JPH08297928A - 記録媒体の検査機能を有する磁気ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 磁気ディスク装置のアイドリング時を有効に
利用し、ホストコンピュータとのデータ／コマンド送受
を効率化することによりデータ処理効率を向上させると
共に、データ保守の信頼性を向上する。 【構成】 磁気ディスク装置のアイドリング状態がＣＰ
Ｕ１２により検出されると、タイマ１８を起動され、ア
イドリング状態開始からの時間が計時される。所定の時
間が経過すると、ＥＥＰＲＯＭ１７に記憶されているア
クセスアドレスから、エラー検出回路１５ａを用いて磁
気ディスク１の欠陥検査が行われる。ＣＰＵ１２は、磁
気ディスク１の欠陥が検知されると、ＲＯＭ１４のテー
ブル１４ａを参照し、欠陥レベルを判断する。欠陥のレ
ベルに基づき、欠陥を有する領域に対して代替処理がさ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ホストシステムから
送られるコマンドに応答して記憶媒体である磁気ディス
クからデータのリード／ライトを行う磁気ディスク装置
に関し、特に、読み出したデータから、磁気ディスクの
欠陥を検出する検査機能を有する磁気ディスク装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】磁気ディスク装置では、一般に、固定さ
れた円盤（ディスク）の表面を磁化することにより、所
望のデータを記録する。このような磁気ディスク装置に
使用されるディスクは、製造過程上、ディスク面の荒れ
や磁性体のむらが発生することはある程度やむを得ず、
磁気ディスク装置の製造者は、このような欠陥を考慮し
て磁気ディスク装置を製造する必要がある。

【０００３】このような欠陥を有する磁気ディスクを通
常通りに使用するため、欠陥発見時には欠陥修復のため
の処理が行われる。この欠陥修復処理としては、一般
に、代替処理（reassignment of defecting block ）が
実施される。この代替処理とは、欠陥の発見された領域
を、同じ円周上で予め設けられているスペア領域に割り
当てる処理である。磁気ディスクでは、ディスク・アク
セスできる最小の単位としてセクタが設けられている。
このセクタには、各セクタを識別するためのＩＤデータ
を記憶するＩＤ部（ヘッダ）と、データを記憶するデー
タ部、及びエラー訂正のためのエラーコードを有するエ
ラーコード部とにより構成される。前記代替処理では、
欠陥の発見されたセクタのＩＤ部に、セクタに欠陥が含
まれていることを示すデータを書込み、このセクタを使
用できないようにする。さらに、この欠陥を含むセクタ
の位置などを示す情報を、磁気ディスク上、または、磁
気ディスク装置内の所定のメモリに記憶することによ
り、以降の前記欠陥を含むセクタに対するアクセスが、
予め同じ円周上に設けられているスペア領域のセクタに
アクセスされるように制御する。なお、発見された欠陥
の程度によっては、トラック単位で代替処理を実行する
場合がある。

【０００４】このような代替処理は、磁気ディスク装置
を製品として出荷する直前、または、ユーザにより磁気
ディスク装置が使用されている場合に実施される。すな
わち、磁気ディスク装置の製造者は、完成された磁気デ
ィスク装置に対して所定の検査を実行し、欠陥が検知さ
れた場合には前述した代替処理を実施する。

【０００５】また、磁気ディスク装置が、ホストコンピ
ュータ（ホストシステム）に接続され、各種データ処理
を行っている最中に、欠陥が発見され、修復の必要があ
ると判断された場合、ホストコンピュータから発行され
る特定のコマンドに応じ、磁気ディスク装置内で前記代
替処理が実施される。

【０００６】一般に磁気ディスク装置では、磁気ディス
クの初期化処理を実行する場合、またはデータのリード
またはライト処理を行う場合に、データエラーの発生が
検出される。磁気ディスク装置では、このデータエラー
の発生に応じ、磁気ディスク上の欠陥を検知する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、前述した磁気
ディスク装置では、磁気ディスク上の欠陥発見時に以下
のような問題点が生じる。一般に、データエラーは、ホ
ストコンピュータから送られるリードコマンドまたはラ
イトコマンドに応じた処理を実行する際に生じる。磁気
ディスク装置は、このデータエラーが発生した場合、デ
ータエラーの程度に基づいてホストコンピュータにデー
タエラーの発生を通知するか否かを判断する（欠陥レベ
ルの判定）。ホストコンピュータにデータエラーの発生
を通知する場合には、磁気ディスク装置が、データエラ
ー発生の通知後、ホストコンピュータからの代替処理実
行開始を指示する特定コマンドを待ち、この特定コマン
ドの受信に応じて代替処理を実行する処理方法と、デー
タエラー発生の通知後、磁気ディスク装置内で自動に代
替処理を実行する方法とがある。

【０００８】いずれの方法であっても、欠陥修復のため
の代替処理は、前述したようにホストコンピュータから
のコマンドに対応する処理に付随して行われる。このた
め、コマンドに応じた処理及び代替処理を実行する間、
ホストコンピュータは次のコマンドの発行を待たなけれ
ばならない。従って、ホストコンピュータと磁気ディス
ク装置との間でのデータ／コマンド送受が遅延し、結
果、データ処理効率が低下する。特に、磁気ディスク装
置が、ホストコンピュータから送られる特定のコマンド
に応じて代替処理を実行する場合、ホストコンピュータ
における特定コマンドの発行に係る処理時間をも余分に
必要とされる。

【０００９】また、磁気ディスク装置に接続されたホス
トコンピュータでは、データエラー発生に応じたエラー
管理処理を行う必要があり、さらに、特定コマンドを発
行する必要がある場合には、コマンド発行にかかるプロ
グラムを記憶・管理する必要も生じるため、ホストコン
ピュータに大きな負担がかかることになる。

【００１０】また、近年、小型化・高密度化の進む磁気
ディスク装置では、磁気ディスク装置内部でのエラー回
復処理が必須の機能となっている。このエラー回復処理
は、前述したエラーコード部に記憶されるエラーコード
に従って処理され、一般には、ハミングコードを使用し
たＥＣＣ（error check and correction）によりなされ
る。磁気ディスク装置内において、このようなエラー回
復処理がなされることにより、磁気ディスクに記憶され
ているデータが正常にリード／ライトできる一方、エラ
ー回復処理の実施は通常、ホストコンピュータに通知さ
れない。このため、エラー回復処理によりデータが回復
される場合には問題が発生しないが、進行性の欠陥によ
り欠陥のレベルが高くなり、突然、データのリード／ラ
イトが不可能になる場合がある。このような場合には、
磁気ディスクに記憶されているデータが回復不能である
ので、磁気ディスクに記憶されていたデータは失われる
ことになる。

【００１１】この発明は、前述した実情に鑑みてなされ
たものであり、接続されるホストコンピュータとのデー
タ／コマンド送受を効率化することによりデータ処理効
率を向上させると共に、磁気ディスク装置の信頼性を向
上し得る磁気ディスク装置を提供することを目的とす
る。

【００１２】

【課題を解決するための手段】この発明に係る第１の磁
気ディスク装置は、ホストシステムからのコマンドに応
じ、磁気ヘッドを用いて磁気ディスク上の所定位置に情
報の書込み／読出し処理を行う磁気ディスク装置であっ
て、前記書込み／読出し処理の完了から所定の時間経過
を通知するタイマと、前記磁気ディスクにアクセスして
情報を読出す読出し手段と、前記タイマからの通知に応
じ、前記読出し手段を用いて前記磁気ディスクから順次
情報を読出し、正しく情報が読み出されたか検査する検
査手段とを具備することを特徴とする。

【００１３】また、前記検査手段は、前記読出し手段に
より正しく情報が読み出されなかったと判断した場合、
前記読出し手段によりアクセスされた領域を代替領域に
割り当てる代替処理を実行する手段を含むことを特徴と
する。

【００１４】また、前記前記検査手段は、前記ホストシ
ステムから送られる前記コマンドに応じ、前記検査処理
を中断する中断手段と、前記中断手段による前記検査処
理の中断に応じ、中断時のアクセスアドレスを記憶する
記憶手段を具備することを特徴とする。

【００１５】また、前記検査手段は、前記読出し手段に
より正しく情報が読み出されなかったと判断した場合、
前記読出し手段によりアクセスされた前記磁気ディスク
上のアクセスアドレスを用い、前記磁気ディスク上の欠
陥アドレス情報を作成する作成手段を具備することを特
徴とする。

【００１６】また、この発明に係る第２の磁気ディスク
装置は、ホストシステムに接続され、磁気ディスク上の
任意の位置に磁気ヘッドを位置決めし、データのリード
／ライトを行う磁気ディスク装置であって、前記磁気デ
ィスク装置のアイドリング状態を検出するアイドリング
検出手段と、磁気ディスク上のアドレスを記憶する不揮
発性メモリと、前記アイドリング検出手段により、前記
磁気ディスク装置のアイドリング状態が検出された場
合、前記不揮発性メモリに記憶されるアドレスから、順
次ビット単位で欠陥の有無を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段により欠陥が検出された場合、欠陥の
レベルを判定し、所定レベル以上の欠陥に対し、検出さ
れた欠陥に対応する領域を代替領域に割り当てる処理を
実行する代替処理手段と、前記ホストシステムからのコ
マンドに応じ、前記欠陥検出手段を中断し、中断時のア
ドレスを前記不揮発性メモリに記憶する中断手段とを具
備することを特徴とする。

【００１７】

【作用】前記第１の磁気ディスク装置によれば、ホスト
システムから磁気ディスク装置に対してコマンドが発行
されていない状態、または発行されたコマンドに応じた
処理が完了した状態において、データエラー、すなわち
磁気ディスクの欠陥を発見するための検査が行われる。
これにより、進行性の欠陥などにより、今後データが失
われる恐れのある箇所を未然に検出することができ、磁
気ディスク装置の信頼性を向上させることができる。

【００１８】また、このような磁気ディスク装置におい
ては、ホストシステムから磁気ディスク装置に対してコ
マンドが発行されていない状態、または発行されたコマ
ンドに応じた処理が完了した状態において、検知された
欠陥に応じ、代替処理が実行される。これにより、磁気
ディスク装置に接続されるホストシステムに負担をかけ
ること無く、代替処理を実行することができる。さら
に、磁気ディスク装置とホストシステムとの間で実行さ
れるデータ／コマンドの送受を効率良く行うことが可能
となる。

【００１９】また、このような磁気ディスク装置では、
磁気ディスクの検査処理が、ホストシステムのコマンド
に応じて中断された場合、磁気ディスク上のいずれの箇
所まで検査が行われたかを認識することができる。

【００２０】また、このような磁気ディスク装置におい
ては、磁気ディスク上の欠陥に関連する情報が作成され
るため、使用される磁気ディスクの状態を管理すること
ができる。

【００２１】前記第２の磁気ディスク装置においては、
磁気ディスク装置内において、ホストシステムから送ら
れるコマンドに応じた処理や、キャッシュを用いた先読
み処理等が行われていないアイドリング状態において、
磁気ディスク上の欠陥の有無がビット単位で検査され
る。磁気ディスク上の欠陥が検出された場合、欠陥のレ
ベルが判定され、所定レベル以上の欠陥に対しては代替
処理が施される。また、ホストシステムから送られるコ
マンドにより、欠陥検査処理が中断された場合であって
も、中断時のアドレスが不揮発性メモリに保持され、磁
気ディスク装置が再びアイドリング状態になった場合に
は磁気ディスクに対する欠陥検査処理が再開される。

【００２２】

【実施例】以下、図面を参照してこの発明に係る一実施
例を説明する。この発明に係る磁気ディスク装置の全体
構成を図１に示す。同図に示されるように、磁気ディス
ク装置には、複数（又は１枚）の磁気ディスク１がスピ
ンドルモータ３により高速に回転運動され、磁気ディス
ク１の各データ面に対向して複数のヘッド２が設けられ
ている。磁気ディスク１が１枚の場合には、２つのヘッ
ド２が磁気ディスク１の両面に対向して設けられる。ヘ
ッド２はキャリッジ４と称するヘッド移動機構に取り付
けられ、このキャリッジ４の回動に応じて磁気ディスク
１の半径方向に移動する。ヘッド２は、後述するサーボ
処理システム（ヘッド位置決め制御機構）により、指定
された目標シリンダ（目標トラック）上に位置決め制御
されて、通常ではセクタ単位にデータのリード／ライト
を行なう。磁気ディスク１には、各種データの他、磁気
ディスク１上の欠陥に関連する欠陥情報ｐ，ｇが記憶さ
れる。欠陥情報ｐは製造時に製造者によって登録された
欠陥情報であり、欠陥情報ｇは磁気ディスク装置の使用
時に検知され、ホストコンピュータにより管理される欠
陥の情報である。なお、欠陥情報ｐ，及びｇに登録され
ている欠陥については、既に代替処理が施されているも
のとする。

【００２３】キャリッジ４はボイスコイルモータ（ＶＣ
Ｍ）５により駆動される。ＶＣＭ５はＶＣＭドライバ７
により駆動される。又、スピンドルモータ３はモータド
ライバ６により駆動される。この実施例では、モータド
ライバ６とＶＣＭドライバ７は、ダブルドライバと称す
るドライバＩＣ（集積回路）８として一体的に構成され
ている。

【００２４】リード／ライト回路１０は、ヘッドアンプ
９により増幅されたヘッド２から得られるリード信号を
入力し、データ再生動作に必要な信号処理を行なう。
又、リード／ライト回路１０は、データ記録動作に必要
な信号処理を実行し、ライトデータに応じたライト電流
をヘッドアンプ９を介してヘッド２に供給する。

【００２５】リード／ライト回路１０は、通常のユーザ
データの記録再生処理と共に、ヘッド位置決め制御のサ
ーボ処理に必要なサーボデータの再生処理を実行する。
サーボデータには、ヘッド２の現在位置を示すシリンダ
アドレス及びシリンダ内の位置誤差を示すためのバース
トデータ（バースト信号）が含まれている。サーボ制御
回路１１は、サーボ処理に必要な信号処理を実行する回
路であり、リード／ライト回路１０から出力されたデー
タパルスからシリンダアドレスを抽出して保持する。
又、サーボ制御回路１１は、バースト信号を抽出するた
めのサンプルタイミング信号を出力したり、セクタパル
スの抽出処理を実行する。

【００２６】ＣＰＵ１２は、サーボ制御回路１１と共に
ヘッド位置決め制御を実行するサーボ処理システムを構
成する。更に、ＣＰＵ１２は、ヘッド位置決め制御以外
に、リード／ライトデータの転送制御を含む磁気ディス
ク装置の各種駆動制御を実行する。ＣＰＵ１２は、ＲＯ
Ｍ１４に格納された制御プログラムに基づいて各種駆動
制御を実行する。ＲＯＭ１４は、外部バス１３を介して
ＣＰＵ１２に接続されている。このＲＯＭ１４には、磁
気ディスク装置のアイドリング状態における欠陥検査、
及び欠陥のレベル判定のための各種プログラムが記憶さ
れている。テーブル１４ａには、データの出力レベルの
変動や、繰返し行われたリード処理の回数（リトライ回
数）や、ＥＣＣ等のエラー回復機能によりデータが正確
に読み出されたこと等の条件に基づいた欠陥のレベルの
定義が記憶されている。

【００２７】ＣＰＵ１２はワンチップのマイクロプロセ
ッサであり、入出力部としてＡ／Ｄコンバータ１２ａと
Ｄ／Ａコンバータ１２ｂを内蔵し、更に、命令ＲＡＭ
（Random Access Memory）１２ｃと称する内部リード／
ライトメモリを有する。尚、同実施例では、この命令Ｒ
ＡＭ１２ｃは、２ｋバイトの容量を有する。ＣＰＵ１２
は、Ａ／Ｄコンバータ１２ａを用い、供給されるバース
ト信号ＢＳをディジタルデータに変換する。又、ＣＰＵ
１２はＤ／Ａコンバータ１２ｂを用い、サーボ処理に必
要な制御量（ヘッド位置決め制御等に必要な制御量）を
アナログ信号に変換してドライバＩＣ８に出力する。

【００２８】ＨＤＣ１５は、ＨＤＤとホストコンピュー
タとのインターフェースを構成し、主としてリード／ラ
イトデータの転送を行なうコントローラである。ＨＤＣ
１５は、磁気ディスク１から読出されたセクタ単位のリ
ードデータ及び磁気ディスク１に書き込むためのライト
データをバッファＲＡＭ１６に一時的に格納する。ＨＤ
Ｃ１５とＣＰＵ１２はデータ転送制御を行なうシステム
を構成している。また、ＨＤＣ１５には、エラー検知回
路１５ａが設けられている。このエラー検知回路１５ａ
は、磁気ディスク１から読み出されたデータに基づいて
データエラーを検知する他、所定の狭い領域であれば、
エラーを回復する機能を有する。

【００２９】ＥＥＰＲＯＭ１７は、ＣＰＵ１２に接続さ
れ、各種データを記憶する。特に、この実施例において
は、磁気ディスク１の欠陥に関連する欠陥情報ｅを記憶
する。また、磁気ディスク１に対する欠陥検査が中断さ
れた場合、中断時のアクセス情報１７ａがＣＰＵ１２に
より書き込まれる。このアクセス情報１７ａは、ヘッ
ド、シリンダ、及びセクタにより示されるアドレスであ
る。

【００３０】タイマ１８は、ＣＰＵ１２に接続され、Ｃ
ＰＵ１２の指示の元、磁気ディスク装置がアイドリング
状態になってからの経過時間を計時する。所定の時間が
経過すると、ＣＰＵ１２にこれを通知する。

【００３１】次に、この実施例に係る磁気ディスク装置
の機能ブロック図を図２に示す。タイマ部２１は、磁気
ディスク装置のアイドリング状態を検出し、このアイド
リング状態の開始から所定時間が経過すると、欠陥検査
部２１にこれを通知する。ここで、アイドリング状態と
は、磁気ディスク装置内において、磁気ディスク装置に
接続されるホストコンピュータと通信を行っていない状
態、例えば、ホストコンピュータから送られるコマンド
に応じた、リード処理やライト処理等の処理を実行して
いない状態を示す。なお、磁気ディスク装置が、リード
コマンドに応じた先読み処理のためのキャッシュを有す
る場合、前記アイドリング状態は、このキャッシュを用
いた先読み処理も行われていない状態を示す。

【００３２】欠陥検査部２１は、エラー検知機能と共
に、ＥＣＣ等を用いたエラー回復機能を有し、タイマ部
２０からの通知に応じ、磁気ディスク２２に対する欠陥
検査処理を実行する。この欠陥検査処理は、磁気ディス
ク２２に記憶されるデータを読み出すことにより、欠陥
をビット単位で検知し、検知された欠陥の状態を判断す
る処理である。欠陥検査部２１は、この欠陥検査処理
を、メモリ部２３に記憶されているアドレスから開始す
る。

【００３３】欠陥検査部２１は、検知された欠陥に対
し、エラー回復処理を実行すると共に、レベル判定テー
ブル２３を参照して検知された欠陥のレベルを判定す
る。ここで、高レベルエラーと判断された欠陥に対して
は、代替処理部２６に欠陥の位置が通知される。代替処
理部２６は、この通知に応じ、欠陥の位置する所定領
域、例えばセクタを、磁気ディスク２２上に予め設けら
れている代替領域に置き換える代替処理を実行する。検
知された欠陥が、高レベルエラーではないと判断された
場合、欠陥検査部２１は、欠陥の位置、レベル等の欠陥
情報を欠陥リスト作成部２５に送る。欠陥管理部２５
は、受け取った欠陥情報に基づいてエラー発生回数等
を、テーブル形式などのリストとして管理する。

【００３４】なお、欠陥のレベル（以降、欠陥レベルと
称する）とは、磁気ディスク２２から読み出されたデー
タの出力レベルの変動や、複数の連続したリード処理に
よりデータが読み出された場合には繰返し行われたリー
ド処理の回数（リトライ回数）や、ＥＣＣ等のエラー回
復機能によりデータが正確に読み出されたこと等の条件
に基づいて判断される欠陥の程度を示す目安である。こ
の欠陥レベルの判断処理基準に関する情報は、前記レベ
ル判定テーブル２４に記憶されている。

【００３５】中断処理部２７は、前記欠陥検査部２１に
よる欠陥検査処理実行中に、ホストコンピュータから送
られるコマンドの受信を検出し、このコマンド受信の検
出に応じて欠陥検査処理の中断指示を行う。すなわち、
コマンドの受信に応じ、欠陥検査処理を中断して受信コ
マンドに応じた処理が磁気ディスク装置内で実行できる
ように、欠陥検査部２１に割込み信号を出力する。ま
た、中断された欠陥検査処理が磁気ディスク２２上のど
の位置まで行われたかを示す情報を、不揮発性のメモリ
部２３に記録する。

【００３６】次に、図２、図３、及び図４のフローチャ
ートを参照してこの実施例の動作を説明する。この実施
例の磁気ディスク装置における、欠陥検査処理が実行さ
れるまでの動作を図３に示す。ハードディスクコントロ
ーラ（ＨＤＣ）１５は、ホストコンピュータからのコマ
ンド受信、及びホストコンピュータに対するデータの送
信を含む、通信処理が完了すると、ＣＰＵ１２に対し通
信完了通知を出力する。ＣＰＵ１２は、この通信完了通
知に応じて磁気ディスク装置がアイドリング状態である
か否かを判断する（ステップＡ１）。ここで、磁気ディ
スク装置がアイドリング状態でないと判断された場合、
この磁気ディスク装置は、先にホストコンピュータから
受信したコマンドに応じたディスク制御処理、例えば、
磁気ディスク１に対するデータの書込み処理等を行って
いる最中である（ステップＡ３）。従って、このディス
ク制御処理の完了に応じ、磁気ディスク装置がアイドリ
ング状態であると判断される（ステップＡ１，ＹＥ
Ｓ）。

【００３７】磁気ディスク装置がアイドリング状態であ
ると判断されると、ＣＰＵ１２は、タイマ１８を起動す
る。これにより、アイドリング状態開始からの経過時間
がタイマ１８により計時される。タイマ１８は、アイド
リング状態の開始から所定時間Ｔa が経過するとＣＰＵ
１２にこの所定時間経過を通知する（ステップＡ７，Ｙ
ＥＳ）。なお、タイマ１８により、所定時間Ｔa までの
時間が計時されている間に、ホストコンピュータからＨ
ＤＣ１５にコマンドが送られた場合、タイマ１８による
計時は中断され、受信コマンドに応じた処理が実行され
る。

【００３８】ＣＰＵ１２は、タイマ１８からの通知に応
じて磁気ディスク１に対する欠陥検査処理を実行する
（ステップＡ９）。次に、図４を参照して欠陥検査処理
について説明する。

【００３９】ＣＰＵ１２は、ＨＤＣ１５のエラー検知回
路１５ａを用いて欠陥検査処理を実行する。まず、ＣＰ
Ｕ１２は、ＥＥＰＲＯＭ１７に記憶されているアクセス
アドレス１７ａを読み出し、磁気ヘッド２を読み出され
たアクセスアドレスに位置するように各種ドライバを制
御する（ステップＢ１）。この後、アクセスアドレスか
ら、ビット単位で欠陥の有無が順次検査される（ステッ
プＢ３）。ここで、欠陥の有無は、磁気ディスク１から
データを読み出し、このデータが正確に読み出せたか否
か、すなわち、データエラーが発生したか否かに基づい
て判断される。また、欠陥検査において、必要があれ
ば、エラー検知回路１５ａによるエラー回復処理、また
はＥＣＣを用いたエラー回復処置が施される。磁気ディ
スク１から欠陥が検知された場合、ＣＰＵ１２は、磁気
ディスク１に記憶されている欠陥情報ｐ，ｇを参照し、
検知された欠陥が既に登録済みの欠陥であるか否か判定
する（ステップＢ５）。ここで、欠陥情報ｐ，ｇに登録
された欠陥であれば（ステップＢ５，ＹＥＳ）、既に代
替処理が施されているので、ステップＢ１，Ｂ３に戻
り、欠陥の検知された次のアドレスから再び欠陥検査を
実行する。

【００４０】検知された欠陥が、欠陥情報ｐ，及びｇに
も登録されていない欠陥である場合、ＣＰＵ１２はＲＯ
Ｍ１４に記憶されているレベル判定テーブル１４ａを参
照して欠陥レベルを判定する（ステップＢ７）。このレ
ベル判定テーブル１４ａは、前述したように、読み出さ
れたデータの出力レベルの変動や、複数の連続したリー
ド処理によりデータが読み出された場合には繰返し行わ
れたリード処理の回数（リトライ回数）や、ＥＣＣ等の
エラー回復機能によりデータが正確に読み出されたこと
等の条件に基づいた判断基準を保持している。

【００４１】判定の結果、欠陥レベルが高レベルである
と判断された欠陥に対しては、代替処理が施される（ス
テップＢ９，ＹＥＳ，Ｂ１１）。この代替処理の施され
た欠陥に関する欠陥情報は、磁気ディスク１に記憶され
る欠陥情報ｇに追加登録される。この後、ＣＰＵ１２
は、ステップＢ１，Ｂ３に戻り、欠陥の検知された次の
アドレスから再び欠陥検査を実行する。

【００４２】判定の結果、欠陥レベルが高レベルではな
いと判断された場合（ステップＢ９，ＮＯ）、前記欠陥
検査の際、エラー検知回路１５ａ、またはＥＣＣを用い
たエラー回復処理が施されたか否か判定される（ステッ
プＢ１３）。さらに、エラー回復処理が施されていた場
合、実施されたエラー回復処理において、予め設定され
たしきい値が越えられているか否か判断される（ステッ
プＢ１５）。ここで、しきい値とは、データをリードす
るために行ったリード処理のリトライ回数、及びエラー
の発生を無視することのできないレベルを示す。エラー
回復処理が施されていない場合（ステップＢ１３，Ｎ
Ｏ）、または施されたエラー回復処理において、しきい
値が越えられていない場合（ステップＢ１５，ＮＯ）、
ＣＰＵ１２は、ステップＢ１，Ｂ３に戻り、欠陥の検知
された次のアドレスから再び欠陥検査を実行する。

【００４３】検知された欠陥に対して施されたエラー回
復処理において、予め設定されたしきい値が越えられて
いた場合（ステップＢ１５，ＹＥＳ）、検知された欠陥
に関する情報（リトライ回数等）、をＥＥＰＲＯＭ１７
の欠陥情報ｅに追加登録する。この欠陥情報ｅに登録さ
れている情報は、前述した欠陥情報ｐ、またはｇに登録
された欠陥に比べ、欠陥レベルは低く、記録されるデー
タが読取り不可能な欠陥ではない。しかし、この欠陥が
進行性の欠陥である場合、今後、データを読取り不可能
な欠陥になる恐れがある。従って、所定のしきい値を越
えるエラー回復処理を必要とする欠陥を欠陥情報ｅにお
いて管理することにより、今後、レベルの高い欠陥とな
る可能性のある欠陥を管理することができる。検知され
た欠陥に関する情報を欠陥情報ｅに登録した後、ＣＰＵ
１２は、ステップＢ１，Ｂ３に戻り、欠陥の検知された
次のアドレスから再び欠陥検査を実行する。

【００４４】以上の処理により、磁気ディスク１に対す
る欠陥検査が行われ、必要に応じて代替処理が実行され
る。次に、前述した欠陥検査処理時において、ＨＤＣ１
５がホストコンピュータからのコマンドを受け取った場
合の欠陥検査中断処理について図５を参照して説明す
る。ＨＤＣ１５は、ホストコンピュータからコマンドを
受け取ると、コマンドの受信を示す割込み信号をＣＰＵ
１２に出力する。ＣＰＵ１２は、この割込み信号に応
じ、欠陥検査を行っている磁気ディスク１上のアドレ
ス、例えば、シリンダ、ヘッド、セクタをＥＥＰＲＯＭ
１７に記憶させた後、前述した欠陥検査処理を中断する
（ステップＣ１）。この後、ＣＰＵ１２は、ＨＤＣ１５
において受信されたコマンドに対応する処理を実行す
る。

【００４５】このように、この実施例によれば、磁気デ
ィスク装置のアイドリング状態が所定時間経過すると、
磁気ディスクに対する欠陥検査処理が実行される。すな
わち、ホストコンピュータが他の処理を実行している間
に、磁気ディスクの欠陥検査を行うことができ、磁気デ
ィスクの欠陥検査に係るホストコンピュータの負担を軽
減することができると共に、磁気ディスク装置のアイド
リング時間を有効に使用することができる。また、ホス
トコンピュータからのコマンドに応じた処理を実行する
際に欠陥が検出されることが少なくなり、ホストコンピ
ュータとのデータ通信を効率良く行うことができる。

【００４６】また、今後、データの回復が不可能となる
可能性のある欠陥を未然に検知することができるので磁
気ディスク装置の信頼性を向上することができる。ま
た、磁気ディスク装置に接続されるホストコンピュータ
に、磁気ディスク装置に対し、磁気ディスク全面を対象
とする欠陥検査処理を指示するコマンドが設けられてい
る場合、このようなコマンドを削除し、このようなコマ
ンドに関わるホストコンピュータの負担を軽減すること
ができる。

【００４７】なお、前述した磁気ディスク装置におい
て、欠陥検査処理により生成される欠陥情報ｅを、ホス
トコンピュータからのリードコマンドに応じたリード処
理時に生成するように構成することもできる。この場
合、リードコマンドに応じて、リード処理と欠陥検査が
同時に行われるので、ホストコンピュータが頻繁にアク
セスする領域に対して随時欠陥検査が行われ、データ保
守に係る信頼性を向上することができる。但し、リード
コマンド付随する先読み処理においては、磁気ディスク
装置の処理性能を低下させる恐れがあるため、高レベル
として判断される欠陥レベル、及び欠陥情報ｅに追加登
録する際のしきい値を、前述した欠陥検査処理における
ものに比べて高くする必要がある。

【００４８】

【発明の効果】以上詳記したように、この発明によれ
ば、磁気ディスク装置のアイドリング状態が所定時間経
過すると、磁気ディスクに対する欠陥検査処理が実行さ
れる。すなわち、ホストコンピュータが他の処理を実行
している間に、磁気ディスクの欠陥検査を行うことがで
き、磁気ディスクの欠陥検査に係るホストコンピュータ
の負担を軽減することができると共に、磁気ディスク装
置のアイドリング時間を有効に使用することができる。
また、ホストコンピュータからのコマンドに応じた処理
を実行する際に欠陥が検出されることが少なくなり、ホ
ストコンピュータとのデータ通信を効率良く行うことが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例に係る磁気ディスク装置の
構成を示すブロック図。

【図２】同実施例における、磁気ディスク装置の機能構
成を示す機能ブロック図。

【図３】同実施例において、欠陥検査処理を実行する条
件を説明するためのフローチャート。

【図４】同実施例における、欠陥検査処理を説明するた
めのフローチャート。

【図５】同実施例において、コマンド受信に応じた欠陥
検査処理の中断を説明するためのフローチャート。

【符号の説明】

１…磁気ディスク、２…磁気ヘッド、３…スピンドルモ
ータ、４…キャリッジ、５…ボイスコイルモータ、６…
モータドライバ、７…ドライバ、８…ドライバＩＣ、９
…ヘッドアンプ、１０…リード／ライト回路、１１…サ
ーボ制御回路、１２…ＣＰＵ、１３…外部バス、１４…
ＲＯＭ、１４ａ…テーブル、１５…ハードディスクコン
トローラ、１５ａ…エラー検知回路、１６…バッファＲ
ＡＭ、１７…ＥＥＰＲＯＭ、１８…タイマ、ｅ，ｇ，ｐ
…欠陥情報。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 5/00 9559−5Ｄ Ｇ１１Ｂ 5/00 Ｄ 23/00 23/00 Ｈ

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ホストシステムからのコマンドに応じ、
   磁気ヘッドを用いて磁気ディスク上の所定位置に情報の
   書込み／読出し処理を行う磁気ディスク装置において、 前記書込み／読出し処理の完了から所定の時間経過を通
   知するタイマと、 前記磁気ディスクにアクセスして情報を読出す読出し手
   段と、 前記タイマからの通知に応じ、前記読出し手段を用いて
   前記磁気ディスクから順次情報を読出し、正しく情報が
   読み出されたか検査する検査手段とを具備することを特
   徴とする磁気ディスク装置。
2. 【請求項２】 前記検査手段は、前記読出し手段により
   正しく情報が読み出されなかったと判断した場合、前記
   読出し手段によりアクセスされた領域を代替領域に割り
   当てる代替処理を実行する手段を含むことを特徴とする
   請求項１記載の磁気ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記検査手段は、 前記ホストシステムから送られる前記コマンドに応じ、
   前記検査処理を中断する中断手段と、 前記中断手段による前記検査処理の中断に応じ、中断時
   のアクセスアドレスを記憶する記憶手段を具備すること
   を特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
4. 【請求項４】 前記記憶手段は、前記アクセスアドレス
   を不揮発性メモリに記憶することを特徴とする請求項３
   記載の磁気ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記記憶手段は、前記アクセスアドレス
   を前記磁気ディスクに記憶することを特徴とする請求項
   ３記載の磁気ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記検査手段は、前記読出し手段により
   正しく情報が読み出されなかったと判断した場合、前記
   読出し手段によりアクセスされた前記磁気ディスク上の
   アクセスアドレスを用い、前記磁気ディスク上の欠陥ア
   ドレス情報を作成する作成手段を具備することを特徴と
   する請求項１記載の磁気ディスク装置。
7. 【請求項７】 前記作成手段は、前記欠陥アドレス情報
   を不揮発性メモリに記憶することを特徴とする請求項６
   記載の磁気ディスク装置。
8. 【請求項８】 前記作成手段は、前記欠陥アドレス情報
   を前記磁気ディスクに記憶することを特徴とする請求項
   ６記載の磁気ディスク装置。
9. 【請求項９】 前記作成手段は、前記読出し手段により
   正しく情報が読み出されなかったと判断し、且つ、前記
   読出し手段によりアクセスされた前記磁気ディスク上の
   アクセスアドレスが、前記欠陥アドレス情報に登録され
   ている場合、登録された前記アクセスアドレスに対応す
   る情報を更新する手段を具備することを特徴とする請求
   項６記載の磁気ディスク装置。
10. 【請求項１０】 ホストシステムに接続され、磁気ディ
    スク上の任意の位置に磁気ヘッドを位置決めし、データ
    のリード／ライトを行う磁気ディスク装置において、 前記磁気ディスク装置のアイドリング状態を検出するア
    イドリング検出手段と、 磁気ディスク上のアドレスを記憶する不揮発性メモリ
    と、 前記アイドリング検出手段により、前記磁気ディスク装
    置のアイドリング状態が検出された場合、前記不揮発性
    メモリに記憶されるアドレスから、順次ビット単位で欠
    陥の有無を検出する欠陥検出手段と、 前記欠陥検出手段により欠陥が検出された場合、欠陥の
    レベルを判定し、所定レベル以上の欠陥に対し、検出さ
    れた欠陥に対応する領域を代替領域に割り当てる処理を
    実行する代替処理手段と、 前記ホストシステムからのコマンドに応じ、前記欠陥検
    出手段を中断し、中断時のアドレスを前記不揮発性メモ
    リに記憶する中断手段とを具備することを特徴とする磁
    気ディスク装置。
11. 【請求項１１】 前記代替処理手段は、前記欠陥検出手
    段により検出された欠陥のレベルが、前記所定レベル未
    満である場合、検出された欠陥のデータ長及びエラー回
    数を含む欠陥情報を生成する手段を具備することを特徴
    とする請求項１０記載の磁気ディスク装置。