JPH08304846A - 液晶表示素子の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 液晶パネルのテスト通電検査時の接続が効率
的かつ的確に行えて信頼性の高い検査を可能にした液晶
表示素子の検査装置を提供する。 【構成】 所定方向にのみ通電特性を有する異方導電性
材で形成されたコネクタ（導通部材）２６を介し、アラ
イメントマーク３２を備えた液晶パネル１０の一方の基
板１１の入力端子１４にテスト電圧を印加する電気検査
装置であり、装置側のガラス等の透明なステージ２０上
に、アライメントマーク３１と、基板１１の入力端子１
４にテスト電圧を印加する配線パターンでもって電圧印
加用の複数のテスト端子２１とが形成され、相対的な移
動により液晶パネル１０のアライメントマーク３２とス
テージ２０のアライメントマーク３２とにより位置合わ
せして、一方の基板１１の入力端子１４をコネクタ２６
を介してテスト端子２１に接続させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、液晶表示素子の検査
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、ＬＣＤ量産プロセスにおける液
晶パネルに通電して、機能の良否を検査する電気検査を
行う場合、プローブ（探針）やバンプ（凸起端子）を用
いた方式が知られている。図４は、プローブ方式による
ＬＣＤ電気検査装置の一例を示す側面断面図である。検
査ワークであるＬＣＤの液晶パネル１は、対向面に電極
が形成された例えばコモン電極基板とセグメント電極基
板、あるいは走査電極基板と表示電極基板といったよう
に、ガラス等による透明な対向２枚の基板２、３間に液
晶を介してなっている。図中、下側の一方の基板２は上
側の他方の基板３よりも一回り大きく形成され、上側の
基板３と対向しない周辺部分は端子部２ａとして、画素
数に応じた数百以上の本数の入力端子（図示せず）が導
出されている。それら入力端子にテスト電圧を印加して
通電により機能検査を行う場合、プローブカード４と呼
ばれるプローブ支持基板が使用され、リード線によりテ
スト電圧を印加するプローブ５を支持してなっている。
したがって、量産ラインでは検査ワークの液晶パネル１
が次々と図の位置に搬送され、その液晶パネル１に対し
てプローブカード４を上下動させながら、プローブ５の
弾性を利用してパネル側入力端子に機械的に押し当て
る。液晶パネル１の背後には実装品と同一仕様のバック
ライトユニットもしくは検査用照明装置６が配置されて
いて、ここから光を照射しつつプローブ５をパネル側入
力端子に電気的に接触させて点灯試験を行うものであ
る。一方、図５は、バンプ方式によるＬＣＤ電気検査装
置の一例を示す側面断面図である。この装置では、配線
パターンを形成したポリイミド樹脂等によるフィルム配
線７がパネル試験駆動回路８に接続されていて、このフ
ィルム配線７の先端には液晶パネル１の入力端子に相当
する多数のバンプ７ａが設けられている。検査時は、バ
ンプ７ａを上方から押圧ツール９で液晶パネル１側の入
力端子に押しあてて通電する。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、図４で示さ
れたプローブ方式によるＬＣＤ電気検査装置の場合、検
査初期の段階でプローブ５を液晶パネル１側の入力端子
に目視して位置合わせするため、検査作業に精度誤差な
どが生じる不具合がある。一方、図５のバンプ方式によ
るＬＣＤ電気検査装置の場合は、フィルム配線７の先端
に形成された多数のバンプ７ａを液晶パネル１側の入力
端子に目視により位置合わせする際の作業が困難であ
る。さらに、フィルム配線７自体が薄く柔軟であるか
ら、いわゆる腰の強さがないためにバンプ７ａの押しあ
て作業に不便感がある。この発明は、液晶パネルへのテ
スト通電検査時の接続が効率的かつ的確に行えて信頼性
の高い検査を可能にした液晶表示素子の検査装置を提供
することを目的としている。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明による請求項１記載の液晶表示素子の検査
装置は、それぞれに複数の電極を有する一対の基板間に
液晶が封入され、前記一対の基板の一方の基板の他方の
基板に対し延出された入力端子部上に前記電極に接続さ
れた入力端子が導出され、少なくともいずれかの基板に
アライメントマークを有するものであって、前記液晶表
示素子のアライメントマークに対応するアライメントマ
ークを有するステージを備え、このアライメントマーク
に前記液晶表示素子のアライメントマークを位置合わせ
し、前記液晶表示素子の入力端子にテスト電圧を印加す
るように構成されている。また、この発明の請求項２記
載の液晶表示素子の検査装置は、前記ステージは、前記
他方の基板の周縁より広く、前記一方の基板の周縁より
狭い開口部と、前記開口部の周囲に前記一方の基板の入
力端子にテスト電圧を印加するテスト端子とを有し、前
記開口部の下方に光源が備えられてなっている。さら
に、この発明の請求項３記載の液晶表示素子の検査装置
は、前記液晶表示素子に実装されて駆動するドライバ用
半導体チップと同一仕様のテスター用半導体チップが、
前記テスト端子に接続されてなっている。

【０００５】

【作用】請求項１記載の発明では、液晶表示素子に設け
られたアライメントマークを、それに応じてステージに
設けられたアライメントマークに容易に位置合わせでき
るので液晶表示素子の入力端子に一括してテスト電圧を
印加することができ、これにより液晶表示素子を点灯さ
せ、検査することができる。請求項２記載の発明では、
ステージが他方の基板の周縁より広く、一方の基板の周
縁より狭い開口部と、開口部の周囲に一方の基板の入力
端子にテスト電圧を印加するテスト電圧とを有している
ので、アライメントマークにより位置合わせされた液晶
表示素子は、その他方の基板を下側に向けて開口部に挿
入できるため、他方の基板が阻害することなく、液晶表
示素子の一方の基板の入力端子部の入力端子をテーブル
のテスト端子上に載置させることにより良好に接続する
ことができる。また、開口部の下方に光源が備えられて
いるので液晶表示素子の点灯状態がより明確に判断で
き、さらにバックライト型液晶表示素子の検査であれ
ば、わざわざバックライト及びバックライトに接続され
た電源を液晶表示素子に付帯させてから検査する必要が
ないので、簡便に位置合わせして点灯検査を行うことが
できる。

【０００６】

【実施例】以下、この発明による液晶表示素子の検査装
置の実施例について図面を用いて説明する。図１〜図３
は、実施例の電気検査装置によって検査ワークである液
晶パネル１０に通電させるときの形態を示す側面断面
図、正面図および斜視図である。装置の主要部は、ガラ
ス等の透明なステージ２０、このステージ２０上に液晶
パネル１０の一方の基板１１の入力端子１４に対応した
配線パターンでもってテスト電圧を印加通電する複数の
テスト端子２１、このテスト端子２１に上から接触して
設けられたシート状の導通部材（以下、これをコネクタ
２６という）などからなっている。また、この発明でい
う相対的移動の一例として、例えば液晶パネル１０をス
テージ２０に対し押しあて、コネクタ２６を介して一方
の基板１１の入力端子１４をテスト端子２１に接続させ
るものである。

【０００７】検査装置のステージ２０に対して量産ライ
ンで搬送されてくる液晶パネル１０は、液晶を封入した
ガラス等の透明な対向する２枚の基板１１、１２などか
らなっていて、駆動方式によってここでは特に基板の形
態を特定しないが、例えば基板対向面にはＩＴＯ等によ
る画素電極や共通電極などが形成されている。この液晶
パネル１０は、その製造時に位置合わせのためのアライ
メントマーク３２が設けられている。この発明でいう一
方の基板としての上側の基板１１は下側の他方の基板１
２よりも一回り大きく形成されて、下側の基板１２と対
向しない周辺部分は画素電極から導出される入力端子の
端子部１３となっており、ここには画素電極数に応じた
多数の入力端子１４が引き出されている。

【０００８】多くの場合、これら入力端子１４に接続さ
せて画素電極を駆動するＩＣやＬＳＩチップによるドラ
イバ半導体チップが実装される。電気検査の際は入力端
子１４にテスト電圧を印加して通電することにより、液
晶が駆動されてパネル輝度や表示品位等の品質良否を判
定するパネル機能検査が行われる。

【０００９】そうした検査を行う装置側は、ガラスなど
による透明な矩形平板状のステージ２０が装置本体とし
て設けられている。このステージ２０の上面には、液晶
パネル１０の上記入力端子１４の数に対応した配線パタ
ーンでもってテスト電圧印加端子であるテスト端子２１
が形成されている。テスト端子２１は、図２で明らかな
ように、実施例ではステージ２０上の５個所に設けられ
ている。また、各テスト端子２１には液晶パネル１０に
実装されるパネル駆動用のＩＣやＬＳＩチップによるド
ライバ半導体チップと同一仕様のテスター用ドライバ半
導体チップ２２が接続してある。これらドライバ用半導
体チップ２２は、フレキシブルプリント配線板２３を介
して検査装置の一環をなすパネル試験駆動回路２４に接
続されている。したがって、ドライバ半導体チップ２２
への通電により液晶パネル１０の機能検査の結果が良品
と判定されると、そのドライバ半導体チップ２２と同一
仕様の実装品チップを後工程で実装することができる。

【００１０】また、ステージ２０の中央部には、液晶パ
ネル１０の他方の基板１２の大きさよりも多少大き目の
矩形状開口孔２５が設けられている。液晶パネル１０
は、通電検査時はパネル反転させて他方の基板１２を下
側にしたとき、その基板１２をステージ２０の中央開口
孔２５に係入させることで、基板１２の板厚分がステー
ジ２０に干渉せず避けられるようになっている。つま
り、開口孔２５を設けた理由は、この開口孔２５に下側
になった他方の基板１２を係合させることで、上側にな
った一方の基板１１側の入力端子１４が、後述のコネク
タ２６を介しステージ２０上のテスト端子２１に接続す
るのに支障がないようにするためである。

【００１１】ステージ２０上の５個所のテスト端子２１
においては、各端子群の全幅にわたって帯状シートに成
形されたコネクタ２６が隣合う端子同士、その１本１本
にわたって上から接触して重なり合って配置されてい
る。コネクタ２６は、異方性の導電性フィルムでこの厚
さ方向へは電気的に導通可能である。すなわち、コネク
タ２６は、この上側になるパネル側入力端子１４と下側
になるテスト端子２１において、上下方向で対向する個
々の入力端子１４とテスト端子２１同士の導通は可能で
あるが、横に隣合う入力端子１４または横に隣合うテス
ト端子２１の個々同士はコネクタ２６でつながっていて
も、電気的に導通させない異方導電性特性を有する。

【００１２】一方、装置側ステージ２０は液晶パネル１
０を押しあてるとき、入力端子１４を下方のテスト端子
２１に位置合わせする便宜のために、アライメントマー
ク３１が少なくとも左右両側に２組設けられている。ア
ライメントマーク３１は、液晶パネル１０のマーク３２
に対応する位置に表示して設けてある。それら両マーク
３１、３２には例えば図示のように「＋」字形同士を重
ね合わせるものなどを用いることができる。基板１１お
よびステージ２０は共にガラス等による透明な材料が用
いられているため、検査初期に基板１１側のマーク３２
を下方のステージ２０側のマーク３１に合わせ易い。

【００１３】以上によって、実施例の電気検査装置では
次のように作用する。装置側ステージ２０では、パネル
試験駆動回路２４をオン状態にして、常時フレキシブル
プリント配線板２３からテスト端子２１に所要の電流を
流して待機状態にしておくことができる。検査ワークの
液晶パネル１０が搬送されてくると、ステージ２０側の
アライメントマーク３１に対してパネル側基板１１のア
ライメントマーク３２を上方から自動位置合わせ手段に
よって位置合わせする。基板１１とステージ２０は透明
なガラス板であるので、アライメントマーク３０の位置
合わせは容易で正確に合わせられる。

【００１４】基板１１の位置合わせが行われた段階で押
圧ツール等による押圧手段（図示せず）を作動させ、液
晶パネル１０全体をステージ２０に押しあてる。液晶パ
ネル１０側の下向きになった他方の基板１２はステージ
２０の中央の開口孔２５に係合し、その孔に板厚分を吸
収される。下側の他方の基板１２は支障とならないの
で、一方の基板１１の入力端子部１３はステージ２０側
に密接することができる。すなわち、入力端子部１３に
おける入力端子１４はステージ２０側のコネクタ２６に
密接することで、下方のテスト端子２１に接続する。

【００１５】テスト端子２１にはパネル試験駆動回路２
４から試験電流が供給されているので、テスト端子２１
からパネル側入力端子１４に対してテスト電圧が印加さ
れる。入力端子１４とテスト端子２１は上下方向で対応
する個々同士が電気的に導通する。このときテスト電圧
は液晶パネル１０のすべての画素が点灯するように所定
の入力端子１４に印加される。こうした液晶パネル１０
への通電による機能検査で品質良否が判定される。機能
検査で一定の品質を有する良品とみなされた場合は、ス
テージ２０上のドライバ半導体チップ２２と同一仕様の
実装品チップを後工程で実装することができる。

【００１６】以上、実施例について説明したが、この発
明はその他にも各種の設計変更が可能である。例えば、
上記実施例ではステージ２０に透明な材質が用いられた
が、アライメントマーク３１、３２同士の重なりを上方
から検出できれば、不透明材質の使用も可能である。上
記実施例ではアライメントマーク３２は液晶パネル１０
の製造時に使用されるものであったが、これに限らず検
査用アライメントマークとして別途形成されてもよい。
また、検査の際、コネクタ２６を介するとよく、直接液
晶パネル１０の入力端子１４とステージ２０のテスト端
子２１とを接触させ導通させてもよい。

【００１７】

【発明の効果】以上のように、この発明による液晶表示
素子の検査装置は、液晶パネル側基板および検査装置側
ステージの双方にアライメントマークの一方と他方を設
けておけば、検査初期の目視確認が容易になり、位置合
わせの精度を高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】検査ワークのＬＣＤ液晶パネルに対して電気検
査を行う形態を示す実施例の電気検査装置の側面図。

【図２】実施例の電気検査装置の平面図。

【図３】実施例の電気検査装置の斜視図。

【図４】検査ワークのＬＣＤ液晶パネルに対して電気検
査を行う形態を示すプローブ方式による従来例の電気検
査装置の側面図。

【図５】検査ワークのＬＣＤ液晶パネルに対して電気検
査を行う形態を示すパッド方式による従来例の電気検査
装置の側面図。

【符号の説明】

１０ 液晶パネル １１ 一方の基板 １２ 他方の基板 １３ 入力端子部 １４ 入力端子 ２０ ステージ ２１ テスト端子 ２２ ドライバ半導体チップ ２３ フレキシブルプリント配線板 ２４ パネル試験駆動回路 ２５ 開口孔 ２６ コネクタ（導通部材） ３１、３２ アライメントマーク

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 それぞれに複数の電極を有する一対の基
   板間に液晶が封入され、前記一対の基板の一方の基板の
   他方の基板に対し延出された入力端子部上に前記電極に
   接続された入力端子が導出され、少なくともいずれかの
   基板にアライメントマークを有する液晶表示素子の検査
   装置であって、 前記液晶表示素子のアライメントマークに対応するアラ
   イメントマークを有するステージを備え、このアライメ
   ントマークに前記液晶表示素子のアライメントマークを
   位置合わせし、前記液晶表示素子の入力端子にテスト電
   圧を印加することを特徴とする液晶表示素子の検査装
   置。
2. 【請求項２】 前記ステージは、前記他方の基板の周縁
   より広く、前記一方の基板の周縁より狭い開口部と、前
   記開口部の周囲に前記一方の基板の入力端子にテスト電
   圧を印加するテスト端子とを有し、前記開口部の下方に
   光源が備えられていることを特徴とする請求項１記載の
   液晶表示素子の検査装置。
3. 【請求項３】 前記液晶表示素子に実装されて駆動する
   ドライバ用半導体チップと同一仕様のテスター用半導体
   チップが、前記テスト端子に接続されていることを特徴
   とする請求項２記載の液晶表示素子の検査装置。