JPH085574A - 投入部品の良否検査装置、およびその検査方法 - Google Patents
投入部品の良否検査装置、およびその検査方法Info
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- JPH085574A JPH085574A JP13901994A JP13901994A JPH085574A JP H085574 A JPH085574 A JP H085574A JP 13901994 A JP13901994 A JP 13901994A JP 13901994 A JP13901994 A JP 13901994A JP H085574 A JPH085574 A JP H085574A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】キャップ内へ投入された部品の損傷の有無、あ
るいはダスト類の付着の有無などの検査を人手によら
ず、機械化または自動化できるようにし、しかもその検
査が正確に行えるようにする。 【構成】キャップCおよびこのキャップC内に投入され
た投入部品m1の平面画像を撮像するためのカメラ4
と、このカメラ4で撮像されたキャップCの画像データ
からそのキャップCの画像の重心を算出するとともに、
この重心を基準として一定の検査領域を設定し、その検
査領域において上記投入部品m1と認識される画像デー
タの占める割合が所定の閾値以下であるときに不良と判
断する良否判定手段6とを備えている。
るいはダスト類の付着の有無などの検査を人手によら
ず、機械化または自動化できるようにし、しかもその検
査が正確に行えるようにする。 【構成】キャップCおよびこのキャップC内に投入され
た投入部品m1の平面画像を撮像するためのカメラ4
と、このカメラ4で撮像されたキャップCの画像データ
からそのキャップCの画像の重心を算出するとともに、
この重心を基準として一定の検査領域を設定し、その検
査領域において上記投入部品m1と認識される画像デー
タの占める割合が所定の閾値以下であるときに不良と判
断する良否判定手段6とを備えている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本願発明は、たとえばカンシール
型半導体レーザの円筒状キャップ内へタブレットやガラ
ス板などの部品を投入した後において、それら投入部品
の損傷の有無、あるいはダスト類の付着の有無などを検
査する場合に用いられる投入部品の良否検査装置、およ
びその検査方法に関する。
型半導体レーザの円筒状キャップ内へタブレットやガラ
ス板などの部品を投入した後において、それら投入部品
の損傷の有無、あるいはダスト類の付着の有無などを検
査する場合に用いられる投入部品の良否検査装置、およ
びその検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえばカンシール型の半導体レーザな
どにおいては、円筒状のキャップ内にレーザダイオード
が密封された構造とされるが、この円筒状キャップに
は、たとえば図9に示すような作業が予め施されるのが
一般的である。
どにおいては、円筒状のキャップ内にレーザダイオード
が密封された構造とされるが、この円筒状キャップに
は、たとえば図9に示すような作業が予め施されるのが
一般的である。
【0003】すなわち、同図に示す作業は、まず円筒状
キャップCの内部に、低融点ガラスなどで形成されたリ
ング状のタブレットm1や、ガラス板m2を各々投入し
た後に、ガラス板m2を上方から加圧させながら、これ
らを焼成炉で加熱するものである。これにより、タブレ
ットm1を溶融させて、このタブレットm1を介してガ
ラス板m2を円筒状キャップCに接着させることがで
き、円筒状キャップCの開口部10をガラス板m2によ
って密閉することができる。
キャップCの内部に、低融点ガラスなどで形成されたリ
ング状のタブレットm1や、ガラス板m2を各々投入し
た後に、ガラス板m2を上方から加圧させながら、これ
らを焼成炉で加熱するものである。これにより、タブレ
ットm1を溶融させて、このタブレットm1を介してガ
ラス板m2を円筒状キャップCに接着させることがで
き、円筒状キャップCの開口部10をガラス板m2によ
って密閉することができる。
【0004】上記のような一連の作業においては、タブ
レットm1やガラス板m2の製造不良、あるいは円筒状
キャップCへの投入時の衝撃などに原因して、これらの
各部品に割れや欠けなどの損傷が生じている場合があ
る。このような損傷が生じている場合には、その損傷に
よって発生したガラス破片などが電子部品に悪影響を与
えるばかりか、たとえばガラス板m2が損傷していると
きには、レーザダイオードからのレーザビームの照射に
不具合を生じる。また、タブレットm1が損傷している
ときには、ガラス板m2の接着力の低下を来たすといっ
た不具合が生じる。さらに、ガラス板m2の表面にダス
ト類が付着している場合には、焼成炉での焼成時にこの
ダスト類がガラス板m2の表面に焼き付きを生じるた
め、やはりレーザビームの照射に不具合を生じる。
レットm1やガラス板m2の製造不良、あるいは円筒状
キャップCへの投入時の衝撃などに原因して、これらの
各部品に割れや欠けなどの損傷が生じている場合があ
る。このような損傷が生じている場合には、その損傷に
よって発生したガラス破片などが電子部品に悪影響を与
えるばかりか、たとえばガラス板m2が損傷していると
きには、レーザダイオードからのレーザビームの照射に
不具合を生じる。また、タブレットm1が損傷している
ときには、ガラス板m2の接着力の低下を来たすといっ
た不具合が生じる。さらに、ガラス板m2の表面にダス
ト類が付着している場合には、焼成炉での焼成時にこの
ダスト類がガラス板m2の表面に焼き付きを生じるた
め、やはりレーザビームの照射に不具合を生じる。
【0005】したがって、円筒状キャップC内へタブレ
ットm1やガラス板m2を投入したときには、それらの
投入が終了した時点で、損傷の有無やダスト類の有無を
検査することが要請される。
ットm1やガラス板m2を投入したときには、それらの
投入が終了した時点で、損傷の有無やダスト類の有無を
検査することが要請される。
【0006】ところが、従来では、タブレットm1やガ
ラス板m2を円筒状キャップC内へ投入する以前の段階
についてはともかく、その投入後において、これら投入
部品についての損傷の有無などの検査を機械化、あるい
は自動化で行う手段は存在しないのが実情であった。そ
こで、従来では、それらの検査を作業員が目視により行
っていた。
ラス板m2を円筒状キャップC内へ投入する以前の段階
についてはともかく、その投入後において、これら投入
部品についての損傷の有無などの検査を機械化、あるい
は自動化で行う手段は存在しないのが実情であった。そ
こで、従来では、それらの検査を作業員が目視により行
っていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の作業員の目
視による検査では、タブレットm1やガラス板m2の微
小な割れや欠け、あるいは微小なダスト類を発見するこ
とは困難である。したがって、実際には割れなどが存在
している場合であっても、これが看過されてしまう事態
が頻繁に生じ、検査の正確性に欠けるという難点があっ
た。また、検査の作業効率も悪く、検査要員として多数
の人手を要するという難点もあった。
視による検査では、タブレットm1やガラス板m2の微
小な割れや欠け、あるいは微小なダスト類を発見するこ
とは困難である。したがって、実際には割れなどが存在
している場合であっても、これが看過されてしまう事態
が頻繁に生じ、検査の正確性に欠けるという難点があっ
た。また、検査の作業効率も悪く、検査要員として多数
の人手を要するという難点もあった。
【0008】本願発明は、このような事情のもとで考え
出されたものであって、キャップ内へ投入された部品の
損傷の有無、あるいはダスト類の付着の有無などの検査
を人手によらず、機械化または自動化できるようにし、
しかもその検査が正確に行えるようにすることをその課
題としている。
出されたものであって、キャップ内へ投入された部品の
損傷の有無、あるいはダスト類の付着の有無などの検査
を人手によらず、機械化または自動化できるようにし、
しかもその検査が正確に行えるようにすることをその課
題としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
め、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
【0010】すなわち、本願の請求項1に記載した発明
は、キャップおよびこのキャップ内に投入された投入部
品の平面画像を撮像するためのカメラと、このカメラで
撮像されたキャップの画像データからそのキャップの画
像の重心を算出するとともに、この重心を基準として一
定の検査領域を設定し、その検査領域において上記投入
部品と認識される画像データの占める割合が所定の閾値
以下であるときに不良と判断する良否判定手段とを備え
ていることを特徴としている。
は、キャップおよびこのキャップ内に投入された投入部
品の平面画像を撮像するためのカメラと、このカメラで
撮像されたキャップの画像データからそのキャップの画
像の重心を算出するとともに、この重心を基準として一
定の検査領域を設定し、その検査領域において上記投入
部品と認識される画像データの占める割合が所定の閾値
以下であるときに不良と判断する良否判定手段とを備え
ていることを特徴としている。
【0011】本願の請求項2に記載した発明は、上記請
求項1の投入部品の良否検査装置において、上記カメラ
は、複数のキャップを縦横に配列したジグを搬送するコ
ンベアの上方に配置されているとともに、このカメラの
下方にそのジグが搬送されてきたときには、ジグ上の各
キャップの上方へ順次移動してその撮像を行うように水
平方向に沿って移動自在に設けられていることを特徴と
している。
求項1の投入部品の良否検査装置において、上記カメラ
は、複数のキャップを縦横に配列したジグを搬送するコ
ンベアの上方に配置されているとともに、このカメラの
下方にそのジグが搬送されてきたときには、ジグ上の各
キャップの上方へ順次移動してその撮像を行うように水
平方向に沿って移動自在に設けられていることを特徴と
している。
【0012】本願の請求項3に記載した発明は、上記請
求項1または2の投入部品の良否検査装置において、上
記良否判定手段によって不良と判断された投入部品をキ
ャップから分離し、またはその投入部品が投入されてい
るキャップと一緒に、その配置箇所から取り出し除去す
るための取出手段が、上記カメラに連動して水平移動す
るように設けられていることを特徴としている。
求項1または2の投入部品の良否検査装置において、上
記良否判定手段によって不良と判断された投入部品をキ
ャップから分離し、またはその投入部品が投入されてい
るキャップと一緒に、その配置箇所から取り出し除去す
るための取出手段が、上記カメラに連動して水平移動す
るように設けられていることを特徴としている。
【0013】本願の請求項4に記載した発明は、上記請
求項1ないし3の何れかの投入部品の良否検査装置にお
いて、上記良否判定手段は、キャップの外径よりも小径
に形成されたキャップの開口部の画像データに基づい
て、キャップの画像の重心の算出処理を実行し、この処
理による重心の算出が不可能なときには、キャップの外
周縁の画像データに基づいて上記重心の算出処理を実行
するように構成されていることを特徴としている。
求項1ないし3の何れかの投入部品の良否検査装置にお
いて、上記良否判定手段は、キャップの外径よりも小径
に形成されたキャップの開口部の画像データに基づい
て、キャップの画像の重心の算出処理を実行し、この処
理による重心の算出が不可能なときには、キャップの外
周縁の画像データに基づいて上記重心の算出処理を実行
するように構成されていることを特徴としている。
【0014】本願の請求項5に記載した発明は、投入部
品の良否検査方法であって、キャップおよびこのキャッ
プ内に投入された投入部品の平面画像をカメラで撮像
し、この撮像によって得られたキャップの画像データか
らそのキャップの画像の重心を算出した後に、この重心
を基準として一定の検査領域を設定し、その後この検査
領域において上記投入部品と認識される画像データが占
める割合を求め、この割合が所定の閾値以下であるとき
には不良と判断することを特徴としている。
品の良否検査方法であって、キャップおよびこのキャッ
プ内に投入された投入部品の平面画像をカメラで撮像
し、この撮像によって得られたキャップの画像データか
らそのキャップの画像の重心を算出した後に、この重心
を基準として一定の検査領域を設定し、その後この検査
領域において上記投入部品と認識される画像データが占
める割合を求め、この割合が所定の閾値以下であるとき
には不良と判断することを特徴としている。
【0015】
【発明の作用および効果】上記請求項1に記載した発明
においては、キャップ内に所望の投入部品を投入した後
に、これらの平面画像をカメラで撮像すると、良否判定
手段は、その円筒状キャップの重心を基準として一定の
検査領域を設定した上で、その検査領域において投入部
品として認識される画像データの占める割合を算出し、
この割合が所定の閾値以下であれば、不良と判断する。
においては、キャップ内に所望の投入部品を投入した後
に、これらの平面画像をカメラで撮像すると、良否判定
手段は、その円筒状キャップの重心を基準として一定の
検査領域を設定した上で、その検査領域において投入部
品として認識される画像データの占める割合を算出し、
この割合が所定の閾値以下であれば、不良と判断する。
【0016】すなわち、検査領域において投入部品の割
れや欠け、あるいはダスト類の付着があると、それに見
合った量だけ投入部品として認識される画像データの占
める割合が減少する。そして、上記の割れや欠け、ある
いはダスト類の存在量が一定の限度を超えると、投入部
品として認識される画像データの占める割合が所定の閾
値以下となり、不良と判断されることとなる。
れや欠け、あるいはダスト類の付着があると、それに見
合った量だけ投入部品として認識される画像データの占
める割合が減少する。そして、上記の割れや欠け、ある
いはダスト類の存在量が一定の限度を超えると、投入部
品として認識される画像データの占める割合が所定の閾
値以下となり、不良と判断されることとなる。
【0017】したがって、投入部品の損傷の有無、ある
いはダスト類の付着の有無などを人手によらず、機械化
または自動化して能率よく判断することができ、しかも
その判断の正確性を高めることができる。その結果、従
来とは異なり、検査人員の削減が図れ、また不良品がそ
のまま看過されてしまうといった不具合を解消すること
ができる効果が得られる。
いはダスト類の付着の有無などを人手によらず、機械化
または自動化して能率よく判断することができ、しかも
その判断の正確性を高めることができる。その結果、従
来とは異なり、検査人員の削減が図れ、また不良品がそ
のまま看過されてしまうといった不具合を解消すること
ができる効果が得られる。
【0018】また、投入部品の割れなどを検査するため
の検査領域は、キャップの画像の重心を基準として設定
しているために、たとえばキャップ内に投入部品が多少
偏って投入されているような場合であっても、そのよう
な偏りに原因して検査領域が不当な箇所に位置ずれする
ようなことも解消でき、キャップとの関係において最も
重要とされる投入部品の箇所を検査領域として設定し、
投入部品の適切な検査が行えるという効果が得られる。
の検査領域は、キャップの画像の重心を基準として設定
しているために、たとえばキャップ内に投入部品が多少
偏って投入されているような場合であっても、そのよう
な偏りに原因して検査領域が不当な箇所に位置ずれする
ようなことも解消でき、キャップとの関係において最も
重要とされる投入部品の箇所を検査領域として設定し、
投入部品の適切な検査が行えるという効果が得られる。
【0019】すなわち、たとえば半導体レーザなどに用
いられるキャップでは、レーザビームの照射位置となる
キャップの中心部においてガラス板の汚れなどが存在し
てはならないが、キャップの画像の重心を基準とすれ
ば、ガラス板の偏りなどに関係なく、レーザビームが照
射されるキャップの中心部を検査領域として適切に設定
することができるなどの効果が得られる。
いられるキャップでは、レーザビームの照射位置となる
キャップの中心部においてガラス板の汚れなどが存在し
てはならないが、キャップの画像の重心を基準とすれ
ば、ガラス板の偏りなどに関係なく、レーザビームが照
射されるキャップの中心部を検査領域として適切に設定
することができるなどの効果が得られる。
【0020】請求項2に記載した発明においては、複数
のキャップを縦横に配列したジグがコンベアによってカ
メラの下方に搬送されてきたときに、カメラを水平方向
に移動させて各キャップの上方へ順次移動させることに
より、各キャップの撮像を行うことができる。したがっ
て、多数のキャップをジグにセットし、これらを順次コ
ンベアで搬送させる作業工程途中において、これら各キ
ャップ内に投入された投入部品の良否検査を自動作業に
よって効率よく行わせることができるという効果が得ら
れる。
のキャップを縦横に配列したジグがコンベアによってカ
メラの下方に搬送されてきたときに、カメラを水平方向
に移動させて各キャップの上方へ順次移動させることに
より、各キャップの撮像を行うことができる。したがっ
て、多数のキャップをジグにセットし、これらを順次コ
ンベアで搬送させる作業工程途中において、これら各キ
ャップ内に投入された投入部品の良否検査を自動作業に
よって効率よく行わせることができるという効果が得ら
れる。
【0021】請求項3に記載した発明においては、良否
判定手段によって不良と判断された投入部品を、キャッ
プから分離して単独で、またはキャップと一緒に、取出
手段によって取り出し、その配置箇所から除去すること
ができる。したがって、不良な投入部品がキャップ内に
投入されているまま、これらが次工程へ搬送されるとい
った不具合を解消することができるという利点が得られ
る。
判定手段によって不良と判断された投入部品を、キャッ
プから分離して単独で、またはキャップと一緒に、取出
手段によって取り出し、その配置箇所から除去すること
ができる。したがって、不良な投入部品がキャップ内に
投入されているまま、これらが次工程へ搬送されるとい
った不具合を解消することができるという利点が得られ
る。
【0022】また、このような不良品の取り出しは、カ
メラによってキャップや投入部品の平面画像を撮像して
いる作業に並行して、能率よく行えるという効果も得ら
れる。
メラによってキャップや投入部品の平面画像を撮像して
いる作業に並行して、能率よく行えるという効果も得ら
れる。
【0023】請求項4に記載した発明においては、良否
判定手段は、少なくともキャップの開口部と外周縁との
何れかの画像データに基づいてキャップの重心を算出す
るので、たとえば投入部品によってキャップの開口部が
隠されていることによってその画像データが得られない
ような場合であっても、外周縁の画像データに基づいて
キャップの重心の算出が適切に行えるという効果が得ら
れる。しかも、その重心の算出に際しては、画像領域が
広いキャップの外周縁の画像データに基づいた重心の算
出処理を優先するのではなく、それよりも画像領域が狭
いキャップの開口部の画像データに基づいた重心の算出
処理を優先して実行するために、画像領域が狭い分だけ
重心の算出に要する演算処理時間を短くすることができ
る。その結果、投入部品の良否判定に要する時間の短縮
化が図れ、検査の高速化が図れるという利点が得られ
る。
判定手段は、少なくともキャップの開口部と外周縁との
何れかの画像データに基づいてキャップの重心を算出す
るので、たとえば投入部品によってキャップの開口部が
隠されていることによってその画像データが得られない
ような場合であっても、外周縁の画像データに基づいて
キャップの重心の算出が適切に行えるという効果が得ら
れる。しかも、その重心の算出に際しては、画像領域が
広いキャップの外周縁の画像データに基づいた重心の算
出処理を優先するのではなく、それよりも画像領域が狭
いキャップの開口部の画像データに基づいた重心の算出
処理を優先して実行するために、画像領域が狭い分だけ
重心の算出に要する演算処理時間を短くすることができ
る。その結果、投入部品の良否判定に要する時間の短縮
化が図れ、検査の高速化が図れるという利点が得られ
る。
【0024】請求項5に記載の発明においては、キャッ
プおよびこのキャップ内に投入された投入部品の平面画
像をカメラで撮像した後に、この撮像によって得られた
画像データに基づいて、キャップの重心の算出、この重
心を基準とした検査領域の設定、およびこの検査領域に
おける投入部品として認識される画像データが占める割
合の算出などを行ってから、その割合が所定の閾値以下
であれば、不良と判断する。したがって、請求項1の発
明について上記したのと同様の効果を期待することがで
きる。
プおよびこのキャップ内に投入された投入部品の平面画
像をカメラで撮像した後に、この撮像によって得られた
画像データに基づいて、キャップの重心の算出、この重
心を基準とした検査領域の設定、およびこの検査領域に
おける投入部品として認識される画像データが占める割
合の算出などを行ってから、その割合が所定の閾値以下
であれば、不良と判断する。したがって、請求項1の発
明について上記したのと同様の効果を期待することがで
きる。
【0025】
【実施例の説明】以下、本願発明の好ましい実施例を、
図面を参照しつつ具体的に説明する。
図面を参照しつつ具体的に説明する。
【0026】なお、本実施例については、たとえば図3
に示すようなシステムに適用される投入部品の良否検査
装置Aa,Abを一例として説明する。
に示すようなシステムに適用される投入部品の良否検査
装置Aa,Abを一例として説明する。
【0027】図3に示すシステムは、コンベア3によっ
て搬送されるパレット2上にカーボン製などのジグ1を
載設し、このジグ1を符号N1からN7に示す各作業工
程へ順次移送させるシステムである。上記コンベア3
は、パレット2をフレーム30,30に沿って間欠移送
するものであり、パレット2を所定の作業位置へ搬送し
たときには、たとえばフレーム30,30に設けられた
凹部31,31へパレット2を嵌入させる等してその位
置決め固定を図るように構成されている。
て搬送されるパレット2上にカーボン製などのジグ1を
載設し、このジグ1を符号N1からN7に示す各作業工
程へ順次移送させるシステムである。上記コンベア3
は、パレット2をフレーム30,30に沿って間欠移送
するものであり、パレット2を所定の作業位置へ搬送し
たときには、たとえばフレーム30,30に設けられた
凹部31,31へパレット2を嵌入させる等してその位
置決め固定を図るように構成されている。
【0028】上記システムでは、従来技術として図9で
説明したのと同様な一連の作業がなされる。すなわち、
コンベア3によるパレット2の搬送経路のうち、符号N
1の箇所では、カンシール型の半導体レーザのレーザダ
イオードの密封に用いられる円筒状キャップCが上下逆
さまにされた状態で、ジグ1の孔部11内に投入され
る。また、符号N2の箇所では、円筒状キャップC内に
リング状のタブレットm1が投入される。さらに、符号
N4の箇所では、円板状のガラス板m2が投入される。
そして、符号N6,N7の箇所では、ジグ1の上に上ジ
グ1Aが載置されて、ガラス板m2が押圧され、この状
態で焼成炉に搬入されて加熱されるように構成されてい
る。
説明したのと同様な一連の作業がなされる。すなわち、
コンベア3によるパレット2の搬送経路のうち、符号N
1の箇所では、カンシール型の半導体レーザのレーザダ
イオードの密封に用いられる円筒状キャップCが上下逆
さまにされた状態で、ジグ1の孔部11内に投入され
る。また、符号N2の箇所では、円筒状キャップC内に
リング状のタブレットm1が投入される。さらに、符号
N4の箇所では、円板状のガラス板m2が投入される。
そして、符号N6,N7の箇所では、ジグ1の上に上ジ
グ1Aが載置されて、ガラス板m2が押圧され、この状
態で焼成炉に搬入されて加熱されるように構成されてい
る。
【0029】本実施例に係る良否検査装置Aa,Abの
うち、一方の良否検査装置Aaは、上記した一連の作業
工程のうち、円筒状キャップC内へタブレットm1が投
入された後の検査を実行するものである。また、他方の
良否検査装置Abは、円筒状キャップC内へガラス板m
2が更に追加して投入された後の検査を実行するもので
ある。
うち、一方の良否検査装置Aaは、上記した一連の作業
工程のうち、円筒状キャップC内へタブレットm1が投
入された後の検査を実行するものである。また、他方の
良否検査装置Abは、円筒状キャップC内へガラス板m
2が更に追加して投入された後の検査を実行するもので
ある。
【0030】まず、本実施例については説明の便宜上、
上記した良否検査装置Aaの構成から説明する。図1は
良否検査装置Aaの一例を示す概略斜視図、図2はその
回路構成の一例を示すブロック図である。
上記した良否検査装置Aaの構成から説明する。図1は
良否検査装置Aaの一例を示す概略斜視図、図2はその
回路構成の一例を示すブロック図である。
【0031】図1において、この良否検査装置Aaは、
上記ジグ1の搬送経路の上方に配置されたカメラ4、こ
のカメラ4の水平移動を行わせるためのカメラ動作機構
部5、およびカメラ4から出力される画像データ信号に
基づいて検査対象物品の良否を判定する良否判定回路6
などを具備して構成されている。また、この良否検査装
置Aaには、円筒状キャップC内に投入されている不良
なタブレットm1を外部に取り出すための取出手段とし
て、ブロアー7の吸気側に接続された吸引ノズル8も具
備されている。
上記ジグ1の搬送経路の上方に配置されたカメラ4、こ
のカメラ4の水平移動を行わせるためのカメラ動作機構
部5、およびカメラ4から出力される画像データ信号に
基づいて検査対象物品の良否を判定する良否判定回路6
などを具備して構成されている。また、この良否検査装
置Aaには、円筒状キャップC内に投入されている不良
なタブレットm1を外部に取り出すための取出手段とし
て、ブロアー7の吸気側に接続された吸引ノズル8も具
備されている。
【0032】上記カメラ4としては、たとえばCCDカ
メラが適用されるが、その下方には同軸落射照明部40
や光学レンズ41が取付けられている。図2に示すよう
に、同軸落射照明部40の光源40aから円筒状キャッ
プCに対してはプリズム40b(またはハーフミラー)
を介して光の照射がなされる。そして、その反射光は、
入射光と同軸となるように反射し、光学レンズ41によ
って集光されてからカメラ4に入射するように構成され
ている。
メラが適用されるが、その下方には同軸落射照明部40
や光学レンズ41が取付けられている。図2に示すよう
に、同軸落射照明部40の光源40aから円筒状キャッ
プCに対してはプリズム40b(またはハーフミラー)
を介して光の照射がなされる。そして、その反射光は、
入射光と同軸となるように反射し、光学レンズ41によ
って集光されてからカメラ4に入射するように構成され
ている。
【0033】このカメラ4からは、円筒状キャップCお
よびこの円筒状キャップC内に投入されているタブレッ
トm1の平面画像の画信号(階調信号)がアナログ信号
で出力されるが、これはA/Dコンバータ42によって
デジタル信号に変換された後に、2値化回路43によっ
て、各画素(ドット)の信号が白または黒のいずれかの
画像データ信号として2値化処理される。
よびこの円筒状キャップC内に投入されているタブレッ
トm1の平面画像の画信号(階調信号)がアナログ信号
で出力されるが、これはA/Dコンバータ42によって
デジタル信号に変換された後に、2値化回路43によっ
て、各画素(ドット)の信号が白または黒のいずれかの
画像データ信号として2値化処理される。
【0034】図4は、上記のようにして2値化処理され
た画像データの一例を示す説明図である(なお、図4以
降の画像の説明図においては、黒色の画像領域をクロス
ハッチングの領域として示す。それ以外の画像領域は白
色の画像領域である)。
た画像データの一例を示す説明図である(なお、図4以
降の画像の説明図においては、黒色の画像領域をクロス
ハッチングの領域として示す。それ以外の画像領域は白
色の画像領域である)。
【0035】図4に示す画像データにおいては、円筒状
キャップCの底面側に位置する円形状の開口部10の領
域、および円筒状キャップCよりも外側のジグ1の領域
の各々が、黒色領域B1,B3となっている。また、タ
ブレットm1は、その色彩が黒色であり、かつその表面
が粗面であることにより、やはり黒色領域B2となって
いる。これに対し、円筒状キャップCは光反射率の高い
金属製であることより、撮像された部分については白色
領域W1,W2となっている。
キャップCの底面側に位置する円形状の開口部10の領
域、および円筒状キャップCよりも外側のジグ1の領域
の各々が、黒色領域B1,B3となっている。また、タ
ブレットm1は、その色彩が黒色であり、かつその表面
が粗面であることにより、やはり黒色領域B2となって
いる。これに対し、円筒状キャップCは光反射率の高い
金属製であることより、撮像された部分については白色
領域W1,W2となっている。
【0036】上記良否判定回路6は、上記図4で示した
ような画像データに基づいてタブレットm1の良否を判
断するものであり、CPUなどで構成することができる
が、図2に示すように、重心算出部60、検査領域設定
部61、割合演算部62、比較回路63、閾値設定部6
4、および信号出力回路65などを具備して構成されて
いる。
ような画像データに基づいてタブレットm1の良否を判
断するものであり、CPUなどで構成することができる
が、図2に示すように、重心算出部60、検査領域設定
部61、割合演算部62、比較回路63、閾値設定部6
4、および信号出力回路65などを具備して構成されて
いる。
【0037】上記重心算出部60は、2値化回路43か
ら受信した画像データに基づき、円筒状キャップCの画
像の重心Gを算出するものである。すなわち、図4で示
した画像データを一例として説明すると、この重心算出
部60は、まず上記画像データのうち、最も小径で、か
つ連続した黒色領域B1、すなわち円筒状キャップCの
開口部10に相当する領域のx方向とy方向の各々の最
大長x1,y1を求める。そして、この黒色領域B1が
正確な円であれば、一定の許容範囲内でx1=y1とな
る筈であるから、その条件が成立するときには、これら
x1,y1の長さ領域の(x1/2,y1/2)の座標
地点を円筒状キャップCの重心Gとして特定する。
ら受信した画像データに基づき、円筒状キャップCの画
像の重心Gを算出するものである。すなわち、図4で示
した画像データを一例として説明すると、この重心算出
部60は、まず上記画像データのうち、最も小径で、か
つ連続した黒色領域B1、すなわち円筒状キャップCの
開口部10に相当する領域のx方向とy方向の各々の最
大長x1,y1を求める。そして、この黒色領域B1が
正確な円であれば、一定の許容範囲内でx1=y1とな
る筈であるから、その条件が成立するときには、これら
x1,y1の長さ領域の(x1/2,y1/2)の座標
地点を円筒状キャップCの重心Gとして特定する。
【0038】これに対し、たとえば図5に示すように、
タブレットm1の中心が円筒状キャップCの中心に対し
て寸法Sだけ偏心し、タブレットm1の一部が、円筒状
キャップCの開口部10の内側へ適宜寸法S1だけはみ
出しているような場合には、上記した手法では重心Gを
求めることはできない。この場合には、図6に示すよう
に、黒色領域B1,B2が互いに接触してしまうことに
より、最少領域としての黒色領域B1,B2のx方向の
最大長x2と、y方向の最大長y2とでは、x2≠y2
となり、それらの値の差が大きくなる。したがって、こ
れでは正確に円筒状キャップCの重心Gを求めることが
できない。
タブレットm1の中心が円筒状キャップCの中心に対し
て寸法Sだけ偏心し、タブレットm1の一部が、円筒状
キャップCの開口部10の内側へ適宜寸法S1だけはみ
出しているような場合には、上記した手法では重心Gを
求めることはできない。この場合には、図6に示すよう
に、黒色領域B1,B2が互いに接触してしまうことに
より、最少領域としての黒色領域B1,B2のx方向の
最大長x2と、y方向の最大長y2とでは、x2≠y2
となり、それらの値の差が大きくなる。したがって、こ
れでは正確に円筒状キャップCの重心Gを求めることが
できない。
【0039】このため、上記のような場合には、重心算
出部60は、第2回目の演算処理として、円筒状キャッ
プCの外周縁の画像データに基づいて重心Gを求める処
理を実行する。すなわち、たとえば図6で示した画像デ
ータにおいては、円筒状キャップCに相当する白色領域
W2のx,y両方向の最大長x3,y3を求める。この
ように円筒状キャップCの外周縁の画像データに基づい
て重心Gを求める方法では、x3,y3の値がタブレッ
トm1の投入具合によって変動するといったことはない
から、常に、一定の許容範囲内で、x3=y3の関係が
成立する。したがって、この場合には、重心算出部60
は、これらx3,y3の長さ領域の(x3/2,y3/
2)の座標地点を円筒状キャップCの重心Gとして特定
するように構成されている。
出部60は、第2回目の演算処理として、円筒状キャッ
プCの外周縁の画像データに基づいて重心Gを求める処
理を実行する。すなわち、たとえば図6で示した画像デ
ータにおいては、円筒状キャップCに相当する白色領域
W2のx,y両方向の最大長x3,y3を求める。この
ように円筒状キャップCの外周縁の画像データに基づい
て重心Gを求める方法では、x3,y3の値がタブレッ
トm1の投入具合によって変動するといったことはない
から、常に、一定の許容範囲内で、x3=y3の関係が
成立する。したがって、この場合には、重心算出部60
は、これらx3,y3の長さ領域の(x3/2,y3/
2)の座標地点を円筒状キャップCの重心Gとして特定
するように構成されている。
【0040】上記検査領域設定部61は、重心算出部6
0で算出された重心Gを基準として検査領域となる画像
領域を設定するものである。具体的には、図4におい
て、2種類の一点鎖線の円として示すように、重心Gか
ら半径R1,R2の円周に相当する複数の画素(ドッ
ト)の画像データを、検査領域として設定する。これら
半径R1,R2の値は、リング状のタブレットm1の内
径、外径、およびタブレットm1が円筒状キャップC内
で位置ずれする最大寸法などを考慮し、これら半径R
1,R2の2つの円周がタブレットm1の画像領域B2
よりも外側へはみ出さないように予め考慮して設定され
た数値である。
0で算出された重心Gを基準として検査領域となる画像
領域を設定するものである。具体的には、図4におい
て、2種類の一点鎖線の円として示すように、重心Gか
ら半径R1,R2の円周に相当する複数の画素(ドッ
ト)の画像データを、検査領域として設定する。これら
半径R1,R2の値は、リング状のタブレットm1の内
径、外径、およびタブレットm1が円筒状キャップC内
で位置ずれする最大寸法などを考慮し、これら半径R
1,R2の2つの円周がタブレットm1の画像領域B2
よりも外側へはみ出さないように予め考慮して設定され
た数値である。
【0041】上記割合演算部62は、上記検査領域設定
部61で設定された検査領域の画像データのうち、タブ
レットm1と認識される画像データが占める割合を演算
して算出するものである。具体的には、図4に示す画像
データにおいては、タブレットm1は黒色の画像データ
として認識されるのに対し、タブレットm1の割れや欠
けなどは白色の画像データとして認識される。そこで、
この割合演算部62では、半径R1,R2の各円周上の
全画素数のうち、黒色の画素の数、あるいはそれとは逆
に白色の画素の数を算出することにより、検査領域にお
ける全画素数に占める黒色の画素数の割合を求めるよう
に構成されている。
部61で設定された検査領域の画像データのうち、タブ
レットm1と認識される画像データが占める割合を演算
して算出するものである。具体的には、図4に示す画像
データにおいては、タブレットm1は黒色の画像データ
として認識されるのに対し、タブレットm1の割れや欠
けなどは白色の画像データとして認識される。そこで、
この割合演算部62では、半径R1,R2の各円周上の
全画素数のうち、黒色の画素の数、あるいはそれとは逆
に白色の画素の数を算出することにより、検査領域にお
ける全画素数に占める黒色の画素数の割合を求めるよう
に構成されている。
【0042】比較回路63は、上記割合演算部62で算
出された割合の値を、閾値設定部64に予め設定されて
いる閾値と比較し、割合演算部62で算出された割合の
数値が所定の閾値よりも小さいときには、タブレットm
1が不良であると判定し、その旨の信号を信号出力回路
65へ出力する回路である。このときには、信号出力回
路65からはタブレットm1が不良である旨の所定の信
号が外部へ出力される。
出された割合の値を、閾値設定部64に予め設定されて
いる閾値と比較し、割合演算部62で算出された割合の
数値が所定の閾値よりも小さいときには、タブレットm
1が不良であると判定し、その旨の信号を信号出力回路
65へ出力する回路である。このときには、信号出力回
路65からはタブレットm1が不良である旨の所定の信
号が外部へ出力される。
【0043】これに対し、割合演算部62で算出された
割合の数値が所定の閾値よりも大きいときには、タブレ
ットm1が良であると判定し、比較回路63から信号出
力回路65に対しては何ら特別な信号を出力しない。た
だし、タブレットm1が不良であると判定した場合とは
異なる信号を出力させることにより、信号出力回路65
からタブレットm1が良である旨の信号を信号出力回路
65から積極的に出力させるようにしても構わない。タ
ブレットm1が良か不良かの信号は、たとえば監視盤な
どへ適宜送信することにより、この検査装置Aaによる
検査状況をオペレータなどが監視できるように構成する
ことができる。
割合の数値が所定の閾値よりも大きいときには、タブレ
ットm1が良であると判定し、比較回路63から信号出
力回路65に対しては何ら特別な信号を出力しない。た
だし、タブレットm1が不良であると判定した場合とは
異なる信号を出力させることにより、信号出力回路65
からタブレットm1が良である旨の信号を信号出力回路
65から積極的に出力させるようにしても構わない。タ
ブレットm1が良か不良かの信号は、たとえば監視盤な
どへ適宜送信することにより、この検査装置Aaによる
検査状況をオペレータなどが監視できるように構成する
ことができる。
【0044】図1において、カメラ動作機構部5は、カ
メラ4を支持するアーム51の基台52をX方向へスラ
イドさせるテーブル53や、このテーブル53をY方向
へスライドさせるテーブル54などを具備するものであ
る。これらの各部は、たとえばサーボモータを用いたラ
ックピニオン機構など(図示略)によって往復動自在に
設けられており、これによりカメラ4はX,Y方向の二
次面方向へ水平移動自在である。このカメラ動作機構部
5の具体的な動作は、カメラ移動動作制御回路50によ
って制御されており、ジグ1にセットされた複数の円筒
状キャップCの全てをカメラ4によって1つずつ所定の
順序で撮像できるように制御される。
メラ4を支持するアーム51の基台52をX方向へスラ
イドさせるテーブル53や、このテーブル53をY方向
へスライドさせるテーブル54などを具備するものであ
る。これらの各部は、たとえばサーボモータを用いたラ
ックピニオン機構など(図示略)によって往復動自在に
設けられており、これによりカメラ4はX,Y方向の二
次面方向へ水平移動自在である。このカメラ動作機構部
5の具体的な動作は、カメラ移動動作制御回路50によ
って制御されており、ジグ1にセットされた複数の円筒
状キャップCの全てをカメラ4によって1つずつ所定の
順序で撮像できるように制御される。
【0045】上記吸引ノズル8は、カメラ4に連結され
た同軸落射照明部40の一側部に取付けられており、こ
れによってカメラ4に連動して水平移動するようになっ
ている。この吸引ノズル8は、その下端部の吸引口80
が下向きに設けられており、カメラ4で所望の円筒状キ
ャップCおよびその内部のタブレットm1を撮像してい
る際に、その撮像箇所とは異なる箇所に存在するタブレ
ットm1をブロアー7の吸引力によって吸引し、円筒状
キャップCの外部へ取り出すことができるように設けら
れている。なお、このようにして吸引されたタブレット
m1は、吸引ノズル8とブロアー7とを接続するエア配
管81の途中に設けられたフィルター82を備えた不良
部品捕捉部83に捕捉されるようになっている。
た同軸落射照明部40の一側部に取付けられており、こ
れによってカメラ4に連動して水平移動するようになっ
ている。この吸引ノズル8は、その下端部の吸引口80
が下向きに設けられており、カメラ4で所望の円筒状キ
ャップCおよびその内部のタブレットm1を撮像してい
る際に、その撮像箇所とは異なる箇所に存在するタブレ
ットm1をブロアー7の吸引力によって吸引し、円筒状
キャップCの外部へ取り出すことができるように設けら
れている。なお、このようにして吸引されたタブレット
m1は、吸引ノズル8とブロアー7とを接続するエア配
管81の途中に設けられたフィルター82を備えた不良
部品捕捉部83に捕捉されるようになっている。
【0046】また、上記吸引ノズル8によるタブレット
m1の取り出しは、エア配管81に設けられた開閉バル
ブ84が開となったときにのみ実行され、そのタイミン
グは不良部品取出制御回路9によって制御されるように
構成されている。
m1の取り出しは、エア配管81に設けられた開閉バル
ブ84が開となったときにのみ実行され、そのタイミン
グは不良部品取出制御回路9によって制御されるように
構成されている。
【0047】すなわち、不良部品取出制御回路9は、た
とえば図2に示すように、不良箇所のアドレス判断記憶
部90とバルブ制御回路91とから構成されている。ア
ドレス判断記憶部90は、たとえば良否判定回路6から
不良の旨の信号を受信した時期と、そのときにカメラ移
動動作制御回路50から送信されてきたカメラ4のアド
レスデータ(撮像箇所のアドレスデータ)に基づいて、
タブレットm1が不良である箇所のアドレスを判断し、
そのアドレスを記憶するものである。そして、この不良
箇所のアドレス判断記憶部90は、その後カメラ移動動
作制御回路50から順次送信されてくる撮像箇所のアド
レスデータに基づいて、現時点における吸引ノズル8の
アドレスを判断し、この吸引ノズル8のアドレスが先に
記憶している不良箇所のアドレスと一致すれば、その時
点で開閉バルブ84を開にするようにバルブ制御回路9
1を駆動制御するように構成されている。
とえば図2に示すように、不良箇所のアドレス判断記憶
部90とバルブ制御回路91とから構成されている。ア
ドレス判断記憶部90は、たとえば良否判定回路6から
不良の旨の信号を受信した時期と、そのときにカメラ移
動動作制御回路50から送信されてきたカメラ4のアド
レスデータ(撮像箇所のアドレスデータ)に基づいて、
タブレットm1が不良である箇所のアドレスを判断し、
そのアドレスを記憶するものである。そして、この不良
箇所のアドレス判断記憶部90は、その後カメラ移動動
作制御回路50から順次送信されてくる撮像箇所のアド
レスデータに基づいて、現時点における吸引ノズル8の
アドレスを判断し、この吸引ノズル8のアドレスが先に
記憶している不良箇所のアドレスと一致すれば、その時
点で開閉バルブ84を開にするようにバルブ制御回路9
1を駆動制御するように構成されている。
【0048】次に、上記した良否検査装置Aaを用いて
の本願発明に係る投入部品の良否検査方法の一例につい
て説明する。
の本願発明に係る投入部品の良否検査方法の一例につい
て説明する。
【0049】まず、図1において、円筒状キャップC内
にタブレットm1を投入したジグ1がカメラ4の下方に
搬送されて停止されると、カメラ動作機構部5を作動さ
せ、ジグ1にセットされた複数の円筒状キャップCおよ
びその内部のタブレットm1の各平面画像を順次カメラ
4で撮像させてゆく。
にタブレットm1を投入したジグ1がカメラ4の下方に
搬送されて停止されると、カメラ動作機構部5を作動さ
せ、ジグ1にセットされた複数の円筒状キャップCおよ
びその内部のタブレットm1の各平面画像を順次カメラ
4で撮像させてゆく。
【0050】これにより、たとえば図4または図6で示
したような画像データが得られるが、この画像データに
基づいて良否判定回路6の重心算出部60は、円筒状キ
ャップCの画像の重心Gを算出する。この重心Gの算出
に際しては、まず図4で示したように、円筒状キャップ
Cの開口部10に相当する黒色領域B1の最大長x1,
y1を求める。そして、一定の許容範囲でx1=y1の
関係が成立すれば、これらx1,y1の数値に基づいて
円筒状キャップCの重心Gを決定する。
したような画像データが得られるが、この画像データに
基づいて良否判定回路6の重心算出部60は、円筒状キ
ャップCの画像の重心Gを算出する。この重心Gの算出
に際しては、まず図4で示したように、円筒状キャップ
Cの開口部10に相当する黒色領域B1の最大長x1,
y1を求める。そして、一定の許容範囲でx1=y1の
関係が成立すれば、これらx1,y1の数値に基づいて
円筒状キャップCの重心Gを決定する。
【0051】また、上記とは異なり、図5および図6で
示したように、円筒状キャップCに対してタブレットm
1が一定寸法以上偏心して投入されている場合には、x
1≠y1となるが、この場合には、その後円筒状キャッ
プCの外周縁に相当する白色領域W2の最大長x3,y
3に基づいて重心Gを求める。
示したように、円筒状キャップCに対してタブレットm
1が一定寸法以上偏心して投入されている場合には、x
1≠y1となるが、この場合には、その後円筒状キャッ
プCの外周縁に相当する白色領域W2の最大長x3,y
3に基づいて重心Gを求める。
【0052】このように、円筒状キャップCの重心の算
出方法としては、2通りの方法があるが、白色領域W2
より面積の小さい黒色領域B1に基づく演算処理を先に
実行すれば、それだけ画像処理を行う画像データ数が少
なくて済むため、重心Gを求める演算処理を迅速に行う
ことができる。また、仮に黒色領域B1に基づいて重心
Gを適切に算出できなくても、この場合には第2回目の
白色領域W2に基づいた演算処理によって確実に重心G
の算出が行えるので、何ら不具合はない。
出方法としては、2通りの方法があるが、白色領域W2
より面積の小さい黒色領域B1に基づく演算処理を先に
実行すれば、それだけ画像処理を行う画像データ数が少
なくて済むため、重心Gを求める演算処理を迅速に行う
ことができる。また、仮に黒色領域B1に基づいて重心
Gを適切に算出できなくても、この場合には第2回目の
白色領域W2に基づいた演算処理によって確実に重心G
の算出が行えるので、何ら不具合はない。
【0053】次いで、上記のようにして円筒状キャップ
Cの画像の重心Gを算出した後には、検査領域設定部6
1によって、たとえば図4で示した所定の半径R1,R
2の円周上の領域を検査領域として設定する。そして、
割合演算部62によって、その検査領域の全画素数にお
ける白画素または黒画素の割合を算出させる。
Cの画像の重心Gを算出した後には、検査領域設定部6
1によって、たとえば図4で示した所定の半径R1,R
2の円周上の領域を検査領域として設定する。そして、
割合演算部62によって、その検査領域の全画素数にお
ける白画素または黒画素の割合を算出させる。
【0054】タブレットm1は黒色の画像となるから、
このタブレットm1に割れや欠けが存在しない場合に
は、上記半径R1,R2の円周上の画素は全て黒色の画
素となる。そして、この場合には、タブレットm1と認
識される黒画素の割合が所定の閾値以上となるから、こ
の場合には信号出力回路65から不良である旨の信号出
力は行われない。
このタブレットm1に割れや欠けが存在しない場合に
は、上記半径R1,R2の円周上の画素は全て黒色の画
素となる。そして、この場合には、タブレットm1と認
識される黒画素の割合が所定の閾値以上となるから、こ
の場合には信号出力回路65から不良である旨の信号出
力は行われない。
【0055】これに対し、上記半径R1,R2の円周上
の画素に白色の画素が一定量以上含まれ、タブレットm
1と認識される黒画素の割合が所定の閾値以下となった
場合には、信号出力回路65からタブレットm1が不良
である旨の信号出力がなされる。すなわち、タブレット
m1の外周縁や内周縁に割れや欠けが存在する場合に
は、これらの部位は白色の画像となっており、この白色
の画像分だけタブレットm1と認識される黒画素の割合
が減少するため、この割合が所定の閾値以下となった場
合には、タブレットm1が不良である旨が適切に判断さ
れる。
の画素に白色の画素が一定量以上含まれ、タブレットm
1と認識される黒画素の割合が所定の閾値以下となった
場合には、信号出力回路65からタブレットm1が不良
である旨の信号出力がなされる。すなわち、タブレット
m1の外周縁や内周縁に割れや欠けが存在する場合に
は、これらの部位は白色の画像となっており、この白色
の画像分だけタブレットm1と認識される黒画素の割合
が減少するため、この割合が所定の閾値以下となった場
合には、タブレットm1が不良である旨が適切に判断さ
れる。
【0056】また、上記のように2つの半径R1,R2
の各円周上の領域を検査領域として設定すれば、リング
状のタブレットm1として最も割れや欠けが発生し易い
タブレットm1の外周縁付近と内周縁付近を重点的に検
査することができ、その検査効率が良好となる。さら
に、検査対象となる画像データは、半径R1,R2の各
円周上に位置する画素の画像データでよいから、たとえ
ばタブレットm1の全域を検査対象にする場合に比較す
ると、検査対象となる画像データの数量を非常に少なく
でき、良否判定を高速で行うことができる利点も得られ
る。
の各円周上の領域を検査領域として設定すれば、リング
状のタブレットm1として最も割れや欠けが発生し易い
タブレットm1の外周縁付近と内周縁付近を重点的に検
査することができ、その検査効率が良好となる。さら
に、検査対象となる画像データは、半径R1,R2の各
円周上に位置する画素の画像データでよいから、たとえ
ばタブレットm1の全域を検査対象にする場合に比較す
ると、検査対象となる画像データの数量を非常に少なく
でき、良否判定を高速で行うことができる利点も得られ
る。
【0057】さらに、上記のような良否検査の結果、不
良と判断されたタブレットm1のアドレスは不良部品取
出制御回路9の不良箇所のアドレス判断記憶部90に記
憶される。そして、カメラ4が順次移動して他の円筒状
キャップCおよびその内部のタブレットm1の撮像を行
っている際において、吸引ノズル8のアドレスが上記不
良なタブレットm1のアドレスに一致したときには、不
良部品取出制御回路9の制御によって開閉バルブ84が
一時的に開とされる。
良と判断されたタブレットm1のアドレスは不良部品取
出制御回路9の不良箇所のアドレス判断記憶部90に記
憶される。そして、カメラ4が順次移動して他の円筒状
キャップCおよびその内部のタブレットm1の撮像を行
っている際において、吸引ノズル8のアドレスが上記不
良なタブレットm1のアドレスに一致したときには、不
良部品取出制御回路9の制御によって開閉バルブ84が
一時的に開とされる。
【0058】これにより、不良なタブレットm1は吸引
ノズル8によって円筒状キャップCの外部へ取り出さ
れ、除去される。したがって、不良なタブレットm1が
投入されたままその円筒状キャップCが次の工程位置へ
不当に搬送されるといった不具合がなくなる。このよう
な不良なタブレットm1の取り出し作業は、カメラ4で
他のタブレットm1や円筒状キャップCの撮像を行って
いるときに行えるので、作業効率も良好となる。
ノズル8によって円筒状キャップCの外部へ取り出さ
れ、除去される。したがって、不良なタブレットm1が
投入されたままその円筒状キャップCが次の工程位置へ
不当に搬送されるといった不具合がなくなる。このよう
な不良なタブレットm1の取り出し作業は、カメラ4で
他のタブレットm1や円筒状キャップCの撮像を行って
いるときに行えるので、作業効率も良好となる。
【0059】なお、上記吸引ノズル8は、不良なタブレ
ットm1を円筒状キャップCの外部へ吸引するだけでは
なく、円筒状キャップCも一緒に吸引し、ジグ1上から
排除させてもよい。タブレットm1を単独で排除する
か、あるいは円筒状キャップCも排除するかは、吸引ノ
ズル8の吸引口80の開口径を円筒状キャップCの外径
よりも大きくするか否かの設定によって任意に選択可能
である。
ットm1を円筒状キャップCの外部へ吸引するだけでは
なく、円筒状キャップCも一緒に吸引し、ジグ1上から
排除させてもよい。タブレットm1を単独で排除する
か、あるいは円筒状キャップCも排除するかは、吸引ノ
ズル8の吸引口80の開口径を円筒状キャップCの外径
よりも大きくするか否かの設定によって任意に選択可能
である。
【0060】次に、図3で示した他方の投入部品の良否
検査装置Abについて説明する。
検査装置Abについて説明する。
【0061】この良否検査装置Abは、その基本的な構
成は、上述した一方の良否検査装置Aaと共通する。し
かし、この良否検査装置Abは、図7に示すように、円
筒状キャップC内のタブレットm1の上側へ投入された
円板状のガラス板m2を検査対象とするため、次のよう
に上記良否検査装置Aaとは一部異なる構成となってい
る。
成は、上述した一方の良否検査装置Aaと共通する。し
かし、この良否検査装置Abは、図7に示すように、円
筒状キャップC内のタブレットm1の上側へ投入された
円板状のガラス板m2を検査対象とするため、次のよう
に上記良否検査装置Aaとは一部異なる構成となってい
る。
【0062】すなわち、この良否検査装置Abについ
て、便宜上、図1および図2を援用して説明すると、こ
の良否検査装置Abでは、カメラ4で円筒状キャップC
およびこの円筒状キャップC内に投入されたガラス板m
2を撮像すると、たとえば図8に示すような2値化画像
が得られる。
て、便宜上、図1および図2を援用して説明すると、こ
の良否検査装置Abでは、カメラ4で円筒状キャップC
およびこの円筒状キャップC内に投入されたガラス板m
2を撮像すると、たとえば図8に示すような2値化画像
が得られる。
【0063】同図に示す画像においては、ガラス板m2
が白色領域W3となり、このガラス板m2と円筒状キャ
ップCとの隙間が黒色領域B4となっている。また、円
筒状キャップCの外周縁などの他の部位は白色領域W4
となり、この円筒状キャップCの外側は黒色領域B5と
なっている。
が白色領域W3となり、このガラス板m2と円筒状キャ
ップCとの隙間が黒色領域B4となっている。また、円
筒状キャップCの外周縁などの他の部位は白色領域W4
となり、この円筒状キャップCの外側は黒色領域B5と
なっている。
【0064】上記のような画像データでは、円筒状キャ
ップCの開口部10がガラス板m2によって覆われてい
るため、その開口部10を撮像画像として認識すること
はできない。したがって、この良否検査装置Abにおけ
る重心算出部60は、2値化回路43から受信した画像
データのうち、円筒状キャップCの外周縁に相当する白
色領域W4に基づいて円筒状キャップCの重心Gを算出
するように構成されている。この重心Gの具体的な算出
方法は、良否検査装置Aaの場合について先に説明した
のと同様であり、白色領域W4の最大長x3,y3を求
めることによって算出することができる。
ップCの開口部10がガラス板m2によって覆われてい
るため、その開口部10を撮像画像として認識すること
はできない。したがって、この良否検査装置Abにおけ
る重心算出部60は、2値化回路43から受信した画像
データのうち、円筒状キャップCの外周縁に相当する白
色領域W4に基づいて円筒状キャップCの重心Gを算出
するように構成されている。この重心Gの具体的な算出
方法は、良否検査装置Aaの場合について先に説明した
のと同様であり、白色領域W4の最大長x3,y3を求
めることによって算出することができる。
【0065】また、この良否検査装置Abでは、ガラス
板m2の割れや欠けなどの検査のみならず、その表面に
ダスト類が付着しているか否かの検査をも行えるように
構成されている。具体的には、図2で示した検査領域設
定部61は、図8に示す画像データにおいて、円筒状キ
ャップCの重心Gを中心とする半径R3の円周上の領域
の他、この円周に内接する正方形の領域Dをも検査対象
として設定するように構成されている。そして、割合演
算部62は、上記した半径R3の円周上の領域において
ガラス板m2として認識される白色の画像データが占め
る割合を算出するとともに、上記した正方形の領域Dに
おいてガラス板m2として認識される白色の画像データ
が占める割合も算出するように構成されている。
板m2の割れや欠けなどの検査のみならず、その表面に
ダスト類が付着しているか否かの検査をも行えるように
構成されている。具体的には、図2で示した検査領域設
定部61は、図8に示す画像データにおいて、円筒状キ
ャップCの重心Gを中心とする半径R3の円周上の領域
の他、この円周に内接する正方形の領域Dをも検査対象
として設定するように構成されている。そして、割合演
算部62は、上記した半径R3の円周上の領域において
ガラス板m2として認識される白色の画像データが占め
る割合を算出するとともに、上記した正方形の領域Dに
おいてガラス板m2として認識される白色の画像データ
が占める割合も算出するように構成されている。
【0066】比較回路63では、上記のようにして算出
された2種類の割合の値が予め個別に設定された2種類
の閾値と各々比較される。そして、これらの比較の結
果、2種類の割合の値が何れも閾値を超えている場合に
は、信号出力回路65から不良の旨の信号は出力され
ず、2種類の割合の双方または何れか一方が閾値以下で
ある場合には信号出力回路65から不良の旨の信号出力
がなされるように構成されている。
された2種類の割合の値が予め個別に設定された2種類
の閾値と各々比較される。そして、これらの比較の結
果、2種類の割合の値が何れも閾値を超えている場合に
は、信号出力回路65から不良の旨の信号は出力され
ず、2種類の割合の双方または何れか一方が閾値以下で
ある場合には信号出力回路65から不良の旨の信号出力
がなされるように構成されている。
【0067】上記した構成の良否検査装置Abでは、図
7で示した円筒状キャップCおよびガラス板m2の平面
画像をカメラ4で撮像し、その良否を良否判定回路6で
判定させる場合において、そのガラス板m2に割れや欠
けがあると、それらの部分が黒色の画像データとして認
識される。したがって、ガラス板m2の外周縁に割れや
欠けがあった場合には、重心Gから半径R3の円周上に
おいて白色の画像データが占める割合が減少し、所定の
閾値以下となる。よって、この場合には良否判定回路6
でガラス板m2が不良であると判定され、その信号出力
回路65から不良の旨の信号出力がなされる。
7で示した円筒状キャップCおよびガラス板m2の平面
画像をカメラ4で撮像し、その良否を良否判定回路6で
判定させる場合において、そのガラス板m2に割れや欠
けがあると、それらの部分が黒色の画像データとして認
識される。したがって、ガラス板m2の外周縁に割れや
欠けがあった場合には、重心Gから半径R3の円周上に
おいて白色の画像データが占める割合が減少し、所定の
閾値以下となる。よって、この場合には良否判定回路6
でガラス板m2が不良であると判定され、その信号出力
回路65から不良の旨の信号出力がなされる。
【0068】また、仮にガラス板m2に割れや欠けが存
在しない場合であっても、正方形の領域Dにダスト類が
付着していると、この部分がやはり黒色の画像として認
識されるので、この領域Dにおいて白色の画像データが
占める割合が減少し、所定の閾値以下となる。したがっ
て、この場合においても、やはり良否判定回路6ではガ
ラス板m2が不良であると判定され、信号出力回路65
から不良の旨の信号出力がなされる。
在しない場合であっても、正方形の領域Dにダスト類が
付着していると、この部分がやはり黒色の画像として認
識されるので、この領域Dにおいて白色の画像データが
占める割合が減少し、所定の閾値以下となる。したがっ
て、この場合においても、やはり良否判定回路6ではガ
ラス板m2が不良であると判定され、信号出力回路65
から不良の旨の信号出力がなされる。
【0069】このようにして不良と判定されたガラス板
m2は、その後他のガラス板m2が検査されているとき
に吸引ノズル8によって吸引されて円筒状キャップCか
ら取り出されて、廃棄処理される。なお、その際、その
円筒状キャップC内に先に投入されているタブレットm
1がガラス板m2と一緒に吸引ノズル8に吸引されても
何ら支障はない。また、円筒状キャップCを一緒に吸引
ノズル8で吸引しても構わない。
m2は、その後他のガラス板m2が検査されているとき
に吸引ノズル8によって吸引されて円筒状キャップCか
ら取り出されて、廃棄処理される。なお、その際、その
円筒状キャップC内に先に投入されているタブレットm
1がガラス板m2と一緒に吸引ノズル8に吸引されても
何ら支障はない。また、円筒状キャップCを一緒に吸引
ノズル8で吸引しても構わない。
【0070】一方、上記とは異なり、ガラス板m2に割
れや欠けがなく、またダスト類の付着もない場合には、
上記した検査領域に黒色の画像データは存在せず、各検
査領域における白色の画像データが占める割合は所定の
閾値を超える。したがって、この場合においては、良否
判定回路6はガラス板m2が良であると判定する。
れや欠けがなく、またダスト類の付着もない場合には、
上記した検査領域に黒色の画像データは存在せず、各検
査領域における白色の画像データが占める割合は所定の
閾値を超える。したがって、この場合においては、良否
判定回路6はガラス板m2が良であると判定する。
【0071】また、ガラス板m2にダスト類が付着して
いる場合において、そのダスト類の付着箇所が、検査領
域Dの外側(たとえは図8のQで示す箇所)である場合
があるが、この場合にも良否判定回路6はガラス板m2
が良であると判定する。検査領域Dは、この円筒状キャ
ップC内にレーザダイオードを密封させた場合におい
て、このレーザダイオードから照射されるレーザビーム
が通過する最大領域(一般には円筒状キャップCの開口
部10の中心部付近)を考慮して決定されるべき領域で
ある。したがって、検査領域Dの外部にダスト類が多少
付着していても、レーザビームの照射には何ら支障は生
じないため、これを良として判断しても何ら不具合はな
い。
いる場合において、そのダスト類の付着箇所が、検査領
域Dの外側(たとえは図8のQで示す箇所)である場合
があるが、この場合にも良否判定回路6はガラス板m2
が良であると判定する。検査領域Dは、この円筒状キャ
ップC内にレーザダイオードを密封させた場合におい
て、このレーザダイオードから照射されるレーザビーム
が通過する最大領域(一般には円筒状キャップCの開口
部10の中心部付近)を考慮して決定されるべき領域で
ある。したがって、検査領域Dの外部にダスト類が多少
付着していても、レーザビームの照射には何ら支障は生
じないため、これを良として判断しても何ら不具合はな
い。
【0072】なお、ガラス板m2へのダスト類の付着を
判断するための検査領域を単純な正方形の形状の領域D
とすれば、この検査領域を設定するための画像データの
演算処理が容易となる。すなわち、たとえば円状の領域
を検査領域として設定する場合に比較するとかなり容易
となり、演算処理が容易となる利点が得られる。ただ
し、本願発明はこれに限定されず、たとえば重心Gを中
心とする円の領域を検査領域としてもよいことは勿論で
あり、あるいはそれ以外の形状の図形領域を検査領域と
してもよい。
判断するための検査領域を単純な正方形の形状の領域D
とすれば、この検査領域を設定するための画像データの
演算処理が容易となる。すなわち、たとえば円状の領域
を検査領域として設定する場合に比較するとかなり容易
となり、演算処理が容易となる利点が得られる。ただ
し、本願発明はこれに限定されず、たとえば重心Gを中
心とする円の領域を検査領域としてもよいことは勿論で
あり、あるいはそれ以外の形状の図形領域を検査領域と
してもよい。
【0073】上記した各実施例では、カンシール型半導
体レーザに適用される円筒状キャップC内に投入された
タブレットm1やガラス板m2を検査対象とした場合に
ついて説明したが、本願発明は決してこれに限定されな
い。本願発明の検査対象となる投入部品およびこの投入
部品が投入されるキャップの具体的な種類は一切限定さ
れない。また、キャップも円筒状キャップに限定され
ず、たとえば角筒状のキャップに投入された投入部品の
良否検査にも適用できることは言うまでもない。
体レーザに適用される円筒状キャップC内に投入された
タブレットm1やガラス板m2を検査対象とした場合に
ついて説明したが、本願発明は決してこれに限定されな
い。本願発明の検査対象となる投入部品およびこの投入
部品が投入されるキャップの具体的な種類は一切限定さ
れない。また、キャップも円筒状キャップに限定され
ず、たとえば角筒状のキャップに投入された投入部品の
良否検査にも適用できることは言うまでもない。
【0074】その他、本願発明では、良否判定手段の具
体的な回路構成なども上記した実施例のものに限定され
ず、各部の具体的な構成は種々に設計変更自在である。
体的な回路構成なども上記した実施例のものに限定され
ず、各部の具体的な構成は種々に設計変更自在である。
【図1】本願発明に係る投入部品の良否検査装置の一例
を示す斜視図。
を示す斜視図。
【図2】図1に示す投入部品の良否検査装置の回路構成
の一例を示すブロック図。
の一例を示すブロック図。
【図3】本願発明に係る投入部品の良否検査装置が適用
されたシステムの一例を示す斜視図。
されたシステムの一例を示す斜視図。
【図4】円筒状キャップおよび円筒状キャップ内に投入
されたタブレットの撮像画像の一例を示す説明図。
されたタブレットの撮像画像の一例を示す説明図。
【図5】円筒状キャップ内にタブレットが偏って投入さ
れた状態を示す断面図。
れた状態を示す断面図。
【図6】図5に示す円筒状キャップおよびタブレットの
撮像画像の一例を示す説明図。
撮像画像の一例を示す説明図。
【図7】円筒状キャップ内にガラス板が投入された状態
を示す断面図。
を示す断面図。
【図8】図7に示す円筒状キャップCおよびガラス板の
撮像画像の一例を示す説明図。
撮像画像の一例を示す説明図。
【図9】円筒状キャップ内へタブレットおよびガラス板
を順次投入する状態を示す断面図。
を順次投入する状態を示す断面図。
1 ジグ 2 パレット 3 コンベア 4 カメラ 5 カメラ動作機構部 6 良否判定回路 7 ブロアー 8 吸引ノズル C 円筒状キャップ(キャップ) m1 タブレット(投入部品) m2 ガラス板(投入部品) Aa,Ab 投入部品の良否検査装置
Claims (5)
- 【請求項1】 キャップおよびこのキャップ内に投入さ
れた投入部品の平面画像を撮像するためのカメラと、 このカメラで撮像されたキャップの画像データからその
キャップの画像の重心を算出するとともに、この重心を
基準として一定の検査領域を設定し、その検査領域にお
いて上記投入部品と認識される画像データの占める割合
が所定の閾値以下であるときに不良と判断する良否判定
手段とを備えていることを特徴とする、投入部品の良否
検査装置。 - 【請求項2】 上記カメラは、複数のキャップを縦横に
配列したジグを搬送するコンベアの上方に配置されてい
るとともに、このカメラの下方にそのジグが搬送されて
きたときには、ジグ上の各キャップの上方へ順次移動し
てその撮像を行うように水平方向に沿って移動自在に設
けられていることを特徴とする、請求項1に記載の投入
部品の良否検査装置。 - 【請求項3】 上記良否判定手段によって不良と判断さ
れた投入部品をキャップから分離し、またはその投入部
品が投入されているキャップと一緒に、その配置箇所か
ら取り出し除去するための取出手段が、上記カメラに連
動して水平移動するように設けられていることを特徴と
する、請求項1または2に記載の投入部品の良否検査装
置。 - 【請求項4】 上記良否判定手段は、キャップの外径よ
りも小径に形成されたキャップの開口部の画像データに
基づいて、キャップの画像の重心の算出処理を実行し、
この処理による重心の算出が不可能なときには、キャッ
プの外周縁の画像データに基づいて上記重心の算出処理
を実行するように構成されていることを特徴とする、請
求項1ないし3の何れかに記載の投入部品の良否検査装
置。 - 【請求項5】 キャップおよびこのキャップ内に投入さ
れた投入部品の平面画像をカメラで撮像し、この撮像に
よって得られたキャップの画像データからそのキャップ
の画像の重心を算出した後に、この重心を基準として一
定の検査領域を設定し、その後この検査領域において上
記投入部品と認識される画像データが占める割合を求
め、この割合が所定の閾値以下であるときには不良と判
断することを特徴とする、投入部品の良否検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13901994A JPH085574A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | 投入部品の良否検査装置、およびその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13901994A JPH085574A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | 投入部品の良否検査装置、およびその検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085574A true JPH085574A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15235586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13901994A Pending JPH085574A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | 投入部品の良否検査装置、およびその検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH085574A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013114778A1 (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-08 | コニカミノルタ株式会社 | 光学部品検査装置 |
| CN109443133A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-03-08 | 苏州卡利肯新光讯科技有限公司 | 一种透镜尺寸快速检测治具 |
| CN113466234A (zh) * | 2020-03-31 | 2021-10-01 | 日本碍子株式会社 | 陶瓷制的柱状蜂窝结构体的检查方法及检查装置 |
| CN114199164A (zh) * | 2020-09-17 | 2022-03-18 | 泰科电子(上海)有限公司 | 母型连接器质量检查方法和系统 |
-
1994
- 1994-06-21 JP JP13901994A patent/JPH085574A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013114778A1 (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-08 | コニカミノルタ株式会社 | 光学部品検査装置 |
| CN109443133A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-03-08 | 苏州卡利肯新光讯科技有限公司 | 一种透镜尺寸快速检测治具 |
| CN113466234A (zh) * | 2020-03-31 | 2021-10-01 | 日本碍子株式会社 | 陶瓷制的柱状蜂窝结构体的检查方法及检查装置 |
| CN114199164A (zh) * | 2020-09-17 | 2022-03-18 | 泰科电子(上海)有限公司 | 母型连接器质量检查方法和系统 |
| CN114199164B (zh) * | 2020-09-17 | 2023-07-21 | 泰科电子(上海)有限公司 | 母型连接器质量检查方法和系统 |
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