JPH08300033A - Tinning guide dies - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【構成】超硬貴石チップをダイス枠の入口側表面に露出
した状態で固定し、入口側表面に錫非付着性物質のコー
ティングを施したことを特徴とする錫引きガイドダイ
ス。
【効果】超硬貴石チップを表面に露出させ、また入口側
表面に錫の付着しない物質をコーティングすることによ
り、使用中の錫又はスラッジなどの不純物の付着が少な
くなり、付着した場合でも自然に除去され、あるいは、
不純物を容易に除去することができる。その結果、錫メ
ッキ作業の中断が少なくなり、作業効率が向上する。ま
た、不純物除去のためにガイドダイスを傷つけることが
なくなり、錫引きガイドダイスの長寿命化につながる。
(57) [Summary] [Structure] A tin pulling guide, characterized in that a cemented carbide precious stone chip is fixed on the entrance side surface of a die frame in an exposed state, and a coating of a non-tin adhesion material is applied to the entrance side surface. dice. [Effect] By exposing the cemented carbide stone chip to the surface and coating the surface of the inlet side with a substance that does not adhere to tin, the adhesion of impurities such as tin or sludge during use is reduced, and even if it adheres, it naturally Removed, or
Impurities can be easily removed. As a result, the tin plating work is less interrupted and the work efficiency is improved. Further, the guide dies are not damaged due to the removal of impurities, which leads to a longer life of the tinned guide dies.
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、錫引きガイドダイスに
関する。さらに詳しくは、本発明は、電気伝導性の導体
線に錫メッキを施して表面改質を行うとき、錫メッキし
た導体表面を平滑にする目的で使用するガイドダイスに
おいて、錫やスラッジの付着による目詰まりがなく、長
時間安定して表面処理作業を行うことができる錫引きガ
イドダイスに関する。FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a tinning guide die. More specifically, the present invention relates to a guide die used for the purpose of smoothing the surface of a tin-plated conductor when tin-plating an electrically conductive conductor wire for surface modification. The present invention relates to a tinning guide die that does not cause clogging and can stably perform surface treatment work for a long time.
【０００２】[0002]
【従来の技術】錫引きガイドダイスは、銅などの導体線
を熔融錫槽を通過させて、線材表面に錫メッキをする際
に使用されるダイスである。通常は、酸洗いされた導体
線が溶融錫槽内を通り、錫槽を出た直後に錫引きガイド
ダイスを通過する。その際、溶融錫表面のスラッジなど
の不純物が導体線に付着するため、不純物を除去し、錫
層の厚さを均一にし、錫層の表面を平滑にすることを目
的として、錫引きガイドダイスが使用される。錫は他の
金属と反応して合金を作りやすいので、超硬貴石チップ
を固定する台金にはチタンなどが使用される場合が多
い。図１は、従来の錫引きガイドダイスの断面図であ
る。従来の錫引きガイドダイスにおいては、超硬貴石チ
ップ１が固定用のダイス枠２の中央内部に埋め込まれて
いる。導体線が入る入口から導体線が超硬貴石チップに
向かうにつれて直径が狭くなるテーパーをつけた導入口
３がダイス枠の内部に設けられ、この導入口のテーパー
に円滑に連続する形状の超硬貴石チップの円形筒状通路
４が設けられている。超硬貴石チップの円形筒状通路の
中央部に、直径の最も小さい隘路部があり、隘路部を通
過すると直径は次第に大きくなり、ダイス枠の出口部の
次第に広がる出口通路５に円滑につながっている。従来
より、錫引きガイドダイスのダイス枠の材質には、強度
があり、錫が付着しにくい金属として、チタンがもっぱ
ら使用されていた。しかし、チタン製のダイス枠におい
ても長時間使用すると、導入口に錫や錫メッキ槽から持
ち込まれたスラッジが付着し、これが超硬貴石チップに
まで引き込まれて円形筒状通路に詰まり、作業中の連続
走行する導体線の振動が激しくなり、時には断線を生ず
ることもあるので、スラッジを除去するため作業を停止
して中断する必要があった。また、スラッジを除去する
には、針状の金属スティックなどで除去する以外に方法
はなく、このときにガイドダイスの表面を傷つけて、ガ
イドダイスを通過した錫引き導体線の仕上げ表面に線状
の傷がつく事故が発生することがあった。さらに、導体
線は錫メッキ前に酸洗浄を施され、酸切り工程で処理さ
れるが、導体線に微量の酸が同伴されて金属製のダイス
枠が徐々に腐食するという問題もあった。これらの問題
を解決するために、本出願人は先に超硬貴石チップをガ
イドダイスの入口部に設けた錫引きガイドダイスを提案
した（実開平７−９５０７号公報）。図２は、超硬貴石
チップをガイドダイスの入口部に設けた錫引きガイドダ
イスの断面図である。この錫引きガイドダイスにおいて
は、超硬貴石チップ１がガイドダイスの入口部に設けら
れているので、目詰まりが起こりにくく、線径の安定性
と導体線表面の平滑性を向上することができ、また、超
硬貴石チップの円形筒状通路がガイドダイス入口近くに
あるので、スラッジが付着しても除去が容易である。し
かし、このガイドダイスにおいても、導体線洗浄時の酸
がガイドダイス内に持ち込まれ、金属製のダイス枠が腐
食するという問題は残されている。本出願人は、さら
に、ダイス枠部分を耐熱樹脂製又はセラミックス製とし
た錫引きガイドダイスを提案した（実開平７−９５０８
号公報）。この錫引きガイドダイスでは、台金に相当す
る部分が耐酸性であるため腐食が生じにくく、スラッジ
などによる目詰まりも少なくなる。しかし、これらの材
料は価格が高く、樹脂の耐熱性にも限界がある。このた
め、錫やスラッジが付着しにくく、耐酸性があり、しか
も経済的に使用することができる錫引きガイドダイスが
求められている。2. Description of the Related Art A tinning guide die is a die used when a conductor wire made of copper or the like is passed through a molten tin bath to tin the surface of the wire. Normally, the pickled conductor wire passes through the molten tin bath and, immediately after leaving the tin bath, passes through the tinning guide die. At that time, impurities such as sludge on the surface of the molten tin adhere to the conductor wire.Thus, impurities are removed, the thickness of the tin layer is made uniform, and the surface of the tin layer is smoothed. Is used. Since tin easily reacts with other metals to form an alloy, titanium or the like is often used as the base metal for fixing the cemented carbide precious stone chip. FIG. 1 is a sectional view of a conventional tinning guide die. In a conventional tinning guide die, a cemented carbide precious stone chip 1 is embedded inside the center of a die frame 2 for fixing. A tapered introduction port 3 is provided inside the die frame, the diameter of which narrows as the conductor wire goes from the entrance into which the conductor wire goes toward the cemented carbide precious stone chip. A circular tubular passage 4 of precious stone chips is provided. At the center of the circular tubular passage of the cemented carbide stone, there is a bottleneck portion with the smallest diameter. After passing through the bottleneck portion, the diameter gradually increases, and it smoothly connects to the gradually expanding outlet passage 5 at the outlet of the die frame. There is. Conventionally, titanium has been exclusively used as a material of a die frame of a tinning guide die as a metal having strength and being hard to be attached with tin. However, when it is used for a long time even in a titanium die frame, tin or sludge brought in from the tin plating tank adheres to the inlet, which is drawn up to the cemented carbide stone chip and clogs the circular tubular passage, which causes Since the vibration of the continuously running conductor wire becomes severe and sometimes the wire is broken, it was necessary to stop and interrupt the work in order to remove the sludge. In addition, the only method to remove sludge is to remove it with a needle-shaped metal stick, etc.At this time, the surface of the guide die is scratched, and a linear wire is applied to the finished surface of the tinned conductor wire that has passed through the guide die. Occasionally, an accident with a scratch on his skin occurred. Further, the conductor wire is subjected to acid cleaning before tin plating and treated in the acid removing step, but there is a problem that a trace amount of acid is entrained in the conductor wire and the metal die frame is gradually corroded. In order to solve these problems, the applicant of the present invention has previously proposed a tinned guide die in which a cemented carbide precious stone tip is provided at the entrance of the guide die (Japanese Utility Model Publication No. 7-9507). FIG. 2 is a cross-sectional view of a tinning guide die in which a carbide precious stone chip is provided at the entrance of the guide die. In this tinned guide die, since the cemented carbide precious stone chip 1 is provided at the entrance of the guide die, clogging is less likely to occur and the stability of the wire diameter and the smoothness of the conductor wire surface can be improved. Moreover, since the circular cylindrical passage of the cemented carbide precious stone tip is near the inlet of the guide die, it is easy to remove even if sludge adheres. However, even in this guide die, there remains a problem that the acid at the time of cleaning the conductor wire is brought into the guide die and the metal die frame is corroded. The applicant has further proposed a tin drawing guide die in which the die frame portion is made of heat-resistant resin or ceramics (Actual Kaihei 7-9508).
Issue). In this tinned guide die, since the portion corresponding to the base metal is acid resistant, corrosion is unlikely to occur and clogging due to sludge and the like is reduced. However, these materials are expensive and the heat resistance of the resin is limited. For this reason, there is a demand for a tinning guide die that is less likely to deposit tin and sludge, has acid resistance, and can be economically used.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、錫やスラッ
ジが付着しにくく、長時間にわたり安定して錫メッキし
た導体線表面の平滑化作業を連続して行うことができる
錫引きガイドダイスを提供することを目的としてなされ
たものである。DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention provides a tinning guide die which does not easily deposit tin or sludge and which can continuously perform a smoothing operation on the surface of a tin-plated conductor wire stably for a long time. It was made for the purpose of providing.
【０００４】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記の課題
を解決すべく鋭意研究を重ねた結果、超硬貴石チップを
ガイドダイスの入口側表面に露出した状態で設置し、ダ
イス枠の入口側表面又はダイス枠全体に錫非付着性物質
をコーティングすることにより、錫及びスラッジの付着
を防ぎ安定した作業が可能になることを見いだし、この
知見に基づいて本発明を完成するに至った。すなわち、
本発明は、（１）超硬貴石チップをダイス枠の入口側表
面に露出した状態で固定し、入口側表面に錫非付着性物
質のコーティングを施したことを特徴とする錫引きガイ
ドダイス、（２）錫非付着性物質が、窒化チタン又は炭
化チタンである第(１)項記載の錫引きガイドダイス、及
び、（３）錫非付着性物質が、アルミナ、窒化ケイ素又
はムライトである第(１)項記載の錫引きガイドダイス、
を提供するものである。Means for Solving the Problems As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventor has installed a cemented carbide precious stone chip in an exposed state on the inlet side surface of a guide die, It was found that by coating the surface on the inlet side or the entire die frame with a non-adhesive substance for tin, it is possible to prevent the adhesion of tin and sludge and to perform a stable operation, and based on this finding, the present invention has been completed. . That is,
The present invention provides (1) a tinning guide die, characterized in that a cemented carbide precious stone chip is fixed in an exposed state on the inlet side surface of a die frame, and a coating of a tin non-adhesive substance is applied to the inlet side surface, (2) The tin non-adhesive substance is titanium nitride or titanium carbide (1), and the tin non-adhesive substance is alumina, silicon nitride or mullite. The tinning guide die described in (1),
Is provided.
【０００５】以下に、図面により本発明を詳細に説明す
る。図３は、本発明の錫引きガイドダイスの断面図であ
り、図４は、本発明の錫引きガイドダイスの平面図であ
る。本発明の錫引きガイドダイスにおいては、ガイドダ
イスの入口側表面に超硬貴石チップ１を露出した状態で
固定する。超硬貴石チップの中心部には円形筒状通路４
が設けられ、この円形筒状通路は入口から中央に進むに
したがって通路の直径が小さくなり、円形筒状通路の中
央部の最小直径の隘路部を経由したのち、出口方向に進
むにしたがって直径がふたたび次第に大きくなる形状で
ある。超硬貴石チップの円形筒状通路の出口部の拡大す
る直径のテーパーの角度に円滑に連続するテーパーの角
度で広がる形状の出口通路５が、ダイス枠２の裏面の出
口部に形成されている。本発明の錫引きガイドダイスの
超硬貴石チップの材質には特に制限はなく、従来より錫
引きガイドダイスに用いられている材料を使用すること
ができ、このような材料としては、例えば、天然ダイヤ
モンド、人造ダイヤモンド、焼結ダイヤモンドなどを挙
げることができる。本発明の錫引きガイドダイスのダイ
ス枠の材質は、超硬貴石チップを固定しうる強度及び硬
度を有し、錫メッキされた導体線の温度に耐える耐熱性
を有し、錫非付着性物質をコーティングしうるものであ
れば特に制限なく使用することができる。このような材
料としては、例えば、チタン、超硬合金、ステンレス鋼
などの金属材料のほか、ポリイミド、ポリアミドイミ
ド、ポリエーテルイミド、ポリアミドビスマレイミド、
ビスマレイミドトリアジン、ポリベンズイミダゾールな
どの耐熱性樹脂を使用することができる。本発明の錫引
きガイドダイスは、表面に錫非付着性物質をコーティン
グするので、従来の錫引きガイドダイスのごとくダイス
枠の材料として錫付着性の小さいチタンなどを必要とせ
ず、ダイス枠の材質を広く選択することができる。The present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 3 is a sectional view of the tinning guide die of the present invention, and FIG. 4 is a plan view of the tinning guide die of the present invention. In the tinning guide die of the present invention, the cemented carbide precious stone chip 1 is fixed in an exposed state on the inlet side surface of the guide die. Circular cylindrical passage 4 in the center of the carbide precious stone chip
The diameter of the circular tubular passage decreases as it goes from the inlet to the center, and after passing through the bottleneck portion with the smallest diameter at the center of the circular tubular passage, the diameter becomes smaller as it goes toward the outlet. It is a shape that gradually increases again. An outlet passage 5 is formed at the outlet portion on the back surface of the die frame 2 in such a manner that the outlet passage 5 has a shape that spreads at a taper angle that is smoothly continuous with the taper angle of the expanding diameter of the circular tubular passage of the cemented carbide stone chip. . The material of the cemented carbide precious stone tip of the tinning guide die of the present invention is not particularly limited, and materials conventionally used for tinning guide dies can be used. Examples of such a material include natural materials. Examples thereof include diamond, artificial diamond, and sintered diamond. The material of the die frame of the tinning guide die of the present invention has strength and hardness capable of fixing the cemented carbide precious stone chip, has heat resistance to withstand the temperature of the tin-plated conductor wire, and does not adhere to tin. Any material can be used without particular limitation as long as it can be coated. Examples of such a material include titanium, cemented carbide, metal materials such as stainless steel, polyimide, polyamide imide, polyether imide, polyamide bismaleimide,
A heat resistant resin such as bismaleimide triazine or polybenzimidazole can be used. Since the tinning guide die of the present invention coats the surface with a non-tin adhering substance, it does not require titanium having a small tin adhering property as the material of the die frame unlike the conventional tinning guide die, and the material of the die frame Can be widely selected.
【０００６】本発明の錫引きガイドダイスにおいては、
ガイドダイスの入口側表面６に錫非付着性物質７のコー
ティングを施す。必要に応じて、あるいは加工上の都合
からダイス枠の側面８、さらに、ダイス枠の底面９や出
口通路内面１０に錫非付着性物質のコーティングを施す
ことも可能である。コーティングする錫非付着性物質に
特に制限はなく、導体線に伴われる錫又はスラッジとの
親和性が低く、錫又はスラッジが付着しにくいものを選
択して使用することができる。このような錫非付着性物
質としては、例えば、窒化チタンや炭化チタンなどのよ
うなチタン化合物や、アルミナ、窒化ケイ素、ムライト
などのようなセラミックスなどを挙げることができる。
窒化チタンは、金属チタンを窒素気流中で加熱し、ある
いは酸化チタンと炭素の混合物を窒素気流中で強熱する
ことにより得ることができ、極めて硬く、耐熱性に優れ
た材料である。炭化チタンは、金属チタンと糖炭を混合
して加熱し、あるいは酸化チタンと炭素の混合物を強熱
することにより得ることができ、極めて硬く、耐酸性に
優れた材料である。本発明において、錫非付着性物質を
コーティングする方法には特に制限はなく、例えば、熱
ＣＶＤ法、プラズマＣＶＤ法、燃焼炎法などのＣＶＤ法
や、イオンプレーティング法、レーザＰＶＤ法、スパッ
タリング法、真空蒸着法などのＰＶＤ法などを使用する
ことができる。ＣＶＤ法によるコーティングは密着性に
優れ、ＰＶＤ法によるコーティングは処理温度が低いの
で超硬貴石チップへの影響が少なく、成長速度が比較的
速い。チタン化合物のコーティング層の厚さは０.１〜
１０μｍであることが好ましく、１〜５μｍであること
がさらに好ましい。セラミックスのコーティング層の厚
さは１００〜３００μｍであることが好ましく、１５０
〜２５０μｍであることがさらに好ましい。本発明の錫
引きガイドダイスにおいては、内層に炭化チタンなどの
チタン化合物をコーティングし、外層にアルミナのよう
なセラミックスをコーティングした多層コーティングと
することができる。このような多層コーティングとする
ことにより、コーティングの密着性と耐酸性を向上する
ことができる。本発明の錫引きガイドダイスにおいて
は、入口側表面に錫非付着性物質のコーティングを施し
ているので、錫やスラッジの付着が少なく、付着物が蓄
積する以前に自然に除去されることが多く、錫メッキし
た導体線の錫引き加工を長時間にわたって安定して継続
することができる。また、錫やスラッジが付着した場合
も、超硬貴石チップがダイス枠の入口側表面に露出した
状態にあり、錫やスラッジとダイス枠の付着性が小さい
ので、極めて容易に除去することができ、錫やスラッジ
の除去の際にガイドダイスを傷つけることがない。In the tinning guide die of the present invention,
The surface 6 on the inlet side of the guide die is coated with the tin non-adhesive substance 7. It is also possible to coat the side surface 8 of the die frame, the bottom surface 9 of the die frame and the inner surface 10 of the outlet passage with a tin non-adhesive substance, if necessary or for convenience of processing. There is no particular limitation on the tin non-adhesive substance to be coated, and it is possible to select and use a substance that has a low affinity for tin or sludge accompanying the conductor wire and is unlikely to adhere to tin or sludge. Examples of such tin non-adhesive substances include titanium compounds such as titanium nitride and titanium carbide, and ceramics such as alumina, silicon nitride, and mullite.
Titanium nitride can be obtained by heating metallic titanium in a nitrogen stream or by igniting a mixture of titanium oxide and carbon in a nitrogen stream, and is a material that is extremely hard and has excellent heat resistance. Titanium carbide can be obtained by mixing metallic titanium and sugar carbon and heating them, or by igniting a mixture of titanium oxide and carbon, and is a material that is extremely hard and has excellent acid resistance. In the present invention, the method of coating the tin non-adhesive substance is not particularly limited, and examples thereof include a CVD method such as a thermal CVD method, a plasma CVD method, a combustion flame method, an ion plating method, a laser PVD method, and a sputtering method. A PVD method such as a vacuum deposition method can be used. The coating by the CVD method has excellent adhesion, and the coating by the PVD method has a low treatment temperature, so that it has little influence on the cemented carbide stone chips and has a relatively high growth rate. The thickness of the titanium compound coating layer is 0.1-
The thickness is preferably 10 μm, more preferably 1 to 5 μm. The thickness of the ceramic coating layer is preferably 100 to 300 μm, and is 150
More preferably, it is about 250 μm. In the tinning guide die of the present invention, it is possible to form a multilayer coating in which the inner layer is coated with a titanium compound such as titanium carbide and the outer layer is coated with ceramics such as alumina. By using such a multi-layer coating, the adhesion and acid resistance of the coating can be improved. In the tinning guide die of the present invention, the surface of the inlet side is coated with a non-tin adhering substance, so that tin and sludge are less attached and are often naturally removed before accumulating the adhering substances. The tinning of the tin-plated conductor wire can be continued stably for a long time. In addition, even if tin or sludge adheres, the cemented carbide precious stone chip is exposed on the inlet side surface of the die frame, and the adhesion between tin and sludge and the die frame is small, so it can be removed very easily. Does not damage the guide die when removing tin or sludge.
【０００７】本発明の錫引きガイドダイスの形状は、処
理する導体線の太さ及び錫メッキの厚さや処理速度など
に応じて任意に選定することができる。超硬貴石チップ
の中央に円形筒状通路があり、この円形筒状通路は通路
中央に直径が最も小さい隘路部があり、両側よりその隘
路部に至るテーパーつきの通路となっている。隘路部に
至る通路のテーパーの角度は、６０〜１２０度であるこ
とが好ましく、７０〜９０度であることがより好まし
い。テーパーの角度が６０度未満であると、作業効率が
低下し、テーパーの角度が１２０度を超えると、導体線
の仕上げ表面の外観が悪くなるおそれがある。超硬貴石
チップの出口側の通路は、ほぼ同じテーパー角度を有す
るダイス枠の出口通路と円滑に連続している。本発明の
錫引きガイドダイスによれば、錫メッキ作業中の目詰ま
りによる導体線の振動や、導体線の断線が少なくなり、
また、錫及びスラッジなどの付着が少なくなることによ
り、作業効率が向上する。従来は、ガイドダイスの内部
はほとんど傷んでいないにもかかわらず、錫又はスラッ
ジの除去作業中にガイドダイスを傷つけ、使用不能にな
る場合も少なくなかったが、錫及びスラッジの付着が減
少し、付着した場合もその除去が容易になったことか
ら、錫引きガイドダイスの長寿命化につながる。The shape of the tinning guide die of the present invention can be arbitrarily selected according to the thickness of the conductor wire to be treated, the thickness of tin plating, the treatment speed and the like. There is a circular tubular passage in the center of the cemented carbide stone chip, and this circular tubular passage has a narrow passage part with the smallest diameter in the center of the passage and is a tapered passage from both sides to the narrow passage part. The taper angle of the passage leading to the bottleneck portion is preferably 60 to 120 degrees, and more preferably 70 to 90 degrees. If the taper angle is less than 60 degrees, the work efficiency is lowered, and if the taper angle exceeds 120 degrees, the appearance of the finished surface of the conductor wire may be deteriorated. The passage on the outlet side of the cemented carbide stone tip is smoothly continuous with the outlet passage of the die frame having substantially the same taper angle. According to the tinning guide die of the present invention, the vibration of the conductor wire due to the clogging during the tin plating operation and the disconnection of the conductor wire are reduced,
In addition, work efficiency is improved by reducing the adhesion of tin and sludge. In the past, although the inside of the guide die was hardly damaged, it often happened that the guide die was damaged during the tin or sludge removal work and became unusable, but the adhesion of tin and sludge decreased, Even if it adheres, its removal is facilitated, leading to a longer life of the tinning guide die.
【０００８】[0008]
【実施例】以下に、実施例を挙げて本発明をさらに詳細
に説明するが、本発明はこれらの実施例によりなんら限
定されるものではない。 実施例１ 天然ダイヤモンドに、隘路部の直径０.１８１mmのガイ
ドダイス用の穴加工を行い、金属チタン粉末とともに焼
結し、さらにダイヤ表面が露出するように削り出して図
２に示す形状のガイドダイスを得た。その後、イオンプ
レーティング法により、ダイス枠表面に厚さ３μｍの窒
化チタンのコーティングを施し、図３に示すガイドダイ
スを得た。この錫引きガイドダイスを通常の方法で使用
したところ、作業中の断線がなくなり、ガイドダイスへ
の錫の付着及びスラッジなどの不純物の付着は少なかっ
た。また、若干付着した錫及びスラッジは容易に除去す
ることができた。 実施例２ 天然ダイヤモンドに、隘路部の直径０.１８１mmのガイ
ドダイス用の穴加工を行い、金属チタン粉末とともに焼
結し、さらにダイヤ表面が露出するように削り出して図
２に示す形状のガイドダイスを得た。その後、レーザＰ
ＶＤ法により、ダイス枠表面に厚さ２００μｍのアルミ
ナのコーティングを施し、図３に示すガイドダイスを得
た。この錫引きガイドダイスを通常の方法で使用したと
ころ、作業中の断線がなくなり、ガイドダイスへの錫の
付着及びスラッジなどの不純物の付着は少なかった。ま
た、若干付着した錫及びスラッジは容易に除去すること
ができた。The present invention will be described in more detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. Example 1 Natural diamond was drilled for a guide die having a bottleneck diameter of 0.181 mm, sintered with metal titanium powder, and carved so that the diamond surface was exposed to form a guide having the shape shown in FIG. Got the dice. Then, the surface of the die frame was coated with titanium nitride having a thickness of 3 μm by an ion plating method to obtain a guide die shown in FIG. When this tinning guide die was used by a usual method, disconnection during work disappeared, and adhesion of tin and impurities such as sludge to the guide die were small. In addition, tin and sludge that were slightly attached could be easily removed. Example 2 A natural diamond was drilled for a guide die having a bottleneck diameter of 0.181 mm, sintered with metal titanium powder, and carved to expose the diamond surface. Got the dice. Then laser P
The surface of the die frame was coated with alumina having a thickness of 200 μm by the VD method to obtain a guide die shown in FIG. When this tinning guide die was used by a usual method, disconnection during work disappeared, and adhesion of tin and impurities such as sludge to the guide die were small. In addition, tin and sludge that were slightly attached could be easily removed.
【０００９】[0009]
【発明の効果】超硬貴石チップを表面に露出させ、また
入口側表面に錫の付着しない物質をコーティングするこ
とにより、使用中の錫又はスラッジなどの不純物の付着
が少なくなり、付着した場合でも自然に除去され、ある
いは、不純物を容易に除去することができる。その結
果、錫メッキ作業の中断が少なくなり、作業効率が向上
する。また、不純物除去のためにガイドダイスを傷つけ
ることがなくなり、錫引きガイドダイスの長寿命化につ
ながる。EFFECTS OF THE INVENTION By exposing a cemented carbide stone chip to the surface and coating the surface on the inlet side with a substance that does not adhere to tin, the adhesion of impurities such as tin or sludge in use is reduced, and even if it adheres, It can be removed naturally or impurities can be easily removed. As a result, the tin plating work is less interrupted and the work efficiency is improved. Further, the guide dies are not damaged due to the removal of impurities, which leads to a longer life of the tinned guide dies.
【図１】図１は、従来の錫引きガイドダイスの断面図で
ある。FIG. 1 is a sectional view of a conventional tinning guide die.
【図２】図２は、超硬貴石チップをガイドダイスの入口
部に設けた錫引きガイドダイスの断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of a tinned guide die in which a cemented carbide precious stone chip is provided at the entrance of the guide die.
【図３】図３は、本発明の錫引きガイドダイスの断面図
である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the tinning guide die of the present invention.
【図４】図４は、本発明の錫引きガイドダイスの平面図
である。FIG. 4 is a plan view of the tinning guide die of the present invention.
１ 超硬貴石チップ ２ ダイス枠 ３ 導入口 ４ 円形筒状通路 ５ 出口通路 ６ 入口側表面 ７ 錫非付着性物質 ８ 側面 ９ 底面 １０ 出口通路内面 1 Carbide Precious Stone Chip 2 Die Frame 3 Inlet 4 Circular Cylindrical Passage 5 Outlet Passage 6 Inlet Side Surface 7 Tin Non-Adhesive Substance 8 Side 9 Bottom 10 Outlet Passage Inner Surface
─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成８年５月１３日[Submission date] May 13, 1996
【手続補正１】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】０００２[Name of item to be corrected] 0002
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【０００２】[0002]
【従来の技術】錫引きガイドダイスは、銅などの導体線
を溶融錫槽を通過させて、線材表面に錫メッキをする際
に使用されるダイスである。通常は、酸洗いされた導体
線が溶融錫槽内を通り、錫槽を出た直後に錫引きガイド
ダイスを通過する。その際、溶融錫表面のスラッジなど
の不純物が導体線に付着するため、不純物を除去し、錫
層の厚さを均一にし、錫層の表面を平滑にすることを目
的として、錫引きガイドダイスが使用される。錫は他の
金属と反応して合金を作りやすいので、超硬貴石チップ
を固定する台金にはチタンなどが使用される場合が多
い。図１は、従来の錫引きガイドダイスの断面図であ
る。従来の錫引きガイドダイスにおいては、超硬貴石チ
ップ１が固定用のダイス枠２の中央内部に埋め込まれて
いる。導体線が入る入口から導体線が超硬貴石チップに
向かうにつれて直径が狭くなるテーパーをつけた導入口
３がダイス枠の内部に設けられ、この導入口のテーパー
に円滑に連続する形状の超硬貴石チップの円形筒状通路
４が設けられている。超硬貴石チップの円形筒状通路の
中央部に、直径の最も小さい隘路部があり、隘路部を通
過すると直径は次第に大きくなり、ダイス枠の出口部の
次第に広がる出口通路５に円滑につながっている。従来
より、錫引きガイドダイスのダイス枠の材質には、強度
があり、錫が付着しにくい金属として、チタンがもっぱ
ら使用されていた。しかし、チタン製のダイス枠におい
ても長時間使用すると、導入口に錫や錫メッキ槽から持
ち込まれたスラッジが付着し、これが超硬貴石チップに
まで引き込まれて円形筒状通路に詰まり、作業中の連続
走行する導体線の振動が激しくなり、時には断線を生ず
ることもあるので、スラッジを除去するため作業を停止
して中断する必要があった。また、スラッジを除去する
には、針状の金属スティックなどで除去する以外に方法
はなく、このときにガイドダイスの表面を傷つけて、ガ
イドダイスを通過した錫引き導体線の仕上げ表面に線状
の傷がつく事故が発生することがあった。さらに、導体
線は錫メッキ前に酸洗浄を施され、酸切り工程で処理さ
れるが、導体線に微量の酸が同伴されて金属製のダイス
枠が徐々に腐食するという問題もあった。これらの問題
を解決するために、本出願人は先に超硬貴石チップをガ
イドダイスの入口部に設けた錫引きガイドダイスを提案
した（実開平７−９５０７号公報）。図２は、超硬貴石
チップをガイドダイスの入口部に設けた錫引きガイドダ
イスの断面図である。この錫引きガイドダイスにおいて
は、超硬貴石チップ１がガイドダイスの入口部に設けら
れているので、目詰まりが起こりにくく、線径の安定性
と導体線表面の平滑性を向上することができ、また、超
硬貴石チップの円形筒状通路がガイドダイス入口近くに
あるので、スラッジが付着しても除去が容易である。し
かし、このガイドダイスにおいても、導体線洗浄時の酸
がガイドダイス内に持ち込まれ、金属製のダイス枠が腐
食するという問題は残されている。本出願人は、さら
に、ダイス枠部分を耐熱樹脂製又はセラミックス製とし
た錫引きガイドダイスを提案した（実開平７−９５０８
号公報）。この錫引きガイドダイスでは、台金に相当す
る部分が耐酸性であるため腐食が生じにくく、スラッジ
などによる目詰まりも少なくなる。しかし、これらの材
料は価格が高く、樹脂の耐熱性にも限界がある。このた
め、錫やスラッジが付着しにくく、耐酸性があり、しか
も経済的に使用することができる錫引きガイドダイスが
求められている。2. Description of the Related Art A tinning guide die is a die used when a conductor wire made of copper or the like is passed through a molten tin bath to tin the surface of the wire. Normally, the pickled conductor wire passes through the molten tin bath and, immediately after leaving the tin bath, passes through the tinning guide die. At that time, impurities such as sludge on the surface of the molten tin adhere to the conductor wire.Thus, impurities are removed, the thickness of the tin layer is made uniform, and the surface of the tin layer is smoothed. Is used. Since tin easily reacts with other metals to form an alloy, titanium or the like is often used as the base metal for fixing the cemented carbide precious stone chip. FIG. 1 is a sectional view of a conventional tinning guide die. In a conventional tinning guide die, a cemented carbide precious stone chip 1 is embedded inside the center of a die frame 2 for fixing. A tapered introduction port 3 is provided inside the die frame, the diameter of which narrows as the conductor wire goes from the entrance into which the conductor wire goes toward the cemented carbide precious stone chip. A circular tubular passage 4 of precious stone chips is provided. At the center of the circular tubular passage of the cemented carbide stone, there is a bottleneck portion with the smallest diameter. After passing through the bottleneck portion, the diameter gradually increases, and it smoothly connects to the gradually expanding outlet passage 5 at the outlet of the die frame. There is. Conventionally, titanium has been exclusively used as a material of a die frame of a tinning guide die as a metal having strength and being hard to be attached with tin. However, when it is used for a long time even in a titanium die frame, tin or sludge brought in from the tin plating tank adheres to the inlet, which is drawn up to the cemented carbide stone chip and clogs the circular tubular passage, which causes Since the vibration of the continuously running conductor wire becomes severe and sometimes the wire is broken, it was necessary to stop and interrupt the work in order to remove the sludge. In addition, the only method to remove sludge is to remove it with a needle-shaped metal stick, etc.At this time, the surface of the guide die is scratched, and a linear wire is applied to the finished surface of the tinned conductor wire that has passed through the guide die. Occasionally, an accident with a scratch on his skin occurred. Further, the conductor wire is subjected to acid cleaning before tin plating and treated in the acid removing step, but there is a problem that a trace amount of acid is entrained in the conductor wire and the metal die frame is gradually corroded. In order to solve these problems, the applicant of the present invention has previously proposed a tinned guide die in which a cemented carbide precious stone tip is provided at the entrance of the guide die (Japanese Utility Model Publication No. 7-9507). FIG. 2 is a cross-sectional view of a tinning guide die in which a carbide precious stone chip is provided at the entrance of the guide die. In this tinned guide die, since the cemented carbide precious stone chip 1 is provided at the entrance of the guide die, clogging is less likely to occur and the stability of the wire diameter and the smoothness of the conductor wire surface can be improved. Moreover, since the circular cylindrical passage of the cemented carbide precious stone tip is near the inlet of the guide die, it is easy to remove even if sludge adheres. However, even in this guide die, there remains a problem that the acid at the time of cleaning the conductor wire is brought into the guide die and the metal die frame is corroded. The applicant has further proposed a tin drawing guide die in which the die frame portion is made of heat-resistant resin or ceramics (Actual Kaihei 7-9508).
Issue). In this tinned guide die, since the portion corresponding to the base metal is acid resistant, corrosion is unlikely to occur and clogging due to sludge and the like is reduced. However, these materials are expensive and the heat resistance of the resin is limited. For this reason, there is a demand for a tinning guide die that is less likely to deposit tin and sludge, has acid resistance, and can be economically used.
【手続補正２】[Procedure Amendment 2]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】０００８[Correction target item name] 0008
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【０００８】[0008]
【実施例】以下に、実施例を挙げて本発明をさらに詳細
に説明するが、本発明はこれらの実施例によりなんら限
定されるものではない。 実施例１ 天然ダイヤモンドに、隘路部の直径０．１８１ｍｍのガ
イドダイス用の穴加工を行い、金属チタン粉末とともに
焼結し、さらにダイヤ表面が露出するように削り出して
図２に示す形状のガイドダイスを得た。その後、イオン
プレーティング法により、ダイス枠表面に厚さ３μｍの
窒化チタンのコーティングを施した後、貴石チップの通
路側表面に付着したコーティング層をワイヤーラッピン
グ法で除去し、図３に示すガイドダイスを得た。この錫
引きガイドダイスを通常の方法で使用したところ、作業
中の断線がなくなり、ガイドダイスへの錫の付着及びス
ラッジなどの不純物の付着は少なかった。また、若干付
着した錫及びスラッジは容易に除去することができた。 実施例２ 天然ダイヤモンドに、隘路部の直径０．１８１ｍｍのガ
イドダイス用の穴加工を行い、金属チタン粉末とともに
焼結し、さらにダイヤ表面が露出するように削り出して
図２に示す形状のガイドダイスを得た。その後、レーザ
ＰＶＤ法により、ダイス枠表面に厚さ２００μｍのアル
ミナのコーティングを施した後、貴石チップの通路側表
面に付着したコーティング層をワイヤーラッピング法で
除去し、図３に示すガイドダイスを得た。この錫引きガ
イドダイスを通常の方法で使用したところ、作業中の断
線がなくなり、ガイドダイスへの錫の付着及びスラッジ
などの不純物の付着は少なかった。また、若干付着した
錫及びスラッジは容易に除去することができた。The present invention will be described in more detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. Example 1 A natural diamond was drilled for a guide die with a diameter of 0.181 mm at a bottleneck portion, sintered with metal titanium powder, and carved so that the diamond surface was exposed to form a guide having the shape shown in FIG. Got the dice. After that, the surface of the die frame was coated with titanium nitride with a thickness of 3 μm by the ion plating method, and then the coating layer adhering to the passage side surface of the precious stone chip was removed by the wire wrapping method, and the guide die shown in FIG. Got When this tinning guide die was used by a usual method, disconnection during work disappeared, and adhesion of tin and impurities such as sludge to the guide die were small. In addition, tin and sludge that were slightly attached could be easily removed. Example 2 A natural diamond was drilled for a guide die with a diameter of 0.181 mm at a bottleneck part, sintered with metal titanium powder, and carved so that the diamond surface was exposed to form a guide having the shape shown in FIG. Got the dice. After that, the surface of the die frame was coated with alumina having a thickness of 200 μm by the laser PVD method, and then the coating layer adhering to the passage side surface of the precious stone chip was removed by the wire wrapping method to obtain the guide die shown in FIG. It was When this tinning guide die was used by a usual method, disconnection during work disappeared, and adhesion of tin and impurities such as sludge to the guide die were small. In addition, tin and sludge that were slightly attached could be easily removed.
Claims (3)
露出した状態で固定し、入口側表面に錫非付着性物質の
コーティングを施したことを特徴とする錫引きガイドダ
イス。1. A tinning guide die, characterized in that a cemented carbide stone chip is fixed in a state of being exposed on the inlet side surface of a die frame, and a coating of a non-tin adhering substance is applied to the inlet side surface.
タンである請求項１記載の錫引きガイドダイス。2. The tinning guide die according to claim 1, wherein the non-sticking substance is titanium nitride or titanium carbide.
又はムライトである請求項１記載の錫引きガイドダイ
ス。3. The tinning guide die according to claim 1, wherein the tin non-adhesive substance is alumina, silicon nitride or mullite.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7135935A JP2782050B2 (en) | 1995-05-09 | 1995-05-09 | Tinned guide dies |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7135935A JP2782050B2 (en) | 1995-05-09 | 1995-05-09 | Tinned guide dies |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08300033A true JPH08300033A (en) | 1996-11-19 |
| JP2782050B2 JP2782050B2 (en) | 1998-07-30 |
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ID=15163289
Family Applications (1)
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| JP7135935A Expired - Fee Related JP2782050B2 (en) | 1995-05-09 | 1995-05-09 | Tinned guide dies |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2782050B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000101195A (en) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device manufacturing method and structure |
| CN114262858A (en) * | 2021-12-24 | 2022-04-01 | 江苏富川机电有限公司 | High-speed continuous annealing tinning machine for continuous production of hard copper single line |
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|---|---|---|---|---|
| JPH0538516A (en) * | 1991-08-01 | 1993-02-19 | Osaka Diamond Ind Co Ltd | Diamond die for drawing |
-
1995
- 1995-05-09 JP JP7135935A patent/JP2782050B2/en not_active Expired - Fee Related
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| CN114262858A (en) * | 2021-12-24 | 2022-04-01 | 江苏富川机电有限公司 | High-speed continuous annealing tinning machine for continuous production of hard copper single line |
| CN114262858B (en) * | 2021-12-24 | 2023-02-03 | 江苏富川机电有限公司 | High-speed continuous annealing tinning machine for continuous production of hard copper single line |
Also Published As
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|---|---|
| JP2782050B2 (en) | 1998-07-30 |
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