JPH08334678A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH08334678A JPH08334678A JP7143067A JP14306795A JPH08334678A JP H08334678 A JPH08334678 A JP H08334678A JP 7143067 A JP7143067 A JP 7143067A JP 14306795 A JP14306795 A JP 14306795A JP H08334678 A JPH08334678 A JP H08334678A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 241001483078 Phyto Species 0.000 description 1
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/091—Digital circuits
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測距時間が長大する事態を回避する。
【構成】 アクティブ方式とパッシブ方式の双方でそれ
ぞれ測距を実施する。多数のフォトダイオード５１を用
いて為されるパッシブ方式の測距が、規定時間を越えた
ことを判断部５４で検知し、この検知結果より、測距値
選択回路４０では、アクティブ方式による測距結果を測
距値として選択する。
ぞれ測距を実施する。多数のフォトダイオード５１を用
いて為されるパッシブ方式の測距が、規定時間を越えた
ことを判断部５４で検知し、この検知結果より、測距値
選択回路４０では、アクティブ方式による測距結果を測
距値として選択する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被写体までの距離を自
動的に計測するカメラの測距装置に関する。
動的に計測するカメラの測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】このようなカメラの測距装置としては、
ＬＥＤなどの測距用光源を持ち、受光素子との組み合わ
せで被写体までの距離を計測する三角測量タイプのアク
ティブ方式が知られている。
ＬＥＤなどの測距用光源を持ち、受光素子との組み合わ
せで被写体までの距離を計測する三角測量タイプのアク
ティブ方式が知られている。
【０００３】また、別の方式の測距装置として、測距用
の光源を持たず、被写体で反射される自然光を２系統の
光学系で受光し、各光学系で得られた２つの光学像の位
相差等により、被写体までの距離を計測する三角測量タ
イプのパッシブ方式が知られている。
の光源を持たず、被写体で反射される自然光を２系統の
光学系で受光し、各光学系で得られた２つの光学像の位
相差等により、被写体までの距離を計測する三角測量タ
イプのパッシブ方式が知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】アクティブ方式の測距
装置では、被写体に向けて自ら光を投光し、その反射光
を受光して測距を行う方式であるため、外界輝度によっ
て、測距に費やされる時間も大きく変動することはな
い。
装置では、被写体に向けて自ら光を投光し、その反射光
を受光して測距を行う方式であるため、外界輝度によっ
て、測距に費やされる時間も大きく変動することはな
い。
【０００５】しかし、パッシブ方式の測距装置のうち、
被写体で反射される自然光をフォトダイオードで受光し
て測距を行うタイプでは、被写体像が比較的明るい場合
には、比較的短時間で測距が終了するが、被写体像が暗
い場合には、測距にかかる時間が長大する傾向にある。
このように、フォトダイオードを使用したパッシブ方式
の測距装置では、測距結果が被写体輝度に大きく依存す
る傾向があり、被写体輝度によって測距時間が大きく変
動するという欠点があった。
被写体で反射される自然光をフォトダイオードで受光し
て測距を行うタイプでは、被写体像が比較的明るい場合
には、比較的短時間で測距が終了するが、被写体像が暗
い場合には、測距にかかる時間が長大する傾向にある。
このように、フォトダイオードを使用したパッシブ方式
の測距装置では、測距結果が被写体輝度に大きく依存す
る傾向があり、被写体輝度によって測距時間が大きく変
動するという欠点があった。
【０００６】本発明は、このような課題を解決すべくな
されたものであり、その目的は、測距時間が長大する事
態を回避し得る測距装置を提供することにある。
されたものであり、その目的は、測距時間が長大する事
態を回避し得る測距装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】そこで、請求項１にかか
る測距装置は、被写体に向けて測距光を投光し、その反
射光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測
するアクティブ方式の第１測距手段と、被写体で反射さ
れる自然光を２系統の光学系で受光し、この各光学系で
得られた２つの光学像に基づき、被写体までの距離を計
測するパッシブ方式の第２測距手段と、第１測距手段及
び第２測距手段から得られる測距結果のうち、いずれか
一方の測距結果を選択し出力する測距値選択手段とを備
え、この測距値選択手段は、第２測距手段による測距時
間が所定時間を越えたことを検知して、第１測距手段の
測距値を選択する判断手段を備えて構成する。
る測距装置は、被写体に向けて測距光を投光し、その反
射光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測
するアクティブ方式の第１測距手段と、被写体で反射さ
れる自然光を２系統の光学系で受光し、この各光学系で
得られた２つの光学像に基づき、被写体までの距離を計
測するパッシブ方式の第２測距手段と、第１測距手段及
び第２測距手段から得られる測距結果のうち、いずれか
一方の測距結果を選択し出力する測距値選択手段とを備
え、この測距値選択手段は、第２測距手段による測距時
間が所定時間を越えたことを検知して、第１測距手段の
測距値を選択する判断手段を備えて構成する。
【０００８】請求項２にかかる測距装置では、受光した
光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサを複数配
列したフォトセンサアレイを備えて第２測距手段を構成
し、前出の判断手段では、各フォトセンサ出力の積分値
が所定の基準レベルを越えた場合に検知信号を出力する
第１の手段を各フォトセンサに対応して設けており、第
２の手段によって各検知信号が出力されるタイミングを
検知し、いずれかの検知信号が所定の時間内に検出され
ない場合に、第１測距手段の測距値を選択させる。
光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサを複数配
列したフォトセンサアレイを備えて第２測距手段を構成
し、前出の判断手段では、各フォトセンサ出力の積分値
が所定の基準レベルを越えた場合に検知信号を出力する
第１の手段を各フォトセンサに対応して設けており、第
２の手段によって各検知信号が出力されるタイミングを
検知し、いずれかの検知信号が所定の時間内に検出され
ない場合に、第１測距手段の測距値を選択させる。
【０００９】
【作用】本発明にかかる各測距装置は、アクティブ方式
の第１測距手段とパッシブ方式の第２測距手段の２種類
の測距手段を備えており、この双方で測距を実施する。
の第１測距手段とパッシブ方式の第２測距手段の２種類
の測距手段を備えており、この双方で測距を実施する。
【００１０】請求項１の測距装置では、パッシブ方式に
よる第２測距手段の測距時間が所定時間を越えたことを
判断手段が検知し、検知した場合には、アクティブ方式
の第１測距手段の測距値を選択して出力する。
よる第２測距手段の測距時間が所定時間を越えたことを
判断手段が検知し、検知した場合には、アクティブ方式
の第１測距手段の測距値を選択して出力する。
【００１１】請求項２の測距装置では、各フォトセンサ
で受光される光の強弱が、第１の手段から出力される検
知信号の検知タイミングの長短で検知される。第２の手
段は、いずれかの検知信号が所定時間内に検出されない
場合には、所定時間内にパッシブ方式による測距値が得
られないと判断し、パッシブ方式の測距を中止して、直
ちにアクティブ方式の第１測距手段の測距値を選択す
る。
で受光される光の強弱が、第１の手段から出力される検
知信号の検知タイミングの長短で検知される。第２の手
段は、いずれかの検知信号が所定時間内に検出されない
場合には、所定時間内にパッシブ方式による測距値が得
られないと判断し、パッシブ方式の測距を中止して、直
ちにアクティブ方式の第１測距手段の測距値を選択す
る。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。本実施例にかかる測距装置の概略的な構成を
図１に示す。この測距装置は、三角測量タイプのアクテ
ィブ方式の測距を実施するアクティブ測距部Ａ、及び、
同じく三角測量タイプのパッシブ方式の測距を実施する
パッシブ測距部Ｐを備え、さらに、外界輝度を検出する
輝度検出部Ｌ及び測距値選択回路４０を備えている。
説明する。本実施例にかかる測距装置の概略的な構成を
図１に示す。この測距装置は、三角測量タイプのアクテ
ィブ方式の測距を実施するアクティブ測距部Ａ、及び、
同じく三角測量タイプのパッシブ方式の測距を実施する
パッシブ測距部Ｐを備え、さらに、外界輝度を検出する
輝度検出部Ｌ及び測距値選択回路４０を備えている。
【００１３】アクティブ測距部Ａは、被写体に向かって
測距光を投光するＬＥＤ等で構成する投光部１１と、そ
の反射光を受光するＰＳＤ等で構成する受光部１２とを
備えており（図２参照）、さらに、この投光・受光結果
を基に被写体までの距離を演算する測距演算回路１３を
備えている。なお、このアクティブ測距部Ａで得られた
測距値は、測距値選択回路４０に与えられる。
測距光を投光するＬＥＤ等で構成する投光部１１と、そ
の反射光を受光するＰＳＤ等で構成する受光部１２とを
備えており（図２参照）、さらに、この投光・受光結果
を基に被写体までの距離を演算する測距演算回路１３を
備えている。なお、このアクティブ測距部Ａで得られた
測距値は、測距値選択回路４０に与えられる。
【００１４】パッシブ測距部Ｐは、被写体からの自然光
の反射光を２系統の光学系で受光する右受光部２１と左
受光部２２とを備えており（図２参照）、さらにこれら
を介して得られる２つの光学像を受光するフォトダイオ
ードアレイ５０（図４参照）、及び、その結果をもとに
被写体までの距離を演算する測距演算回路２３などを備
えている。なお、このパッシブ測距部Ｐで得られた測距
値も、測距値選択回路４０に与えられる。
の反射光を２系統の光学系で受光する右受光部２１と左
受光部２２とを備えており（図２参照）、さらにこれら
を介して得られる２つの光学像を受光するフォトダイオ
ードアレイ５０（図４参照）、及び、その結果をもとに
被写体までの距離を演算する測距演算回路２３などを備
えている。なお、このパッシブ測距部Ｐで得られた測距
値も、測距値選択回路４０に与えられる。
【００１５】輝度検出部Ｌは、図３におけるＡＥ部（自
動露出部）の構成を利用しており、露出制御用の受光素
子、例えばＣｄＳなどで構成する受光部３１、その受光
結果を基に外界輝度を演算する測光演算回路３２などで
構成している。
動露出部）の構成を利用しており、露出制御用の受光素
子、例えばＣｄＳなどで構成する受光部３１、その受光
結果を基に外界輝度を演算する測光演算回路３２などで
構成している。
【００１６】測距値選択回路４０は、この輝度検出部Ｌ
で求められた外界輝度などを基に、各測距部Ａ，Ｐで測
定された測距値のうちの一方を選択して出力する回路で
ある。
で求められた外界輝度などを基に、各測距部Ａ，Ｐで測
定された測距値のうちの一方を選択して出力する回路で
ある。
【００１７】ここで、図４にパッシブ測距部Ｐの構成を
より具体的に示す。パッシブ測距部Ｐの受光部は、複数
のフォトダイオード５１を配列させたフォトダイオード
アレイ５０で構成しており、受光した光の強弱に応じた
電流が各フォトダイオード５１から出力される。この電
流はフォトダイオード５１の接合容量に積分され、その
積分値が信号ｉとして出力される。また、各フォトダイ
オード５１に対応してコンパレータ５２が設けられてお
り、各フォトダイオード５１の出力信号ｉはコンパレー
タ５２に与えられ、ここで基準電圧Ｖref と比較され
る。コンパレータ５２では、出力信号ｉのレベルが基準
電圧Ｖref のレベルよりも大となった時点で信号Ｓを出
力し、この信号Ｓは量子化部５３に与えられる。
より具体的に示す。パッシブ測距部Ｐの受光部は、複数
のフォトダイオード５１を配列させたフォトダイオード
アレイ５０で構成しており、受光した光の強弱に応じた
電流が各フォトダイオード５１から出力される。この電
流はフォトダイオード５１の接合容量に積分され、その
積分値が信号ｉとして出力される。また、各フォトダイ
オード５１に対応してコンパレータ５２が設けられてお
り、各フォトダイオード５１の出力信号ｉはコンパレー
タ５２に与えられ、ここで基準電圧Ｖref と比較され
る。コンパレータ５２では、出力信号ｉのレベルが基準
電圧Ｖref のレベルよりも大となった時点で信号Ｓを出
力し、この信号Ｓは量子化部５３に与えられる。
【００１８】量子化部５３では、各フォトダイオード５
１から与えられる信号Ｓの応答時間を検知している。信
号Ｓの応答時間は、積分値としての信号ｉのレベルが基
準電圧Ｖref に達するまでの時間であるため、フォトダ
イオード５１で受光される光の強弱がこの信号Ｓの応答
時間の長短に変換されることになる。この信号Ｓの応答
時間は、ＣＰＵから出力されるクロックをカウントする
ことによって計測している。このようにして各フォトダ
イオード５１から出力される信号Ｓの応答時間から、受
光部で受光した被写体像のコントラストが得られる。
１から与えられる信号Ｓの応答時間を検知している。信
号Ｓの応答時間は、積分値としての信号ｉのレベルが基
準電圧Ｖref に達するまでの時間であるため、フォトダ
イオード５１で受光される光の強弱がこの信号Ｓの応答
時間の長短に変換されることになる。この信号Ｓの応答
時間は、ＣＰＵから出力されるクロックをカウントする
ことによって計測している。このようにして各フォトダ
イオード５１から出力される信号Ｓの応答時間から、受
光部で受光した被写体像のコントラストが得られる。
【００１９】なお、左側受光部２２側でも、フォトダイ
オードアレイ５０から判断部５５までは同じ構成である
ため、図４において図示は省略した。
オードアレイ５０から判断部５５までは同じ構成である
ため、図４において図示は省略した。
【００２０】量子化部５３から出力される、右側及び左
側受光部の量子化データは、判断部５４を介して演算部
５５に与えられ、ここで双方の量子化データを基に、被
写体までの距離（測距値）が算出され、その結果が測距
値選択回路４０に与えられる。パッシブ測距部Ｐでは、
このようにして測距値が求められる。
側受光部の量子化データは、判断部５４を介して演算部
５５に与えられ、ここで双方の量子化データを基に、被
写体までの距離（測距値）が算出され、その結果が測距
値選択回路４０に与えられる。パッシブ測距部Ｐでは、
このようにして測距値が求められる。
【００２１】次に、判断部５４の機能を説明する。量子
化部５３から出力される量子化データは、判断部５４を
介して演算部５５に与えらるが、この判断部５４では、
次のような判断が為される。前述したように、信号Ｓの
応答時間を、ＣＰＵから出力されるクロックをカウント
することによって計測しているが、この判断部５４で
は、各フォトダイオード５１から出力される信号Ｓの応
答時間を検知し、検知されるべき全ての信号Ｓが所定の
時間内に検知されるか否かを判断している。たとえば、
フォトダイオードアレイ５０で検出される被写体像の一
部に暗い領域があると、その部位のフォトダイオード５
１に対応する信号Ｓは、応答時間が遅くなる。一部のフ
ォトダイオード５１でもこのような応答遅れが発生する
と、このフォトダイオードアレイ５０側の測距値が得ら
れるまでの時間が長大することとなる。このため、各信
号Ｓの応答時間を検知し、１つでも規定の時間内に信号
Ｓが得られない場合には、測距演算を直ちに中止し、そ
の結果を測距値選択回路４０に伝えている。このような
場合、測距値選択回路４０では、アクティブ測距部Ａ側
の測距結果を選択する。
化部５３から出力される量子化データは、判断部５４を
介して演算部５５に与えらるが、この判断部５４では、
次のような判断が為される。前述したように、信号Ｓの
応答時間を、ＣＰＵから出力されるクロックをカウント
することによって計測しているが、この判断部５４で
は、各フォトダイオード５１から出力される信号Ｓの応
答時間を検知し、検知されるべき全ての信号Ｓが所定の
時間内に検知されるか否かを判断している。たとえば、
フォトダイオードアレイ５０で検出される被写体像の一
部に暗い領域があると、その部位のフォトダイオード５
１に対応する信号Ｓは、応答時間が遅くなる。一部のフ
ォトダイオード５１でもこのような応答遅れが発生する
と、このフォトダイオードアレイ５０側の測距値が得ら
れるまでの時間が長大することとなる。このため、各信
号Ｓの応答時間を検知し、１つでも規定の時間内に信号
Ｓが得られない場合には、測距演算を直ちに中止し、そ
の結果を測距値選択回路４０に伝えている。このような
場合、測距値選択回路４０では、アクティブ測距部Ａ側
の測距結果を選択する。
【００２２】なお、図２に本実施例にかかる測距装置を
備えたカメラの外観を示し、また、図３にその内部機構
の概略を示す。図１で示した測距演算回路１３、２３、
測光演算回路３２及び測距値選択回路４０及び判断部５
４等は、図３に示すＣＰＵ内に構成される。
備えたカメラの外観を示し、また、図３にその内部機構
の概略を示す。図１で示した測距演算回路１３、２３、
測光演算回路３２及び測距値選択回路４０及び判断部５
４等は、図３に示すＣＰＵ内に構成される。
【００２３】ここで、この測距装置の動作を図５に基づ
いて説明する。まず、被写体にカメラを向けてレリーズ
スイッチ（図３参照）がＯＮされると（＃１００）、電
源電圧が読み込まれて、電圧値のチェックが行われる
（＃１０２、＃１０４）。ここで、読み込まれた電圧値
がしきい値に満たない場合には（＃１０４で「Ｎ
Ｏ」）、撮影処理が不可能となるため、その旨を使用者
に表示や警告音等で知らせる等、所定のＮＧ処置に移行
する（＃１０６）。
いて説明する。まず、被写体にカメラを向けてレリーズ
スイッチ（図３参照）がＯＮされると（＃１００）、電
源電圧が読み込まれて、電圧値のチェックが行われる
（＃１０２、＃１０４）。ここで、読み込まれた電圧値
がしきい値に満たない場合には（＃１０４で「Ｎ
Ｏ」）、撮影処理が不可能となるため、その旨を使用者
に表示や警告音等で知らせる等、所定のＮＧ処置に移行
する（＃１０６）。
【００２４】読み込まれた電圧値がしきい値をクリアし
ている場合には（＃１０４で「Ｙｅｓ」）、輝度検出部
Ｌによって外界輝度を検出する測光処理が行われると共
に（＃１０８）、アクティブ測距部Ａにおいてアクティ
ブ方式の測距が行われる（＃１１０）。
ている場合には（＃１０４で「Ｙｅｓ」）、輝度検出部
Ｌによって外界輝度を検出する測光処理が行われると共
に（＃１０８）、アクティブ測距部Ａにおいてアクティ
ブ方式の測距が行われる（＃１１０）。
【００２５】また、同時に、パッシブ測距部Ｐにおいて
パッシブ方式の測距が行われるが、この際、前述した判
断部５４において、パッシブ測距部Ｐが規定時間内に終
了したか否かも判断される（＃１１２）。このとき、判
断部５４において、パッシブ測距部Ｐにおける測距が規
定時間内に終了しなかったと判断された場合には（＃１
１２で「Ｎｏ」）、測距値選択回路４０はアクティブ測
距部Ａの測距値（アクティブデータ）を選択し、測距デ
ータとして出力する（＃１１４）。そして、この設定さ
れた測距データを基に撮影レンズをセットするなど（＃
１１６）、以降の撮影処理は、測距値選択回路４０から
出力されるこの測距値をもとに実行される（＃１１
８）。
パッシブ方式の測距が行われるが、この際、前述した判
断部５４において、パッシブ測距部Ｐが規定時間内に終
了したか否かも判断される（＃１１２）。このとき、判
断部５４において、パッシブ測距部Ｐにおける測距が規
定時間内に終了しなかったと判断された場合には（＃１
１２で「Ｎｏ」）、測距値選択回路４０はアクティブ測
距部Ａの測距値（アクティブデータ）を選択し、測距デ
ータとして出力する（＃１１４）。そして、この設定さ
れた測距データを基に撮影レンズをセットするなど（＃
１１６）、以降の撮影処理は、測距値選択回路４０から
出力されるこの測距値をもとに実行される（＃１１
８）。
【００２６】一方、パッシブ測距部Ｐにおける測距が規
定時間内に終了した場合には（＃１１２で「Ｙｅ
ｓ」）、両測距部Ａ、Ｐにおける測距結果は、測距値選
択回路４０に与えられる。
定時間内に終了した場合には（＃１１２で「Ｙｅ
ｓ」）、両測距部Ａ、Ｐにおける測距結果は、測距値選
択回路４０に与えられる。
【００２７】次に、測距値選択回路４０では、輝度検出
部Ｌによって得られた外界輝度が、Ｌｖ１４以上の高輝
度レベルか否かが判断される（＃１２０）。外界輝度が
高い場合、アクティブ方式では受光部１２が測距光の反
射光を良好に受光できなくなり、測距精度が低下するお
それがある。一方、パッシブ方式では被写体で反射され
る自然光の光量が増大するため、測距値の信頼性は高
い。このため、輝度検出部Ｌにより得られた外界輝度が
Ｌｖ１４以上の場合（＃１２０で「Ｎｏ」）、測距値選
択回路４０は、パッシブ測距部Ｐの測距値（パッシブデ
ータ）を選択し測距データとして出力する（＃１２
２）。そして、この設定された測距データを基に撮影レ
ンズをセットするなど（＃１１６）、以降の撮影処理
は、測距値選択回路４０から出力されるこの測距値をも
とに実行される（＃１１８）。
部Ｌによって得られた外界輝度が、Ｌｖ１４以上の高輝
度レベルか否かが判断される（＃１２０）。外界輝度が
高い場合、アクティブ方式では受光部１２が測距光の反
射光を良好に受光できなくなり、測距精度が低下するお
それがある。一方、パッシブ方式では被写体で反射され
る自然光の光量が増大するため、測距値の信頼性は高
い。このため、輝度検出部Ｌにより得られた外界輝度が
Ｌｖ１４以上の場合（＃１２０で「Ｎｏ」）、測距値選
択回路４０は、パッシブ測距部Ｐの測距値（パッシブデ
ータ）を選択し測距データとして出力する（＃１２
２）。そして、この設定された測距データを基に撮影レ
ンズをセットするなど（＃１１６）、以降の撮影処理
は、測距値選択回路４０から出力されるこの測距値をも
とに実行される（＃１１８）。
【００２８】一方、外界輝度がＬｖ１４以下の場合には
（＃１２０で「Ｙｅｓ」）、さらに外界輝度がＬｖ３以
下の低い輝度が否かが判断される（＃１２４）。外界輝
度が低い場合、パッシブ方式では自然光の反射光量が少
なく信頼性に欠けるが、アクティブ方式では受光部１２
において測距光の反射光が良好に検出されるため測距値
の信頼性は高い。このため、輝度検出部Ｌにより得られ
た外界輝度がＬｖ３以下の場合（＃１２４で「Ｎ
ｏ」）、測距値選択回路４０はアクティブ測距部Ａの測
距値（アクティブデータ）を選択し、測距データとして
出力する（＃１１４）。そして、以降の撮影処理は、測
距値選択回路４０から出力されるこの測距値をもとに実
行される（＃１１６、＃１１８）。
（＃１２０で「Ｙｅｓ」）、さらに外界輝度がＬｖ３以
下の低い輝度が否かが判断される（＃１２４）。外界輝
度が低い場合、パッシブ方式では自然光の反射光量が少
なく信頼性に欠けるが、アクティブ方式では受光部１２
において測距光の反射光が良好に検出されるため測距値
の信頼性は高い。このため、輝度検出部Ｌにより得られ
た外界輝度がＬｖ３以下の場合（＃１２４で「Ｎ
ｏ」）、測距値選択回路４０はアクティブ測距部Ａの測
距値（アクティブデータ）を選択し、測距データとして
出力する（＃１１４）。そして、以降の撮影処理は、測
距値選択回路４０から出力されるこの測距値をもとに実
行される（＃１１６、＃１１８）。
【００２９】測距値選択回路４０は、このように外界輝
度がＬｖ１４以上の高輝度レベルか、或いはＬｖ３以下
の低輝度レベルの場合には、それぞれ前述したように直
ちに一方の測距値を選択するが、輝度レベルが３＜Ｌｖ
＜１４の中間輝度レベルの場合には、さらに以下の値に
基づいて判断する。
度がＬｖ１４以上の高輝度レベルか、或いはＬｖ３以下
の低輝度レベルの場合には、それぞれ前述したように直
ちに一方の測距値を選択するが、輝度レベルが３＜Ｌｖ
＜１４の中間輝度レベルの場合には、さらに以下の値に
基づいて判断する。
【００３０】測距値選択回路４０は、アクティブ測距部
Ａの測距結果、被写体までの距離が３ｍより近いか否か
を判断する（＃１２６）。これは、アクティブ方式が被
写体に向けて測距光を投光しその反射光を受光する方式
であるため、測距光の投光距離には限界があり、被写体
までの距離が遠いと反射光が十分に得られず、測距精度
が低下したり、測距不能となる場合も生じる。このた
め、測距値選択回路４０は、アクティブ測距部Ａの測距
結果が３ｍより近い場合には（＃１２６で「Ｙｅ
ｓ」）、測距値選択回路４０は、より信頼性の高いアク
ティブ測距部Ａの測距値（アクティブデータ）を選択
し、測距データとして出力する（＃１１４）。そして、
以降の撮影処理は、測距値選択回路４０から出力される
この測距値をもとに実行される（＃１１６、＃１１
８）。一方、アクティブ測距部Ａの測距結果が３ｍ以遠
の場合には（＃１２６で「Ｎｏ」）、パッシブ測距部Ｐ
の測距値の測距値（パッシブデータ）を選択し測距デー
タとして出力する（＃１２２）。以降の撮影処理は、測
距値選択回路４０から出力される測距値をもとに実行さ
れる（＃１１６、＃１１８）。
Ａの測距結果、被写体までの距離が３ｍより近いか否か
を判断する（＃１２６）。これは、アクティブ方式が被
写体に向けて測距光を投光しその反射光を受光する方式
であるため、測距光の投光距離には限界があり、被写体
までの距離が遠いと反射光が十分に得られず、測距精度
が低下したり、測距不能となる場合も生じる。このた
め、測距値選択回路４０は、アクティブ測距部Ａの測距
結果が３ｍより近い場合には（＃１２６で「Ｙｅ
ｓ」）、測距値選択回路４０は、より信頼性の高いアク
ティブ測距部Ａの測距値（アクティブデータ）を選択
し、測距データとして出力する（＃１１４）。そして、
以降の撮影処理は、測距値選択回路４０から出力される
この測距値をもとに実行される（＃１１６、＃１１
８）。一方、アクティブ測距部Ａの測距結果が３ｍ以遠
の場合には（＃１２６で「Ｎｏ」）、パッシブ測距部Ｐ
の測距値の測距値（パッシブデータ）を選択し測距デー
タとして出力する（＃１２２）。以降の撮影処理は、測
距値選択回路４０から出力される測距値をもとに実行さ
れる（＃１１６、＃１１８）。
【００３１】このように本実施例にかかる測距装置は、
アクティブ測距部Ａとパッシブ測距部Ｐでそれぞれ得ら
れた測距値のうち、より信頼性の高い測距値を選択する
こととができ、しかも、測距時間が長大する事態を回避
することができる。
アクティブ測距部Ａとパッシブ測距部Ｐでそれぞれ得ら
れた測距値のうち、より信頼性の高い測距値を選択する
こととができ、しかも、測距時間が長大する事態を回避
することができる。
【００３２】上記した実施例では、量子化部５３から出
力される量子化データを、判断部５４で判断する例を示
したが、この他にも、例えば、量子化部５３の全段に判
断部５４を配して、与えられる信号Ｓの応答遅れを検知
し、或は、演算部５５の後段に判断部５４を配し、演算
結果が所定の時間内に得られない場合を検知するなど、
各コンパレータから出力される信号Ｓの遅れを検知でき
得る箇所であれば、特に限定するものではない。
力される量子化データを、判断部５４で判断する例を示
したが、この他にも、例えば、量子化部５３の全段に判
断部５４を配して、与えられる信号Ｓの応答遅れを検知
し、或は、演算部５５の後段に判断部５４を配し、演算
結果が所定の時間内に得られない場合を検知するなど、
各コンパレータから出力される信号Ｓの遅れを検知でき
得る箇所であれば、特に限定するものではない。
【００３３】また、上記した実施例では、外界輝度を輝
度検出部Ｌにおいて検出する例を示したが、この他に
も、図６に示すように、パッシブ測距部Ｐの各受光部２
１、２２の受光結果を基に、測光・測距演算回路２４に
よって外界輝度を求めることも可能である。
度検出部Ｌにおいて検出する例を示したが、この他に
も、図６に示すように、パッシブ測距部Ｐの各受光部２
１、２２の受光結果を基に、測光・測距演算回路２４に
よって外界輝度を求めることも可能である。
【００３４】本実施例では、アクティブ測距を行った後
にパッシブ測距を行っているが、パッシブ測距を先に実
施することも可能である。この場合は、パッシブ測距に
よる測距値が所定時間内に得られない時には、直ちにパ
ッシブ測距を中止し、アクティブ測距を行うようにす
る。
にパッシブ測距を行っているが、パッシブ測距を先に実
施することも可能である。この場合は、パッシブ測距に
よる測距値が所定時間内に得られない時には、直ちにパ
ッシブ測距を中止し、アクティブ測距を行うようにす
る。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１にかかる
測距装置では、第２測距手段による測距時間が所定時間
を越えたことを判断手段によって検知し、前記第１測距
手段の測距値を選択することとした。このため、被写体
像の輝度が低い場合など、パッシブ方式の測距に長い時
間が費やされる場合にも、アクティブ方式の測距値を直
ちに選択できるため、被写体輝度の大小に依らず、測距
時間が長大する事態を回避することが可能となる。
測距装置では、第２測距手段による測距時間が所定時間
を越えたことを判断手段によって検知し、前記第１測距
手段の測距値を選択することとした。このため、被写体
像の輝度が低い場合など、パッシブ方式の測距に長い時
間が費やされる場合にも、アクティブ方式の測距値を直
ちに選択できるため、被写体輝度の大小に依らず、測距
時間が長大する事態を回避することが可能となる。
【図１】本実施例にかかる測距装置の構成を概略的に示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】本実施例にかかる測距装置を備えたカメラを示
す正面図である。
す正面図である。
【図３】カメラ内部の構成を概略的に示すブロック図で
ある。
ある。
【図４】パッシブ測距部の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図５】本実施例の測距装置の動作を示すフローチャー
トである。
トである。
【図６】測距装置の他の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
Ａ…アクティブ測距部（第１測距手段）、Ｐ…パッシブ
測距部（第２測距手段）、Ｌ…輝度検出部、４０…測距
値選択回路、５０…フォトダイオードアレイ、５１…フ
ィトダイオード、５４…判断部。
測距部（第２測距手段）、Ｌ…輝度検出部、４０…測距
値選択回路、５０…フォトダイオードアレイ、５１…フ
ィトダイオード、５４…判断部。
Claims (2)
- 【請求項１】 被写体に向けて測距光を投光し、その反
射光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測
するアクティブ方式の第１測距手段と、 前記被写体で反射される自然光を２系統の光学系で受光
し、この各光学系で得られた２つの光学像に基づき、前
記被写体までの距離を計測するパッシブ方式の第２測距
手段と、 前記第１測距手段及び第２測距手段から得られる測距結
果のうち、いずれか一方の測距結果を選択し出力する測
距値選択手段とを備えており、 前記測距値選択手段は、 前記第２測距手段による測距時間が所定時間を越えたこ
とを検知して、前記第１測距手段の測距値を選択する判
断手段を備える測距装置。 - 【請求項２】 前記第２測距手段は、受光した光の強度
に応じた信号を出力するフォトセンサを複数配列したフ
ォトセンサアレイを備えており、 前記判断手段は、 前記フォトセンサ出力の積分値が所定の基準レベルを越
えた場合に検知信号を出力する手段であって、前記各フ
ォトセンサに対応して個々に設けられた複数の第１の手
段と、 前記各第１の手段から前記検知信号が出力されるタイミ
ングを検知し、いずれかの前記検知信号が前記所定時間
内に検出されない場合に、前記第１測距手段の測距値を
選択する第２の手段とを備える請求項１記載の測距装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7143067A JPH08334678A (ja) | 1995-06-09 | 1995-06-09 | 測距装置 |
| US08/657,906 US5655160A (en) | 1995-06-09 | 1996-06-07 | Distance measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7143067A JPH08334678A (ja) | 1995-06-09 | 1995-06-09 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08334678A true JPH08334678A (ja) | 1996-12-17 |
Family
ID=15330155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7143067A Pending JPH08334678A (ja) | 1995-06-09 | 1995-06-09 | 測距装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5655160A (ja) |
| JP (1) | JPH08334678A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001330767A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | 測距装置 |
| US6718133B2 (en) | 2001-01-24 | 2004-04-06 | Olympus Optical Co., Ltd. | Measuring distance device |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3120956B2 (ja) * | 1995-06-14 | 2000-12-25 | 富士写真光機株式会社 | 測距装置 |
| JP3872841B2 (ja) * | 1996-06-04 | 2007-01-24 | オリンパス株式会社 | 測距装置 |
| JPH11326744A (ja) * | 1998-05-18 | 1999-11-26 | Minolta Co Ltd | オートフォーカスカメラ |
| JP4002680B2 (ja) * | 1998-07-15 | 2007-11-07 | オリンパス株式会社 | 測距装置付きカメラ |
| US6867808B1 (en) | 1999-03-19 | 2005-03-15 | Scott T. Boden | Time domain imager |
| JP4350207B2 (ja) * | 1999-06-01 | 2009-10-21 | オリンパス株式会社 | 測距装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56101111A (en) * | 1980-01-14 | 1981-08-13 | Mamiya Koki Kk | Automatic focus adjustment method |
| US4592638A (en) * | 1983-09-03 | 1986-06-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Automatic focus adjusting device |
| JPS6060616A (ja) * | 1983-09-13 | 1985-04-08 | Canon Inc | 自動焦点調節装置 |
-
1995
- 1995-06-09 JP JP7143067A patent/JPH08334678A/ja active Pending
-
1996
- 1996-06-07 US US08/657,906 patent/US5655160A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001330767A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | 測距装置 |
| US6718133B2 (en) | 2001-01-24 | 2004-04-06 | Olympus Optical Co., Ltd. | Measuring distance device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5655160A (en) | 1997-08-05 |
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