JPH08320730A - バンドギャップ電圧基準およびバンドギャップ基準電圧を生ずるための方法 - Google Patents

バンドギャップ電圧基準およびバンドギャップ基準電圧を生ずるための方法

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JPH08320730A
JPH08320730A JP8054500A JP5450096A JPH08320730A JP H08320730 A JPH08320730 A JP H08320730A JP 8054500 A JP8054500 A JP 8054500A JP 5450096 A JP5450096 A JP 5450096A JP H08320730 A JPH08320730 A JP H08320730A
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ptat
resistor
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Ronald B Koo
ロナルド・ビー・クー
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    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is DC
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 正確で大きさが小さく、コンポーネントの少
ないブートストラップされたバンドギャップ電圧基準を
提供する。 【解決手段】 このバンドギャップ電圧基準54は、絶
対温度比例(PTAT)電圧降下抵抗器R3とVBE電圧
降下トランジスタQ3との直列接続76を含み、バンド
ギャップ電圧VREF =VPTAT+VBEが直列接続を介して
生じることが可能である。このバンドギャップ電圧基準
はさらに、PTAT電圧降下抵抗器とVBE電圧降下トラ
ンジスタとの間にあるベース電流ノードからそのベース
電流を得る1対のバイポーラトランジスタQ1およびQ
2を有するPTAT電流発生器80を含む。PTAT電
流発生器により生じたPTAT電流は、PTAT電圧降
下抵抗器を介して流れるベース電流の影響を相殺するた
めに補償される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の背景】この発明は一般にアナログおよび混合信
号(アナログおよびデジタル)集積回路に関し、より特
定的には、アナログおよび混合信号集積回路で用いられ
るバンドギャップ電圧基準に関する。
【0002】基準電圧はさまざまな目的のために必要で
ある。たとえば、基準電圧は、アナログ−デジタル(A
/D)変換器とd.c.電源の調整とで用いられる。電
圧基準に固有の問題は、その出力電圧が温度に依存する
傾向にあるということである。これは、回路のトランジ
スタのような能動素子が、温度に従って変化する動作特
性(たとえばベース電流およびVBE)を有するからであ
る。当然のことながら、安定した基準電圧を与えるのに
電圧基準回路の温度依存性を最小化することが望まし
い。
【0003】「バンドギャップ」電圧基準は、ある範囲
の温度にわたって全く安定しているということが技術分
野で知られている。当業者には公知であるように、半導
体のバンドギャップとは、半導体のための伝導帯の一番
下と価電子帯の一番上との間のエネルギ差である。シリ
コンのバンドギャップ電圧は1.2eVであるので、シ
リコンベースのトランジスタおよび集積回路技術のため
に安定した基準電圧として選択されるのは、+1.2ボ
ルトd.c.のバンドギャップ電圧基準である。一般
に、先行技術のバンドギャップ電圧基準は、バイポーラ
トランジスタのベースエミッタ電圧VBEを絶対温度比例
(PTAT)電圧VPTATと加算することにより動作する
が、これは典型的にはPTAT電圧降下抵抗器を介して
生じたものである。
【0004】図1において、先行技術のバンドギャップ
電圧基準回路10が示されている。電圧基準回路10と
その変異形は、一般に「ウィドラ」バンドギャップ回路
として知られている。ウィドラバンドギャップ回路10
は、第1のトランジスタ12、第2のトランジスタ14
および第3のトランジスタ16を含む。トランジスタ1
2、14および16はすべてNPNバイポーラトランジ
スタである。前述のA/D変換器、d.c.電源などの
ように、バンドギャップ基準電圧VREF はノード18で
生じかつ負荷20に接続されている。トランジスタ12
のコレクタは抵抗器22によりVREF に結合され、トラ
ンジスタ12のエミッタは接地に結合される。トランジ
スタ12のベースはそのコレクタに結合され、トランジ
スタ12および14をカレントミラーにする。抵抗器2
4はトランジスタ14のコレクタをVREF に結合し、ト
ランジスタ14のベースは線24によりトランジスタ1
2のベースに結合される。トランジスタ14のエミッタ
は抵抗器26により接地に結合される。誤差フィードバ
ック素子として働くトランジスタ16のコレクタはV
REF に結合されかつそのエミッタは接地に結合される。
トランジスタ16のベースはトランジスタ14のコレク
タに結合される。ウィドラバンドギャップ回路10は、
電源Vccに結合された電流源28により電力を与えら
れる。トランジスタ14の大きさは、抵抗器26を介す
る電圧降下を補償するためにトランジスタ12より大き
くされる。バイポーラの技術においては、トランジスタ
は、相対的に大きなエミッタを有することにより別のト
ランジスタより大きくされる。この場合は、トランジス
タ14のエミッタは、トランジスタ12のエミッタより
もたとえば4倍、8倍または10倍大きくてよい。
【0005】ウィドラバンドギャップ回路10の動作は
以下のとおりである。回路10は、抵抗器22およびト
ランジスタ12を介して流れる電流IPTATによってバン
ドギャップ電圧基準VREF =VPTAT+VBEを発生する。
電流源28は、一定の電流をノード30に流し続けよう
とする。誤差トランジスタ16は、ある量の電流をノー
ド30から取りかつそれを接地に短絡させる。残りの電
流はトランジスタ12および14を介して流れる。調整
されると、トランジスタ16のベースでの電圧は、トラ
ンジスタ14のベースでの電圧に近くなる。このために
トランジスタ16はある量の電流を分流し、トランジス
タ12および14の間の組合された全電流は絶対温度
(TK )に比例する。TK が変化するに従って、トラン
ジスタ12および14を介する電流はそれに対して線形
に変化し、所望される1.2ボルトd.c.で電圧V
REF を維持する。もしVREF の電圧が上がろうとするな
らば、トランジスタ16を介する電流が増加し、トラン
ジスタ12および14を介して流れる電流の量を減少さ
せ、したがってVREF をプルダウンする。もしVREF
下がろうとするならば、トランジスタ16を介して流れ
る電流は減少し、トランジスタ12および14を介して
流れる電流の量を増加させ、それによってVREFをその
調整された1.2ボルトD/Cまで増加させようとす
る。したがって、トランジスタ16は、トランジスタ1
2および14を介して流れる全電流を制御し、VREF
レベルを維持する。すなわちIPTATが抵抗器22および
トランジスタ12を流れるようにする。
【0006】ウィドラバンドギャップ回路10の欠点は
組込誤差である。これは、トランジスタ12および14
の双方のベース電流が抵抗器22を介して流れ、電圧降
下を生じさせるという事柄のためである。このベース電
流は比較的少ないが、調整された電圧VREF において摂
氏1℃につきほぼ200パーツパーミリオン(ppm/
℃)の誤差を生じる可能性がある。このレベルの正確さ
はある応用に対しては満足のいくものであるが、高精度
のA/D変換器のような他の高精度の応用には、もっと
高いレベルの正確さを備えた基準電圧が必要である。
【0007】「ブロコー電池」として知られている先行
技術のバンドギャップ電圧基準回路32が図2に示され
ている。回路32は、第1のトランジスタ34、第2の
トランジスタ36および誤差増幅器38を含む。トラン
ジスタ34のコレクタは抵抗器40によりVccに結合
され、かつそのエミッタは抵抗器42により接地に結合
される。トランジスタ36のベースはトランジスタ34
のベースに結合される。トランジスタ36のコレクタは
抵抗器44によりVccに結合され、かつトランジスタ
36のエミッタは、抵抗器46を前述の抵抗器42に直
列に接続することにより接地に結合される。誤差増幅器
38の入力はトランジスタ34および36のコレクタに
結合され、かつ誤差増幅器38の出力はノード48で基
準電圧V REF を生じる。負荷50は出力ノード48と接
地との間に結合される。誤差増幅器38の出力はまた、
線52によりトランジスタ34および36のベースにフ
ィードバックされる。すなわち誤差増幅器の出力は、ト
ランジスタ34および36のためにベース電流を与え
る。
【0008】ブロコー電池32を用いた場合、トランジ
スタ36はトランジスタ34より大きく、これら2つの
トランジスタを介して流れる電流をイコライズできるよ
うになっている。動作の際、もし抵抗器40および44
が同じ値であれば、誤差増幅器38は、等しい電流がト
ランジスタ34および36を介して流れるように電流を
調整しようとする。これら2つのトランジスタを介する
電流はケルビン温度(TK )の絶対温度に比例してい
る。抵抗器42を介する電圧降下とトランジスタ34の
電圧降下VBEとは、バンドギャップ電圧VREF を生成す
るのに用いられる。ブロコー電池32には、ウィドラバ
ンドギャップ回路の前述のベース電流の誤差という欠点
がない。なぜならベース電流は、PTAT電圧降下抵抗
器を介するのではなく、誤差増幅器38によって与えら
れるからである。
【0009】しかしながら、ブロコー電池には、正しい
動作のためにかなりの「ヘッドルーム」(すなわちVc
cとVREF との間の電圧差動)を必要とする点で重大な
欠点がある。ブロコー電池32は典型的には少なくとも
1ボルトのヘッドルームを必要とするので、このために
ブロコー電池の技術は、Vccが約2.2ボルトより大
きい応用に限られる。これは、電池をそれ自身の出力V
REF で電力を与えることによってブロコー電池を「ブー
トストラップする」ことは難しいということを意味して
いる。ブートストラップされたバンドギャップ電圧基準
を有することが望ましい。なぜならそれは、Vccまた
は他の電圧源から動作するバンドギャップ電圧基準より
も安定しているからである。これは、ほとんど定義上、
バンドギャップ電圧基準が回路に電力を与えるのに利用
できる、温度に対し最も安定した電圧源であるためであ
る。ブートストラップされたブロコー電池を設けること
が可能であるが、そのような電池は設計が全く複雑であ
り、集積回路に関してはかなりの量の貴重な不動産を必
要とする。前述のウィドラバンドギャップ回路はブート
ストラップ回路であるが、その利点は、PTAT電圧降
下抵抗器を介して流れるベース電流により生じた誤差の
ために損なわれる。
【0010】
【発明の概要】この発明は、正確で、大きさが小さくか
つコンポーネントの少ないブートストラップされたバン
ドギャップ電圧基準回路または「コア」を提供する。こ
れは、PTAT電圧降下抵抗器で生成されたベース電流
の誤差を補償することにより達成される。
【0011】簡潔に言うと、この発明は、絶対温度比例
(PTAT)電圧降下抵抗器をVBE電圧降下トランジス
タと直列に接続することを含み、バンドギャップ電圧は
直列接続を介して生じることが可能である。この発明は
さらに、PTAT電圧降下抵抗器とVBE電圧降下トラン
ジスタとの間のベース電流ノードからそのベース電流を
得る1対のバイポーラトランジスタを有するPTAT電
流発生器を含む。PTAT電流発生器は直列接続に結合
され、直列接続を介して流れるPTAT電流を与える。
PTAT電流はPTAT電流発生器により補償され、P
TAT電圧降下抵抗器を介して流れるベース電流の影響
を相殺する。
【0012】より特定的には、この発明のブートストラ
ップされたバンドギャップ電圧基準は、PTAT電圧降
下抵抗器をバイポーラVBE電圧降下トランジスタと直列
に接続することを含み、PTAT電流IPTATが直列接続
を介して流れるとき、バンドギャップ電圧VREF =V
PTAT+VBEが直列接続を介して生じることが可能であ
る。PTAT電圧降下抵抗器の第1のノードはVREF
力ノードに結合され、PTAT電圧降下抵抗器の第2の
ノードはベース電流ノードに結合され、VBE電圧降下ト
ランジスタの第1のノードはベース電流ノードに結合さ
れ、VBE電圧降下トランジスタの第2のノードは接地に
結合される。
【0013】前に述べたように、ブートストラップされ
たバンドギャップ電圧基準はさらに、VREF ノードに結
合され、直列接続にPTAT電流を与えるPTAT電流
発生器を含む。PTAT電流発生器は、第1の大きさの
第1のバイポーラトランジスタと、第1の大きさより大
きな第2の大きさの第2のバイポーラトランジスタとを
含む。第1のバイポーラトランジスタのベースは直列接
続のベース電流ノードに結合され、第2のバイポーラト
ランジスタのベースはベース電流補償抵抗器によりベー
ス電流ノードに結合され、これはPTAT電流を補償し
て、PTAT電圧降下抵抗器を介してベース電流ノード
に流れる、第1のトランジスタおよび第2のトランジス
タのベース電流の影響を相殺する。
【0014】この発明に従えば、バンドギャップ基準電
圧を生ずるための方法は、a)ベース電流を与えられた
少なくとも2つのトランジスタを用いてPTAT電流を
生成するステップを含み、PTAT電流はベース電流の
影響に対して補償され、さらに、b)PTAT電流をP
TAT電圧降下抵抗器とバイポーラVBE電圧降下トラン
ジスタとの直列接続に与えるステップとを含み、PTA
T電流が直列接続を介して流れるとき、バンドギャップ
電圧VREF =VPTAT+VBEが直列接続を介して生じるこ
とができ、1対のトランジスタのためのベース電流は、
PTAT電圧降下抵抗器とVBE電圧降下トランジスタと
の間に位置したベース電流ノードから得られる。
【0015】この発明に従えば、集積回路を作るための
方法は、a)上で説明したように、少なくとも1つのブ
ートストラップされたバンドギャップ電圧基準を含む集
積回路を設計するステップと、b)次にこの設計に従っ
て集積回路を製造するステップとを含む。より特定的に
は、この方法は、R4=2(R2)/Pの関係によりベ
ース電流補償抵抗器のための値を選択するステップを含
み、ここでR4はベース電流補償抵抗器の抵抗であり、
R2は第2のトランジスタのエミッタを接地に結合する
抵抗器の抵抗であり、PはVBE電圧降下トランジスタの
第1のトランジスタに対するエミッタの大きさの比であ
る。
【0016】この発明の利点は、先行技術のウィドラバ
ンドギャップ回路または先行技術のブートストラップさ
れていないブロコー電池よりもずっと正確なバンドギャ
ップ基準電圧を提供できるということである。この発明
のバンドギャップ電圧基準は、先行技術のウィドラバン
ドギャップ回路の典型的な200ppm/℃の正確さに
対立するものとして、100ppm/℃またはそれ以上
の正確さを提供することが可能である。
【0017】この発明の別の利点は、ブートストラップ
されたブロコー電池に必要な回路の複雑さなしに、この
発明がブートストラップされることが可能であるという
ことである。その結果、ずっと少ない回路で、ブートス
トラップされたブロコー電池の正確さに匹敵するかまた
はそれを超えるバンドギャップ基準電圧が、この発明に
よって生じることが可能である。
【0018】この発明のこれらおよび他の利点は、この
発明の以下の説明を読みかつ複数の図面を検討すると当
業者には明らかになるであろう。
【0019】
【好ましい実施例の詳細な説明】図1および図2は先行
技術を参照して説明された。図3において、この発明の
バンドギャップ電圧基準回路(「コア」)54は、第1
のトランジスタQ1、第2のトランジスタQ2および第
3のトランジスタQ3を含む。トランジスタQ1のエミ
ッタの大きさまたは面積「A」は、相対的な大きさ
(「A=1」)として与えられる。すなわち、他のトラ
ンジスタの大きさはトランジスタQ1の大きさを基準と
する。Q2のエミッタの大きさまたは面積AはA=Nで
あり、ここではN>1である。トランジスタQ3の大き
さまたはエミッタの面積はA=Pであり、ここでPは1
より大きいか、等しいかまたは小さい可能性がある。す
なわち、トランジスタQ3の大きさは、ここの説明には
関係のない他の要因により決定される。さまざまな大き
さのバイポーラトランジスタの設計および製造は当業者
には公知である。
【0020】トランジスタQ3のコレクタは、PTAT
電圧降下R3によりバンドギャップ電圧基準(VREF
線56に結合される。トランジスタQ3のコレクタおよ
びベースは線58によりともに結合され、トランジスタ
Q3のエミッタは接地に結合される。したがって、トラ
ンジスタQ3およびQ1は、カレントミラー構成でとも
に結合されるということが当業者には認識される。電流
PTATが抵抗器R3およびトランジスタQ3を介して流
れると、VPTATの電圧降下が抵抗器を介して生じ、かつ
BEの電圧降下がトランジスタを介して生ずる。これら
2つの電圧降下の和はバンドギャップ基準電圧VREF
等しい。すなわちVREF =VPTAT+VBE
【0021】第1のトランジスタ段60は、コレクタ抵
抗器R0をトランジスタQ1と直列に接続することを含
む。トランジスタQ1のベースはトランジスタQ3のベ
ースに結合され、したがって、トランジスタQ1を介し
て流れる電流の量は、カレントミラー構成のために、ト
ランジスタQ3を介して流れる電流の量に関連してい
る。より特定的には、Q1を介して流れる電流の量は、
Q3を介して流れる電流の1/P倍であり、ここでPは
Q3のQ1に対するエミッタの大きさの比である。コレ
クタ抵抗器R0はVREF 線56とノード62との間に結
合され、トランジスタQ1のコレクタはノード62に結
合され、トランジスタQ1のエミッタは接地に結合され
る。第2のトランジスタ段64は、コレクタ抵抗器R
1、トランジスタQ2および抵抗器R2の直列接続を含
む。より特定的には、コレクタ抵抗器R1はVREF 線5
6とノード66との間に結合され、トランジスタQ2の
コレクタはノード66に結合され、トランジスタQ2の
エミッタは抵抗器R2により接地に結合される。
【0022】トランジスタQ2のベースは、ベース電流
補償抵抗器R4によりトランジスタQ1のベースに結合
される。後に詳細に説明するが、補償抵抗器R4は、抵
抗器R3を介して流れる、トランジスタQ1およびQ2
のためのベース電流により生じた誤差を補償する。トラ
ンジスタQ1およびQ2と組合せて抵抗器R4を設ける
ことにより、複雑でなく、効率的でかつ非常に正確なバ
ンドギャップ電圧基準回路が設けられる。
【0023】誤差増幅器68はトランジスタQ1および
Q2のコレクタに結合される。より特定的には、誤差増
幅器68への「+」入力はノード62に結合され、かつ
誤差増幅器68への「−」入力はノード66に結合され
る。誤差増幅器68はVcc(典型的には5ボルトd.
c.または3ボルトd.c.)と接地とに結合される。
誤差増幅器68は基本的に線形の電圧増幅器であり、そ
の構成は当業者には公知である。誤差増幅器68の出力
は線70によりVREF 線56に結合される。したがっ
て、誤差増幅器68はこの発明のバンドギャップ電圧基
準54のために電流を与える。
【0024】バンドギャップ電圧基準回路54の出力は
REF 出力ノード72で見られる。負荷74はノード7
2と接地とに結合され、電圧基準VREF を用いる。典型
的には、負荷74は他の電源電圧レベルにも結合され
る。
【0025】この発明のバンドギャップ電圧基準回路5
4の動作は以下のとおりである。前に説明したようにト
ランジスタQ3およびQ1はカレントミラーである。絶
対温度比例電流が抵抗器R2を介して生成され、この電
流は抵抗器R3およびトランジスタQ3を介して流れる
PTAT電流IPTATを生じさせるのに用いられる。もし
トランジスタQ1およびQ2を介する電流が温度に対し
て一定の比で保たれるならば、PTAT電圧降下がR2
を介して生成される。その結果、抵抗器R3およびトラ
ンジスタQ3を介するIPTATを含む、PTAT電流がト
ランジスタQ1、Q2およびQ3を介して流れる。
【0026】前に述べたように、トランジスタQ2は、
抵抗器R2の抵抗を補償するためにファクタNだけトラ
ンジスタQ1より大きい。もし抵抗器R0およびR1の
抵抗が同じならば、誤差増幅器68は、第1のトランジ
スタ段60と第2のトランジスタ段64とを介して流れ
る電流がほぼ同じであるようにVREF を調整しようとす
る。
【0027】たとえば、もしノード62および66での
電圧のバランスが悪くなると、誤差増幅器68は補償す
るために線70の電流を変化させる。たとえば、もしノ
ード62での電圧がノード66での電圧より大きけれ
ば、誤差増幅器68は、線70および56を介して流れ
る電流を増加させ、それによって3つのトランジスタQ
1、Q2およびQ3すべてを介する電流を増加させる。
この付加電流のある量は抵抗器R3およびトランジスタ
Q3を介して流れる。トランジスタQ3およびQ1は写
されるので、付加電流はトランジスタの段64に対して
トランジスタの段60を介して流れ、抵抗器R0を介す
る電圧降下を増加させ、それによってノード62での電
圧を小さくする。もしノード62での電圧がノード66
での電圧より小さければ、誤差増幅器68が生成する電
流は少なく、これは、トランジスタQ2を介して流れる
電流以上にトランジスタQ1を介して流れる電流を減少
させる。これはノード62での電圧レベルを上げ、回路
54を平衡状態に戻す。
【0028】注目されるように、トランジスタQ1およ
びQ2のベース電流は抵抗器R3を介して流れる。先行
技術を参照して前に説明したように、もし補償されなけ
れば、これはVPTATにおいて誤差電圧を生じさせ、これ
は電圧レベルVREF において対応する誤差をもたらすこ
とになる。しかしながら、この発明は、IPTATにおいて
大きさが等しいが反対方向の電流効果を生成することに
より、第1のオーダの近似まで、抵抗器R3を介するこ
の誤差電圧を相殺するベース電流補償器を含む。抵抗器
R2を介するPTAT電圧は、抵抗器R4を介して流れ
るベース電流に比例した量により低減される。したがっ
て、PTAT電流は、もし抵抗器R4が正しく選択され
るならば、トランジスタQ1およびQ2を介するベース
電流に等しい量により低減されることが可能である。こ
の発明においてベース電流補償器は、トランジスタQ1
およびQ2のベースの間に結合された抵抗器R4を含
む。
【0029】図3に見られるように、電流ループLOO
P1は、抵抗器R3を介してトランジスタQ1およびQ
2に流れるベース電流により生じた誤差を相殺するのに
役立つ。補償抵抗器R4のために、トランジスタQ1の
ベースとトランジスタQ2のベースとの間に電圧降下が
ある。これはトランジスタQ2のベースでの電圧を低減
し、したがって、トランジスタQ2はトランジスタQ1
を介してより少ない量の電流を引くことになる。抵抗器
R1を介して流れる電流の量が少なくなるので、抵抗器
R3を介して流れる電流も少なくなければならず、電圧
降下が小さくなる。この抵抗器R3を介する電圧降下の
ために、元の電圧降下の誤差の反対方向に補償するよう
になる。したがって、第1のオーダの近似まで、抵抗器
R4は、トランジスタQ1およびQ2を介して流れるベ
ース電流の影響を打消す。
【0030】当業者には理解されるように、さまざまな
コンポーネントに対して選択される値は応用特有のもの
である。しかしながら、コンポーネントの値の中にはコ
ンポーネントの他の値に関連しているものがある。たと
えば、R0の値はR0=P(R3)であるようにR3の
値に関連しており、ここでPは、トランジスタQ3およ
びQ1の相対的な大きさである。トランジスタQ1およ
びQ2を介して流れる電流が同じであるように、この好
ましい実施例ではR1=R0であるが、前に述べたよう
にR1の値は応用特有である。R2の値は、トランジス
タQ2を介して適切な量の電流を与えるように回路の設
計者により選択され、回路の仕様を満たしている。この
実施例では、27KΩの値が用いられる。
【0031】抵抗器R3の値はまたシステム要求に基づ
いて計算される。たとえば、1.2ボルトのバンドギャ
ップ基準電圧なら、もしQ3を介して0.6ボルトが降
下するなら、R3を介して0.6ボルトが降下するはず
である。したがって、オームの法則を用いて、R3はR
3=0.6/I3,ideal の値を有するはずである。I
3,ideal の導出は以下で述べられる。
【0032】補償抵抗器R4の影響はこの発明の誤差打
消特徴にとって重要である。上で述べたように、回路の
さまざまなコンポーネントの値および構成はシステム要
求に依存して変化し得る。しかしながら、以下で得られ
るように、R2の値を与えられた抵抗器R4のための適
切な値とトランジスタQ3およびQ2の大きさとの間に
は関係がある。
【0033】(ベース電流補償抵抗器R4の値の導出)
前に説明したように、VBE補償抵抗器R4は、大きさが
等しいが反対方向の影響を生成する(第1のオーダの近
似において)ことにより、R3を介してトランジスタQ
1およびQ2に流れるベース電流の影響を相殺する。し
たがって、バンドギャップ電圧の誤差を許容できるレベ
ルにまで最小化するR4のための値を選択することが重
要である。R4の値は以下で得られるように計算され
る。
【0034】R0=R1と仮定する。Q1およびQ2の
コレクタ電流、Ic1 およびIc2はそれぞれ、増幅器
によって与えられるフィードバックのために等しい。も
しQ1およびQ2のβが同じであれば、Q1およびQ2
のエミッタ電流IE1およびI E2もそれぞれ等しい。キル
ヒホッフの電圧法則がループ1周辺に適用できる。
【0035】 −VBE1 +IB2(R4)+VBE2 +IE2(R2)=0 IE2=[VBE1 −VBE2 −IB2(R4)]/R2 ここで、VBE1 はQ1のベースエミッタ電圧であり、I
B2はQ2のベース電流であり、VBE2 はQ2のベースエ
ミッタ電圧である。バイポーラトランジスタのベースエ
ミッタ電圧VBEは、VBE=[(kT)/q]ln(Ic
/Is)から近似されることが可能である。ここでIc
はコレクタ電流であり、kはボルツマン定数であり、T
はケルビン温度であり、qは電子の電荷であり、Isは
順方向アクティブ領域においてトランジスタの伝達特性
を記述するのに用いられる定数である。前述の等式か
ら、IE2は、IE2={[(kT)/q]lnN−I
B2(R4)}/R2として計算されることが可能であ
る。ここでNは、Q2のエミッタの面積のQ1のエミッ
タの面積に対する比である。Q3のエミッタ電流I
E3は、IE3の倍数Pである。IESは、IE3=PIE2=P
{[kT)/q]lnN−IB2(R4)}/R2のよう
に計算されることが可能である。
【0036】抵抗器R3を介して流れる電流I3 は、I
3 =IE3+IB1+IB2により与えられる。ここでIB1
Q1のベース電流である。理想的には、R3を介して流
れるPTAT電流は、I3,ideal =P{[(kT)/
q]InN}/R2のはずである。
【0037】I3 =I3,ideal と設定することにより、
P{[(kT)/q]lnN}/R2={P{[(k
T)/q]lnN−IB2(R4)}/R2}+IB1+I
B2の関係が確立され、これはPIB2(R4/R2)=I
B1+IB2にまとまる。
【0038】もしβがトランジスタQ1およびQ2の双
方で同じであるならば、IB1=IB2である。したがっ
て、ベース電流を打消すには(第1のオーダの近似ま
で)、必要なR4はR4=2(R2)/Pにより与えら
れる。もしR0=R1=P(R3)であるならば、初期
の電圧誤差は解消されることが可能であり、その結果V
CB1 =VCB2 ≒VCB3 をもたらす。VCB1 はQ1のコレ
クタベース電圧であり、VCB2 はQ2のコレクタベース
電圧であり、VCB3 はQ3のコレクタベース電圧であ
る。VBG電圧が、ディスクリートな増幅器に必要な入
力バイアス電流への依存性が小さいということにも注目
すべきである。
【0039】前述から注目されるように、バンドギャッ
プ電圧基準54は、PTAT電圧降下抵抗器R3とVBE
電圧降下トランジスタQ3との直列接続76を含む。バ
ンドギャップ電圧VREFは、VPTAT(抵抗器R3を介
する電圧)とVBE(トランジスタQ3を介する電圧)と
の和に等しい。直列接続76のベース電流ノード78
は、ベース電流をトランジスタQ1およびQ2に与え
る。バンドギャップ電圧基準54は、段60および6
4、抵抗器R4ならびに誤差増幅器68を含むPTAT
電流発生器80をも含む。より特定的には、PTAT電
流発生器80は、1対のトランジスタQ1およびQ2な
らびに抵抗器R4を含み、これは組合されてLOOP1
の電流を作り、これは、抵抗器R3を介して流れる、ト
ランジスタQ1およびQ2のベース電流の影響を補償す
る。
【0040】前述から明らかなように、バンドギャップ
基準電圧を生じるための方法は、a)ベース電流を与え
られた少なくとも2つのトランジスタを用いてPTAT
電流を生成するステップを含み、PTAT電流は2つの
トランジスタのベース電流の影響に対して補償され、さ
らに、b)PTAT電流を、PTAT電圧降下抵抗器と
バイポーラVBE電圧降下トランジスタとの直列接続に与
えるステップとを含み、VREF =VPTAT+VBEのバンド
ギャップ電圧は、PTAT電流が直列接続を介して流れ
るとき、直列接続を介して生じる。2つのトランジスタ
からのベース電流は、PTAT電圧降下抵抗器とVBE
圧降下トランジスタとの間に位置したノードから得られ
る。
【0041】この発明に従えば、集積回路を作るための
方法は、上で説明したように、ブートストラップされた
バンドギャップ電圧基準を設計することと、ブートスト
ラップされたバンドギャップ電圧基準の少なくとも1つ
を含む集積回路を製造することとを含む。この方法は、
前に述べたようにさまざまな抵抗器の値を決定すること
も含む。
【0042】この発明は複数の好ましい実施例に関して
説明されたが、その代替、修正、置換および均等物は、
明細書を読みかつ図面を見ると当業者には明らかになる
であろうということが企図される。したがって、この発
明の精神および範囲内で、前掲の請求項はそのような代
替、修正、置換および均等物すべてを含むということが
意図される。
【図面の簡単な説明】
【図1】ウィドラバンドギャップ回路として知られてい
る先行技術のバンドギャップ電圧基準の概略図である。
【図2】ブロコー電池として知られている先行技術のバ
ンドギャップ電圧基準の概略図である。
【図3】この発明に従ったバンドギャップ電圧基準回路
の概略図である。
【符号の説明】 54 バンドギャップ電圧基準 R3 PTAT電圧降下抵抗器 Q3 VBE電圧降下トランジスタ Q1 バイポーラトランジスタ Q2 バイポーラトランジスタ 80 PTAT電流発生器 76 直列接続 68 誤差増幅器

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 PTAT電圧降下抵抗器とVBE電圧降下
    トランジスタとの直列接続を含み、バンドギャップ電圧
    REF =VPTAT+VBEは前記直列接続を介して生じるこ
    とが可能であり、さらに、 前記PTAT電圧降下抵抗器と前記VBE電圧降下トラン
    ジスタとの間にあるベース電流ノードからそのベース電
    流を得る1対のバイポーラトランジスタを含むPTAT
    電流発生器を含み、前記PTAT電流発生器は前記直列
    接続に結合され、前記直列接続を介して流れるPTAT
    電流を与え、前記PTAT電流は前記PTAT電流発生
    器により補償され、前記PTAT電圧降下抵抗器を介し
    て流れる前記ベース電流の影響を相殺する、バンドギャ
    ップ電圧基準。
  2. 【請求項2】 前記PTAT電圧降下抵抗器の第1のノ
    ードはVREF 出力ノードに結合され、前記PTAT電圧
    降下抵抗器の第2のノードは前記ベース電流ノードに結
    合され、前記VBE電圧降下トランジスタの第1のノード
    は前記ベース電流ノードに結合され、前記VBE電圧降下
    トランジスタの第2のノードは接地へ結合される、請求
    項1に記載のバンドギャップ電圧基準。
  3. 【請求項3】 前記VBE電圧降下トランジスタの前記第
    1のノードはバイポーラトランジスタのコレクタであ
    り、前記第2のノードは前記トランジスタのエミッタで
    あり、前記トランジスタのベースは前記トランジスタの
    前記コレクタに結合される、請求項2に記載のバンドギ
    ャップ電圧基準。
  4. 【請求項4】 前記1対のバイポーラトランジスタは、
    第1の大きさの第1のバイポーラトランジスタと、前記
    第1の大きさよりも大きい第2の大きさの第2のバイポ
    ーラトランジスタとを含み、前記第1のバイポーラトラ
    ンジスタのベースは前記ベース電流ノードに結合され、
    前記第2のバイポーラトランジスタのベースは、前記P
    TAT電流を補償するベース電流補償抵抗器により前記
    ベース電流ノードに結合され、前記PTAT電圧降下抵
    抗器を介して流れる前記ベース電流の前記影響を相殺す
    る、請求項2に記載のバンドギャップ電圧基準。
  5. 【請求項5】 入力が前記1対のトランジスタに結合さ
    れかつ出力が前記V REF ノードに結合される、誤差増幅
    器をさらに含む、請求項4に記載のバンドギャップ電圧
    基準。
  6. 【請求項6】 前記第1のトランジスタのコレクタは第
    1の抵抗器により前記VREF ノードに結合され、前記第
    1のトランジスタのエミッタは接地へ結合され、前記第
    2のトランジスタのコレクタは第2の抵抗器により前記
    REF ノードに結合され、前記第2のトランジスタのエ
    ミッタは第3の抵抗器により接地へ結合され、前記誤差
    増幅器の第1の入力は前記第1のトランジスタの前記コ
    レクタに結合され、前記誤差増幅器の第2の入力は前記
    第2のトランジスタの前記コレクタに結合される、請求
    項5に記載のバンドギャップ電圧基準。
  7. 【請求項7】 PTAT電圧降下抵抗器とバイポーラV
    BE電圧降下トランジスタとの直列接続を含み、PTAT
    電流が前記直列接続を介して流れるとき、バンドギャッ
    プ電圧VREF =VPTAT+VBEが前記直列接続を介して生
    じることが可能であり、前記PTAT電圧降下抵抗器の
    第1のノードはVREF 出力ノードに結合され、前記PT
    AT電圧降下抵抗器の第2のノードはベース電流ノード
    に結合され、前記VBE電圧降下トランジスタの第1のノ
    ードは前記ベース電流ノードに結合され、前記VBE電圧
    降下トランジスタの第2のノードは接地へ結合され、さ
    らに、 前記VREF ノードに結合され、前記直列接続を介して流
    れるPTAT電流を与えるPTAT電流発生器を含み、
    前記PTAT電流発生器は、第1の大きさの第1のバイ
    ポーラトランジスタと、前記第1の大きさよりも大きい
    第2の大きさの第2のバイポーラトランジスタとを含
    み、前記第1のバイポーラトランジスタのベースは前記
    直列接続の前記ベース電流ノードに結合され、前記第2
    のバイポーラトランジスタのベースは、前記PTAT電
    流を補償するベース電流補償抵抗器により前記ベース電
    流ノードに結合され、前記PTAT電圧降下抵抗器を介
    して前記ベース電流ノードに流れる、前記第1のトラン
    ジスタおよび前記第2のトランジスタのためのベース電
    流の影響を相殺する、ブートストラップされたバンドギ
    ャップ電圧基準。
  8. 【請求項8】 前記VBE電圧降下トランジスタは、前記
    第1のトランジスタと関連してカレントミラーとして働
    くように構成される、請求項7に記載のブートストラッ
    プされたバンドギャップ電圧基準。
  9. 【請求項9】 前記VBE電圧降下トランジスタは、エミ
    ッタが接地へ結合され、かつコレクタおよびベースが前
    記ベース電流ノードに結合されるNPNトランジスタで
    ある、請求項8に記載のブートストラップされたバンド
    ギャップ電圧基準。
  10. 【請求項10】 前記第1のトランジスタのコレクタは
    第1の抵抗器により前記VREF ノードに結合され、前記
    第1のトランジスタのエミッタは接地へ結合され、前記
    第2のトランジスタのコレクタは第2の抵抗器により前
    記VREF ノードに結合され、前記第2のトランジスタの
    エミッタは第3の抵抗器により接地へ結合される、請求
    項8に記載のブートストラップされたバンドギャップ電
    圧基準。
  11. 【請求項11】 前記第1のトランジスタおよび前記第
    2のトランジスタはNPNトランジスタである、請求項
    10に記載のブートストラップされたバンドギャップ電
    圧基準。
  12. 【請求項12】 入力が前記1対のトランジスタに結合
    され、かつ出力が前記VREF ノードに結合される誤差増
    幅器をさらに含み、前記誤差増幅器の第1の入力は前記
    第1のトランジスタの前記コレクタに結合され、前記誤
    差増幅器の第2の入力は前記第2のトランジスタの前記
    コレクタに結合される、請求項10に記載のブートスト
    ラップされたバンドギャップ電圧基準。
  13. 【請求項13】 前記ベース電流補償抵抗器の抵抗は、
    R4=2(R2)/Pの関係により決定され、R4は前
    記ベース電流補償抵抗器の抵抗であり、R2は第3の抵
    抗器の抵抗であり、Pは前記VBE電圧降下トランジスタ
    の前記第1のトランジスタに対するエミッタの大きさの
    比である、請求項12に記載のブートストラップされた
    バンドギャップ電圧基準。
  14. 【請求項14】 前記バンドギャップ電圧は約1.2ボ
    ルトd.c.である、請求項13に記載のブートストラ
    ップされたバンドギャップ電圧基準。
  15. 【請求項15】 前記バンドギャップ電圧の誤差は約1
    00ppm/℃より小さい、請求項13に記載のブート
    ストラップされたバンドギャップ電圧基準。
  16. 【請求項16】 前記第2のトランジスタの前記エミッ
    タは、前記第1のトランジスタの前記エミッタよりも2
    倍ないし20倍大きい、請求項13に記載のブートスト
    ラップされたバンドギャップ電圧基準。
  17. 【請求項17】 前記第2のトランジスタの前記エミッ
    タは、前記第1のトランジスタの前記エミッタよりも約
    4倍、8倍および10倍のうちのいずれか分だけ大き
    い、請求項13に記載のブートストラップされたバンド
    ギャップ電圧基準。
  18. 【請求項18】 ベース電流を与えられた少なくとも2
    つのトランジスタを用いてPTAT電流を生成するステ
    ップを含み、前記PTAT電流は前記ベース電流の影響
    に対して補償され、さらに、 前記PTAT電流を、PTAT電圧降下抵抗器とバイポ
    ーラVBE電圧降下トランジスタとの直列接続に与えるス
    テップを含み、バンドギャップ電圧VREF =V PTAT+V
    BEは、前記PTAT電流が前記直列接続を介して流れる
    とき前記直列接続を介して生じることが可能であり、前
    記1対のトランジスタのための前記ベース電流は、前記
    PTAT電圧降下抵抗器と前記VBE電圧降下トランジス
    タとの間に位置したベース電流ノードから得られる、バ
    ンドギャップ基準電圧を生ずるための方法。
  19. 【請求項19】 前記PTAT電流を生成する前記ステ
    ップは、大きさが等しいが反対方向の補償電流を前記P
    TAT電圧降下抵抗器に与えることにより、前記PTA
    T電圧降下抵抗器を介して流れる前記ベース電流の影響
    を補償する、請求項18に記載のバンドギャップ基準電
    圧を生ずるための方法。
  20. 【請求項20】 少なくとも1つのブートストラップさ
    れたバンドギャップ電圧基準を含む集積回路を設計する
    ステップを含み、前記ブートストラップされたバンドギ
    ャップ電圧基準は、 PTAT電圧降下抵抗器とバイポーラVBE電圧降下トラ
    ンジスタとの直列接続を含み、バンドギャップ電圧V
    REF =VPTAT+VBEは、PTAT電流が前記直列接続を
    介して流れるとき前記直列接続を介して生じることが可
    能であり、前記PTAT電圧降下抵抗器の第1のノード
    はVREF 出力ノードに結合され、前記PTAT電圧降下
    抵抗器の第2のノードはベース電流ノードに結合され、
    前記VBE電圧降下トランジスタの第1のノードは前記ベ
    ース電流ノードに結合され、前記V BE電圧降下トランジ
    スタの第2のノードは接地に結合され、さらに、 前記VREF ノードに結合され、前記直列接続を介して流
    れるPTAT電流を与えるPTAT電流発生器を含むよ
    うに設計され、前記PTAT電流発生器は、第1の大き
    さの第1のバイポーラトランジスタと、前記第1の大き
    さより大きい第2の大きさの第2のバイポーラトランジ
    スタとを含み、前記第1のバイポーラトランジスタのベ
    ースは前記直列接続の前記ベース電流ノードに結合さ
    れ、前記第2のバイポーラトランジスタのベースは、前
    記PTAT電流を補償するベース電流補償抵抗器により
    前記ベース電流ノードに結合され、前記PTAT電圧降
    下抵抗器を介して前記ベース電流ノードに流れる、前記
    第1のトランジスタおよび前記第2のトランジスタのた
    めのベース電流の影響を相殺し、さらに、 次に前記設計に従って前記集積回路を製造するステップ
    を含む、集積回路を作るための方法。
  21. 【請求項21】 R4=2(R2)/Pの関係により、
    前記ベース電流補償抵抗器のための値を選択するステッ
    プをさらに含み、ここでR4は前記ベース電流補償抵抗
    器の抵抗であり、R2は前記第2のトランジスタのエミ
    ッタを接地に結合する抵抗器の抵抗であり、Pは前記V
    BE電圧降下トランジスタの前記第1のトランジスタに対
    するエミッタの大きさの比である、請求項20に記載の
    集積回路を作るための方法。
  22. 【請求項22】 前記第1のトランジスタのコレクタを
    REF に結合する抵抗器R0の抵抗はR0=P(R3)
    として選択され、R3はPTAT電圧降下抵抗器の値で
    あり、Pは前記VBE電圧降下トランジスタの前記第1の
    トランジスタに対するエミッタの大きさの比である、請
    求項21に記載の集積回路を作るための方法。
  23. 【請求項23】 前記第2のトランジスタのコレクタを
    REF に結合する抵抗器R1の抵抗は、抵抗器R0の抵
    抗とほぼ同じであるように選択される、請求項22に記
    載の集積回路を作るための方法。
  24. 【請求項24】 前記PTAT電圧降下抵抗器R3の抵
    抗は、R3=(VRE F −VBE)/I3,ideal として選択
    され、VBEは前記VBE電圧降下トランジスタを介する電
    圧降下であり、I3,ideal は前記直列接続を介する理想
    電流である、請求項23に記載の集積回路を作るための
    方法。
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