JPH08511347A - レーザー回折粒子サイジング装置及び方法 - Google Patents

レーザー回折粒子サイジング装置及び方法

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JPH08511347A JP7501852A JP50185295A JPH08511347A JP H08511347 A JPH08511347 A JP H08511347A JP 7501852 A JP7501852 A JP 7501852A JP 50185295 A JP50185295 A JP 50185295A JP H08511347 A JPH08511347 A JP H08511347A
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Abstract

(57)【要約】 レーザー回折粒子サイジング装置のファイバ光学空間周波数フィルタ組立品は、単色光のビームを発生するためにレーザーを使用し、単色光のビームは、実質的に単一モードで作動し、かつ高い度合いの空間干渉性を有する光のビーム(56)を製作する、光学ファイバ(36)に結合され、続いて単色光のビームは、信号を送りかつ物質の粒子に衝突するためにコリメータレンズ(64、66)を通過され、レーザーの回折された光は物質の粒子を通過する。粒子によって散乱された光は、フーリエ面(96)に焦点を合わされ、続いてフーリエ面と同一平面に配置されて並べられた光検出器(98)に衝突し、散乱角度によって散乱された光の強度を計測し、それゆえ粒子サイズの計量が可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】 レーザー回折粒子サイジング装置及び方法 〔技術分野〕 本発明は、一般に、粒子サイズの測定にレーザー回折を使用する型式の粒子サ イジング装置及び方法に関する。より詳細には、本発明は、他の構成要素と共に 、容易に調節され、置き換え可能であり、耐久性があり、更にコストが効果的で ある、空間周波数フィルタの高度な空間干渉性を有する光のビームを製作するた めに、単一モードの光学ファイバを使用する。 〔背景技術〕 粒子のサイズを計測するレーザー光回折の使用は、幅広く周知な技術である。 レーザー回折は、散乱された光の平均の相対角度強度を使用する、粒子サイジン グ方法である。粒子のサイズを計測するためにレーザー光回折を使用する器械は 、多数の異なる製造業者から長年にわたって使用可能であった。すべてのレーザ ー回折器械は、粒子のサイズを計測する同一な基本的な方法を使用する。すべて のレーザー回折器械は、非常に規則的な波面と共に単色光のビームを必要とする 。このレーザー光のビームは、サンプル粒子の位置で、計測されるように指示さ れる。光が粒子に衝突する際には、光は、粒子から回折又は散乱される。検出器 は、使用されて、サンプル材料から様々な角度で散乱される光の相対平均強度を 計測する。粒子から幾つかの異なる角度で散乱される光の相対強度が知られると 、粒子サイズ及びサイズ分布が計算可能である。 粒子のサイズを正確に計測する性能は、サンプル粒子を照らすビームの品質、 その空間干渉性に直接関連する。この単色光のビーム はかなり平行にされなければならず、つまり、ビーム内を移動するすべての光線 は、互いに平行でなければならない。 光のビームがかなり平行にされるために、光は、光源から非常に規則的な波面 を有さなければならない。理想的には、光源は、完全な光源であり、最小限度ま で小さい。更に、光源は、空気中の塵粒子によってもたらされてしまう、あるい は光のビームが部分的に妨害されることによる、回折があってはならない。更に 、光のビームを平行にするのに使用される任意の光学レンズは、同様に光の回折 をもたらしてしまう、表面及び材料の欠陥があってはならない。最後に、ビーム を平行にするのに使用される任意の光学レンズは、レンズ自体によってもたらさ れる収差を最小にするように設計されなければならない。これらの特徴は、高分 解能のサイズ計測を達成するために必要である。 粒子を計測するためのレーザー回折を使用する装置及び方法は、粒子を分析す るための、動的な光散乱装置及び方法とかなり異なる。動的な光の散乱は、時間 変動、又は散乱された光のパワースペクトル計測が必要とされる。ところが、レ ーザー回折は、複数の検出角度で、時間又は周波数に基づく計測ではない、散乱 された光の平均、相対角度強度の計測を必要とする。動的な光の散乱に対するレ ーザーの回折の構造、方法、及び光学的な要件の間の基本的な差異は、当業者に は周知である。しかしながら、レーザー回折の幾つかの高度に複雑かつ微細な差 異は、動的な光散乱技術の見識のある人にも認識されていないかもしれない。 レーザー回折装置では、例えばコウルター@エルエス(COULTER@LS )及び競合する装置である、レーザービームの空間でフィルタをかけることは、 上述されたような高い空間干渉性の品質のビームの製造に使用され、更に器械の 最も重要な見地 の一つである。コウルターエルエスでは、例えば900μmである、非常に大き い粒子からの回折によってもたらされるレーザービームの小さな角度の偏向を計 測するために、0.5ミリラジアン(mR)程度に小さい角度で散乱された光が 計測されなければならず、更に概略0.05mRの角度分解能が必要とされる。 このレベルのビームの品質を達成するために、レーザービームは約13mmまで 拡大されなければならず、更にこの直径の回折の限定されたビームは平行にする (collimating)光学によって形成されなければならない。750nmの波長を 有する、直径13mmの回折の限定されたガウスビームは、0.04mRの発散 を有する。空間干渉性及び平行にすること(collimation)のこの必要なレベル と、実際の性能との間の重要な任意の矛盾は、器械の分解能の低下をもたらす。 レーザー回折技術に基づくすべての粒子サイジング器械は、この非常に高品質 のレーザー光のビームを提供するために空間周波数フィルタを使用する。すべて のこれらの空間周波数フィルタは、必要な品質の光のビームを製作するために、 他の光学要素と結合したピンホールを使用する。典型的なピンホール空間周波数 フィルタは、以下の方法で構成される。例えばレーザーダイオードである光源は 、光のビームを円形にする円形のビーム絞り部を照らす。続いて円形の光のビー ムは、光学レンズシステムを通過する。これらのレンズは、レンズビームを、一 般に直径20〜50μmであるピンホールの方に焦点合わせし、大部分の光のビ ームは、ピンホールを通過される。回折又はレンズの異常によってもたらされる 、レーザー光のあらゆる不純物は、ピンホールを通過せず、ピンホールを包囲す る不透明材料によって遮断される。それゆえピンホールを通過する光は、ピンホ ール自体によってもたらされるいくらかの回折リングを除いて“純粋”である。 これらの回折リングは、第一の回折リング のまさに最小の位置に配置された他のビーム絞り部によって除去される。最終的 に、レーザーはこの発散を平行にし、コウルターエルエス(COULTER LS)の場合 に必要なビームの直径が13mmである位置に、円形の光のビームは到達し、レー ザー回折粒子サイジングに有益な、かなり平行にされ、規則的にされた波面の光 のビームが製造される。 この光のビームを製造するピンホールの方法は、効果的に作用するが、実際に は多数の問題を有する。第一に、大部分の光をレーザー源からピンホールに通す ために、源部を含む光学要素、第一のビーム絞り部、レンズ及びピンホールは、 正確に焦点を合わされかつ数μmの範囲内に調節されなければならない。これは 、これらの調節要件に良好な分解能を提供するために、非常に複雑でありかつ高 価な機械要素の使用を必要とする。更に、組立品を十分に調節するのに必要な時 間は、長い時間に及ぶ可能性がある。第二に、組立品は、一度完全に調節される ても、クランプ又は温度変化による機械的な歪みによって容易に調節をくずされ る可能性があり、温度変化によって、様々な構成要素は、それぞれの熱膨張係数 によって膨張する。更に、器械の船積みの間の衝撃及び振動によって、ピンホー ル組立品の調節がくずされる可能性があり、費用及び時間のかかる現場のサービ スの原因になる。実験室で使用されて、空間周波数フィルタの光学列の構成要素 が燃焼又は損傷を受けると、全ての光学組立品は部品の交換のために工場まで戻 されなければならず、それゆえ時間を浪費しかつ光学の再調節に費用がかかる。 従って、レンズ回折粒子分析装置にとって、ピンホール型の空間周波数フィル タ組立品において、上述された課題を減少又は削除することは有効であろう。一 方、ピンホール及び他の関連する構成要素が、より耐久性があり、熱の影響、衝 撃及び振動によってもたら される歪みの影響をより受けにくく、更にほとんど調節を必要とせず、更にコス トがより低い、組立品を提供するために交換可能である場合、そのような交換は 、長年にわたる要求を解決するであろう。 例えば以下列挙された刊行物の一つ又は複数に記載されている多くの装置は、 光を伝える及び光を検出する装置の、単色及び多色ファイバを有する様々な形状 の光学ファイバを使用する。しかしながら、従来の技術の装置は、レーザー回折 技術を使用する粒子サイジングに必要な高品質の光のビームを提供可能な空間周 波数フィルタの単色の光学ファイバ装置を説明していない。 米国特許第4,953,978号、スティーブン イー.ボット(Steven E.Bott)他、コ ウルター エレクトロニクス オブ ニューイングランド、インク.(Coulter E lectronics of New England,Inc.)、偏向強度の異なる散乱を使用する粒子サ イズ分析(PARTICLE SIZE ANALYSIS UTILIZING POLARIZATION INTENSITY DIFFER ENTIAL SCATTERING)。 米国特許第4,975,237号、ロバート ジー.ダブリュー.(Robert G.W.)、グレ ートブリテン及び北部アイルランド連合王国の英国王陛下政府国防省の国家秘書 、動的光散乱装置(DYNAMIC LIGHT SCATTERING APPARATUS)。 米国特許第5,056,918号、スティーブン イー.ボット(Steven E.Bott)他、コ ウルター エレクトロニクス オブ ニューイングランド、インク.(Coulter E lectronics of New England,Inc.)、粒子サイズ分析方法及び装置(METHOD AN D APPARATUS FOR PARTICLE SIZE ANALYSIS)。 ジャスケイティス、アール.(Juskaitis,R.)他、1992年、エレクトロニク ス学 第28(11)巻、半導体レーザー励起及び検出を備えたファイバオプティ ックスを基本とする同焦点走査顕微鏡検査(FIBRE-OPTIC BASED CONFOCAL SCANN ING MICROSCOPY WITH SEMICONDUCTOR LASER EXCITATION AND DETECTION)。 ブラウン、アール.ジー.ダブリュー.(Brown,R.G.W.)他、1987年、ジェ ー.物理 イー.(J.Physics E.) 第20巻、動的光散乱用単一モードファイバ 構成要素(MONOMODE FIBRE COMPONENTS FOR DYNAMIC LIGHT SCATTERING)。 ブラウン、アール.ジー.ダブリュー.(Brown,R.G.W.)、1988年、HMS )レーザー光散乱実験用ミニチュア器械(MINIATURE INSTRUMENTATION FOR LA SER LIGHT SCATTERING EXPERIMENTS)。 クナートセン、ジェー.(Knuhtsen,J.)他、1982年、物理学会、偏向維持 単一モードファイバを使用するブラグ周波数変換を備えたファイバオプティック スレーザードップラー風速計(FIBRE-OPTIC LASER DOPPLER ANEMOMETER WITH BR AGG FREQUENCY SHIFT UTILISING POLARISATION-PRESERVING SINGLE-MODE FIBRE )。 ブラウン、アール.ジー.ダブリュー.(Brown,R.G.W.)、1987年、応用光 、第26(22)巻、単一モード光学ファイバを使用する動的光散乱(DYNAMI C LIGHT SCATTERING USING MONOMODE OPTICAL FIBRES)。 ダブス、ティー.(Dabbs,T.)他、1992年、応用光学、第31(16)巻、 ファイバオプティックス同焦点顕微鏡(FIBRE-OPTIC CONFOCAL MICROSCOPE): FOCON。 ブラウン、アール.ジー.ダブリュー.(Brown,R.G.W.)、1987年、レーザ ー風力測定用ファイバオプティックスプローブの設計(DESIGNS OF FIBRE OPTIC PROBES FOR LASER ANEMOMETRY):論文9、レーザー風力測定の改良及び応用の 第二国際会議 、ストラスクライド、英国。 ブラウンの特許第4,975,237号は、動的光散乱装置の光検出器組立品の単一モ ードの光学ファイバの使用方法に関する。ブラウンは、単一モードの光学ファイ バを備えた光検出器の前のピンホールの取り替えを説明しており、その目的は、 粒子からの大量の散乱された光から光の小さい領域を隔離することである。散乱 された光の単一の干渉領域を分離するために、単一モードのファイバの核の直径 が概略正確であるという理由だけで、ブラウンは単一モードの光学ファイバを使 用している。ブラウンは、レーザー回折に適切な、光の解放及びフィルタ装置と して光学ファイバを使用していない。ブラウンの図1では、ビーム解放路に単一 モードの光学ファイバが示される。しかしながら、彼の装置の動的光散乱方法は レーザー回折サイジング装置に必要とされるビームの品質を必要としないために 、ブラウンは、単一モードの光学ファイバを使用する空間周波数フィルタの利点 を教示又は提案していない。 例えばジャスケイティス他の同焦点顕微鏡である他の装置は、光の解放及び検 出の両方のために単一モードの光学ファイバを使用する。その様な装置及びそれ らの方法は、レーザー回折粒子サイジングに関係なく、そのための空間周波数フ ィルタ組立品の単一モード の光学ファイバの使用方法を教示していない。 〔発明の開示〕 単一モードの光学ファイバが空間周波数フィルタ組立品に使用され、粒子サイ ジングのレーザー回折技術に必要とされる単色光の空間的に純粋な、規則的な波 面の、点源部を製作するために、従来のフィルタをかける利点、ピンホールを基 本とする空間周波数フィルタ組立品を提供することが発明されかつ説明されてい る。得られた光の点源部は、理想的な点源部に近い。空間干渉性は、特に度合い が高い。光学ファイバを基本とするフィルタ組立品は、高価でなく、より耐久性 があり、調節が容易であり、更に熱及び振動の影響に対してより抵抗力があると いう付加的な利点を提供する。 〔図面の簡単な説明〕 本発明の好適な実施形態は、この明細書に添付の図面を参照して、例として以 下説明される。 図1は、典型的な、従来の技術のピンホール空間周波数フィルタの概略図であ る。 図2は、本発明を具体化した光学ファイバを基本とする空間周波数フィルタの 、部分的に断面の側面図である。 図3は、本発明を具体化した光学ファイバを基本とする空間周波数フィルタを 使用するレーザー回折装置の概略図である。 図4は、逆フーリエレンズを使用する、図3と同様の概略図である。 〔発明を実施するための最良の形態〕 図面の図1の概略図に示されるように、従来の技術のピンホールを基本とする 空間周波数フィルタ10は、一般に光発生レーザーダイオード12と、第一の円 形のビーム絞り部16を通されるビーム14とを有し、その第一の円形のビーム 絞り部16は、望まれない 周囲のビームを削除するために作用しかつ光のビームを円形形状にし、更にフィ ルタ10は、焦点合わせ用レンズ18及び20と、ピンホール部材22と、ピン ホール22の端部衝突するビーム14の一部によってもたらされる回折リングを 除去する第二のビーム絞り部24とを有し、最終的にレーザー光のビームは、レ ンズ26によって平行にされかつ(図示されない)サンプルの収容室、通路又は 流路まで通され、その中に収容された微粒子の物質をサイジングする。第二のビ ーム絞り部24及びコリメータレンズ26は、従来の技術の空間周波数フィルタ 装置に必要な部品である。レーザー源とピンホールの間のレンズ18及び20と 埃粒子の短所により、ビーム14が回折し、更にピンホール22を通過せずに遮 断される望まれない又は“汚い”ビームがもたらされる可能性がある。 上述された従来の技術と対照して、本発明を具体化するレーザー回折粒子サイ ジング装置の光学ファイバを基本とする空間周波数フィルタは、図面の図2に説 明され、以下説明される。本発明の新しい光学ファイバを基本とする空間周波数 フィルタ組立品を組み込んだレーザー回折粒子サイジング装置は、図面の図3及 び4に説明される。 図2に示されるように、好適な実施形態に関する単一モードの光学ファイバを 基本とする空間周波数フィルタ組立品30は、多くの要素を有する。第一の堅牢 な垂直の支持部材32は、光学ファイバ結合器34に対してレーザーダイオード を支持し、光学ファイバ結合器34は、(図示されない)レーザーダイオードか ら単一モードの光学ファイバケーブル36まで光を結合する。光学ファイバ結合 器の構成は、電気通信産業で使用されるように、幅広く利用可能である。光学フ ァイバケーブル36は、概略6メートルの長さに切断される。特有の長さは、本 発明にとって重大ではないが、十分に長 くなければならず、その結果、ファイバの(図示されない)外被を通じての外部 からの光の移動は、明瞭な、空間周波数フィルタがかけられたビームの出力に有 害でない程度まで減衰される。光学ファイバ結合器34はプリントされた回路ボ ード38によって支持され、回路ボード38は、個々の回路構成要素40に固定 部材を提供し、あるいは説明されないが、回路ボード38は、電力を(図示され ない)レーザーダイオードに向ける。印刷された回路ボード38は、堅牢な部材 42上に配置された第一の堅牢な支持部材32によって支持される。更に支持部 材32は、短い円筒形の型又は管44を支持する。6メートルの長さの光学ファ イバケーブル36は、円筒形の管44の周りをコイル状に巻かれ、比較的小さい コンパクトな組立品46を提供し、組立品46は後で収縮包装カバー48によっ て覆われ、収縮包装カバー48は、取扱いによる損傷からケーブルを保護する。 光学ファイバケーブル36の前方に延長する端部50は、端が光学ファイバコネ クタ52になっており、組立品46の部品が損傷を受けた又は燃焼した場合には 、組立品46は現場で交換可能である。 光学ファイバ36は、概略5μmの核と125μmの外被を備えた単一モード の(一つのモードの)光学ファイバである。光学ファイバは、ファイバの正規化 周波数(Normalized Frequency)(V数(V-number))が2.405より小さい 又は等しい場合に、光のある波長の単一モードとして限定される。V数は、以下 のように計算される。 ここで、NAはファイバの開口数(無次元)、 aはファイバの核の半径(μm)、 λは光の波長(μm)。 本発明のある実施形態では、光学ファイバの開口数は0.11であり、レーザ ー光の波長は750nmであり、ファイバの核の半径は2.5μmであった。こ の構想により2.30のV数がもたらされる。 例えば結合器34であるファイバの結合器は、一般に、光学ファイバの入力面 に光の焦点を合わせるレンズに関して適切にレーザーダイオードを締結する手段 を有する。ファイバ結合器は、異なる度合いの結合効率を有して得られることが 可能であるが、一般には45%より低く、つまり、レーザーダイオードの出力の 45%のみが光学ファイバに結合される。しかしながら、この結合効率は、典型 的なピンホールを基本とするフィルタ組立品の効率の一から三倍よい。本発明の 好適な実施形態では、5mWの出力を有するレーザーダイオードは、概略20% の効率を有する光学ファイバ36に結合され、概略1mWのファイバの出力を製 作する。 光学ファイバに結合された大部分の光は、光学ファイバの核を通じて移動する が、光の一部は、光学ファイバの外被に結合される。この“外被光”は、適切に 消されない場合、空間周波数フィルタの性能の非常に低い源部となり得る。本発 明の実施形態では、概略6メートルである、比較的長い光学ファイバが使用され 、外被を通じての光の移動は、外被の固有の高い減衰損失によって消される。一 方、この外被モードの光は、ファイバに沿って外被を包囲する屈折率整合ゲルを 使用することによって、外被から除去されることが可能である。 ファイバを通じての外被光の移動が十分に減衰された後に、光は(5μmの直 径の)核を通じてファイバの端部から離れる。750nmの光と共に使用される この核の直径により、単一モードの光学 ファイバの光の出力は、20〜50μmの直径のピンホールを使用する典型的な ピンホールを基本とする空間周波数フィルタよりも、光の理想的な点源部に近づ けた。更に、単一モードの光学ファイバからの光の出力の核の直径及び限定され た開口数のために、図1の典型的な従来の技術のピンホールの型式のフィルタで 必要とされる第二のビーム絞り部24の必要性がない。 光学ファイバ結合器52は、基部部材42にも締結されている第二の堅牢な垂 直の支持部材54を通じて固定される。レーザー光のビーム56は、光学ファイ バ36の端部又は先端58から出る。単一モードの光学ファイバの性質のために 、光学ファイバから出る光は、一般的にλ/10よりも小さい波面の歪みを有し 、円形形状であり、ガウス強度曲線を有し、更に好適な実施形態では0.11で あったファイバの開口数に従って発散する。好適な実施形態では、出力ビーム5 6は、高度な空間干渉性を有し、平行にされる前に概略13mmの直径に拡張可 能である。 光学ファイバ結合器52は雌の結合器部材60に取着され、雌の結合器部材6 0は続いて堅牢な位置決めディスク62に取着される。組立の間、ディスク62 によって、光学ファイバ36の先端58は、平行にする又はビームを形成する一 対のレンズ64及び66の公称の中心位置に対して不動に配置される。固定ねじ 67によって位置決めディスク62は、同様に基部部材42に配置される第二の 垂直な支持部材68上に適切に保持される。 位置決めディスク62は位置決めリング70の内側に配置され、位置決めリン グ70は、(一つのみ示されている)二つの調節ねじ72により固定を行う。調 節ねじ72は、位置決めディスク62及びファイバ先端58をX及びYの両軸方 向に移動させ、光56のビームを、ビーム形成レンズ64及び66の公称の中心 の位置に中心 が出るように調節される。位置決めディスク62の中心合わせが行われると、固 定用ねじ67はしっかりと締結され、垂直の支持部材68及び基部部材42に対 してディスク62の位置を固定する。 レンズ64及び66はレンズマウント74に配置され、レンズマウント74は レンズ管76に締結され、レンズ管76はブロック状の支持部材78を通じてZ 軸に沿って摺動可能であり、そのような摺動によって、レンズは焦点を合わされ る。焦点合わせが行われると、(図示されない)一式のねじが、レンズ管76を ブロック支持部材78に関して適切に保持する。 レンズ64及び66は、ブロック78を移動させることによって、X及びY軸 に関して配置される。このブロック78は、四つの等距離の、配置された角部の 、柔軟なワイヤ状の部材80によって、支持部材54から柔軟に支持され、その 部材80は、第一の支持部材54から前方に、第二の垂直な支持部材68のクリ アランスホールを通じてブロック78まで延長する。(一つしか図示されない) 二つのステッピングモータ82を使用することによって、ブロック78は、X− Y方向及びその組み合わせに配置される。この柔軟な構成によって、レーザー回 折装置は、装置の残りに関して光のビーム56を動的に調節可能である。 図3の概略図に示されるように、本発明の単一モードの光学ファイバを基本と するフィルタ組立品30を具体化するレーザー回折粒子サイジング装置は、サン プル通路84の中に進入する及びそれを通過する平行にされたレーザー光のビー ム56と共に説明され、そのサンプル通路84によって、様々なサイズの粒子の 微粒子物質86は、矢印88方向に移動する又は流れる。通路84は、流動セル 、空中を流動するサンプルの流れ、又は他の媒体によって包囲されたサンプルの 流れであることが可能である。粒子サンプルが流される ことは本質的ではない。(この図では簡略化のために同一のサイズに示されてい る)粒子86は、周知のフラウンホーファー回折及び他の散乱理論に従って、幾 つかの衝突するレーザー光のビームを回折する。ビームから回折された光は、図 3に示されるように、粒子から広がる光の複数の回折された光線90になる。平 行にされた光のビーム56に関する回折された光90の角度は、粒子86のサイ ズに概略反比例する。 続いて回折された光90は、レンズに入射する光をある角度94にするフーリ エレンズ92を通過し、フーリエ表面又は面96に焦点を合わされ、フーリエ表 面又は面96は、フーリエレンズの焦点距離と等しい距離だけフーリエレンズか ら移動されている。光検出器98は、フーリエ面96と同一面に配置される。並 べられた光検出器98は、光の強度を計測する独立した光検出器よりも多い数に される。並べられた光検出器98の多数の検出位置で光を計測することによって 、散乱角度に対する散乱光の強度の正確な曲線が得られる。レーザー回折サイジ ング装置と作動可能に結合された(図示ーれない)コンピュータは、サンプル粒 子86の実際のサイズ及びサイズ分布を決定可能である。 図4は本発明のある実施形態を説明し、コリメータレンズ64及び66は、そ れ自体従来の技術から周知である逆(reverse)フーリエレンズ100によって 置き換え可能である。逆フーリエレンズ100は、図3のフーリエレンズ92の 必要性をなくすが、フーリエ面として図3のフーリエレンズ92と同様の面96 を有する。逆フーリエレンズ100は、フーリエ面のある位置104に集中する 集中ビーム102を製作し、集中位置104はフーリエレンズ92と同様である 。逆フーリエレンズ100及びコリメータレンズ64及び66は、一般に“ビー ム形成手段”としてみなされる。 要約すれば、本発明は、従来のピンホールを基本とする空間周波数フィルタ組 立品と同様の機能を提供するが、第二のビーム絞り部、費用のかかる組立品の調 節、時間のかかる調節行為に関連する高いコスト及び精巧なピンホールを基本と するフィルタの船積みに関連する費用のかかる現場でのサービスの問題を有さな い。有効な発光源のサイズが理想的な点の光源に近いために、単一モードの光学 ファイバを基本とするフィルタのレーザー光の出力ビームは、典型的なピンホー ルを基本とするフィルタよりも良好な品質、空間干渉性を有する。例えば、光学 ファイバを基本とする技術によって、5μmの核の直径は非常に容易に達成可能 であり、等しいサイズのピンホールを基本とするフィルタでは、市販用製作物で 首尾よく調節すること及び船積みすることは、実質的に不可能であろう。 説明の実施形態は、本発明の原理の例を構成しているが、普通の当業者であれ ば、本発明の範囲から逸脱することなく変形させることが可能であることが理解 される。
【手続補正書】特許法第184条の8 【提出日】1995年3月27日 【補正内容】 請求の範囲 1. 単色のレーザー光のビームを発生する手段を具備し、 更に、概略単一モードで作動する光学ファイバ内に前記レーザー光のビームを 結合する手段を具備し、 前記光学ファイバは、高い度合いの空間干渉性を有する光のビームを製作する ために構成されかつ配列され、 更に、回折限定ビームを形成するために前記光のビームを形成する手段を具備 し、 更に、前記回折限定ビームを遮断するために配置された粒子サンプル通路手段 を具備し、粒子が該通路に位置する際に、該粒子は、散乱されたビームを形成す るために、幾らかの前記ビームの前記光を散乱させ、 更に、前記散乱されたビームをフーリエ面上に焦点合わせする手段を具備し、 更に、粒子のサイズの計量を可能にするために、散乱角度によって散乱光の光 の強度を計測するために、該フーリエ面にぶつけられた散乱された光を検出する 手段を具備することを特徴とするレーザー回折粒子サイジング装置のファイバ光 学空間周波数フィルタ。 2. 前記散乱された光を、前記粒子から、前記散乱された光を検出する手段 に焦点合わせするフーリエレンズを更に具備することを特徴とする請求項1に記 載の発明。 3. 前記光学ファイバは、該光学ファイバ内の光の望まれない伝搬モードを 効果的に排除するのに十分な長さであり、純粋な単一モードの光の出力を提供す ることを特徴とする請求項1に記載の発明。 4. 前記光学ファイバは、光の出力端部の位置で、互いに直交 する少なくとも二つの自由度を提供する手段に締結され、前記出力光は系統的に 調節されることを特徴とする請求項1に記載の発明。 5. 前記少なくとも二つの自由度を提供する手段は、前記光学ファイバの前 記光の出力端部の調節可能な支持手段を有し、前記光学ファイバの光の出力端部 は、前記光のビームを形成する前記手段に関して角度調節可能であることを特徴 とする請求項4に記載の発明。 6. 前記少なくとも二つの自由度を提供する手段は、前記光学ファイバ及び 前記ビーム形成手段を相互連結する柔軟な部材を有することを特徴とする請求項 4に記載の発明。 7. 前記光学ファイバに関して、前記光学ファイバと共に前記フーリエ面に 前記ビームを焦点合わせする前記手段を直交して配置する駆動手段を更に有する 請求項1に記載の発明。 8. 前記光学ファイバは長手方向に巻かれ、一方の端部は、前記レーザー光 のビームを発生する前記手段に結合され、反対側の端部は、前記ビームを前記フ ーリエ面に焦点合わせする前記手段に関する直交運動のために支持されることを 特徴とする請求項1に記載の発明。 9. 前記ビーム形成手段は、概略平行にされたビームを形成するコリメータ 手段を有し、該平行にされたビームは、前記サンプル通路内の粒子によって遮断 及び散乱されることを特徴とする請求項1に記載の発明。 10. 前記ビーム形成手段は、集中するビームを形成する逆フーリエレンズ を有し、該集中するビームは、前記サンプル通路内の粒子によって遮断及び散乱 されることを特徴とする請求項1に記載の発明。 11. レーザー光のビームを発生し、 該レーザー光を変更し、前記レーザー光のビームを、実質的に単一モードで作 動する光学ファイバに通すことによって、高い度合いの空間干渉性を有する変更 されたビームを製作し、 該変更されたビームから、回折の限定された平行ビームを発生し、 該平行ビームと共に、粒子を有するサンプル材料を照らし、前記ビームを散乱 させ、 前記粒子によって散乱された前記ビームをフーリエレンズに通し、 散乱された前記光のビームを、前記フーリエレンズのフーリエ面に配置された 光検出器に衝突させ、 該光検出器により、前記フーリエ面の複数の散乱する角度の位置の散乱角度に よって、散乱された光の強度を計測し、 前記計測された散乱角度及び強度に基づいて、前記粒子のサイズを算出する工 程を含むことを特徴とするレーザー回折粒子サイジング方法。 12. レーザー光の源部を具備し、 更に、該レーザー光を収容しかつ空間的にフィルタがかけられた出力ビームを 発生する空間周波数フィルタ手段を具備し、 更に、前記出力ビームを遮断するために配置されたサンプル通路手段を具備し 、該通路手段の粒子は、前記出力ビームを散乱させて、散乱された光の光線を製 作可能であり、 更に、フーリエ面を生成するレンズ手段を具備し、該フーリエ面は、配置され て、前記散乱された光の光線の幾らかを前記フーリエ面上に衝突させ、 配置されて、前記フーリエ面に衝突された前記散乱された光を検出し、かつ複 数の散乱する角度位置で散乱角度によって光の強度を計測する検出手段を具備し 、粒子サイズの算出を可能にする、レンズ回折粒子分析装置の使用方法において 、前記空間周波数フィルタ 手段は、実質的に単一モードで作動するために構成されかつ配列された光学ファ イバを有することを特徴とする使用方法。 13. 前記光学ファイバは、小さい核と、発散ビームとして前記出力ビーム が退出する出力端部とを有し、 更に、前記レンズ手段は、配置され、前記発散ビームをある距離で遮断し、該 距離では、前記発散ビームの直径に対する前記核の比率は、その遮断位置で、概 略1:3であることを特徴とする請求項12に記載の発明。 14. 前記光学ファイバは、高い度合いの空間干渉性を有する実質的に純粋 な出力を提供するために、十分な長さを有することを特徴とする請求項12に記 載の発明。 15. 前記光学ファイバは、配置されてX及びY軸に関して調節可能に位置 決めされ、続いて前記レンズ手段に関して調節された位置の光学システムに固定 される、出力端部を有することを特徴とする請求項12に記載の発明。 16. 前記レンズ手段は、焦点合わせの調節のためにZ軸に沿って移動可能 であり、更に必要なZ軸の位置に固定されるように構成されることを特徴とする 請求項15に記載の発明。 17. 前記レンズ手段は、前記X及びY軸に関して前記レンズ手段を調節可 能に位置決めするための、固定手段を有することを特徴とする請求項16に記載 の発明。 18. 前記固定手段の前記調節可能な位置決めは、作動中、前記光学ファイ バの前記出力端部の前記X及びY軸の調節に独立していることを特徴とする請求 項17に記載の発明。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ボット,スティーブン エリック アメリカ合衆国,フロリダ 33029,ペン ブローク パインズ,ノース ウェスト 174 アベニュ 759 (72)発明者 ハート,ウィリアム ハワード アメリカ合衆国,フロリダ 33183,マイ アミ,サウス ウエスト 66 ストリート 14201 アパートメント 102

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. 単色のレーザー光のビームを発生する手段を具備し、 更に、概略単一モードで作動する光学ファイバ内に該レーザー光のビームを結 合する手段を具備し、 該光学ファイバは、高度の空間干渉性を有する光のビームを製作するために構 成されかつ配列され、 更に、回折限定ビームを形成するために光の該ビームを形成する手段を具備し 、 更に、該回折限定ビームを遮断するために配置された粒子サンプル通路手段を 具備し、粒子が該通路に位置する際に、該粒子は、散乱されたビームを形成する ために、幾らかの該ビームの前記光を散乱させ、 更に、該散乱されたビームをフーリエ面上に焦点合わせするために、該ビーム を形成する手段を有することが可能な手段を具備し、 更に、粒子のサイズの計量を可能にするために、散乱角度によって散乱光の光 の強度を計測するために、該フーリエ面にぶつけられた散乱された光を検出する 手段を具備することを特徴とするレーザー回折粒子サイジング装置のファイバ光 学空間周波数フィルタ。 2. 該粒子から、該散乱された光を検出する手段上に、該散乱された光を焦 点合わせするフーリエレンズを更に具備することを特徴とする請求項1に記載の 発明。 3. 前記光学ファイバは、該光学ファイバ内の光の望まれない伝搬モードを 効果的に排除するのに十分な長さであり、純粋な単一モードの光の出力を提供す ることを特徴とする請求項1に記載の発明。 4. 前記光学ファイバは、光の出力端部の位置で、互いに直交 する少なくとも二つの自由度を提供する手段に締結され、前記出力光は系統的に 調節されることを特徴とする請求項1に記載の発明。 5. 該少なくとも二つの自由度を提供する手段は、前記光学ファイバの前記 光の出力端部の調節可能な支持手段を有し、前記光学ファイバの光の出力端部は 、光の前記ビームを形成する前記手段に関して角度調節可能であることを特徴と する請求項4に記載の発明。 6. 前記少なくとも二つの自由度を提供する手段は、前記光学ファイバ及び 前記ビーム形成手段を相互連結する柔軟な部材を有することを特徴とする請求項 4に記載の発明。 7. 前記光学ファイバに関して、前記光学ファイバと共に前記フーリエ面に 前記ビームを焦点合わせする前記手段を直交して配置する駆動手段を更に有する 請求項1に記載の発明。 8. 前記光学ファイバは長手方向に巻かれ、一方の端部は、前記レーザー光 のビームを発生する前記手段に結合され、反対側の端部は、前記ビームを前記フ ーリエ面に焦点合わせする前記手段に関する直交運動のために支持されることを 特徴とする請求項1に記載の発明。 9. 前記ビーム形成手段は、概略平行にされたビームを形成するコリメータ 手段を有し、該平行にされたビームは、前記サンプル通路内の粒子によって遮断 及び散乱されることを特徴とする請求項1に記載の発明。 10. 前記ビーム形成手段は、集中するビームを形成する逆フーリエレンズ を有し、該集中するビームは、前記サンプル通路内の粒子によって遮断及び散乱 されることを特徴とする請求項1に記載の発明。 11. レーザー光のビームを発生し、 該レーザー光を変更し、前記レーザー光のビームを、実質的に単 一モードで作動する光学ファイバに通すことによって、高度な空間干渉性を有す る変更されたビームを製作し、 該変更されたビームから、回折の限定され平行にされたビームを発生し、 該平行にされたビームと共に、粒子を有するサンプル材料を照らし、前記ビー ムを散乱させ、 前記粒子によって散乱された前記ビームをフーリエレンズに通し、 散乱された光の前記ビームを、該フーリエレンズのフーリエ面に配置された光 検出器に衝突させ、 該光検出器により、該フーリエ面の散乱角度によって、散乱された光の強度を 計測し、 前記計測された散乱角度及び強度に基づいて、前記粒子のサイズを算出する工 程を含むことを特徴とするレーザー回折粒子サイジング方法。 12. レーザー光の源部を具備し、 更に、該レーザー光を収容しかつ空間的にフィルタがかけられた出力ビームを 発生する空間周波数フィルタ手段を具備し、 更に、該出力ビームを遮断するために配置されたサンプル通路手段を具備し、 該通路手段の粒子は、前記出力ビームを散乱させて、散乱された光の光線を製作 可能であり、 更に、フーリエ面を生成するレンズ手段を具備し、該フーリエ面は、配置され て、前記散乱された光の光線の幾らかを前記フーリエ面上に衝突させ、 配置され、前記フーリエ面に衝突された前記散乱された光を検出し、かつ散乱 角度によって光の強度を計測する検出手段を具備し、粒子サイズの算出を可能に する、レンズ回折粒子分析装置の使用方法において、前記空間周波数フィルタ手 段は、実質的に単一モード で作動するために構成されかつ配列された光学ファイバを有することを特徴とす る使用方法。 13. 前記光学ファイバは、小さい核と、発散ビームとして前記出力ビーム が退出する出力端部とを有し、 更に、前記レンズ手段は、配置され、前記発散ビームをある距離で遮断し、該 距離では、前記発散ビームの直径に対する前記核の比率は、その遮断位置で、概 略1:3であることを特徴とする請求項12に記載の発明。 14. 前記光学ファイバは、高度な空間干渉性を有する実質的に純粋な出力 を提供するために、十分な長さを有することを特徴とする請求項12に記載の発 明。 15. 前記光学ファイバは、配置されてX及びY軸に関して調節可能に位置 決めされ、続いて前記レンズ手段に関して調節された位置の光学システムに固定 される、出力端部を有することを特徴とする請求項12に記載の発明。 16. 前記レンズ手段は、焦点合わせの調節のためにZ軸に沿って移動可能 であり、更に必要なZ軸の位置に固定されるように構成されることを特徴とする 請求項15に記載の発明。 17. 前記レンズ手段は、前記X及びY軸に関して前記レンズ手段を調節可 能に位置決めするための、固定手段を有することを特徴とする請求項16に記載 の発明。 18. 前記固定手段の前記調節可能な位置決めは、作動中、前記光学ファイ バの前記出力端部の前記X及びY軸の調節に独立していることを特徴とする請求 項17に記載の発明。
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