JPH08509293A - 波長の異なる複数の領域を単一の検出アレイ上に多重化する分光器 - Google Patents

波長の異なる複数の領域を単一の検出アレイ上に多重化する分光器

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JPH08509293A JP6523575A JP52357594A JPH08509293A JP H08509293 A JPH08509293 A JP H08509293A JP 6523575 A JP6523575 A JP 6523575A JP 52357594 A JP52357594 A JP 52357594A JP H08509293 A JPH08509293 A JP H08509293A
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カイザー・オプティカル・システムズ・インコーポレイテッド
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Abstract

(57)【要約】 分光器は、検光すべき入射光源(26)を受け、この光を回折し、複数の異なったスペクトル成分が、光電検出器(10)の互いに空間的に分離した複数の領域に当たるように作用する複数のホログラフィック透過光格子(34,36)を利用している。極めてコンパクトな複数格子を物理的に積層した構成や、ある種の構成においてクロストークを防止するのに使用される離間構成などを含む様々な格子構成が開示される。光ファイバ束(22)から出現する発散光を、前記格子(34,36)の通過前に第1レンズ・アセンブリ(28)によってコリメートし、第2レンズ・アセンブリ(50)を使用して回折光を、好ましくは二次元CCDアレイとして構成される前記検出器(10)上に集束させる。

Description

【発明の詳細な説明】 波長の異なる複数の領域を単一の検出アレイ上に多重化する分光器発明の分野 本発明は概して分光に利用可能な方法および装置に関し、詳しくは、波長の異 なった複数の領域が単一の検出アレイの空間的に互いに分離した複数の領域に当 てられるように多重化される分光器構造に関する。発明の背景 分光器は、スリット等の入口開口から出現する光のスペクトル組成を記録する 装置である。単純な従来式の分光器構成は、1つの平坦反射格子と、一対の凹レ ンズからなる従来式のツェルニー−ターナーモノクロメータを使用する。前記入 口スリットから出現する放射光を、第1ミラーによってコリメートし、このコリ メート光を格子によって色分散し、異なった角度に沿ってその色成分を分離する 。次に、第2ミラーがこれらの角度的に分散された色成分を空間的に分離した複 数の像に集束させると、出口スリットは、小さな色範囲のみ通過させ、これが1 つの検出チャンネルによって測定される。前記格子を回転させて、スペクトル的 に分散した像の異なった色 領域を前記出口スリットと一致させることによって、より広範囲なスペクトル範 囲でのデータを収集することが可能である。 ツェルニー−ターナーモノクロメータに基づく分光器構成は、スペクトルデー タの取得がシリアルなためにスローである。信号レベルが弱いと光子計数検出器 上の各スペクトルデータ点毎に長い統合(integration)時間を必要 とするラマン分光法などにおける利用においては、速度の限界がより顕著である 。 最近の進歩により、分光器のスペクトル取得時間とS/N比との両方が改善さ れた。例えば、前記出口スリットの代わりをし、従って、検出アレイが前記モノ クロメータからの広スペクトル域によって照射されている間、格子が固定したま まであることを許容する1つの二次元検出器上において、スペクトルデータをパ ラレルに得ることができる。次に、格子を次の位置に移動させるか、もしくは、 別の格子と交換して、異なったスペクトル域のデータを取得する。 もしも単純な入口スリットがCCD検出器上に像形成されているのであれば、 検出器信号を、加算、あるいは、一定色方向で検出器上に直接的にbinするこ とができ、これによって感度とS/N比とを向上させることができ る。しかし、もしもより高い空間分解能が必要であるならば、例えば、前記入口 スリットを複数の異なった光源からの光ファイバのアレイによって置換するなら ば、非点収差を補正するために前記球面ミラーをトロイダルミラーと置き換えた 二次元イメージセンサに関連して、改良結像ツェルニー−ターナーモノクロメー タを構成することができる。分光技術における更に別の最近の開発は、より従来 式のルールドタイプとホログラフィックタイプの両方の表面レリーフ反射格子の 代わりに、容積ホログラフィック透過格子を使用するものである。このような容 積格子は、前記反射ミラーの代わりに結像エレメントとして軸芯上透過レンズと 使用可能であり、その結果、本発明の譲渡人に譲渡された米国特許第5,011 ,284から明らかなように、能率的なシステムで非常にコンパクトなパッケー ジとすることができる。容積格子は、更に、非常に高度な分散も可能であり、一 定の焦点距離と画像寸法に対するスペクトル分解能を高めることができる。 出口スリットの代わりに検出アレイを使用することによって分光性能と信頼性 を高めることができるが、回転可能格子、格子ターレットその他の可動部材が重 大な問題として残っている。従って、従来技術における最近の 進展によっても、移動部材を必要とせずに、高度なスペクトル分解能と広いスペ クトル帯域との両方を得るために、二次元検出器を使用することが可能なコンパ クトで効率的な分光器に対する要求は未だ満たされていない。発明の要旨 本発明は、従来の分光概念に基づき、組合せた場合にスペクトル帯域及び/又 は分解能を拡張するホログラフィック透過格子と二次元検出アレイとを使用する ことによって、従来技術の限界を解決するものである。好適実施形態においては 、それぞれがスペクトルの特定部分を分散させる異なった行間隔を有する複数の ホログラフィック透過光格子と、入射光の少なくとも一部分を検出器の空間的に 分離した一領域に回折するべく、分析すべき光の部分を各格子へ向け、検出器の 異なった領域が、前記入射ビームに含まれるスペクトルの異なった部分を表す信 号を受けるようにする手段を有する。この好適実施形態において、本発明は、前 記複数の格子を、それぞれの格子が、他の格子の光路に対して僅かに傾斜した光 路を有し、これによって入射放射光を表す波長域が前記検出器上に、近接または 積層縞状領域として当たる、積層構造体として構成する。 別実施形態において、前記複数の格子は、積層ではなく、1つの格子によって 回折された光が次の格子によって減衰されないように互いに平行に離間配置され ていて、これによってクロストークの問題を最小限度にする。この別構成は、更 に、もっとモジュール的構造として構成して、”はめ込み式(drop−in) ”格子の様々な組合せを、固定したサンドイッチ状構造においてよりも一層容易 に使用可能としてもよい。 上記両実施形態において、前記回折光路の傾斜は、前記格子の製造時に傾斜角 度を記録するか、もしくは、これら格子を互いに対して物理的に傾斜させること によって得ることができる。 複数の格子に加えて、レンズアセンブリを使用して前記ホログラフィック格子 による分散の前に入射光をコリメートし、第2レンズアセンブリを使用してスペ クトル的(周波数的)及び空間的に分離した光を、好ましくは二次元CCDであ る前記検出アレイに集束する。離間格子を使用する前記別実施形態においては、 集束レンズの入射開口を大きくする必要がある、というのは、様々な格子がコリ メートされた入力ビームの異なった領域にアクセスするからである。図面の簡単な説明 図1はCCD検出器の表面上の波長領域の好適レイアウト、 図2は2つの透過ホログラフィック格子を物理的に積層した、本発明によって 形成された分光器の図、 図3aは約90゜の折り曲げ角を示す、本発明における有用な2つのホログラ フィック格子の平面図、 図3bは図3aの格子の互いに異なった傾斜角度を示す側面図、 図4aは本発明における有用な2つの理想的な格子の回折効率を示し、 図4bは本発明における有用な2つの格子の実際の回折効率を表す曲線を示し 、 図5aは2つの格子が平行ではあるが互いに離間配置されて格子1によって回 折された光が、次の格子2の通過によって影響されないように構成された本発明 の別実施形態の図、 図5bは図5aの実施形態の側面図、 図6は多重入力開口を使用する本発明の第2別実施形態の図、そして、 図7は隣接する格子が単一の基板上に平面的に形成された本発明の更に別実施 形態を示す。好適実施形態の詳細な説明 図1に、複数の光電検出素子12を有する画像検出器の表面の一部分が示され ていて、この好適例において、このセンサは荷電結合素子(CCD)であり、前 記光電素子は該CCDの画素である。これに代えて、前記検出器を、荷電注入素 子(CID)、増感(intensified)ダイオードアレイ、又はその他の二次元的 アレイ検出器としてもよい。分析すべき入射放射光は、前記CCDの表面の、波 長λ1〜λ2にわたる第1波長域14と、波長λ2から始まり波長λ3へと到る第2 波長域16とに当たる。各波長域を構成する縦切片18は、この好適実施形態お いて、本発明の装置から離間して設置された単数または複数の対象サンプルによ って発散された放射光を伝送する光ファイバの集積である入口開口から出現する 光の複数の単色像を表す。 尚、図1には、その長手方向側を互いに離間配置させた2つの波長域が示され ているが、これらの波長域を前記検出器アレイ上において異なった状態に配置す ることも可能であり、又、このような領域の数も所望の分解能、即ち、各波長領 域に割り当てられた画素の数と、もちろん、検出器アレイにおいて利用可能な光 電素子の総数とによってのみ限定される。 図2は、本発明の分光器を構成する部材の好適構成の平面図であり、これら構 成部材の全体を20で示している。離間サンプルによって散乱された光、この場 合、ファイバ束22に沿って伝送され、ここで該束の端部に形成された表面24 に出現し、発散線26によって示されているように第1レンズ・アセンブリ28 を照射し、このアセンブリが入射放射光を、互いにほぼ平行な線30によって示 すようにコリメート(平行線化)する。このコリメートされた光は、その全体を 22で示す複数の集積ホログラフィック透過光格子に当り、この光は、先ず図1 に示した波長λ1〜λ2にわたる前記第1波長域14に関連する格子34に当たる 。 格子34は、前記波長域λ1〜λ2にある入射光30の一部を約90°の角度で 回折する。前記波長域λ1〜λ2以外の入射光は、格子34による回折がほとんど 、あるいは全く無い状態で透過される。これら光の回折部分と透過部分との両方 が格子34を出て、直ちに、図1に示した第2波長領域16に関する、波長域λ2 〜λ3にわたる第2格子36に入射する。前記格子34によって回折された光は 、格子36の波長域外であるので、これはこの格子36による回折がほとんど、 あるいは全く無い状態で透過される。一方、格子34によって透過された波 長域λ2〜λ3の光は、格子36によって約90°の角度で回折される。 この好適構成において、各格子は入射放射光の2回の方向変更を行う、即ち、 これらの方向変更の最初は、この場合、両方の格子において約90゜である折り 曲げ角40によって示されている。各格子、更に、傾斜角度によって方向変更も 行うが、この傾斜角は、前記第1波長域の場合には紙面の手前へ向かう方向であ り、前記第2波長域の場合には、紙面の奥行き方向に向かうものと考えることが できる。この重要な概念は、他の図面を参照しながら以下の説明から一層理解さ れるであろう。 複数の波長域に分光された前記入射放射光は、第2レンズ・アセンブリ50を 通過するが、このアセンブリは、前記複数の波長域を、検出装置10上の複数の 空間的に分離した領域に集束させる作用を有する。図2は平面図であるので、空 間的に分離した複数領域は、図の紙面の奥行き方向に積層されており、これは図 中A−Aによって表される側面図52から明らかである。 次に図3において、図3aは、前記第1波長域用の左側の格子34と、前記第 2波長用の右側の格子36とを通過する線30によって示される、コリメートさ れた入射放射光の光路を示す平面図である。線60及び62に よって示される入射放射光と格子34,36によって回折された後の放射光とに よって形成される角度40が、図2で導入した前記折り曲げ角度である。前述し たように、この好適実施形態においては、この角度は約90°であるが、これに 代えて、実際には90°以上または以下であってもよい。即ち、光が格子を通過 し、これによって異なった波長域を画像センサの異なった領域に位置させるのに 必要な傾斜角と、各波長領域をアレイの延出方向に沿って広げるのに必要な分散 量だけ方向変換されるように構成することも、本発明の範囲内である。更に、前 記2つの格子の前記折り曲げ角は、ほぼ同一に図示されているが、実際には、各 格子毎に折り曲げ角は異なっていてもよい。更に、これら格子は空間中に図示さ れているが、これらを特定の使用目的に応じて所望の屈折率を示すガラスやその 他の媒体中に配置してもよい。要するに、各格子の折り曲げ角と、これら格子に 関連する媒体の屈折率とは、焦点距離、ファイバの大きさ、CCDの寸法、所望 の帯域幅などを含むシステム全体の構成に応じて選択することができる。 もう1つの重要な考慮事項は偏光である。CCDに基づく分光器においては、 恐らくそれほどの分散を必要とすることは無いであろうが、ガラス中の格子によ る90° の折り曲げ角では、P−偏光光を効果的に回折できない。ガラス中の比較的小さ な曲げ角、又は図示したような空気中の折り曲げ角はかなりのP−偏光スループ ットを産出する。 次に図3bにおいて、格子34及び36の側面図が、それぞれ番号70,72 によって示す傾斜角度を示している。この好適実施形態において、線30によっ て示す入射放射光は、エレメント34によって角度70だけ図中僅かに上方に傾 斜されており、これに対して、前記第2波長域に関係する入射放射光は、エレメ ント36によって角度72だけ僅かに下方に傾斜されている。この場合、これら 傾斜角は、ほぼ同じであり、前記入射放射光の中央軸芯の周りで対称であるが、 しかし、2つ以上の格子が使用される場合には、実際に必要となるいずれかの側 への複数の傾斜角を含む様々な傾斜角が可能である。 図4は、該好適実施形態の装置において有用な2つの格子の回折効率を示す。 図4aには理想的な回折効率が示され、ここでは、前記第1波長域に関連する格 子が、線80によって図示されたλ1〜λ2の波長はその全域を回折するが、線8 2によって示された波長λ2〜λ3からなる前記第2波長域については、それに対 する影響がほとんどゼロの状態で透過する。これに対して、図4a の右側に図示した前記第2格子は、第1波長域に対してはほぼゼロである線84 によって示されているように、影響を与えずにこれを透過し、これに対して、波 長λ2〜λ3は線86で示すように、その全部を回折することによって、前記第1 格子と反対の作用を行う。実際のものは、図4bの曲線によって一層よく示され 、ここでは、特定の帯域に対する最大回折効率は、前記第1格子において約(λ1 +λ2)/2であり、前記第2格子において約(λ2+λ3)/2であり、これら の平均値がそれぞれ破線90,92によって示されている。更に、実際の部材の 場合、斜線部分94,96によって図示されているように、格子間でいくらかの オーバーラップがある。 次に図5において、本発明の別構成がその全体を100で示されており、ここ では、前記格子は物理的に積層されるのではなく、それぞれ位置102及び10 4に離間配置されている。前記好適実施形態と同様に、ファイバ22の表面24 から発散する入射光26は、第1レンズ・アセンブリ28を通過し、これによっ て線30によって示すコリメート光となり、これが第1格子34と第2格子36 とを通過する。しかしこの場合には、第2格子が第1格子から物理的に離間して いるので、その全体を線106によって示すように、第1格子によって回折され た光は第2格子を通過せず、従って、該格子によって影響されない。これによっ てこの構成は、複数の格子を物理的に積層することによって発生する可能性のあ るクロストークの問題を解消するとともに、よりモジュール的な構成が可能とな り、”はめ込み式”の格子を様々な組合せで使用、交換することを容易にする。 更に、側面図に示すように、前記傾斜角を格子に記録する必要が無く、その代わ りに、これらの格子を物理的に回転させて、異なった波長部分を画像センサの異 なった領域に向けるのに必要な傾斜角を得ることができる。この概念は、各格子 を他の格子に対して側面図に示される角度110で回転させることによって拡張 することが可能である。しかし、この別構成には2つの欠点がある。その第1の 欠点は、積層格子によって可能な構成よりもコンパクトでないことであり、第2 の欠点は、この構成においては、各格子がレンズ開口の異なった部分にアクセス することになるので、第2レンズエレメント110が、前記積層格子構成におけ るレンズエレメントの2倍の開口または速度を必要とすることである。 図6及び7は、更に2つの別実施形態を示す。図6は多重入力開口を使用して おり、各格子のスペクトル帯域が利用可能な入力開口の半分だけを使用するよう に2つ の格子を配置している。図7において、隣接格子が、より高速の入力開口と共に 1つの基板上に形成されている。この構成には、クロストークを完全に除去する という利点があるが、他方、高速のコリメート・レンズと高速の集束レンズとの 両方が必要となるか、もしくは、システムが実際には一層低い開口数で作動する ことになる。
【手続補正書】特許法第184条の7第1項 【提出日】1994年8月22日 【補正内容】 1. 光電検出素子の二次元アレイと、それぞれが異なった波長域で作動する複 数のホログラフィック透過格子とを有する分光器であって、 検光されるべき入射光ビームが、光電検出器の作動領域内において、入射 光の各回折波長で前記格子を通過し、前記複数の格子は、検出アレイの異なった 領域が異なった格子によって回折された光を受けるように支持されており、前記 検出素子は前記入射ビームに含まれるスペクトルを表す信号を発生するようにな っている分光器。 2. 請求項1の分光器であって、前記複数の格子は、ほぼ平面状で、かつ、互 いに平行に積層されている。 3. 請求項1の分光器であって、前記複数の格子は、各格子によって回折され た光が別の格子を通過しないように互いに離間配置されている。 4. 請求項1の分光器であって、各格子に記録された ホログラムのみを使用して、その作動範囲内の波長を特定の検出器領域に向ける 。 5. 請求項4の分光器であって、前記複数の格子は、更に、各格子の作動範囲 内の波長を異なった検出器領域に向けるべく互いに傾斜している。 6. 請求項1の分光器であって、前記光電検出素子は荷電結合素子である。 7. 請求項1の分光器であって、前記入射放射光源は光ファイバを有する。 8. 請求項1の分光器であって、前記入射ビームを、それが各格子を通過する 前に、コリメートする手段を有する。 9. 請求項1の分光器であって、前記複数の格子によって回折された光を前記 光電検出素子に集束する手段を有する。 10.検光すべき光を光電検出器上に回折させる光格子を有するタイプの分光器 であって、以下の改善点を備える、 二次元画像センサとして形成された検出器、 それぞれが異なった行間隔を有している複数のホログラフィック透過格子 であって、前記複数の格子は検光すべき光の最大開口が各格子を通過するように 支 持されている、そして 各格子によって回折された光を、前記センサの表面の実質的に異なった領 域に向けるための手段。 11.検光すべき光ビーム発生源と、 各格子が受けた光を他の格子に対して異なった角度で回折する作用を有し ていて、検光すべき前記光ビームが各格子を連続して通過するように構成された 複数のホログラフィック透過光格子と、 複数の行列の光電検出器を有する二次元画像センサと、 各格子によって回折された光を前記センサの表面に向け、これによって前 記入射ビームに含まれるスペクトルの異なった部分を表す信号が、前記センサの 異なった領域に当たるようにする手段と、 を有する分光器。 12.請求項11の分光器であって、前記入射ビームに含まれるスペクトルは、 一連の互いに分離した帯域として前記センサに当たり、前記帯域の内少なくとも 2つの帯域は前記センサの異なった列を占める。 13.検光すべき放射光源を提供する工程と、 それぞれが異なった行間隔を有して記録され、検光すべき前記放射光の同 じ断面に対して露出された、 複数のホログラフィック透過光格子を使用して前記放射光を回折する工程と、そ して 各格子からの放射光がセンサの異なった領域に当たるように平面状画像セ ンサに前記格子からの前記回折光を集束させる工程と、 を有する放射光のスペクトル成分分離方法。 14.検光すべき放射光源を提供する工程と、 前記放射光を、それぞれが異なった行間隔と方向で放射光を回折する複数 のホログラフィック透過光格子を通過させる工程と、そして 各格子からの前記放射光がセンサの異なった領域に当たるように構成また は方向付けられた前記複数の格子によって前記回折光を平面状画像センサに集束 させる工程と、 を有する放射光のスペクトル成分分離方法。 15.請求項14の方法であって、前記複数の格子は、平面状であり、かつ、互 いに平行に配置されている。 16.請求項14の方法であって、前記複数の格子は、各格子からの放射光が前 記センサの異なった領域に当たるように互いに対して角度を有して配置されてい る。 17.請求項1の分光器であって、各ホログラフィック透過光格子は、検光すべ き前記光の最大開口を受ける。 【手続補正書】特許法第184条の8 【提出日】1995年3月13日 【補正内容】 請求の範囲 1. 複数行列の検出素子を有する二次元光電アレイと、それぞれが特定の波長 域を回折するように記録された複数のホログラフィック透過格子とを有する、入 射光ビームを検光するのに使用する分光器であって、 前記複数の格子は、検光されるべき光が各格子を通過するように支持され 、各格子は、その作動領域内の波長を、各格子によって回折された光が前記アレ イを構成する異なったセットの検出素子に当たるように、前記光電検出素子の二 次元アレイ上に回折する分光器。 2. 請求項1の分光器であって、前記複数の格子は、ほぼ平面状で、かつ、互 いに平行に積層されている。 3. 請求項1の分光器であって、前記複数の格子は、各格子によって回折され た光が次の格子を通過しないように方向変更されるように互いに離間配置されて いる。 4. 請求項1の分光器であって、特定の格子の記録によってのみ、該格子によ って回折された光が、前記アレイを構成する特定セットの検出素子に当てられる 。 5. 請求項1の分光器であって、特定の格子の記録と、その物理的方向配置と によって、該格子によって回折された光が、前記アレイを構成する特定セットの 検出 素子に当てられる。 6. 請求項1の分光器であって、前記光電検出素子は荷電結合素子である。 7. 請求項1の分光器であって、前記入射光ビームは光ファイバによって伝送 される。 8. 請求項1の分光器であって、更に、前記入射光ビームを、コリメートする 手段を有する。 9. 請求項1の分光器であって、更に、前記複数の格子によって回折された光 を前記検出素子に集束する手段を有する。 10.検光すべき光を光電検出素子上に回折させるホログラフィック透過光格子 を有するタイプの分光器であって、以下の改善点を備える、 二次元画像センサとして形成された検出器、 それぞれが異なった行間隔を有している複数のホログラフィック透過格子 であって、それぞれが検光すべき前記光の同じ断面に対して露出されている、そ して 各格子によって回折された光を、前記センサの異なった表面領域に向ける ための手段。 11.各格子が受けた光を他の格子に対して異なった角度で回折する作用を有す る複数のホログラフィック透 過光格子を通過する検光すべき光源と、 二次元画像センサと、 各格子によって回折された光を前記センサの表面に向け、これによって前 記入射ビームに含まれるスペクトルの異なった部分を表す信号が、前記センサの 異なった領域に当たるようにする手段と、 を有する分光器。 12.請求項11の分光器であって、前記入射ビームに含まれるスペクトルは、 一連の互いに分離した帯域として前記センサに当たるようになっている。 13.検光すべき放射光源を提供する工程と、 前記放射光を、それぞれの格子が異なった行間隔で前記放射光の一部を回 折する複数のホログラフィック透過光格子を通過させる工程と、そして 前記回折光を、各格子によって回折された放射光がセンサの異なった領域 に当たるように平面状画像センサに集束させる工程と、 を有する放射光のスペクトル成分分離方法。 14.検光すべき放射光源を提供する工程と、 前記放射光を、それぞれが異なった行間隔と方向で放射光を回折する複数 のホログラフィック透過光格子を通過させる工程と、そして 各格子からの前記放射光がセンサの異なった領域に当たるように構成され た前記複数の格子によって前記回折光を平面状画像センサに集束させる工程と、 を有する放射光のスペクトル成分分離方法。 15.請求項14の方法であって、前記複数の格子は、平面状であり、かつ、互 いに平行に支持されている。 16.請求項14の方法であって、前記複数の格子は、各格子からの放射光が前 記センサの異なった領域に当たるように互いに対して角度を有して配置されてい る。 17.請求項1の分光器であって、各格子によって回折される光は前記アレイの 異なった列に当たるようになっている。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 テデスコ,ジェイムズ,エム アメリカ合衆国 ミシガン 48154 リヴ ォニア ミルナ・コート 33047

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. 検光すべき光ビーム源と、 光電検出素子の二次元アレイと、 それぞれが異なる波長域で作動する複数のホログラフィック透過格子と、 前記複数の格子が前記入射光の少なくとも一部を前記光電検出素子上に回 折するように入力光の同じ開口を前記複数の格子のそれぞれに向け、これによっ て、前記検出器アレイの異なった領域が、前記入射ビームに含まれるスペクトル の異なった部分を表す信号を受けるようにする手段とを備えた、 分光器。 2. 請求項1の分光器であって、前記複数の格子は、ほぼ平面状で、かつ、互 いに平行に積層されている。 3. 請求項1の分光器であって、前記複数の格子は、各格子によって回折され た光が次の格子を通過しないように方向変更されるように互いに離間配置されて いる。 4. 請求項3の分光器であって、各格子に記録されたホログラムを使用して、 該格子に関連するスペクトル成分を、異なった検出器領域に向ける。 5. 請求項1の分光器であって、前記複数の格子は、 各格子に関連するスペクトル成分を異なった検出器領域に向けるべく互いに傾斜 している。 6. 請求項1の分光器であって、前記光電検出素子は荷電結合素子である。 7. 請求項1の分光器であって、前記入射放射光源は光ファィバを有する。 8. 請求項1の分光器であって、前記入力光の一部を前記各格子に向ける手段 は、前記入力光をほぼコリメートする作用を有するレンズを有する。 9. 請求項1の分光器であって、更に、前記複数の格子によって回折された光 を前記光電検出素子に集束する手段を有する。 10.検光すべき光を光電検出素子上に回折させるホログラフィック透過光格子 を有するタイプの分光器であって、 二次元画像センサとして形成された検出器と、そして それぞれが異なった行間隔を有し、それぞれが検光すべき光の最大開口に 対して露出された複数の前記格子と、そして 各格子によって回折された光を、前記センサの表面の実質的に異なった領 域に向けるための手段と、 を改善点とする分光器。 11.検光すべき光源と、 検光すべき前記光源の最大開口を受けるべく構成され、それぞれが受け取 った光を他の格子に対して異なった角度で回折する作用を有する複数のホログラ フィック透過光格子と、 二次元画像センサと、 各格子によって回折された光を前記センサの表面に向け、これによって前 記入射ビームに含まれるスペクトルの異なった部分を表す信号が、前記センサの 異なった領域に当たるようにする手段と、 を有する分光器。 12.請求項1の分光器であって、前記入射ビームに含まれるスペクトルは、一 連の互いに分離した帯域として前記センサに当たる。 13.検光すべき放射光源を提供する工程と、 それぞれが異なった行間隔を有し、前記放射光の最大開口を横切って配置 された複数のホログラフィック透過光格子を使用して前記放射光を回折する工程 と、そして 前記回折光を、各格子からの放射光がセンサの異なった領域に当たるよう に平面状画像センサに集束さ せる工程と、 を有する放射光のスペクトル成分分離方法。 14.検光すべき放射光源を提供する工程と、 前記放射光を、それぞれが異なった行間隔と方向で放射光を回折する複数 のホログラフィック透過光格子を通過させる工程と、そして 各格子からの前記放射光がセンサの異なった領域に当たるように構成また は方向付けられた前記複数の格子によって前記回折光を平面状画像センサに集束 させる工程と、 を有する放射光のスペクトル成分分離方法。 15.請求項14の方法であって、前記複数の格子は、平面状であり、かつ、互 いに平行に配置されている。 16.請求項14の方法であって、前記複数の格子は、各格子からの放射光が前 記センサの異なった領域に当たるように互いに対して角度を有して配置されてい る。 17.請求項1の分光器であって、各ホログラフィック透過光格子は、検光すべ き前記光の最大開口を受ける。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012093770A1 (en) * 2011-01-05 2012-07-12 Korea Research Institute Of Standards And Science Diffraction grating spectrometer
JP2014115295A (ja) * 2014-01-31 2014-06-26 Olympus Corp 分光装置
JP2018189541A (ja) * 2017-05-09 2018-11-29 富士電機株式会社 分光装置及び分光方法
JP2019132606A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 株式会社Jvcケンウッド 分光器

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9410395D0 (en) * 1994-05-24 1994-07-13 Renishaw Plc Spectroscopic apparatus
US6028667A (en) * 1996-05-13 2000-02-22 Process Instruments, Inc. Compact and robust spectrograph
US6100975A (en) * 1996-05-13 2000-08-08 Process Instruments, Inc. Raman spectroscopy apparatus and method using external cavity laser for continuous chemical analysis of sample streams
US5982962A (en) * 1997-03-29 1999-11-09 Koops; Hans W. P. Fiber-integrated microlenses and optical fiber FBG couplers, spectrometers, and multiplexers comprised thereof
GB2344166B (en) * 1998-11-26 2000-10-25 Infrared Integrated Syst Ltd Versatile filter based spectrophotometer
US6075612A (en) * 1999-06-18 2000-06-13 N&K Technology, Inc. Optical devices having toroidal mirrors for performing reflectance measurements
US6788849B1 (en) * 1999-11-12 2004-09-07 Cme Telemetrix Inc. Volume or stacked holographic diffraction gratings for wavelength division multiplexing and spectroscopy
JP2003515185A (ja) * 1999-11-12 2003-04-22 シーエムイー テレメトリックス インク. 波長分割多重(wdm)及び分光用の立体及び積み重ね型ホログラフィック回折格子
US6373567B1 (en) 1999-12-17 2002-04-16 Micron Optical Systems Dispersive near-IR Raman spectrometer
US6690467B1 (en) 2000-05-05 2004-02-10 Pe Corporation Optical system and method for optically analyzing light from a sample
RU2199829C2 (ru) * 2000-08-16 2003-02-27 Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" Способ и устройство обнаружения и визуализации антистоксового излучения, возбуждаемого на поверхности исследуемого объекта
US6583873B1 (en) 2000-09-25 2003-06-24 The Carnegie Institution Of Washington Optical devices having a wavelength-tunable dispersion assembly that has a volume dispersive diffraction grating
US6978062B2 (en) 2001-02-21 2005-12-20 Ibsen Photonics A/S Wavelength division multiplexed device
US6842239B2 (en) * 2001-08-10 2005-01-11 Ibsen Photonics A/S Alignment of multi-channel diffractive WDM device
US7085492B2 (en) * 2001-08-27 2006-08-01 Ibsen Photonics A/S Wavelength division multiplexed device
IL161729A0 (en) * 2001-11-06 2005-11-20 C I Systems Ltd In-line spectroscopy for process monitoring
JP2004207314A (ja) * 2002-12-24 2004-07-22 Tokyo Electron Ltd 膜改質の終点検出方法、その終点検出装置及び電子ビーム処理装置
US7180590B2 (en) 2003-07-09 2007-02-20 Ibsen Photonics A/S Transmission spectrometer with improved spectral and temperature characteristics
FR2872571B1 (fr) * 2004-07-05 2006-09-22 Jobin Yvon Sas Soc Par Actions Dispositif optique reflecteur et dispositifs spectroscopiques comportant ces dispositifs optiques reflecteurs
TWI245114B (en) * 2004-10-11 2005-12-11 Ind Tech Res Inst Apparatus for measuring imaging spectrograph
US7283232B2 (en) * 2005-06-06 2007-10-16 Duke University Optical spectroscopy with overlapping images
JP4908838B2 (ja) * 2005-12-13 2012-04-04 富士通株式会社 多波長分光装置
US7511808B2 (en) * 2006-04-27 2009-03-31 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Analyte stages including tunable resonant cavities and Raman signal-enhancing structures
WO2008012812A2 (en) * 2006-07-24 2008-01-31 Hyspec Imaging Ltd. Snapshot spectral imaging systems and methods
US7548313B2 (en) * 2006-08-02 2009-06-16 Quang-Viet Nguyen Compact and rugged imaging Raman spectrograph
FR2915797A1 (fr) * 2007-05-04 2008-11-07 Thales Sa Dispositif et procede de calibration d'une source lumineuse.
GB201302886D0 (en) * 2013-02-19 2013-04-03 Univ Singapore Diagnostic instrument and method
GB201415238D0 (en) * 2014-08-28 2014-10-15 Renishaw Plc Spectroscopy apparatus
NL2016040B1 (en) 2015-12-24 2017-07-21 Anteryon B V An optical module
WO2017184109A1 (en) 2016-04-18 2017-10-26 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Simultaneous detection of multiple spectra of scattered radiation
US20180156717A1 (en) * 2016-12-05 2018-06-07 Bill & Melinda Gates Foundation Multi-test assay systems and methods of using the same
DE102016225344A1 (de) * 2016-12-16 2018-06-21 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. System zur Analyse von elektromagnetischer Strahlung und Bauelement zur Herstellung desselben
US10962415B2 (en) 2017-02-21 2021-03-30 Fisens Gmbh Apparatus for optical applications, spectrometer system and method for producing an apparatus for optical applications
WO2019204928A1 (en) 2018-04-25 2019-10-31 National Research Council Of Canada High resolution and high throughput spectrometer
US12345949B2 (en) * 2018-08-20 2025-07-01 Captain Jrt Llc Spectrometers having a fringe tilted grating
JP7236170B2 (ja) * 2019-03-29 2023-03-09 国立大学法人大阪大学 光検出装置、光検出方法、光検出装置の設計方法、試料分類方法、及び、不良検出方法
TWI765286B (zh) * 2020-06-23 2022-05-21 長庚大學 光譜分析裝置
DE102020117278B3 (de) 2020-07-01 2021-08-26 Audi Aktiengesellschaft System zum Abbilden einer Szene, sowie Holographische Kamera
JP2022071291A (ja) * 2020-10-28 2022-05-16 キヤノン株式会社 識別装置
JP7630969B2 (ja) * 2020-11-20 2025-02-18 キヤノン株式会社 識別装置
US20260079047A1 (en) * 2022-09-12 2026-03-19 Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Compact, high-resolution snapshot hyperspectral imaging with 3d printed glass lightguide array
CN117824835A (zh) * 2022-09-29 2024-04-05 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种用于风场探测的双通道多普勒差分光谱仪光学系统

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3578845A (en) * 1968-02-12 1971-05-18 Trw Inc Holographic focusing diffraction gratings for spectroscopes and method of making same
US4729658A (en) * 1986-06-05 1988-03-08 The Perkin-Elmer Corporation Very wide spectral coverage grating spectrometer
US5011284A (en) * 1990-03-22 1991-04-30 Kaiser Optical Systems Detection system for Raman scattering employing holographic diffraction
US5042893A (en) * 1990-11-09 1991-08-27 Hewlett-Packard Company Direct mount coupling to a spectrophotometer
JPH05231938A (ja) * 1991-02-07 1993-09-07 Res Dev Corp Of Japan 高感度多波長分光装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012093770A1 (en) * 2011-01-05 2012-07-12 Korea Research Institute Of Standards And Science Diffraction grating spectrometer
JP2014115295A (ja) * 2014-01-31 2014-06-26 Olympus Corp 分光装置
JP2018189541A (ja) * 2017-05-09 2018-11-29 富士電機株式会社 分光装置及び分光方法
JP2019132606A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 株式会社Jvcケンウッド 分光器

Also Published As

Publication number Publication date
EP0736168A1 (en) 1996-10-09
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