JPH0833344B2 - デンシトメ−タ - Google Patents
デンシトメ−タInfo
- Publication number
- JPH0833344B2 JPH0833344B2 JP20350986A JP20350986A JPH0833344B2 JP H0833344 B2 JPH0833344 B2 JP H0833344B2 JP 20350986 A JP20350986 A JP 20350986A JP 20350986 A JP20350986 A JP 20350986A JP H0833344 B2 JPH0833344 B2 JP H0833344B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light source
- laser
- spectroscope
- densitometer
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は薄層プレート（TLC）や電気泳動ゲルの定量
測定に用いられ、光源からの光を分光器を経て試料プレ
ートに照射し、試料プレート上に分離された物質を定量
測定するデンシトメータに関するものである。
測定に用いられ、光源からの光を分光器を経て試料プレ
ートに照射し、試料プレート上に分離された物質を定量
測定するデンシトメータに関するものである。
（従来の技術） デンシトメータには光源として連続波長の連続光源を
用い分光器によって分光して試料に光照射を行なうシス
テムと、光源としてレーザを用いるシステムとがある。
用い分光器によって分光して試料に光照射を行なうシス
テムと、光源としてレーザを用いるシステムとがある。
分解器と連続光源を用いるシステムは、 （１）任意の波長を測定光として使用でき、あらゆる場
合に使用できる、 （２）発色試薬による発色という前処理を省略できる、
というような長所をもつ反面、 （１）エネルギーの高い光源を得ることが難かしい、 （２）通常の分光器では迷光があるため、吸光度3.0以
上については測光値の直線性がない、などという短所を
もつ。
合に使用できる、 （２）発色試薬による発色という前処理を省略できる、
というような長所をもつ反面、 （１）エネルギーの高い光源を得ることが難かしい、 （２）通常の分光器では迷光があるため、吸光度3.0以
上については測光値の直線性がない、などという短所を
もつ。
一方、レーザを光源として使用するデンシトメータ
は、 （１）エネルギーの高い光を得ることができる、 （２）単色性の高い光を得ることができるため吸光度5.
0以上の測定も可能である、という長所をもつ反面、 （１）試料を前処理によって着色し、特定の波長の光を
吸収するようにしなければならない、 （２）サンプル照射光を任意の形状にすることが難かし
い、などという短所をもつ。
は、 （１）エネルギーの高い光を得ることができる、 （２）単色性の高い光を得ることができるため吸光度5.
0以上の測定も可能である、という長所をもつ反面、 （１）試料を前処理によって着色し、特定の波長の光を
吸収するようにしなければならない、 （２）サンプル照射光を任意の形状にすることが難かし
い、などという短所をもつ。
このように、分光器を用いたデンシトメータは汎用機
としての性格をもっているのに対し、レーザ光源を用い
たデンシトメータは特定物質に対する専用機としての性
格をもっているといえる。
としての性格をもっているのに対し、レーザ光源を用い
たデンシトメータは特定物質に対する専用機としての性
格をもっているといえる。
従来は連続光源と分光器を用いたデンシトメータと、
レーザを用いたデンシトメータとは互いに独立に存在し
ている。
レーザを用いたデンシトメータとは互いに独立に存在し
ている。
（発明が解決しようとする問題点） 試料プレートによっては連続光源と分光器を用いたデ
ンシトメータを使用する方が便利な場合もあり、逆にレ
ーザを用いたデンシトメータを使用する方が便利な場合
もある。しかしながら、従来は、汎用機としての性格と
専用機としての性格をともに備えたデンシトメータは存
在しないので、２種類の装置を用意しておく必要があ
る。
ンシトメータを使用する方が便利な場合もあり、逆にレ
ーザを用いたデンシトメータを使用する方が便利な場合
もある。しかしながら、従来は、汎用機としての性格と
専用機としての性格をともに備えたデンシトメータは存
在しないので、２種類の装置を用意しておく必要があ
る。
本発明は、一台のデンシトメータで、連続光源と分光
器を用いた波長可変の汎用機としての性格と、レーザ光
源を用いた専用機としての性格とをともに達成すること
を目的とするものである。
器を用いた波長可変の汎用機としての性格と、レーザ光
源を用いた専用機としての性格とをともに達成すること
を目的とするものである。
（問題点を解決するための手段） 本発明のデンシトメータでは、光源室に連続光源とレ
ーザとを備えるとともに、光源室にさらに連続光源選択
用の球面鏡とレーザ選択用の平面鏡とを切換え可能に備
え、分光器には分光素子を光路に着脱可能に備え、か
つ、分光器の出口スリットをレーザ光束より十分広い幅
に広げうる可変のものとした。
ーザとを備えるとともに、光源室にさらに連続光源選択
用の球面鏡とレーザ選択用の平面鏡とを切換え可能に備
え、分光器には分光素子を光路に着脱可能に備え、か
つ、分光器の出口スリットをレーザ光束より十分広い幅
に広げうる可変のものとした。
（実施例） 図は本発明の一実施例の光学系を表わすものである。
２は光源室であり、タングステンランプや重水素ラン
プなどの連続光源４と、レーザ６とが備えられている。
光源室２にはまた、光源切換え機構８が設けられ、光源
切換え機構８上に球面鏡10と平面鏡12が取りつけられて
いる。光源切換え機構８は回転して球面鏡10又は平面鏡
12を光源選択位置に移動させる。連続光源４を使用する
ときは、球面鏡10によって連続光源４の光を分光器14の
入口スリット16に集光させ、レーザ６を使用するときは
図のように平面鏡12でレーザ光を分光器の入口スリット
16に入射させる。
プなどの連続光源４と、レーザ６とが備えられている。
光源室２にはまた、光源切換え機構８が設けられ、光源
切換え機構８上に球面鏡10と平面鏡12が取りつけられて
いる。光源切換え機構８は回転して球面鏡10又は平面鏡
12を光源選択位置に移動させる。連続光源４を使用する
ときは、球面鏡10によって連続光源４の光を分光器14の
入口スリット16に集光させ、レーザ６を使用するときは
図のように平面鏡12でレーザ光を分光器の入口スリット
16に入射させる。
分光器14では回折格子18と平面鏡20が切換え機構22に
よって切換えることができるようになっている。入口ス
リット16から入射した光は集光鏡24を経て回折格子18又
は平面鏡20に入射され、出口スリット26から出射する。
連続光源４を使用する場合は回折格子18を用いて分光器
を構成するが、レーザ６を使用する場合は平面鏡20を用
いて全エネルギーを使用する。レーザ光は高い平行性を
もっているが、現実には多少のビームの広がりをもって
いるため、長い光路を通すと大きな光束になってしま
う。そのため、分光器14の集光鏡24により入口スリット
16の位置の像を出口スリット26に結像するようにする。
よって切換えることができるようになっている。入口ス
リット16から入射した光は集光鏡24を経て回折格子18又
は平面鏡20に入射され、出口スリット26から出射する。
連続光源４を使用する場合は回折格子18を用いて分光器
を構成するが、レーザ６を使用する場合は平面鏡20を用
いて全エネルギーを使用する。レーザ光は高い平行性を
もっているが、現実には多少のビームの広がりをもって
いるため、長い光路を通すと大きな光束になってしま
う。そのため、分光器14の集光鏡24により入口スリット
16の位置の像を出口スリット26に結像するようにする。
出口スリット26はその幅が可変であり、レーザ光を使
用する場合はその光束よりも十分広い幅を広げることに
よって、レーザ光の全エネルギーを使用する。
用する場合はその光束よりも十分広い幅を広げることに
よって、レーザ光の全エネルギーを使用する。
28は集光鏡であり、分光器の出口スリット26の像を試
料プレート30上に結像する。出口スリット26と集光鏡28
の間にはハーフミラー32が設けられている。出口スリッ
ト26を出た光の一部はハーフミラー32でモニター検出器
34に入射され、時間的エネルギー変動を補正する信号と
して利用される。
料プレート30上に結像する。出口スリット26と集光鏡28
の間にはハーフミラー32が設けられている。出口スリッ
ト26を出た光の一部はハーフミラー32でモニター検出器
34に入射され、時間的エネルギー変動を補正する信号と
して利用される。
試料プレート30に入射された光は、測定モードにより
反射光検出器36又は透過光検出器38により検出される。
反射光検出器36又は透過光検出器38により検出される。
上記の実施例は分光器に回折格子を用いた例を示して
いるが、回折格子を用いないフィルタ分光方式の場合に
も適用することができる。その場合、連続光源を用いる
ときは分光器で測定光がフィルタを透過するようにフィ
ルタを所定の位置に設置し、レーザを使用するときは測
定光がフィルタを透過しないようにフィルタを所定の位
置から除去するようにすればよい。
いるが、回折格子を用いないフィルタ分光方式の場合に
も適用することができる。その場合、連続光源を用いる
ときは分光器で測定光がフィルタを透過するようにフィ
ルタを所定の位置に設置し、レーザを使用するときは測
定光がフィルタを透過しないようにフィルタを所定の位
置から除去するようにすればよい。
（発明の効果） 本発明によれば、光源室に連続光源とレーザとを備え
て両光源を切り換えて使用できるようにし、連続光源を
使用する場合には分光器で分光素子を使用し、レーザを
使用する場合には分光器で分光素子を使用せずに全エネ
ルギーを使用するようにし、かつ、分光器の出口スリッ
トをレーザ光束より十分広い幅に広げるようにした。そ
の結果、連続光源を使用した汎用性に富む分光方式と、
レーザ光源を用いた専用性を同時に実現することができ
る。そして、測光方式やデータ処理は全く従来の汎用機
の機能と同じものを使用することができる。
て両光源を切り換えて使用できるようにし、連続光源を
使用する場合には分光器で分光素子を使用し、レーザを
使用する場合には分光器で分光素子を使用せずに全エネ
ルギーを使用するようにし、かつ、分光器の出口スリッ
トをレーザ光束より十分広い幅に広げるようにした。そ
の結果、連続光源を使用した汎用性に富む分光方式と、
レーザ光源を用いた専用性を同時に実現することができ
る。そして、測光方式やデータ処理は全く従来の汎用機
の機能と同じものを使用することができる。
図は本発明の一実施例の光学系を示す概略図である。 ２……光源室、 ４……連続光源、 ６……レーザ、 ８……切換え機構、 10……球面鏡、 12……平面鏡、 14……分光器、 18……回折格子、 20……平面鏡、 22……切換え機構、 26……出口スリット。
Claims (1)
- 【請求項１】光源室の光源からの光を分光器に経て試料
プレートに照射し、試料プレート上に分離された物質を
定量測定するデンシトメータにおいて、前記光源室に連
続光源とレーザとを備えるとともに、光源室にさらに連
続光源選択用の球面鏡とレーザ選択用の平面鏡とを切換
え可能に備え、前記分光器には分光素子を光路に着脱可
能に備え、かつ、前記分光器の出口スリットをレーザ光
束より十分広い幅に広げうる可変のものとしたデンシト
メータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20350986A JPH0833344B2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | デンシトメ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20350986A JPH0833344B2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | デンシトメ−タ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6358127A JPS6358127A (ja) | 1988-03-12 |
| JPH0833344B2 true JPH0833344B2 (ja) | 1996-03-29 |
Family
ID=16475334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20350986A Expired - Lifetime JPH0833344B2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | デンシトメ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0833344B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6927859B2 (en) * | 2001-03-08 | 2005-08-09 | The Hong Kong Polytechnic University | Microdensitometer system with micrometer resolution for reading radiochromic films |
| JP3958134B2 (ja) * | 2002-07-12 | 2007-08-15 | キヤノン株式会社 | 測定装置 |
| JP2016205889A (ja) * | 2015-04-17 | 2016-12-08 | ミツミ電機株式会社 | 分光器および生体情報測定装置 |
-
1986
- 1986-08-28 JP JP20350986A patent/JPH0833344B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6358127A (ja) | 1988-03-12 |
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