JPH0854450A - 開閉装置の試験装置 - Google Patents
開閉装置の試験装置Info
- Publication number
- JPH0854450A JPH0854450A JP6190857A JP19085794A JPH0854450A JP H0854450 A JPH0854450 A JP H0854450A JP 6190857 A JP6190857 A JP 6190857A JP 19085794 A JP19085794 A JP 19085794A JP H0854450 A JPH0854450 A JP H0854450A
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- contact
- test
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- Pending
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ケーブル側と母線側との双方の耐電圧試験が
一台で行える試験装置を提供する。 【構成】 しゃ断器等を有する可動部を開閉装置から引
き出して代わりに搬入できるように、車輪１３を有する
台車本体１４に、ケーブルと接続されるコンタクト１７
ａを設け、コンタクト１７ａを導体１９ａを介して印加
端子１６ａに接続する一方、母線に接続されるコンタク
ト１７ｂを設け、コンタクト１７ｂを導体１９ｂを介し
て印加端子１６ｂに接続する。
一台で行える試験装置を提供する。 【構成】 しゃ断器等を有する可動部を開閉装置から引
き出して代わりに搬入できるように、車輪１３を有する
台車本体１４に、ケーブルと接続されるコンタクト１７
ａを設け、コンタクト１７ａを導体１９ａを介して印加
端子１６ａに接続する一方、母線に接続されるコンタク
ト１７ｂを設け、コンタクト１７ｂを導体１９ｂを介し
て印加端子１６ｂに接続する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は開閉装置の試験装置に関
し、ケーブル及び母線の耐電圧試験が単一の装置で行え
るようにしたものである。
し、ケーブル及び母線の耐電圧試験が単一の装置で行え
るようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】図２に開閉装置の単線接続図を示し、図
３（ａ），（ｂ）に開閉装置の正面図，右側面図を示
す。図２中、Ｂｕｓは母線、ＣＨはケーブルヘッド、Ｅ
Ｓは接地開閉器、ＶＣＢはしゃ断器、ＣＴは変流器、Ｚ
ＣＴは零相変流器、ＳＴrはトランス、ＧＰＴは接地形
計器用変圧器である。
３（ａ），（ｂ）に開閉装置の正面図，右側面図を示
す。図２中、Ｂｕｓは母線、ＣＨはケーブルヘッド、Ｅ
Ｓは接地開閉器、ＶＣＢはしゃ断器、ＣＴは変流器、Ｚ
ＣＴは零相変流器、ＳＴrはトランス、ＧＰＴは接地形
計器用変圧器である。
【０００３】図中、１は図示しないケーブルを介して変
圧器の二次側に接続される配電盤、２はケーブルを介し
て他の開閉装置と接続する場合の連絡用の配電盤、３は
避雷器等を収容した配電盤、４はケーブルを介して負荷
に接続される配電盤であり、結線の途中に接続と断路が
自在の接続部５，６が設けられている。
圧器の二次側に接続される配電盤、２はケーブルを介し
て他の開閉装置と接続する場合の連絡用の配電盤、３は
避雷器等を収容した配電盤、４はケーブルを介して負荷
に接続される配電盤であり、結線の途中に接続と断路が
自在の接続部５，６が設けられている。
【０００４】配電盤の内部は、図３（ｂ）に示すように
基礎台枠７の上から引き出し自在であって接続部５，６
で接続される可動部８と、基礎台枠７上に固定された固
定部９とが設けられ、ケーブル１０を接続するためのケ
ーブルヘッド１１と変圧器の二次側に接続された母線１
２とが固定部９に設けられている。なお、配電盤３に
は、その構成上、接続部５は設けられていない。
基礎台枠７の上から引き出し自在であって接続部５，６
で接続される可動部８と、基礎台枠７上に固定された固
定部９とが設けられ、ケーブル１０を接続するためのケ
ーブルヘッド１１と変圧器の二次側に接続された母線１
２とが固定部９に設けられている。なお、配電盤３に
は、その構成上、接続部５は設けられていない。
【０００５】前記開閉装置には、ケーブル及びケーブル
ヘッドの耐電圧試験を行うケーブル用の試験装置と、母
線の耐電圧試験を行う母線用の試験装置とが用いられ
る。
ヘッドの耐電圧試験を行うケーブル用の試験装置と、母
線の耐電圧試験を行う母線用の試験装置とが用いられ
る。
【０００６】図４，図５に示すように、ケーブル用，母
線用のいずれの試験装置も、車輪１３を有する台車本体
１４と、台車本体１４に碍子１５を介して設けられた印
加端子１６ａ，１６ｂと、接続部５，６を構成するコン
タクト１７ａ，１７ｂと、印加端子１６ａ，１６ｂとコ
ンタクト１７ａ，１７ｂを接続する導体１９ａ，１９ｂ
と、コンタクトの有無に拘わらず設けられて接続部５，
６を保護する防塵用の断路部ケース２０と、図３（ｂ）
の可動部８を引き出して代わりに試験装置を搬入する際
にコンタクト１７ａ，１７ｂの結合を行うために固定部
９に設けられたナット２１（図６，７参照）に螺合させ
るためのねじ軸２２と、試験装置の搬入によって固定部
９の図示しないバンク一括用接地線に接続される接地金
具取付用の銅帯２３と、印加端子１６ａ，１６ｂを覆う
前面カバー２４ａ，２４ｂとで構成される。
線用のいずれの試験装置も、車輪１３を有する台車本体
１４と、台車本体１４に碍子１５を介して設けられた印
加端子１６ａ，１６ｂと、接続部５，６を構成するコン
タクト１７ａ，１７ｂと、印加端子１６ａ，１６ｂとコ
ンタクト１７ａ，１７ｂを接続する導体１９ａ，１９ｂ
と、コンタクトの有無に拘わらず設けられて接続部５，
６を保護する防塵用の断路部ケース２０と、図３（ｂ）
の可動部８を引き出して代わりに試験装置を搬入する際
にコンタクト１７ａ，１７ｂの結合を行うために固定部
９に設けられたナット２１（図６，７参照）に螺合させ
るためのねじ軸２２と、試験装置の搬入によって固定部
９の図示しないバンク一括用接地線に接続される接地金
具取付用の銅帯２３と、印加端子１６ａ，１６ｂを覆う
前面カバー２４ａ，２４ｂとで構成される。
【０００７】ケーブル用あるいは母線用の試験装置は以
下のようにして用いる。図３（ｂ）の状態から可動部８
を引き出し、その代わりに図６又は図７に示すように基
礎台枠７上へ図４，図５の試験装置を搬入する。このと
き、コンタクト１７ａ，１７ｂの結合は、図示しないハ
ンドルを取り付けて回すことにより、ねじ軸２２をナッ
ト２１に螺合して行う。このあと、印加端子１６ａ又は
１６ｂに電圧を印加する。すると、図６の場合はケーブ
ル１０に電圧が印加され、図７の場合は母線１２に電圧
が印加されることになる。なお、ケーブル１０，母線１
２の接地が必要な場合には、印加端子１６ａ，１６ｂを
接地端子として用いることもできる。
下のようにして用いる。図３（ｂ）の状態から可動部８
を引き出し、その代わりに図６又は図７に示すように基
礎台枠７上へ図４，図５の試験装置を搬入する。このと
き、コンタクト１７ａ，１７ｂの結合は、図示しないハ
ンドルを取り付けて回すことにより、ねじ軸２２をナッ
ト２１に螺合して行う。このあと、印加端子１６ａ又は
１６ｂに電圧を印加する。すると、図６の場合はケーブ
ル１０に電圧が印加され、図７の場合は母線１２に電圧
が印加されることになる。なお、ケーブル１０，母線１
２の接地が必要な場合には、印加端子１６ａ，１６ｂを
接地端子として用いることもできる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところが、ひとつの開
閉装置に対してケーブル用と母線用との２種類の試験装
置が必要になり、部品点数が多くてコスト高になる。
閉装置に対してケーブル用と母線用との２種類の試験装
置が必要になり、部品点数が多くてコスト高になる。
【０００９】そこで本発明は、斯る課題を解決した開閉
装置の試験装置を提供することを目的とする。
装置の試験装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】斯る目的を達成するため
の本発明の構成は、変圧器の二次側に接続される母線
と、負荷に接続されるケーブルとの間に、しゃ断器を有
する引き出し自在の可動部を接続してなる開閉装置に用
いられるとともに、可動部を引き出した位置へ搬入して
耐電圧試験を行うための開閉装置の試験装置において、
搬入によりケーブルに接続される第一コンタクトと第一
印加端子とを設けるとともに第一コンタクトと第一印加
端子を接続する一方、搬入により母線に接続される第二
コンタクトと第二印加端子とを設けるとともに第二コン
タクトと第二印加端子とを接続したことを特徴とする。
の本発明の構成は、変圧器の二次側に接続される母線
と、負荷に接続されるケーブルとの間に、しゃ断器を有
する引き出し自在の可動部を接続してなる開閉装置に用
いられるとともに、可動部を引き出した位置へ搬入して
耐電圧試験を行うための開閉装置の試験装置において、
搬入によりケーブルに接続される第一コンタクトと第一
印加端子とを設けるとともに第一コンタクトと第一印加
端子を接続する一方、搬入により母線に接続される第二
コンタクトと第二印加端子とを設けるとともに第二コン
タクトと第二印加端子とを接続したことを特徴とする。
【００１１】
【作用】開閉装置から可動部を引き出したのちに試験装
置を搬入する。そして、ケーブルの耐電圧試験を行う場
合には、第一印加端子に電圧を印加する。母線の耐電圧
試験を行う場合には、第二印加端子に電圧を印加する。
置を搬入する。そして、ケーブルの耐電圧試験を行う場
合には、第一印加端子に電圧を印加する。母線の耐電圧
試験を行う場合には、第二印加端子に電圧を印加する。
【００１２】耐電圧試験が終了したら、試験装置を引き
出し、可動部を再び搬入する。
出し、可動部を再び搬入する。
【００１３】
【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。なお、本実施例は従来の開閉装置の試
験装置の一部を改良したものなので、従来と同一部分に
は同一符号を付して説明を省略し、異なる部分のみを説
明する。
詳細に説明する。なお、本実施例は従来の開閉装置の試
験装置の一部を改良したものなので、従来と同一部分に
は同一符号を付して説明を省略し、異なる部分のみを説
明する。
【００１４】本発明による開閉装置の試験装置の構成
は、図１（ａ），（ｂ）に示す。本発明は、一台の試験
装置でケーブル及び母線の双方の耐電圧試験が行われる
ようにしたものである。
は、図１（ａ），（ｂ）に示す。本発明は、一台の試験
装置でケーブル及び母線の双方の耐電圧試験が行われる
ようにしたものである。
【００１５】図のように、従来と同様の高い位置に三相
分のコンタクト１７ａが設けられる一方、低い位置に三
相分のコンタクト１７ｂが設けられる。高い位置のコン
タクト１７ａは碍子１５を介して配置した導体１９ａに
より、高い位置に配置した印加端子１６ａに夫々接続さ
れる。一方、低い位置のコンタクト１７ｂは碍子１５を
介して配設した導体１９ｂにより、低い位置に配置した
印加端子１６ｂに夫々接続される。そして、ケーブル側
と母線側との印加端子を誤ってとり違えることのないよ
うに、上正面カバー２４ａと下正面カバー２４ｂとが別
個に開閉自在に設けられる。
分のコンタクト１７ａが設けられる一方、低い位置に三
相分のコンタクト１７ｂが設けられる。高い位置のコン
タクト１７ａは碍子１５を介して配置した導体１９ａに
より、高い位置に配置した印加端子１６ａに夫々接続さ
れる。一方、低い位置のコンタクト１７ｂは碍子１５を
介して配設した導体１９ｂにより、低い位置に配置した
印加端子１６ｂに夫々接続される。そして、ケーブル側
と母線側との印加端子を誤ってとり違えることのないよ
うに、上正面カバー２４ａと下正面カバー２４ｂとが別
個に開閉自在に設けられる。
【００１６】次に、斯る開閉装置の試験装置の作用を説
明する。開閉装置の試験を行うためには、図３（ｂ）に
示す可動部８を引き出したのちに、図１に示す試験装置
を搬入する。そして、図示しないハンドルをねじ軸２２
の端部に取り付けて回すことによりねじ軸２２を固定部
９のナット２１にねじ込むと、コンタクト１７ａ，１７
ｂが前進して接続部５，６で試験装置の接続が行われ
る。
明する。開閉装置の試験を行うためには、図３（ｂ）に
示す可動部８を引き出したのちに、図１に示す試験装置
を搬入する。そして、図示しないハンドルをねじ軸２２
の端部に取り付けて回すことによりねじ軸２２を固定部
９のナット２１にねじ込むと、コンタクト１７ａ，１７
ｂが前進して接続部５，６で試験装置の接続が行われ
る。
【００１７】ケーブル１０の耐電圧試験を行うには、上
前面カバー２４ａを開いて印加端子１６ａに電圧を印加
する。すると、導体１９ａ，コンタクト１７ａを介して
ケーブル１０に電圧が印加され耐電圧試験を行うことが
できる。試験後は、平編銅線等からなる接地線を介して
印加端子１６ａと銅帯２３とを接続する。すると、ケー
ブル１０に残っている電気は銅帯２３を介して地中へ流
れる。
前面カバー２４ａを開いて印加端子１６ａに電圧を印加
する。すると、導体１９ａ，コンタクト１７ａを介して
ケーブル１０に電圧が印加され耐電圧試験を行うことが
できる。試験後は、平編銅線等からなる接地線を介して
印加端子１６ａと銅帯２３とを接続する。すると、ケー
ブル１０に残っている電気は銅帯２３を介して地中へ流
れる。
【００１８】母線１２の耐電圧試験を行うには、下前面
カバー２４ｂを開いて印加端子１６ｂに電圧を印加す
る。すると、導体１９ｂ，コンタクト１７ｂを介して母
線１２に電圧が印加され、耐電圧試験を行うことができ
る。その後の母線１２の接地は前記と同様にして行う。
カバー２４ｂを開いて印加端子１６ｂに電圧を印加す
る。すると、導体１９ｂ，コンタクト１７ｂを介して母
線１２に電圧が印加され、耐電圧試験を行うことができ
る。その後の母線１２の接地は前記と同様にして行う。
【００１９】ケーブル及び母線の耐電圧試験が終了した
ら、ハンドルによりねじ軸２２を回してナット２１から
外し、試験装置を引き出して代わりに可動部８を搬入す
る。
ら、ハンドルによりねじ軸２２を回してナット２１から
外し、試験装置を引き出して代わりに可動部８を搬入す
る。
【００２０】このほか、ケーブルヘッド１１にケーブル
１０を布設する際にケーブル１０は三相分あって長いた
めにケーブル１０とケーブルヘッド１１との相が一致し
ているか確認する必要があり、この場合に可動部８と試
験装置とを入れ換えたのちにケーブル１０からの信号を
印加端子１６ａで受けてケーブル１０の相を確認するこ
とができる。また、母線１２からの信号を印加端子１６
ｂで受けて母線１２の相を確認することもできる。この
点について、従来は試験装置の入れ替えが必要であっ
た。一方、接続部５，６で直接に信号を受けることも考
えられるが、コンタクト１７ａ，１７ｂが嵌合される図
示しない凹部に信号受信のための端子を当接させて保持
するのは困難が伴う。
１０を布設する際にケーブル１０は三相分あって長いた
めにケーブル１０とケーブルヘッド１１との相が一致し
ているか確認する必要があり、この場合に可動部８と試
験装置とを入れ換えたのちにケーブル１０からの信号を
印加端子１６ａで受けてケーブル１０の相を確認するこ
とができる。また、母線１２からの信号を印加端子１６
ｂで受けて母線１２の相を確認することもできる。この
点について、従来は試験装置の入れ替えが必要であっ
た。一方、接続部５，６で直接に信号を受けることも考
えられるが、コンタクト１７ａ，１７ｂが嵌合される図
示しない凹部に信号受信のための端子を当接させて保持
するのは困難が伴う。
【００２１】
【発明の効果】以上の説明からわかるように、本発明に
よる開閉装置の試験装置によれば、単一の試験装置にケ
ーブル及び母線の夫々に個別に電圧を印加するための印
加端子を設けたので、従来２台必要としていた試験装置
が一台で足りることになって部品数が少なくて足りると
ともに試験装置にかかるコストが下がる。また、ケーブ
ルと母線との耐電圧試験を行う際に試験装置を入れ替え
る手間が省ける。
よる開閉装置の試験装置によれば、単一の試験装置にケ
ーブル及び母線の夫々に個別に電圧を印加するための印
加端子を設けたので、従来２台必要としていた試験装置
が一台で足りることになって部品数が少なくて足りると
ともに試験装置にかかるコストが下がる。また、ケーブ
ルと母線との耐電圧試験を行う際に試験装置を入れ替え
る手間が省ける。
【図１】本発明による開閉装置の試験装置の実施例に係
り、（ａ）は正面図、（ｂ）は右側面図。
り、（ａ）は正面図、（ｂ）は右側面図。
【図２】開閉装置の単線接続図。
【図３】開閉装置に係り、（ａ）は正面図、（ｂ）は右
側面図。
側面図。
【図４】従来のケーブル用の試験装置に係り、（ａ）は
正面図、（ｂ）は右側面図。
正面図、（ｂ）は右側面図。
【図５】従来の母線用の試験装置に係り、（ａ）は正面
図、（ｂ）は右側面図。
図、（ｂ）は右側面図。
【図６】従来のケーブル用の試験装置を開閉装置へ搬入
した状態を示す構成図。
した状態を示す構成図。
【図７】従来の母線用の試験装置を開閉装置へ搬入した
状態を示す構成図。
状態を示す構成図。
５，６…接続部 ８…可動部 １０…ケーブル １２…母線 １３…車輪 １６ａ，１６ｂ…印加端子 １７ａ，１７ｂ…コンタクト １９ａ，１９ｂ…導体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｈ 33/53 Ｗ
Claims (1)
- 【請求項１】 変圧器の二次側に接続される母線と、負
荷に接続されるケーブルとの間に、しゃ断器を有する引
き出し自在の可動部を接続してなる開閉装置に用いられ
るとともに、可動部を引き出した位置へ搬入して耐電圧
試験を行うための開閉装置の試験装置において、 搬入によりケーブルに接続される第一コンタクトと第一
印加端子とを設けるとともに第一コンタクトと第一印加
端子を接続する一方、搬入により母線に接続される第二
コンタクトと第二印加端子とを設けるとともに第二コン
タクトと第二印加端子とを接続したことを特徴とする開
閉装置の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6190857A JPH0854450A (ja) | 1994-08-15 | 1994-08-15 | 開閉装置の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6190857A JPH0854450A (ja) | 1994-08-15 | 1994-08-15 | 開閉装置の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0854450A true JPH0854450A (ja) | 1996-02-27 |
Family
ID=16264932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6190857A Pending JPH0854450A (ja) | 1994-08-15 | 1994-08-15 | 開閉装置の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0854450A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101806816A (zh) * | 2010-04-13 | 2010-08-18 | 河北工业大学 | 低压断路器试品夹持器 |
-
1994
- 1994-08-15 JP JP6190857A patent/JPH0854450A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101806816A (zh) * | 2010-04-13 | 2010-08-18 | 河北工业大学 | 低压断路器试品夹持器 |
| CN101806816B (zh) | 2010-04-13 | 2012-06-20 | 河北工业大学 | 低压断路器试品夹持器 |
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