JPH083920B2 - Magneto-optical recording medium - Google Patents

Magneto-optical recording medium

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JPH083920B2
JPH083920B2 JP63160434A JP16043488A JPH083920B2 JP H083920 B2 JPH083920 B2 JP H083920B2 JP 63160434 A JP63160434 A JP 63160434A JP 16043488 A JP16043488 A JP 16043488A JP H083920 B2 JPH083920 B2 JP H083920B2
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magneto
protective layer
optical recording
jis
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喜光 小林
欣幸 城阪
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光学的記録に用いる光磁気記録媒体に関す
る。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a magneto-optical recording medium used for optical recording.

(従来の技術とその課題) 光メモリー素子の中でも追加記録、消去が可能なイレ
ーザブル型メモリーは、光磁気記録方式が最も実用化に
近い段階にいる。光磁気記録媒体の記録層としては総合
的な特性から見て、現在の所、希土類・遷移金属薄膜が
多く用いられている。
(Prior art and its problems) Among optical memory elements, an erasable type memory capable of additionally recording and erasing is at the stage where the magneto-optical recording method is most practically used. As a recording layer of a magneto-optical recording medium, a rare earth / transition metal thin film is currently widely used in view of its comprehensive characteristics.

従来こういった光磁気記録媒体は2枚を接着層を介し
て貼り合わせることが多かった。しかし最近媒体の簡素
化また磁界変調方式の為等で媒体を単板のまま用いたい
という要望が強い。
In the past, two such magneto-optical recording media were often attached via an adhesive layer. However, recently there is a strong demand for using the medium as a single plate due to the simplification of the medium and the magnetic field modulation method.

媒体を単板で用いる際はその耐擦傷性を上げる為に何
らかの保護層を媒体上に設ける必要がある。従来こうい
った保護層としては硬度の高いもの例えばシリコーン系
のハードコーティング材等が用いられてきた。
When the medium is used as a single plate, it is necessary to provide a protective layer on the medium in order to improve scratch resistance. Conventionally, a material having a high hardness, such as a silicone-based hard coating material, has been used as the protective layer.

しかし、こういった高硬度の保護層は一般に応力が非
常に高く媒体にクラック、応力腐食を発生し易い。
However, such a high hardness protective layer generally has a very high stress and is apt to cause cracks and stress corrosion in the medium.

また、十分に透湿度が小さくない為水分による媒体の
腐食も無視できないことが多い。
In addition, since the moisture vapor transmission rate is not sufficiently small, the corrosion of the medium due to water is often not negligible.

本発明者等は上述の欠点を克服すべく鋭意検討した結
果二種類の異なる性質を持った膜で保護層を形成するこ
とにより耐擦傷と耐食性を兼ねそなえた光磁気記録媒体
を得られることを見出した。
The present inventors have conducted diligent studies to overcome the above-mentioned drawbacks and found that a magneto-optical recording medium having both scratch resistance and corrosion resistance can be obtained by forming a protective layer with a film having two different properties. I found it.

(発明の構成) 本発明の要旨は、少くとも基板、光磁気記録層を有す
る光磁気記録媒体において記録層上にJIS K 6301で規定
された100%引張応力が50kgf/cm2以下でありかつJIS Z
0208で規定された透湿度が24時間で20g/m2以下である中
間保護層、JIS K 5400規定による鉛筆硬度試験でH以上
の硬度を有する表面保護層を順に積層したことを特徴と
する光磁気ディスクに存する。
(Structure of the invention) The gist of the present invention is at least a substrate, in a magneto-optical recording medium having a magneto-optical recording layer, 100% tensile stress specified by JIS K 6301 on the recording layer is 50 kgf / cm 2 or less, and JIS Z
[0208] An intermediate protective layer having a moisture permeability of 20 g / m 2 or less in 24 hours specified by 0208, and a surface protective layer having a hardness of H or more in a pencil hardness test according to JIS K 5400, which are sequentially laminated. It exists on a magnetic disk.

以下、本発明を詳細に説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail.

まず、本発明において用いられる基板としては、ガラ
ス、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチ
ック、又はガラス上に溝つき樹脂を形成した基板等が挙
げられる。
First, examples of the substrate used in the present invention include glass, plastic such as acrylic resin and polycarbonate resin, or a substrate in which a grooved resin is formed on glass.

基板の厚みは1〜2mm程度が一般的である。 The substrate generally has a thickness of about 1 to 2 mm.

光磁気記録層としては、たとえば、TbFe、TbFeCo、Tb
Co、DyFeCoなどの希土類と遷移金属の非晶質磁性合金、
MnBi、MnCuBiなどの多結晶垂直磁化膜等が用いられる。
光磁気記録層としては単一の層を用いても良いし、GdTd
Fe/TbFeのように2層以上の記録層を重ねても良い。
Examples of the magneto-optical recording layer include TbFe, TbFeCo, and Tb.
Amorphous magnetic alloys of rare earths and transition metals such as Co and DyFeCo,
A polycrystalline perpendicular magnetization film such as MnBi or MnCuBi is used.
A single layer may be used as the magneto-optical recording layer, or GdTd
Two or more recording layers such as Fe / TbFe may be stacked.

本発明においては光磁気記録層の上に中間保護層及び
表面保護層を設ける中間保護層としは、JIS K 6301で規
定された100%引張応力が50kgf/cm2以下で、かつJIS Z
0208で規定された透湿度が24時間で20g/m2以下のものが
用いられる。好ましくは上記規定の100%引張応力30kgf
/cm2以下、かつ上記規定の透湿度が24時間で10g/m2以下
の有機物が良好な結果をもたらす。
In the present invention, the intermediate protective layer provided with the intermediate protective layer and the surface protective layer on the magneto-optical recording layer, the 100% tensile stress specified in JIS K 6301 is 50 kgf / cm 2 or less, and JIS Z
A material having a moisture permeability specified by 0208 of 20 g / m 2 or less for 24 hours is used. Preferably 100% tensile stress 30kgf specified above
/ cm 2 or less, and moisture permeability of the provisions is 10 g / m 2 or less of organic matter 24 hours gives good results.

このような有機物としては炭化水素系ポリオールを使
用するポリウレタンが好ましく採用される。
As such an organic material, polyurethane using a hydrocarbon polyol is preferably adopted.

このポリウレタンとしては、吸湿性の低い炭化水素系
ポリオールを主成分とし、イソシアネート化合物をNCO/
OH=0.8〜1.3好ましくはNCO/OH=0.9〜1.1となるような
配分比で混合し、硬化せしめたものが好ましい。
As the polyurethane, a hydrocarbon-based polyol having low hygroscopicity is used as a main component, and an isocyanate compound is NCO /
OH = 0.8 to 1.3, preferably NCO / OH = 0.9 to 1.1, preferably mixed and distributed in a distribution ratio so as to be cured.

このような炭化水素系ポリオールは公知の、例えば特
開昭50−90694号に記載のブタジエンポリマーを水添す
る等の方法により、また、これを用いたポリウレタンは
公知の、例えば特開昭50−142695号に記載の、上記ポリ
オールにポリイソシアネートを反応させる等の方法によ
り容易に製造される。
Such a hydrocarbon-based polyol is known, for example, by a method such as hydrogenating a butadiene polymer described in JP-A-50-90694, and a polyurethane using this is known, for example, JP-A-50- It is easily produced by the method described in No. 142695, such as reacting the above polyol with polyisocyanate.

この中間保護法の設けることで媒体の耐蝕性は大きく
向上する。すなわち内部応力が低いので媒体にクラック
や反りを生じさせず、また透湿性が低いので水分による
腐食を強く抑えられる。
By providing this intermediate protection method, the corrosion resistance of the medium is greatly improved. That is, since the internal stress is low, cracks and warpage of the medium do not occur, and the moisture permeability is low, so corrosion due to moisture can be strongly suppressed.

中間保護法の膜厚は1μm〜200μm好ましくは3μ
m〜100μm程度である。
The film thickness of the intermediate protection method is 1 μm to 200 μm, preferably 3 μm
It is about m to 100 μm.

しかしこういった中間保護層は軟らかいため容易にキ
ズつきやすく、表面保護層としての性質は兼ね備えてい
ないので、中間層の上に表面保護層を設ける必要があ
る。
However, since such an intermediate protective layer is soft and easily scratched, and does not have the property as a surface protective layer, it is necessary to provide a surface protective layer on the intermediate layer.

表面保護層としてはJIS K 5400規定による鉛筆硬度試
験でH以上の硬度を有する化合物がキズ防止の観点から
有効で、この条件を満たす限り任意の化合物が使用でき
るが工程の簡便さから、スピンコート法等の塗布法で塗
布できるものが好ましい。スピンコート法その他通常の
塗布法で成膜できる表面保護層を形成する材料として
は、シリコーン系、アクリル系、メラミン系、エポキシ
系などの熱硬化型樹脂、アルキルトリアルコキシシラ
ン、テトラアルコキシシラン等の部分共加水分解物や、
それらにコロイダルシリカを配合したシリコーン系ハー
ドコーティング剤、およびアクリレート系等の光重合系
フォトポリマー、光架橋性フォトポリマー、アジド系フ
ォトポリマー等がある。
As the surface protective layer, a compound having a hardness of H or more in a pencil hardness test according to JIS K 5400 is effective from the viewpoint of preventing scratches, and any compound can be used as long as this condition is satisfied, but spin coating is used because of the simplicity of the process. What can be applied by a coating method such as a coating method is preferable. Examples of the material for forming the surface protective layer that can be formed by a spin coating method or other ordinary coating methods include thermosetting resins such as silicone-based, acrylic-based, melamine-based, and epoxy-based resins, alkyltrialkoxysilane, and tetraalkoxysilane. Partial co-hydrolysate,
There are silicone-based hard coating agents in which colloidal silica is blended therein, and photopolymerizable photopolymers such as acrylates, photocrosslinkable photopolymers, and azide-based photopolymers.

これらの表面保護層の膜厚は、1μm〜200μm好ま
しくは、2μm〜100μm程度である。
The thickness of these surface protective layers is from 1 μm to 200 μm, preferably from 2 μm to 100 μm.

上記基板と光磁気記録層の間に干渉層を設けることも
できる。この層は高屈折率の透明膜による光の干渉効果
を用い反射率を落とすことでノイズを低下させC/N比を
向上させるためのものである。干渉層は単層膜でも多層
膜でもよい。干渉層としては金属酸化物や金属窒化物が
用いられる。金属酸化物としてはAl2O3、Ta2O5、SiO2
SiO、TiO等の金属酸化物単独あるいはこれらの混合物、
あるいはAl−Ta−Oの複合酸化物等が挙げられる。また
更にこれらに他の元素、例えばTi、Zr、W、Mo、Yb等が
酸化物の形で単独あるいはAl、Taと複合して酸化物を形
成していてもよい。これらの金属酸化物は緻密で外部か
らの水分や酸素の侵入を防ぎ、耐食性が高く反射層との
反応性も小さく、また基板として樹脂基板を使用する場
合にも樹脂との密着性に優れる。
An interference layer may be provided between the substrate and the magneto-optical recording layer. This layer is used to reduce the noise and improve the C / N ratio by lowering the reflectance by using the light interference effect of the transparent film having a high refractive index. The interference layer may be a single layer film or a multilayer film. A metal oxide or a metal nitride is used as the interference layer. As the metal oxide, Al 2 O 3 , Ta 2 O 5 , SiO 2 ,
Metal oxides such as SiO and TiO alone or a mixture thereof,
Alternatively, an Al-Ta-O composite oxide or the like may be used. Further, other elements such as Ti, Zr, W, Mo, and Yb may be used alone or in combination with Al and Ta to form an oxide. These metal oxides are dense and prevent invasion of moisture and oxygen from the outside, have high corrosion resistance and low reactivity with the reflective layer, and have excellent adhesion to the resin when a resin substrate is used as the substrate.

金属窒化物としては窒化シリコン、窒化アルミニウム
等が挙げられるが、これらの金属窒化物は緻密で外部か
らの水分や酸素の侵入を防ぐ、特に窒化シリコンを用い
て良好である。
Examples of the metal nitride include silicon nitride and aluminum nitride. These metal nitrides are dense and prevent moisture and oxygen from entering from the outside, and silicon nitride is particularly preferable.

窒化シリコンのSiとNの比率はNが多すぎれば膜の屈
折率が低下し緻密性も悪くなる。またNが少なすぎれ
ば、膜に吸収を生じキャリアレベルの低下をもたらす、
従ってSiとNとの比は化学量論的組成比(Si3N4)もし
くはそれより多少Siが多い状態が好ましい。具体的に
は、SiとNの原子比はSi/Nで0.75〜1.0の範囲が良い。
窒化シリコンの屈折率は633nmの波長で測定したときの
複素屈折率(n*)をn*=n−iK(iは虚数を表す)とし
たとき2.0≦n≦2.5でかつ0<K<0.2の範囲であるの
が良い。
If the ratio of Si and N in silicon nitride is too large, the refractive index of the film will be lowered and the denseness will be poor. On the other hand, if N is too small, absorption is caused in the film and the carrier level is lowered.
Therefore, the ratio of Si to N is preferably a stoichiometric composition ratio (Si 3 N 4 ) or a state in which Si is slightly larger than that. Specifically, the atomic ratio of Si and N is preferably 0.75 to 1.0 in Si / N.
The refractive index of silicon nitride is 2.0 ≦ n ≦ 2.5 and 0 <K <0.2, where n * = n−iK (i represents an imaginary number) is the complex refractive index (n * ) measured at a wavelength of 633 nm. The range is good.

干渉層としては特に酸化タンタルを用いて良好であ
る。
Tantalum oxide is particularly preferable as the interference layer.

酸化タンタルの干渉層は窒化物からなる干渉層に比べ
内部応力が小さくクラックの入る確立ははるかに小さく
なる。
The tantalum oxide interference layer has a smaller internal stress than a nitride interference layer, and the probability of cracking is much smaller.

酸化タンタルの組成は化学量論的組成比(Ta2O5)に
近い組成が好ましい。過剰な酸素は記録層の酸化をもた
らすことになる。また、酸素が不足している場合には未
酸化部分に腐食が集中し、ピンホールが発生し易くな
る。
The composition of tantalum oxide is preferably a composition close to the stoichiometric composition ratio (Ta 2 O 5 ). Excess oxygen will lead to oxidation of the recording layer. Further, when oxygen is insufficient, corrosion concentrates on the unoxidized portion and pinholes are easily generated.

好ましい酸化状態での屈折率は633nmの波長で測定し
たときの複素屈折率をn*=n−iKとしたとき2.0≦n≦
2.2でかつ|K|<0.15の範囲である。
The refractive index in the preferred oxidation state is 2.0 ≦ n ≦ when the complex refractive index measured at a wavelength of 633 nm is n * = n−iK.
2.2 and | K | <0.15.

この干渉層の膜厚は屈折率により最適膜厚が異なる
が、通常400Å〜1500Å程度、特に500〜1000Å程度が適
当である。
The optimum film thickness of the interference layer varies depending on the refractive index, but is usually about 400Å to 1500Å, particularly about 500 to 1000Å.

反射型の光磁気記録媒体とする場合には記録層上すな
わち記録層と最外層有機保護層との間に反射層を設け
る。反射層は一般的には高反射率の物質が考えられ、A
u、Ag、Pt、Cu、AlまたはAlの合金等の薄膜を用いる。
In the case of a reflective type magneto-optical recording medium, a reflective layer is provided on the recording layer, that is, between the recording layer and the outermost organic protective layer. The reflective layer is generally considered to be a substance with high reflectance.
A thin film of u, Ag, Pt, Cu, Al or an alloy of Al is used.

特にAlまたはAlの合金が好ましく、更にこれらにTa、
Ti、Zr、Mo、Pt、V、Cr、Pbの少なくとも1種を0.1〜1
5原子%程度好ましくは1〜10原子%程度添加した合金
は高反射率であり、熱伝導度も低く高C/N比、感度共に
良好な特性をもたらす。
In particular, Al or an alloy of Al is preferable, and Ta,
0.1 to 1 of at least one of Ti, Zr, Mo, Pt, V, Cr and Pb
The alloy added with about 5 atom%, preferably about 1-10 atom%, has a high reflectance, a low thermal conductivity and a high C / N ratio and good sensitivity.

反射層を設ける場合その膜厚は通常100〜1000Å、好
ましくは200〜600Å程度である。厚すぎた場合感度が低
下し、薄すぎる場合には反射率が低下し、C/N比も落ち
る。
When the reflective layer is provided, its thickness is usually 100 to 1000Å, preferably about 200 to 600Å. If it is too thick, the sensitivity will decrease, and if it is too thin, the reflectance will decrease and the C / N ratio will also decrease.

反射層上に更に金属酸化物や金属窒化物からなる保護
層を設けても良い。金属酸化物や金属窒化物は前述した
干渉層として用いたものがそのまま用いられる。
A protective layer made of a metal oxide or a metal nitride may be further provided on the reflective layer. As the metal oxide and the metal nitride, those used as the above-mentioned interference layer are used as they are.

また、保護層として金属酸化物を用いた場合等反射層
が酸化されることが考えられるが、AlまたはAl合金の反
射層は表面に強固な酸化皮膜を形成するため深さ数十Å
以上の酸化は起こらない。
In addition, when a metal oxide is used as the protective layer, the reflective layer may be oxidized, but the reflective layer of Al or Al alloy forms a strong oxide film on the surface and has a depth of tens of Å.
The above oxidation does not occur.

この保護層の膜厚は厚いほど保護能力が高いが、厚い
ほど感度の低下も大きいので、通常50Å〜500Å程度が
適当である。
The thicker the protective layer is, the higher the protective ability is. However, the thicker the protective layer is, the larger the decrease in sensitivity is. Therefore, usually about 50Å to 500Å is suitable.

基板上に干渉層、記録層、反射層、保護層等の各層を
形成する方法には、スパッタリング等の物理蒸着法(PV
D)、プラズマCVDのような化学蒸着法(CVD)等が適用
される。
A physical vapor deposition method such as sputtering (PV method) is used for forming each layer such as an interference layer, a recording layer, a reflective layer, and a protective layer on a substrate.
D), chemical vapor deposition (CVD) such as plasma CVD, etc. are applied.

PVD法にて干渉層、光磁気記録層、反射層及び保護層
等を成膜形成するには、所定の組成をもったターゲット
を用いて電子ビーム蒸着またはスパッタリングにより基
板上に各層を堆積するのが通常の方法である。
In order to form an interference layer, a magneto-optical recording layer, a reflection layer, a protective layer, etc. by PVD method, each layer is deposited on a substrate by electron beam evaporation or sputtering using a target having a predetermined composition. Is the usual method.

また、イオンプレーティングを用いる方法も考えられ
る。
A method using ion plating is also conceivable.

膜の堆積速度は早すぎると膜応力を増加させ、遅すぎ
れば生産性に影響するので通常0.1Å/sec〜100Å/sec程
度とされる。
If the deposition rate of the film is too fast, the film stress will increase, and if it is too slow, it will affect the productivity, so it is usually set at about 0.1Å / sec to 100Å / sec.

保護層として酸化タンタルを用いる場合、Ta2O5ター
ゲット等を用いたRFスパッタ法、Taターゲット等を用い
たArとO2ガスによるDCまたはRF反応性スパッタ法、電子
ビーム蒸着法等が好ましい。これらのうち、酸素量の制
御が可能であること、成膜速度が速いこと、基板温度の
上昇が小さいこと等の点からTaターゲット等を用いたAr
とO2ガスによるDC反応性スパッタ法が好ましい。
When tantalum oxide is used as the protective layer, an RF sputtering method using a Ta 2 O 5 target or the like, a DC or RF reactive sputtering method using Ar and O 2 gas using a Ta target or the like, an electron beam evaporation method, or the like is preferable. Of these, the Ar target using a Ta target etc. can be controlled because the amount of oxygen can be controlled, the film formation rate is high, and the rise in the substrate temperature is small.
The DC reactive sputtering method using O 2 and O 2 gas is preferable.

最外層有機保護層の成膜法としてはスピンコート法、
その他通常の塗布法により容易に成膜することが可能で
ある。
The outermost organic protective layer is formed by spin coating,
It is possible to easily form a film by another ordinary coating method.

(実施例) 以下に実施例をもって本発明を更に詳細に説明するが
本発明はその要旨を越えない限り以下の実施例に限定さ
れるものではない。
(Examples) Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to the following examples as long as the gist thereof is not exceeded.

実施例、比較例 130mmφのポリカーボネート基板をスパッタリング装
置に導入し、先ず8×10-7torr下まで排気し、Arを20sc
cm、O2を5sccm導入し、圧力を0.8Paに調整した。この状
態で500Wのパワーで4インチφのTaターゲットを直流ス
パッタリングし、4Å/秒の速度で酸化タンタルの干渉
層を800Å形成した。
Examples and Comparative Examples A polycarbonate substrate having a diameter of 130 mm was introduced into a sputtering apparatus, and first, the gas was evacuated to a pressure of 8 × 10 -7 torr and Ar at 20 sc.
cm, O 2 was introduced at 5 sccm, and the pressure was adjusted to 0.8 Pa. In this state, a 4 inch φ Ta target was DC-sputtered at a power of 500 W, and an interference layer of tantalum oxide was formed at a rate of 4 ° / sec.

この膜の633nmで測定した屈折率はn*=2.1−0.03iで
あった。
The refractive index of this film measured at 633 nm was n * = 2.1−0.03i.

チャンバーを一度排気した後、Arガスを30sccm0.3Pa
の圧力となるように導入し、TbターゲットとFe90Co10
ーゲットの同時スパッタリングを行いTb22(Fe90Co10)78
の記録層を干渉層の上に300Å形成した。更にTaチップ
を配したAlターゲットを用いArガス中でスパッターしAl
97Ta3の合金からなる300Åの反射層を形成した。
After exhausting the chamber once, Ar gas 30sccm 0.3Pa
Introduced so that the pressure performs simultaneous sputtering of Tb target and Fe 90 Co 10 target Tb 22 (Fe 90 Co 10) 78
Was formed on the interference layer by 300 mm. Furthermore, using an Al target with a Ta chip, sputter in Ar gas
A 300 Å reflective layer made of an alloy of 97 Ta 3 was formed.

この反射層の上に下記のようにして得たポリウレタン
からなる中間保護層を設けた。
An intermediate protective layer made of polyurethane obtained as described below was provided on the reflective layer.

「成分Aの製造」 “ポリテールHA"(商品名)(三菱化成株式会社製、
数平均分子量:約2000、水酸基等量:0.907meq/gのポリ
オレフィンポリオール)100g、 “アデカクオドール”(商品名)(旭電化株式会社
製、4官能ポリオール、水酸基等量13.7meq/g)19.8g、 “パラフィン系プロセスオイル”(共同石油株式会社
製、P−200)110g、 “スズ系ウレタン化触媒”(MD化成株式会社製、UL−
22)138mg、 これらを50℃で均一に混合し成分Aとした。この粘度
は25℃で1800cpsであった。
"Manufacture of ingredient A""PolytailHA" (trade name) (manufactured by Mitsubishi Kasei Co., Ltd.,
Number-average molecular weight: about 2000, hydroxyl group equivalent: 0.907 meq / g polyolefin polyol) 100 g, "Adeka Quadol" (trade name) (Asahi Denka Co., Ltd., 4-functional polyol, hydroxyl group equivalent 13.7 meq / g) 19.8 g, "paraffin-based process oil" (Kyodo Oil Co., Ltd., P-200) 110 g, "tin-based urethane catalyst" (MD Kasei Co., Ltd., UL-
22) 138 mg, which were uniformly mixed at 50 ° C. to obtain Component A. The viscosity was 1800 cps at 25 ° C.

「成分Bの製造」 “ポリテールHA"100g、 “パラフィン系プロセスオイルP−200"116g、 これらをセパルブルフラスコ中で室温で均一に混合す
る。ついで、2,4−トリレンジイソシアネート14.2gを添
加し、80℃で6時間反応して成分Bを得た。粘度は25℃
で3800cpsであった。
"Production of Component B" 100 g of "Polyterre HA", 116 g of "paraffin-based process oil P-200", and these are uniformly mixed at room temperature in a separable flask. Then, 14.2 g of 2,4-tolylene diisocyanate was added and reacted at 80 ° C. for 6 hours to obtain a component B. Viscosity is 25 ℃
It was 3800 cps.

このようにして作成したA液とB液を重量比1:5で混
合し、真空脱泡を行った後ディスクに塗布し、80℃、60
分硬化させ保護層とした。
The liquid A and the liquid B thus prepared were mixed at a weight ratio of 1: 5, vacuum defoamed, and then applied to a disc, and the temperature was kept at 80 ° C. and 60 ° C.
It was cured for a minute to form a protective layer.

同様にして作成した液を用いプレスシートを作り物性
値を測定したところJIS K 6301での100%引張応力は3kg
f/cm2引張強度は7kgf/cm2であった。また、JIS Z 0208
で規定された透湿度は厚さ200μmのフィルムで24時間
で5g/m2であった。
A press sheet was made using the liquid prepared in the same way and the physical properties were measured, and the 100% tensile stress in JIS K 6301 was 3 kg.
The f / cm 2 tensile strength was 7 kgf / cm 2 . In addition, JIS Z 0208
The water vapor transmission rate as defined in (4) was 5 g / m 2 for 24 hours with a film having a thickness of 200 μm.

この中間層の上にセイカビームVDAL 250(大日精化工
業株式会社製、紫外線硬化樹脂)をスピンコートし、80
W/cm Nタイプ高圧水銀ランプ下15cmの所で1分間紫外線
を照射し硬化させ表面保護層とした。膜厚は50μmであ
った。
SEIKA BEAM VDAL 250 (manufactured by Dainichiseika Kogyo Co., Ltd., UV curable resin) is spin coated on this intermediate layer,
A surface protective layer was obtained by irradiating UV rays for 1 minute at 15 cm under a W / cm N type high pressure mercury lamp to cure it. The film thickness was 50 μm.

この表面保護層の硬度をJIS K 5400に規定された鉛筆
硬度試験で測定したところ3Hであった。
When the hardness of this surface protective layer was measured by the pencil hardness test specified in JIS K 5400, it was 3H.

このようにして作成したディスクを70℃、85%RHの条
件で2000時間の加速試験を行なったところクラックの発
生やピンホールの増加は全く起こらなかった。
When the disk thus prepared was subjected to an accelerated test for 2000 hours at 70 ° C. and 85% RH, no cracks or pinholes were generated.

(比較例1) 反射層までを実施例と同一の構造とし中間保護層を用
いず反射層上に直接実施例と同一の表面保護層を設け
た。
Comparative Example 1 The structure up to the reflective layer was the same as that of the example, and the same surface protective layer as that of the example was directly provided on the reflective layer without using the intermediate protective layer.

このようにして作成したディスクを70℃、85%RHの条
件で2000時間の加速試験を行なったところ全面にクラッ
クを生じた。
When the disk thus prepared was subjected to an accelerated test for 2000 hours at 70 ° C. and 85% RH, cracks were generated on the entire surface.

(比較例2) 反射層までを実施例と同様に作成した後“ロックタイ
ト350"(日本ロックタイト株式会社製、紫外線硬化樹
脂)をスピンコートし、80W/cmNタイプ高圧水銀ランプF
15cmの所で1分間紫外線を照射し、硬化させ中間保護層
とした。膜厚は50μmであった。
(Comparative Example 2) After forming the reflective layer in the same manner as in the example, "Loctite 350" (manufactured by Nippon Loctite Co., Ltd., UV curable resin) was spin-coated, and 80 W / cmN type high pressure mercury lamp F was used.
It was irradiated with ultraviolet rays at a position of 15 cm for 1 minute to cure it to form an intermediate protective layer. The film thickness was 50 μm.

“ロックタイト350"でシートを作り引張試験をしたとこ
ろ、100%まで伸びない固い樹脂であった。
When a sheet was made with "Loctite 350" and subjected to a tensile test, it was a hard resin that did not stretch to 100%.

この中間層の上に実施例1と同じ表面保護層を形成し
た。
The same surface protective layer as in Example 1 was formed on this intermediate layer.

このようにして作成したディスクを70℃、85%RHの条件
で2000時間加速試験を行なったところ、全面にクラック
を生じた。
When the disk thus produced was subjected to an accelerated test for 2000 hours under the conditions of 70 ° C. and 85% RH, cracks were generated on the entire surface.

(発明の効果) 以上の様に光磁気記録媒体の保護層として低応力、低
透湿度の中間層と高硬度の表面保護層を積層して用いる
ことで耐候性、耐擦傷性共に優れた媒体を得ることがで
きる。
(Effects of the Invention) As described above, a medium excellent in weather resistance and scratch resistance is obtained by stacking a low stress, low moisture permeability intermediate layer and a high hardness surface protective layer as a protective layer of a magneto-optical recording medium. Can be obtained.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−85646(JP,A) 特開 昭62−245548(JP,A) 特開 昭63−20745(JP,A) 特開 平1−287848(JP,A) 特開 平1−273247(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) References JP-A-61-85646 (JP, A) JP-A-62-245548 (JP, A) JP-A-63-20745 (JP, A) JP-A-1- 287848 (JP, A) JP-A-1-273247 (JP, A)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】少くとも基板、光磁気記録層、を有する光
磁気記録媒体において記録層上にJIS K 6301で規定され
た100%引張応力が50kgf/cm2以下でありかつJIS Z 0208
で規定された透湿度が24時間で20g/m2以下である中間保
護層、JIS K 5400規定による鉛筆硬度試験でH以上の硬
度を有する表面保護層を順に積層したことを特徴とする
光磁気記録媒体。
1. In a magneto-optical recording medium having at least a substrate and a magneto-optical recording layer, the 100% tensile stress defined by JIS K 6301 on the recording layer is 50 kgf / cm 2 or less and JIS Z 0208.
The magneto-optical property is characterized in that an intermediate protective layer having a water vapor transmission rate of 20 g / m 2 or less in 24 hours specified in 4 and a surface protective layer having a hardness of H or more in a pencil hardness test according to JIS K 5400 are sequentially laminated. recoding media.
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