JPH08334606A - レンズ - Google Patents
レンズInfo
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- JPH08334606A JPH08334606A JP7137656A JP13765695A JPH08334606A JP H08334606 A JPH08334606 A JP H08334606A JP 7137656 A JP7137656 A JP 7137656A JP 13765695 A JP13765695 A JP 13765695A JP H08334606 A JPH08334606 A JP H08334606A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- reflected light
- optical axis
- flat portion
- parallel
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 レンズの干渉計測定に際し、レンズのティル
ト補正が容易かつ迅速に調整できるようにする。 【構成】 光軸Ａに平行な入射光Ｌに対して、第１面１
の有効径外領域１２が光軸Ａに平行な反射光Ｆ１を返す
ような形状をもち、かつ第２面２の有効径外領域２２の
フラット部２３が光軸Ａに対して非垂直面で構成してい
るため、第２面での反射光Ｆ２が、第１面での反射光Ｆ
１と干渉を起こさないような形状を持つ。
ト補正が容易かつ迅速に調整できるようにする。 【構成】 光軸Ａに平行な入射光Ｌに対して、第１面１
の有効径外領域１２が光軸Ａに平行な反射光Ｆ１を返す
ような形状をもち、かつ第２面２の有効径外領域２２の
フラット部２３が光軸Ａに対して非垂直面で構成してい
るため、第２面での反射光Ｆ２が、第１面での反射光Ｆ
１と干渉を起こさないような形状を持つ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レンズの干渉計による
波面収差の測定方法に関わり、とくに光ディスク装置に
用いられる光ピックアップ用の対物レンズまたはコリメ
ートレンズの形状に関するものである。
波面収差の測定方法に関わり、とくに光ディスク装置に
用いられる光ピックアップ用の対物レンズまたはコリメ
ートレンズの形状に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ディスク装置の性能向上のため
その基幹部品である光ピックアップに使用されるレンズ
の性能が非常に重視されてきている。レーザ光学系に用
いられるレンズの性能の測定方法として、図３に示すよ
うなフィゾー干渉計の原理に基づいて、透過波面収差を
測定する方法がよく用いられている。一般にレンズを干
渉計で測定する際、機械精度でレンズの位置調整を行う
とレンズ全体のティルトが大きくなり、特にコマ収差測
定において精度に限界がある。そこで、フィゾー干渉計
などのように被検レンズの反射光を取得できる原理の干
渉計では、平面部による反射光の干渉縞をアライメント
することによりこの平面部を光軸に垂直に配置すること
が可能である。
その基幹部品である光ピックアップに使用されるレンズ
の性能が非常に重視されてきている。レーザ光学系に用
いられるレンズの性能の測定方法として、図３に示すよ
うなフィゾー干渉計の原理に基づいて、透過波面収差を
測定する方法がよく用いられている。一般にレンズを干
渉計で測定する際、機械精度でレンズの位置調整を行う
とレンズ全体のティルトが大きくなり、特にコマ収差測
定において精度に限界がある。そこで、フィゾー干渉計
などのように被検レンズの反射光を取得できる原理の干
渉計では、平面部による反射光の干渉縞をアライメント
することによりこの平面部を光軸に垂直に配置すること
が可能である。
【０００３】以下、図面を使ってこの調整法と従来のレ
ンズを説明する。図３はフィゾー干渉計の原理を示した
模式図、図４は従来のレンズをフィゾー干渉計にかけた
場合の光路図、図５は直接反射光による干渉縞の説明
図、図６は従来のレンズによる反射光による干渉縞の説
明図である。図３において、レーザ３１から放射された
光は、偏光ビームスプリッタ３２を透過してコリメート
レンズ３３で平行ビームとなる。この平行ビームは１／
４波長板３５、透過平面３５を透過して被検レンズ３６
に照射され、その透過光は適切な位置に調整し設置され
た参照球面３７で反射される。その反射光は被検レンズ
の平面部での反射光と共に前述した光路と逆の光路を取
り、偏光ビームスプリッタ３２で反射してフォトディテ
クタ３８に照射される。フォトディテクタ３８の出力を
調整モニタ（図示せず）等に出力することで干渉縞を見
ることができる。
ンズを説明する。図３はフィゾー干渉計の原理を示した
模式図、図４は従来のレンズをフィゾー干渉計にかけた
場合の光路図、図５は直接反射光による干渉縞の説明
図、図６は従来のレンズによる反射光による干渉縞の説
明図である。図３において、レーザ３１から放射された
光は、偏光ビームスプリッタ３２を透過してコリメート
レンズ３３で平行ビームとなる。この平行ビームは１／
４波長板３５、透過平面３５を透過して被検レンズ３６
に照射され、その透過光は適切な位置に調整し設置され
た参照球面３７で反射される。その反射光は被検レンズ
の平面部での反射光と共に前述した光路と逆の光路を取
り、偏光ビームスプリッタ３２で反射してフォトディテ
クタ３８に照射される。フォトディテクタ３８の出力を
調整モニタ（図示せず）等に出力することで干渉縞を見
ることができる。
【０００４】ここで、参照球面３７を取り除き、被検レ
ンズ３６の透過光がそのまま透過したまま戻らないよう
にすると、前述のように被検レンズ３６の平面部による
反射光のみがフォトディテクタ３８に照射される。図４
において、１１はレンズの第１面１の有効径領域、１２
は有効径外領域を示し、１３はフラット部であって、レ
ンズの光軸Ａに対し垂直な面で、有効径外領域１２に設
けられている。同様に、２１はレンズの第２面２の有効
径領域、２２は有効径外領域を示し、２５はフラット部
であって、レンズの光軸Ａに対し垂直な面で、有効径外
領域２２に設けられている。
ンズ３６の透過光がそのまま透過したまま戻らないよう
にすると、前述のように被検レンズ３６の平面部による
反射光のみがフォトディテクタ３８に照射される。図４
において、１１はレンズの第１面１の有効径領域、１２
は有効径外領域を示し、１３はフラット部であって、レ
ンズの光軸Ａに対し垂直な面で、有効径外領域１２に設
けられている。同様に、２１はレンズの第２面２の有効
径領域、２２は有効径外領域を示し、２５はフラット部
であって、レンズの光軸Ａに対し垂直な面で、有効径外
領域２２に設けられている。
【０００５】このように構成された従来のレンズを、図
３に示したフィゾー干渉計によるティルト調整について
以下、図３〜図６を用いて説明する。図４のように第１
面１の有効径外領域１２にフラット部１３を設け、光軸
Ａに垂直になるよう精度良く加工したならば、図３のフ
ィゾー干渉計による調整法（但し、参照球面を除く）に
よって、フラット部１３での反射光Ｆ１による干渉縞５
（図５）が消えるように位置調整することにより、レン
ズのティルトを波長単位まで押さえることができる。
３に示したフィゾー干渉計によるティルト調整について
以下、図３〜図６を用いて説明する。図４のように第１
面１の有効径外領域１２にフラット部１３を設け、光軸
Ａに垂直になるよう精度良く加工したならば、図３のフ
ィゾー干渉計による調整法（但し、参照球面を除く）に
よって、フラット部１３での反射光Ｆ１による干渉縞５
（図５）が消えるように位置調整することにより、レン
ズのティルトを波長単位まで押さえることができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述の調整法では、干
渉縞５の消え具合が位置調整の精度を決定するため、図
５のようにクリアな状態であることが望ましい。しかし
ながら、従来のレンズでは第２面の有効径外領域２２の
フラット部２５が光軸Ａに対し垂直であるので、光軸Ａ
に平行な入射光Ｌを光軸Ａに平行に反射して、図６に示
すように第１面１のフラット部１３での反射光Ｆ１によ
る干渉縞５と、第２面２のフラット部２５での反射光Ｆ
２による偽干渉縞６が発生して、調整モニタ上では重な
って見えてしまう。この偽干渉縞６は、微少なレンズ調
整では変動しないため一目で見分けがつくが、真の干渉
縞５が完全に消えているかどうかの判定には非常な妨げ
となる。
渉縞５の消え具合が位置調整の精度を決定するため、図
５のようにクリアな状態であることが望ましい。しかし
ながら、従来のレンズでは第２面の有効径外領域２２の
フラット部２５が光軸Ａに対し垂直であるので、光軸Ａ
に平行な入射光Ｌを光軸Ａに平行に反射して、図６に示
すように第１面１のフラット部１３での反射光Ｆ１によ
る干渉縞５と、第２面２のフラット部２５での反射光Ｆ
２による偽干渉縞６が発生して、調整モニタ上では重な
って見えてしまう。この偽干渉縞６は、微少なレンズ調
整では変動しないため一目で見分けがつくが、真の干渉
縞５が完全に消えているかどうかの判定には非常な妨げ
となる。
【０００７】本発明は上記の問題点を解決するもので、
干渉縞５での調整を妨げる偽干渉縞６の発生を防ぐもの
である。
干渉縞５での調整を妨げる偽干渉縞６の発生を防ぐもの
である。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明では、レンズの光軸に平行な入射光に対して、
レンズの第１面の有効径外領域が光軸に平行な第１反射
光を返し、かつレンズの第２面の有効径外領域での第２
反射光が第１反射光と干渉を起こさないように構成した
もので、特に第２面の有効径外領域のフラット面が、光
軸に対して傾きを持つように形成されているものであ
る。
に本発明では、レンズの光軸に平行な入射光に対して、
レンズの第１面の有効径外領域が光軸に平行な第１反射
光を返し、かつレンズの第２面の有効径外領域での第２
反射光が第１反射光と干渉を起こさないように構成した
もので、特に第２面の有効径外領域のフラット面が、光
軸に対して傾きを持つように形成されているものであ
る。
【０００９】また、第２面の有効径外領域が反射光を返
さないように形成されているものである。
さないように形成されているものである。
【００１０】
【作用】本発明は上記の形状によって、第２面の有効径
外領域からの反射光が光軸と平行にならず、または反射
光が発生しないため、レンズのティルト調整に際し妨げ
となる干渉縞を防ぐことができ、調整モニタ上でよりク
リアな視界を得られる。
外領域からの反射光が光軸と平行にならず、または反射
光が発生しないため、レンズのティルト調整に際し妨げ
となる干渉縞を防ぐことができ、調整モニタ上でよりク
リアな視界を得られる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の第１の実施例について図１を
参照しながら説明する。図１において、２３は第２面２
側のフラット部であって、第２面２の有効径外領域２２
に設けられ、第１面１のフラット部１３に対し例えば５
度の傾きを持つように形成されている。その他の構成要
素は従来例と同様である。
参照しながら説明する。図１において、２３は第２面２
側のフラット部であって、第２面２の有効径外領域２２
に設けられ、第１面１のフラット部１３に対し例えば５
度の傾きを持つように形成されている。その他の構成要
素は従来例と同様である。
【００１２】このように構成された本発明のレンズを前
述したフィゾー干渉計による調整法によって測定した場
合を説明する。図１に示したように、従来例と同様、レ
ンズの第１面１の有効径外領域１２に光軸Ａに垂直なフ
ラット部１３を設けているので、光軸Ａに平行な入射光
Ｌに対して、光軸Ａに平行な反射光Ｆ１を返すのでティ
ルト調整のための干渉縞を発生させる。同時に、第２面
２の有効径外領域２２のフラット部２３は第１面１のフ
ラット部１３に対し５度の傾きを持つように形成されて
いるため、その反射光Ｆ２は光軸Ａに平行とは成らず、
レンズのティルト調整を妨げる干渉縞の発生を防ぐこと
ができる。
述したフィゾー干渉計による調整法によって測定した場
合を説明する。図１に示したように、従来例と同様、レ
ンズの第１面１の有効径外領域１２に光軸Ａに垂直なフ
ラット部１３を設けているので、光軸Ａに平行な入射光
Ｌに対して、光軸Ａに平行な反射光Ｆ１を返すのでティ
ルト調整のための干渉縞を発生させる。同時に、第２面
２の有効径外領域２２のフラット部２３は第１面１のフ
ラット部１３に対し５度の傾きを持つように形成されて
いるため、その反射光Ｆ２は光軸Ａに平行とは成らず、
レンズのティルト調整を妨げる干渉縞の発生を防ぐこと
ができる。
【００１３】このように本発明の第１の実施例による
と、第２面のフラット部による反射光が光軸に対して平
行とはならないため、フィゾー干渉計の原理から検知さ
れず偽干渉縞が発生しない。また、この第２面のフラッ
ト部はレンズ生成の課程で同時に簡単に成型できるの
で、安価にできる。以下、本発明の第２の実施例につい
て図面を用いて説明する。図２は本発明の第２の実施例
のレンズの断面図である。
と、第２面のフラット部による反射光が光軸に対して平
行とはならないため、フィゾー干渉計の原理から検知さ
れず偽干渉縞が発生しない。また、この第２面のフラッ
ト部はレンズ生成の課程で同時に簡単に成型できるの
で、安価にできる。以下、本発明の第２の実施例につい
て図面を用いて説明する。図２は本発明の第２の実施例
のレンズの断面図である。
【００１４】図２において、２４は第２面２の有効外領
域２２に設けられたフラット部であって、その表面祖度
はスリガラス状に粗く成型されており、この面で光は透
過・反射を起こさない。それ以外の構成要素は第１の実
施例と同様なものである。このように構成された第２の
実施例のレンズを前述と同様にフィゾー干渉計による測
定を行うと、光軸Ａに平行に入射された入射光Ｌは第１
面のフラット部で光軸Ａに平行に反射するが、表面祖度
が粗い第２面のフラット部では反射を起こさないため、
フィゾー干渉計では第２面の反射光による偽干渉縞が発
生しない。
域２２に設けられたフラット部であって、その表面祖度
はスリガラス状に粗く成型されており、この面で光は透
過・反射を起こさない。それ以外の構成要素は第１の実
施例と同様なものである。このように構成された第２の
実施例のレンズを前述と同様にフィゾー干渉計による測
定を行うと、光軸Ａに平行に入射された入射光Ｌは第１
面のフラット部で光軸Ａに平行に反射するが、表面祖度
が粗い第２面のフラット部では反射を起こさないため、
フィゾー干渉計では第２面の反射光による偽干渉縞が発
生しない。
【００１５】このように本発明第２の実施例によると、
第１面では平行に反射されるが、第２面では全く反射さ
れず、偽干渉縞が発生しない。また、第２の実施例では
第２面のフラット部を光軸に対して垂直面にすることも
でき、レンズ生成の金型構成が簡単になる。なお、第２
の実施例において、第２面の有効径外領域に対して反射
光が返らないように反射防止膜を施しても、第２面の有
効径外領域では反射が起こらないので同様の効果が得ら
れる。
第１面では平行に反射されるが、第２面では全く反射さ
れず、偽干渉縞が発生しない。また、第２の実施例では
第２面のフラット部を光軸に対して垂直面にすることも
でき、レンズ生成の金型構成が簡単になる。なお、第２
の実施例において、第２面の有効径外領域に対して反射
光が返らないように反射防止膜を施しても、第２面の有
効径外領域では反射が起こらないので同様の効果が得ら
れる。
【００１６】また、第１の実施例と第２の実施例を組み
合わせて、第２面の有効径外領域のフラット部を光軸に
対して角度を持たせながら、かつ反射を起こさないよう
に表面祖度を粗くするかまたは反射防止膜を塗布しても
構わない。
合わせて、第２面の有効径外領域のフラット部を光軸に
対して角度を持たせながら、かつ反射を起こさないよう
に表面祖度を粗くするかまたは反射防止膜を塗布しても
構わない。
【００１７】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、レンズの
光軸に平行な入射光に対して、レンズの第１面の有効径
外領域が光軸に平行な第１反射光を返し、かつレンズの
第２面の有効径外領域での第２反射光が第１反射光と干
渉を起こさないように構成したもので、特に第２面の有
効径外領域のフラット面が、光軸に対して傾きを持つよ
うに形成されているか、あるいは第２面の有効径外領域
が反射光を返さないように形成されているので、フィゾ
ー干渉計による調整法においても第２面の有効径外領域
からの反射光による偽干渉縞が発生せず、第１面のフラ
ット面からの反射光による真の干渉縞のみになり、波面
収差誤差の主要因であるレンズのティルトを最小限に押
さえかつ迅速な測定が可能となる。
光軸に平行な入射光に対して、レンズの第１面の有効径
外領域が光軸に平行な第１反射光を返し、かつレンズの
第２面の有効径外領域での第２反射光が第１反射光と干
渉を起こさないように構成したもので、特に第２面の有
効径外領域のフラット面が、光軸に対して傾きを持つよ
うに形成されているか、あるいは第２面の有効径外領域
が反射光を返さないように形成されているので、フィゾ
ー干渉計による調整法においても第２面の有効径外領域
からの反射光による偽干渉縞が発生せず、第１面のフラ
ット面からの反射光による真の干渉縞のみになり、波面
収差誤差の主要因であるレンズのティルトを最小限に押
さえかつ迅速な測定が可能となる。
【図１】本発明第１の実施例のレンズ形状と反射光路を
示す図
示す図
【図２】本発明第２の実施例のレンズ形状と反射光路を
示す図
示す図
【図３】フィゾー干渉計の原理を示した模式図
【図４】従来のレンズ形状と反射光路を示す図
【図５】第１面フラット部での反射光による干渉縞の模
式図
式図
【図６】第１面フラット部と第２面フラット部の反射光
による干渉縞の模式図
による干渉縞の模式図
１ 第１面 ２ 第２面 ５ 干渉縞 ６ 偽干渉縞 １２ 第１面有効径外領域 １３ 第１面側フラット部 ２２ 第２面有効径外領域 ２３ 第２面側フラット部 Ａ 光軸 Ｌ 入射光 Ｆ１ 反射光 Ｆ２ 反射光
Claims (3)
- 【請求項１】 レンズの光軸に平行な入射光に対して、
上記レンズの第１面の有効径外領域が上記光軸に平行な
第１反射光を返し、かつ上記レンズの第２面の有効径外
領域での第２反射光が上記第１反射光と干渉を起こさな
いように構成されていることを特徴とするレンズ。 - 【請求項２】 第２面の有効径外領域のフラット面が、
光軸に対して傾きを持つように形成されていることを特
徴とする請求項１に記載のレンズ。 - 【請求項３】 第２面の有効径外領域が反射光を返さな
いように形成されていることを特徴とする請求項１に記
載のレンズ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7137656A JPH08334606A (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | レンズ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7137656A JPH08334606A (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | レンズ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08334606A true JPH08334606A (ja) | 1996-12-17 |
Family
ID=15203746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7137656A Pending JPH08334606A (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | レンズ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08334606A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033229A (ja) * | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Katsura Opto Systems:Kk | 変位・チルト補正装置 |
| JP2008046051A (ja) * | 2006-08-18 | 2008-02-28 | Fujinon Corp | 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法 |
| JP2008097720A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-04-24 | Pentax Corp | 光ピックアップの光軸調整装置及び光軸調整方法 |
| JP2009168665A (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-30 | Olympus Corp | 光学素子保持機構および光学素子測定装置 |
| JP2012042395A (ja) * | 2010-08-20 | 2012-03-01 | Hoya Corp | レンズの透過波面測定装置 |
| WO2012043310A1 (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-05 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光ピックアップ装置用の対物レンズ及び光ピックアップ装置 |
-
1995
- 1995-06-05 JP JP7137656A patent/JPH08334606A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033229A (ja) * | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Katsura Opto Systems:Kk | 変位・チルト補正装置 |
| JP2008046051A (ja) * | 2006-08-18 | 2008-02-28 | Fujinon Corp | 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法 |
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| WO2012043310A1 (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-05 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光ピックアップ装置用の対物レンズ及び光ピックアップ装置 |
| JP5725033B2 (ja) * | 2010-09-30 | 2015-05-27 | コニカミノルタ株式会社 | 光ピックアップ装置用の対物レンズ及び光ピックアップ装置 |
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