JPH0843476A - 部分放電測定方法 - Google Patents
部分放電測定方法Info
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- JPH0843476A JPH0843476A JP18243894A JP18243894A JPH0843476A JP H0843476 A JPH0843476 A JP H0843476A JP 18243894 A JP18243894 A JP 18243894A JP 18243894 A JP18243894 A JP 18243894A JP H0843476 A JPH0843476 A JP H0843476A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、測定点と部分放電発生点が離れてい
る場合でも最も高い検出感度で部分放電を測定できるよ
うにすることを目的とする。 【構成】本発明の部分放電測定方法は、電力ケーブル線
路１に校正パルスを注入し、注入した校正パルスを測定
して第１の周波数スペクトルを求め、校正パルスを注入
しない状態でノイズを測定して第２の周波数スペクトル
を求め、第１の周波数スペクトルの各周波数におけるレ
ベルをＳ（ω），第２の周波数スペクトルの各周波数に
おけるレベルをＮ（ω），部分放電測定点から部分放電
発生予想点までの距離をＬ，及び各周波数における減衰
定数をα（ω）としたとき、Ｓ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・
α（ω）〕／Ｎ（ω）を算出して算出値が最大値になる
周波数を求め、それを部分放電測定周波数として使用す
るようにしている。
る場合でも最も高い検出感度で部分放電を測定できるよ
うにすることを目的とする。 【構成】本発明の部分放電測定方法は、電力ケーブル線
路１に校正パルスを注入し、注入した校正パルスを測定
して第１の周波数スペクトルを求め、校正パルスを注入
しない状態でノイズを測定して第２の周波数スペクトル
を求め、第１の周波数スペクトルの各周波数におけるレ
ベルをＳ（ω），第２の周波数スペクトルの各周波数に
おけるレベルをＮ（ω），部分放電測定点から部分放電
発生予想点までの距離をＬ，及び各周波数における減衰
定数をα（ω）としたとき、Ｓ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・
α（ω）〕／Ｎ（ω）を算出して算出値が最大値になる
周波数を求め、それを部分放電測定周波数として使用す
るようにしている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は部分放電測定方法に関
し、特に、部分放電発生箇所と検出箇所が離れている場
合でも、最も高い検出感度で部分放電を測定できるよう
にした部分放電測定方法に関する。
し、特に、部分放電発生箇所と検出箇所が離れている場
合でも、最も高い検出感度で部分放電を測定できるよう
にした部分放電測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】部分放電測定方法として、例えば、特開
平３−１７００７６号公報，及び特開平３−１７００７
７号公報に示されるものがある。
平３−１７００７６号公報，及び特開平３−１７００７
７号公報に示されるものがある。
【０００３】これらの部分放電測定方法は、電力ケーブ
ル線路のノイズパルスを検出する一方、電力ケーブル線
路に校正パルスを注入して検出部から電力ケーブル線路
のノイズパルスを含んだ校正パルスを検出し、両者の周
波数スペクトルからＳ／Ｎ比の周波数依存性を求めてＳ
／Ｎ比の高い周波数を見出し、この周波数で部分放電を
測定するようにしている。
ル線路のノイズパルスを検出する一方、電力ケーブル線
路に校正パルスを注入して検出部から電力ケーブル線路
のノイズパルスを含んだ校正パルスを検出し、両者の周
波数スペクトルからＳ／Ｎ比の周波数依存性を求めてＳ
／Ｎ比の高い周波数を見出し、この周波数で部分放電を
測定するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の部分放
電測定方法によると、校正パルス注入点で測定したＳ／
Ｎ比に基づいて測定周波数を選んでいるため、測定点が
部分放電発生点と離れているときは部分放電信号が伝播
減衰を受け、かつ、減衰量が周波数に依存するので選択
した周波数が最良の周波数でなくなることがある。例え
ば、伝播距離が長い場合、測定点のＳ／Ｎ比が大きくて
も周波数が高ければ減衰量が大きくなって、他の周波数
において最大のＳ／Ｎ比が得られることがある。このた
め、最も高い検出感度で部分放電を測定することができ
なくなるという不都合がある。
電測定方法によると、校正パルス注入点で測定したＳ／
Ｎ比に基づいて測定周波数を選んでいるため、測定点が
部分放電発生点と離れているときは部分放電信号が伝播
減衰を受け、かつ、減衰量が周波数に依存するので選択
した周波数が最良の周波数でなくなることがある。例え
ば、伝播距離が長い場合、測定点のＳ／Ｎ比が大きくて
も周波数が高ければ減衰量が大きくなって、他の周波数
において最大のＳ／Ｎ比が得られることがある。このた
め、最も高い検出感度で部分放電を測定することができ
なくなるという不都合がある。
【０００５】従って、本発明の目的は検出箇所と部分放
電発生箇所が離れている場合でも最も高い感度で部分放
電を測定することができる部分放電測定方法を提供する
ことである。
電発生箇所が離れている場合でも最も高い感度で部分放
電を測定することができる部分放電測定方法を提供する
ことである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点に鑑
み、測定点と部分放電発生点が離れている場合でも最も
高い感度で部分放電を測定できるようにするため、電力
ケーブル線路に校正パルスを注入し、注入した校正パル
スを測定して第１の周波数スペクトルを求める一方、校
正パルス注入しない状態でノイズを測定して第２の周波
数スペクトルを求め、第１の周波数スペクトルの各周波
数におけるレベルをＳ（ω），第２の周波数スペクトル
の各周波数におけるレベルをＮ（ω），部分放電測定点
から部分放電発生予想点までの距離をＬ，及び各周波数
における減衰定数をα（ω）としたとき、Ｓ（ω）・ｅ
ｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕／Ｎ（ω）を算出して算出値が
最大値になる周波数を求め、求められた周波数を部分放
電測定周波数として使用するようにした部分放電測定方
法を提供するものである。
み、測定点と部分放電発生点が離れている場合でも最も
高い感度で部分放電を測定できるようにするため、電力
ケーブル線路に校正パルスを注入し、注入した校正パル
スを測定して第１の周波数スペクトルを求める一方、校
正パルス注入しない状態でノイズを測定して第２の周波
数スペクトルを求め、第１の周波数スペクトルの各周波
数におけるレベルをＳ（ω），第２の周波数スペクトル
の各周波数におけるレベルをＮ（ω），部分放電測定点
から部分放電発生予想点までの距離をＬ，及び各周波数
における減衰定数をα（ω）としたとき、Ｓ（ω）・ｅ
ｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕／Ｎ（ω）を算出して算出値が
最大値になる周波数を求め、求められた周波数を部分放
電測定周波数として使用するようにした部分放電測定方
法を提供するものである。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の部分放電測定方法について添
付図面を参照しながら詳細に説明する。
付図面を参照しながら詳細に説明する。
【０００８】図１には、本発明の一実施例に適用される
部分放電測定システムが示されている。このシステム
は、電力ケーブル線路１の普通接続部２において発生し
た部分放電を距離Ｌだけ離れた絶縁接続部３で測定する
ようになっている。絶縁接続部３の両側の防食層付きシ
ース３ａ，３ｂには、二対の金属箔電極４，６がそれぞ
れ貼られており、金属箔電極４にパルス発振器５が、ま
た、金属箔電極６にスペクトラムアナライザ７がそれぞ
れ接続されている。
部分放電測定システムが示されている。このシステム
は、電力ケーブル線路１の普通接続部２において発生し
た部分放電を距離Ｌだけ離れた絶縁接続部３で測定する
ようになっている。絶縁接続部３の両側の防食層付きシ
ース３ａ，３ｂには、二対の金属箔電極４，６がそれぞ
れ貼られており、金属箔電極４にパルス発振器５が、ま
た、金属箔電極６にスペクトラムアナライザ７がそれぞ
れ接続されている。
【０００９】本発明は上記システムを適用して、以下の
ように部分放電を測定する。
ように部分放電を測定する。
【００１０】まず、パルス発振器５を所定の出力値（例
えば、５０ピコクーロン）に設定すると共に、パルス発
振器５を作動させて、絶縁接続部３から校正パルスを注
入する。そして、注入した校正パルスをスペクトラムア
ナライザ７で測定して、校正パルスの周波数スペクトル
を求め、それから各周波数のレベルＳＩＪ（ω）を求め
る。
えば、５０ピコクーロン）に設定すると共に、パルス発
振器５を作動させて、絶縁接続部３から校正パルスを注
入する。そして、注入した校正パルスをスペクトラムア
ナライザ７で測定して、校正パルスの周波数スペクトル
を求め、それから各周波数のレベルＳＩＪ（ω）を求め
る。
【００１１】次に、パルス発振器５を停止させ、スペク
トラムアナライザ７で絶縁接続部３のバックグランドノ
イズを測定して、ノイズの周波数スペクトルを求め、そ
れから各周波数のレベルＮＩＪ（ω）を求める。
トラムアナライザ７で絶縁接続部３のバックグランドノ
イズを測定して、ノイズの周波数スペクトルを求め、そ
れから各周波数のレベルＮＩＪ（ω）を求める。
【００１２】このように校正パルス周波数スペクトルの
各周波数のレベルＳＩＪ（ω）と、ノイズ周波数スペク
トルの各周波数のレベルＮＩＪ（ω）が求まると、求ま
ったＳＩＪ（ω）とＮＩＪ（ω）と、部分放電発生点で
ある普通接続部２から測定点である絶縁接続部３までの
距離Ｌ，及び減衰定数α（ω）から部分放電を測定する
ときの測定周波数を決める。尚、減衰定数α（ω）は後
述する手順で予め求められている。
各周波数のレベルＳＩＪ（ω）と、ノイズ周波数スペク
トルの各周波数のレベルＮＩＪ（ω）が求まると、求ま
ったＳＩＪ（ω）とＮＩＪ（ω）と、部分放電発生点で
ある普通接続部２から測定点である絶縁接続部３までの
距離Ｌ，及び減衰定数α（ω）から部分放電を測定する
ときの測定周波数を決める。尚、減衰定数α（ω）は後
述する手順で予め求められている。
【００１３】以下、普通接続部の各周波数における部分
放電信号のレベルＳＮＪ（ω）は、ＳＩＪ（ω）と同一
であると見なす。従って、普通接続部２で発生した部分
放電信号（ここでは、パルス発振器５による模擬部分放
電パルス）を絶縁接続部３で測定した場合の周波数スペ
クトル強度は、 ＳＩＪ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕 によって求まる。従って、それとノイズとのスペクトル
比、つまり、Ｓ／Ｎ比を ＳＩＪ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕／ＮＩＪ
（ω） から求めて、Ｓ／Ｎ比が最大となる周波数を測定周波数
として選択する。
放電信号のレベルＳＮＪ（ω）は、ＳＩＪ（ω）と同一
であると見なす。従って、普通接続部２で発生した部分
放電信号（ここでは、パルス発振器５による模擬部分放
電パルス）を絶縁接続部３で測定した場合の周波数スペ
クトル強度は、 ＳＩＪ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕 によって求まる。従って、それとノイズとのスペクトル
比、つまり、Ｓ／Ｎ比を ＳＩＪ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕／ＮＩＪ
（ω） から求めて、Ｓ／Ｎ比が最大となる周波数を測定周波数
として選択する。
【００１４】ここで、ケーブル線路１の減衰定数αは、
以下の(1) ，或いは(2) の手順で求めることができる。
以下の(1) ，或いは(2) の手順で求めることができる。
【００１５】(1) 所定の長さのケーブルの一端から信号
を入力し、他端から出力される信号を測定し、各周波数
に対する減衰量をケーブル長で割ることにより、各周波
数に対する減衰定数α（ω）を求める。
を入力し、他端から出力される信号を測定し、各周波数
に対する減衰量をケーブル長で割ることにより、各周波
数に対する減衰定数α（ω）を求める。
【００１６】(2) ケーブル線路中の所定の間隔を有する
２点（例えば、隣接する絶縁接続部）の一方から信号を
入力し、他方から出力される信号を測定し、各周波数に
対する減衰量を２点間の間隔（距離）で割ることによ
り、各周波数に対する減衰定数α（ω）を求める。
２点（例えば、隣接する絶縁接続部）の一方から信号を
入力し、他方から出力される信号を測定し、各周波数に
対する減衰量を２点間の間隔（距離）で割ることによ
り、各周波数に対する減衰定数α（ω）を求める。
【００１７】図２の(a) ，(b) ，(c) には、図１におけ
る普通接続部２と絶縁接続部３の距離Ｌが５４０ｍの場
合の測定周波数の決定手順が示されている。図２の(a)
は、実測値ＳＩＪ（ω）と図３に示すケーブル減衰量α
（ω）を基に普通接続部２で発生した部分放電を絶縁接
続部３で検出した場合の周波数スペクトルＳＩＪ（ω）
・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕の計算値であり、図２の
(b) は、絶縁接続部３におけるバックグラントノイズＮ
ＩＪ（ω）である。従って、これらの両者のスペクトル
比（この場合、縦軸がdBｍであることから両者の差）を
取ることにより、図２の(c) に示すＳ／Ｎ比、すなわ
ち、ＳＩＪ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕／ＮＩＪ
（ω）が得られる。これから判るように、部分放電の測
定周波数としてＳ／Ｎ比の最大値がある５．５ＭＨｚを
使用すれば良い。尚、ここではケーブルの減衰定数α
（図３）を前述の(1) の方法により得た。
る普通接続部２と絶縁接続部３の距離Ｌが５４０ｍの場
合の測定周波数の決定手順が示されている。図２の(a)
は、実測値ＳＩＪ（ω）と図３に示すケーブル減衰量α
（ω）を基に普通接続部２で発生した部分放電を絶縁接
続部３で検出した場合の周波数スペクトルＳＩＪ（ω）
・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕の計算値であり、図２の
(b) は、絶縁接続部３におけるバックグラントノイズＮ
ＩＪ（ω）である。従って、これらの両者のスペクトル
比（この場合、縦軸がdBｍであることから両者の差）を
取ることにより、図２の(c) に示すＳ／Ｎ比、すなわ
ち、ＳＩＪ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕／ＮＩＪ
（ω）が得られる。これから判るように、部分放電の測
定周波数としてＳ／Ｎ比の最大値がある５．５ＭＨｚを
使用すれば良い。尚、ここではケーブルの減衰定数α
（図３）を前述の(1) の方法により得た。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の部分放電
測定方法によると、電力ケーブル線路に校正パルスを注
入し、注入した校正パルスを測定して第１の周波数スペ
クトルを求める一方、校正パルスを注入しない状態でノ
イズを測定して第２の周波数スペクトルを求め、第１の
周波数スペクトルの各周波数におけるレベルをＳ
（ω），第２の周波数スペクトルの各周波数におけるレ
ベルをＮ（ω），部分放電測定点から部分放電発生予想
点までの距離をＬ，及び各周波数における減衰定数をα
（ω）としたとき、Ｓ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α
（ω）〕／Ｎ（ω）を算出して算出値が最大値になる周
波数を求め、求められた周波数を部分放電測定周波数と
して使用するようにしたため、測定点と部分放電発生点
が離れている場合でも、最も高い感度で部分放電を測定
することができる。
測定方法によると、電力ケーブル線路に校正パルスを注
入し、注入した校正パルスを測定して第１の周波数スペ
クトルを求める一方、校正パルスを注入しない状態でノ
イズを測定して第２の周波数スペクトルを求め、第１の
周波数スペクトルの各周波数におけるレベルをＳ
（ω），第２の周波数スペクトルの各周波数におけるレ
ベルをＮ（ω），部分放電測定点から部分放電発生予想
点までの距離をＬ，及び各周波数における減衰定数をα
（ω）としたとき、Ｓ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α
（ω）〕／Ｎ（ω）を算出して算出値が最大値になる周
波数を求め、求められた周波数を部分放電測定周波数と
して使用するようにしたため、測定点と部分放電発生点
が離れている場合でも、最も高い感度で部分放電を測定
することができる。
【図１】本発明の一実施例に適用される部分放電測定シ
ステムを示す説明図。
ステムを示す説明図。
【図２】一実施例に係る測定周波数の決定手順を示すグ
ラフ。
ラフ。
【図３】ケーブルの高周波減衰特性を示すグラフ。
１ 電力ケーブル線路 ２ 普通接続部 ３ 絶縁接続部 ３ａ，３ｂ 防食層付きシース ４ 金属箔電極 ５ パルス発振器 ６ 金属箔電極 ７ スペクトラムアナライザ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 弘 茨城県日立市日高町５丁目１番１号 日立 電線株式会社パワーシステム研究所内 (72)発明者 遠藤 桓 茨城県日立市日高町５丁目１番１号 日立 電線株式会社パワーシステム研究所内
Claims (1)
- 【請求項１】電力ケーブル線路に校正パルスを注入し、
注入した前記校正パルスを測定して第１の周波数スペク
トルを求め、前記校正パルスを注入しない状態でノイズ
を測定して第２の周波数スペクトルを求め、前記第１の
周波数スペクトルの各周波数におけるレベルをＳ
（ω），前記第２の周波数スペクトルの各周波数におけ
るレベルをＮ（ω），部分放電測定点から部分放電発生
予想点までの距離をＬ，及び各周波数における減衰定数
をα（ω）としたとき、 Ｓ（ω）・ｅｘｐ〔−Ｌ・α（ω）〕／Ｎ（ω） を算出して算出値が最大値になる周波数を求め、求めら
れた周波数を部分放電測定周波数として使用することを
特徴とする部分放電測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6182438A JP2636743B2 (ja) | 1994-08-03 | 1994-08-03 | 部分放電測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6182438A JP2636743B2 (ja) | 1994-08-03 | 1994-08-03 | 部分放電測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0843476A true JPH0843476A (ja) | 1996-02-16 |
| JP2636743B2 JP2636743B2 (ja) | 1997-07-30 |
Family
ID=16118277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6182438A Expired - Lifetime JP2636743B2 (ja) | 1994-08-03 | 1994-08-03 | 部分放電測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2636743B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5838571A (en) * | 1996-01-29 | 1998-11-17 | Alza Corporation | Tablet press monitoring and controlling method and apparatus |
| JP2000002741A (ja) * | 1998-06-15 | 2000-01-07 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 外部雑音除去方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103616624B (zh) * | 2013-12-13 | 2016-06-01 | 国家电网公司 | 一种局部放电监测系统 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03175377A (ja) * | 1989-12-02 | 1991-07-30 | Hitachi Cable Ltd | 部分放電測定方法 |
-
1994
- 1994-08-03 JP JP6182438A patent/JP2636743B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03175377A (ja) * | 1989-12-02 | 1991-07-30 | Hitachi Cable Ltd | 部分放電測定方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5838571A (en) * | 1996-01-29 | 1998-11-17 | Alza Corporation | Tablet press monitoring and controlling method and apparatus |
| JP2000002741A (ja) * | 1998-06-15 | 2000-01-07 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 外部雑音除去方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2636743B2 (ja) | 1997-07-30 |
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