回以上の場合、測定
ノイズが低減され、補正行列をより精度良く求めること
ができるという効果が得られる。
【００５１】このような構成の第１実施例においては、
測定対象からの磁束は各ピックアップコイル１１ａ〜１
１Ｎ内に侵入する。この各磁束は、各ＦＬＬ回路１３ａ
〜１３Ｎにより駆動されたＳＱＵＩＤチップ１２ａ〜１
２Ｎを介して磁束の量に対応した電気信号に変換され、
各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから信号収集部１４へ出力
される。この時各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから電気信
号が、各チャンネルの電気信号として信号収集部１４に
取込まれる。
測定対象からの磁束は各ピックアップコイル１１ａ〜１
１Ｎ内に侵入する。この各磁束は、各ＦＬＬ回路１３ａ
〜１３Ｎにより駆動されたＳＱＵＩＤチップ１２ａ〜１
２Ｎを介して磁束の量に対応した電気信号に変換され、
各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから信号収集部１４へ出力
される。この時各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから電気信
号が、各チャンネルの電気信号として信号収集部１４に
取込まれる。
【００５２】この信号収集部１４では、入力された電気
信号は、Ａ／Ｄ変換部１５によりデジタルデータに変換
され、この変換されたデジタルデータは、データ記録部
１６に備えられたハードディスクや光磁気ディスク等の
データ記録媒体に記憶される。
信号は、Ａ／Ｄ変換部１５によりデジタルデータに変換
され、この変換されたデジタルデータは、データ記録部
１６に備えられたハードディスクや光磁気ディスク等の
データ記録媒体に記憶される。
【００５３】このデータ記録部１６で記憶されたデジタ
ルデータを解析する時には、各チャンネルのデジタルデ
ータがデータ記録部１６から読み出されると、クロスト
ーク補正部１７により、補正行列Ａにより、各デジタル
データ毎に補正される。
ルデータを解析する時には、各チャンネルのデジタルデ
ータがデータ記録部１６から読み出されると、クロスト
ーク補正部１７により、補正行列Ａにより、各デジタル
データ毎に補正される。
【００５４】また、データ解析部１８では、補正後のデ
ジタルデータが解析されて、測定対象の電流源分布のデ
ータが得られる。なお、この第１実施例では、信号収集
部１４内にクロストーク補正部１７を設けた構成になっ
ているが、従来のように、信号収集部１４をＡ／Ｄ変換
部１５とデータ記録部１６により構成し、クロストーク
補正部１７をデータ解析部１８内に設けても良い。
ジタルデータが解析されて、測定対象の電流源分布のデ
ータが得られる。なお、この第１実施例では、信号収集
部１４内にクロストーク補正部１７を設けた構成になっ
ているが、従来のように、信号収集部１４をＡ／Ｄ変換
部１５とデータ記録部１６により構成し、クロストーク
補正部１７をデータ解析部１８内に設けても良い。
【００５５】このようにして得られた測定対象の電流源
分布のデータは、解析結果表示部１９へ出力され、この
解析表示部１９に備えられた表示器、例えばＣＲＴディ
スプレイ等に表示される。
分布のデータは、解析結果表示部１９へ出力され、この
解析表示部１９に備えられた表示器、例えばＣＲＴディ
スプレイ等に表示される。
【００５６】このように第１実施例によれば、各ピック
アップコイル１１ａ〜１１Ｎ、各ＳＱＵＩＤチップ１２
ａ〜１２Ｎ及び各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから構成さ
れる各チャンネルから信号が入力される信号収集部１４
に、その各信号から得られるデジタルデータのクロスト
ークの影響を排除する補正を行うクロストーク補正部１
７を設けたことにより、各ピックアップコイル１１ａ〜
１１Ｎ間に発生するクロストークの影響を算出して、こ
れを補償することによりクロストークのない測定対象か
らの磁束のみを測定することができる。従って、ピック
アップコイルの間隔を大きくしなくても磁束測定及び磁
場測定の精度が低下せず、クロストークの影響を削減す
ることができる。
アップコイル１１ａ〜１１Ｎ、各ＳＱＵＩＤチップ１２
ａ〜１２Ｎ及び各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから構成さ
れる各チャンネルから信号が入力される信号収集部１４
に、その各信号から得られるデジタルデータのクロスト
ークの影響を排除する補正を行うクロストーク補正部１
７を設けたことにより、各ピックアップコイル１１ａ〜
１１Ｎ間に発生するクロストークの影響を算出して、こ
れを補償することによりクロストークのない測定対象か
らの磁束のみを測定することができる。従って、ピック
アップコイルの間隔を大きくしなくても磁束測定及び磁
場測定の精度が低下せず、クロストークの影響を削減す
ることができる。
【００５７】従って、Ｓ／Ｎを大きくするためにピック
アップコイルの面積を大きくするため、図５( ａ )及び
図５( ｂ )に示すように、ピックアップコイルを正五角
形及び正六角形に形成し、図６( ａ )及び図６( ｂ )に
示すように、ピックアップコイルどうしを密集して( 隣
接して )配置しても、クロストークの影響による磁束測
定の精度を低下がない。
アップコイルの面積を大きくするため、図５( ａ )及び
図５( ｂ )に示すように、ピックアップコイルを正五角
形及び正六角形に形成し、図６( ａ )及び図６( ｂ )に
示すように、ピックアップコイルどうしを密集して( 隣
接して )配置しても、クロストークの影響による磁束測
定の精度を低下がない。
【００５８】さらに、この第１実施例では、各チャンネ
ルから得られたデジタルデータは、信号収集部１４に設
けられたデータ記録部１６で記憶され、このデータ記録
部１６に記憶されたデジタルデータをデータ解析部１８
で解析する前に、クロストーク補正部１７によりクロス
トークの影響を排除する補正を行うようになっているの
で、各チャンネルからの測定されて得たデジタルデータ
をそのまま記憶できるという効果を得ることができる。
ルから得られたデジタルデータは、信号収集部１４に設
けられたデータ記録部１６で記憶され、このデータ記録
部１６に記憶されたデジタルデータをデータ解析部１８
で解析する前に、クロストーク補正部１７によりクロス
トークの影響を排除する補正を行うようになっているの
で、各チャンネルからの測定されて得たデジタルデータ
をそのまま記憶できるという効果を得ることができる。
【００５９】また、次に提示する第２実施例( 図７参照
)においては、後述するように処理装置としてＡ／Ｄ変
換、クロストーク補正、記録をリアルタイムに実行でき
ることが要求されるものであるが、上述した第１実施例
は、処理装置としてＡ／Ｄ変換、記録をリアルタイムに
実行できることは要求されるが、クロストーク補正はリ
アルタイムに行う必要がないので容易に構成することが
できる。
)においては、後述するように処理装置としてＡ／Ｄ変
換、クロストーク補正、記録をリアルタイムに実行でき
ることが要求されるものであるが、上述した第１実施例
は、処理装置としてＡ／Ｄ変換、記録をリアルタイムに
実行できることは要求されるが、クロストーク補正はリ
アルタイムに行う必要がないので容易に構成することが
できる。
【００６０】この発明の第２実施例を図７を参照して説
明する。なお、上述した第１実施例においては、クロス
トーク補正部１７をデータ記録部１６とデータ解析部１
８との間に設け、データ記録部１６から読取ったデータ
を解析する前にクロストークの影響を排除する補正を行
うようになっていたが、この第２実施例では、クロスト
ーク補正部１７をＡ／Ｄ変換部１５とデータ記録部１６
との間に設け、各チャンネルからの信号をＡ／Ｄ変換部
１５によりデジタル変換して得たデジタルデータを、ク
ロストーク補正部１７によりクロストークの影響を排除
する補正を行ってから、データ記録部１６で記憶させる
ものである。
明する。なお、上述した第１実施例においては、クロス
トーク補正部１７をデータ記録部１６とデータ解析部１
８との間に設け、データ記録部１６から読取ったデータ
を解析する前にクロストークの影響を排除する補正を行
うようになっていたが、この第２実施例では、クロスト
ーク補正部１７をＡ／Ｄ変換部１５とデータ記録部１６
との間に設け、各チャンネルからの信号をＡ／Ｄ変換部
１５によりデジタル変換して得たデジタルデータを、ク
ロストーク補正部１７によりクロストークの影響を排除
する補正を行ってから、データ記録部１６で記憶させる
ものである。
【００６１】従って、データ記録部１６から読出したデ
ータは、そのままデータ解析部１８により解析すること
ができる。このように第２実施例においても、各ピック
アップコイル１１ａ〜１１Ｎ、各ＳＱＵＩＤチップ１２
ａ〜１２Ｎ及び各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから構成さ
れる各チャンネルから信号が入力される信号収集部１４
に、その各信号から得られるデジタルデータのクロスト
ークの影響を排除する補正を行うクロストーク補正部１
７を設けたことにより、上述した第１実施例と同様な効
果を得ることができる。
ータは、そのままデータ解析部１８により解析すること
ができる。このように第２実施例においても、各ピック
アップコイル１１ａ〜１１Ｎ、各ＳＱＵＩＤチップ１２
ａ〜１２Ｎ及び各ＦＬＬ回路１３ａ〜１３Ｎから構成さ
れる各チャンネルから信号が入力される信号収集部１４
に、その各信号から得られるデジタルデータのクロスト
ークの影響を排除する補正を行うクロストーク補正部１
７を設けたことにより、上述した第１実施例と同様な効
果を得ることができる。
【００６２】さらにこの第２実施例では、各チャンネル
から得られたデジタルデータは、データ記録部１６に記
憶される前に、クロストーク補正部１７によりクロスト
ークの影響を排除する補正を行うようになっているの
で、データ記録部１６にはクロストークの影響を排除す
る補正を行ったデジタルデータを記憶することができ、
このデータ記録部１６に記憶されたデジタルデータはそ
のまま直ぐにデータ解析部１８で解析できる。
から得られたデジタルデータは、データ記録部１６に記
憶される前に、クロストーク補正部１７によりクロスト
ークの影響を排除する補正を行うようになっているの
で、データ記録部１６にはクロストークの影響を排除す
る補正を行ったデジタルデータを記憶することができ、
このデータ記録部１６に記憶されたデジタルデータはそ
のまま直ぐにデータ解析部１８で解析できる。
【００６３】なお、この第２実施例でも、信号収集部１
４内にクロストーク補正部１７を設けた構成になってい
るが、従来のように、信号収集部１４をＡ／Ｄ変換部１
５とデータ記録部１６により構成し、クロストーク補正
部１７をデータ解析部１８内に設けても良い。
４内にクロストーク補正部１７を設けた構成になってい
るが、従来のように、信号収集部１４をＡ／Ｄ変換部１
５とデータ記録部１６により構成し、クロストーク補正
部１７をデータ解析部１８内に設けても良い。
【００６４】
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
複数のピックアップコイルを有するものにおいて、磁束
測定及び磁場測定の精度が低下せずに、クロストークの
影響を削減することができる磁束測定装置を提供でき
る。
複数のピックアップコイルを有するものにおいて、磁束
測定及び磁場測定の精度が低下せずに、クロストークの
影響を削減することができる磁束測定装置を提供でき
る。
【図１】この発明の第１実施例のマルチチャンネル磁束
計の要部構成を示すブロック図。
計の要部構成を示すブロック図。
【図２】同実施例のマルチチャンネル磁束計のピックア
ップコイルの例としての単線円形コイル及び単線方形コ
イルの自己インダクタンスの算出方法を説明するための
図。
ップコイルの例としての単線円形コイル及び単線方形コ
イルの自己インダクタンスの算出方法を説明するための
図。
【図３】同実施例のマルチチャンネル磁束計のピックア
ップコイルを示す図。
ップコイルを示す図。
【図４】同実施例のマルチチャンネル磁束計の複数のピ
ックアップコイルの相互インダクタンスの算出方法を説
明するための図。
ックアップコイルの相互インダクタンスの算出方法を説
明するための図。
【図５】同実施例のマルチチャンネル磁束計で使用可能
なピックアップコイルの形状の例を示す図。
なピックアップコイルの形状の例を示す図。
【図６】同実施例のマルチチャンネル磁束計で、図５に
示すピックアップコイルを使用した時の各ピックアップ
コイルの配置を示す図。
示すピックアップコイルを使用した時の各ピックアップ
コイルの配置を示す図。
【図７】この発明の第２実施例のマルチチャンネル磁束
計の要部構成を示すブロック図。
計の要部構成を示すブロック図。
【図８】従来のマルチチャンネル磁束計の要部構成を示
すブロック図。
すブロック図。
【図９】従来の複数のピックアップコイルを頭部に配置
したときの図。
したときの図。
１１ａ〜１１Ｎ…ピックアップコイル、 １２ａ〜１２Ｎ…ＳＱＵＩＤチップ、 １３ａ〜１３Ｎ…ＦＬＬ回路、 １４…信号収集部、 １５…Ａ／Ｄ変換部、 １６…データ記録部、 １７…クロストーク補正部、 １８…データ解析部。
Claims (5)
- 【請求項１】 磁束検出コイルと超伝導量子干渉素子と
からなる磁束検出器を複数個使用して、磁束測定対象か
ら放射される磁束を測定し、前記磁束測定対象の磁場を
検出する磁束測定装置において、前記各磁束検出器から
得られるデータに、他の磁束検出器との電磁気的な相互
作用の影響を排除する補正を施す補正手段を設けたこと
を特徴とする磁束測定装置。 - 【請求項２】 磁束検出コイルと超伝導量子干渉素子と
からなる磁束検出器を複数個使用して、磁束測定対象か
ら放射される磁束を測定し、前記磁束測定対象の磁場を
検出する磁束測定装置において、前記各磁束検出コイル
の自己インダクタンス及び他の磁束検出コイルに対する
相互インダクタンスに基づいて、前記各磁束検出器から
得られるデータに、他の磁束検出器との電磁気的な相互
作用の影響を排除する補正を施す補正手段を設けたこと
を特徴とする磁束測定装置。 - 【請求項３】 磁束検出コイルと超伝導量子干渉素子と
からなる磁束検出器を複数個使用して、磁束測定対象か
ら放射される磁束を測定し、前記磁束測定対象の磁場を
検出する磁束測定装置において、概知の磁場発生源を磁
束測定対象として測定した結果に基づいて、前記各磁束
検出器から得られるデータに、他の磁束検出器との電磁
気的な相互作用の影響を排除する補正を施す補正手段を
設けたことを特徴とする磁束測定装置。 - 【請求項４】 磁束検出コイルと超伝導量子干渉素子と
からなる磁束検出器を複数個使用して、磁束測定対象か
ら放射される磁束を測定し、前記磁束測定対象の磁場を
検出する磁束測定装置において、前記各磁束検出器から
得られるデータに、他の磁束検出器との電磁気的な相互
作用の影響を排除する補正を施す補正手段と、この補正
手段により補正されたデータを記憶する補正データ記憶
手段とを設けたことを特徴とする磁束測定装置。 - 【請求項５】 磁束検出コイルと超伝導量子干渉素子と
からなる磁束検出器を複数個使用して、磁束測定対象か
ら放射される磁束を測定し、前記磁束測定対象の磁場を
検出する磁束測定装置において、前記各磁束検出器から
得られるデータを記憶する測定データ記憶手段と、この
測定データ記憶手段から読取られた前記各磁束検出器か
らのデータに、前記磁束測定対象の磁場解析前に、他の
磁束検出器との電磁気的な相互作用の影響を排除する補
正を施す補正手段とを設けたことを特徴とする磁束測定
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6165166A JPH0829507A (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 磁束測定装置 |
| US08/503,337 US5668472A (en) | 1994-07-18 | 1995-07-17 | Multichannel flux measuring apparatus having function for compensating interference due to crosstalk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6165166A JPH0829507A (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 磁束測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829507A true JPH0829507A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=15807117
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6165166A Pending JPH0829507A (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 磁束測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5668472A (ja) |
| JP (1) | JPH0829507A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US4825162A (en) * | 1987-12-07 | 1989-04-25 | General Electric Company | Nuclear magnetic resonance (NMR) imaging with multiple surface coils |
| JPH0377082A (ja) * | 1989-08-19 | 1991-04-02 | Mitsubishi Electric Corp | 多チャンネル超電導磁力計 |
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1994
- 1994-07-18 JP JP6165166A patent/JPH0829507A/ja active Pending
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| JP4612914B2 (ja) * | 2008-01-11 | 2011-01-12 | 国立大学法人徳島大学 | 顎運動の測定装置 |
| JPWO2009087781A1 (ja) * | 2008-01-11 | 2011-05-26 | 国立大学法人徳島大学 | 顎運動の測定装置 |
| CN117471389A (zh) * | 2023-10-24 | 2024-01-30 | 南京大学 | 一种基于超导量子芯片自动校准直流磁通串扰的方法 |
| CN117471389B (zh) * | 2023-10-24 | 2025-01-24 | 南京大学 | 一种基于超导量子芯片自动校准直流磁通串扰的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5668472A (en) | 1997-09-16 |
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