JPH0855349A - サーボ回路の調整方法、電子機器及び電子機器の調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】調整作業を簡略化することができるサーボ回路
の調整方法、電子機器及び電子機器の調整方法を提案す
る。 【構成】 本発明は、サーボループ中の負帰還増幅回路
１０を形成する反転増幅回路１１の入力端に外乱信号Ｓ
１を入力し、負帰還増幅回路１０の出力側端に対する入
力側端の伝達特性を観察し、この観察結果と負帰還増幅
回路１０の伝達特性からオープンループの特性を検出す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、サーボ回路の調整方
法、電子機器及び電子機器の調整方法に関し、例えば光
ディスク装置とその製造工程にに適用することができ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスク装置においては、サー
ボループを形成していわゆる２軸アクチュエータを駆動
することにより、トラッキング制御、フォーカス制御す
るようになされている。

【０００３】すなわち光ディスク装置は、所定速度で回
転する光ディスクに対して、この光ディスクの半径方向
に可動できるように、光ピックアップが保持される。こ
の光ピックアップは、内蔵したレーザーダイオードのレ
ーザービームを、対物レンズによってこの光ディスクの
情報記録面に集光し、またこの情報記録面から得れる戻
り光をこの対物レンズで集光した後、所定の光学系を介
してフォトディテクタで受光する。

【０００４】ここでこの対物レンズは、ボイスコイルモ
ータ構成のいわゆる２軸アクチュエータによって保持さ
れ、この２軸アクチュエータは、垂直駆動用ボイスコイ
ル及び水平駆動用ボイスコイルの駆動電流によって、そ
れぞれ上下左右に対物レンズを可動できるようになされ
ている。

【０００５】これに対してフォトディテクタは、受光面
が分割して形成され、光ディスク装置では、この分割さ
れた各受光面の出力信号を電流電圧変換処理した後、加
減算処理し、これによりトラッキングエラー信号、フォ
ーカスエラー信号、再生信号を検出する。さらに光ディ
スク装置では、このトラッキングエラー信号及びフォー
カスエラー信号をそれぞれ位相補償回路において位相補
償した後、駆動回路に出力し、この駆動回路の出力信号
によって２軸アクチュエータする。

【０００６】これにより光ディスク装置は、２軸アクチ
ュエータを含んでなるサーボループをそれぞれ形成し、
対物レンズを上下左右に可動してフォーカス制御及びト
ラッキング制御するようになされている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところでこの種の光デ
ィスク装置では、アクセス時間を短くする必要があり、
このためには光ピックアップを小型化、軽量化し、高速
度でシークできるようにする必要がある。このために
は、光ピックアップを構成する２軸アクチュエータにつ
いても、構成を簡略化し、また小型化、軽量化する必要
がある。

【０００８】ところがこのようなボイスコイルモータ構
成の２軸アクチュエータは、電気機械変換係数等の特性
にばらつきの発生を避け得ない特徴がある。特に、この
ように構成を簡略化し、また小型化、軽量化すると、こ
の種の特性のばらつきが大きくなる傾向がある。

【０００９】このため従来の光ディスク装置では、２軸
アクチュエータを含むサーボループについては、利得、
位相を調整し、これにより確実にトラッキング制御、フ
ォーカス制御することができるようになされている。

【００１０】ところがこの種のサーボループの調整は、
作業が煩雑な問題がある。すなわちこのようなサーボル
ープの調整作業は、従来、ループの一部を切断し、この
切断箇所にＦＦＴアナライザ等の測定器を介挿してオー
プンループ特性を求めることにより、このオープンルー
プ特性が規定の特性になるように増幅回路の利得等を調
整して実行される。

【００１１】この場合光ディスク装置では、トラッキン
グ制御及びフォーカス制御のサーボループをそれぞれ一
旦切断してオープンループを形成した後、周波数特性等
をモニタしながら増幅回路の利得を調整し、その後切断
箇所を接続し直す必要がある。このため光ディスク装置
においては、ショートランド等の切断箇所を予め形成
し、この切断箇所を切断した後、半田等で接続し直す必
要があり、結局煩雑な作業を実行する必要があった。ま
たこのような作業を実行すれば、その分光ディスク装置
自体の信頼性も低下することになる。

【００１２】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、この種の調整作業を簡略化することができるサーボ
回路の調整方法、電子機器及び電子機器の調整方法を提
案しようとするものである。

【００１３】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、負帰還増幅回路１０によってサー
ボループの一部が形成されたサーボ回路１の調整方法に
おいて、負帰還増幅回路１０を形成する反転増幅回路１
１の入力端に外乱信号Ｓ１を入力することにより、サー
ボループに外乱信号Ｓ１を注入し、負帰還増幅回路１０
の出力側端に対する負帰還増幅回路１０の入力側端の伝
達特性Ｇｓ、Ｐｓを観察し、この伝達特性Ｇｓ、Ｐｓに
基づいて、サーボループ１の利得Ｇｏ及び又は位相Ｐｏ
を調整する。

【００１４】特に、伝達特性Ｇｓ、Ｐｓを、負帰還増幅
回路１０の伝達特性Ｇｃ、Ｐｃで補正し、該補正結果Ｇ
ｏ、Ｐｏに基づいてサーボループの利得Ｇｏ及び又は位
相Ｐｏを調整することにより、負帰還増幅回路１０の出
力側端に対する負帰還増幅回路１０の入力側端の伝達特
性Ｇｓ、Ｐｓに基づいて、サーボループの利得Ｇｏ及び
又は位相Ｐｏを調整する。

【００１５】また負帰還増幅回路１０が、位相補償回路
１０を形成する場合に適用する。

【００１６】さらにこの発明においては、電子回路２２
を実装した回路基板と、他の電子部品４、５、６、１
４、２９と組み合わせて形成される電子機器２０におい
て、回路基板は、単体で電子回路２２の特性が検出さ
れ、検出された特性Ｇｃ、Ｐｃが内蔵のメモリ回路３１
に記録され、電子機器２０は、メモリ回路３１に格納さ
れた特性Ｇｃ、Ｐｃに基づいて、全体の特性Ｇｏ、Ｐｏ
を調整する。

【００１７】特に、電子回路２２は、位相補償回路でな
り、位相補償回路２２は、回路基板が他の電子部品５、
６、１４、２９と組み合わされた際に、他の電子部品
５、６、１４、２９と共にサーボループを形成し、メモ
リ回路３１に格納される特性は、位相補償回路２２の位
相特性Ｐｃ及び利得Ｇｃでなるようにする。

【００１８】さらに電子回路２２を実装した回路基板
と、他の電子部品と組み合わせて形成される電子機器２
０の調整方法において、回路基板単体にて、電子回路２
２の特性Ｇｃ、Ｐｃを検出し、検出した特性Ｇｃ、Ｐｃ
を回路基板に搭載されたメモリ回路３１に記録し、他の
電子部品５、６、１４、２９と一体化した後、メモリ回
路３１に格納された特性Ｇｃ、Ｐｃに基づいて、全体の
特性Ｇｏ、Ｐｏを調整する。

【００１９】特に、電子回路は、位相補償回路２２でな
り、メモリ回路３１に格納する特性は、位相補償回路２
２の位相特性Ｐｃ及び利得Ｇｃでなるようにする。

【００２０】

【作用】負帰還増幅回路１０を形成する反転増幅回路１
１の入力端に外乱信号Ｓ１を入力すれば、サーボループ
１に対して簡易に外乱信号Ｓ１を注入することができ
る。さらに、負帰還増幅回路１０の出力側端に対する負
帰還増幅回路１０の入力側端の伝達特性Ｇｓ、Ｐｓを観
察すれば、オープンループの伝達特性Ｇｏ、Ｐｏから、
負帰還増幅回路１０の伝達特性Ｇｃ、Ｐｃを減じた伝達
特性Ｇｓ、Ｐｓを観察することができ、これによりこの
観察結果Ｇｓ、Ｐｓに基づいて、オープンループの伝達
特性Ｇｏ、Ｐｏを判断することができる。

【００２１】特に、伝達特性Ｇｓ、Ｐｓを、負帰還増幅
回路１０の伝達特性Ｇｃ、Ｐｃで補正すれば、負帰還増
幅回路１０の伝達特性Ｇｃ、Ｐｃがばらつく場合でも、
正しいオープンループの伝達特性Ｇｏ、Ｐｏを測定する
ことができる。

【００２２】またこの種の負帰還増幅回路１０として、
サーボループ１は、位相補償回路１０を有していること
により、この外乱注入対象の負帰還増幅回路１０として
位相補償回路１０を適用することができる。

【００２３】回路基板単体で電子回路２２の特性を検出
すると共に、検出された特性Ｇｃ、Ｐｃを内蔵のメモリ
回路３１に記録し、メモリ回路３１に格納された特性Ｇ
ｃ、Ｐｃに基づいて、全体の特性Ｇｏ、Ｐｏを調整すれ
ば、電子回路のばらつきを補正して全体の特性を正しく
調整することができる。

【００２４】特に電子回路２２がサーボループを形成す
る位相補償回路の場合、位相補償回路２２の位相特性Ｐ
ｃ及び利得Ｇｃをメモリ回路３１に格納すれば、この位
相特性Ｐｃ及び利得Ｇｃに基づいて、簡易にオープンル
ープの伝達特性Ｇｏ、Ｐｏを調整することができる。

【００２５】さらに電子機器２０の調整方法において、
回路基板単体にて、電子回路２２の特性Ｇｃ、Ｐｃを検
出すると共に、検出した特性Ｇｃ、Ｐｃを回路基板に搭
載されたメモリ回路３１に記録し、他の電子部品５、
６、１４、２９と一体化した後、メモリ回路３１に格納
された特性Ｇｃ、Ｐｃに基づいて、全体の特性Ｇｏ、Ｐ
ｏを調整すれば、電子回路のばらつきを補正して全体の
特性を正しく調整することができる調整方法を実現でき
る。

【００２６】特に、電子回路が位相補償回路２２のと
き、メモリ回路３１に位相補償回路２２の位相特性Ｐｃ
及び利得Ｇｃを記録して、この位相補償回路２２が一部
を構成するサーボループの特性を簡易に調整することが
できる。

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
述する。

【００２７】図１において、１は全体として光ディスク
装置を示し、治具２を接続してトラッキング制御回路を
調整する。

【００２８】ここで光ディスク装置１において、光ディ
スク３は、ポリカーボネート基板に磁性膜を蒸着して情
報記録面が形成された後、この情報記録面を保護膜で覆
って形成される。この情報記録面は、レーザービームの
ガイド溝を担ういわゆるプリグルーブが蛇行してラセン
状に形成されるようになされている。これにより光ディ
スク装置１は、このプリグルーブを基準にして順次熱磁
気記録の手法を適用して所望のデータを記録し、またカ
ー効果を利用して記録したデータを再生するようになさ
れている。

【００２９】すなわち光ディスク装置１において、光デ
ィスク３は、スピンドルモータ４によって線速度一定の
条件で回転駆動され、この光ディスク３に対して、光ピ
ックアップ５が光ディスク３の半径方向に可動できるよ
うに保持されている。この光ピックアップ５は、内蔵の
レーザーダイオードからレーザービームを出射し、２軸
アクチュエータに保持された対物レンズ６によって、こ
のレーザービームを光ディスク３の情報記録面に集光す
る。さらに光ピックアップ５は、光ディスク３から得ら
れる戻り光を、この対物レンズ６で受け、所定の光学系
を介して所定の受光系で受光する。

【００３０】ここでこの受光系は、フォーカスエラー検
出用のフォトディテクタ、トラッキングエラー検出用の
フォトディテクタ、再生信号検出用のフォトディテクタ
で形成され、このうちトラッキングエラー検出用のフォ
トディテクタは、受光面を光ディスク３の半径方向に分
割して形成されるようになされ、光ディスク３の半径方
向について戻り光の光量変化を検出することができるよ
うになされている。

【００３１】増幅回路７は、この各フォトディテクタの
出力信号をぞれぞれ電流電圧変換した後、所定利得で増
幅して出力する複数の電流電圧変換回路で形成され、マ
トリックス回路８は、この増幅回路７から出力される複
数の出力信号を加減算処理し、トラッキングエラー信号
ＴＥ、フォーカスエラー信号、再生信号、ウォウブル信
号を生成する。

【００３２】ここでウォウブル信号は、トラッキングエ
ラー検出用フォトディテクタの出力信号から生成される
プリグルーブの蛇行を検出した信号で、光ディスク装置
１では、このウォウブル信号のキャリア周波数が約２２
〔ｋＨｚ〕に保持されるようにスピンドルモータ４を回
転駆動し、またこのウォウブル信号からレーザービーム
照射位置の位置情報を検出するようになされている。

【００３３】可変利得増幅回路９は、いわゆる電子ボリ
ュームを内蔵した増幅回路で形成され、トラッキングエ
ラー信号ＴＥを増幅して位相補償回路１０に出力する。

【００３４】位相補償回路１０は、入力抵抗Ｒ１と、抵
抗Ｒ２及びコンデンサＣ２の直列回路とを並列接続して
入力回路を形成し、この入力回路を介してトラッキング
エラー信号ＴＥを演算増幅回路１１の反転入力端に入力
する。この演算増幅回路１１は、抵抗Ｒ３を介して反転
入力端を基準電源Ｖ１に接続し、抵抗Ｒ４及びコンデン
サＣ２の直列回路と、帰還抵抗Ｒ５との並列回路により
負帰還回路を形成する。これにより位相補償回路１０
は、演算増幅回路１１によって負帰還増幅回路を形成
し、トラッキングエラー信号ＴＥの位相を補償して出力
する。

【００３５】サーボ集積（ＩＣ）回路１２は、集積回路
化された信号処理回路でなり、内蔵のトラッキング回路
にて位相補償回路１０の出力信号をさらに位相補償して
出力し、駆動回路１３は、このサーボ集積回路１２の出
力信号によって、２軸アクチュエータの水平駆動用ボイ
スコイル１４を駆動する。これにより光ディスク装置１
では、全体としてサーボループを形成し、トラッキング
エラー信号ＴＥの信号レベルが０レベルになるように水
平駆動用ボイスコイル１４を駆動する。

【００３６】さらに光ディスク装置１は、位相補償回路
１０の入力側、抵抗Ｒ１及びコンデンサＣ２の接続端に
第１のテストポイントＴＰ１が形成され、演算増幅回路
１１の反転入力端に第２のテストポイントＴＰ２が、位
相補償回路１０の出力端に第３のテストポイントＴＰ３
が形成されるようになされている。これらのテストポイ
ントＴＰ１〜ＴＰ３は、製造ラインにおいて、光ディス
ク装置１を治具２にセットしたとき、この治具２側に設
けられたプローブが接触して電気的接続が得られるよう
に形成されている。

【００３７】これに対して治具２は、この第１のテスト
ポイントＴＰ１がＦＦＴアナライザ（ＦＦＴ）１６の第
１の入力チャンネルＣｈ１に接続され、第３のテストポ
イントＴＰ３が第２の入力チャンネルＣｈ２に接続され
るようになされている。さらに治具２は、このＦＦＴア
ナライザ１６のテスト信号出力端子に抵抗Ｒ６及びコン
デンサＣ４の直列回路が接続され、この直列回路の他端
がスイッチ回路１７を介して第２のテストポイントＴＰ
２に接続されるようになされている。

【００３８】これにより治具２は、製造ラインにおい
て、動作状態に保持された光ディスク装置１に対して、
演算増幅回路１１の反転入力端にテスト信号Ｓ１でなる
外乱を入力し、トラッキングループの周波数特性を検出
することができるようになされている。

【００３９】すなわちこの実施例において、治具２は、
帰還回路と入力回路を有してなる反転増幅回路構成の演
算増幅回路１１に対して、抵抗Ｒ６を介してテスト信号
Ｓ１を入力することにより、この演算増幅回路１１にて
トラッキングエラー信号ＴＥに外乱を重畳することがで
きる。

【００４０】さらにこのように外乱を注入した際に、位
相補償回路１０の入力側（すなわち第１のテストポイン
トＴＰ１側でなる）で検出されるこの外乱においては、
位相補償回路１０の周波数特性と、位相補償回路１０の
出力から位相補償回路１０の入力に至までの周波数特性
とを乗算した総合特性によって変化することになる。

【００４１】すなわち図２及び図３に示す位相補償回路
１０の位相及び利得の周波数特性に対して、図４及び図
５に示すように、ＦＦＴアナライザ１６により位相補償
回路１０の出力から位相補償回路１０の入力に至までの
位相及び利得の周波数特性を測定することができる。こ
れに対してオープンループを形成して測定したところ、
このサーボループの利得及び位相の周波数特性は、図６
及び図７に示すように、この前述の２つの特性を乗算し
た特性になる。

【００４２】従ってこのテスト信号Ｓ１を入力すること
により、位相補償回路１０の出力側（すなわち第３のテ
ストポイントＴＰ３側でなる）を基準にして位相補償回
路１０の入力側（すなわち第１のテストポイントＴＰ１
側でなる）で検出される周波数ｆ〔Ｈｚ〕における利得
及び位相をそれぞれＧｓ（ｆ）及びＰｓ（ｆ）とおけ
ば、位相補償回路１０の入力を基準にした出力の利得及
び位相をそれぞれＧｃ（ｆ）及びＰｃ（ｆ）とおいて、
オープンループの利得Ｇｏ（ｆ）及び位相Ｐｏ（ｆ）を
次式の関係式で表すことができる。

【００４３】

【数１】

【００４４】さらにこの種のサーボループにおいて、位
相補償回路１０の周波数特性は、２軸アクチュエータに
比してばらつきが小さく、ほぼ一定と考えることができ
る。これによりこの実施例において、光ディスク装置１
は、製造ラインにおいて、治具２を接続して周波数１
〔ｋＨｚ〕のテスト信号Ｓ１を入力すると共に、ＦＦＴ
アナライザ１６によりこのテスト信号Ｓ１を検出して位
相補償回路１０の出力から位相補償回路１０の入力に至
までの位相及び利得が規定値になるように、可変利得増
幅回路９の利得を調整するようになされ、これによりい
ちいちサーボループの一部を切断しなくてもトラッキン
グ制御回路を調整することができるようになされてい
る。

【００４５】なお光ディスク装置１では、フォーカス制
御系においても、上述したトラッキング制御系と同様に
治具２を接続して調整することができるようになされ、
これにより全体として調整作業を簡略化できるようにな
されている。

【００４６】以上の構成において、光ピックアップ５に
内蔵されたレーザーダイオードから出射されるレーザビ
ームは、対物レンズ６によって光ディスク３の情報記録
面に集光され、その結果得られる戻り光が、対物レンズ
６によって集光された後、所定の光学系を介してフォト
ディテクタで受光される。このフォトディテクタの出力
信号は、増幅回路７にて電流電圧変換処理された後、所
定利得で増幅され、続くマトリックス回路８で加減算処
理されることにより、トラッキングエラー信号ＴＥ等に
変換される。

【００４７】このトラッキングエラー信号ＴＥは、可変
利得増幅回路９にて増幅された後、位相補償回路１０に
て位相補償され、続くサーボ集積回路１２でさらに位相
補償され、駆動回路１３に出力される。これによりこの
駆動回路１３にて、トラッキングエラー信号の信号レベ
ルが０レベルになるように、２軸アクチュエータの水平
駆動用ボイスコイル１４が駆動され、対物レンズ６が左
右に可動されてトラッキング制御される。

【００４８】これにより光ディスク装置１においては、
トラッキング制御用のサーボループが形成されることと
なる。この位相補償回路１０を形成する演算増幅回路１
１の反転入力端には、テスト信号Ｓ１が入力され、これ
によりこのサーボループに対して、外乱信号でなるテス
ト信号Ｓ１が注入されることになる。

【００４９】このテスト信号Ｓ１は、位相補償回路１０
から出力されると、サーボ集積回路１２、駆動回路１３
を順次介して２軸アクチュエータの水平駆動用ボイスコ
イル１４に出力され、ここで対物レンズ６の機械的変動
に変換された後、この機械的変動によって変化する戻り
光の光量が光ピックアップ５のフォトディテクタで検出
されることにより、再び電気信号に変換され、増幅回路
７、マトリックス回路８を順次介して可変利得増幅回路
９から位相補償回路１０に帰還される。

【００５０】この一連の帰還ループを辿る際、テスト信
号Ｓ１は、位相補償回路１０の出力端と入力端とでそれ
ぞれＦＦＴアナライザ１６によって信号レベル及び位相
が検出され、これによりＦＦＴアナライザ１６におい
て、位相補償回路１０の出力端から入力端に至までの伝
達特性が測定される。これによりこの測定結果から位相
補償回路１０の伝達特性を減算してオープンループの利
得及び位相を検出することができ、光ディスク装置１に
おいては、この位相補償回路１０において伝達特性のば
らつきが小さいことにより、位相補償回路１０の出力端
から入力端に至までの伝達特性が規定値になるように可
変利得増幅回路９の利得を調整してトラッキング制御ル
ープを調整することができる。

【００５１】以上の構成によれば、トラッキングエラー
信号に重畳するように、位相補償回路において外乱を注
入し、この位相補償回路の出力側に対する入力側の伝達
特性を測定することにより、サーボループをいちいち切
断しなくてもトラッキング制御回路のオープンループ特
性を測定することができる。これによりトラッキング制
御回路の調整作業を簡略化することができ、また光ディ
スク装置の信頼性を向上することができる。

【００５２】図１との対応部分に同一符号を付して示す
図８において、２０は全体として第２の実施例に係る光
ディスク装置を示し、この実施例の場合、治具２１を用
いてトラッキング制御系及びフォーカス制御系を自動調
整する。

【００５３】すなわち光ディスク装置２０において、サ
ーボ集積回路（ＩＣ）２２は、可変利得増幅回路９から
出力されるトラッキングエラー信号ＴＥを、所定の入力
抵抗等の位相補償回路２３Ａを介して演算増幅回路２３
の反転入力端に入力する。この演算増幅回路２３は、コ
ンデンサＣ６と抵抗Ｒ７との並列回路で帰還回路が形成
され、トラッキングエラー信号ＴＥを位相補償して続く
駆動回路２４に出力する。かくして図８において破線で
示すように、演算増幅回路２３は、位相補償回路２３
Ａ、コンデンサＣ６等と共に、位相補償回路ブロックを
構成する。

【００５４】この駆動回路２４は、演算増幅回路２３と
共にサーボ集積回路２２に内蔵され、光ディスク装置２
０では、この駆動回路２４で水平駆動用ボイスコイル１
４を駆動して対物レンズ６をトラッキング制御する。

【００５５】さらに光ディスク装置２０において、可変
利得増幅回路２６は、いわゆる電子ボリュームを内蔵し
た増幅回路で形成され、マトリックス回路８で生成され
たフォーカスエラー信号ＦＥを増幅して出力する。サー
ボ集積回路２２は、この可変利得増幅回路２６から出力
されるフォーカスエラー信号ＦＥを、所定の入力抵抗等
の位相補償回路２７Ａを介して演算増幅回路２７の反転
入力端に入力し、この演算増幅回路２７は、コンデンサ
Ｃ７と抵抗Ｒ８との並列回路で帰還回路が形成されるよ
うになされている。かくして破線で示すように、演算増
幅回路２７は、位相補償回路２７Ａ、外付けのコンデン
サＣ７等と共に、位相補償回路ブロックを構成する。

【００５６】これにより演算増幅回路２７は、フォーカ
スエラー信号ＦＥを位相補償して続く駆動回路２８に出
力し、駆動回路２８は、このフォーカスエラー信号ＦＥ
に基づいて２軸アクチュエータの垂直駆動用ボイスコイ
ル２９を駆動する。これにより光ディスク装置２０で
は、トラッキング制御系及びフォーカス制御系とをサー
ボ集積回路２２に一体化し、トラッキング制御及びフォ
ーカス制御するようになされている。

【００５７】このトラッキング制御及びフォーカス制御
に関して、可変利得増幅回路９及び２６は、この光ディ
スク装置２０のシステム制御回路３０を形成するマイコ
ンによって内蔵の電子ボリュームが制御され、利得が調
整されるようになされている。これにより光ディスク装
置２０では、この制御回路３０を介して可変利得増幅回
路９及び２６の利得を調整して、それぞれトラッキング
制御及びフォーカス制御のオープンループ利得を調整す
ることができるようになされている。

【００５８】リードオンリメモリ（ＲＯＭ）３１は、こ
のサーボ集積回路２２等と共に一体に基板に搭載され、
この基板単体における製品検査時に、演算増幅回路２
３、２７で形成される位相補償回路の利得、位相特性等
が記録されるようになされ、この記録した情報が制御回
路３０によって読み出されるようになされている。これ
により光ディスク装置２０では、製造ラインの調整作業
において必要とされる基板毎の各種情報をリードオンリ
メモリ３１に格納し、この情報によって最終的な調整作
業を実行することができるようになされている。

【００５９】すなわち第１の実地例について上述したよ
うに、位相補償回路に外乱を注入して入出力特性を観察
すれば、トラッキング制御系、フォーカス制御系につい
て、オープンループ特性を測定することができる。とこ
ろが第１の実施例においては、位相補償回路の伝達特性
がほぼ一定のものとして（１）式の演算処理によりオー
プンループ特性を測定していることにより、この伝達特
性がばらつくと正しい特性を測定することが困難にな
り、これにより最終的な特性も正しく調整することが困
難になる。

【００６０】特にこの実施例のように、集積回路２２に
よって位相補償回路ブロックを形成する場合、一般にデ
ィスクリート部品で位相補償回路を形成する場合に比し
て、ばらつきが大きくなり、実際にばらつきを測定した
結果によれば、このばらつきを無視してオープンループ
特性を調整することが困難なことが分かった。

【００６１】このためこの実施例において、光ディスク
装置２０は、増幅回路７から集積回路２２に至るまでの
回路ブロック、システム制御回路３０等を一体に保持し
た回路基板について、この回路基板の最終検査時、位相
補償回路ブロックの伝達特性を検出し、この検出した特
性をメモリ３１に格納する。すなわちこの検査工程で
は、可変利得増幅回路９の入力側に形成されたテストポ
イントから周波数１〔ｋＨｚ〕の基準信号を入力し、演
算増幅回路２３の出力側に形成されたテストポイントか
ら出力波形を観察し、これによりこの入出力波形から位
相補償回路ブロックの位相特性及び利得を測定する。

【００６２】同様にして、可変利得増幅回路２６の入力
側に形成されたテストポイントから周波数１〔ｋＨｚ〕
の基準信号を入力し、演算増幅回路２７の出力側に形成
されたテストポイントから出力波形を観察し、これによ
り演算増幅回路２７側についても位相補償回路ブロック
の位相特性及び利得を測定する。

【００６３】これに対してリードオンリメモリ３１は、
ＥＥＰＲＯＭ（電気的に書換え可能なＥＰＲＯＭ：Eras
able Programable Read Only Memory ）で形成され、こ
のように位相特性、利得の測定が完了すると、システム
制御回路３０を介して、基板のシリアル番号、製造年月
日、機種番号等と共に、この測定した位相特性及び利得
の情報が記録されるようになされている。

【００６４】これに対して治具２１は、マイコン３２に
よって全体の動作が制御され、これによりトラッキング
制御系及びフォーカス制御系については、それぞれオー
プンループ利得を自動調整することができるようになさ
れている。すなわち治具２１において、ＦＦＴアナライ
ザ３３は、マイコン３２によって動作を切り換えると共
に、測定結果をこのマイコン３２に出力する。さらにこ
のＦＦＴアナライザ３３は、コンデンサＣ４及び抵抗Ｒ
６を介してテスト信号Ｓ１をスイッチ回路３４Ａ及び３
４Ｂに出力する。

【００６５】これらスイッチ回路３４Ａ及び３４Ｂは、
マイコン３２からの制御信号に応動して動作を切り換
え、ＦＦＴアナライザ３３のテスト信号Ｓ１をそれぞれ
演算増幅回路２３の反転入力端及び演算増幅回路２７の
反転入力端に出力する。これにより治具２１は、それぞ
れスイッチ回路３４Ａ又は３４Ｂの接点をオン状態に切
り換えて、トラッキングエラー信号ＴＥ又はフォーカス
エラー信号ＦＥに外乱を重畳することができるようにな
されている。

【００６６】さらに治具２１は、それぞれ可変利得増幅
回路９及び２６の出力端にプローブが接触するように形
成され、この各プローブがそれぞれスイッチ回路３５Ａ
又は３５Ｂに接続されるようになされている。これらス
イッチ回路３５Ａ及び３５Ｂは、マイコン３２からの制
御信号に応動して動作を切り換え、コンデンサＣ８及び
バツフア回路３６を介してＦＦＴアナライザ３３の第１
の入力チャンネルＣｈ１に接続されるようになされてい
る。これにより治具２１では、それぞれスイッチ回路３
５Ａ又は３５Ｂの接点をオン状態に切り換えて、トラッ
キング制御系又はフォーカス制御系について位相補償回
路の入力側において外乱の伝達結果を観察することがで
きるようになされている。

【００６７】さらに治具２１は、それぞれ演算増幅回路
２３及び２８の出力端にプローブが接触するように形成
され、この各プローブがそれぞれスイッチ回路３７Ａ又
は３７Ｂに接続されるようになされている。これらスイ
ッチ回路３７Ａ及び３７Ｂは、マイコン３２からの制御
信号に応動して動作を切り換え、コンデンサＣ９及びバ
ツフア回路３８を介してＦＦＴアナライザ３３の第２の
入力チャンネルＣｈ２に接続されるようになされてい
る。これにより治具２１では、それぞれスイッチ回路３
７Ａ又は３７Ｂの接点をオン状態に切り換えて、トラッ
キング制御系又はフォーカス制御系について位相補償回
路の出力側において外乱の伝達結果を観察することがで
きるようになされている。

【００６８】従ってＦＦＴアナライザ３３においては、
スイッチ回路３４Ａ、３５Ａ、３７Ａ又はスイッチ回路
３４Ｂ、３５Ｂ、３７Ｂがオン状態に設定された状態
で、マイコン３２からの制御コマンドに応動してテスト
信号Ｓ１を出力すると共に、第２の入力チャンネルＣｈ
２を基準にした第１の入力チャンネルＣｈ１の伝達特性
を検出することにより、それぞれトラッキング制御系又
はフォーカス制御系について、位相補償回路の出力側か
ら入力側に至る伝達特性（すなわちオープンループ特性
と位相補償回路の伝達特性とを合わせた特性でなる）を
検出することができ、この検出結果がマイコン３２に出
力されるようになされている。

【００６９】これに対してマイコン３２は、光ディスク
装置２０が治具２１にセットされると、光ディスク装置
２０側の制御回路３０との間で種々のデータ、コマンド
を送受するようになされ、これによりリードオンリメモ
リ３１に格納した各種情報を制御回路３０を介して取り
込む。さらにマイコン３２は、スイッチ回路３５Ａ〜３
７Ａ、ＦＦＴアナライザ３３の動作を制御して、それぞ
れトラッキング制御系又はフォーカス制御系について、
位相補償回路の出力側から入力側に至る伝達特性を検出
し、リードオンリメモリ３１から読み出した位相補償回
路の伝達特性をこの検出結果から減算し、これによりオ
ープンループの伝達特性を検出する。

【００７０】これによりマイコン３２は、必要な可変利
得増幅回路９及び２６の利得を検出し、この検出結果を
制御回路３０に出力し、この制御回路３０によって可変
利得増幅回路９及び２６の電子ボリュームを調整する。
さらにこのようにして調整すると、改めて上述の手順を
繰り返し、オープンループの利得及び位相が規定値を満
足するか否か判断し、ここで満足する結果が得られる
と、この調整データをリードオンリメモリ３１に記録し
た後、調整を完了する。

【００７１】かくして図８に示す構成によれば、トラッ
キング制御系及びフォーカス制御系において、外乱を注
入して位相補償回路の出力側に対する入力側の伝達特性
を検出することにより、サーボループをいちいち切断し
なくてもトラッキング制御回路及びフォーカス制御回路
のオープンループ特性を測定することができ、これによ
り第１の実施例と同様の効果を得ることができ、またこ
の測定結果に基づいて自動調整することにより、さらに
一段と調整作業を簡略化することができる。

【００７２】さらにこのオープンループ特性を測定する
ために、基板単体の検査工程において、位相補償回路ブ
ロックの伝達特性を測定し、その測定結果を基板に搭載
されたメモリ３１に記録したことにより、この記録した
特性を参考にしてオープンループ特性を測定をして、位
相補償回路ブロックがばらついた場合でも、精度の高い
測定結果を得ることができる。これによりトラッキング
制御系及びフォーカス制御系を所望の特性に高い精度で
調整することができる。

【００７３】なお上述の実施例においては、トラッキン
グ制御系及びフォーカス制御系について、サーボループ
を調整する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、必要に応じてスピンドルサーボ系等にも適用するこ
とができ、また光ディスク装置に限らず、種々のサーボ
ループの調整作業に広く適用することができる。

【００７４】また、上述の実施例においては、位相補償
回路に外乱を注入する場合について述べたが、本発明は
これに限らず、要はループを切断することなくテスト信
号を重畳すれば良く、この場合サーボループ中に配置さ
れた負帰還増幅回路において、この負帰還増幅回路を形
成する反転増幅回路の反転入力端にテスト信号を入力す
ればよい。

【００７５】さらに上述の第２の実施例においては、メ
モリ回路としてＥＥＰＲＯＭを適用した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、紫外線消去型のＥＰＲ
ＯＭを適用する場合等に広く適用することができる。

【００７６】さらに上述の第２の実施例においては、メ
モリ回路に記録する特性として位相補償回路の伝達特性
を記録する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、例えば非線形回路素子を含むような回路基板にあっ
ては入出力特性を記録する場合等、種々の電子機器にお
いて、必要に応じて種々の特性を記録することができ
る。

【００７７】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、サーボル
ープ中の負帰還増幅回路を形成する反転増幅回路の入力
端に外乱信号を入力し、負帰還増幅回路の出力側端に対
する入力側端の伝達特性を観察することにより、サーボ
ループをいちいち切断しなくてもオープンループ特性を
検出することができ、これによりサーボループの調整作
業を一段と簡略化し、また装置としての信頼性を向上す
ることができる。

【００７８】また、回路基板単体にて、電子回路の特性
を回路基板に搭載されたメモリ回路に記録し、他の電子
部品と一体化した後、メモリ回路に格納された特性に基
づいて、全体の特性を調整することにより、電子回路の
ばらつきを補正して全体の特性を簡易かつ高い精度で調
整することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による光ディスク装置を示す
ブロック図である。

【図２】図１の位相補償回路の位相を示す特性曲線図で
ある。

【図３】図１の位相補償回路の利得を示す特性曲線図で
ある。

【図４】図１の位相補償回路の出力端から入力端に至る
までの位相を示す特性曲線図である。

【図５】図１の位相補償回路の出力端から入力端に至る
までの利得を示す特性曲線図である。

【図６】図１のトラッキング制御系のオープンループ特
性による位相を示す特性曲線図である。

【図７】図１のトラッキング制御系のオープンループ特
性による利得を示す特性曲線図である。

【図８】本発明の第２の実施例による光ディスク装置を
示すブロック図である。

【符号の説明】

１、２０ 光ディスク装置 ２、２１ 治具 ３ 光ディスク ５ 光ピックアップ ６ 対物レンズ ７、９、２６ 増幅回路 １０ 位相補償回路 １１、２３、２７ 演算増幅回路 １４、２９ ボイスコイル １６、３３ ＦＦＴアナライザ

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】負帰還増幅回路によってサーボループの一
   部が形成されたサーボ回路の調整方法において、 前記負帰還増幅回路を形成する反転増幅回路の入力端に
   外乱信号を入力することにより、前記サーボループに前
   記外乱信号を注入し、前記負帰還増幅回路の出力側端に
   対する前記負帰還増幅回路の入力側端の伝達特性を観察
   し、該伝達特性に基づいて、前記サーボループの利得及
   び又は位相を調整することを特徴とするサーボ回路の調
   整方法。
2. 【請求項２】前記伝達特性を、前記負帰還増幅回路の伝
   達特性で補正し、該補正結果に基づいて前記サーボルー
   プの利得及び又は位相を調整することにより、前記負帰
   還増幅回路の出力側端に対する前記負帰還増幅回路の入
   力側端の伝達特性に基づいて、前記サーボループの利得
   及び又は位相を調整することを特徴とする請求項１に記
   載のサーボ回路の調整方法。
3. 【請求項３】前記負帰還増幅回路は、位相補償回路を形
   成することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の
   サーボ回路の調整方法。
4. 【請求項４】電子回路を実装した回路基板と、他の電子
   部品とを組み合わせて形成される電子機器において、 前記回路基板は、単体で前記電子回路の特性が検出さ
   れ、検出された特性が内蔵のメモリ回路に記録され、 前記電子機器は、前記メモリ回路に格納された前記特性
   に基づいて、全体の特性が調整されることを特徴とする
   電子機器。
5. 【請求項５】前記電子回路は、位相補償回路でなり、 前記位相補償回路は、前記他の電子部品と組み合わされ
   た際に、前記他の電子部品と共にサーボループを形成
   し、 前記メモリ回路に格納される特性は、前記位相補償回路
   の位相特性及び利得でなることを特徴とする請求項４に
   記載の電子機器。
6. 【請求項６】電子回路を実装した回路基板と、他の電子
   部品とを組み合わせて形成される電子機器の調整方法に
   おいて、 前記回路基板単体にて、前記電子回路の特性を検出し、
   検出した特性を前記回路基板に搭載されたメモリ回路に
   記録し、 前記他の電子部品と一体化した後、前記メモリ回路に格
   納された前記特性に基づいて、全体の特性を調整するこ
   とを特徴とする電子機器の調整方法。
7. 【請求項７】前記電子回路は、位相補償回路でなり、 前記メモリ回路に格納する特性は、前記位相補償回路の
   位相特性及び利得でなることを特徴とする請求項６に記
   載の電子機器の調整方法。