JPH083995Y2 - 試験弾器ばね接点用クリーニング工具 - Google Patents
試験弾器ばね接点用クリーニング工具Info
- Publication number
- JPH083995Y2 JPH083995Y2 JP12098790U JP12098790U JPH083995Y2 JP H083995 Y2 JPH083995 Y2 JP H083995Y2 JP 12098790 U JP12098790 U JP 12098790U JP 12098790 U JP12098790 U JP 12098790U JP H083995 Y2 JPH083995 Y2 JP H083995Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- test
- spring contacts
- spring
- bullet spring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 （１） 考案の属する技術分野 本考案は、電気通信用端子板の試験弾器ばね接点を、
活性化する際に用いる清浄工具に関するものである。
活性化する際に用いる清浄工具に関するものである。
（２） 従来技術とその問題点 従来、この種の試験弾器ばね接点の清浄作業には、専
用工具が無く、非鉄金属の小片板あるいは、鹿皮を用い
て接点を磨く手法を採用するのが通例であるため、該接
点部を収容している取付部の窓板部品を誤って除去して
しまうなどの事故を伴うこともあり、作業能率が低い欠
点がある。
用工具が無く、非鉄金属の小片板あるいは、鹿皮を用い
て接点を磨く手法を採用するのが通例であるため、該接
点部を収容している取付部の窓板部品を誤って除去して
しまうなどの事故を伴うこともあり、作業能率が低い欠
点がある。
また、近年のデジタル交換機対応の試験弾器ばねは、
従来にない小型，高精度，高信頼性の接点を有するの
で、従来のような作業形態では、対応することができな
いという欠点があった。
従来にない小型，高精度，高信頼性の接点を有するの
で、従来のような作業形態では、対応することができな
いという欠点があった。
（３） 考案の目的 本考案の目的は、試験弾器ばね接点の動作時間の経過
と共に進行する接点表面の酸化汚染などの除去をするた
めの清浄作業を接点に非接触で行うことを可能にしたこ
とで、工具構造を簡単にでき、なおかつ製造性と作業性
を向上させることのできる試験弾器ばね接点用クリーニ
ング工具を提供することを目的とする。
と共に進行する接点表面の酸化汚染などの除去をするた
めの清浄作業を接点に非接触で行うことを可能にしたこ
とで、工具構造を簡単にでき、なおかつ製造性と作業性
を向上させることのできる試験弾器ばね接点用クリーニ
ング工具を提供することを目的とする。
（４） 考案の構成 この目的を達成するために、本考案による試験弾器ば
ね接点用クリーニング工具は、試験弾器に用いられる静
止合掌ばね接点を形成する一対のばね接点の間に該接点
に非接触状態でその自由端側から挿入される挿入端を有
し、該挿入端を該一対のばね接点間にその自由端側から
挿入したときに、該一対のばね接点の一方と他方に互い
に不均衡となる外力が与えられることにより生じる前記
接点間の摺動作用により該接点表面の酸化汚染膜が除去
されるように構成されている。
ね接点用クリーニング工具は、試験弾器に用いられる静
止合掌ばね接点を形成する一対のばね接点の間に該接点
に非接触状態でその自由端側から挿入される挿入端を有
し、該挿入端を該一対のばね接点間にその自由端側から
挿入したときに、該一対のばね接点の一方と他方に互い
に不均衡となる外力が与えられることにより生じる前記
接点間の摺動作用により該接点表面の酸化汚染膜が除去
されるように構成されている。
以下本考案の実施例を詳細に説明する。
第１図は本考案の実施例を説明する図であって、図
（ａ）において試験弾器ばねの常態を表す。水平線Ｘ−
Ｘ′を支点７に垂直線Ｙを中心に、試験弾器ばね１と試
験弾器ばね２とが均衡しあう力で合掌配置されている状
態において、接点３と接点４は同位置で接している。
（ａ）において試験弾器ばねの常態を表す。水平線Ｘ−
Ｘ′を支点７に垂直線Ｙを中心に、試験弾器ばね１と試
験弾器ばね２とが均衡しあう力で合掌配置されている状
態において、接点３と接点４は同位置で接している。
図（ｂ）に本考案の実施例を表す。例えば試験弾器ば
ね２を図示しないプリント基板に図（ａ）の状態に取付
けた場合、そのプリント基板の取付枠８（図（ｂ）にハ
ッチングで示している）に試験弾器毎に工具等の挿入口
６が予め設けられることになる。
ね２を図示しないプリント基板に図（ａ）の状態に取付
けた場合、そのプリント基板の取付枠８（図（ｂ）にハ
ッチングで示している）に試験弾器毎に工具等の挿入口
６が予め設けられることになる。
工具５は、図（ｂ）では先端部のみを厚み方向につい
て示しているが、図示の紙面に直交する方向のその幅は
試験弾器ばね1,2の幅（図示の紙面の直交する方向）よ
り僅かに大なる程度に選ばれている。さらにこの工具５
の先端が挿入口６の中心から偏位するように先端部を形
成している。
て示しているが、図示の紙面に直交する方向のその幅は
試験弾器ばね1,2の幅（図示の紙面の直交する方向）よ
り僅かに大なる程度に選ばれている。さらにこの工具５
の先端が挿入口６の中心から偏位するように先端部を形
成している。
このような構成により、図（ｂ）のように工具５を挿
入口６に挿入したとき、一方の試験弾器ばね１に外方向
の力Ｐが加わり、垂直線Ｙは支点７より偏位両θだけず
れて垂直線Ｙ′に変位する。このことは、垂直線Ｙを中
心に合掌する試験弾器ばね１の押圧力を弱めることにな
り、ばね相互の均衡が崩れ試験弾器ばね２が１に追従す
る作用が働き、同様に垂直線Ｙ′に沿って傾くことが理
解できる。
入口６に挿入したとき、一方の試験弾器ばね１に外方向
の力Ｐが加わり、垂直線Ｙは支点７より偏位両θだけず
れて垂直線Ｙ′に変位する。このことは、垂直線Ｙを中
心に合掌する試験弾器ばね１の押圧力を弱めることにな
り、ばね相互の均衡が崩れ試験弾器ばね２が１に追従す
る作用が働き、同様に垂直線Ｙ′に沿って傾くことが理
解できる。
即ち、この垂直線Ｙを垂直線Ｙ′に変位させる力Ｐに
より、合掌ばねの接点3,4の接する位置には移動量αを
生じ、接点3,4相互間に摺動作用が働き、これを繰り返
すことにより、接点に直接接触することなしに接点表面
の酸化汚染膜は除去される。
より、合掌ばねの接点3,4の接する位置には移動量αを
生じ、接点3,4相互間に摺動作用が働き、これを繰り返
すことにより、接点に直接接触することなしに接点表面
の酸化汚染膜は除去される。
工具の材質としては、合成樹脂等の絶縁物でもよい
が、この工具を用いるときには電圧接点には電流が流れ
ていない状態であるとすれば、先端部を金属で形成する
こともできる。
が、この工具を用いるときには電圧接点には電流が流れ
ていない状態であるとすれば、先端部を金属で形成する
こともできる。
また、工具５には木又はプラスチックの如き適宜の材
料を用いて取扱い操作に便利なように把手を設けてもよ
い。
料を用いて取扱い操作に便利なように把手を設けてもよ
い。
（５） 考案の効果 以上説明したように、簡単な構造であるから製造性が
良く、清浄する接点に非接触なので、接点部の破損や汚
染などが無くなり安全に作業することができる利点があ
る。
良く、清浄する接点に非接触なので、接点部の破損や汚
染などが無くなり安全に作業することができる利点があ
る。
第１図は本考案の実施例である。（ａ）は本考案を説明
するための試験弾器ばね合掌の常態を表す側面図、
（ｂ）は本考案のクリーニング方法の原理を説明する工
具挿入時の、嵌合状態を表す試験弾器ばねの側面図であ
る。 1,2……試験弾器ばね、3,4……接点、５……工具、６…
…挿入口、７……支点、８……取付枠（試験弾器ばねを
取付けたプリント基板等の取付枠）、Ｘ−Ｘ′……水平
線、Ｙ−Ｙ′……垂直線、Ｐ……力、θ……偏移量、α
……移動量。
するための試験弾器ばね合掌の常態を表す側面図、
（ｂ）は本考案のクリーニング方法の原理を説明する工
具挿入時の、嵌合状態を表す試験弾器ばねの側面図であ
る。 1,2……試験弾器ばね、3,4……接点、５……工具、６…
…挿入口、７……支点、８……取付枠（試験弾器ばねを
取付けたプリント基板等の取付枠）、Ｘ−Ｘ′……水平
線、Ｙ−Ｙ′……垂直線、Ｐ……力、θ……偏移量、α
……移動量。
Claims (1)
- 【請求項１】試験弾器に用いられる静止合掌ばね接点を
形成する一対のばね接点の間に該接点に非接触状態でそ
の自由端側から挿入される挿入端を有し、該挿入端を該
一対のばね接点間にその自由端側から挿入したときに、
該一対のばね接点の一方と他方に互いに不均衡となる外
力が与えられることにより生じる前記接点間の摺動作用
により該接点表面の酸化汚染膜が除去されるように構成
されたことを特徴とする試験弾器ばね接点用クリーニン
グ工具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12098790U JPH083995Y2 (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 | 試験弾器ばね接点用クリーニング工具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12098790U JPH083995Y2 (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 | 試験弾器ばね接点用クリーニング工具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0478792U JPH0478792U (ja) | 1992-07-09 |
| JPH083995Y2 true JPH083995Y2 (ja) | 1996-01-31 |
Family
ID=31868866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12098790U Expired - Lifetime JPH083995Y2 (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 | 試験弾器ばね接点用クリーニング工具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH083995Y2 (ja) |
-
1990
- 1990-11-19 JP JP12098790U patent/JPH083995Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0478792U (ja) | 1992-07-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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