JPH0831109A - ディジタル信号記録再生装置 - Google Patents

ディジタル信号記録再生装置

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JPH0831109A
JPH0831109A JP6162584A JP16258494A JPH0831109A JP H0831109 A JPH0831109 A JP H0831109A JP 6162584 A JP6162584 A JP 6162584A JP 16258494 A JP16258494 A JP 16258494A JP H0831109 A JPH0831109 A JP H0831109A
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clock
extracting
signal
output
phase
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JP6162584A
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English (en)
Inventor
Takashi Kano
高志 狩野
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Error Detection And Correction (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 A/D変換器のサンプリング位相をアイパタ
ーンの中心付近にくる様自動調整する。 【構成】 磁気ヘッド3は磁気テープ1からRF信号を
再生し、プリアンプ5、AGC回路7、波形等化回路9
及び再生デコーダ回路11を介して、A/D変換器15に供
給する。PLL回路13は、再生RF信号の中からクロッ
クを抽出する。A/D変換器15は、可変遅延装置17のク
ロックに従って入力をディジタル信号に変換する。ばら
つき検出器19は、A/D変換器15の出力のばらつき値を
所定範囲に分布しているサンプルデータについて算出す
る。システムコントロール部21は、今回のばらつき値と
前回のばらつき値を比較し、所定の関係になるまで可変
遅延装置17がPLL回路13からのクロックの位相を漸次
変化させる様制御信号を変化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル信号記録再
生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ディジタルデータを記録媒体に高
密度で記録再生する装置において、再生信号をディジタ
ルデータとして識別する時の誤り率を改善するために、
パーシャルレスポンス検出とビタビ復号を組み合せる手
段が検討され、一部で実際に使用されている。
【0003】現在、記録信号をインターリブNRZI
(No Return Zero Inverse(以下I−NRZIと略
す))変調し、再生はパーシャルレスポンス−クラス4
(以下PR4と略す)の検出とビタビ復号の組み合わせ
という方式が磁気記録再生に適用され始めている。この
場合について、そのディジタル信号記録再生装置の構成
を図7に示す。
【0004】磁気テープ101 には、ディジタルデータが
記録されている。そして、磁気ヘッド103 は、磁気テー
プ101 から記録されているデータを読み出しアナログ高
周波(以下RFという)信号を出力する。磁気ヘッド10
3 からのRF信号は、プリアンプ105 で増幅され、更に
波形等化回路109 で周波数特性と位相特性を補正された
後、PLL(Phase Locked Loop )回路113 と再生デコ
ーダ回路111 に供給される。
【0005】PLL回路113 では、RF信号をディジタ
ルデータとして識別するためのクロック信号CLKをR
F信号の中から抽出する。また、再生デコーダ回路111
では、1クロック周期分遅延させたRF信号を、遅延さ
せないRF信号と加算する。この再生デコーダ回路111
の出力を見ると、図8のアイパターンが見える。尚、図
8では理解しやすいようにパターンの数を減らしてい
る。また、このアイパターンの振幅が一定になるように
AGC回路107 で利得を自動調整している。
【0006】アナログ−ディジタル(以下A/Dと略
す)変換器115 は、このRF信号を図8の121 の位相で
サンプリングしてディジタルデータに変換し、次段のビ
タビ復号器117 に供給する。ビタビ復号器117 では、I
−NRZI変調とPR4検出の組み合わせで得られる筈
の限られたデータ系列と、実際の再生データ系列とを比
較し、誤りの訂正を行う。
【0007】図7の構成において、A/D変換器115 の
サンプリング位相は、PLL回路113 で抽出されたクロ
ックの位相によって決定される。従って、A/D変換器
115のサンプリング位相が図8の121 に近づくようクロ
ックの位相を調整しなければならない。このサンプリン
グ位相がずれるとエラーレートが悪化する。
【0008】PR4検出では、図8で示したアイパター
ンから分かるようにアイパターンの位相余裕が少ない。
従って、サンプリング位相が121 から123 にずれただけ
で、サンプリング位相を横切るパスが急増し、パスが存
在しない振幅方向の範囲が狭まる。このパスが存在しな
い範囲が狭くなるほど、ノイズや振幅変動に対する余裕
が無くなりエラーを起こす確率が高くなる。従って、サ
ンプリング位相が、図8の121 の位相からずれるほどエ
ラーレートも悪化する。以上述べたようにPR4とビタ
ビ復号の組み合わせでは、再生RF信号をA/D変換器
115 がサンプリングする位相が非常に重要である。
【0009】A/D変換器115 のサンプリング位相は再
生RF信号に同期していることが必要なので、通常A/
D変換器115 に入力するクロックはPLL回路113 によ
り再生RF信号の中から抽出したものを用いる。しか
し、PLL回路113 で抽出されるクロックの位相は、再
生RF信号のアイパターンに対して常に一定とはなら
ず、様々な要因で微妙な変化が生じる場合がある。
【0010】例えば、他の機器で記録された磁気テープ
を再生すると再生RF信号の位相特性等が微妙に異な
り、その結果アイパターンに対するクロック位相が若干
変化することがある。自己の装置で記録し再生するとき
でも、磁気ヘッド103 の摩耗等の経時変化により再生R
F信号の特性が変わってしまった場合や、外気温等の使
用環境に装置内部の回路動作が影響を受けた場合に、同
様の現象を生じる。
【0011】上記のようにPLL回路113 で抽出したク
ロックの位相がアイパターンに対して変化すれば、それ
につれてA/D変換器115 のサンプリング位相もアイパ
ターンに対して変化する。従って、1度A/D変換器11
5 のサンプリング位相をアイパターンに対して最適状態
に、つまりアイパターンの中心(図8の121 )でサンプ
リングするように調整しても、その後ずれが生じエラー
レートが悪化する恐れがあった。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来のディジタル信号
記録再生装置では、PLL回路で抽出されるクロックの
位相は再生RF信号のアイパターンに対して常に一定と
ならず、様々な要因で微妙に変化するという問題があっ
た。
【0013】本発明は、PLL回路で抽出されるクロッ
クの位相が変化しても、そのクロックの位相を自動調整
してその位相が再生RF信号のアイパターンの中心付近
にくるようにするディジタル信号記録再生装置を提供す
ることを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】
(第1の構成例)記録媒体から信号を取り出す取り出し
手段と、この取り出し手段の出力信号の中からクロック
を抽出する抽出手段と、この抽出手段からのクロックの
位相を漸次変化させる可変遅延手段と、前記取り出し手
段の出力信号を前記可変遅延手段からのクロックのタイ
ミングでディジタル信号に変換するアナログ−ディジタ
ル変換手段と、このアナログ−ディジタル変換手段の出
力を2値化する復号手段と、前記アナログ−ディジタル
変換手段の出力のばらつき値を所定範囲に分布している
サンプルデータについて算出するばらつき検出手段と、
このばらつき検出手段で得た今回のばらつき値と前回の
クロックの位相による前記アナログ−ディジタル変換手
段の出力のばらつき値と比較し、所定の関係になるまで
前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化させる様
制御信号を変化するシステムコントロール手段とを具備
する。
【0015】(第2の構成例)記録媒体から信号を取り
出す取り出し手段と、この取り出し手段の出力信号の中
からクロックを抽出する抽出手段と、この抽出手段から
のクロックの位相を漸次変化させる可変遅延手段と、前
記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からのク
ロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナロ
グ−ディジタル変換手段と、このアナログ−ディジタル
変換手段の出力を2値化する復号手段と、前記アナログ
−ディジタル変換手段の出力を、所定のサンプル数毎に
1以上のグループに分類する分類手段と、この分類手段
からの各グループのサンプルデータのばらつき値をそれ
ぞれ算出する1以上のばらつき検出手段と、この1以上
のばらつき検出手段でそれぞれ算出したばらつき値の平
均或いは加重平均を算出する平均算出手段と、この平均
算出手段で得た今回の平均ばらつき値と前回のクロック
の位相による前記アナログ−ディジタル変換手段の出力
の平均ばらつき値と比較し、所定の関係になるまで前記
可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化させる様制御
信号を変化するシステムコントロール手段とを具備す
る。
【0016】(第3の構成例)記録媒体から信号を取り
出す取り出し手段と、この取り出し手段の出力信号の中
からクロックを抽出する抽出手段と、この抽出手段から
のクロックの位相を漸次変化させる可変遅延手段と、前
記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からのク
ロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナロ
グ−ディジタル変換手段と、このアナログ−ディジタル
変換手段の出力を2値化する復号手段と、前記アナログ
−ディジタル変換手段の出力を、所定のサンプル数毎に
1以上のグループに分類する分類手段と、この分類手段
からの各グループのサンプルデータをそれぞれ記憶する
1以上のメモリ手段と、各メモリ手段の出力から各グル
ープのサンプリングの標準偏差をそれぞれ算出する1以
上のばらつき検出手段と、この1以上のばらつき検出手
段でそれぞれ算出した標準偏差の平均或いは加重平均を
算出する平均算出手段と、この平均算出手段で得た今回
の平均標準偏差と前回のクロックの位相による前記アナ
ログ−ディジタル変換手段の出力の平均標準偏差と比較
し、所定の関係になるまで前記可変遅延手段がクロック
の位相を漸次変化させる様制御信号を変化するシステム
コントロール手段とを具備する。
【0017】(第4の構成例)記録媒体から信号を取り
出す取り出し手段と、この取り出し手段の出力信号の中
からクロックを抽出する抽出手段と、この抽出手段から
のクロックの位相を漸次変化させる可変遅延手段と、前
記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からのク
ロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナロ
グ−ディジタル変換手段と、このアナログ−ディジタル
変換手段の出力を2値化する復号手段と、前記アナログ
−ディジタル変換手段の出力のばらつき値を所定範囲に
分布しているサンプルデータについて算出するばらつき
検出手段と、このばらつき検出手段で得たばらつき値が
略零になるまで前記可変遅延手段がクロックの位相を漸
次変化させる様制御信号を変化するシステムコントロー
ル手段とを具備する。
【0018】(第5の構成例)記録媒体から信号を取り
出す取り出し手段と、この取り出し手段の出力信号の中
からクロックを抽出する抽出手段と、この抽出手段から
のクロックの位相を漸次変化させる可変遅延手段と、前
記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からのク
ロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナロ
グ−ディジタル変換手段と、このアナログ−ディジタル
変換手段の出力を2値化する復号手段と、前記アナログ
−ディジタル変換手段の出力を、所定のサンプル数毎に
1以上のグループに分類する分類手段と、この分類手段
からの各グループのサンプルデータのばらつき値をそれ
ぞれ算出する1以上のばらつき検出手段と、この1以上
のばらつき検出手段でそれぞれ算出したばらつき値の平
均或いは加重平均を算出する平均算出手段と、この平均
算出手段で得た今回の平均ばらつき値と前回のクロック
の位相による前記アナログ−ディジタル変換手段の出力
の平均ばらつき値と比較し、所定の関係になるまで前記
可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化させる様制御
信号を変化するシステムコントロール手段とを具備す
る。
【0019】(第6の構成例)記録媒体から信号を取り
出す取り出し手段と、この取り出し手段の出力信号の中
からクロックを抽出する抽出手段と、この抽出手段から
のクロックの位相を漸次変化させる可変遅延手段と、前
記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からのク
ロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナロ
グ−ディジタル変換手段と、このアナログ−ディジタル
変換手段の出力を2値化する復号手段と、前記アナログ
−ディジタル変換手段の出力を、所定のサンプル数毎に
1以上のグループに分類する分類手段と、この分類手段
からの各グループのサンプルデータをそれぞれ記憶する
1以上のメモリ手段と、各メモリ手段の出力から各グル
ープのサンプリングの標準偏差をそれぞれ算出する1以
上のばらつき検出手段と、この1以上のばらつき検出手
段でそれぞれ算出した標準偏差の平均或いは加重平均を
算出する平均算出手段と、この平均算出手段で得た平均
標準偏差が略零になるまで前記可変遅延手段がクロック
の位相を漸次変化させる様制御信号を変化するシステム
コントロール手段とを具備する。
【0020】
【作用】復号手段用アナログ−ディジタル(以下A/D
という)変換手段の出力値は、そのクロック(サンプリ
ング)位相において、取り出し手段の出力信号のアイパ
ターンのパスが存在する位置だけに分布する。つまり、
A/D変換手段の出力値は特定の値に集中し、その値は
アイパターンの形によって異なる。またクロック(サン
プリング)位相がアイパターンの中心の位相と一致した
ときが、A/D変換手段の出力値が最も特定値に集中
し、ここからサンプリング位相がずれるほどA/D変換
手段の出力値もばらついてくる。
【0021】(第1乃至第3のディジタル信号記録再生
装置)ばらつき検出手段は、A/D変換手段の出力のば
らつき値を所定範囲に分布しているサンプルデータにつ
いて算出する。システムコントロール手段は、前回のク
ロック(サンプリング)位相による前記ばらつき値と今
回のクロック(サンプリング)位相によるばらつき値を
比較し、所定の関係に無い場合は、制御信号を変化して
可変遅延手段が抽出手段からのクロックの位相を1ステ
ップ変化させる。前記システムコントロール手段は、ま
たこのクロックの位相におけるA/D変換手段の出力の
前記ばらつき値とクロックの位相を変える前の前記ばら
つき値と比較し、それが所定関係にない場合は、以前と
同様制御信号を変化して可変遅延手段が抽出手段からの
クロックの位相をもう1ステップ変化させる。この動作
を繰り返し、前後のクロックの位相によるA/D変換手
段の出力のばらつき値が所定の関係になったところで、
前記システムコントロール手段から前記可変遅延手段へ
の制御信号の変化を止める。このとき、前記可変遅延手
段から出力されるクロックの位相はアイパターンの中心
付近に位置し、自動調整が終わる。
【0022】第2のディジタル信号記録再生装置では、
分類手段でA/D変換手段の出力を所定のサンプル数毎
に1以上のグループに分類する。このグループ分けは、
アイパターンの形から推測される集中の中心同士の中間
付近に閾値を設定して行う。そして、それぞれのばらつ
き検出手段で各グループのサンプルデータのばらつき値
を検出し、平均算出手段でそれらばらつき値の平均或い
は加重平均を算出する。システムコントロール手段で
は、この平均ばらつき値について第1のディジタル信号
記録再生装置と同様な動作を行う。
【0023】第3のディジタル信号記録再生装置では、
第2のディジタル信号記録再生装置の構成要素にメモリ
手段を追加し、分類手段からの各グループのサンプルデ
ータをそれぞれ前記メモリ手段で記憶し、次段のそれぞ
れのばらつき検出手段で各グループのサンプルデータの
標準偏差を算出する。そして、平均算出手段でそれら標
準偏差の平均或いは加重平均を算出する。システムコン
トロール手段では、この平均標準偏差について第1のデ
ィジタル信号記録再生装置と同様な動作を行う。
【0024】(第4乃至6のディジタル信号再生装置)
ばらつき検出手段は、A/D変換手段の出力のばらつき
値を所定範囲に分布しているサンプルデータについて算
出する。システムコントロール手段は、ばらつき検出手
段からばらつき値が算出したら、制御信号を変化して可
変遅延手段が抽出手段からのクロックの位相を1ステッ
プ変化させる。前記システムコントロール手段は、この
クロックの位相の場合でも前記ばらつき検出手段でばら
つき値が算出されたら、以前と同様制御信号を変化して
可変遅延手段が抽出手段からのクロックの位相をもう1
ステップ変化させる。この動作を繰り返し、前記A/D
変換手段の出力のばらつき値が略零になったところで、
前記システムコントロール手段から前記可変遅延手段へ
の制御信号の変化を止める。このとき、前記可変遅延手
段から出力されるクロックの位相はアイパターンの中心
付近に位置し、自動調整が終わる。
【0025】第5のディジタル信号記録再生装置では、
分類手段でA/D変換手段の出力を所定のサンプリング
数毎に1以上のグループに分類する。このグループ分け
は、アイパターンの形から推測される集中の中心同士の
中間付近に閾値を設定して行う。そして、それぞれのば
らつき検出手段で各グループのサンプリングデータのば
らつき値を検出し、平均算出手段でそれらばらつき値の
平均或いは加重平均を算出する。システムコントロール
手段では、この平均ばらつき値について第4のディジタ
ル信号記録再生装置と同様な動作を行う。
【0026】第6のディジタル信号記録再生装置では、
第2のディジタル信号記録再生装置の構成要素にメモリ
手段を追加し、分類手段からの各グループのサンプルデ
ータをそれぞれ前記メモリ手段で記憶し、次段のそれぞ
れのばらつき検出手段で各グループのサンプルデータの
標準偏差を算出する。そして、平均算出手段でそれら標
準偏差の平均或いは加重平均を算出する。システルコン
トロール手段では、この平均ばらつき値について第4の
ディジタル信号記録再生装置と同様な動作を行う。
【0027】
【実施例】記録信号をI−NRZI変調した記録媒体か
ら信号を取り出す本発明のディジタル信号記録再生装置
の第1の実施例を図1に示す。尚、このディジタル信号
記録再生装置は、PR4検出とビタビ復号を組み合せを
用いている。図4に、この第1の実施例の第1の動作ア
ルゴリズムを示す。図4においてST1乃至ST12は動
作のステップを示す。
【0028】磁気テープ1には、ディジタルデータが記
憶されている。そして磁気ヘッド3は、磁気テープ1か
ら記憶されているデータを読み出しアナログ高周波(以
下RFという)信号を出力する。磁気ヘッド3からのR
F信号は、プリアンプ5で増幅され、更に波形等化回路
9で周波数特性と位相特性を補正された後、PLL(Ph
ase Locked Loop )回路13と再生データ回路11に供給さ
れる。
【0029】PLL回路13では、RF信号をディジタル
データとして識別するためのクロック信号CLKをRF
信号の中から抽出し、可変遅延装置17に供給する。可変
遅延装置17は、後述するようにそのクロック信号の位相
を調整する。また、再生デコーダ回路11では、1クロッ
ク周期分遅延させたRF信号を、遅延させないRF信号
と加算する。この再生デコーダ回路11の出力を見ると、
図8のアイパターンが見える。また、このアイパターン
の振幅が一定になるようにAGC回路7で利得を自動調
整している。
【0030】アナログ−ディジタル(以下A/Dと略
す)変換器15は、このRF信号を可変遅延回路17からの
クロックの位相でサンプリングしてディジタルデータに
変換し、次段のビタビ復号器23に供給する。ビタビ復号
器23では、I−NRZI変調とPR4検出の組み合わせ
で得られる筈の限られたデータ系列と、実際の再生デー
タ系列と比較し、誤りの訂正を行う。
【0031】ここで、A/D変換器15のサンプリング位
相とA/D変換器15の出力の関係を図9に示す。図8の
121 の位相(アイパターンの中心)でサンプリングした
場合のA/D変換器15の出力は、図9(a)のようにな
る。同様に図8の123 の位相でサンプリングした場合の
A/D変換器15の出力は図9(b)のように、図8の12
5 の位相でサンプリングした場合のA/D変換器15の出
力は図9(c)のようになる。A/D変換器15の出力
は、またばらつき検出器19に供給されるが、このばらつ
き検出器19では、図9中に示した閾値131 以上のサンプ
ルデータについてばらつき値を算出する。
【0032】以降は、図4のアルゴリズムを参照しなが
ら説明する。ST1で、ばらつき検出器19はA/D変換
器15の出力を取り込む。ST2で、ばらつき検出器15は
A/D変換器15のばらつき値を算出し、次段のシステム
コントロール部21に記憶する。ST3で、とりあえずシ
ステムコントロール部21は制御信号を変化し、これに伴
ない可変遅延装置17はPLL回路13からのクロックCL
Kの遅延量を1ステップ増してA/D変換器15に供給す
る。ST4で、ばらつき検出器19はA/D変換器15の出
力を取り込む。ST5で、ばらつき検出器15はA/D変
換器15の出力のばらつき値を算出し、システムコントロ
ール部21に記憶する。
【0033】ST6で、システムコントロール部21は、
ST2で算出したばらつき値からST5で算出したばら
つき値を減算する。その結果が正のとき動作はST3に
もどり、システムコントロール部21は制御信号を更に変
化し、これに伴ない可変遅延装置17はPLL回路13から
のクロックCLKの遅延量を更に1ステップ増してA/
D変換器15に供給する。ST4で、ばらつき検出器19は
A/D変換器15の出力を取り込む。ST5で、ばらつき
検出器19はA/D変換器15の出力のばらつき値を算出
し、システムコントロール部21に記憶する。
【0034】ST6で、システムコントロール部21は、
前回のST5で算出したばらつき値から今回のST5で
算出したばらつき値を減算する。その結果が正のとき動
作はST3にもどりST3からST6の動作を繰り返
す。
【0035】ST6で負になった時、ST7で何回目の
比較結果であるかを判断する。つまり、ST6での一回
目の減算結果が最初から負になったときには、ST9に
移行する。ST9で、システムコントロール部21は制御
信号を変化し、これに伴ない可変遅延装置17はPLL回
路13からのクロックCLKの遅延量を前回で設定した遅
延量から1ステップ減してA/D変換器15に供給する。
ST10で、ばらつき検出器19はA/D変換器15の出力を
取り込む。ST11で、ばらつき検出器19はA/D変換器
15の出力のばらつき値を算出し、システムコントロール
部21に記憶する。
【0036】ST12で、システムコントロール部21はS
T5で算出したばらつき値からST11で算出したばらつ
き値を減算する。その結果が正のとき動作はST9にも
どり、システムコントロール部21は制御信号を更に変化
し、これに伴ない可変遅延装置17はその遅延量を更に1
ステップ減してA/D変換器15に供給する。ST10で、
ばらつき検出器19はA/D変換器15の出力を取り込む。
ST11で、ばらつき検出器19はA/D変換器15の出力の
ばらつき値を算出し、システムコントロール部21に記憶
する。
【0037】ST12で、システムコントロール21は、前
回のST11で算出したばらつき値から今回のST11で算
出したばらつき値を減算する。その結果が正のとき動作
はST9にもどりST9からST12の動作を繰り返す。
【0038】ST12で、減算した結果が負のとき動作は
ST13に移行する。ST13で、システムコントロール部
21は制御信号を変化し、これに伴ない可変遅延装置17は
PLL回路13からの遅延量を前回で設定した遅延量から
1ステップ増す。以後、システムコントロール部21から
の制御信号及び可変遅延装置17の遅延量はそれを維持し
調整が終了する。
【0039】また、ST6においてその結果が2回目以
降の後負の結果が得られたときには、ST8に移行す
る。ST8で、システムコントロール部21は制御信号を
変化し、これに伴ない可変遅延装置17はPLL回路13か
らの遅延量を前回で設定した遅延量から1ステップ減ら
す。以後、システムコントロール部21からの制御信号及
び可変遅延装置17の遅延量はそれを維持し調整が終了す
る。
【0040】この様にしてA/D変換器15に供給される
クロックの位相は自動的にアイパターンの中心付近にく
るよう調整される。
【0041】図5に、可変遅延装置17の構成例を示す。
PLL回路13からのクロックCLKをプリアンプ51で増
幅して、第1の遅延回路53に接続する。第2乃至第4の
遅延回路55,57,58が第1の遅延回路53に順次接続され
る。これら遅延回路は同一遅延量でも良いし、異なって
も良い。説明を簡単にする為4つの遅延回路しか図示し
ていないが、これに限定されない。第1のAND回路59
は、クロック入力を第1から第4の遅延回路53,55,5
7,59で遅延したクロックを取り出すものである。第2
のAND回路61は、クロック入力を第1から第3の遅延
回路53,55,57で遅延したクロックを取り出すものであ
る。第3のAND回路63は、クロック入力を第1から第
2の遅延回路53,55で遅延したクロックを取り出すもの
である。第4のAND回路65は、クロック入力を第1の
遅延回路53で遅延したクロックを取り出すものである。
第5のAND回路67は、クロック入力をそのまま取り出
すものである。第1乃至第5のAND回路59,61,63,
65,67の他方の入力端にはシステムコントロール部21か
ら制御信号が供給される。この制御信号は、第5のAN
D回路67から第1のAND回路59に向けて順次遅延クロ
ックを出力させたり、逆に第1のAND回路59から第5
のAND回路67に向けて順次遅延クロックを出力させ
る。第1乃至第5のAND回路59,61,63,65,67の出
力は、OR回路71を介してA/D変換器15に供給され
る。
【0042】本発明のディジタル信号記録再生装置の第
2の実施例を、図2に示す。第1の実施例の構成要素と
同じ構成要素は同一番号を付しており、ここでは第1の
実施例と異なる点だけを説明する。
【0043】分類器31は、図9中に示した2つの閾値13
1 ,133 によって、A/D変換器15の出力を3つのグル
ープに分類し、第1乃至第3のばらつき検出器33,35,
37に供給する。各ばらつき検出器33,35,37は各グルー
プのサンプルデータのばらつき値を検出する。システム
コントロール部21は、第1乃至第3のばらつき検出器3
3,35,37からのばらつき値の平均或いは加重平均を算
出する。このばらつき値の平均或いは加重平均を使用し
て、第1の実施例と同様図4のアルゴリズムに従って動
作を行う。その動作については、既に詳述したので説明
は省略する。
【0044】本発明のディジタル信号記録再生装置の第
3の実施例を、図3に示す。第1の実施例の構成要素と
同じ構成要素は同一番号を付している。第2の実施例と
異なるところは、分類器31と第1乃至第3のばらつき検
出器33,35,37の間に第1乃至第3のメモリ41,43,45
を介在させている点である。この例では、第1乃至第3
のばらつき検出器33,35,37は各グループのサンプルデ
ータの標準偏差を求める。システムコントロール部21
は、第1乃至第3のばらつき検出器33,35,37からの標
準偏差の平均或いは加重平均を算出する。この標準偏差
の平均或いは加重平均を使用して、第1の実施例と同様
図4のアルゴリズムに従って動作を行う。その動作につ
いては、既に詳述したので説明は省略する。
【0045】前述の本発明のディジタル信号記録再生装
置の第1の実施例が利用する第2の動作アルゴリズムを
次に説明する。
【0046】ばらつき検出器19がA/D変換器15の出力
からばらつき値を算出したとき、システムコントロール
部21はそのばらつき値を記憶すると共に制御信号を変化
し、これに伴ない可変遅延装置17はPLL回路13からの
クロックの遅延量を1ステップ増してA/D変換器15に
供給する。ばらつき検出器19は、A/D変換器15の出力
からばらつき値を算出し、システムコントロール部21に
記憶する。システムコントロール部21は、今回のばらつ
き値が前回より小さいとき制御信号を更に変化し、これ
に伴ない可変遅延装置17はPLL回路13からのクロック
の遅延量を更に1ステップ増してA/D変換器15に供給
する。A/D変換器15の出力のばらつき値が略零になる
まで以上の動作を繰り返す。A/D変換器15の出力のば
らつき値が略零になった時点で、システムコントロール
部21からの制御信号及び可変遅延装置17の遅延量はそれ
を維持し調整が終了する。
【0047】PLL回路13からのクロックの遅延量を1
ステップ増すことによりA/D変換器15からの出力のば
らつき値が逆に大きくなったときは、可変遅延装置17が
PLL回路13からのクロックの遅延量を1ステップ減少
させるような制御信号をシステムコントロール部21は出
力する。そして、A/D変換器15の出力のばらつき値が
略零になるまで、システムコントロール部21は制御信号
を順次変化させ、可変遅延装置17のクロックの遅延量を
1ステップずつ減らしていく。A/D変換器15の出力の
ばらつき値が略零になった時点で、システムコントロー
ル部21からの制御信号及び可変遅延装置17の遅延量はそ
れを維持し調整が終了する。
【0048】前述の本発明のディジタル信号記録再生装
置の第2の実施例が上記第2の動作アルゴリズムを利用
するに際しては、分類器31、第1乃至第3のばらつき検
出器33,35,37とシステムコントロール部21で算出した
3グループのばらつき値の平均或いは加重平均を使用す
れば良い。
【0049】前述の本発明のディジタル信号記録再生装
置の第3の実施例が上記第2の動作アルゴリズムを利用
するに際しては、分類器31、第1乃至第3のメモリ41,
43,45、第1乃至第3のばらつき検出器33,35,37とシ
ステムコントロール部21で算出した3グループの標準偏
差の平均或いは加重平均を使用すれば良い。
【0050】前述の第1乃至第3の実施例が上記第1或
いは第2のアルゴリズムを実行するのは、所定値以上の
ばらつき値、所定値以上の3グループのばらつき値の平
均或いは加重平均、所定値以上の3グループの標準偏差
の平均或いは加重平均が所定時間内に所定回数以上算出
された場合に限っても良い。これは、A/D変換器15へ
のクロックの位相がアイパターンの中心に落ち着くまで
若干の時間を要し、それまでクロック位相を変化させる
過程で一時的にエラーレートの悪化を生じることを配慮
したものである。また、安定した再生が行われている間
はPLL回路13で抽出するクロックの位相に変化が無い
ので、クロック位相調整に伴う一時的なエラーレートの
悪化が起きない。
【0051】本発明の第1乃至第3の実施例が、磁気テ
ープ3を新たにディジタル信号記録再生装置にセットし
再生動作を始めたときに上記第1或いは第2のアルゴリ
ズムを実行すれば最適である。交換前の磁気テープ3と
交換後の磁気テープ3の再生信号の特性が異なり、PL
L回路13で抽出するクロックの位相がずれることがあ
る。そこで、最初にA/D変換器15へのクロックの位相
を最適状態に自動調整するのでエラーレートの悪化を抑
えることができる。
【0052】本発明の第1乃至第3の実施例が、ディジ
タル信号記録再生装置の電源がOFFからON状態に変
化してから最初に再生動作に入ったときに上記第1或い
は第2のアルゴリズムを実行すれば最適である。ディジ
タル信号再生装置の内部温度が平衡状態に達せず変化し
ているためにPLL回路13の動作が安定せず、クロック
の位相が最適値からずれてしまう等の現象が起きても、
A/D変換器15へのクロックの位相を最適状態に自動調
整するのでエラーレートの悪化を抑えることができる。
【0053】尚、第1乃至第3の実施例が実施するアル
ゴリズムは、上記第1と第2のアルゴリズムに限定され
ず、A/D変換器15に供給するクロックの位相をアイパ
ターンの中心に自動調整するものであれば良い。
【0054】本発明をパーシャルレスポンス−クラス5
(以下PR5と略す)の検出に応用する場合について簡
単に説明する。図6にPR5検出での簡略化したアイパ
ターンを示す。このアイパターンを81の位相でサンプリ
ングすると、A/D変換器15の出力はほぼ5つの値に集
中する。この場合、分類器15は4つの閾値を設定し、A
/D変換器15の出力を5つのグループに分類する。ばら
つき検出器並びにメモリを5つにし、各グループのサン
プルデータのばらつき値或いは標準偏差をそれぞれ算出
し、システムコントロール部21でそれらの平均或いは加
重平均を算出することになる。
【0055】本発明はPR4,PR5検出とビタビ復号
の組み合わせに限定されることは無く、他の検出方法で
もビタビ復号のように2値化する復号を使用していれば
応用可能である。
【0056】
【発明の効果】本発明によれば、PLL回路で抽出され
るクロックの位相が変化しても、A/D変換器に供給す
るクロックの位相を自動調整して、その位相が再生RF
信号のアイパターンの中心付近にくるようにすることが
できる。
【0057】他の機器で記録された記録媒体を再生する
場合や、ディジタル信号記録再生装置の内部温度が平衡
状態に達せずPLL回路の動作が不安定な電源投入時で
も、速やかに位相調整を行うためにエラーレートの悪化
が初期の段階で抑えられる。更に、ビタビ復号用のA/
D変換器出力をそのまま調整データとして使用するた
め、比較的小さい回路規模で実現することが可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のディジタル信号記録再生装置の第1の
実施例を示す図である。
【図2】本発明のディジタル信号記録再生装置の第2の
実施例を示す図である。
【図3】本発明のディジタル信号記録再生装置の第3の
実施例を示す図である。
【図4】本発明のディジタル信号記録再生装置の動作の
アルゴリズムを説明するためのフローチャートである。
【図5】可変遅延装置の構成を示す図である。
【図6】パーシャルレスポンス−クラス5検出での簡略
化したアイパターンを示す。
【図7】従来のディジタル信号記録再生装置の構成を示
す図である。
【図8】パーシャルレスポンス−クラス4検出での簡略
化したアイパターンを示す。
【図9】アナログ−ディジタル変換器の出力を示す図で
ある。
【符号の説明】
1…磁気テープ、3…磁気ヘッド、5…プリアンプ、7
…AGC回路、9…波形等化回路、11…再生デコーダ回
路、13…PLL回路、15…アナログ−ディジタル(A/
D)変換器、17…可変遅延装置、19…ばらつき検出器、
21…システムコントロール部、23…ビタビ復号器、31…
分類器、33,35,37…ばらつき検出器、41,43,45…メ
モリ、51…プリアンプ、53,55,57,58…遅延回路、5
9,61,63,65,67…AND回路、71…OR回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04L 25/40 C 9199−5K // H03M 13/00 8730−5K

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 記録媒体から信号を取り出す取り出し手
    段と、 この取り出し手段の出力信号の中からクロックを抽出す
    る抽出手段と、 この抽出手段からのクロックの位相を漸次変化させる可
    変遅延手段と、 前記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からの
    クロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナ
    ログ−ディジタル変換手段と、 このアナログ−ディジタル変換手段の出力を2値化する
    復号手段と、 前記アナログ−ディジタル変換手段の出力のばらつき値
    を所定範囲に分布しているサンプルデータについて算出
    するばらつき検出手段と、 このばらつき検出手段で得た今回のばらつき値と前回の
    クロックの位相による前記アナログ−ディジタル変換手
    段の出力のばらつき値と比較し、所定の関係になるまで
    前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化させる様
    制御信号を変化するシステムコントロール手段とを具備
    したことを特徴とするディジタル信号記録再生装置。
  2. 【請求項2】 記録媒体から信号を取り出す取り出し手
    段と、 この取り出し手段の出力信号の中からクロックを抽出す
    る抽出手段と、 この抽出手段からのクロックの位相を漸次変化させる可
    変遅延手段と、 前記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からの
    クロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナ
    ログ−ディジタル変換手段と、 このアナログ−ディジタル変換手段の出力を2値化する
    復号手段と、 前記アナログ−ディジタル変換手段の出力を、所定のサ
    ンプル数毎に1以上のグループに分類する分類手段と、 この分類手段からの各グループのサンプルデータのばら
    つき値をそれぞれ算出する1以上のばらつき検出手段
    と、 この1以上のばらつき検出手段でそれぞれ算出したばら
    つき値の平均或いは加重平均を算出する平均算出手段
    と、 この平均算出手段で得た今回の平均ばらつき値と前回の
    クロックの位相による前記アナログ−ディジタル変換手
    段の出力の平均ばらつき値と比較し、所定の関係になる
    まで前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化させ
    る様制御信号を変化するシステムコントロール手段とを
    具備したことを特徴とするディジタル信号記録再生装
    置。
  3. 【請求項3】 記録媒体から信号を取り出す取り出し手
    段と、 この取り出し手段の出力信号の中からクロックを抽出す
    る抽出手段と、 この抽出手段からのクロックの位相を漸次変化させる可
    変遅延手段と、 前記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からの
    クロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナ
    ログ−ディジタル変換手段と、 このアナログ−ディジタル変換手段の出力を2値化する
    復号手段と、 前記アナログ−ディジタル変換手段の出力を、所定のサ
    ンプル数毎に1以上のグループに分類する分類手段と、 この分類手段からの各グループのサンプルデータをそれ
    ぞれ記憶する1以上のメモリ手段と、 各メモリ手段の出力から各グループのサンプリングの標
    準偏差をそれぞれ算出する1以上のばらつき検出手段
    と、 この1以上のばらつき検出手段でそれぞれ算出した標準
    偏差の平均或いは加重平均を算出する平均算出手段と、 この平均算出手段で得た今回の平均標準偏差と前回のク
    ロックの位相による前記アナログ−ディジタル変換手段
    の出力の平均標準偏差と比較し、所定の関係になるまで
    前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化させる様
    制御信号を変化するシステムコントロール手段とを具備
    したことを特徴とするディジタル信号記録再生装置。
  4. 【請求項4】 前記復号手段は、ビタビ復号器から構成
    されることを特徴とする請求項1或いは2或いは3記載
    のディジタル信号記録再生装置。
  5. 【請求項5】 前記システムコントロール手段は、所定
    値以上の前記ばらつき値或いは前記平均ばらつき値或い
    は前記平均標準偏差が所定時間内に所定回数以上ある場
    合に前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化させ
    る様制御信号を変化することを特徴とする請求項1或い
    は2或いは3或いは4記載のディジタル信号記録再生装
    置。
  6. 【請求項6】 前記アナログ−ディジタル変換手段への
    クロックの位相調整を前記記録媒体の変換時に行うこと
    を特徴とする請求項1或いは2或いは3或いは4記載の
    ディジタル信号記録再生装置。
  7. 【請求項7】 前記アナログ−ディジタル変換手段への
    クロックの位相調整を、再生装置の電源をONにし前記
    取り出し手段が信号取り出し初期状態になった時に行う
    ことを特徴とする請求項1或いは2或いは3或いは4記
    載のディジタル信号記録再生装置。
  8. 【請求項8】 記録媒体から信号を取り出す取り出し手
    段と、 この取り出し手段の出力信号の中からクロックを抽出す
    る抽出手段と、 この抽出手段からのクロックの位相を漸次変化させる可
    変遅延手段と、 前記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からの
    クロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナ
    ログ−ディジタル変換手段と、 このアナログ−ディジタル変換手段の出力を2値化する
    復号手段と、 前記アナログ−ディジタル変換手段の出力のばらつき値
    を所定範囲に分布しているサンプルデータについて算出
    するばらつき検出手段と、 このばらつき検出手段で得た今回のばらつき値が略零に
    なるまで前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化
    させる様制御信号を変化するシステムコントロール手段
    とを具備したことを特徴とするディジタル信号記録再生
    装置。
  9. 【請求項9】 記録媒体から信号を取り出す取り出し手
    段と、 この取り出し手段の出力信号の中からクロックを抽出す
    る抽出手段と、 この抽出手段からのクロックの位相を漸次変化させる可
    変遅延手段と、 前記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からの
    クロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナ
    ログ−ディジタル変換手段と、 このアナログ−ディジタル変換手段の出力を2値化する
    復号手段と、 前記アナログ−ディジタル変換手段の出力を、所定のサ
    ンプル数毎に1以上のグループに分類する分類手段と、 この分類手段からの各グループのサンプルデータのばら
    つき値をそれぞれ算出する1以上のばらつき検出手段
    と、 この1以上のばらつき検出手段でそれぞれ算出したばら
    つき値の平均或いは加重平均を算出する平均算出手段
    と、 この平均算出手段で得た今回の平均ばらつき値が略零に
    なるまで前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化
    させる様制御信号を変化するシステムコントロール手段
    とを具備したことを特徴とするディジタル信号記録再生
    装置。
  10. 【請求項10】 記録媒体から信号を取り出す取り出し
    手段と、 この取り出し手段の出力信号の中からクロックを抽出す
    る抽出手段と、 この抽出手段からのクロックの位相を漸次変化させる可
    変遅延手段と、 前記取り出し手段の出力信号を前記可変遅延手段からの
    クロックのタイミングでディジタル信号に変換するアナ
    ログ−ディジタル変換手段と、 このアナログ−ディジタル変換手段の出力を2値化する
    復号手段と、 前記アナログ−ディジタル変換手段の出力を、所定のサ
    ンプル数毎に1以上のグループに分類する分類手段と、 この分類手段からの各グループのサンプルデータをそれ
    ぞれ記憶する1以上のメモリ手段と、 各メモリ手段の出力から各グループのサンプルデータの
    標準偏差をそれぞれ算出する1以上のばらつき検出手段
    と、 この1以上のばらつき検出手段でそれぞれ算出した標準
    偏差の平均或いは加重平均を算出する平均算出手段と、 この平均算出手段で得た平均標準偏差が略零になるまで
    前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化させる様
    制御信号を変化するシステムコントロール手段とを具備
    したことを特徴とするディジタル信号記録再生装置。
  11. 【請求項11】 前記復号手段は、ビタビ復号器から構
    成されることを特徴とする請求項8或いは9或いは10
    記載のディジタル信号記録再生装置。
  12. 【請求項12】 前記システムコントロール手段は、所
    定値以上の前記ばらつき値或いは前記平均ばらつき値或
    いは前記平均標準偏差が所定時間内に所定回数以上ある
    場合に前記可変遅延手段がクロックの位相を漸次変化さ
    せる様制御信号を変化することを特徴とする請求項8或
    いは9或いは10或いは11記載のディジタル信号記録
    再生装置。
  13. 【請求項13】 前記アナログ−ディジタル変換手段へ
    のクロックの位相調整を前記記録媒体の変換時に行うこ
    とを特徴とする請求項8或いは9或いは10或いは11
    記載のディジタル信号記録再生装置。
  14. 【請求項14】 前記アナログ−ディジタル変換手段へ
    のクロックの位相調整を、再生装置の電源をONにし前
    記取り出し手段が信号取り出し初期状態になった時に行
    うことを特徴とする請求項8或いは9或いは10或いは
    11記載のディジタル信号記録再生装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0845865A3 (en) * 1996-11-29 2000-04-05 Lsi Logic Corporation Analogue to digital converter system
US7096140B2 (en) 2003-10-30 2006-08-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Test system, test method and test program for an integrated circuit by IDDQ testing

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EP0845865A3 (en) * 1996-11-29 2000-04-05 Lsi Logic Corporation Analogue to digital converter system
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