JPH0850710A - 絶縁酸化物交換層を有する磁気抵抗効果式変換器 - Google Patents
絶縁酸化物交換層を有する磁気抵抗効果式変換器Info
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- JPH0850710A JPH0850710A JP7920295A JP7920295A JPH0850710A JP H0850710 A JPH0850710 A JP H0850710A JP 7920295 A JP7920295 A JP 7920295A JP 7920295 A JP7920295 A JP 7920295A JP H0850710 A JPH0850710 A JP H0850710A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 MR変換器において、耐腐食性を良好にし、
かつ、バルクハウゼンノイズを減少させる。 【構成】 MRセンサ層に隣接する交換層を、絶縁反強
磁性金属酸化物材料で形成する。材料としては、コバル
ト酸化物(CoO)、ニッケル酸化物(NiO)、コバ
ルト酸化物とニッケル酸化物の多層体、コバルトニッケ
ル酸化物(CoNiO)、α鉄酸化物(αFe2O3)、
およびこれらの混合物が適している。
かつ、バルクハウゼンノイズを減少させる。 【構成】 MRセンサ層に隣接する交換層を、絶縁反強
磁性金属酸化物材料で形成する。材料としては、コバル
ト酸化物(CoO)、ニッケル酸化物(NiO)、コバ
ルト酸化物とニッケル酸化物の多層体、コバルトニッケ
ル酸化物(CoNiO)、α鉄酸化物(αFe2O3)、
およびこれらの混合物が適している。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、バルクハウゼンノイ
ズを回避するために長手方向バイアス用の反強磁性交換
層を有する磁気抵抗効果式読み取り変換器に関し、とり
わけ磁気抵抗効果式変換器の酸化物交換層に関するもの
である。
ズを回避するために長手方向バイアス用の反強磁性交換
層を有する磁気抵抗効果式読み取り変換器に関し、とり
わけ磁気抵抗効果式変換器の酸化物交換層に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】磁気抵抗効果式(MR)読み取り変換器
は、磁気媒体に記録された情報を電気信号に変換する。
MRヘッドは、検知磁界の変化の結果生じるMR読み取
り素子の磁化状態の変化に起因する抵抗変化によって、
高い線密度の磁界信号を検知する。
は、磁気媒体に記録された情報を電気信号に変換する。
MRヘッドは、検知磁界の変化の結果生じるMR読み取
り素子の磁化状態の変化に起因する抵抗変化によって、
高い線密度の磁界信号を検知する。
【0003】MR変換器の使用において生じる一つの問
題は、変換器の出力における感度および直線性の不連続
な変化である。これは、通常「バルクハウゼンノイズ」
として知られている。バルクハウゼンノイズは、磁区壁
の不規則な動きに由来するもので、長手方向バイアス磁
界の付与により低減されてきた。長手方向バイアス磁界
は、磁化を整列し、単磁区状態を作り出す。
題は、変換器の出力における感度および直線性の不連続
な変化である。これは、通常「バルクハウゼンノイズ」
として知られている。バルクハウゼンノイズは、磁区壁
の不規則な動きに由来するもので、長手方向バイアス磁
界の付与により低減されてきた。長手方向バイアス磁界
は、磁化を整列し、単磁区状態を作り出す。
【0004】米国特許第4,103,315号は、反強
磁性・強磁性結合に関連して長手方向バイアスを誘発す
る方法を開示している。この特許においては、交換層
は、MRセンサの全長に亘って位置している。長手方向
バイアス付与の改善案が、米国特許第4,663,68
5号に述べられており、そこではMRセンサは端部非作
動領域においてのみ長手方向にバイアス付与され、中央
部作動領域においてはされていなかった。交換層に遷移
元素金属の合金を使用することは、今日よく知られてい
る。MR交換バイアス膜において反強磁性材料として、
鉄マンガン(FeMn)合金が一般的に使用されてい
る。
磁性・強磁性結合に関連して長手方向バイアスを誘発す
る方法を開示している。この特許においては、交換層
は、MRセンサの全長に亘って位置している。長手方向
バイアス付与の改善案が、米国特許第4,663,68
5号に述べられており、そこではMRセンサは端部非作
動領域においてのみ長手方向にバイアス付与され、中央
部作動領域においてはされていなかった。交換層に遷移
元素金属の合金を使用することは、今日よく知られてい
る。MR交換バイアス膜において反強磁性材料として、
鉄マンガン(FeMn)合金が一般的に使用されてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、そのよ
うな交換層の腐食の問題が発生している。したがって、
充分な長手方向バイアスを作り出し、かつ耐腐食性の改
善された交換層を有するMR変換器を求める要望があ
る。
うな交換層の腐食の問題が発生している。したがって、
充分な長手方向バイアスを作り出し、かつ耐腐食性の改
善された交換層を有するMR変換器を求める要望があ
る。
【0006】この発明は、良好な耐腐食性および長手方
向バイアス付与特性を有する材料を提供することを目的
とする。
向バイアス付与特性を有する材料を提供することを目的
とする。
【0007】さらに、この発明は、磁気抵抗効果式読み
取り変換器において、腐食を受けにくくしながら、バル
クハウゼンノイズを減少させることを目的とする。
取り変換器において、腐食を受けにくくしながら、バル
クハウゼンノイズを減少させることを目的とする。
【0008】さらに、この発明は、最小の近零レベルの
バルクハウゼンノイズを有し、腐食を受けにくくしたM
R変換器の製作方法を提供することを目的とする。
バルクハウゼンノイズを有し、腐食を受けにくくしたM
R変換器の製作方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明の一つの実施例
は、反強磁性酸化物を含む交換層を有する磁気抵抗効果
式読み取り変換器に関する。交換層は、好ましくは、以
下の酸化物の一つまたは混合物で構成される。すなわ
ち、ニッケル酸化物(NiO)、コバルト酸化物(Co
O)、コバルトニッケル酸化物、およびCoOとNiO
の多層体である。好ましいMR変換器は、基板層に隣接
して位置するMRセンサ層と、端部非作動領域において
MRセンサ層に隣接して位置する反強磁性酸化物交換層
と、交換層に隣接して位置しMRセンサ層に電気的に接
触した導電リード層とを含む。変換器の中央部作動領域
は、実質的に交換層またはリード材料が存在しない。
は、反強磁性酸化物を含む交換層を有する磁気抵抗効果
式読み取り変換器に関する。交換層は、好ましくは、以
下の酸化物の一つまたは混合物で構成される。すなわ
ち、ニッケル酸化物(NiO)、コバルト酸化物(Co
O)、コバルトニッケル酸化物、およびCoOとNiO
の多層体である。好ましいMR変換器は、基板層に隣接
して位置するMRセンサ層と、端部非作動領域において
MRセンサ層に隣接して位置する反強磁性酸化物交換層
と、交換層に隣接して位置しMRセンサ層に電気的に接
触した導電リード層とを含む。変換器の中央部作動領域
は、実質的に交換層またはリード材料が存在しない。
【0010】この発明の他の実施例は、MR読み取り変
換器の交換層の腐食を最小限化する方法に関する。好ま
しい方法は、適宜の基板上の中央部作動領域にMRセン
サ層を形成することを含む。その方法は、さらに端部非
作動領域において部分的にMRセンサ層の端部に重なり
合う二つの反強磁性酸化物交換層を形成するとともに、
MRセンサの中央部には交換材料を存在させないように
することを含む。中央部作動領域内または近傍に、交換
層に隣接しかつMRセンサ層と電気的に接触して導電リ
ード層が形成されるとともに、MRセンサの中央部には
リード材料を存在させないようにする。
換器の交換層の腐食を最小限化する方法に関する。好ま
しい方法は、適宜の基板上の中央部作動領域にMRセン
サ層を形成することを含む。その方法は、さらに端部非
作動領域において部分的にMRセンサ層の端部に重なり
合う二つの反強磁性酸化物交換層を形成するとともに、
MRセンサの中央部には交換材料を存在させないように
することを含む。中央部作動領域内または近傍に、交換
層に隣接しかつMRセンサ層と電気的に接触して導電リ
ード層が形成されるとともに、MRセンサの中央部には
リード材料を存在させないようにする。
【0011】
【実施例】図1を参照して説明すると、好ましいMR読
み取り変換器10の構造は、基板層12上で中央に置か
れたMRセンサ層18を含み、MR変換器10の中央部
作動領域20を定義する。変換器10の端部非作動領域
において基板層12に隣接して交換層14および26が
配置されている。交換層14および26は、MRセンサ
層18の端部領域に接触しているが、作動領域20を完
全に通しては延びていない。端部非作動領域には、交換
層14および26に隣接して電気的導電リード16およ
び24が配置されている。リード層16および24も、
その張り出し端部22によりMRセンサ層18の端部領
域と電気的に接触しているが、作動領域20を完全に通
しては延びていない。リード層は、好ましくは、約50
から約300ナノメートルの範囲の厚さである。
み取り変換器10の構造は、基板層12上で中央に置か
れたMRセンサ層18を含み、MR変換器10の中央部
作動領域20を定義する。変換器10の端部非作動領域
において基板層12に隣接して交換層14および26が
配置されている。交換層14および26は、MRセンサ
層18の端部領域に接触しているが、作動領域20を完
全に通しては延びていない。端部非作動領域には、交換
層14および26に隣接して電気的導電リード16およ
び24が配置されている。リード層16および24も、
その張り出し端部22によりMRセンサ層18の端部領
域と電気的に接触しているが、作動領域20を完全に通
しては延びていない。リード層は、好ましくは、約50
から約300ナノメートルの範囲の厚さである。
【0012】MRセンサ層は、ニッケルと鉄の合金(N
iFe)の単層構造体または三層構造体とすることがで
きる。図6は、三層MRセンサ90を分解断面図として
図解している。MRセンサ90は、NiFe層92とセ
ンサ用の横方向バイアスを用意する軟質作動層96(S
AL)の間に配置された非磁性スペーサ層94を備えて
いる。MRセンサ層のパターンは、イオンミリングまた
はリフトオフプロセスなどの異なる方法で形成すること
ができる。MRセンサ層の厚さは、応用するデバイスに
応じて、約5から約90ナノメートル、好ましくは約1
0から約70ナノメートルと種々の値にすることができ
る。
iFe)の単層構造体または三層構造体とすることがで
きる。図6は、三層MRセンサ90を分解断面図として
図解している。MRセンサ90は、NiFe層92とセ
ンサ用の横方向バイアスを用意する軟質作動層96(S
AL)の間に配置された非磁性スペーサ層94を備えて
いる。MRセンサ層のパターンは、イオンミリングまた
はリフトオフプロセスなどの異なる方法で形成すること
ができる。MRセンサ層の厚さは、応用するデバイスに
応じて、約5から約90ナノメートル、好ましくは約1
0から約70ナノメートルと種々の値にすることができ
る。
【0013】この発明の交換層は、耐腐食性の反強磁性
絶縁酸化物材料により従来のものより有利に形成されて
いて、この点が従来技術の鉄マンガン(FeMn)合金
に対する改善点である。好ましい交換材料は、コバルト
ニッケル酸化物(CoNiO)、コバルト酸化物とニッ
ケル酸化物の多層構造体を含む。交換層の厚さは、具体
的な応用品に応じて種々であるが、好ましくは約10か
ら約50ナノメートルの範囲がよい。交換層は、種々の
方法でパターン化できるが、好ましい方法はリフトオフ
プロセスまたはエッチングプロセスである。
絶縁酸化物材料により従来のものより有利に形成されて
いて、この点が従来技術の鉄マンガン(FeMn)合金
に対する改善点である。好ましい交換材料は、コバルト
ニッケル酸化物(CoNiO)、コバルト酸化物とニッ
ケル酸化物の多層構造体を含む。交換層の厚さは、具体
的な応用品に応じて種々であるが、好ましくは約10か
ら約50ナノメートルの範囲がよい。交換層は、種々の
方法でパターン化できるが、好ましい方法はリフトオフ
プロセスまたはエッチングプロセスである。
【0014】図2〜3は、本件発明のMR変換器30の
別の実施例を図解するものである。これらの実施例で
は、交換層34および44は、端部非作動領域において
MRセンサ領域36と基板32の間に配置されている。
リード層38および46は、端部非作動領域において交
換層34および44と反対側でMRセンサ層36に隣接
して配置されている。長手方向バイアスを用意するため
に、MRセンサ層36の非作動領域と交換層との間は密
接触を成している。これらの実施例では、MRドメイン
構造上の非平面効果を最小限にするために、交換層34
および44は、作動領域の近くでテーパが付けられてい
る。交換層のテーパ角42、つまり基板層32と交換層
34または44との間の角は、ある程度変更できるが、
好ましくは、約15度から約60度の範囲がよい。MR
作動領域40の近くのリードパターンの端縁は、図2に
示すように交換層の端縁と整列されるか、または図3に
示すように、交換層の端縁を越えて作動領域の方へ延長
される。図2の配置形態においては、MRセンサの作動
領域40は、交換層34、44とリード層38、46に
よって定義される。他方、図3の配置形態における作動
領域40は、主としてリード層38、46により定義さ
れる。
別の実施例を図解するものである。これらの実施例で
は、交換層34および44は、端部非作動領域において
MRセンサ領域36と基板32の間に配置されている。
リード層38および46は、端部非作動領域において交
換層34および44と反対側でMRセンサ層36に隣接
して配置されている。長手方向バイアスを用意するため
に、MRセンサ層36の非作動領域と交換層との間は密
接触を成している。これらの実施例では、MRドメイン
構造上の非平面効果を最小限にするために、交換層34
および44は、作動領域の近くでテーパが付けられてい
る。交換層のテーパ角42、つまり基板層32と交換層
34または44との間の角は、ある程度変更できるが、
好ましくは、約15度から約60度の範囲がよい。MR
作動領域40の近くのリードパターンの端縁は、図2に
示すように交換層の端縁と整列されるか、または図3に
示すように、交換層の端縁を越えて作動領域の方へ延長
される。図2の配置形態においては、MRセンサの作動
領域40は、交換層34、44とリード層38、46に
よって定義される。他方、図3の配置形態における作動
領域40は、主としてリード層38、46により定義さ
れる。
【0015】これらの実施例において、MRセンサは、
単層構造を採ることもできるし、三層構造を採ることも
できる。もし、MRセンサとして三層が使用されるとき
は、まずNiFe層92がその端部を交換層44および
34と直接接触させて形成され、次いで非磁性スペーサ
94および横方向バイアス層96が形成される。
単層構造を採ることもできるし、三層構造を採ることも
できる。もし、MRセンサとして三層が使用されるとき
は、まずNiFe層92がその端部を交換層44および
34と直接接触させて形成され、次いで非磁性スペーサ
94および横方向バイアス層96が形成される。
【0016】図4は、MR変換器50の平面図で、MR
センサ層56と交換層52、54の相対的な位置および
大きさを図解するものである。中央部作動領域58は、
交換層またはリード層のない部分として定義される。つ
まり、MRセンサ層56の片面が基板層と密な接触とな
っており、他の面が露出している部分である。好ましく
は、中央部作動領域58は、約1〜5マイクロメートル
の範囲である。交換層52、54の寸法は、ある程度変
更することができる。しかしながら、交換層の全長(l
ex)および全幅(Wex)は、中央部作動領域に面しない
3面で交換層がMRセンサ層を越えて延びるのに充分な
寸法でなければならない。好ましくは、交換層の全長
(lex)は、MRセンサ層の長さ(lMR)より少なくと
も2マイクロメートル長いのがよい。同様に、交換層の
幅(Wex)は、好ましくは、MRセンサ層の幅(WMR)
より少なくとも2マイクロメートル広いのがよい。
センサ層56と交換層52、54の相対的な位置および
大きさを図解するものである。中央部作動領域58は、
交換層またはリード層のない部分として定義される。つ
まり、MRセンサ層56の片面が基板層と密な接触とな
っており、他の面が露出している部分である。好ましく
は、中央部作動領域58は、約1〜5マイクロメートル
の範囲である。交換層52、54の寸法は、ある程度変
更することができる。しかしながら、交換層の全長(l
ex)および全幅(Wex)は、中央部作動領域に面しない
3面で交換層がMRセンサ層を越えて延びるのに充分な
寸法でなければならない。好ましくは、交換層の全長
(lex)は、MRセンサ層の長さ(lMR)より少なくと
も2マイクロメートル長いのがよい。同様に、交換層の
幅(Wex)は、好ましくは、MRセンサ層の幅(WMR)
より少なくとも2マイクロメートル広いのがよい。
【0017】図4は、他の代案のMR読み取り変換器構
造70の片側半分の断面視を示す。この実施例では、リ
ード層74がMRセンサ層76と基板層72との間に配
置されている。交換層78は、リード層74の反対側で
MRセンサ層76に隣接して配置されている。前記の実
施例で詳述したように、MRセンサ層76は、好ましく
は、基板層72の実質的に中央に置かれる。同じく前記
の実施例で詳述したように、交換層78およびリード層
74は、変換器70の作動領域80の中まで入り込まな
いで、MRセンサ層76と接している。
造70の片側半分の断面視を示す。この実施例では、リ
ード層74がMRセンサ層76と基板層72との間に配
置されている。交換層78は、リード層74の反対側で
MRセンサ層76に隣接して配置されている。前記の実
施例で詳述したように、MRセンサ層76は、好ましく
は、基板層72の実質的に中央に置かれる。同じく前記
の実施例で詳述したように、交換層78およびリード層
74は、変換器70の作動領域80の中まで入り込まな
いで、MRセンサ層76と接している。
【0018】以上、この発明を好ましい実施例について
詳しく述べたが、当業者であれば、この発明の精神およ
び範囲から逸脱することなく、多くの詳細事項が変更で
きることが分かるであろう。
詳しく述べたが、当業者であれば、この発明の精神およ
び範囲から逸脱することなく、多くの詳細事項が変更で
きることが分かるであろう。
【図1】 磁気抵抗効果式読み取り変換器の部分断面図
である。
である。
【図2】 別のMR読み取り変換器の部分断面図であ
る。
る。
【図3】 別のMR読み取り変換器の部分断面図であ
る。
る。
【図4】 図1のMR読み取り変換器の平面図である。
【図5】 別のMR読み取り変換器の部分断面図であ
る。
る。
【図6】 MR読み取り変換器の三重磁気抵抗効果式セ
ンサ層の分解断面図である。
ンサ層の分解断面図である。
10…MR読み取り変換器、12…基板層、14…交換
層、16…導電リード、18…MRセンサ層、20…中
央作動領域、22…張り出し端、24…導電リード、2
6…交換層、30…MR変換器、32…基板、34…交
換層、36…MRセンサ層、38…リード層、40…中
央作動領域、42…テーパ角、44…交換層、46…リ
ード層、50…MR変換器、52、54…交換層、56
…MRセンサ層、58…中央作動領域、70…MR読み
取り変換器、72、74…リード層、76…MRセンサ
層、78…交換層、80…中央作動領域、90…MRセ
ンサ、92…NiFe層、94…非磁性スペーサ層、9
6…軟質作動層。
層、16…導電リード、18…MRセンサ層、20…中
央作動領域、22…張り出し端、24…導電リード、2
6…交換層、30…MR変換器、32…基板、34…交
換層、36…MRセンサ層、38…リード層、40…中
央作動領域、42…テーパ角、44…交換層、46…リ
ード層、50…MR変換器、52、54…交換層、56
…MRセンサ層、58…中央作動領域、70…MR読み
取り変換器、72、74…リード層、76…MRセンサ
層、78…交換層、80…中央作動領域、90…MRセ
ンサ、92…NiFe層、94…非磁性スペーサ層、9
6…軟質作動層。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウイリアム チャールズ ケイン アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95123 サンノゼ ランダウコート 5390 (72)発明者 ホワチング トン アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95120 サンノゼ ホスリンドライブ 7184
Claims (15)
- 【請求項1】 絶縁反強磁性金属酸化物材料を含む交換
層を備えて成ることを特徴とする磁気抵抗効果式読み取
り変換器。 - 【請求項2】 請求項1に記載の変換器であって、 該金属酸化物材料は、コバルト酸化物(CoO)、ニッ
ケル酸化物(NiO)、コバルト酸化物とニッケル酸化
物の多層体、コバルトニッケル酸化物(CoNiO)、
α鉄酸化物(αFe2O3)、およびこれらの混合物から
成るグループから選ばれたものであることを特徴とする
もの。 - 【請求項3】 請求項1に記載の変換器であって、 該交換層が10から50ナノメートルの厚さであるも
の。 - 【請求項4】 請求項1に記載の変換器であって、さら
に (a)基板と、 (b)該変換器の中央部作動領域において該基板に隣接
して位置する磁気抵抗効果式センサ層と、 (c)端部非作動領域において該基板に隣接して位置
し、それぞれが該磁気抵抗効果式センサ層の近い方の端
部と密に原子的に接触している二つの絶縁反強磁性金属
酸化物交換層と、 (d)該端部非作動領域においてそれぞれ該交換層の一
つに隣接して位置し、それぞれが該磁気抵抗効果式セン
サ層の近い方の端部と電気的に接触している二つの導電
リード層と、を備えて成ることを特徴とするもの。 - 【請求項5】 請求項4に記載の変換器であって、 該交換層が該変換器の中央部作動領域に向かってテーパ
付けされていることを特徴とするもの。 - 【請求項6】 請求項5に記載の変換器であって、 テーパの角度が約15〜60度であることを特徴とする
もの。 - 【請求項7】 請求項4に記載の変換器であって、 該磁気抵抗効果式センサ層が該交換層と該基板のオーバ
ラップ域でそれら両者の間に位置していることを特徴と
するもの。 - 【請求項8】 請求項4に記載の変換器であって、 該磁気抵抗効果式センサ層が該交換層と該リード層のオ
ーバラップ域でそれら両者の間に位置していることを特
徴とするもの。 - 【請求項9】 請求項8に記載の変換器であって、 該交換層が該磁気抵抗効果式センサ層と該基板のオーバ
ラップ域でそれら両者の間に位置していることを特徴と
するもの。 - 【請求項10】 請求項8に記載の変換器であって、 該リード層が該磁気抵抗効果式センサ層と該基板のオー
バラップ域でそれら両者の間に位置していることを特徴
とするもの。 - 【請求項11】 磁気抵抗効果式読み取り変換器の形成
方法であって、 (a)基板上に磁気抵抗効果式センサ層を形成し、それ
により該変換器の中央部磁気抵抗効果作動領域を定義す
るステップと、 (b)該変換器の端部非作動領域において二つの反強磁
性絶縁酸化物交換層を、それぞれが該センサ層の近い方
の部分と密な原子的交換接触をするように、形成するス
テップと、 (c)該端部非作動領域において二つの導電性のリード
層を、それぞれが該センサ層の近い方の部分と密な電気
的接触をするように、形成するステップと、を備えて成
るもの。 - 【請求項12】 請求項11に記載の形成方法であっ
て、 該交換層の酸化物材料は、コバルト酸化物(CoO)、
ニッケル酸化物(NiO)、コバルト酸化物とニッケル
酸化物の多層体、コバルトニッケル酸化物(CoNi
O)、α鉄酸化物(αFe2O3)、およびこれらの混合
物から成るグループから選ばれたものであることを特徴
とするもの。 - 【請求項13】 請求項11に記載の形成方法であっ
て、さらに該交換層の厚さが、該端部非作動領域におい
て実質的に一様である一方、該磁気抵抗効果式センサ層
との接触域において徐々に減少しているように、該交換
層を形成するステップを備えて成ることを特徴とするも
の。 - 【請求項14】 磁気抵抗効果式読み取り変換器の交換
層における腐食を減少させる方法であって、 交換層を反強磁性絶縁酸化物材料で形成するステップを
備えて成るもの。 - 【請求項15】 請求項14に記載の方法であって、 該交換層の酸化物材料は、コバルト酸化物(CoO)、
ニッケル酸化物(NiO)、コバルト酸化物とニッケル
酸化物の多層体、コバルトニッケル酸化物(CoNi
O)、α鉄酸化物(αFe2O3)、およびこれらの混合
物から成るグループから選ばれたものであることを特徴
とするもの。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US22459894A | 1994-04-07 | 1994-04-07 | |
| US08/224,598 | 1994-04-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0850710A true JPH0850710A (ja) | 1996-02-20 |
Family
ID=22841356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7920295A Pending JPH0850710A (ja) | 1994-04-07 | 1995-04-04 | 絶縁酸化物交換層を有する磁気抵抗効果式変換器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0676747A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0850710A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000100153A (ja) * | 1998-09-04 | 2000-04-07 | Hewlett Packard Co <Hp> | 磁気メモリ・セル |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11503553A (ja) * | 1996-01-31 | 1999-03-26 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | 磁気抵抗センサを具える磁気ヘッド及び磁気ヘッドを具える走査デバイス |
| JP3291208B2 (ja) * | 1996-10-07 | 2002-06-10 | アルプス電気株式会社 | 磁気抵抗効果型センサおよびその製造方法とそのセンサを備えた磁気ヘッド |
| JP2001084530A (ja) | 1999-09-16 | 2001-03-30 | Alps Electric Co Ltd | 磁気抵抗効果素子及びその製造方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4103315A (en) * | 1977-06-24 | 1978-07-25 | International Business Machines Corporation | Antiferromagnetic-ferromagnetic exchange bias films |
| US5018037A (en) * | 1989-10-10 | 1991-05-21 | Krounbi Mohamad T | Magnetoresistive read transducer having hard magnetic bias |
| JPH05250642A (ja) * | 1992-01-10 | 1993-09-28 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果センサ |
| US5329413A (en) * | 1992-01-10 | 1994-07-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance sensor magnetically coupled with high-coercive force film at two end regions |
| JP3022023B2 (ja) * | 1992-04-13 | 2000-03-15 | 株式会社日立製作所 | 磁気記録再生装置 |
| EP0587181B1 (en) * | 1992-09-11 | 1998-12-23 | Hitachi, Ltd. | Highly corrosion-resistant metal, method and apparatus of manufacturing the same, and use thereof |
| JP2861714B2 (ja) * | 1993-03-12 | 1999-02-24 | 株式会社日立製作所 | 磁気抵抗効果型ヘッド及び磁気ディスク装置 |
| US5966272A (en) * | 1993-06-21 | 1999-10-12 | Read-Rite Corporation | Magnetoresistive read head having an exchange layer |
-
1995
- 1995-04-04 JP JP7920295A patent/JPH0850710A/ja active Pending
- 1995-04-06 EP EP95105202A patent/EP0676747A3/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000100153A (ja) * | 1998-09-04 | 2000-04-07 | Hewlett Packard Co <Hp> | 磁気メモリ・セル |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0676747A3 (en) | 1996-05-01 |
| EP0676747A2 (en) | 1995-10-11 |
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