JPH08329253A

JPH08329253A - エッジ検出方法及びエッジ検出装置

Info

Publication number: JPH08329253A
Application number: JP7134420A
Authority: JP
Inventors: Takushi Totsuka; 卓志戸塚; Tomoo Mitsunaga; 知生光永; Migaku Yokoyama; 琢横山
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1995-05-31
Filing date: 1995-05-31
Publication date: 1996-12-13

Abstract

(57)【要約】【目的】不要なエッジの混入を防ぎ、エッジ検出精度
を高めたエッジ検出方法を提供する。【構成】濃淡データで構成される入力画像データＦ_in
における各位置のエッジ方向Ｔを推定する（ステップＳ
４．１）。そして、その推定した方向の情報Ｔを補助情
報とし、上記補助情報と入力画像データＦ_inから画素値
が周囲と比べて急峻に変化している画素群をエッジとし
て検出する（ステップＳ４．２）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、画像処理において基本
的な役割を果たすエッジ検出方法及びエッジ検出装置に
関するものであり、テレビジョンや映画等の映像制作に
おける特殊効果処理、ＦＡ（ＦａｃｔｏｒｙＡｕｔｏ
ｍａｔｉｏｎ）におけるカメラ画像からの部品認識等に
適用して好適なエッジ検出方法及びエッジ検出装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】画像から任意の部分画像を切り出す作業
は、映像の編集合成やコンピュータグラフィックス等に
おけるテクスチャ及び構造データの生成の基本操作であ
る。この切り出しという操作では、エッジ検出、領域抽
出、及び既知物体との対応付け等の処理を必要とする。
特に、画像中の背景や対象物体が複雑になると、対象物
体の輪郭を構成するエッジを正確に求め、追跡すること
が必要となる。

【０００３】ここで、エッジ検出とは、濃淡画像内で画
素値が急峻に変化している部分を見いだす処理である。
通常、急峻な変化は、対象物体の輪郭で起きるため、エ
ッジ検出の結果を基にして、対象物体の輪郭を画像から
抽出することができる。したがって、エッジ検出は、画
像からその中に存在する対象物体に関する情報を得るた
めの最も基本的な処理として多方面で使用されている。

【０００４】上述のようなエッジ検出の方法は、公知の
多くの方法があるが、何れの方法も局所的な画素の値の
変化を調べ、その変化が大きい部分をエッジとして検出
するものである。代表的なエッジ検出方法として、空間
フィルタを使用するものがある。例えば、図１０に示す
ような横（Ｘ）方向のソーベルフィルタを用いた場合、
縦（Ｙ）方向のエッジが存在するところでは、ソーベル
フィルタの出力が正又は負の大きな値となるため、縦
（Ｙ）方向のエッジを検出することができる。このソー
ベルフィルタの他にも多種の空間フィルタがエッジ検出
用に用いられている。

【０００５】これらのエッジ検出方法については、例え
ば、代表的な教科書であるジェイン（Ｊａｉｎ）著「フ
ァンダメンタルズオブデジタルイメージプロセ
ッシング（ＦｕｎｄａｍｅｎｔａｌｓｏｆＤｉｇｉ
ｔａｌＩｍａｇｅＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）」に詳し
く紹介されている。

【０００６】また、上述のようなエッジ検出方法を用い
て対象物体の輪郭を検出する方法もいろいろ試みられて
いる。例えば、エッジ検出の結果から画素値の変化の度
合い、すなわちエッジ強度が大きい部分を「１」、それ
以外の部分を「０」とする２値画像を生成し、その２値
画像を細線化することにより対象物体の輪郭を得る領域
抽出方法が「特願平５−２３３８１０号」に開示されて
いる。ここで、細線化とは、生成した２値画像から値
「１」のピクセルを順に取り除いていき、通常は１ピク
セル幅になるまで値「１」のピクセルを順に取り除いて
１ピクセル幅の中心線を抽出するという公知の手順であ
る。

【０００７】一方、空間フィルタを用いずに統計的な方
法でエッジを検出する方法もある。例えば、注目してい
る画素の近傍での画素値の分散、すなわち色相の分散を
算出し、その値が大きいところを領域の境界として検出
するエッジ検出方法及び装置が「特願平５−１８１９６
９号」に開示されている。

【０００８】また、文献「カラーエッジディテクショ
ンユージングベクトルオーダスタティスティック
ス（Ｔｒａｈａｎｉａｓ，Ｐ．Ｅ．ｅｔ．ａｌ．”Ｃｏ
ｌｏｒｅｄｇｅｄｅｔｅｃｔｉｏｎｕｓｉｎｇ
ｖｅｃｔｏｒｏｒｄｅｒｓｔａｔｉｓｔｉｃｓ”，Ｉ
ＥＥＥＴｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓｏｎｉｍａｇｅ
ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ，Ｖｏ１．２，Ｎｏ．２，ｐ
ｐ．２５９−２６４，１９９３）」では、画素値が各々
他の画素値とどれだけ離れているかを表す尺度を基にエ
ッジを検出する方法が述べられている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したよう
な従来のエッジ検出方法では、画素値の急峻な変化があ
る部分を全て検出してしまうという問題があった。例え
ば、図１１（ａ）に示すように、画像１００の対象物体
１１０において、対象物体１１０の内部に色の違いがあ
る場合、従来のエッジ検出方法では、同図（ｂ）に示す
ように、物体内部の境界１１２をも検出されてしまい、
同図（ｃ）に示すような本来求めたいエッジ１１１のみ
を得ることができなかった。

【００１０】通常、物体内部では、上記図１１（ａ）に
示したような色の違い、模様、影等様々な理由による画
素値の急峻な変化が不可避である。また、上記図１１
（ａ）に示した画像１００では、背景を無地としたが、
通常は、背景にも様々な模様や色が存在する。これに対
して従来のエッジ検出方法では、画素値の急峻な変化を
一様に検出していたため、上述したような物体内部の境
界や背景の模様等も誤ってエッジとして検出されてしま
う可能性があった。

【００１１】そこで、上述のような問題を解決するため
に、画像の色情報、すなわち明度、彩度、及び色相に基
いて明度に対して重み付け補正処理を施した後、重み付
け補正処理が施された明度に基いてエッジを検出する自
動切抜きシステムが「特願平１−１７３１７７号」に開
示されている。この自動切抜きシステムは、輪郭付近の
画素値の変化、例えば、明度の変化を強調するための重
み付け補正処理により輪郭をより際だたせることによ
り、前景の物体や背景内の模様や色変化の誤った検出を
減らしてエッジ検出を行うものである。

【００１２】しかし、上記自動切抜きシステムでは、輪
郭上の個々の部分各々について最適な重み付け補正処理
を行うことは考慮されていない。また、物体の輪郭に沿
って模様や色等が一様であることは、むしろ希である。
このため、上記自動切抜きシステムによっても、本来求
めたいエッジ以外のエッジの混入を防ぐことができなか
った。

【００１３】一方、エッジ検出を行う場所を画像上で限
定することにより、不必要な場所でのエッジ検出を省
き、輪郭以外の場所におけるエッジの混入を最小限にと
どめる領域抽出装置が「特願平３−１７６７８０号」に
開示されている。この領域抽出装置では、人手により対
象物体の輪郭の概略を入力し、その輪郭概略内部でのみ
エッジ検出を行うことにより、余分なエッジの発生を防
いでエッジ検出を行うものである。また、人手により対
象物体の輪郭の概略を入力し、その輪郭概略の情報に基
いてエッジ検出を境界付近でのみ行う構成としたソフト
キー生成装置が「特願平５−２３６３４７号」に開示さ
れている。

【００１４】しかし、上記領域抽出装置及び上記ソフト
キー生成装置では、単に誤ったエッジの検出が発生する
領域を狭めるのみであり、輪郭以外のエッジの混入を防
ぐことができなかった。例えば、図１２（ａ）に示すよ
うに、画像２００において、オペレータが入力した対象
物体２１０の輪郭の概略２２０を用いてエッジ検出を行
った場合、エッジ検出を行う範囲を制限してもその制限
には限界があり、上記図１２（ｂ）に示すように、不要
なエッジ２２１ａ，２２１ｂ，２２１ｃが誤って検出さ
れてしまっていた。

【００１５】ここで、輪郭の概略２２０の精度を上げる
ことにより、不要なエッジ２２１ａ，２２１ｂ，２２１
ｃの数や長さを次第に減少させることはできるが、この
ためには、輪郭の概略２２０を人手で高精度に与える必
要があり、これは大変困難な作業である。この問題を解
決するために、オペレータがタブレットやマウス等の入
力手段をゆっくり動かしている場合には、輪郭の概略の
太さが細くなるように制御し、速く動かしている場合に
は、輪郭の概略の太さが太くなるように制御することに
より、エッジ検出を行う範囲を制限してエッジを検出す
る画像編集装置が「特願平１−１８０６７４号」に開示
されているが、これにおいても、不要なエッジの混入を
防ぐことはできなかった。

【００１６】そこで、本発明は、上述の如き従来の実情
に鑑みてなされたものであり、次のような目的を有する
ものである。即ち、本発明の目的は、不要なエッジの混
入を防ぎ、エッジ検出精度を高めたエッジ検出方法及び
エッジ検出装置を提供することにある。

【００１７】

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに、本発明に係るエッジ検出方法は、濃淡データで構
成される入力画像データの中から、画素値が周囲と比べ
て急峻に変化している画素群をエッジとして検出するエ
ッジ検出方法であって、入力画像データにおける各位置
のエッジ方向を推定し、その推定した方向の情報を補助
情報とし、上記補助情報と入力画像データからエッジを
検出することを特徴とする。

【００１８】また、本発明に係るエッジ検出方法は、入
力画像データにおける特定領域の概略図形情報から各位
置のエッジ方向を推定し、その推定した方向の情報を上
記補助情報とすることを特徴とする。また、本発明に係
るエッジ検出方法は、入力画像データに対して前後のフ
レームの画像データから入力画像データにおける各位置
のエッジ方向を推定し、その推定した方向の情報を上記
補助情報とすることを特徴とする。

【００１９】本発明に係るエッジ検出方法は、濃淡デー
タで構成される入力画像データの中から、画素値が周囲
と比べて急峻に変化している画素群をエッジとして検出
するエッジ検出方法であって、入力画像データにおける
各位置での３原色データの比率の変化を推定し、その推
定した３原色データの比率の変化の情報を補助情報と
し、上記補助情報と入力画像データからエッジを検出す
ることを特徴とする。

【００２０】また、本発明に係るエッジ検出方法は、入
力画像データにおける特定領域の概略図形情報から各位
置での３原色データの比率の変化を推定し、その推定し
た３原色データの比率の変化の情報を上記補助情報とす
ることを特徴とする。また、本発明に係るエッジ検出方
法は、入力画像データに対して前後のフレームの画像デ
ータから入力画像データにおける各位置での３原色デー
タの比率の変化を推定し、その推定した３原色データの
比率の変化の情報を上記補助情報とすることを特徴とす
る。

【００２１】本発明に係るエッジ検出装置は、濃淡デー
タで構成される入力画像データの中から、画素値が周囲
と比べて急峻に変化している画素群をエッジとして検出
するエッジ検出装置であって、入力画像データにおける
各位置のエッジ方向を推定し、その推定した方向の情報
を補助情報とする推定手段と、上記推定手段で得られた
補助情報と入力画像データからエッジを検出する検出手
段とを備えることを特徴とする。

【００２２】また、本発明に係るエッジ検出装置は、入
力画像データにおける概略図形情報を入力する概略指定
手段を備え、上記推定手段は、上記概略指定手段により
入力された概略図形情報から各位置のエッジ方向を推定
し、その推定した方向の情報を補助情報とすることを特
徴とする。

【００２３】また、本発明に係るエッジ検出装置は、上
記推定手段は、入力画像データに対して前後のフレーム
の画像データから各位置のエッジ方向を推定し、その推
定した方向の情報を補助情報とすることを特徴とする。
本発明に係るエッジ検出装置は、濃淡データで構成され
る入力画像データの中から、画素値が周囲と比べて急峻
に変化している画素群をエッジとして検出するエッジ検
出装置であって、入力画像データにおける各位置での３
原色データの比率の変化を推定し、その推定した３原色
データの比率の変化の情報を補助情報とする推定手段
と、上記推定手段で得られた補助情報と入力画像データ
からエッジを検出する検出手段とを備えることを特徴と
する。

【００２４】また、本発明に係るエッジ検出装置は、入
力画像データにおける概略図形情報を入力する概略指定
手段を備え、上記推定手段は、上記概略指定手段により
入力された概略図形情報から各位置ので３原色データの
比率の変化を推定し、その推定した方向の情報を補助情
報とすることを特徴とする。

【００２５】また、本発明に係るエッジ検出装置は、上
記推定手段は、入力画像データに対して前後のフレーム
の画像データから各位置ので３原色データの比率の変化
を推定し、その推定した方向の情報を補助情報とするこ
とを特徴とする。

【００２６】

【作用】本発明に係るエッジ検出方法では、濃淡データ
で構成される入力画像データにおける各位置のエッジ方
向を推定する。そして、その推定した方向の情報を補助
情報とし、上記補助情報と入力画像データから画素値が
周囲と比べて急峻に変化している画素群をエッジとして
検出する。

【００２７】また、本発明に係るエッジ検出方法では、
入力画像データにおける特定領域の概略図形情報から各
位置のエッジ方向を推定する。そして、その推定した方
向の情報を上記補助情報とする。また、本発明に係るエ
ッジ検出方法では、入力画像データに対して前後のフレ
ームの画像データから入力画像データにおける各位置の
エッジ方向を推定する。そして、その推定した方向の情
報を上記補助情報とする。

【００２８】本発明に係るエッジ検出方法では、濃淡デ
ータで構成される入力画像データにおける各位置での３
原色データの比率の変化を推定する。そして、その推定
した３原色データの比率の変化の情報を補助情報とし、
上記補助情報と入力画像データから画素値が周囲と比べ
て急峻に変化している画素群をエッジとして検出する。

【００２９】また、本発明に係るエッジ検出方法では、
入力画像データにおける特定領域の概略図形情報から各
位置での３原色データの比率の変化を推定する。そし
て、その推定した３原色データの比率の変化の情報を上
記補助情報とする。また、本発明に係るエッジ検出方法
では、入力画像データに対して前後のフレームの画像デ
ータから入力画像データにおける各位置での３原色デー
タの比率の変化を推定する。そして、その推定した３原
色データの比率の変化の情報を上記補助情報とする。

【００３０】本発明に係るエッジ検出装置では、推定手
段は、濃淡データで構成される入力画像データにおける
各位置のエッジ方向を推定し、その推定した方向の情報
を補助情報とする。検出手段は、上記推定手段で得られ
た補助情報と入力画像データから画素値が周囲と比べて
急峻に変化している画素群をエッジとして検出する。

【００３１】また、本発明に係るエッジ検出装置では、
概略指定手段は、入力画像データにおける概略図形情報
を入力する。上記推定手段は、上記概略指定手段により
入力された概略図形情報から各位置のエッジ方向を推定
し、その推定した方向の情報を補助情報とする。

【００３２】また、本発明に係るエッジ検出装置では、
上記推定手段は、入力画像データに対して前後のフレー
ムの画像データから各位置のエッジ方向を推定し、その
推定した方向の情報を補助情報とする。本発明に係るエ
ッジ検出装置では、推定手段は、濃淡データで構成され
る入力画像データにおける各位置での３原色データの比
率の変化を推定し、その推定した３原色データの比率の
変化の情報を補助情報とする。検出手段は、上記推定手
段で得られた補助情報と入力画像データから画素値が周
囲と比べて急峻に変化している画素群をエッジとして検
出する。

【００３３】また、本発明に係るエッジ検出装置では、
概略指定手段は、入力画像データにおける概略図形情報
を入力する。上記推定手段は、上記概略指定手段により
入力された概略図形情報から各位置ので３原色データの
比率の変化を推定し、その推定した方向の情報を補助情
報とする。

【００３４】また、本発明に係るエッジ検出装置では、
上記推定手段は、入力画像データに対して前後のフレー
ムの画像データから各位置ので３原色データの比率の変
化を推定し、その推定した方向の情報を補助情報とす
る。

【００３５】

【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。まず、本発明の第１の実施例に係る
エッジ検出方法及びエッジ検出装置について説明する。

【００３６】上記エッジ検出方法は、例えば、図１に示
すようなエッジ検出装置１０により実施される。また、
エッジ検出装置１０は、上記エッジ検出装置を適用した
ものである。すなわち、エッジ検出装置１０は、上記図
１に示すように、入力画像Ｆ_inが供給されるグラディエ
ント計算部１１と、輪郭の概略Ｐが供給されるスプライ
ン曲線発生部１２と、助変数ｔをスプライン曲線発生部
１２に対して発生するパラメータ座標生成部１３と、グ
ラディエント計算部１１の出力データとスプライン曲線
発生部１２の出力データからエッジ強度Ｅを算出するエ
ッジ強度計算部１４とを備えている。また、スプライン
曲線発生部１２の出力データは、グラディエント計算部
１１にも供給されるようになされている。

【００３７】ここで、図２は、エッジ検出装置１０にお
けるエッジ検出処理を示すフローチャートである。以
下、上記図１及び図２を用いて具体的に説明する。エッ
ジ検出装置１０には、濃淡データで構成された入力画像
Ｆ_inが入力される。一方、エッジ検出装置１０には、例
えば、オペレータが図示していないディスプレイ上に表
示されている入力画像Ｆ_inをみながらタブレットを使用
することにより、輪郭の概略Ｐが入力される。

【００３８】グラディエント計算部１１は、入力画像Ｆ
_inを取り込む（ステップＳ１）。尚、グラディエント計
算部１１における詳細な説明は後述する。一方、スプラ
イン曲線発生部１２は、上述したようなオペレータの入
力による輪郭の概略Ｐを座標列（ｘ０，ｙ０），（ｘ
１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２），・・・として順次取り込
む（ステップＳ２）。そして、スプライン曲線発生部１
２は、順次取り込んだ座標列（ｘ０，ｙ０），（ｘ１，
ｙ１），（ｘ２，ｙ２），・・・を通るような滑らかな
曲線Ｐ（ｔ）を生成する（ステップＳ３）。

【００３９】具体的に説明すると、まず、曲線Ｐ（ｔ）
は、３次スプライン形式で表現される。すなわち、曲線
Ｐ（ｔ）は、助変数ｔ、助変数ｔの３次多項式ｘ
（ｔ），ｙ（ｔ）を持って、Ｐ（ｔ）＝（ｘ（ｔ），ｙ（ｔ））なる式で表現される。そして、助変数ｔが「０」〜
「１」まで変化する時、その軌跡である曲線Ｐ（ｔ）、
すなわちスプライン曲線Ｐ（ｔ）は、座標列（ｘ０，ｙ
０），（ｘ１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２），・・・を滑ら
かに接続して輪郭を一周することとなる。このようなス
プライン曲線は、ＣＡＤをはじめとする広い分野で使用
されている。

【００４０】そこで、スプライン曲線発生部１２は、ス
プライン曲線Ｐ（ｔ）が座標列（ｘ０，ｙ０），（ｘ
１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２），・・・を滑らかに接続す
るように、３次多項式ｘ（ｔ），ｙ（ｔ）の係数を順次
取り込んだ座標列（ｘ０，ｙ０），（ｘ１，ｙ１），
（ｘ２，ｙ２），・・・（以下、座標列（ｘｎ，ｙｎ）
と言う。）に基いて決定する。この係数の決定方法は、
例えば、代表的な文献であるファーリン（Ｆａｒｉｎ）
著の「カーブスアンドサーフィシズフォーコンピ
ュータエイディッドジェオメトリックデザイン
（Ｃｕｒｖｅｓａｎｄｓｕｒｆａｃｅｓｆｏｒ
ｃｏｍｐｕｔｅｒａｉｄｅｄｇｅｏｍｅｔｒｉｃ
ｄｅｓｉｇｎ）」に述べられている係数の決定方法を適
用する。この係数の決定方法は、点群を与えられた時、
その点群を通過するような係数の決定方法であり、公知
のものである。

【００４１】例えば、入力画像Ｆ_inが図３（ａ）に示す
ような画像２５０であった場合、すなわち画像２５０の
中心付近に円形の物体２６０が存在する場合、スプライ
ン曲線発生部１２は、円形の物体２６０の周囲に沿って
オペレータが指定した概略の輪郭上の点群２７１_xyを座
標列（ｘｎ，ｙｎ）として取り込む。そして、スプライ
ン曲線発生部１２は、点群２７１_xyを補間する曲線２７
０が点群２７１_xyを通過するような係数を決定して、ス
プライン曲線Ｐ（ｔ）を生成する。

【００４２】上述のようにしてスプライン曲線発生部１
２により生成されたスプライン曲線Ｐ（ｔ）は、グラデ
ィエント計算部１１に供給される。また、スプライン曲
線発生部１２は、生成したスプライン曲線Ｐ（ｔ）を輪
郭の概略として用い、スプライン曲線Ｐ（ｔ）上の各画
素について以下の処理を行う（ステップＳ４）。この
時、パラメータ座標生成部１３は、曲線Ｐ（ｔ）の助変
数ｔを「０」〜「１」まで小さな刻み幅で変化させてス
プライン曲線発生部１２に対して発生する。

【００４３】尚、以下に述べるステップＳ４の処理は、
パラメータ座標生成部１３からの少しずつ変化した助変
数ｔにより、スプライン曲線Ｐ（ｔ）上の各画素を順に
たどっていき、各画素（ｘ，ｙ）について繰り返すルー
プ処理である。先ず、スプライン曲線発生部１２は、パ
ラメータ座標生成部１３からの助変数ｔを上述した「Ｐ
（ｔ）＝（ｘ（ｔ），ｙ（ｔ））」の式に代入すること
により、対象画素のＸ座標及びＹ座標（以下、対象画素
（ｘ，ｙ）と言う。）を求める。そして、スプライン曲
線発生部１２は、求めた対象画素（ｘ，ｙ）をグラディ
エント計算部１１に供給する。

【００４４】また、スプライン曲線発生部１２は、上記
図３（ｂ）に示すように、求めた対象画素（ｘ，ｙ）に
おけるスプライン曲線Ｐ（ｔ）の接線方向を求める。こ
の接線方向を対象画素（ｘ，ｙ）における輪郭のおよそ
の方向として使用する。すなわち、接線方向は、スプラ
イン曲線Ｐ（ｔ）を微分して得られる速度ベクトルＶ
（ｔ）の方向と等しいため、この速度ベクトルＶ（ｔ）
を接線方向として、Ｖ（ｔ）＝ｄ／ｄｔＰ（ｔ）なる式で求める。そして、求めた速度ベクトルＶ（ｔ）
の長さを「１」に正規化して、接線ベクトルＴを、Ｔ＝Ｖ（ｔ）／｜Ｖ（ｔ）｜なる式で求め（ステップＳ４．１）、求めた接線ベクト
ルＴをエッジ強度計算部１４に供給する。

【００４５】次に、上述のようにしてスプライン曲線発
生部１２で得られた接線ベクトルＴを補助情報とし、そ
の補助情報を用いて以下に述べるエッジ検出処理を行う
（ステップＳ４．２）。先ず、上述したグラディエント
計算部１１は、スプライン曲線発生部１２からの対象画
素（ｘ，ｙ）の近傍３×３画素の領域について、ステッ
プＳ１の処理において取り込んだ入力画像Ｆ_inの画素値
Ｉ（ｘ，ｙ）を読み込み、Ｘ方向及びＹ方向のソーベル
フィルタを用いて、対象画素（ｘ，ｙ）における画像の
勾配（以下、グラディエントと言う。）Ｇを求める（ス
テップＳ４．２．１）。

【００４６】すなわち、グラディエントＧは、画像の濃
淡を標高としてとらえた場合に、傾斜が最大の方向を示
すベクトルであり、エッジの方向に垂直なものである。
したがって、グラディエントＧは、入力画像Ｆ_inの画素
値Ｉ（ｘ，ｙ）に対して、Ｘ方向及びＹ方向のソーベル
フィルタをかけた出力を各々Ｄｘ及びＤｙとすると、Ｇ＝ｇｒａｄＩ（ｘ，ｙ）＝（Ｄｘ，Ｄｙ）なる式で求められる。この式により、グラディエント計
算部１１は、グラディエントＧを求め、求めたグラディ
エントＧをエッジ強度計算部１４に供給する。

【００４７】次に、エッジ強度計算部１４は、スプライ
ン曲線発生部１２からの接線ベクトルＴを９０゜回転さ
せた法線ベクトルＮを、Ｎ＝ｒｏｔ９０（Ｔ）なる式で求める（ステップＳ４．２．２）。この回転
は、スプライン曲線Ｐ（ｔ）の軌跡の進行方向に対して
反時計回りを正の向きとする。このようにして求められ
た法線ベクトルＮは、スプライン曲線Ｐ（ｔ）の法線ベ
クトルであるため、エッジの向きと推定した輪郭の方向
が平行であるならば、各々に垂直なグラディエントＧと
スプライン曲線Ｐ（ｔ）の法線ベクトルＮも平行とな
る。

【００４８】そして最後に、エッジ強度計算部１４は、
対象画素（ｘ，ｙ）における輪郭のエッジ強度Ｅ（ｘ，
ｙ）を上述のようにして求めた法線ベクトルＮ、グラデ
ィエント計算部１１からのグラディエントＧ、及び方向
選択指数ｓを持って、Ｅ（ｘ，ｙ）＝｜Ｇ｜（Ｇ／｜Ｇ｜・Ｎ）^S なる式により求める。

【００４９】ここで、方向選択指数ｓは、どの程度選択
的に特定方向のエッジにだけ反応するかを決定する指数
であり、通常２〜４程度の値を選択するものとする。例
えば、図４に示すように、方向選択指数ｓが大きくなる
と、グラディエントＧと法線ベクトルＮが同じ方向、す
なわち内積（Ｇ／｜Ｇ｜・Ｎ）の値が「１」に近い場合
のみ、エッジ強度Ｅ（ｘ，ｙ）が大きい値となる。

【００５０】上述のようなステップＳ４の処理を概略の
輪郭を与えるスプライン曲線Ｐ（ｔ）上の各画素（ｘ，
ｙ）に対して行う。したがって、エッジ強度計算部１４
からは、図５に示すように、入力画像Ｆ_inから得られた
エッジ強度画像Ｆ_outが出力される（ステップＳ５）。

【００５１】上述のように、本実施例では、概略の輪郭
の方向の推定値である接線ベクトルＴ、及び入力画像Ｆ
_inのグラディエントＧを輪郭上の各画素毎に求めるた
め、輪郭上の各点において輪郭に沿ったエッジを選択的
に検出することができる。例えば、上記図３（ａ）に示
した画像２５０において、円形の物体２６０内の色の違
いがある箇所Ａ，Ｂでは、法線ベクトルＮは、曲線２７
０に垂直な方向となり、円形の物体２６０内の色の違い
により生じる水平な線上では、グラディエントＧは、上
記水平な線に対して垂直方向となる。このため、上記法
線ベクトルＮと上記グラディエントＧの角度差は、９０
゜となり、上記図４に示すように、エッジ強度Ｅは、
「０」となる。すなわち、円形の物体２６０内のエッジ
は、検出されない。一方、輪郭を表すエッジは、曲線２
７０に沿うため、箇所Ａ，ＢにおけるグラディエントＧ
は、水平方向となる。これは法線ベクトルＮと同じ方向
であり、このため、輪郭を表すエッジは、強く検出され
る。したがって、上記図１２（ｂ）に示したような不要
なエッジ２２１ａ，２２１ｂ，２２１ｃを混入すること
なく、本来求めたいエッジのみを検出することができ
る。

【００５２】また、エッジ強度計算部１４に対してエッ
ジの方向を推定した情報である接線ベクトルＴを補助情
報として与え、エッジ強度計算部１４を特定の方向に強
く反応するものとすることにより、不要なエッジが混入
することなく必要なエッジのみを高いＳ／Ｎ比で検出す
ることができる。

【００５３】さらに、オペレータにより入力された輪郭
の概略から各位置での対象物体のエッジの方向を算出で
きるため、オペレータの作業量を増やすこと無く、手間
をかけずに必要なエッジのみを検出することができる。
尚、上述した実施例では、輪郭の概略を３次スプライン
形式で表現されるスプライン曲線Ｐ（ｔ）としたが、異
なる次数のスプライン形式で表現されるものとしてもよ
い。また、助変数ｔを用いずに、インプリサイトフォー
ム（ｉｍｐｌｉｃｉｔｆｏｒｍ）形式で表現される曲
線Ｑ（ｘ，ｙ）＝０としてもよい。

【００５４】また、オペレータが描画した概略の輪郭線
の画像を細線化し、隣接する画素の位置関係からエッジ
の方向を推定してもよい。この場合には、上記図２に示
したステップＳ３において、概略の輪郭線の画像を細線
化し、同図に示したステップＳ４．１において、細線化
した画像中の対象画素に隣接する複数の画素の並びから
その位置における輪郭の方向を求めるようにする。

【００５５】また、同図に示したステップＳ４におい
て、特定の方向のエッジに選択的に反応するような複数
のフィルタ、例えば、コンパスオペレータ（ｃｏｍｐａ
ｓｓｏｐｅｒａｔｏｒ）を用いて、エッジの推定した方
向を基にしてその方向に対する検出能力の最も高いフィ
ルタを上記複数のフィルタから選択してエッジ強度を求
めるようにしてもよい。

【００５６】つぎに、本発明の第２の実施例に係るエッ
ジ検出方法及びエッジ検出装置について説明する。上記
エッジ検出方法は、例えば、図６に示すようなエッジ検
出装置２０により実施される。また、エッジ検出装置２
０は、上記エッジ検出装置を適用したものである。

【００５７】すなわち、エッジ検出装置２０は、上記図
１に示したエッジ検出装置１０と同様の構成であるが、
上述したエッジ検出装置１０では、エッジの方向を推定
し、その推定した方向の情報を補助情報とするのに対し
て、エッジ検出装置２０では、補助情報として、エッジ
付近での色の差の情報を用いる。また、エッジ検出装置
２０では、入力画像Ｆ_inは、グラディエント計算部１１
に供給されると共にスプライン曲線発生部２２にも供給
されるようになされている。

【００５８】ここで、図７は、エッジ検出装置２０にお
けるエッジ検出処理を示すフローチャートである。以
下、上記図６及び図７を用いて具体的に説明する。尚、
上記図６に示すエッジ検出装置２０において、上記図１
に示したエッジ検出装置１０と同じ動作を示す箇所には
同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。また、
上記図７に示すフローチャートにおいて、上記図２に示
したフローチャートと同じ処理を示すステップには同一
の符号を付し、その詳細な説明を省略する。

【００５９】先ず、上述した第１の実施例と同様にし
て、グラディエント計算部１１は、入力画像Ｆ_inを取り
込む（ステップＳ１）。また、スプライン曲線発生部２
２は、輪郭の概略Ｐを座標列（ｘｎ，ｙｎ）として順次
取り込み、その座標列（ｘｎ，ｙｎ）からスプライン曲
線Ｐ（ｔ）を生成する（ステップＳ２，ステップＳ
３）。

【００６０】また、スプライン曲線発生部２２は、生成
したスプライン曲線Ｐ（ｔ）を輪郭の概略として用い、
スプライン曲線Ｐ（ｔ）上の各画素について以下の処理
を行う（ステップＳ４０）。この時、パラメータ座標生
成部１３は、曲線Ｐ（ｔ）の助変数ｔを「０」〜「１」
まで小さな刻み幅で変化させてスプライン曲線発生部１
２に対して発生する。

【００６１】尚、以下に述べるステップＳ４０の処理
は、パラメータ座標生成部１３からの少しずつ変化した
助変数ｔにより、スプライン曲線Ｐ（ｔ）上の各画素を
順にたどっていき、各画素（ｘ，ｙ）について繰り返す
ループ処理である。先ず、スプライン曲線発生部２２
は、パラメータ座標生成部１３からの助変数ｔを上述し
た「Ｐ（ｔ）＝（ｘ（ｔ），ｙ（ｔ））」の式に代入す
ることにより、対象画素（ｘ，ｙ）を求める。そして、
スプライン曲線発生部２２は、求めた対象画素（ｘ，
ｙ）をグラディエント計算部１１に供給する。

【００６２】また、スプライン曲線発生部２２は、輪郭
付近での前景と背景の３原色データの比率の変化、すな
わち色差を求める（ステップＳ４０．１）。すなわち、
図８に示すように、概略の輪郭を示すスプライン曲線Ｐ
（ｔ）上の画素Ｑ（＝（ｘ，ｙ））において、スプライ
ン曲線Ｐ（ｔ）と垂直に指定距離ｌ分離れた背景内の点
Ｑ_Bと前景内の点Ｑ_Fの２点を選択する。ここで、指定距
離ｌは、通常３〜５ピクセルとする。そして、２点
Ｑ_B，Ｑ_Fにおける色Ｃ_B，Ｃ_Fを入力画像Ｆ_inから求め、
これらの色差ｄＣをｄＣ＝Ｃ_F − Ｃ_B なる式により求める。このようにして得られた色差ｄＣ
は、補助情報としてエッジ強度計算部２３に供給され
る。

【００６３】次に、上述のようにしてスプライン曲線発
生部１２で得られた色差ｄＣを補助情報とし、その補助
情報を用いて以下に述べるエッジ検出処理を行う（ステ
ップＳ４０．２）。先ず、エッジ強度計算部２３は、ス
プライン曲線発生部１２からの色差ｄＣを用いて、対象
画素（ｘ，ｙ）における入力画像Ｆ_inの画素値Ｉ（ｘ，
ｙ）と色差ｄＣの内積値Ｉｐ（ｘ，ｙ）をＩｐ（ｘ，ｙ）＝（ｄＣ・Ｉ（ｘ，ｙ））なる式により求める。この内積値Ｉｐ（ｘ，ｙ）は、入
力画像Ｆ_inの色のうち色差ｄＣの成分のみを抽出したも
のである。

【００６４】このようにして、エッジ強度計算部２３
は、一旦内積値Ｉｐ（ｘ，ｙ）を求め、求めた内積値Ｉ
ｐ（ｘ，ｙ）の急峻な変化を検出することにより、前景
と背景の色差によって生じた色の変化のみを選択的に検
出する。そして、エッジ強度計算部２３は、検出した内
積値Ｉｐ（ｘ，ｙ）の急峻な変化、すなわちエッジ強度
Ｅ（ｘ，ｙ）をグラディエント計算部１１からのグラデ
ィエントＧのベクトルの長さの大小として、Ｅ（ｘ，ｙ）＝｜ｇｒａｄＩｐ（ｘ，ｙ）｜なる式により求める。

【００６５】上述のように、本実施例では、入力画像Ｆ
_inと補助情報である色差ｄＣの内積値Ｉｐ（ｘ，ｙ）を
求め、内積値Ｉｐ（ｘ，ｙ）の急峻な変化を検出するこ
とにより、前景と背景の色差によって生じた色の変化の
みを選択的に検出するため、前景や背景内部の色の変化
に基く不要なエッジの混入を防ぐことができる。

【００６６】また、本実施例では、概略の輪郭上の各画
素毎に補助情報である色差を求め、この補助情報を用い
てエッジを検出するため、不要なエッジが混入すること
なく必要なエッジのみを検出することができる。さら
に、オペレータにより入力された輪郭の概略から各位置
での前景と背景の色差によって生じた色の変化のみを選
択的に検出することができるため、オペレータの作業量
を増やすこと無く、手間をかけずに必要なエッジのみを
検出することができる。

【００６７】尚、上述した第１及び第２の実施例では、
輪郭の概略を表す情報がオペレータにより入力されるも
のとしたが、複数枚の時間的に連続する画像、すなわち
動画像から連続的にエッジを検出することとしてもよ
い。この場合には、上記図２及び図７に示したフローチ
ャートのステップＳ２の処理において、概略の輪郭を座
標列（ｘｎ，ｙｎ）として取り込むのではなく、現在の
処理対象の画像に対して直前の画像、直前の画像から得
られたエッジ検出の結果、及び現在の処理対象の画像の
３つの情報から現在の処理対象の画像における輪郭を推
定する。

【００６８】すなわち、図９に示すように、先ず、現在
の処理対象の画像Ｆ_Cの直前の画像Ｆ_Pに対するエッジ検
出処理の結果得られたエッジ３０上に一定間隔で画素
（以下、マークと言う）３１₁，３１₂，３１₃，・・・
を結ぶ。次に、各マーク３１₁，３１₂，３１₃，・・・
に対して、各々マークを含む小ブロックを定める。例え
ば、マーク３１₁に対しては、マーク３１₁を含む小ブロ
ック３２を定める。このようにして定めた小ブロック内
のデータと最も相関が高い部分を現在の処理対象の画像
Ｆ_C中からブロックマッチング処理により検出する。

【００６９】このブロックマッチング処理においては、
先ず、例えば、小ブロック３２内の画素値と、現在の処
理対象の画像Ｆ_C中の同じ大きさのブロック内の画素値
とを比較し、その差の総和の大小により相関の高さを決
定することにより、最も相関が高いブロック３３を検出
する。この時、ブロック３３における画素３４が小ブロ
ック３２のマーク３１₁に対応する画素となる。マーク
３１₁以外のマーク３１ ₂，３１₃，・・・に対しても同
様にして、対応する画素を現在の処理対象の画像Ｆ_C中
から検出する。

【００７０】したがって、上記図２及び図７に示したフ
ローチャートのステップＳ３の処理において、上述のよ
うにして得られた一連の対応する画素の座標列を用い
て、スプライン曲線Ｐ（ｔ）を生成する。上述のよう
に、現在の処理対象の画像と直前の画像からブロックマ
ッチング処理により連続的に輪郭を抽出し、その輪郭を
用いてエッジ検出を行うことにより、動画像に対してオ
ペレータの介在なく自動的にエッジを検出することがで
きる。また、この場合、ブロックマッチング処理に用い
る画像を現在の処理対象の画像と直前の画像のみではな
く、画像の枚数を増やしてブロックマッチング処理を行
ってもよい。これにより、ブロックの移動量の算出精度
を高めることができるため、より正確にエッジを検出す
ることができる。

【００７１】また、時間的に離れた複数の画像におい
て、上記図２及び図７に示したフローチャートのステッ
プＳ２の処理にキーフレーム法を適用してもよい。すな
わち、複数の画像についてオペレータが形状の指示を与
え、中間の画像については計算機が補間によりオペレー
タの代替を行う手法を適用してもよい。この場合には、
上記ステップＳ２の処理において、概略の輪郭をオペレ
ータが設定し、中間の画像群については、概略の輪郭上
の点群を補間し、自動的にその画像におけるスプライン
曲線を生成する。

【００７２】上述のように複数枚の画像と過去のエッジ
検出の結果を基にして現在の処理対象の画像におけるエ
ッジを検出することにより、フレーム間の相関を用いて
さらに精度良くエッジ方向又は色の変化の情報である補
助情報を求めることができる。したがって、エッジ検出
精度をさらに高めることができ、動画像におけるエッジ
検出を手間をかけずに行うことができる。

【００７３】

【発明の効果】本発明に係るエッジ検出方法では、濃淡
データで構成される入力画像データにおける各位置のエ
ッジ方向を推定する。そして、その推定した方向の情報
を補助情報とし、上記補助情報と入力画像データから画
素値が周囲と比べて急峻に変化している画素群をエッジ
として検出する。これにより、不要なエッジが混入する
こと無く、対象物体の輪郭を構成するエッジのみを検出
することができる。したがって、エッジ検出精度を高め
ることができる。

【００７４】また、本発明に係るエッジ検出方法では、
入力画像データにおける特定領域の概略図形情報から各
位置のエッジ方向を推定する。そして、その推定した方
向の情報を上記補助情報とする。これにより、少ない手
間で対象物体の輪郭を構成するエッジのみを検出するこ
とができる。

【００７５】また、本発明に係るエッジ検出方法では、
入力画像データに対して前後のフレームの画像データか
ら入力画像データにおける各位置のエッジ方向を推定す
る。そして、その推定した方向の情報を上記補助情報と
する。これにより、エッジ方向をさらに精度良く推定す
ることができるため、少ない手間でエッジ検出精度をさ
らに高めることができる。

【００７６】本発明に係るエッジ検出方法では、濃淡デ
ータで構成される入力画像データにおける各位置での３
原色データの比率の変化を推定する。そして、その推定
した３原色データの比率の変化の情報を補助情報とし、
上記補助情報と入力画像データから画素値が周囲と比べ
て急峻に変化している画素群をエッジとして検出する。
これにより、不要なエッジが混入すること無く、対象物
体の輪郭を構成するエッジのみを検出することができ
る。したがって、エッジ検出精度を高めることができ
る。

【００７７】また、本発明に係るエッジ検出方法では、
入力画像データにおける特定領域の概略図形情報から各
位置での３原色データの比率の変化を推定する。そし
て、その推定した３原色データの比率の変化の情報を上
記補助情報とする。これにより、少ない手間で対象物体
の輪郭を構成するエッジのみを検出することができる。

【００７８】また、本発明に係るエッジ検出方法では、
入力画像データに対して前後のフレームの画像データか
ら入力画像データにおける各位置での３原色データの比
率の変化を推定する。そして、その推定した３原色デー
タの比率の変化の情報を上記補助情報とする。これによ
り、３原色データの比率の変化をさらに精度良く推定す
ることができるため、少ない手間でエッジ検出精度をさ
らに高めることができる。

【００７９】本発明に係るエッジ検出装置では、推定手
段は、濃淡データで構成される入力画像データにおける
各位置のエッジ方向を推定し、その推定した方向の情報
を補助情報とする。検出手段は、上記推定手段で得られ
た補助情報と入力画像データから画素値が周囲と比べて
急峻に変化している画素群をエッジとして検出する。こ
れにより、不要なエッジが混入すること無く、対象物体
の輪郭を構成するエッジのみを検出することができる。
したがって、エッジ検出精度を高めることができる。

【００８０】また、本発明に係るエッジ検出装置では、
概略指定手段は、入力画像データにおける概略図形情報
を入力する。上記推定手段は、上記概略指定手段により
入力された概略図形情報から各位置のエッジ方向を推定
し、その推定した方向の情報を補助情報とする。これに
より、少ない手間で対象物体の輪郭を構成するエッジの
みを検出することができる。

【００８１】また、本発明に係るエッジ検出装置では、
上記推定手段は、入力画像データに対して前後のフレー
ムの画像データから各位置のエッジ方向を推定し、その
推定した方向の情報を補助情報とする。これにより、エ
ッジ方向をさらに精度良く推定することができるため、
少ない手間でエッジ検出精度をさらに高めることができ
る。

【００８２】本発明に係るエッジ検出装置では、推定手
段は、濃淡データで構成される入力画像データにおける
各位置での３原色データの比率の変化を推定し、その推
定した３原色データの比率の変化の情報を補助情報とす
る。検出手段は、上記推定手段で得られた補助情報と入
力画像データから画素値が周囲と比べて急峻に変化して
いる画素群をエッジとして検出する。これにより、不要
なエッジが混入すること無く、対象物体の輪郭を構成す
るエッジのみを検出することができる。したがって、エ
ッジ検出精度を高めることができる。

【００８３】また、本発明に係るエッジ検出装置では、
概略指定手段は、入力画像データにおける概略図形情報
を入力する。上記推定手段は、上記概略指定手段により
入力された概略図形情報から各位置ので３原色データの
比率の変化を推定し、その推定した方向の情報を補助情
報とする。これにより、少ない手間で対象物体の輪郭を
構成するエッジのみを検出することができる。

【００８４】また、本発明に係るエッジ検出装置では、
上記推定手段は、入力画像データに対して前後のフレー
ムの画像データから各位置ので３原色データの比率の変
化を推定し、その推定した方向の情報を補助情報とす
る。これにより、３原色データの比率の変化をさらに精
度良く推定することができるため、少ない手間でエッジ
検出精度をさらに高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施例に係るエッジ検出装置の構成を示
すブロック図である。

【図２】上記エッジ検出装置におけるエッジ検出処理を
示すフローチャートである。

【図３】概略の輪郭を与える曲線を説明するための図で
ある。

【図４】方向選択指数とエッジ強度の関係を示すグラフ
である。

【図５】入力画像とエッジ強度画像の関係を説明するた
めの図である。

【図６】第２の実施例に係るエッジ検出装置の構成を示
すブロック図である。

【図７】上記エッジ検出装置におけるエッジ検出処理を
示すフローチャートである。

【図８】前景と背景の色差の算出処理を説明するための
図である。

【図９】ブロックマッチング処理を説明するための図で
ある。

【図１０】特定方向のエッジを検出するソーベルフィル
タを示す略線図である。

【図１１】従来のエッジ検出方法を用いて物体内部に色
の違いがある画像のエッジ検出を行った場合の結果を説
明するための図である。

【図１２】オペレータにより入力される輪郭の概略を使
用する従来のエッジ検出方法を用いて物体内部に色の違
いがある画像のエッジ検出を行った場合の結果を説明す
るための図である。

【符号の説明】

１０エッジ検出装置１１グラディエント計算部１２スプライン曲線発生部１３パラメータ座標生成部１４エッジ強度計算部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】濃淡データで構成される入力画像データ
の中から、画素値が周囲と比べて急峻に変化している画
素群をエッジとして検出するエッジ検出方法であって、入力画像データにおける各位置のエッジ方向を推定し、
その推定した方向の情報を補助情報とし、上記補助情報
と入力画像データからエッジを検出することを特徴とす
るエッジ検出方法。
【請求項２】入力画像データにおける特定領域の概略
図形情報から各位置のエッジ方向を推定し、その推定し
た方向の情報を上記補助情報とすることを特徴とする請
求項１記載のエッジ検出方法。
【請求項３】入力画像データに対して前後のフレーム
の画像データから入力画像データにおける各位置のエッ
ジ方向を推定し、その推定した方向の情報を上記補助情
報とすることを特徴とする請求項１記載のエッジ検出方
法。
【請求項４】濃淡データで構成される入力画像データ
の中から、画素値が周囲と比べて急峻に変化している画
素群をエッジとして検出するエッジ検出方法であって、入力画像データにおける各位置での３原色データの比率
の変化を推定し、その推定した３原色データの比率の変
化の情報を補助情報とし、上記補助情報と入力画像デー
タからエッジを検出することを特徴とするエッジ検出方
法。
【請求項５】入力画像データにおける特定領域の概略
図形情報から各位置での３原色データの比率の変化を推
定し、その推定した３原色データの比率の変化の情報を
上記補助情報とすることを特徴とする請求項４記載のエ
ッジ検出方法。
【請求項６】入力画像データに対して前後のフレーム
の画像データから入力画像データにおける各位置での３
原色データの比率の変化を推定し、その推定した３原色
データの比率の変化の情報を上記補助情報とすることを
特徴とする請求項４記載のエッジ検出方法。
【請求項７】濃淡データで構成される入力画像データ
の中から、画素値が周囲と比べて急峻に変化している画
素群をエッジとして検出するエッジ検出装置であって、入力画像データにおける各位置のエッジ方向を推定し、
その推定した方向の情報を補助情報とする推定手段と、上記推定手段で得られた補助情報と入力画像データから
エッジを検出する検出手段とを備えることを特徴とする
エッジ検出装置。
【請求項８】入力画像データにおける概略図形情報を
入力する概略指定手段を備え、上記推定手段は、上記概略指定手段により入力された概
略図形情報から各位置のエッジ方向を推定し、その推定
した方向の情報を補助情報とすることを特徴とする請求
項７記載のエッジ検出装置。
【請求項９】上記推定手段は、入力画像データに対し
て前後のフレームの画像データから各位置のエッジ方向
を推定し、その推定した方向の情報を補助情報とするこ
とを特徴とする請求項７記載のエッジ検出装置。
【請求項１０】濃淡データで構成される入力画像デー
タの中から、画素値が周囲と比べて急峻に変化している
画素群をエッジとして検出するエッジ検出装置であっ
て、入力画像データにおける各位置での３原色データの比率
の変化を推定し、その推定した３原色データの比率の変
化の情報を補助情報とする推定手段と、上記推定手段で得られた補助情報と入力画像データから
エッジを検出する検出手段とを備えることを特徴とする
エッジ検出装置。
【請求項１１】入力画像データにおける概略図形情報
を入力する概略指定手段を備え、上記推定手段は、上記概略指定手段により入力された概
略図形情報から各位置ので３原色データの比率の変化を
推定し、その推定した方向の情報を補助情報とすること
を特徴とする請求項１０記載のエッジ検出装置。
【請求項１２】上記推定手段は、入力画像データに対
して前後のフレームの画像データから各位置ので３原色
データの比率の変化を推定し、その推定した方向の情報
を補助情報とすることを特徴とする請求項１０記載のエ
ッジ検出装置。