JPH0855374A - 光磁気記録媒体および光磁気記録方法 - Google Patents
光磁気記録媒体および光磁気記録方法Info
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- JPH0855374A JPH0855374A JP19334294A JP19334294A JPH0855374A JP H0855374 A JPH0855374 A JP H0855374A JP 19334294 A JP19334294 A JP 19334294A JP 19334294 A JP19334294 A JP 19334294A JP H0855374 A JPH0855374 A JP H0855374A
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- Japan
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- magnetic layer
- magneto
- magnetization
- recording medium
- coercive force
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 光磁気記録媒体は、磁性層3と磁性層4とを
備えている。磁性層4は、磁性層3のキュリー点より低
いキュリー点と、室温で磁性層3の保磁力よりも低い保
磁力とを有しており、室温から磁性層4のキュリー点ま
で垂直磁化となる特性を有している。さらに、室温から
磁性層4のキュリー点までの温度範囲内に、保磁力が磁
性層3の保磁力より大きくなる温度範囲を有している。 【効果】 光磁気記録媒体の作成プロセスおよび光磁気
記録媒体の設計を複雑にすることなく、光変調オーバー
ライトによる情報の記録が行え、充分な再生信号を得る
ことができる。
備えている。磁性層4は、磁性層3のキュリー点より低
いキュリー点と、室温で磁性層3の保磁力よりも低い保
磁力とを有しており、室温から磁性層4のキュリー点ま
で垂直磁化となる特性を有している。さらに、室温から
磁性層4のキュリー点までの温度範囲内に、保磁力が磁
性層3の保磁力より大きくなる温度範囲を有している。 【効果】 光磁気記録媒体の作成プロセスおよび光磁気
記録媒体の設計を複雑にすることなく、光変調オーバー
ライトによる情報の記録が行え、充分な再生信号を得る
ことができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気学的に情報の記
録、再生、消去の少なくとも一つを行う光ディスク、光
カード等の光磁気記録媒体に関するものである。
録、再生、消去の少なくとも一つを行う光ディスク、光
カード等の光磁気記録媒体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光磁気記録方式とは、基板上に磁性体か
らなる垂直磁化膜を形成させたものを記録媒体とし、以
下の方法で記録、再生を行うものである。記録の際に
は、記録媒体を、まず、強力な外部磁界等によって初期
化し、磁化の方向を一方向(上向きまたは下向き)に揃
えておく。その後、記録したいエリアにレーザビームを
照射して、媒体部分の温度をキュリー点近傍以上、もし
くは補償点近傍以上に加熱し、その部分の保磁力(H
c)をゼロ、またはほとんどゼロとした上で、初期化の
際の磁化方向と逆向きの外部磁界(バイアス磁界)を印
加して、磁化の向きを反転させる。レーザビームの照射
を止めると、記録媒体は室温に戻るので、反転した磁化
は反転したまま固定される。つまり、情報が熱磁気的に
記録される。
らなる垂直磁化膜を形成させたものを記録媒体とし、以
下の方法で記録、再生を行うものである。記録の際に
は、記録媒体を、まず、強力な外部磁界等によって初期
化し、磁化の方向を一方向(上向きまたは下向き)に揃
えておく。その後、記録したいエリアにレーザビームを
照射して、媒体部分の温度をキュリー点近傍以上、もし
くは補償点近傍以上に加熱し、その部分の保磁力(H
c)をゼロ、またはほとんどゼロとした上で、初期化の
際の磁化方向と逆向きの外部磁界(バイアス磁界)を印
加して、磁化の向きを反転させる。レーザビームの照射
を止めると、記録媒体は室温に戻るので、反転した磁化
は反転したまま固定される。つまり、情報が熱磁気的に
記録される。
【0003】再生の際には、直線偏光のレーザビームを
記録媒体に照射し、その反射光や透過光の偏光面が磁化
の向きに応じて回転する現象(磁気カー効果、磁気ファ
ラデー効果)を利用して、光学的に情報の読み出しを行
う。
記録媒体に照射し、その反射光や透過光の偏光面が磁化
の向きに応じて回転する現象(磁気カー効果、磁気ファ
ラデー効果)を利用して、光学的に情報の読み出しを行
う。
【0004】光磁気記録方式は、書き換え可能な大容量
記憶素子として注目されているが、その記録媒体を再使
用(書き換え)するためには、次のいずれかの方法を採
る必要がある。 (a)何らかの方法で初期化することにより、記録され
た情報を消去する。 (b)外部磁界発生装置を工夫してオーバーライト(消
去が不要な書き換え)を可能にする。 (c)記録媒体を工夫してオーバーライトを可能にす
る。
記憶素子として注目されているが、その記録媒体を再使
用(書き換え)するためには、次のいずれかの方法を採
る必要がある。 (a)何らかの方法で初期化することにより、記録され
た情報を消去する。 (b)外部磁界発生装置を工夫してオーバーライト(消
去が不要な書き換え)を可能にする。 (c)記録媒体を工夫してオーバーライトを可能にす
る。
【0005】しかし、上記(a)の方法では、初期化装
置あるいはヘッドが2個必要になるので、コスト高を招
く。また、1個のヘッドで書き換えを行おうとすると、
消去のために記録媒体にそのヘッド上を通過させた後、
記録のために記録媒体にそのヘッド上をもう一度通過さ
せる必要があるため、時間がかかる。
置あるいはヘッドが2個必要になるので、コスト高を招
く。また、1個のヘッドで書き換えを行おうとすると、
消去のために記録媒体にそのヘッド上を通過させた後、
記録のために記録媒体にそのヘッド上をもう一度通過さ
せる必要があるため、時間がかかる。
【0006】(b)の方法では、磁気記録の場合と同じ
ようにヘッドクラッシュが問題となる。
ようにヘッドクラッシュが問題となる。
【0007】このため、(c)の方法が最も有効であ
る。例えば、Jap.Jour.Appl.Phy
s.,Vol.28(1989)Suppl.28−
3,pp.367−370には、記録層を交換結合2層
膜とすれば、オーバーライト可能な記録媒体を実現でき
ると記載されている。
る。例えば、Jap.Jour.Appl.Phy
s.,Vol.28(1989)Suppl.28−
3,pp.367−370には、記録層を交換結合2層
膜とすれば、オーバーライト可能な記録媒体を実現でき
ると記載されている。
【0008】ここで、オーバーライトの手順について図
14ないし図18を用いて簡単に説明する。従来の光磁
気記録媒体は、例えば、図14に示すように、透光性基
板101上に、透光性を有する誘電体層102と、第1
磁性層103と、第2磁性層104と、保護層105と
を順次形成した構成になっている。
14ないし図18を用いて簡単に説明する。従来の光磁
気記録媒体は、例えば、図14に示すように、透光性基
板101上に、透光性を有する誘電体層102と、第1
磁性層103と、第2磁性層104と、保護層105と
を順次形成した構成になっている。
【0009】図15に示すように、第1磁性層103
は、第2磁性層104のキュリー点TC2よりも低いキュ
リー点TC1を有している。
は、第2磁性層104のキュリー点TC2よりも低いキュ
リー点TC1を有している。
【0010】まず、同図に示すように、第1磁性層10
3の室温における保磁力HC1より小さく第2磁性層10
4の室温における保磁力HC2より大きい初期化磁界H
initを印加することにより、図18に示すように、第2
磁性層104の磁化のみを一方向(図では下向き)に揃
える(S101またはS102)。Hinitは第1磁性層
103の室温における保磁力HC1より小さいので、第1
磁性層103の磁化は反転しない。なお、この初期化
は、常時、あるいは記録時のみ行われる。
3の室温における保磁力HC1より小さく第2磁性層10
4の室温における保磁力HC2より大きい初期化磁界H
initを印加することにより、図18に示すように、第2
磁性層104の磁化のみを一方向(図では下向き)に揃
える(S101またはS102)。Hinitは第1磁性層
103の室温における保磁力HC1より小さいので、第1
磁性層103の磁化は反転しない。なお、この初期化
は、常時、あるいは記録時のみ行われる。
【0011】次に、以下に示すように、図17に示す、
Hinitより小さい記録磁界HW (図では上向き)を印加
しながら、図16に示す高レベルI(図中Ph)および低
レベルII(図中Pl)に変調された光ビームを照射するこ
とによって記録を行う。
Hinitより小さい記録磁界HW (図では上向き)を印加
しながら、図16に示す高レベルI(図中Ph)および低
レベルII(図中Pl)に変調された光ビームを照射するこ
とによって記録を行う。
【0012】ここで、図15に示すように、高レベルI
のレーザ光の光強度は、第1磁性層103・第2磁性層
104がともにそれぞれのキュリー点TC1・TC2付近ま
たはそれ以上となる温度TH まで昇温するような値に設
定されている。低レベルIIのレーザ光の光強度は、第1
磁性層103だけがキュリー点(TC1)付近またはそれ
以上となる温度TL まで昇温するような値に設定されて
いる。
のレーザ光の光強度は、第1磁性層103・第2磁性層
104がともにそれぞれのキュリー点TC1・TC2付近ま
たはそれ以上となる温度TH まで昇温するような値に設
定されている。低レベルIIのレーザ光の光強度は、第1
磁性層103だけがキュリー点(TC1)付近またはそれ
以上となる温度TL まで昇温するような値に設定されて
いる。
【0013】高レベルIのレーザ光が照射された場合、
図18に示すように、S104を経て一旦第1磁性層1
03・第2磁性層104の磁化が消滅した後、記録磁界
HWによって、第2磁性層104の磁化が上向きに反転
する(S105)。一方、第1磁性層103の磁化は、
冷却の過程で、第1磁性層103と第2磁性層104と
の界面に作用する交換力によって第2磁性層104の磁
化の向きと一致する(S106)。このため、第1磁性
層103の磁化の向きは上向きとなる(S107)。初
期化磁界Hinitを再び印加すると、第2磁性層104の
磁化の向きが前記と同じ向きに揃えられる(S10
2)。
図18に示すように、S104を経て一旦第1磁性層1
03・第2磁性層104の磁化が消滅した後、記録磁界
HWによって、第2磁性層104の磁化が上向きに反転
する(S105)。一方、第1磁性層103の磁化は、
冷却の過程で、第1磁性層103と第2磁性層104と
の界面に作用する交換力によって第2磁性層104の磁
化の向きと一致する(S106)。このため、第1磁性
層103の磁化の向きは上向きとなる(S107)。初
期化磁界Hinitを再び印加すると、第2磁性層104の
磁化の向きが前記と同じ向きに揃えられる(S10
2)。
【0014】一方、低レベルIIのレーザ光が照射された
場合は、図15に示すように、その温度(TL )範囲に
おける第2磁性層104の保磁力が高いため、図18に
示すように、第2磁性層104の磁化が記録磁界HW に
より反転しない(S103)。その後、冷却の過程で、
第1磁性層103の磁化は、第1磁性層103と第2磁
性層104との界面に作用する交換力によって第2磁性
層104の磁化の向きと一致する(S103)。このた
め、第1磁性層103の磁化の向きは下向きとなる(S
101)。
場合は、図15に示すように、その温度(TL )範囲に
おける第2磁性層104の保磁力が高いため、図18に
示すように、第2磁性層104の磁化が記録磁界HW に
より反転しない(S103)。その後、冷却の過程で、
第1磁性層103の磁化は、第1磁性層103と第2磁
性層104との界面に作用する交換力によって第2磁性
層104の磁化の向きと一致する(S103)。このた
め、第1磁性層103の磁化の向きは下向きとなる(S
101)。
【0015】このようにして、記録のたびに第1磁性層
103を初期化することなく、第1磁性層103に情報
が記録される。すなわち、第1磁性層103に対して光
変調オーバーライトによる情報記録が実現される。
103を初期化することなく、第1磁性層103に情報
が記録される。すなわち、第1磁性層103に対して光
変調オーバーライトによる情報記録が実現される。
【0016】なお、図16に示すように、再生時のレー
ザ光の強度(図中Pr)は、低レベルIIのレーザ光の強度
(図中Pl)よりもかなり小さいレベルに設定されてい
る。
ザ光の強度(図中Pr)は、低レベルIIのレーザ光の強度
(図中Pl)よりもかなり小さいレベルに設定されてい
る。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のオー
バーライトを可能にする光磁気記録媒体においては、前
述のように、カー回転角を読みだすことにより再生を行
っている。このカー回転角は、一般に、キュリー点に比
例する。しかしながら、上記の構成では、第1磁性層1
03のキュリー点TC1を第2磁性層104のキュリー点
TC2よりも低くする必要があるために、カー回転角を大
きくすることができない。このため、充分な再生信号が
得られないという問題点を有している。
バーライトを可能にする光磁気記録媒体においては、前
述のように、カー回転角を読みだすことにより再生を行
っている。このカー回転角は、一般に、キュリー点に比
例する。しかしながら、上記の構成では、第1磁性層1
03のキュリー点TC1を第2磁性層104のキュリー点
TC2よりも低くする必要があるために、カー回転角を大
きくすることができない。このため、充分な再生信号が
得られないという問題点を有している。
【0018】また、例えば、ISOM91、Techn
ical Digest、4I−21、P9(199
1)には、第1磁性層の再生側(再生用光ビームの照射
される側)にキュリー点の高い再生磁性層を設けること
により、再生信号の改善されたオーバーライトを可能に
する構成が開示されている。しかしながら、この構成で
は、光磁気記録媒体の作成プロセスおよび光磁気記録媒
体の設計が複雑になるという問題点を有している。
ical Digest、4I−21、P9(199
1)には、第1磁性層の再生側(再生用光ビームの照射
される側)にキュリー点の高い再生磁性層を設けること
により、再生信号の改善されたオーバーライトを可能に
する構成が開示されている。しかしながら、この構成で
は、光磁気記録媒体の作成プロセスおよび光磁気記録媒
体の設計が複雑になるという問題点を有している。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、請求項1記載の光磁気記録媒体は、第1磁性層と、
第1磁性層のキュリー点TC1より低いキュリー点TC2を
有し、室温における保磁力が室温における第1磁性層の
保磁力より小さく、室温からTC2までの所定の温度範囲
における保磁力が該温度範囲における第1磁性層の保磁
力より大きい第2磁性層とが設けられていることを特徴
としている。
め、請求項1記載の光磁気記録媒体は、第1磁性層と、
第1磁性層のキュリー点TC1より低いキュリー点TC2を
有し、室温における保磁力が室温における第1磁性層の
保磁力より小さく、室温からTC2までの所定の温度範囲
における保磁力が該温度範囲における第1磁性層の保磁
力より大きい第2磁性層とが設けられていることを特徴
としている。
【0020】請求項2記載の光磁気記録方法は、請求項
1記載の光磁気記録媒体に対して、照射部位の温度が、
第1磁性層の保磁力が第2磁性層の保磁力より小さくな
る温度範囲になる強度を有する光ビームと、照射部位の
温度が第1磁性層のキュリー点以上になる強度を有する
光ビームとを照射することによって、情報を記録するこ
とを特徴としている。
1記載の光磁気記録媒体に対して、照射部位の温度が、
第1磁性層の保磁力が第2磁性層の保磁力より小さくな
る温度範囲になる強度を有する光ビームと、照射部位の
温度が第1磁性層のキュリー点以上になる強度を有する
光ビームとを照射することによって、情報を記録するこ
とを特徴としている。
【0021】
【作用】上記の請求項1記載の光磁気記録媒体の構成に
より、キュリー点TC1がキュリー点TC2より高いので、
キュリー点TC1まで昇温されると、磁界を印加する適当
な手段によってその磁界の向きが第1および第2磁性層
に記録される。
より、キュリー点TC1がキュリー点TC2より高いので、
キュリー点TC1まで昇温されると、磁界を印加する適当
な手段によってその磁界の向きが第1および第2磁性層
に記録される。
【0022】室温における第2磁性層の保磁力が室温に
おける第1磁性層の保磁力よりも小さいので、室温に戻
ったときに、適当な初期化手段によって第2磁性層のみ
が初期化され、第1磁性層は現在の磁化の向きを保持す
る。
おける第1磁性層の保磁力よりも小さいので、室温に戻
ったときに、適当な初期化手段によって第2磁性層のみ
が初期化され、第1磁性層は現在の磁化の向きを保持す
る。
【0023】一方、上記の所定の温度範囲まで昇温され
ると、第1磁性層の保磁力が第2磁性層の保磁力より小
さくなるので、第2磁性層の磁化の向きが第1磁性層に
転写される。
ると、第1磁性層の保磁力が第2磁性層の保磁力より小
さくなるので、第2磁性層の磁化の向きが第1磁性層に
転写される。
【0024】すなわち、例えば昇温するために照射する
光ビーム等の強度を調整し、照射部位の温度を調整する
ことによって、第1磁性層の磁化の向きを所望の向きに
変えることができる。したがって、第1磁性層に対して
光変調オーバーライトによる情報記録を行うことができ
る。そして、第1磁性層のキュリー点TC1を第2磁性層
のキュリー点TC2より高く設定することができるので、
情報を再生する際の光ビームのカー回転角を増加させる
ことができる。
光ビーム等の強度を調整し、照射部位の温度を調整する
ことによって、第1磁性層の磁化の向きを所望の向きに
変えることができる。したがって、第1磁性層に対して
光変調オーバーライトによる情報記録を行うことができ
る。そして、第1磁性層のキュリー点TC1を第2磁性層
のキュリー点TC2より高く設定することができるので、
情報を再生する際の光ビームのカー回転角を増加させる
ことができる。
【0025】それによって、光磁気記録媒体の作成プロ
セスおよび光磁気記録媒体の設計を複雑にすることな
く、光変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充
分な再生信号を得ることができる。
セスおよび光磁気記録媒体の設計を複雑にすることな
く、光変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充
分な再生信号を得ることができる。
【0026】上記の請求項2記載の光磁気記録方法によ
り、記録時には、まず、室温付近において、第2磁性層
の保磁力(HC2とする)よりも大きく第1磁性層の保磁
力(HC1とする)よりも小さい適当な初期化磁界(H
initとする)を印加することにより、第2磁性層の磁化
の向きを所定の向きに揃える。一方、第1磁性層の磁化
の向きは変わらない。
り、記録時には、まず、室温付近において、第2磁性層
の保磁力(HC2とする)よりも大きく第1磁性層の保磁
力(HC1とする)よりも小さい適当な初期化磁界(H
initとする)を印加することにより、第2磁性層の磁化
の向きを所定の向きに揃える。一方、第1磁性層の磁化
の向きは変わらない。
【0027】次に、上記Hinitと同一方向でHinitより
小さい適当な記録磁界(HW とする)を印加しながら、
高レベルIおよび低レベルIIに変調された光ビームを以
下のように照射する。
小さい適当な記録磁界(HW とする)を印加しながら、
高レベルIおよび低レベルIIに変調された光ビームを以
下のように照射する。
【0028】すなわち、記録磁界HW を印加しなが
ら、高レベルIの光ビームを照射し、照射部位の温度を
TC1付近まで上昇させる。その結果、第1磁性層および
第2磁性層がそれぞれのキュリー点以上の温度になるの
で、両層の磁化が消滅する。
ら、高レベルIの光ビームを照射し、照射部位の温度を
TC1付近まで上昇させる。その結果、第1磁性層および
第2磁性層がそれぞれのキュリー点以上の温度になるの
で、両層の磁化が消滅する。
【0029】照射が終了して冷却過程に移り、照射され
た部位の温度がTC1以下にまで下降すると、第1磁性層
の磁化は、記録磁界HW によって記録磁界HW の向きに
揃えられる。このとき第2磁性層の磁化はまだ消滅して
いる。
た部位の温度がTC1以下にまで下降すると、第1磁性層
の磁化は、記録磁界HW によって記録磁界HW の向きに
揃えられる。このとき第2磁性層の磁化はまだ消滅して
いる。
【0030】さらに冷却されて、照射された部位の温度
がTC2以下にまで下降すると、第2磁性層の磁化の向き
は、第1磁性層と第2磁性層との界面に作用する交換力
によって、第1磁性層の磁化の向きに揃えられる。
がTC2以下にまで下降すると、第2磁性層の磁化の向き
は、第1磁性層と第2磁性層との界面に作用する交換力
によって、第1磁性層の磁化の向きに揃えられる。
【0031】室温に戻った後、再び初期化磁界Hinitが
印加される。すると、室温での第1磁性層の保磁力HC1
はHinitより大きいので、第1磁性層の磁化の向きは変
わらない。一方、室温での第2磁性層の保磁力HC2はH
initより小さいので、Hinitによって第2磁性層の磁化
は前記した所定の向きに揃えられる。これにより、第1
磁性層に磁化が記録される。
印加される。すると、室温での第1磁性層の保磁力HC1
はHinitより大きいので、第1磁性層の磁化の向きは変
わらない。一方、室温での第2磁性層の保磁力HC2はH
initより小さいので、Hinitによって第2磁性層の磁化
は前記した所定の向きに揃えられる。これにより、第1
磁性層に磁化が記録される。
【0032】また、低レベルIIの光ビームを照射し
て、照射部位の温度を、第2磁性層の保磁力が第1磁性
層の保磁力よりも大きくなるような温度範囲にまで上昇
させる。そこで、その温度での第2磁性層の保磁力より
小さい記録磁界HW を、上記低レベルIIの光ビームの照
射時に印加する。記録磁界HW はその温度での第2磁性
層の保磁力より小さいため、第2磁性層の磁化の向きは
変わらない。
て、照射部位の温度を、第2磁性層の保磁力が第1磁性
層の保磁力よりも大きくなるような温度範囲にまで上昇
させる。そこで、その温度での第2磁性層の保磁力より
小さい記録磁界HW を、上記低レベルIIの光ビームの照
射時に印加する。記録磁界HW はその温度での第2磁性
層の保磁力より小さいため、第2磁性層の磁化の向きは
変わらない。
【0033】照射が終了し、冷却過程に移ると、第1磁
性層の副格子磁化の向きは、第1磁性層と第2磁性層と
の界面に作用する交換力によって、第2磁性層の副格子
磁化の向きに揃えられる。これにより、第1磁性層に磁
化が記録される。
性層の副格子磁化の向きは、第1磁性層と第2磁性層と
の界面に作用する交換力によって、第2磁性層の副格子
磁化の向きに揃えられる。これにより、第1磁性層に磁
化が記録される。
【0034】以上のように、高レベルIの光ビームを照
射したプロセスの場合、第1磁性層は、磁化が記録磁界
HW の向きを向く状態に移行し、低レベルIIの光ビーム
を照射したプロセスの場合、第1磁性層は、磁化が第2
磁性層の磁化の向きを向く状態に移行する。したがっ
て、第1磁性層に対して光変調オーバーライトによる情
報記録を行うことができる。そして、第1磁性層のキュ
リー点TC1を第2磁性層のキュリー点TC2より高く設定
することができるので、情報を再生する際の光ビームの
カー回転角を増加させることができる。
射したプロセスの場合、第1磁性層は、磁化が記録磁界
HW の向きを向く状態に移行し、低レベルIIの光ビーム
を照射したプロセスの場合、第1磁性層は、磁化が第2
磁性層の磁化の向きを向く状態に移行する。したがっ
て、第1磁性層に対して光変調オーバーライトによる情
報記録を行うことができる。そして、第1磁性層のキュ
リー点TC1を第2磁性層のキュリー点TC2より高く設定
することができるので、情報を再生する際の光ビームの
カー回転角を増加させることができる。
【0035】それによって、光磁気記録媒体の作成プロ
セスおよび光磁気記録媒体の設計を複雑にすることな
く、光変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充
分な再生信号を得ることができる。
セスおよび光磁気記録媒体の設計を複雑にすることな
く、光変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充
分な再生信号を得ることができる。
【0036】
〔実施例1〕本発明の一実施例について図1ないし図5
に基づいて説明すれば、以下の通りである。本実施例に
かかる光磁気記録媒体は、図1に示すように、透光性基
板1上に、透光性を有する誘電体層2と、磁性層3(第
1磁性層)と、磁性層4(第2磁性層)と、保護層5と
を順次形成した構成になっている。さらに、普通は光磁
気記録媒体の保護のために、オーバーコート膜が形成さ
れている。
に基づいて説明すれば、以下の通りである。本実施例に
かかる光磁気記録媒体は、図1に示すように、透光性基
板1上に、透光性を有する誘電体層2と、磁性層3(第
1磁性層)と、磁性層4(第2磁性層)と、保護層5と
を順次形成した構成になっている。さらに、普通は光磁
気記録媒体の保護のために、オーバーコート膜が形成さ
れている。
【0037】磁性層3と磁性層4とは、希土類金属−遷
移金属合金からなっている。磁性層3は、図2に示すよ
うに、磁性層4と比較して、高いキュリー点TC1と、室
温で高い保磁力HC1とを有しており、室温から温度TC1
まで垂直磁化となる遷移金属リッチの特性を有してい
る。
移金属合金からなっている。磁性層3は、図2に示すよ
うに、磁性層4と比較して、高いキュリー点TC1と、室
温で高い保磁力HC1とを有しており、室温から温度TC1
まで垂直磁化となる遷移金属リッチの特性を有してい
る。
【0038】磁性層4は、TC1より低いキュリー点TC2
と、室温でHC1よりも低い保磁力HC2とを有しており、
室温から温度TC2まで垂直磁化となる希土類金属リッチ
の特性を有している。さらに、室温からTa までの温度
範囲と、Tb 以上の温度範囲とでは、磁性層3の保磁力
が磁性層4の保磁力より大きく、Ta からTb までの温
度範囲では、磁性層4の保磁力が磁性層3の保磁力より
大きい特性を有している。
と、室温でHC1よりも低い保磁力HC2とを有しており、
室温から温度TC2まで垂直磁化となる希土類金属リッチ
の特性を有している。さらに、室温からTa までの温度
範囲と、Tb 以上の温度範囲とでは、磁性層3の保磁力
が磁性層4の保磁力より大きく、Ta からTb までの温
度範囲では、磁性層4の保磁力が磁性層3の保磁力より
大きい特性を有している。
【0039】ここで、本実施例の光磁気記録媒体を用い
た光変調オーバーライトプロセスを、図3ないし図5を
用いて説明する。図5においては磁性層3および磁性層
4の磁化状態を示している。横軸は温度を表す。上記各
層は希土類遷移金属合金であるため、トータル磁化と、
希土類金属、遷移金属それぞれの副格子磁化があるが、
矢印は各層の遷移金属の副格子磁化の向きを示してい
る。
た光変調オーバーライトプロセスを、図3ないし図5を
用いて説明する。図5においては磁性層3および磁性層
4の磁化状態を示している。横軸は温度を表す。上記各
層は希土類遷移金属合金であるため、トータル磁化と、
希土類金属、遷移金属それぞれの副格子磁化があるが、
矢印は各層の遷移金属の副格子磁化の向きを示してい
る。
【0040】このような光磁気記録媒体を用いて光変調
オーバーライトを行う場合、まず、室温付近において、
磁性層4の保磁力HC2よりも大きく磁性層3の保磁力H
C1よりも小さい、図4に示す初期化磁界Hinitが印加さ
れる。すると、磁性層4のトータル磁化の向きがHinit
の向きに揃えられる。磁性層4は希土類金属リッチなの
で、磁性層4の遷移金属の副格子磁化は、トータル磁化
の向きと逆の向き、すなわちHinitと逆の向きに揃えら
れる。このとき、磁性層3の磁化の向きに応じて、光磁
気記録媒体の状態はS1およびS2の2つの状態が存在
する。一方、磁性層3の磁化の向きは変わらない。
オーバーライトを行う場合、まず、室温付近において、
磁性層4の保磁力HC2よりも大きく磁性層3の保磁力H
C1よりも小さい、図4に示す初期化磁界Hinitが印加さ
れる。すると、磁性層4のトータル磁化の向きがHinit
の向きに揃えられる。磁性層4は希土類金属リッチなの
で、磁性層4の遷移金属の副格子磁化は、トータル磁化
の向きと逆の向き、すなわちHinitと逆の向きに揃えら
れる。このとき、磁性層3の磁化の向きに応じて、光磁
気記録媒体の状態はS1およびS2の2つの状態が存在
する。一方、磁性層3の磁化の向きは変わらない。
【0041】次に、Hinitと同一方向でHinitより小さ
い、図4に示す記録磁界HW を印加しながら、図3に示
す高レベルI(図中Ph)および低レベルII(図中Pl)に
変調された光ビームを以下のように照射する。
い、図4に示す記録磁界HW を印加しながら、図3に示
す高レベルI(図中Ph)および低レベルII(図中Pl)に
変調された光ビームを以下のように照射する。
【0042】すなわち、記録磁界HW を印加しなが
ら、高レベルIの光ビームを照射し、照射部位の温度を
TC1付近まで上昇させる。その結果、磁性層3および磁
性層4がそれぞれのキュリー点以上の温度になるので、
両層の磁化が消滅する。
ら、高レベルIの光ビームを照射し、照射部位の温度を
TC1付近まで上昇させる。その結果、磁性層3および磁
性層4がそれぞれのキュリー点以上の温度になるので、
両層の磁化が消滅する。
【0043】例えば光磁気ディスクであれば光磁気ディ
スクの回転によって、レーザ光の照射部位が移行して照
射が終了すると、冷却過程に移る。そして、照射された
部位の温度がTC1以下にまで下降すると、磁性層3の副
格子磁化は、記録磁界HW によって記録磁界HW の向き
に揃えられる(S3ないしS5)。このとき磁性層4の
磁化はまだ消滅している。
スクの回転によって、レーザ光の照射部位が移行して照
射が終了すると、冷却過程に移る。そして、照射された
部位の温度がTC1以下にまで下降すると、磁性層3の副
格子磁化は、記録磁界HW によって記録磁界HW の向き
に揃えられる(S3ないしS5)。このとき磁性層4の
磁化はまだ消滅している。
【0044】さらに冷却されて、照射された部位の温度
がTC2以下にまで下降すると、磁性層4の副格子磁化の
向きは、磁性層3と磁性層4との界面に作用する交換力
によって、磁性層3の副格子磁化の向きに揃えられる
(S6、S7)。
がTC2以下にまで下降すると、磁性層4の副格子磁化の
向きは、磁性層3と磁性層4との界面に作用する交換力
によって、磁性層3の副格子磁化の向きに揃えられる
(S6、S7)。
【0045】室温に戻った後、光磁気ディスクであれば
光磁気ディスクの回転によって、再び初期化磁界Hinit
が印加される。すると、室温での第1磁性層の保磁力H
C1はHinitより大きいので、磁性層3の磁化の向きは変
わらない。一方、室温での第2磁性層の保磁力HC2はH
initより小さいので、Hinitによって磁性層4の磁化の
向きは反転する(S2)。これにより、磁性層3に上向
きの磁化が記録される。
光磁気ディスクの回転によって、再び初期化磁界Hinit
が印加される。すると、室温での第1磁性層の保磁力H
C1はHinitより大きいので、磁性層3の磁化の向きは変
わらない。一方、室温での第2磁性層の保磁力HC2はH
initより小さいので、Hinitによって磁性層4の磁化の
向きは反転する(S2)。これにより、磁性層3に上向
きの磁化が記録される。
【0046】また、低レベルIIの光ビームを照射し
て、照射部位の温度を、磁性層4の保磁力が磁性層3の
保磁力より大きくなるような温度範囲であるTa ないし
Tb の範囲にまで上昇させる。そこで、その温度での磁
性層4の保磁力より小さい記録磁界HW を、上記低レベ
ルIIの光ビームの照射時に印加する。記録磁界HW はそ
の温度での磁性層4の保磁力より小さいため、磁性層4
の磁化の向きは変わらない(S3)。
て、照射部位の温度を、磁性層4の保磁力が磁性層3の
保磁力より大きくなるような温度範囲であるTa ないし
Tb の範囲にまで上昇させる。そこで、その温度での磁
性層4の保磁力より小さい記録磁界HW を、上記低レベ
ルIIの光ビームの照射時に印加する。記録磁界HW はそ
の温度での磁性層4の保磁力より小さいため、磁性層4
の磁化の向きは変わらない(S3)。
【0047】光磁気ディスクであれば光磁気ディスクの
回転によって照射が終了し、冷却過程に移ると、磁性層
3の副格子磁化の向きは、磁性層3と磁性層4との界面
に作用する交換力によって、磁性層4の副格子磁化の向
きに揃えられる(S1)。これにより、磁性層3に下向
きの磁化が記録される。
回転によって照射が終了し、冷却過程に移ると、磁性層
3の副格子磁化の向きは、磁性層3と磁性層4との界面
に作用する交換力によって、磁性層4の副格子磁化の向
きに揃えられる(S1)。これにより、磁性層3に下向
きの磁化が記録される。
【0048】以上のように、高レベルIの光ビームを照
射したプロセスの場合、磁性層3は、トータル磁化が上
向き(副格子磁化が上向き)の状態S2に移行し、低レ
ベルIIの光ビームを照射したプロセスの場合、磁性層3
は、磁化が下向き(副格子磁化が下向き)の状態S1に
移行する。したがって、磁性層3に対して光変調オーバ
ーライトによる情報記録を行うことができる。そして、
磁性層3のキュリー点TC1を磁性層4のキュリー点TC2
より高く設定することができるので、情報を再生する際
の光ビームのカー回転角を増加させることができる。
射したプロセスの場合、磁性層3は、トータル磁化が上
向き(副格子磁化が上向き)の状態S2に移行し、低レ
ベルIIの光ビームを照射したプロセスの場合、磁性層3
は、磁化が下向き(副格子磁化が下向き)の状態S1に
移行する。したがって、磁性層3に対して光変調オーバ
ーライトによる情報記録を行うことができる。そして、
磁性層3のキュリー点TC1を磁性層4のキュリー点TC2
より高く設定することができるので、情報を再生する際
の光ビームのカー回転角を増加させることができる。
【0049】それによって、光磁気記録媒体の作成プロ
セスおよび光磁気記録媒体の設計を複雑にすることな
く、光変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充
分な再生信号を得ることができる。
セスおよび光磁気記録媒体の設計を複雑にすることな
く、光変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充
分な再生信号を得ることができる。
【0050】上記のようにして記録された情報の再生
は、上記記録時よりもかなり低いレベルのレーザ光III
(図3中、Prで示す)を照射し、その反射光における
偏光面を検出することによって行う。
は、上記記録時よりもかなり低いレベルのレーザ光III
(図3中、Prで示す)を照射し、その反射光における
偏光面を検出することによって行う。
【0051】以下に、上記光磁気記録媒体の一例とし
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。サンプル#1で
は、透光性の基板1は、外径86mm、内径15mm、
厚さ1.2mmの円盤上のガラスからなっている。基板
1の片側の表面には、レーザ光案内用の凹凸状のガイド
トラックが反応性イオンエッチング法により直接形成さ
れている。トラックピッチは1.6μm、グルーブ(凹
部)の幅は0.8μm、ランド(凸部)の幅は0.8μ
mであり、反応性イオンエッチング法により、ガラスに
直接形成された。
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。サンプル#1で
は、透光性の基板1は、外径86mm、内径15mm、
厚さ1.2mmの円盤上のガラスからなっている。基板
1の片側の表面には、レーザ光案内用の凹凸状のガイド
トラックが反応性イオンエッチング法により直接形成さ
れている。トラックピッチは1.6μm、グルーブ(凹
部)の幅は0.8μm、ランド(凸部)の幅は0.8μ
mであり、反応性イオンエッチング法により、ガラスに
直接形成された。
【0052】基板1のガイドトラック側の面上に、反応
性スパッタリングにより、膜厚80nmのAlNからな
る誘電体層2と、Tb、Fe、Coターゲットの同時ス
パッタリングにより膜厚50nmのTbFeCoからな
る磁性層3、磁性層4と、膜厚80nmのAlNからな
る保護層5とを積層した。
性スパッタリングにより、膜厚80nmのAlNからな
る誘電体層2と、Tb、Fe、Coターゲットの同時ス
パッタリングにより膜厚50nmのTbFeCoからな
る磁性層3、磁性層4と、膜厚80nmのAlNからな
る保護層5とを積層した。
【0053】磁性層3、4の成膜時のスパッタリング条
件は、到達真空度2.0×10-4Pa以下、Arガス圧
6.5×10-1Pa、放電電力300Wであり、誘電体
層2および保護層5の成膜時のスパッタリング条件は、
到達真空度2.0×10-4Pa以下、N2 ガス圧3.0
×10-1Pa、放電電力800Wである。
件は、到達真空度2.0×10-4Pa以下、Arガス圧
6.5×10-1Pa、放電電力300Wであり、誘電体
層2および保護層5の成膜時のスパッタリング条件は、
到達真空度2.0×10-4Pa以下、N2 ガス圧3.0
×10-1Pa、放電電力800Wである。
【0054】さらに、保護層5の上にアクリレート系紫
外線硬化樹脂をコーティングし、紫外線照射により硬化
させてオーバーコート膜を形成した。
外線硬化樹脂をコーティングし、紫外線照射により硬化
させてオーバーコート膜を形成した。
【0055】磁性層3は、組成Tb0.19(Fe0.81Co
0.19)0.81、遷移金属リッチ、キュリー点TC1=220
℃、室温での保磁力HC1=1200kA/mである。磁
性層4は、組成Tb0.26(Fe0.80Co0.20)0.74、希
土類金属リッチ、キュリー点TC2=180℃、補償点T
COMP2 =160℃、室温での保磁力HC2=80kA/m
である。
0.19)0.81、遷移金属リッチ、キュリー点TC1=220
℃、室温での保磁力HC1=1200kA/mである。磁
性層4は、組成Tb0.26(Fe0.80Co0.20)0.74、希
土類金属リッチ、キュリー点TC2=180℃、補償点T
COMP2 =160℃、室温での保磁力HC2=80kA/m
である。
【0056】サンプル#1の光磁気ディスクに対して、
初期化磁界Hinit=160kA/m、記録磁界HW =3
0kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=10
mW、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レ
ベルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビ
ット長=0.78μmにて記録を行った結果、消し残り
のない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C
/N)=47dBという良好な再生信号を得ることがで
きた。
初期化磁界Hinit=160kA/m、記録磁界HW =3
0kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=10
mW、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レ
ベルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビ
ット長=0.78μmにて記録を行った結果、消し残り
のない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C
/N)=47dBという良好な再生信号を得ることがで
きた。
【0057】なお、比較として、上記の光磁気記録媒体
の磁性層のうち、上記磁性層3を、キュリー点が上記磁
性層4のキュリー点よりも低い光磁気記録媒体、具体的
には、組成Tb0.19(Fe0.90Co0.10)0.81、遷移金
属リッチ、キュリー点TC1=160℃、室温での保磁力
HC1=1200kA/mである磁性層に替えた光磁気記
録媒体では、消し残りのない光変調オーバーライトはで
きるものの、信号対雑音比(C/N)=45dBであっ
た。
の磁性層のうち、上記磁性層3を、キュリー点が上記磁
性層4のキュリー点よりも低い光磁気記録媒体、具体的
には、組成Tb0.19(Fe0.90Co0.10)0.81、遷移金
属リッチ、キュリー点TC1=160℃、室温での保磁力
HC1=1200kA/mである磁性層に替えた光磁気記
録媒体では、消し残りのない光変調オーバーライトはで
きるものの、信号対雑音比(C/N)=45dBであっ
た。
【0058】〔実施例2〕本発明の他の実施例について
図6に基づいて説明すれば以下の通りである。なお、説
明の便宜上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の
機能を有する部材には、同一の符号を付記してその説明
を省略する。
図6に基づいて説明すれば以下の通りである。なお、説
明の便宜上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の
機能を有する部材には、同一の符号を付記してその説明
を省略する。
【0059】本実施例にかかる光磁気記録媒体は、図6
に示すように、透光性基板1上に、透光性を有する誘電
体層2と、磁性層23(第1磁性層)と、磁性層24
(第2磁性層)と、保護層5とを順次形成した構成にな
っている。さらに、普通は光磁気記録媒体の保護のため
に、オーバーコート膜が形成されている。
に示すように、透光性基板1上に、透光性を有する誘電
体層2と、磁性層23(第1磁性層)と、磁性層24
(第2磁性層)と、保護層5とを順次形成した構成にな
っている。さらに、普通は光磁気記録媒体の保護のため
に、オーバーコート膜が形成されている。
【0060】磁性層23と磁性層24とは希土類金属−
遷移金属合金からなっている。磁性層23は、室温では
面内磁化となり、所定温度以上で垂直磁化となる特性を
有している。磁性層24は、実施例1の磁性層4同様、
磁性層23のキュリー点TC1より低いキュリー点TC2を
有しており、室温から温度TC2まで垂直磁化となる希土
類金属リッチの特性を有している。さらに、室温からT
a までの温度範囲と、Tb 以上の温度範囲とでは、磁性
層23の保磁力が磁性層24の保磁力より大きく、Ta
からTb までの温度範囲では、磁性層24の保磁力が磁
性層23の保磁力より大きい特性を有している。
遷移金属合金からなっている。磁性層23は、室温では
面内磁化となり、所定温度以上で垂直磁化となる特性を
有している。磁性層24は、実施例1の磁性層4同様、
磁性層23のキュリー点TC1より低いキュリー点TC2を
有しており、室温から温度TC2まで垂直磁化となる希土
類金属リッチの特性を有している。さらに、室温からT
a までの温度範囲と、Tb 以上の温度範囲とでは、磁性
層23の保磁力が磁性層24の保磁力より大きく、Ta
からTb までの温度範囲では、磁性層24の保磁力が磁
性層23の保磁力より大きい特性を有している。
【0061】本実施例にかかる光磁気記録媒体を用いて
の光変調オーバーライトプロセスによる情報の記録時に
おいては、室温において、磁性層23の磁化の垂直成分
が飽和する磁界以下、磁性層24の保磁力HC2以上の初
期化磁界Hinitにより磁性層24を初期化する。なお、
磁性層23は記録時には垂直磁化膜となり、実施例1に
おける磁性層3と同様の動作をする。したがって、光変
調オーバーライトプロセスによる情報の記録は実施例1
と同様に行われる。
の光変調オーバーライトプロセスによる情報の記録時に
おいては、室温において、磁性層23の磁化の垂直成分
が飽和する磁界以下、磁性層24の保磁力HC2以上の初
期化磁界Hinitにより磁性層24を初期化する。なお、
磁性層23は記録時には垂直磁化膜となり、実施例1に
おける磁性層3と同様の動作をする。したがって、光変
調オーバーライトプロセスによる情報の記録は実施例1
と同様に行われる。
【0062】次に、再生時の動作について説明する。磁
性層23に再生用のレーザ光が照射されると、照射され
た部位の温度分布がほぼガウス分布になる。このため、
レーザ光の径よりも小さい中心近傍領域のみの温度が上
昇する。この温度上昇に伴って、温度上昇部位の磁化は
垂直磁化に移行する。したがって、この温度上昇部位の
みが極カー効果を示すようになり、該部位からの反射光
に基づいて情報が再生される。
性層23に再生用のレーザ光が照射されると、照射され
た部位の温度分布がほぼガウス分布になる。このため、
レーザ光の径よりも小さい中心近傍領域のみの温度が上
昇する。この温度上昇に伴って、温度上昇部位の磁化は
垂直磁化に移行する。したがって、この温度上昇部位の
みが極カー効果を示すようになり、該部位からの反射光
に基づいて情報が再生される。
【0063】レーザ光が移動して次の記録ビットを再生
する時には、先に再生した部位の温度は低下しており、
垂直磁化ではなくなっている。このため、先に再生した
部位は極カー効果を示さなくなる。これにより、隣接ビ
ットからの信号混入がなくなるので、雑音の発生や再生
の分解能の低下を防止することができる。
する時には、先に再生した部位の温度は低下しており、
垂直磁化ではなくなっている。このため、先に再生した
部位は極カー効果を示さなくなる。これにより、隣接ビ
ットからの信号混入がなくなるので、雑音の発生や再生
の分解能の低下を防止することができる。
【0064】つまり、所定温度以上の温度を有する領域
のみを再生に関与させるので、従来よりも小さな記録ビ
ットの再生が行え、記録密度を著しく向上させることが
できる。
のみを再生に関与させるので、従来よりも小さな記録ビ
ットの再生が行え、記録密度を著しく向上させることが
できる。
【0065】以下に、上記光磁気記録媒体の一例とし
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。なお、実施例1
で説明したサンプル#1と同じ箇所は説明を省略する。
サンプル#2では、実施例1同様の基板1のガイドトラ
ック側の面上に、反応性スパッタリングにより、膜厚8
0nmのAlNからなる誘電体層2と、Gd、Fe、C
oターゲットの同時スパッタリングにより膜厚50nm
のGdFeCoからなる磁性層3、Gd、Dy、Fe、
Coターゲットの同時スパッタリングにより膜厚50n
mのGdDyFeCoからなる磁性層24と、膜厚80
nmのAlNからなる保護層5とを積層した。
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。なお、実施例1
で説明したサンプル#1と同じ箇所は説明を省略する。
サンプル#2では、実施例1同様の基板1のガイドトラ
ック側の面上に、反応性スパッタリングにより、膜厚8
0nmのAlNからなる誘電体層2と、Gd、Fe、C
oターゲットの同時スパッタリングにより膜厚50nm
のGdFeCoからなる磁性層3、Gd、Dy、Fe、
Coターゲットの同時スパッタリングにより膜厚50n
mのGdDyFeCoからなる磁性層24と、膜厚80
nmのAlNからなる保護層5とを積層した。
【0066】磁性層23および磁性層24の成膜時の条
件はそれぞれ実施例1における磁性層3、磁性層4の成
膜時の条件と同様である。
件はそれぞれ実施例1における磁性層3、磁性層4の成
膜時の条件と同様である。
【0067】磁性層23は、希土類金属リッチ、キュリ
ー点TC1≧300℃、補償点TCOMP 1 =150℃、室温
での保磁力HC1〜0kA/mであり、約80℃で垂直磁
化となる。磁性層24は、希土類金属リッチ、キュリー
点TC2=250℃、補償点TCOMP2 =210℃、室温で
の保磁力HC2=64kA/mである。
ー点TC1≧300℃、補償点TCOMP 1 =150℃、室温
での保磁力HC1〜0kA/mであり、約80℃で垂直磁
化となる。磁性層24は、希土類金属リッチ、キュリー
点TC2=250℃、補償点TCOMP2 =210℃、室温で
の保磁力HC2=64kA/mである。
【0068】サンプル#2の光磁気ディスクに対して、
初期化磁界Hinit=80kA/m、記録磁界HW =16
kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=10m
W、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レベ
ルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビッ
ト長=0.65μmにて記録を行った結果、消し残りの
ない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/
N)=47dBという良好な再生信号を得ることができ
た。
初期化磁界Hinit=80kA/m、記録磁界HW =16
kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=10m
W、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レベ
ルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビッ
ト長=0.65μmにて記録を行った結果、消し残りの
ない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/
N)=47dBという良好な再生信号を得ることができ
た。
【0069】すなわち、実施例1と同様、光磁気記録媒
体の作成プロセスおよび光磁気記録媒体の設計を複雑に
することなく、光変調オーバーライトによる情報の記録
が行え、充分な再生信号を得ることができる。
体の作成プロセスおよび光磁気記録媒体の設計を複雑に
することなく、光変調オーバーライトによる情報の記録
が行え、充分な再生信号を得ることができる。
【0070】また、磁性層23が室温では垂直磁化を示
さず、再生時においては再生レベルIII のレーザパワー
のレーザ光が照射されたときだけ垂直磁化を示すので、
短い記録ビットであっても隣接記録ビットからの影響を
受けずに情報を再生できる。このため、記録ビット長さ
が短い(すなわち本実施例では0.65μm)場合にお
いても、良好なC/Nを得ることができる。
さず、再生時においては再生レベルIII のレーザパワー
のレーザ光が照射されたときだけ垂直磁化を示すので、
短い記録ビットであっても隣接記録ビットからの影響を
受けずに情報を再生できる。このため、記録ビット長さ
が短い(すなわち本実施例では0.65μm)場合にお
いても、良好なC/Nを得ることができる。
【0071】〔実施例3〕本発明のさらに他の実施例に
ついて図7に基づいて説明すれば、以下の通りである。
なお、説明の便宜上、前記の実施例の図面に示した部材
と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記して
その説明を省略する。本実施例にかかる光磁気記録媒体
は、図7に示すように、透光性基板1上に、透光性を有
する誘電体層2と、磁性層23(第3磁性層)と、磁性
層3(第1磁性層)と、磁性層4(第2磁性層)と、保
護層5とを順次形成した構成になっている。さらに、普
通は光磁気記録媒体の保護のために、オーバーコート膜
が形成されている。
ついて図7に基づいて説明すれば、以下の通りである。
なお、説明の便宜上、前記の実施例の図面に示した部材
と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記して
その説明を省略する。本実施例にかかる光磁気記録媒体
は、図7に示すように、透光性基板1上に、透光性を有
する誘電体層2と、磁性層23(第3磁性層)と、磁性
層3(第1磁性層)と、磁性層4(第2磁性層)と、保
護層5とを順次形成した構成になっている。さらに、普
通は光磁気記録媒体の保護のために、オーバーコート膜
が形成されている。
【0072】すなわち、第1磁性層としての磁性層3、
および第2磁性層としての磁性層4に加え、第3磁性層
として、実施例2にかかる光磁気記録媒体に用いた磁性
層23を積層している。
および第2磁性層としての磁性層4に加え、第3磁性層
として、実施例2にかかる光磁気記録媒体に用いた磁性
層23を積層している。
【0073】本実施例にかかる光磁気記録媒体を用いて
の光変調オーバーライトプロセスによる情報の記録時に
おいては、実施例1同様に行われ、一方、再生時には実
施例2同様に行われる。
の光変調オーバーライトプロセスによる情報の記録時に
おいては、実施例1同様に行われ、一方、再生時には実
施例2同様に行われる。
【0074】以下に、上記光磁気記録媒体の一例とし
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。なお、実施例
1、2で説明したサンプル#1、#2と同じ箇所は説明
を省略する。サンプル#3では、実施例1同様の基板1
のガイドトラック側の面上に、反応性スパッタリングに
より、膜厚80nmのAlNからなる誘電体層2と、G
d、Fe、Coターゲットの同時スパッタリングにより
膜厚50nmのGdFeCoからなる磁性層23と、T
b、Fe、Coターゲットの同時スパッタリングにより
膜厚50nmのTbFeCoからなる磁性層3、4と、
膜厚80nmのAlNからなる保護層5とを積層した。
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。なお、実施例
1、2で説明したサンプル#1、#2と同じ箇所は説明
を省略する。サンプル#3では、実施例1同様の基板1
のガイドトラック側の面上に、反応性スパッタリングに
より、膜厚80nmのAlNからなる誘電体層2と、G
d、Fe、Coターゲットの同時スパッタリングにより
膜厚50nmのGdFeCoからなる磁性層23と、T
b、Fe、Coターゲットの同時スパッタリングにより
膜厚50nmのTbFeCoからなる磁性層3、4と、
膜厚80nmのAlNからなる保護層5とを積層した。
【0075】磁性層23は、希土類金属リッチ、キュリ
ー点TC0≧300℃、補償点TCOMP 0 =150℃、室温
での保磁力HC0〜0kA/mであり、約80℃で垂直磁
化となる。磁性層3は、サンプル#1同様、組成Tb
0.19(Fe0.81Co0.19)0.81、遷移金属リッチ、キュ
リー点TC1=220℃、室温での保磁力HC1=1200
kA/mである。磁性層4は、サンプル#1同様、組成
Tb0.26(Fe0.80Co0.20)0.74、希土類金属リッ
チ、キュリー点TC2=180℃、補償点TCOMP2 =16
0℃、室温での保磁力HC2=80kA/mである。
ー点TC0≧300℃、補償点TCOMP 0 =150℃、室温
での保磁力HC0〜0kA/mであり、約80℃で垂直磁
化となる。磁性層3は、サンプル#1同様、組成Tb
0.19(Fe0.81Co0.19)0.81、遷移金属リッチ、キュ
リー点TC1=220℃、室温での保磁力HC1=1200
kA/mである。磁性層4は、サンプル#1同様、組成
Tb0.26(Fe0.80Co0.20)0.74、希土類金属リッ
チ、キュリー点TC2=180℃、補償点TCOMP2 =16
0℃、室温での保磁力HC2=80kA/mである。
【0076】サンプル#3の光磁気ディスクに対して、
初期化磁界Hinit=160kA/m、記録磁界HW =3
2kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=10
mW、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レ
ベルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビ
ット長=0.65μmにて記録を行った結果、消し残り
のない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C
/N)=47dBという良好な再生信号を得ることがで
きた。
初期化磁界Hinit=160kA/m、記録磁界HW =3
2kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=10
mW、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レ
ベルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビ
ット長=0.65μmにて記録を行った結果、消し残り
のない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C
/N)=47dBという良好な再生信号を得ることがで
きた。
【0077】すなわち、実施例1と同様、光変調オーバ
ーライトによる情報の記録が行え、充分な再生信号を得
ることができる。
ーライトによる情報の記録が行え、充分な再生信号を得
ることができる。
【0078】また、実施例2同様、磁性層23が室温で
は垂直磁化を示さず、再生時においては再生レベルIII
のレーザパワーのレーザ光が照射されたときだけ垂直磁
化を示すので、短い記録ビットであっても隣接記録ビッ
トからの影響を受けずに情報を再生できる。このため、
記録ビット長さが短い(すなわち本実施例では0.65
μm)場合においても、良好なC/Nを得ることができ
る。
は垂直磁化を示さず、再生時においては再生レベルIII
のレーザパワーのレーザ光が照射されたときだけ垂直磁
化を示すので、短い記録ビットであっても隣接記録ビッ
トからの影響を受けずに情報を再生できる。このため、
記録ビット長さが短い(すなわち本実施例では0.65
μm)場合においても、良好なC/Nを得ることができ
る。
【0079】さらに、室温では垂直磁化を示さず、再生
レベルIII のレーザパワーのレーザ光が照射されたとき
だけ垂直磁化を示す磁性層23(第3磁性層)と、情報
の記録を行う磁性層3(第1磁性層)とを別々の層とし
たので、3層構造となるものの、実施例2で用いたサン
プル#2と比べ、第1磁性層の組成に関するマージンが
大きくなり、作成しやすいという長所がある。
レベルIII のレーザパワーのレーザ光が照射されたとき
だけ垂直磁化を示す磁性層23(第3磁性層)と、情報
の記録を行う磁性層3(第1磁性層)とを別々の層とし
たので、3層構造となるものの、実施例2で用いたサン
プル#2と比べ、第1磁性層の組成に関するマージンが
大きくなり、作成しやすいという長所がある。
【0080】〔実施例4〕本発明の他の実施例について
図8ないし図12に基づいて説明すれば、以下の通りで
ある。なお、説明の便宜上、前記の実施例の図面に示し
た部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付
記してその説明を省略する。
図8ないし図12に基づいて説明すれば、以下の通りで
ある。なお、説明の便宜上、前記の実施例の図面に示し
た部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付
記してその説明を省略する。
【0081】本実施例にかかる光磁気記録媒体は、図8
に示すように、透光性基板1上に、透光性を有する誘電
体層2と、磁性層3(第1磁性層)と、磁性層47(第
4磁性層)と、磁性層4(第2磁性層)と、保護層5と
を順次形成した構成になっている。さらに、普通は光磁
気記録媒体の保護のために、オーバーコート膜が形成さ
れている。
に示すように、透光性基板1上に、透光性を有する誘電
体層2と、磁性層3(第1磁性層)と、磁性層47(第
4磁性層)と、磁性層4(第2磁性層)と、保護層5と
を順次形成した構成になっている。さらに、普通は光磁
気記録媒体の保護のために、オーバーコート膜が形成さ
れている。
【0082】磁性層47は、希土類金属−遷移金属合金
からなっている。磁性層47の磁気特性は図9に示す通
りである。なお、磁性層3、4の磁気特性も同時に記載
してある。磁性層47は、室温で面内磁化となり、所定
温度以上で垂直磁化となる特性を有している。
からなっている。磁性層47の磁気特性は図9に示す通
りである。なお、磁性層3、4の磁気特性も同時に記載
してある。磁性層47は、室温で面内磁化となり、所定
温度以上で垂直磁化となる特性を有している。
【0083】ここで、本実施例の光磁気記録媒体を用い
た光変調オーバーライトプロセスを、図10ないし図1
2を用いて説明する。図12においては磁性層3および
磁性層4の磁化状態を示している。横軸は温度を表す。
上記各層は希土類遷移金属合金であるため、トータル磁
化と希土類金属、遷移金属それぞれの副格子磁化がある
が、矢印は各層の遷移金属の副格子磁化の向きを示して
いる。
た光変調オーバーライトプロセスを、図10ないし図1
2を用いて説明する。図12においては磁性層3および
磁性層4の磁化状態を示している。横軸は温度を表す。
上記各層は希土類遷移金属合金であるため、トータル磁
化と希土類金属、遷移金属それぞれの副格子磁化がある
が、矢印は各層の遷移金属の副格子磁化の向きを示して
いる。
【0084】このような光磁気記録媒体を用いて光変調
オーバーライトを行う場合、まず、室温付近において、
磁性層4の保磁力HC2よりも大きく磁性層3の保磁力H
C1よりも小さい、図11に示す初期化磁界Hinitが印加
される。すると、磁性層4のトータル磁化の向きがH
initの向きに揃えられる。磁性層4は希土類金属リッチ
なので、磁性層4の遷移金属の副格子磁化は、トータル
磁化の向きと逆の向き、すなわちHinitと逆の向きに揃
えられる。このとき、磁性層3の磁化の向きに応じて、
光磁気記録媒体の状態はS11およびS12の2つの状
態が存在する。一方、磁性層3の磁化の向きは変わらな
い。
オーバーライトを行う場合、まず、室温付近において、
磁性層4の保磁力HC2よりも大きく磁性層3の保磁力H
C1よりも小さい、図11に示す初期化磁界Hinitが印加
される。すると、磁性層4のトータル磁化の向きがH
initの向きに揃えられる。磁性層4は希土類金属リッチ
なので、磁性層4の遷移金属の副格子磁化は、トータル
磁化の向きと逆の向き、すなわちHinitと逆の向きに揃
えられる。このとき、磁性層3の磁化の向きに応じて、
光磁気記録媒体の状態はS11およびS12の2つの状
態が存在する。一方、磁性層3の磁化の向きは変わらな
い。
【0085】次に、Hinitと同一方向でHinitより小さ
い、図11に示す記録磁界HW を印加しながら、図10
に示す高レベルI(図中Ph)および低レベルII(図中P
l)に変調された光ビームを以下のように照射する。
い、図11に示す記録磁界HW を印加しながら、図10
に示す高レベルI(図中Ph)および低レベルII(図中P
l)に変調された光ビームを以下のように照射する。
【0086】すなわち、記録磁界HW を印加しなが
ら、高レベルIの光ビームを照射し、照射部位の温度を
TC1付近まで上昇させる。その結果、磁性層3および磁
性層4がそれぞれのキュリー点以上の温度になるので、
両層の磁化が消滅する。
ら、高レベルIの光ビームを照射し、照射部位の温度を
TC1付近まで上昇させる。その結果、磁性層3および磁
性層4がそれぞれのキュリー点以上の温度になるので、
両層の磁化が消滅する。
【0087】例えば光磁気ディスクであれば光磁気ディ
スクの回転によって、レーザ光の照射部位が移行して照
射が終了すると、冷却過程に移る。そして、照射された
部位の温度がTC1以下にまで下降すると、磁性層3およ
び磁性層47の副格子磁化は、記録磁界HW によって記
録磁界HW の向きに揃えられる(S13ないしS1
5)。このとき磁性層4の磁化はまだ消滅している。
スクの回転によって、レーザ光の照射部位が移行して照
射が終了すると、冷却過程に移る。そして、照射された
部位の温度がTC1以下にまで下降すると、磁性層3およ
び磁性層47の副格子磁化は、記録磁界HW によって記
録磁界HW の向きに揃えられる(S13ないしS1
5)。このとき磁性層4の磁化はまだ消滅している。
【0088】さらに冷却されて、照射された部位の温度
がTC2以下にまで下降すると、磁性層4の副格子磁化の
向きは、磁性層47と磁性層4との界面に作用する交換
力によって、磁性層3の副格子磁化の向きに揃えられる
(S16)。
がTC2以下にまで下降すると、磁性層4の副格子磁化の
向きは、磁性層47と磁性層4との界面に作用する交換
力によって、磁性層3の副格子磁化の向きに揃えられる
(S16)。
【0089】さらに、室温まで冷却されると、磁性層4
7は面内磁化に移行する(S17)。このため、磁性層
3と磁性層4との間に交換力が作用しなくなる。
7は面内磁化に移行する(S17)。このため、磁性層
3と磁性層4との間に交換力が作用しなくなる。
【0090】室温に戻った後、例えば光磁気ディスクで
あれば光磁気ディスクの回転によって、再び初期化磁界
Hinitが印加される。すると、室温での第1磁性層の保
磁力HC1はHinitより大きいので、磁性層3の磁化の向
きは変わらない。一方、室温での第2磁性層の保磁力H
C2はHinitより小さいので、Hinitによって磁性層4の
磁化の向きは反転する(S12)。これにより、磁性層
3に上向きの磁化が記録される。
あれば光磁気ディスクの回転によって、再び初期化磁界
Hinitが印加される。すると、室温での第1磁性層の保
磁力HC1はHinitより大きいので、磁性層3の磁化の向
きは変わらない。一方、室温での第2磁性層の保磁力H
C2はHinitより小さいので、Hinitによって磁性層4の
磁化の向きは反転する(S12)。これにより、磁性層
3に上向きの磁化が記録される。
【0091】また、低レベルIIの光ビームを照射し
て、照射部位の温度を、磁性層4の保磁力が磁性層3の
保磁力より大きくなるような温度範囲であるTa ないし
Tb の範囲にまで上昇させる。そこで、その温度での磁
性層4の保磁力より小さい記録磁界HW を、上記低レベ
ルIIの光ビームの照射時に印加する。記録磁界HW はそ
の温度での磁性層4の保磁力より小さいため、磁性層4
の磁化の向きは変わらない。
て、照射部位の温度を、磁性層4の保磁力が磁性層3の
保磁力より大きくなるような温度範囲であるTa ないし
Tb の範囲にまで上昇させる。そこで、その温度での磁
性層4の保磁力より小さい記録磁界HW を、上記低レベ
ルIIの光ビームの照射時に印加する。記録磁界HW はそ
の温度での磁性層4の保磁力より小さいため、磁性層4
の磁化の向きは変わらない。
【0092】光磁気ディスクであれば光磁気ディスクの
回転によって照射が終了し、冷却過程に移ると、磁性層
3の副格子磁化の向きは、磁性層3と磁性層47との界
面に作用する交換力によって、磁性層4の副格子磁化の
向きに揃えられる(S13)。これにより、磁性層3に
下向きの磁化が記録される。
回転によって照射が終了し、冷却過程に移ると、磁性層
3の副格子磁化の向きは、磁性層3と磁性層47との界
面に作用する交換力によって、磁性層4の副格子磁化の
向きに揃えられる(S13)。これにより、磁性層3に
下向きの磁化が記録される。
【0093】さらに、室温まで冷却されると、磁性層4
7は面内磁化に移行する(S11)。このため、磁性層
3と磁性層4との間に交換力が作用しなくなる。
7は面内磁化に移行する(S11)。このため、磁性層
3と磁性層4との間に交換力が作用しなくなる。
【0094】以上のように、高レベルIの光ビームを照
射したプロセスの場合、磁性層3は、トータル磁化が上
向き(副格子磁化が上向き)の状態S12に移行し、低
レベルIIの光ビームを照射したプロセスの場合、磁性層
3は、磁化が下向き(副格子磁化が下向き)の状態S1
1に移行する。したがって、磁性層3に対して光変調オ
ーバーライトによる情報記録を行うことができる。そし
て、磁性層3のキュリー点TC1を磁性層4のキュリー点
TC2より高く設定することができるので、情報を再生す
る際の光ビームのカー回転角を増加させることができ
る。
射したプロセスの場合、磁性層3は、トータル磁化が上
向き(副格子磁化が上向き)の状態S12に移行し、低
レベルIIの光ビームを照射したプロセスの場合、磁性層
3は、磁化が下向き(副格子磁化が下向き)の状態S1
1に移行する。したがって、磁性層3に対して光変調オ
ーバーライトによる情報記録を行うことができる。そし
て、磁性層3のキュリー点TC1を磁性層4のキュリー点
TC2より高く設定することができるので、情報を再生す
る際の光ビームのカー回転角を増加させることができ
る。
【0095】それによって、実施例1同様、光変調オー
バーライトによる情報の記録が行え、充分な再生信号を
得ることができる。
バーライトによる情報の記録が行え、充分な再生信号を
得ることができる。
【0096】さらに、本実施例においては、室温でほぼ
面内磁化を示す上記磁性層47を磁性層3と磁性層4と
の間に設けていることにより、3層構造となるものの、
初期化磁界Hinitを低減することができる。これによ
り、装置の大型化を防ぎ、消費電力を抑えることができ
る。
面内磁化を示す上記磁性層47を磁性層3と磁性層4と
の間に設けていることにより、3層構造となるものの、
初期化磁界Hinitを低減することができる。これによ
り、装置の大型化を防ぎ、消費電力を抑えることができ
る。
【0097】情報の再生は、実施例1同様、上記記録時
よりもかなり低いレベルのレーザ光III (図10中、P
rで示す)を照射し、その反射光における偏光面を検出
することによって行う。
よりもかなり低いレベルのレーザ光III (図10中、P
rで示す)を照射し、その反射光における偏光面を検出
することによって行う。
【0098】以下に、上記光磁気記録媒体の一例とし
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。なお、サンプル
#1ないし#3と同じ箇所は説明を省略する。サンプル
#4では、実施例1同様の基板1のガイドトラック側の
面上に、反応性スパッタリングにより、膜厚80nmの
AlNからなる誘電体層2と、Dy、Fe、Coターゲ
ットの同時スパッタリングにより膜厚50nmのDyF
eCoからなる磁性層3と、Gd、Fe、Coターゲッ
トの同時スパッタリングにより膜厚50nmのGdFe
Coからなる磁性層47と、Gd、Dy、Fe、Coタ
ーゲットの同時スパッタリングにより膜厚50nmのG
dDyFeCoからなる磁性層4と、膜厚80nmのA
lNからなる保護層5とを積層した。
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。なお、サンプル
#1ないし#3と同じ箇所は説明を省略する。サンプル
#4では、実施例1同様の基板1のガイドトラック側の
面上に、反応性スパッタリングにより、膜厚80nmの
AlNからなる誘電体層2と、Dy、Fe、Coターゲ
ットの同時スパッタリングにより膜厚50nmのDyF
eCoからなる磁性層3と、Gd、Fe、Coターゲッ
トの同時スパッタリングにより膜厚50nmのGdFe
Coからなる磁性層47と、Gd、Dy、Fe、Coタ
ーゲットの同時スパッタリングにより膜厚50nmのG
dDyFeCoからなる磁性層4と、膜厚80nmのA
lNからなる保護層5とを積層した。
【0099】磁性層3は、組成Dy0.19(Fe0.75Co
0.25)0.81、遷移金属リッチ、キュリー点TC1=220
℃、室温での保磁力HC1=950kA/mであり、磁性
層47は、組成Gd0.28(Fe0.61Co0.39)0.72、希
土類金属リッチ、キュリー点TC3≧300℃、補償点T
COMP3 =150℃、室温での保磁力HC3〜0kA/mで
あり、約80℃で垂直磁化となり、約160℃で面内磁
化を示す。磁性層4は、組成(Gd0.40Dy0.60)0.32
(Fe0.80Co0.20)0.68、希土類金属リッチ、キュリ
ー点TC2=210℃、補償点TCOMP2 =190℃、室温
での保磁力HC2=48kA/mである。
0.25)0.81、遷移金属リッチ、キュリー点TC1=220
℃、室温での保磁力HC1=950kA/mであり、磁性
層47は、組成Gd0.28(Fe0.61Co0.39)0.72、希
土類金属リッチ、キュリー点TC3≧300℃、補償点T
COMP3 =150℃、室温での保磁力HC3〜0kA/mで
あり、約80℃で垂直磁化となり、約160℃で面内磁
化を示す。磁性層4は、組成(Gd0.40Dy0.60)0.32
(Fe0.80Co0.20)0.68、希土類金属リッチ、キュリ
ー点TC2=210℃、補償点TCOMP2 =190℃、室温
での保磁力HC2=48kA/mである。
【0100】サンプル#4の光磁気ディスクに対して、
初期化磁界Hinit=64kA/m、記録磁界HW =16
kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=8m
W、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レベ
ルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビッ
ト長=0.78μmにて記録を行った結果、消し残りの
ない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/
N)=47dBという良好な再生信号を得ることができ
た。
初期化磁界Hinit=64kA/m、記録磁界HW =16
kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=8m
W、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レベ
ルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビッ
ト長=0.78μmにて記録を行った結果、消し残りの
ない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/
N)=47dBという良好な再生信号を得ることができ
た。
【0101】サンプル#1に比べて、磁性層47を設け
たことにより、3層構造となるものの、初期化磁界H
initを低減することができた。
たことにより、3層構造となるものの、初期化磁界H
initを低減することができた。
【0102】〔実施例5〕本発明のさらに他の実施例に
ついて図13に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。なお、説明の便宜上、前記の実施例の図面に示した
部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記
してその説明を省略する。本実施例にかかる光磁気記録
媒体は、図13に示すように、透光性基板1上に、透光
性を有する誘電体層2と、磁性層23(第3磁性層)
と、磁性層3(第1磁性層)と、磁性層47(第4磁性
層)と、磁性層4(第2磁性層)と、保護層5とを順次
形成した構成になっている。さらに、普通は光磁気記録
媒体の保護のために、オーバーコート膜が形成されてい
る。
ついて図13に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。なお、説明の便宜上、前記の実施例の図面に示した
部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記
してその説明を省略する。本実施例にかかる光磁気記録
媒体は、図13に示すように、透光性基板1上に、透光
性を有する誘電体層2と、磁性層23(第3磁性層)
と、磁性層3(第1磁性層)と、磁性層47(第4磁性
層)と、磁性層4(第2磁性層)と、保護層5とを順次
形成した構成になっている。さらに、普通は光磁気記録
媒体の保護のために、オーバーコート膜が形成されてい
る。
【0103】すなわち、第3磁性層として、実施例2に
かかる光磁気記録媒体に用いた磁性層23を積層し、第
4磁性層として、実施例4にかかる光磁気記録媒体に用
いた磁性層47を積層している。
かかる光磁気記録媒体に用いた磁性層23を積層し、第
4磁性層として、実施例4にかかる光磁気記録媒体に用
いた磁性層47を積層している。
【0104】本実施例にかかる光磁気記録媒体を用いて
の光変調オーバーライトプロセスによる情報の記録時に
おいては、実施例4同様に行われ、一方、再生時には実
施例2同様に行われる。
の光変調オーバーライトプロセスによる情報の記録時に
おいては、実施例4同様に行われ、一方、再生時には実
施例2同様に行われる。
【0105】以下に、上記光磁気記録媒体の一例とし
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。なお、すでに説
明したサンプル#1〜#4と同じ箇所は説明を省略す
る。サンプル#5では、実施例1同様の基板1のガイド
トラック側の面上に、反応性スパッタリングにより、膜
厚80nmのAlNからなる誘電体層2と、Gd、F
e、Coターゲットの同時スパッタリングにより膜厚5
0nmのGdFeCoからなる磁性層23と、Dy、F
e、Coターゲットの同時スパッタリングにより膜厚5
0nmのDyFeCoからなる磁性層3と、Gd、F
e、Coターゲットの同時スパッタリングにより膜厚5
0nmのGdFeCoからなる磁性層47と、Gd、D
y、Fe、Coターゲットの同時スパッタリングにより
膜厚50nmのGdDyFeCoからなる磁性層4と、
膜厚80nmのAlNからなる保護層5とを積層した。
て、光磁気ディスクのサンプルを示す。なお、すでに説
明したサンプル#1〜#4と同じ箇所は説明を省略す
る。サンプル#5では、実施例1同様の基板1のガイド
トラック側の面上に、反応性スパッタリングにより、膜
厚80nmのAlNからなる誘電体層2と、Gd、F
e、Coターゲットの同時スパッタリングにより膜厚5
0nmのGdFeCoからなる磁性層23と、Dy、F
e、Coターゲットの同時スパッタリングにより膜厚5
0nmのDyFeCoからなる磁性層3と、Gd、F
e、Coターゲットの同時スパッタリングにより膜厚5
0nmのGdFeCoからなる磁性層47と、Gd、D
y、Fe、Coターゲットの同時スパッタリングにより
膜厚50nmのGdDyFeCoからなる磁性層4と、
膜厚80nmのAlNからなる保護層5とを積層した。
【0106】磁性層23は、サンプル#2同様、希土類
金属リッチ、キュリー点TC0≧300℃、補償点T
COMP0 =150℃、室温での保磁力HC0〜0kA/mで
あり、約80℃で垂直磁化となる。磁性層3、47、4
はサンプル#4同様である。すなわち、磁性層3は、組
成Dy0.19(Fe0.75Co0.25)0.81、遷移金属リッ
チ、キュリー点TC1=220℃、室温での保磁力HC1=
950kA/mであり、磁性層47は、組成Gd
0.28(Fe0.61Co0.39)0.72、希土類金属リッチ、キ
ュリー点TC3≧300℃、補償点TCOMP3 =150℃、
室温での保磁力HC3〜0kA/m、約80℃で垂直磁化
となり、約160℃で面内磁化を示す。磁性層4は、組
成(Gd0.40Dy0.60)0.32(Fe0.80C
o0.20)0.68、希土類金属リッチ、キュリー点TC2=2
10℃、補償点TCOMP2 =190℃、室温での保磁力H
C2=48kA/mである。
金属リッチ、キュリー点TC0≧300℃、補償点T
COMP0 =150℃、室温での保磁力HC0〜0kA/mで
あり、約80℃で垂直磁化となる。磁性層3、47、4
はサンプル#4同様である。すなわち、磁性層3は、組
成Dy0.19(Fe0.75Co0.25)0.81、遷移金属リッ
チ、キュリー点TC1=220℃、室温での保磁力HC1=
950kA/mであり、磁性層47は、組成Gd
0.28(Fe0.61Co0.39)0.72、希土類金属リッチ、キ
ュリー点TC3≧300℃、補償点TCOMP3 =150℃、
室温での保磁力HC3〜0kA/m、約80℃で垂直磁化
となり、約160℃で面内磁化を示す。磁性層4は、組
成(Gd0.40Dy0.60)0.32(Fe0.80C
o0.20)0.68、希土類金属リッチ、キュリー点TC2=2
10℃、補償点TCOMP2 =190℃、室温での保磁力H
C2=48kA/mである。
【0107】サンプル#5の光磁気ディスクに対して、
初期化磁界Hinit=80kA/m、記録磁界HW =16
kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=10m
W、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レベ
ルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビッ
ト長=0.65μmにて記録を行った結果、消し残りの
ない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/
N)=47dBという良好な再生信号を得ることができ
た。
初期化磁界Hinit=80kA/m、記録磁界HW =16
kA/m、高レベルIのレーザパワー(PH )=10m
W、低レベルIIのレーザパワー(PL )=4mW、レベ
ルIII の再生レーザパワー(PR )=1mW、記録ビッ
ト長=0.65μmにて記録を行った結果、消し残りの
ない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/
N)=47dBという良好な再生信号を得ることができ
た。
【0108】すなわち、実施例1と同様、光変調オーバ
ーライトによる情報の記録が行え、充分な再生信号を得
ることができる。
ーライトによる情報の記録が行え、充分な再生信号を得
ることができる。
【0109】また、磁性層23が室温では垂直磁化を示
さず、再生時においては再生レベルIII のレーザパワー
のレーザ光が照射されたときだけ垂直磁化を示すので、
サンプル#4と比べて短い記録ビット(すなわち本実施
例では0.65μm)であっても、隣接記録ビットから
の影響を受けずに情報を再生できる。このため、記録ビ
ット長さが短い場合においても、良好なC/Nを得るこ
とができる。
さず、再生時においては再生レベルIII のレーザパワー
のレーザ光が照射されたときだけ垂直磁化を示すので、
サンプル#4と比べて短い記録ビット(すなわち本実施
例では0.65μm)であっても、隣接記録ビットから
の影響を受けずに情報を再生できる。このため、記録ビ
ット長さが短い場合においても、良好なC/Nを得るこ
とができる。
【0110】以上の各実施例においてはすべて第2磁性
層を初期化する初期化磁界が必要であるが、初期化磁界
は、外部磁界であっても、初期化磁性層であってもよ
い。また、基板、誘電体層、磁性層は、請求項に記載し
た要件を満足するものであれば、上記に限定されるもの
ではない。
層を初期化する初期化磁界が必要であるが、初期化磁界
は、外部磁界であっても、初期化磁性層であってもよ
い。また、基板、誘電体層、磁性層は、請求項に記載し
た要件を満足するものであれば、上記に限定されるもの
ではない。
【0111】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項1記載の
光磁気記録媒体は、第1磁性層と、第1磁性層のキュリ
ー点TC1より低いキュリー点TC2を有し、室温における
保磁力が室温における第1磁性層の保磁力より小さく、
室温からTC2までの所定の温度範囲における保磁力が該
温度範囲における第1磁性層の保磁力より大きい第2磁
性層とが設けられている構成である。
光磁気記録媒体は、第1磁性層と、第1磁性層のキュリ
ー点TC1より低いキュリー点TC2を有し、室温における
保磁力が室温における第1磁性層の保磁力より小さく、
室温からTC2までの所定の温度範囲における保磁力が該
温度範囲における第1磁性層の保磁力より大きい第2磁
性層とが設けられている構成である。
【0112】それゆえ、光磁気記録媒体の作成プロセス
および光磁気記録媒体の設計を複雑にすることなく、光
変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充分な再
生信号を得ることができるという効果を奏する。
および光磁気記録媒体の設計を複雑にすることなく、光
変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充分な再
生信号を得ることができるという効果を奏する。
【0113】請求項2記載の光磁気記録方法は、請求項
1記載の光磁気記録媒体に対して、照射部位の温度が、
第1磁性層の保磁力が第2磁性層の保磁力より小さくな
る温度範囲になる強度を有する光ビームと、照射部位の
温度が第1磁性層のキュリー点以上になる強度を有する
光ビームとを照射することによって、情報を記録する方
法である。
1記載の光磁気記録媒体に対して、照射部位の温度が、
第1磁性層の保磁力が第2磁性層の保磁力より小さくな
る温度範囲になる強度を有する光ビームと、照射部位の
温度が第1磁性層のキュリー点以上になる強度を有する
光ビームとを照射することによって、情報を記録する方
法である。
【0114】それゆえ、光磁気記録媒体の作成プロセス
および光磁気記録媒体の設計を複雑にすることなく、光
変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充分な再
生信号を得ることができるという効果を奏する。
および光磁気記録媒体の設計を複雑にすることなく、光
変調オーバーライトによる情報の記録が行え、充分な再
生信号を得ることができるという効果を奏する。
【図1】本発明の一実施例の光磁気記録媒体の概略の構
成を示す説明図である。
成を示す説明図である。
【図2】図1の光磁気記録媒体における各磁性層の保磁
力の温度依存性を示すグラフである。
力の温度依存性を示すグラフである。
【図3】図1の光磁気記録媒体に照射されるレーザ光の
強度を示すグラフである。
強度を示すグラフである。
【図4】図1の光磁気記録媒体に印加される磁界の強度
を示すグラフである。
を示すグラフである。
【図5】図1の光磁気記録媒体における記録プロセスを
示す説明図である。
示す説明図である。
【図6】本発明の他の実施例の光磁気記録媒体の概略の
構成を示す説明図である。
構成を示す説明図である。
【図7】本発明のさらに他の実施例の光磁気記録媒体の
概略の構成を示す説明図である。
概略の構成を示す説明図である。
【図8】本発明のさらに他の実施例の光磁気記録媒体の
概略の構成を示す説明図である。
概略の構成を示す説明図である。
【図9】図8の光磁気記録媒体における各磁性層の保磁
力の温度依存性を示すグラフである。
力の温度依存性を示すグラフである。
【図10】図8の光磁気記録媒体に照射されるレーザ光
の強度を示すグラフである。
の強度を示すグラフである。
【図11】図8の光磁気記録媒体に印加される磁界の強
度を示すグラフである。
度を示すグラフである。
【図12】図8の光磁気記録媒体における記録プロセス
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図13】本発明のさらに他の実施例の光磁気記録媒体
の概略の構成を示す説明図である。
の概略の構成を示す説明図である。
【図14】従来の光磁気記録媒体の概略の構成を示す説
明図である。
明図である。
【図15】従来の光磁気記録媒体における各磁性層の保
磁力の温度依存性を示すグラフである。
磁力の温度依存性を示すグラフである。
【図16】従来の光磁気記録媒体に照射されるレーザ光
の強度を示すグラフである。
の強度を示すグラフである。
【図17】従来の光磁気記録媒体に印加される磁界の強
度を示すグラフである。
度を示すグラフである。
【図18】従来の光磁気記録媒体における記録プロセス
を示す説明図である。
を示す説明図である。
3 磁性層(第1磁性層) 4 磁性層(第2磁性層) 23 磁性層(第1磁性層、第3磁性層) 24 磁性層(第2磁性層) 47 磁性層(第4磁性層)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 明 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内
Claims (2)
- 【請求項1】第1磁性層と、 第1磁性層のキュリー点TC1より低いキュリー点TC2を
有し、室温における保磁力が室温における第1磁性層の
保磁力より小さく、室温からTC2までの所定の温度範囲
における保磁力が該温度範囲における第1磁性層の保磁
力より大きい第2磁性層とが設けられていることを特徴
とする光磁気記録媒体。 - 【請求項2】請求項1記載の光磁気記録媒体に対して、
照射部位の温度が、第1磁性層の保磁力が第2磁性層の
保磁力より小さくなる温度範囲になる強度を有する光ビ
ームと、照射部位の温度が第1磁性層のキュリー点以上
になる強度を有する光ビームとを照射することによっ
て、情報を記録することを特徴とする光磁気記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19334294A JPH0855374A (ja) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | 光磁気記録媒体および光磁気記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19334294A JPH0855374A (ja) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | 光磁気記録媒体および光磁気記録方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0855374A true JPH0855374A (ja) | 1996-02-27 |
Family
ID=16306307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19334294A Pending JPH0855374A (ja) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | 光磁気記録媒体および光磁気記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0855374A (ja) |
-
1994
- 1994-08-17 JP JP19334294A patent/JPH0855374A/ja active Pending
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