JPH0830663B2 - DEVICE FOR DETECTING AND/OR MONITORING A DETERMINED FILL LEVEL IN A CONTAINER - Patent application - Google Patents
DEVICE FOR DETECTING AND/OR MONITORING A DETERMINED FILL LEVEL IN A CONTAINER - Patent applicationInfo
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- JPH0830663B2 JPH0830663B2 JP6-508652A JP50865294A JPH0830663B2 JP H0830663 B2 JPH0830663 B2 JP H0830663B2 JP 50865294 A JP50865294 A JP 50865294A JP H0830663 B2 JPH0830663 B2 JP H0830663B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、容器における所定の充填レベルを検出およ
び/または監視する装置に関する。この装置には、セン
サと励振装置と評価回路とが設けられており、前記セン
サは、充填物が所定の充填レベルに達すると当該センサ
が充填物と接触するように、監視すべき充填レベルの高
さで容器に配置されており、前記励振装置は、センサを
その固有共振周波数で機械振動させるために励振させ、
前記評価回路は、センサの機械振動周波数が切替周波数
を上回るか下回るかに依存して表示過程および/または
切替過程をトリガするように構成されている。The present invention relates to a device for detecting and/or monitoring a predetermined filling level in a container, the device comprising a sensor, an excitation device and an evaluation circuit, the sensor being arranged in the container at the height of the filling level to be monitored so that the sensor comes into contact with the filling material when the filling material reaches the predetermined filling level, the excitation device exciting the sensor to mechanically oscillate at its natural resonant frequency,
The evaluation circuit is designed to trigger a display process and/or a switching process depending on whether the mechanical vibration frequency of the sensor is above or below a switching frequency.
この形式の装置は、たとえばドイツ連邦共和国特許第
3336991号公報により公知である。この公知の装置の場
合、センサは2つの振動ロッドを有している。これらの
振動ロッドは、互いに間隔をおいて並置されて振動板に
取り付けられており、励振装置によりそれらの長手方向
を横切る方向で互いに逆向きに振動させられる。しかし
ながら、上記の形式において次のように構成された装置
も公知である。すなわちこの場合、センサはただ1つの
振動ロッドしか有しておらず、あるいはこれとは全く異
なりセンサは振動ロッドなしで構成されている。すべて
の事例において装置の動作は、センサが充填物に接触す
るとセンサの固有共振周波数が変化することに基づくも
のである。センサが充填物に覆われている場合、センサ
の固有共振周波数はこれが充填物に覆われていないとき
よりも小さい。切替周波数は、センサが覆われていると
きの低い方の固有共振周波数とセンサが覆われていない
ときの高い方の固有共振周波数との間に位置するよう選
定される。センサの振動周波数が切替周波数よりも低い
ことを評価回路が検出した場合、このことは、センサが
充填物に覆われつまり容器内の充填レベルが監視すべき
高さを越えたことの判定尺度ないし指標である。これに
対し、センサの振動周波数が切替周波数よりも高いこと
を評価回路が検出した場合、このことは、センサが充填
物で覆われておらずつまり容器内の充填レベルが監視す
べき高さよりも低いことの指標である。このような形式
のセンサは、液体の充填レベルの監視にとりわけ適して
いる。それというのは、覆われていない状態から覆われ
た状態へ、およびこれとは逆に変化した際の固有共振周
波数の変化は、液体の場合には常に明確に検出できるか
らである。 A device of this type is described, for example, in German Patent No.
A known device is disclosed in Published Japanese Patent Application No. 3336991. In this known device, the sensor has two vibrating rods. These rods are attached to a vibrating plate, spaced apart from one another, and are vibrated in opposite directions transverse to their longitudinal direction by an exciter. However, devices of the above type are also known, in which the sensor has only one vibrating rod or, in a complete departure from this, is configured without a vibrating rod. In all cases, the device operates based on the change in the natural resonant frequency of the sensor when it comes into contact with the filling. When the sensor is covered with the filling, its natural resonant frequency is lower than when it is not covered with the filling. The switching frequency is selected to lie between the lower natural resonant frequency when the sensor is covered and the higher natural resonant frequency when the sensor is not covered. If the evaluation circuit detects that the vibration frequency of the sensor is lower than the switching frequency, this is a measure or indicator that the sensor is covered with the filling, i.e., that the filling level in the container has exceeded the height to be monitored. On the other hand, if the evaluation circuit detects that the vibration frequency of the sensor is higher than the switching frequency, this is an indication that the sensor is not covered with a filling material, i.e., the filling level in the container is lower than the height to be monitored. This type of sensor is particularly suitable for monitoring the filling level of liquids, since the change in the natural resonant frequency when changing from an uncovered state to a covered state and vice versa can always be clearly detected in the case of liquids.
製造要因に基づき、センサの共振周波数はそれぞれ異
なっている。他方、低濃度の液体の場合には殊に、覆わ
れたセンサと覆わていないセンサの固有共振周波数は互
いにかなり近づいている可能性があるので、各センサご
とに切替周波数を設定しなければならない。したがっ
て、評価回路は不可避的にセンサと対結合されている。
つまり評価回路を他のセンサとともに用いようとするな
らば、評価回路をこの別のセンサに合わせて新たに調整
する必要があり、このためにはこの別のセンサの固有周
波数が既知でなければならない。このような調整は通
常、装置の使用場所でそのまま行うことはできない。こ
のことは装置の修理および保守作業の実施を困難にして
いる。 Due to manufacturing factors, the resonant frequencies of the sensors are different from each other. On the other hand, especially in the case of low-concentration liquids, the natural resonant frequencies of the covered and uncovered sensors may be quite close to each other, so the switching frequency must be set for each sensor. Therefore, the evaluation circuit is inevitably coupled to the sensor.
This means that if the evaluation circuit is to be used with another sensor, the evaluation circuit must be adjusted to the other sensor, and for this purpose the natural frequency of the other sensor must be known. Such adjustments usually cannot be made on-site, which makes repair and maintenance of the device difficult.
したがって本発明の課題は、冒頭で述べた形式の装置
において、評価回路を個々のセンサに合わせてそれぞれ
別個に調整する必要なく、どのような評価回路でもあら
ゆる任意のセンサとともに使用できるようにすることに
ある。 The object of the present invention is therefore to make it possible in a device of the type mentioned at the beginning to use any evaluation circuit with any desired sensor without the need to adjust the evaluation circuit separately for each individual sensor.
本発明によればこの課題は、センサに電気回路素子が
配属されており、該回路素子は、前記センサの固有共振
周波数と一義的な関係にある値をもつ特性量を有してお
り、該電気回路素子の特性量の値に依存して評価回路に
おいて切替周波数が設定調整されることにより解決され
る。 According to the present invention, this object is achieved by providing an electric circuit element associated with the sensor, the electric circuit element having a characteristic quantity whose value is uniquely related to the natural resonance frequency of the sensor, and the switching frequency being set and adjusted in the evaluation circuit depending on the value of the characteristic quantity of the electric circuit element.
本発明による装置を製造する際、あらゆる評価回路は
等しく構成される。各センサごとにその固有共振周波数
が自由な状態で測定され、測定された固有共振周波数に
依存して電気回路素子の特性量の値が設定調整される。
この回路素子はセンサに永続的に配属され、たとえばセ
ンサの螺合部内に収容される。回路素子の特性量の値を
表わす電気信号が評価回路へ供給されるように、この回
路素子は評価回路と接続されている。各評価回路は、個
々のセンサに個別に割り当てられている切替周波数を回
路素子の特性量の値に依存して設定調整する装置を有し
ている。 When manufacturing the device according to the invention, all evaluation circuits are constructed identically: for each sensor, its natural resonance frequency is measured in its free state, and the values of the characteristic quantities of the electrical circuit elements are set and adjusted as a function of the measured natural resonance frequency.
The circuit elements are permanently attached to the sensors and are accommodated, for example, in threaded connections of the sensors. The circuit elements are connected to an evaluation circuit so that an electrical signal representing the value of the characteristic variable of the circuit element is supplied to the evaluation circuit. Each evaluation circuit has a device for setting and adjusting a switching frequency individually assigned to each sensor as a function of the value of the characteristic variable of the circuit element.
このようにして、評価回路をセンサに適合させるため
の特別な設定調整を行う必要なく、いずれの評価回路も
あらゆるセンサと組み合わせることができる。さらに、
1つの評価回路を複数個のセンサと連携させて用いるこ
とができ、これらのセンサは評価回路により順番に走査
検出される。したがって走査検出されるたびに、評価回
路において切替周波数が目下走査検出されているセンサ
に自動的に整合される。 In this way, any evaluation circuit can be combined with any sensor without the need for special setting adjustments to adapt the evaluation circuit to the sensor.
One evaluation circuit can be used in conjunction with several sensors, which are scanned in turn by the evaluation circuit, so that after each scan, the switching frequency in the evaluation circuit is automatically adapted to the sensor currently being scanned.
従属請求項には、本発明の有利な実施形態が示されて
いる。 The dependent claims set out advantageous embodiments of the invention.
本発明のその他の特徴ならびに利点は、図面に基づく
以下の実施例の説明に示されている。 Further features and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description of the preferred embodiments with reference to the accompanying drawings.
第1図は、本発明による装置のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an apparatus according to the present invention.
第2、3、4図は、センサに配属された回路素子なら
びにセンサと評価回路との接続に関する種々異なる実施
例を示す図である。 2, 3 and 4 show various embodiments of the circuit elements assigned to the sensor and the connection of the sensor to the evaluation circuit.
第5図は、第1図の評価回路に含まれる遅延回路の実
施例を示す図である。 FIG. 5 is a diagram showing an embodiment of a delay circuit included in the evaluation circuit of FIG.
第6図は、第5図の遅延回路の動作を説明するダイア
グラムである。 FIG. 6 is a diagram illustrating the operation of the delay circuit of FIG.
図面には、螺合部11により支持された互いに平行な2
つの振動ロッド12および13を備えたセンサ10が示されて
いる。螺合部11はねじ部分14と六角ヘッド15とを有して
いる。ねじ部分14は、振動ロッド12と13が容器内部へ突
入するように、雌ねじの設けられた容器壁の開口部に螺
入される。六角ヘッド15は、螺合部11を容器壁に対して
しっかりと締め付け可能なレンチを当てるために用いら
れる。開口部は容器壁に次のような高さで設けられてい
る。すなわち、容器内の充填レベルが所定の高さを越え
ると、容器内の充填物により振動ロッド12、13が覆わ
れ、他方、充填レベルが所定の高さを下回ると、充填物
によってもこれらの振動ロッドが覆われないような高さ
に設けられている。装置の組み込み位置は任意であっ
て、つまり開口部が容器壁上方に設けられていれば振動
ロッドを垂直に位置させることができるし、あるいは開
口部が容器の側壁に設けられているならば振動ロッドを
水平に位置させることができる。 The drawing shows two parallel screws supported by a threaded joint 11.
The sensor 10 is shown with two vibrating rods 12 and 13. The threaded portion 11 has a threaded portion 14 and a hexagonal head 15. The threaded portion 14 is threaded into an opening in the internally threaded container wall so that the vibrating rods 12 and 13 extend into the container interior. The hexagonal head 15 is used to apply a wrench to tighten the threaded portion 11 against the container wall. The openings are located in the container wall at a height such that the vibrating rods 12 and 13 are covered by the contents of the container when the container fill level exceeds a predetermined height, but are not covered by the contents when the container fill level falls below the predetermined height. The device can be installed in any position; the vibrating rods can be positioned vertically if the openings are located above the container wall, or horizontally if the openings are located in the container sidewall.
螺合部11は中空であって内部に変換装置を有してお
り、交流電圧が供給されるとこの変換装置により、振動
ロッド12、13はそれらの長手方向を横切る方向で互いに
逆向きに振動させられる。交流電圧は、線路17を介して
変換装置と接続されている励振回路16から供給され、こ
の励振回路は、振動ロッド12、13および変換装置から成
る機械振動系がその固有共振周波数で振動するよう励振
する。このように構成されたセンサはたとえばドイツ連
邦共和国特許第3336991号公報から公知であって、この
場合、変換装置は圧電素子により構成されている。した
がって変換装置については、ここではこれ以上詳細には
説明しない。 The threaded portion 11 is hollow and contains a transducer that, when supplied with an AC voltage, vibrates the vibrating rods 12, 13 in opposite directions transverse to their longitudinal direction. The AC voltage is supplied by an excitation circuit 16 connected to the transducer via a line 17, which excites the mechanical vibration system consisting of the vibrating rods 12, 13 and the transducer to vibrate at its natural resonant frequency. A sensor constructed in this way is known, for example, from German Patent No. 3336991, in which the transducer is formed by a piezoelectric element. Therefore, the transducer will not be described in further detail here.
励振回路16の出力側は、線路18を介して評価回路20の
入力側と接続されている。励振回路はこの出力側から、
センサ10の振動周波数を有する信号を送出する。この周
波数−以下ではセンサ周波数と称する−は、200〜500Hz
までのオーダにある。評価回路20は、センサ周波数が所
定の切替周波数を上回っているか下回っているかを検査
し、このことによりセンサ10の振動ロッド12、13が充填
物に覆われているか否かを検出できる。つまり、振動ロ
ッド12および13が振動する固有共振周波数は、振動ロッ
ドが空気中で振動していれば比較的高く、振動ロッドが
充填物に覆われていれば比較的低い。 The output of the excitation circuit 16 is connected via a line 18 to the input of an evaluation circuit 20.
The sensor 10 emits a signal having a vibration frequency, which will be referred to hereinafter as the sensor frequency, between 200 and 500 Hz.
The evaluation circuit 20 checks whether the sensor frequency is above or below a predetermined switching frequency, and thereby can detect whether the vibrating rods 12, 13 of the sensor 10 are covered with a filling material or not. That is, the natural resonant frequency at which the vibrating rods 12 and 13 vibrate is relatively high if the vibrating rods are vibrating in air, and is relatively low if the vibrating rods are covered with a filling material.
評価回路20はカウンタ21を有しており、このカウンタ
は制御入力側において、励振回路16から供給されるセン
サ周波数を有する信号を受信する。カウンタ21のクロッ
ク入力側は、クロック発生器22から供給されるクロック
パルスを受信する。このクロックパルスの周波数はセン
サ周波数よりも著しく高く、これはたとえば500kHzのオ
ーダにある。カウンタ21は、線路18を介してその制御入
力側に加えられる信号により、この信号の1周期中にク
ロック発生器22から供給されるクロックパルスをそのつ
ど計数するように制御される。1周期の終わりに到達し
た計数状態はメモリ23へ伝送され、そのあとでカウンタ
21はゼロにリセットされ、センサ信号の1周期中のクロ
ックパルスを新たに計数する。したがって、メモリ23中
のディジタル数値はセンサ信号の周期期間に常に比例し
ており、このためセンサ周波数の尺度となる。 The evaluation circuit 20 has a counter 21, which receives at its control input a signal having the sensor frequency supplied by the excitation circuit 16. At its clock input, the counter 21 receives clock pulses supplied by a clock generator 22. The frequency of these clock pulses is significantly higher than the sensor frequency, for example, it is of the order of 500 kHz. The counter 21 is controlled by a signal applied to its control input via line 18 so that it counts each clock pulse supplied by the clock generator 22 during one period of this signal. The counting state reached at the end of one period is transmitted to a memory 23, after which the counter 21 counts the number of clock pulses supplied by the clock generator 22.
21 is reset to zero and starts a new count of clock pulses during one period of the sensor signal. The digital value in memory 23 is therefore always proportional to the period of the sensor signal and is therefore a measure of the sensor frequency.
メモリ23中のディジタル数値は比較器24の入力側24a
へ供給され、この比較器は第2の入力側24bで、同じよ
うに切替周波数の周期期間を表わすディジタル数値を受
信する。比較器24はその出力側から2進信号を送出す
る。この信号は、入力側24aへ供給されたディジタル数
値が入力側24bへ供給されたディジタル数値よりも小さ
ければ一方の信号値(たとえば信号値"H")を有し、入
力側24aへ供給されたディジタル数値が入力側24bへ供給
されたディジタル数値よりも大きければ他方の信号値
(本実施例では信号値"L")を有する。 The digital value in the memory 23 is input to the input 24a of the comparator 24.
, which also receives at a second input 24b a digital value representative of the period of the switching frequency. Comparator 24 delivers at its output a binary signal which has one signal value (for example, a signal value "H") if the digital value supplied to input 24a is smaller than the digital value supplied to input 24b, and another signal value (in this example, a signal value "L") if the digital value supplied to input 24a is greater than the digital value supplied to input 24b.
したがって、選択された実施例では比較器24の出力信
号の信号値"H"は、センサ周波数が切替周波数よりも高
いことを表わし、信号値"L"は、センサ周波数が切替周
波数よりも低いことを表わす。このため、接続されたセ
ンサ10に対し切替周波数が適切に設定調整されていれ
ば、信号値"H"は、センサ10の振動ロッドが空気中で振
動しており、つまり監視すべき充填レベルに達していな
いことを表わし、信号値"L"は、センサの振動ロッドが
充填物で覆われており、つまり監視すべき充填レベルに
達しているかまたはそれを越えていることを表わす。 Thus, in the selected embodiment, a signal value "H" at the output signal of comparator 24 indicates that the sensor frequency is higher than the switching frequency, and a signal value "L" indicates that the sensor frequency is lower than the switching frequency. Thus, if the switching frequency is properly set and adjusted for the connected sensor 10, a signal value "H" indicates that the vibrating rod of sensor 10 is vibrating in air, i.e., the fill level to be monitored has not been reached, and a signal value "L" indicates that the vibrating rod of the sensor is covered with the fill, i.e., the fill level to be monitored has been reached or exceeded.
切替周波数を特定のセンサに対して適正値に固定的に
設定してしまうと、そのセンサを製造要因に基づき異な
る固有共振周波数を有する別のセンサに交換した場合に
は、評価回路はもはや正しく機能しなくなるおそれがあ
る。たとえば、振動ロッドが覆われていないときの固有
共振周波数が切替周波数を下回るほど低いと、比較器の
出力信号は”覆われた”状態を常に表わすことになって
しまうし、振動ロッドが覆われていてもセンサの固有共
振周波数が切替周波数をさらに上回るほど高ければ、比
較器の出力信号は”覆われていない”状態を常に表わす
ことになってしまう。 If the switching frequency is fixed to a suitable value for a particular sensor, the evaluation circuit may no longer function correctly if the sensor is replaced with another sensor that has a different natural resonant frequency due to manufacturing factors. For example, if the natural resonant frequency of the vibrating rod when it is not covered is low enough to be below the switching frequency, the output signal of the comparator will always indicate the "covered" state. However, if the natural resonant frequency of the sensor is high enough to be above the switching frequency even when the vibrating rod is covered, the output signal of the comparator will always indicate the "uncovered" state.
図面に示された装置では、そのつど接続されているセ
ンサへの切替周波数の自動整合が行われる。この目的
で、センサ10に電気回路素子25が配属されており、この
回路素子は、センサ10の固有共振周波数と一義的な関係
にある特性量を有する。回路素子25は、図面にシンボリ
ックに表わされているように、有利にはセンサ10の螺合
部11内に収容されており、線路26を介して評価回路20の
第2の入力側と接続されている。評価回路20は線路26を
介して、回路素子25の特性量の値を表わす電気信号を受
信する。この電気信号がアナログ信号であれば、評価回
路20においてアナログ/ディジタル変換器27へ供給さ
れ、この変換器はアナログ信号をディジタル数値へ変換
し、たとえば8bitの数値へ変換する。このディジタル数
値は加算器28の入力側28aへ供給され、この加算器はそ
の第2の入力側28bで固定的に設定されたディジタルの
基本数値を受信する。加算器28はこれら両方の入力側へ
供給された数値の和を形成し、その出力側からこの和を
表わすディジタル数値を送出する。このディジタル数値
は比較器24の第2の入力側24bへ供給され、これは切替
周波数を表わすものであり、この周波数とメモリ23の内
容により表わされているセンサ周波数とが比較される。 The device shown in the drawings automatically adapts the switching frequency to the respective connected sensor. For this purpose, an electrical circuit element 25 is associated with the sensor 10, which has a characteristic value that is uniquely related to the natural resonant frequency of the sensor 10. As symbolically shown in the drawings, the circuit element 25 is preferably accommodated in the screw connection 11 of the sensor 10 and is connected via a line 26 to a second input of the evaluation circuit 20. The evaluation circuit 20 receives an electrical signal representing the value of the characteristic value of the circuit element 25 via the line 26. If this electrical signal is analog, it is supplied to an analog-to-digital converter 27 in the evaluation circuit 20, which converts the analog signal to a digital value, for example, an 8-bit value. This digital value is supplied to an input 28a of an adder 28, which receives a fixed digital base value at its second input 28b. The adder 28 forms the sum of the values supplied to both of its inputs and delivers at its output a digital value representing this sum, which is supplied to a second input 24b of the comparator 24, which represents the switching frequency, and which is compared with the sensor frequency represented by the contents of the memory 23.
入力側28bへ供給されるディジタル基本数値により、
切替周波数とセンサの固有共振周波数との間の間隔が定
められ、つまりは装置の応答感度が定められる。この数
値はたとえば水および類似の密度の液体に対しては、セ
ンサが覆われていない状態で振動する固有共振周波数よ
りも切替周波数が11%下回るように設定調整される。ス
イッチ29を閉じることにより、加算器28において加えら
れるべき数値を変更する信号を、加算器28の制御入力側
28cへ供給することができる。このことにより、別の密
度の充填物に対し装置の応答感度を整合させるために、
センサの固有共振周波数と切替周波数との間の間隔が変
えられる。上述のように、入力側28bへ供給されるディ
ジタル基本数値が、スイッチ29の開放時に覆われていな
いセンサの固有共振周波数よりも切替周波数が11%下回
るように選定されている場合、いっそう低い密度の液体
の充填レベルの監視に際して、覆われているセンサの振
動周波数が覆われていないセンサの振動周波数よりも11
%低くはならないことが起こり得る。この場合、比較器
24は、監視すべき充填レベルへの到達を表わす信号を送
出しないことになってしまう。この場合にはスイッチ29
を閉じることによりたとえば、覆われていないセンサの
固有共振周波数よりも切替周波数が5%だけしか低くな
らないように作用する。 The digital base value supplied to input 28b
The distance between the switching frequency and the natural resonant frequency of the sensor is determined, and thus the response sensitivity of the device is determined. For example, for water and liquids of similar density, this value is set so that the switching frequency is 11% below the natural resonant frequency at which the sensor vibrates when uncovered. Closing switch 29 applies a signal to the control input of adder 28 that changes the value to be added in adder 28.
28c. This allows the device to match its response sensitivity to different density fills.
The interval between the natural resonant frequency of the sensor and the switching frequency is varied. If, as mentioned above, the digital base value supplied to input 28b is selected so that the switching frequency is 11% below the natural resonant frequency of the uncovered sensor when switch 29 is open, then when monitoring the fill level of a liquid with a lower density, the vibration frequency of the covered sensor will be 11% below the vibration frequency of the uncovered sensor.
% lower. In this case, the comparator
In this case, the switch 29 would not emit a signal indicating that the fill level to be monitored has been reached.
Closing the cover acts, for example, to ensure that the switching frequency is only 5% lower than the natural resonant frequency of the uncovered sensor.
電気回路素子25に対して有利には、センサ内で固有の
電流供給の不要な受動的な回路素子が用いられる。第
2、3、4図には、適切な回路素子のいくつかの実例が
示されている。これらの図面にはそれぞれ評価回路20の
一部分も表わされており、さらには回路素子25と評価回
路20との間の接続線路26も表わされている。 Passive circuit elements that do not require an inherent current supply within the sensor are preferably used for the electrical circuit element 25. Some examples of suitable circuit elements are shown in Figures 2, 3 and 4. Each of these figures also shows a portion of the evaluation circuit 20, as well as the connecting lines 26 between the circuit element 25 and the evaluation circuit 20.
通常、評価回路20は励振回路16とともに電子ケーシン
グ内に収容されており、このケーシングはセンサ10の螺
合部11上へ直接載置可能である。載置したときに、一方
では励振回路16と螺合部11内に配置された電気機械的変
換装置との間の接続が形成され、他方では評価回路20と
回路素子25との間の接続が形成される。このことは有利
には、一方では螺合部11に他方では電子ケーシングに取
り付けられている差し込み接続部材により行われる。し
かしながら、組み込み条件または周囲条件に応じて、電
子装置をセンサ11から著しく隔てて配置することが必要
となる場合もある。この場合、線路17および26は相応に
長くされた長さを有するが、この場合にも差し込み接続
部材または類似の接続手段が設けられており、これらに
よって容易かつ迅速な接続形成および切離しが可能とな
る。これら両事例の場合に有利であるのは、たとえば障
害時に、センサをそのために分解する必要なく、電子装
置を簡単かつ迅速に交換できることである。接続手段と
して、第2図〜第4図では差し込み接続部30が示されて
いる。 Typically, the evaluation circuit 20, together with the excitation circuit 16, is housed in an electronics housing, which can be mounted directly onto the threaded portion 11 of the sensor 10. When mounted, a connection is established between the excitation circuit 16 and the electromechanical transducer device located in the threaded portion 11, on the one hand, and between the evaluation circuit 20 and the circuit element 25, on the other hand. This is preferably achieved by means of a plug-in connector attached to the threaded portion 11 on the one hand and to the electronics housing on the other hand. However, depending on the installation or ambient conditions, it may be necessary to position the electronics significantly further away from the sensor 11. In this case, the lines 17 and 26 have a correspondingly long length, but plug-in connectors or similar connecting means are still provided, allowing for easy and rapid connection and disconnection. An advantage in both cases is that the electronics can be easily and quickly replaced, for example, in the event of a malfunction, without the need to disassemble the sensor for this purpose. A plug-in connector 30 is shown as the connecting means in FIGS. 2-4.
第2図には有利な実施形態が示されており、この場
合、電気回路素子25は固定抵抗31であり、センサの固有
共振周波数と一義的な関係にある特性量はこの固定抵抗
31の抵抗値である。この場合、線路26は二重線路であっ
て、これらのうち一方の導線はアースに接続されてお
り、他方の導線は前置抵抗32を介して基準電圧URにおか
れている。この場合、特性量の値を表わす電気信号はア
ナログ電圧UKであり、つまり固定抵抗31における電圧降
下である。このアナログ電圧UKは評価回路20におけるア
ナログ/ディジタル変換器27へ供給され、この変換器に
より既述のようにディジタル数値へ変換される。 FIG. 2 shows a preferred embodiment in which the electrical circuit element 25 is a fixed resistor 31, the characteristic quantity which is uniquely related to the natural resonant frequency of the sensor being the fixed resistor 31.
31. In this case, line 26 is a double line, one of which is connected to ground and the other is connected to a reference voltage UR via a pre-resistor 32. The electrical signal representing the value of the characteristic quantity is then an analog voltage U K , i.e., the voltage drop across fixed resistor 31. This analog voltage U K is supplied to an analog-to-digital converter 27 in evaluation circuit 20, where it is converted into a digital value as already described.
したがっていかなるセンサを製造する場合でも、その
固有共振周波数を自由な状態で測定し、次のような抵抗
値を有する固定抵抗31を選ぶ必要がある。すなわち、こ
の抵抗値が線路26を介して伝送されるアナログ信号に変
えられ、このアナログ信号がディジタル数値へ変換さ
れ、さらにこのディジタル数値が固定的に設定された基
本数値と加算された後、メモリ23に記憶された数値がカ
ウンタ21での捕捉後にはセンサ周波数を表わすのと同じ
ように、切替周波数を表わすディジタル数値が得られる
ような抵抗値を有する固定抵抗を選ぶ必要がある。これ
らのことはすべて精確に定められており知られているの
で、適切な抵抗値を有する固定抵抗の選択は当業者にと
って困難ではない。抵抗値が十分に細かく段階づけられ
ている固定抵抗は市販されている。有利には、精度が高
く温度依存性が低い点で優れている金属被覆膜抵抗が用
いられる。 Therefore, when manufacturing any sensor, it is necessary to measure its natural resonant frequency in a free state and select a fixed resistor 31 whose resistance is such that, after its resistance is converted into an analog signal transmitted via line 26, this analog signal is converted into a digital value, and this digital value is added to a fixedly set base value, a digital value is obtained that represents the switching frequency, just as the value stored in memory 23 represents the sensor frequency after acquisition by counter 21. Since all this is precisely determined and known, the selection of a fixed resistor with an appropriate resistance value is not difficult for a person skilled in the art. Fixed resistors with sufficiently finely graduated resistances are commercially available. Advantageously, metal-coated film resistors are used, which are distinguished by their high precision and low temperature dependence.
第2図には、固定抵抗31の代わりに可調整抵抗33も使
用できることが示されている。この可調整抵抗33は、タ
ップを旋回させることにより抵抗値を調整できるトリマ
抵抗とすることができるし、あるいは抵抗層の加工処理
により抵抗値を調整できる膜抵抗とすることもできる。
これらの可能な構成は当業者によく知られている。 2 shows that an adjustable resistor 33 can be used instead of the fixed resistor 31. This adjustable resistor 33 can be a trimmer resistor whose resistance value can be adjusted by turning a tap, or it can be a film resistor whose resistance value can be adjusted by processing the resistive layer.
These possible configurations are well known to those skilled in the art.
第3図には、電気回路素子25の別の実施例としてツェ
ナダイオード34を使用することが示されている。この場
合、センサの固有共振周波数と一義的な関係にある特性
量は、ツェナダイオードのツェナ電圧である。やはりツ
ェナダイオードも、ツェナ電圧が十分に細かく段階づけ
られて市販されている。ツェナダイオードを使用した場
合も線路26は2重線路であって、それらのうち一方の導
線はアースに接続されており、他方の導線は前置抵抗35
を介して基準電圧URにおかれている。ツェナダイオード
34に対して並列に、抵抗36と37から成る分圧器が設けら
れている。特性量を表わす電気信号はやはりアナログ電
圧UKであって、この電圧はアナログ/ディジタル変換器
27の入力側へ供給される。このアナログ電圧UKは、分圧
器36−37の分圧比で低減されたツェナダイオード34のツ
ェナ電圧に相応する。固定抵抗の代わりにツェナダイオ
ードを用いることにより得られる利点とは、アナログ電
圧UKが基準電圧URの変動には依存しないことである。 3 shows the use of a Zener diode 34 as another embodiment of the electrical circuit element 25. In this case, the characteristic quantity that is uniquely related to the natural resonant frequency of the sensor is the Zener voltage of the Zener diode. Zener diodes are also commercially available with Zener voltages that are graduated to a sufficiently fine range. When a Zener diode is used, the line 26 is also a double line, one of which is connected to ground and the other is connected to a pre-resistor 35.
The reference voltage U R is connected via a Zener diode.
A voltage divider consisting of resistors 36 and 37 is provided in parallel with 34. The electrical signal representing the characteristic quantity is again an analog voltage U K , which is converted into a signal by an analog-to-digital converter.
27. This analog voltage UK corresponds to the Zener voltage of the Zener diode 34 reduced by the voltage divider ratio of the voltage divider 36-37. The advantage of using a Zener diode instead of a fixed resistor is that the analog voltage UK is independent of fluctuations in the reference voltage UR .
前述の各実施例の場合、特性量を表わす電気信号はア
ナログ信号であったのに対し、第4図には、線路26を介
して評価回路20へ伝送される固有共振周波数を表わす電
気信号がディジタル信号である場合の実施例が示されて
いる。回路素子25はこの実施例の場合、設定調整すべき
ディジタル数値のビット数に相応する個数のスイッチ接
点を備えた多重スイッチ38である。第4図では、スイッ
チ38は8つのスイッチ接点を有するものとしており、こ
のことにより8桁の2進数の設定調整が可能となる。こ
のようなスイッチは微小化設計ではいわゆるデュアル・
イン・ライン・スイッチとして市販されている。この場
合、線路26はスイッチ38の各スイッチ接点ごとに1つの
固有の導線を有しており、つまりこの実施例では8つの
導線を有する。各導線は、抵抗39を介して基準電圧URに
おかれている。簡単にするため第4図には、最初と最後
の導線の抵抗39しか示されていない。ある導線に配属さ
れたスイッチ接点が開放されている場合、この導線は基
準電圧URの電位を供給する。スイッチ接点が閉成される
と、この導線はアース電位を供給する。この実施例の場
合、評価回路20内のアナログ/ディジタル変換器27は省
略されており、線路26の導線は加算器28の入力側28aと
直接接続されている。第2、3図の実施例ではこの入力
側にはアナログ/ディジタル変換器27の出力側が接続さ
れていた。スイッチ38のスイッチ接点は次のように設定
調整される。すなわちこれらのスイッチ接点により、ア
ナログ/ディジタル変換器27によるアナログ電圧UKの変
換の結果として送出されるものと等しいディジタル数値
で、センサの固有共振周波数が表わされるように設定調
整される。この場合、センサの固有共振周波数と一義的
な関係にある回路素子25の特性量は、スイッチ38のスイ
ッチ接点の設定調整結果である。 While in the previous embodiments the electrical signal representing the characteristic quantity was an analog signal, Fig. 4 shows an embodiment in which the electrical signal representing the natural resonant frequency transmitted via line 26 to evaluation circuit 20 is a digital signal. In this embodiment, circuit element 25 is a multiplex switch 38 with a number of switch contacts corresponding to the number of bits of the digital value to be set. In Fig. 4, switch 38 has eight switch contacts, which allows a setting of eight binary digits. In miniaturized designs, such switches are so-called dual-switches.
In-line switches are commercially available. In this case, line 26 has one dedicated conductor for each switch contact of switch 38, i.e., eight conductors in this embodiment. Each conductor is connected to reference voltage UR via a resistor 39. For simplicity, only the resistors 39 of the first and last conductors are shown in FIG. 4. When the switch contact associated with a conductor is open, this conductor supplies the potential of reference voltage UR . When the switch contact is closed, this conductor supplies ground potential. In this embodiment, the analog-to-digital converter 27 in evaluation circuit 20 is omitted, and the conductors of line 26 are connected directly to input 28a of adder 28. In the embodiments of FIGS. 2 and 3, this input was connected to the output of analog-to-digital converter 27. The switch contacts of switch 38 are adjusted so that the natural resonant frequency of the sensor is represented by a digital value equal to the digital value delivered as a result of conversion of analog voltage UK by analog-to-digital converter 27. In this case, the characteristic quantity of the circuit element 25 that has a unique relationship with the natural resonance frequency of the sensor is the result of adjusting the setting of the switch contact of the switch 38.
既述のようにそれぞれ1つの回路素子25を備えたいず
れのセンサ10も、同じ評価回路20と組み合わせることが
でき、その際、センサ固有の切替周波数は自動的に設定
調整される。特定のセンサに整合させるために工場側で
電子装置をチューニングする必要はない。 As mentioned above, any sensor 10, each with one circuit element 25, can be combined with the same evaluation circuit 20, with the sensor-specific switching frequency being automatically set and adjusted, eliminating the need for factory tuning of the electronics to match a specific sensor.
比較器24の出力信号は遅延されていないセンサ状態信
号を表わしており、これによりセンサが”覆われていな
い”かまたは”覆われている”かが示される。このセン
サ状態信号は遅延回路40の入力側40aへ供給され、この
遅延回路の出力側40bには終段制御回路50が接続されて
いる。終段制御回路50は、遅延されたセンサ状態信号に
よって種々異なる終段を制御することができる。たとえ
ば、終段制御回路50の出力側50aにより、センサ状態信
号に依存する交流電圧信号を供給する交流電圧終段を制
御でき、出力側50bにより直流電圧終段を制御可能であ
って、出力側50cによりパルス周波数変調終段を、さら
に出力側50dにより、センサ状態信号に依存してリレー
を操作するリレー終段を制御することができる。終段制
御回路50の制御入力側50eへ供給される動作モード制御
信号により、これらの終段のいずれを制御するかが定め
られる。 The output signal of comparator 24 represents the undelayed sensor status signal, which indicates whether the sensor is "uncovered" or "covered." This sensor status signal is supplied to input 40a of delay circuit 40, whose output 40b is connected to final stage control circuit 50. Final stage control circuit 50 can control different final stages using the delayed sensor status signal. For example, output 50a of final stage control circuit 50 can control an AC voltage final stage providing an AC voltage signal dependent on the sensor status signal, output 50b can control a DC voltage final stage, output 50c can control a pulse frequency modulation final stage, and output 50d can control a relay final stage operating a relay dependent on the sensor status signal. An operating mode control signal supplied to control input 50e of final stage control circuit 50 determines which of these final stages is controlled.
遅延回路40におけるセンサ状態信号の遅延により達せ
られることは、終段制御回路50がセンサ状態信号の状態
変化にただちに応動するのではなく、センサ状態信号が
所定の期間、その状態を保持してはじめて応動すること
である。このことにより、、散発性の障害による切替過
程または指示のトリガが阻止される。 The delay of the sensor status signal in the delay circuit 40 causes the final stage control circuit 50 to respond not immediately to a change in state of the sensor status signal, but only after the sensor status signal has maintained its state for a predetermined period of time, thereby preventing sporadic faults from triggering a switching process or indication.
スイッチ41を介して遅延回路40の制御入力側へ供給さ
れる制御信号により、装置の機能を最高充填レベルの監
視から最低充填レベルの監視へと切り換えることができ
る。最高充填レベルを監視する場合、以前は覆われてい
なかったセンサが充填物により覆われたときに、つまり
センサ周波数が切り換え周波数を下回ったときに、指示
または切替過程をトリガしなければならない。これに対
して最低充填レベルを監視する場合には、以前は覆われ
ていたセンサがもはや充填物によって覆われなくなった
ときに、つまりセンサ周波数が切り換え周波数を越えた
ときに、指示または切替過程をトリガしなければならな
い。 A control signal supplied to the control input of delay circuit 40 via switch 41 allows the function of the device to be switched from monitoring the maximum filling level to monitoring the minimum filling level. When monitoring the maximum filling level, an indication or switching process must be triggered when a previously uncovered sensor is covered by the filling material, i.e., when the sensor frequency falls below the switching frequency. By contrast, when monitoring the minimum filling level, an indication or switching process must be triggered when a previously covered sensor is no longer covered by the filling material, i.e., when the sensor frequency exceeds the switching frequency.
第5図には遅延回路40の実施例が示されており、この
場合、遅延時間はアップ/ダウンカウンタ42により定め
られる。この構成により、評価回路20の他のディジタル
回路と両立性のあるディジタル回路だけで遅延回路を構
築できる。さらにこの実施形態により非対称な遅延時間
を簡単に実現できこれはたとえば、センサ状態信号が”
覆われていない”状態に相応する値をとるときには1秒
となり、センサ状態信号が”覆われた”状態に相応する
状態をとるときには0.4秒となる。このような非対称な
遅延時間は、充填物が表面に波の生じる可能性のある液
体のときに好適である。このような波が対称な遅延時間
と一致した周期を有すると、不安定な装置動作特性の生
じるおそれがある。この種の不安定性は、非対称な遅延
時間によって回避される。 5 shows an embodiment of the delay circuit 40, in which the delay time is determined by an up/down counter 42. This configuration allows the delay circuit to be constructed entirely with digital circuits that are compatible with the other digital circuits of the evaluation circuit 20. Furthermore, this embodiment makes it easy to realize asymmetric delay times, for example, when the sensor status signal is
The delay time is 1 second when the sensor status signal assumes a value corresponding to the "uncovered" state, and 0.4 seconds when the sensor status signal assumes a value corresponding to the "covered" state. Such asymmetric delay times are preferable when the fill is a liquid that may generate waves on its surface. If such waves have a period consistent with the symmetric delay times, unstable device operating characteristics may result. This type of instability is avoided by the asymmetric delay times.
比較器24の出力側から到来する遅延されていないセン
サ状態信号は、カウンタ制御回路43の入力側43aへ供給
される。カウンタ制御回路43はさらに別の2つの入力側
43bおよび43cにおいて、異なる2つのクロック周波数を
有するクロックパルスをクロック発生器44から受信す
る。たとえば、入力側43bへ供給されるクロックパルス
の周波数F1は400Hzであり、入力側43cへ供給されるクロ
ックパルスの周波数F2は1kHzであって、したがってこれ
ら両方のクロック周波数は互いに係数2.5だけ異なる。
カウンタ制御回路43は入力側43aに加わるセンサ状態信
号の信号値に依存して周波数F1のクロックパルスかまた
は周波数F2のクロックパルスを、アップ/ダウンカウン
タ42のクロック入力側42aと接続された出力側から伝送
する。アップ/ダウンカウンタ42の計数方向制御入力側
42bと接続されている第2の出力側には、遅延されてい
ないセンサ状態信号が発生する。このセンサ状態信号
が”覆われていない”センサ状態に相応する高い信号
値"H"を有するならば、この信号によりアップ/ダウン
カウンタ42はカウントアップに切り換えられ、これによ
り低いクロック周波数F1を有するクロックパルスをアッ
プ/ダウンカウンタ42のクロック入力側42aへ伝送でき
る。これに対してセンサ状態信号が低い信号値"L"を有
するならば、この信号によりアップ/ダウンカウンタ42
はカウントダウンに切り換えられ、これにより高いクロ
ック周波数F2を有するクロックパルスをアップ/ダウン
カウンタ42のクロック入力側42aへ伝送できる。 The undelayed sensor status signal coming from the output of the comparator 24 is fed to an input 43a of a counter control circuit 43. The counter control circuit 43 has two further inputs
At 43b and 43c, clock pulses having two different clock frequencies are received from clock generator 44. For example, the frequency F1 of the clock pulses supplied to input 43b is 400 Hz and the frequency F2 of the clock pulses supplied to input 43c is 1 kHz, so that both clock frequencies differ from each other by a factor of 2.5.
The counter control circuit 43 transmits clock pulses of frequency F1 or clock pulses of frequency F2 from its output connected to the clock input 42a of the up/down counter 42, depending on the value of the sensor status signal applied to its input 43a.
An undelayed sensor status signal is generated at a second output connected to 42b. If this sensor status signal has a high signal value "H", which corresponds to an "uncovered" sensor state, this signal switches up/down counter 42 to count up, so that clock pulses with a low clock frequency F1 can be transmitted to clock input 42a of up/down counter 42. If, on the other hand, the sensor status signal has a low signal value "L", this signal switches up/down counter 42 to count up.
is switched to count down, which allows clock pulses with a high clock frequency F2 to be transmitted to the clock input 42a of the up/down counter 42.
アップ/ダウンカウンタ42は2つの出力側42cと42dを
有しており、これらはメモリ45の2つの入力側ならびに
カウンタ制御回路43の2つの制御入力側43dおよび43eと
接続されている。アップ/ダウンカウンタ42は、カウン
トダウン時に下限計数状態Z1に達すると出力側42cから
信号を送出し、カウントアップ時に上限計数状態Z2に達
すると出力側42dから信号を送出する。有利には、下限
計数状態Z1は計数状態0であり、上限計数状態Z2は最大
計数状態つまりたとえば12bitカウンタであれば計数状
態4095である。 The up/down counter 42 has two outputs 42c and 42d, which are connected to two inputs of a memory 45 and to two control inputs 43d and 43e of a counter control circuit 43. The up/down counter 42 emits a signal from the output 42c when it reaches a lower count state Z1 during counting down, and a signal from the output 42d when it reaches an upper count state Z2 during counting up. Advantageously, the lower count state Z1 is the count state 0, and the upper count state Z2 is the maximum count state, i.e., the count state 4095 in the case of a 12-bit counter, for example.
メモリ45は、2つの状態のうちの一方または他方をと
ることができる。アップ/ダウンカウンタ42の出力側42
cから供給される信号により、メモリ45は一方の状態た
とえば状態"0"にされ、アップ/ダウンカウンタ42の出
力側42dから供給される信号により、メモリ45は他方の
状態つまり本実施例では状態"1"にされる。メモリ45
は、出力側45aからメモリ状態に対応する信号値を有す
る信号を送出し、出力側45bからこれと相補的な信号を
送出する。したがってメモリ45をたとえば簡単なフリッ
プフロップにより構成できる。 The memory 45 can be in one or the other of two states: the output 42 of the up/down counter 42
A signal supplied from output 42c of up/down counter 42 places memory 45 in one state, for example, state "0", and a signal supplied from output 42d of up/down counter 42 places memory 45 in the other state, which in this embodiment is state "1".
outputs at output 45a a signal whose value corresponds to the memory state and at output 45b a complementary signal, so that memory 45 can be implemented, for example, by a simple flip-flop.
メモリ45の両出力側45aおよび45bはマルチプレクサ46
の2つの入力側と接続されている。マルチプレクサ46の
制御入力側はスイッチ41と接続されている。スイッチ41
の位置に応じてマルチプレクサ46は、出力側45aから供
給される信号または出力側45bから供給される信号を終
段制御回路50へ伝送する。つまりマルチプレクサは簡単
な切替スイッチとして機能する。さらにスイッチ41は、
カウンタ制御回路43の制御入力側43fと接続されてい
る。 Both outputs 45a and 45b of the memory 45 are connected to a multiplexer 46
The control input of the multiplexer 46 is connected to the switch 41.
Depending on the position of the switch 41, the multiplexer 46 transmits the signal supplied from the output 45a or the signal supplied from the output 45b to the final stage control circuit 50. In other words, the multiplexer functions as a simple change-over switch.
It is connected to the control input side 43 f of the counter control circuit 43 .
次に、第6図のダイアグラムに基づいて第5図の遅延
回路40の動作を説明する。その際まずはじめは、スイッ
チ41は開放されており、マルチプレクサ46はこの場合に
は出力側45aからの信号を終段制御回路50へ伝送するも
のとする。第6図のダイアグラムAは比較器24から供給
されるセンサ状態信号を表わし、ダイアグラムBは、両
方の限界計数状態Z1とZ2との間でのアップ/ダウンカウ
ンタ42における計数状態の変化を表わし、ダイヤグラム
Cは、終段制御回路50へ供給されるマルチプレクサ46の
出力信号を表わしている。 The operation of the delay circuit 40 of Fig. 5 will now be explained with reference to the diagram of Fig. 6. Initially, the switch 41 is open and the multiplexer 46 then transmits the signal from the output 45a to the final stage control circuit 50. Diagram A of Fig. 6 represents the sensor status signal provided by the comparator 24, diagram B represents the change in counting state of the up/down counter 42 between the two limit counting states Z1 and Z2 , and diagram C represents the output signal of the multiplexer 46 provided to the final stage control circuit 50.
ダイアグラムAの場合、高い信号値"H"は”覆われて
いない”センサ状態に相応し、低い信号値"L"は”覆わ
れている”センサ状態に相応する。ダイアグラムBの場
合、アップ/ダウンカウンタ42は時点t0において両方の
限界計数状態Z1とZ2のちょうど中央の計数状態を有する
ものとする。センサ状態信号は時点t0では信号"H"を有
しているので、アップ/ダウンカウンタ42はカウントア
ップへ切り換えられており、したがって計数状態は低い
クロック周波数F1で上昇する。 In diagram A, a high signal value "H" corresponds to an "uncovered" sensor state, and a low signal value "L" corresponds to a "covered" sensor state. In diagram B, the up/down counter 42 has a count state exactly midway between the limit count states Z1 and Z2 at time t0 . Because the sensor state signal has a signal "H" at time t0 , the up/down counter 42 has switched to counting up, and therefore the count state increases at the low clock frequency F1 .
時点t1でセンサ状態信号は信号値"H"から信号値"L"へ
移行し、その結果、カウンタ制御回路43はアップ/ダウ
ンカウンタ42をカウントダウンへ切り換え、同時にクロ
ック入力側42aへ高いクロック周波数F2を有するクロッ
クパルスが供給される。したがってアップ/ダウンカウ
ンタ42の計数状態はカウントアップ時よりも速い速度で
低減する。計数状態が下限値Z1へ達する前に、時点t2に
おいてセンサ状態信号は再び信号値"H"をとるので、時
点t2とt3の間で再び低い周波数F1でのカウントアップが
行われる。時点t3において再びクロック周波数F2による
カウントダウンが始まり、この経過中に時点t4において
下限計数状態Z1に達する。 At time t1 , the sensor status signal changes from a signal value "H" to a signal value "L," causing the counter control circuit 43 to switch the up/down counter 42 to count down, and simultaneously supplying clock pulses having a high clock frequency F2 to the clock input 42a. The count state of the up/down counter 42 therefore decreases at a faster rate than when counting up. Before the count state reaches the lower limit Z1 , the sensor status signal again assumes a signal value "H" at time t2 , so that between time t2 and t3 , counting up at the lower frequency F1 resumes. At time t3 , counting down begins again at the clock frequency F2 , during which time the lower limit count state Z1 is reached at time t4 .
時点t4において下限計数状態Z1に達すると、アップ/
ダウンカウンタ42は出力側42cから信号を送出し、これ
はメモリ45へ供給される。第6図のダイアグラムCにお
いて実線で示されているように、メモリ45は時点t4の前
にすでに状態"0"を有していたので、この状態が保持さ
れる。これに対して、ダイアグラムCにおいて破線で示
されているように、メモリ45が時点t4の前には状態"1"
を有していた場合には、メモリ45は状態"1"から状態"0"
へ移行し、これに応じてマルチプレクサ46から終段制御
回路50へ伝送される出力側45aにおける信号も変化す
る。これによりセンサはいまや充填物で覆われているこ
とが表わされる。 When the lower count state Z1 is reached at time t4 , the up/
Down counter 42 outputs a signal at output 42c, which is fed to memory 45. As shown by the solid lines in diagram C of FIG. 6, memory 45 already had the state "0" before time t4 , and so this state is maintained. In contrast, as shown by the dashed lines in diagram C, memory 45 already had the state "1" before time t4 .
, the memory 45 changes from state "1" to state "0".
and the signal at output 45a transmitted from multiplexer 46 to final control circuit 50 also changes accordingly, indicating that the sensor is now covered with filling material.
アップ/ダウンカウンタ42の出力側42cから送出され
る信号は、カウンタ制御回路43の制御入力側43dへも供
給される。このことによってカウンタ制御回路43はアッ
プ/ダウンカウンタ42へ計数パルスを供給しないように
なり、さもないとこの計数パルスによって引き続きカウ
ントダウンが行われてしまうことになる。したがってア
ップ/ダウンカウンタ42は、時点t5において再びカウン
トアップが始められるまで停止されたままである。この
カウントアップさらにはこれに続くカウントダウンの
後、時点t6で再び下限計数状態に達すると、アップ/ダ
ウンカウンタ42は出力側42cから新たに信号を送出する
が、この信号はメモリ45の状態へ作用を及ぼさない。そ
れというのはメモリは以前からすでに状態"0"であった
からである。これに対してこの信号はやはりカウンタ制
御回路43を介して、時点t7で再びカウントアップが始め
られるまでアップ/ダウンカウンタ42において引き続き
カウントダウンが行われるのを阻止する。 The signal delivered from the output 42c of the up/down counter 42 is also supplied to the control input 43d of the counter control circuit 43. This prevents the counter control circuit 43 from delivering counting pulses to the up/down counter 42, which would otherwise cause it to continue counting down. The up/down counter 42 therefore remains stopped until it starts counting up again at time t5 . After this counting up and the subsequent counting down, if the lower count limit is reached again at time t6 , the up/down counter 42 delivers a new signal from the output 42c, but this signal has no effect on the state of the memory 45, since the memory was already in state "0" before. This signal, again via the counter control circuit 43, prevents the up/down counter 42 from continuing to count down until it starts counting up again at time t7 .
さらに第6図のダイアグラムBには、カウントダウン
による短い中断を伴うが時点t7で始められたカウントア
ップによって最後には時点t8で上限計数状態Z2に達する
ことが示されている。このため時点t8において、アップ
/ダウンカウンタ42は出力側42dからメモリ45を状態"1"
へ切り換える信号を送出する。これに応じて出力側45a
における出力信号も変化し、さらにこの信号は、センサ
が再び自由に振動しつまり充填物によってもはや覆われ
ていないことを指示する目的で、マルチプレクサ56から
終段制御回路50へ伝送される。そしてこの信号は、再び
カウントダウンが始められるまでアップ/ダウンカウン
タ42において引き続きカウントアップが行われるのを阻
止するために、カウンタ制御回路43の制御入力側43eへ
も供給される。 6, diagram B shows that the counting up, initiated at time t7 , with a short interruption by the counting down, finally reaches the upper count state Z2 at time t8 . Therefore, at time t8 , up/down counter 42 outputs memory 45 at output 42d to state "1".
In response to this, the output 45a
The output signal at also changes, and this signal is transmitted from the multiplexer 56 to the final control circuit 50 to indicate that the sensor is again vibrating freely, i.e., no longer covered by the filling. This signal is also supplied to the control input 43e of the counter control circuit 43 to prevent further counting up in the up/down counter 42 until it begins counting down again.
スイッチ41が閉じられると、カウンタ制御回路の制御
入力側43fへ供給される信号により、アップ/ダウンカ
ウンタ42の計数方向に対するセンサ状態信号の作用が逆
にされる。つまり、センサ状態信号が信号値"L"を有し
ているならば、アップ/ダウンカウンタ42はカウントア
ップするようになり、センサ状態信号が信号値"H"を有
しているならば、アップ/ダウンカウンタはカウントダ
ウンするようになる。スイッチ41を閉じることによりマ
ルチプレクサ46において、メモリ45の出力側45aに生じ
ている信号の代わりに出力側45bに生じる相補的な信号
が終段制御回路50へ伝送されるようになる。 When switch 41 is closed, a signal supplied to control input 43f of the counter control circuit reverses the effect of the sensor status signal on the counting direction of up/down counter 42. That is, if the sensor status signal has a signal value "L", up/down counter 42 counts up, and if the sensor status signal has a signal value "H", up/down counter 42 counts down. Closing switch 41 causes multiplexer 46 to transmit to final stage control circuit 50 the complementary signal appearing at output 45b of memory 45 instead of the signal appearing at output 45a.
第6図のダイアグラムからわかることは、センサ状態
信号の変化は終段制御回路50へただちに伝送されるので
はなく、該当する計数方向で有効なクロック周波数での
両方の限界計数状態Z1とZ2との間の計数範囲の経過期間
に少なくとも等しい遅延時間で、場合によっては計数方
向の一時的な変化で延長されて伝送されることである。
このようにしてセンサ状態信号の散発的な変化が抑圧さ
れ、所定の期間にわたり持続的な変化が認められて始め
てその変化が指示される。 It can be seen from the diagram of FIG. 6 that the change in the sensor status signal is not transmitted immediately to the final control circuit 50, but with a delay time at least equal to the duration of the counting range between the two limit counting states Z1 and Z2 at the clock frequency valid for the corresponding counting direction, possibly extended by a temporary change in counting direction.
In this way, sporadic changes in the sensor condition signal are suppressed and only a sustained change over a predetermined period of time is indicated.
センサ10が部分的に充填物に覆われていると、センサ
の固有共振周波数が切替周波数に極めて近い値をとる場
合もあり、その結果、充填レベルが実質的に同じままで
あっても頻繁に変化して切替周波数を上回ったり下回っ
たりする可能性がある。このような場合に明確な充填レ
ベル指示を実現するために、遅延回路40から供給される
遅延されたセンサ状態信号は加算器28の制御入力側28d
へも供給される。このことによりその信号値に依存して
付加的なディジタル数値の加算ないし減算が行われ、こ
れにより切替周波数を表わすディジタル数値は切替ヒス
テリシスが得られるように変えられる。 If the sensor 10 is partially covered with filling, the natural resonant frequency of the sensor may be very close to the switching frequency, resulting in frequent changes above and below the switching frequency even though the filling level remains substantially the same. In order to achieve a clear filling level indication in such cases, the delayed sensor state signal provided by the delay circuit 40 is fed to the control input 28d of the summer 28.
As a result, an additional digital value is added or subtracted depending on the signal value, so that the digital value representing the switching frequency is changed in such a way that a switching hysteresis is obtained.
さらに評価回路20はセンサパラメータ監視回路51も有
しており、この回路は一方では、センサ周波数を表わす
ものであってメモリ23から供給されるディジタル数値を
受信し、他方ではアナログ/ディジタル変換器27から供
給されるディジタル数値を受信する。この数値に基づ
き、センサパラメータ監視回路51はセンサ振動範囲およ
び特性量範囲ならびにセンサと評価回路との間の線路を
監視する。これらのディジタル数値のうちの1つがあら
かじめ定められた範囲の外にあるかまたは、これらの数
値のうちの1つの欠落により線路の断線が示されると、
センサパラメータ監視回路は終段制御回路へ警報信号を
送信し、この信号は終段制御回路から選択された終段へ
転送され、エラーの発生していることがそこにおいて表
示される。 The evaluation circuit 20 further comprises a sensor parameter monitoring circuit 51, which receives, on the one hand, a digital value representing the sensor frequency and supplied by the memory 23, and, on the other hand, a digital value supplied by the analog-to-digital converter 27. Based on these values, the sensor parameter monitoring circuit 51 monitors the sensor vibration range and characteristic variable range as well as the line between the sensor and the evaluation circuit. If one of these digital values is outside a predetermined range or if one of these values is missing, indicating a line break,
The sensor parameter monitoring circuitry sends an alarm signal to the final stage control circuitry, which forwards the signal to the selected final stage, where it indicates that an error has occurred.
評価回路20の主要な利点は、この回路がディジタル回
路によってのみ構成されている点にある。したがってこ
の回路を集積化されたコンポーネントとして製造でき
る。 The main advantage of the evaluation circuit 20 is that it is made up entirely of digital circuitry and can therefore be manufactured as an integrated component.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 プフェンドラー,マルティン ドイツ連邦共和国 79689 マオルブルク フェリックス―プラッターヴェーク6 (56)参考文献 実開 昭63−58715(JP,U) 実開 昭52−15259(JP,U) 特公 昭55−26431(JP,B1) 特公 平2−60245(JP,B2) ──────────────────────────────────────────────────── Continued from the front page (72) Inventor: Pfendler, Martin Federal Republic of Germany, 79689 Maurburg Felix-Platterweg 6 (56) References: JP 63-58715 (JP, U) JP 52-15259 (JP, U) JP 55-26431 (JP, B1) JP 2-60245 (JP, B2)
Claims (11)
ており、前記センサは、充填物が所定の充填レベルに達
すると当該センサが充填物と接触するように、監視すべ
き充填レベルの高さで容器に配置されており、 前記励振装置は、センサをその固有共振周波数で機械振
動させるために励振させ、 前記評価回路は、センサの機械振動周波数が切替周波数
を上回るか下回るかに依存して表示過程および/または
切替過程をトリガするように構成されている、 容器における所定の充填レベルを検出および/または監
視する装置において、 前記センサに電気回路素子が配属されており、該回路素
子は、前記センサの固有共振周波数と一義的な関係性を
有する値をもつ特性量を有しており、 該電気回路素子の特性量の値に依存して前記評価回路に
おいて切替周波数が設定調整されることを特徴とする、 容器における所定の充填レベルを検出および/または監
視する装置。[Claim 1] A device for detecting and/or monitoring a predetermined filling level in a container, comprising a sensor, an excitation device and an evaluation circuit, the sensor being arranged in the container at a height of the filling level to be monitored so that the sensor comes into contact with the filling material when the filling level reaches the predetermined filling level, the excitation device exciting the sensor to mechanically oscillate at its natural resonant frequency, and the evaluation circuit being configured to trigger an indication process and/or a switching process depending on whether the mechanical oscillation frequency of the sensor is above or below a switching frequency, characterized in that the sensor is assigned to an electric circuit element, the circuit element having a characteristic quantity whose value has a unique relationship to the natural resonant frequency of the sensor, and the switching frequency is set and adjusted in the evaluation circuit depending on the value of the characteristic quantity of the electric circuit element.
抵抗の抵抗値である、請求項1記載の装置。2. The apparatus according to claim 1, wherein said circuit element is a resistor and said characteristic quantity is a resistance value of said resistor.
記特性量は該ツェナダイオードのツェナ電圧である、請
求項1記載の装置。3. The device according to claim 1, wherein said circuit element is a Zener diode and said characteristic quantity is a Zener voltage of said Zener diode.
数の切替接点を備えたスイッチであり、前記特性量は該
スイッチの切替接点の設定状態である、請求項1記載の
装置。4. The apparatus according to claim 1, wherein said circuit element is a switch having a number of changeover contacts for setting digital values, and said characteristic quantity is the setting state of the changeover contacts of said switch.
該センサから評価回路へ当該回路素子の特性量の値を表
わす電気信号が伝送される、請求項1〜4のいずれか1
項記載の装置。5. The circuit element is disposed on a sensor,
5. The method according to claim 1, wherein the sensor transmits an electrical signal representing the value of the characteristic quantity of the circuit element to an evaluation circuit.
The device described in paragraph .
を第1のディジタル数値へ変換する装置と、前記回路素
子の特性量の値を第2のディジタル数値へ変換する装置
と、加算回路とを有しており、該加算回路は、固定的な
基本数値を前記の第2のディジタル数値と加算すること
により切替周波数を表わす和を形成する、請求項1〜5
のいずれか1項記載の装置。6. The evaluation circuit according to claim 1, further comprising a device for converting the mechanical vibration frequency of the sensor into a first digital value, a device for converting the value of the characteristic quantity of the circuit element into a second digital value, and an adder circuit which adds a fixed base value to the second digital value to form a sum representing the switching frequency.
10. The device according to claim 9,
較器は一方の入力側で前記の第1のディジタル数値を受
信し、第2の入力側で前記の第2のディジタル数値を受
信し、その出力側から遅延されていないセンサ状態信号
を供給し、該センサ状態信号は、両ディジタル数値の比
較結果に依存して2つの信号値のうちの一方または他方
の値をとる、請求項6記載の装置。[Claim 7] The device as described in claim 6, wherein the evaluation circuit has a comparator which receives the first digital number at one input side and the second digital number at a second input side and supplies an undelayed sensor status signal at its output side, the sensor status signal taking one or the other of two signal values depending on the comparison result of both digital numbers.
り、該遅延回路は、比較器から供給された遅延されてい
ないセンサ状態信号に所定の遅延を与え、出力側から遅
延されたセンサ状態信号を供給し、該信号は表示過程お
よび/または切替過程のトリガに用いられる、請求項7
記載の装置。8. The comparator is followed by a delay circuit which applies a predetermined delay to the non-delayed sensor status signal provided by the comparator and provides a delayed sensor status signal at the output side, which is used to trigger an indication process and/or a switching process.
The apparatus described.
れていないセンサ状態信号が一方の信号値を有するか他
方の信号値を有するかに依存して異なる大きさである、
請求項8記載の装置。9. The delay provided by the delay circuit is of a different magnitude depending on whether the undelayed sensor status signal has one signal value or the other signal value.
9. The apparatus of claim 8.
により構成されており、該カウンタの計数方向は遅延さ
れていないセンサ信号により制御され、該カウンタは計
数方向に依存してそれぞれ異なるクロック周波数で駆動
される、請求項9記載の装置。10. The device of claim 9, wherein the delay circuit is constituted by an up/down counter, the counting direction of which is controlled by the undelayed sensor signal, and the counters are driven at different clock frequencies depending on the counting direction.
路を有しており、該センサパラメーター監視回路は第1
および第2のディジタル数値を受信し、該ディジタル数
値のうちの1つが所定の範囲外にあれば警報信号を供給
する、請求項6〜10のいずれか1項記載の装置。11. The evaluation circuitry includes a sensor parameter monitoring circuitry, the sensor parameter monitoring circuitry comprising: a first
and a second digital value, and provides an alarm signal if one of the digital values is outside a predetermined range.
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