JPH0851139A - Processing equipment - Google Patents
Processing equipmentInfo
- Publication number
- JPH0851139A JPH0851139A JP7207257A JP20725795A JPH0851139A JP H0851139 A JPH0851139 A JP H0851139A JP 7207257 A JP7207257 A JP 7207257A JP 20725795 A JP20725795 A JP 20725795A JP H0851139 A JPH0851139 A JP H0851139A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transport
- processed
- transport path
- transfer
- processing unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ウエハカセット等の搬送用治具の大形化や自
動搬送等に対して柔軟に対応することができるととも
に、被処理体への塵埃の付着量の抑制およびスループッ
トの向上を図ることのできる処理装置を提供する。
【解決手段】 複数の処理ユニット11a〜11fおよ
びこれらの処理ユニット11a〜11fに半導体ウエハ
10を搬入・搬出する搬送路ユニット12とを有する処
理部2と、ウエハカセット13を収容するカセット載置
部14およびウエハカセット13に半導体ウエハ10を
搬入・搬出する搬送機構15とを有するロ―ダ―部3
と、搬送路ユニット12と搬送機構15との間で半導体
ウエハ10の受け渡しを行う受け渡し機構16とを具備
し、搬送路ユニット12と搬送機構15とはT字状に配
列されている。
(57) Abstract: It is possible to flexibly cope with an increase in the size of a transfer jig such as a wafer cassette and automatic transfer, and to suppress the amount of dust adhering to an object to be processed and to improve throughput. There is provided a processing device capable of improving the above. A processing unit (2) having a plurality of processing units (11a to 11f) and a transfer path unit (12) for loading and unloading a semiconductor wafer (10) into and from the processing units (11a to 11f), and a cassette mounting unit for housing a wafer cassette (13). 14 and a transfer mechanism 15 for carrying the semiconductor wafer 10 in and out of the wafer cassette 13
And a transfer mechanism 16 that transfers the semiconductor wafer 10 between the transfer path unit 12 and the transfer mechanism 15, and the transfer path unit 12 and the transfer mechanism 15 are arranged in a T shape.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、処理装置に関す
る。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a processing apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、半導体装置においては、急速に高
集積化が進められており、その回路パタ―ンは微細化さ
れる傾向にある。このため、半導体製造工程において
は、クリ―ンル―ム中の雰囲気の塵埃を従来にも増して
低減し、さらにクリ―ン化することが求められている。
そこで、各工程を自動化し無人化を図ることにより、ク
リ―ン化の要求に対応することが行われている。2. Description of the Related Art In recent years, semiconductor devices are rapidly being highly integrated, and their circuit patterns tend to be miniaturized. For this reason, in the semiconductor manufacturing process, it is required to reduce the dust in the atmosphere in the clean room more than ever before and to clean it.
Therefore, by automating each process and unmanned, the demand for cleaning is being met.
【0003】ところで、一般に半導体製造工程において
は、被処理体としての半導体ウエハは、ウエハカセット
等と称される搬送用治具内に複数例えば25枚程度収容さ
れて搬送される。そこで、上述した自動化の一つとし
て、このようなウエハカセットを自動的に搬送するロボ
ット搬送も取り入れられつつある。Generally, in a semiconductor manufacturing process, a plurality of, for example, 25 semiconductor wafers, which are the objects to be processed, are housed and transferred in a transfer jig called a wafer cassette or the like. Therefore, as one of the above-mentioned automations, robot transfer that automatically transfers such a wafer cassette is being adopted.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述したように、半導
体製造工程においては、ロボット搬送によるウエハカセ
ット等の自動搬送が実施されている。As described above, in the semiconductor manufacturing process, automatic transfer of wafer cassettes or the like is carried out by robot transfer.
【0005】しかしながら、このようなロボット搬送に
より、ウエハカセット等を各種半導体処理装置に搬送す
る場合、上記各種半導体処理装置のウエハカセット搬入
口の高さが装置毎に異ると搬送が困難になる。このた
め、各種半導体処理装置のウエハカセットの搬入口高さ
が一致するように調節しなければならず、半導体処理装
置によっては大幅な設計変更等を必要とする場合があっ
た。However, when a wafer cassette or the like is transferred to various semiconductor processing apparatuses by such robot transfer, the transfer becomes difficult if the height of the wafer cassette inlet of each semiconductor processing apparatus is different for each apparatus. . Therefore, it is necessary to adjust the heights of the wafer inlets of the wafer cassettes of various semiconductor processing apparatuses so as to match with each other, and depending on the semiconductor processing apparatus, there are cases where a large design change or the like is required.
【0006】また、近年半導体ウエハは直径例えば8 イ
ンチ等と大口径化される傾向にあり、これに対応してウ
エハカセット等の搬送用治具も大形化し、その重量も重
くなる傾向にあり、このような搬送用治具の大形化に対
応することも半導体製造装置として要求されている。Further, in recent years, the diameter of semiconductor wafers has tended to be large, for example, 8 inches, and in response to this, the jigs for carrying wafer cassettes and the like have become larger and the weight thereof tends to be heavier. It is also required as a semiconductor manufacturing apparatus to cope with such an increase in the size of a carrying jig.
【0007】さらに、このような半導体ウエハの大口径
化等に伴って装置が大形化し、半導体ウエハの搬送距離
の増大によって、スループットの低下や被処理体への塵
埃の付着量の増大等の問題が発生しつつある。Further, as the diameter of the semiconductor wafer is increased, the size of the apparatus is increased, and the transport distance of the semiconductor wafer is increased. As a result, the throughput is decreased and the amount of dust adhering to the object to be processed is increased. Problems are emerging.
【0008】本発明は、かかる従来の事情に対処してな
されたもので、ウエハカセット等の搬送用治具の大形化
や自動搬送等に対して柔軟に対応することができるとと
もに、被処理体への塵埃の付着量の抑制およびスループ
ットの向上を図ることのできる処理装置を提供しようと
するものである。The present invention has been made in consideration of such a conventional situation, and is capable of flexibly coping with an increase in the size of a transfer jig such as a wafer cassette and automatic transfer, and at the same time, it is possible to process the object to be processed. An object of the present invention is to provide a processing device capable of suppressing the amount of dust adhering to the body and improving throughput.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】すなわち、請求項1の発
明は、複数の被処理体を収容する搬送用治具が、直線状
に複数配置される載置部と、この載置部と平行な第1の
搬送路を有し、被処理体を搬送アームに保持して前記搬
送用治具に搬入搬出する第1の搬送機構と、前記第1の
搬送路の中央部から略直角な方向に延在する如く、前記
第1の搬送路と異なる高さ位置に配置された第2の搬送
路を有し、被処理体をアームに保持して搬送する第2の
搬送機構と、前記第2の搬送路の両側に配設され、少な
くともレジスト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと
加熱ユニットを有する処理部と、前記第1の搬送機構と
前記第2の搬送機構との間で前記被処理体を上下方向に
搬送し、受け渡しを行う受け渡し機構とを具備したこと
を特徴とする。That is, according to the invention of claim 1, a plurality of carrying jigs for accommodating a plurality of objects to be processed are linearly arranged, and the carrying parts are parallel to the carrying parts. A first transport mechanism having a first transport path for loading and unloading an object to be processed into and from the jig for transport, and a direction substantially perpendicular to a central portion of the first transport path. A second transport mechanism which is disposed at a height different from that of the first transport path so as to extend to the first transport path, and which transports an object to be processed while being held by an arm; The processing unit disposed on both sides of the second transport path and having at least a resist coating processing unit, a development processing unit, and a heating unit, and the object to be processed between the first transport mechanism and the second transport mechanism. And a delivery mechanism for vertically delivering and delivering.
【0010】請求項2の発明は、複数の被処理体を収容
する搬送用治具が、直線状に複数配置される載置部と、
この載置部と平行な第1の搬送路を有し、被処理体を搬
送アームに保持して前記搬送用治具に搬入搬出する第1
の搬送機構と、前記第1の搬送路の中央部から略直角な
方向に延在する如く、前記第1の搬送路と異なる高さ位
置に配置された第2の搬送路を有し、被処理体をアーム
に保持して搬送する第2の搬送機構と、前記第2の搬送
路の両側に配設され、少なくともレジスト塗布処理ユニ
ットと現像処理ユニットと加熱ユニットと冷却ユニット
の少なくとも2つのユニットをを具備する処理部と、前
記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記被
処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し機
構とを具備したことを特徴とする処理装置。According to a second aspect of the present invention, there is provided a placing portion in which a plurality of carrying jigs for accommodating a plurality of objects to be processed are linearly arranged.
A first transport path that is parallel to the mounting portion, and that carries the object to be processed into and out of the transfer jig while holding the object to be processed on the transfer arm.
And a second transport path disposed at a height different from that of the first transport path so as to extend in a direction substantially perpendicular to the central portion of the first transport path. A second transport mechanism for transporting the processing body while holding it on an arm, and at least two units arranged at both sides of the second transport path, at least a resist coating processing unit, a development processing unit, a heating unit, and a cooling unit. And a delivery mechanism for vertically delivering and delivering the object to be processed between the first transport mechanism and the second transport mechanism. Processing equipment.
【0011】請求項3の発明は、複数の被処理体を収容
する搬送用治具が、直線状に複数配置される載置部と、
この載置部と平行な第1の搬送路を有し、被処理体を搬
送アームに保持して前記搬送用治具に搬入搬出する第1
の搬送機構と、前記第1の搬送路の中央部から略直角な
方向に延在する如く、前記第1の搬送路と異なる高さ位
置に配置された第2の搬送路を有し、複数のアームを有
する第2の搬送機構と、前記第2の搬送路の両側に配設
され、少なくともレジスト塗布処理ユニットと現像処理
ユニットと加熱ユニットと冷却ユニットを有する処理部
と、前記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で
前記被処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け
渡し機構とを具備したことを特徴とする処理装置。According to a third aspect of the present invention, there is provided a placing section in which a plurality of carrying jigs for accommodating a plurality of objects to be processed are linearly arranged.
A first transport path that is parallel to the mounting portion, and that carries the object to be processed into and out of the transfer jig while holding the object to be processed on the transfer arm.
And a second transport path arranged at a height different from that of the first transport path so as to extend in a direction substantially perpendicular to the central portion of the first transport path. A second transfer mechanism having an arm, a processing section disposed on both sides of the second transfer path, the processing section having at least a resist coating processing unit, a development processing unit, a heating unit, and a cooling unit, and the first transfer mechanism. A processing apparatus comprising: a transfer mechanism that vertically transfers the object to be processed between the mechanism and the second transfer mechanism and transfers the object.
【0012】請求項4の発明は、複数の被処理体を収容
する搬送用治具が、直線状に複数配置される載置部と、
この載置部と平行な第1の搬送路を有し、この第1の搬
送路を移動可能とし、被処理体を前記搬送用治具に搬入
搬出する第1の搬送機構と、前記第1の搬送路の中央部
から略直角な方向に延在する如く、前記第1の搬送路を
移動する第1の搬送機構により搬送される被処理体の搬
送高さと異なる高さ位置で被処理体を搬送する第2の搬
送路内を移動可能な第2の搬送機構と、前記第2の搬送
路の両側に配設され、少なくともレジスト塗布処理ユニ
ットと現像処理ユニットと加熱ユニットと冷却ユニット
の少なくとも2つのユニットをを具備する処理部と、前
記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記被
処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し機
構とを具備したことを特徴とする処理装置。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a placing portion in which a plurality of carrying jigs for accommodating a plurality of objects to be processed are linearly arranged.
A first transport mechanism that has a first transport path parallel to the mounting portion, and that makes the first transport path movable, and that transports a target object into and out of the transport jig; Object to be processed at a height position different from the conveying height of the object to be processed which is conveyed by the first conveying mechanism that moves in the first conveying path so as to extend from the central portion of the conveying path in a substantially perpendicular direction. A second transport mechanism that is movable in a second transport path for transporting the toner, and at least a resist coating processing unit, a development processing unit, a heating unit, and a cooling unit, which are disposed on both sides of the second transport path. A processing unit including two units; and a delivery mechanism that vertically conveys and delivers the object to be processed between the first transport mechanism and the second transport mechanism. Characterizing processing device.
【0013】請求項5の発明は、複数の被処理体を収容
する搬送用治具が、直線状に複数配置される載置部と、
この載置部と平行な第1の搬送路を有し、被処理体を搬
送アームに保持して前記搬送用治具に搬入搬出する第1
の搬送機構と、前記第1の搬送路の中央部から略直角な
方向に延在する如く、前記第1の搬送路と異なる高さ位
置に配置された第2の搬送路を有し、複数の被処理体を
複数のアームに保持して搬送可能な第2の搬送機構と、
前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくともレジス
ト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユニット
と冷却ユニットを有する処理部と、前記第1の搬送機構
と前記第2の搬送機構との間で前記被処理体を上下方向
に搬送し、受け渡しを行う受け渡し機構とを具備したこ
とを特徴とする処理装置。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a placing portion in which a plurality of carrying jigs for accommodating a plurality of objects to be processed are linearly arranged.
A first transport path that is parallel to the mounting portion, and that carries the object to be processed into and out of the transfer jig while holding the object to be processed on the transfer arm.
And a second transport path arranged at a height different from that of the first transport path so as to extend in a direction substantially perpendicular to the central portion of the first transport path. A second transport mechanism capable of transporting the object to be processed by holding it on a plurality of arms;
Between the first transport mechanism and the second transport mechanism, which are disposed on both sides of the second transport path and have at least a resist coating processing unit, a developing processing unit, a heating unit, and a cooling unit. And a transfer mechanism for vertically transferring and transferring the object to be processed.
【0014】請求項6の発明は、複数の被処理体を収容
する搬送用治具が、直線状に複数配置される載置部と、
この載置部と平行な第1の搬送路を有し、この第1の搬
送路を移動可能とし、被処理体を前記搬送用治具に搬入
搬出する第1の搬送機構と、前記第1の搬送路の中央部
から略直角な方向に延在する如く、前記第1の搬送路を
移動する第1の搬送機構により搬送される被処理体の搬
送高さと異なる高さ位置で被処理体を搬送する第2の搬
送路内を移動可能な第2の搬送機構であって、複数の被
処理体を複数のアームに保持して搬送可能な第2の搬送
機構と、前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくと
もレジスト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱
ユニットと冷却ユニットの少なくとも2つのユニットを
を具備する処理部と、前記第1の搬送機構と前記第2の
搬送機構との間で前記被処理体を上下方向に搬送し、受
け渡しを行う受け渡し機構とを具備したことを特徴とす
る処理装置。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a placing section in which a plurality of carrying jigs for accommodating a plurality of objects to be processed are linearly arranged.
A first transport mechanism that has a first transport path parallel to the mounting portion, and that makes the first transport path movable, and that transports a target object into and out of the transport jig; Object to be processed at a height position different from the conveying height of the object to be processed which is conveyed by the first conveying mechanism that moves in the first conveying path so as to extend from the central portion of the conveying path in a substantially perpendicular direction. A second transport mechanism capable of moving in a second transport path for transporting a plurality of workpieces, the second transport mechanism capable of holding a plurality of objects to be processed by a plurality of arms, and the second transport mechanism. A processing unit which is disposed on both sides of the path and includes at least two units of a resist coating processing unit, a development processing unit, a heating unit, and a cooling unit, the first transport mechanism, and the second transport mechanism. Between the above-mentioned objects to be vertically conveyed and handed over Processing apparatus characterized by comprising a mechanism to.
【0015】請求項7の発明は、複数の被処理体を収容
する搬送用治具が、直線状に複数配置される載置部と、
この載置部と平行な第1の搬送路を有し、この第1の搬
送路を移動可能とし、被処理体を前記搬送用治具に搬入
搬出する第1の搬送機構と、前記第1の搬送路の中央部
から略直角な方向に延在する如く、前記第1の搬送路を
移動する第1の搬送機構により搬送される被処理体の搬
送高さと異なる高さ位置で被処理体を搬送する第2の搬
送路内を移動可能な複数のアームを有する第2の搬送機
構と、前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくとも
レジスト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユ
ニットと冷却ユニットの少なくとも2つのユニットをを
具備する処理部と、前記第1の搬送機構と前記第2の搬
送機構との間で前記被処理体を上下方向に搬送し、受け
渡しを行う受け渡し機構とを具備したことを特徴とする
処理装置。According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a placing section in which a plurality of carrying jigs for accommodating a plurality of objects to be processed are linearly arranged.
A first transport mechanism that has a first transport path parallel to the mounting portion, and that makes the first transport path movable, and that transports a target object into and out of the transport jig; Object to be processed at a height position different from the conveying height of the object to be processed which is conveyed by the first conveying mechanism that moves in the first conveying path so as to extend from the central portion of the conveying path in a substantially perpendicular direction. A second transport mechanism having a plurality of arms that can move in a second transport path, and at least a resist coating processing unit, a developing processing unit, and a heating unit that are disposed on both sides of the second transport path. A processing unit including at least two units, a cooling unit, and a transfer mechanism for vertically transferring the object to be processed between the first transfer mechanism and the second transfer mechanism to transfer the object. A processing device comprising:
【0016】請求項8の発明は、請求項1〜7記載の処
理装置において、前記載置部と前記処理部とが別々の筐
体によって構成されていることを特徴とする処理装置。The invention according to claim 8 is the processing device according to any one of claims 1 to 7, characterized in that the mounting part and the processing part are constituted by separate casings.
【0017】請求項9の発明は、請求項1〜8記載の処
理装置において、搬送アームが被処理体の下面周縁部を
支持するよう構成されたことを特徴とする処理装置。The invention according to claim 9 is the processing apparatus according to any one of claims 1 to 8, characterized in that the transfer arm is configured to support a peripheral portion of the lower surface of the object to be processed.
【0018】請求項10の発明は、請求項1〜9記載の
処理装置において、前記被処理体が半導体ウエハである
ことを特徴とする処理装置。The invention of claim 10 is the processing apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein the object to be processed is a semiconductor wafer.
【0019】上記構成の本発明の処理装置では、第1の
搬送機構と第2の搬送機構との間で被処理体の受け渡し
を行う受け渡し機構が設けられている。したがって、処
理部の高さを変更することなく、載置部の高さを調節す
るのみで、搬送高さの異なるロボット搬送に柔軟に対応
することができる。In the processing apparatus of the present invention having the above structure, a transfer mechanism for transferring the object to be processed is provided between the first transfer mechanism and the second transfer mechanism. Therefore, it is possible to flexibly cope with robot conveyance having different conveyance heights, only by adjusting the height of the mounting portion without changing the height of the processing section.
【0020】また、載置部の高さを低く設定すれば、常
にカセット等を低位置に位置させることができ、重量の
重い大形のカセットを高い位置に持ち上げる必要もな
く、大形のカセットを高い位置に載置することにより装
置の高さが高くなってしまうこと等を防止して、ウエハ
等の大径化に対して柔軟に対応することができる。Further, by setting the height of the mounting portion to be low, the cassette or the like can be always positioned at a low position, and it is not necessary to lift a large and heavy cassette to a high position. It is possible to prevent the height of the apparatus from becoming high by placing the wafer at a high position, and to flexibly cope with an increase in the diameter of a wafer or the like.
【0021】さらに、第1の搬送機構と、第2の搬送機
構とが実質的にT字状に配列されているので、どの被処
理体に対しても、搬送距離を最短に設定することがで
き、搬送時間を低減することができるので、被処理体へ
の塵埃の付着量の抑制およびスループットの向上を図る
ことができる。Furthermore, since the first transport mechanism and the second transport mechanism are arranged in a substantially T-shape, the transport distance can be set to the shortest for any object to be processed. As a result, the transport time can be reduced, so that the amount of dust attached to the object to be processed can be suppressed and the throughput can be improved.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】以下、本発明の処理装置をレジス
ト塗布現像処理装置に適用した実施例を図面を参照して
説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which the processing apparatus of the present invention is applied to a resist coating and developing processing apparatus will be described below with reference to the drawings.
【0023】図1に示すように、レジスト塗布現像処理
装置1は、例えばそれぞれ別体の筐体で構成された処理
部2およびロ―ダ―部3を、水平方向(図示X方向)に
配列し、これらを接続して構成されている。As shown in FIG. 1, a resist coating / developing processing apparatus 1 has, for example, a processing section 2 and a loader section 3 each of which is composed of a separate housing and arranged in a horizontal direction (X direction in the drawing). Then, it is configured by connecting these.
【0024】上記処理部2は、被処理体例えば半導体ウ
エハ10にフォトリソグラフィ―のための一連の処理を
施す各処理ユニット11a〜11fと、半導体ウエハ1
0をこれらの処理ユニット11a〜11fに搬送するた
めの搬送路ユニット12(第1の搬送機構)を組み合せ
て構成されている。The processing section 2 includes processing units 11a to 11f for performing a series of processes for photolithography on an object to be processed, for example, a semiconductor wafer 10, and the semiconductor wafer 1.
It is configured by combining a transport path unit 12 (first transport mechanism) for transporting 0 to these processing units 11a to 11f.
【0025】上記搬送路ユニット12は、処理部2の筐
体の中央部を走行する如く設けられており、この搬送ユ
ニット路12によって分断された一方側(図1の下方)
には、レジスト塗布処理ユニット11a、現像処理ユニ
ット11bが並列して設けられ、また、他方側(図1の
上方)には、ロ―ダ―部3側から複数の処理部例えばポ
ストベ―ク処理ユニット11c、11d、および 2段積
みする如く構成されたポストエクスポ―ジャ―ベ―クユ
ニット11eと冷却温調処理ユニット11fが並列に設
けられている。The transport path unit 12 is provided so as to run in the central portion of the housing of the processing section 2, and is divided by the transport unit path 12 on one side (lower side in FIG. 1).
Is provided with a resist coating processing unit 11a and a developing processing unit 11b in parallel, and on the other side (upper side in FIG. 1), a plurality of processing units such as post-baking processing from the loader unit 3 side is provided. The units 11c and 11d, and a post-exposure bake unit 11e configured to be stacked in two stages and a cooling temperature control processing unit 11f are provided in parallel.
【0026】また、上記搬送路ユニット12には、図2
にも示すように、半導体ウエハ10を支持して搬送する
ためのウエハピンセット12aが上下に重なる如く複数
例えば 2つ設けられている。これらのウエハピンセット
12aは、円弧状に形成され、半導体ウエハ10の裏面
周縁部を支持するよう構成されており、図示しない駆動
機構により、X、Y、Z、θ方向に移動自在に構成され
ている。ここで、上記2つのウエハピンセット12a
は、例えば一方が処理部2の各処理ユニット11a〜1
1fに半導体ウエハ10を受け渡し、他方は処理が終了
した半導体ウエハ10を受け取るように構成されてい
る。Further, the transfer path unit 12 has a structure shown in FIG.
As also shown in the drawing, a plurality of wafer tweezers 12a for supporting and transporting the semiconductor wafer 10, for example, two wafer tweezers 12a are provided so as to overlap with each other. These wafer tweezers 12a are formed in an arc shape and are configured to support the peripheral edge of the back surface of the semiconductor wafer 10. The wafer tweezers 12a are configured to be movable in the X, Y, Z, and θ directions by a drive mechanism (not shown). There is. Here, the above two wafer tweezers 12a
Is one of the processing units 11a to 1 of the processing unit 2, for example.
The semiconductor wafer 10 is delivered to 1f, and the other one is configured to receive the processed semiconductor wafer 10.
【0027】一方、ロ―ダ―部3には、半導体ウエハ1
0が複数枚例えば25枚収容可能に構成されたウエハカセ
ット(搬送用治具)13を載置して、上下方向(Z方
向)に移動させるように構成された複数例えば 4つのカ
セット載置部14(搬送用治具収納部)が設けられてい
る。これらのカセット載置部14は直線状に配列されて
おり、直線状にウエハカセット13を配列、収容するよ
う構成されている。また、このロ―ダ―部3には、X、
Y、θ方向に移動自在とされたウエハピンセット15a
により、上記ウエハカセット13に半導体ウエハ10を
搬入・搬出するための搬送機構15(第2の搬送機構)
が設けられている。このロ―ダ―部3の搬送機構15
と、前述した処理部2の搬送路ユニット12とは、T字
状に配列されており、これらの接続部分に、昇降、下降
して半導体ウエハ10の受け渡しを行うウエハ受け渡し
機構16が設けられている。On the other hand, in the loader section 3, the semiconductor wafer 1
A plurality of, for example, four cassette mounting portions configured to move a wafer cassette (transport jig) 13 configured to accommodate a plurality of 0, for example, 25 sheets, and to move in the vertical direction (Z direction). 14 (transport jig storage portion) is provided. These cassette mounting portions 14 are linearly arranged, and the wafer cassettes 13 are arranged and accommodated linearly. In addition, X,
Wafer tweezers 15a movable in Y and θ directions
The transfer mechanism 15 (second transfer mechanism) for loading / unloading the semiconductor wafer 10 into / from the wafer cassette 13
Is provided. The transport mechanism 15 of the loader unit 3
The transfer path unit 12 of the processing section 2 is arranged in a T shape, and a wafer transfer mechanism 16 for transferring the semiconductor wafer 10 up and down and down is provided at the connecting portion. There is.
【0028】すなわち、この実施例では、ロ―ダ―部3
に、搬送機構15と搬送路ユニット12との間における
半導体ウエハ10の受け渡しを行うウエハ受け渡し機構
16として、図示しない駆動機構例えばステッピングモ
―タとボ―ルネジによって上下動可能に構成され、その
上部に半導体ウエハ10を支持可能に構成された 2本の
ステ―ジピン16aが設けられている。なお、これらの
ステ―ジピン16aは、図示しない駆動機構例えばエア
シリンダによりその間隔を変更可能に構成されている。That is, in this embodiment, the loader unit 3
In addition, as a wafer transfer mechanism 16 for transferring the semiconductor wafer 10 between the transfer mechanism 15 and the transfer path unit 12, a drive mechanism (not shown), such as a stepping motor and a ball screw, is configured to be movable up and down. Two stage pins 16a are provided so as to support the semiconductor wafer 10. The intervals of these stage pins 16a can be changed by a drive mechanism (not shown) such as an air cylinder.
【0029】また、これらのステ―ジピン16aの上部
位置には、半導体ウエハ10の位置合せを行うための 2
本のセンタリングガイド17が設けられている。このセ
ンタリングガイド17は、半導体ウエハ10の外形に合
せて内側が半円状に形成されており、図示しない駆動機
構例えばエアシリンダにより開閉制御して半導体ウエハ
10を挟持することにより位置合せする如く構成されて
いる。そして、開状態でこれらのセンタリングガイド1
7の間に半導体ウエハ10を搬入し、これらのセンタリ
ングガイド17を閉じる操作(間隔を狭める方向に移動
させる)を行うことにより、ステ―ジピン16aの所定
位置に半導体ウエハ10を位置決めすることができるよ
う構成されている。In addition, at the upper position of these stage pins 16a, a position for aligning the semiconductor wafer 10 is set.
A book centering guide 17 is provided. The centering guide 17 is formed in a semicircular shape on the inside according to the outer shape of the semiconductor wafer 10, and is configured to be positioned by holding the semiconductor wafer 10 by controlling the opening / closing by a driving mechanism (not shown) such as an air cylinder. Has been done. Then, in the open state, these centering guides 1
The semiconductor wafer 10 can be positioned at a predetermined position of the stage pin 16a by carrying in the semiconductor wafer 10 between 7 and performing an operation of closing these centering guides 17 (moving the centering guides 17 in a direction to narrow the gap). Is configured.
【0030】次に、上記構成のレジスト処理装置1の動
作(処理工程)について説明する。まず、クリーンルー
ム内を搬送する無塵ロボット搬送例えばハンドリングア
―ム等で半導体ウエハ10が収容されたウエハカセット
13をローダ部3の予め定められた、カセット載置部1
4の載置台に載置する。載置された情報は自動的にコン
ピュータに入力される。Next, the operation (processing step) of the resist processing apparatus 1 having the above structure will be described. First, a wafer cassette 13 in which a semiconductor wafer 10 is accommodated by a dust-free robot transfer, such as a handling arm, which transfers in a clean room, is set in a predetermined cassette mounting section 1 of a loader section 3.
Place on the mounting table of No. 4. The placed information is automatically input to the computer.
【0031】その後予め組まれたプログラムにより、搬
送機構15のウエハピンセット15aを、例えばウエハ
カセット13と位置対応させ、対応したウエハカセット
13内の半導体ウエハ10の下部に挿入し、この後、カ
セット載置部14によって、上記ウエハカセット13を
上記ピンセット15と相対的に所定ストロ―ク降下させ
て、ウエハピンセット15a上に半導体ウエハ10を載
置する。なお、ウエハピンセット15aは、例えば真空
チャックにより半導体ウエハ10の裏面を吸着仮固定す
る。After that, the wafer tweezers 15a of the transfer mechanism 15 are aligned with, for example, the wafer cassette 13 by a preassembled program, and inserted into the lower portion of the semiconductor wafer 10 in the corresponding wafer cassette 13, and then the cassette is placed. The wafer cassette 13 is lowered by a predetermined stroke by the placing portion 14 relative to the tweezers 15, and the semiconductor wafer 10 is placed on the wafer tweezers 15a. The wafer tweezers 15a suction-temporarily fix the back surface of the semiconductor wafer 10 by, for example, a vacuum chuck.
【0032】次に、半導体ウエハ10を支持したウエハ
ピンセット15aをX方向に移動させてウエハカセット
13内から引き抜き、この後ウエハピンセット15aを
θ方向に回転させてステ―ジピン16上方に位置させ
る。なお、この時ステ―ジピン16は予め初期状態(下
降位置でかつステ―ジピン16の間隔が開となった状
態)に設定され待機している。Next, the wafer tweezers 15a supporting the semiconductor wafer 10 are moved in the X direction and pulled out from the inside of the wafer cassette 13, and then the wafer tweezers 15a are rotated in the θ direction to be positioned above the stage pins 16. At this time, the stage pin 16 is set in the initial state (the lowered position and the interval between the stage pins 16 is open) in advance and is on standby.
【0033】しかる後、ステ―ジピン16aを上昇さ
せ、ウエハピンセット15aからステ―ジピン16a上
に半導体ウエハ10を受け渡す。この時、2 本のステ―
ジピン16aの間をウエハピンセット15aが通り抜け
るようにステ―ジピン16aとウエハピンセット15a
とが上下方向にすれ違う。Thereafter, the stage pins 16a are raised and the semiconductor wafer 10 is transferred from the wafer tweezers 15a onto the stage pins 16a. At this time, two stations
The wafer tweezers 15a so that the wafer tweezers 15a pass through between the pin 16a.
And pass each other in the vertical direction.
【0034】そして、さらに、ステ―ジピン16aを上
昇させて半導体ウエハ10を、予め開とされたセンタリ
ングガイド17の間に位置させ、ここで、センタリング
ガイド17を閉とし、ステ―ジピン16a上の所定位置
に半導体ウエハ10を位置決めする。Then, the stage pins 16a are further raised to position the semiconductor wafer 10 between the centering guides 17 which have been opened beforehand. Here, the centering guides 17 are closed, and the semiconductor pins 10 on the stage pins 16a are closed. The semiconductor wafer 10 is positioned at a predetermined position.
【0035】なお、この時、ステ―ジピン16aも同時
に閉とする。これは、この後受け渡しを行う搬送路ユニ
ット12のウエハピンセット12aが、半導体ウエハ1
0の外周を保持するようほぼ環状に形成され、その先端
部に形成されたステ―ジピン16a挿入用開口が狭いの
で、ステ―ジピン16aとウエハピンセット12aが干
渉することを防止するためである。したがって、ウエハ
ピンセット12aの形状(ステ―ジピン16a挿入用開
口の形状)によっては、上記ステ―ジピン16の閉動作
は行わなくてよい。At this time, the stage pin 16a is also closed at the same time. This is because the wafer tweezers 12a of the transfer path unit 12 that is to be transferred after this is the semiconductor wafer 1
This is to prevent the stage pin 16a and the wafer tweezers 12a from interfering with each other because the stage pin 16a insertion opening formed in the tip end portion thereof is formed in a substantially annular shape so as to hold the outer periphery of 0. Therefore, depending on the shape of the wafer tweezers 12a (the shape of the opening for inserting the stage pin 16a), the closing operation of the stage pin 16 may not be performed.
【0036】次に、ステ―ジピン16aを、半導体ウエ
ハ10のウエハピンセット12aへの受け渡しが可能な
予め定められた所定高さまで上昇させ、ここで待機させ
る。そして、半導体ウエハ10の下部にウエハピンセッ
ト12aが挿入されると、ステ―ジピン16aを下降さ
せ、ステ―ジピン16a上の半導体ウエハ10をウエハ
ピンセット12aに受け渡す。ウエハピンセット12a
に受け渡された半導体ウエハ10は、この後、予め定め
られたプログラムにより順次所定の処理ユニット11a
〜11fに搬送され、夫々所定の処理が施される。Next, the stage pins 16a are raised to a predetermined height at which the semiconductor wafer 10 can be handed over to the wafer tweezers 12a, and are made to stand by there. When the wafer tweezers 12a are inserted under the semiconductor wafer 10, the stage pins 16a are lowered and the semiconductor wafer 10 on the stage pins 16a is transferred to the wafer tweezers 12a. Wafer tweezers 12a
Thereafter, the semiconductor wafers 10 transferred to the semiconductor wafer 10 are sequentially processed into a predetermined processing unit 11a according to a predetermined program.
The sheet is conveyed to 11 f and subjected to predetermined processing.
【0037】また、上記受け渡し時に、上下 2段に設け
られたウエハピンセット12aのどちらか一方に、処理
済みの半導体ウエハ10が支持されている場合は、上記
受け渡しに続いて、この処理済みの半導体ウエハ10を
ステ―ジピン16aに受け渡す。すなわち、このウエハ
ピンセット12aを前進させてステ―ジピン16a上に
処理済みの半導体ウエハ10を位置させ、この後、ステ
―ジピン16aを上昇させてステ―ジピン16a上にこ
の半導体ウエハ10を支持し、ウエハピンセット12a
を後退させることにより、処理済みの半導体ウエハ10
をステ―ジピン16aに受け渡す。Further, when the processed semiconductor wafer 10 is supported by either one of the wafer tweezers 12a provided in the upper and lower two stages at the time of the transfer, the processed semiconductor wafer 10 is transferred after the transfer. The wafer 10 is transferred to the stage pins 16a. That is, the wafer tweezers 12a is advanced to position the processed semiconductor wafer 10 on the stage pins 16a, and then the stage pins 16a are raised to support the semiconductor wafer 10 on the stage pins 16a. , Wafer tweezers 12a
Of the processed semiconductor wafer 10 by retracting
To the stage pin 16a.
【0038】ステ―ジピン16aに受け渡された処理済
みの半導体ウエハ10は、この後上述した動作とは反対
の動作により、センタリングガイド17によって位置決
めされた後、ステ―ジピン16aから搬送機構15のウ
エハピンセット15aに受け渡され、しかる後、所定の
ウエハカセット13内に収容される。The processed semiconductor wafer 10 transferred to the stage pins 16a is then positioned by the centering guide 17 by an operation opposite to the above-mentioned operation, and then the semiconductor pins 10 of the transfer mechanism 15 are moved from the stage pins 16a. The wafers are transferred to the wafer tweezers 15a, and then stored in a predetermined wafer cassette 13.
【0039】このような一連の動作を繰り返して行うこ
とにより、ウエハカセット13内の各半導体ウエハ10
に順次所定の処理を施す。By repeating such a series of operations, each semiconductor wafer 10 in the wafer cassette 13 is
Is sequentially subjected to predetermined processing.
【0040】そして、ウエハカセット13内の全ての半
導体ウエハ10の処理が終了すると、このウエハカセッ
ト13が搬出され、新たなウエハカセット13が搬入さ
れるが、このようなウエハカセット13の搬入・搬出を
ロボット搬送により自動的に行う場合、この実施例のレ
ジスト処理装置1では、ロ―ダ―部3の高さをロボット
搬送による搬送高さに調節することにより、容易に実施
することができる。When all the semiconductor wafers 10 in the wafer cassette 13 have been processed, this wafer cassette 13 is unloaded and a new wafer cassette 13 is loaded. Such loading / unloading of the wafer cassette 13 is carried out. In the resist processing apparatus 1 of this embodiment, the height can be easily adjusted by adjusting the height of the loader unit 3 to the transfer height by robot transfer.
【0041】すなわち、処理部2の高さを固定したま
ま、ロ―ダ―部3の高さをロボット搬送による搬送高さ
に調節し、このロ―ダ―部3の高さによって、ステ―ジ
ピン16aによる上下方向の半導体ウエハ10の搬送距
離を調節する。したがって、装置全体の高さ等を調節し
たり、大幅な設計変更等をする必要もなく、搬送高さの
異なるロボットに柔軟に対応することができる。That is, while the height of the processing section 2 is fixed, the height of the loader section 3 is adjusted to the transfer height by the robot transfer, and the height of the loader section 3 is used to adjust the stage. The vertical transfer distance of the semiconductor wafer 10 by the dipin 16a is adjusted. Therefore, it is not necessary to adjust the height or the like of the entire apparatus or make a large design change, and it is possible to flexibly cope with robots having different conveyance heights.
【0042】また、処理部2の搬送路ユニット12と、
ロ―ダ―部3の搬送機構15とが、T字状に配列されて
おり、これらの接続部分に、半導体ウエハ10の受け渡
しを行うウエハ受け渡し機構16が設けられているの
で、どのカセット載置部14のウエハカセット13内の
半導体ウエハ10に対しても、その搬送距離を最短とす
ることができ、搬送時間を低減して半導体ウエハ10へ
の塵埃の付着量の抑制およびスループットの向上を図る
ことができる。Further, the transport path unit 12 of the processing section 2,
The transfer mechanism 15 of the loader unit 3 is arranged in a T shape, and the wafer transfer mechanism 16 for transferring the semiconductor wafer 10 is provided at the connecting portion between them, so that any cassette mounting The transfer distance of the semiconductor wafer 10 in the wafer cassette 13 of the unit 14 can be minimized, the transfer time can be reduced, and the amount of dust attached to the semiconductor wafer 10 can be suppressed and throughput can be improved. be able to.
【0043】図3は他の実施例のレジスト処理装置1a
の構成を示すもので、図1および図2に示した上述のレ
ジスト処理装置1と同一部分には同一符号が付してあ
る。FIG. 3 shows a resist processing apparatus 1a of another embodiment.
The same parts as those of the above-described resist processing apparatus 1 shown in FIGS. 1 and 2 are designated by the same reference numerals.
【0044】この実施例のレジスト処理装置1aでは、
ローダー部3のカセット載置部14が、処理部2の処理
ユニット11a〜11fに較べて低位置に設けられてい
る。また、このカセット載置部14は、駆動機構を備え
ておらず、搬送機構15のウエハピンセット15aがX
−Y−Z−θ方向に移動可能に構成されている。In the resist processing apparatus 1a of this embodiment,
The cassette placement section 14 of the loader section 3 is provided at a lower position than the processing units 11a to 11f of the processing section 2. In addition, the cassette mounting portion 14 does not have a drive mechanism, and the wafer tweezers 15a of the transfer mechanism 15 are X-shaped.
It is configured to be movable in the −Y−Z−θ direction.
【0045】そして、カセット載置部14に載置された
ウエハカセット13から、ウエハピンセット15aによ
って半導体ウエハ10を取り出し、このウエハピンセッ
ト15aによって半導体ウエハ10を上部に搬送して、
ステ―ジピン16aに受け渡す。Then, the semiconductor wafer 10 is taken out from the wafer cassette 13 placed on the cassette placing section 14 by the wafer tweezers 15a, and the semiconductor wafer 10 is conveyed to the upper part by the wafer tweezers 15a.
It is delivered to the stage pin 16a.
【0046】このように構成されたレジスト処理装置1
aでは、前述した実施例と同様な効果を得ることができ
るとともに、カセット載置部14へのウエハカセット1
3の搬入・搬出を低位置で実施することができ、また、
ウエハカセット13を上下動させないので、装置高さが
高くなることも抑制することができ、例えば8 インチ径
等大径の半導体ウエハ10の処理を行う場合等、ウエハ
カセット13が大形の場合に好適である。The resist processing apparatus 1 thus configured
In a, it is possible to obtain the same effect as that of the above-described embodiment, and at the same time, the wafer cassette 1 on the cassette mounting portion 14 is
3 can be carried in and out at a low position, and
Since the wafer cassette 13 is not moved up and down, it is possible to prevent the height of the apparatus from increasing, and when the wafer cassette 13 is large, for example, when processing a semiconductor wafer 10 having a large diameter such as 8 inches. It is suitable.
【0047】なお、上記実施例では、本発明を半導体ウ
エハのレジスト処理装置に適用した例について説明した
が、本発明はかかる実施例に限定されるものではなく、
あらゆる装置例えば半導体ウエハ表面を洗浄する洗浄装
置、エッチング装置、レジスト塗布された半導体ウエハ
を露光する露光処理装置、露光処理された半導体ウエハ
を現像処理する現像装置等に適用することができる。さ
らに被処理体として半導体ウエハに限らずLCD基板プ
リント基板の処理工程にも適用できる。In the above embodiment, an example in which the present invention is applied to a semiconductor wafer resist processing apparatus has been described, but the present invention is not limited to such an embodiment.
It can be applied to any apparatus such as a cleaning apparatus for cleaning the surface of a semiconductor wafer, an etching apparatus, an exposure processing apparatus for exposing a resist-coated semiconductor wafer, and a developing apparatus for developing an exposed semiconductor wafer. Further, the object to be processed is not limited to a semiconductor wafer, but can be applied to a process of processing an LCD substrate or a printed circuit board.
【0048】[0048]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の処理装置
によれば、ウエハカセット等の搬送用治具の大形化や自
動搬送等に対して柔軟に対応することができるととも
に、被処理体への塵埃の付着量の抑制およびスループッ
トの向上を図ることができる。As described above, according to the processing apparatus of the present invention, it is possible to flexibly cope with an increase in the size of a transfer jig such as a wafer cassette, automatic transfer, and the like. It is possible to suppress the amount of dust attached to the body and improve the throughput.
【図1】本発明の一実施例のレジスト処理装置の構成を
示す図。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a resist processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1に示すレジスト処理装置の側面図。FIG. 2 is a side view of the resist processing apparatus shown in FIG.
【図3】他の実施例のレジスト処理装置の要部構成を示
す図。FIG. 3 is a diagram showing a main configuration of a resist processing apparatus of another embodiment.
1 レジスト処理装置 2 処理部 3 ロ―ダ―部 10 半導体ウエハ 11a〜11f 処理ユニット 12 搬送路ユニット 12a ウエハピンセット 13 ウエハカセット 14 カセット載置部 15 搬送機構 15a ウエハピンセット 16 ウエハ受け渡し機構 16a ステ―ジピン 17 センタリングガイド DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 resist processing apparatus 2 processing section 3 loader section 10 semiconductor wafers 11a to 11f processing unit 12 transfer path unit 12a wafer tweezers 13 wafer cassette 14 cassette mounting section 15 transfer mechanism 15a wafer tweezers 16 wafer transfer mechanism 16a stage pins 17 Centering guide
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平河 修 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社内 (72)発明者 穴井 徳行 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Osamu Hirakawa 2655 Tsukyu, Kikuyo-cho, Kikuchi-gun, Kumamoto Prefecture, Tokyo Electron Kyushu Co., Ltd. (72) Noriyuki Anai, 2655 Tsukyu, Kikuyo-cho, Kikuchi-gun, Kumamoto Tokyo Electron Kyushu Within the corporation
Claims (10)
が、直線状に複数配置される載置部と、 この載置部と平行な第1の搬送路を有し、被処理体を搬
送アームに保持して前記搬送用治具に搬入搬出する第1
の搬送機構と、 前記第1の搬送路の中央部から略直角な方向に延在する
如く、前記第1の搬送路と異なる高さ位置に配置された
第2の搬送路を有し、被処理体をアームに保持して搬送
する第2の搬送機構と、 前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくともレジス
ト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユニット
を有する処理部と、 前記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記
被処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し
機構とを具備したことを特徴とする処理装置。1. An object to be processed, wherein a carrying jig for accommodating a plurality of objects to be processed has a plurality of placing parts linearly arranged and a first carrying path parallel to the placing parts. For holding in a carrying arm and carrying in and out of the carrying jig
And a second transport path disposed at a height different from that of the first transport path so as to extend from the central portion of the first transport path in a direction substantially perpendicular to the first transport path. A second transfer mechanism for holding and transferring the processing body on an arm; a processing section disposed on both sides of the second transfer path and having at least a resist coating processing unit, a development processing unit, and a heating unit; A processing apparatus comprising: a transfer mechanism for vertically transferring the object to be processed between the first transfer mechanism and the second transfer mechanism to transfer the object.
が、直線状に複数配置される載置部と、 この載置部と平行な第1の搬送路を有し、被処理体を搬
送アームに保持して前記搬送用治具に搬入搬出する第1
の搬送機構と、 前記第1の搬送路の中央部から略直角な方向に延在する
如く、前記第1の搬送路と異なる高さ位置に配置された
第2の搬送路を有し、被処理体をアームに保持して搬送
する第2の搬送機構と、 前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくともレジス
ト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユニット
と冷却ユニットの少なくとも2つのユニットをを具備す
る処理部と、 前記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記
被処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し
機構とを具備したことを特徴とする処理装置。2. A processing jig for accommodating a plurality of objects to be processed has a plurality of mounting portions arranged linearly and a first transportation path parallel to the mounting portions, For holding in a carrying arm and carrying in and out of the carrying jig
And a second transport path disposed at a height different from that of the first transport path so as to extend from the central portion of the first transport path in a direction substantially perpendicular to the first transport path. A second transport mechanism for transporting the processing body while holding it on an arm, and at least two units disposed at both sides of the second transport path, which are at least a resist coating processing unit, a developing processing unit, a heating unit, and a cooling unit. And a transfer mechanism that transfers the object to be processed vertically between the first transfer mechanism and the second transfer mechanism and transfers the object. Processing equipment.
が、直線状に複数配置される載置部と、 この載置部と平行な第1の搬送路を有し、被処理体を搬
送アームに保持して前記搬送用治具に搬入搬出する第1
の搬送機構と、 前記第1の搬送路の中央部から略直角な方向に延在する
如く、前記第1の搬送路と異なる高さ位置に配置された
第2の搬送路を有し、複数のアームを有する第2の搬送
機構と、 前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくともレジス
ト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユニット
と冷却ユニットを有する処理部と、 前記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記
被処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し
機構とを具備したことを特徴とする処理装置。3. An object to be processed, wherein a carrying jig for housing a plurality of objects to be processed has a plurality of placing parts linearly arranged and a first carrying path parallel to the placing parts. For holding in a carrying arm and carrying in and out of the carrying jig
And a second transport path arranged at a height different from that of the first transport path so as to extend in a direction substantially perpendicular from the central portion of the first transport path. A second transport mechanism having an arm, a processing section disposed on both sides of the second transport path, the processing section having at least a resist coating processing unit, a development processing unit, a heating unit, and a cooling unit; A processing apparatus comprising: a transfer mechanism that vertically transfers the object to be processed between the mechanism and the second transfer mechanism and transfers the object.
が、直線状に複数配置される載置部と、 この載置部と平行な第1の搬送路を有し、この第1の搬
送路を移動可能とし、被処理体を前記搬送用治具に搬入
搬出する第1の搬送機構と、 前記第1の搬送路の中央部から略直角な方向に延在する
如く、前記第1の搬送路を移動する第1の搬送機構によ
り搬送される被処理体の搬送高さと異なる高さ位置で被
処理体を搬送する第2の搬送路内を移動可能な第2の搬
送機構と、 前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくともレジス
ト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユニット
と冷却ユニットの少なくとも2つのユニットをを具備す
る処理部と、 前記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記
被処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し
機構とを具備したことを特徴とする処理装置。4. A transfer jig for accommodating a plurality of objects to be processed has a plurality of mounting portions linearly arranged and a first transfer path parallel to the mounting portions. A first transport mechanism that makes the transport path movable and transports the target object into and out of the transport jig; and the first transport mechanism that extends in a direction substantially perpendicular to the central portion of the first transport path. A second transport mechanism that is movable in a second transport path that transports an object to be processed at a height position different from the transport height of the object to be processed that is transported by the first transport mechanism that moves in one transport path; A processing unit which is disposed on both sides of the second transport path and includes at least two units of a resist coating processing unit, a development processing unit, a heating unit, and a cooling unit; the first transport mechanism; The object to be processed is vertically transferred to and received from the second transfer mechanism. Processing apparatus characterized by comprising a delivery mechanism for teeth.
が、直線状に複数配置される載置部と、 この載置部と平行な第1の搬送路を有し、被処理体を搬
送アームに保持して前記搬送用治具に搬入搬出する第1
の搬送機構と、 前記第1の搬送路の中央部から略直角な方向に延在する
如く、前記第1の搬送路と異なる高さ位置に配置された
第2の搬送路を有し、複数の被処理体を複数のアームに
保持して搬送可能な第2の搬送機構と、 前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくともレジス
ト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユニット
と冷却ユニットを有する処理部と、 前記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記
被処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し
機構とを具備したことを特徴とする処理装置。5. An object to be processed, wherein a carrying jig for accommodating a plurality of objects to be processed has a plurality of placing parts arranged linearly and a first carrying path parallel to the placing parts. For holding in a carrying arm and carrying in and out of the carrying jig
And a second transport path arranged at a height different from that of the first transport path so as to extend in a direction substantially perpendicular from the central portion of the first transport path. Second transport mechanism capable of transporting the object to be treated while being held by a plurality of arms, and disposed on both sides of the second transport path, at least a resist coating processing unit, a development processing unit, a heating unit, and a cooling unit. And a transfer mechanism that transfers the object to be processed vertically between the first transfer mechanism and the second transfer mechanism, and transfers the object. .
が、直線状に複数配置される載置部と、 この載置部と平行な第1の搬送路を有し、この第1の搬
送路を移動可能とし、被処理体を前記搬送用治具に搬入
搬出する第1の搬送機構と、 前記第1の搬送路の中央部から略直角な方向に延在する
如く、前記第1の搬送路を移動する第1の搬送機構によ
り搬送される被処理体の搬送高さと異なる高さ位置で被
処理体を搬送する第2の搬送路内を移動可能な第2の搬
送機構であって、複数の被処理体を複数のアームに保持
して搬送可能な第2の搬送機構と、 前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくともレジス
ト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユニット
と冷却ユニットの少なくとも2つのユニットをを具備す
る処理部と、 前記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記
被処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し
機構とを具備したことを特徴とする処理装置。6. A transfer jig for accommodating a plurality of objects to be processed has a plurality of mounting portions arranged linearly and a first transfer path parallel to the mounting portions. A first transport mechanism that makes the transport path movable and transports the target object into and out of the transport jig; and the first transport mechanism that extends in a direction substantially perpendicular to the central portion of the first transport path. A second transport mechanism that is movable in a second transport path that transports an object to be processed at a height position different from the transport height of the object to be processed that is transported by the first transport mechanism that moves along the first transport path. And a second transport mechanism capable of transporting a plurality of objects to be held by a plurality of arms, and a second coating mechanism disposed on both sides of the second transport path, at least a resist coating processing unit, a development processing unit, and a heating unit. A processing unit including at least two units of a unit and a cooling unit; Processing apparatus, characterized in that the workpiece between the the feed mechanism the second conveying mechanism conveys the vertical direction, and and a transfer mechanism for transferring.
が、直線状に複数配置される載置部と、 この載置部と平行な第1の搬送路を有し、この第1の搬
送路を移動可能とし、被処理体を前記搬送用治具に搬入
搬出する第1の搬送機構と、 前記第1の搬送路の中央部から略直角な方向に延在する
如く、前記第1の搬送路を移動する第1の搬送機構によ
り搬送される被処理体の搬送高さと異なる高さ位置で被
処理体を搬送する第2の搬送路内を移動可能な複数のア
ームを有する第2の搬送機構と、 前記第2の搬送路の両側に配設され、少なくともレジス
ト塗布処理ユニットと現像処理ユニットと加熱ユニット
と冷却ユニットの少なくとも2つのユニットをを具備す
る処理部と、 前記第1の搬送機構と前記第2の搬送機構との間で前記
被処理体を上下方向に搬送し、受け渡しを行う受け渡し
機構とを具備したことを特徴とする処理装置。7. A carrying jig for accommodating a plurality of objects to be processed has a plurality of placing portions linearly arranged and a first conveying path parallel to the placing portions. A first transport mechanism that makes the transport path movable and transports the target object into and out of the transport jig; and the first transport mechanism that extends in a direction substantially perpendicular to the central portion of the first transport path. A plurality of arms that are movable in a second transport path that transports the object to be processed at a height position different from the transport height of the object to be processed that is transported by the first transport mechanism that moves in the first transport path; A second transport mechanism, a processing unit disposed on both sides of the second transport path, the processing unit including at least two units of a resist coating processing unit, a development processing unit, a heating unit, and a cooling unit; Between the second transport mechanism and the second transport mechanism. And conveyed in a direction, the processing apparatus characterized by comprising a transfer mechanism for transferring.
れていることを特徴とする処理装置。8. The processing device according to claim 1, wherein the placement unit and the processing unit are configured by separate casings.
されたことを特徴とする処理装置。9. The processing apparatus according to claim 1, wherein the transfer arm is configured to support a peripheral portion of a lower surface of the object to be processed.
て、 前記被処理体が半導体ウエハであることを特徴とする処
理装置。10. The processing apparatus according to claim 1, wherein the object to be processed is a semiconductor wafer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7207257A JP2883888B2 (en) | 1990-03-30 | 1995-08-14 | Processing equipment |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8323790 | 1990-03-30 | ||
| JP2-83237 | 1990-03-30 | ||
| JP7207257A JP2883888B2 (en) | 1990-03-30 | 1995-08-14 | Processing equipment |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28080090A Division JPH0666377B2 (en) | 1990-03-30 | 1990-10-19 | Processing apparatus, processing method, and resist processing apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0851139A true JPH0851139A (en) | 1996-02-20 |
| JP2883888B2 JP2883888B2 (en) | 1999-04-19 |
Family
ID=26424292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7207257A Expired - Lifetime JP2883888B2 (en) | 1990-03-30 | 1995-08-14 | Processing equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2883888B2 (en) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5739430U (en) * | 1980-08-14 | 1982-03-03 | ||
| JPS58145144A (en) * | 1982-02-22 | 1983-08-29 | Nec Corp | Wafers conveying device |
| JPS6145804A (en) * | 1984-08-09 | 1986-03-05 | Canon Inc | Carrying device for semi-conductor wafer |
| JPS62208619A (en) * | 1986-03-10 | 1987-09-12 | Hitachi Ltd | Wafer transfer device |
| JPS6313332A (en) * | 1986-07-04 | 1988-01-20 | Canon Inc | Device for manufacturing semiconductor |
| JPS6328863A (en) * | 1986-07-22 | 1988-02-06 | Ulvac Corp | Vacuum treatment device |
| JPS63157870A (en) * | 1986-12-19 | 1988-06-30 | Anelva Corp | Substrate treatment device |
-
1995
- 1995-08-14 JP JP7207257A patent/JP2883888B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5739430U (en) * | 1980-08-14 | 1982-03-03 | ||
| JPS58145144A (en) * | 1982-02-22 | 1983-08-29 | Nec Corp | Wafers conveying device |
| JPS6145804A (en) * | 1984-08-09 | 1986-03-05 | Canon Inc | Carrying device for semi-conductor wafer |
| JPS62208619A (en) * | 1986-03-10 | 1987-09-12 | Hitachi Ltd | Wafer transfer device |
| JPS6313332A (en) * | 1986-07-04 | 1988-01-20 | Canon Inc | Device for manufacturing semiconductor |
| JPS6328863A (en) * | 1986-07-22 | 1988-02-06 | Ulvac Corp | Vacuum treatment device |
| JPS63157870A (en) * | 1986-12-19 | 1988-06-30 | Anelva Corp | Substrate treatment device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2883888B2 (en) | 1999-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100251340B1 (en) | Substrate Processing Apparatus and Substrate Processing Method | |
| JP4887332B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| CN101471237B (en) | Apparatus for treating substrate and method for transferring substrate using the same | |
| JP2867194B2 (en) | Processing device and processing method | |
| US6377329B1 (en) | Substrate processing apparatus | |
| JPH1084029A (en) | Processing system | |
| KR100188453B1 (en) | Device for conveying and loading the object to be processed | |
| JP4463081B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
| KR100564917B1 (en) | Substrate Transfer Equipment and Substrate Processing Equipment | |
| JPH0513551A (en) | Processor | |
| JPH10144765A (en) | Substrate processing system | |
| JPH02164017A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus | |
| JP3936900B2 (en) | Substrate processing system | |
| JPH0851139A (en) | Processing equipment | |
| JPH07171478A (en) | Substrate processing equipment | |
| JP2809834B2 (en) | Resist processing equipment | |
| JP2743274B2 (en) | Substrate processing device and substrate transfer device | |
| JP2960181B2 (en) | Processing equipment | |
| JPH0666377B2 (en) | Processing apparatus, processing method, and resist processing apparatus | |
| JPH10284413A (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing exposure apparatus | |
| JP2926213B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP2913510B2 (en) | Transfer device | |
| JPH04155848A (en) | Resist treater | |
| JP2004319889A (en) | Manufacturing object delivery apparatus and manufacturing object delivery method | |
| JP3246659B2 (en) | Resist processing apparatus, liquid processing apparatus, and substrate processing apparatus |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19981117 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080212 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110212 Year of fee payment: 12 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110212 Year of fee payment: 12 |